JP6229852B2 - 電磁流量計 - Google Patents
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Description
ここで、前記診断部は、連続する無励磁安定期間における前記検出信号の絶対値を平均化、あるいは検出信号のピーク値を平均化して得られる値を前記検出信号のレベルとすることができる。
また、前記診断部は、前記検出信号のレベルが所定の基準値以上の場合に、前記被測定流体の特性に基づく異常が発生したと判定することができる。
この場合、前記診断部は、前記被測定流体の特性に基づく異常が発生したと判定した場合に、あらかじめ定めた基準にしたがって、異常原因の示唆を行なうようにしてもよい。
前記被測定流体の導電率を測定する導電率測定回路をさらに備え、前記診断部は、前記導電率測定回路で測定された導電率を利用して前記異常原因の示唆を行なうようにしてもよい。
また、前記励磁回路は、短周期のパルスと長周期のパルスとを重畳した2周波励磁波形の励磁電流を生成してもよい。
前記診断部は、連続する無励磁安定期間における前記検出信号について、係数の合計値が0となる加重平均を算出して得られる値を前記検出信号のレベルとしてもよい。
この場合、前記係数の合計値が0となる加重平均は、3つ連続する連続する無励磁安定期間における前記検出信号に対して、(1、−2、1)あるいは(−1、2、−1)の係数を用いることができる。
前記診断部は、前記検出信号のレベルを算出する際の平均化に用いる期間よりも長い期間で前記検出信号の平均化をさらに行ない、2つの平均値の差に基づいて恒常的な異常であるか単発的な異常であるかを判定してもよい。
いずれの場合も、前記診断部が検出する前記被測定流体の特性に基づく異常は、気泡発生、低導電率、スラリー流体、被測定流体による電極腐食、電極への絶縁性の異物付着のいずれかを含むことができる。
また、前記診断部は、前記被測定流体の流量測定の際に得られる流速の変動と、前記検出信号のレベルの変動との相関関係を判定することで前記異常原因の示唆を行なうようにしてもよい。
このとき、前記診断部は、前記流速の変動と前記検出信号のレベルの変動とが正の相関関係であると判定すると、前記異常原因が低導電率または電極腐食であることを示唆することができる。
あるいは、前記流速の変動と前記検出信号のレベルの変動とが負の相関関係であると判定すると、前記異常原因が気泡であることを示唆するようにしてもよい。
あるいは、前記流速の変動と前記検出信号のレベルの変動とが相関関係を有さないと判定すると、前記異常原因が電気的ノイズであることを示唆するようにしてもよい。
Va1=Eex(EZ1)−2Eex(EZ2)+Eex(EZ3)
Va2=−Eex(EZ2)+2Eex(EZ3)−Eex(EZ4)
Va3=Eex(EZ3)−2Eex(EZ4)+Eex(EZ5)
Va4=−Eex(EZ4)+2Eex(EZ5)−Eex(EZ6)
…
というような係数の合計が0となる加重平均演算を行ない、Vanの絶対値を算出した後に、連続する複数個のVan、Va(n+1)、…の平均値を算出すること(ダンピング演算)で異常診断用ノイズレベルとしてもよい。本例では、連続する3つの無励磁サンプリング期間について、合計が0となる3つの係数(1、−2、1)あるいは(−1、2、−1)を乗じる加重平均演算を行なっている。連続する複数個のVan、Va(n+1)、…の最大値を抽出してその平均値を算出することで異常診断用ノイズレベルとしてもよい。
Va1=Eex(2周期前のEZ1)−2Eex(1周期前のEZ1)+Eex(現周期のEZ1)
Va2=Eex(2周期前のEZ2)−2Eex(1周期前のEZ2)+Eex(現周期のEZ2)
…
Va12=Eex(2周期前のEZ12)−2Eex(1周期前のEZ12)+Eex(現周期のEZ12)
を算出し、Va1〜Va12それぞれの絶対値を算出した後に、Va1〜Va12の平均値を算出すること(ダンピング演算)で異常診断用ノイズレベルとしてもよい。
Va1=Eex(1周期前のEZ1)−2Eex(現周期のEZ7)+Eex(現周期のEZ1)
Va2=Eex(1周期前のEZ2)−2Eex(現周期のEZ8)+Eex(現周期のEZ2)
…
Va6=Eex(1周期前のEZ6)−2Eex(現周期のEZ12)+Eex(現周期のEZ6)
Va7=−Eex(1周期前のEZ7)+2Eex(1周期前のEZ1)−Eex(現周期のEZ7)
Va8=−Eex(1周期前のEZ8)+2Eex(1周期前のEZ2)−Eex(現周期のEZ8)
…
Va12=−Eex(1周期前のEZ12)+2Eex(1周期前のEZ6)−Eex(現周期のEZ12)
を算出し、Va1〜Va12それぞれの絶対値を算出した後に、Va1〜Va12の平均値を算出すること(ダンピング演算)で異常診断用ノイズレベルとしてもよい。
1)導電率が一定の低導電率流体では、流速が高くなるについて診断用ノイズレベルが増加する。
2)電極材質を腐食させる流体では、電極表面を通過する流速が高いほど腐食の進行が進むため、診断用ノイズレベルが増加する。
3)気泡・流体体積比が一定の流体では、流速が高くなるにつれて診断用ノイズレベルが減少する。
4)EMC(Electro-Magnetic Compatibility)は、流量計測に依存しない伝導性ノイズ、放射電磁界ノイズ等の設置場所アプリケーション要因によって影響を受けるものであり、流速と診断用ノイズレベルとの相関関係とは無関係である。
Claims (14)
- 測定管内を流れる被測定流体に励磁電流により生じる磁界を与え、前記測定管内に設けられた電極に発生する検出信号に基づいて前記被測定流体の流量を測定する電磁流量計であって、
正励磁期間と負励磁期間と無励磁期間とを有する励磁電流を生成する励磁回路と、
前記無励磁期間に発生する検出信号のうち、微分ノイズが収束した期間である無励磁安定期間における検出信号のレベルに基づいて、前記電極の電位を変動させる異常を検出する診断部と、
を備えたことを特徴とする電磁流量計。 - 前記診断部は、連続する無励磁安定期間における前記検出信号の絶対値を平均化、あるいは検出信号のピーク値を平均化して得られる値を前記検出信号のレベルとすること特徴とする請求項1に記載の電磁流量計。
- 前記診断部は、前記検出信号のレベルが所定の基準値以上の場合に、前記電極の電位を変動させる異常が発生したと判定することを特徴とする請求項1または2に記載の電磁流量計。
- 前記診断部は、前記電極の電位を変動させる異常が発生したと判定した場合に、あらかじめ定めた基準にしたがって、異常原因の示唆を行なうことを特徴とする請求項3に記載の電磁流量計。
- 前記被測定流体の導電率を測定する導電率測定回路をさらに備え、
前記診断部は、前記導電率測定回路で測定された導電率を利用して前記異常原因の示唆を行なうことを特徴とする請求項4に記載の電磁流量計。 - 前記励磁回路は、短周期のパルスと長周期のパルスとを重畳した2周波励磁波形の励磁電流を生成することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の電磁流量計。
- 前記診断部は、連続する無励磁安定期間における前記検出信号について、係数の合計値が0となる加重平均を算出して得られる値を前記検出信号のレベルとすること特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の電磁流量計。
- 前記係数の合計値が0となる加重平均は、3つ連続する連続する無励磁安定期間における前記検出信号に対して、(1、−2、1)あるいは(−1、2、−1)の係数を用いることを特徴とする請求項7に記載の電磁流量計。
- 前記診断部は、前記検出信号のレベルを算出する際の平均化に用いる期間よりも長い期間で前記検出信号の平均化をさらに行ない、2つの平均値の差に基づいて恒常的な異常であるか単発的な異常であるかを判定することを特徴とする請求項2に記載の電磁流量計。
- 前記診断部が検出する前記電極の電位を変動させる異常は、気泡発生、低導電率、スラリー流体、被測定流体による電極腐食、電極への絶縁性の異物付着のいずれかを含むことを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の電磁流量計。
- 前記診断部は、
前記被測定流体の流量測定の際に得られる流速の変動と、前記検出信号のレベルの変動との相関関係を判定することで前記異常原因の示唆を行なうことを特徴とする請求項4に記載の電磁流量計。 - 前記診断部は、
前記流速の変動と前記検出信号のレベルの変動とが正の相関関係であると判定すると、前記異常原因が低導電率または電極腐食であることを示唆することを特徴とする請求項11に記載の電磁流量計。 - 前記診断部は、
前記流速の変動と前記検出信号のレベルの変動とが負の相関関係であると判定すると、前記異常原因が気泡であることを示唆することを特徴とする請求項11または12に記載の電磁流量計。 - 前記診断部は、
前記流速の変動と前記検出信号のレベルの変動とが相関関係を有さないと判定すると、前記異常原因が電気的ノイズであることを示唆することを特徴とする請求項11〜13のいずれか1項に記載の電磁流量計。
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