KR101987822B1 - In-line inspection system for inspecting object related to display module - Google Patents
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Abstract
본 발명은 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템에 관한 것이다.
본 발명에 따른 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템은, 상기 세척장치로부터 받은 검사대상물의 양호 또는 불량 여부를 자동으로 검사하는 자동 검사장치; 상기 자동 검사장치로부터 온 검사대상물을 검사 결과에 따라서 분류하며, 가장 후단에 배치되는 분류장치; 및 상기 세척장치, 검사장치 및 분류장치를 제어하는 제어장치; 를 포함한다.
본 발명에 따르면 인라인으로 모든 검사 작업이 완료되기 때문에, 검사를 위해 요구되는 작업을 수행하면서 검사대상물을 운반하는 데서 오는 검사대상물의 손상을 방지할 수 있다.The present invention relates to an in-line inspection system for inspecting an object to be inspected related to a display module.
The inline inspection system for inspecting the inspection object related to the display module according to the present invention includes an automatic inspection device for automatically checking whether the inspection object received from the cleaning device is good or bad; A sorting device that sorts the inspection objects from the automatic inspection device according to inspection results and is disposed at the rearmost end; And a control device for controlling the cleaning device, the inspection device, and the sorting device. .
According to the present invention, since all inspection work is completed in-line, it is possible to prevent damage to the inspection object from carrying the inspection object while performing the operation required for inspection.
Description
본 발명은 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물(부품, 중간제품 또는 완제품)을 검사하는 기술과 관계한다.The present invention relates to a technique for inspecting an object to be inspected (part, intermediate or finished product) related to a display module.
근래의 휴대전화나 태블릿PC 등의 전자기기에는 화면을 표시하기 위해 디스플레이모듈이 탑재된다.2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices such as a mobile phone and a tablet PC have a display module mounted thereon for displaying a screen.
여러 종류의 디스플레이모듈 중, 예를 들어 LCD 모듈은 액정셀과 백라이트유닛으로 구성되고, 백라이트유닛은 몰드프레임, 반사필름, 도광판, 확산필름, 프리즘필름, 차광필름 및 보호필름 등의 부품으로 구성된다. 이러한 디스플레이모듈은 생산 도중의 여러 단계에 있는 중간제품의 형태를 거쳐 최종적으로 완제품이 된다.Among various types of display modules, for example, an LCD module is composed of a liquid crystal cell and a backlight unit, and the backlight unit is composed of parts such as a mold frame, a reflective film, a light guide plate, a diffusion film, a prism film, a light shielding film and a protective film . These display modules are finally finished in the form of intermediate products at various stages during production.
디스플레이모듈은 육안에 의해 직접 보이는 화면을 표시하기 때문에 각각의 구성 부품들에 있는 얼룩이나 이물질 또는 스크래치 등이 완제품의 불량 여부와 직결된다. 따라서 양호한 완제품이 생산되기 위해서는 양호한 부품들을 사용해야만 하기 때문에 부품들에 대한 검사가 필수적으로 요구된다.Since the display module displays a screen that is directly visible by the naked eye, the dirt, foreign matter, or scratches in the respective components are directly related to the defect of the finished product. Therefore, in order to produce a good finished product, it is necessary to inspect the parts because good parts must be used.
또한, 생산 과정에 있는 중간제품(LCD 모듈을 예로 들면 백라이트유닛이 결합되기 전의 액정셀)의 경우에도 불량 부품의 사용, 작업자의 실수나 미숙함 또는 자동화된 조립장비의 공정 불량 등으로 인해 불량한 상태로 제조될 수 있다. 만일 불량한 중간제품을 사용하여 완제품을 생산하게 되면 완제품도 불량제품이 되기 때문에, 완제품 완성 전에 있는 중간제품의 경우에도 외관 또는 점등 검사가 반드시 필요하다.Moreover, even in the case of intermediate products in the production process (eg, a liquid crystal cell before the backlight unit is coupled with an LCD module), it is in a poor state due to the use of a defective part, a worker's error or inexperience, . If an intermediate product is used to produce the finished product, the finished product is also a defective product. Therefore, the appearance or lighting inspection is also necessary for intermediate products before the completion of the finished product.
그리고 최종 완제품은 고객사에 납품하기 전에 마지막 검사를 거치고, 해당 검사에서 양호로 판정된 완제품만을 고객사에 납품하게 된다.The final finished product will be tested before delivery to the customer and only the finished product determined to be satisfactory by the inspection will be delivered to the customer.
종래 디스플레이모듈과 관련된 검사대상물에 대한 외관 검사나 전기적인 특성 검사는 작업자의 육안 확인 작업을 통해 이루어졌다. 그러나 수작업에 의한 외관 검사나 전기적인 특성 검사는 작업자의 숙련도, 당시 작업자의 피로도나 주변 환경 등에 의해 편차가 발생하기 때문에 검사의 객관성과 정확성이 담보되지 못한다. 따라서 대한민국 공개특허 10-2005-0078034호 등에서와 같이 카메라를 이용한 비젼검사로 대체되었다. 그런데, 카메라를 이용한 자동화된 외관 검사나 전기적인 특성 검사는 설정된 양부 기준에 따라 획일적으로 이루어지기 때문에 디스플레이모듈이 탑재되는 생산품의 사양에 따라서는 활용 가능한 수준에 있는 자원까지도 폐기되는 문제들이 있다. 예를 들어 액정셀에 보호필름이 부착되어 있는데, 보호필름에 스크래치 등이 발생하였을 경우 자동화된 검사를 통해서는 액정셀 전체의 불량으로 확인될 수 있으며, 이러한 경우 보호필름과 함께 액정셀 자체도 폐기될 수 있는 것이다.Conventionally, visual inspection or electrical characteristic inspection of a test object related to a display module has been performed through a visual check of a worker. However, the appearance inspection and the electrical characteristic inspection by hand do not guarantee the objectivity and accuracy of the inspection because the deviation is caused by the skill of the operator, the fatigue of the operator at that time, and the surrounding environment. Therefore, it has been replaced by a vision inspection using a camera as disclosed in Korean Patent Laid-Open No. 10-2005-0078034. However, since the automated visual inspection using the camera and the electrical characteristic inspection are performed uniformly according to the set standards, there are problems that the resources at the usable level are also discarded depending on the specification of the product on which the display module is mounted. For example, when a protective film is attached to a liquid crystal cell, scratches or the like on the protective film may be confirmed as a defect in the entire liquid crystal cell through automated inspection. In this case, the liquid crystal cell itself It can be.
또한, 검사를 위해 여러 작업 단계를 거치면서 작업 장비 간을 오가는 과정에서 검사대상물에 손상이 발생할 개연성이 있었고, 이러한 점은 불량화된 제품의 납품으로 인한 신뢰성 하락이나 자원의 손실을 가져왔다.In addition, there is a possibility that the inspection object may be damaged in the process of moving between working apparatuses through various working steps for inspection, which resulted in a decrease in reliability or loss of resources due to the delivery of defective products.
본 발명의 제1 목적은 검사에 필요한 모든 작업을 인라인 시스템으로 구축할 수 있는 기술을 제공하는 것이다.A first object of the present invention is to provide a technique capable of constructing all operations required for inspection as an inline system.
그리고 본 발명의 제2 목적은 하나의 인라인 시스템 내에서 자동 검사와 수동 검사를 병행할 수 있는 기술을 제공하는 것이다.A second object of the present invention is to provide a technique capable of performing automatic inspection and manual inspection in one inline system.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템은. 검사대상물의 표면을 세척하기 위해 가장 전단에 배치되는 세척장치; 상기 세척장치로부터 받은 검사대상물의 양호 또는 불량 여부를 자동으로 검사하는 자동 검사장치; 상기 자동 검사장치로부터 온 검사대상물을 검사 결과에 따라서 분류하며, 가장 후단에 배치되는 분류장치; 및 상기 세척장치, 검사장치 및 분류장치를 제어하는 제어장치; 를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an inline inspection system for inspecting an object to be inspected related to a display module. A cleaning device disposed at the frontmost position for cleaning the surface of the object to be inspected; An automatic inspection device for automatically checking whether the inspection object received from the cleaning device is good or bad; A sorting device that sorts the inspection objects from the automatic inspection device according to inspection results and is disposed at the rearmost end; And a control device for controlling the cleaning device, the inspection device, and the sorting device. .
상기 자동 검사장치는, 검사대상물의 외관을 검사하기 위한 외관 검사기; 및 상기 외관검사기로부터 온 검사대상물의 전기적인 특성을 검사하기 위한 특성 검사기; 를 포함한다.The automatic inspecting apparatus includes an appearance inspector for inspecting the appearance of the object to be inspected; And a characteristic tester for checking electrical characteristics of the inspection object from the visual inspection machine; .
상기 자동 검사장치와 상기 분류장치 사이에 구비되며, 작업자에 의한 수동 검사를 지원하는 검사 지원장치; 를 더 포함하고, 상기 검사 지원장치는, 검사대상물이 안착될 수 있는 검사지그; 및 검사가 완료된 검사대상물에 대한 수동 검사결과를 입력시키기 위한 입력기; 를 포함한다.An inspection support device provided between the automatic inspection device and the sorting device and supporting manual inspection by a worker; Further comprising: a test jig to which an object to be inspected can be seated; And an input unit for inputting a result of the manual inspection of the inspected object; .
상기 검사 지원장치는, 상기 자동 검사장치의 자동 검사결과를 디스플레이시킬 수 있는 모니터; 를 더 포함하고, 상기 제어장치는 상기 자동 검사장치의 검사된 결과를 상기 모니터를 통해 디스플레이시키며, 상기 자동 검사장치에 의한 자동 검사결과와 상기 입력기를 통해 작업자로부터 입력된 수동 검사결과에 따라 상기 분류장치를 제어하여 검사대상물을 분류시킨다.Wherein the inspection support apparatus comprises: a monitor capable of displaying an automatic inspection result of the automatic inspection apparatus; Wherein the controller displays the inspected result of the automatic inspecting apparatus through the monitor and displays the results of the automatic inspections by the automatic inspecting apparatus and the manual inspections inputted by the operator through the inserter, The apparatus is controlled to classify the objects to be inspected.
상기 검사 지원장치는 상기 자동 검사장치로부터 온 검사대상물의 평면상에서 180도 회전시킬 수 있는 회전기; 를 더 포함하고, 상기 검사지그와 상기 입력기는 복수개로 구비되어서 좌우 양측에 각각 나뉘어 구비되고, 상기 제어장치는 좌우 양측으로 나뉜 상기 검사지그들 중 어느 일측에 있는 검사지그로 공급될 검사대상물을 180도 회전시킨 후 공급한다.Wherein the inspection support apparatus comprises: a rotator capable of rotating 180 degrees on a plane of the inspection object from the automatic inspection apparatus; Wherein the control jig is provided with a plurality of inspection jigs and the input device, and the control device divides the inspection object to be supplied to any one of the left and right inspection jig Rotate and feed.
상기 분류장치는, 검사대상물을 거치시키기 위한 전후 방향으로 나란히 배열되는 다수개의 거치대; 상기 다수의 거치대들에 거치된 액정셀들을 파지하거나 파지를 해제할 수 있는 적어도 하나의 파지기; 상기 적어도 하나의 파지기를 이송시킴으로써 액정셀들을 상기 다수의 거치대들을 경유시키면서 순차적으로 후방으로 이동시키는 전후 이송기; 및 상기 다수개의 거치대 중 특정 거치대에 거치된 액정셀을 검사 결과에 따라 분류하는 분류기; 를 포함한다.The sorting device includes: a plurality of cradles arranged side by side in a front-back direction for receiving an object to be inspected; At least one gripper capable of gripping or releasing the gripped liquid crystal cells of the plurality of cradles; A back-and-forth conveyor for sequentially moving the liquid crystal cells backward through the plurality of cradles by transporting the at least one gripper; And a classifier for classifying the liquid crystal cells, which are placed in a specific cradle among the plurality of cradles, according to the result of the examination; .
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the present invention has the following effects.
첫째, 세척 작업에서 (다단계의) 검사 작업을 거친 후 분류 작업까지 하나의 인라인 시스템에서 이루어지기 때문에 장비간 검사대상물을 이동시키는 데서 오는 손상이 발생하지 않고, 인력 및 검사 비용을 줄일 수 있는 효과가 있다.First, since the cleaning operation is performed in a single inline system from the inspection (multi-stage) inspection to the classification operation, there is no damage caused by moving the inspection object between the apparatuses, and the effect of reducing manpower and inspection costs have.
둘째, 자동 검사가 완료된 검사대상물을 수동 검사를 거쳐 검사 결과를 수정할 수 있게 하고, 더 나아가 검사 등급별로 나누어서 분류할 수도 있기 때문에 자원의 낭비를 줄이고, 제품이 적용될 수 있는 물량을 늘릴 수 있거나 재사용 가치가 있는 자원을 회수할 수 있다.Secondly, it is possible to reduce the waste of resources, to increase the amount of products to which the product can be applied, or to reduce the reuse value It is possible to recall resources with
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템에 관한 개념적인 평면 구성도이다.
도 2는 도 1의 인라인 검사시스템에 적용된 분류장치의 주요 부위에 대한 개략적인 사시도이다.
도 3은 도 2의 분류장치에 대한 개념적인 평면도이다.
도 4는 도 2의 분류장치에 적용된 제1 내지 제5 거치대에 대한 발췌도이다.
도 5는 도 2의 분류장치에 적용된 제1 내지 제3 파지기와 전후 이송기에 대한 발췌도이다.
도 6은 도 5에 도시된 제1 파지기를 확대 발췌한 도면이다.
도 7은 도 2의 분류장치에 적용된 분류기에 대한 발췌도이다.
도 8은 도 2의 분류장치에 적용된 수납스택커에 대한 발췌도이다.
도 9은 도 2의 분류장치에 적용된 공급스택커에 대한 발췌도이다.
도 10은 도 2의 분류장치에 적용된 트랜스퍼에 대한 발췌도이다.
도 11은 도 2의 분류장치에 적용된 배출기에 대한 발췌도이다.1 is a conceptual plan view of an in-line inspection system for inspecting an inspection object related to a display module according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic perspective view of a main part of a sorting apparatus applied to the inline inspection system of FIG.
3 is a conceptual plan view of the classification apparatus of FIG.
Fig. 4 is an excerpt of the first to fifth holders applied to the sorting apparatus of Fig. 2;
Fig. 5 is an excerpt of the first to third grippers and the front and rear conveyors applied to the sorting apparatus of Fig. 2;
6 is an enlarged view of the first gripper shown in Fig.
7 is an excerpt of a classifier applied to the classification apparatus of FIG.
FIG. 8 is an excerpt of a storage stacker applied to the sorting apparatus of FIG. 2; FIG.
Fig. 9 is an excerpt of a supply stacker applied to the classification apparatus of Fig. 2;
10 is an excerpt of a transfer applied to the classification apparatus of FIG.
Fig. 11 is an excerpt of an ejector applied to the sorting apparatus of Fig. 2; Fig.
본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명하되, 이미 주지되어진 기술적 부분에 대해서는 설명의 간결함을 위해 생략하거나 압축하기로 한다.The preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings, in which the technical parts already known will be omitted or compressed for simplicity of explanation.
<인라인 검사시스템에 대한 구성 설명><Configuration description for inline inspection system>
본 실시예에서의 디스플레이모듈과 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템(ITS, 이하 본 실시예에 적절하게'인라인 셀 검사시스템'이라 약칭 함)은 LCD 모듈에 구성되는 액정셀이 검사대상물이다. 절단공정을 통해 각 단위패널로 분리된 액정셀들은 본 실시예에 따른 인라인 셀 검사시스템(ITS)에 의해 검사되고 검사 등급에 따라 분류된다.An in-line inspection system (ITS, hereinafter referred to as 'in-line cell inspection system' according to the present embodiment) for inspecting an object to be inspected related to the display module in the present embodiment is a liquid crystal cell constituted by an LCD module is an object to be inspected . The liquid crystal cells separated by each unit panel through the cutting process are inspected by the inline cell inspection system (ITS) according to the present embodiment and classified according to the inspection grade.
도 1은 본 실시예에 따른 인라인 셀 검사시스템(ITS, 이하'인라인 검사시스템'이라 약칭함)에 관한 개념적인 평면 구성도이다. 인라인 검사시스템(ITS)은 세척장치(100), 자동 검사장치(200), 검사 지원장치(300), 분류장치(400) 및 제어장치(500)를 포함한다.1 is a conceptual plan structural view of an in-line cell inspection system (ITS, hereinafter referred to as "inline inspection system") according to the present embodiment. The in-line inspection system (ITS) includes a
세척장치(100)는 액정셀의 표면을 세척하기 위해 가장 전단에 배치된다. 이러한 세척장치(100)는 이송기(110), 세척기(120), 건조기(130), 인식기(140) 및 제1 전달기(150)를 포함한다.The
이송기(110)은 전방에서 투입된 액정셀을 후방의 제1 전달기(150) 측으로 이송시킨다.The
세척기(120)는 액정셀의 표면을 세척한다.The
건조기(130)는 세척기(120)에 의해 세척 작업이 완료된 액정셀을 건조시킨다. 이러한 건조기(130)는 세척 방식에 따라서는 생략 가능할 수 있다.The
인식기(140)는 액정셀에 있는 고유의 식별정보를 인식함으로써 검사될 액정셀들 상호간을 구분한다. 여기서 고유의 식별정보로는 바코드나 QR코드와 같이 인쇄될 수 있는 매체에 담길 수 있는 정보인 것이 바람직하지만, 자동화된 인식만 가능하다면 어떠한 종류로 구비되어도 족하다. The
제1 전달기(150)는 건조가 완료된 액정셀을 후방의 자동 검사장치(200)로 전달한다. 이러한 제1 전달기(150)는 실시하기에 따라서 자동 검사장치(200)에 구성될 수도 있을 것이다.The
자동 검사장치(200)는 세척장치(100)로부터 온 액정셀에 대한 외관 검사와 전기적인 특성 검사를 실시한다. 여기서 전기적인 특성 검사(일반적으로 '점등검사'로 명칭됨)는 전기 신호가 입력된 액정셀이 해당 전기 신호에 따른 설정된 패턴을 표시하는지 여부를 확인함으로써 이루어질 수 있다. 이러한 외관 검사와 전기적인 특성 검사에 관련하여 공개특허 10-2007-0071195호 등의 많은 특허문헌들이 다양한 방식과 구조들을 제시하고 있다.The
자동 검사장치(200)는 외관 검사기(210), 제2 전달기(220), 특성 검사기(230) 및 제3 전달기(240)를 포함한다.The
외관 검사기(210)는 이물질, 스크래치, 파손 등과 같이 외관 검사를 통해 확인될 수 있는 불량을 검사한다.The
제2 전달기(220)는 외관 검사기(210)에 의한 외관 검사가 완료된 액정셀을 특성 검사기(230)로 전달한다.The
특성 검사기(230)는 프로브유닛을 이용하여 액정셀로 전기적인 신호를 인가시켜 그 패턴이 양호한지 여부를 검사한다.The
참고로, 외관 검사기(210)와 특성 검사기(230)가 하나로 묶여서 구비될 수도 있을 것이다. 예를 들어 하나의 카메라를 통해 획득한 이미지에서 외관 불량 여부와 전기적인 특성의 불량 여부를 함께 확인하도록 할 수도 있으며, 이러한 경우 외관 검사와 특성 검사를 위해 구비되는 세부 구성들이 각각 별개로 나뉘어 구비될 필요는 없을 것이다. 다만, 본 실시예에서는 설명을 명확함을 위해 편의상 외관 검사기(210)와 특성 검사기(230)를 나누어서 도시 및 설명하고 있다.For reference, the
제3 전달기(240)는 특성 검사기(230)에 의해 전기적인 특성 검사가 완료된 액정셀을 후방의 검사 지원장치(300)로 전달한다. 마찬가지로, 제3 전달기(240)는 검사 지원장치(300)에 구비될 수도 있을 것이다.The
검사 지원장치(300)는 액정셀에 전기적인 신호를 인가시켜서 작업자가 육안으로 외관 및/또는 점등 검사를 실시할 수 있도록 지원한다.The
검사 지원장치(300)는 회전기(310) 및 분배기(320)와, 4곳의 검사 섹터(TS1 내지 TS4)에 각각 구비되는 모니터(331a 내지 331d), 검사지그(332a 내지 332d), 점등기(333a 내지 333d) 및 입력기(334a 내지 334d)를 포함한다.Check
회전기(310)는 제3 전달기(240)에 의해 온 액정셀을 선택적으로 수평면상에서 180도 회전시킨다. 이는 차후 분배기(320)에 의해 예를 들면 좌측의 검사 섹터(TS1, TS2)로 공급될 액정셀을 작업자(W)의 작업 방향에 맞게 회전시키기 위한 것이다. 즉, 좌측의 검사 섹터(TS1, TS2)로 공급될 액정셀은 회전기(310)에 의해 180도 회전된 후 좌측의 검사 섹터(TS1, TS2)로 공급되고, 우측의 검사 섹터(TS3, TS4)로 공급될 액정셀은 회전 없이 그대로 우측의 검사 섹터(TS3, TS4)로 공급된다. 이러한 회전기(310)는 실시하기에 따라서 자동 검사장치(200)에 구성될 수도 있을 것이다.The
참고로, 좌측의 검사 섹터(TS1, TS2)와 우측의 검사 섹터(TS3, TS4)는 서로 대향되며, 각각의 검사 섹터(TS1 내지 TS4)에는 작업자(W)들이 위치한다. 따라서 좌측의 작업자(W)와 우측의 작업자(W)는 서로 마주보는 형태로 배치되어서 작업을 수행한다. 그리고 주변을 이동하는 기계/기구물이나 사람들과 작업자(W)들이 간섭하지 않는 작업 공간을 확보하기 위해 검사 지원장치(300)의 좌우폭은 자동 검사장치(200) 및 분류장치(400)의 좌우폭보다 좁다.For reference, the inspection sectors TS 1 and TS 2 on the left side and the inspection sectors TS 3 and TS 4 on the right side are opposed to each other, and the workers W are located in the inspection sectors TS 1 to TS 4 . Therefore, the worker W on the left side and the worker W on the right side are arranged in a manner facing each other to perform work. The width of the
분배기(320)는 회전기(310)에 있는 액정셀을 검사 섹터(TS1 내지 TS4)에 있는 검사지그(332a 내지 332d)로 분배하고, 검사가 완료된 액정셀을 분류장치(400)로 전달한다. 물론, 실시하기에 따라서는 검사가 완료된 액정셀을 분류장치(400)로 전달하기 위한 별도의 전달기를 추가적으로 구성하는 것도 얼마든지 가능하다.The
모니터(331a 내지 331d)는 검사지그(332a 내지 332d)에 놓인 액정셀에 대한 자동 검사장치(200)의 검사 결과를 표시한다.The
검사지그(332a 내지 332d)에는 분배기(320)에 의해 각 검사섹터(TS1 내지 TS4)로 분배되는 액정셀이 안착된다.In the
점등기(333a 내지 333d)는 검사지그(332a 내지 332d)에 안착된 액정셀에 전기적인 검사 패턴을 발생시키기 위해 마련된다.The dot registers 333a to 333d are provided to generate electrical inspection patterns in the liquid crystal cells that are seated in the
입력기(334a 내지 334d)는 작업자(W)가 육안 검사를 실시한 후, 그 검사 결과를 입력시키기 위해 마련된다. 예를 들어, 모니터에 표시된 자동 검사 결과가 외관 불량 + 점등 양호인데, 작업자가 수동 검사한 결과 외관 양호 + 점등 양호이면, 작업자(W)는 외관 불량을 외관 양호로 수정한다. 그리고 이렇게 작업자(W)가 입력기(334a 내지 334d)를 이용하여 수정한 검사 결과는 제어장치(500)에 의해 기억되고 관리된다. 물론, 실시하기에 따라서 작업자(W)가 등급을 나누어서 검사 결과를 입력시킬 수 있도록 구성될 수도 있을 것이다.The
분류장치(400)는 가장 후단에 배치되며, 자동 검사장치(200)에 의한 자동 검사 결과와 작업자에 의한 수동 검사 결과에 따라서 액정셀을 분류한다. 이러한 분류장치(400)에 대해서는 목차를 달리하여 후술한다.The
제어장치(500)는 세척장치(100), 자동 검사장치(200), 검사 지원장치(300) 및 분류장치(400)의 작동을 제어한다. 특히, 제어장치(500)는 액정셀의 이동 순서나 회전, 자동 및 수동 검사 결과 등을 기록하고 관리한다.The
물론, 액정셀의 이동 순서가 바뀌는 등의 사정이 있도록 인라인 셀 검사시스템(ITS)이 구성되면 자동 검사장치(200) 및 검사 지원장치(300)에도 액정셀에 있는 고유의 식별정보를 인식할 수 있는 인식수단이 구성될 수 있다.Of course, when the inline cell inspection system (ITS) is configured such that the order of movement of the liquid crystal cells is changed or the like, unique identification information in the liquid crystal cell can be recognized in the
<분류장치에 대한 설명>≪ Description of classification device >
분류장치(400)를 설명하기에 앞서서 보다 간결하고 명확한 이해를 위해 액정셀에 대한 검사 결과는 양호와 불량 등급으로만 나눈다. 그리고 검사 결과 양품인 액정셀은 'Cg'로 표기하고, 불량품인 액정셀은 'Cb'로 표기하며, 양품인 액정셀(Cg)과 불량품인 액정셀(Cb)을 통칭할 때는 'C'로 표기한다.Prior to describing the classifying
도 2는 분류장치(400)의 주요 부위에 대한 개략적인 사시도이고, 도 3은 분류장치(400)에 대한 개념적인 평면도이다.Fig. 2 is a schematic perspective view of a main part of the classifying
분류장치(400)는 제1 내지 제5 거치대(411 내지 415), 제1 내지 제3 파지기(421 내지 423), 전후 이송기(430), 확인기(440), 분류기(450), 수납스택커(460), 공급스택커(470), 트랜스퍼(480) 및 배출기(490)를 포함한다.The
1. 제1 내지 제5 거치대(411 내지 415)1. First to fifth cradles (411 to 415)
제1 내지 제5 거치대(411 내지 415)는 도 4의 발췌도에서 참조되는 바와 같이 액정셀(C)을 거치시키기 위해 마련되며, 전단에서 후단 방향으로 제1 거치대(411)부터 제5 거치대(415)까지 일정 간격씩 이격되게 순서적으로 구비된다. 이러한 제1 내지 제5 거치대(411 내지 415)는 모두 동일한 거치 구조로 구비된다.The first to
제1 거치대(411)는 검사 지원장치(300)에서 분류장치(400)로 온 액정셀(C)을 거치한다. 이 제1 거치대(411)에 거치된 액정셀(C)은 차후 제2 거치대(412)로 이동된다. 제1 거치대(411)는 좌우 방향으로 대향된 형상을 가지는 한 쌍의 거치플레이트(411a, 411b)를 구비한다.The first mounting table 411 mounts the liquid crystal cell C to the
한 쌍의 거치플레이트(411a, 411b)는 액정셀(C)의 좌우 폭(w1)보다는 좁은 폭(w2)만큼 상호 이격되어서 후술할 제1 파지기(421)에 의해 액정셀(C)을 파지시키는 것이 가능하도록 되어 있다. 이러한 거치플레이트(411a, 411b)는 액정셀(C)이 안착될 수 있는 2개의 안착홈(S1 : Sa+Sb)을 가진다.Mounting a pair of plates (411a, 411b) includes a liquid crystal cell (C) by the first gripper (421) to be explained later be separated from each other by a narrow width (w 2) than the horizontal width (w 1) of the liquid crystal cell (C) As shown in Fig. These mounting
제2 거치대(412)는 제1 파지기(421)를 이용해서 제1 거치대(411)로부터 이동되어 온 액정셀(C)을 거치한다. 마찬가지로 제2 거치대(412)는 2개의 안착홈(S2)을 가진다. 액정셀(C)은 제2 거치대(142)에 거치되어 있는 동안 확인기(440)에 의해 자기 고유의 식별정보가 읽히고, 차후 제3 거치대(413)로 이동된다.The
제3 거치대(413)는 액정셀(C)이 안착될 수 있는 2개의 안착홈(S3-1 S3-2)을 가지며, 제1 파지기(421)를 이용해서 제2 거치대(412)로부터 이동되어 온 액정셀(C)을 거치한다. 액정셀(C)은 제3 거치대(143)에 거치된 후 검사 결과에 따른 양부에 의해 분류된다. 여기서 전방의 부호 S3-1의 안착홈에 안착된 액정셀(C) 중 양품인 액정셀(Cg)은 제1 파지기(421)를 이용해서 부호 S3-2의 안착홈으로 이동되거나 분류기(450)에 의해 부호 S3-2의 안착홈으로 이동되며, 부호 S3-2의 안착홈에 안착된 양품인 액정셀(Cg)은 제4 거치대(414) 및 제5 거치대(415)를 거쳐 배출기(490)에 의해 배출된다.The third mounting table 413 has two mounting grooves S 3 -1 S 3 -2 on which the liquid crystal cell C can be mounted and is mounted on the second mounting table 412 using the
제4 거치대(414)는 하나의 안착홈(S4)을 가지며, 제2 파지기(422)를 이용해서 제3 거치대(143)로부터 이동되어 온 양품 판정된 액정셀(Cg)을 거치한다. 마찬가지로 제4 거치대(414)에 거치된 액정셀(Cg)은 제5 거치대(415)로 이동된다.The
제5 거치대(415)는 제3 파지기(423)를 통해 제4 거치대(144)로부터 이동되어 온 양품 판정된 액정셀(Cg)을 거치한다. 마찬가지로, 제5 거치대(415)는 하나의 안착홈(S5)을 가지며, 제5 거치대(415)에 거치된 액정셀(Cg)은 배출기(490)에 의해 배출된다.The
2. 제1 내지 제3 파지기(421 내지 423)와 전후 이송기(430)2. The first to
도 5는 제1 내지 제3 파지기(421 내지 423)와 전후 이송기(430)를 발췌한 발췌사시도이다.5 is an exploded perspective view showing the first to
제1 내지 제3 파지기(421 내지 423)는 전방의 각 거치대(411 내지 414)에 거치된 액정셀(C)을 후방의 각 거치대(412 내지 415)로 단계적으로 이동시키기 위해 마련된다.The first to
제1 파지기(421)는 제1 거치대(411)에 거치된 액정셀(C)을 제2 거치대(412)로 이동시키는 데 사용되고, 제2 거치대(412)에 있는 액정셀(C)을 제3 거치대(413)로 이동시키는 데 사용된다. 이를 위해 제1 파지기(421)는 도 6의 확대 발췌도에서와 같이 제1 파지단(421a), 제2 파지단(421b), 전환기(421c), 제1 승강기(421d) 및 제2 승강기(421e)를 포함한다.The
제1 파지단(421a)은 제1 거치대(411)에 거치된 2장의 액정셀(C)을 제2 거치대(412)로 이동시키기 위해 마련된다. 이를 위해 제1 파지단(421a)은 2장의 액정셀(C)을 진공압으로 흡착 파지하기 위한 2개의 파지부재(GE)를 가진다.The
제2 파지단(421b)은 제2 거치대(412)에 거치된 2장의 액정셀(C)을 제3 거치대(413)로 이동시키기 위해 마련된다. 이를 위해 제2 파지단(421b)은 2장의 액정셀(C)을 진공압으로 흡착 파지하기 위한 2개의 파지부재(GE)를 가진다.The second
전환기(421c)는 제1 파지단(421a)을 수평면 상에서 180도 회전시킴으로써 제1 파지단(421a)에 의해 파지된 액정셀(C)을 수평면 상에서 180도 회전시킨다. 이러한 전환기(421c)에 의해 검사 지원장치(300)에서 180도로 회전되어 방향이 바뀐 상태로 온 액정셀(C)이 원래의 방향으로 되돌려져서 제2 거치대(412)로 이동될 수 있고, 이로 인해 확인기(440)에 의한 액정셀(C)의 식별정보 인식이 적절이 이루어질 수 있다.The
제1 승강기(421d)는 제1 파지단(421a)을 승강시키고, 제2 승강기(421e)는 제2 파지단(421b)을 승강시킨다. 이 제1 승강기(421d) 및 제2 승강기(421e)에 의해 쌍을 이루는 거치플레이트(411a와 411b 등) 사이의 간격에 노출되도록 위치하는 제1 파지단(421a)과 제2 파지단(421b)이 승강함으로써, 제1 파지단(421a)과 제2 파지단(421b)이 제1 거치대(411) 또는 제2 거치대(412)에 거치된 액정셀(C)을 파지할 수 있는 상태가 되거나 파지를 해제한 후 하강할 수 있게 된다. 여기서 제1 승강기(421d)와 제2 승강기(421e)에 의해 제1 파지단(421a)과 제2 파지단(421b)이 독립적으로 승강하기 때문에 거치대(411 내지 415)들의 액정셀(C) 거치 상황에 따라서 보다 탄력적이고 빠른 물류 흐름이 가능해진다. 즉, 예를 들면, 제2 거치대(412)나 제3 거치대(413)에 하나의 액정셀(C)이 거치되어 있는 상태에서도 제1 거치대(411)에 있는 하나의 액정셀(C)을 제2 거치대(412)로 이동시키거나, 제2 거치대(412)에 있는 하나의 액정셀(C)을 제3 거치대(413)로 이동시키는 것이 가능한 것이다.The
제2 파지기(422)는 제3 거치대(413)의 부호 S3-2의 안착홈에 안착된 양품인 액정셀(Cg)에 거치된 한 장의 액정셀(Cg)을 제4 거치대(414)로 이동시키는 데 사용되고, 제3 파지기(423)는 제4 거치대(414)에 거치된 한 장의 액정셀(Cg)을 제5 거치대(415)로 이동시키는 데 사용된다. 이러한 제2 파지기(422)와 제3 파지기(423)의 기본 구조는 제1 파지기(421)의 제2 파지단(421b) 부위와 동일하다.The
전후 이송기(430)는 제1 내지 제3 파지기(421 내지 423)를 전후 방향으로 이송시킨다. 이 때, 제1 파지기(421)의 이동 구간(L1)은 제1 거치대(411)에서 제3 거치대(413)까지로 설정되고, 제2 파지기(422)의 이동구간(L2)은 제3 거치대(413)의 부호 S3-2의 안착홈에서 제4 거치대(414)까지로 설정되며, 제3 파지기(423)의 이동구간(L3)은 제4 거치대(414)에서 제5 거치대(415)까지로 설정된다(도 3 참조). 이러한 전후 이송기(430)의 작동에 의해 제1 내지 제3 파지기(421 내지 423)에 의해 파지된 액정셀(C)이 후방의 거치대로 순차적으로 이동될 수 있다.The forward /
3. 확인기(440)3.
확인기(440)는 제2 거치대(412)에 거치된 2 장의 액정셀(C)의 식별정보를 확인하기 위해 마련되며, 이를 위해 2대의 카메라(441, 442)를 가진다. 2대의 카메라(441, 442)에 의해 확인된 식별정보가 확인된 액정셀(C)은 이미 기록된 검사 결과에 따라서 제어장치(500)에 의해 제어되는 분류기(450)에 의해 분류된다.The
4. 분류기(450)4. The
분류기(450)는 제3 거치대(413)에 거치된 액정셀(C) 중 불량품을 분류하여 후술할 수납 스택커(460)에 있는 수납트레이(RT)로 이동시키거나, 제3 거치대(413)의 부호 S3-1의 안착홈에 안착된 양품인 액정셀(Cg)을 부호 S3-2의 안착홈으로 이동시킨다. 이를 위해 분류기(450)는 발췌 사시도인 도 7에서와 같이 한 쌍의 흡착부재(451a, 451b), 한 쌍의 수직 이동기(452a, 452b), 회전모터(453), 좌우 이동기(454) 및 전후 이동기(455)를 포함한다.The
한 쌍의 흡착부재(451a, 451b)는 액정셀(C)을 흡착하거나 흡착을 해제할 수 있다.The pair of
한 쌍의 수직 이동기(452a, 452b)는 각각 대응하는 흡착부재(451a, 451b)를 승강시킬 수 있다.The pair of
회전모터(453)는 흡착부재(451a, 451b)를 수평면 상에서 180도 회전시킬 수 있다. 이러한 회전모터(453)에 의해 한 쌍의 흡착부재(451a, 451b)에 파지된 액정셀(C)의 위치가 상호 전환될 수 있기 때문에 제3 거치대(413)의 부호 S3-1의 안착홈에 안착된 양품인 액정셀(Cg)을 부호 S3-2의 안착홈으로 이동시킬 수 있다.The
즉, 부호 S3-1의 안착홈에 안착된 양품인 액정셀(Cg)은 제1 파지기(421) 및 전후 이송기(430)에 의해 부호 S3-2의 안착홈으로 이동될 수도 있지만, 분류기(450)에 의해서도 이동될 수 있다. 물론, 부호 S3-1의 안착홈에 안착된 양품인 액정셀(Cg)을 부호 S3-2의 안착홈으로 이동시키는 데 있어서, 제1 파지기(421) 및 전후 이송기(430)를 작동시킬 것인지 또는 분류기(450)를 작동시킬 것인지는 제어장치(500)가 현재 제1 파지기(421)의 작업 상황이나 분류기(450)의 작업 상황이 어떠냐에 따라 선택하게 된다. 이를 통해 보다 더 빠른 액정셀(C)의 물류가 가능해진다.That is, the liquid crystal cell Cg, which is a good product seated in the seating groove S 3 -1, may be moved to the seating groove S 3 -2 by the
좌우 이동기(454)는 한 쌍의 흡착부재(451a, 451b)를 좌우 방향으로 이동시키고, 전후 이동기(455)는 한 쌍의 흡착부재(451a, 451b)를 전후 방향으로 이동시킨다. 이러한 좌우 이동기(454) 및 전후 이동기(455)에 의해 제3 거치대(413)에 거치된 불량품인 액정셀(Cb)이 수납스택커(460)에 있는 수납트레이(RT)로 이동될 수 있다.The left and
5. 수납스택커(460)와 공급스택커(470)5. The
수납스택커(460)는 분류기(450)에 의해 이동되어 오는 불량품인 액정셀(Cb)을 적재시킬 수 있는 수납트레이(RT)가 수용되며, 도 8에서 참조되는 바와 같이 수납트레이(RT)를 단계적으로 하강시킬 수 있는 하강기(461)가 구비된다. 하강기(461)는 상측에 있는 수납트레이(RT)에 액정셀(Cb)이 모두 채워지면 1단계 하강함으로써 액정셀(Cb)이 모두 채워진 수납트레이(RT)의 상측에 공급스택커(470)로부터 온 빈 수납트레이(RT)가 적재될 수 있는 공간을 확보시킨다.The
공급스택커(470)는 수납스택커(460)의 후방에 구비되며, 수납스택커(460)로 공급될 빈 수납트레이(RT)가 수용된다. 이러한 공급스택커(470)는 도 9에서 참조되는 바와 같이 빈 수납트레이(RT)를 단계적으로 상승시킬 수 있는 상승기(471)를 구비한다. 상승기(471)는 가장 상측에 있던 수납트레이(RT)가 트랜스퍼(480)에 의해 수납스택커(460)로 이동되면, 적재되어 있는 수납트레이(RT)들을 1단계 상승시킴으로써 현재 상측에 위치한 수납트레이(RT)가 트랜스퍼(480)에 의해 적절히 파지될 수 있게 준비한다.The
6. 트랜스퍼(480)6. Transfer (480)
트랜스퍼(480)는 공급스택커(470)에 있는 수납트레이(RT)들 중 현재 가장 상측에 위치한 수납트레이(RT)를 수납스택커(460)로 이동시킨다. 이를 위해 트랜스퍼(480)는 도 10에서와 같이 파지유닛(481), 승강유닛(482) 및 전후 이송유닛(483)을 구비한다.The
파지유닛(481)은 한 쌍의 파지레버(481a, 481b)를 이용하여 수납트레이(RT)를 파지하거나 파지를 해제한다.The
승강유닛(482)은 파지유닛(481)을 승강시킨다.The
전후 이송유닛(483)은 파지유닛(481)을 전후 방향으로 이동시킨다.The forward /
즉, 트랜스퍼(480)는 파지유닛(481)을 이용하여 공급스택커(470)에 있는 빈 수납트레이(RT)를 파지한 후 전후 이송유닛(483)에 의해 파지한 수납트레이(RT)를 전방의 수납스택커(460)로 이동시키고, 수납스택커(460)로 이동된 수납트레이(RT)의 파지를 해제함으로써 궁극적으로 빈 수납트레이(RT)를 공급스택커(470)에서 수납스택커(460)로 이동시킨다. 물론, 승강유닛(482)은 파지유닛(481)이 공급스택커(470)에서 수납트레이(RT)를 파지한 후에 파지유닛(481)을 상승시킴으로써 수납트레이(RT)가 전방으로 이동될 수 있는 상태가 되게 하고, 수납트레이(RT)가 수납스택커(460)로 이동된 후 파지유닛(481)을 하강시킴으로써 설치된 높이에서 파지유닛(481)이 수납트레이(RT)의 파지를 해제하도록 하여 수납트레이(RT)가 수납스택커(460)에 적절히 적재될 수 있게 한다.That is, the
7. 배출기(490)7. The ejector (490)
배출기(490)는 제4 거치대(414)와 제5 거치대(415)에 있는 액정셀(Cg)을 인라인 셀 검사시스템(ITS)의 외부로 배출시킨다. 이 때, 배출되는 액정셀(Cg)은 실시하기에 따라서 다른 장비로 이동될 수도 있고, 외부에 구비된 별도의 수납트레이(RT)에 적재될 수도 있다.The
배출기(490)는 도 11에서 참조되는 바와 같이 한 쌍의 흡착부재(491a, 491b), 한 쌍의 승강실린더(492a, 492b), 전환모터(493) 및 수평 이동기(494)를 포함한다.The
한 쌍의 흡착부재(491a, 491b)는 각각 제4 거치대(414)와 제5 거치대(415)에 있는 액정셀(Cg)을 흡착 파지한다.The pair of
한 쌍의 승강실린더(492a, 462b)는 각각 대응하는 흡착부재(491a, 491b)를 승강시킴으로써 제4 거치대(414)와 제5 거치대(415)에서 흡착부재(491a, 491b)에 의해 파지된 액정셀(Cg)이 후방으로 이동될 수 있는 상태로 되게 하거나, 배출위치(OP)에서 흡착부재(491a, 491b)가 액정셀(Cg)의 파지를 적절히 해제할 수 있는 높이에 위치되도록 한다.The pair of lifting and lowering
전환모터(493)는 한 쌍의 흡착부재(491a, 491b)를 수평면상에서 180도 회전시킴으로써 분류기(450)에 의해 방향이 전환된 액정셀(Cg)이 적절한 방향으로 되돌려져서 배출될 수 있게 한다.The switching
수평 이동기(494)는 한 쌍의 흡착부재(491a, 491b)가 파지위치(GP)에 위치되도록 하거나 배출위치(OP)에 위치되도록 하기 위해 한 쌍의 흡착부재(491a, 491b)를 전후 방향으로 이동시킨다.The
<인라인 셀 검사시스템(ITS)에 대한 작동 설명><Operation description for inline cell inspection system (ITS)>
위와 같은 구성을 가지는 인라인 셀 검사시스템(ITS)의 작동에 대해서 설명한다.The operation of the inline cell inspection system (ITS) having the above configuration will be described.
세척장치(100)로 공급된 액정셀(C)은 세척된 후 자동 검사장치(200)로 이동된다.The liquid crystal cell C supplied to the
자동 검사장치(200)는 액정셀(C)에 대한 외관 및 점등 검사를 실시한 후 액정셀(C)을 검사 지원장치(300)로 보낸다.The
검사 지원장치(300)는 작업자(W)에 의해 검사가 이루어질 수 있도록 액정셀(C)의 물류를 지원하고, 검사가 완료된 액정셀(C)은 순차적으로 분류장치(400)로 보낸다.The
이하에서는 분류장치(400)에서 이루어지는 액정셀(C)의 물류에 대하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the logistics of the liquid crystal cell C in the
검사 지원장치(300)에서 온 2장의 액정셀(C)은 제1 거치대(411)에 나란히 안착되고, 제1 파지기(421) 및 전후 이송기(430)에 의해 제2 거치대(412)로 이동된다. 이 때, 검사 지원장치(300)로부터 방향이 180도 회전된 상태로 온 액정셀(C)은 전환기(421c)의 작동에 의해 적절한 방향으로 되돌려진 상태로 제2 거치대(412)로 이동되게 된다. The two liquid crystal cells C from the
제2 거치대(412)에 있는 2장의 액정셀(C)은 확인기(440)에 의해 식별정보가 읽힘으로써, 제어장치(500)가 이미 기록되어 있는 검사 결과를 통해 현재 제2 거치대(412)에 있는 액정셀(C)들의 양부를 알 수 있게 된다. 이에 따라 제어장치(500)에 의해 각각의 액정셀(C)들에 대한 적절한 물류 흐름이 결정된다. 이러한 물류 흐름에 대하여 몇가지 예를 들어 더 구체적으로 설명한다.The two liquid crystal cells C in the second mounting table 412 are connected to the second mounting table 412 through the inspection result in which the
1. 양품인 액정셀(Cg)들이 공급된 경우1. When the liquid crystal cells Cg as good products are supplied
제2 거치대(412)에 모두 양품이 액정셀(Cg)들이 거치된 경우, 액정셀(Cg)들은 제1 내지 제3 파지기(421 내지 423))와 전후 이송기(430)에 의해 제3 거치대(413)를 거쳐 제4 거치대(414)나 제5 거치대(415)로 이동된 후 배출기(490)에 의해 외부로 배출된다.The liquid crystal cells Cg are held by the first to
2. 양품인 액정셀(Cg)과 불량품인 액정셀(Cb)이 공급된 경우2. When a good liquid crystal cell Cg and a defective liquid crystal cell Cb are supplied
가. 제2 거치대(412)에 양품인 액정셀(Cg)과 불량품인 액정셀(Cb)이 전후 방향 순서로 거치된 경우end. When the liquid crystal cell Cg, which is a good product, and the liquid crystal cell Cb, which is a defective product, are mounted on the
액정셀(Cg, Cb)들은 제1 파지기(421)와 전후 이송기(430)에 의해 제3 거치대(413)로 이동된다. 그리고 제3 거치대(413)에 있는 액정셀(Cg, Cb)들 중 후방의 액정셀(Cb)은 분류기(450)에 의해 수납스택커(460)에 있는 수납트레이(RT)로 이동되고, 전방의 부호 S3-1의 안착홈에 있는 양품 액정셀(Cg)은 제1 파지기(421) 및 전후 이송기(430)에 의해 부호 S3-2의 안착홈으로 이동된다. 이 때, 제1 파지기(421)가 해당 이동 작업에 동원될 수 없는 경우에는, 분류기(450)가 제3 거치대(413)에 거치된 액정셀(Cg, Cb)들의 위치를 전환시킴으로써 부호 S3-1의 안착홈에 있는 액정셀(Cg)을 부호 S3-2의 안착홈으로 이동시킨 후 불량품인 액정셀(Cb)을 수납트레이(RT)로 이동시키도록 제어될 수도 있다.The liquid crystal cells Cg and Cb are moved to the
그리고 부호 S3-2의 안착홈에 있는 액정셀(Cg)은 제2 파지기(422)와 전후 이송기(430)에 의해 제4 거치대(414)로 이동되거나, 다시 제3 파지기(423)와 전후 이송기(430)에 의해 제5 거치대(415)로 이동되고, 배출기(490)에 의해 배출된다. 이 때, 분류기(450)에 의해 방향이 바뀐 액정셀(Cg)은 배출기(450)에 의해 적절한 방향으로 되돌려진 상태로 배출된다.The liquid crystal cell Cg in the seating groove S 3 -2 is moved to the
참고로, 액정셀(Cg)이 제4 거치대(414)를 거쳐 제5 거치대(415)로 이동되는 상황은 전방의 거치대들(411 내지 413)로부터 이동되어 올 액정셀(Cg)이 대기 중이고, 배출기(490)가 현재 제4 거치대(414)나 제5 거치대(415)로부터 액정셀(Cg)을 파지할 수 없는 경우에 발생할 수 있다.For reference, the situation in which the liquid crystal cell Cg is moved to the
나. 제2 거치대(412)에 불량품인 액정셀(Cb)과 양품인 액정셀(Cg)이 전후 방향 순서로 거치된 경우 I. When the liquid crystal cell Cb as a defective product and the liquid crystal cell Cg as a good product are mounted on the second mounting table 412 in the forward and backward order
액정셀(Cb, Cg)들은 제1 파지기(421)와 전후 이송기(430)에 의해 제3 거치대(413)로 이송된다. 그리고 제3 거치대(413)에 있는 액정셀(Cb, Cg)들 중 전방의 액정셀(Cb)은 분류기(450)에 의해 수납스택커(460)에 있는 수납트레이(RT)로 이동되고, 후방의 부호 S3-2의 안착홈에 있는 액정셀(Cg)은 제2 파지기(422)와 전후 이송기(430)에 의해 제4 거치대(414)로 이동되거나, 제3 파지기(423)와 전후 이송기(430)에 의해 다시 제5 거치대(415)로 이동된 후 배출기(490)에 의해 배출된다.The liquid crystal cells Cb and Cg are transferred to the
3. 불량품들인 액정셀(Cb)이 공급된 경우3. When the liquid crystal cell Cb as the defective product is supplied
제2 거치대(412)에 거치된 액정셀(Cb)들이 모두 불량품들인 경우에는, 제3 거치대(413)로 이동된 후 분류기(450)에 의해 모두 수납트레이(RT)로 이동된다.When all of the liquid crystal cells Cb placed on the second mounting table 412 are defective, they are moved to the third mounting table 413 and then moved to the storage tray RT by the
<응용예들><Application Examples>
1. 액정셀들을 검사 결과에 따라 여러 등급을 세분하는 경우1. If the liquid crystal cells are divided into several grades according to the test result
수납스택커를 등급수에 맞게 추가하고, 분류기 및 트랜스퍼의 활동 영역을 확장하거나 또는 배출기의 배출위치를 등급수에 맞게 추가하고 배출기의 활동 영역을 확장함으로써 여러 등급에 따른 분류가 가능해질 수 있다.Classification according to different grades may be possible by adding the storage stacker to the number of grades, by expanding the active area of the sorter and transfer, or by adding the discharge position of the ejector to the number of grades and expanding the activity area of the ejector.
2. 분류장치를 축소시킬 수 있는 경우2. If the classification device can be reduced
예를 들어, 액정셀의 물류가 진입부터 배출까지 순서적으로만 이루어지도록 구성된다면, 분류장치에 확인기나 제2 거치대를 구비시킬 필요가 없다.For example, if the logistics of the liquid crystal cell is configured to be performed sequentially from entry to exit, there is no need to provide an identifying device or a second holder in the sorting device.
또한, 물류의 다소 느림이 충분히 감당될 수 있다면, 제4 거치대와 제5 거치대 중 어느 하나를 생략할 수도 있고, 제1 내지 제3 거치대도 한 장씩의 액정셀들만 거치되도록 구성할 수 있다.In addition, if the somewhat slowness of the logistics can be sufficiently accommodated, either the fourth or fifth stand may be omitted, or the first, second, and third stand may be configured to house only one liquid crystal cell.
이와 같은 경우, 분류장치의 전후 길이가 대폭 축소될 수 있다.In such a case, the longitudinal length of the sorting device can be greatly reduced.
3. 검사 지원장치의 생략3. Omission of inspection support devices
만일, 검사대상물의 종류에 따라 작업자에 의한 수동 검사가 불필요한 경우에는 검사 지원장치를 생략할 수 있으며, 이러한 경우 자동 검사장치에서 검사된 검사대상물은 곧바로 분류장치로 이동된다.If the manual inspection by the operator is unnecessary depending on the type of the object to be inspected, the inspection support device may be omitted. In this case, the inspection object to be inspected in the automatic inspection apparatus is immediately transferred to the sorting apparatus.
4. 분류기와 배출기의 기능 전환4. Switching function of sorter and ejector
위의 실시예에서는 분류기(450)가 불량품인 액정셀(Cb)을 선별해서 수납트레이(RT)로 이동시키고, 배출기(490)가 양품인 액정셀(Cg)을 배출시키도록 하고 있다. 그러나 실시하기에 따라서는 분류기(450)가 양품인 액정셀(Cg)을 선별해서 수납트레이(RT)로 이동시키고, 배출기(490)가 불량품인 액정셀(Cb)을 배출시키도록 구현될 수도 있다.The liquid crystal cell Cb in which the
5. 배출기의 생략5. Omission of ejector
만일, 수납스택커를 여러개 구비하고, 분류기(450)에 의해 각 수납스택커들로 검사 결과에 따른 양부나 등급에 의해 액정셀들을 분류 이동시키도록 구성하는 경우를 고려할 수 있으며, 이러한 경우 배출기(490)나 제4 거치대(414)와 제5 거치대(415)를 생략할 수 있다. In this case, it is possible to consider a case in which a plurality of storage stackers are provided and the liquid crystal cells are classified and moved by the
한편, 위의 실시예에서는 디스플레이모듈과 관련된 검사대상물로서 액정셀을 예로 들고 있지만, 본 발명에 따른 인라인 검사시스템에 대한 기본 기술은 디스플레이모듈과 관련된 다양한 검사대상물에 대한 검사 시스템으로 응용될 수 있다. 따라서 검사 대상물이 외관 검사만 필요한 경우에는 점등 검사에 필요한 구성이 생략될 수 있고, 검사 대상물이 점등 검사만 필요한 경우에는 외관 검사에 필요한 구성이 생략될 수 있다.Meanwhile, in the above embodiment, the liquid crystal cell is taken as an object to be inspected related to the display module, but the basic technology of the inline inspection system according to the present invention can be applied as an inspection system for various inspection objects related to the display module. Therefore, when only the visual inspection is required for the inspection object, the configuration necessary for the lighting inspection can be omitted, and the configuration necessary for the visual inspection can be omitted if only the inspection object is required to be lighted.
위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 관해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등개념으로 이해되어져야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of illustration, And the scope of the present invention should be understood as the scope of the following claims and their equivalents.
ITS : 인라인 셀 검사시스템
100 : 세척장치
200 : 자동 검사장치
300 : 수동 검사장치
400 : 분류장치
411 내지 415 : 제1 거치대 내지 제5 거치대
421 내지 423 : 제1 파지기 내지 제3 파지기
430 : 전후 이송기
450 : 분류기
ITS: Inline cell inspection system
100: Cleaning device
200: Automatic inspection device
300: Manual inspection device
400: sorting device
411 to 415: First to fifth cradles
421 to 423: first to third holding units
430: forward and backward conveying machine
450: classifier
Claims (6)
검사대상물의 표면을 세척하기 위해 가장 전단에 배치되는 세척장치;
상기 세척장치로부터 받은 검사대상물의 양호 또는 불량 여부를 자동으로 검사하는 자동 검사장치;
상기 자동 검사장치로부터 온 검사대상물을 검사 결과에 따라서 분류하며, 가장 후단에 배치되는 분류장치; 및
상기 세척장치, 검사장치 및 분류장치를 제어하는 제어장치; 를 포함하고,
상기 자동 검사장치와 상기 분류장치 사이에 구비되며, 작업자에 의한 수동 검사를 지원하는 검사 지원장치; 를 더 포함하고,
상기 검사 지원장치는,
검사대상물이 안착될 수 있는 검사지그; 및
검사가 완료된 검사대상물에 대한 수동 검사결과를 입력시키기 위한 입력기; 를 포함하며,
상기 검사 지원장치는,
상기 자동 검사장치의 자동 검사결과를 디스플레이시킬 수 있는 모니터; 를 더 포함하고,
상기 제어장치는 상기 자동 검사장치의 검사된 결과를 상기 모니터를 통해 디스플레이시키며, 상기 자동 검사장치에 의한 자동 검사결과와 상기 입력기를 통해 작업자로부터 입력된 수동 검사결과에 따라 상기 분류장치를 제어하여 검사대상물을 분류시키는
디스플레이모듈과 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템.An inline inspection system for inspecting an object to be inspected associated with a display module,
A cleaning device disposed at the frontmost position for cleaning the surface of the object to be inspected;
An automatic inspection device for automatically checking whether the inspection object received from the cleaning device is good or bad;
A sorting device that sorts the inspection objects from the automatic inspection device according to inspection results and is disposed at the rearmost end; And
A control device for controlling the cleaning device, the inspection device, and the sorting device; Lt; / RTI >
An inspection support device provided between the automatic inspection device and the sorting device and supporting manual inspection by a worker; Further comprising:
The inspection support apparatus comprises:
A test jig to which an object to be inspected can be seated; And
An input device for inputting a result of the manual inspection of the inspected object; / RTI >
The inspection support apparatus comprises:
A monitor capable of displaying an automatic inspection result of the automatic inspection apparatus; Further comprising:
Wherein the controller displays the inspected result of the automatic inspection apparatus through the monitor and controls the classification apparatus according to the automatic inspection result by the automatic inspection apparatus and the manual inspection result input by the operator through the input unit, To classify objects
An inline inspection system for inspecting inspection objects associated with a display module.
상기 자동 검사장치는,
검사대상물의 외관을 검사하기 위한 외관 검사기; 및
상기 외관검사기로부터 온 검사대상물의 전기적인 특성을 검사하기 위한 특성 검사기; 를 포함하는
디스플레이모듈과 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템. The method according to claim 1,
The automatic inspection apparatus includes:
An appearance inspector for inspecting the appearance of the object to be inspected; And
A characteristic checker for checking electrical characteristics of the inspection object from the visual inspection machine; Containing
An inline inspection system for inspecting inspection objects associated with a display module.
상기 검사 지원장치는 상기 자동 검사장치로부터 온 검사대상물의 평면상에서 180도 회전시킬 수 있는 회전기; 를 더 포함하고,
상기 검사지그와 상기 입력기는 복수개로 구비되어서 좌우 양측에 각각 나뉘어 구비되고,
상기 제어장치는 좌우 양측으로 나뉜 상기 검사지그들 중 어느 일측에 있는 검사지그로 공급될 검사대상물을 180도 회전시킨 후 공급하는
디스플레이모듈과 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템.The method according to claim 1,
Wherein the inspection support apparatus comprises: a rotator capable of rotating 180 degrees on a plane of the inspection object from the automatic inspection apparatus; Further comprising:
Wherein the inspection jig and the input device are provided in a plurality of units,
The control device rotates the inspection object to be supplied to the inspection jig on either side of the inspection sheets divided into left and right sides by 180 degrees and supplies
An inline inspection system for inspecting inspection objects associated with a display module.
상기 분류장치는,
검사대상물을 거치시키기 위한 전후 방향으로 나란히 배열되는 다수개의 거치대;
상기 다수의 거치대들에 거치된 액정셀들을 파지하거나 파지를 해제할 수 있는 적어도 하나의 파지기;
상기 적어도 하나의 파지기를 이송시킴으로써 액정셀들을 상기 다수의 거치대들을 경유시키면서 순차적으로 후방으로 이동시키는 전후 이송기; 및
상기 다수개의 거치대 중 특정 거치대에 거치된 액정셀을 검사 결과에 따라 분류하는 분류기; 를 포함하는
디스플레이모듈과 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템.
The method according to claim 1,
The sorting device includes:
A plurality of cradles arranged side by side in the front-rear direction for mounting the objects to be inspected;
At least one gripper capable of gripping or releasing the gripped liquid crystal cells of the plurality of cradles;
A back-and-forth conveyor for sequentially moving the liquid crystal cells backward through the plurality of cradles by transporting the at least one gripper; And
A classifier for classifying the liquid crystal cells placed in a specific cradle of the plurality of cradles according to the result of the examination; Containing
An inline inspection system for inspecting inspection objects associated with a display module.
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