KR102040659B1 - Scan Driver and Display Device Using the same - Google Patents

Scan Driver and Display Device Using the same Download PDF

Info

Publication number
KR102040659B1
KR102040659B1 KR1020130056558A KR20130056558A KR102040659B1 KR 102040659 B1 KR102040659 B1 KR 102040659B1 KR 1020130056558 A KR1020130056558 A KR 1020130056558A KR 20130056558 A KR20130056558 A KR 20130056558A KR 102040659 B1 KR102040659 B1 KR 102040659B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
node
transistor
electrode connected
voltage
clock signal
Prior art date
Application number
KR1020130056558A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140136254A (en
Inventor
유상희
이보선
정훈주
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020130056558A priority Critical patent/KR102040659B1/en
Publication of KR20140136254A publication Critical patent/KR20140136254A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102040659B1 publication Critical patent/KR102040659B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3674Details of drivers for scan electrodes
    • G09G3/3677Details of drivers for scan electrodes suitable for active matrices only
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
    • G09G3/3659Control of matrices with row and column drivers using an active matrix the addressing of the pixel involving the control of two or more scan electrodes or two or more data electrodes, e.g. pixel voltage dependant on signal of two data electrodes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00Command of the display device
    • G09G2310/02Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264Details of driving circuits
    • G09G2310/0286Details of a shift registers arranged for use in a driving circuit

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Shift Register Type Memory (AREA)

Abstract

본 발명은 스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들을 출력하는 레벨 시프터; 및 스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며, 스테이지들의 제N스테이지는 Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와, QB노드의 전위에 대응하여 저전위전압을 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀다운 트랜지스터와, Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와, QB노드를 충방전시키는 QB노드 충방전부를 포함하되, QB노드 충방전부는 제N스테이지의 출력단자를 통해 저전위전압이 출력된 이후 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지할 수 있다.The invention provides a level shifter for outputting start signals, clock signals, and reset clock signals; And a shift register configured to shift and output the scan signal in response to the start signal, the clock signals, and the reset clock signals, wherein the Nth stages of the stages receive the Nth clock signal in response to the potential of the Q node. A pull-up transistor for outputting to the N-th stage output terminal, a pull-down transistor for outputting a low potential voltage to the output terminal of the N-th stage corresponding to the potential of the QB node, a Q-node charging and discharging unit for charging and discharging the Q node, and QB QB node charge and discharge unit for charging and discharging the node, the QB node charge and discharge unit may maintain the QB node at a voltage between logic high and logic low after the low potential voltage is output through the output terminal of the N-th stage.

Description

스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치{Scan Driver and Display Device Using the same}Scan driver and display device using the same {Scan Driver and Display Device Using the same}

본 발명은 스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a scan driver and a display device using the same.

정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting Display: OLED), 액정표시장치(Liquid Crystal Display: LCD) 및 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel: PDP) 등과 같은 표시장치의 사용이 증가하고 있다.With the development of information technology, the market for a display device, which is a connection medium between a user and information, is growing. Accordingly, the use of display devices such as organic light emitting display (OLED), liquid crystal display (LCD), plasma display panel (PDP), and the like is increasing.

앞서 설명한 표시장치 중 일부 예컨대, 액정표시장치나 유기전계발광표시장치에는 매트릭스 형태로 배치된 복수의 서브 픽셀을 포함하는 표시패널과 표시패널을 구동하는 구동부가 포함된다. 구동부에는 표시패널에 스캔 신호(또는 게이트신호)를 공급하는 스캔 구동부 및 표시패널에 데이터신호를 공급하는 데이터 구동부 등이 포함된다.Some of the aforementioned display devices, for example, a liquid crystal display or an organic light emitting display device, include a display panel including a plurality of subpixels arranged in a matrix form and a driving unit for driving the display panel. The driver includes a scan driver for supplying a scan signal (or gate signal) to the display panel and a data driver for supplying a data signal to the display panel.

위와 같은 표시장치는 매트릭스 형태로 배치된 서브 픽셀들에 스캔 신호 및 데이터신호 등이 공급되면, 선택된 서브 픽셀이 발광을 하게 됨으로써 영상을 표시할 수 있게 된다.When the display device is supplied with a scan signal and a data signal to subpixels arranged in a matrix form, the display device emits light so that an image can be displayed.

한편, 스캔 신호를 출력하는 스캔 구동부는 집적회로 형태로 표시패널의 외부기판에 실장되는 외장형과 박막 트랜지스터 공정과 함께 이루어지는 게이트인패널(Gate In Panel) 형태로 표시패널에 형성되는 내장형으로 구분된다.On the other hand, the scan driver for outputting the scan signal is divided into an external circuit mounted on an external substrate of the display panel in the form of an integrated circuit and an embedded type formed in the display panel in the form of a gate in panel formed with a thin film transistor process.

내장형 스캔 구동부는 아몰포스 실리콘이나 산화물 박막 트랜지스터 등으로 이루어진다. 산화물 박막 트랜지스터의 경우 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 전류의 이동 특성이 우수하여 회로의 크기를 축소 설계할 수 있는 장점이 있다. 그러나 산화물 박막 트랜지스터는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 스트레스 바이어스에 따른 문턱전압의 회복 특성이 낮은 단점이 있다.The built-in scan driver is made of amorphous silicon, an oxide thin film transistor, or the like. In the case of the oxide thin film transistor, the current transfer characteristics are superior to that of the amorphous silicon thin film transistor, thereby reducing the circuit size. However, the oxide thin film transistor has a disadvantage in that the threshold voltage recovery characteristic due to the stress bias is lower than that of the amorphous silicon thin film transistor.

따라서, 산화물 박막 트랜지스터로 내장형 스캔 구동부를 구성하고 표시패널을 구동하면 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 한계 수명에 도달하는 시간이 짧다. 그러므로, 내장형 스캔 구동부는 회로의 신뢰성과 수명을 증가시키기 위한 방안이 요구된다.Therefore, when the built-in scan driver is formed of an oxide thin film transistor and the display panel is driven, the time for reaching the limit lifetime is shorter than that of the amorphous silicon thin film transistor. Therefore, the embedded scan driver is required to increase the reliability and life of the circuit.

상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 포지티브 바이어스 스트레스를 줄여 스캔 구동부의 수명과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치를 제공하는 것이다.The present invention for solving the above-mentioned problems of the background art is to provide a scan driver and a display device using the same to reduce the positive bias stress to improve the life and reliability of the scan driver.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명은 스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들을 출력하는 레벨 시프터; 및 스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며, 스테이지들의 제N스테이지는 Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와, QB노드의 전위에 대응하여 저전위전압을 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀다운 트랜지스터와, Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와, QB노드를 충방전시키는 QB노드 충방전부를 포함하되, QB노드 충방전부는 제N스테이지의 출력단자를 통해 저전위전압이 출력된 이후 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지할 수 있다.The present invention as a means for solving the above problems is a level shifter for outputting a start signal, clock signals and reset clock signals; And a shift register configured to shift and output the scan signal in response to the start signal, the clock signals, and the reset clock signals, wherein the Nth stages of the stages receive the Nth clock signal in response to the potential of the Q node. A pull-up transistor for outputting to the N-th stage output terminal, a pull-down transistor for outputting a low potential voltage to the output terminal of the N-th stage corresponding to the potential of the QB node, a Q-node charging and discharging unit for charging and discharging the Q node, and QB QB node charge and discharge unit for charging and discharging the node, the QB node charge and discharge unit may maintain the QB node at a voltage between logic high and logic low after the low potential voltage is output through the output terminal of the N-th stage.

QB노드 충방전부는 로직 로우의 제N리셋클록신호가 공급되면 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지할 수 있다.The QB node charging and discharging unit may maintain the QB node at a voltage between logic high and logic low when the N-th reset clock signal of the logic low is supplied.

QB노드 충방전부는 Q노드의 전위에 대응하여 QB노드를 방전시키는 QB노드 방전 트랜지스터와, 적어도 하나가 제N리셋클록신호에 대응하여 QB노드를 충전시키거나 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하는 미러형 트랜지스터를 포함하되, QB노드는 미러형 트랜지스터 중 하나의 문턱전압에 대응되는 전압 레벨로 유지될 수 있다.The QB node charging and discharging unit discharges the QB node in response to the potential of the Q node, and at least one charges the QB node in response to the Nth reset clock signal or sets the QB node between a logic high and a logic low. A mirror transistor may be maintained at a voltage, but the QB node may be maintained at a voltage level corresponding to the threshold voltage of one of the mirror transistors.

미러형 트랜지스터는 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와, QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2측 트랜지스터를 포함할 수 있다.The mirror type transistor includes a first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an Nth reset clock signal terminal supplied with an Nth reset clock signal, and a second electrode connected to a QB node, and a gate electrode and a first electrode connected to a QB node. The second electrode may include a second side transistor connected to an electrode and a second electrode connected to an N-th reset clock signal terminal.

미러형 트랜지스터는 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와, QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결된 제2-1측 트랜지스터와, 제2-1측 트랜지스터의 제2전극에 제1전극과 게이트전극이 연결되고 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2-2측 트랜지스터를 포함할 수 있다.The mirror type transistor includes a first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an Nth reset clock signal terminal supplied with an Nth reset clock signal, and a second electrode connected to a QB node, and a gate electrode and a first electrode connected to a QB node. A second-first transistor connected to an electrode; a second-second transistor connected to a second electrode of the second-first transistor; and a second electrode connected to an N-th reset clock signal terminal. It may include.

Q노드 충방전부는 스타트신호가 공급되는 스타트신호단자 또는 제N-1스테이지의 출력단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 Q노드에 제2전극이 연결된 제1트랜지스터와, QB노드에 게이트전극이 연결되고 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 Q노드에 제2전극이 연결된 제2트랜지스터와, 제N+2스테이지의 출력단자에 게이트전극이 연결되고 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 Q노드에 제2전극이 연결된 Q노드 방전 트랜지스터를 포함할 수 있다.The Q node charging and discharging unit includes a first transistor having a gate electrode and a first electrode connected to a start signal terminal supplied with a start signal or an output terminal of an N-1 stage, and a second electrode connected to a Q node, and a gate electrode connected to a QB node. A second transistor having a first electrode connected to the low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage and a second electrode connected to the Q node, and a gate electrode connected to the output terminal of the N + 2 stage and having a low potential voltage The terminal may include a Q node discharge transistor having a first electrode connected to the terminal and a second electrode connected to the Q node.

다른 측면에서 본 발명은 표시패널; 표시패널의 데이터라인들에 연결된 데이터 구동부; 및 표시패널의 스캔라인들에 연결되며 스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들을 출력하는 레벨 시프터와, 스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며, 스테이지들의 제N스테이지는 Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와, QB노드의 전위에 대응하여 저전위전압을 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀다운 트랜지스터와, Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와, QB노드를 충방전시키는 QB노드 충방전부를 포함하되, QB노드 충방전부는 제N스테이지의 출력단자를 통해 저전위전압이 출력된 이후 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하는 것을 특징으로 하는 표시장치를 제공한다.In another aspect, the present invention is a display panel; A data driver connected to data lines of the display panel; And a level shifter connected to the scan lines of the display panel and outputting start signals, clock signals, and reset clock signals, and stages for shifting and outputting scan signals corresponding to the start signals, clock signals, and reset clock signals. And a N-th stage of the stages, the pull-up transistor outputting the N-th clock signal to the output terminal of the N-th stage corresponding to the potential of the Q node, and a low potential voltage corresponding to the potential of the QB node. A pull-down transistor for outputting to the output terminal of the Nth stage, a Q node charging and discharging unit for charging and discharging a Q node, and a QB node charging and discharging unit for charging and discharging a QB node, wherein the QB node charging and discharging unit is an output terminal of the Nth stage. After the low potential voltage is output through the display to provide a display device characterized in that the QB node is maintained at a voltage between logic high and logic low All.

QB노드 충방전부는 로직 로우의 제N리셋클록신호가 공급되면 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지할 수 있다.The QB node charging and discharging unit may maintain the QB node at a voltage between logic high and logic low when the N-th reset clock signal of the logic low is supplied.

QB노드 충방전부는 Q노드의 전위에 대응하여 QB노드를 방전시키는 QB노드 방전 트랜지스터와, 적어도 하나가 제N리셋클록신호에 대응하여 QB노드를 충전시키거나 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하는 미러형 트랜지스터를 포함하되, QB노드는 미러형 트랜지스터 중 하나의 문턱전압에 대응되는 전압 레벨로 유지될 수 있다.The QB node charging and discharging unit discharges the QB node in response to the potential of the Q node, and at least one charges the QB node in response to the Nth reset clock signal or sets the QB node between a logic high and a logic low. A mirror transistor may be maintained at a voltage, but the QB node may be maintained at a voltage level corresponding to the threshold voltage of one of the mirror transistors.

미러형 트랜지스터는 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와, QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2측 트랜지스터를 포함할 수 있다.The mirror type transistor includes a first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an Nth reset clock signal terminal supplied with an Nth reset clock signal, and a second electrode connected to a QB node, and a gate electrode and a first electrode connected to a QB node. The second electrode may include a second side transistor connected to an electrode and a second electrode connected to an N-th reset clock signal terminal.

미러형 트랜지스터는 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와, QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결된 제2-1측 트랜지스터와, 제2-1측 트랜지스터의 제2전극에 제1전극과 게이트전극이 연결되고 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2-2측 트랜지스터를 포함할 수 있다.The mirror type transistor includes a first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an Nth reset clock signal terminal supplied with an Nth reset clock signal, and a second electrode connected to a QB node, and a gate electrode and a first electrode connected to a QB node. A second-first transistor connected to an electrode; a second-second transistor connected to a second electrode of the second-first transistor; and a second electrode connected to an N-th reset clock signal terminal. It may include.

Q노드 충방전부는 스타트신호가 공급되는 스타트신호단자 또는 제N-1스테이지의 출력단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 Q노드에 제2전극이 연결된 제1트랜지스터와, QB노드에 게이트전극이 연결되고 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 Q노드에 제2전극이 연결된 제2트랜지스터와, 제N+2스테이지의 출력단자에 게이트전극이 연결되고 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 Q노드에 제2전극이 연결된 Q노드 방전 트랜지스터를 포함할 수 있다.The Q node charging and discharging unit includes a first transistor having a gate electrode and a first electrode connected to a start signal terminal supplied with a start signal or an output terminal of an N-1 stage, and a second electrode connected to a Q node, and a gate electrode connected to a QB node. A second transistor having a first electrode connected to the low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage and a second electrode connected to the Q node, and a gate electrode connected to the output terminal of the N + 2 stage and having a low potential voltage The terminal may include a Q node discharge transistor having a first electrode connected to the terminal and a second electrode connected to the Q node.

본 발명은 QB노드에 인가되는 전압을 낮추고 해당 노드의 포지티브 바이어스 스트레스를 줄여 스캔 구동부의 수명과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치를 제공하는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 미러형 트랜지스터에 의해 QB노드에 인가되는 전압이 자동으로 가변되도록 하여 해당 노드를 셀프 리프레쉬(Self Refresh)할 수 있는 스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치를 제공하는 효과가 있다.The present invention has the effect of providing a scan driver and a display device using the same to lower the voltage applied to the QB node and reduce the positive bias stress of the node to improve the life and reliability of the scan driver. In addition, the present invention has the effect of providing a scan driver that can self-refresh the node by the voltage applied to the QB node by the mirror transistor to automatically vary, and a display device using the same.

도 1은 표시장치의 개략적인 블록도.
도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀의 구성 예시도.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 시프트 레지스터의 블록 구성도.
도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 제N스테이지의 회로 구성도.
도 5는 도 4에 도시된 제N스테이지의 동작 설명을 위한 일부 구성도.
도 6은 도 4에 도시된 제N스테이지의 동작 타이밍도.
도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 제N스테이지의 회로 구성도.
도 8은 도 7에 도시된 제N스테이지의 동작 설명을 위한 일부 구성도.
도 9는 도 7에 도시된 제N스테이지의 동작 타이밍도.
1 is a schematic block diagram of a display device;
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a subpixel illustrated in FIG. 1. FIG.
3 is a block diagram of a shift register according to the first embodiment of the present invention;
4 is a circuit diagram of an N-th stage according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram illustrating some components for explaining the operation of the N-th stage shown in FIG. 4. FIG.
6 is an operation timing diagram of an Nth stage illustrated in FIG. 4.
7 is a circuit diagram of an Nth stage according to a second embodiment of the present invention;
FIG. 8 is a schematic view illustrating the operation of the N-th stage shown in FIG. 7; FIG.
9 is an operation timing diagram of an Nth stage illustrated in FIG. 7.

이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the specific content for the practice of the present invention will be described.

<제1실시예><First Embodiment>

도 1은 표시장치의 개략적인 블록도이고, 도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀의 구성 예시도이다.FIG. 1 is a schematic block diagram of a display device, and FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a subpixel illustrated in FIG. 1.

도 1에 도시된 바와 같이, 표시장치에는 표시패널(100), 타이밍 콘트롤러(110), 데이터 구동부(120) 및 스캔 구동부(130, 140)가 포함된다.As shown in FIG. 1, the display device includes a display panel 100, a timing controller 110, a data driver 120, and scan drivers 130 and 140.

표시패널(10)에는 상호 교차하는 데이터 라인들(DL) 및 스캔 라인들(GL)에 구분되어 연결된 서브 픽셀들이 포함된다. 표시패널(10)은 서브 픽셀들이 형성되는 표시영역(100A)과 표시영역(100A)의 외측으로 각종 신호라인들이나 패드 등이 형성되는 비표시영역(100B)을 포함한다. 표시패널(100)은 액정표시장치(LCD), 유기발광표시장치(OLED), 전기영동표시장치(EPD) 등으로 구현될 수 있다.The display panel 10 includes subpixels separated from and connected to the data lines DL and the scan lines GL. The display panel 10 includes a display area 100A in which subpixels are formed and a non-display area 100B in which various signal lines or pads are formed outside the display area 100A. The display panel 100 may be implemented as a liquid crystal display (LCD), an organic light emitting display (OLED), an electrophoretic display (EPD), or the like.

도 2에 도시된 바와 같이, 하나의 서브 픽셀(SP)에는 스캔 라인(GL1)과 데이터 라인(DL1)에 연결된 스위칭 트랜지스터(SW)와 스위칭 트랜지스터(SW)를 통해 공급된 스캔 신호에 대응하여 공급된 데이터신호(DATA)에 대응하여 동작하는 픽셀회로(PC)가 포함된다. 서브 픽셀(SP)은 픽셀회로(PC)의 구성에 따라 액정소자를 포함하는 액정표시패널이나 유기발광소자를 포함하는 유기발광표시패널 등으로 구현된다.As shown in FIG. 2, one sub-pixel SP is supplied in response to a scan signal supplied through the switching transistor SW and the switching transistor SW connected to the scan line GL1 and the data line DL1. Pixel circuit PC that operates in response to the data signal DATA is included. The subpixel SP is implemented as a liquid crystal display panel including a liquid crystal element or an organic light emitting display panel including an organic light emitting element according to the configuration of the pixel circuit PC.

표시패널(100)이 액정표시패널로 구성된 경우, 이는 TN(Twisted Nematic) 모드, VA(Vertical Alignment) 모드, IPS(In Plane Switching) 모드, FFS(Fringe Field Switching) 모드 또는 ECB(Electrically Controlled Birefringence) 모드로 구현된다. 표시패널(100)이 유기발광표시패널로 구성된 경우, 이는 전면발광(Top-Emission) 방식, 배면발광(Bottom-Emission) 방식 또는 양면발광(Dual-Emission) 방식으로 구현된다.When the display panel 100 is configured as a liquid crystal display panel, it is a twisted nematic (TN) mode, a vertical alignment (VA) mode, an in plane switching (IPS) mode, a fringe field switching (FFS) mode, or an electrically controlled wired fringefringence (ECB). Implemented in mode. When the display panel 100 is configured as an organic light emitting display panel, the display panel 100 may be implemented in a top-emission method, a bottom-emission method, or a dual-emission method.

타이밍 콘트롤러(110)는 영상보드에 연결된 LVDS 또는 TMDS 인터페이스 수신회로를 통해 수직 동기신호, 수평 동기신호, 데이터 인에이블 신호, 도트 클럭 등의 타이밍신호를 입력받는다. 타이밍 콘트롤러(110)는 입력된 타이밍신호를 기준으로 데이터 구동부(120)와 스캔 구동부(130, 140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다.The timing controller 110 receives a timing signal such as a vertical synchronization signal, a horizontal synchronization signal, a data enable signal, and a dot clock through an LVDS or TMDS interface receiving circuit connected to the image board. The timing controller 110 generates timing control signals for controlling operation timings of the data driver 120 and the scan drivers 130 and 140 based on the input timing signal.

데이터 구동부(120)는 다수의 소스 드라이브 IC(Integrated Circuit)들을 포함한다. 소스 드라이브 IC들은 타이밍 콘트롤러(110)로부터 디지털 비디오 데이터들(RGB)과 소스 타이밍 제어신호(DDC)를 공급받는다. 소스 드라이브 IC들은 소스 타이밍 제어신호(DDC)에 응답하여 디지털 비디오 데이터들(RGB)을 감마전압으로 변환하여 데이터전압을 생성하고, 데이터전압을 표시패널(100)의 데이터 라인들(DL)을 통해 공급한다. 소스 드라이브 IC들은 COG(Chip On Glass) 공정이나 TAB(Tape Automated Bonding) 공정에 의해 표시패널(100)의 데이터 라인들(DL)에 접속된다.The data driver 120 includes a plurality of source drive integrated circuits (ICs). The source drive ICs receive the digital video data RGB and the source timing control signal DDC from the timing controller 110. The source drive ICs convert the digital video data RGB into a gamma voltage in response to the source timing control signal DDC to generate a data voltage, and transmit the data voltage through the data lines DL of the display panel 100. Supply. The source drive ICs are connected to the data lines DL of the display panel 100 by a chip on glass (COG) process or a tape automated bonding (TAB) process.

스캔 구동부(130, 140)는 레벨 시프터(130) 및 시프트 레지스터(140)를 포함한다. 스캔 구동부(130, 140)는 레벨 시프터(130)와 시프트 레지스터(140)가 구분되어 형성된 게이트인패널(Gate In Panel; 이하 GIP) 방식으로 형성된다. 레벨 시프터(130)는 레벨 시프터(130)는 IC 형태로 표시패널(100)에 접속되는 외부 기판에 형성된다.The scan driver 130, 140 includes a level shifter 130 and a shift register 140. The scan drivers 130 and 140 are formed by a gate in panel (GIP) method in which the level shifter 130 and the shift register 140 are divided. The level shifter 130 is formed on an external substrate connected to the display panel 100 in the form of an IC.

레벨 시프터(130)는 타이밍 콘트롤러(11)의 제어하에 클럭신호들(clk), 리셋클록신호들(reset_clk) 및 스타트신호(vst)의 레벨을 시프팅한 후 시프트 레지스터(140)에 공급한다. 시프트 레지스터(140)는 GIP 방식에 의해 표시패널(100)의 비표시영역(100B)에 박막 트랜지스터(이하 TFT) 형태로 형성된다. 시프트 레지스터(140)는 클럭신호들(clk), 리셋클록신호들(reset_clk) 및 스타트신호(vst)에 대응하여 스캔 신호를 시프트하고 출력하는 스테이지들로 구성된다. 시프트 레지스터(140)에 포함된 스테이지들은 출력단들을 통해 스캔 신호들을 순차적으로 출력한다.The level shifter 130 shifts the level of the clock signals clk, the reset clock signals reset_clk, and the start signal vst under the control of the timing controller 11, and supplies the shift signal to the shift register 140. The shift register 140 is formed in the form of a thin film transistor (hereinafter, TFT) in the non-display area 100B of the display panel 100 by the GIP method. The shift register 140 includes stages for shifting and outputting a scan signal in response to the clock signals clk, the reset clock signals reset_clk, and the start signal vst. Stages included in the shift register 140 sequentially output scan signals through output terminals.

한편, 시프트 레지스터(140)는 박막 트랜지스터들로 이루어진다. 산화물 박막 트랜지스터는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 전류의 이동 특성이 우수하여 회로의 크기를 축소 설계할 수 있는 장점이 있다. 그러나 산화물 박막 트랜지스터는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 대비 스트레스 바이어스에 따른 문턱전압의 회복 특성이 낮은 단점이 있다. 그 이유는 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터의 경우 시간이 지나도 문턱전압을 일정하게 유지하지만(Clamping Voltage Saturation), 산화물 박막 트랜지스터의 경우 시간이 지남에 따라 문턱전압이 포지티브(+) 방향으로 계속 시프트되기 때문이다(Clamping Voltage Not Saturation).Meanwhile, the shift register 140 is formed of thin film transistors. The oxide thin film transistor has an advantage in that the current can be reduced in size compared to the amorphous silicon thin film transistor, thereby reducing the circuit size. However, the oxide thin film transistor has a disadvantage in that the threshold voltage recovery characteristic due to the stress bias is lower than that of the amorphous silicon thin film transistor. This is because in the case of amorphous silicon thin film transistors, the threshold voltage is kept constant over time (clamping voltage saturation), but in the case of oxide thin film transistors, the threshold voltage is continuously shifted in the positive direction over time. (Clamping Voltage Not Saturation).

본 발명은 GIP 방식으로 내장된 시프트 레지스터(140)의 수명과 신뢰성을 개선하기 위해 포지티브 바이어스 스트레스(Positive Bias Stress)를 많이 받는 풀다운 트랜지스터의 이펙티브 스트레스 타임(Effective Stress Time)을 단축하는 방식을 제안한다. 이 방식에 따르면, 시프트 레지스터(140)를 산화물 박막 트랜지스터들로 구현할 경우 수명과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 그리고 이 방식에 따르면, 산화물 박막 트랜지스터는 물론 아몰포스 실리콘 박막 트랜지스터 등으로도 시프트 레지스터(140)를 구현할 수 있다.The present invention proposes a method of reducing the effective stress time of a pull-down transistor subjected to a positive bias stress in order to improve the lifetime and reliability of the shift register 140 embedded in the GIP method. . According to this method, when the shift register 140 is implemented with oxide thin film transistors, lifespan and reliability may be improved. According to this method, the shift register 140 may be implemented not only as an oxide thin film transistor but also as an amorphous silicon thin film transistor.

이하, 수명과 신뢰성을 개선할 수 있는 GIP 방식의 시프트 레지스터에 대해 설명한다.Hereinafter, the shift register of the GIP method which can improve the lifetime and reliability is demonstrated.

도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 시프트 레지스터의 블록 구성도이고, 도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 제N스테이지의 회로 구성도이며, 5는 도 4에 도시된 제N스테이지의 동작 설명을 위한 일부 구성도이고, 도 6은 도 4에 도시된 제N스테이지의 동작 타이밍도이다.3 is a block diagram of a shift register according to a first embodiment of the present invention, FIG. 4 is a circuit diagram of an N-th stage according to the first embodiment of the present invention, and 5 is an N shown in FIG. FIG. 6 is a configuration diagram for explaining the operation of the stage. FIG. 6 is an operation timing diagram of the N-th stage shown in FIG. 4.

도 3 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 시프트 레지스터에는 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])이 포함된다. 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])에는 4상의 클록신호들(clk1 ~ clk4), 4상의 리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4), 저전위전압 및 스타트신호(vst)가 공급된다.As shown in FIGS. 3 to 6, the shift register according to the first embodiment of the present invention includes a plurality of stages STG [n] to STG [n + 2]. The plurality of stages STG [n] to STG [n + 2] include four-phase clock signals clk1 to clk4, four-phase reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4, a low potential voltage and a start signal vst. Is supplied.

제N스테이지(STG[n])는 스타트신호(vst), 제1클록신호(clk1), 제1리셋클록신호(reset_clk1) 및 제N+2스테이지(STG[n+2])의 출력단자(Gout[n+2])로부터 출력되는 스캔 신호(Vg_out[n+2])를 기반으로 동작한다. 제N스테이지(STG[n])는 자신의 출력단(Gout[n])을 통해 제N스캔 신호(Vg_out[n])를 출력한다.The Nth stage STG [n] is an output terminal of the start signal vst, the first clock signal clk1, the first reset clock signal reset_clk1, and the N + 2th stage STG [n + 2]. It operates based on the scan signal Vg_out [n + 2] output from Gout [n + 2]. The Nth stage STG [n] outputs the Nth scan signal Vg_out [n] through its output terminal Gout [n].

제N+1스테이지(STG[n+1])는 제N스테이지(STG[n])의 출력단자(Gout[n])로부터 출력되는 스캔 신호(Vg_out[n]), 제2클록신호(clk2), 제2리셋클록신호(reset_clk2) 및 제N+3스테이지의 출력단으로부터 출력되는 스캔 신호를 기반으로 동작한다. 제N+1스테이지(STG[n+1])는 자신의 출력단(Gout[n+1])을 통해 제N+1스캔 신호(Vg_out[n+1])를 출력한다.The N + 1th stage STG [n + 1] is the scan signal Vg_out [n] output from the output terminal Gout [n] of the Nth stage STG [n], and the second clock signal clk2. ), The second reset clock signal reset_clk2 and the scan signal output from the output terminal of the N + 3th stage. The N + 1th stage STG [n + 1] outputs the N + 1th scan signal Vg_out [n + 1] through its output terminal Gout [n + 1].

제N+2스테이지(STG[n+2])는 제N+1스테이지(STG[n+1])의 출력단자(Gout[n+1])로부터 출력되는 스캔 신호(Vg_out[n+1]), 제3클록신호(clk3), 제3리셋클록신호(reset_clk3) 및 제N+4스테이지의 출력단자로부터 출력되는 스캔 신호를 기반으로 동작한다. 제N+2스테이지(STG[n+12)는 자신의 출력단(Gout[n+2])을 통해 제N+2스캔 신호(Vg_out[n+2])를 출력한다.The N + 2th stage STG [n + 2] is a scan signal Vg_out [n + 1] output from the output terminal Gout [n + 1] of the N + 1th stage STG [n + 1]. ), The third clock signal clk3, the third reset clock signal reset_clk3, and the scan signal output from the output terminal of the N + 4th stage. The N + 2th stage STG [n + 12] outputs the N + 2th scan signal Vg_out [n + 2] through its output terminal Gout [n + 2].

다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])은 위와 같이 전단의 출력단으로부터 출력되는 스캔 신호를 후단이 이용하도록 종속적으로 접속된다. 예컨대, 제N스테이지(STG[n])의 출력단자(Gout[n])로부터 출력되는 스캔 신호(Vg_out[n])는 제N+1스테이지(STG[n+1])의 스타트신호단자(VST)에 공급된다. 또한, 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])은 위와 같이 자신보다 두 단 후에 위치하는 출력단자로부터 출력되는 스캔 신호를 리셋 신호(Q노드의 리셋 신호)로 이용하도록 접속된다. 예컨대, 제N+2스테이지(STG[n+2])의 출력단자(Gout[n+2])로부터 출력되는 스캔 신호(Vg_out[n+2])는 제N스테이지(STG[n])의 리셋단자(Vnext)에 공급된다.The plurality of stages STG [n] to STG [n + 2] are cascaded so that the rear end uses the scan signal output from the front end as above. For example, the scan signal Vg_out [n] output from the output terminal Gout [n] of the Nth stage STG [n] is the start signal terminal of the N + 1st stage STG [n + 1]. VST). Also, the plurality of stages STG [n] to STG [n + 2] are connected to use a scan signal output from an output terminal positioned two steps later than the stage as a reset signal (reset signal of the Q node). do. For example, the scan signal Vg_out [n + 2] output from the output terminal Gout [n + 2] of the N + 2th stage STG [n + 2] is connected to the Nth stage STG [n]. It is supplied to the reset terminal Vnext.

이하, 제N스테이지(STG[n])를 일례로 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])에 대한 회로의 구성에 대해 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a configuration of a circuit for the plurality of stages STG [n] to STG [n + 2] will be described in detail using the Nth stage STG [n] as an example.

제N스테이지(STG[n])에는 풀업 트랜지스터(Tpu), 풀다운 트랜지스터(Tpd), Q노드 충방전부(T1, T2, T8), QB노드 충방전부(T3, T4, T5), 제1커패시터(C1) 및 제2커패시터(C2)가 포함된다.The N-th stage STG [n] includes a pull-up transistor Tpu, a pull-down transistor Tpd, Q node charge / discharge units T1, T2, and T8, QB node charge and discharge units T3, T4, and T5, and a first capacitor. C1) and the second capacitor C2 are included.

먼저, 풀업 트랜지스터(Tpu), 풀다운 트랜지스터(Tpd), Q노드 충방전부(T1, T2, T8), QB노드 충방전부(T3, T4, T5), 제1커패시터(C1) 및 제2커패시터(C2)의 역할 및 이들 간의 접속 관계를 설명하면 다음과 같다.First, the pull-up transistor Tpu, the pull-down transistor Tpd, the Q node charge / discharge units T1, T2, and T8, the QB node charge and discharge units T3, T4, and T5, the first capacitor C1, and the second capacitor C2. ) And the connection relationship between them are as follows.

풀업 트랜지스터(Tpu)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 출력한다. 이하, 설명의 편의를 위해 제N클록신호를 제1클록신호(clk1)로 정의한다. 그러나 클록신호의 경우 스테이지의 위치에 따라 다른 신호(예컨대 제2클록신호, 제3클록신호 등)가 선택되어 입력될 수 있음을 참고한다. 풀업 트랜지스터(Tpu)는 Q노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 제1클록신호(clk1)를 공급하는 제1클록신호단자(CLK[n])에 제1전극이 연결되며 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 제2전극이 연결된다.The pull-up transistor Tpu outputs the Nth clock signal to the output terminal Gout [n] of the Nth stage in response to the potential of the Q node Q. Hereinafter, for convenience of description, the Nth clock signal is defined as a first clock signal clk1. However, in the case of the clock signal, another signal (eg, the second clock signal, the third clock signal, etc.) may be selected and input according to the position of the stage. In the pull-up transistor Tpu, a gate electrode is connected to the Q node Q, and a first electrode is connected to the first clock signal terminal CLK [n] for supplying the first clock signal clk1. The second electrode is connected to the terminal Gout [n].

풀다운 트랜지스터(Tpd)는 QB노드(QB)의 전위에 대응하여 저전위전압을 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 출력한다. 풀다운 트랜지스터(Tpd)는 QB노드(QB)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압을 공급하는 저전위전압단자(VGL)(또는 VSS)에 제1전극이 연결되며 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 제2전극이 연결된다.The pull-down transistor Tpd outputs a low potential voltage to the output terminal Gout [n] of the Nth stage in response to the potential of the QB node QB. The pull-down transistor Tpd has a gate electrode connected to the QB node QB, a first electrode connected to a low potential voltage terminal VGL (or VSS) for supplying a low potential voltage, and an output terminal Gout [of the Nth stage. n]) is connected to the second electrode.

Q노드 충방전부(T1, T2, T8)는 스타트신호(vst) 또는 전단인 제N-1스테이지의 출력단자(Gout[n-1])의 전위에 대응하여 Q노드(Q)를 충전하거나 방전한다. Q노드 충방전부(T1, T2, T8)는 제1트랜지스터(T1), 제2트랜지스터(T2) 및 Q노드 방전 트랜지스터(T8)를 포함한다.The Q node charging / discharging portions T1, T2, and T8 charge or discharge the Q node Q in response to the potential of the start signal vst or the output terminal Gout [n-1] of the N-1 stage, which is the front end. do. The Q node charging and discharging parts T1, T2, and T8 include a first transistor T1, a second transistor T2, and a Q node discharge transistor T8.

제1트랜지스터(T1)는 스타트신호(vst) 또는 제N-1스테이지의 출력단자(Gout[n-1])의 전위에 대응하여 턴온되고 Q노드(Q)를 충전시킨다. 이하, 설명의 편의를 위해 제1트랜지스터(T1)는 스타트신호(vst)의 전위를 따르는 것을 일례로 한다. 그러나 제1트랜지스터(T1)의 경우 스테이지의 위치에 따라 스타트신호를 직접 받거나 전단(또는 2단 전)의 스테이지의 출력단으로부터 스타트신호에 대응되는 신호를 공급받을 수 있음을 참고한다. 제1트랜지스터(T1)는 제N-1스테이지의 출력단(Gout[n-1])에 게이트전극과 제1전극이 공통으로 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다.The first transistor T1 is turned on in response to the start signal vst or the potential of the output terminal Gout [n-1] of the N-th stage, and charges the Q node Q. Hereinafter, for convenience of description, the first transistor T1 follows an electric potential of the start signal vst. However, in the case of the first transistor T1, the start signal may be directly received or a signal corresponding to the start signal may be supplied from the output terminal of the stage (or two stages before) according to the position of the stage. In the first transistor T1, the gate electrode and the first electrode are commonly connected to the output terminal Gout [n-1] of the N-1 stage, and the second electrode is connected to the Q node Q.

제2트랜지스터(T2)는 QB노드(QB)의 전위에 대응하여 턴온되고 Q노드(Q)를 저전위전압으로 방전시킨다. 제2트랜지스터(T2)는 QB노드(QB)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압을 공급하는 저전위전압단자(VGL)에 제1전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다.The second transistor T2 is turned on in response to the potential of the QB node QB and discharges the Q node Q to a low potential voltage. In the second transistor T2, a gate electrode is connected to the QB node QB, a first electrode is connected to the low potential voltage terminal VGL supplying a low potential voltage, and a second electrode is connected to the Q node Q. .

Q노드 방전 트랜지스터(T8)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[n+2])의 전위에 대응하여 턴온되고 Q노드(Q)를 저전위전압으로 방전시킨다. Q노드 방전 트랜지스터(T8)는 Q노드(Q)의 방전 레벨을 저전위전압으로 유지하는 역할을 한다. Q노드 방전 트랜지스터(T8)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[n+2])에 게이트전극이 연결되고 저전위전압을 공급하는 저전위전압단자(VGL)에 제1전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다.The Q node discharge transistor T8 is turned on in response to the potential of the output terminal Gout [n + 2] of the N + 2th stage and discharges the Q node Q to a low potential voltage. The Q node discharge transistor T8 maintains the discharge level of the Q node Q at a low potential voltage. In the Q-node discharge transistor T8, a gate electrode is connected to the output terminal Gout [n + 2] of the N + 2th stage, and a first electrode is connected to the low potential voltage terminal VGL supplying a low potential voltage. The second electrode is connected to the Q node Q.

QB노드 충방전부(T3, T4, T5)는 제1리셋클록신호(clk1)에 대응하여 QB노드(QB)를 충전시키거나 QB노드(QB)를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하며 방전한다. QB노드 충방전부(T3, T4, T5)는 미러형 트랜지스터(T3, T4) 및 QB노드 방전 트랜지스터(T5)를 포함한다.The QB node charging and discharging units T3, T4, and T5 charge the QB node QB in response to the first reset clock signal clk1 or discharge the QB node QB at a voltage between logic high and logic low. do. The QB node charge and discharge portions T3, T4, and T5 include mirror transistors T3 and T4 and QB node discharge transistors T5.

미러형 트랜지스터(T3, T4)는 적어도 하나가 제N리셋클록신호에 대응하여 QB노드(QB)를 충전시키거나 QB노드(QB)를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지한다. 이하, 설명의 편의를 위해 제N리셋클록신호를 제1리셋클록신호(reset_clk1)로 정의한다. 그러나 리셋클록신호의 경우 스테이지의 위치에 따라 다른 신호(예컨대 제2리셋클록신호, 제3리셋클록신호 등)가 선택되어 입력될 수 있음을 참고한다.At least one of the mirror transistors T3 and T4 charges the QB node QB in response to the N-th reset clock signal or maintains the QB node QB at a voltage between logic high and logic low. Hereinafter, for convenience of description, the N-th reset clock signal is defined as a first reset clock signal reset_clk1. However, in the case of the reset clock signal, other signals (eg, the second reset clock signal, the third reset clock signal, etc.) may be selected and input according to the position of the stage.

미러형 트랜지스터(T3, T4)는 제1측 트랜지스터(T3)와 제2측 트랜지스터(T4)를 포함한다. 제1측 트랜지스터(T3)는 제1리셋클록신호(reset_clk1)가 공급되는 제1리셋클록신호단자(Reset_CLK1)에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 QB노드(QB)에 제2전극이 연결된다. 제2측 트랜지스터(T4)는 QB노드(QB)에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 제1리셋클록신호단자(Reset_CLK1)에 제2전극이 연결된다.The mirror transistors T3 and T4 include a first side transistor T3 and a second side transistor T4. In the first transistor T3, the gate electrode and the first electrode are connected to the first reset clock signal terminal Reset_CLK1 to which the first reset clock signal reset_clk1 is supplied, and the second electrode is connected to the QB node QB. . In the second transistor T4, a gate electrode and a first electrode are connected to the QB node QB, and a second electrode is connected to the first reset clock signal terminal Reset_CLK1.

QB노드 방전 트랜지스터(T5)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 턴온되고 QB노드(QB)를 저전위전압으로 방전시킨다. QB노드 방전 트랜지스터(T5)는 QB노드(QB)의 방전 레벨을 저전위전압으로 유지하는 역할을 한다.The QB node discharge transistor T5 is turned on in response to the potential of the Q node Q and discharges the QB node QB to a low potential voltage. The QB node discharge transistor T5 serves to maintain the discharge level of the QB node QB at a low potential voltage.

제1커패시터(C1)는 Q노드(Q)가 전기적으로 플로팅(floating)될 시, 노드의 전압을 로직 로우의 전압으로 홀딩하는 역할을 한다. 제1커패시터(C1)는 Q노드(Q)에 일단이 연결되고 저전위전압단자(VGL)에 타단이 연결된다. 제2커패시터(C2)는 QB노드(QB)가 전기적으로 플로팅(floating)될 시, 노드의 전압을 로직 로우의 전압으로 홀딩하는 역할을 한다. 제2커패시터(C2)는 QB노드(QB)에 일단이 연결되고 저전위전압단자(VGL)에 타단이 연결된다.When the Q node Q is electrically floating, the first capacitor C1 holds a voltage of a node as a logic low voltage. One end of the first capacitor C1 is connected to the Q node Q and the other end thereof is connected to the low potential voltage terminal VGL. When the QB node QB is electrically floating, the second capacitor C2 holds a voltage of the node as a logic low voltage. One end of the second capacitor C2 is connected to the QB node QB and the other end of the second capacitor C2 is connected to the low potential voltage terminal VGL.

한편, 위의 설명에서는 시프트 레지스터가 N타입 트랜지스터로 구성된 것을 일례로 하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 그리고 위의 설명에서는 N타입 트랜지스터의 드레인전극 및 소오스전극을 제1전극 및 제2전극으로 설명하였으나 이는 제2전극 및 제1전극으로 바뀔 수도 있다.Meanwhile, in the above description, the shift register is configured as an N-type transistor, but the present invention is not limited thereto. In the above description, the drain electrode and the source electrode of the N-type transistor have been described as the first electrode and the second electrode, which may be replaced with the second electrode and the first electrode.

다음, 클록신호들 및 리셋클록신호들의 체계를 설명하면 다음과 같다.Next, a scheme of clock signals and reset clock signals will be described.

4상의 클록신호들(clk1 ~ clk4)의 체계를 보면 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)은 순차적으로 로직 하이 상태에서 로직 로우 상태로 전환되도록 형성된다. 이때, 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)은 상호 비중첩하는 구간을 갖도록 형성된다.Looking at the system of the four-phase clock signals clk1 to clk4, the first to fourth clock signals clk1 to clk4 are sequentially formed to switch from a logic high state to a logic low state. In this case, the first to fourth clock signals clk1 to clk4 are formed to have non-overlapping sections.

4상의 리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 체계를 보면 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)은 순차적으로 로직 하이 상태에서 로직 로우 상태로 전환되도록 형성된다. 이때, 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)은 로직 하이 상태의 신호가 비중첩하는 구간을 가지며 서로 이격되도록 형성된다. 아울러, 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 로직 하이 구간은 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)의 로직 하이 구간보다 앞서도록 형성된다. 즉, 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 라이징 엣지는 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)의 라이징 엣지보다 앞서도록 형성된다. 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 라이징 엣지를 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)의 라이징 엣지의 전에 형성하는 이유는 이들 간의 커플링을 최소화함과 더불어 소비전력을 낮추기 위함이다.Looking at the scheme of the four-phase reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4, the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 are sequentially formed to switch from a logic high state to a logic low state. In this case, the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 have a non-overlapping section of the logic high state and are spaced apart from each other. In addition, the logic high section of the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 is formed to precede the logic high section of the first to fourth clock signals clk1 to clk4. That is, the rising edges of the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 are formed to precede the rising edges of the first to fourth clock signals clk1 to clk4. The reason why the rising edges of the first to fourth reset signals (reset_clk1 to reset_clk4) are formed before the rising edges of the first to fourth clock signals (clk1 to clk4) is minimized and the coupling between them is consumed. This is to lower the power.

이하, 제N스테이지의 동작 특성에 대해 설명한다.Hereinafter, the operating characteristics of the Nth stage will be described.

Q노드(Q)는 로직 하이(H)에 해당하는 스타트신호(vst)의 전위에 대응하여 충전되고, 로직 로우(L)에 해당하는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[+2])에 대응하여 방전된다. Q노드(Q)가 충전된 상태일 때에는 제1클록신호(clk1)의 로직 하이(H)에 해당하는 스캔 신호가 출력되는 반면, Q노드(Q)가 방전된 상태일 때에는 저전위전압의 로직 로우(L)에 해당하는 스캔 신호가 출력된다.The Q node Q is charged in response to the potential of the start signal vst corresponding to the logic high H, and the output terminal Gout [+2] of the N + 2th stage corresponding to the logic low L is charged. Corresponding to the discharge. When the Q node Q is in a charged state, a scan signal corresponding to the logic high H of the first clock signal clk1 is output. When the Q node Q is in a discharged state, a logic having a low potential voltage is output. The scan signal corresponding to the row L is output.

구체적으로 설명하면, Q노드(Q)는 로직 하이(H)에 해당하는 스타트신호(vst)의 전위에 대응하여 제1트랜지스터(T1)가 턴온됨에 따라 충전된다. 이때, QB노드(QB)는 로직 하이(H)의 제1리셋클록신호(reset_clk1)의 전위에 대응하여 제1 및 제2측 트랜지스터(T3, T4)가 일시적으로 턴온됨에 따라 잠시 충전된다(도 6의 (1)부분 참조). 그러나 QB노드 방전 트랜지스터(T5)의 Vgs1(도 5 참조)이 제2측 트랜지스터(T4)의 Vgs2(도 5 참조) 보다 증가하게 되므로 풀다운 트랜지스터(Tpd)는 턴온되지 않고 리셋된다.Specifically, the Q node Q is charged as the first transistor T1 is turned on in response to the potential of the start signal vst corresponding to the logic high H. At this time, the QB node QB is temporarily charged as the first and second side transistors T3 and T4 are temporarily turned on in response to the potential of the first reset clock signal reset_clk1 of logic high H (FIG. See (1) of 6). However, since Vgs1 (see FIG. 5) of the QB node discharge transistor T5 is increased than Vgs2 (see FIG. 5) of the second side transistor T4, the pull-down transistor Tpd is reset without turning on.

미러형 트랜지스터(T3, T4)가 위와 같이 동작할 수 있는 최적의 조건을 구성하기 위해, QB노드 방전 트랜지스터(T5)의 채널의 폭을 제1측 트랜지스터(T3)의 채널의 폭보다 크게 하는 것이 좋다.In order to configure the optimum conditions under which the mirror transistors T3 and T4 can operate as described above, it is preferable to make the width of the channel of the QB node discharge transistor T5 larger than the width of the channel of the first side transistor T3. good.

Q노드(Q)가 충전됨에 따라 풀다운 트랜지스터(Tpu)는 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])를 통해 로직 하이(H)의 제1클록신호(clk1)를 출력한다. 로직 하이(H)의 제1클록신호(clk1)가 출력된 이후 Q노드(Q)는 제1커패시터(C1)에 의해 방전된다.As the Q node Q is charged, the pull-down transistor Tpu outputs the first clock signal clk1 of logic high H through the output terminal Gout [n] of the Nth stage. After the first clock signal clk1 of logic high H is output, the Q node Q is discharged by the first capacitor C1.

이후 로직 로우(L)에 해당하는 스타트신호(vst)의 전위에 대응하여 제1트랜지스터(T1)는 턴오프되고, 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[n+2])의 전위에 대응하여 Q노드 방전 트랜지스터(T8)가 턴온됨에 따라 Q노드(Q)는 방전된다. 로직 하이(H)에 해당하는 제1리셋클록신호(reset_clk1)의 전위에 대응하여 턴온된 제2측 트랜지스터(T4)를 통해 QB노드(QB)는 리셋된다. 이때, QB노드(QB)는 제2측 트랜지스터(T4)의 문턱전압(Vth)에 해당하는 전압으로 유지된다(도 6의 (2)부분 참조).Thereafter, the first transistor T1 is turned off in response to the potential of the start signal vst corresponding to the logic low L, and corresponds to the potential of the output terminal Gout [n + 2] of the N + 2th stage. As the Q node discharge transistor T8 is turned on, the Q node Q is discharged. The QB node QB is reset through the second side transistor T4 turned on in response to the potential of the first reset clock signal reset_clk1 corresponding to the logic high H. At this time, the QB node QB is maintained at a voltage corresponding to the threshold voltage Vth of the second side transistor T4 (see (2) in FIG. 6).

이 구간 동안 제2측 트랜지스터(T4) 및 풀다운 트랜지스터(Tpd)의 게이트전극에 가해지는 스트레스(Effective Stress)는 유사하게 되므로 이들의 문턱전압 시프트(Vth Shift) 정도는 유사한 수준이 될 것이다. 이에 따라, 제2측 트랜지스터(T4)의 문턱전압이 포지티브 방향으로 시프트되면 QB노드(QB)에 인가되는 전압의 레벨은 이에 대응하여 증가하게 된다. 즉, QB노드(QB)는 제2측 트랜지스터(T4)의 문턱전압에 대응되는 전압을 인가받게 된다.During this period, the stresses applied to the gate electrodes of the second side transistor T4 and the pull-down transistor Tpd become similar, and thus, their threshold voltage shifts will be similar. Accordingly, when the threshold voltage of the second side transistor T4 is shifted in the positive direction, the level of the voltage applied to the QB node QB increases correspondingly. That is, the QB node QB receives a voltage corresponding to the threshold voltage of the second side transistor T4.

통상 QB노드(QB)는 로직 로우(L)의 스캔 신호를 출력한 이후 로직 하이(H)가 지속적으로 인가됨에 따라 포지티브 바이어스 스트레스(Positive Bias Stress)를 받는다. 그러나, 본 발명과 같이 구성된 미러형 트랜지스터(T3, T4)와 QB노드 방전 트랜지스터(T5)를 적용하면, 로직 로우(L)의 스캔 신호를 출력한 이후 제2측 트랜지스터(T4)의 문턱전압(Vth)에 해당하는 전압으로 QB노드(QB)의 전압이 유지되므로 포지티브 바이어스 스트레스를 감소시킬 수 있게 된다.Typically, the QB node QB receives a positive bias stress as the logic high H is continuously applied after the scan signal of the logic low L is output. However, when the mirror type transistors T3 and T4 and the QB node discharge transistor T5 configured as in the present invention are applied, the threshold voltage of the second side transistor T4 after the scan signal of the logic low L is output. Since the voltage of the QB node QB is maintained at the voltage corresponding to Vth), it is possible to reduce the positive bias stress.

<제2실시예>Second Embodiment

도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 제N스테이지의 회로 구성도이며, 8은 도 7에 도시된 제N스테이지의 동작 설명을 위한 일부 구성도이고, 도 9는 도 7에 도시된 제N스테이지의 동작 타이밍도이다.7 is a circuit diagram of the N-th stage according to the second embodiment of the present invention, 8 is a partial configuration diagram for explaining the operation of the N-th stage shown in FIG. The operation timing diagram of the N stage.

도 3, 도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 시프트 레지스터 또한 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])이 포함된다. 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])에는 4상의 클록신호들(clk1 ~ clk4), 4상의 리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4), 저전위전압 및 스타트신호(vst)가 공급된다.3, 7 to 9, the shift register according to the second embodiment of the present invention also includes a plurality of stages STG [n] to STG [n + 2]. The plurality of stages STG [n] to STG [n + 2] include four-phase clock signals clk1 to clk4, four-phase reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4, a low potential voltage and a start signal vst. Is supplied.

본 발명의 제2실시예에 따른 시프트 레지스터 또한 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2]) 또한 제1실시예와 동일하게 종속적인 접속 관계를 가지므로 이에 대한 설명은 생략하고, 제N스테이지(STG[n])를 일례로 다수의 스테이지들(STG[n] ~ STG[n+2])에 대한 회로의 구성에 대해 구체적으로 설명한다.Since the shift register according to the second embodiment of the present invention also has a plurality of stages (STG [n] to STG [n + 2]) also have a dependent connection relationship as in the first embodiment, description thereof will be omitted. The configuration of a circuit for the plurality of stages STG [n] to STG [n + 2] will be described in detail with the example of the Nth stage STG [n].

제N스테이지(STG[n])에는 풀업 트랜지스터(Tpu), 풀다운 트랜지스터(Tpd), Q노드 충방전부(T1, T2, T8), QB노드 충방전부(T3, T4, T5), 제1커패시터(C1) 및 제2커패시터(C2)가 포함된다.The N-th stage STG [n] includes a pull-up transistor Tpu, a pull-down transistor Tpd, Q node charge / discharge units T1, T2, and T8, QB node charge and discharge units T3, T4, and T5, and a first capacitor. C1) and the second capacitor C2 are included.

먼저, 풀업 트랜지스터(Tpu), 풀다운 트랜지스터(Tpd), Q노드 충방전부(T1, T2, T8), QB노드 충방전부(T3, T4, T5), 제1커패시터(C1) 및 제2커패시터(C2)의 역할 및 이들 간의 접속 관계를 설명하면 다음과 같다.First, the pull-up transistor Tpu, the pull-down transistor Tpd, the Q node charge / discharge units T1, T2, and T8, the QB node charge and discharge units T3, T4, and T5, the first capacitor C1, and the second capacitor C2. ) And the connection relationship between them are as follows.

풀업 트랜지스터(Tpu)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 제N클록신호를 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 출력한다. 이하, 설명의 편의를 위해 제N클록신호를 제1클록신호(clk1)로 정의한다. 그러나 클록신호의 경우 스테이지의 위치에 따라 다른 신호(예컨대 제2클록신호, 제3클록신호 등)가 선택되어 입력될 수 있음을 참고한다. 풀업 트랜지스터(Tpu)는 Q노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 제1클록신호(clk1)를 공급하는 제1클록신호단자(CLK[n])에 제1전극이 연결되며 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 제2전극이 연결된다.The pull-up transistor Tpu outputs the Nth clock signal to the output terminal Gout [n] of the Nth stage in response to the potential of the Q node Q. Hereinafter, for convenience of description, the Nth clock signal is defined as a first clock signal clk1. However, in the case of the clock signal, another signal (eg, the second clock signal, the third clock signal, etc.) may be selected and input according to the position of the stage. In the pull-up transistor Tpu, a gate electrode is connected to the Q node Q, and a first electrode is connected to the first clock signal terminal CLK [n] for supplying the first clock signal clk1. The second electrode is connected to the terminal Gout [n].

풀다운 트랜지스터(Tpd)는 QB노드(QB)의 전위에 대응하여 저전위전압을 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 출력한다. 풀다운 트랜지스터(Tpd)는 QB노드(QB)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압을 공급하는 저전위전압단자(VGL)(또는 VSS)에 제1전극이 연결되며 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])에 제2전극이 연결된다.The pull-down transistor Tpd outputs a low potential voltage to the output terminal Gout [n] of the Nth stage in response to the potential of the QB node QB. The pull-down transistor Tpd has a gate electrode connected to the QB node QB, a first electrode connected to a low potential voltage terminal VGL (or VSS) for supplying a low potential voltage, and an output terminal Gout [of the Nth stage. n]) is connected to the second electrode.

Q노드 충방전부(T1, T2, T8)는 스타트신호(vst) 또는 전단인 제N-1스테이지의 출력단자(Gout[n-1])의 전위에 대응하여 Q노드(Q)를 충전하거나 방전한다. Q노드 충방전부(T1, T2, T8)는 제1트랜지스터(T1), 제2트랜지스터(T2) 및 Q노드 방전 트랜지스터(T8)를 포함한다.The Q node charging / discharging portions T1, T2, and T8 charge or discharge the Q node Q in response to the potential of the start signal vst or the output terminal Gout [n-1] of the N-1 stage, which is the front end. do. The Q node charging and discharging parts T1, T2, and T8 include a first transistor T1, a second transistor T2, and a Q node discharge transistor T8.

제1트랜지스터(T1)는 스타트신호(vst) 또는 제N-1스테이지의 출력단자(Gout[n-1])의 전위에 대응하여 턴온되고 Q노드(Q)를 충전시킨다. 이하, 설명의 편의를 위해 제1트랜지스터(T1)는 스타트신호(vst)의 전위를 따르는 것을 일례로 한다. 그러나 제1트랜지스터(T1)의 경우 스테이지의 위치에 따라 스타트신호를 직접 받거나 전단(또는 2단 전)의 스테이지의 출력단으로부터 스타트신호에 대응되는 신호를 공급받을 수 있음을 참고한다. 제1트랜지스터(T1)는 제N-1스테이지의 출력단(Gout[n-1])에 게이트전극과 제1전극이 공통으로 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다.The first transistor T1 is turned on in response to the start signal vst or the potential of the output terminal Gout [n-1] of the N-th stage, and charges the Q node Q. Hereinafter, for convenience of description, the first transistor T1 follows an electric potential of the start signal vst. However, in the case of the first transistor T1, the start signal may be directly received or a signal corresponding to the start signal may be supplied from the output terminal of the stage (or two stages before) according to the position of the stage. In the first transistor T1, the gate electrode and the first electrode are commonly connected to the output terminal Gout [n-1] of the N-1 stage, and the second electrode is connected to the Q node Q.

제2트랜지스터(T2)는 QB노드(QB)의 전위에 대응하여 턴온되고 Q노드(Q)를 저전위전압으로 방전시킨다. 제2트랜지스터(T2)는 QB노드(QB)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압을 공급하는 저전위전압단자(VGL)에 제1전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다.The second transistor T2 is turned on in response to the potential of the QB node QB and discharges the Q node Q to a low potential voltage. In the second transistor T2, a gate electrode is connected to the QB node QB, a first electrode is connected to the low potential voltage terminal VGL supplying a low potential voltage, and a second electrode is connected to the Q node Q. .

Q노드 방전 트랜지스터(T8)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[n+2])의 전위에 대응하여 턴온되고 Q노드(Q)를 저전위전압으로 방전시킨다. Q노드 방전 트랜지스터(T8)는 Q노드(Q)의 방전 레벨을 저전위전압으로 유지하는 역할을 한다. Q노드 방전 트랜지스터(T8)는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[n+2])에 게이트전극이 연결되고 저전위전압을 공급하는 저전위전압단자(VGL)에 제1전극이 연결되고 Q노드(Q)에 제2전극이 연결된다.The Q node discharge transistor T8 is turned on in response to the potential of the output terminal Gout [n + 2] of the N + 2th stage and discharges the Q node Q to a low potential voltage. The Q node discharge transistor T8 maintains the discharge level of the Q node Q at a low potential voltage. In the Q-node discharge transistor T8, a gate electrode is connected to the output terminal Gout [n + 2] of the N + 2th stage, and a first electrode is connected to the low potential voltage terminal VGL supplying a low potential voltage. The second electrode is connected to the Q node Q.

QB노드 충방전부(T3, T4, T5)는 제1리셋클록신호(clk1)에 대응하여 QB노드(QB)를 충전시키거나 QB노드(QB)를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하며 방전한다. QB노드 충방전부(T3, T4, T5)는 미러형 트랜지스터(T3, T4-1, T4-2) 및 QB노드 방전 트랜지스터(T5)를 포함한다.The QB node charging and discharging units T3, T4, and T5 charge the QB node QB in response to the first reset clock signal clk1 or discharge the QB node QB at a voltage between logic high and logic low. do. The QB node charge / discharge units T3, T4, and T5 include mirror transistors T3, T4-1, and T4-2, and a QB node discharge transistor T5.

미러형 트랜지스터(T3, T4-1, T4-2)는 적어도 하나가 제N리셋클록신호에 대응하여 QB노드(QB)를 충전시키거나 QB노드(QB)를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지한다. 이하, 설명의 편의를 위해 제N리셋클록신호를 제1리셋클록신호(reset_clk1)로 정의한다. 그러나 리셋클록신호의 경우 스테이지의 위치에 따라 다른 신호(예컨대 제2리셋클록신호, 제3리셋클록신호 등)가 선택되어 입력될 수 있음을 참고한다.At least one of the mirror transistors T3, T4-1, and T4-2 charges the QB node QB in response to the Nth reset clock signal, or sets the QB node QB to a voltage between logic high and logic low. Keep it. Hereinafter, for convenience of description, the N-th reset clock signal is defined as a first reset clock signal reset_clk1. However, in the case of the reset clock signal, other signals (eg, the second reset clock signal, the third reset clock signal, etc.) may be selected and input according to the position of the stage.

미러형 트랜지스터(T3, T4-1, T4-2)는 제1측 트랜지스터(T3), 제2-1측 트랜지스터(T4-1) 및 제2-2측 트랜지스터(T4-2)를 포함한다. 제1측 트랜지스터(T3)는 제1리셋클록신호(reset_clk1)가 공급되는 제1리셋클록신호단자(Reset_CLK1)에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 QB노드(QB)에 제2전극이 연결된다. 제2-1측 트랜지스터(T4-1)는 QB노드(QB)에 게이트전극과 제1전극이 연결된다. 제2-2측 트랜지스터(T4-2)는 제2-1측 트랜지스터(T4-1)의 제2전극에 제1전극과 게이트전극이 연결되고 제1리셋클록신호단자(Reset_CLK1)에 제2전극이 연결된다.The mirror transistors T3, T4-1, and T4-2 include a first side transistor T3, a second-first transistor T4-1, and a second-second transistor T4-2. In the first transistor T3, the gate electrode and the first electrode are connected to the first reset clock signal terminal Reset_CLK1 to which the first reset clock signal reset_clk1 is supplied, and the second electrode is connected to the QB node QB. . In the second-first transistor T4-1, a gate electrode and a first electrode are connected to the QB node QB. In the second-to-second transistor T4-2, the first electrode and the gate electrode are connected to the second electrode of the second-first transistor T4-1, and the second electrode to the first reset clock signal terminal Reset_CLK1. This is connected.

본 발명의 제2실시예에서는 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)가 두 개의 트랜지스터로 구성된 것을 일례로 하였다. 그러나, 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)는 QB노드(QB)에 인가되는 전압을 높이기 위해 N개(N은 2 이상 정수)로 구성될 수도 있다. 즉, QB노드(QB)에 인가되는 전압은 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)의 개수가 증가하면 증가하게 되고 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)의 개수가 감소하면 감소하게 된다. 이와 같이, QB노드(QB)에 인가되는 전압은 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)의 개수를 변경하는 방법으로 조절될 수 있는데, 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)의 개수는 QB노드(QB)가 받는 포지티브 바이어스 스트레스에 대응하여 설정될 수 있음을 의미한다. 예컨대, 본 발명의 제2실시예와 같이 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)가 두 개로 구성된 경우, QB노드(QB)는 제2측트랜지스터(T4-1, T4-2)의 문턱전압(예: 2*Vth)에 대응되는 전압이 걸리게 된다.In the second embodiment of the present invention, it is assumed that the second side transistors T4-1 and T4-2 are composed of two transistors. However, the second side transistors T4-1 and T4-2 may be configured with N (N is an integer of 2 or more) to increase the voltage applied to the QB node QB. That is, the voltage applied to the QB node QB increases when the number of second side transistors T4-1 and T4-2 increases, and the number of second side transistors T4-1 and T4-2 decreases. Will decrease. As such, the voltage applied to the QB node QB may be adjusted by changing the number of the second side transistors T4-1 and T4-2, and the second side transistors T4-1 and T4-2. ) May be set in response to the positive bias stress received by the QB node QB. For example, as in the second embodiment of the present invention, when the second side transistors T4-1 and T4-2 are configured with two, the QB node QB is connected to the second side transistors T4-1 and T4-2. The voltage corresponding to the threshold voltage (eg 2 * Vth) is applied.

QB노드 방전 트랜지스터(T5)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 턴온되고 QB노드(QB)를 저전위전압으로 방전시킨다. QB노드 방전 트랜지스터(T5)는 QB노드(QB)의 방전 레벨을 저전위전압으로 유지하는 역할을 한다.The QB node discharge transistor T5 is turned on in response to the potential of the Q node Q and discharges the QB node QB to a low potential voltage. The QB node discharge transistor T5 serves to maintain the discharge level of the QB node QB at a low potential voltage.

제1커패시터(C1)는 Q노드(Q)가 전기적으로 플로팅(floating)될 시, 노드의 전압을 로직 로우의 전압으로 홀딩하는 역할을 한다. 제1커패시터(C1)는 Q노드(Q)에 일단이 연결되고 저전위전압단자(VGL)에 타단이 연결된다. 제2커패시터(C2)는 QB노드(QB)가 전기적으로 플로팅(floating)될 시, 노드의 전압을 로직 로우의 전압으로 홀딩하는 역할을 한다. 제2커패시터(C2)는 QB노드(QB)에 일단이 연결되고 저전위전압단자(VGL)에 타단이 연결된다.When the Q node Q is electrically floating, the first capacitor C1 holds a voltage of a node as a logic low voltage. One end of the first capacitor C1 is connected to the Q node Q and the other end thereof is connected to the low potential voltage terminal VGL. When the QB node QB is electrically floating, the second capacitor C2 holds a voltage of the node as a logic low voltage. One end of the second capacitor C2 is connected to the QB node QB and the other end of the second capacitor C2 is connected to the low potential voltage terminal VGL.

한편, 위의 설명에서는 시프트 레지스터가 N타입 트랜지스터로 구성된 것을 일례로 하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 그리고 위의 설명에서는 N타입 트랜지스터의 드레인전극 및 소오스전극을 제1전극 및 제2전극으로 설명하였으나 이는 제2전극 및 제1전극으로 바뀔 수도 있다.Meanwhile, in the above description, the shift register is configured as an N-type transistor, but the present invention is not limited thereto. In the above description, the drain electrode and the source electrode of the N-type transistor have been described as the first electrode and the second electrode, which may be replaced with the second electrode and the first electrode.

다음, 클록신호들 및 리셋클록신호들의 체계를 설명하면 다음과 같다.Next, a scheme of clock signals and reset clock signals will be described.

4상의 클록신호들(clk1 ~ clk4)의 체계를 보면 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)은 순차적으로 로직 하이 상태에서 로직 로우 상태로 전환되도록 형성된다. 이때, 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)은 상호 비중첩하는 구간을 갖도록 형성된다.Looking at the system of the four-phase clock signals clk1 to clk4, the first to fourth clock signals clk1 to clk4 are sequentially formed to switch from a logic high state to a logic low state. In this case, the first to fourth clock signals clk1 to clk4 are formed to have non-overlapping sections.

4상의 리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 체계를 보면 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)은 순차적으로 로직 하이 상태에서 로직 로우 상태로 전환되도록 형성된다. 이때, 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)은 로직 하이 상태의 신호가 비중첩하는 구간을 가지며 서로 이격되도록 형성된다. 아울러, 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 로직 하이 구간은 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)의 로직 하이 구간보다 앞서도록 형성된다. 즉, 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 라이징 엣지는 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)의 라이징 엣지보다 앞서도록 형성된다. 제1 내지 제4리셋클록신호들(reset_clk1 ~ reset_clk4)의 라이징 엣지를 제1 내지 제4클록신호들(clk1 ~ clk4)의 라이징 엣지의 전에 형성하는 이유는 이들 간의 커플링을 최소화함과 더불어 소비전력을 낮추기 위함이다.Looking at the scheme of the reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 of the four phases, the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 are sequentially formed to switch from a logic high state to a logic low state. In this case, the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 have a non-overlapping section of the logic high state and are spaced apart from each other. In addition, the logic high period of the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 is formed to precede the logic high period of the first to fourth clock signals clk1 to clk4. That is, the rising edges of the first to fourth reset clock signals reset_clk1 to reset_clk4 are formed to precede the rising edges of the first to fourth clock signals clk1 to clk4. The reason why the rising edges of the first to fourth reset signals (reset_clk1 to reset_clk4) are formed before the rising edges of the first to fourth clock signals (clk1 to clk4) is to minimize coupling and consume them. This is to lower the power.

이하, 제N스테이지의 동작 특성에 대해 설명한다.Hereinafter, the operating characteristics of the Nth stage will be described.

Q노드(Q)는 로직 하이(H)에 해당하는 스타트신호(vst)의 전위에 대응하여 충전되고, 로직 로우(L)에 해당하는 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[+2])에 대응하여 방전된다. Q노드(Q)가 충전된 상태일 때에는 제1클록신호(clk1)의 로직 하이(H)에 해당하는 스캔 신호가 출력되는 반면, Q노드(Q)가 방전된 상태일 때에는 저전위전압의 로직 로우(L)에 해당하는 스캔 신호가 출력된다.The Q node Q is charged in response to the potential of the start signal vst corresponding to the logic high H, and the output terminal Gout [+2] of the N + 2th stage corresponding to the logic low L is charged. Corresponding to the discharge. When the Q node Q is in a charged state, a scan signal corresponding to the logic high H of the first clock signal clk1 is output. When the Q node Q is in a discharged state, a logic having a low potential voltage is output. The scan signal corresponding to the row L is output.

구체적으로 설명하면, Q노드(Q)는 로직 하이(H)에 해당하는 스타트신호(vst)의 전위에 대응하여 제1트랜지스터(T1)가 턴온됨에 따라 충전된다. 이때, QB노드(QB)는 로직 하이(H)의 제1리셋클록신호(reset_clk1)의 전위에 대응하여 제1, 제2-1측 및 제2-2측 트랜지스터(T3, T4-1, T4-2)가 일시적으로 턴온됨에 따라 잠시 충전된다(도 9의 (1)부분 참조). 그러나 QB노드 방전 트랜지스터(T5)의 Vgs1(도 8 참조)이 제2-1 및 제2-2측 트랜지스터(T4-1, T4-2)의 Vgs2(도 8 참조) 보다 증가하게 되므로 풀다운 트랜지스터(Tpd)는 턴온되지 않고 리셋된다.Specifically, the Q node Q is charged as the first transistor T1 is turned on in response to the potential of the start signal vst corresponding to the logic high H. At this time, the QB node QB corresponds to the potentials of the first reset clock signal reset_clk1 of the logic high H, and the first, second-first, and second-second transistors T3, T4-1, and T4. -2) is temporarily charged as it is turned on temporarily (see part (1) of FIG. 9). However, since Vgs1 (see FIG. 8) of the QB node discharge transistor T5 is increased than Vgs2 (see FIG. 8) of the 2-1 and 2-2 side transistors T4-1 and T4-2, the pull-down transistor ( Tpd) is not turned on and is reset.

미러형 트랜지스터(T3, T4-1, T4-2)가 위와 같이 동작할 수 있는 최적의 조건을 구성하기 위해, QB노드 방전 트랜지스터(T5)의 채널의 폭을 제1측 트랜지스터(T3)의 채널의 폭보다 크게 하는 것이 좋다.In order to configure the optimum conditions under which the mirror transistors T3, T4-1, and T4-2 can operate as described above, the width of the channel of the QB node discharge transistor T5 is changed to the channel of the first side transistor T3. It is better to make it larger than the width of.

Q노드(Q)가 충전됨에 따라 풀다운 트랜지스터(Tpu)는 제N스테이지의 출력단자(Gout[n])를 통해 로직 하이(H)의 제1클록신호(clk1)를 출력한다. 로직 하이(H)의 제1클록신호(clk1)가 출력된 이후 Q노드(Q)는 제1커패시터(C1)에 의해 방전된다.As the Q node Q is charged, the pull-down transistor Tpu outputs the first clock signal clk1 of logic high H through the output terminal Gout [n] of the Nth stage. After the first clock signal clk1 of the logic high H is output, the Q node Q is discharged by the first capacitor C1.

이후 로직 로우(L)에 해당하는 스타트신호(vst)의 전위에 대응하여 제1트랜지스터(T1)는 턴오프되고, 제N+2스테이지의 출력단자(Gout[n+2])의 전위에 대응하여 Q노드 방전 트랜지스터(T8)가 턴온됨에 따라 Q노드(Q)는 방전된다. 로직 하이(H)에 해당하는 제1리셋클록신호(reset_clk1)의 전위에 대응하여 턴온된 제2-1 및 제2-2측 트랜지스터(T4-1, T4-2)를 통해 QB노드(QB)는 리셋된다. 이때, QB노드(QB)는 제2-1 및 제2-2측 트랜지스터(T4-1, T4-2)의 문턱전압(Vth)에 해당하는 전압으로 유지된다(도 9의 (2)부분 참조).Thereafter, the first transistor T1 is turned off in response to the potential of the start signal vst corresponding to the logic low L, and corresponds to the potential of the output terminal Gout [n + 2] of the N + 2th stage. As the Q node discharge transistor T8 is turned on, the Q node Q is discharged. QB node QB through second-first and second-second transistors T4-1 and T4-2 turned on in response to the potential of first reset clock signal reset_clk1 corresponding to logic high H. Is reset. At this time, the QB node QB is maintained at a voltage corresponding to the threshold voltage Vth of the second-first and second-second transistors T4-1 and T4-2 (see (2) in FIG. 9). ).

이 구간 동안 제2-1, 제2-2측 트랜지스터(T4-1, T4-2) 및 풀다운 트랜지스터(Tpd)의 게이트전극에 가해지는 스트레스(Effective Stress)는 유사하게 되므로 이들의 문턱전압 시프트(Vth Shift) 정도는 유사한 수준이 될 것이다. 이에 따라, 제2-1 및 제2-2측 트랜지스터(T4-1, T4-2)의 문턱전압이 포지티브 방향으로 시프트되면 QB노드(QB)에 인가되는 전압의 레벨은 이에 대응하여 증가하게 된다. 즉, QB노드(QB)는 제2-1 및 제2-2측 트랜지스터(T4-1, T4-2)의 문턱전압에 대응되는 전압을 인가받게 된다.During this period, the stresses applied to the gate electrodes of the 2-1 and 2-2 side transistors T4-1 and T4-2 and the pull-down transistor Tpd become similar, so that their threshold voltage shifts ( Vth Shift) will be similar. Accordingly, when the threshold voltages of the 2-1 and 2-2 transistors T4-1 and T4-2 are shifted in the positive direction, the level of the voltage applied to the QB node QB increases correspondingly. . That is, the QB node QB receives a voltage corresponding to the threshold voltages of the 2-1 and 2-2 transistors T4-1 and T4-2.

통상 QB노드(QB)는 로직 로우(L)의 스캔 신호를 출력한 이후 로직 하이(H)가 지속적으로 인가됨에 따라 포지티브 바이어스 스트레스(Positive Bias Stress)를 받는다. 그러나, 본 발명과 같이 구성된 미러형 트랜지스터(T3, T4-1, T4-2)와 QB노드 방전 트랜지스터(T5)를 적용하면, 로직 로우(L)의 스캔 신호를 출력한 이후 제2-1 및 제2-2측 트랜지스터(T4-1, T4-2)의 문턱전압(Vth)에 해당하는 전압으로 QB노드(QB)의 전압이 유지되므로 포지티브 바이어스 스트레스를 감소시킬 수 있게 된다.Typically, the QB node QB receives a positive bias stress as the logic high H is continuously applied after the scan signal of the logic low L is output. However, when the mirror transistors T3, T4-1 and T4-2 and the QB node discharge transistor T5 configured as in the present invention are applied, the second-1 and Since the voltage of the QB node QB is maintained at a voltage corresponding to the threshold voltage Vth of the second-second transistors T4-1 and T4-2, the positive bias stress can be reduced.

이상 본 발명은 QB노드에 인가되는 전압을 낮추고 해당 노드의 포지티브 바이어스 스트레스를 줄여 스캔 구동부의 수명과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치를 제공하는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 미러형 트랜지스터에 의해 QB노드에 인가되는 전압이 자동으로 가변되도록 하여 해당 노드를 셀프 리프레쉬(Self Refresh)할 수 있는 스캔 구동부 및 이를 이용한 표시장치를 제공하는 효과가 있다.The present invention has the effect of providing a scan driver and a display device using the same to lower the voltage applied to the QB node and reduce the positive bias stress of the node to improve the life and reliability of the scan driver. In addition, the present invention has the effect of providing a scan driver that can self-refresh the node by the voltage applied to the QB node by the mirror transistor to automatically vary, and a display device using the same.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, the technical configuration of the present invention described above may be modified in other specific forms by those skilled in the art to which the present invention pertains without changing its technical spirit or essential features. It will be appreciated that it may be practiced. Therefore, the embodiments described above are to be understood as illustrative and not restrictive in all aspects. In addition, the scope of the present invention is shown by the claims below, rather than the above detailed description. Also, it is to be construed that all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts are included in the scope of the present invention.

100: 표시패널 110: 타이밍 콘트롤러
120: 데이터 구동부 130, 140: 스캔 구동부
130: 레벨 시프터 140: 시프트 레지스터
Tpu: 풀업 트랜지스터 Tpd: 풀다운 트랜지스터
T1: 제1트랜지스터 T2: 제2트랜지스터
T3, T4: 미러형 트랜지스터 T4-1: 제2-1측 트랜지스터
T4-2: 제2-2측 트랜지스터
100: display panel 110: timing controller
120: data driver 130, 140: scan driver
130: level shifter 140: shift register
Tpu: Pull Up Transistor Tpd: Pull Down Transistor
T1: first transistor T2: second transistor
T3, T4: mirror transistor T4-1: 2-1 side transistor
T4-2: 2-2nd side transistor

Claims (13)

스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들을 출력하는 레벨 시프터; 및
상기 스타트신호, 상기 클록신호들 및 상기 리셋클록신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며,
상기 스테이지들의 제N스테이지는
Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 상기 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와,
QB노드의 전위에 대응하여 저전위전압을 상기 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀다운 트랜지스터와,
상기 Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와,
상기 QB노드를 충방전시키는 QB노드 충방전부를 포함하되,
상기 QB노드 충방전부는 상기 제N스테이지의 출력단자를 통해 상기 저전위전압이 출력된 이후 로직 로우의 제N리셋클록신호가 공급되면 상기 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하는 것을 특징으로 하는 스캔 구동부.
A level shifter for outputting start signals, clock signals, and reset clock signals; And
And a shift register including stages for shifting and outputting a scan signal corresponding to the start signal, the clock signals, and the reset clock signals.
Nth stage of the stages
A pull-up transistor for outputting an Nth clock signal to an output terminal of the Nth stage corresponding to the potential of the Q node;
A pull-down transistor for outputting a low potential voltage to an output terminal of the Nth stage corresponding to the potential of the QB node;
Q node charging and discharging unit for charging and discharging the Q node,
It includes a QB node charge and discharge unit for charging and discharging the QB node,
The QB node charging and discharging unit maintains the QB node at a voltage between logic high and logic low when the N-th reset clock signal of a logic low is supplied after the low potential voltage is output through the output terminal of the Nth stage. A scan driver characterized in that.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 QB노드 충방전부는
상기 Q노드의 전위에 대응하여 상기 QB노드를 방전시키는 QB노드 방전 트랜지스터와,
적어도 하나가 제N리셋클록신호에 대응하여 상기 QB노드를 충전시키거나 상기 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하는 미러형 트랜지스터를 포함하되,
상기 QB노드는 상기 미러형 트랜지스터 중 하나의 문턱전압에 대응되는 전압 레벨로 유지되는 것을 특징으로 하는 스캔 구동부.
The method of claim 1,
The QB node charge and discharge unit
A QB node discharge transistor configured to discharge the QB node corresponding to the potential of the Q node;
And at least one mirror transistor configured to charge the QB node or to maintain the QB node at a voltage between logic high and logic low in response to an Nth reset clock signal.
And the QB node is maintained at a voltage level corresponding to the threshold voltage of one of the mirror transistors.
제3항에 있어서,
상기 미러형 트랜지스터는
상기 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와,
상기 QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2측 트랜지스터를 포함하는 스캔 구동부.
The method of claim 3,
The mirror transistor
A first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an N-th reset clock signal terminal supplied with the N-th reset clock signal, and a second electrode connected to the QB node;
And a second side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to the QB node, and a second electrode connected to the N-th reset clock signal terminal.
제3항에 있어서,
상기 미러형 트랜지스터는
상기 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와,
상기 QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결된 제2-1측 트랜지스터와,
상기 제2-1측 트랜지스터의 제2전극에 제1전극과 게이트전극이 연결되고 상기 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2-2측 트랜지스터를 포함하는 스캔 구동부.
The method of claim 3,
The mirror transistor
A first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an N-th reset clock signal terminal supplied with the N-th reset clock signal, and a second electrode connected to the QB node;
A 2-1 side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to the QB node;
And a second-side transistor connected to a second electrode of the second-side transistor and a second electrode connected to the N-th reset clock signal terminal.
제1항에 있어서,
상기 Q노드 충방전부는
상기 스타트신호가 공급되는 스타트신호단자 또는 제N-1스테이지의 출력단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 Q노드에 제2전극이 연결된 제1트랜지스터와,
상기 QB노드에 게이트전극이 연결되고 상기 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 상기 Q노드에 제2전극이 연결된 제2트랜지스터와,
제N+2스테이지의 출력단자에 게이트전극이 연결되고 상기 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 상기 Q노드에 제2전극이 연결된 Q노드 방전 트랜지스터를 포함하는 스캔 구동부.
The method of claim 1,
The Q node charging and discharging unit
A first transistor having a gate electrode and a first electrode connected to a start signal terminal to which the start signal is supplied or an output terminal of an N-1 stage, and a second electrode connected to the Q node;
A second transistor having a gate electrode connected to the QB node, a first electrode connected to a low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage, and a second electrode connected to the Q node;
And a Q node discharge transistor connected to an output terminal of the N + 2th stage, a first electrode connected to the low potential voltage terminal, and a second electrode connected to the Q node.
표시패널;
상기 표시패널의 데이터라인들에 연결된 데이터 구동부; 및
상기 표시패널의 스캔라인들에 연결되며 스타트신호, 클록신호들 및 리셋클록신호들을 출력하는 레벨 시프터와, 상기 스타트신호, 상기 클록신호들 및 상기 리셋클록신호들에 대응하여 스캔 신호를 시프트하여 출력하는 스테이지들로 구성된 시프트 레지스터를 포함하며,
상기 스테이지들의 제N스테이지는
Q노드의 전위에 대응하여 제N클록신호를 상기 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀업 트랜지스터와,
QB노드의 전위에 대응하여 저전위전압을 상기 제N스테이지의 출력단자에 출력하는 풀다운 트랜지스터와,
상기 Q노드를 충방전시키는 Q노드 충방전부와,
상기 QB노드를 충방전시키는 QB노드 충방전부를 포함하되,
상기 QB노드 충방전부는 상기 제N스테이지의 출력단자를 통해 상기 저전위전압이 출력된 이후 로직 로우의 제N리셋클록신호가 공급되면 상기 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
Display panel;
A data driver connected to data lines of the display panel; And
A level shifter connected to the scan lines of the display panel and outputting start signals, clock signals, and reset clock signals, and shifting and outputting scan signals corresponding to the start signals, clock signals, and reset clock signals; Including a shift register consisting of stages,
Nth stage of the stages
A pull-up transistor for outputting an Nth clock signal to an output terminal of the Nth stage corresponding to the potential of the Q node;
A pull-down transistor for outputting a low potential voltage to an output terminal of the Nth stage corresponding to the potential of the QB node;
Q node charging and discharging unit for charging and discharging the Q node,
It includes a QB node charge and discharge unit for charging and discharging the QB node,
The QB node charging and discharging unit maintains the QB node at a voltage between logic high and logic low when the N-th reset clock signal of a logic low is supplied after the low potential voltage is output through the output terminal of the Nth stage. Display device characterized in that.
삭제delete 제7항에 있어서,
상기 QB노드 충방전부는
상기 Q노드의 전위에 대응하여 상기 QB노드를 방전시키는 QB노드 방전 트랜지스터와,
적어도 하나가 제N리셋클록신호에 대응하여 상기 QB노드를 충전시키거나 상기 QB노드를 로직 하이와 로직 로우 사이의 전압으로 유지하는 미러형 트랜지스터를 포함하되,
상기 QB노드는 상기 미러형 트랜지스터 중 하나의 문턱전압에 대응되는 전압 레벨로 유지되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
The method of claim 7, wherein
The QB node charge and discharge unit
A QB node discharge transistor configured to discharge the QB node corresponding to the potential of the Q node;
And at least one mirror transistor configured to charge the QB node or to maintain the QB node at a voltage between logic high and logic low in response to an Nth reset clock signal.
And the QB node is maintained at a voltage level corresponding to a threshold voltage of one of the mirror transistors.
제9항에 있어서,
상기 미러형 트랜지스터는
상기 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와,
상기 QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2측 트랜지스터를 포함하는 표시장치.
The method of claim 9,
The mirror transistor
A first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an N-th reset clock signal terminal supplied with the N-th reset clock signal, and a second electrode connected to the QB node;
And a second side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to the QB node, and a second electrode connected to the N-th reset clock signal terminal.
제9항에 있어서,
상기 미러형 트랜지스터는
상기 제N리셋클록신호가 공급되는 제N리셋클록신호단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 QB노드에 제2전극이 연결된 제1측 트랜지스터와,
상기 QB노드에 게이트전극과 제1전극이 연결된 제2-1측 트랜지스터와,
상기 제2-1측 트랜지스터의 제2전극에 제1전극과 게이트전극이 연결되고 상기 제N리셋클록신호단자에 제2전극이 연결된 제2-2측 트랜지스터를 포함하는 표시장치.
The method of claim 9,
The mirror transistor
A first side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to an N-th reset clock signal terminal supplied with the N-th reset clock signal, and a second electrode connected to the QB node;
A 2-1 side transistor having a gate electrode and a first electrode connected to the QB node;
And a second-second transistor connected to a second electrode of the second-one transistor and a second electrode connected to the N-th reset clock signal terminal.
제7항에 있어서,
상기 Q노드 충방전부는
상기 스타트신호가 공급되는 스타트신호단자 또는 제N-1스테이지의 출력단자에 게이트전극과 제1전극이 연결되고 상기 Q노드에 제2전극이 연결된 제1트랜지스터와,
상기 QB노드에 게이트전극이 연결되고 상기 저전위전압이 공급되는 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 상기 Q노드에 제2전극이 연결된 제2트랜지스터와,
제N+2스테이지의 출력단자에 게이트전극이 연결되고 상기 저전위전압단자에 제1전극이 연결되고 상기 Q노드에 제2전극이 연결된 Q노드 방전 트랜지스터를 포함하는 표시장치.
The method of claim 7, wherein
The Q node charging and discharging unit
A first transistor having a gate electrode and a first electrode connected to a start signal terminal to which the start signal is supplied or an output terminal of an N-1 stage, and a second electrode connected to the Q node;
A second transistor having a gate electrode connected to the QB node, a first electrode connected to a low potential voltage terminal supplied with the low potential voltage, and a second electrode connected to the Q node;
And a Q node discharge transistor having a gate electrode connected to the output terminal of the N + 2th stage, a first electrode connected to the low potential voltage terminal, and a second electrode connected to the Q node.
제12항에 있어서,
상기 스테이지들의 제N스테이지는
상기 Q노드가 전기적으로 플로팅될 시, 상기 Q노드의 전압을 로직 로우의 전압으로 홀딩하기 위해 상기 Q노드에 일단이 연결되고 상기 저전위전압단자에 타단이 연결된 제1커패시터와,
상기 QB노드가 전기적으로 플로팅될 시, 상기 QB노드의 전압을 로직 로우의 전압으로 홀딩하기 위해 상기 QB노드에 일단이 연결되고 상기 저전위전압단자에 타단이 연결된 제2커패시터를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 12,
Nth stage of the stages
A first capacitor having one end connected to the Q node and the other end connected to the low potential voltage terminal to hold the voltage of the Q node at a logic low voltage when the Q node is electrically floated;
And a second capacitor having one end connected to the QB node and the other end connected to the low potential voltage terminal to hold the voltage of the QB node at a logic low voltage when the QB node is electrically floated. .
KR1020130056558A 2013-05-20 2013-05-20 Scan Driver and Display Device Using the same KR102040659B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130056558A KR102040659B1 (en) 2013-05-20 2013-05-20 Scan Driver and Display Device Using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130056558A KR102040659B1 (en) 2013-05-20 2013-05-20 Scan Driver and Display Device Using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140136254A KR20140136254A (en) 2014-11-28
KR102040659B1 true KR102040659B1 (en) 2019-11-05

Family

ID=52456564

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130056558A KR102040659B1 (en) 2013-05-20 2013-05-20 Scan Driver and Display Device Using the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102040659B1 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102268519B1 (en) * 2014-12-10 2021-06-24 엘지디스플레이 주식회사 Gate In Panel structure for dual output
CN104934011B (en) * 2015-07-20 2018-03-23 合肥京东方光电科技有限公司 Shift register cell, gate driving circuit and display device
KR102383363B1 (en) * 2015-10-16 2022-04-07 삼성디스플레이 주식회사 Gate driver and display device having the same
KR102477012B1 (en) 2016-04-27 2022-12-14 삼성디스플레이 주식회사 Scan driver and display device including the scan driver
CN106023919B (en) * 2016-06-30 2019-01-18 京东方科技集团股份有限公司 Shift register and its driving method, driving circuit and display device
CN106531118A (en) * 2017-01-06 2017-03-22 京东方科技集团股份有限公司 Shift register unit and driving method thereof, gate drive circuit and display device

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101023726B1 (en) * 2004-03-31 2011-03-25 엘지디스플레이 주식회사 Shift register
KR101170241B1 (en) * 2010-06-03 2012-07-31 하이디스 테크놀로지 주식회사 Driving circuit for electric paper display and display device
KR101848503B1 (en) * 2011-08-10 2018-04-12 엘지디스플레이 주식회사 Shift register and display device using the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140136254A (en) 2014-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9818353B2 (en) Scan driver adn display device using the same
EP3029665B1 (en) Display panel and method of driving the same
US10019929B2 (en) Gate drive circuit and display device using the same
KR102167138B1 (en) Shift register and display device using the sane
KR102175905B1 (en) Scan driver and display device using thereof
KR102020932B1 (en) Scan Driver and Display Device Using the same
KR101352289B1 (en) Display Device
KR101366877B1 (en) Display Device
KR102040659B1 (en) Scan Driver and Display Device Using the same
KR102230370B1 (en) Display Device
KR20130080864A (en) Scanning signal line drive circuit and display device equipped with same
KR20110102627A (en) Shift register and display device using the same
KR20160017390A (en) Gate driver of display device
KR20180072041A (en) Gate driving circuit and display device using the same
KR102578712B1 (en) Emission control driver and organic light emitting diode display device using the same
KR102203773B1 (en) Display panel and Organic Light Emitting Diode display device using the same
KR102557841B1 (en) Gate driving circuit and display dedvice using the same
KR102223902B1 (en) Shift register and display device using the same
KR102040650B1 (en) Scan Driver and Display Device Using the same
KR20150086771A (en) Gate driver and display apparatus
KR102051389B1 (en) Liquid crystal display device and driving circuit thereof
KR101363194B1 (en) Display Device
KR102634769B1 (en) Shift register and display device using the same
KR102541938B1 (en) Display Device
KR102222277B1 (en) Display Device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant