KR102070728B1 - 전자 기기 - Google Patents

전자 기기 Download PDF

Info

Publication number
KR102070728B1
KR102070728B1 KR1020177036559A KR20177036559A KR102070728B1 KR 102070728 B1 KR102070728 B1 KR 102070728B1 KR 1020177036559 A KR1020177036559 A KR 1020177036559A KR 20177036559 A KR20177036559 A KR 20177036559A KR 102070728 B1 KR102070728 B1 KR 102070728B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cpu
abnormality
integrated circuit
reset
value
Prior art date
Application number
KR1020177036559A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20180011182A (ko
Inventor
사토시 요네모토
Original Assignee
가부시끼가이샤 도시바
도시바 인프라 시스템즈 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시끼가이샤 도시바, 도시바 인프라 시스템즈 가부시키가이샤 filed Critical 가부시끼가이샤 도시바
Publication of KR20180011182A publication Critical patent/KR20180011182A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102070728B1 publication Critical patent/KR102070728B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1415Saving, restoring, recovering or retrying at system level
    • G06F11/1441Resetting or repowering
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/042Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
    • G05B19/0428Safety, monitoring
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B9/00Safety arrangements
    • G05B9/02Safety arrangements electric
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/24Resetting means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0751Error or fault detection not based on redundancy
    • G06F11/0754Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
    • G06F11/076Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits by exceeding a count or rate limit, e.g. word- or bit count limit
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Protection Of Static Devices (AREA)
  • Measuring Volume Flow (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

실시 형태에 따르면 전자 기기는 집적 회로와, 판정부와, 리셋부를 구비한다. 판정부는, 상기 집적 회로에 이상이 발생했는지를 판정한다. 리셋부는, 상기 판정부가 상기 집적 회로에 이상이 발생했다고 판정하면, 상기 집적 회로에 대한 전력 공급을 정지하고, 전력 공급을 소정의 시간 정지한 후에 상기 집적 회로에 전력을 공급한다.

Description

전자 기기
본 발명의 실시 형태는 전자 기기에 관한 것이다.
전자 기기에는 아날로그/디지털 컨버터(ADC) 또는 디지털/아날로그 컨버터(DAC) 등의 기능을 실현하기 위한 집적 회로(IC: Integrated Circuit)를 구비하는 것이 있다. 그러한 전자 기기에 있어서 IC는, 회로 전원의 변동 또는 노이즈 등에 의해 기능 정지 또는 폭주 등의 이상이 발생하는 경우가 있다. 전자 기기는 내부의 IC에 이상이 발생한 경우, 일단 전원을 오프로 한 후에 다시 전원을 온으로 함으로써, IC를 포함하는 기기 전체를 리셋한다.
일본 특허 공개 제2009-168628호
그러나, 전기 기기 전체의 전원을 일단 오프로 한 후에 다시 온하는 동작은, 정상 상태로의 복귀(재기동)에 시간이 걸리고, 비효율적이라는 과제가 있다.
상기의 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 내부의 IC에 이상이 발생한 경우에 효율적으로(신속히) 복귀할 수 있는 전자 기기를 제공한다.
실시 형태에 따르면 전자 기기는 집적 회로와, 판정부와, 리셋부를 구비한다. 판정부는 상기 집적 회로에 이상이 발생했는지를 판정한다. 리셋부는, 상기 판정부가 상기 집적 회로에 이상이 발생했다고 판정하면, 상기 집적 회로에 대한 전력 공급을 정지하고, 전력 공급을 소정의 시간 정지한 후에 상기 집적 회로에 전력을 공급한다.
도 1은 제1 실시 형태에 관한 전자 기기의 구성예를 나타내는 블록도이다.
도 2는 제1 실시 형태에 관한 전자 기기의 동작예를 나타내는 흐름도이다.
도 3은 제1 실시 형태에 관한 전자 기기의 동작예를 나타내는 흐름도이다.
도 4는 제2 실시 형태에 관한 유량계의 구성예를 나타내는 블록도이다.
도 5는 제2 실시 형태에 관한 전자 기기의 동작예를 나타내는 흐름도이다.
도 6은 제2 실시 형태에 관한 전자 기기의 동작예를 나타내는 흐름도이다.
(제1 실시 형태)
먼저, 제1 실시 형태에 대해 설명한다.
실시 형태에 관한 전자 기기는 적어도 하나의 집적 회로(IC: Integrated Circuit)를 갖는 장치이다. 본 실시 형태에 관한 전자 기기는 특정한 기기에 한정되는 것은 아니지만, 이하에서는, 유체의 유량값 등을 측정하는 유량계로서의 전자 기기를 예로 들어 설명하기로 한다. 예를 들어, 유량계로서의 전자 기기는 패러데이의 전자 유도의 법칙을 이용하여 측정관 등에 흐르는 유체 등의 유량값 등을 검출기에서 발생하는 유도 기전력으로부터 산출하고, 산출된 유량값을 외부 장치 등에 송신한다.
도 1은, 실시 형태에 관한 전자 기기(100)로서의 유량계의 구성예를 나타낸다.
도 1이 나타내는 구성에 있어서 전자 기기(100)는, 전원 회로(1), 여자 회로(2), 검출기(3), 증폭 회로(4), 노이즈 제거 회로(5), ADC(6), 리셋 회로(7), CPU(8), DAC(9), 메모리(10), 표시부(11), 조작부(12), 통신 회로(13), 제1 출력부(14) 및 제2 출력부(15) 등을 구비한다.
전원 회로(1)는, 전자 기기(100)의 각 부에 전기적으로 접속하여, 각 부에 전력을 공급한다. 예를 들어, 전원 회로(1)는, 외부 장치로부터 공급되는 전압을 소정의 전압으로 변전하여 각 부에 공급한다.
여자 회로(2)는, 검출기(3)에 전기적으로 접속한다. 여자 회로(2)는, 전원 회로(1)로부터 공급되는 전력을 사용하여 검출기(3)에 여자를 위한 전력을 공급한다. 또한, 여자 회로(2)는, 검출기(3)의 여자 상태를 제어해도 된다.
검출기(3)(측정부)는 측정관 등을 흐르는 유체 등의 유속(측정 대상)을 측정한다. 즉, 검출기(3)는 유속을 측정하고, 측정 결과를 아날로그 신호로서 출력한다. 여기에서는, 검출기(3)는 측정관 등에 흐르는 유체의 유속을 측정하기 위한 유도 기전력을 검지한다. 예를 들어, 검출기(3)는 측정관과 수직인 방향으로 자장을 발생시키도록, 측정관의 측면에 코일을 구비한다. 또한, 검출기(3)는, 측정관의 내벽에 자장의 방향과 수직인 방향으로 2개의 측정 전극을 구비한다. 검출기(3)는 측정 전극을 사용하여, 코일로부터 발생하는 자장과, 측정관 내를 흐르는 유체가 발생시키는 유도 기전력을 검출한다.
또한, 검출기(3)는 증폭 회로(4)에 전기적으로 접속한다. 검출기(3)는, 검지된 유도 기전력을 증폭 회로(4)에 공급한다. 즉, 검출기(3)의 측정 전극은, 발생된 유도 기전력을 증폭 회로(4)에 공급한다.
증폭 회로(4)는 검출기(3)로부터 공급되는 유도 기전력을 증폭한다. 증폭 회로(4)는, 노이즈 제거 회로(5)에 전기적으로 접속한다. 증폭 회로(4)는, 증폭된 유도 기전력을 노이즈 제거 회로(5)에 공급한다.
노이즈 제거 회로(5)는 증폭 회로(4)로부터 공급되는 유도 기전력으로부터 노이즈를 제거한다. 노이즈 제거 회로(5)는, ADC(6)에 전기적으로 접속한다. 노이즈 제거 회로(5)는, 노이즈를 제거한 유도 기전력을 ADC(6)에 공급한다.
ADC(6)는 노이즈 제거 회로(5)로부터 공급되는 유도 기전력을 디지털 신호로 변환한다. ADC(6)는 CPU(8)와 전기적으로 접속한다. ADC(6)는 변환된 디지털 신호를 CPU(8)에 공급한다. ADC(6)는 IC(6a)를 구비한다. IC(6a)는, 예를 들어 유도 기전력을 디지털 신호로 변환하는 기능을 갖는다. 또한, ADC(6)는 IC(6a)여도 된다.
리셋 회로(7)(리셋부)는, CPU(8) 및 IC(6a)와 전기적으로 접속한다. 리셋 회로(7)는, CPU(8)로부터의 신호에 기초하여, IC(6a)를 리셋한다. 즉, 리셋 회로(7)는, IC(6a)에 대한 전력 공급을 정지하여, 소정의 대기(정지) 시간 경과 후에 다시 IC(6a)에 전력 공급을 개시한다. 대기 시간은, IC(6a)가 리셋하기 위하여 필요한 시간이다. 예를 들어, 대기 시간은 IC(6a)의 특성에 따라 결정해도 된다. 또한, 대기 시간은 IC(6a) 내의 전기 용량 등에 기초하여 결정해도 된다. 또한, 일반적으로는, IC에 대한 대기 시간은, 수ms 내지 수s이면 된다.
또한, 리셋 회로(7)는 ADC(6) 및 IC(6a)에 전력을 공급하는 전원 회로로서 기능해도 된다. 또한, 리셋 회로(7)는, ADC(6)에 대한 전력 공급을 정지하여, 소정의 시간 경과 후에, 다시 ADC(6)에 전력 공급을 개시해도 된다.
CPU(8)는 전자 기기(100) 전체의 동작을 제어하는 기능을 갖는다. CPU(8)는 DAC(9), 메모리(10), 표시부(11) 및 조작부(12) 등과 전기적으로 접속한다. CPU(8)는 내부 캐시 및 각종 인터페이스 등을 구비해도 된다. CPU(8)는 내부 메모리, 메모리(10) 등에 미리 기억한 프로그램을 실행함으로써 여러가지 처리를 실현한다. CPU(8)가 실현하는 기능에 대해서는 이후에 상세하게 설명한다.
DAC(9)는 유량값을 나타내는 디지털 신호 등을 CPU(8)로부터 수신하고, 수신된 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환한다. DAC(9)는 통신 회로(13), 제1 출력부(14) 및 제2 출력부(15)와 전기적으로 접속한다. DAC(9)는, 변환한 아날로그 신호를 통신 회로(13), 제1 출력부(14) 또는 제2 출력부(15)를 통하여 외부 장치에 출력한다. 예를 들어, DAC(9)는 유량값을 나타내는 아날로그 신호로서, 미리 설정된 측정 레인지에 대한 유량값의 비율을 백분율(퍼센트)로 환산한 결과를 4 내지 20mA의 전류값으로 출력한다.
또한, DAC(9)는 제1 출력부(14)를 통해서 유량값 등에 기초하는 통일 신호 등을 외부 장치에 출력해도 된다. 통일 신호는, 예를 들어 유량값이 소정의 값을 초과한 것을 나타내는 신호이다. 이 경우, 외부 장치는 전자 기기로부터 수신하는 통일 신호에 의해 유량값이 소정의 값을 초과한 것을 인식할 수 있다.
또한, DAC(9)는 제2 출력부(15)를 통해서, 유량값 등에 기초하는 펄스 등을 외부 장치에 출력해도 된다. 펄스는, 유량값을 나타내는 파형의 신호로서 출력된다. 이 경우, 외부 장치는 전자 기기로부터 수신하는 펄스에 의해 유량값을 인식할 수 있다.
메모리(10)는 CPU(8)와 전기적으로 접속한다. CPU(8)는 각종 데이터를 휘발적으로 또는 불휘발적으로 저장한다. 메모리(10)는 CPU(8)가 실행하는 프로그램 등을 저장한다. 또한, 메모리(10)는 CPU(8)로부터의 신호를 따라서 유량값 등을 저장해도 된다.
표시부(11)는 CPU(8)로부터의 신호에 기초하여, 다양한 정보를 표시한다. 표시부(11)는 산출된 유량값 등을 표시한다. 표시부(11)는 예를 들어 액정 표시 장치에 의해 구성된다.
조작부(12)는 오퍼레이터 등이 입력하는 조작을 전기 신호로 변환하고, CPU(8)에 송신한다. 조작부(12)는 키보드, 텐키, 마우스, 터치 패널, 또는 적외선 스위치 등이다. 조작부(12)가 터치 패널로 형성되는 경우, 조작부(12)는 표시부(11)와 일체적으로 형성되어도 된다.
통신 회로(13)는 유량값을 나타내는 아날로그 신호를 외부 장치에 송신하는 인터페이스이다.
제1 출력부(14)는 유량값에 기초하는 통일 신호를 출력하는 인터페이스이다.
제2 출력부(15)는 유량값에 기초하는 펄스를 출력하는 인터페이스이다.
또한, 통신 회로(13), 제1 출력부(14) 및 제2 출력부(15)는 하나의 입출력 유닛으로서 구성되어도 된다.
다음에, CPU(8)가 실현하는 기능에 대해 설명한다.
CPU(8)는 검출기(3)가 검출하는 값에 기초하여, 측정관 내를 흐르는 유체의 유량을 산출하는 기능을 갖는다. 예를 들어, CPU(8)는 ADC(6)로부터의 디지털 신호가 나타내는 유도 기전력의 전압값과 유속값의 관계에 기초하여 유속값을 산출한다. CPU(8)는 검출기(3) 및 증폭 회로(4) 등의 특성에 기초하여, 유도 기전력의 전압값으로부터 유속값을 산출하도록 해도 된다. 또한, CPU(8)는 산출된 유속값을 시간으로 적분해 유량을 산출한다.
CPU(8)는 산출된 유량값을 메모리(10)에 저장한다.
CPU(8)는 유량값을 나타내는 디지털 신호를 DAC(9)에 송신한다. 또한, CPU(8)는 소정의 유량값에 도달한 경우에, 통일 신호를 출력시키는 신호를 DAC(9)에 송신해도 된다. 또한, CPU(8)는 소정의 조건이 충족된 경우에, 펄스를 출력시키는 신호를 DAC(9)에 송신해도 된다.
CPU(8)는 IC(6a)에 이상이 발생하였는지 판정하는 이상 판정 기능을 갖는다(판정부). 이 이상 판정 기능에 의해, CPU(8)는 IC(6a)를 하드웨어적으로 리셋(이하, 하드웨어 리셋이라고 칭함)할 필요가 있는지를 판정한다. 하드웨어 리셋이란, 물리적으로 IC(6a)에 대한 전력 공급을 오프로 한 후에 다시 IC(6a)에 대한 전력 공급을 온하는 것에 의한 리셋이다. 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상은, 소프트웨어 리셋(물리적인 전력 공급의 오프와 온에 의한 리셋이 아니고, 예를 들어 CPU(8)로부터의 리셋 신호에 의한 소프트웨어적인 리셋)으로는 복구되지 않는 이상인 경우로 한다.
예를 들어, CPU(8)는 IC(6a)가 소정 횟수, 동일한 값을 출력한 경우에, IC(6a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생하였다고 판정한다. 즉, CPU(8)는 IC(6a)로부터 수신된 값과 직전에 수신된 값이 연속으로 일치된 횟수를 카운트하고, 소정 횟수에 도달한 경우에 IC(6a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생했다고 판정하면 된다. 구체예로서는, CPU(8)는 IC(6a)가 5회 연속으로 동일한 값을 출력한 경우에, IC(6a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생하였다고 판정하는 것으로 해도 된다.
IC(6a)는 유도 기전력의 측정 결과를 디지털 신호로서 출력한다. 그로 인해, 정상 상태에서는 IC(6a)가 동일한 값을 반복하여 출력할 가능성은 매우 낮다. 따라서, IC(6a)가 연속하여 동일한 값을 출력하는 경우에는 IC(6a)에 이상이 발생하였다고 판단할 수 있다.
또한, CPU(8)가 IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생하였음을 판정하는 방법은, 특정한 방법에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, CPU(8)는 IC(6a)가 이상인 값을 출력한 경우에 IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생하였다고 판정해도 된다.
CPU(8)는 IC(6a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생했다고 판정한 경우, 리셋 회로(7)에 IC(6a)를 하드웨어 리셋시키는 하드웨어 리셋 신호를 송신하는 기능을 갖는다. CPU(8)가 리셋 회로(7)에 하드웨어 리셋 신호를 송신하면, 리셋 회로(7)는 IC(6a)에 대한 전력 공급을 정지하고, 소정의 대기 시간 경과 후에, 다시 IC(6a)에 전력을 공급한다.
다음에, 전자 기기(100)의 동작예에 대해 설명한다.
도 2는, 전자 기기(100)의 동작예를 설명하기 위한 흐름도이다.
먼저, CPU(8)는 ADC(6)로부터 유도 기전력의 측정값을 취득한다(S11). 즉, 검출기(3)는, 검출된 유도 기전력을 증폭 회로(4)에 공급한다. 유도 기전력을 공급되면, 증폭 회로(4)는, 공급된 유도 기전력을 증폭해 노이즈 제거 회로(5)에 출력한다. 증폭된 유도 기전력이 공급되면, 노이즈 제거 회로(5)는, 노이즈를 제거하여 유도 기전력을 ADC(6)에 공급한다. 유도 기전력이 공급되면, ADC(6)는 유도 기전력의 값(측정값)을 디지털 신호로 변환하여 CPU(8)에 공급한다.
유도 기전력의 측정값을 취득하면, CPU(8)는 유도 기전력의 측정값을 메모리(10)에 저장한다(S12). 유도 기전력의 측정값으로부터 유량값을 산출한다(S13). 유량값을 산출하면, CPU(8)는 유량값을 메모리(10)에 저장한다(S14).
유량값을 메모리(10)에 저장하면, CPU(8)는 유량값을 나타내는 디지털 신호를 DAC(9)에 출력한다(S15). DAC(9)는 디지털 신호를 수신하면, 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환한다. 아날로그 신호로 변환되면, DAC(9)는 통신 회로(13)를 통하여 아날로그 신호를 외부 장치에 송신한다.
유량값을 출력하면, CPU(8)는 측정값에 기초하여 IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생했는지를 판정하는 이상 판정 처리를 실행한다(S16). 이상 판정 처리의 동작예에 대해서는, 이후에 상세하게 설명한다. 또한, 이상 판정 처리는 측정값을 취득한 후(예를 들어 S11의 후)이면 적절히 실시할 수 있는 처리이다.
이상 판정 처리에 의해 IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생하지 않았다고 판정하면(S17, "아니요"), CPU(8)는 S11로 복귀된다.
이상 판정 처리에 의해 IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생했다고 판정하면(S17, "예"), CPU(8)는 리셋 회로(7)에, IC(6a)를 하드웨어 리셋시키는 하드웨어 리셋 신호를 송신한다(S18). 리셋 회로(7)는, 하드웨어 리셋 신호를 수신하면, IC(6a)에 대한 전력 공급을 소정의 대기 시간 정지한 후에 전력 공급을 재개함으로써, IC(6a)를 하드웨어 리셋한다.
하드웨어 리셋 신호를 송신하면, CPU(8)는 S11로 복귀된다.
다음에, CPU(8)가 IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생했는지를 판정하는 이상 판정 처리(S16)의 동작예에 대해 설명한다.
여기에서는, CPU(8)는 메모리(10)에 카운터값 n을 계수하기 위한 카운터를 설정하는 것으로 한다.
먼저, CPU(8)는 ADC(6)로부터 수신된 측정값과 직전에 ADC(6)로부터 수신된 측정값이 일치하는지 판정한다(S21).
측정값과 직전의 측정값이 일치하지 않는다고 판정하면(S21, "아니요"), CPU(8)는 카운터값 n을 리셋한다(S22). 즉, CPU(8)는 카운터값 n을 0으로 세트한다. 카운터값 n을 리셋하면, CPU(8)는 IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생하지 않았다고 판정한다(S23).
측정값과 직전의 측정값이 일치한다고 판정하면(S21, "예"), CPU(8)는 카운터값 n을 카운트 업한다(S24). 카운터값 n을 카운트 업하면, CPU(8)는 카운터값 n이 소정의 이상 판정용 임계값인지 판정한다(S25). 본 실시 형태에서는 일례로서, 이상 판정용 임계값을 5로 하고 이하, 이상 판정용 임계값(5)이라고 표기한다. 단, 이상 판정용 임계값은 5에 한정되는 것은 아니다.
카운터값 n이 이상 판정용 임계값(5)이 아니라고 판정하면(S25, "아니요"), CPU(8)는 S23으로 진행한다.
카운터값 n이 이상 판정용 임계값(5)이라고 판정하면(S25, "예"), CPU(8)는 카운터값 n을 리셋(n=0)한다(S26). 카운터값 n을 리셋하면, CPU(8)는 IC(6a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생하였다고 판정한다(S27).
이상의 처리에 의해, CPU(8)는 ADC(6)로부터 수신된 측정값에 기초하여IC(6a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생하였는지 여부를 판정할 수 있다. CPU(8)는 이상 판정 처리에 의해 IC(6a)에 이상이 발생하였다고 판정한 경우, 상술한 S17의 처리로서, 하드웨어 리셋 신호를 리셋 회로(7)에 송신함으로써, IC(6a)를 하드웨어 리셋한다.
이상과 같이 구성되는 전자 기기는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 IC에 이상이 발생한 경우에, IC에의 전력 공급을 일시적으로 정지하여, IC를 리셋할 수 있다. 그 결과, 전자 기기는 전체의 전원을 정지하지 않고, IC를 재기동해 이상을 해소할 수 있다.
또한, 전자 기기는 검출기를 사용하여 소정의 대상(예를 들어, 유량)을 측정한다. 따라서, 전자 기기는 IC에 이상이 발생해도, 전원을 끄지 않고도 계측을 계속할 수 있다. 또한, 전자 기기가 더욱 상위의 장치로부터 전력 공급을 받고 있는 경우, 전자 기기는 IC에 이상이 발생해도 상위 장치의 전원을 끄지 않고 복구할 수 있다. 따라서, 전자 기기 또는 전자 기기를 구비하는 시스템은 안정적으로 측정을 계속할 수 있다.
또한, 전자 기기(100)는, 리셋 회로에 의해 하드웨어 리셋되는 IC를 갖는 장치이면 되고, 상술한 바와 같은 유량계에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 전자 기기(100)는 기체가 흐르는 측정관에 설치된 검출기에 의한 검출값에 의해 기체의 유량을 측정하는 것이어도 된다. 또한, 전자 기기(100)는 전압, 전류, 온도, 압력, 풍력, 또는 회전수 등을 측정하는 계측 장치여도 된다. 또한, 전자 기기(100)는 특정한 대상을 계측하는 계측 장치에 한정되는 것은 아니고, 특정한 대상을 측정하는 계측 장치가 아니어도 된다.
(제2 실시 형태)
다음에, 제2 실시 형태에 대해 설명한다.
제2 실시 형태에 관한 전자 기기(100)는 ADC(6)를 구성하는 IC(제1 IC)(6a)를 리셋하는 것 외에도, DAC(9)를 구성하는 IC에 이상이 발생한 경우에 당해 IC를 리셋하는 점에서, 제1 실시 형태에 관한 전자 기기(100)와 상이하다. 따라서, 다른 부위에 대해서는 동일한 부호를 부여하고, 상세한 설명을 생략한다.
도 4는 제2 실시 형태에 관한 전자 기기(100)의 구성예를 나타낸다.
도 4에 나타낸 바와 같이 전자 기기(100)는 리셋 회로(16)를 더 구비한다. 또한, DAC(9)는 IC(제2 IC)(9a)를 구비한다.
IC(9a)는 DAC(9)를 구성한다. IC(9a)는, 예를 들어 CPU(8)로부터의 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환하는 기능을 갖는다. 또한, DAC(9)는, IC(9a)여도 된다.
리셋 회로(16)(리셋부)는 CPU(8) 및 IC(9a)와 전기적으로 접속한다. 리셋 회로(16)는 CPU(8)로부터의 신호에 기초하여, IC(9a)를 리셋한다. 즉, 리셋 회로(16)는 IC(9a)에 대한 전력 공급을 정지하고 소정의 대기(정지) 시간 경과 후에 다시 IC(9a)에 전력 공급을 개시한다. 대기 시간은 IC(9a)가 리셋하기 위하여 필요한 시간이다. 예를 들어, 대기 시간은 IC(9a)의 특성에 따라 결정해도 된다. 또한, 대기 시간은 IC(9a) 내의 전기 용량 등에 기초하여 결정해도 된다.
또한, 리셋 회로(16)는 DAC(9) 및 IC(9a)에 전력을 공급하는 전원 회로로서 기능해도 된다. 또한, 리셋 회로(16)는 DAC(9)에 대한 전력 공급을 정지하고, 소정의 시간 경과 후에, 다시 DAC(9)에 전력 공급을 개시해도 된다.
이어서 CPU(8)가 실현하는 기능에 대해 설명한다.
CPU(8)는 IC(9a)에 이상이 발생하였는지 판정하는 이상 판정 기능을 갖는다(판정부). 이 이상 판정 기능에 의해 CPU(8)는 IC(9a)를 하드웨어적으로 리셋(이하, 하드웨어 리셋이라고 칭함)할 필요가 있는지를 판정한다. 하드웨어 리셋이란, 물리적으로 IC(9a)에 대한 전력 공급을 오프로 한 후에 다시 IC(9a)에 대한 전력 공급을 온하는 것에 의한 리셋이다. 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상은, 소프트웨어 리셋(물리적인 전력 공급의 오프와 온에 의한 리셋이 아니고, 예를 들어 CPU(8)로부터의 리셋 신호에 의한 소프트웨어적인 리셋)으로는 복구할 수 없는 이상인 것으로 한다.
예를 들어, CPU(8)는 DAC(9)가 출력하는 아날로그 신호의 피드백을 취득한다. 예를 들어, CPU(8)는 DAC(9)가 출력하는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 컨버터를 통하여 피드백을 취득해도 된다.
CPU(8)는 피드백에 기초하여 IC(9a)에 이상이 발생했는지를 판정한다. 예를 들어, CPU(8)는 DAC(9)에 출력하는 유량값과, 피드백되는 유량값 사이에 상관이 없어지면 IC(9a)에 이상이 발생했다고 판정한다.
예를 들어, CPU(8)는 DAC(9)에 출력한 유량값과 직전에 DAC(9)에 출력한 유량값의 출력값비를 산출한다. 또한, CPU(8)는 피드백되는 유량값과, 직전에 피드백된 유량값의 피드백값의 비를 산출한다. CPU(8)는 출력값의 비와 피드백값의 비가 일치하지 않는 경우에, IC(9a)에 이상이 발생했다고 판정한다.
또한, CPU(8)는 DAC(9)에 출력한 유량값과, 피드백되는 유량값이 일치하지 않는 경우, 또는 양자의 비율이 소정의 비율이 아닐 경우에, IC(9a)에 이상이 발생했다고 판정해도 된다. CPU(8)가 IC(9a)에 이상이 발생한 것을 판정하는 방법은 특정한 방법에 한정되는 것은 아니다.
CPU(8)는 IC(9a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생했다고 판정한 경우, 리셋 회로(16)에 IC(9a)를 하드웨어 리셋시키는 하드웨어 리셋 신호를 송신하는 기능을 갖는다. CPU(8)가 리셋 회로(16)에 하드웨어 리셋 신호를 송신하면, 리셋 회로(16)는 IC(9a)에 대한 전력 공급을 정지하고, 소정의 대기 시간 경과 후에 다시 IC(9a)에 전력을 공급한다.
다음에 전자 기기(100)의 동작예에 대해 설명한다.
도 5는 전자 기기(100)의 동작예를 설명하기 위한 흐름도이다.
S11 내지 S16은, 제1 실시 형태의 그것들과 동일하기 때문에 상세한 설명을 생략한다.
IC(6a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생하지 않았다고 판정된 경우(S17, "아니요"), 또는 IC(6a)를 하드웨어 리셋시키는 하드웨어 리셋 신호를 송신한 경우(S18), CPU(8)는 DAC(9)로부터 피드백되는 유량값을 취득한다(S31).
피드백되는 유량값을 취득하면, CPU(8)는 취득된 유량값을 메모리(10)에 저장한다(S32). 유량값을 저장하면 CPU(8)는 IC(9a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생했는지를 판정하는 이상 판정 처리를 실행한다(S34). 이상 판정 처리의 동작예에 대해서는 나중에 상세하게 설명한다.
S33의 이상 판정 처리에 의해 IC(9a)에 하드웨어 리셋이 필요한 이상이 발생하지 않았다고 판정하면(S34, "아니요"), CPU(8)는 S11로 복귀된다.
S33의 이상 판정 처리에 의해 IC(9a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생했다고 판정하면(S34, "예"), CPU(8)는 리셋 회로(16)에, IC(9a)를 하드웨어 리셋시키는 하드웨어 리셋 신호를 송신한다(S35). 리셋 회로(16)는, 하드웨어 리셋 신호를 수신하면, IC(9a)에 대한 전력 공급을 소정의 대기 시간 정지한 후에 전력 공급을 재개함으로써, IC(9a)를 하드웨어 리셋한다.
하드웨어 리셋 신호를 송신하면, CPU(8)는 S11로 복귀된다.
다음에, CPU(8)가 IC(9a)에 이상이 발생했는지를 판정하는 동작예(S33)에 대해 설명한다.
먼저, CPU(8)는 출력한 유량값과 직전에 출력한 유량값에 기초하여 출력값비를 산출한다(S41). 출력값비를 산출하면, CPU(8)는 피드백되는 유량값과 직전에 피드백된 유량값에 기초하여 피드백값의 비를 산출한다(S42).
피드백값의 비를 산출하면, CPU(8)는 출력값의 비와 피드백값의 비가 일치할지 판정한다(S43).
출력값비와 피드백값비가 일치한다고 판정하면(S44, "예"), CPU(8)는 IC(9a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생하지 않았다고 판정한다(S44).
출력값비와 피드백값비가 일치하지 않는다고 판정하면(S44, "아니요"), CPU(8)는 IC(9a)에 하드웨어 리셋을 필요로 하는 이상이 발생하였다고 판정한다(S45).
이상과 같이 구성되는 전자 기기는 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환하는 제2 IC에 이상이 발생한 경우에, 제2 IC에 대한 전력 공급을 일시적으로 정지하고, 제2 IC를 리셋할 수 있다. 그 결과, 전자 기기는 전체의 전원을 정지하지 않고, 제2 IC를 재기동하여 이상을 해소할 수 있다.
따라서, 전자 기기는 보다 안정적으로 동작할 수 있다.
1: 전원 회로
2: 여자 회로
3: 검출기
4: 증폭 회로
5: 노이즈 제거 회로
6: ADC
6a: IC
7: 리셋 회로
8: CPU
9: DAC
9a: IC
10: 메모리
11: 표시부
12: 조작부
13: 통신 회로
14: 제1 출력부
15: 제2 출력부
16: 리셋 회로

Claims (9)

  1. 집적 회로와,
    상기 집적 회로에 이상이 발생했는지를 판정하는 판정부와,
    상기 판정부가 상기 집적 회로에 이상이 발생했다고 판정하면, 상기 집적 회로에의 전력 공급을 정지하여, 전력 공급을 소정의 시간 정지한 후에 상기 집적 회로에 전력을 공급하는 리셋부
    를 구비하고,
    상기 집적 회로는, 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환하고,
    상기 판정부는, 상기 집적 회로에 입력되는 디지털 신호와, 상기 집적 회로가 출력하는 아날로그 신호에 기초하여 상기 집적 회로에 이상이 발생했는지를 판정하고,
    상기 판정부는, 상기 집적 회로에 입력된 디지털 신호의 값과 직전에 상기 집적 회로에 입력된 디지털 신호의 값의 비와, 상기 집적 회로로부터 출력된 아날로그 신호의 값과 직전에 상기 집적 회로로부터 출력된 아날로그 신호의 값의 비에 기초하여 상기 집적 회로에 이상이 발생했는지를 판정하는
    전자 기기.
  2. 제1항에 있어서, 상기 판정부는, 상기 집적 회로에 소프트웨어 리셋으로는 복구할 수 없는 이상이 발생한 경우에, 상기 집적 회로에 이상이 발생했다고 판정하는
    전자 기기.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
KR1020177036559A 2015-10-26 2015-10-26 전자 기기 KR102070728B1 (ko)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2015/080123 WO2017072836A1 (ja) 2015-10-26 2015-10-26 電子機器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180011182A KR20180011182A (ko) 2018-01-31
KR102070728B1 true KR102070728B1 (ko) 2020-01-29

Family

ID=58631362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020177036559A KR102070728B1 (ko) 2015-10-26 2015-10-26 전자 기기

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10663928B2 (ko)
JP (1) JP6430655B2 (ko)
KR (1) KR102070728B1 (ko)
CN (1) CN107710167B (ko)
MY (1) MY189096A (ko)
WO (1) WO2017072836A1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017072836A1 (ja) * 2015-10-26 2017-05-04 株式会社 東芝 電子機器
KR20210037309A (ko) * 2019-09-27 2021-04-06 삼성전자주식회사 컨트롤 ic의 리셋을 제어하는 전자 장치 및 방법
US11169942B1 (en) * 2019-11-12 2021-11-09 Rockwell Collins, Inc. Double data rate (DDR) radio frequency (RF) digitization module for software-defined radio (SDR)

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5686015A (en) 1979-12-12 1981-07-13 Mitsubishi Electric Corp Sampling signal malfunction monitor
JPS5940721A (ja) * 1982-08-30 1984-03-06 Sony Tektronix Corp デジタル・アナログ変換器用診断装置
US4786862A (en) * 1986-06-09 1988-11-22 Niagara Mohawk Power Corporation Watchdog circuit for transmission line sensor module
JPH0823276A (ja) * 1994-07-05 1996-01-23 Fujitsu Ten Ltd アナログ/ディジタル変換装置
CN1085356C (zh) * 1997-09-23 2002-05-22 微星科技股份有限公司 保护cpu因过电压及过电流而损毁cpu的方法
JP2000259201A (ja) * 1999-03-05 2000-09-22 Toshiba Corp アナログ出力装置及びそれを用いた制御システム
JP3900469B2 (ja) * 2001-11-29 2007-04-04 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 電気機器、コンピュータ装置、インテリジェント電池、および電池の制御方法
JP2003315121A (ja) 2002-04-18 2003-11-06 Yamatake Corp 電磁流量計
JP4232121B2 (ja) * 2006-12-28 2009-03-04 ソニー株式会社 情報処理装置および方法、プログラム、並びに記録媒体
JP5196232B2 (ja) 2008-01-16 2013-05-15 横河電機株式会社 電磁流量計
JP2010157901A (ja) * 2008-12-26 2010-07-15 Sony Corp 信号処理装置、信号処理方法およびプログラム
JP2011209232A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Yamatake Corp 電磁流量計
JP5283719B2 (ja) * 2011-02-16 2013-09-04 シャープ株式会社 電子機器及び電子機器システム
KR102240508B1 (ko) * 2014-03-10 2021-04-16 삼성전자주식회사 전자 장치에서 외부 전자 장치로의 전력 출력을 제어하는 방법 및 장치
WO2017072836A1 (ja) * 2015-10-26 2017-05-04 株式会社 東芝 電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
CN107710167B (zh) 2020-12-15
MY189096A (en) 2022-01-25
CN107710167A (zh) 2018-02-16
WO2017072836A1 (ja) 2017-05-04
JPWO2017072836A1 (ja) 2018-03-01
KR20180011182A (ko) 2018-01-31
US10663928B2 (en) 2020-05-26
JP6430655B2 (ja) 2018-11-28
US20180181084A1 (en) 2018-06-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9658089B2 (en) Electromagnetic flowmeter with voltage-amplitude conductivity-sensing function for a liquid in a tube
EP3049770B1 (en) Magnetic flowmeter with saturation detection and/or prevention
KR102070728B1 (ko) 전자 기기
KR20110006472A (ko) 디지털 카운터 방식을 이용한 진동현 센서의 주파수 측정 시스템
EP3064905A2 (en) Electromagnetic flowmeter
KR100875748B1 (ko) 절연저항 측정 장치 및 방법
CN104949722B (zh) 磁感应流量测量仪和用于运行磁感应流量测量仪的方法
KR101721165B1 (ko) 홀센서를 이용한 직류 및 교류 겸용 지락검출장치
JP2008242615A (ja) シミュレーションにより異常診断支援を行うフィールド機器とシミュレーション方法
JP6481443B2 (ja) 電磁流量計
US9285256B1 (en) Electromagnetic flowmeter with variable-frequency conductivity-sensing function for a liquid in a tube
JP6229852B2 (ja) 電磁流量計
US10557745B2 (en) Electromagnetic flow meter and miswiring detection method
CN105371906B (zh) 具有变频式液体导电度测量功能的电磁式流量计
JP2017058323A (ja) 漏液検知システム
JP2016050773A (ja) 流量計
JP5973897B2 (ja) 電磁流量計
KR20170024685A (ko) 전자 유량계
CN115145186A (zh) 现场设备
JP2006112843A (ja) 渦流量計
KR20160072741A (ko) 파워서플라이 수명 측정을 위한 장치와 방법
TWI495852B (zh) 具有調幅式管路液體導電度量測之電磁式流量計
JP2005069798A (ja) 伝送器のゼロ点調整回路
CN105157813A (zh) 用于力平衡加速度传感器的检测方法及装置
CN105181053A (zh) 一种流量变送器

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant