KR20140086825A - Organic light emitting display device and driving method thereof - Google Patents

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KR20140086825A
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Abstract

The present invention relates to an organic light emitting display device. In particular, the technical task of the present invention is to provide an organic light emitting display device capable of collecting sensing signals through a gate line overlapped on power lines in a display area and detecting abnormality of a panel in the display area using the collected sensing signals and a driving method thereof. To that end, according to the present invention, the organic light emitting display device includes: a panel in which pixels are formed at every crossing area between gate lines and data lines which are formed in a display area wherein in each pixel, a pixel circuit and power lines to supply power necessary to drive the pixel circuit are formed; a gate drive IC which supplies a scan signal to the gate lines; a power supply unit which supplies power to the power lines; a detection unit which detects abnormality of a panel in the display area; and a control unit which controls the operation of the power supply unit according to the detection result by the detection unit.

Description

유기발광표시장치 및 그 구동방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device,

본 발명은 유기발광표시장치에 관한 것으로서, 특히, 유기발광패널에서 발생된 쇼트, 번트(Burnt) 또는 라인결함 등과 같은 패널이상의 확산을 방지할 수 있는, 유기발광표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display, and more particularly, to an organic light emitting diode (OLED) display device and a driving method thereof that can prevent diffusion of a panel, such as a short, a burnt or a line defect, .

휴대전화, 테블릿PC, 노트북 등을 포함한 다양한 종류의 전자제품에는 평판표시장치(FPD : Flat Panel Display Device)가 이용되고 있다. 평판표시장치에는, 액정표시장치(LCD : Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시장치(PDP : Plasma Display Device), 발광표시장치(Light Emitting Display Device) 등이 있으며, 최근에는 전기영동표시장치(EPD : Electrophoretic Display Device)도 널리 이용되고 있다. Flat panel display devices (FPDs) are used in various types of electronic products including mobile phones, tablet PCs, and notebook computers. The flat panel display device includes a liquid crystal display device (LCD), a plasma display device (PDP), and a light emitting display device. Recently, an electrophoretic display device (EPD: Electrophoretic Display Device) is also widely used.

이중, 발광표시장치는, 응답속도가 1ms 이하로서 고속의 응답속도를 갖고, 소비 전력이 낮으며, 자체 발광함으로 시야각에 문제가 없기 때문에, 차세대 평판표시장치로 주목받고 있다.In particular, a light emitting display device has attracted attention as a next-generation flat panel display device because it has a response speed of 1 ms or less, a high response speed, low power consumption, and self-

일반적으로, 발광표시장치는 발광 물질을 전기적으로 여기 시켜 발광시키는 표시장치로서, 이용되는 재료 및 구조에 따라, 무기발광표시장치와 유기발광표시장치로 구분된다.
2. Description of the Related Art Generally, a light emitting display device is a display device for electrically exciting a light emitting material to emit light, and is classified into an inorganic light emitting display device and an organic light emitting display device, depending on the material and structure used.

도 1은 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로를 개략적으로 나타내는 회로도이다.1 is a circuit diagram schematically showing a pixel circuit of a general organic light emitting display device.

유기발광표시장치의 패널에는 게이트 라인들과 데이터 라인들이 교차하는 영역마다 픽셀이 형성되어 있으며, 상기 픽셀들 각각에는 픽셀 회로가 형성되어 있다.In the panel of the organic light emitting diode display, pixels are formed in the regions where the gate lines and the data lines cross each other, and pixel circuits are formed in each of the pixels.

상기 픽셀 회로는, 도 1에 도시된 바와 같이, 스위칭 트랜지스터(ST), 구동 트랜지스터(DT), 캐패시터(C) 및 발광소자(OLED)를 구비한다.The pixel circuit includes a switching transistor ST, a driving transistor DT, a capacitor C and a light emitting element OLED, as shown in Fig.

상기 스위칭 트랜지스터(ST)는 게이트 라인(GL)에 공급되는 스캔신호에 따라 스위칭되어 데이터 라인(DL)에 공급되는 데이터 전압(Vdata)을 구동트랜지스터(DT)에 공급한다.The switching transistor ST is switched according to a scan signal supplied to the gate line GL to supply a data voltage Vdata supplied to the data line DL to the driving transistor DT.

상기 구동트랜지스터(DT)는, 상기 스위칭 트랜지스터(ST)로부터 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 따라 스위칭되어, 고전위 구동전압(ELVDD)으로부터 상기 발광소자(OLED)로 흐르는 전류(Ioled)를 제어한다.The driving transistor DT is switched according to the data voltage Vdata supplied from the switching transistor ST to control the current Ioled flowing from the high potential driving voltage ELVDD to the light emitting element OLED .

상기 캐패시터(C)는 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트 단자에 접속되어, 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트 단자에 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 상기 구동트랜지스터(DT)를 턴온시킨다.The capacitor C is connected to a gate terminal of the driving transistor DT and stores a voltage corresponding to a data voltage Vdata supplied to a gate terminal of the driving transistor DT, (DT).

상기 발광소자(OLED)는 상기 구동트랜지스터(DT)와 저전위 구동전압(ELVSS, 그라운드) 사이에 전기적으로 접속되어, 상기 구동트랜지스터(DT)로부터 공급되는 전류(Ioled)에 의해 발광한다. 이때, 상기 발광소자(OLED)에 흐르는 전류(Ioled)는 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트-소스 사이의 전압, 상기 구동트랜지스터(DT)의 문턱전압 및 상기 데이터 전압(Vdata)에 따라 결정된다.The light emitting device OLED is electrically connected between the driving transistor DT and the low potential driving voltage ELVSS (ground), and emits light by the current Ioled supplied from the driving transistor DT. At this time, the current Ioled flowing through the light emitting device OLED is determined according to the voltage between the gate and the source of the driving transistor DT, the threshold voltage of the driving transistor DT, and the data voltage Vdata.

상기한 바와 같은 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로는, 상기 구동트랜지스터(DT)의 게이트 단자에 공급되는 상기 데이터 전압(Vdata)에 따라, 상기 고전위 구동전압(ELVDD)으로부터 상기 발광소자(OLED)로 흐르는 전류(Ioled)의 크기를 제어하여, 상기 발광소자(OLED)를 발광시키며, 이에 따라, 소정의 영상을 표시한다.
The pixel circuit of the general organic light emitting diode display as described above is a pixel circuit for driving the light emitting device OLED from the high potential driving voltage ELVDD according to the data voltage Vdata supplied to the gate terminal of the driving transistor DT. And controls the magnitude of the current Ioled flowing to the light emitting device OLED to emit light, thereby displaying a predetermined image.

도 2는 일반적인 유기발광표시장치의 구성을 나타낸 예시도이다. 2 is an exemplary view showing a configuration of a general organic light emitting display device.

일반적인 유기발광표시장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 게이트 라인들과 데이터 라인들이 교차하는 영역마다 픽셀들이 형성되어 있는 패널(10), 상기 게이트 라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC(20), 상기 데이터 라인들에 데이터 전압을 공급하기 위한 소스 드라이브 IC(30), 상기 게이트 드라이브 IC(20)와 상기 소스 드라이브 IC(30)의 구동을 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(40) 및 상기 픽셀들에 고전위 구동전압(ELVDD) 및 저전위 구동전압(ELVSS)을 공급하기 위한 전원공급부(50)를 포함한다. As shown in FIG. 1, a general organic light emitting display includes a panel 10 in which pixels are formed in regions where gate lines and data lines intersect, a gate drive IC (not shown) for supplying a scan signal to the gate lines, A source driver IC 30 for supplying a data voltage to the data lines, a timing controller 40 for controlling driving of the gate drive IC 20 and the source drive IC 30, And a power supply unit 50 for supplying a high potential driving voltage ELVDD and a low potential driving voltage ELVSS to the pixels.

일반적인 유기발광표시장치에서는, 도 2에 도시된 바와 같이, 패널의 상단비표시영역 및 하단비표시영역에, 고전위 구동전압(ELVDD) 라인(51) 및 저전위 구동전압(ELVSS) 라인(52)이 배치되고, 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)이 소스 드라이브 IC(30)로부터 연장되어, 상기 고전위 구동전압 라인(51) 및 상기 저전위 구동전압 라인(52)들과 오버랩(Overlap)되게 형성되어 있다. 2, a high-potential driving voltage (ELVDD) line 51 and a low-potential driving voltage (ELVSS) line 52 (not shown) are provided in the upper non- And the data lines DL1 to DLm extend from the source drive IC 30 and are overlapped with the high potential driving voltage line 51 and the low potential driving voltage line 52 Respectively.

또한, 상기 고전위 구동전압 라인(51) 및 저전위 구동전압 라인(52) 이외에도, 기준전압(Vref)라인과 같은 다양한 종류의 전원라인들이 데이터 라인들과 오버랩되게 형성되어 있다.In addition to the high potential driving voltage line 51 and the low potential driving voltage line 52, various types of power supply lines such as a reference voltage Vref line are formed to overlap with the data lines.

한편, 여러 가지 원인에 의한 데미지(Damage)에 의해 상기 라인들을 커버하고 있는 무기막이 손상되거나, 또는 상기 라인들 간에 쇼트(Short)가 발생되면, 번트(Burnt) 및 라인결함(Line Defect) 등의 불량이 발생될 수 있다. On the other hand, if an inorganic film covering the lines is damaged due to damage due to various causes or a short occurs between the lines, a defect such as a burnt and a line defect Failure may occur.

상기한 바와 같은 쇼트, 번트(Burnt) 및 라인결함 등의 불량을 방지하기 위해, 종래에는 표시영역(Active Area)(12)의 외곽, 즉, 비표시영역에 형성되어 있는 가이드 링(guide ring)을 통해 쇼트 또는 번트 검출(burnt detect)이 이루어졌다. Conventionally, in order to prevent defects such as shorts, burnts, line defects and the like as described above, conventionally, a guide ring formed in the outer portion of the display area (active area) 12, A short or burnt detect was made.

그러나, 종래에는, 비표시영역에서의 쇼트, 번트 또는 라인결함 검출만이 이루어지고 있기 때문에, 표시영역(12)에서 발생된 쇼트, 번트 및 라인결함 등에 의해 불량이 발생되더라도, 이에 대한 적절한 대응이 이루어질 수 없었다. However, conventionally, only the short, bunt, or line defect detection is performed in the non-display area. Therefore, even if a defect occurs due to a short, a bunch, or a line defect generated in the display area 12, Could not be done.

즉, 상기한 바와 같은 오버랩(Overlap) 구간은 비표시영역뿐만 아니라, 표시영역(12) 내부에도 형성되어 있으며, 특히, 표시영역에서는 고전위 구동전압(ELVDD) 라인(51), 저전위 구동전압(ELVSS) 라인(52), 기준전압(Vref)라인(미도시), 데이터 라인(DL), 게이트 라인(GL) 등과 같은 전원라인들과 게이트 라인(GL)들이 다양한 형태로 오버랩되고 있다. That is, the overlap period is formed not only in the non-display region but also in the display region 12. In particular, in the display region, a high potential driving voltage (ELVDD) line 51, a low potential driving voltage Power lines and gate lines GL such as an ELVSS line 52, a reference voltage Vref line (not shown), a data line DL, a gate line GL, etc. are overlapped in various forms.

따라서, 데미지(Damage) 또는 크랙(Crack) 등에 의해 상기 라인들을 절연시키고 있는 무기막이 손상되면, 상기 라인들 간에 쇼트(Short)가 발생될 가능성이 높다. 쇼트가 발생된 경우, 상기 라인들을 통해 전류가 많이 흐르게 되며, 이에 따라, 상기 게이트 드라이브 IC(20) 또는 상기 패널(10)에서 화재(Burnt)가 발생될 가능성이 높다. Therefore, if an inorganic film insulating the lines is damaged by damages or cracks, there is a high possibility that a short occurs between the lines. When a short circuit occurs, a large amount of current flows through the lines, and thus there is a high possibility that a fire (Burnt) occurs in the gate drive IC 20 or the panel 10.

그러나, 종래에는 상기한 바와 같이, 표시영역(12)에서의 쇼트, 번트 또는 라인결함 검출을 위한 센싱 라인이 형성되어 있지 않기 때문에, 표시영역(12)에서 발생된 쇼트, 번트 및 라인결함 등에 대한 적절한 대응이 이루어질 수 없었다. However, conventionally, as described above, since no sensing line for detecting short, bunt or line defect in the display area 12 is formed, it is possible to detect a short, a bunt and a line defect in the display area 12 An appropriate response could not be made.

또한, 상기한 바와 같은 표시영역(12)에서의 오버랩 구간에 대한 쇼트, 번트 및 라인결함 검출을 위해, 상기 표시영역(12) 내부에 추가적인 검출 라인을 형성하는 방법이 제안되었다. 그러나, 이러한 방법이 적용되는 유기발광표시장치에서는, 표시영역(12)의 개구율이 감소되고, 오버랩 구간이 증가될 수 있으며, 이에 따라, 또 다른 문제점들이 발생될 수 있다.Further, a method of forming additional detection lines in the display area 12 for short, bunt and line defect detection in the overlap area in the display area 12 as described above has been proposed. However, in the organic light emitting display device to which such a method is applied, the aperture ratio of the display region 12 may be reduced and the overlap period may be increased, so that further problems may arise.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 표시영역에서 전원라인들과 오버랩되게 형성되어 있는 게이트 라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있는, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an organic EL display device capable of detecting a panel abnormality in the display area using a sensing signal collected through a gate line formed overlapping with power- Emitting display device and a method of driving the same.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 유기발광표시장치는, 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차영역마다 픽셀이 형성되어 있고, 상기 픽셀에는 픽셀 회로가 형성되어 있으며, 상기 픽셀 회로의 구동에 필요한 전원의 공급을 위해 전원라인들이 형성되어 있는 패널; 상기 게이트라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC; 상기 전원라인들에 전원을 공급하기 위한 전원공급부; 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하기 위한 검출부; 및 상기 검출부의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부의 구동을 제어하기 위한 제어부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an organic light emitting diode display comprising pixels formed in intersecting regions of gate lines and data lines formed in a display region, pixel circuits are formed in the pixels, A panel having power supply lines formed therein for supplying power necessary for driving the pixel circuits; A gate drive IC for supplying a scan signal to the gate lines; A power supply for supplying power to the power supply lines; A detector for detecting a panel abnormality in the display area using a sensing signal collected through a sensing line electrically connected to the gate line; And a control unit for controlling driving of the power supply unit according to the detection result of the detection unit.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 유기발광표시장치 구동방법은, 게이트 라인들과 데이터 라인들이 형성되어 있는 패널의 표시영역에, 형성되어 있는 전원라인들로, 전원을 공급하여, 상기 패널에 형성되어 있는 픽셀 회로들을 구동시키는 단계; 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하는 단계; 및 상기 패널이상이 검출되면, 상기 전원라인들로 공급되는 상기 전원을 차단하는 단계를 포함한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a method of driving an organic light emitting diode display, comprising: supplying power to power lines formed in a display region of a panel in which gate lines and data lines are formed; Driving the pixel circuits formed on the panel; Detecting a panel abnormality in the display region using a sensing signal collected through a sensing line electrically connected to the gate line; And disconnecting the power supplied to the power supply lines when the panel abnormality is detected.

본 발명에 의하면, 게이트 라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여 표시영역의 패널이상을 검출될 수 있기 때문에, 상기 표시영역에 추가적인 감지라인이 형성될 필요가 없다.According to the present invention, since the panel abnormality of the display area can be detected using the sensing signal collected through the gate line, no additional sensing line need be formed in the display area.

또한, 본 발명은, 상기 표시영역의 패널이상을 검출하여, 전원공급부 또는 소스 드라이브 IC의 구동을 제어함으로써, 상기 표시영역 내에서 발생된 패널이상의 확산을 방지할 수 있다. Further, according to the present invention, the panel abnormality in the display area is detected, and the driving of the power supply unit or the source drive IC is controlled, so that the spread of the panel generated in the display area can be prevented.

도 1은 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로를 개략적으로 나타내는 회로도.
도 2는 일반적인 유기발광표시장치의 구성을 나타낸 예시도.
도 3은 본 발명에 따른 유기발광표시장치를 개략적으로 나타내는 예시도.
도 4는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 개략적으로 나타낸 예시도.
도 5는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 나타낸 예시도.
도 6은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제1검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도.
도 7은 도 6에 도시된 제1검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도.
도 8은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제2검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도.
도 9는 도 8에 도시된 제2검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도. 1 is a circuit diagram schematically showing a pixel circuit of a general organic light emitting display device.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001]
4 is a view schematically showing a configuration of a detection unit applied to an organic light emitting diode display according to the present invention;
5 is a diagram illustrating a configuration of a detection unit applied to an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an exemplary view for explaining a configuration and a function of a first detector applied to an organic light emitting display according to the present invention; FIG.
Fig. 7 is an exemplary view showing a modified configuration of the first detector shown in Fig. 6; Fig.
8 is a view for explaining a configuration and a function of a second detector applied to the organic light emitting display according to the present invention.
Fig. 9 is an exemplary view showing a modified configuration of the second detector shown in Fig. 8; Fig.

이하, 도면을 참조로 본 발명에 따른 바람직한 실시 예에 대해서 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 3은 본 발명에 따른 유기발광표시장치를 개략적으로 나타내는 예시도이며, 도 4는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 개략적으로 나타낸 예시도이다. FIG. 3 is a schematic view illustrating an organic light emitting display according to the present invention, and FIG. 4 is a schematic view illustrating a configuration of a detector applied to the organic light emitting display according to the present invention.

일반적으로 유기발광표시장치의 구동을 위해 패널에 형성되는, 고전위 구동전압 라인, 저전위 구동전압 라인, 기준전압 라인, 입력전압 라인, 데이터 라인, 게이트 라인 등은, 상기 패널의 표시영역에서 오버랩되어 있다. 따라서, 상기 라인들을 절연시키고 있는 절연막이 데미지 등에 의해 훼손되어, 상기 라인들 간에 쇼트(Short)가 발생되면, 전류 쏠림에 의한 번트(Burnt) 불량이 발생될 수 있다. In general, a high potential driving voltage line, a low potential driving voltage line, a reference voltage line, an input voltage line, a data line, a gate line and the like, which are formed on a panel for driving an organic light emitting display, . Therefore, if an insulation film insulating the lines is damaged by damage or the like, and a short occurs between the lines, burnt defects due to current leakage may occur.

상기한 바와 같은 쇼트, 번트(Burnt) 또는 상기 라인결함 등을 총칭하여, 이하에서는, 간단히 패널이상(異常)이라 한다. 즉, 이하의 설명 중, 패널이상이란, 쇼트, 번트 또는 라인결함을 의미하며, 상기한 바와 같은 패널이상이 발생되면, 상기 라인들로 이상전류 또는 과전류가 흐르게 된다. 상기 번트(Burnt)는 상기 패널에서 발생되는 미세한 화재를 의미한다. 상기 라인결함은, 상기 라인들 사이의 절연막이 훼손된 경우를 의미하거나, 또는, 상기 라인들이 비정상적으로 인접되어 있어서, 회로적으로 문제가 발생되는 경우를 의미한다. 상기 이상전류는, 상기 과전류 이외에 상기 라인들에 비정상적으로 흐르는 전류로서, 흐름이 일정하지 않은 전류 또는 상기 라인으로 흘러서는 않되는 전류 등을 의미한다. 상기 설명에서는, 상기 이상전류 또는 과전류가 상기 패널이상에 의해 발생되는 것으로 설명되었으나, 상기 이상전류 또는 상기 과전류가 발생되는 현상 자체도, 상기 패널이상에 포함될 수 있다. 즉, 상기 이상전류 또는 상기 과전류는, 상기 쇼트, 번트 또는 라인결함 이외에도, 다양한 원인들에 의해 발생되어, 상기 패널에 문제를 발생시킬 수 있으므로, 상기 패널이상에 포함될 수 있다. The above-mentioned shot, Burnt or the above-mentioned line defect is collectively referred to as a panel abnormality in the following. That is, in the following description, a panel abnormality means a short, a bunt or a line defect. When the panel abnormality as described above occurs, an abnormal current or an overcurrent flows through the lines. The Burnt refers to a minute fire generated in the panel. The line defect means a case where the insulating film between the lines is damaged, or the line is abnormally adjacent, which means that a circuit problem occurs. The abnormal current refers to a current that flows abnormally in the lines other than the overcurrent, and refers to a current whose flow is not constant or a current which does not flow into the line. In the above description, it is described that the abnormal current or the overcurrent is generated by the panel abnormality. However, the phenomenon in which the abnormal current or the overcurrent is generated may also be included in the panel abnormality. That is, the abnormal current or the overcurrent may be generated due to various causes other than the short, bunt or line defect, and may cause a problem to the panel, so that the abnormal current or the overcurrent may be included in the panel abnormality.

상기한 바와 같은 패널이상에 대응하기 위해, 종래에는 비표시영역에 형성된 가이드 링(guide ring)을 통하여, 상기 패널이상을 검출하는 방법이 제안되었다. In order to deal with the above-mentioned panel abnormality, conventionally, a method of detecting the panel abnormality through a guide ring formed in a non-display area has been proposed.

그러나, 상기한 바와 같은 종래의 방법에 의해서는, 비표시영역에서의 패널이상만이 검출될 수 있으며, 표시영역에서 발생하는 패널이상은 검출될 수 없다. However, with the above-described conventional method, only the panel abnormality in the non-display area can be detected, and the panel abnormality occurring in the display area can not be detected.

따라서, 본 발명은 표시영역에서 전원라인들과 오버랩되게 형성되어 있는 게이트 라인을 통해 검출된 검출신호를 이용하여, 표시영역에서의 패널이상을 검출하는 것을 목적으로 하고 있다. Therefore, the present invention aims to detect a panel abnormality in a display area by using a detection signal detected through a gate line formed overlapping with power supply lines in a display area.

이를 위해 본 발명에 따른 유기발광표시장치는, 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)과, 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)의 교차영역마다 형성되어 있는 픽셀과, 상기 픽셀에 형성되어 있는 픽셀 회로에 필요한 전원의 공급을 위해, 표시영역(120)에서 상기 게이트 라인들과 교차되게 형성되어 있는 전원라인들(510, 520)을 포함하는 패널(100), 상기 게이트 라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC(200), 상기 데이터 라인들에 데이터 전압을 공급하기 위한 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원라인들에 상기 전원을 공급하기 위한 전원공급부(500), 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역(120)에서의 패널이상을 검출하기 위한 검출부(600) 및 상기 검출부(600)의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부(500)의 구동을 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(400)를 포함한다.
3, the OLED display according to the present invention includes pixels formed at intersections of the gate lines GL1 to GLn and the data lines DL1 to DLm, A panel 100 including power supply lines 510 and 520 formed to intersect with the gate lines in the display region 120 for supplying power necessary for a pixel circuit formed in the pixel region, A source drive IC 300 for supplying a data voltage to the data lines, a power supply unit 500 for supplying the power to the power lines, A detecting unit 600 for detecting a panel abnormality in the display area 120 using a sensing signal collected through a sensing line electrically connected to the gate line, And a timing controller 400 for controlling the driving of the power supply unit 500.

우선, 상기 패널(100)에는 상기 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)과 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)이 교차하는 영역마다 픽셀이 형성되어 있으며, 상기 픽셀들 각각에는 픽셀 회로가 형성되어 있다.First, in the panel 100, pixels are formed in an area where the gate lines GL1 to GLn and the data lines DL1 to DLm intersect, and pixel circuits are formed in each of the pixels.

상기 픽셀 회로는, 스위칭 트랜지스터, 구동 트랜지스터, 캐패시터 및 유기발광소자 등을 포함한다.The pixel circuit includes a switching transistor, a driving transistor, a capacitor, and an organic light emitting diode.

첫째, 상기 스위칭 트랜지스터는 상기 게이트 라인에 공급되는 스캔신호에 따라 스위칭되어 상기 데이터 라인에 공급되는 데이터 전압을 상기 구동트랜지스터에 공급한다. First, the switching transistor is switched according to a scan signal supplied to the gate line to supply a data voltage supplied to the data line to the driving transistor.

둘째, 상기 구동트랜지스터는, 상기 스위칭 트랜지스터로부터 공급되는 데이터 전압에 따라 스위칭되어, 고전위 구동전압으로부터 상기 유기발광소자로 흐르는 전류를 제어한다. Second, the driving transistor is switched according to a data voltage supplied from the switching transistor to control a current flowing from the high potential driving voltage to the organic light emitting element.

상기 픽셀 회로에는, 상기 구동트랜지스터 및 상기 스위칭 트랜지스터 이외에도 다수의 트랜지스터들이 포함될 수 있다. The pixel circuit may include a plurality of transistors other than the driving transistor and the switching transistor.

예를 들어, 상기 유기발광소자는 열화되기 쉽기 때문에, 유기발광표시장치가 장시간 사용되면, 유기발광표시장치의 품질이 저하될 수 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해, 상기 픽셀 회로에는, 상기 유기발광소자의 특성을 감지하기 위한 특성감지용 트랜지스터들이 포함될 수 있으며, 상기 유기발광소자의 열화를 보상하기 보상용 트랜지스터들이 포함될 수 있다. 이 경우, 상기 특성감지용 트랜지스터들 및 상기 보상용 트랜지스터들은, 입력전압(Vinit) 및 기준전압(Vref) 등을 이용하여 구동될 수 있다. 따라서, 상기 픽셀 회로에는, 상기 고전위 구동전압 및 저전위 구동전압 이외에도, 다양한 레벨의 입력전압(Vinit) 및 기준전압(Vref)이 공급될 수 있다. For example, since the organic light emitting diode is easily deteriorated, if the organic light emitting display is used for a long time, the quality of the organic light emitting display may be deteriorated. In order to solve such a problem, the pixel circuit may include characteristics sensing transistors for sensing the characteristics of the organic light emitting element, and compensation transistors for compensating deterioration of the organic light emitting element. In this case, the characteristic sensing transistors and the compensation transistors may be driven using an input voltage Vinit and a reference voltage Vref. Therefore, in addition to the high potential driving voltage and the low potential driving voltage, the pixel circuit may be supplied with various levels of the input voltage Vinit and the reference voltage Vref.

상기 기준전압(Vref) 및 상기 입력전압(Vinit)은, 상기한 바와 같이, 상기 유기발광소자(OLED)의 구동 및 보상을 위해, 일반적으로 상기 픽셀 회로로 공급되는 전압으로서, 상기 픽셀 회로의 구성에 따라, 다양한 레벨로 구성된다. 또한, 상기 기준전압 또는 상기 입력전압이 공급되는 트랜지스터는, 상기 픽셀 회로에 다양한 구조로 연결되는 것으로서, 현재 일반적인 유기발광표시장치의 픽셀 회로에서 일반적으로 이용되고 있다. The reference voltage Vref and the input voltage Vinit are voltages supplied to the pixel circuit for driving and compensating the organic light emitting diode OLED as described above, And is composed of various levels. In addition, the transistor to which the reference voltage or the input voltage is supplied is connected to the pixel circuit in various structures, and is generally used in a pixel circuit of a general organic light emitting display.

따라서, 상기 기준전압, 상기 입력전압 및 상기 전압들이 공급되는 트랜지스터들에 대한 구체적인 설명은 생략된다. Therefore, detailed description of the transistors to which the reference voltage, the input voltage, and the voltages are supplied is omitted.

셋째, 상기 캐패시터는 상기 구동트랜지스터의 게이트에 접속되어, 상기 구동트랜지스터의 게이트 단자에 공급되는 데이터 전압에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 상기 구동트랜지스터를 턴온시킨다. Third, the capacitor is connected to the gate of the driving transistor, stores a voltage corresponding to a data voltage supplied to a gate terminal of the driving transistor, and turns on the driving transistor with a stored voltage.

넷째, 상기 유기발광소자는 상기 구동트랜지스터와 저전위 구동전압 사이에 전기적으로 접속되어, 상기 구동트랜지스터로부터 공급되는 전류에 의해 발광한다. 이때, 상기 발광소자에 흐르는 전류는 상기 구동트랜지스터의 게이트-소스 사이의 전압, 상기 구동트랜지스터의 문턱전압 및 상기 데이터 전압에 따라 결정된다.Fourth, the organic light emitting element is electrically connected between the driving transistor and the low-potential driving voltage, and emits light by the current supplied from the driving transistor. At this time, a current flowing in the light emitting element is determined according to a voltage between a gate and a source of the driving transistor, a threshold voltage of the driving transistor, and the data voltage.

상기 픽셀 회로는, 상기 구동트랜지스터의 게이트 단자에 공급되는 상기 데이터 전압(Vdata)에 따라, 상기 고전위 구동전압(ELVDD)으로부터 상기 발광소자(OLED)로 흐르는 전류(Ioled)의 크기를 제어하여, 상기 유기발광소자(OLED)를 발광시킴으로써 소정의 영상을 표시한다.The pixel circuit controls a magnitude of a current (Ioled) flowing from the high potential driving voltage (ELVDD) to the light emitting element (OLED) according to the data voltage (Vdata) supplied to a gate terminal of the driving transistor, And displays a predetermined image by causing the organic light emitting diode OLED to emit light.

상기 패널(100) 중, 영상이 출력되는 표시영역(120)에는 상기 유기발광소자(OLED)에 상기 고전위 전압(ELVDD)을 공급하기 위한 고전위 전압 라인, 상기 유기발광소자(OLED)에 저전위 전압(ELVSS)을 공급하기 위한 저전위 전압 라인, 상기 기준전압(Vref)을 상기 픽셀 회로에 공급하기 위한 기준전압 라인(510), 상기 입력전압(Vinit)을 상기 픽셀 회로에 공급하기 위한 입력전압 라인(520) 등과 같은 전원라인들이 상기 게이트 라인들과 교차되도록 형성되어 있다.A high potential voltage line for supplying the high voltage ELVDD to the organic light emitting diode OLED is formed in the display region 120 of the panel 100 in which an image is output, A low potential voltage line for supplying a potential voltage ELVSS, a reference voltage line 510 for supplying the reference voltage Vref to the pixel circuit, an input for supplying the input voltage Vinit to the pixel circuit Voltage lines 520 and the like are formed to intersect with the gate lines.

상기 전압들은 상기 표시영역에 형성되어 있는 모든 픽셀들에 공통적으로 공급되어야 하기 때문에, 상기 전압들을 전송하기 위한 상기 전원라인들은, 상기 표시영역(120)에서 상기 게이트 라인들과 교차되도록 형성되어 있다.Since the voltages are to be commonly supplied to all pixels formed in the display area, the power lines for transmitting the voltages are formed to intersect the gate lines in the display area 120.

상기 데이터 라인들 역시, 상기 표시영역(120)에서 상기 게이트 라인들과 교차되도록 형성되어 있다. The data lines are formed so as to intersect the gate lines in the display region 120.

한편, 상기 소스 드라이브 IC(300)가 상기 패널(100)과 연결되어 있는, 상기 패널 상단의 제3비표시영역(140) 및 하단의 제4비표시영역(150)에는, 상기 전원공급부(500)와 연결되어 있는 전원연결라인들(510a, 520a)이, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 패널(100)의 가로 방향으로 형성되어 있다. The third non-display area 140 and the fourth non-display area 150 at the upper end of the panel, in which the source drive IC 300 is connected to the panel 100, The power supply connection lines 510a and 520a are formed in the lateral direction of the panel 100 as shown in FIG.

따라서, 상기 제3비표시영역(140)에 형성되어 있는 상기 전원연결라인들은, 상기 소스 드라이브 IC(300)로부터 연장되어 있는 상기 데이터 라인들과 교차되도록 형성되어 있다. Therefore, the power supply connection lines formed in the third non-display area 140 are formed to intersect the data lines extending from the source drive IC 300. [

상기 패널의 상기 비표시영역(110)에는, 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 드라이브 IC(200)가 형성되어 있다.In the non-display area 110 of the panel, a gate drive IC 200 is formed as shown in Fig.

상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 게이트 라인들 중 적어도 어느 하나와 연결되어 있는 감지라인(610)은 상기 비표시영역에 형성되어 있으며, 상기 검출부(600)는 상기 감지라인(610)을 통해 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있다. 상기 감지라인(610)을 통해, 상기 감지신호가, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 검출부(600)로 전송될 수 있다. 이 경우, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 감지라인(610)을 통해, 상기 게이트 드라이브 IC(200)의 구동에 필요한 게이트 하이 전압(VGH) 및 게이트 로우 전압(VGL)이 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급될 수 있다. 그러나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 상기 감지라인(610)은 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 전송되어온 감지신호를 상기 검출부(600)로 전송하는 기능만을 수행할 수도 있다. A sensing line 610 connected to at least one of the gate lines through the gate drive IC 200 is formed in the non-display region. The sensing portion 600 is connected to the sensing line 610 And is electrically connected to the gate line. Through the sensing line 610, the sensing signal may be transmitted to the detector 600 through the gate drive IC 200. [ 3, a gate high voltage VGH and a gate low voltage VGL necessary for driving the gate drive IC 200 are applied to the gate drive IC (not shown) through the sense line 610. In this case, 200). However, the present invention is not limited thereto. That is, the sensing line 610 may only transmit a sensing signal transmitted through the gate drive IC 200 to the detecting unit 600. [

따라서, 상기 게이트 하이 전압(VGH) 및 상기 게이트 로우 전압(VGL)을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 기능 및 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 전송된 감지신호를 상기 검출부(600)로 전송하는 기능을 수행하는, 상기 감지라인(610)이 도시되어 있는 도 3에서는, 상기 비표시영역(110)에 상기 감지라인(610)이 두 개 형성되어 있으나, 상기 감지라인(610)은 하나만 형성될 수도 있으며, 또는 세 개 이상 형성될 수 있다. 즉, 상기 감지라인(610)은, 상기 게이트 라인의 수만큼 형성될 수도 있으며, 상기 게이트 라인들 중 일정한 간격으로 이격되어 있는 게이트 라인들에 대응되도록 형성될 수도 있다. Therefore, the function of transferring the gate high voltage VGH and the gate low voltage VGL to the gate drive IC 200 and the function of transferring the detection signal transmitted through the gate drive IC 200 to the detector 600 The sensing line 610 is formed in the non-display region 110 in FIG. 3, in which the sensing line 610 is illustrated. However, the sensing line 610 may include only one sensing line 610 Or three or more of them may be formed. That is, the sensing line 610 may be formed as many as the number of the gate lines, or may correspond to the gate lines spaced apart from the gate lines by a predetermined distance.

또한, 상기 게이트 드라이브 IC(200)가 상기 비표시영역들 중 마주보고 있는 두 개의 비표시영역들(110, 130) 각각에 형성되어 있는 경우, 상기 감지라인(610) 역시 상기 두 개의 비표시영역(110, 130) 각각에 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 제1비표시영역(110)에 형성되어 있는 감지라인(610)들은 홀수번째 게이트 라인들과 연결되어 있고, 상기 제1비표시영역과 마주보고 있는 제2비표시영역(120)에 형성되어 있는 감지라인(610)들은 짝수번째 게이트 라인들과 연결되어 있을 수도 있다. In addition, when the gate drive IC 200 is formed in each of the two non-display areas 110 and 130 facing the non-display areas, the sensing line 610 also includes the two non- (110, 130), respectively. In this case, the sensing lines 610 formed in the first non-display region 110 are connected to the odd gate lines and the second non-display region 120 facing the first non-display region, The sensing lines 610 may be connected to even-numbered gate lines.

또한, 도 3에서는, 상기 전원연결라인들(510a, 520a)이 제3비표시영역(140)및 제4비표시영역(150)에서 상기 감지라인(610)과 교차되지 않는 것으로 도시되어 있다. In addition, in FIG. 3, the power connection lines 510a and 520a are shown as not intersecting the sensing line 610 in the third non-display area 140 and the fourth non-display area 150. FIG.

그러나, 전원연결라인들(510a, 520a) 또는 상기 감지라인(610)의 배치 위치가 변경되는 경우에는, 상기 전원연결라인들(510a, 520a)이 상기 감지라인(610)과 교차될 수도 있다. However, when the positions of the power supply connection lines 510a and 520a or the sensing line 610 are changed, the power supply connection lines 510a and 520a may intersect with the sensing line 610.

상기 바와 같이, 상기 감지라인(610)은 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 게이트 라인과 연결되어 있는 것으로서, 상기 패널의 비표시영역에 적어도 하나 이상 형성될 수 있으며, 상기 감지라인(610)은 상기 패널의 비표시영역에서, 상기 전원연결라인(510a, 520a)들과 교차되도록 형성될 수 있다.
As described above, the sensing line 610 is connected to the gate line through the gate drive IC 200. At least one or more sensing lines 610 may be formed in the non-display region of the panel, May be formed to intersect the power connection lines 510a and 520a in the non-display area of the panel.

다음, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)에서 생성된 게이트 제어신호(GCS)들을 이용하여, 상기 게이트 라인들 각각에 순차적으로 게이트 온 신호를 공급한다. Next, the gate drive IC 200 sequentially supplies a gate-on signal to each of the gate lines using gate control signals (GCS) generated by the timing controller 400.

여기서, 상기 게이트 온 신호는 상기 게이트 라인들에 연결되어 있는 스위칭용 박막트랜지스터를 턴온시킬 수 있는 전압을 말한다. 상기 스위칭용 박막트랜지스터를 턴오프시킬 수 있는 전압은 게이트 오프 신호라하며, 상기 게이트 온 신호와 상기 게이트 오프 신호를 총칭하여 스캔신호라 한다. Here, the gate-on signal refers to a voltage capable of turning on the switching thin film transistor connected to the gate lines. The voltage capable of turning off the switching thin film transistor is referred to as a gate off signal, and the gate on signal and the gate off signal are generically referred to as a scan signal.

상기 스위칭용 박막트랜지스터가 N타입인 경우, 상기 게이트 온 신호는 하이레벨의 전압이며, 상기 게이트 오프 신호는 로우레벨의 전압이다. 상기 박막트랜지스터가 P타입인 경우, 상기 게이트 온 신호는 로우레벨의 전압이며, 상기 게이트 오프 신호는 하이레벨의 전압이다. 상기 하이레벨의 전압은, 상기 게이트 하이 전압(VGH)에 대응되는 전압이며, 상기 로우레벨의 전압은, 상기 게이트 로우 전압(VGL)에 대응되는 전압이다. When the switching thin film transistor is of the N type, the gate on signal is a high level voltage and the gate off signal is a low level voltage. When the thin film transistor is of the P type, the gate on signal is a low level voltage and the gate off signal is a high level voltage. The high level voltage is a voltage corresponding to the gate high voltage VGH, and the low level voltage is a voltage corresponding to the gate low voltage VGL.

상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 패널(100)과 독립되게 형성되어, 테이프 캐리어 패키지(TCP) 또는 연성인쇄회로기판(FPCB) 등을 통해 상기 패널(100)에 연결될 수 있으나, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 패널(100) 내에 실장되는 게이트 인 패널(Gate In Panel : GIP)방식으로 구성될 수도 있다. The gate drive IC 200 may be formed independently of the panel 100 and connected to the panel 100 through a tape carrier package TCP or a flexible printed circuit board (FPCB) As shown in the figure, a gate-in-panel (GIP) method in which the panel 100 is mounted may be used.

상기한 바와 같이, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는 상기 패널 중 마주보고 있는 제1비표시영역(110) 및 제2비표시영역(130)에 형성될 수도 있다.As described above, the gate drive IC 200 may be formed in the first non-display area 110 and the second non-display area 130 facing the panel.

이 경우, 제1비표시영역(110)에 형성되어 있는 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 도 3에 도시된 바와 같이 상기 검출부(600)에 연결될 수 있다. 또한, 제2비표시영역(110)에 형성되어 있는 미도시된 게이트 드라이브 IC(200)는, 미도시된 검출부(600)에 연결될 수 있다.In this case, the gate drive IC 200 formed in the first non-display area 110 may be connected to the detector 600 as shown in FIG. In addition, the gate drive IC 200 (not shown) formed in the second non-display area 110 can be connected to the detector 600 not shown.

즉, 본 발명에 따른 유기발광표시장치에서는, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 검출부(600)가, 두 개씩 형성될 수 있다.That is, in the organic light emitting diode display according to the present invention, two gate drive ICs 200 and the detector 600 may be formed.

그러나, 상기 게이트 드라이브 IC(200)가 두 개인 경우라도, 상기 검출부(600)는 하나만 형성될 수도 있다.
However, even if there are two gate drive ICs 200, only one detector 600 may be formed.

다음, 상기 소스 드라이브 IC(300)는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 전송되어온 디지털 영상데이터를 데이터 전압으로 변환하여 상기 게이트 라인에 상기 게이트 온 신호가 공급되는 1수평기간마다 1수평라인분의 상기 데이터 전압을 상기 데이터 라인들에 공급한다. Next, the source driver IC 300 converts the digital image data transmitted from the timing controller 400 into a data voltage, and supplies the gate-on signal to the gate line, And supplies a data voltage to the data lines.

상기 소스 드라이브 IC(300)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 칩온필름(COF) 형태로 상기 패널(100)에 연결될 수 있으며, 상기 패널 상에 직접 장착되거나, 또는 상기 패널 상에 직접 형성될 수도 있다. 상기 소스 드라이브 IC(300)의 갯수는 상기 패널의 크기, 상기 패널의 해상도 등에 따라 다양하게 설정될 수 있다. The source drive IC 300 may be connected to the panel 100 in the form of a chip-on-film (COF) as shown in FIG. 3 and may be mounted directly on the panel or may be formed directly on the panel It is possible. The number of the source drive ICs 300 may be variously set according to the size of the panel, the resolution of the panel, and the like.

상기 소스 드라이브 IC(300)는, 감마전압 발생부(도시하지 않음)로부터 공급되는 감마전압들을 이용하여, 상기 영상데이터를 상기 데이터 전압으로 변환시킨 후, 상기 데이터 전압을, 상기 데이터 라인으로 공급다. 이를 위해, 상기 소스 드라이브 IC(300)는, 쉬프트 레지스터부, 래치부, 디지털 아날로그 변환부(DAC) 및 출력버퍼를 포함하고 있다. The source driver IC 300 converts the image data into the data voltage using gamma voltages supplied from a gamma voltage generator (not shown), and supplies the data voltage to the data line. . To this end, the source drive IC 300 includes a shift register unit, a latch unit, a digital-analog converter (DAC), and an output buffer.

상기 쉬프트 레지스터부는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 수신된 데이터 제어신호들(SSC, SSP 등)을 이용하여 샘플링 신호를 출력한다.The shift register unit outputs a sampling signal using data control signals (SSC, SSP, etc.) received from the timing controller (400).

상기 래치부는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 순차적으로 수신된 상기 디지털 영상데이터(Data)를 래치하고 있다가, 상기 디지털 아날로그 변환부(DAC)(330)로 동시에 출력하는 기능을 수행한다. The latch unit latches the digital image data Data sequentially received from the timing controller 400 and simultaneously outputs the latched digital image data Data to the digital-analog converter (DAC) 330.

상기 디지털 아날로그 변환부는 상기 래치부로부터 전송되어온 상기 영상데이터들을 동시에 상기 데이터 전압으로 변환하여, 출력한다. 즉, 상기 디지털 아날로그 변환부는, 상기 감마전압 발생부(도시하지 않음)로부터 공급되는 감마전압을 이용하여, 상기 영상데이터들을 상기 데이터 전압으로 변환한 후, 상기 데이터 전압을 상기 데이터 라인들로 출력한다. The digital-analog converter converts the image data transmitted from the latch unit into the data voltage at the same time and outputs the data voltage. That is, the digital-analog converter converts the image data into the data voltage using the gamma voltage supplied from the gamma voltage generator (not shown), and outputs the data voltage to the data lines .

상기 출력버퍼는 상기 디지털 아날로그 변환부로부터 전송되어온 상기 데이터 전압을, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 전송되어온 소스 출력 인에이블 신호(SOE)에 따라, 상기 패널의 데이터 라인(DL)들로 출력한다.
The output buffer outputs the data voltage transmitted from the digital-analog converter to data lines (DL) of the panel according to a source output enable signal (SOE) transmitted from the timing controller (400).

다음, 상기 전원공급부(500)는 상기 전원라인들에 전원을 공급하는 기능을 수행한다. Next, the power supply unit 500 performs a function of supplying power to the power supply lines.

상기한 바와 같이, 상기 고전위 전압(ELVDD) 및 상기 저전위 전압(ELVSS)은, 상기 유기발광소자(OLED)의 에노드 및 캐소드에 연결되어 있는 상기 고전위 전압 라인 및 저전위 전압 라인을 통해 상기 유기발광소자로 공급되고, 상기 기준전압(Vref)은 기준전압 라인(510)을 통해 상기 픽셀 회로로 공급되며, 상기 입력전압(Vinit)은 입력전압 라인(520)을 통해 상기 픽셀 회로로 공급된다.As described above, the high-potential voltage ELVDD and the low-potential voltage ELVSS are applied to the organic light-emitting device OLED through the high-potential voltage line and the low-potential voltage line, which are connected to the node and the cathode of the organic light- The reference voltage Vref is supplied to the pixel circuit via a reference voltage line 510 and the input voltage Vinit is supplied to the pixel circuit through an input voltage line 520. [ do.

상기 전원공급부(500)는 상기한 바와 같은 전압을 생성하여, 상기 전압을, 상기 각각의 전원라인을 통해, 상기 픽셀 회로로 공급한다. The power supply unit 500 generates the voltage as described above, and supplies the voltage to the pixel circuit through the respective power supply lines.

상기 전원공급부(500)와 상기 전원라인들(510, 520)을 연결시키기 위한 상기 전원연결라인들(510a, 520a)은, 상기 패널의 제3비표시영역(140) 및 제4비표시영역(150)에, 상기 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)과 교차되도록 형성될 수 있다.
The power connection lines 510a and 520a for connecting the power supply unit 500 and the power supply lines 510 and 520 are connected to the third non-display area 140 and the fourth non- 150, and intersecting the data lines DL1 to DLm.

다음, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상(異常)을 검출하는 기능을 수행한다.Next, the detector 600 performs a function of detecting a panel abnormality in the display area using the sensing signal collected through the gate line.

예를 들어, 상기 검출부(600)는 상기 스캔신호를 구성하는, 상기 게이트 하이 전압(VGH)을 이용하거나, 상기 게이트 로우 전압(VGL)을 이용하거나, 상기 게이트 하이 전압(VGH) 또는 상기 게이트 로우 전압(VGL)에 의해 발생되는 전류를 이용하여 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있다. For example, the detecting unit 600 may detect the gate high voltage VGH or the gate low voltage VGH using the gate high voltage VGH, the gate low voltage VGL, The panel abnormality in the display area can be detected using the current generated by the voltage VGL.

상기한 바와 같이, 상기 스캔신호는 상기한 바와 같이, 상기 게이트 하이 전압(VGH) 또는 상기 게이트 로우 전압(VGL)으로 구성되며, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 발생된다. 따라서, 상기 검출부(600)는, 상기 스캔신호가 공급되는 상기 패널(100)로부터, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 수집되는, 전압 또는 전류의 양이 변화되는 것을 감지하여, 상기 표시영역에서의 패널이상의 발생 여부를 판단할 수 있다. As described above, the scan signal is constituted by the gate high voltage VGH or the gate low voltage VGL as described above, and panel anomalies are generated in the display region 120. Therefore, the detector 600 senses that the amount of voltage or current that is collected through the gate drive IC 200 from the panel 100 to which the scan signal is supplied is changed, It is possible to judge whether or not the panel of the panel is over.

이를 위해, 상기 검출부(600)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해, 상기 게이트 라인과 연결되어 있는, 상기 감지라인(610)으로부터 전송되어오는, 게이트 하이 전압(VGH), 게이트 로우 전압(VGL), 또는 상기 게이트 하이 전압과 상기 게이트 로우 전압 중 어느 하나에 의해 발생되는 전류를, 기준신호와 비교한다. 상기 검출부(600)는 상기 비교에 의해 검출된 검출신호(VGL_S, VGH_S)를 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송한다. 4, the detector 600 is connected to the gate line via the gate drive IC 200 and has a gate high voltage (VGH), a gate low voltage (VGL), or a current generated by either the gate high voltage or the gate low voltage with a reference signal. The detector 600 transmits the detection signals VGL_S and VGH_S detected by the comparison to the timing controller 400.

그러나, 상기 검출부(600)가, 도 4에 도시된 바와 같은 구성에 한정되는 것은 아니다. 즉, 상기 검출부(600)는 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 전송되어온 다양한 형태의 감지신호를 이용하여, 상기 패널에서의 패널이상을 검출하기 위해, 다양한 구조로 형성될 수 있다. 상기 검출부(600)의 구체적인 일예는, 도 5 내지 도 8을 참조하여 상세히 설명된다. However, the detection unit 600 is not limited to the configuration shown in FIG. That is, the detecting unit 600 may be formed in various structures in order to detect a panel abnormality in the panel using the gate line and various types of sensing signals transmitted through the gate drive IC 200 have. A specific example of the detection unit 600 will be described in detail with reference to FIGS. 5 to 8. FIG.

상기 검출부(600)는, 상기한 바와 같이, 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해, 상기 패널에 형성되어 있는 게이트 라인들 중 적어도 하나 이상의 게이트 라인과 연결될 수 있다. The detector 600 may be connected to at least one gate line among the gate lines formed in the panel through the gate drive IC 200 as described above.

이 경우, 도 4에 도시된 바와 같은 회로 구성은, 상기 각 게이트 라인과 연결되어 있는 각 감지라인(610) 별로 형성될 수 있다. In this case, a circuit configuration as shown in FIG. 4 may be formed for each sensing line 610 connected to each gate line.

상기 검출부(600)가 상기 감지라인(610)을 통해 상기 비표시영역에서 상기 게이트 라인과 연결되어 있고, 상기 감지라인(610)이 상기 비표시영역에서 상기 전원연결라인들(510a, 520a)과 교차되게 형성되어 있는 경우, 상기 검출부(600)는 상기 감지라인(610)을 통해 상기 비표시영역에서의 패널이상을 검출할 수도 있다.
The sensing unit 600 is connected to the gate line in the non-display region through the sensing line 610 and the sensing line 610 is connected to the power connection lines 510a and 520a in the non- The detection unit 600 may detect a panel abnormality in the non-display region through the sensing line 610. [0064] FIG.

마지막으로, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 외부 시스템으로부터 입력되는 타이밍 신호, 즉, 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신호(DE) 등을 이용하여, 상기 게이트 드라이브 IC(200)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)와 상기 소스 드라이브 IC(300)들의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS)를 생성하며, 상기 소스 드라이브 IC(300)로 전송될 영상데이터를 생성한다. Lastly, the timing controller 400 uses the timing signals input from the external system, that is, the vertical synchronization signal Vsync, the horizontal synchronization signal Hsync, and the data enable signal DE, Generates a gate control signal GCS for controlling the operation timing of the IC 200 and a data control signal DCS for controlling the operation timing of the source drive ICs 300, And generates image data to be transmitted.

이를 위해, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 외부 시스템으로부터 입력영상데이터 및 타이밍 신호들을 수신하기 위한 수신부, 각종 제어신호들을 생성하기 위한 제어신호 생성부, 상기 입력영상데이터를 재정렬하여, 재정렬된 영상데이터를 출력하기 위한 데이터 정렬부 및 상기 제어신호들과 상기 영상데이터를 출력하기 위한 출력부를 포함한다. To this end, the timing controller 400 includes a receiver for receiving input image data and timing signals from the external system, a control signal generator for generating various control signals, a rearrangement of the input image data, A data sorting unit for outputting data, and an output unit for outputting the control signals and the image data.

즉, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 외부 시스템으로부터 입력되는 입력영상데이터를 상기 패널(100)의 구조 및 특성에 맞게 재정렬시켜, 재정렬된 상기 영상데이터를 상기 소스 드라이브 IC(300)로 전송한다. 이러한 기능은, 상기 데이터 정렬부에서 실행될 수 있다. That is, the timing controller 400 rearranges the input image data input from the external system according to the structure and characteristics of the panel 100, and transmits the rearranged image data to the source drive IC 300 . Such a function can be executed in the data arrangement section.

상기 타이밍 컨트롤러(400)는 상기 외부 시스템으로부터 전송되어온 타이밍 신호들, 즉, 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync) 및 데이터인에이블신호(DE) 등을 이용하여, 상기 소스 드라이브 IC를 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS) 및 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)를 생성하여, 상기 제어신호들을 상기 소스 드라이브 IC(300)와 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 기능을 수행한다. 이러한 기능은, 상기 제어신호 생성부에서 실행될 수 있다. The timing controller 400 uses the timing signals transmitted from the external system, that is, the vertical synchronization signal Vsync, the horizontal synchronization signal Hsync, and the data enable signal DE, A gate control signal GCS for controlling the gate drive IC 200 and a data control signal DCS for controlling the source drive IC 300 and the gate drive IC 200. [ As shown in FIG. This function can be executed in the control signal generation unit.

상기 제어신호 생성부에서 생성되는 데이터 제어신호(DCS)들에는 소스 스타트 펄스(SSP), 소스 쉬프트 클럭신호(SSC), 소스 출력 인에이블 신호(SOE) 등이 포함된다. The data control signals DCS generated by the control signal generator include a source start pulse SSP, a source shift clock signal SSC and a source output enable signal SOE.

상기 제어신호 생성부에서 생성되는 게이트 제어신호(GCS)들로는 게이트 스타트 펄스(GSP), 게이트 스타트 신호(VST), 게이트 쉬프트 클럭(GSC), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE), 게이트 스타트신호(VST), 게이트 클럭(GCLK) 등이 있다.The gate control signals GCS generated by the control signal generator include a gate start pulse GSP, a gate start signal VST, a gate shift clock GSC, a gate output enable signal GOE, a gate start signal VST ), A gate clock (GCLK), and the like.

또한, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 검출부(600)의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부(500)의 구동을 제어하는 기능을 수행한다. The timing controller 400 controls the driving of the power supply unit 500 according to the detection result of the detecting unit 600.

즉, 상기 검출부(600)를 통해 전송되어온 검출신호(VGL_S, VGH_S)의 분석결과, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 발생되었다고 판단되면, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 전원공급부(500)의 기능을 오프시켜, 상기 표시영역(120)에서 더 심한 패널이상이 발생되지 않도록 할 수 있다. 이를 위해, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는 파워제어신호(PCS)를 상기 전원공급부(500)로 전송할 수 있다. That is, if it is determined that the panel abnormality has occurred in the display area 120 as a result of the detection of the detection signals VGL_S and VGH_S transmitted through the detector 600, the timing controller 400 controls the power supply unit 500 ) Can be turned off to prevent a more serious panel abnormality in the display area 120. [ To this end, the timing controller 400 may transmit a power control signal PCS to the power supply unit 500.

또한, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 발생되었다고 판단되면, 상기 전원공급부(500) 뿐만 아니라, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 또는 상기 소스 드라이브 IC(300)의 구동을 제어함으로써, 상기 표시영역(120)에서 더 심한 패널이상이 발생되지 않도록 할 수도 있다. 이를 위해, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는 다양한 종류의 제어신호를 생성하여, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 또는 상기 소스 드라이브 IC(300)로 전송할 수 있다. The timing controller 400 controls the timing of driving the gate drive IC 200 or the source drive IC 300 as well as the power supply unit 500 when it is determined that a panel abnormality has occurred in the display area 120. [ By controlling the driving, more severe panel abnormality can be prevented from occurring in the display area 120. To this end, the timing controller 400 may generate various kinds of control signals and transmit the control signals to the gate drive IC 200 or the source drive IC 300.

상기한 바와 같은 본 발명은, 유기발광표시장치에서의 패널이상이 발생을 감지하여, 그에 대한 대응조치를 취하기 위한 것으로서, 게이트 라인으로 출력되는 게이트 온 신호 또는 게이트 오프 신호의, 전류 또는 전압을 이용하여, 상기 패널(100)의 표시영역(120)에서의 패널이상을 검출한다. 또한, 본 발명은 패널이상이 발생되었다고 판단되면, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어함으로써, 상기 표시영역(120)에서의 패널이상이 확산되거나, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등이 훼손되는 것을 방지할 수 있다. The present invention as described above is for detecting the occurrence of a panel anomaly in the organic light emitting diode display and taking countermeasures therefrom. The present invention uses a current or voltage of a gate-on signal or a gate off signal outputted to the gate line Thereby detecting a panel abnormality in the display area 120 of the panel 100. [ In addition, when it is determined that a panel abnormality has occurred, the present invention controls driving of the power supply unit 500, the source drive IC 300, the gate drive IC 200, It is possible to prevent the power supply unit 500, the source drive IC 300, the gate drive IC 200, and the like from being damaged.

즉, 본 발명은 상기 표시영역(120)에 형성되어 있는 게이트 라인에 공급되는 전압 또는 전류의 변화를 감지하여, 상기 표시영역(120)의 패널이상을 검출하고, 패널이상이 발생된 경우, 그에 대한 조치를 수행하여, 상기 표시영역(120)에서 패널이상이 확산되는 것을 방지할 수 있다. That is, according to the present invention, a change in voltage or current supplied to the gate line formed in the display region 120 is detected to detect a panel abnormality in the display region 120, and when a panel abnormality occurs, It is possible to prevent the panel abnormality from spreading in the display area 120. [

상기에서는, 패널이상이 발생된 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)가, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어하는 것으로 설명되었다. 그러나, 상기한 바와 같은 제어는, 상기 타이밍 컨트롤러(400) 이외의 다른 구성요소들에서 이루어질 수도 있다. 예를 들어, 상기 타이밍 컨트롤러(400) 및 상기 소스 드라이브 IC(300)가 일체로 구성된 드라이버 IC가, 상기한 바와 같은 제어 기능을 수행할 수도 있으며, 상기 타이밍 컨트롤러가 아닌 별도의 구성요소가, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어할 수도 있다. In the above description, it has been described that the timing controller 400 controls driving of the power supply unit 500, the source drive IC 300, the gate drive IC 200, and the like when a panel abnormality occurs. However, the control as described above may be performed in other components than the timing controller 400. [ For example, a driver IC in which the timing controller 400 and the source drive IC 300 are integrated may perform the control function as described above, and a separate component, not the timing controller, The power supply unit 500, the source drive IC 300, the gate drive IC 200, and the like.

따라서, 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 전원공급부(500), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 등의 구동을 제어하는 구성요소를 간단히 제어부라 한다. 그러나, 이하에서는, 설명의 편의상 상기 타이밍 컨트롤러가 상기 제어부의 기능을 수행하는 것을 일예로 하여 본 발명이 설명된다.
Therefore, when the panel abnormality occurs, a component for controlling driving of the power supply unit 500, the source drive IC 300, the gate drive IC 200, and the like is simply referred to as a control unit. However, in the following, the present invention will be described as an example in which the timing controller performs the function of the control unit for convenience of explanation.

도 5는 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 검출부의 구성을 나타낸 예시도이다. 5 is a diagram illustrating a configuration of a detector applied to an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.

본 발명에 따른 유기발광표시장치는, 상기한 바와 같이, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원공급부(500), 상기 검출부(600) 및 상기 타이밍 컨트롤러(400)를 포함한다. 이하에서는, 도 3 및 도 4를 참조하여 설명된 내용과 동일하거나 유사한 내용은, 생략되거나 또는 간단히 설명된다. The organic light emitting display according to the present invention can be applied to the panel 100, the gate drive IC 200, the source drive IC 300, the power supply unit 500, the detection unit 600, And the timing controller 400. Hereinafter, the same or similar contents as those described with reference to Figs. 3 and 4 are omitted or briefly described.

첫째, 상기 패널(100)에는 상기 게이트 라인(GL)들, 상기 데이터 라인(DL)들, 상기 기준전압 라인(510), 상기 입력전압 라인(520), 상기 고전위 구동전압 라인, 상기 저전위 구동전압 라인 등이 형성되어 있으며, 특히, 상기 게이트 라인(GL)들은, 상기 기준전압 라인(510), 상기 입력전압 라인(520), 상기 고전위 구동전압 라인, 상기 저전위 구동전압 라인 등과 교차되도록 형성되어 있다. First, the panel 100 is connected to the gate lines GL, the data lines DL, the reference voltage line 510, the input voltage line 520, the high potential driving voltage line, The gate lines GL are connected to the reference voltage line 510, the input voltage line 520, the high potential driving voltage line, the low potential driving voltage line, and the like. Respectively.

상기 기준전압 라인(510)은, 상기 픽셀 회로들에 연결되어 있으며, 상기 기준전압 라인(510)을 통해, 상기 기준전압(Vref)이 상기 픽셀 회로들로 공급된다.The reference voltage line 510 is connected to the pixel circuits, and the reference voltage Vref is supplied to the pixel circuits via the reference voltage line 510.

상기 입력전압 라인(520)은, 상기 픽셀 회로들에 연결되어 있으며, 상기 입력전압 라인(520)을 통해, 상기 입력전압(Vinit)이 상기 픽셀 회로들로 공급된다. The input voltage line 520 is connected to the pixel circuits and through the input voltage line 520 the input voltage Vinit is supplied to the pixel circuits.

상기 기준전압(Vref) 및 상기 입력전압(Vinit)은, 상기 픽셀 회로의 구동, 상기 유기발광소자(OLED)의 열화 보상 또는 상기 유기발광소자(OLED)의 열화 감지 등을 위한 목적으로 상기 픽셀 회로에 공급된다. The reference voltage Vref and the input voltage Vinit are applied to the pixel circuit for the purpose of driving the pixel circuit, compensating deterioration of the organic light emitting element OLED or detecting deterioration of the organic light emitting element OLED. .

상기 고전위 구동전압(ELVDD) 및 상기 저전위 구동전압(ELVSS)은, 상기 유기발광소자(OLED)의 구동을 위해, 상기 픽셀 회로들로 공급된다. The high potential driving voltage ELVDD and the low potential driving voltage ELVSS are supplied to the pixel circuits for driving the organic light emitting device OLED.

둘째, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 게이트 라인(GL)들로, 순차적으로 상기 게이트 온 신호를 공급한다.Second, the gate drive IC 200 sequentially supplies the gate-on signal to the gate lines GL.

이를 위해, 상기 게이트 드라이브 IC(200)는, 상기 게이트 라인(GL)들과 전기적으로 연결되어 있다. To this end, the gate drive IC 200 is electrically connected to the gate lines GL.

셋째, 상기 소스 드라이브 IC(300)는, 상기 게이트 라인(GL)들로 상기 게이트 온 신호가 공급되는 동안, 상기 데이터 라인(DL)들로 상기 데이터 전압을 공급한다. Third, the source drive IC 300 supplies the data voltage to the data lines DL while the gate-on signal is supplied to the gate lines GL.

넷째, 상기 전원공급부(500)는, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 데이터 드라이브 IC(300)에서 요구되는 전원을 공급한다. 예를 들어, 상기 전원공급부(500)는, 상기 스캔신호의 생성에 이용되는 상기 게이트 하이 전압(VGH) 및 상기 게이트 로우 전압(VGL)을 생성하여, 상기 전압들을 상기 검출부(600)를 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급한다. Fourth, the power supply unit 500 supplies power required by the gate drive IC 200 and the data drive IC 300. For example, the power supply unit 500 generates the gate high voltage VGH and the gate low voltage VGL used for generating the scan signal, And supplies it to the gate drive IC 200.

또한, 상기 전원공급부(500)는, 상기 기준전압(Vref), 상기 입력전압(Vinit), 상기 고전위 구동전압(ELVDD) 및 상기 저전위 구동전압(ELVSS)을 생성하여, 상기 전원들을, 상기 전원라인들을 통해 상기 픽셀 회로들로 공급한다. 이하에서는, 상기 기준전압(Vref), 상기 입력전압(Vinit), 상기 고전위 구동전압 및 상기 저전위 구동전압을 총칭하여 전원이라 한다. 따라서, 이하에서 사용되는 전원은, 상기 기준전압(Vref)이 될 수도 있고, 상기 입력전압(Vinit)이 될 수도 있고, 상기 고전위 구동전압이 될 수도 있으며, 상기 저전위 구동전압이 될 수도 있다. 그러나, 이하에서는, 설명의 편의상, 상기 기준전압 또는 상기 입력전압을 상기 전원이라 한다.The power supply unit 500 generates the reference voltage Vref, the input voltage Vinit, the high potential driving voltage ELVDD, and the low potential driving voltage ELVSS, And supplies them to the pixel circuits through power supply lines. Hereinafter, the reference voltage Vref, the input voltage Vinit, the high potential driving voltage, and the low potential driving voltage are collectively referred to as a power source. Therefore, the power source used below may be the reference voltage Vref, the input voltage Vinit, the high potential driving voltage, or the low potential driving voltage . Hereinafter, for convenience of explanation, the reference voltage or the input voltage is referred to as the power source.

특히, 본 발명에 적용되는 상기 전원공급부(500)는, 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급되는 상기 게이트 하이 전압(VGH) 및 상기 게이트 로우 전압(VGL)들을 이용하여, 상기 전원, 즉, 상기 기준전압(Vref) 및 상기 입력전압(Vinit)을 생성한다. 이하에서는, 상기 게이트 하이 전압 및 상기 게이트 로우 전압을 총칭하여, 게이트 전압이라 한다. 또한, 이하에서는, 설명의 편의상, 상기 게이트 로우 전압을, 제1게이트 전압이라 하며, 상기 게이트 하이 전압을 제2게이트 전압이라 한다. Particularly, the power supply unit 500 according to the present invention is configured to apply the gate high voltage VGH and the gate low voltage VGL supplied to the gate drive IC 200 to the power source, that is, The reference voltage Vref and the input voltage Vinit. Hereinafter, the gate high voltage and the gate low voltage are collectively referred to as a gate voltage. Hereinafter, for convenience of explanation, the gate low voltage is referred to as a first gate voltage, and the gate high voltage is referred to as a second gate voltage.

따라서, 상기 전원공급부(500)는, 상기 스캔신호의 생성에 이용되는 상기 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 검출부(600)를 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 기능을 수행할 수 있다.Therefore, the power supply unit 500 generates the gate voltage used for generating the scan signal, and supplies the gate voltage to the gate drive IC 200 through the detection unit 600 .

또한, 상기 전원공급부(500)는, 상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는 기능을 수행할 수 있다.Also, the power supply unit 500 may generate the power using the gate voltage, and supply the power to the power lines.

이를 위해, 상기 전원공급부(500)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 전압을 상기 검출부(600)로 출력하는 제1출력기(510), 상기 제2게이트 전압을 상기 검출부(600)로 출력하는 제2출력기(520) 및 상기 제1게이트 전압과 상기 제2게이트 전압을 이용하여 상기 전원을 생성하는 전원 생성기(530)를 포함한다.5, the power supply unit 500 includes a first output unit 510 for outputting the first gate voltage to the detection unit 600, a second output unit 510 for outputting the second gate voltage to the detection unit 600 And a power generator 530 for generating the power using the first gate voltage and the second gate voltage.

예를 들어, 상기 제1출력기는, 상기 게이트 로우 전압을 생성하고, 상기 제2출력기는, 상기 게이트 하이 전압을 생성하며, 상기 전원 생성기(530)는 상기 기준전압(Vref)을 생성할 수 있다. For example, the first output may generate the gate low voltage, the second output may generate the gate high voltage, and the power generator 530 may generate the reference voltage Vref .

다섯째, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 상기 감지라인(610)을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있다. Fifth, the detector 600 can detect a panel abnormality in the display area using the current induced through the sensing line 610 that supplies the gate voltage to the gate drive IC 200 .

이를 위해, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 전압을, 상기 감지라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 게이트 전압 전송기, 및 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC와 상기 감지라인(610)을 통해, 과전류가 전송되면, 검출신호를 생성하여 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송하는 검출신호 전송기를 포함한다. To this end, the detector 600 includes a gate voltage transmitter for transmitting the gate voltage to the gate drive IC through the sense line, and a gate voltage transmitter for applying a voltage to the gate drive IC through the gate drive IC and the sense line 610, And a detection signal transmitter that generates and transmits a detection signal to the timing controller 400 when an overcurrent is transmitted.

상기한 바와 같이, 상기 게이트 전압은, 상기 스캔신호 중 상기 게이트 오프 신호의 생성에 이용되는 상기 제1게이트 구동전압 또는 상기 스캔신호 중 상기 게이트 온 신호의 생성에 이용되는 제2게이트 구동전압 중 적어도 어느 하나가 될 수 있다. 이하에서는, 상기 감지라인(610)이, 제1감지신호전송라인 및 제2감지신호전송라인로 구성되는 경우를 일예로 하여 본 발명이 설명된다. As described above, the gate voltage may be at least one of the first gate driving voltage used for generating the gate off signal of the scan signal or the second gate driving voltage used for generating the gate on signal of the scan signal It can be either. Hereinafter, the present invention will be described by way of example in which the sensing line 610 is composed of a first sensing signal transmission line and a second sensing signal transmission line.

이 경우, 상기 검출부(600)는, 상기 제1게이트 구동전압을 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하고, 상기 제2게이트 구동전압을 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 유도된 제1전류 또는 상기 제2감지신호전송라인을 통해 유도된 제2전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출할 수 있다. In this case, the detector 600 transmits the first gate drive voltage to the gate drive IC 200 through the first sense signal transmission line, and transmits the second gate drive voltage to the second sense signal transmission And a second current that is induced through the first sense signal transmission line or through the second sense signal transmission line, Can be detected.

예를 들어, 상기 전원라인들 간에, 또는 상기 게이트 라인과 상기 전원라인 간에 쇼트와 같은 패널이상이 발생되면, 전류 소모가 많아지기 때문에, 상기 게이트 라인으로 과전류가 흐르게 된다.For example, when a panel abnormality such as a short circuit occurs between the power supply lines or between the gate line and the power supply line, current consumption is increased, and an overcurrent flows to the gate line.

이 경우, 상기 과전류는, 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 상기 게이트 드라이브 IC(200)를 통해 상기 감지라인(610)으로 유도되며, 최종적으로 상기 검출부(600)로 유도된다. In this case, the overcurrent is guided to the sensing line 610 through the gate drive IC 200 electrically connected to the gate line, and is ultimately guided to the detecting unit 600.

따라서, 상기 검출부(600)는, 상기 과전류가 상기 감지라인(610)을 통해 유도되면, 상기 패널에서 패널이상이 발생된 것으로 판단하여, 상기 검출신호를 생성한다. 상기 검출신호는, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송되며, 상기 검출신호를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원 공급부(500) 중 적어도 어느 하나의 동작을 중단시킬 수 있다. Therefore, when the overcurrent is guided through the sensing line 610, the detector 600 determines that a panel abnormality has occurred in the panel, and generates the detection signal. The detection signal is transmitted to the timing controller 400. The timing controller 400 receiving the detection signal detects the gate drive IC 200, the source drive IC 300, the power supply unit 500 The operation of at least one of them can be stopped.

상기 검출부(600)는, 상기 제1게이트 구동전압 또는 상기 제2게이트 구동전압을 이용하여 상기 패널이상의 발생여부를 판단할 수 있으나, 상기 제1게이트 구동전압 및 상기 제2게이트 구동전압 모두를 이용하여 상기 패널이상의 발생여부를 판단할 수도 있다.The detection unit 600 may determine whether the panel is abnormal by using the first gate driving voltage or the second gate driving voltage, but may use both the first gate driving voltage and the second gate driving voltage Thereby determining whether or not the panel abnormality has occurred.

이 경우, 상기 검출부(600)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기(610) 및 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함할 수 있다. In this case, the detecting unit 600 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, as shown in FIG. 5, A first detector 610 for detecting the panel abnormality by using a current transmitted through a signal transmission line and a second detector driving the second gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the second sense signal transmission line And a second detector for detecting the panel abnormality using a current transmitted through the second sensing signal transmission line.

상기 검출부(600)의 세부 구성 및 기능은, 도 6 내지 도 9를 참조하여 상세히 설명된다. The detailed configuration and function of the detector 600 will be described in detail with reference to Figs. 6 to 9. Fig.

여섯째, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 검출부(600)로부터, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호가 전송되면, 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300), 상기 전원 공급부(500) 중 적어도 어느 하나의 동작을 중단시킬 수 있다. 특히, 상기 패널이상이 발생된 상태에서, 상기 전원라인으로 상기 전원이 공급되면, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 소스 드라이브 IC(300)가 손상될 가능성이 높다. 따라서, 상기 타이밍 컨트롤러(400)는, 상기 검출신호가 전송되면, 우선적으로 상기 전원 공급부(500)의 동작을 중단시킬 수 있다.
Sixth, when the detection signal indicating that the panel abnormality has occurred is transmitted from the detector 600 to the timing controller 400, the timing controller 400 controls the gate drive IC 200, the source drive IC 300, The controller 500 can stop the operation of at least one of them. Particularly, in a state where the panel abnormality is generated, there is a high possibility that the panel 100, the gate drive IC 200, and the source drive IC 300 are damaged when power is supplied to the power line. Accordingly, when the detection signal is transmitted, the timing controller 400 can stop the operation of the power supply unit 500 preferentially.

상기에서 설명된 본 발명에 따른 유기발광표시장치의 구동방법을 설명하면 다음과 같다. A driving method of the OLED display according to the present invention will now be described.

예를 들어, 본 발명에 따른 유기발광표시장치 구동방법은, 게이트 라인들과 데이터 라인들이 형성되어 있는 패널(100)의 표시영역(120)에서, 상기 게이트 라인들과 교차되게 형성되어 있는 전원라인들로, 전원을 공급하여, 상기 패널(100)에 형성되어 있는 픽셀 회로들을 구동시키는 단계, 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인(610)을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역(120)에서의 패널이상을 검출하는 단계 및 상기 패널이상이 검출되면, 상기 전원라인들로 공급되는 상기 전원을 차단하는 단계를 포함한다.For example, a method of driving an organic light emitting display according to the present invention includes driving a power supply line (not shown) intersecting the gate lines in a display area 120 of a panel 100 in which gate lines and data lines are formed, Driving the pixel circuits formed in the panel 100 by supplying power to the gate lines, using the sensing signals collected through the sensing lines 610 electrically connected to the gate lines, Detecting a panel abnormality in the area 120, and, when the panel abnormality is detected, cutting off the power supplied to the power supply lines.

여기서, 상기 픽셀 회로들을 구동시키는 단계는, 상기 게이트 라인으로 공급되는 스캔신호의 생성에 이용되는 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 라인들로 공급하는 단계 및 상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는 단계를 포함한다. Wherein driving the pixel circuits includes generating a gate voltage used to generate a scan signal supplied to the gate line and supplying the gate voltage to the gate lines, And supplying the power to the power supply lines.

또한, 상기 패널이상을 검출하는 단계에서, 상기 검출부(600)는, 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 상기 감지라인(610)을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출할 수 있다. Further, in the step of detecting the panel abnormality, the detecting unit 600 may detect a panel abnormality in the display area using the current induced through the sensing line 610 electrically connected to the gate line Can be detected.

특히, 상기 검출부(600)는, 상기 감지라인을 통해 과전류가 전송되면, 상기 패널이상이 검출된 것으로 판단할 수 있다.
Particularly, when the overcurrent is transmitted through the sensing line, the detector 600 may determine that the panel abnormality is detected.

도 6은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제1검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도이며, 도 7은 도 6에 도시된 제1검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도이다. FIG. 6 is a view for explaining a configuration and a function of a first detector applied to the organic light emitting display according to the present invention, and FIG. 7 is an exemplary view showing a modified configuration of the first detector shown in FIG.

상기 검출부(600)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기(610) 및 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함할 수 있다. 5, the detecting unit 600 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, and the first sensing signal transmission line A first detector 610 for detecting the panel abnormality using a current transmitted through the first sensing signal transmission line and the second gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the second sensing signal transmission line, And a second detector for detecting the panel abnormality using a current transmitted through the second sensing signal transmission line.

상기 제1검출기(610)는, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 제1게이트 전압 전송기(611) 및 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 제1감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 제1검출신호(VGL_S)를 생성하여 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 제1검출신호 전송기(612)를 포함한다. 여기서, 상기 제1게이트 구동전압은, 상기 스캔신호 중 상기 픽셀 회로에 형성되어 있는 스위칭 트랜지스터를 턴오프시킬 수 있는 상기 게이트 로우 전압(VGL)이 될 수 있다. The first detector 610 is connected to the gate drive IC 200 through the first sense signal transmission line, as shown in FIG. 6 (a) When the overcurrent is transmitted through the gate voltage transmitter 611 and the gate line, the gate drive IC 200 and the first sense signal transmission line, the first detection signal VGL_S is generated and transmitted to the timing controller And a first detection signal transmitter 612. Here, the first gate driving voltage may be the gate low voltage (VGL) capable of turning off the switching transistor formed in the pixel circuit among the scan signals.

상기 제1게이트 전압 전송기(611)는, 상기 전원 공급부(500)로부터 공급되어온 상기 제1게이트 전압(VGL)과 연결되어 있는 저항들(R1, R2)을 포함하며, 상기 제1게이트 전압(VGL)을 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송한다. The first gate voltage transmitter 611 includes resistors R1 and R2 connected to the first gate voltage VGL supplied from the power supply unit 500. The first gate voltage VGL To the gate drive IC 200 through the first sense signal transmission line.

상기 제1검출신호 전송기(612)는, 제1단자가 상기 제1게이트 전압 전송기(611)와 연결되어 있으며 제2단자(게이트 단자)가 연결되어 있는 상기 제1감지신호전송라인을 통해 유도된 과전류에 의해 턴온되는 제1트랜지스터(TR1), 및 상기 제1트랜지스터의 제3단자와 연결되어 있으며 상기 과전류에 의해 상기 제1트랜지스터(TR1)가 턴온되면, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호를 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송하는 제1검출신호 생성기를 포함한다. 상기 제1검출신호 생성기는, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 제1검출전원(V1), 제5저항(R5), 다이오드(D) 및 제4저항(R4)을 포함할 수 있다. 상기 제1트랜지스터(TR1)와 상기 제1검출신호 생성기 사이에는 제3저항(R3)이 연결될 수 있다.The first detection signal transmitter 612 is connected to the first gate voltage transmitter 611 through a first sensing signal transmission line to which a first terminal is connected to the first gate voltage transmitter 611 and a second terminal A first transistor TR1 turned on by an overcurrent, and a second transistor TR1 connected to a third terminal of the first transistor, wherein when the first transistor TR1 is turned on by the overcurrent, To the timing controller (400). The first detection signal generator may include a first detection power supply V1, a fifth resistor R5, a diode D and a fourth resistor R4 as shown in Fig. 6 (a) have. A third resistor R3 may be connected between the first transistor TR1 and the first detection signal generator.

첫째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 제1검출기(610)의 동작 방법을 도 6의 (b)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. First, in a case where the panel abnormality does not occur in the panel 100, a method of operating the first detector 610 will be described with reference to FIG. 6 (b).

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급되지 않는다. 따라서, N타입으로 구성된 상기 제1트랜지스터(TR1)는 턴오프된다.When the panel abnormality is not generated in the panel 100, an overcurrent is not supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200, and the sensing line 610. Therefore, the first transistor TR1 of N type is turned off.

상기 제1트랜지스터(TR1)가 턴오프됨에 따라, 상기 제1게이트 전압 전송기(611) 및 상기 제1검출신호 전송기(612)는, 개별적으로 구동된다.As the first transistor TR1 is turned off, the first gate voltage transmitter 611 and the first detection signal transmitter 612 are driven separately.

따라서, 상기 제1게이트 구동전압(VGL)은, 상기 제1게이트 전압 전송기(611)와 상기 감지라인(610)을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송된다.Accordingly, the first gate driving voltage VGL is transmitted to the gate drive IC 200 through the first gate voltage transmitter 611 and the sensing line 610. [

이 경우, 상기 제1검출신호 생성기에서는, 상기 제1검출전원(V1)에 의해 하이레벨의 검출신호(VH)가 출력되며, 상기 하이레벨의 검출신호(VH)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, the first detection signal generator outputs a high-level detection signal V H by the first detection power supply V1, and the high-level detection signal V H is supplied to the timing controller 400 ).

상기 하이레벨의 검출신호(VH)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생되지 않은 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시킨다. Upon receiving the high level detection signal V H , the timing controller determines that a panel abnormality has not occurred in the panel, and normally drives the power supply unit 500.

둘째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 제1검출기(610)의 동작 방법을 도 6의 (c)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. Second, when the panel abnormality occurs in the panel 100, a method of operating the first detector 610 will be described with reference to FIG. 6 (c).

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급된다. 따라서, N타입으로 구성된 상기 제1트랜지스터(TR1)는 턴온된다. When the panel abnormality occurs in the panel 100, an overcurrent is supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200, and the sensing line 610. Therefore, the first transistor TR1 of the N type is turned on.

상기 제1트랜지스터(TR1)가 턴온됨에 따라, 상기 제1게이트 전압 전송기(611) 및 상기 제1검출신호 전송기(612)는, 전기적으로 연결된다. As the first transistor TR1 is turned on, the first gate voltage transmitter 611 and the first detection signal transmitter 612 are electrically connected.

이 경우, 상기 제1검출신호 생성기에서, 상기 제1검출전원(V1)에 의해 발생된 전류는, 제1트랜지스터(TR1) 및 상기 다이오드(D)로 분배된다. 따라서, 상기 다이오드(D)의 캐소드 단자에서는 로우레벨의 검출신호(VL)가 출력되며, 상기 로우레벨의 검출신호(VL)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, in the first detection signal generator, the current generated by the first detection power supply (V1) is distributed to the first transistor (TR1) and the diode (D). Therefore, a low level detection signal V L is output from the cathode terminal of the diode D, and the low level detection signal V L is transmitted to the timing controller 400.

상기 로우레벨의 검출신호(VL)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생된 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킨다. Upon receiving the low level detection signal V L , the timing controller determines that a panel abnormality has occurred in the panel, and stops the driving of the power supply unit 500.

상기한 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압(VGL)을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 상기 제1검출기(610)는, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되지 않은 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 하이레벨의 검출신호(VH)를 전송하며, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되는 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 로우레벨의 검출신호(VL)를 전송한다.As described above, the first detector 610 for supplying the first gate driving voltage VGL to the gate drive IC 200 is connected to the gate line, the gate drive IC 200, Level detection signal V H to the timing controller 400 when the overcurrent is not transmitted through the gate drive IC 200 and the sense line 610 Level detection signal (V L ) to the timing controller (400) when an overcurrent is transmitted through the timing controller (400).

상기 타이밍 컨트롤러(400)는 하이레벨의 검출신호(VH)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시키며, 로우레벨의 검출신호(VL)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킴으로써, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300) 및 상기 전원 공급부(500)의 손상을 방지할 수 있다.The timing controller 400 normally drives the power supply unit 500 when a high level detection signal V H is transmitted and when the low level detection signal V L is transmitted, The damage of the panel 100, the gate drive IC 200, the source drive IC 300, and the power supply unit 500 can be prevented by stopping the driving of the supply unit 500.

상기 제1검출기(610)가 출력하는 상기 검출신호(VGL_S)의 레벨은, 도 7에 도시된 바와 같은 복수의 저항들의 연결 방법에 따라 다양하게 설정될 수 있다.The level of the detection signal VGL_S output by the first detector 610 may be variously set according to a connection method of a plurality of resistors as shown in FIG.

예를 들어, 상기 제1저항(R1) 및 상기 제2저항(R2)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R1a 내지 R1g)로 대체될 수 있고, 상기 제3저항(R3)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R3a, R3b)로 대체될 수 있고, 상기 제4저항(R4)은, 직렬 또는 병렬로 연결된 복수의 저항들(R4a, R4b, R4c)로 대체될 수 있으며, 상기 제5저항(R5)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R5a, R5b)로 대체될 수 있다.
For example, the first resistor R1 and the second resistor R2 may be replaced by a plurality of resistors R1a through R1g connected in parallel, and the third resistor R3 may be replaced by a plurality of resistors The fourth resistor R4 may be replaced by a plurality of resistors R4a, R4b, and R4c connected in series or in parallel, and the fifth resistor R4 may be replaced by a plurality of resistors R4a, The resistor R5 may be replaced by a plurality of resistors R5a and R5b connected in parallel.

도 8은 본 발명에 따른 유기발광표시장치에 적용되는 제2검출기의 구성 및 기능을 설명하기 위한 예시도이며, 도 9는 도 8에 도시된 제2검출기의 변형된 구성을 나타낸 예시도이다. FIG. 8 is a view for explaining the configuration and function of the second detector applied to the organic light emitting display according to the present invention, and FIG. 9 is an exemplary view showing a modified configuration of the second detector shown in FIG.

상기 검출부(600)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기(610) 및 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함할 수 있다. 5, the detecting unit 600 transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the first sensing signal transmission line, and the first sensing signal transmission line A first detector 610 for detecting the panel abnormality using a current transmitted through the first sensing signal transmission line and the second gate driving voltage to the gate drive IC 200 through the second sensing signal transmission line, And a second detector for detecting the panel abnormality using a current transmitted through the second sensing signal transmission line.

상기 제2검출기(620)는, 도 8의 (a)에 도시된 바와 같이, 상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송하는 제2게이트 전압 전송기(621) 및 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 제2감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 제2검출신호(VGH_S)를 생성하여 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 제2검출신호 전송기(622)를 포함한다. 여기서, 상기 제2게이트 구동전압은, 상기 스캔신호 중 상기 픽셀 회로에 형성되어 있는 스위칭 트랜지스터를 턴온시킬 수 있는 상기 게이트 하이 전압(VGH)이 될 수 있다. The second detector 620 is connected to the gate drive IC 200 through the second sense signal transmission line, as shown in FIG. 8A, When the overcurrent is transmitted through the gate voltage transmitter 621 and the gate line, the gate drive IC 200, and the second sense signal transmission line, the second detection signal VGH_S is generated and transmitted to the timing controller And a second detection signal transmitter 622. Here, the second gate driving voltage may be the gate high voltage (VGH) capable of turning on the switching transistor formed in the pixel circuit among the scan signals.

상기 제2게이트 전압 전송기(621)는, 상기 전원 공급부(500)로부터 공급되어온 상기 제2게이트 전압(VGH)과 연결되어 있는 제6저항(R6)을 포함하며, 상기 제2게이트 전압(VGH)을 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송한다. The second gate voltage transmitter 621 includes a sixth resistor R6 connected to the second gate voltage VGH supplied from the power supply unit 500 and the second gate voltage VGH, To the gate drive IC 200 through the second sense signal transmission line.

상기 제2검출신호 전송기(622)는, 제1단자가 상기 제2게이트 전압 전송기(621)와 연결되어 있으며 제2단자(게이트 단자)가 연결되어 있는 상기 제2감지신호전송라인을 통해 유도된 과전류에 의해 턴온되는 제2트랜지스터(TR2), 및 상기 제2트랜지스터의 제3단자와 연결되어 있으며 상기 과전류에 의해 상기 제2트랜지스터(TR1)가 턴온되면, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호를 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송하는 제2검출신호 생성기를 포함한다. 상기 제2검출신호 생성기는, 도 8의 (a)에 도시된 바와 같이, 제2검출전원(V2), 제3트랜지스터(TR3) 및 제8저항(R8)을 포함할 수 있다. 상기 제2트랜지스터(TR2)와 상기 제2검출신호 생성기 사이에는 제7저항(R7)이 연결될 수 있다.The second detection signal transmitter 622 is connected to the second detection signal transmission line through which the first terminal is connected to the second gate voltage transmitter 621 and the second terminal (gate terminal) A second transistor TR2 turned on by an overcurrent and a second transistor TR2 connected to a third terminal of the second transistor when the second transistor TR1 is turned on due to the overcurrent, To the timing controller (400). The second detection signal generator may include a second detection power supply V2, a third transistor TR3 and an eighth resistor R8, as shown in FIG. 8A. A seventh resistor (R7) may be connected between the second transistor (TR2) and the second detection signal generator.

첫째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 제2검출기(620)의 동작 방법을 도 8의 (b)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. First, in the case where the panel abnormality does not occur in the panel 100, an operation method of the second detector 620 will be described with reference to FIG. 8 (b).

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생되지 않은 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급되지 않는다. 따라서, P타입으로 구성된 상기 제2트랜지스터(TR2)는 턴오프된다.When the panel abnormality is not generated in the panel 100, an overcurrent is not supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200, and the sensing line 610. Therefore, the second transistor TR2 configured as P type is turned off.

상기 제2트랜지스터(TR2)가 턴오프됨에 따라, 상기 제2게이트 전압 전송기(621) 및 상기 제2검출신호 전송기(622)는, 개별적으로 구동된다.As the second transistor TR2 is turned off, the second gate voltage transmitter 621 and the second detection signal transmitter 622 are driven separately.

따라서, 상기 제2게이트 구동전압(VGH)은, 상기 제2게이트 전압 전송기(621)와 상기 감지라인(610)을 통해 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 전송된다.Thus, the second gate drive voltage VGH is transferred to the gate drive IC 200 through the second gate voltage transmitter 621 and the sense line 610.

이 경우, 상기 제2검출신호 생성기에서는, 상기 제2검출전원(V2)에 의해 발생된 전류가 상기 제3트랜지스터(TR3)를 통과하지 못하기 때문에, 상기 제3트랜지스터(TR3)와 상기 제8저항(R8) 사이의 노드에서는, 로우레벨의 검출신호(VL)가 출력되며, 상기 로우레벨의 검출신호(VL)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, in the second detection signal generator, since the current generated by the second detection power supply V2 does not pass through the third transistor TR3, the third transistor TR3 and the eighth At the node between the resistor R8, a low level detection signal V L is output and the low level detection signal V L is transmitted to the timing controller 400.

상기 로우레벨의 검출신호(VL)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생되지 않은 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시킨다. Upon receiving the low level detection signal V L , the timing controller determines that the panel abnormality has not occurred in the panel, and normally drives the power supply unit 500.

둘째, 상기 패널(100)에서, 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 제2검출기(620)의 동작 방법을 도 8의 (c)를 참조하여 설명하면 다음과 같다. Second, when the panel abnormality occurs in the panel 100, a method of operating the second detector 620 will be described with reference to FIG. 8 (c).

상기 패널(100)에서 상기 패널이상이 발생된 경우, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC(200) 및 상기 감지라인(610)을 통해 상기 검출부로 과전류가 공급된다. 따라서, P타입으로 구성된 상기 제2트랜지스터(TR2)는 턴온된다. When the panel abnormality occurs in the panel 100, an overcurrent is supplied to the detection unit through the gate line, the gate drive IC 200, and the sensing line 610. Therefore, the second transistor TR2 configured as P type is turned on.

상기 제2트랜지스터(TR2)가 턴온됨에 따라, 상기 제3트랜지스터(TR3) 역시 턴온된다. As the second transistor TR2 is turned on, the third transistor TR3 is also turned on.

이 경우, 상기 제2검출신호 생성기에서는, 상기 제2검출전원(V2)에 의해 발생된 전류가 상기 제3트랜지스터(TR3)를 통과하기 때문에, 상기 제3트랜지스터(TR3)와 상기 제8저항(R8) 사이의 노드에서는, 하이레벨의 검출신호(VH)가 출력되며, 상기 하이레벨의 검출신호(VH)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 전송된다.In this case, in the second detection signal generator, since the current generated by the second detection power supply V2 passes through the third transistor TR3, the third transistor TR3 and the eighth resistor R8, a high level detection signal V H is output, and the high level detection signal V H is transmitted to the timing controller 400.

상기 하이레벨의 검출신호(VH)를 수신한 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 패널에서 패널이상이 발생된 것으로 판단하여, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킨다. Upon receiving the high level detection signal V H , the timing controller determines that a panel abnormality has occurred in the panel, and stops the operation of the power supply unit 500.

상기한 바와 같이, 상기 제2게이트 구동전압(VGH)을 상기 게이트 드라이브 IC(200)로 공급하는 상기 제2검출기(620)는, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되지 않은 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 로우레벨의 검출신호(VL)를 전송하며, 상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC(200)와 상기 감지라인(610)을 통해 과전류가 전송되는 경우, 상기 타이밍 컨트롤러(400)로 하이레벨의 검출신호(VH)를 전송한다.As described above, the second detector 620 for supplying the second gate driving voltage VGH to the gate drive IC 200 is connected to the gate line, the gate drive IC 200, Level detection signal V L to the timing controller 400 when the overcurrent is not transmitted through the gate line IC, the gate drive IC 200 and the sense line 610 And transmits a high level detection signal V H to the timing controller 400 when an overcurrent is transmitted.

상기 타이밍 컨트롤러(400)는 로우레벨의 검출신호(VL)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)를 정상적으로 구동시키며, 하이레벨의 검출신호(VH)가 전송된 경우에는, 상기 전원 공급부(500)의 구동을 중단시킴으로써, 상기 패널(100), 상기 게이트 드라이브 IC(200), 상기 소스 드라이브 IC(300) 및 상기 전원 공급부(500)의 손상을 방지할 수 있다.The timing controller 400 normally drives the power supply unit 500 when a low level detection signal V L is transmitted and when the detection signal V H of a high level is transmitted, The damage of the panel 100, the gate drive IC 200, the source drive IC 300, and the power supply unit 500 can be prevented by stopping the driving of the supply unit 500.

상기 제2검출기(620)가 출력하는 상기 검출신호(VGH_S)의 레벨은, 도 9에 도시된 바와 같은 복수의 저항들의 연결 방법에 따라 다양하게 설정될 수 있다.The level of the detection signal VGH_S output by the second detector 620 may be variously set according to a connection method of a plurality of resistors as shown in FIG.

예를 들어, 상기 제6저항(R6)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R6a 내지 R6g)로 대체될 수 있으며, 상기 제7저항(R7)은, 병렬로 연결된 복수의 저항들(R7a 내지 R7d)로 대체될 수 있다. For example, the sixth resistor R6 may be replaced by a plurality of resistors R6a through R6g connected in parallel, and the seventh resistor R7 may be replaced by a plurality of resistors R7a through R7b, R7d).

본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.It will be understood by those skilled in the art that the present invention may be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents are to be construed as being included within the scope of the present invention do.

100 : 패널 200 : 게이트 드라이브 IC
300 : 소스 드라이브 IC 400 : 타이밍 컨트롤러
500 : 전원공급부 600 : 검출부100: Panel 200: Gate drive IC
300: Source drive IC 400: Timing controller
500: Power supply unit 600: Detector

Claims (20)

표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차영역마다 픽셀이 형성되어 있고, 상기 픽셀에는 픽셀 회로가 형성되어 있으며, 상기 픽셀 회로의 구동에 필요한 전원의 공급을 위해 전원라인들이 형성되어 있는 패널;
상기 게이트라인들에 스캔신호를 공급하기 위한 게이트 드라이브 IC;
상기 전원라인들에 전원을 공급하기 위한 전원공급부;
상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하기 위한 검출부; 및
상기 검출부의 검출 결과에 따라, 상기 전원공급부의 구동을 제어하기 위한 제어부를 포함하는 유기발광표시장치. A pixel is formed in each of the intersecting regions of the gate lines and the data lines formed in the display region, a pixel circuit is formed in the pixel, and power supply lines are formed to supply power necessary for driving the pixel circuit panel;
A gate drive IC for supplying a scan signal to the gate lines;
A power supply for supplying power to the power supply lines;
A detector for detecting a panel abnormality in the display area using a sensing signal collected through a sensing line electrically connected to the gate line; And
And a control unit for controlling driving of the power supply unit according to the detection result of the detection unit. 제 1 항에 있어서,
상기 전원라인들은,
상기 유기발광소자에 고전위 전압(ELVDD)을 공급하기 위한 고전위 전압 라인, 상기 유기발광소자에 저전위 전압(ELVSS)을 공급하기 위한 저전위 전압 라인, 상기 유기발광소자의 구동에 필요한 기준전압(Vref)을 상기 픽셀에 공급하기 위한 기준전압 라인, 상기 유기발광소자의 구동에 필요한 입력전압(Vinit)을 상기 픽셀에 공급하기 위한 입력전압 라인 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치.The method according to claim 1,
The power supply lines,
A high-potential voltage line for supplying a high-potential voltage (ELVDD) to the organic light-emitting device, a low-potential voltage line for supplying a low-potential voltage (ELVSS) to the organic light- A reference voltage line for supplying a voltage Vref to the pixel, and an input voltage line for supplying an input voltage Vinit for driving the organic light emitting element to the pixel. . 제 1 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 스캔신호를 구성하는, 게이트 하이 전압을 이용하거나, 상기 스캔신호를 구성하는 게이트 로우 전압을 이용하거나, 상기 게이트 하이 전압 또는 상기 게이트 로우 전압에 의해 발생되는 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method according to claim 1,
Wherein:
The panel abnormality is detected by using a gate high voltage constituting the scan signal, using a gate low voltage constituting the scan signal, or using a current generated by the gate high voltage or the gate low voltage The organic light emitting display device comprising: 제 1 항에 있어서,
상기 검출부는, 상기 게이트 라인과, 상기 게이트 드라이브 IC를 통해 전송되어온 감지신호를 이용하여 생성된 검출신호를 상기 제어부로 전송하며,
상기 제어부는, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 상기 검출신호가 전송되면, 상기 전원공급부의 구동을 중단시키는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치.The method according to claim 1,
The detection unit transmits a detection signal generated using the gate line and a sense signal transmitted through the gate drive IC to the control unit,
Wherein the control unit stops driving the power supply unit when the detection signal indicating that the panel abnormality has occurred is transmitted. 제 1 항에 있어서,
두 개의 상기 게이트 드라이브 IC들은, 상기 패널의 비표시영들 중 서로 마주보고 있는 두 개의 비표시영역들 각각에 형성되어 있으며,
두 개의 상기 게이트 드라이브 IC들 각각에는 상기 검출부가 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method according to claim 1,
The two gate drive ICs are formed in each of the two non-display areas facing each other among the non-display windows of the panel,
And the detection unit is connected to each of the two gate drive ICs. 제 1 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 게이트 드라이브 IC를 통해, 상기 패널에 형성되어 있는 게이트 라인들 중 적어도 하나 이상의 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치.The method according to claim 1,
Wherein:
Wherein the gate driver IC is electrically connected to at least one gate line among the gate lines formed in the panel through the gate drive IC. 제 1 항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 검출부로부터, 상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 검출신호가 수신되면, 상기 게이트 드라이브 IC 또는 상기 데이터 라인들로 데이터 전압을 공급하는 소스 드라이브 IC 또는 상기 전원공급부의 구동을 중단시키는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method according to claim 1,
Wherein,
And stops driving the source drive IC or the power supply unit for supplying a data voltage to the gate drive IC or the data lines when a detection signal indicating that the panel abnormality has occurred is received from the detection unit Display device. 제 1 항에 있어서,
상기 전원공급부는, 상기 스캔신호의 생성에 이용되는 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 검출부를 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 공급하며, 상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method according to claim 1,
Wherein the power supply unit generates a gate voltage used for generating the scan signal, supplies the gate voltage to the gate drive IC through the detection unit, generates the power supply using the gate voltage, And the power supply lines. 제 8 항에 있어서,
상기 검출부는, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 드라이브 IC로 공급하는 상기 감지라인을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출하는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. 9. The method of claim 8,
Wherein the detecting unit detects the panel abnormality by using a current induced through the sensing line for supplying the gate voltage to the gate drive IC. 제 8 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 게이트 전압을, 상기 감지라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 게이트 전압 전송기; 및
상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC 및 상기 감지라인을 통해, 과전류가 전송되면, 상기 과전류가 발생되었음을 알리는 검출신호를 생성하여 상기 제어부로 전송하는 검출신호 전송기를 포함하는 유기발광표시장치. 9. The method of claim 8,
Wherein:
A gate voltage transmitter for transmitting the gate voltage to the gate drive IC through the sense line; And
And a detection signal transmitter for generating a detection signal indicating that the overcurrent is generated when the overcurrent is transmitted through the gate line, the gate drive IC, and the sensing line, and transmitting the detection signal to the control unit. 제 10 항에 있어서,
상기 게이트 전압은, 상기 스캔신호 중 게이트 오프 신호의 생성에 이용되는 제1게이트 구동전압 또는 상기 스캔신호 중 게이트 온 신호의 생성에 이용되는 제2게이트 구동전압 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. 11. The method of claim 10,
Wherein the gate voltage is at least one of a first gate driving voltage used for generating a gate off signal of the scan signal or a second gate driving voltage used for generating a gate on signal of the scan signal. Emitting display device. 제 8 항에 있어서,
상기 게이트 전압은, 상기 스캔신호 중 게이트 오프 신호의 생성에 이용되는 제1게이트 구동전압 및 상기 스캔신호 중 게이트 온 신호의 생성에 이용되는 제2게이트 구동전압을 포함하며,
상기 감지라인은, 제1감지신호전송라인 및 제2감지신호전송라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. 9. The method of claim 8,
Wherein the gate voltage includes a first gate driving voltage used for generating a gate off signal and a second gate driving voltage used for generating a gate on signal of the scan signal,
Wherein the sensing line includes a first sensing signal transmission line and a second sensing signal transmission line. 제 12 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 제1게이트 구동전압을 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하고, 상기 제2게이트 구동전압을 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하며,
상기 제1감지신호전송라인을 통해 유도된 제1전류 또는 상기 제2감지신호전송라인을 통해 유도된 제2전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출하는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치.13. The method of claim 12,
Wherein:
Transferring the first gate drive voltage to the gate drive IC via the first sense signal transmission line and transmitting the second gate drive voltage to the gate drive IC through the second sense signal transmission line,
Wherein the controller detects the panel anomaly using a first current induced through the first sense signal transmission line or a second current induced through the second sense signal transmission line. 제 12 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하며, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제1검출기; 및
상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하며, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 전송되어온 전류를 이용하여 상기 패널이상을 검출하는 제2검출기를 포함하는 유기발광표시장치.13. The method of claim 12,
Wherein:
A first detector that transmits the first gate driving voltage to the gate drive IC through the first sensing signal transmission line and detects the panel abnormality using a current transmitted through the first sensing signal transmission line; And
A second detector for transmitting the second gate drive voltage to the gate drive IC through the second sense signal transmission line and detecting the panel anomaly using a current transmitted through the second sense signal transmission line, And the organic light emitting display device. 제 14 항에 있어서,
상기 제1검출기는,
상기 제1게이트 구동전압을, 상기 제1감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 제1게이트 전압 전송기; 및
상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC 및 상기 제1감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 상기 과전류가 발생되었음을 알리는 제1검출신호를 생성하여 상기 제어부로 전송하는 제1검출신호 전송기를 포함하는 유기발광표시장치. 15. The method of claim 14,
Wherein the first detector comprises:
A first gate voltage transmitter for transmitting the first gate drive voltage to the gate drive IC through the first sense signal transmission line; And
And a first detection signal transmitter for generating a first detection signal indicating that the overcurrent is generated when the overcurrent is transmitted through the gate line, the gate drive IC, and the first sensing signal transmission line and transmitting the first detection signal to the control unit Organic light emitting display. 제 15 항에 있어서,
상기 제2검출기는,
상기 제2게이트 구동전압을, 상기 제2감지신호전송라인을 통해 상기 게이트 드라이브 IC로 전송하는 제2게이트 전압 전송기; 및
상기 게이트 라인과 상기 게이트 드라이브 IC 및 상기 제2감지신호전송라인을 통해, 과전류가 전송되면, 상기 과전류가 발생되었음을 알리는 제2검출신호를 생성하여 상기 제어부로 전송하는 제2검출신호 전송기를 포함하는 유기발광표시장치. 16. The method of claim 15,
The second detector comprises:
A second gate voltage transmitter for transmitting the second gate drive voltage to the gate drive IC via the second sense signal transmission line; And
And a second detection signal transmitter for generating a second detection signal indicating that the overcurrent is generated when the overcurrent is transmitted through the gate line, the gate drive IC, and the second sensing signal transmission line and transmitting the second detection signal to the control unit Organic light emitting display. 게이트 라인들과 데이터 라인들이 형성되어 있는 패널의 표시영역에, 형성되어 있는 전원라인들로, 전원을 공급하여, 상기 패널에 형성되어 있는 픽셀 회로들을 구동시키는 단계;
상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 감지라인을 통해 수집된 감지신호를 이용하여, 상기 표시영역에서의 패널이상을 검출하는 단계; 및
상기 패널이상이 검출되면, 상기 전원라인들로 공급되는 상기 전원을 차단하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치 구동방법. Supplying power to power supply lines formed in a display region of a panel where gate lines and data lines are formed to drive pixel circuits formed on the panel;
Detecting a panel abnormality in the display region using a sensing signal collected through a sensing line electrically connected to the gate line; And
And disconnecting the power supplied to the power supply lines when the panel abnormality is detected. 제 17 항에 있어서,
상기 픽셀 회로들을 구동시키는 단계는,
상기 게이트 라인으로 공급되는 스캔신호의 생성에 이용되는 게이트 전압을 생성하여, 상기 게이트 전압을 상기 게이트 라인들로 공급하는 단계; 및
상기 게이트 전압을 이용해 상기 전원을 생성하여, 상기 전원을 상기 전원라인들로 공급하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치 구동방법.18. The method of claim 17,
Wherein driving the pixel circuits comprises:
Generating a gate voltage used for generating a scan signal supplied to the gate line and supplying the gate voltage to the gate lines; And
Generating the power source using the gate voltage, and supplying the power source to the power source lines. 제 18 항에 있어서,
상기 패널이상을 검출하는 단계는,
상기 게이트 라인과 전기적으로 연결되어 있는 상기 감지라인을 통해 유도된 전류를 이용하여, 상기 패널이상을 검출하는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치 구동방법. 19. The method of claim 18,
The step of detecting the panel abnormality includes:
Wherein the panel abnormality is detected using a current induced through the sensing line electrically connected to the gate line. 제 18 항에 있어서,
상기 전원을 차단하는 단계는,
상기 패널이상이 발생되었음을 알리는 검출신호가 전송되면, 상기 전원을 발생시키는 전원공급부의 구동을 중단시키는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치 구동방법. 19. The method of claim 18,
The method of claim 1,
Wherein when the detection signal indicating that the panel abnormality has occurred is transmitted, the driving of the power supply unit generating the power supply is stopped.
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