KR102006090B1 - Anisotropic conductive film and connection method - Google Patents
Anisotropic conductive film and connection method Download PDFInfo
- Publication number
- KR102006090B1 KR102006090B1 KR1020177015870A KR20177015870A KR102006090B1 KR 102006090 B1 KR102006090 B1 KR 102006090B1 KR 1020177015870 A KR1020177015870 A KR 1020177015870A KR 20177015870 A KR20177015870 A KR 20177015870A KR 102006090 B1 KR102006090 B1 KR 102006090B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit member
- layer
- anisotropic conductive
- terminal
- conductive film
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J7/00—Adhesives in the form of films or foils
- C09J7/10—Adhesives in the form of films or foils without carriers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J9/00—Adhesives characterised by their physical nature or the effects produced, e.g. glue sticks
- C09J9/02—Electrically-conducting adhesives
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J11/00—Features of adhesives not provided for in group C09J9/00, e.g. additives
- C09J11/02—Non-macromolecular additives
- C09J11/04—Non-macromolecular additives inorganic
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J11/00—Features of adhesives not provided for in group C09J9/00, e.g. additives
- C09J11/02—Non-macromolecular additives
- C09J11/06—Non-macromolecular additives organic
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J201/00—Adhesives based on unspecified macromolecular compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J5/00—Adhesive processes in general; Adhesive processes not provided for elsewhere, e.g. relating to primers
- C09J5/06—Adhesive processes in general; Adhesive processes not provided for elsewhere, e.g. relating to primers involving heating of the applied adhesive
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J7/00—Adhesives in the form of films or foils
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
- H01R11/01—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts characterised by the form or arrangement of the conductive interconnection between the connecting locations
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Combinations Of Printed Boards (AREA)
- Adhesive Tapes (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
Abstract
방청 처리가 된 기판을 접속하는 경우에도, 인접 단자 사이의 절연성, 및 접속 단자 사이의 장기적인 도전성이 우수한, 이방성 도전 필름을 제공한다. 도전성 입자, 열 경화성 수지, 및 경화제를 함유하는 도전성 입자 함유층과, 인산에스테르 화합물을 함유하는 열 가소성층을 갖는 이방성 도전 필름이다.Provided is an anisotropic conductive film excellent in insulation between adjacent terminals and long-term conductivity between connection terminals even when a substrate subjected to anti-corrosive treatment is connected. Containing layer containing a conductive particle, a thermosetting resin, and a curing agent, and a thermoplastic layer containing a phosphoric acid ester compound.
Description
본 발명은, 이방성 도전 필름 및 접속 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an anisotropic conductive film and a connection method.
종래부터, 전자 부품을 기판과 접속하는 수단으로서, 도전성 입자가 분산된 열 경화성 수지를 박리 필름에 도포한 테이프상의 접속 재료 (예를 들어, 이방성 도전 필름 (ACF;Anisotropic Conductive Film)) 이 사용되고 있다.Conventionally, a tape-like connecting material (for example, an anisotropic conductive film (ACF)) in which a thermosetting resin in which conductive particles are dispersed is applied to a release film is used as a means for connecting an electronic component to a substrate .
이 이방성 도전 필름은, 예를 들어, COF (Chip on Film) 와 리지드 기판 (예를 들어, PWB (Printed Wiring Board)) 의 접속 (FOB : Flex on Board) 에 사용되고 있다.This anisotropic conductive film is used for, for example, connection (FOB: Flex on Board) of a COF (Chip on Film) and a rigid substrate (for example, PWB (Printed Wiring Board)).
상기 리지드 기판에는, 탑재되는 IC 칩, 콘덴서 등의 부품의 납땜성을 향상시키기 위해서, 프리플럭스 (OSP : Organic Solderability Preservative) 라고 불리는 방청제에 의한 방청 처리가 실시되는 경우가 있다. 상기 프리플럭스로는, 예를 들어, 이미다졸계 프리플럭스 등이 알려져 있다.In order to improve the solderability of components such as an IC chip and a capacitor to be mounted on the rigid substrate, a rust-preventive treatment using a rust preventive called an OSP (Organic Solderability Preservative) may be performed. As the free flux, for example, an imidazole-based free flux is known.
그러나, 상기 방청 처리가 된 기판은, 이방성 도전 필름의 접착성이 저하된다는 문제가 있다.However, the substrate subjected to the rust-preventive treatment has a problem that adhesiveness of the anisotropic conductive film is deteriorated.
그래서, 상기 방청 처리가 된 기판의 접속에 안정적인 접속 신뢰성을 주기 위해서, 유리 (遊離) 라디칼을 발생시키는 경화제와, 라디칼 중합성 물질과, 인산에스테르와, 도전 입자를 함유하고, 도전 입자를 제외한, 회로 접속 재료 전체를 100 중량부로 한 경우, 거기에서 차지하는 인산에스테르의 비율이 0.5 중량부 내지 2.5 중량부의 범위인, 회로 접속 재료가 제안되어 있다 (예를 들어, 특허문헌 1 참조).Therefore, in order to provide stable connection reliability to the connection of the substrate subjected to the rust-preventive treatment, a curing agent that generates a free radical, a radical polymerizable substance, a phosphate ester, and conductive particles, A circuit connecting material has been proposed in which the proportion of the phosphoric acid ester occupying in the circuit connecting material is in the range of 0.5 to 2.5 parts by weight when the entire circuit connecting material is made up to 100 parts by weight (for example, see Patent Document 1).
그러나, 이 제안의 기술에서는, 인접 단자 사이의 절연성은 우수하지만, 접속 단자 사이의 장기적인 도전성에 대해서는 충분하다고는 할 수 없다.However, in the technique of this proposal, the insulation between neighboring terminals is excellent, but the long-term conductivity between the connection terminals is not sufficient.
본 발명은, 종래에 있어서의 상기 여러 문제를 해결하고, 이하의 목적을 달성하는 것을 과제로 한다. 즉, 본 발명은, 방청 처리가 된 기판을 접속하는 경우에도, 인접 단자 사이의 절연성, 및 접속 단자 사이의 장기적인 도전성이 우수한 이방성 도전 필름, 및 그것을 사용한 접합체를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of the present invention to solve the above-mentioned conventional problems and to achieve the following objects. That is, an object of the present invention is to provide an anisotropic conductive film excellent in insulation between adjacent terminals and long-term conductivity between connection terminals, and a junction body using the same, even when a substrate subjected to anti-corrosive treatment is connected.
상기 과제를 해결하기 위한 수단으로는, 이하와 같다. 즉,Means for solving the above problems are as follows. In other words,
<1> 도전성 입자, 열 경화성 수지, 및 경화제를 함유하는 도전성 입자 함유층과,≪ 1 > A conductive particle composition comprising a conductive particle-containing layer containing conductive particles, a thermosetting resin, and a curing agent,
산 성분을 함유하는 열 가소성층을 갖는 것을 특징으로 하는 이방성 도전 필름이다.An anisotropic conductive film having a thermoplastic layer containing an acid component.
<2> 상기 산 성분이 인산에스테르 화합물인 상기 <1> 에 기재된 이방성 도전 필름이다.<2> The anisotropic conductive film according to <1>, wherein the acid component is a phosphate ester compound.
<3> 상기 도전성 입자 함유층의 용융 점도가, 상기 열 가소성층의 용융 점도보다 큰 상기 <1> 내지 <2> 중 어느 하나에 기재된 이방성 도전 필름이다.<3> The anisotropic conductive film according to any one of <1> to <2>, wherein the conductive particle-containing layer has a melt viscosity higher than that of the thermoplastic layer.
<4> 제 1 회로 부재의 단자와 제 2 회로 부재의 단자를 접속시키는 접속 방법으로서,≪ 4 > A connection method for connecting a terminal of a first circuit member to a terminal of a second circuit member,
상기 제 1 회로 부재의 단자 상에, 상기 <1> 내지 <3> 중 어느 하나에 기재된 이방성 도전 필름을, 열 가소성층이 상기 제 1 회로 부재의 단자와 접하도록 배치하는 제 1 배치 공정과,The first arrangement step of arranging the anisotropic conductive film according to any one of <1> to <3> on the terminal of the first circuit member so that the thermoplastic layer comes into contact with the terminal of the first circuit member,
상기 이방성 도전 필름 상에, 상기 제 2 회로 부재를 배치하는 제 2 배치 공정과,A second arranging step of disposing the second circuit member on the anisotropic conductive film,
상기 제 2 회로 부재를 가열 가압 부재에 의해 가열 및 가압하는 공정을 포함하고,And heating and pressing the second circuit member by a heating and pressing member,
상기 제 1 회로 부재의 단자에, 방청제에 의한 방청 처리가 되어 있는 것을 특징으로 하는 접속 방법이다.And a terminal of the first circuit member is subjected to an anti-rust treatment with a rust preventive agent.
본 발명에 의하면, 종래에 있어서의 상기 여러 문제를 해결하여, 상기 목적을 달성할 수 있고, 방청 처리가 된 기판을 접속하는 경우에도, 인접 단자 사이의 절연성, 및 접속 단자 사이의 장기적인 도전성이 우수한 이방성 도전 필름, 및 그것을 사용한 접합체를 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to solve the above-mentioned conventional problems and attain the above object, and even when a substrate subjected to rust-proof treatment is connected, the insulating property between adjacent terminals and the long- An anisotropic conductive film, and a junction body using the same.
도 1a 는, 본 발명의 접속 방법의 일례를 설명하기 위한 제 1 개략 단면도이다.
도 1b 는, 본 발명의 접속 방법의 일례를 설명하기 위한 제 2 개략 단면도이다.
도 1c 는, 본 발명의 접속 방법의 일례를 설명하기 위한 제 3 개략 단면도이다.
도 1d 는, 본 발명의 접속 방법의 일례를 설명하기 위한 제 4 개략 단면도이다.
도 1e 는, 본 발명의 접속 방법의 일례를 설명하기 위한 제 5 개략 단면도이다.1A is a first schematic cross-sectional view for explaining an example of a connection method of the present invention.
1B is a second schematic cross-sectional view for explaining an example of a connection method of the present invention.
1C is a third schematic cross-sectional view for explaining an example of a connection method of the present invention.
1D is a fourth schematic sectional view for explaining an example of a connection method of the present invention.
1E is a fifth schematic sectional view for explaining an example of a connection method of the present invention.
(이방성 도전 필름)(Anisotropic conductive film)
본 발명의 이방성 도전 필름은, 도전성 입자 함유층과, 열 가소성층을 적어도 함유하고, 추가로 필요에 따라, 그 밖의 성분을 함유한다.The anisotropic conductive film of the present invention contains at least a conductive particle-containing layer and a thermoplastic layer, and further contains other components as required.
<도전성 입자 함유층><Conductive Particle Containing Layer>
상기 도전성 입자 함유층은, 도전성 입자와, 열 경화성 수지와, 경화제를 적어도 함유하고, 추가로 필요에 따라, 그 밖의 성분을 함유한다.The conductive particle-containing layer contains at least conductive particles, a thermosetting resin and a curing agent, and further contains other components as required.
<<도전성 입자>><< Conductive particles >>
상기 도전성 입자로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 금속 입자, 금속 피복 수지 입자 등을 들 수 있다.The conductive particles are not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include metal particles and metal-coated resin particles.
상기 금속 입자로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 니켈, 코발트, 은, 구리, 금, 팔라듐, 땜납 등을 들 수 있다. 이것들은, 1 종 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.The metal particles are not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include nickel, cobalt, silver, copper, gold, palladium, and solder. These may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.
이것들 중에서도, 니켈, 은, 구리가 바람직하다. 이들 금속 입자는, 표면 산화를 방지할 목적에서, 그 표면에 금, 팔라듐을 실시하고 있어도 된다. 또한, 표면에 금속 돌기나 유기물로 절연 피막을 실시한 것을 사용해도 된다.Of these, nickel, silver and copper are preferable. In order to prevent surface oxidation, these metal particles may be subjected to gold or palladium on their surfaces. It is also possible to use an insulating film having a metal protrusion or an organic material on its surface.
상기 금속 피복 수지 입자로는, 수지 입자의 표면을 금속으로 피복한 입자이면, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 수지 입자의 표면을 니켈, 은, 땜납, 구리, 금, 및 팔라듐의 적어도 어느 하나의 금속으로 피복한 입자 등을 들 수 있다. 또한, 표면에 금속 돌기나 유기물로 절연 피막을 실시한 것을 사용해도 된다. 저저항을 고려한 접속의 경우, 수지 입자의 표면을 은으로 피복한 입자가 바람직하다.The metal-coated resin particle is not particularly limited as long as the surface of the resin particle is covered with a metal. The metal-coated resin particle can be appropriately selected according to the purpose. For example, the surface of the resin particle is coated with nickel, silver, Gold, and palladium, and the like. It is also possible to use an insulating film having a metal protrusion or an organic material on its surface. In the case of a connection considering a low resistance, particles in which the surface of the resin particle is coated with silver are preferable.
상기 수지 입자에 대한 금속의 피복 방법으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 무전해 도금법, 스퍼터링법 등을 들 수 있다.The method of coating the metal on the resin particles is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. Examples of the method include electroless plating and sputtering.
상기 수지 입자의 재질로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 스티렌-디비닐벤젠 공중합체, 벤조구아나민 수지, 가교 폴리스티렌 수지, 아크릴 수지, 스티렌-실리카 복합 수지 등을 들 수 있다.The material of the resin particle is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples of the resin particle include a styrene-divinylbenzene copolymer, a benzoguanamine resin, a crosslinked polystyrene resin, an acrylic resin, a styrene- And the like.
상기 도전성 입자는, 이방성 도전 접속시에 도전성을 가지고 있으면 된다. 예를 들어, 금속 입자의 표면에 절연 피막을 실시한 입자라도, 이방성 도전 접속 시에 상기 입자가 변형되고, 상기 금속 입자가 노출되는 것이면, 상기 도전성 입자이다.The conductive particles may have conductivity at the time of anisotropic conductive connection. For example, even when the surface of the metal particles is coated with an insulating coating, the particles are deformed at the time of anisotropic conductive connection, and the metal particles are exposed.
상기 도전성 입자의 평균 입자경으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 1 ㎛ ∼ 50 ㎛ 가 바람직하고, 2 ㎛ ∼ 25 ㎛ 가 보다 바람직하며, 2 ㎛ ∼ 10 ㎛ 가 특히 바람직하다.The average particle diameter of the conductive particles is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. The average particle diameter is preferably 1 탆 to 50 탆, more preferably 2 탆 to 25 탆, particularly preferably 2 탆 to 10 탆 .
상기 평균 입자경은, 임의로 10 개의 도전성 입자에 대해 측정한 입자경의 평균치이다.The average particle diameter is an average value of the particle diameters measured arbitrarily for 10 conductive particles.
상기 입자경은, 예를 들어, 주사형 전자 현미경 관찰에 의해 측정할 수 있다.The particle diameter can be measured by, for example, scanning electron microscope observation.
상기 도전성 입자 함유층에 있어서의 상기 도전성 입자의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 0.5 질량% ∼ 10 질량% 가 바람직하고, 1 질량% ∼ 5 질량% 가 보다 바람직하다.The content of the conductive particles in the conductive particle-containing layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. The content is preferably 0.5% by mass to 10% by mass, and more preferably 1% by mass to 5% .
<<열 경화성 수지>><< Thermosetting Resin >>
상기 열 경화성 수지로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 에폭시 수지, 중합성 아크릴 화합물 등을 들 수 있다.The thermosetting resin is not particularly limited and may be appropriately selected in accordance with the purpose. Examples thereof include an epoxy resin and a polymerizable acrylic compound.
-에폭시 수지-- Epoxy resin -
상기 에폭시 수지로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 비스페놀 F 형 에폭시 수지, 노볼락형 에폭시 수지, 그것들의 변성 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 이것들은, 1 종 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.The epoxy resin is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, novolac epoxy resin, modified epoxy resins thereof, alicyclic epoxy Resins and the like. These may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.
-중합성 아크릴 화합물-- Polymerizable acrylic compound -
상기 중합성 아크릴 화합물로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 폴리에틸렌글리콜디아크릴레이트, 인산에스테르형 아크릴레이트, 2-하이드록시에틸아크릴레이트, 2-하이드록시프로필아크릴레이트, 4-하이드록시부틸아크릴레이트, 이소부틸아크릴레이트, t-부틸아크릴레이트, 이소옥틸아크릴레이트, 비스페녹시에탄올플루오렌디아크릴레이트, 2-아크릴로일옥시에틸숙신산, 라우릴아크릴레이트, 스테아릴아크릴레이트, 이소보르닐아크릴레이트, 트리시클로데칸디메탄올디메타크릴레이트, 시클로헥실아크릴레이트, 트리스(2-하이드록시에틸)이소시아누레이트트리아크릴레이트, 테트라하이드로푸르푸릴아크릴레이트, o-프탈산디글리시딜에테르아크릴레이트, 에톡시화 비스페놀 A 디메타크릴레이트, 비스페놀 A 형 에폭시아크릴레이트, 우레탄아크릴레이트, 에폭시아크릴레이트 등, 및 이것들에 상당하는 메타크릴레이트를 들 수 있다. 이것들은, 1 종 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.The polymerizable acrylic compound is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include polyethylene glycol diacrylate, phosphoric ester type acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl Acrylate, 4-hydroxybutyl acrylate, isobutyl acrylate, t-butyl acrylate, isooctyl acrylate, bisphenoxyethanol fluorene diacrylate, 2-acryloyloxyethyl succinic acid, lauryl acrylate Acrylates such as stearyl acrylate, isobornyl acrylate, tricyclodecane dimethanol dimethacrylate, cyclohexyl acrylate, tris (2-hydroxyethyl) isocyanurate triacrylate, tetrahydrofurfuryl acrylate , o-phthalic acid diglycidyl ether acrylate, ethoxylated bisphenol A dimethacrylate, bisphenol A type epoxy acrylate, urethane acrylate, epoxy acrylate and the like, and methacrylates corresponding to these. These may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.
상기 도전성 입자 함유층에 있어서의 상기 열 경화성 수지의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 20 질량% ∼ 60 질량% 가 바람직하고, 30 질량% ∼ 50 질량% 가 보다 바람직하다.The content of the thermosetting resin in the conductive particle-containing layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. It is preferably 20 mass% to 60 mass%, more preferably 30 mass% to 50 mass% Do.
<<경화제>><< Hardener >>
상기 경화제로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 이미다졸류, 유기 과산화물, 아니온계 경화제, 카티온계 경화제 등을 들 수 있다.The curing agent is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include imidazoles, organic peroxides, anionic curing agents, cationic curing agents and the like.
상기 이미다졸류로는, 예를 들어, 2-에틸4-메틸이미다졸 등을 들 수 있다.The imidazoles include, for example, 2-ethyl 4-methylimidazole and the like.
상기 유기 과산화물로는, 예를 들어, 라우로일퍼옥사이드, 부틸퍼옥사이드, 벤질퍼옥사이드, 디라우로일퍼옥사이드, 디부틸퍼옥사이드, 퍼옥시디카보네이트, 벤조일퍼옥사이드 등을 들 수 있다.Examples of the organic peroxide include lauroyl peroxide, butyl peroxide, benzyl peroxide, dilauryl peroxide, dibutyl peroxide, peroxydicarbonate, benzoyl peroxide and the like.
상기 아니온계 경화제로는, 예를 들어, 유기 아민류 등을 들 수 있다.Examples of the anion-based curing agent include organic amines and the like.
상기 카티온계 경화제로는, 예를 들어, 술포늄염, 오늄염, 알루미늄킬레이트제 등을 들 수 있다.Examples of the cationic curing agent include a sulfonium salt, an onium salt, and an aluminum chelating agent.
이것들 중에서도, 보존 안정성이 우수한 점에서, 유기 과산화물이 바람직하고, 디라우로일퍼옥사이드가 보다 바람직하다.Of these, organic peroxides are preferable, and dirauroyl peroxide is more preferable because of excellent storage stability.
상기 열 경화성 수지와 상기 경화제의 조합으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 상기 에폭시 수지와 상기 카티온계 경화제의 조합, 상기 중합성 아크릴 화합물과 상기 유기 과산화물의 조합이 바람직하다.The combination of the thermosetting resin and the curing agent is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. However, a combination of the epoxy resin and the cationic curing agent, and a combination of the polymerizable acrylic compound and the organic peroxide are preferable .
상기 도전성 입자 함유층에 있어서의 상기 경화제의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 1 질량% ∼ 15 질량% 가 바람직하고, 2 질량% ∼ 10 질량% 가 보다 바람직하다.The content of the curing agent in the conductive particle-containing layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. The content is preferably 1% by mass to 15% by mass, and more preferably 2% by mass to 10% by mass.
<<그 밖의 성분>><< Other Ingredients >>
상기 도전성 입자 함유층이 함유하는 상기 그 밖의 성분으로는, 예를 들어, 막 형성 수지, 필러 등을 들 수 있다.Examples of the other components contained in the conductive particle-containing layer include film-forming resins, fillers and the like.
-막 형성 수지-- film forming resin -
상기 막 형성 수지로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 페녹시 수지, 불포화 폴리에스테르수지, 포화 폴리에스테르 수지, 우레탄 수지, 부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드 수지, 폴리올레핀 수지 등을 들 수 있다. 상기 막 형성 수지는, 1 종 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다. 이것들 중에서도, 제막성 (製膜性), 가공성, 접속 신뢰성 면에서 페녹시 수지가 바람직하다.The film forming resin is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include phenoxy resin, unsaturated polyester resin, saturated polyester resin, urethane resin, butadiene resin, polyimide resin, polyamide Resins, and polyolefin resins. The above film-forming resins may be used singly or in combination of two or more. Of these, phenoxy resins are preferable in terms of film formability, workability, and connection reliability.
상기 페녹시 수지로는, 예를 들어, 비스페놀 A 와 에피클로르히드린으로부터 합성되는 수지 등을 들 수 있다.Examples of the phenoxy resin include resins synthesized from bisphenol A and epichlorohydrin.
상기 페녹시 수지는, 적절히 합성한 것을 사용해도 되고, 시판품을 사용해도 된다.The phenoxy resin may be suitably synthesized, or a commercially available product may be used.
상기 도전성 입자 함유층에 있어서의 상기 막 형성 수지의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 20 질량% ∼ 60 질량% 가 바람직하고, 30 질량% ∼ 50 질량% 가 보다 바람직하다.The content of the film-forming resin in the conductive particle-containing layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. It is preferably 20% by mass to 60% by mass, more preferably 30% by mass to 50% Do.
-필러--filler-
상기 필러로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 알루미나, 실리카, 탤크, 마이카, 카올린, 제올라이트, 황산바륨, 탄산칼슘 등을 들 수 있다.The filler is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. Examples of the filler include alumina, silica, talc, mica, kaolin, zeolite, barium sulfate, and calcium carbonate.
상기 도전성 입자 함유층에 있어서의 상기 필러의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 0.5 질량% ∼ 15 질량% 가 바람직하고, 1 질량% ∼ 10 질량% 가 보다 바람직하다.The content of the filler in the conductive particle-containing layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. The content is preferably 0.5% by mass to 15% by mass, and more preferably 1% by mass to 10% by mass.
상기 도전성 입자 함유층은, 산 성분을 함유하지 않는 것이 바람직하다. 상기 산 성분으로는, 후술하는 산 성분을 들 수 있다.It is preferable that the conductive particle-containing layer does not contain an acid component. The acid component includes an acid component described later.
상기 도전성 입자 함유층의 평균 두께로는, 특별히 제한은 없고, 적절히 선택할 수 있지만, 10 ㎛ ∼ 50 ㎛ 가 바람직하고, 20 ㎛ ∼ 40 ㎛ 가 보다 바람직하다.The average thickness of the conductive particle-containing layer is not particularly limited and may be appropriately selected, but is preferably 10 탆 to 50 탆, more preferably 20 탆 to 40 탆.
여기서, 상기 평균 두께는, 임의로 상기 도전성 입자 함유층의 5 개 지점의 두께를 측정했을 때의 평균치이다.Here, the average thickness is an average value when the thickness of five points of the conductive particle-containing layer is optionally measured.
<열 가소성층>≪ Thermoplastic layer >
상기 열 가소성층은, 산 성분을 적어도 함유하고, 추가로 필요에 따라, 그 밖의 성분을 함유한다.The thermoplastic layer contains at least an acid component and, if necessary, other components.
상기 열 가소성층은, 열에 의해 가역성을 나타내는 층이다.The thermoplastic layer is a layer exhibiting reversibility by heat.
상기 열 가소성층은, 에폭시 수지, 중합성 아크릴 화합물 등의 반응성 관능기를 갖는 화합물을 함유하고 있어도 되지만, 그 때에는, 그것들을 경화시키는 경화제를 함유하지 않는다.The thermoplastic layer may contain a compound having a reactive functional group such as an epoxy resin or a polymerizable acrylic compound, but does not contain a curing agent for curing them.
<<산 성분>><< Ingredients >>
상기 산 성분으로는, 산성의 성분이면, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있다. 상기 산 성분에 있어서의 산성기로는, 예를 들어, 인산에스테르기, 카르복실기, 술폰기 등을 들 수 있다. 산성기를 갖는 화합물로는, 예를 들어, 산성기를 갖는 (메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.The acid component is not particularly limited as long as it is an acidic component and can be appropriately selected depending on the purpose. Examples of the acidic group in the acid component include a phosphoric acid ester group, a carboxyl group and a sulfone group. Examples of the compound having an acidic group include (meth) acrylate having an acidic group and the like.
상기 산 성분은, 로진 (아비에틴산) 이어도 된다. 상기 로진은, 용융됨으로써 산을 발생시킨다.The acid component may be rosin (abietic acid). The rosin generates an acid by melting.
이것들 중에서도, 산성도가 강하고, 방청제를 제거하기 쉬운 점에서, 인산에스테르 화합물이 바람직하다. 상기 인산에스테르 화합물로는, 예를 들어, 인산에스테르형 아크릴레이트 등을 들 수 있다.Of these, phosphoric acid ester compounds are preferable in view of strong acidity and easy removal of rust-preventive agent. As the phosphate ester compound, for example, phosphoric acid ester type acrylate and the like can be given.
상기 열 가소성층에 있어서의 상기 산 성분의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 1 질량% ∼ 10 질량% 가 바람직하고, 2 질량% ∼ 6 질량% 가 보다 바람직하다. 상기 함유량이 1 질량% 미만이면, 방청제의 제거가 불충분해지는 경우가 있고, 10 질량% 를 초과하면, 상기 열 가소성층의 그 밖의 성분과의 배합의 균형이 잘 잡히지 않게 되는 경우가 있다.The content of the acid component in the thermoplastic layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. The content is preferably 1% by mass to 10% by mass, and more preferably 2% by mass to 6% by mass . If the content is less than 1% by mass, the removal of the rust preventive agent may be insufficient. When the content exceeds 10% by mass, the balance of the composition with other components of the thermoplastic layer may not be well balanced.
<<그 밖의 성분>><< Other Ingredients >>
상기 열 가소성층에 있어서의 상기 그 밖의 성분으로는, 예를 들어, 막 형성 수지, 그 밖의 수지 등을 들 수 있다.Examples of the other components in the thermoplastic layer include film-forming resins and other resins.
-막 형성 수지-- film forming resin -
상기 막 형성 수지로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 상기 도전성 입자 함유층의 설명에 있어서 예시한 상기 막 형성 수지 등을 들 수 있다. 바람직한 양태도 마찬가지이다.The film-forming resin is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. For example, the film-forming resin exemplified in the explanation of the conductive particle-containing layer may be mentioned. The same is true of preferred embodiments.
상기 열 가소성층에 있어서의 상기 막 형성 수지의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 0 질량% ∼ 20 질량% 가 바람직하고, 0 질량% ∼ 10 질량% 가 보다 바람직하다.The content of the film-forming resin in the thermoplastic layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. It is preferably 0 mass% to 20 mass%, more preferably 0 mass% to 10 mass% Do.
-그 밖의 수지-- Other resin -
상기 그 밖의 수지로는, 상기 막 형성 수지 이외의 수지이면, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 에폭시 수지, 중합성 아크릴 화합물 등을 들 수 있다. 이것들은, 이방성 도전 필름에 일반적으로 사용되고 있는 성분이기 때문에, 본 발명의 이방성 도전 필름에 있어서의 상기 열 가소성층의 재료로서도 사용할 수 있다. 단, 상기 열 가소성층이 이들 반응성 관능기를 갖는 화합물을 함유하는 경우에는, 통상, 상기 열 가소성층은, 이것들을 경화시키는 경화제를 함유하지 않는다.The other resin is not particularly limited as long as it is a resin other than the film forming resin, and can be appropriately selected in accordance with the purpose. Examples thereof include an epoxy resin and a polymerizable acrylic compound. Since these are components commonly used in anisotropic conductive films, they can also be used as the material of the thermoplastic layer in the anisotropic conductive film of the present invention. However, when the thermoplastic layer contains a compound having a reactive functional group, the thermoplastic layer generally does not contain a curing agent for curing the thermoplastic layer.
상기 열 가소성층에 있어서의 상기 그 밖의 수지의 함유량으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 60 질량% ∼ 99 질량% 가 바람직하고, 80 질량% ∼ 97 질량% 가 보다 바람직하다.The content of the other resin in the thermoplastic layer is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. It is preferably 60 mass% to 99 mass%, more preferably 80 mass% to 97 mass% Do.
상기 열 가소성층의 평균 두께로는, 특별히 제한은 없고, 적절히 선택할 수 있지만, 1 ㎛ ∼ 10 ㎛ 가 바람직하고, 2 ㎛ ∼ 7 ㎛ 가 보다 바람직하다. 상기 평균 두께가, 상기보다 바람직한 범위 내이면, 유동성의 컨트롤이 쉽고, 압착 후에 접속부에 잘 남지 않는 점에서, 유리하다.The average thickness of the thermoplastic layer is not particularly limited and may be appropriately selected, but is preferably from 1 탆 to 10 탆, more preferably from 2 탆 to 7 탆. When the average thickness is within the more preferable range, it is advantageous in that the control of the fluidity is easy and does not remain in the connection portion after the compression.
여기서, 상기 평균 두께는, 임의로 상기 열 가소성층의 5 개 지점의 두께를 측정했을 때의 평균치이다.Here, the average thickness is an average value when the thickness of five points of the thermoplastic layer is arbitrarily measured.
상기 도전성 입자 함유층의 용융 점도로는, 상기 열 가소성층이 접속 단자 사이로부터 배제되기 쉬운 점에서, 상기 열 가소성층의 용융 점도보다 큰 것이 바람직하다. 상기 용융 점도의 비율로는, 상기 열 가소성층이 접속 단자 사이로부터 보다 배제되기 쉬운 점에서, 상기 도전성 입자 함유층의 용융 점도가, 상기 열 가소성층의 용융 점도의 10 배 이상이 바람직하고, 15 배 ∼ 70 배가 보다 바람직하며, 20 배 ∼ 70 배가 특히 바람직하다.The melt viscosity of the conductive particle-containing layer is preferably larger than the melt viscosity of the thermoplastic layer in that the thermoplastic layer is easily removed from between the connection terminals. It is preferable that the melt viscosity of the conductive particle-containing layer is 10 times or more of the melt viscosity of the thermoplastic layer, and 15 times or more of the melt viscosity of the thermoplastic layer because the thermoplastic layer is more likely to be excluded from between the connection terminals To 70 times, and particularly preferably 20 times to 70 times.
여기서, 상기 용융 점도는, 예를 들어, 레오미터 (HAAKE 사 제조) 를 사용하여 측정된다. 측정은, 예를 들어, 각각의 층을 사용하여 실시한다. 유동 영역에서의 온도로 측정을 실시하고, 점도 측정시의 설정 온도가 85 ℃ 에서의 결과를 용융 점도로 한다.Here, the melt viscosity is measured using, for example, a rheometer (manufactured by HAAKE). The measurement is carried out using, for example, each layer. The measurement is carried out at the temperature in the flow region, and the result at a set temperature of 85 占 폚 at the viscosity measurement is taken as the melt viscosity.
(접속 방법)(Connection method)
본 발명에 관한 접속 방법은, 제 1 배치 공정과, 제 2 배치 공정과, 가열 가압 공정을 적어도 포함하고, 추가로 필요에 따라, 그 밖의 공정을 포함한다.The connection method according to the present invention includes at least a first batch process, a second batch process, and a heating and pressurizing process, and further includes other processes as required.
상기 접속 방법은, 제 1 회로 부재의 단자와 제 2 회로 부재의 단자를 접속시키는 방법이다.The connection method is a method of connecting the terminals of the first circuit member and the terminals of the second circuit member.
<제 1 회로 부재, 및 제 2 회로 부재><First Circuit Member and Second Circuit Member>
상기 제 1 회로 부재, 및 상기 제 2 회로 부재로는, 단자를 가지고, 상기 이방성 도전 필름을 사용한 이방성 도전 접속의 대상이 되는 회로 부재이면, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 단자를 갖는 플라스틱 기판, Flex-on-Board (플렉스 온 보드, FOB), Flex-on-Flex (플렉스 온 플렉스, FOF) 등을 들 수 있다.The first circuit member and the second circuit member are not particularly limited and may be appropriately selected in accordance with the purpose as long as they have a terminal and a circuit member to be subjected to anisotropic conductive connection using the anisotropic conductive film. For example, a plastic substrate having terminals, a Flex-on-Board (FLEX), a Flex-on-Flex (FlexOnflex, FOF), and the like.
상기 단자의 재질로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, Cu, Au 로 도금을 실시한 Cu, Ni 및 Au 로 도금을 실시한 Cu, Sn 으로 도금을 실시한 Cu 등을 들 수 있다.The material of the terminal is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. For example, Cu, plated with Cu, Ni and Au plated with Au, Cu plated with Sn, .
상기 단자를 갖는 플라스틱 기판의 재질, 구조로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 단자를 갖는 리지드 기판, 단자를 갖는 플렉시블 기판 등을 들 수 있다. 상기 단자를 갖는 리지드 기판으로는, 예를 들어, 구리 배선을 갖는 유리 에폭시 기판 등을 들 수 있다. 상기 단자를 갖는 플렉시블 기판으로는, 예를 들어, 구리 배선을 갖는 폴리이미드 기판 등을 들 수 있다.The material and the structure of the plastic substrate having the terminal are not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include a rigid substrate having terminals, and a flexible substrate having terminals. Examples of the rigid substrate having the terminal include a glass epoxy substrate having a copper wiring. Examples of the flexible substrate having the terminal include a polyimide substrate having a copper wiring.
상기 제 1 회로 부재, 및 상기 제 2 회로 부재의 형상, 크기로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있다.The shape and size of the first circuit member and the second circuit member are not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose.
상기 제 1 회로 부재, 및 상기 제 2 회로 부재는, 동일한 회로 부재여도 되고, 상이한 회로 부재여도 된다.The first circuit member and the second circuit member may be the same circuit member or different circuit members.
상기 제 1 회로 부재의 단자에는, 방청제에 의한 방청 처리가 되어 있다.The terminal of the first circuit member is rust-proofed with a rust preventive agent.
상기 제 2 회로 부재의 단자에는, 방청제에 의한 방청 처리가 되어 있지 않은 것이 바람직하다.It is preferable that the terminal of the second circuit member is not rust-proofed by a rust preventive agent.
상기 방청제로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있다. 상기 방청제는, 일반적으로, 프리플럭스 또는 OSP (Organic Solderability Preservative) 라고 칭해지고 있다.The rust inhibitor is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. The rust inhibitor is generally referred to as free flux or OSP (Organic Solderability Preservative).
상기 방청제는, 예를 들어, 이미다졸 화합물과, 구리 이온과, 유기산을 적어도 함유한다. 상기 이미다졸 화합물로는, 예를 들어, 벤조이미다졸 등을 들 수 있다. 상기 벤조이미다졸은 치환기를 가지고 있어도 된다.The rust preventive agent contains at least an imidazole compound, a copper ion and an organic acid, for example. Examples of the imidazole compound include benzoimidazole and the like. The benzimidazole may have a substituent.
상기 방청제는 수용성인 것이 바람직하다.The rust inhibitor is preferably water-soluble.
상기 방청 처리의 방법으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 처리되는 회로 부재를, 상기 방청제, 또는 상기 방청제를 희석하여 얻어지는 수용액에 침지시키는 방법 등을 들 수 있다.The method of the rust preventive treatment is not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. For example, a method of immersing the treated circuit member in the rust preventive or an aqueous solution obtained by diluting the rust preventive agent have.
상기 방청 처리를 실시함으로써, 회로 부재 상의 단자, 및 회로 부분이 보호된다.By performing the anti-corrosive treatment, the terminals on the circuit member and the circuit portion are protected.
<제 1 배치 공정>≪ First batch process >
상기 제 1 배치 공정으로는, 상기 제 1 회로 부재의 단자 상에, 본 발명의 이방성 도전 필름을, 상기 열 가소성층이 상기 제 1 회로 부재의 단자와 접하도록 배치하는 공정이면, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있다.The first arranging step is not particularly limited as long as it is a step of disposing the anisotropic conductive film of the present invention on the terminal of the first circuit member so that the thermoplastic layer is in contact with the terminal of the first circuit member , And can be appropriately selected according to the purpose.
<제 2 배치 공정><Second Arrangement Process>
상기 제 2 배치 공정으로는, 상기 이방성 도전 필름 상에, 상기 제 2 회로 부재를 배치하는 공정이면, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있다.The second disposing step is not particularly limited as long as the step of disposing the second circuit member on the anisotropic conductive film can be appropriately selected according to the purpose.
<가열 가압 공정><Heating and pressing step>
상기 가열 가압 공정으로는, 상기 제 2 회로 부재를 가열 가압 부재에 의해 가열 및 가압하는 공정이면, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 가열 가압 부재에 의해 가열 및 가압할 수 있다.The heating and pressing step is not particularly limited as long as the second circuit member is heated and pressed by the heating and pressing member. The heating and pressing step can be appropriately selected according to the purpose. For example, heating and pressing can do.
상기 가열 가압 부재로는, 예를 들어, 가열 기구를 갖는 가압 부재 등을 들 수 있다. 상기 가열 기구를 갖는 가압 부재로는, 예를 들어, 히트 툴 등을 들 수 있다.The heating and pressing member may be, for example, a pressing member having a heating mechanism. As a pressing member having the heating mechanism, for example, a heat tool and the like can be mentioned.
상기 가열의 온도로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 140 ℃ ∼ 200 ℃ 가 바람직하다.The temperature for the heating is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose, and it is preferably 140 占 폚 to 200 占 폚.
상기 가압의 압력으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 0.1 ㎫ ∼ 80 ㎫ 가 바람직하다.The pressure for the pressurization is not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose, but it is preferably 0.1 MPa to 80 MPa.
상기 가열 및 가압의 시간으로는, 특별히 제한은 없고, 목적에 따라 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어, 0.5 초간 ∼ 120 초간 등을 들 수 있다.The time for heating and pressurizing is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. For example, the time may be from 0.5 seconds to 120 seconds.
여기서, 도면을 사용하여, 본 발명의 접속 방법의 일례를 설명한다.Here, an example of the connection method of the present invention will be described with reference to the drawings.
도 1a ∼ 도 1e 는, 본 발명의 접속 방법의 일례를 설명하기 위한 개략 단면도이다.1A to 1E are schematic cross-sectional views for explaining an example of a connection method of the present invention.
먼저, 도 1a 에 나타내는 바와 같이, 제 1 회로 부재 (1) 를 준비한다. 제 1 회로 부재 (1) 는, 기재 (1A) 와, 기재 (1A) 상에 단자 (1B) 를 갖는다. 또한, 단자 (1B) 는, 방청제 (1C) 에 의한 방청 처리가 되어 있다.First, as shown in Fig. 1A, a first circuit member 1 is prepared. The first circuit member 1 has a
계속해서, 도 1b 에 나타내는 바와 같이, 제 1 회로 부재 (1) 상에, 이방성 도전 필름 (2) 을 배치한다. 이방성 도전 필름 (2) 은, 열 가소성층 (2A) 과, 도전성 입자 함유층 (2B) 을 적층하여 이루어진다. 또한, 이방성 도전 필름 (2) 은, 제 1 회로 부재 (1) 상에, 열 가소성층 (2A) 이 제 1 회로 부재 (1) 의 단자 (1B) 와 접하도록 배치된다. 또한, 도전성 입자 함유층 (2B) 은, 도전성 입자 (2C) 를 함유하고 있다. 그 때, 도 1c 에 나타내는 바와 같이, 열 가소성층 (2A) 중의 산 성분이 단자 (1B) 상으로부터 방청제 (1C) 를 제거한다.Subsequently, as shown in Fig. 1 (b), the anisotropic
계속해서, 도 1d 에 나타내는 바와 같이, 이방성 도전 필름 (2) 의 도전성 입자 함유층 (2B) 상에, 제 2 회로 부재 (3) 를 배치한다. 제 2 회로 부재 (3) 는, 기재 (3A) 와, 기재 (3A) 상에 단자 (3B) 를 갖는다. 제 2 회로 부재 (3) 는, 이방성 도전 필름 (2) 의 도전성 입자 함유층 (2B) 상에, 단자 (3B) 가, 도전성 입자 함유층 (2B) 과 접하도록 배치된다.Subsequently, as shown in Fig. 1 (d), the
계속해서, 도 1e 에 나타내는 바와 같이, 제 2 회로 부재 (3) 를 가열 및 가압함으로써, 제 1 회로 부재 (1) 와, 제 2 회로 부재 (3) 가 접속된다. 그 때, 단자 (1B) 상에는, 방청제 (1C) 가 존재하지 않기 때문에, 양호한 접속성이 얻어진다. 또, 열 가소성층 (2A) 은, 가열 및 가압시에, 적어도 단자 (1B) 및 단자 (3B) 사이로부터 압출되기 때문에, 열 가소성층 (2A) 중의 산 성분이 단자 (1B) 나 단자 (3B) 를 열화 (예를 들어, 부식, 용해, 마이그레이션 등) 시키는 경우도 없다.Subsequently, as shown in Fig. 1E, the first circuit member 1 and the
따라서, 본 발명의 접속 방법에 의해, 방청 처리가 된 기판을 접속하는 경우에도, 인접 단자 사이의 절연성, 및 접속 단자 사이의 장기적인 도전성이 우수한 접속을 실시할 수 있다.Therefore, by the connection method of the present invention, even when the substrate subjected to the anti-corrosive treatment is connected, it is possible to perform the insulation between the adjacent terminals and the connection excellent in long-term conductivity between the connection terminals.
또한, 도 1a ∼ 도 1e 에 의한 상기 설명에서는, 도 1c 에 있어서, 방청제 (1C) 가 제거되는 양태를 나타냈지만, 본 발명의 접속 방법은 이 양태에 한정되지 않는다. 예를 들어, 제 1 배치 공정시에는, 방청제가 단자 상으로부터 제거되어 있지 않아도, 가열 가압 공정에 있어서, 방청제가 단자 상으로부터 제거되어 있으면 된다. 그러한 양태도 본 발명의 접속 방법에 포함된다.In the above description with reference to Figs. 1A to 1E, the embodiment in which the rust
실시예Example
이하, 본 발명의 실시예를 설명하지만, 본 발명은, 이들 실시예에 전혀 한정되는 것은 아니다.Examples of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to these examples at all.
(실시예 1)(Example 1)
<이방성 도전 필름의 제조>≪ Preparation of anisotropic conductive film &
<<제 1 층의 제조>> << Manufacture of Layer 1 >>
비스페놀 F 형 에폭시 수지 (미츠비시 화학사 제조, 상품명 : jER-4004P) 를 55 질량부, 2 관능 아크릴 모노머 (신나카무라 화학사 제조, 상품명 : A-200) 를 25 질량부, 우레탄아크릴레이트 (신나카무라 화학사 제조, 상품명 : U-2PPA) 를 20 질량부, 및 인산에스테르형 아크릴레이트 (닛폰 화약사 제조, 상품명 : PM-2) 를 4 질량부를, 통상적인 방법에 의해 균일하게 혼합함으로써 제 1 층용 조성물을 조제하였다. 얻어진 조성물을 박리 폴리에스테르 필름에 도포하고, 70 ℃ 의 열풍을 3 분간 분사하여 건조시킴으로써, 평균 두께 5 ㎛ 의 제 1 층을 제조하였다., 55 parts by mass of bisphenol F type epoxy resin (trade name: jER-4004P, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), 25 parts by mass of bifunctional acrylic monomer (Shin-Nakamura Chemical Co., (Trade name: U-2PPA) and 4 parts by mass of phosphoric acid ester type acrylate (trade name: PM-2, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) were uniformly mixed by a conventional method to prepare a first layer composition Respectively. The obtained composition was applied to a peeled polyester film, and hot air at 70 占 폚 was sprayed for 3 minutes and dried to prepare a first layer having an average thickness of 5 占 퐉.
<<제 2 층의 제조>><< Manufacturing of
페녹시 수지 (신닛테츠 화학사 제조, 상품명 : YP-50) 를 45 질량부, 2 관능 아크릴 모노머 (신나카무라 화학사 제조, 상품명 : A-200) 를 20 질량부, 우레탄아크릴레이트 (신나카무라 화학사 제조, 상품명 : U-2PPA) 를 20 질량부, 실리카 필러 (평균 입경 5 ㎛, 닛폰 아에로질사 제조, 상품명 : 아에로질 RY200) 를 5 질량부, 디라우로일퍼옥사이드 (니치유사 제조, 상품명 : 퍼로일 L) 를 5 질량부, 및 평균 입자경 10 ㎛ 의 니켈 도금 수지 입자 3 질량부를, 통상적인 방법에 의해 균일하게 혼합함으로써 제 2 층용 조성물을 조제하였다. 얻어진 조성물을 박리 폴리에스테르 필름에 도포하고, 70 ℃ 의 열풍을 5 분간 분사하여 건조시킴으로써, 평균 두께 30 ㎛ 의 제 2 층을 제조하였다., 45 parts by mass of a phenoxy resin (trade name: YP-50, manufactured by Shin-Nittsu Chemical Co., Ltd.), 20 parts by mass of a bifunctional acrylic monomer (Shin-Nakamura Chemical Co., , 5 parts by mass of a silica filler (average particle size: 5 占 퐉, trade name: Aerosil RY200, manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.), 10 parts by mass of diarooyl peroxide : Perlowil L) and 3 parts by mass of nickel plated resin particles having an average particle size of 10 mu m were uniformly mixed by a conventional method to prepare a composition for a second layer. The obtained composition was applied to a peeled polyester film, and hot air at 70 캜 was sprayed for 5 minutes and dried to prepare a second layer having an average thickness of 30 탆.
제 1 층 및 제 2 층을 라미네이터를 사용하여 첩합 (貼合) 하고, 2 층 구조의 이방성 도전 필름을 얻었다.The first layer and the second layer were laminated using a laminator to obtain an anisotropic conductive film having a two-layer structure.
(실시예 2)(Example 2)
실시예 1 에 있어서, 제 1 층의 평균 두께를 3 ㎛ 로 하고, 제 2 층의 평균 두께를 32 ㎛ 로 한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 이방성 도전 필름을 제조하였다.An anisotropic conductive film was produced in the same manner as in Example 1 except that the average thickness of the first layer was 3 占 퐉 and the average thickness of the second layer was 32 占 퐉.
(실시예 3)(Example 3)
실시예 1 에 있어서, 제 1 층의 조성을 표 1 에 나타내는 조성으로 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 이방성 도전 필름을 제조하였다.An anisotropic conductive film was produced in the same manner as in Example 1 except that the composition of the first layer was changed to the composition shown in Table 1. [
(실시예 4)(Example 4)
실시예 1 에 있어서, 제 1 층의 조성, 그리고 제 1 층의 평균 두께, 및 제 2 층의 평균 두께를 표 1 에 나타내는 바와 같이 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 이방성 도전 필름을 제조하였다.The procedure of Example 1 was repeated except that the composition of the first layer, the average thickness of the first layer, and the average thickness of the second layer were changed as shown in Table 1, .
(실시예 5)(Example 5)
실시예 1 에 있어서, 제 1 층의 조성을 표 1 에 나타내는 바와 같이 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 이방성 도전 필름을 제조하였다.An anisotropic conductive film was produced in the same manner as in Example 1 except that the composition of the first layer was changed as shown in Table 1. [
(실시예 6)(Example 6)
실시예 1 에 있어서, 제 1 층의 조성을 표 1 에 나타내는 바와 같이 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 이방성 도전 필름을 제조하였다.An anisotropic conductive film was produced in the same manner as in Example 1 except that the composition of the first layer was changed as shown in Table 1. [
(비교예 1)(Comparative Example 1)
실시예 1 에 있어서, 제 1 층의 조성을 표 1 에 나타내는 바와 같이 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 이방성 도전 필름을 제조하였다.An anisotropic conductive film was produced in the same manner as in Example 1 except that the composition of the first layer was changed as shown in Table 1. [
(비교예 2)(Comparative Example 2)
실시예 1 에 있어서, 제 1 층의 조성, 그리고 제 1 층의 평균 두께, 및 제 2 층의 평균 두께를 표 1 에 나타내는 바와 같이 변경한 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 이방성 도전 필름을 제조하였다.The procedure of Example 1 was repeated except that the composition of the first layer, the average thickness of the first layer, and the average thickness of the second layer were changed as shown in Table 1, .
(비교예 3)(Comparative Example 3)
페녹시 수지 (신닛테츠 화학사 제조, 상품명 : YP-50) 를 45 질량부, 2 관능 아크릴 모노머 (신나카무라 화학사 제조, 상품명 : A-200) 를 20 질량부, 우레탄아크릴레이트 (신나카무라 화학사 제조, 상품명 : U-2PPA) 를 20 질량부, 인산에스테르형 아크릴레이트 (닛폰 화약사 제조, 상품명 : PM-2) 를 4 질량부, 실리카 필러 (평균 입경 5 ㎛, 닛폰 아에로질사 제조, 상품명 : 아에로질 RY200) 를 5 질량부, 디라우로일퍼옥사이드 (니치유사 제조, 상품명 : 퍼로일 L) 를 5 질량부, 및 평균 입자경 10 ㎛ 의 니켈 도금 수지 입자 3 질량부를 통상적인 방법에 의해 균일하게 혼합함으로써 제 2 층용 조성물을 조제하였다. 얻어진 조성물을 박리 폴리에스테르 필름에 도포하고, 70 ℃ 의 열풍을 5 분간 분사하여 건조시킴으로써, 평균 두께 35 ㎛ 의 이방성 도전 필름을 제조하였다., 45 parts by mass of a phenoxy resin (trade name: YP-50, manufactured by Shin-Nittsu Chemical Co., Ltd.), 20 parts by mass of a bifunctional acrylic monomer (Shin-Nakamura Chemical Co., (Trade name: U-2PPA), 4 parts by mass of phosphoric ester type acrylate (trade name: PM-2, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), silica filler (average particle diameter: 5 μm, trade name: 5 parts by mass of distilled water (Aerosil RY200), 5 parts by mass of dilauryl peroxide (manufactured by Nichikari Co., Ltd., trade name: PEROIL L) and 3 parts by mass of nickel plated resin particles having an average particle size of 10 μm were mixed by a conventional method The composition for the second layer was prepared by uniformly mixing. The obtained composition was applied to a peeled polyester film, and hot air at 70 캜 was sprayed for 5 minutes and dried, thereby producing an anisotropic conductive film having an average thickness of 35 탆.
<접합체의 제조>≪ Preparation of a conjugate &
제 1 회로 부재로서, PWB (덱세리얼즈사 제조 평가용 기재, 200 ㎛P, Cu 35 ㎛t-방청 처리 있음, FR-4 기재)As the first circuit member, PWB (base material for evaluation by Dexterz Corporation, 200 탆 P, Cu 35 탆 t-rust-proofing treatment, FR-4 substrate)
제 2 회로 부재로서, COF (덱세리얼즈사 제조 평가용 기재, 200 ㎛P, Cu 8 ㎛t-Sn 도금, 38 ㎛t-S'perflex 기재) 를 사용하였다.As a second circuit member, COF (a substrate for evaluation by Dextelles Co., 200 μm P, Cu 8 μm t-Sn plating, and 38 μm t-S'perflex substrate) was used.
제조한 이방성 도전 필름을 사용하여, 제 1 회로 부재와 제 2 회로 부재의 접속을 실시하였다.Using the produced anisotropic conductive film, connection of the first circuit member and the second circuit member was performed.
또한, 제 1 회로 부재는, Top 온도 250 ℃ 의 리플로 노를 3 회 통과시킨 것을 사용하였다.The first circuit member used was one which had passed through a reflow furnace having a Top temperature of 250 占 폚 three times.
먼저, 2.0 ㎜ 폭으로 슬릿된 이방성 도전 필름을, 제 1 층이 제 1 회로 부재의 단자에 접하도록 제 1 회로 부재에 첩부하고, 그 위에 제 2 회로 부재를 위치 맞춤한 후, 가열 가압 툴 (완충재 250 ㎛t 실리콘 러버, 2.0 ㎜ 폭) 을 사용하여, 압착 조건 170 ℃-3 ㎫-5 sec 로 압착을 실시하고, 접합체를 완성시켰다.First, an anisotropic conductive film sliced with a width of 2.0 mm was attached to the first circuit member such that the first layer was in contact with the terminal of the first circuit member, and the second circuit member was aligned thereon. Then, Compression bonding material 250 탆 t silicone rubber, 2.0 mm width) was used and compression bonding was performed at 170 캜 -3 MPa - 5 sec to complete the bonded body.
<용융 점도의 측정>≪ Measurement of melt viscosity >
실시예, 비교예에 있어서의 제 1 층, 및 제 2 층의 용융 점도를 레오미터 (HAAKE 사 제조) 를 사용하여 측정하였다. 측정은, 제 1 층 및 제 2 층을 라미네이터를 사용하여 첩합하기 전에, 각각의 층을 사용하여 실시하였다. 유동 영역에서의 온도로 측정을 실시하고, 점도 측정시의 설정 온도가 85 ℃ 에서의 결과로서, 결과를 표 1 에 나타내었다.The melt viscosity of the first layer and the second layer in Examples and Comparative Examples was measured using a rheometer (manufactured by HAAKE). The measurement was carried out using the respective layers before the first layer and the second layer were bonded using a laminator. The measurement was carried out at the temperature in the flow region, and as a result of the set temperature at the time of measuring the viscosity at 85 캜, the results are shown in Table 1.
<THB 평가><THB evaluation>
제조한 접합체를 사용하여, THB 평가를 실시하였다. 접합체를 60 ℃-95 %RH 의 환경 중에서 노출시켜, 50 V 의 직류 전압을 250 시간 인가하였다. 시험 종료 후, 부식 및 마이그레이션 등에 의한 절연 저하의 발생의 유무를 확인하고, 이하의 평가 기준으로 평가하였다. 결과를 표 1 에 나타내었다.The THB evaluation was carried out using the thus-obtained bonded body. The bonded body was exposed in an environment of 60 ° C-95% RH, and a DC voltage of 50 V was applied for 250 hours. After the completion of the test, the presence or absence of insulation deterioration due to corrosion and migration was checked and evaluated according to the following evaluation criteria. The results are shown in Table 1.
[평가 기준][Evaluation standard]
○ : 절연 저항치가 1.0 × 109 Ω 이상O: Insulation resistance value of 1.0 x 10 < 9 >
△ : 절연 저항치가 1.0 × 108 Ω 이상 1.0 × 109 Ω 미만DELTA: Insulation resistance value of 1.0 x 10 8 Ω or more and less than 1.0 x 10 9 Ω
×: 절연 저항치가 1.0 × 108 Ω 미만X: Insulation resistance value less than 1.0 x 10 8 Ω
<도통 저항의 측정>≪ Measurement of continuity resistance &
제조한 접합체에 대하여, 4 단자법을 이용하여 전류 1 mA 를 흘렸을 때의 접속 저항을, 초기, 및 85 ℃, 85 %RH, 500 h 경과 후의 양방에서 측정하고, 이하의 평가 기준으로 평가하였다. 결과를 표 1 에 나타내었다.The connection resistance when the current of 1 mA was passed through the four-terminal method was measured at both the initial and after 85 ° C, 85% RH and 500 h, and evaluated according to the following evaluation criteria. The results are shown in Table 1.
[평가 기준][Evaluation standard]
○ : 0.3 Ω 미만○: less than 0.3 Ω
△ : 0.3 Ω 이상 0.6 Ω 미만?: 0.3? Or more and less than 0.6?
× : 0.6 Ω 이상×: 0.6 Ω or more
표 1 중에 나타내는 배합량의 단위는, 질량부이다.The unit of the compounding amount shown in Table 1 is the mass part.
jER-4004P : 비스페놀 F 형 에폭시 수지, 미츠비시 화학사 제조jER-4004P: Bisphenol F type epoxy resin, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation
YP-70 : 비스페놀 A/F 형 에폭시 타입 페녹시 수지, 신닛테츠 화학사 제조YP-70: Bisphenol A / F type epoxy type phenoxy resin, manufactured by Shin-Nittsu Chemical Co., Ltd.
YP-50 : 비스페놀 A 형 에폭시 타입 페녹시 수지, 신닛테츠 화학사 제조YP-50: bisphenol A type epoxy type phenoxy resin, manufactured by Shinnitetsu Chemical Industry Co., Ltd.
A-200 : 2 관능 아크릴 모노머, 신나카무라 화학사 제조A-200: bifunctional acrylic monomer, manufactured by Shin Nakamura Chemical Co., Ltd.
U-2PPA : 우레탄아크릴레이트, 신나카무라 화학사 제조U-2PPA: urethane acrylate, manufactured by Shin Nakamura Chemical Co., Ltd.
PM-2 : 인산에스테르형 아크릴레이트, 닛폰 화학사 제조PM-2: phosphoric ester type acrylate, manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd.
KE-604 : 로진, 아라카와 화학 공업사 제조KE-604: manufactured by Rosin, Arakawa Chemical Industries, Ltd.
퍼로일 L : 디라우로일퍼옥사이드, 니치유사 제조Peroil L: De lauroyl peroxide, Nichi-like manufacturing
아에로질 RY200 : 실리카 필러, 닛폰 아에로질사 제조Aerosil RY200: silica filler, manufactured by Nippon Aerosil Inc.
실시예 1 ∼ 6 에서는, 인접 단자 사이의 절연성, 및 접속 단자 사이의 장기적인 도전성이 우수했다.In Examples 1 to 6, the insulation between adjacent terminals and the long-term conductivity between connection terminals were excellent.
비교예 1 에서는, 제 1 층이 산 성분을 함유하지만, 경화 성분과 경화제를 함유하는 점에서 열 가소성층은 아니기 때문에, 절연 저항이 불충분하였다. 이것은, 접합체 제조 후에, 제 1 층이 단자 상으로부터 압출되지 않았기 때문에, 제 1 층 중의 산 성분이 단자에 데미지를 주어, 단자에 마이그레이션을 발생시켰기 때문인 것으로 생각된다.In Comparative Example 1, the first layer contains an acid component, but since it is not a thermoplastic layer in that it contains a curing component and a curing agent, insulation resistance is insufficient. It is considered that this is because the acid component in the first layer damages the terminal and migrates to the terminal since the first layer is not extruded from the terminal surface after the assembly is manufactured.
비교예 2 에서는, 도통 저항이 불충분하였다. 이것은, 제 1 층이 열 가소성층이지만, 산 성분을 함유하지 않기 때문에, 단자 상의 방청제를 제거하지 못하고, 결과적으로, 방청제가 단자 사이의 접속성을 저하시켰기 때문인 것으로 생각된다.In Comparative Example 2, the conduction resistance was insufficient. This is thought to be because the first layer is a thermoplastic layer but contains no acid component, so that the rust-preventive agent on the terminal can not be removed, and consequently, the rust-preventive agent deteriorates the connectivity between the terminals.
비교예 3 에서는, 절연 저항이 불충분하였다. 이것은, 접합체 제조 후에, 산 성분이 단자에 데미지를 주어, 단자에 마이그레이션을 발생시켰기 때문인 것으로 생각된다.In Comparative Example 3, the insulation resistance was insufficient. This is thought to be attributable to the fact that, after manufacturing the bonded body, the acid component damages the terminal, causing the terminal to migrate.
산업상 이용가능성Industrial availability
본 발명의 이방성 도전 필름은, 방청 처리가 된 기판을 접속하는 경우에도, 인접 단자 사이의 절연성, 및 접속 단자 사이의 장기적인 도전성이 우수하기 때문에, 방청 처리가 된 기판과, 다른 기판과의 접속에 바람직하게 사용할 수 있다.The anisotropic conductive film of the present invention is excellent in the insulating property between the adjacent terminals and the long-term conductivity between the connection terminals even when the substrate subjected to the anti-corrosive treatment is connected. Therefore, Can be preferably used.
1 : 제 1 회로 부재
1A : 기재
1B : 단자
1C : 방청제
2 : 이방성 도전 필름
2A : 열 가소성층
2B : 도전성 입자 함유층
2C : 도전성 입자
3 : 제 2 회로 부재
3A : 기재
3B : 단자1: first circuit member
1A: substrate
1B: terminal
1C: Antirust agent
2: Anisotropic conductive film
2A: thermoplastic layer
2B: Conductive particle containing layer
2C: conductive particles
3: second circuit member
3A: substrate
3B: terminal
Claims (5)
산 성분을 함유하는 열 가소성층을 갖고,
상기 도전성 입자 함유층의 용융 점도가, 상기 열 가소성층의 용융 점도보다 큰 것을 특징으로 하는 이방성 도전 필름.A conductive particle-containing layer containing conductive particles, a thermosetting resin, and a curing agent;
And a thermoplastic layer containing an acid component,
Wherein the conductive particle-containing layer has a melt viscosity higher than that of the thermoplastic layer.
상기 산 성분이 인산에스테르 화합물인, 이방성 도전 필름.The method according to claim 1,
Wherein the acid component is a phosphoric acid ester compound.
상기 제 1 회로 부재의 단자 상에, 제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 이방성 도전 필름을, 열 가소성층이 상기 제 1 회로 부재의 단자와 접하도록 배치하는 제 1 배치 공정과,
상기 이방성 도전 필름 상에, 상기 제 2 회로 부재를 배치하는 제 2 배치 공정과,
상기 제 2 회로 부재를 가열 가압 부재에 의해 가열 및 가압하는 공정을 포함하고,
상기 제 1 회로 부재의 단자에, 방청제에 의한 방청 처리가 되어 있는 것을 특징으로 하는 접속 방법.A connection method for connecting a terminal of a first circuit member to a terminal of a second circuit member,
A first arranging step of arranging the anisotropic conductive film according to claim 1 or 2 on a terminal of the first circuit member such that the thermoplastic layer is in contact with a terminal of the first circuit member;
A second arranging step of disposing the second circuit member on the anisotropic conductive film,
And heating and pressing the second circuit member by a heating and pressing member,
Wherein the terminal of the first circuit member is rust-proofed with a rust preventive agent.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015010310A JP6474620B2 (en) | 2015-01-22 | 2015-01-22 | Anisotropic conductive film and connection method |
JPJP-P-2015-010310 | 2015-01-22 | ||
PCT/JP2016/050191 WO2016117350A1 (en) | 2015-01-22 | 2016-01-06 | Anisotropic conductive film and connection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20170083113A KR20170083113A (en) | 2017-07-17 |
KR102006090B1 true KR102006090B1 (en) | 2019-07-31 |
Family
ID=56416899
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020177015870A KR102006090B1 (en) | 2015-01-22 | 2016-01-06 | Anisotropic conductive film and connection method |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6474620B2 (en) |
KR (1) | KR102006090B1 (en) |
CN (1) | CN107112658B (en) |
TW (1) | TWI681694B (en) |
WO (1) | WO2016117350A1 (en) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6798165B2 (en) | 2016-07-06 | 2020-12-09 | スズキ株式会社 | Vehicle exhaust pipe mounting device |
WO2018225191A1 (en) * | 2017-06-07 | 2018-12-13 | 日立化成株式会社 | Film-like adhesive for semiconductors, semiconductor device production method, and semiconductor device |
CN111094487A (en) * | 2017-09-11 | 2020-05-01 | 日立化成株式会社 | Adhesive film for circuit connection and method for producing same, method for producing circuit connection structure, and adhesive film housing module |
KR102631317B1 (en) * | 2017-09-11 | 2024-02-01 | 가부시끼가이샤 레조낙 | Adhesive film for circuit connection and manufacturing method thereof, manufacturing method of circuit connection structure, and adhesive film accommodation set |
JP6939542B2 (en) | 2017-12-28 | 2021-09-22 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | Electrical connection device |
CN112210321A (en) * | 2019-07-12 | 2021-01-12 | 臻鼎科技股份有限公司 | Conductive adhesive, and electromagnetic wave shielding film and circuit board using the same |
WO2023276792A1 (en) * | 2021-07-01 | 2023-01-05 | 日東電工株式会社 | Bonding sheet and method for producing electronic component |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06103819A (en) * | 1992-09-21 | 1994-04-15 | Hitachi Chem Co Ltd | Anisotropic conductive adhesive film |
JP3622792B2 (en) * | 1994-11-25 | 2005-02-23 | 日立化成工業株式会社 | Connection member and electrode connection structure and connection method using the connection member |
EP1754762A4 (en) * | 2004-06-09 | 2009-07-22 | Hitachi Chemical Co Ltd | Adhesive composition, circuit connecting material, connecting structure for circuit member, and semiconductor device |
JP4844003B2 (en) * | 2005-05-10 | 2011-12-21 | 日立化成工業株式会社 | Circuit connection material, circuit member connection structure, and circuit member connection method. |
JP5018779B2 (en) * | 2006-08-22 | 2012-09-05 | 日立化成工業株式会社 | Circuit connection material, circuit member connection structure, and circuit member connection structure manufacturing method |
CN102559077A (en) * | 2007-10-15 | 2012-07-11 | 日立化成工业株式会社 | Usage of adhesive film as circuit-connecting material and usage of adhesive film in manufacturing circuit-connecting material |
JP2009277769A (en) | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Hitachi Chem Co Ltd | Circuits connecting material and connection structure of circuit member using the same |
JP5690648B2 (en) * | 2011-04-28 | 2015-03-25 | デクセリアルズ株式会社 | Anisotropic conductive film, connection method and connection structure |
JP5650611B2 (en) * | 2011-08-23 | 2015-01-07 | デクセリアルズ株式会社 | Anisotropic conductive film, method for manufacturing anisotropic conductive film, connection method, and joined body |
JP2014192486A (en) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Dexerials Corp | Method for connecting circuit member and assembly |
-
2015
- 2015-01-22 JP JP2015010310A patent/JP6474620B2/en active Active
-
2016
- 2016-01-06 KR KR1020177015870A patent/KR102006090B1/en active IP Right Grant
- 2016-01-06 CN CN201680005263.9A patent/CN107112658B/en active Active
- 2016-01-06 WO PCT/JP2016/050191 patent/WO2016117350A1/en active Application Filing
- 2016-01-12 TW TW105100817A patent/TWI681694B/en active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107112658B (en) | 2019-07-12 |
CN107112658A (en) | 2017-08-29 |
JP2016134366A (en) | 2016-07-25 |
JP6474620B2 (en) | 2019-02-27 |
TW201633863A (en) | 2016-09-16 |
TWI681694B (en) | 2020-01-01 |
WO2016117350A1 (en) | 2016-07-28 |
KR20170083113A (en) | 2017-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102006090B1 (en) | Anisotropic conductive film and connection method | |
KR20120113784A (en) | Anisotropic conductive film | |
TWI584908B (en) | Joining sheet, electronic component, and producing method thereof | |
KR102161430B1 (en) | Anisotropic conductive film, connecting method, and joined structure | |
EP2792722B1 (en) | Method for connecting electronic components and assembly resulting therefrom | |
JP7347576B2 (en) | adhesive film | |
JP2013152867A (en) | Conductive particle, anisotropic conductive material, and connection structure | |
WO2015029696A1 (en) | Electrically conductive joining composition, electrically conductive joining sheet, electronic component, and production method for same | |
KR102193813B1 (en) | Anisotropic conductive film, connecting method, and joined structure | |
KR102336897B1 (en) | Mounting body manufacturing method and anisotropic conductive film | |
KR102698604B1 (en) | Method for manufacturing film recommendations and connectors | |
JP7384171B2 (en) | Film adhesive for semiconductors, semiconductor devices and manufacturing methods thereof | |
JP6133069B2 (en) | Heat curable adhesive film | |
JP6328996B2 (en) | Conductive paste, connection structure, and manufacturing method of connection structure | |
WO2014156930A1 (en) | Connection method for circuit member, and assembly | |
KR102524175B1 (en) | Manufacturing method of connection structure and connection film | |
JP6286473B2 (en) | Zygote | |
JP6307294B2 (en) | Circuit connection material and method of manufacturing electronic component | |
JP5966069B2 (en) | Anisotropic conductive film, joined body and connection method | |
JP2014067998A (en) | Conductive connection sheet, inter-terminal connection method, method of forming connection and electronic apparatus | |
JP2013131321A (en) | Conductive particle, anisotropic conductive material and connection structure | |
US20190085211A1 (en) | Adhesive agent, and method for connecting electronic component | |
KR20160130399A (en) | Connecting structure, manufacturing method for connecting structure, and circuit connecting material |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |