KR100554444B1 - Intray laser marking system - Google Patents
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Abstract
본 발명은 다수의 반도체패키지가 안치된 다수의 트레이가 적층되어 있는 온로더스택커에서 최하부의 트레이부터 하나씩 순차적으로 이송시켜, 프리비젼(OCR)카메라를 통해 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 트레이에 반도체패키지가 정확한 방향으로 안치되어 있는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사한 다음, 레이져 마킹장치의 하부에 설치된 바이브레이터로 이송되어 상기 바이브레이터에 구비된 클램핑장치를 통해 클램핑되어 고정된 후, 대각선으로 기울여져 진동에 의해 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지가 트레이의 일측으로 정렬된 다음, 레이져 마킹장치에 의해 반도체패키지의 표면에 특정 문구가 마킹된 다음, 에어노즐과 집진장치가 설치된 이물질제거부를 통과하여 마킹시 발생된 이물질이 제거된 다음, 포스트비젼카메라를 통해 반도체패키지의 마킹상태를 체크한 다음, 소팅(sorting)장치를 통해 상기 포스트비젼카메라에 의해 검출된 마킹 불량의 반도체패키지를 분류하여 마킹상태가 양호한 양품의 반도체패키지로 교체한 다음, 언로더스택커(Unloader Stacker)에 적층되게 되도록 구성된 트레이 이송식 반도체패키지 마킹방법 및 시스템인 것이다.The present invention sequentially transfers one by one from the lowermost tray in the on-loader stacker in which a plurality of trays in which a plurality of semiconductor packages are stacked are stacked, and IDs of a plurality of semiconductor packages placed in a tray through a prevision (OCR) camera. Check mark hole and lot number to check if the semiconductor package is placed in the correct direction and other kinds of semiconductor package are placed in the tray, and then transferred to the vibrator installed at the lower part of the laser marking device. After being clamped and fixed through the provided clamping device, a plurality of semiconductor packages tilted diagonally and placed in the tray by vibration are aligned to one side of the tray, and then a specific word is marked on the surface of the semiconductor package by the laser marking device. After that, the marking is passed through the debris removal unit where the air nozzle and dust collector are installed. After the foreign substances generated at the time of removal are removed, the marking status of the semiconductor package is checked through a post vision camera, and then the sorting device is used to sort the semiconductor packages of the marking defects detected by the post vision camera. A tray transfer type semiconductor package marking method and system configured to be replaced with a good good quality semiconductor package and then stacked in an unloader stacker.
트레이, 반도체패키지, 마킹Tray, Semiconductor Package, Marking
Description
도1은 본 발명의 외관을 나타낸 정면 상세도1 is a front detail view showing the appearance of the present invention;
도2는 본 발명의 외관을 나타낸 좌측면 상세도Figure 2 is a left side detailed view showing the appearance of the present invention;
도3은 본 발명의 외관을 나타낸 우측면 상세도Figure 3 is a detailed view of the right side showing the appearance of the present invention.
도4는 본 발명의 외관을 나타낸 평면 상세도Figure 4 is a plan view showing the appearance of the present invention
도5는 본 발명에 따른 마킹 시스템의 평면 상세도5 is a plan detail view of the marking system according to the invention.
도6은 본 발명에 따른 마킹 시스템의 정면 상세도6 is a front detail view of the marking system according to the invention;
도7은 본 발명에 따른 마킹 시스템의 우측면 상세도7 is a right side detail view of the marking system according to the invention.
도8은 본 발명에 따른 마킹 시스템의 좌측면 상세도8 is a left side detail view of the marking system according to the invention.
도9는 본 발명에 따른 온로더스택커의 평면 상세도9 is a detailed plan view of the on-loader stacker according to the present invention.
도10은 본 발명에 따른 온로더스택커의 정면 상세도10 is a front detail view of the on-loader stacker according to the present invention.
도11은 본 발명에 따른 온로더스택커의 측면 상세도Figure 11 is a detailed side view of the on-loader stacker according to the present invention
도12는 본 발명에 따른 트레이 엘리베이터의 평면 상세도12 is a detailed plan view of a tray elevator according to the present invention.
도13은 본 발명에 따른 트레이 엘리베이터의 정면 상세도13 is a front detail view of the tray elevator according to the present invention;
도14는 본 발명에 따른 트레이 제1이송수단의 평면 상세도Figure 14 is a plan view detail of the tray first transfer means according to the present invention;
도15는 본 발명에 따른 트레이 제1이송수단의 정면 상세도Figure 15 is a front detail view of the tray first transfer means according to the present invention;
도16은 본 발명에 따른 트레이 제1이송수단의 측면 상세도Figure 16 is a detailed side view of the tray first transfer means according to the present invention;
도17은 본 발명에 따른 방향정위(orientation)장치의 평면 상세도Fig. 17 is a plan detail view of an orientation device according to the present invention;
도18은 본 발명에 따른 방향정위(orientation)장치의 정면 상세도18 is a front detail view of an orientation device according to the present invention;
도19는 본 발명에 따른 방향정위(orientation)장치의 측면 상세도19 is a detailed side view of an orientation device according to the present invention;
도20은 본 발명에 따른 드로워(Drawer) 평면 상세도20 is a detailed view of a drawer plane according to the present invention.
도21은 본 발명에 따른 드로워(Drawer) 측면 상세도 (장비기준)Figure 21 is a detailed view of the drawer (Drawer) side according to the present invention (equipment basis)
도22는 본 발명에 따른 드로워(Drawer) 정면 상세도 (장비기준)Figure 22 is a detailed view of the drawer (Drawer) according to the present invention (equipment basis)
도23은 본 발명에 따른 트레이 제2이송수단의 평면 상세도Figure 23 is a detailed plan view of the tray second conveying means according to the present invention;
도24는 본 발명에 따른 트레이 제2이송수단의 정면 상세도 (장비기준)24 is a detailed front view of the
도25는 본 발명에 따른 트레이 제2이송수단의 측면 상세도 (장비기준)Figure 25 is a detailed side view of the
도26은 본 발명에 따른 리프터의 평면 상세도Figure 26 is a detailed plan view of the lifter according to the present invention.
도27은 본 발명에 따른 리프터의 측면 상세도Figure 27 is a side detail view of the lifter according to the present invention.
도28은 본 발명에 따른 리프터의 정면 상세도Figure 28 is a front detail view of the lifter according to the present invention.
도29는 본 발명에 따른 바이브레이터의 평면 상세도29 is a plan detail view of a vibrator according to the present invention.
도30은 본 발명에 따른 바이브레이터의 측면 상세도30 is a detailed side view of a vibrator according to the present invention.
도31은 본 발명에 따른 클램핑장치의 평면 상세도Figure 31 is a plan view detail of the clamping device according to the present invention
도32는 본 발명에 따른 클램핑장치의 측면 상세도32 is a detailed side view of the clamping device according to the present invention;
도33은 본 발명에 따른 이물질제거장치의 평면 상세도33 is a detailed plan view of the foreign matter removing apparatus according to the present invention
도34는 본 발명에 따른 이물질제거장치의 측면 상세도34 is a detailed side view of the foreign matter removing apparatus according to the present invention;
도35는 본 발명에 따른 이물질제거장치의 정면 상세도35 is a front detail view of the foreign matter removing apparatus according to the present invention;
도36은 본 발명에 따른 이물질제거장치에 구비된 매쉬 상세도36 is a detailed view of the mesh provided in the foreign matter removing apparatus according to the present invention
도37은 본 발명에 따른 트레이 제3이송수단의 평면 상세도Figure 37 is a detailed plan view of the tray third transfer means according to the present invention;
도38은 본 발명에 따른 트레이 제3이송수단의 측면 상세도Figure 38 is a side elevational view of a third transfer means of a tray according to the present invention;
도39는 본 발명에 따른 소터(Sorter)의 평면 상세도Figure 39 is a detailed plan view of the sorter according to the present invention.
도40은 본 발명에 따른 소터(Sorter)의 정면 상세도40 is a front detail view of a sorter according to the present invention;
도41은 본 발명에 따른 소터(Sorter)의 측면 상세도Figure 41 is a side detail view of a sorter according to the present invention;
도42는 본 발명에 따른 트레이회수부의 언로더스택커 평면 상세도Figure 42 is a detailed view of the unloader stacker plane of the tray recovery unit according to the present invention
도43은 본 발명에 따른 소터테이블의 평면 상세도Figure 43 is a plan detail view of the sorter table according to the present invention.
도44는 본 발명에 따른 소터테이블의 정면 상세도44 is a front detail view of the sorter table according to the present invention.
도45는 본 발명에 따른 소터테이블의 측면 상세도Figure 45 is a detailed side view of a sorter table according to the present invention.
도46은 본 발명에 따른 소터테이블의 이송수단의 평면 상세도46 is a plan view detail of the conveying means of the sorter table according to the present invention;
도47은 본 발명에 따른 소터테이블의 이송수단의 측면 상세도Fig. 47 is a side detailed view of a conveying means of the sorter table according to the present invention;
<도면의 주요 부분에 대한 설명>Description of the main parts of the drawing
반도체패키지(1), 트레이(2), 온로더스택커(Onloader Stacker)(10), 트레이적층부(11), 세퍼레이터실린더(Separator Cylinder)(13), 트레이 고정구(13'), 트레이고정구(13a), 트레이엘리베이터(Tray Elevator)(20), 실린더(21), 사프트(22), 제1레일(30), 제1트레이이송장치(40), 모터(41), 스크류축(42), 트레이안치대(43), 래치형(Latch Type) 고정구(44), 실린더(45), 클램핑고정구(46), 로봇(50), 비젼(OCR)카메라(51), 라이트(52), 모터(60), 로봇(61), 상하실린더(62), 트레이커버판넬(63), 트레이가이드(64), 제2레일(70), 제1,제3리프터(80,90), LM가이드(71), LM 블록(72), 모터(73), 워킹빔(74), 워킹빔트레이가이드(75), 업다운실린더(81,91), 트레이안치대(82,92), 가이드(83,93), 바이브레이터(100), 클램핑장치(110), 레이저 마킹장치(120), 이물질제거장치(130), 에어노즐(131), 집진장치(132), 매쉬(133), 실린더(134), 리프터(140), 제3레일(150), 제2트레이이송장치(160), 제3트레이이송장치(170), 로봇(180), 모터(181), 진공흡착구(182), 트레이공급부(A), 제1이송수단(B), 방향정위(orientation)장치(C), 제1드로워(D), 제2이송수단(E), 레이저 마킹부(F), 이물질제거부(G), 제2드로워(H), 제3이송수단(I), 마킹검사장치(J), 소터(Sorter)(K), 트레이회수부(L), 소터테이블(M), 테이블이송수단(N), 제어장치(O)Semiconductor Package 1, Tray 2, Onloader Stacker 10, Tray Stacker 11, Separator
본 발명은 다수의 반도체패키지가 안치된 트레이를 이송시켜, 트레이에 안치된 반도체패키지의 표면에 특정 문구를 마킹하도록 구성된 트레이 이송식 반도체패키지 마킹방법 및 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수의 반도체패키지가 안치된 다수의 트레이가 적층되어 있는 온로더스택커에서 최하부의 트레이부터 하나씩 순차적으로 이송시켜, 프리비젼(OCR)카메라를 통해 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 트레이에 반도체패키지가 정확한 방향으로 안치되어 있는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사한 다음, 레이져 마킹장치의 하부에 설치된 바이브레이터로 이송되어 상기 바이브 레이터에 구비된 클램핑장치를 통해 클램핑되어 고정된 후, 대각선으로 기울여져 진동에 의해 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지가 트레이의 일측으로 정렬된 다음, 레이져 마킹장치에 의해 반도체패키지의 표면에 특정 문구가 마킹된 다음, 에어노즐과 집진장치가 설치된 이물질제거부를 통과하여 마킹시 발생된 이물질이 제거된 다음, 포스트비젼카메라를 통해 반도체패키지의 마킹상태를 체크한 다음, 소팅(sorting)장치를 통해 상기 포스트비젼카메라에 의해 검출된 마킹 불량의 반도체패키지를 분류하여 마킹상태가 양호한 양품의 반도체패키지로 교체한 다음, 언로더스택커(Unloader Stacker)에 적층되게 되도록 구성된 트레이 이송식 반도체패키지 마킹방법 및 시스템인 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tray transfer type semiconductor package marking method and system configured to transfer a tray in which a plurality of semiconductor packages are placed, and to mark a specific phrase on a surface of the semiconductor package placed in the tray, and more particularly, to a plurality of semiconductors. The on-loader stacker, in which a number of trays with packages are stacked, is sequentially transferred from the lowest tray one by one, and the ID mark holes and lot numbers of the plurality of semiconductor packages placed in the trays are pre-visioned by the Prevision (OCR) camera. Check that the semiconductor package is placed in the correct direction and the other type of semiconductor package is placed in the tray. Then, the clamping device provided in the vibrator is transferred to a vibrator installed under the laser marking device. Clamped through and fixed, then tilted diagonally by vibration A plurality of semiconductor packages placed in the ray are aligned to one side of the tray, and then a specific text is marked on the surface of the semiconductor package by the laser marking device, and then passed through the foreign material removing unit where the air nozzle and the dust collector are installed. After the foreign matter is removed, the marking status of the semiconductor package is checked through a post vision camera, and then the sorted semiconductor package detected by the post vision camera is sorted by a sorting device to obtain a good marking condition. It is a tray transfer semiconductor package marking method and system configured to be replaced with a semiconductor package, and then stacked on an unloader stacker.
일반적으로 반도체패키지 제조분야에서 마킹이란 반도체패키지의 상편 또는 후면에 특정기호, 숫자 및 문자를 잉크 또는 레이저빔을 사용하여 표시함으로써 사용자가 그 반도체패키지를 관리 및 사용하는데 필요한 정보를 쉽게 얻을 수 있도록 하는데 있다. 따라서 마킹을 통하여 그 반도체패키지의 기능은 물론 반도체칩을 제작한 회사, 패키징 및 검사한 회사를 식별할 수 있기 때문에 반도체패키지의 후공정에 있어서 반드시 필요한 공정중의 하나이다.In general, in the semiconductor package manufacturing field, marking means that specific symbols, numbers, and letters are displayed on the upper or rear surface of the semiconductor package by using ink or laser beam, so that the user can easily obtain the information necessary for managing and using the semiconductor package. have. Therefore, the marking can identify not only the function of the semiconductor package but also the company which manufactured the semiconductor chip, the packaged company, and the inspected company.
상기한 바와 같은 반도체패키지의 마킹공정을 수행하는 종래의 마킹장치 및 방법의 예를 들면, 대한민국특허청 공개특허공보 공개번호 특1999-0033220호에는 레이저광원의 전방에 반사와 투가가 가능한 미러를 다수개 배열하고, 반도체패키지 유닛의 일면은 상기 각 미러들로부터 반사되는 레이저빔이 도달하도록 위치시켜 다 수의 반도체패키지 유닛을 동시에 마킹하도록 구성된 레이저빔을 이용한 반도체패키지의 마킹 방법 및 그 장치에 대하여 기술되어 있으며,As an example of a conventional marking apparatus and method for performing a marking process of a semiconductor package as described above, Korean Patent Laid-Open Publication No. 1999-0033220 includes a plurality of mirrors that can reflect and transmit in front of a laser light source. And a method of and a device for marking a semiconductor package using a laser beam configured to mark a plurality of semiconductor package units at the same time by arranging one surface of the semiconductor package unit so that a laser beam reflected from each of the mirrors arrives. It is
동 공보 공개번호 특1995-0026721호에는 합성수지재로된 반도체 패키지의 패키지 표면에 묻은 이물질 또는 잘못된 마킹을 제거하고 코팅잉크의 접착력 증대성을 향상시킬 수 있도록 적정한 온도로 가열시킨 다음, 마킹되는 패키지 표면에 적당량의 코팅잉크를 코팅한 후, 코팅된 잉크를 소정시간 건조시킨 다음, 코팅된 잉크의 표면에 레이저 또는 잉크로 마킹할 수 있도록 하므로서 마킹된 문자 및 도형의 선명성을 높이고, 마킹작업시 잘못된 마킹부의 재작업을 용이하게 실시할 수 있으며, 반도체 패키지 제품의 외관품질을 향상시킬 수 있는 반도체패키지의 마킹방법이 기술되어 있고,Korean Patent Publication No. 1995-0026721 discloses a package surface that is heated to an appropriate temperature to remove foreign substances or wrong markings on the surface of a semiconductor package made of a synthetic resin material and to improve adhesion of coating ink. After coating an appropriate amount of coating ink on the coating ink, the coated ink is dried for a predetermined time, and then the surface of the coated ink can be marked with a laser or ink, thereby increasing the sharpness of marked characters and figures, and incorrect marking during marking. A method of marking a semiconductor package can be easily performed, and a marking method of a semiconductor package that can improve the appearance quality of a semiconductor package product is described.
동 등록특허공보 등록번호 제10-0462239호에는 반도체의 마킹되는 영역을 실시간으로 촬영하는 동시에 더욱 넓은 영역을 구면수차 없이 촬영할 수 있도록 레이저 발진기로부터 일정 파장의 레이저빔을 제공받아서 이를 반도체 패키지의 일정 역영에 입사시키는 렌즈와, 상기 레이저 발진기와 레이저 헤드 사이에 위치되어 입사되는 레이저 빔을 소정 각도로 반사시킴으로써 상기 반도체패키지의 일정 영역이 마킹되도록 하는 갈보 메터와, 상기 갈보 메터와 레이저 발진기 사이에 위치되어 상기 레이저 빔을 그대로 통과시키고, 상기 렌즈를 통해 상기 반도체패키지의 마킹 영역으로부터 반사된 소정 영상은 일측 방향으로 반사시키는 선택형 토과반사 미러와, 상기 선택형 투과반사 미러의 후단에 위치되어 상기 반도체패키지의 마킹 영역에 대한 영상을 구면 수차 없이 넓은 영역으로 확대하여 통과시키는 플래노 컨벡스 렌즈와, 상기 플래노 컨벡스 렌즈에 근접하여 상기 마킹되는 반도체패키지의 작업 영역을 촬영하는 카메라를 포함하여 이루어진 반도체용 레이저 마킹 장치가 기술되어 있으며, In Korean Patent Publication No. 10-0462239, a laser beam of a predetermined wavelength is provided by a laser oscillator to capture a marking area of a semiconductor in real time and to capture a wider area without spherical aberration. And a galvo meter positioned between the laser oscillator and the laser head and reflecting the incident laser beam at a predetermined angle so that a predetermined area of the semiconductor package is marked, and located between the galvo meter and the laser oscillator. An optional earth reflection mirror, which passes the laser beam as it is and is reflected from the marking area of the semiconductor package through the lens, is reflected at one side, and is positioned at a rear end of the selective transmission reflection mirror to mark the semiconductor package. Image for the area A laser marking apparatus for semiconductors comprising a plano convex lens for enlarging and passing through a wide area without spherical aberration, and a camera for photographing a work area of the semiconductor package to be marked in proximity to the plano convex lens,
동 공보 공고번호 특0125958호에는 양쪽 레일 및 인덱스부의 레일판에 센서를 설치하여 센서의 감지된 데이터에 따라 마킹을 실시하도록 함으로써 반도체 마킹장치의 조작이 용이하게 이루어지도록 구성된 반도체 패키지 마킹장치 및 방법이 기술되어 있고,Korean Patent Publication No. 0125958 discloses a semiconductor package marking apparatus and method configured to facilitate the operation of a semiconductor marking apparatus by installing a sensor on both rails and an index plate of an index portion to perform marking according to the sensed data of the sensor. Described,
동 공보 공고번호 10-0235754호에는 반도체패키지 자재의 패키지에 UV마킹을 시행하는 마킹시스템에 구비된 마킹헤드에 스텝모터로 상하 이동하는 마킹인쇄부와, 마킹인쇄부에 잉크를 도포할 수 있도록 스텝모터에 의해 전후이송하는 잉크도포부와, 잉크도포부에 도포된 잉크를 균일하게 유지시키는 잉크균일 도포수단을 구비한 반도체패키지용 마킹시스템의 인쇄마킹 방법 및 그 장치에 대해 기술되어 있으며, Publication No. 10-0235754 discloses a marking printing unit which moves up and down with a step motor to a marking head provided in a marking system for applying UV marking to a package of semiconductor package material, and a step for applying ink to the marking printing unit. A printing marking method and apparatus thereof for a semiconductor packaging marking system having an ink coating unit which is moved back and forth by a motor, and an ink uniform coating unit for maintaining the ink applied to the ink coating unit uniformly,
동 실용신안공보 공고번호 실1993-0004640호에는 규격이 상이한 여러 가지 패키지의 폭과 두께에 따라 마킹다이와 마킹헤드의 간격을 조절함과 아울러 한쌍의 폭방향 가이더의 간격을 조절하여, 여러 가지 규격의 패키지를 양호한 상태로 마킹할 수 있도록 한 반도체패키지 마킹장치가 기술되어 있다.The Utility Model Publication No.1993-0004640 regulates the distance between the marking die and the marking head according to the width and thickness of various packages having different specifications, and also adjusts the distance between the pair of width guiders. BACKGROUND OF THE INVENTION A semiconductor package marking apparatus is described that enables a package to be marked in a good state.
그러나 상기와 같은 종래의 마킹장치는 반도체패키지가 개별적으로 이송되어 마킹이 이루어지며, 마킹이 잘 못된 불량품을 선별하기 위한 선별공정 및 회수공정이 자동화되어 있지 않아 많은 인력과 시간이 소요되어 생산성이 저하되는 문제점 이 있다.However, in the conventional marking apparatus as described above, the semiconductor package is individually transported to make the marking, and the sorting process and the collection process for sorting out defective products that are not markedly automated are not automated, which requires a lot of manpower and time, resulting in reduced productivity. There is a problem.
상기와 같은 문제점을 해결하고자, 본 발명은 다수의 반도체패키지가 안치된 트레이를 이송시켜, 다수의 반도체패키지에 특정 문구 또는 숫자등을 마킹하는 마킹공정을 신속하게 수행할 수 있으며, 마킹된 상태를 체크하여 불량품을 선별하여 회수하여 양품의 반도체패키지를 제공할 수 있는 트레이 이송식 반도체패키지 마킹방법 및 그 장치를 제공하는 것이 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제인 것이다.
In order to solve the above problems, the present invention transfers a tray in which a plurality of semiconductor packages are placed, it is possible to quickly perform a marking process for marking a specific phrase or number on a plurality of semiconductor packages, the marking state It is a technical object of the present invention to provide a tray transfer type semiconductor package marking method and apparatus for selecting and recovering defective products by selecting and recovering defective products.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 다수의 반도체패키지가 안치된 다수의 트레이(tray)가 적층되어 있는 온로더스택커(Onloader Stacker)에서 최하부의 트레이부터 하나씩 순차적으로 이송시켜, 프리비젼(OCR)카메라를 통해 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 트레이에 반도체패키지가 정확한 방향으로 안치되어 있는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사한 다음, 레이져 마킹장치의 하부에 설치된 바이브레이터로 이송되어 상기 바이브레이터에 구비된 클램핑장치를 통해 클램핑되어 고정된 후, 대각선으로 기울여져 진동에 의해 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지가 트레이의 일측으로 정렬된 다음, 레이져 마킹장치에 의해 반도체패키지의 표면에 특정 문구가 마킹된 다음, 에어노즐과 집진장치가 설치된 이물질제거부를 통과하여 마킹시 발생된 이물질 이 제거된 다음, 포스트비젼카메라를 통해 반도체패키지의 마킹상태를 체크한 다음, 소팅(sorting)장치를 통해 상기 포스트비젼카메라에 의해 검출된 마킹 불량의 반도체패키지를 분류하여 마킹상태가 양호한 양품의 반도체패키지로 교체한 다음, 언로더스택커(Unloader Stacker)에 적층되게 되며, 상기와 같은 동작이 연속적으로 수행됨으로서 상기 언로더스택커에 마킹작업이 완료된 반도체패키지가 안치된 트레이가 적층되게 된다.In order to achieve the above object, the present invention sequentially transfers one by one from the lowermost tray in an onloader stacker in which a plurality of trays in which a plurality of semiconductor packages are stacked are stacked, and thus prevision (OCR). Check the ID mark hole and LOT number of many semiconductor packages placed in the tray through the camera to check whether the semiconductor packages are placed in the correct direction and other kinds of semiconductor packages are placed in the tray. After transported to the vibrator installed under the marking device and clamped and clamped through the clamping device provided in the vibrator, a plurality of semiconductor packages tilted diagonally and placed in the tray by vibration are aligned to one side of the tray, and then Specific markings are marked on the surface of the semiconductor package by the marking device, and then air nozzles and dust collection. After the foreign matter generated during marking is removed by passing through the foreign material removal unit installed, the marking state of the semiconductor package is checked through a post vision camera, and then the marking defect detected by the post vision camera through a sorting device is sorted. Classify the semiconductor packages and replace them with good quality semiconductor packages. Then, the semiconductor packages are stacked on the unloader stacker. As the above operation is performed continuously, the marking operation is performed on the unloader stacker. The tray on which the completed semiconductor package is placed is stacked.
상기 프리비젼(OCR)카메라에서 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지중 방향과 종류가 다른 반도체패키지가 인식되면, 해당 반도체패키지의 위치정보를 제어장치에 전달하여, 방향이 잘못되거나 종류가 다른 반도체패키지에는 마킹작업이 이루어지지 않게 되며,When a semiconductor package having a different direction and type from among a plurality of semiconductor packages placed in a tray is recognized by the prevision (OCR) camera, the location information of the semiconductor package is transmitted to a control device so that the semiconductor package has a wrong direction or a different type. There will be no marking on the
또한, 상기 포스트비젼카메라에서 반도체패키지의 마킹상태가 불량인 반도체패키지가 검출되면, 해당 위치정보를 제어장치에 전달하여 소팅(sorting)장치에 의해 마킹상태가 불량인 반도체패키지를 분류 수거하고, 양품의 반도체패키지로 교체하게 된다.In addition, when the semiconductor package having a poor marking state of the semiconductor package is detected by the post vision camera, the location information is transmitted to the control device, and the sorting semiconductor package is collected and sorted by a sorting device. Will be replaced with the semiconductor package.
본 발명은 상기와 같은 동작 수행 절차대로 트레이가 이동하며, 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지에 특정 문구 및 숫자 등이 마킹되도록 시스템이 구축되어 있으며, 특히 본체의 내부에 트레이가 ""또는 반대와 같이 이동하여 상기의 공정이 수행되도록 각 장치를 배치하여 장치의 규모를 최소화하였다.According to the present invention, a tray is moved according to the above-described operation procedure, and a system is constructed such that specific phrases and numbers are marked on a plurality of semiconductor packages placed in the tray. "Or, each device was placed in such a way that the above process was performed to move in reverse, minimizing the scale of the device.
본 발명은 상기와 같이 트레이가 이동되도록 레일(Rail)을""와 같이 설치하였으며, 상기 레일(Rail)은 3개의 레일로 구성되며, 트레이공급부의 일측에 전후로 길게 설치된 레일을 제1레일이라 하며, 상기 제1레일의 후방 끝단부에 일정간격 이격되어 가로로 길게 설치된 레일을 제2레일이라 하며, 상기 제1레일과 대향되는 상기 제2레일의 끝단부에 제1레일과 평행하게 설치된 레일을 제3레일이라 한다.The present invention is a rail (Rail) to move the tray as described above " "The rail (Rail) is composed of three rails, the rail is installed long in front and back on one side of the tray supply unit is called the first rail, the rear end of the first rail is spaced at a predetermined interval spaced horizontally A long rail is called a second rail, and a rail provided in parallel with the first rail at an end portion of the second rail opposite to the first rail is called a third rail.
상기한 각 레일에는 트레이를 이송시키는 이송수단이 구비되어, 상기 이송수단에 의해 트레이공급부에서 공급된 트레이가 상기 제1, 제2, 제3레일을 따라 이송되며 상기한 모든 공정이 수행되게 된다.Each of the rails is provided with a conveying means for conveying the tray, the tray supplied from the tray supply unit by the conveying means is conveyed along the first, second, and third rails and all the above processes are performed.
또한, 상기 제1레일과 제2레일, 제2레일과 제3레일의 일측부에는 트레이가 이송되고 있는 현재의 레일이 서로 다른 레일(제1레일 -> 제2레일, 제2레일 -> 제3레일)로 이송시키는 드로워(Drawer)가 설치되어 있으며,In addition, the first rail and the second rail, the second rail and the third rail, the current rail to which the tray is transported is different from each other rail (first rail-> second rail, second rail-> first Drawer to transfer by 3 rails) is installed,
상기 드로워(Drawer)는 상기 제1레일과 제2레일, 제2레일과 제3레일 사이에는 공간이 형성되어 있어, 트레이가 레일을 바꾸어 타는 순간에 발생되는 흔들림에 의해 트레이에 안치된 다수의 반도체패키지가 움직이거나 이탈되지 않도록 트레이의 상부 전체를 감싸 반도체패키지가 움직이지 않도록 구성되어 있다. 트레이의 상부를 감싸는 커버는 업다운 실린더에 의해 상하로 움직임으로서 트레이를 감싸게 되며, 상기 커버가 트레이를 감싸게 되면 모터에 의해 좌우로 움직이는 로봇에 의해 트레이가 현재 레일에서 다음 레일로 바꾸어 타게 된다.The drawer has a space formed between the first rail and the second rail, the second rail and the third rail, and a plurality of drawers placed in the tray by shaking caused when the tray changes rails. The semiconductor package is configured so that the semiconductor package does not move by wrapping the entire upper part of the tray so that the semiconductor package does not move or break away. The cover surrounding the upper part of the tray surrounds the tray by moving up and down by an up-down cylinder. When the cover surrounds the tray, the tray is changed from the current rail to the next rail by a robot moving from side to side by a motor.
본 발명에 구성되는 각 장치의 배치상태를 살펴보면, 다수개의 트레이가 적층되어 있으며, 적층된 트레이 중 최하부에 위치한 트레이부터 차례로 공급하도록 구성된 온로더스택커(Onloader Stacker)와 트레이엘리베이터(Tray Elevator)가 상기 제1레일의 전방 끝단부 상부에 설치되어 있으며,Looking at the arrangement of each device configured in the present invention, a plurality of trays are stacked, the on-loader stacker and tray elevator configured to supply sequentially from the tray located at the bottom of the stacked trays Is installed on the upper front end of the first rail,
상기 제1레일의 중앙 상부에는 레일을 따라 이송되는 트레이에 안치된 반도체 패키지의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 트레이에 반도체패키지가 정확한 방향으로 안치되어 있는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사하는 비젼(OCR)카메라가 설치되어 있고,Check the ID mark hole and the LOT number of the semiconductor package placed in the tray transported along the rail in the upper part of the center of the first rail, the semiconductor package is placed in the correct direction and the other type of semiconductor package Is equipped with a vision (OCR) camera to check
상기 제1레일과 제2레일이 접하게 일측부에는 제1레일에 위치한 트레이를 제2레일로 이송시키는 제1드로워(Drawer)가 설치되어 있으며,A first drawer is installed at one side of the first rail and the second rail in contact with the first rail to transfer the tray located on the first rail to the second rail.
상기 제2레일의 사이에는 우측에서 좌측으로, 제1리프터, 반도체패키지 정렬 및 트레이 클램핑장치, 제2리프터와 제3리프터가 일정간격 이격되어 차례로 설치되어 있으며,Between the second rail, the first lifter, the semiconductor package aligning and tray clamping device, the second lifter and the third lifter are sequentially installed at a predetermined interval from right to left,
상기 반도체패키지 정렬 및 트레이 클램핑장치의 상부에는 반도체패키지에 특정 문구 및 숫자등을 마킹하는 레이저 마킹장치가 설치되어 있고,The laser marking device for marking a specific phrase and number on the semiconductor package is installed on the semiconductor package alignment and tray clamping device,
상기 제2리프터의 상부에는 반도체패키지의 표면에 묻어있는 이물질과 레이저 마킹시 발생된 이물질을 제거하는 이물질제거장치가 설치되어 있다.The upper part of the second lifter is provided with a foreign material removal device for removing foreign substances on the surface of the semiconductor package and foreign substances generated during laser marking.
상기 제2레일과 제3레일이 접하게 일측부에는 제2레일에 위치한 트레이를 제3레일로 이송시키는 제2드로워(Drawer)가 설치되어 있으며,A second drawer is installed at one side of the second rail and the third rail in contact with the tray to transfer the tray located at the second rail to the third rail.
상기 제3레일의 중앙 상부에는 레일을 따라 이송되는 트레이에 안치된 반도 체 패키지의 마킹상태를 체크하는 비젼카메라가 설치되어 있고,The vision camera for checking the marking state of the semiconductor package placed in the tray transported along the rail is installed at the center upper portion of the third rail,
상기 비젼카메라의 일측에는 마킹이 제대로 되지 않은 불량 반도체패키지를 제거하여, 양품의 반도체패키지로 교체하는 소터(Sorter)가 설치되어 있으며,One side of the vision camera is provided with a sorter (Sorter) to remove the defective semiconductor package is not properly marked, to replace the semiconductor package of good quality,
상기 제3레일의 전방 끝단 상부에는 마킹된 반도체패키지가 안치된 트레이가 적층되는 언로더스택커(Unloader Stacker)와 트레이엘리베이터(Tray Elevator)가 설치되어 있고,An unloader stacker and a tray elevator in which a tray on which a marked semiconductor package is stacked are stacked are installed on an upper end of the front end of the third rail.
상기 언로더스택커의 하부 일측에는 상기 소터(Sorter)에 의해 불량 반도체패키지를 수거하고, 양품의 반도체패키지를 공급하기 위한 트레이를 공급하는 소터테이블이 설치되어 있다.The lower side of the unloader stacker is provided with a sorter table for collecting a defective semiconductor package by the sorter and supplying a tray for supplying a good semiconductor package.
상기 소터테이블은 언로더스택커로부터 양품의 반도체패키지가 안치된 트래이를 공급받게 되며, 불량 반도체패키지를 수거하는 빈 트레이는 수동적으로 공급하게 되며, 상기 제1레일과 제3레일의 사이에 설치된 트레이트렌스퍼(Tray Transfer)에 의해 상기 소터(Sorter)의 하부까지 이동하게 된다.The sorter table receives a tray in which good semiconductor packages are placed from an unloader stacker, and an empty tray for collecting a defective semiconductor package is supplied manually, and a tray installed between the first rail and the third rail. By the transfer (Tray Transfer) to move to the bottom of the sorter (Sorter).
상기의 모든 장치를 제어하는 제어장치는 본체의 외부 일측 또는 양측에 설치되어 작동상태를 모니터링할 수 있도록 되어있다.The control device for controlling all the above devices is installed on one side or both sides of the main body to monitor the operation state.
본 발명은 본체의 외부에 설치된 제어장치의 조작에 의해 자동으로 동작되도록 설계되며, 상기 제어장치에 설치된 제어프로그램은 공정순서에 따라 각 장치가 동작할 수 있도록 사전에 제작된 것으로 본 발명의 핵심기술이 아님으로 구체적인 기술은 생략한다.The present invention is designed to be automatically operated by the operation of the control device installed on the outside of the main body, the control program installed in the control device is manufactured in advance so that each device can operate in accordance with the process sequence core technology of the present invention Since this is not the specific description.
이하, 도면을 참고하여 본 발명에 대한 기술구성을 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the technical configuration of the present invention with reference to the drawings in more detail.
도1은 본 발명의 외관을 나타낸 정면 상세도, 도2는 본 발명의 외관을 나타낸 좌측면 상세도, 도3은 본 발명의 외관을 나타낸 우측면 상세도, 도4는 본 발명의 외관을 나타낸 평면 상세도, 도5는 본 발명에 따른 마킹 시스템의 평면 상세도, 도6은 본 발명에 따른 마킹 시스템의 정면 상세도, 도7은 본 발명에 따른 마킹 시스템의 우측면 상세도, 도8은 본 발명에 따른 마킹 시스템의 좌측면 상세도, 도9는 본 발명에 따른 온로더스택커의 평면 상세도, 도10은 본 발명에 따른 온로더스택커의 정면 상세도, 도11은 본 발명에 따른 온로더스택커의 측면 상세도, 도12는 본 발명에 따른 트레이 엘리베이터의 평면 상세도, 도13은 본 발명에 따른 트레이 엘리베이터의 정면 상세도, 도14는 본 발명에 따른 트레이 제1이송수단의 평면 상세도, 도15는 본 발명에 따른 트레이 제1이송수단의 정면 상세도, 도16은 본 발명에 따른 트레이 제1이송수단의 측면 상세도, 도17은 본 발명에 따른 방향정위(orientation)장치의 평면 상세도, 도18은 본 발명에 따른 방향정위(orientation)장치의 정면 상세도, 도19는 본 발명에 따른 방향정위(orientation)장치의 측면 상세도, 도20은 본 발명에 따른 드로워(Drawer) 평면 상세도, 도21은 본 발명에 따른 드로워(Drawer) 정면 상세도, 도22는 본 발명에 따른 드로워(Drawer) 측면 상세도, 도23은 본 발명에 따른 트레이 제2이송수단의 평면 상세도, 도24는 본 발명에 따른 트레이 제2이송수단의 측면 상세도, 도25는 본 발명에 따른 트레이 제2이송수단의 정면 상세도, 도26은 본 발명에 따른 리프터의 평면 상세도, 도27은 본 발명에 따 른 리프터의 측면 상세도, 도28은 본 발명에 따른 리프터의 정면 상세도, 도29는 본 발명에 따른 바이브레이터의 평면 상세도, 도30은 본 발명에 따른 바이브레이터의 측면 상세도, 도31은 본 발명에 따른 클램핑장치의 평면 상세도, 도32는 본 발명에 따른 클램핑장치의 측면 상세도, 도33은 본 발명에 따른 이물질제거장치의 평면 상세도, 도34는 본 발명에 따른 이물질제거장치의 측면 상세도, 도35는 본 발명에 따른 이물질제거장치의 정면 상세도, 도36은 본 발명에 따른 이물질제거장치에 구비된 매쉬 상세도, 도37은 본 발명에 따른 트레이 제3이송수단의 평면 상세도, 도38은 본 발명에 따른 트레이 제3이송수단의 측면 상세도, 도39는 본 발명에 따른 소터(Sorter)의 평면 상세도, 도40은 본 발명에 따른 소터(Sorter)의 정면 상세도, 도41은 본 발명에 따른 소터(Sorter)의 측면 상세도, 도42는 본 발명에 따른 트레이회수부의 언로더스택커 평면 상세도, 도43은 본 발명에 따른 소터테이블의 평면 상세도, 도44는 본 발명에 따른 소터테이블의 정면 상세도, 도45는 본 발명에 따른 소터테이블의 측면 상세도, 도46은 본 발명에 따른 소터테이블의 이송수단의 평면 상세도, 도47은 본 발명에 따른 소터테이블의 이송수단의 측면 상세도를 도시한 것이며, 반도체패키지(1), 트레이(2), 온로더스택커(Onloader Stacker)(10), 트레이적층부(11), 세퍼레이터실린더(Separator Cylinder)(13), 트레이 고정구(13'), 트레이고정구(13a), 트레이엘리베이터(Tray Elevator)(20), 실린더(21), 사프트(22), 제1레일(30), 제1트레이이송장치(40), 모터(41), 스크류축(42), 트레이안치대(43), 래치형(Latch Type) 고정구(44), 실린더(45), 클램핑고정구(46), 로봇(50), 비젼(OCR)카메라(51), 라이트(52), 모터(60), 로봇(61), 상하실린더(62), 트레이커버판 넬(63), 트레이가이드(64), 제2레일(70), 제1,제3리프터(80,90), LM가이드(71), LM블록(72), 모터(73), 워킹빔(74), 워킹빔트레이가이드(75), 업다운실린더(81,91), 트레이안치대(82,92), 가이드(83,93), 바이브레이터(100), 클램핑장치(110), 레이저 마킹장치(120), 이물질제거장치(130), 에어노즐(131), 집진장치(132), 매쉬(133), 실린더(134), 리프터(140), 제3레일(150), 제2트레이이송장치(160), 제3트레이이송장치(170), 로봇(180), 모터(181), 진공흡착구(182), 트레이공급부(A), 제1이송수단(B), 방향정위(orientation)장치(C), 제1드로워(D), 제2이송수단(E), 레이저 마킹부(F), 이물질제거부(G), 제2드로워(H), 제3이송수단(I), 마킹검사장치(J), 소터(Sorter)(K), 트레이회수부(L), 소터테이블(M), 테이블이송수단(N), 제어장치(O)를 나타낸다.Figure 1 is a front detail view showing the appearance of the present invention, Figure 2 is a left side detail view showing the appearance of the present invention, Figure 3 is a right side detailed view showing the appearance of the present invention, Figure 4 is a plan view showing the appearance of the present invention 5 is a detailed plan view of the marking system according to the present invention, FIG. 6 is a front detail view of the marking system according to the present invention, FIG. 7 is a right side detailed view of the marking system according to the present invention, and FIG. Left detailed view of the marking system according to the present invention, FIG. 9 is a detailed plan view of the on-loader stacker according to the present invention, FIG. 10 is a detailed front view of the on-loader stacker according to the present invention, and FIG. 12 is a detailed plan view of the tray elevator according to the present invention, FIG. 13 is a front detail view of the tray elevator according to the present invention, and FIG. 14 is a plan view of the tray first transport means according to the present invention. Figure 15 shows a tray according to the present invention. 16 is a front detail view of the first transport means, FIG. 16 is a side detail view of the tray first transport means according to the present invention, FIG. 17 is a plan detail view of an orientation device according to the present invention, and FIG. 19 is a front detail view of an orientation device according to the present invention, FIG. 19 is a side detail view of an orientation device according to the present invention, FIG. 20 is a detailed view of a drawer plane according to the present invention, and FIG. Drawer front detail view according to the invention, Figure 22 is a drawer side detail view according to the present invention, Figure 23 is a detailed plan view of the second tray transport means according to the present invention, Figure 24 is the present invention A detailed side view of the second transport means of the tray according to the present invention, FIG. 25 is a detailed front view of the second transport means of the tray according to the present invention, FIG. 26 is a detailed plan view of the lifter according to the present invention, and FIG. Side detail view of the lifter, FIG. 28 is a front detail view of the lifter according to the present invention, FIG. 29 shows the
도1내지 도4는 본 발명의 외관 상태를 도시한 것으로서, 도시된 바와 같이, 본체 외부 양측 또는 일측에 제어장치(O)가 설치되어 있으며, 다수개의 여단이식 문이 설치되어 있다.1 to 4 show the appearance of the present invention, as shown, the control device (O) is installed on both sides or one side outside the main body, and a plurality of brigade transplant doors are installed.
본 발명에 따른 트레이 이송식 반도체패키지 마킹 시스템은 도5내지 도8에 도시된 바와 같이, 다수의 반도체패키지(1)가 안치된 트레이(2)를 공급하는 트레이공급부(A)와, 상기 트레이공급부(A)에서 공급된 트레이(2)를 이송하는 제1이송수단(B)과, 상기 제1이송수단(B)을 통해 이송된 트레이(2)에 안치된 반도체패키지(1)의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 반도체패키지(1)가 정확한 방향으로 안치되어 있 는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사하는 방향정위(orientation)장치(C)와, 상기 제1이송수단(B)을 통해 방향정위장치(C)를 통과한 트레이(2)를 레이저 마킹부(F)로 이송시키는 제1드로워(D) 및 제2이송수단(E)과, 상기 제2이송수단(E)에 의해 이송된 트레이(2)를 클램핑하여 고정한 후, 안치된 다수의 반도체패키지(1)를 정렬한 다음, 반도체패키지(1)의 표면에 특정 문구를 마킹하는 레이저 마킹부(F)와, 상기 레이저 마킹부(F)의 후방에 설치되어 제2이송수단(E)을 통해 레이저 마킹부(F)를 통과한 트레이(2) 상의 반도체패키지(1)에 묻어있는 이물질을 제거하는 이물질제거부(G)와, 상기 제2이송수단(E)을 통해 이물질제거부(G)를 통과한 트레이(2)를 마킹검사장치(J)로 이송시키는 제2드로워(H) 및 제3이송수단(I)과, 상기 제3이송수단(I)에 의해 이송된 트레이(2)에 안치된 반도체패키지(1)의 마킹상태를 체크하는 마킹검사장치(J)와, 상기 마킹검사장치(J)의 일측에 설치되어 마킹상태가 불량인 반도체패키지(1)를 분류하여 양품의 반도체패키지(1)로 교체하는 소터(Sorter)(K)와, 상기 제3이송수단(I)을 소터(Sorter)(K)를 통과한 트레이(2)가 적층되는 트레이회수부(L)와, 상기 트레이회수부(L)의 하부 일측에 설치되어, 상기 소터(Sorter)(K)에 의해 분류되는 불량품이 안치되는 빈 트레이와, 상기 트레이회수부(L)로부터 공급받은 양품의 반도체패키지가 안치된 트레이를 공급하는 소터테이블(M)과, 상기 소터테이블(M)을 상기 소터(Sorter)(K)의 하부까지 이송시키는 테이블 이송수단(N)과, 상기 각 장치들을 제어하는 제어장치(O)로 구성되어 있으며,In the tray transfer type semiconductor package marking system according to the present invention, as shown in FIGS. 5 to 8, a tray supply part A for supplying a
상기 트레이공급부(A)는 다수의 반도체패키지(1)가 안치된 트레이(2)가 적층되는 온로더스택커(Onloader Stacker)(10)와, 상기 온로더스택커(10)의 하부에 설치되어 상기 온로더스택커(10)에 적층된 트레이 중 최하부에 위치한 트레이를 이송장치에 공급하는 트레이엘리베이터(Tray Elevator)(20)로 구성된다.The tray supply unit (A) is installed on the on-loader stacker (10) stacking the tray (2) in which a plurality of semiconductor packages (1) are stacked, and the lower part of the on-loader stacker (10) It consists of a tray elevator (20) for supplying a tray located in the lowermost of the trays stacked on the on-loader stacker (10) to the transfer device.
상기 온로더스택커(10)는 도9내지 도11에 도시된 바와 같이, 좌우에 다수의 트레이(2)가 적층되는 2개의 트레이적층부(11)가 구비되어, 상기 트레이적층부(11)에 다수의 트레이가 적층되게 되며, 전방 일측에 가로방향으로 설치된 실린더(12)에 의해 좌우로 이동되도록 구성되어 있으며,9 to 11, the on-
상기 트레이적층부(11)에는 각각 2개의 세퍼레이터실린더(Separator Cylinder)(13)가 구비되어, 다수의 트레이(2)를 적층시 상기 세퍼레이터실린더(13)의 트레이고정구(13a)가 최하부에 위치한 트레이(2)의 좌우측에 형성된 홈(2a)에 끼워짐으로서, 다수의 트레이(2)가 적층되도록 구성되어 있다.Each of the
상기 트레이엘리베이터(Tray Elevator)(20)는 도12 및 도13에 도시된 바와 같이 2개의 실린더(21)에 의해 사프트(22)가 상하로 움직이도록 구성되며, 트레이 공급시 사프트(22)가 상승하여 온로더스택커(10)에 적층된 트레이를 받치게 되며,The
상기 세퍼레이터실린더(13)의 트레이고정구(13a)가 최하부 트레이(2)의 홈에서 빠지게 되면, 사프트(22)가 일정 간격으로 하강하여 다음의 하부 트레이(2)가 상기 세퍼레이터실린더(13)의 트레이고정구(13a)에 의해 고정되도록 한 다음, 계속해서 하강하여 최하부 트레이(2)를 제1이송수단(B)에 인계하도록 구성되어 있다.When the
상기 제1이송수단(B)은 도14 내지 도16에 도시된 바와 같이 트레이공급부(A)의 하부에서 제1드로워(D)의 하부까지 길게 형성된 제1레일(30)과, 상기 제1레일(30)의 사이에 형성되어 상기 트레이엘리베이터(20)에 의해 공급된 트레이(2)를 방향정위(orientation)장치(C)로 이송한 후, 제1드로워(D)의 하부까지 이송시키는 제1트레이이송장치(40)로 구성되며,As shown in FIGS. 14 to 16, the first transfer means B includes a
상기 제1트레이이송장치(40)는 제1레일(30)의 일측 끝단부에 설치된 모터(41)와, 상기 모터(41)에 의해 정역 회전되는 스크류축(42)과, 상기 스크류축(42)에 결합되어 트레이가 안치되는 트레이안치대(43)와, 상기 안치대(43)의 일측에 형성된 래치형(Latch Type) 고정구(44)와, 상기 고정구(44)가 형성된 타일측에 실린더(45)에 의해 트레이를 클램핑하는 고정시키는 클램핑고정구(46)로 구성되어 있다.The
상기 제1트레이이송장치(40)에 트레이가 안치되면, 래치형 고정구(44)와 클램핑고정구(46)에 의해 고정된 상태에서, 상기 모터(41)의 작동에 의해 스크류축(42)과 제1레일(30)을 따라 방향정위(orientation)장치(C)를 향해 이동하게 된다.When the tray is settled in the
상기 방향정위(orientation)장치(C)는 도17 내지 도19에 도시된 바와 같이, 상기 제1레일(30)의 중앙 상부에 설치되어 상기 제1이송수단(B)을 통해 이송된 트레이(2)에 안치된 반도체패키지(1)의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 트레이(2)에 반도체패키지(1)가 정확한 방향으로 안치되어 있는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사하여, 이상이 있는 반도체패키지의 위치정보를 제어장치 (O)에 전달하도록 구성되어 있으며,As illustrated in FIGS. 17 to 19, the orientation device C is installed on the center of the
그 구조를 살펴보면, 서보모터에 의해 좌우로 움직이는 로봇(50)과, 상기 로봇(50)에 연결되어 로봇(50)과 함께 좌우로 움직이며, 반도체패키지(1)의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 트레이(2)에 반도체패키지(1)가 정확한 방향으로 안치되어 있는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사하여, 이상이 있는 반도체패키지의 위치정보를 제어장치(O)에 전달하는 비젼(OCR)카메라(51)와, 상기 비젼(OCR)카메라(51)의 하부에 형성된 라이트(52)로 구성되어 있다.Looking at the structure, the
상기 제1드로워(D)는 도20 내지 도22에 도시된 바와 같이, 트레이(2)를 제1이송수단(B)에서 제2이송수단(E)으로 이송시키는 장치로서, 모터(60)에 의해 좌우로 움직이는 로봇(61)과, 상기 로봇(61)에 연결된 상하실린더(62)와, 상기 상하실린더(62)에 연결되어 트레이커버판넬(63)과, 상기 트레이커버판넬(63)의 양측에 모서리 부에 형성된 트레이가이드(64)로 구성되며, 상기 트레이커버판넬(63)의 내측면은 샌딩처리되어 돌기가 형성되어 있다.The first drawer (D) is a device for transferring the
상기 트레이커버판넬(63)은 트레이에 안치된 반도체패키지와 접하게 되는 내측면이 샌딩처리되어 있어 트레이커버판넬(63)에 부착되거나 정전기가 발생되는 현상이 발생되지 않는다.The
상기 제2이송수단(E)은 도23 내지 도25에 도시된 바와 같이, 상기 제1드로워(D)를 통해 이송된 트레이(2)를 레이저 마킹부(F)와 이물질제거부(G)로 이송시키는 역할을 수행하게 되며,As shown in FIGS. 23 to 25, the second transfer means E transfers the
기술 구성을 살펴보면, 제1레일(30)의 우측 끝단부에 일정간격 이격되어 전후로 길게 설치된 제2레일(70)과, 상기 제2레일(70)의 전후방 끝단부에 설치되어 상기 제1드로워(D)와 제2드로워(H)의 하부에 위치되는 제1,제3리프터(80,90)와, 상기 제2레일(70)의 내측에 설치된 LM가이드(71)와, 상기 LM가이드(71)에 LM블록(72)에 의해 결합되며 모터(73)의 작동에 의해 LM가이드(71)를 따라 전후로 이동하게 되는 워킹빔(74)으로 구성되며, Looking at the technical configuration, the
상기 워킹빔(74)은 제1리프터(80)부터 이물질제거부(G)까지 길게 형성되어 있으며, 상부에 일정간격 이격되어 형성된 3쌍의 워킹빔트레이가이드(75)가 형성되어 있고,The working
상기 제1,제3리프터(80,90)는 도26 내지 도28에 도시된 바와 같이, 업다운실린더(81,91)에 의해 트레이가 안치되는 트레이안치대(82,92)가 상하 이동되도록 구성되어 있으며, 상기 트레이안치대의 양측에는 가이드(83,93)가 설치되어 있다.As illustrated in FIGS. 26 and 28, the first and
상기 제1리프터(80), 레이저 마킹부(F)와 이물질제거부(G)에 안치된 트레이는 상기 워킹빔(74)의 워킹빔트레이가이드(75)에 안치되어, 제1리프터(80)에 안치된 트레이는 레이저 마킹부(F)로, 레이저 마킹부(F)에 위치한 트레이는 이물질제거부(G)로, 이물질제거부(G)에 안치된 트레이는 제2리프터(90)로 이송되게 된다. The tray placed in the
상기 레이저마킹부(F)는 상기 제1리프터(80)의 후방에 일정간격 이격되어 설치되며, 트레이를 클램핑하여 고정시키는 클램핑장치(110)가 구비된 바이브레이터 (100)와, 상기 바이브레이터(100)의 상부에 설치되어 트레이에 안치된 반도체패키지의 표면에 특정 문구를 마킹하는 레이저 마킹장치(120)로 구성되며,The laser marking unit F is installed at a rear of the
상기 바이브레이터(100)는 도29내지 도32에 도시된 바와 같이 대각선상에 설치되어, 모터(101,102)에 의해 회전되는 2개의 스크류축(103,104)과, 상기 2개의 스크류축(103,104)에 결합된 플레이트(105)와, 상기 플레이트(105)의 하부에 설치되며 클램프실린더(111)에 의해 클램프부재(112)가 동작하여 상기 플레이트(105)에 안치되는 트레이를 클램핑하는 클램핑장치(110)로 구성되며, 상기 프레이트(105)는 일측은 스크류축(103)과 링크식으로 힌지결합되어 회전되며, 타 일측은 스크류축(104)에 고정되어 있다.The
상기 바이브레이터(100)는 모터(101,102)를 작동시켜 상기 2개의 스크류축(103,104)의 상승 높이를 제어하여 플레이트(105)가 경사지게 한 후, 진동시켜 플레이트(105)에 안치된 트레이의 반도체패키지를 정렬시킨다.The
상기 레이저 마킹장치(120)는 통상의 레이저 마킹장치를 사용한 것으로서, 상기 바이브레이터(100)를 통해 정렬된 반도체패키지의 표면에 특정 문구를 마킹하게 된다.The
상기 이물질제거부(G)는 도33내지 도36에 도시된 바와 같이, 제1,제3리프터(80,90)와 동일한 리프터(140)가 하부에 설치되어 있으며, 상부에는 반도체패키기의 이물질을 제거하는 에어노즐(131)과 집진장치(132)가 일체로 형성된 이물질제거장치(130)가 설치되어 있으며, 상기 이물질제거장치(130)의 하부에는 트레이에 안 치된 반도체패키지가 에어노즐(131)에 의한 이물질 제거시 움직이거나 이탈되지 않도록 하는 매쉬(133)가 형성되어 있다.33 to 36, the foreign matter removing unit G is provided with the
상기 이물질제거장치(130)는 실린더(134)에 결합되어 전후로 이동하며, 트레이에 안치된 반도체패키지의 이물질을 제거하게 되며, 상기 매쉬(133)는 리프터(140)가 상승하게 되면 트레이의 상부에 접하게 되어, 반도체패키지를 고정시킨다. The
상기 제2드로워(H)는 상기 제1드로워(D)의 기술구성과 동일하며, 트레이(2)를 제2이송수단(E)에서 제3이송수단(I)으로 이송시킨다.The second drawer (H) is the same as the technical configuration of the first drawer (D), and transfers the
상기 제3이송수단(I)은 도37 및 도38에 되시된 바와 같이 상기 제2드로워(H)의 하부에서 트레이회수부(L)의 하부까지 길게 형성된 제3레일(150)과, 상기 제3레일(150)의 사이에 형성되어 제2드로워(H)를 통해 이송된 트레이를 마킹검사장치(J)로 이송시키는 제2트레이이송장치(160)와, 상기 제2트레이이송장치(160)을 통해 상기 마킹검사장치(J)를 통과한 트레이를 소터(Sorter)(K)와 트레이회수부(L)로 이송시키는 제3트레이이송장치(170)로 구성되며,As shown in FIGS. 37 and 38, the third transfer means I includes a
상기 제2,제3트레이이송장치(160,170)는 제1트레이이송장치의 기술구성과 동일하다.The second and
상기 마킹검사장치(J)는 제3레일(150)의 중앙 상부에 설치되어, 마킹된 반도체패키지의 마킹상태를 체크하여, 마킹이 잘 못된 불량 반도체패키지의 위치정보를 제어장치(O)에 전송하는 역할을 수행하며, 장치의 구조는 상기 방향정위(orientation)장치(C)와 동일하다.The marking inspection apparatus J is installed on the upper portion of the center of the
상기 소터(Sorter)(K)는 도39내지 도41에 도시된 바와 같이, 상기 마킹검사장치(J)의 일측에 설치되어 마킹상태가 불량인 반도체패키지(1)를 분류하여 양품의 반도체패키지(1)로 교체하는 장치로서, 모터에 의해 좌우로 이동되는 로봇(180)과, 상기 로봇(180)에 결합되며, 모터(181)에 의해 상하로 움직이도록 구성된 진공흡착구(182)로 구성되며, 상기 진공흡착구(182)의 하부는 고무패드로 형성되어 있다.39 through 41, the sorter K is installed on one side of the marking inspection apparatus J to classify the semiconductor package 1 having a poor marking state to classify a good semiconductor package ( 1), a device for replacing the
상기 트레이회수부(L)는 도42에 도시된 바와 같이 상기 제3이송수단(I)을 통해 소터(Sorter)(K)를 통과한 트레이(2)가 적층되며, 전체적인 구성은 상기 트레이공급부(A)와 동일하다.As shown in FIG. 42, the tray recovery part L is stacked with a
다만, 로더스택 좌측의 트레이적재부는 단순히 제3이송수단(I)을 통해 이송된 트레이가 적재됨으로 세퍼레이터실린더(Separator Cylinder)(13)대신 래치식으로 트레이 고정구(13')를 구성하였다. 우측의 트레이적재부는 트레이공급부(A)와 동일하다.However, the tray loading part on the left side of the loader stack simply latches the tray holder 13 'instead of the
상기 소터테이블(M)은 트레이회수부(L)의 하부 일측에 설치되어, 상기 소터(Sorter)(K)에 의해 분류되는 불량품이 안치되는 빈 트레이와, 상기 트레이회수부(L)로부터 공급받은 양품의 반도체패키지가 안치된 트레이를 공급하는 수단으로 사용되며,The sorter table (M) is installed on one side of the lower portion of the tray recovery unit (L), the empty tray in which defective products classified by the sorter (Sorter) (K) is placed, and received from the tray recovery unit (L) It is used as a means to supply a tray containing a good semiconductor package,
상기 소터테이블(M)은 도43 및 도45에 도시된 바와 같이, 상기 트레이회수부 (L)로부터 공급받은 양품의 반도체패키지가 안치된 트레이(1)가 안치되는 안치부(190)와, 빈 트레이가 안치되는 안치부(191)가 구분되어 있으며, 상기 안치부(190,191)에 안치되는 트레이를 고정시키는 다수개의 트레이고정장치(192)가 구비되어 있다.As shown in FIGS. 43 and 45, the sorter table M includes a
상기 테이블 이송수단(N)은 도46 및 도47에 도시된 바와 같이, 제1트레이이송수단(A)과 같이 레일(200)과, 상기 레일(200)의 사이에 형성된 모터(201)와, 상기 모터(201)에 의해 회전되는 스크류축(202)으로 구성되며, 상기 테이블 이송수단(N)이 결합블록(203)에 의해 스크류축(202)에 결합되어 모터의 작동에 의해 상기 소터테이블(M)은 소터(Sorter)(K)의 하부까지 이송하게 된다.46 and 47, the table conveying means (N), like the first tray conveying means (A), the
이하, 본 발명에 따른 반도체패키지 마킹 시스템의 동작과정을 살펴보면, Looking at the operation of the semiconductor package marking system according to the present invention,
본체의 외부에 설치된 제어장치(O)를 조작하여 시스템을 가동시키면, 온로더스택커(10)의 하부에 설치된 트레이엘리베이터(Tray Elevator)(20)의 실린더(21)가 작동하여 사프트(22)가 상승하게 되어, 상기 온로더스택커(10)에 적층되어 있는 트레이(2)를 받치게 되며, 동시에 온로더스택커(10)에 구비된 세퍼레이터실린더(13)가 작동하여 트레이고정구(13a)가 최하부 트레이(2)의 홈에서 빠지게 된다.When operating the system by operating the control device (O) installed on the outside of the main body, the
이때 사프트(22)가 일정 간격으로 하강하여 다음의 하부 트레이(2)가 상기 세퍼레이터실린더(13)의 트레이고정구(13a)에 의해 고정되도록 한 다음, 계속해서 하강하여 최하부 트레이(2)를 제1트레이이송장치(40)에 인계하게 되며, 인계된 트 레이(2)는 상기 제1트레이이송장치(40)의 래치형 고정구(44)와 클램핑고정구(46)에 의해 고정된 상태에서, 상기 모터(41)의 작동에 의해 스크류축(42)과 제1레일(30)을 따라 방향정위(orientation)장치(C)를 통과하여 제1드로워(D)의 하부까지 이송된다.At this time, the
상기 제1트레이이송장치(40)에 의해 트레이가 방향정위(orientation)장치(C)를 통과시, 상기 방향정위장치(C)의 프리비젼카메라(51)가 로봇(50)에 의해 좌우로 움직이며, 이송된 트레이(2)에 안치된 반도체패키지(1)의 ID마크홀과 LOT번호를 체크하여, 트레이(2)에 반도체패키지(1)가 정확한 방향으로 안치되어 있는 지와 다른 종류의 반도체패키지가 안치되어 있는지를 검사하게 되며, 이상이 있는 반도체패키지가 발견되면, 그 위치정보를 제어장치(O)에 전달하게 된다.When the tray passes through the orientation device C by the first
상기 제1트레이이송장치(40)에 의해 트레이가 방향정위(orientation)장치(C)를 통과한 뒤, 제1드로워(D)의 트레이커버판넬(63)의 하부에 위치하게 되면, 상기 제1드로워(D)의 상하실린더(62)가 작동하여 트레이커버판넬(63)이 하강하여 상기 트레이를 감싼 다음, 로봇(61)에 의해 제2이송수단(E)의 제1리프터(80)로 이송한 후. 상하실린더(62)가 작동하여 트레이커버판넬(63)이 상승하여, 트레이를 제2이송수단(E)의 제1리프터(80)에 인계하게 된다.After the tray has passed through the orientation device C by the
트레이를 인계받은 상기 제1리프터(80)는 업다운실린더(81)에 의해 하강하여 상기 트레이가 워킹빔(74)의 워킹빔트레이가이드(75)에 안치되면, 상기 워킹빔(74)이 작동하여 상기 트레이를 레이저 마킹부(F)로 이송시킨다. The
트레이가 레이저 마킹부(F)로 이송되면, 하부에 설치된 클램핑장치(110)가 작동하여 트레이를 고정시킨 다음, 바이브레이터(100)가 동작하여 상기 트레이를 일측으로 경사지게 한 다음, 진동시켜 반도체패키지가 트레이의 일측으로 정렬되도록 한 다음, 레이저 마킹장치(120)가 작동하여 트레이에 안치된 반도체패키지의 표면에 특정 문구를 마킹하게 된다.When the tray is transferred to the laser marking part F, the
마킹작업이 완료되어, 트레이의 클램핑이 해제되고, 상기 워킹빔(74)에 의해 이물질제거부(G)로 이송되면, 상기 이물질제거부(G)에 하부에 설치된 리프터(140)가 상승하여, 상기 트레이를 이물질제거장치(130)에 형성된 매쉬(133)에 접하게 된다. 이때 에어노즐(131)과 집진장치(132)가 일체로 구성된 이물질제거장치(130)가 작동되며, 상기 이물질제거장치(130)는 실린더 또는 로봇에 의해 좌우로 움직이며 반도체패키지에 묻어 있는 이물질을 제거시킨다.When the marking operation is completed and the clamping of the tray is released and transferred to the foreign matter removing unit G by the working
이물질의 제거가 완료되면 리프터(140)가 하강하여 상기 트레이는 워킹빔(74)의 워킹빔트레이가이드(75)에 안치되어 제3리프터(90)로 이송된 다음, 제2드로워(H)에 의해 제2트레이이송장치(160)로 이송된다.When the removal of the foreign matter is completed, the
상기 트레이는 제2트레이이송장치(160)에 의해 트레이를 마킹검사장치(J)로 이송된 다음, 상기 마킹검사장치(J)의 포스트비젼카메라에 의해 반도체패키지의 마킹상태가 체크되며, 마킹이 잘 못된 불량 반도체패키지의 위치정보를 제어장치(O)에 전송된다.The tray is transferred to the marking inspection apparatus J by the
다음으로, 상기 마킹검사장치(J)를 통과한 트레이는 제3트레이이송장치(170)에 의해 소터(Sorter)(K)로 이송된 다음, 마킹이 잘못된 반도체 패키지는 상기 소터(Sorter)(K)의 진공흡착구(182)에 의해 진공흡착되어 소터테이블(M)에 안치된 빈 트레이로 이송된 후, 소터테이블(M)에 안치된 양품의 반도체패키지로 교체된다.Next, the tray having passed through the marking inspection apparatus J is transferred to the sorter K by the
상기 진공흡착구(182)는 로봇(180)에 의해 제3트레이이송장치(170)와 소터테이블(M) 사이를 이동하게 되며, 반도체 패키지를 진공흡착시에는 모터(181)에 의해 하강되게 된다.The
상기와 같이 소팅공정이 종료되면 트레이는 제3트레이이송장치(170)에 의해 트레이회수부(L)의 하부로 이송된 다음, 상기 트레이회수부(L)의 언로더스택커에 적층되게 된다. When the sorting process is completed as described above, the tray is transferred to the lower portion of the tray recovery portion L by the third
상기와 같은 공정이 연속적으로 수행됨으로서, 신속한 마킹작업이 수행되게 된다.As the above process is performed continuously, a quick marking operation is performed.
상기와 같이 본 발명은 다수의 반도체패키지가 안치된 트레이를 이송시켜, 다수의 반도체패키지에 특정 문구 또는 숫자등을 마킹하는 마킹공정을 신속하게 수행할 수 있으며, 마킹된 상태를 체크하여 불량품을 선별하여 회수하여 양품의 반도체패키지를 제공할 수 있어 생산성을 증대시키고 불량률을 최소화하는 효과가 있는 것이다.As described above, the present invention transfers a tray in which a plurality of semiconductor packages are placed, and can quickly perform a marking process for marking a specific phrase or number on a plurality of semiconductor packages, and selects a defective product by checking a marked state. It is possible to provide a semiconductor package of good quality by recovering, thereby increasing the productivity and minimizing the defective rate.
Claims (12)
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020050004175A KR100554444B1 (en) | 2005-01-17 | 2005-01-17 | Intray laser marking system |
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KR1020050004175A KR100554444B1 (en) | 2005-01-17 | 2005-01-17 | Intray laser marking system |
Publications (1)
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KR1020050004175A KR100554444B1 (en) | 2005-01-17 | 2005-01-17 | Intray laser marking system |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101454666B1 (en) * | 2013-05-31 | 2014-10-27 | 주식회사 태미세미콘 | Semiconductor vision inspection apparatus and semiconductor inspection system having the same |
CN108431828A (en) * | 2015-10-25 | 2018-08-21 | 阿尔瓦阿尔塔有限公司 | It is recognizable to encapsulate, for preparing the system and process of edible product based on the recognizable encapsulation |
CN108545249A (en) * | 2018-06-13 | 2018-09-18 | 湖北易同科技发展有限公司 | A kind of laser processing Quick Response Code automatic production line packing machine |
CN109759353A (en) * | 2018-12-17 | 2019-05-17 | 许昌学院 | A kind of high speed product examine machine using Machine Vision Detection |
KR20210101163A (en) * | 2020-02-07 | 2021-08-18 | 유테크존 컴퍼니 리미티드 | Carry device, detection device, conveying device and dust removal device for dust removal procedures |
-
2005
- 2005-01-17 KR KR1020050004175A patent/KR100554444B1/en active IP Right Grant
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101454666B1 (en) * | 2013-05-31 | 2014-10-27 | 주식회사 태미세미콘 | Semiconductor vision inspection apparatus and semiconductor inspection system having the same |
CN108431828A (en) * | 2015-10-25 | 2018-08-21 | 阿尔瓦阿尔塔有限公司 | It is recognizable to encapsulate, for preparing the system and process of edible product based on the recognizable encapsulation |
CN108545249A (en) * | 2018-06-13 | 2018-09-18 | 湖北易同科技发展有限公司 | A kind of laser processing Quick Response Code automatic production line packing machine |
CN109759353A (en) * | 2018-12-17 | 2019-05-17 | 许昌学院 | A kind of high speed product examine machine using Machine Vision Detection |
CN109759353B (en) * | 2018-12-17 | 2020-07-31 | 许昌学院 | Utilize machine vision detection's quality control machine |
KR20210101163A (en) * | 2020-02-07 | 2021-08-18 | 유테크존 컴퍼니 리미티드 | Carry device, detection device, conveying device and dust removal device for dust removal procedures |
KR102488045B1 (en) * | 2020-02-07 | 2023-01-12 | 유테크존 컴퍼니 리미티드 | Carry device, detection device, conveying device and dust removal device for dust removal procedures |
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