KR102117341B1 - Organic light emitting display device and driving method thereof - Google Patents

Organic light emitting display device and driving method thereof Download PDF

Info

Publication number
KR102117341B1
KR102117341B1 KR1020130148802A KR20130148802A KR102117341B1 KR 102117341 B1 KR102117341 B1 KR 102117341B1 KR 1020130148802 A KR1020130148802 A KR 1020130148802A KR 20130148802 A KR20130148802 A KR 20130148802A KR 102117341 B1 KR102117341 B1 KR 102117341B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gate
voltage
line
panel
lines
Prior art date
Application number
KR1020130148802A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140086825A (en
Inventor
이지은
윤중선
이선미
변보언
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to US14/108,357 priority Critical patent/US9449552B2/en
Publication of KR20140086825A publication Critical patent/KR20140086825A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102117341B1 publication Critical patent/KR102117341B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H3/00Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
    • H02H3/16Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to fault current to earth, frame or mass
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/02Details of power systems and of start or stop of display operation
    • G09G2330/027Arrangements or methods related to powering off a display

Abstract

본 발명은 유기발광표시장치에 관한 것으로서, 특히, 표시영역에서 전원라인들과 오버랩되게 형성되어 있는 게이트 라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있는, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. 이를 위해, 본 발명에 따른 유기발광표시장치는, 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차영역마다 픽셀이 형성되어 있고, 상기 픽셀에는 픽셀 회로가 형성되어 있으며, 상기 픽셀 회로의 구동에 필요한 전원의 공급을 위해 전원라인들이 형성되어 있는 패널; 상기 게이트라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC; 상기 전원라인들에 전원을 공급하기 위한 전원공급부; 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하기 위한 검출부; 및 상기 검출부의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부의 구동을 제어하기 위한 제어부를 포함한다.The present invention relates to an organic light emitting display device, in particular, by using a detection signal collected through a gate line formed to overlap with power lines in the display area, it is possible to detect a panel abnormality in the display area, An object of the present invention is to provide an organic light emitting display device and a driving method thereof. To this end, in the organic light emitting display device according to the present invention, a pixel is formed in each crossing region of gate lines and data lines formed in the display area, and a pixel circuit is formed in the pixel, and the pixel circuit is driven. A panel in which power lines are formed to supply power required for the power supply; A gate drive IC for supplying scan signals to the gate lines; A power supply unit for supplying power to the power lines; A detection unit for detecting a panel abnormality in the display area using a detection signal collected through a detection line electrically connected to the gate line; And a control unit for controlling driving of the power supply unit according to the detection result of the detection unit.

Description

유기발광표시장치 및 그 구동방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF}Organic light emitting display device and its driving method {ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF}

본 발명은 유기발광표시장치에 관한 것으로서, 특히, 유기발광패널에서 발생된 쇼트, 번트(Burnt) 또는 라인결함 등과 같은 패널이상의 확산을 방지할 수 있는, 유기발광표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다. The present invention relates to an organic light emitting display device, and more particularly, to an organic light emitting display device and a method of driving the same, which can prevent diffusion of panel abnormalities such as shorts, burnts or line defects generated in the organic light emitting panel. .

휴대전화, 테블릿PC, 노트북 등을 포함한 다양한 종류의 전자제품에는 평판표시장치(FPD : Flat Panel Display Device)가 이용되고 있다. 평판표시장치에는, 액정표시장치(LCD : Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시장치(PDP : Plasma Display Device), 발광표시장치(Light Emitting Display Device) 등이 있으며, 최근에는 전기영동표시장치(EPD : Electrophoretic Display Device)도 널리 이용되고 있다. Flat panel display devices (FPDs) are used in various types of electronic products, including mobile phones, tablet PCs, and notebook computers. The flat panel display device includes a liquid crystal display device (LCD), a plasma display device (PDP), and a light emitting display device (EPD). Electrophoretic display devices) are also widely used.

이중, 발광표시장치는, 응답속도가 1ms 이하로서 고속의 응답속도를 갖고, 소비 전력이 낮으며, 자체 발광함으로 시야각에 문제가 없기 때문에, 차세대 평판표시장치로 주목받고 있다.Among them, the light emitting display device is receiving attention as a next-generation flat panel display device because the response speed is 1 ms or less, has a high-speed response speed, has low power consumption, and has no problem in viewing angle due to self-emission.

일반적으로, 발광표시장치는 발광 물질을 전기적으로 여기 시켜 발광시키는 표시장치로서, 이용되는 재료 및 구조에 따라, 무기발광표시장치와 유기발광표시장치로 구분된다.
2. Description of the Related Art In general, a light emitting display device is a display device that electrically excites a light emitting material to emit light, and is classified into an inorganic light emitting display device and an organic light emitting display device according to materials and structures used.

도 1은 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로를 개략적으로 나타내는 회로도이다.1 is a circuit diagram schematically showing a pixel circuit of a general organic light emitting display device.

유기발광표시장치의 패널에는 게이트 라인들과 데이터 라인들이 교차하는 영역마다 픽셀이 형성되어 있으며, 상기 픽셀들 각각에는 픽셀 회로가 형성되어 있다.A pixel is formed in each of the regions where the gate lines and the data lines intersect on the panel of the OLED display, and a pixel circuit is formed in each of the pixels.

상기 픽셀 회로는, 도 1에 도시된 바와 같이, 스위칭 트랜지스터(ST), 구동 트랜지스터(DT), 캐패시터(C) 및 발광소자(OLED)를 구비한다.As illustrated in FIG. 1, the pixel circuit includes a switching transistor ST, a driving transistor DT, a capacitor C, and a light emitting device OLED.

상기 스위칭 트랜지스터(ST)는 게이트 라인(GL)에 공급되는 스캔신호에 따라 스위칭되어 데이터 라인(DL)에 공급되는 데이터 전압(Vdata)을 구동트랜지스터(DT)에 공급한다.The switching transistor ST is switched according to the scan signal supplied to the gate line GL to supply the data voltage Vdata supplied to the data line DL to the driving transistor DT.

상기 구동트랜지스터(DT)는, 상기 스위칭 트랜지스터(ST)로부터 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 따라 스위칭되어, 고전위 구동전압(ELVDD)으로부터 상기 발광소자(OLED)로 흐르는 전류(Ioled)를 제어한다.The driving transistor DT is switched according to the data voltage Vdata supplied from the switching transistor ST to control the current flowing from the high potential driving voltage ELVDD to the light emitting device OLED. .

상기 캐패시터(C)는 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트 단자에 접속되어, 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트 단자에 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 상기 구동트랜지스터(DT)를 턴온시킨다.The capacitor C is connected to the gate terminal of the driving transistor DT, stores a voltage corresponding to the data voltage Vdata supplied to the gate terminal of the driving transistor DT, and stores the voltage as the stored voltage. Turn on (DT).

상기 발광소자(OLED)는 상기 구동트랜지스터(DT)와 저전위 구동전압(ELVSS, 그라운드) 사이에 전기적으로 접속되어, 상기 구동트랜지스터(DT)로부터 공급되는 전류(Ioled)에 의해 발광한다. 이때, 상기 발광소자(OLED)에 흐르는 전류(Ioled)는 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트-소스 사이의 전압, 상기 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압 및 상기 데이터 전압(Vdata)에 따라 결정된다.The light emitting element OLED is electrically connected between the driving transistor DT and the low potential driving voltage ELVSS and ground, and emits light by the current Ioled supplied from the driving transistor DT. At this time, the current (Ioled) flowing through the light emitting device (OLED) is determined according to the voltage between the gate-source of the driving transistor DT, the threshold voltage of the driving transistor DT and the data voltage Vdata.

상기한 바와 같은 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로는, 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트 단자에 공급되는 상기 데이터 전압(Vdata)에 따라, 상기 고전위 구동전압(ELVDD)으로부터 상기 발광소자(OLED)로 흐르는 전류(Ioled)의 크기를 제어하여, 상기 발광소자(OLED)를 발광시키며, 이에 따라, 소정의 영상을 표시한다.
The pixel circuit of the general organic light emitting display device as described above, the light emitting device (OLED) from the high potential driving voltage (ELVDD) in accordance with the data voltage (Vdata) supplied to the gate terminal of the driving transistor (DT) By controlling the magnitude of the current (Ioled) flowing to, the light emitting device (OLED) emits light, thereby displaying a predetermined image.

도 2는 일반적인 유기발광표시장치의 구성을 나타낸 예시도이다. 2 is an exemplary view showing a configuration of a general organic light emitting display device.

일반적인 유기발광표시장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 게이트 라인들과 데이터 라인들이 교차하는 영역마다 픽셀들이 형성되어 있는 패널(10), 상기 게이트 라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC(20), 상기 데이터 라인들에 데이터 전압을 공급하기 위한 소스 드라이브 IC(30), 상기 게이트 드라이브 IC(20)와 상기 소스 드라이브 IC(30)의 구동을 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(40) 및 상기 픽셀들에 고전위 구동전압(ELVDD) 및 저전위 구동전압(ELVSS)을 공급하기 위한 전원공급부(50)를 포함한다. As shown in FIG. 1, a general organic light emitting display device includes a panel 10 in which pixels are formed in each region where gate lines and data lines intersect, and a gate drive IC for supplying a scan signal to the gate lines. (20), a source drive IC (30) for supplying a data voltage to the data lines, a timing controller (40) for controlling driving of the gate drive IC (20) and the source drive IC (30), and the A power supply unit 50 for supplying the high potential driving voltage ELVDD and the low potential driving voltage ELVSS to the pixels is included.

일반적인 유기발광표시장치에서는, 도 2에 도시된 바와 같이, 패널의 상단비표시영역 및 하단비표시영역에, 고전위 구동전압(ELVDD) 라인(51) 및 저전위 구동전압(ELVSS) 라인(52)이 배치되고, 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)이 소스 드라이브 IC(30)로부터 연장되어, 상기 고전위 구동전압 라인(51) 및 상기 저전위 구동전압 라인(52)들과 오버랩(Overlap)되게 형성되어 있다. In a typical organic light emitting display device, as shown in FIG. 2, in the upper non-display area and the lower non-display area of the panel, a high potential driving voltage (ELVDD) line 51 and a low potential driving voltage (ELVSS) line 52 ), and the data lines DL1 to DLm extend from the source drive IC 30 so as to overlap the high potential driving voltage line 51 and the low potential driving voltage lines 52. Is formed.

또한, 상기 고전위 구동전압 라인(51) 및 저전위 구동전압 라인(52) 이외에도, 기준전압(Vref)라인과 같은 다양한 종류의 전원라인들이 데이터 라인들과 오버랩되게 형성되어 있다.In addition, in addition to the high potential driving voltage line 51 and the low potential driving voltage line 52, various types of power lines, such as a reference voltage (Vref) line, are formed to overlap data lines.

한편, 여러 가지 원인에 의한 데미지(Damage)에 의해 상기 라인들을 커버하고 있는 무기막이 손상되거나, 또는 상기 라인들 간에 쇼트(Short)가 발생되면, 번트(Burnt) 및 라인결함(Line Defect) 등의 불량이 발생될 수 있다. On the other hand, if the inorganic film covering the lines is damaged by damage due to various causes, or a short occurs between the lines, such as burnt and line defects, etc. Defects may occur.

상기한 바와 같은 쇼트, 번트(Burnt) 및 라인결함 등의 불량을 방지하기 위해, 종래에는 표시영역(Active Area)(12)의 외곽, 즉, 비표시영역에 형성되어 있는 가이드 링(guide ring)을 통해 쇼트 또는 번트 검출(burnt detect)이 이루어졌다. In order to prevent defects such as shorts, burnts and line defects as described above, a guide ring formed in the outer portion of the active area 12, that is, a non-display area, is conventionally used. Through this, a short or burnt detection was performed.

그러나, 종래에는, 비표시영역에서의 쇼트, 번트 또는 라인결함 검출만이 이루어지고 있기 때문에, 표시영역(12)에서 발생된 쇼트, 번트 및 라인결함 등에 의해 불량이 발생되더라도, 이에 대한 적절한 대응이 이루어질 수 없었다. However, conventionally, since only short, burnt, or line defects are detected in the non-display area, even if a defect occurs due to short, burnt, or line defects generated in the display area 12, proper response to the defect is generated. Could not be achieved.

즉, 상기한 바와 같은 오버랩(Overlap) 구간은 비표시영역뿐만 아니라, 표시영역(12) 내부에도 형성되어 있으며, 특히, 표시영역에서는 고전위 구동전압(ELVDD) 라인(51), 저전위 구동전압(ELVSS) 라인(52), 기준전압(Vref)라인(미도시), 데이터 라인(DL), 게이트 라인(GL) 등과 같은 전원라인들과 게이트 라인(GL)들이 다양한 형태로 오버랩되고 있다. That is, the overlap period as described above is formed not only in the non-display area, but also inside the display area 12. In particular, in the display area, a high potential driving voltage (ELVDD) line 51, a low potential driving voltage Power lines such as the (ELVSS) line 52, the reference voltage (Vref) line (not shown), the data line DL, the gate line GL, and the gate lines GL overlap in various forms.

따라서, 데미지(Damage) 또는 크랙(Crack) 등에 의해 상기 라인들을 절연시키고 있는 무기막이 손상되면, 상기 라인들 간에 쇼트(Short)가 발생될 가능성이 높다. 쇼트가 발생된 경우, 상기 라인들을 통해 전류가 많이 흐르게 되며, 이에 따라, 상기 게이트 드라이브 IC(20) 또는 상기 패널(10)에서 화재(Burnt)가 발생될 가능성이 높다. Therefore, when the inorganic film insulating the lines is damaged by damage or crack, there is a high possibility that a short is generated between the lines. When a short occurs, a large amount of current flows through the lines, and accordingly, a fire is likely to occur in the gate drive IC 20 or the panel 10.

그러나, 종래에는 상기한 바와 같이, 표시영역(12)에서의 쇼트, 번트 또는 라인결함 검출을 위한 센싱 라인이 형성되어 있지 않기 때문에, 표시영역(12)에서 발생된 쇼트, 번트 및 라인결함 등에 대한 적절한 대응이 이루어질 수 없었다. However, conventionally, as described above, since sensing lines for detecting short, burnt, or line defects in the display area 12 are not formed, short, burnt, and line defects generated in the display area 12 may be prevented. An appropriate response could not be achieved.

또한, 상기한 바와 같은 표시영역(12)에서의 오버랩 구간에 대한 쇼트, 번트 및 라인결함 검출을 위해, 상기 표시영역(12) 내부에 추가적인 검출 라인을 형성하는 방법이 제안되었다. 그러나, 이러한 방법이 적용되는 유기발광표시장치에서는, 표시영역(12)의 개구율이 감소되고, 오버랩 구간이 증가될 수 있으며, 이에 따라, 또 다른 문제점들이 발생될 수 있다.In addition, a method of forming an additional detection line inside the display area 12 has been proposed for detecting short, burnt, and line defects in the overlap area in the display area 12 as described above. However, in the organic light emitting display device to which such a method is applied, the aperture ratio of the display area 12 is reduced and the overlap period can be increased, and accordingly, other problems may occur.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 표시영역에서 전원라인들과 오버랩되게 형성되어 있는 게이트 라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있는, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. The present invention is to solve the above-described problem, by using the detection signal collected through the gate line formed to overlap with the power lines in the display area, it is possible to detect a panel abnormality in the display area, organic It is a technical problem to provide a light emitting display device and a driving method thereof.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 유기발광표시장치는, 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차영역마다 픽셀이 형성되어 있고, 상기 픽셀에는 픽셀 회로가 형성되어 있으며, 상기 픽셀 회로의 구동에 필요한 전원의 공급을 위해 전원라인들이 형성되어 있는 패널; 상기 게이트라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC; 상기 전원라인들에 전원을 공급하기 위한 전원공급부; 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하기 위한 검출부; 및 상기 검출부의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부의 구동을 제어하기 위한 제어부를 포함한다.The organic light emitting display device according to the present invention for achieving the above-described technical problem, a pixel is formed for each crossing area of the gate lines and the data lines formed in the display area, the pixel circuit is formed in the pixel, A panel in which power lines are formed to supply power required for driving the pixel circuit; A gate drive IC for supplying scan signals to the gate lines; A power supply unit for supplying power to the power lines; A detection unit for detecting a panel abnormality in the display area using a detection signal collected through a detection line electrically connected to the gate line; And a control unit for controlling driving of the power supply unit according to the detection result of the detection unit.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 유기발광표시장치 구동방법은, 게이트 라인들과 데이터 라인들이 형성되어 있는 패널의 표시영역에, 형성되어 있는 전원라인들로, 전원을 공급하여, 상기 패널에 형성되어 있는 픽셀 회로들을 구동시키는 단계; 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하는 단계; 및 상기 패널이상이 검출되면, 상기 전원라인들로 공급되는 상기 전원을 차단하는 단계를 포함한다. A method of driving an organic light emitting display device according to the present invention for achieving the above-described technical problem is to supply power to the display area of a panel on which gate lines and data lines are formed, by supplying power to the formed power lines. Driving pixel circuits formed in the panel; Detecting a panel abnormality in the display area by using a detection signal collected through a detection line electrically connected to the gate line; And when the panel abnormality is detected, cutting off the power supplied to the power lines.

본 발명에 의하면, 게이트 라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여 표시영역의 패널이상을 검출될 수 있기 때문에, 상기 표시영역에 추가적인 감지라인이 형성될 필요가 없다.According to the present invention, since an abnormality in the panel of the display area can be detected using the detection signal collected through the gate line, there is no need to form an additional detection line in the display area.

또한, 본 발명은, 상기 표시영역의 패널이상을 검출하여, 전원공급부 또는 소스 드라이브 IC의 구동을 제어함으로써, 상기 표시영역 내에서 발생된 패널이상의 확산을 방지할 수 있다. In addition, the present invention can prevent the spread of panel abnormalities generated in the display area by detecting the panel abnormality in the display area and controlling the driving of the power supply unit or the source drive IC.

도 1은 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로를 개략적으로 나타내는 회로도.
도 2는 일반적인 유기발광표시장치의 구성을 나타낸 예시도.
도 3은 본 발명에 따른 유기발광표시장치를 개략적으로 나타내는 예시도.
도 4는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 개략적으로 나타낸 예시도.
도 5는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 나타낸 예시도.
도 6은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제1검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도.
도 7은 도 6에 도시된 제1검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도.
도 8은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제2검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도.
도 9는 도 8에 도시된 제2검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도.
1 is a circuit diagram schematically showing a pixel circuit of a general organic light emitting display device.
2 is an exemplary view showing a configuration of a general organic light emitting display device.
3 is an exemplary view schematically showing an organic light emitting display device according to the present invention.
4 is an exemplary view schematically showing a configuration of a detection unit applied to an organic light emitting display device according to the present invention.
5 is an exemplary view showing a configuration of a detection unit applied to the organic light emitting display device according to the present invention.
6 is an exemplary view for explaining the configuration and function of the first detector applied to the organic light emitting display device according to the present invention.
7 is an exemplary view showing a modified configuration of the first detector shown in FIG. 6;
8 is an exemplary view for explaining the configuration and function of the second detector applied to the organic light emitting display device according to the present invention.
9 is an exemplary view showing a modified configuration of the second detector shown in FIG. 8;

이하, 도면을 참조로 본 발명에 따른 바람직한 실시 예에 대해서 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 3은 본 발명에 따른 유기발광표시장치를 개략적으로 나타내는 예시도이며, 도 4는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 개략적으로 나타낸 예시도이다. 3 is an exemplary view schematically showing an organic light emitting display device according to the present invention, and FIG. 4 is an exemplary view schematically showing a configuration of a detection unit applied to the organic light emitting display device according to the present invention.

일반적으로 유기발광표시장치의 구동을 위해 패널에 형성되는, 고전위 구동전압 라인, 저전위 구동전압 라인, 기준전압 라인, 입력전압 라인, 데이터 라인, 게이트 라인 등은, 상기 패널의 표시영역에서 오버랩되어 있다. 따라서, 상기 라인들을 절연시키고 있는 절연막이 데미지 등에 의해 훼손되어, 상기 라인들 간에 쇼트(Short)가 발생되면, 전류 쏠림에 의한 번트(Burnt) 불량이 발생될 수 있다. In general, a high potential driving voltage line, a low potential driving voltage line, a reference voltage line, an input voltage line, a data line, a gate line, etc., formed on a panel for driving an organic light emitting display device, overlap in a display area of the panel It is. Therefore, when the insulating film insulating the lines is damaged by damage or the like, and shorts occur between the lines, burnt defects due to current leakage may occur.

상기한 바와 같은 쇼트, 번트(Burnt) 또는 상기 라인결함 등을 총칭하여, 이하에서는, 간단히 패널이상(異常)이라 한다. 즉, 이하의 설명 중, 패널이상이란, 쇼트, 번트 또는 라인결함을 의미하며, 상기한 바와 같은 패널이상이 발생되면, 상기 라인들로 이상전류 또는 과전류가 흐르게 된다. 상기 번트(Burnt)는 상기 패널에서 발생되는 미세한 화재를 의미한다. 상기 라인결함은, 상기 라인들 사이의 절연막이 훼손된 경우를 의미하거나, 또는, 상기 라인들이 비정상적으로 인접되어 있어서, 회로적으로 문제가 발생되는 경우를 의미한다. 상기 이상전류는, 상기 과전류 이외에 상기 라인들에 비정상적으로 흐르는 전류로서, 흐름이 일정하지 않은 전류 또는 상기 라인으로 흘러서는 않되는 전류 등을 의미한다. 상기 설명에서는, 상기 이상전류 또는 과전류가 상기 패널이상에 의해 발생되는 것으로 설명되었으나, 상기 이상전류 또는 상기 과전류가 발생되는 현상 자체도, 상기 패널이상에 포함될 수 있다. 즉, 상기 이상전류 또는 상기 과전류는, 상기 쇼트, 번트 또는 라인결함 이외에도, 다양한 원인들에 의해 발생되어, 상기 패널에 문제를 발생시킬 수 있으므로, 상기 패널이상에 포함될 수 있다. The shorts, burnts, or line defects as described above are collectively referred to hereinafter as simply panel abnormalities. That is, in the following description, the panel abnormality means a short circuit, a burnt line, or a line defect. When the panel abnormality as described above occurs, an abnormal current or an overcurrent flows to the lines. The burnt means a fine fire generated in the panel. The line defect means a case in which an insulating film between the lines is damaged, or a case in which the lines are abnormally adjacent and a circuit problem occurs. The abnormal current is a current that flows abnormally in the lines other than the overcurrent, and means a current in which flow is not constant or a current that should not flow to the line. In the above description, it has been described that the abnormal current or the overcurrent is generated by the panel abnormality, but the phenomenon itself in which the abnormal current or the overcurrent is generated may also be included in the panel abnormality. That is, the abnormal current or the overcurrent is generated by various causes in addition to the short, burnt or line defect, and may cause problems in the panel, and thus may be included in the panel error.

상기한 바와 같은 패널이상에 대응하기 위해, 종래에는 비표시영역에 형성된 가이드 링(guide ring)을 통하여, 상기 패널이상을 검출하는 방법이 제안되었다. In order to cope with the above panel abnormality, a method of detecting the panel abnormality has been proposed through a guide ring formed in a non-display area.

그러나, 상기한 바와 같은 종래의 방법에 의해서는, 비표시영역에서의 패널이상만이 검출될 수 있으며, 표시영역에서 발생하는 패널이상은 검출될 수 없다. However, by the conventional method as described above, only panel abnormalities in the non-display area can be detected, and panel abnormalities occurring in the display area cannot be detected.

따라서, 본 발명은 표시영역에서 전원라인들과 오버랩되게 형성되어 있는 게이트 라인을 통해 검출된 검출신호를 이용하여, 표시영역에서의 패널이상을 검출하는 것을 목적으로 하고 있다. Accordingly, an object of the present invention is to detect a panel abnormality in a display area by using a detection signal detected through a gate line formed to overlap power lines in the display area.

이를 위해 본 발명에 따른 유기발광표시장치는, 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)과, 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)의 교차영역마다 형성되어 있는 픽셀과, 상기 픽셀에 형성되어 있는 픽셀 회로에 필요한 전원의 공급을 위해, 표시영역(120)에서 상기 게이트 라인들과 교차되게 형성되어 있는 전원라인들(510, 520)을 포함하는 패널(100), 상기 게이트 라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC(200), 상기 데이터 라인들에 데이터 전압을 공급하기 위한 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원라인들에 상기 전원을 공급하기 위한 전원공급부(500), 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역(120)에서의 패널이상을 검출하기 위한 검출부(600) 및 상기 검출부(600)의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부(500)의 구동을 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(400)를 포함한다.
To this end, the organic light emitting display device according to the present invention, as shown in Figure 3, the gate lines (GL1 to GLn), the data lines (DL1 to DLm) formed in each cross region of the pixel, and the pixel In order to supply power required for the pixel circuit formed in the panel 100, the panel 100 includes power lines 510 and 520 formed to cross the gate lines in the display area 120, and the gate lines. Gate drive IC 200 for supplying a scan signal to the source drive IC 300 for supplying a data voltage to the data lines, a power supply unit 500 for supplying the power to the power lines, the According to the detection result of the detection unit 600 and the detection unit 600 for detecting a panel abnormality in the display area 120 by using a detection signal collected through a detection line electrically connected to a gate line, And a timing controller 400 for controlling driving of the power supply unit 500.

우선, 상기 패널(100)에는 상기 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)과 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)이 교차하는 영역마다 픽셀이 형성되어 있으며, 상기 픽셀들 각각에는 픽셀 회로가 형성되어 있다.First, a pixel is formed in each region where the gate lines GL1 to GLn and the data lines DL1 to DLm intersect in the panel 100, and a pixel circuit is formed in each of the pixels.

상기 픽셀 회로는, 스위칭 트랜지스터, 구동 트랜지스터, 캐패시터 및 유기발광소자 등을 포함한다.The pixel circuit includes a switching transistor, a driving transistor, a capacitor, and an organic light emitting device.

첫째, 상기 스위칭 트랜지스터는 상기 게이트 라인에 공급되는 스캔신호에 따라 스위칭되어 상기 데이터 라인에 공급되는 데이터 전압을 상기 구동트랜지스터에 공급한다. First, the switching transistor is switched according to the scan signal supplied to the gate line to supply the data voltage supplied to the data line to the driving transistor.

둘째, 상기 구동트랜지스터는, 상기 스위칭 트랜지스터로부터 공급되는 데이터 전압에 따라 스위칭되어, 고전위 구동전압으로부터 상기 유기발광소자로 흐르는 전류를 제어한다. Second, the driving transistor is switched according to the data voltage supplied from the switching transistor to control the current flowing from the high potential driving voltage to the organic light emitting device.

상기 픽셀 회로에는, 상기 구동트랜지스터 및 상기 스위칭 트랜지스터 이외에도 다수의 트랜지스터들이 포함될 수 있다. In the pixel circuit, a plurality of transistors may be included in addition to the driving transistor and the switching transistor.

예를 들어, 상기 유기발광소자는 열화되기 쉽기 때문에, 유기발광표시장치가 장시간 사용되면, 유기발광표시장치의 품질이 저하될 수 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해, 상기 픽셀 회로에는, 상기 유기발광소자의 특성을 감지하기 위한 특성감지용 트랜지스터들이 포함될 수 있으며, 상기 유기발광소자의 열화를 보상하기 보상용 트랜지스터들이 포함될 수 있다. 이 경우, 상기 특성감지용 트랜지스터들 및 상기 보상용 트랜지스터들은, 입력전압(Vinit) 및 기준전압(Vref) 등을 이용하여 구동될 수 있다. 따라서, 상기 픽셀 회로에는, 상기 고전위 구동전압 및 저전위 구동전압 이외에도, 다양한 레벨의 입력전압(Vinit) 및 기준전압(Vref)이 공급될 수 있다. For example, since the organic light emitting device is easily deteriorated, when the organic light emitting display device is used for a long time, the quality of the organic light emitting display device may deteriorate. In order to solve this problem, the pixel circuit may include transistors for detecting characteristics for sensing the characteristics of the organic light emitting device, and transistors for compensating for deterioration of the organic light emitting device. In this case, the characteristic sensing transistors and the compensation transistors may be driven using an input voltage (Vinit) and a reference voltage (Vref). Therefore, the pixel circuit may be supplied with various levels of input voltage Vinit and reference voltage Vref in addition to the high potential driving voltage and the low potential driving voltage.

상기 기준전압(Vref) 및 상기 입력전압(Vinit)은, 상기한 바와 같이, 상기 유기발광소자(OLED)의 구동 및 보상을 위해, 일반적으로 상기 픽셀 회로로 공급되는 전압으로서, 상기 픽셀 회로의 구성에 따라, 다양한 레벨로 구성된다. 또한, 상기 기준전압 또는 상기 입력전압이 공급되는 트랜지스터는, 상기 픽셀 회로에 다양한 구조로 연결되는 것으로서, 현재 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로에서 일반적으로 이용되고 있다. The reference voltage (Vref) and the input voltage (Vinit), as described above, for driving and compensating the organic light emitting diode (OLED), the voltage that is generally supplied to the pixel circuit, the configuration of the pixel circuit Depending on, it is composed of various levels. In addition, the transistor to which the reference voltage or the input voltage is supplied is connected to the pixel circuit in various structures, and is generally used in a pixel circuit of a general organic light emitting display device.

따라서, 상기 기준전압, 상기 입력전압 및 상기 전압들이 공급되는 트랜지스터들에 대한 구체적인 설명은 생략된다. Accordingly, detailed descriptions of the reference voltage, the input voltage, and transistors to which the voltages are supplied are omitted.

셋째, 상기 캐패시터는 상기 구동트랜지스터의 게이트에 접속되어, 상기 구동트랜지스터의 게이트 단자에 공급되는 데이터 전압에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 상기 구동트랜지스터를 턴온시킨다. Third, the capacitor is connected to the gate of the driving transistor, stores a voltage corresponding to the data voltage supplied to the gate terminal of the driving transistor, and turns on the driving transistor with the stored voltage.

넷째, 상기 유기발광소자는 상기 구동트랜지스터와 저전위 구동전압 사이에 전기적으로 접속되어, 상기 구동트랜지스터로부터 공급되는 전류에 의해 발광한다. 이때, 상기 발광소자에 흐르는 전류는 상기 구동트랜지스터의 게이트-소스 사이의 전압, 상기 구동트랜지스터의 문턱전압 및 상기 데이터 전압에 따라 결정된다.Fourth, the organic light emitting element is electrically connected between the driving transistor and the low potential driving voltage, and emits light by a current supplied from the driving transistor. At this time, the current flowing through the light emitting element is determined according to the voltage between the gate-source of the driving transistor, the threshold voltage of the driving transistor, and the data voltage.

상기 픽셀 회로는, 상기 구동트랜지스터의 게이트 단자에 공급되는 상기 데이터 전압(Vdata)에 따라, 상기 고전위 구동전압(ELVDD)으로부터 상기 발광소자(OLED)로 흐르는 전류(Ioled)의 크기를 제어하여, 상기 유기발광소자(OLED)를 발광시킴으로써 소정의 영상을 표시한다.The pixel circuit controls the magnitude of the current (Ioled) flowing from the high potential driving voltage (ELVDD) to the light emitting device (OLED) according to the data voltage (Vdata) supplied to the gate terminal of the driving transistor, A predetermined image is displayed by emitting the organic light emitting diode (OLED).

상기 패널(100) 중, 영상이 출력되는 표시영역(120)에는 상기 유기발광소자(OLED)에 상기 고전위 전압(ELVDD)을 공급하기 위한 고전위 전압 라인, 상기 유기발광소자(OLED)에 저전위 전압(ELVSS)을 공급하기 위한 저전위 전압 라인, 상기 기준전압(Vref)을 상기 픽셀 회로에 공급하기 위한 기준전압 라인(510), 상기 입력전압(Vinit)을 상기 픽셀 회로에 공급하기 위한 입력전압 라인(520) 등과 같은 전원라인들이 상기 게이트 라인들과 교차되도록 형성되어 있다.Among the panel 100, a high-potential voltage line for supplying the high-potential voltage ELVDD to the organic light-emitting device OLED is displayed in the display area 120 where an image is output, and a low voltage is applied to the organic light-emitting device OLED. A low potential voltage line for supplying a potential voltage ELVSS, a reference voltage line 510 for supplying the reference voltage Vref to the pixel circuit, and an input for supplying the input voltage Vinit to the pixel circuit Power lines such as a voltage line 520 are formed to intersect the gate lines.

상기 전압들은 상기 표시영역에 형성되어 있는 모든 픽셀들에 공통적으로 공급되어야 하기 때문에, 상기 전압들을 전송하기 위한 상기 전원라인들은, 상기 표시영역(120)에서 상기 게이트 라인들과 교차되도록 형성되어 있다.Since the voltages must be commonly supplied to all pixels formed in the display area, the power lines for transmitting the voltages are formed to cross the gate lines in the display area 120.

상기 데이터 라인들 역시, 상기 표시영역(120)에서 상기 게이트 라인들과 교차되도록 형성되어 있다. The data lines are also formed to cross the gate lines in the display area 120.

한편, 상기 소스 드라이브 IC(300)가 상기 패널(100)과 연결되어 있는, 상기 패널 상단의 제3비표시영역(140) 및 하단의 제4비표시영역(150)에는, 상기 전원공급부(500)와 연결되어 있는 전원연결라인들(510a, 520a)이, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 패널(100)의 가로 방향으로 형성되어 있다. On the other hand, the source drive IC 300 is connected to the panel 100, the third non-display area 140 at the top of the panel and the fourth non-display area 150 at the bottom, the power supply 500 ) Are connected to the power connection lines (510a, 520a) is formed in the horizontal direction of the panel 100, as shown in FIG.

따라서, 상기 제3비표시영역(140)에 형성되어 있는 상기 전원연결라인들은, 상기 소스 드라이브 IC(300)로부터 연장되어 있는 상기 데이터 라인들과 교차되도록 형성되어 있다. Accordingly, the power connection lines formed in the third non-display area 140 are formed to intersect with the data lines extending from the source drive IC 300.

상기 패널의 상기 비표시영역(110)에는, 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 드라이브 IC(200)가 형성되어 있다.A gate drive IC 200 is formed in the non-display area 110 of the panel, as shown in FIG. 3.

상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 게이트 라인들 중 적어도 어느 하나와 연결되어 있는 감지라인(610)은 상기 비표시영역에 형성되어 있으며, 상기 검출부(600)는 상기 감지라인(610)을 통해 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있다. 상기 감지라인(610)을 통해, 상기 감지신호가, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 검출부(600)로 전송될 수 있다. 이 경우, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 감지라인(610)을 통해, 상기 게이트 드라이브 IC(200)의 구동에 필요한 게이트 하이 전압(VGH) 및 게이트 로우 전압(VGL)이 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급될 수 있다. 그러나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 상기 감지라인(610)은 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 전송되어온 감지신호를 상기 검출부(600)로 전송하는 기능만을 수행할 수도 있다. The detection line 610 connected to at least one of the gate lines through the gate drive IC 200 is formed in the non-display area, and the detection unit 600 is through the detection line 610. It is electrically connected to the gate line. The detection signal may be transmitted to the detection unit 600 through the gate drive IC 200 through the detection line 610. In this case, as illustrated in FIG. 3, through the sensing line 610, the gate high voltage VGH and gate low voltage VGL required for driving the gate drive IC 200 are the gate drive IC ( 200). However, the present invention is not limited to this. That is, the detection line 610 may perform only a function of transmitting a detection signal transmitted through the gate drive IC 200 to the detection unit 600.

따라서, 상기 게이트 하이 전압(VGH) 및 상기 게이트 로우 전압(VGL)을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 기능 및 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 전송된 감지신호를 상기 검출부(600)로 전송하는 기능을 수행하는, 상기 감지라인(610)이 도시되어 있는 도 3에서는, 상기 비표시영역(110)에 상기 감지라인(610)이 두 개 형성되어 있으나, 상기 감지라인(610)은 하나만 형성될 수도 있으며, 또는 세 개 이상 형성될 수 있다. 즉, 상기 감지라인(610)은, 상기 게이트 라인의 수만큼 형성될 수도 있으며, 상기 게이트 라인들 중 일정한 간격으로 이격되어 있는 게이트 라인들에 대응되도록 형성될 수도 있다. Accordingly, the function of transmitting the gate high voltage VGH and the gate low voltage VGL to the gate drive IC 200 and the detection signal transmitted through the gate drive IC 200 to the detector 600. In FIG. 3, in which the sensing line 610 is shown, which performs a function of transmitting, two sensing lines 610 are formed in the non-display area 110, but only one sensing line 610 is formed. It may be formed, or three or more may be formed. That is, the sensing line 610 may be formed as many as the number of gate lines, or may be formed to correspond to gate lines spaced apart at regular intervals among the gate lines.

또한, 상기 게이트 드라이브 IC(200)가 상기 비표시영역들 중 마주보고 있는 두 개의 비표시영역들(110, 130) 각각에 형성되어 있는 경우, 상기 감지라인(610) 역시 상기 두 개의 비표시영역(110, 130) 각각에 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 제1비표시영역(110)에 형성되어 있는 감지라인(610)들은 홀수번째 게이트 라인들과 연결되어 있고, 상기 제1비표시영역과 마주보고 있는 제2비표시영역(120)에 형성되어 있는 감지라인(610)들은 짝수번째 게이트 라인들과 연결되어 있을 수도 있다. In addition, when the gate drive IC 200 is formed in each of the two non-display areas 110 and 130 facing each other among the non-display areas, the detection line 610 also includes the two non-display areas. It may be formed on each of (110, 130). In this case, the sensing lines 610 formed in the first non-display area 110 are connected to odd-numbered gate lines, and the second non-display area 120 facing the first non-display area 120 The sensing lines 610 formed in the may be connected to even-numbered gate lines.

또한, 도 3에서는, 상기 전원연결라인들(510a, 520a)이 제3비표시영역(140)및 제4비표시영역(150)에서 상기 감지라인(610)과 교차되지 않는 것으로 도시되어 있다. In addition, in FIG. 3, it is illustrated that the power connection lines 510a and 520a do not intersect the detection line 610 in the third non-display area 140 and the fourth non-display area 150.

그러나, 전원연결라인들(510a, 520a) 또는 상기 감지라인(610)의 배치 위치가 변경되는 경우에는, 상기 전원연결라인들(510a, 520a)이 상기 감지라인(610)과 교차될 수도 있다. However, when the arrangement position of the power connection lines 510a and 520a or the detection line 610 is changed, the power connection lines 510a and 520a may intersect the detection line 610.

상기 바와 같이, 상기 감지라인(610)은 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 게이트 라인과 연결되어 있는 것으로서, 상기 패널의 비표시영역에 적어도 하나 이상 형성될 수 있으며, 상기 감지라인(610)은 상기 패널의 비표시영역에서, 상기 전원연결라인(510a, 520a)들과 교차되도록 형성될 수 있다.
As described above, the sensing line 610 is connected to the gate line through the gate drive IC 200, and may be formed in at least one non-display area of the panel, and the sensing line 610 May be formed to cross the power connection lines 510a and 520a in the non-display area of the panel.

다음, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)에서 생성된 게이트 제어신호(GCS)들을 이용하여, 상기 게이트 라인들 각각에 순차적으로 게이트 온 신호를 공급한다. Next, the gate drive IC 200 sequentially supplies a gate-on signal to each of the gate lines using the gate control signals GCS generated by the timing controller 400.

여기서, 상기 게이트 온 신호는 상기 게이트 라인들에 연결되어 있는 스위칭용 박막트랜지스터를 턴온시킬 수 있는 전압을 말한다. 상기 스위칭용 박막트랜지스터를 턴오프시킬 수 있는 전압은 게이트 오프 신호라하며, 상기 게이트 온 신호와 상기 게이트 오프 신호를 총칭하여 스캔신호라 한다. Here, the gate-on signal refers to a voltage capable of turning on the switching thin film transistor connected to the gate lines. The voltage capable of turning off the switching thin film transistor is called a gate-off signal, and the gate-on signal and the gate-off signal are collectively referred to as a scan signal.

상기 스위칭용 박막트랜지스터가 N타입인 경우, 상기 게이트 온 신호는 하이레벨의 전압이며, 상기 게이트 오프 신호는 로우레벨의 전압이다. 상기 박막트랜지스터가 P타입인 경우, 상기 게이트 온 신호는 로우레벨의 전압이며, 상기 게이트 오프 신호는 하이레벨의 전압이다. 상기 하이레벨의 전압은, 상기 게이트 하이 전압(VGH)에 대응되는 전압이며, 상기 로우레벨의 전압은, 상기 게이트 로우 전압(VGL)에 대응되는 전압이다. When the switching thin film transistor is an N type, the gate-on signal is a high-level voltage, and the gate-off signal is a low-level voltage. When the thin film transistor is of the P type, the gate-on signal is a low-level voltage, and the gate-off signal is a high-level voltage. The high-level voltage is a voltage corresponding to the gate high voltage VGH, and the low-level voltage is a voltage corresponding to the gate low voltage VGL.

상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 패널(100)과 독립되게 형성되어, 테이프 캐리어 패키지(TCP) 또는 연성인쇄회로기판(FPCB) 등을 통해 상기 패널(100)에 연결될 수 있으나, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 패널(100) 내에 실장되는 게이트 인 패널(Gate In Panel : GIP)방식으로 구성될 수도 있다. The gate drive IC 200 is formed to be independent of the panel 100, and may be connected to the panel 100 through a tape carrier package (TCP) or a flexible printed circuit board (FPCB). As illustrated, it may be configured in a gate-in-panel (GIP) method mounted in the panel 100.

상기한 바와 같이, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는 상기 패널 중 마주보고 있는 제1비표시영역(110) 및 제2비표시영역(130)에 형성될 수도 있다.As described above, the gate drive IC 200 may be formed in the first non-display area 110 and the second non-display area 130 facing the panel.

이 경우, 제1비표시영역(110)에 형성되어 있는 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 도 3에 도시된 바와 같이 상기 검출부(600)에 연결될 수 있다. 또한, 제2비표시영역(110)에 형성되어 있는 미도시된 게이트 드라이브 IC(200)는, 미도시된 검출부(600)에 연결될 수 있다.In this case, the gate drive IC 200 formed in the first non-display area 110 may be connected to the detection unit 600 as illustrated in FIG. 3. In addition, the gate drive IC 200 not shown in the second non-display area 110 may be connected to the detector 600 not shown.

즉, 본 발명에 따른 유기발광표시장치에서는, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 검출부(600)가, 두 개씩 형성될 수 있다.That is, in the organic light emitting display device according to the present invention, the gate drive IC 200 and the detection unit 600 may be formed two by one.

그러나, 상기 게이트 드라이브 IC(200)가 두 개인 경우라도, 상기 검출부(600)는 하나만 형성될 수도 있다.
However, even when there are two gate drive ICs 200, only one detector 600 may be formed.

다음, 상기 소스 드라이브 IC(300)는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 전송되어온 디지털 영상데이터를 데이터 전압으로 변환하여 상기 게이트 라인에 상기 게이트 온 신호가 공급되는 1수평기간마다 1수평라인분의 상기 데이터 전압을 상기 데이터 라인들에 공급한다. Next, the source drive IC 300 converts digital image data transmitted from the timing controller 400 into a data voltage, and the horizontal line value is equal to one horizontal line for each horizontal period during which the gate-on signal is supplied to the gate line. Data voltage is supplied to the data lines.

상기 소스 드라이브 IC(300)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 칩온필름(COF) 형태로 상기 패널(100)에 연결될 수 있으며, 상기 패널 상에 직접 장착되거나, 또는 상기 패널 상에 직접 형성될 수도 있다. 상기 소스 드라이브 IC(300)의 갯수는 상기 패널의 크기, 상기 패널의 해상도 등에 따라 다양하게 설정될 수 있다. The source drive IC 300 may be connected to the panel 100 in the form of a chip-on film (COF), as shown in FIG. 3, mounted directly on the panel, or directly formed on the panel It might be. The number of source drive ICs 300 may be variously set according to the size of the panel, the resolution of the panel, and the like.

상기 소스 드라이브 IC(300)는, 감마전압 발생부(도시하지 않음)로부터 공급되는 감마전압들을 이용하여, 상기 영상데이터를 상기 데이터 전압으로 변환시킨 후, 상기 데이터 전압을, 상기 데이터 라인으로 공급다. 이를 위해, 상기 소스 드라이브 IC(300)는, 쉬프트 레지스터부, 래치부, 디지털 아날로그 변환부(DAC) 및 출력버퍼를 포함하고 있다. The source drive IC 300 converts the image data into the data voltage by using gamma voltages supplied from a gamma voltage generator (not shown), and then supplies the data voltage to the data line. . To this end, the source drive IC 300 includes a shift register unit, a latch unit, a digital-to-analog conversion unit (DAC), and an output buffer.

상기 쉬프트 레지스터부는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 수신된 데이터 제어신호들(SSC, SSP 등)을 이용하여 샘플링 신호를 출력한다.The shift register unit outputs a sampling signal using data control signals (SSC, SSP, etc.) received from the timing controller 400.

상기 래치부는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 순차적으로 수신된 상기 디지털 영상데이터(Data)를 래치하고 있다가, 상기 디지털 아날로그 변환부(DAC)(330)로 동시에 출력하는 기능을 수행한다. The latch unit latches the digital image data Data sequentially received from the timing controller 400 and simultaneously outputs the digital image conversion unit (DAC) 330.

상기 디지털 아날로그 변환부는 상기 래치부로부터 전송되어온 상기 영상데이터들을 동시에 상기 데이터 전압으로 변환하여, 출력한다. 즉, 상기 디지털 아날로그 변환부는, 상기 감마전압 발생부(도시하지 않음)로부터 공급되는 감마전압을 이용하여, 상기 영상데이터들을 상기 데이터 전압으로 변환한 후, 상기 데이터 전압을 상기 데이터 라인들로 출력한다. The digital-to-analog converter converts and outputs the image data transmitted from the latch unit to the data voltage at the same time. That is, the digital-to-analog converter converts the image data into the data voltage by using the gamma voltage supplied from the gamma voltage generator (not shown), and then outputs the data voltage to the data lines. .

상기 출력버퍼는 상기 디지털 아날로그 변환부로부터 전송되어온 상기 데이터 전압을, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 전송되어온 소스 출력 인에이블 신호(SOE)에 따라, 상기 패널의 데이터 라인(DL)들로 출력한다.
The output buffer outputs the data voltage transmitted from the digital-to-analog converter to the data lines (DLs) of the panel according to the source output enable signal (SOE) transmitted from the timing controller 400.

다음, 상기 전원공급부(500)는 상기 전원라인들에 전원을 공급하는 기능을 수행한다. Next, the power supply unit 500 performs a function of supplying power to the power lines.

상기한 바와 같이, 상기 고전위 전압(ELVDD) 및 상기 저전위 전압(ELVSS)은, 상기 유기발광소자(OLED)의 에노드 및 캐소드에 연결되어 있는 상기 고전위 전압 라인 및 저전위 전압 라인을 통해 상기 유기발광소자로 공급되고, 상기 기준전압(Vref)은 기준전압 라인(510)을 통해 상기 픽셀 회로로 공급되며, 상기 입력전압(Vinit)은 입력전압 라인(520)을 통해 상기 픽셀 회로로 공급된다.As described above, the high potential voltage ELVDD and the low potential voltage ELVSS are through the high potential voltage line and the low potential voltage line connected to the anode and cathode of the organic light emitting diode OLED. It is supplied to the organic light emitting device, the reference voltage (Vref) is supplied to the pixel circuit through the reference voltage line 510, the input voltage (Vinit) is supplied to the pixel circuit through the input voltage line 520 do.

상기 전원공급부(500)는 상기한 바와 같은 전압을 생성하여, 상기 전압을, 상기 각각의 전원라인을 통해, 상기 픽셀 회로로 공급한다. The power supply unit 500 generates the voltage as described above, and supplies the voltage to the pixel circuit through each of the power lines.

상기 전원공급부(500)와 상기 전원라인들(510, 520)을 연결시키기 위한 상기 전원연결라인들(510a, 520a)은, 상기 패널의 제3비표시영역(140) 및 제4비표시영역(150)에, 상기 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)과 교차되도록 형성될 수 있다.
The power connection lines 510a and 520a for connecting the power supply unit 500 and the power lines 510 and 520 may include a third non-display area 140 and a fourth non-display area ( 150), the data lines DL1 to DLm may be formed to intersect.

다음, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상(異常)을 검출하는 기능을 수행한다.Next, the detection unit 600 performs a function of detecting a panel abnormality in the display area by using a detection signal collected through the gate line.

예를 들어, 상기 검출부(600)는 상기 스캔신호를 구성하는, 상기 게이트 하이 전압(VGH)을 이용하거나, 상기 게이트 로우 전압(VGL)을 이용하거나, 상기 게이트 하이 전압(VGH) 또는 상기 게이트 로우 전압(VGL)에 의해 발생되는 전류를 이용하여 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있다. For example, the detector 600 may use the gate high voltage VGH, the gate low voltage VGL, or the gate high voltage VGH or the gate low constituting the scan signal. The panel abnormality in the display area can be detected using the current generated by the voltage VGL.

상기한 바와 같이, 상기 스캔신호는 상기한 바와 같이, 상기 게이트 하이 전압(VGH) 또는 상기 게이트 로우 전압(VGL)으로 구성되며, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 발생된다. 따라서, 상기 검출부(600)는, 상기 스캔신호가 공급되는 상기 패널(100)로부터, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 수집되는, 전압 또는 전류의 양이 변화되는 것을 감지하여, 상기 표시영역에서의 패널이상의 발생 여부를 판단할 수 있다. As described above, the scan signal includes the gate high voltage VGH or the gate low voltage VGL as described above, and a panel error occurs in the display area 120. Therefore, the detection unit 600 detects that the amount of voltage or current that is collected through the gate drive IC 200 is changed from the panel 100 to which the scan signal is supplied, and in the display area. It can be judged whether or not a panel error occurs.

이를 위해, 상기 검출부(600)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해, 상기 게이트 라인과 연결되어 있는, 상기 감지라인(610)으로부터 전송되어오는, 게이트 하이 전압(VGH), 게이트 로우 전압(VGL), 또는 상기 게이트 하이 전압과 상기 게이트 로우 전압 중 어느 하나에 의해 발생되는 전류를, 기준신호와 비교한다. 상기 검출부(600)는 상기 비교에 의해 검출된 검출신호(VGL_S, VGH_S)를 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송한다. To this end, the detection unit 600, as shown in Figure 4, through the gate drive IC 200, connected to the gate line, is transmitted from the detection line 610, the gate high voltage (VGH), a gate low voltage (VGL), or a current generated by any one of the gate high voltage and the gate low voltage is compared with a reference signal. The detection unit 600 transmits the detection signals VGL_S and VGH_S detected by the comparison to the timing controller 400.

그러나, 상기 검출부(600)가, 도 4에 도시된 바와 같은 구성에 한정되는 것은 아니다. 즉, 상기 검출부(600)는 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 전송되어온 다양한 형태의 감지신호를 이용하여, 상기 패널에서의 패널이상을 검출하기 위해, 다양한 구조로 형성될 수 있다. 상기 검출부(600)의 구체적인 일예는, 도 5 내지 도 8을 참조하여 상세히 설명된다. However, the detection unit 600 is not limited to the configuration as shown in FIG. 4. That is, the detection unit 600 may be formed in various structures to detect a panel abnormality in the panel using the gate line and various types of detection signals transmitted through the gate drive IC 200. have. A specific example of the detection unit 600 will be described in detail with reference to FIGS. 5 to 8.

상기 검출부(600)는, 상기한 바와 같이, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해, 상기 패널에 형성되어 있는 게이트 라인들 중 적어도 하나 이상의 게이트 라인과 연결될 수 있다. As described above, the detector 600 may be connected to at least one gate line among gate lines formed on the panel through the gate drive IC 200.

이 경우, 도 4에 도시된 바와 같은 회로 구성은, 상기 각 게이트 라인과 연결되어 있는 각 감지라인(610) 별로 형성될 수 있다. In this case, a circuit configuration as shown in FIG. 4 may be formed for each sensing line 610 connected to each gate line.

상기 검출부(600)가 상기 감지라인(610)을 통해 상기 비표시영역에서 상기 게이트 라인과 연결되어 있고, 상기 감지라인(610)이 상기 비표시영역에서 상기 전원연결라인들(510a, 520a)과 교차되게 형성되어 있는 경우, 상기 검출부(600)는 상기 감지라인(610)을 통해 상기 비표시영역에서의 패널이상을 검출할 수도 있다.
The detection unit 600 is connected to the gate line in the non-display area through the detection line 610, and the detection line 610 is connected to the power connection lines 510a and 520a in the non-display area. When formed to cross, the detector 600 may detect a panel abnormality in the non-display area through the sensing line 610.

마지막으로, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 외부 시스템으로부터 입력되는 타이밍 신호, 즉, 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신호(DE) 등을 이용하여, 상기 게이트 드라이브 IC(200)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)와 상기 소스 드라이브 IC(300)들의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS)를 생성하며, 상기 소스 드라이브 IC(300)로 전송될 영상데이터를 생성한다. Finally, the timing controller 400 uses the timing signal input from the external system, that is, the vertical synchronization signal (Vsync), the horizontal synchronization signal (Hsync), and the data enable signal (DE), to drive the gate. The gate control signal GCS for controlling the operation timing of the IC 200 and the data control signal DCS for controlling the operation timing of the source drive ICs 300 are generated, and the source drive IC 300 is generated. Create image data to be transmitted.

이를 위해, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 외부 시스템으로부터 입력영상데이터 및 타이밍 신호들을 수신하기 위한 수신부, 각종 제어신호들을 생성하기 위한 제어신호 생성부, 상기 입력영상데이터를 재정렬하여, 재정렬된 영상데이터를 출력하기 위한 데이터 정렬부 및 상기 제어신호들과 상기 영상데이터를 출력하기 위한 출력부를 포함한다. To this end, the timing controller 400 includes a receiving unit for receiving input image data and timing signals from the external system, a control signal generating unit for generating various control signals, and rearranging the input image data to rearrange the image. And a data alignment unit for outputting data and an output unit for outputting the control signals and the image data.

즉, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 외부 시스템으로부터 입력되는 입력영상데이터를 상기 패널(100)의 구조 및 특성에 맞게 재정렬시켜, 재정렬된 상기 영상데이터를 상기 소스 드라이브 IC(300)로 전송한다. 이러한 기능은, 상기 데이터 정렬부에서 실행될 수 있다. That is, the timing controller 400 rearranges the input image data input from the external system according to the structure and characteristics of the panel 100 and transmits the rearranged image data to the source drive IC 300. . This function can be executed in the data alignment unit.

상기 타이밍 컨트롤러(400)는 상기 외부 시스템으로부터 전송되어온 타이밍 신호들, 즉, 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync) 및 데이터인에이블신호(DE) 등을 이용하여, 상기 소스 드라이브 IC를 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS) 및 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)를 생성하여, 상기 제어신호들을 상기 소스 드라이브 IC(300)와 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 기능을 수행한다. 이러한 기능은, 상기 제어신호 생성부에서 실행될 수 있다. The timing controller 400 uses the source drive IC by using timing signals transmitted from the external system, that is, a vertical synchronization signal (Vsync), a horizontal synchronization signal (Hsync), and a data enable signal (DE). By generating a data control signal (DCS) for controlling and a gate control signal (GCS) for controlling the gate drive IC (200), the control signals are the source drive IC (300) and the gate drive IC (200) To perform the function of transmitting. Such a function may be executed in the control signal generator.

상기 제어신호 생성부에서 생성되는 데이터 제어신호(DCS)들에는 소스 스타트 펄스(SSP), 소스 쉬프트 클럭신호(SSC), 소스 출력 인에이블 신호(SOE) 등이 포함된다. The data control signals DCS generated by the control signal generator include a source start pulse SSP, a source shift clock signal SSC, and a source output enable signal SOE.

상기 제어신호 생성부에서 생성되는 게이트 제어신호(GCS)들로는 게이트 스타트 펄스(GSP), 게이트 스타트 신호(VST), 게이트 쉬프트 클럭(GSC), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE), 게이트 스타트신호(VST), 게이트 클럭(GCLK) 등이 있다.The gate control signals (GCS) generated by the control signal generator include a gate start pulse (GSP), a gate start signal (VST), a gate shift clock (GSC), a gate output enable signal (GOE), and a gate start signal (VST). ), gate clock (GCLK), and the like.

또한, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 검출부(600)의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부(500)의 구동을 제어하는 기능을 수행한다. In addition, the timing controller 400 performs a function of controlling the driving of the power supply unit 500 according to the detection result of the detection unit 600.

즉, 상기 검출부(600)를 통해 전송되어온 검출신호(VGL_S, VGH_S)의 분석결과, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 발생되었다고 판단되면, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 전원공급부(500)의 기능을 오프시켜, 상기 표시영역(120)에서 더 심한 패널이상이 발생되지 않도록 할 수 있다. 이를 위해, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는 파워제어신호(PCS)를 상기 전원공급부(500)로 전송할 수 있다. That is, when it is determined that a panel error has occurred in the display area 120 as a result of analysis of the detection signals VGL_S and VGH_S transmitted through the detection unit 600, the timing controller 400 may include the power supply 500 By turning off the) function, more severe panel abnormality may not occur in the display area 120. To this end, the timing controller 400 may transmit a power control signal (PCS) to the power supply 500.

또한, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 발생되었다고 판단되면, 상기 전원공급부(500) 뿐만 아니라, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 또는 상기 소스 드라이브 IC(300)의 구동을 제어함으로써, 상기 표시영역(120)에서 더 심한 패널이상이 발생되지 않도록 할 수도 있다. 이를 위해, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는 다양한 종류의 제어신호를 생성하여, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 또는 상기 소스 드라이브 IC(300)로 전송할 수 있다. In addition, when it is determined that the panel abnormality has occurred in the display area 120, the timing controller 400 is configured not only to the power supply 500 but also to the gate drive IC 200 or the source drive IC 300. By controlling the driving, it is possible to prevent more severe panel abnormality from occurring in the display area 120. To this end, the timing controller 400 may generate various types of control signals and transmit them to the gate drive IC 200 or the source drive IC 300.

상기한 바와 같은 본 발명은, 유기발광표시장치에서의 패널이상이 발생을 감지하여, 그에 대한 대응조치를 취하기 위한 것으로서, 게이트 라인으로 출력되는 게이트 온 신호 또는 게이트 오프 신호의, 전류 또는 전압을 이용하여, 상기 패널(100)의 표시영역(120)에서의 패널이상을 검출한다. 또한, 본 발명은 패널이상이 발생되었다고 판단되면, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어함으로써, 상기 표시영역(120)에서의 패널이상이 확산되거나, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등이 훼손되는 것을 방지할 수 있다. The present invention as described above is to detect the occurrence of a panel abnormality in the organic light emitting display device, and to take countermeasures therefor, using a current or voltage of a gate-on signal or a gate-off signal output to the gate line In this way, a panel abnormality in the display area 120 of the panel 100 is detected. In addition, according to the present invention, when it is determined that a panel abnormality has occurred, the driving of the power supply unit 500, the source drive IC 300, the gate drive IC 200, and the like is controlled, so that the display area 120 It is possible to prevent the panel abnormality from spreading or the power supply 500, the source drive IC 300, the gate drive IC 200, etc. being damaged.

즉, 본 발명은 상기 표시영역(120)에 형성되어 있는 게이트 라인에 공급되는 전압 또는 전류의 변화를 감지하여, 상기 표시영역(120)의 패널이상을 검출하고, 패널이상이 발생된 경우, 그에 대한 조치를 수행하여, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 확산되는 것을 방지할 수 있다. That is, the present invention detects a change in the voltage or current supplied to the gate line formed in the display area 120, detects a panel error in the display area 120, and if a panel error occurs, the By taking measures, it is possible to prevent the panel abnormality from spreading in the display area 120.

상기에서는, 패널이상이 발생된 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)가, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어하는 것으로 설명되었다. 그러나, 상기한 바와 같은 제어는, 상기 타이밍 컨트롤러(400) 이외의 다른 구성요소들에서 이루어질 수도 있다. 예를 들어, 상기 타이밍 컨트롤러(400) 및 상기 소스 드라이브 IC(300)가 일체로 구성된 드라이버 IC가, 상기한 바와 같은 제어 기능을 수행할 수도 있으며, 상기 타이밍 컨트롤러가 아닌 별도의 구성요소가, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어할 수도 있다. In the above, it has been described that when a panel error occurs, the timing controller 400 controls driving of the power supply 500, the source drive IC 300, and the gate drive IC 200. However, the control as described above may be performed in other components than the timing controller 400. For example, the driver IC in which the timing controller 400 and the source drive IC 300 are integrated may perform a control function as described above, and a separate component other than the timing controller may be used. The driving of the power supply unit 500, the source drive IC 300, and the gate drive IC 200 may be controlled.

따라서, 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어하는 구성요소를 간단히 제어부라 한다. 그러나, 이하에서는, 설명의 편의상 상기 타이밍 컨트롤러가 상기 제어부의 기능을 수행하는 것을 일예로 하여 본 발명이 설명된다.
Therefore, when the panel error occurs, a component that controls driving of the power supply unit 500, the source drive IC 300, and the gate drive IC 200 is simply referred to as a control unit. However, hereinafter, for convenience of explanation, the present invention is described as an example in which the timing controller performs a function of the control unit.

도 5는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 나타낸 예시도이다. 5 is an exemplary view showing a configuration of a detection unit applied to the organic light emitting display device according to the present invention.

본 발명에 따른 유기발광표시장치는, 상기한 바와 같이, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원공급부(500), 상기 검출부(600) 및 상기 타이밍 컨트롤러(400)를 포함한다. 이하에서는, 도 3 및 도 4를 참조하여 설명된 내용과 동일하거나 유사한 내용은, 생략되거나 또는 간단히 설명된다. The organic light emitting display device according to the present invention, as described above, the panel 100, the gate drive IC 200, the source drive IC 300, the power supply unit 500, the detection unit 600 and It includes the timing controller 400. Hereinafter, contents identical or similar to those described with reference to FIGS. 3 and 4 will be omitted or simply described.

첫째, 상기 패널(100)에는 상기 게이트 라인(GL)들, 상기 데이터 라인(DL)들, 상기 기준전압 라인(510), 상기 입력전압 라인(520), 상기 고전위 구동전압 라인, 상기 저전위 구동전압 라인 등이 형성되어 있으며, 특히, 상기 게이트 라인(GL)들은, 상기 기준전압 라인(510), 상기 입력전압 라인(520), 상기 고전위 구동전압 라인, 상기 저전위 구동전압 라인 등과 교차되도록 형성되어 있다. First, the panel 100 includes the gate lines GL, the data lines DL, the reference voltage line 510, the input voltage line 520, the high potential driving voltage line, and the low potential. A driving voltage line or the like is formed. In particular, the gate lines GL intersect the reference voltage line 510, the input voltage line 520, the high potential driving voltage line, and the low potential driving voltage line. It is formed as possible.

상기 기준전압 라인(510)은, 상기 픽셀 회로들에 연결되어 있으며, 상기 기준전압 라인(510)을 통해, 상기 기준전압(Vref)이 상기 픽셀 회로들로 공급된다.The reference voltage line 510 is connected to the pixel circuits, and the reference voltage Vref is supplied to the pixel circuits through the reference voltage line 510.

상기 입력전압 라인(520)은, 상기 픽셀 회로들에 연결되어 있으며, 상기 입력전압 라인(520)을 통해, 상기 입력전압(Vinit)이 상기 픽셀 회로들로 공급된다. The input voltage line 520 is connected to the pixel circuits, and the input voltage Vinit is supplied to the pixel circuits through the input voltage line 520.

상기 기준전압(Vref) 및 상기 입력전압(Vinit)은, 상기 픽셀 회로의 구동, 상기 유기발광소자(OLED)의 열화 보상 또는 상기 유기발광소자(OLED)의 열화 감지 등을 위한 목적으로 상기 픽셀 회로에 공급된다. The reference voltage Vref and the input voltage Vinit are the pixel circuits for the purpose of driving the pixel circuit, compensating for deterioration of the organic light emitting device OLED, or detecting deterioration of the organic light emitting device OLED. Is supplied to.

상기 고전위 구동전압(ELVDD) 및 상기 저전위 구동전압(ELVSS)은, 상기 유기발광소자(OLED)의 구동을 위해, 상기 픽셀 회로들로 공급된다. The high potential driving voltage ELVDD and the low potential driving voltage ELVSS are supplied to the pixel circuits to drive the organic light emitting diode OLED.

둘째, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 게이트 라인(GL)들로, 순차적으로 상기 게이트 온 신호를 공급한다.Second, the gate drive IC 200 supplies the gate-on signal sequentially to the gate lines GL.

이를 위해, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 게이트 라인(GL)들과 전기적으로 연결되어 있다. To this end, the gate drive IC 200 is electrically connected to the gate lines GL.

셋째, 상기 소스 드라이브 IC(300)는, 상기 게이트 라인(GL)들로 상기 게이트 온 신호가 공급되는 동안, 상기 데이터 라인(DL)들로 상기 데이터 전압을 공급한다. Third, the source drive IC 300 supplies the data voltage to the data lines DL while the gate-on signal is supplied to the gate lines GL.

넷째, 상기 전원공급부(500)는, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 데이터 드라이브 IC(300)에서 요구되는 전원을 공급한다. 예를 들어, 상기 전원공급부(500)는, 상기 스캔신호의 생성에 이용되는 상기 게이트 하이 전압(VGH) 및 상기 게이트 로우 전압(VGL)을 생성하여, 상기 전압들을 상기 검출부(600)를 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급한다. Fourth, the power supply unit 500 supplies power required by the gate drive IC 200 and the data drive IC 300. For example, the power supply unit 500 generates the gate high voltage VGH and the gate low voltage VGL used to generate the scan signal, and the voltages are applied through the detection unit 600. It is supplied to the gate drive IC 200.

또한, 상기 전원공급부(500)는, 상기 기준전압(Vref), 상기 입력전압(Vinit), 상기 고전위 구동전압(ELVDD) 및 상기 저전위 구동전압(ELVSS)을 생성하여, 상기 전원들을, 상기 전원라인들을 통해 상기 픽셀 회로들로 공급한다. 이하에서는, 상기 기준전압(Vref), 상기 입력전압(Vinit), 상기 고전위 구동전압 및 상기 저전위 구동전압을 총칭하여 전원이라 한다. 따라서, 이하에서 사용되는 전원은, 상기 기준전압(Vref)이 될 수도 있고, 상기 입력전압(Vinit)이 될 수도 있고, 상기 고전위 구동전압이 될 수도 있으며, 상기 저전위 구동전압이 될 수도 있다. 그러나, 이하에서는, 설명의 편의상, 상기 기준전압 또는 상기 입력전압을 상기 전원이라 한다.In addition, the power supply unit 500 generates the reference voltage Vref, the input voltage Vinit, the high potential driving voltage ELVDD, and the low potential driving voltage ELVSS, so that the power sources are It is supplied to the pixel circuits through power lines. Hereinafter, the reference voltage Vref, the input voltage Vinit, the high potential driving voltage, and the low potential driving voltage are collectively referred to as a power source. Accordingly, the power source used below may be the reference voltage Vref, the input voltage Vinit, the high potential driving voltage, or the low potential driving voltage. . However, hereinafter, for convenience of description, the reference voltage or the input voltage is referred to as the power source.

특히, 본 발명에 적용되는 상기 전원공급부(500)는, 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급되는 상기 게이트 하이 전압(VGH) 및 상기 게이트 로우 전압(VGL)들을 이용하여, 상기 전원, 즉, 상기 기준전압(Vref) 및 상기 입력전압(Vinit)을 생성한다. 이하에서는, 상기 게이트 하이 전압 및 상기 게이트 로우 전압을 총칭하여, 게이트 전압이라 한다. 또한, 이하에서는, 설명의 편의상, 상기 게이트 로우 전압을, 제1게이트 전압이라 하며, 상기 게이트 하이 전압을 제2게이트 전압이라 한다. Particularly, the power supply unit 500 applied to the present invention uses the gate high voltage VGH and the gate low voltages VGL supplied to the gate drive IC 200, so that the power, that is, the The reference voltage Vref and the input voltage Vinit are generated. Hereinafter, the gate high voltage and the gate low voltage are collectively referred to as a gate voltage. In addition, hereinafter, for convenience of description, the gate low voltage is referred to as a first gate voltage, and the gate high voltage is referred to as a second gate voltage.

따라서, 상기 전원공급부(500)는, 상기 스캔신호의 생성에 이용되는 상기 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 검출부(600)를 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 기능을 수행할 수 있다.Accordingly, the power supply unit 500 performs the function of generating the gate voltage used to generate the scan signal and supplying the gate voltage to the gate drive IC 200 through the detection unit 600. Can be.

또한, 상기 전원공급부(500)는, 상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는 기능을 수행할 수 있다.In addition, the power supply unit 500 may generate the power using the gate voltage and perform a function of supplying the power to the power lines.

이를 위해, 상기 전원공급부(500)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 전압을 상기 검출부(600)로 출력하는 제1출력기(510), 상기 제2게이트 전압을 상기 검출부(600)로 출력하는 제2출력기(520) 및 상기 제1게이트 전압과 상기 제2게이트 전압을 이용하여 상기 전원을 생성하는 전원 생성기(530)를 포함한다.To this end, the power supply unit 500, as shown in Figure 5, the first output unit 510 for outputting the first gate voltage to the detection unit 600, the second gate voltage to the detection unit 600 It includes a second output unit 520 outputting the output and the power generator 530 for generating the power using the first gate voltage and the second gate voltage.

예를 들어, 상기 제1출력기는, 상기 게이트 로우 전압을 생성하고, 상기 제2출력기는, 상기 게이트 하이 전압을 생성하며, 상기 전원 생성기(530)는 상기 기준전압(Vref)을 생성할 수 있다. For example, the first output unit may generate the gate low voltage, the second output unit may generate the gate high voltage, and the power generator 530 may generate the reference voltage Vref. .

다섯째, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 상기 감지라인(610)을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있다. Fifth, the detector 600 may detect a panel abnormality in the display area by using a current induced through the sensing line 610 that supplies the gate voltage to the gate drive IC 200. .

이를 위해, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 전압을, 상기 감지라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 게이트 전압 전송기, 및 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC와 상기 감지라인(610)을 통해, 과전류가 전송되면, 검출신호를 생성하여 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송하는 검출신호 전송기를 포함한다. To this end, the detection unit 600, the gate voltage, the gate voltage transmitter for transmitting to the gate drive IC through the detection line, and through the gate line and the gate drive IC and the detection line 610, When the overcurrent is transmitted, it includes a detection signal transmitter that generates a detection signal and transmits it to the timing controller 400.

상기한 바와 같이, 상기 게이트 전압은, 상기 스캔신호 중 상기 게이트 오프 신호의 생성에 이용되는 상기 제1게이트 구동전압 또는 상기 스캔신호 중 상기 게이트 온 신호의 생성에 이용되는 제2게이트 구동전압 중 적어도 어느 하나가 될 수 있다. 이하에서는, 상기 감지라인(610)이, 제1감지신호전송라인 및 제2감지신호전송라인로 구성되는 경우를 일예로 하여 본 발명이 설명된다. As described above, the gate voltage is at least one of the first gate driving voltage used for generating the gate-off signal among the scan signals or the second gate driving voltage used for generating the gate-on signals among the scan signals. It can be either. Hereinafter, the present invention will be described with an example in which the sensing line 610 is composed of a first sensing signal transmission line and a second sensing signal transmission line.

이 경우, 상기 검출부(600)는, 상기 제1게이트 구동전압을 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하고, 상기 제2게이트 구동전압을 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 유도된 제1전류 또는 상기 제2감지신호전송라인을 통해 유도된 제2전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출할 수 있다. In this case, the detector 600 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, and transmits the second gate driving voltage to the second sensing signal. Transmitting to the gate drive IC 200 through a line, and using the first current induced through the first sensing signal transmission line or the second current induced through the second sensing signal transmission line, the panel error Can be detected.

예를 들어, 상기 전원라인들 간에, 또는 상기 게이트 라인과 상기 전원라인 간에 쇼트와 같은 패널이상이 발생되면, 전류 소모가 많아지기 때문에, 상기 게이트 라인으로 과전류가 흐르게 된다.For example, when a panel error such as a short occurs between the power lines or between the gate line and the power line, current consumption increases, so that an overcurrent flows to the gate line.

이 경우, 상기 과전류는, 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 감지라인(610)으로 유도되며, 최종적으로 상기 검출부(600)로 유도된다. In this case, the overcurrent is induced to the detection line 610 through the gate drive IC 200 electrically connected to the gate line, and finally to the detection unit 600.

따라서, 상기 검출부(600)는, 상기 과전류가 상기 감지라인(610)을 통해 유도되면, 상기 패널에서 패널이상이 발생된 것으로 판단하여, 상기 검출신호를 생성한다. 상기 검출신호는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송되며, 상기 검출신호를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원 공급부(500) 중 적어도 어느 하나의 동작을 중단시킬 수 있다. Therefore, when the overcurrent is induced through the detection line 610, the detection unit 600 determines that a panel error has occurred in the panel, and generates the detection signal. The detection signal is transmitted to the timing controller 400, and the timing controller 400 receiving the detection signal includes the gate drive IC 200, the source drive IC 300, and the power supply unit 500. ) Can be stopped.

상기 검출부(600)는, 상기 제1게이트 구동전압 또는 상기 제2게이트 구동전압을 이용하여 상기 패널이상의 발생여부를 판단할 수 있으나, 상기 제1게이트 구동전압 및 상기 제2게이트 구동전압 모두를 이용하여 상기 패널이상의 발생여부를 판단할 수도 있다.The detection unit 600 may determine whether or not the panel error occurs using the first gate driving voltage or the second gate driving voltage, but uses both the first gate driving voltage and the second gate driving voltage. By doing so, it may be possible to determine whether the panel error occurs.

이 경우, 상기 검출부(600)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기(610) 및 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함할 수 있다. In this case, the detector 600 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, as shown in FIG. 5, and the first sensing The first detector 610 and the second gate driving voltage for detecting the panel abnormality are transmitted to the gate drive IC 200 through the second sensing signal transmission line by using the current transmitted through the signal transmission line. And, it may include a second detector for detecting the panel error using the current transmitted through the second detection signal transmission line.

상기 검출부(600)의 세부 구성 및 기능은, 도 6 내지 도 9를 참조하여 상세히 설명된다. The detailed configuration and function of the detection unit 600 will be described in detail with reference to FIGS. 6 to 9.

여섯째, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 검출부(600)로부터, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호가 전송되면, 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원 공급부(500) 중 적어도 어느 하나의 동작을 중단시킬 수 있다. 특히, 상기 패널이상이 발생된 상태에서, 상기 전원라인으로 상기 전원이 공급되면, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 소스 드라이브 IC(300)가 손상될 가능성이 높다. 따라서, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 검출신호가 전송되면, 우선적으로 상기 전원 공급부(500)의 동작을 중단시킬 수 있다.
Sixth, the timing controller 400, the gate drive IC 200, the source drive IC 300, the power supply when the detection signal indicating that the panel error has been transmitted from the detection unit 600 At least one of the 500 may be stopped. In particular, when the power is supplied to the power line in a state in which the panel error occurs, there is a high possibility that the panel 100, the gate drive IC 200 and the source drive IC 300 are damaged. Therefore, when the detection signal is transmitted, the timing controller 400 may preferentially stop the operation of the power supply unit 500.

상기에서 설명된 본 발명에 따른 유기발광표시장치의 구동방법을 설명하면 다음과 같다. When explaining the driving method of the organic light emitting display device according to the present invention described above is as follows.

예를 들어, 본 발명에 따른 유기발광표시장치 구동방법은, 게이트 라인들과 데이터 라인들이 형성되어 있는 패널(100)의 표시영역(120)에서, 상기 게이트 라인들과 교차되게 형성되어 있는 전원라인들로, 전원을 공급하여, 상기 패널(100)에 형성되어 있는 픽셀 회로들을 구동시키는 단계, 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인(610)을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역(120)에서의 패널이상을 검출하는 단계 및 상기 패널이상이 검출되면, 상기 전원라인들로 공급되는 상기 전원을 차단하는 단계를 포함한다.For example, in the method of driving an organic light emitting display device according to the present invention, in the display area 120 of the panel 100 in which gate lines and data lines are formed, a power line formed to cross the gate lines In order to supply power, driving the pixel circuits formed on the panel 100, using the detection signal collected through the detection line 610 electrically connected to the gate line, the display And detecting a panel abnormality in the region 120 and, when the panel abnormality is detected, cutting off the power supplied to the power lines.

여기서, 상기 픽셀 회로들을 구동시키는 단계는, 상기 게이트 라인으로 공급되는 스캔신호의 생성에 이용되는 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 라인들로 공급하는 단계 및 상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는 단계를 포함한다. Here, the driving of the pixel circuits may include generating a gate voltage used to generate a scan signal supplied to the gate line, supplying the gate voltage to the gate lines, and using the gate voltage to power the power. And supplying the power to the power lines.

또한, 상기 패널이상을 검출하는 단계에서, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 상기 감지라인(610)을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있다. In addition, in the step of detecting the panel abnormality, the detection unit 600 uses the current induced through the sensing line 610 electrically connected to the gate line to detect the panel abnormality in the display area. Can be detected.

특히, 상기 검출부(600)는, 상기 감지라인을 통해 과전류가 전송되면, 상기 패널이상이 검출된 것으로 판단할 수 있다.
In particular, when the overcurrent is transmitted through the detection line, the detection unit 600 may determine that the panel error is detected.

도 6은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제1검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도이며, 도 7은 도 6에 도시된 제1검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도이다. 6 is an exemplary view for explaining the configuration and function of a first detector applied to an organic light emitting display device according to the present invention, and FIG. 7 is an exemplary view showing a modified configuration of the first detector shown in FIG. 6.

상기 검출부(600)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기(610) 및 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함할 수 있다. The detector 600 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, as shown in FIG. 5, and the first sensing signal transmission line. The first detector 610 and the second gate driving voltage for detecting the panel abnormality are transmitted to the gate drive IC 200 through the second sensing signal transmission line using the current transmitted through the, And a second detector for detecting the panel abnormality using the current transmitted through the second sensing signal transmission line.

상기 제1검출기(610)는, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 제1게이트 전압 전송기(611) 및 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 제1감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 제1검출신호(VGL_S)를 생성하여 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 제1검출신호 전송기(612)를 포함한다. 여기서, 상기 제1게이트 구동전압은, 상기 스캔신호 중 상기 픽셀 회로에 형성되어 있는 스위칭 트랜지스터를 턴오프시킬 수 있는 상기 게이트 로우 전압(VGL)이 될 수 있다. The first detector 610 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, as shown in FIG. 6(a). When an overcurrent is transmitted through the gate voltage transmitter 611, the gate line, the gate drive IC 200, and the first detection signal transmission line, a first detection signal VGL_S is generated and transmitted to the timing controller And a first detection signal transmitter 612. Here, the first gate driving voltage may be the gate low voltage VGL capable of turning off the switching transistor formed in the pixel circuit among the scan signals.

상기 제1게이트 전압 전송기(611)는, 상기 전원 공급부(500)로부터 공급되어온 상기 제1게이트 전압(VGL)과 연결되어 있는 저항들(R1, R2)을 포함하며, 상기 제1게이트 전압(VGL)을 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송한다. The first gate voltage transmitter 611 includes resistors R1 and R2 connected to the first gate voltage VGL supplied from the power supply 500, and the first gate voltage VGL ) To the gate drive IC 200 through the first detection signal transmission line.

상기 제1검출신호 전송기(612)는, 제1단자가 상기 제1게이트 전압 전송기(611)와 연결되어 있으며 제2단자(게이트 단자)가 연결되어 있는 상기 제1감지신호전송라인을 통해 유도된 과전류에 의해 턴온되는 제1트랜지스터(TR1), 및 상기 제1트랜지스터의 제3단자와 연결되어 있으며 상기 과전류에 의해 상기 제1트랜지스터(TR1)가 턴온되면, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호를 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송하는 제1검출신호 생성기를 포함한다. 상기 제1검출신호 생성기는, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 제1검출전원(V1), 제5저항(R5), 다이오드(D) 및 제4저항(R4)을 포함할 수 있다. 상기 제1트랜지스터(TR1)와 상기 제1검출신호 생성기 사이에는 제3저항(R3)이 연결될 수 있다.In the first detection signal transmitter 612, a first terminal is connected to the first gate voltage transmitter 611 and a second terminal (gate terminal) is connected through the first sensing signal transmission line. The first transistor TR1 turned on by overcurrent, and the third signal of the first transistor connected to the third terminal of the first transistor TR1 when turned on by the overcurrent, the detection signal indicating that the panel error has occurred It includes a first detection signal generator for transmitting to the timing controller 400. The first detection signal generator may include a first detection power supply V1, a fifth resistor R5, a diode D, and a fourth resistor R4, as shown in FIG. 6(a). have. A third resistor R3 may be connected between the first transistor TR1 and the first detection signal generator.

첫째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 제1검출기(610)의 동작 방법을 도 6의 (b)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. First, in the panel 100, when the panel error does not occur, the operation method of the first detector 610 will be described with reference to FIG. 6B.

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급되지 않는다. 따라서, N타입으로 구성된 상기 제1트랜지스터(TR1)는 턴오프된다.When the panel error does not occur in the panel 100, an overcurrent is not supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200 and the detection line 610. Therefore, the first transistor TR1 configured as an N type is turned off.

상기 제1트랜지스터(TR1)가 턴오프됨에 따라, 상기 제1게이트 전압 전송기(611) 및 상기 제1검출신호 전송기(612)는, 개별적으로 구동된다.As the first transistor TR1 is turned off, the first gate voltage transmitter 611 and the first detection signal transmitter 612 are individually driven.

따라서, 상기 제1게이트 구동전압(VGL)은, 상기 제1게이트 전압 전송기(611)와 상기 감지라인(610)을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송된다.Therefore, the first gate driving voltage VGL is transmitted to the gate drive IC 200 through the first gate voltage transmitter 611 and the sensing line 610.

이 경우, 상기 제1검출신호 생성기에서는, 상기 제1검출전원(V1)에 의해 하이레벨의 검출신호(VH)가 출력되며, 상기 하이레벨의 검출신호(VH)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, in the first detection signal generator, a high-level detection signal V H is output by the first detection power source V1, and the high-level detection signal V H is the timing controller 400. ).

상기 하이레벨의 검출신호(VH)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생되지 않은 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시킨다. The timing controller, which has received the high level detection signal V H , determines that a panel error has not occurred in the panel, and drives the power supply 500 normally.

둘째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 제1검출기(610)의 동작 방법을 도 6의 (c)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. Second, in the panel 100, when the panel error occurs, the operation method of the first detector 610 will be described with reference to FIG. 6C.

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급된다. 따라서, N타입으로 구성된 상기 제1트랜지스터(TR1)는 턴온된다. When the panel error occurs in the panel 100, overcurrent is supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200, and the detection line 610. Therefore, the first transistor TR1 configured as an N type is turned on.

상기 제1트랜지스터(TR1)가 턴온됨에 따라, 상기 제1게이트 전압 전송기(611) 및 상기 제1검출신호 전송기(612)는, 전기적으로 연결된다. As the first transistor TR1 is turned on, the first gate voltage transmitter 611 and the first detection signal transmitter 612 are electrically connected.

이 경우, 상기 제1검출신호 생성기에서, 상기 제1검출전원(V1)에 의해 발생된 전류는, 제1트랜지스터(TR1) 및 상기 다이오드(D)로 분배된다. 따라서, 상기 다이오드(D)의 캐소드 단자에서는 로우레벨의 검출신호(VL)가 출력되며, 상기 로우레벨의 검출신호(VL)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, in the first detection signal generator, the current generated by the first detection power source V1 is distributed to the first transistor TR1 and the diode D. Therefore, a low-level detection signal V L is output from the cathode terminal of the diode D, and the low-level detection signal V L is transmitted to the timing controller 400.

상기 로우레벨의 검출신호(VL)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생된 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킨다. The timing controller receiving the low level detection signal V L determines that a panel error has occurred in the panel, and stops driving the power supply unit 500.

상기한 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압(VGL)을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 상기 제1검출기(610)는, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되지 않은 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 하이레벨의 검출신호(VH)를 전송하며, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되는 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 로우레벨의 검출신호(VL)를 전송한다.As described above, the first detector 610 that supplies the first gate driving voltage VGL to the gate drive IC 200 includes the gate line, the gate drive IC 200, and the sensing line ( When the overcurrent is not transmitted through 610, a high level detection signal V H is transmitted to the timing controller 400, and the gate line, the gate drive IC 200, and the detection line 610 are transmitted. When the overcurrent is transmitted through, the low-level detection signal V L is transmitted to the timing controller 400.

상기 타이밍 컨트롤러(400)는 하이레벨의 검출신호(VH)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시키며, 로우레벨의 검출신호(VL)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킴으로써, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300) 및 상기 전원 공급부(500)의 손상을 방지할 수 있다.The timing controller 400 normally drives the power supply 500 when a high level detection signal V H is transmitted, and when the low level detection signal V L is transmitted, the power supply By stopping the driving of the supply unit 500, it is possible to prevent damage to the panel 100, the gate drive IC 200, the source drive IC 300, and the power supply unit 500.

상기 제1검출기(610)가 출력하는 상기 검출신호(VGL_S)의 레벨은, 도 7에 도시된 바와 같은 복수의 저항들의 연결 방법에 따라 다양하게 설정될 수 있다.The level of the detection signal VGL_S output from the first detector 610 may be variously set according to a method of connecting a plurality of resistors as shown in FIG. 7.

예를 들어, 상기 제1저항(R1) 및 상기 제2저항(R2)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R1a 내지 R1g)로 대체될 수 있고, 상기 제3저항(R3)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R3a, R3b)로 대체될 수 있고, 상기 제4저항(R4)은, 직렬 또는 병렬로 연결된 복수의 저항들(R4a, R4b, R4c)로 대체될 수 있으며, 상기 제5저항(R5)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R5a, R5b)로 대체될 수 있다.
For example, the first resistor R1 and the second resistor R2 may be replaced by a plurality of resistors R1a to R1g connected in parallel, and the third resistor R3 in parallel. The plurality of resistors R3a and R3b connected may be replaced, and the fourth resistor R4 may be replaced by a plurality of resistors R4a, R4b, and R4c connected in series or in parallel, and the fifth The resistor R5 may be replaced by a plurality of resistors R5a and R5b connected in parallel.

도 8은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제2검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도이며, 도 9는 도 8에 도시된 제2검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도이다. 8 is an exemplary view for explaining the configuration and function of a second detector applied to the organic light emitting display device according to the present invention, and FIG. 9 is an exemplary view showing a modified configuration of the second detector shown in FIG. 8.

상기 검출부(600)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기(610) 및 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함할 수 있다. The detector 600 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, as shown in FIG. 5, and the first sensing signal transmission line. The first detector 610 and the second gate driving voltage for detecting the panel abnormality are transmitted to the gate drive IC 200 through the second detection signal transmission line using the current transmitted through the, It may include a second detector for detecting the panel abnormality using the current transmitted through the second detection signal transmission line.

상기 제2검출기(620)는, 도 8의 (a)에 도시된 바와 같이, 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 제2게이트 전압 전송기(621) 및 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 제2감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 제2검출신호(VGH_S)를 생성하여 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 제2검출신호 전송기(622)를 포함한다. 여기서, 상기 제2게이트 구동전압은, 상기 스캔신호 중 상기 픽셀 회로에 형성되어 있는 스위칭 트랜지스터를 턴온시킬 수 있는 상기 게이트 하이 전압(VGH)이 될 수 있다. The second detector 620 transmits the second gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the second sensing signal transmission line, as shown in FIG. 8(a). When an overcurrent is transmitted through the gate voltage transmitter 621, the gate line, the gate drive IC 200, and the second detection signal transmission line, a second detection signal VGH_S is generated and transmitted to the timing controller And a second detection signal transmitter 622. Here, the second gate driving voltage may be the gate high voltage VGH capable of turning on a switching transistor formed in the pixel circuit among the scan signals.

상기 제2게이트 전압 전송기(621)는, 상기 전원 공급부(500)로부터 공급되어온 상기 제2게이트 전압(VGH)과 연결되어 있는 제6저항(R6)을 포함하며, 상기 제2게이트 전압(VGH)을 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송한다. The second gate voltage transmitter 621 includes a sixth resistor (R6) connected to the second gate voltage (VGH) supplied from the power supply unit 500, and the second gate voltage (VGH) To the gate drive IC 200 through the second sensing signal transmission line.

상기 제2검출신호 전송기(622)는, 제1단자가 상기 제2게이트 전압 전송기(621)와 연결되어 있으며 제2단자(게이트 단자)가 연결되어 있는 상기 제2감지신호전송라인을 통해 유도된 과전류에 의해 턴온되는 제2트랜지스터(TR2), 및 상기 제2트랜지스터의 제3단자와 연결되어 있으며 상기 과전류에 의해 상기 제2트랜지스터(TR1)가 턴온되면, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호를 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송하는 제2검출신호 생성기를 포함한다. 상기 제2검출신호 생성기는, 도 8의 (a)에 도시된 바와 같이, 제2검출전원(V2), 제3트랜지스터(TR3) 및 제8저항(R8)을 포함할 수 있다. 상기 제2트랜지스터(TR2)와 상기 제2검출신호 생성기 사이에는 제7저항(R7)이 연결될 수 있다.In the second detection signal transmitter 622, a first terminal is connected to the second gate voltage transmitter 621 and a second terminal (gate terminal) is connected through the second sensing signal transmission line. The second transistor TR2 turned on by an overcurrent, and the third signal of the second transistor connected to the third terminal, and when the second transistor TR1 is turned on by the overcurrent, the detection signal indicating that the panel error has occurred It includes a second detection signal generator for transmitting to the timing controller 400. The second detection signal generator may include a second detection power source V2, a third transistor TR3, and an eighth resistor R8, as shown in FIG. 8(a). A seventh resistor R7 may be connected between the second transistor TR2 and the second detection signal generator.

첫째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 제2검출기(620)의 동작 방법을 도 8의 (b)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. First, in the panel 100, when the panel error does not occur, the operation method of the second detector 620 will be described with reference to FIG. 8B.

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급되지 않는다. 따라서, P타입으로 구성된 상기 제2트랜지스터(TR2)는 턴오프된다.When the panel error does not occur in the panel 100, an overcurrent is not supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200, and the detection line 610. Therefore, the second transistor TR2 configured as a P type is turned off.

상기 제2트랜지스터(TR2)가 턴오프됨에 따라, 상기 제2게이트 전압 전송기(621) 및 상기 제2검출신호 전송기(622)는, 개별적으로 구동된다.As the second transistor TR2 is turned off, the second gate voltage transmitter 621 and the second detection signal transmitter 622 are individually driven.

따라서, 상기 제2게이트 구동전압(VGH)은, 상기 제2게이트 전압 전송기(621)와 상기 감지라인(610)을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송된다.Accordingly, the second gate driving voltage VGH is transmitted to the gate drive IC 200 through the second gate voltage transmitter 621 and the sensing line 610.

이 경우, 상기 제2검출신호 생성기에서는, 상기 제2검출전원(V2)에 의해 발생된 전류가 상기 제3트랜지스터(TR3)를 통과하지 못하기 때문에, 상기 제3트랜지스터(TR3)와 상기 제8저항(R8) 사이의 노드에서는, 로우레벨의 검출신호(VL)가 출력되며, 상기 로우레벨의 검출신호(VL)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, in the second detection signal generator, since the current generated by the second detection power source V2 does not pass through the third transistor TR3, the third transistor TR3 and the eighth At the node between the resistors R8, a low-level detection signal V L is output, and the low-level detection signal V L is transmitted to the timing controller 400.

상기 로우레벨의 검출신호(VL)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생되지 않은 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시킨다. The timing controller, which has received the low level detection signal V L , determines that a panel error has not occurred in the panel, and drives the power supply 500 normally.

둘째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 제2검출기(620)의 동작 방법을 도 8의 (c)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. Second, in the panel 100, when the panel error occurs, the operation method of the second detector 620 will be described with reference to FIG. 8C.

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급된다. 따라서, P타입으로 구성된 상기 제2트랜지스터(TR2)는 턴온된다. When the panel error occurs in the panel 100, overcurrent is supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200, and the detection line 610. Therefore, the second transistor TR2 configured as a P type is turned on.

상기 제2트랜지스터(TR2)가 턴온됨에 따라, 상기 제3트랜지스터(TR3) 역시 턴온된다. As the second transistor TR2 is turned on, the third transistor TR3 is also turned on.

이 경우, 상기 제2검출신호 생성기에서는, 상기 제2검출전원(V2)에 의해 발생된 전류가 상기 제3트랜지스터(TR3)를 통과하기 때문에, 상기 제3트랜지스터(TR3)와 상기 제8저항(R8) 사이의 노드에서는, 하이레벨의 검출신호(VH)가 출력되며, 상기 하이레벨의 검출신호(VH)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, in the second detection signal generator, since the current generated by the second detection power source V2 passes through the third transistor TR3, the third transistor TR3 and the eighth resistor ( In the node between R8), a high level detection signal V H is output, and the high level detection signal V H is transmitted to the timing controller 400.

상기 하이레벨의 검출신호(VH)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생된 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킨다. The timing controller, which has received the detection signal V H of the high level, determines that a panel error has occurred in the panel, and stops driving the power supply unit 500.

상기한 바와 같이, 상기 제2게이트 구동전압(VGH)을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 상기 제2검출기(620)는, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되지 않은 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 로우레벨의 검출신호(VL)를 전송하며, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되는 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 하이레벨의 검출신호(VH)를 전송한다.As described above, the second detector 620 that supplies the second gate driving voltage VGH to the gate drive IC 200 includes the gate line, the gate drive IC 200 and the sensing line ( When the overcurrent is not transmitted through 610), a low-level detection signal V L is transmitted to the timing controller 400, and the gate line, the gate drive IC 200, and the detection line 610 are transmitted. When an overcurrent is transmitted through, a high level detection signal V H is transmitted to the timing controller 400.

상기 타이밍 컨트롤러(400)는 로우레벨의 검출신호(VL)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시키며, 하이레벨의 검출신호(VH)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킴으로써, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300) 및 상기 전원 공급부(500)의 손상을 방지할 수 있다.When the low-level detection signal V L is transmitted, the timing controller 400 normally drives the power supply 500 and when the high-level detection signal V H is transmitted, the power By stopping the driving of the supply unit 500, it is possible to prevent damage to the panel 100, the gate drive IC 200, the source drive IC 300, and the power supply unit 500.

상기 제2검출기(620)가 출력하는 상기 검출신호(VGH_S)의 레벨은, 도 9에 도시된 바와 같은 복수의 저항들의 연결 방법에 따라 다양하게 설정될 수 있다.The level of the detection signal VGH_S output by the second detector 620 may be variously set according to a connection method of a plurality of resistors as shown in FIG. 9.

예를 들어, 상기 제6저항(R6)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R6a 내지 R6g)로 대체될 수 있으며, 상기 제7저항(R7)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R7a 내지 R7d)로 대체될 수 있다. For example, the sixth resistor R6 may be replaced by a plurality of resistors R6a to R6g connected in parallel, and the seventh resistor R7 may include a plurality of resistors R7a to connected in parallel. R7d).

본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Those skilled in the art to which the present invention pertains will appreciate that the present invention may be implemented in other specific forms without changing its technical spirit or essential characteristics. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the above detailed description, and it should be interpreted that all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and equivalent concepts are included in the scope of the present invention. do.

100 : 패널 200 : 게이트 드라이브 IC
300 : 소스 드라이브 IC 400 : 타이밍 컨트롤러
500 : 전원공급부 600 : 검출부
100: panel 200: gate drive IC
300: source drive IC 400: timing controller
500: power supply 600: detection unit

Claims (21)

표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차영역에 픽셀이 형성되어 있고, 상기 픽셀에는 픽셀 회로가 형성되어 있으며, 상기 픽셀 회로의 구동에 필요한 전원의 공급을 위해 전원라인들이 형성되어 있는 패널;
상기 게이트 라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC;
상기 전원라인들에 전원을 공급하기 위한 전원공급부;
상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하기 위한 검출부; 및
상기 검출부의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부의 구동을 제어하기 위한 제어부를 포함하고,
상기 감지라인은 상기 게이트 드라이브 IC를 통해 상기 게이트 라인들 중 적어도 하나와 전기적으로 연결되고, 상기 감지라인의 적어도 일부는 상기 패널의 비표시영역에 배치되며,
상기 검출부는,
상기 스캔신호를 구성하는 게이트 하이 전압 또는 게이트 로우 전압에 의해 발생되는 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는, 유기발광표시장치.
A pixel is formed in a crossing region between gate lines and data lines formed in the display area, a pixel circuit is formed in the pixel, and power lines are formed to supply power required to drive the pixel circuit. panel;
A gate drive IC for supplying scan signals to the gate lines;
A power supply unit for supplying power to the power lines;
A detection unit for detecting a panel abnormality in the display area using a detection signal collected through a detection line electrically connected to the gate line; And
According to the detection result of the detection unit, a control unit for controlling the driving of the power supply unit,
The sensing line is electrically connected to at least one of the gate lines through the gate drive IC, and at least a portion of the sensing line is disposed in a non-display area of the panel,
The detection unit,
And detecting the panel abnormality using a current generated by a gate high voltage or a gate low voltage constituting the scan signal.
제 1 항에 있어서,
상기 전원라인들은,
유기발광소자에 고전위 전압(ELVDD)을 공급하기 위한 고전위 전압 라인, 상기 유기발광소자에 저전위 전압(ELVSS)을 공급하기 위한 저전위 전압 라인, 상기 유기발광소자의 구동에 필요한 기준전압(Vref)을 상기 픽셀에 공급하기 위한 기준전압 라인, 상기 유기발광소자의 구동에 필요한 입력전압(Vinit)을 상기 픽셀에 공급하기 위한 입력전압 라인 중 적어도 어느 하나인, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The power lines,
High-potential voltage line for supplying a high-potential voltage (ELVDD) to the organic light-emitting device, low-potential voltage line for supplying a low-potential voltage (ELVSS) to the organic light-emitting device, a reference voltage required for driving the organic light-emitting device ( Vref) is an at least one of a reference voltage line for supplying the pixel and an input voltage line for supplying the input voltage Vinit required for driving the organic light emitting device to the pixel.
제 1 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 스캔신호를 구성하는, 상기 게이트 하이 전압을 이용하거나, 상기 스캔신호를 구성하는 상기 게이트 로우 전압을 이용하여 상기 패널이상을 검출하는, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The detection unit,
An organic light emitting display device for detecting the panel abnormality by using the gate high voltage constituting the scan signal or by using the gate low voltage constituting the scan signal.
제 1 항에 있어서,
상기 검출부는, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC를 통해 전송되어온 감지신호를 이용하여 생성된 검출신호를 상기 제어부로 전송하며,
상기 제어부는, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호가 전송되면, 상기 전원공급부의 구동을 중단시키는, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The detection unit transmits the detection signal generated using the gate line and the detection signal transmitted through the gate drive IC to the control unit,
The control unit stops driving the power supply unit when the detection signal is transmitted indicating that the panel error has occurred.
제 1 항에 있어서,
두 개의 상기 게이트 드라이브 IC들은, 상기 패널의 비표시영역들 중 서로 마주보고 있는 두 개의 비표시영역들 각각에 형성되어 있으며,
두 개의 상기 게이트 드라이브 IC들 각각에는 상기 검출부가 연결되어 있는, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The two gate drive ICs are formed in each of the two non-display areas facing each other among the non-display areas of the panel,
An organic light emitting display device, wherein the detection unit is connected to each of the two gate drive ICs.
제 1 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 게이트 드라이브 IC를 통해, 상기 패널에 형성되어 있는 게이트 라인들 중 적어도 하나 이상의 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The detection unit,
An organic light emitting display device, which is electrically connected to at least one of the gate lines formed on the panel through the gate drive IC.
제 1 항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 검출부로부터, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 검출신호가 수신되면, 상기 게이트 드라이브 IC 또는 상기 데이터 라인들로 데이터 전압을 공급하는 소스 드라이브 IC 또는 상기 전원공급부의 구동을 중단시키는, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The control unit,
When the detection signal indicating that the panel error has occurred is received from the detection unit, the organic light emitting display device stops driving the source drive IC or the power supply unit that supplies a data voltage to the gate drive IC or the data lines.
제 1 항에 있어서,
상기 전원공급부는, 상기 스캔신호의 생성에 이용되는 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 검출부를 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 공급하며, 상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The power supply unit generates a gate voltage used to generate the scan signal, supplies the gate voltage to the gate drive IC through the detection unit, generates the power using the gate voltage, and supplies the power to the An organic light emitting display device that supplies power lines.
제 8 항에 있어서,
상기 검출부는, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 드라이브 IC로 공급하는 상기 감지라인을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출하는, 유기발광표시장치.
The method of claim 8,
The detection unit detects the panel abnormality by using a current induced through the detection line that supplies the gate voltage to the gate drive IC.
제 8 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 게이트 전압을, 상기 감지라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 게이트 전압 전송기; 및
상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC 및 상기 감지라인을 통해, 과전류가 전송되면, 상기 과전류가 발생되었음을 알리는 검출신호를 생성하여 상기 제어부로 전송하는 검출신호 전송기를 포함하는, 유기발광표시장치.
The method of claim 8,
The detection unit,
A gate voltage transmitter transmitting the gate voltage to the gate drive IC through the sensing line; And
And a detection signal transmitter that generates a detection signal indicating that the overcurrent has occurred and transmits it to the control unit when an overcurrent is transmitted through the gate line, the gate drive IC, and the detection line.
제 10 항에 있어서,
상기 게이트 전압은, 상기 스캔신호 중 게이트 오프 신호의 생성에 이용되는 제1게이트 구동전압 또는 상기 스캔신호 중 게이트 온 신호의 생성에 이용되는 제2게이트 구동전압 중 적어도 어느 하나인, 유기발광표시장치.
The method of claim 10,
The gate voltage may be at least one of a first gate driving voltage used for generating a gate-off signal among the scan signals or a second gate driving voltage used for generating a gate-on signal among the scan signals. .
제 8 항에 있어서,
상기 게이트 전압은, 상기 스캔신호 중 게이트 오프 신호의 생성에 이용되는 제1게이트 구동전압 및 상기 스캔신호 중 게이트 온 신호의 생성에 이용되는 제2게이트 구동전압을 포함하며,
상기 감지라인은, 제1감지신호전송라인 및 제2감지신호전송라인을 포함하는, 유기발광표시장치.
The method of claim 8,
The gate voltage includes a first gate driving voltage used for generating a gate-off signal among the scan signals and a second gate driving voltage used for generating a gate-on signal among the scan signals,
The sensing line includes a first sensing signal transmission line and a second sensing signal transmission line, an organic light emitting display device.
제 12 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 제1게이트 구동전압을 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하고, 상기 제2게이트 구동전압을 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하며,
상기 제1감지신호전송라인을 통해 유도된 제1전류 또는 상기 제2감지신호전송라인을 통해 유도된 제2전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출하는, 유기발광표시장치.
The method of claim 12,
The detection unit,
The first gate driving voltage is transmitted to the gate drive IC through the first detection signal transmission line, and the second gate driving voltage is transmitted to the gate drive IC through the second detection signal transmission line,
An organic light emitting display device for detecting the panel abnormality using the first current induced through the first sensing signal transmission line or the second current induced through the second sensing signal transmission line.
제 12 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기; 및
상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함하는, 유기발광표시장치.
The method of claim 12,
The detection unit,
A first detector for transmitting the first gate driving voltage to the gate drive IC through the first sensing signal transmission line, and detecting the panel abnormality using a current transmitted through the first sensing signal transmission line; And
A second detector for transmitting the second gate driving voltage to the gate drive IC through the second sensing signal transmission line, and detecting the panel abnormality using the current transmitted through the second sensing signal transmission line. Including, organic light emitting display device.
제 14 항에 있어서,
상기 제1검출기는,
상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 제1게이트 전압 전송기; 및
상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC 및 상기 제1감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 상기 과전류가 발생되었음을 알리는 제1검출신호를 생성하여 상기 제어부로 전송하는 제1검출신호 전송기를 포함하는, 유기발광표시장치.
The method of claim 14,
The first detector,
A first gate voltage transmitter transmitting the first gate driving voltage to the gate drive IC through the first sensing signal transmission line; And
And a first detection signal transmitter for generating a first detection signal indicating that the overcurrent has occurred when the overcurrent is transmitted through the gate line, the gate drive IC, and the first detection signal transmission line, and transmitting the first detection signal to the control unit. , Organic light emitting display device.
제 15 항에 있어서,
상기 제2검출기는,
상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 제2게이트 전압 전송기; 및
상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC 및 상기 제2감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 상기 과전류가 발생되었음을 알리는 제2검출신호를 생성하여 상기 제어부로 전송하는 제2검출신호 전송기를 포함하는, 유기발광표시장치.
The method of claim 15,
The second detector,
A second gate voltage transmitter for transmitting the second gate driving voltage to the gate drive IC through the second sensing signal transmission line; And
And a second detection signal transmitter which generates a second detection signal indicating that the overcurrent has occurred when the overcurrent is transmitted through the gate line, the gate drive IC, and the second detection signal transmission line, and transmits the second detection signal to the control unit. , Organic light emitting display device.
게이트 라인들과 데이터 라인들이 형성되어 있는 패널의 표시영역에, 형성되어 있는 전원라인들로, 전원을 공급하여, 상기 패널에 형성되어 있는 픽셀 회로들을 구동시키는 단계;
상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하는 단계; 및
상기 패널이상이 검출되면, 상기 전원라인들로 공급되는 상기 전원을 차단하는 단계를 포함하고,
상기 감지라인은 상기 게이트 라인에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC를 통해 상기 게이트 라인들 중 적어도 하나와 전기적으로 연결되고, 상기 감지라인의 적어도 일부는 상기 패널의 비표시영역에 배치되며,
상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하는 단계는,
상기 스캔신호를 구성하는 게이트 하이 전압 또는 게이트 로우 전압에 의해 발생되는 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는, 유기발광표시장치 구동방법.
Supplying power to the display area of the panel on which the gate lines and data lines are formed, to the formed power lines, to drive pixel circuits formed in the panel;
Detecting a panel abnormality in the display area by using a detection signal collected through a detection line electrically connected to the gate line; And
And when the panel abnormality is detected, cutting off the power supplied to the power lines,
The sensing line is electrically connected to at least one of the gate lines through a gate drive IC for supplying a scan signal to the gate line, and at least a portion of the sensing line is disposed in a non-display area of the panel,
The step of detecting an abnormality in the panel in the display area,
A method of driving an organic light emitting display device, wherein the panel abnormality is detected using a current generated by a gate high voltage or a gate low voltage constituting the scan signal.
제 17 항에 있어서,
상기 픽셀 회로들을 구동시키는 단계는,
상기 게이트 라인으로 공급되는 상기 스캔신호의 생성에 이용되는 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 라인들로 공급하는 단계; 및
상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는 단계를 포함하는, 유기발광표시장치 구동방법.
The method of claim 17,
Driving the pixel circuits,
Generating a gate voltage used to generate the scan signal supplied to the gate line, and supplying the gate voltage to the gate lines; And
And generating the power using the gate voltage and supplying the power to the power lines.
제 18 항에 있어서,
상기 패널이상을 검출하는 단계는,
상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 상기 감지라인을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출하는, 유기발광표시장치 구동방법.
The method of claim 18,
The step of detecting the panel error,
A method of driving an organic light emitting display device, wherein the panel abnormality is detected using a current induced through the sensing line that is electrically connected to the gate line.
제 18 항에 있어서,
상기 전원을 차단하는 단계는,
상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 검출신호가 전송되면, 상기 전원을 발생시키는 전원공급부의 구동을 중단시키는, 유기발광표시장치 구동방법.
The method of claim 18,
The step of turning off the power,
When a detection signal is transmitted indicating that the panel error has occurred, the method of driving the organic light emitting display device to stop driving of the power supply unit for generating the power.
제 1 항에 있어서,
상기 전원라인들 간에, 또는 상기 게이트 라인들과 상기 전원라인들 간에 쇼트가 발생하면, 상기 게이트 라인들 중 적어도 하나와 전기적으로 연결된 상기 감지라인을 통해 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하는, 유기발광표시장치.
According to claim 1,
When a short circuit occurs between the power lines or between the gate lines and the power lines, the panel detects an abnormality in the panel in the display area through the sensing line electrically connected to at least one of the gate lines. Light emitting display device.
KR1020130148802A 2012-12-26 2013-12-02 Organic light emitting display device and driving method thereof KR102117341B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/108,357 US9449552B2 (en) 2012-12-26 2013-12-17 Organic light emitting display device and driving method thereof including response to panel abnormality

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20120153636 2012-12-26
KR1020120153636 2012-12-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140086825A KR20140086825A (en) 2014-07-08
KR102117341B1 true KR102117341B1 (en) 2020-06-02

Family

ID=51735976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130148802A KR102117341B1 (en) 2012-12-26 2013-12-02 Organic light emitting display device and driving method thereof

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102117341B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11862097B2 (en) 2022-04-01 2024-01-02 Samsung Display Co., Ltd. Display device and method of performing an over-current protecting operation thereof

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102356028B1 (en) * 2015-02-06 2022-01-26 삼성디스플레이 주식회사 Display device
KR102457405B1 (en) * 2015-12-30 2022-10-21 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display panel and organic light emitting display device
KR102597749B1 (en) * 2016-09-30 2023-11-06 엘지디스플레이 주식회사 Display apparatus
KR102417475B1 (en) * 2017-07-21 2022-07-05 주식회사 엘엑스세미콘 Display device, sensing circuit and source driver integrated circuit
KR102497478B1 (en) * 2017-12-14 2023-02-08 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device
KR102650355B1 (en) * 2017-12-29 2024-03-22 엘지디스플레이 주식회사 Light emitting display device and method for driving the same
KR102649826B1 (en) * 2018-10-08 2024-03-20 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device and driving method for the same
CN112185267B (en) * 2019-06-12 2022-03-29 云谷(固安)科技有限公司 Circuit substrate, display panel and display device

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010107933A (en) * 2008-09-30 2010-05-13 Fujitsu Ten Ltd Display device and display control device

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101359917B1 (en) * 2006-12-15 2014-02-07 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010107933A (en) * 2008-09-30 2010-05-13 Fujitsu Ten Ltd Display device and display control device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11862097B2 (en) 2022-04-01 2024-01-02 Samsung Display Co., Ltd. Display device and method of performing an over-current protecting operation thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140086825A (en) 2014-07-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102117341B1 (en) Organic light emitting display device and driving method thereof
US9449552B2 (en) Organic light emitting display device and driving method thereof including response to panel abnormality
US10366651B2 (en) Organic light-emitting display device and driving method thereof
KR102007814B1 (en) Display device and method of driving gate driving circuit thereof
KR102085167B1 (en) Organic Light Emitting diode Display and Method for Driving thereof
KR101481676B1 (en) Light emitting display device
KR102537376B1 (en) Gate driving method, sensing driving method, gate driver, and organic light emitting display device
US11308892B2 (en) Organic light emitting display device and driving method thereof
US10424253B2 (en) Display device and power monitoring circuit
KR101970545B1 (en) Organic light emitting diode display device and method for driving the same
KR102604472B1 (en) Display device
KR102352600B1 (en) Organic light emitting display device and the method for driving the same
KR20120052638A (en) Organic light emitting diode display device
KR102633412B1 (en) Organic light emitting display device
KR20170064177A (en) Organic light emitting display panel, organic light emitting display device and signal line fault detection method
KR102063348B1 (en) Gate drivier, organic light emitting display device using the same and method of driving the organic light emitting display device
KR20160055324A (en) Organic light emitting display device and organic light emitting display panel
KR102276248B1 (en) A display device and a protection method thereof
KR20210082702A (en) Display device, driving circuit and driving method
KR20160085929A (en) Display device and method of driving the same
KR102028326B1 (en) Display device
KR20160078692A (en) Organic light emitting display device and method for the same
KR102313655B1 (en) Organic light emitting display device and organic light emitting display panel
KR102612733B1 (en) Organic light emitting display apparatus
KR20220092296A (en) Display panel and display device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant