KR102016971B1 - Display panel inspection system of FOG process - Google Patents

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Abstract

본 발명은 FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템에 관한 것으로, FOG(Film On Glass) 공정에서 제조된 검사대상물이 언로딩되어 플리커(Flicker) 검사와 점등 검사 등의 자동 검사를 통해 상기 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 자동 검사부; 및 상기 자동 검사부에 의해 양부가 판정된 검사대상물 중, 양품 판정된 검사대상물은 후단 공정으로 이송하며, 불량 판정된 검사대상물은 불량 내용의 종류별 및 등급별로 선별하여 재처리 또는 재활용 공정으로 이송하는 분류 장치;를 포함하여, FOG 디스플레이 패널의 양부를 판정할 때, 불량 판정된 검사대상물이 불량 내용의 종류 및 불량 내용에 따라 각기 달리 선별되어 분류될 수 있는 FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템을 제공할 수 있다.
본 발명에 의하면, 불량 판정된 검사대상물을 불량 내용의 종류 및 등급에 따라 각기 다르게 분류되어 이송되도록 함으로써, 불량 판정된 검사대상물을 재처리 또는 재활용할 수 있으며, FOG 디스플레이 패널의 종류에 구애받지 않고 검사 신호를 자동으로 공급하게 함으로써, FOG 디스플레이 패널을 검사하는 전체 공정을 자동화할 수 있는 효과를 포함한다.The present invention relates to a display panel inspection system of the FOG process, the inspection object manufactured in the FOG (Film On Glass) process is unloaded, the quantity of the inspection object through automatic inspection, such as flicker (Flicker) inspection and lighting inspection An automatic inspection unit for determining; And among the inspection objects determined by the automatic inspection unit, the inspection object determined by the good quality is transferred to the rear end process, and the inspection object which is determined as defective is sorted by the type and grade of the defective contents and transferred to the reprocessing or recycling process. Including a device, when determining the quality of the FOG display panel, it is possible to provide a display panel inspection system of the FOG process that can be screened and classified differently according to the type and the bad content of the bad object is determined inspection object. have.
According to the present invention, it is possible to reprocess or recycle the inspected object is determined by the classification and transport of the inspected object is determined differently according to the type and grade of the defective content, regardless of the type of FOG display panel By automatically supplying the test signal, it includes the effect of automating the entire process of inspecting the FOG display panel.

Description

FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템{Display panel inspection system of FOG process}Display panel inspection system of FOG process

본 발명은 FOG(Film On Glass) 공정에서 디스플레이 패널의 양부를 판정하는 검사 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection system for determining the quality of a display panel in a film on glass (FOG) process.

최근 본격적인 정보화시대로 접어들면서 각종 전기적 신호정보를 시각적으로 표시하는 디스플레이(Display) 산업이 급속도로 발전하고 있다. 그 중, 휴대폰, 노트북, PDA, 네비게이션 등과 같은 휴대용 전자제품에는 고밀도의 반도체 패키지를 실장하여 저전압 구동, 저소비 전력, 풀 칼라 구현 등의 특징을 실현할 수 있도록 다양한 형태의 액정표시장치를 설치하여 사용한다.Recently, the display industry for visually displaying various electrical signal information is rapidly developing as the information age enters. Among them, portable electronic products such as mobile phones, notebook computers, PDAs, navigation devices, etc. are mounted with high density semiconductor packages and various types of liquid crystal display devices are installed to realize low voltage driving, low power consumption, and full color. .

일반적인 디스플레이용 액정표시장치에는 LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Oganic Light Emitting Diode) 디스플레이, PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), VFD(Vaccuum Fluorescent Display) 등이 있다. 나아가 디스플레이용 패널 중 디스플레이 안에 터치 패널을 내장한 옥타(OCTA : On Cell Touch Amoled) 방식을 적용한 패널의 경우 터치 스크린(Touchscreen)의 구동을 위하여 터치 연성회로기판(FPCB : Flexible Printed Circuit Board)을 실장하는 방식을 사용한다.Typical liquid crystal displays for displays include liquid crystal displays (LCDs), organic light emitting diode (OLED) displays, plasma display panels (PDPs), electro luminescent displays (ELDs), and vacuum fluorescent displays (VFDs). Furthermore, in the case of a panel using an OCTA (On Cell Touch Amoled) method in which a touch panel is embedded in a display panel, a flexible printed circuit board (FPCB) is mounted to drive a touch screen. Use the way.

이러한 디스플레이 액정표시장치의 제조 과정은 그 실장방식에 따라 COG(Chip On Glass), FOG(Film On Glass), COF(Chip On flex), OLB(Outer Lead Bonding), FOF(Fpcb On Flex) 등과 같은 제조공정이 이루어지는 실장설비를 사용하게 되고, 디스플레이용 액정표시장치 중에서 터치 스크린의 패널에 터치 연성회로기판이 사용되는 TFOG(Touch Film On Glass) 제조공정이 이루어지는 실장설비를 사용하게 된다.The manufacturing process of such a display liquid crystal display device is based on the mounting method such as Chip On Glass (COG), Film On Glass (FOG), Chip On Flex (COF), Outer Lead Bonding (OLB), FOF (Fpcb On Flex), etc. The mounting equipment in which a manufacturing process is performed is used, and the mounting equipment in which a TFOG (Touch Film On Glass) manufacturing process in which a touch flexible circuit board is used is used in a panel of a touch screen.

이중 FOG 실장공정은 LCD 글라스에 신호를 인가하기 위해 PCB 회로기판과 LCD 글라스를 연결해주는 필름을 부착하는 공정으로, 글라스 패널에 이방성 도전필름(ACF)을 부착하는 ACF 공정, 글라스 패널의 전극과 FPC 필름이 전기적으로 접속되게 하기 위하여 얼라인 과정 후 FPC 필름을 가압착하는 프리본딩 공정, FPC 필름을 글라스 패널에 완전히 부착하게 하는 메인본딩 공정 등으로 이루어진다.The dual FOG mounting process is a process of attaching a film connecting the PCB circuit board and the LCD glass to apply a signal to the LCD glass.The ACF process attaches an anisotropic conductive film (ACF) to the glass panel, the electrode and the FPC of the glass panel. It consists of a prebonding process of press-bonding the FPC film after the alignment process in order to make the film electrically connected, and a main bonding process of completely attaching the FPC film to the glass panel.

액정표시장치의 제조 공정은 셀을 필요한 크기로 자르는 셀(cell) 공정과 LCD 패널, 구동회로, 백라이트 유닛 등을 하나의 모듈로 조립하는 모듈(module) 공정으로 구분되며, 생산 단가의 절감 및 생산 제품의 신뢰도를 보장하기 위해, 셀 공정 뿐만 아니라 모듈 공정의 각 제조 공정에서도 부품 성능의 양부 판정을 위한 검사 과정이 마련되어 공정 별 부품의 이상 유무를 판정하는 것이 바람직하다.The manufacturing process of the liquid crystal display device is divided into a cell process for cutting a cell into a required size and a module process for assembling an LCD panel, a driving circuit, and a backlight unit into one module. In order to ensure the reliability of the product, it is preferable that not only the cell process but also each manufacturing process of the module process is provided with an inspection process for determining the quality of the component performance to determine whether there is an abnormality of the components for each process.

『대한민국 등록특허공보 제10-0726995호, (공고일: 2007년06월14일, 세광테크 주식회사), 발명의 명칭: LCD 패널의 자동 압흔검사장치』에는 LCD 패널을 전공정으로부터 로딩하는 로딩부, 상기 로딩부에 의하여 로딩된 LCD 패널을 촬영하여 얻어진 영상정보에 의하여 LCD 패널을 검사하는 검사수단, 검사를 통과하는 LCD패널을 후공정으로 배출하는 언로딩부, 검사결과 불량 판정된 LCD 패널을 픽업하여 제거하는 불량 패널 제거부, 그리고, 상기 로딩부, 검사수단, 언로딩부 및 불량패널 제거부를 제어하는 제어부를 포함하는 LCD 패널의 자동 압흔검사장치가 개시되어 있다.`` Korean Registered Patent Publication No. 10-0726995, (Notice date: June 14, 2007, Sekwang Tech Co., Ltd.), the title of the invention: LCD panel automatic indentation inspection device '' includes a loading unit for loading the LCD panel from the previous process, Pick-up means for inspecting the LCD panel according to the image information obtained by photographing the LCD panel loaded by the loading unit, an unloading unit for discharging the LCD panel passing the inspection to a post process, and picking up the LCD panel which is determined to be defective. Disclosed is an automatic panel indentation inspection apparatus for an LCD panel including a defective panel removing unit for removing the defective panel, and a control unit for controlling the loading unit, the inspection unit, the unloading unit, and the defective panel removing unit.

그러나, 상술한 종래기술은 LCD 패널을 검사하는 검사 과정과 LCD 패널을 로딩, 언로딩하는 이송 과정 및 그에 따른 불량 패널을 제거하는 과정을 개시하여 전체 공정을 자동화하고 있으나, 검사 신호를 공급하는 과정과 같은 공정의 세부 부분은 작업자의 수작업을 통해 이루어질 수밖에 없으며, 검사 과정을 통해 불량 판정된 패널의 불량 내용 및 그 불량 내용의 정도 등을 세부적으로 선별할 수 없는 구성으로 보여진다.However, the above-described prior art automates the entire process by initiating the inspection process for inspecting the LCD panel, the transfer process for loading and unloading the LCD panel, and the process for removing the defective panel. Details of the process, such as can not only be made through the manual work of the operator, it is seen as a configuration that can not be selected in detail, such as the content of the defective content and the degree of the defective content of the panel determined to be defective through the inspection process.

이에, 검사 공정의 택트 타임이 일정하지 않을 뿐더러, 검사대상물의 양부만을 판정하여 불량 판정된 검사대상물을 선별함으로써, 불량 판정된 검사대상물을 별도로 선별하여 관리하지 못하는 문제를 안고 있다.As a result, the tact time of the inspection process is not constant, and only the quality of the inspection object is judged and the inspection object determined to be defective is selected, so that the inspection object determined to be defective cannot be separately selected and managed.

『대한민국 등록특허공보 제10-0726995호, (공고일: 2007년06월14일, 세광테크 주식회사), 발명의 명칭: LCD 패널의 자동 압흔검사장치』`` Korea Patent Registration No. 10-0726995, (Notice date: June 14, 2007, Sekwang Tech Co., Ltd.), Name of invention: Automatic indentation inspection device of LCD panel ''

본 발명은 상술한 문제를 해결하기 위한 것으로, FOG 디스플레이 패널의 양부를 판정할 때, 판정된 불량 내용의 종류 및 불량 내용의 정도에 따라 각기 선별되어 분류될 수 있는 FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and when determining the quality of the FOG display panel, the display panel inspection system of the FOG process that can be sorted and classified according to the type of the determined bad content and the degree of the bad content, respectively. The purpose is to provide.

또한, 검사 장치와 검사대상물을 자동으로 컨택하게 하여 전체 검사 공정이 자동화되도록 하는 FOG 공정의 디스프레이 패널 검사 시스템을 제공하는데 또 다른 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a display panel inspection system of the FOG process, which automatically contacts the inspection apparatus and the inspection object so that the entire inspection process is automated.

본 발명이 해결하려는 과제는 전술한 과제로 제한되지 아니하며, 언급되지 아니한 또 다른 기술적 과제들은 후술할 내용으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved by the present invention is not limited to the above-described problem, other technical problems that are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 태양으로 FOG(Film On Glass) 공정에서 제조된 검사대상물이 언로딩되어 플리커(Flicker) 검사와 점등 검사 등의 자동 검사를 통해 상기 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 자동 검사부; 및 상기 자동 검사부에 의해 양부가 판정된 검사대상물 중, 양품 판정된 검사대상물은 후단 공정으로 이송하며, 불량 판정된 검사대상물은 불량 내용의 종류별 및 등급별로 선별하여 재처리 또는 재활용 공정으로 이송하는 분류 장치;를 포함한다.In order to achieve this object, in one aspect of the present invention, an inspection object manufactured in a FOG process may be unloaded to determine whether the inspection object is passed through an automatic inspection such as a flicker test and a lighting test. An automatic inspection unit; And among the inspection objects determined by the automatic inspection unit, the inspection object determined by the good quality is transferred to the rear end process, and the inspection object which is determined as defective is sorted by the type and grade of the defective contents and transferred to the reprocessing or recycling process. Device; includes.

그리고, 상기 자동 검사부는, 상기 언로딩된 FOG 공정에서 제조된 검사대상물이 중심축을 기준으로 설정된 회전각 단위로 회전되어, 상기 회전각 단위 부분에 각각 마련된 복수의 자동 검사 과정에 상기 FOG 공정에서 제조된 검사대상물을 이송시킴으로써, 상기 FOG 검사대상물이 양부가 판정되도록 하는 인덱스(Index) 방식으로 구동되거나, 상기 언로딩된 FOG 공정에서 제조된 검사대상물이 메인 이송라인을 따라 마련되는 복수의 자동 검사 과정에 순차적으로 이송되어, 상기 FOG 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 인라인(In-Line) 방식으로 구동될 수 있다.And, the automatic inspection unit, the inspection object manufactured in the unloaded FOG process is rotated by the rotation angle unit set on the basis of the central axis, the manufacturing process in the FOG process in a plurality of automatic inspection process provided in each of the rotation angle unit portion A plurality of automatic inspection processes are driven in an index manner to determine whether the FOG inspection object is determined by transferring the inspected object, or the inspection object manufactured in the unloaded FOG process is provided along the main transport line. In order to be sequentially transferred to the FOG inspection object can be driven in an in-line (In-Line) method to determine whether or not.

또한, 상기 검사대상물을 상면에 안착시켜 전단 제조 공정으로부터 이송해 오는 공급 트레이와, 상기 공급 트레이에 안착된 상기 검사대상물을 흡착 파지하여 메인 이송라인으로 이송시키는 공급 이송기 및 상기 공급 트레이에 안착된 상기 검사대상물을 상기 공급 이송기의 흡착 파지 반경에 포함되도록 정렬시키는 공급 얼라인기로 구성되는 공급 장치;를 더 포함할 수 있다.In addition, the supply tray seated on the upper surface and transported from the front end manufacturing process, and the feed feeder for absorbing and holding the inspection object seated on the supply tray and transported to the main transport line and seated on the supply tray It may further include a supply device configured to be a feed aligner for aligning the inspection object to be included in the suction grip radius of the feed conveyor.

그리고, 상기 공급 이송기로부터 상기 검사대상물을 이송 받기 위해, 상기 공급 이송기의 작동 반경으로 왕복 이동하는 언로딩 플레이트 및 상기 언로딩 플레이트의 상면에 안착된 검사대상물을 흡착 파지하여, 상기 자동 검사부에 언로딩시키는 언로딩기로 구성되는 언로딩부;를 더 포함할 수 있다.In addition, in order to receive the inspection object from the supply feeder, the unloading plate reciprocating to the operating radius of the feed feeder and the inspection object seated on the upper surface of the unloading plate are absorbed and gripped by the automatic inspection unit. It may further include; an unloading unit consisting of an unloader for unloading.

또한, 상기 자동 검사부에서 양부가 판정된 검사대상물을 흡착 파지하여 메인 이송라인에 로딩시키는 로딩기 및 상기 로딩기로부터 상기 양부가 판정된 검사대상물을 이송받아 상기 분류 장치에 제공하기 위해 상기 분류 장치 방향으로 왕복 이동하는 로딩 플레이트;를 더 포함할 수 있다.In addition, the sorting device is directed to the sorting device for receiving and holding the inspection object is determined by the automatic inspection unit to be loaded on the main transport line and the inspection object is determined from the loading machine to provide to the classification device. It may further include a; loading plate reciprocating to.

그리고, 상기 분류 장치는, 상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 이송시키는 분류 컨베어와, 상기 자동 검사부에서 불량 판정된 검사대상물을 후단 재처리 또는 후단 재활용 공정으로 각각 이송시키는 분류 트레이와, 상기 로딩 플레이트에 안착된 검사대상물을 판정된 양부 또는 판정된 불량 내용의 종류 및 등급에 따라 상기 분류 컨베어와 상기 분류 트레이로 이송시키는 분류 이송기 및 상기 분류 트레이에 안착된 불량 판정된 검사대상물을 정렬시키는 분류 얼라인기의 구성를 포함할 수 있다.The sorting apparatus may further include a sorting conveyor configured to transfer the inspected object determined by the automatic inspection unit to a post-production process, and a sorting tray configured to transfer the inspected object determined by the automatic inspection unit to a post-reprocessing or post-recycling process, respectively. And a sorting conveyer which transfers the inspection object seated on the loading plate to the sorting conveyor and the sorting tray according to the type and grade of the determined quantity or the determined defective content and the inspected check object seated on the sorting tray. It may include the configuration of the sorting aligner to align.

상술한 과제의 해결 수단은 단지 예시적인 것으로서, 본 발명을 제한하려는 의도로 해석되지 않아야 한다. 상술한 예시적인 실시예 외에도, 도면 및 발명의 상세한 설명에 기재된 추가적인 실시예가 존재할 수 있다.Means for solving the above problems are merely exemplary and should not be construed as limiting the present invention. In addition to the exemplary embodiments described above, there may be additional embodiments described in the drawings and detailed description of the invention.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the present invention has the following effects.

첫째, 불량 판정된 검사대상물을 불량 내용의 종류 및 등급에 따라 각기 다르게 분류되어 이송되도록 함으로써, 불량 판정된 검사대상물을 재처리 또는 재활용할 수 있는 효과가 있다.First, the inspected object is determined to be differently classified and transported according to the type and grade of the defective content, so that the inspected object can be reprocessed or recycled.

둘째, FOG 디스플레이 패널의 종류에 구애받지 않고 검사 신호를 자동으로 공급하게 함으로써, FOG 디스플레이 패널을 검사하는 전체 공정을 자동화할 수 있는 효과를 포함한다.Second, by automatically supplying a test signal regardless of the type of FOG display panel, it includes the effect of automating the entire process of inspecting the FOG display panel.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description of the claims.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 FOG 디스플레이 패널 검사 시스템의 주요 구성을 나타내는 전체 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 공급 장치와 언로딩부의 세부 구성을 나타내는 부분도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 검사부의 세부 구성을 나타내는 부분도이다
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 로딩부와 분류 장치의 세부 구성을 나타내는 부분도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 각각 승하강하여 검사대상물의 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 검사대상물을 재정렬시켜 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 회전하여 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 신호 공급장치의 전체 구성을 나타내는 측단면도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 도 13의 `A` 부분의 확대도로 자동 신호 공급장치의 동작 원리를 나타내기 위한 도면이다.1 is an overall perspective view showing the main configuration of the FOG display panel inspection system according to an embodiment of the present invention.
2 is a partial view showing a detailed configuration of the supply device and the unloading unit according to an embodiment of the present invention.
3 is a partial view showing a detailed configuration of an automatic inspection unit according to an embodiment of the present invention.
4 is a partial view showing the detailed configuration of the loading unit and the classification apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an operation diagram illustrating an operation of a feeder in which a picker (adsorption jig) according to an embodiment of the present invention moves up and down to perform an unloading function of an inspection object.
FIG. 6 is an operation diagram illustrating an operation of a feeder in which a picker (adsorption jig) according to an embodiment of the present invention rearranges an inspection object to perform a loading and unloading function of the inspection object.
FIG. 7 is an operation diagram illustrating an operation of a feeder in which a picker (adsorption jig) rotates to perform loading and unloading of an inspection object according to an embodiment of the present invention.
8 is a side cross-sectional view showing the overall configuration of an automatic signal supply apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 9 is an enlarged view of a portion 'A' of FIG. 13 according to an embodiment of the present invention to illustrate an operating principle of an automatic signal supply device.

본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명하되, 이미 주지되어진 기술적 부분에 대해서는 설명의 간결함을 위해 생략하거나 압축하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings, and the well-known technical parts will be omitted or compressed for brevity of description.

본 발명의 FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템을 구현하기 위한 기술 구성은, 플리커 검사와 점등 검사를 포함하는 자동검사 제어 기술, 검사대상물이 불량 판정에 의해 불규칙하게 제거되어 검사대상물의 배열이 달라질 때, 달라진 배열의 검사대상물을 재정렬시키는 기술, 및 자동 검사부에 언로딩된 검사대상물에 자동 컨택하여 검사 신호를 공급하는 검사신호 공급 기술로 구성된다.The technical configuration for implementing the display panel inspection system of the FOG process of the present invention is an automatic inspection control technique including flicker inspection and lighting inspection, when the inspection object is irregularly removed by the failure determination and the arrangement of the inspection object is changed, It consists of a technology for rearranging the inspection objects in a different arrangement, and the inspection signal supply technology for supplying the inspection signal by automatically contacting the inspection object unloaded in the automatic inspection unit.

우선, 플리커 검사와 점등 검사를 포함하는 자동검사 제어 기술에 대해 설명한다.First, an automatic inspection control technique including flicker inspection and lighting inspection will be described.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 FOG 디스플레이 패널 검사 시스템의 주요 구성을 나타내는 전체 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 공급 장치와 언로딩부의 세부 구성을 나타내는 부분도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 검사부의 세부 구성을 나타내는 부분도이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 로딩부와 분류 장치의 세부 구성을 나타내는 부분도이다.1 is an overall perspective view showing the main configuration of the FOG display panel inspection system according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a partial view showing the detailed configuration of the supply device and the unloading unit according to an embodiment of the present invention, 3 is a partial view showing a detailed configuration of the automatic inspection unit according to an embodiment of the present invention, Figure 4 is a partial view showing a detailed configuration of the loading unit and the classification apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템(IS)은 FOG 제조 공정에서 제조된 FOG 패널의 양부를 판정하기 위한 것으로, 공급 장치(100), 언로딩부(200), 자동 검사부(300), 로딩부(400), 및 분류 장치(500)의 구성을 포함한다.As shown in FIG. 1, the display panel inspection system IS of the FOG process is used to determine whether the FOG panel is manufactured in the FOG manufacturing process, and the supply apparatus 100, the unloading unit 200, and the automatic inspection unit. 300, the loading unit 400, and the classification apparatus 500.

본 발명의 패널 검사 시스템(IS)은, FOG 패널의 검사대상물의 양부를 판정하는 자동 검사기들을 복수로 배치하여 자동 검사부(300)를 구성하고, 공급 장치(100)를 통해 전단 공정으로부터 이송되는 검사대상물을 검사 시스템(IS) 내로 안내하며, 언로딩부(200)를 통해 메인 이송라인 상의 검사대상물을 자동 검사부(300)에 언로딩하여 공급한다.The panel inspection system (IS) of the present invention comprises a plurality of automatic inspection machines for determining the quality of the inspection object of the FOG panel to configure the automatic inspection unit 300, the inspection is transferred from the shearing process through the supply device 100 The object is guided into the inspection system IS, and the unloading unit 200 unloads and supplies the inspection object on the main transport line to the automatic inspection unit 300.

자동 검사부(300)에 언로딩된 검사대상물들은 복수로 배치된 자동 검사기들을 거쳐 대상물의 양부는 물론 불량 내용의 종류 및 등급이 판정되며, 양부가 판정된 검사대상물은 로딩부(400)를 통해 메인 이송라인으로 로딩된다. 이때, 분류 장치(500)는 로딩부(400)의 검사대상물을 양부 판정된 내역에 따라 양품은 후단 제조 공정으로 이송시키고, 불량품은 그 불량의 종류 및 불량의 정도에 따라 재처리 공정이나 재활용 공정으로 이송시킨다.The inspection objects unloaded in the automatic inspection unit 300 are determined by a plurality of automatic inspection apparatuses, and the type and grade of the defective contents as well as the quality of the defective contents are determined. It is loaded into the transfer line. At this time, the sorting apparatus 500 transfers the goods to the rear end manufacturing process according to the details of the inspection of the loading unit 400 to determine whether the defective goods are reprocessed or recycled according to the kind and the degree of the defect. Transfer to.

상술한 검사 시스템(IS)을 통해 FOG 공정을 통해 제조된 FOG 패널은 LCM 모듈로 완성되기 전 FOG 패널 상태에서 그 양부를 판정받아 메인 이송라인에서 불량 판정된 검사대상물을 제거함으로써, 디스플레이 모듈 제조 공정의 제조 비용과 시간을 절감함은 물론, 제조되는 모듈의 신뢰도를 한층 향상시킬 수 있다.The FOG panel manufactured by the FOG process through the above-described inspection system (IS) is processed by the display module manufacturing process by removing the inspection object that is judged to be defective in the main transfer line by determining the quality of the FOG panel before completing the LCM module. In addition to reducing manufacturing costs and time, the reliability of the module to be manufactured can be further improved.

또한, 불량 판정된 검사대상물을 메인 이송라인으로부터 선별되어 후처리 공정으로 이송될 때, 그 불량 판정된 내용의 종류 및 등급에 따라 선별하여 후처리 공정으로 분류하여 이송시킴으로써, 불량 판정된 검사대상물을 폐기하거나, 재생산되게 하거나, 낮은 가격으로 판매되게 하여 불량 판정된 검사대상물의 폐기율을 저감할 수 있다.In addition, when the inspected object determined to be defective is selected from the main transport line and transported to the post-treatment process, the inspected object to be judged to be defective is sorted and transported according to the kind and grade of the content determined to be poor. By discarding, reproducing, or selling at a low price, the scrap rate of the inspected object determined to be defective can be reduced.

도 2를 참조하면, 공급 장치(100)는 전단 FOG 공정에서 제조되어 메인 이송라인을 따라 이송되어 오는 FOG 패널을 자동 검사부(300)로 안내하는 것으로, 공급 이송기(110), 공급 트레이(120) 및 공급 얼라인기(130)의 구성을 포함한다.Referring to FIG. 2, the supply device 100 guides the FOG panel manufactured in the front end FOG process and conveyed along the main transport line to the automatic inspection unit 300, and the supply feeder 110 and the supply tray 120. ) And the supply aligner 130.

공급 트레이(120)는 복수 열로 마련되는 이동식 플레이트로, 전단 공정의 메인 이송라인으로부터 이송되는 검사대상물을 상면에 안착시켜 검사 공정 내로 안내한다. 공급 트레이(120)가 검사 공정 내로 진입되어 설정된 지점에 도착되면, 공급 트레이(120)는 상승하여 검사대상물을 공급 이송기(110)의 이송 반경으로 안내한다.The supply tray 120 is a movable plate provided in a plurality of rows and seats the inspection object transferred from the main transport line of the shearing process on the upper surface to guide the inspection object into the inspection process. When the feed tray 120 enters the inspection process and arrives at the set point, the feed tray 120 is raised to guide the inspection object to the feed radius of the feed feeder 110.

공급 이송기(110)는 상부에 설치된 레일을 따라 공급 트레이(120)와 언로딩부(200) 사이에서 왕복하여 공급 트레이(120)의 상면에 안착된 검사대상물을 파지하여 언로딩부(200)로 이송시킨다.The feed transporter 110 reciprocates between the supply tray 120 and the unloading unit 200 along a rail installed at an upper portion thereof, and grips the inspection object seated on the upper surface of the supply tray 120 to unload the unit 200. Transfer to.

이때, 공급 얼라인기(130)는 공급 트레이(120)의 이송 방향을 가로지르는 방향으로 레일을 따라 이동하면서, 각각의 공급 트레이(120)에 안착되어 있는 검사대상물을 정렬시켜 공급 이송기(110)가 공급 트레이(120) 상부에서 검사대상물을 파지할 수 있는 반경 내로 진입되도록 한다.At this time, the feed aligner 130 moves along the rail in a direction crossing the feed direction of the feed tray 120, and aligns the inspection object seated on each feed tray 120 to supply the feeder 110. Is entered into the radius that can hold the inspection object from the top of the supply tray 120.

여기서, 공급 장치(100)는 일 실시예에서 전단 공정으로부터 이송되는 검사대상물의 이송 방법을 트레이를 통한 얼라인 방식으로 도시하고 설명하였으나, 검사대상물의 정렬과 이송을 위한 여타의 방식이 사용되어도 무방하며, 그 역시 본 발명의 기술적 사상의 범주 내에 있음은 물론이다.Here, in one embodiment, the supply apparatus 100 illustrates and describes a method of transferring an object to be inspected from a shearing process in an align manner through a tray, but other methods for aligning and conveying an object to be inspected may be used. And, of course, also within the scope of the technical idea of the present invention.

언로딩부(200)는 공급 장치(100)로부터 이송되는 검사대상물을 일정한 수량과 일정한 배열로 배치하여 자동 검사부(300)에 안내하는 것으로, 언로딩 플레이트(210) 및 언로딩기(220)의 구성을 포함한다.The unloading unit 200 is configured to guide the automatic inspection unit 300 by arranging the inspection objects transferred from the supply device 100 in a predetermined quantity and in a predetermined arrangement, and configuring the unloading plate 210 and the unloading machine 220. It includes.

언로딩 플레이트(210)는 상면에 복수의 검사대상물을 안착시킬 수 있는 4열의 슬롯이 형성되어 공급 장치(100)에서 이송되는 복수의 검사대상물을 공급 이송기(110)를 통해 인계 받아 언로딩기(220)의 작동 반경으로 안내한다. 이를 위해, 언로딩 플레이트(210)는 공급 장치(100) 방향으로 왕복 이동할 수 있는 이동식 플레이트 형태로 마련되며, 공급 이송기(110)와 언로딩기(220)의 작동 반경 사이를 왕복한다.The unloading plate 210 is formed with four rows of slots on which a plurality of inspection objects can be seated on the upper surface, and receives a plurality of inspection objects transferred from the supply device 100 through the supply feeder 110. Guide to the operating radius of 220). To this end, the unloading plate 210 is provided in the form of a movable plate capable of reciprocating in the direction of the supply device 100, and reciprocates between the operating radius of the feed conveyor 110 and the unloader 220.

언로딩기(220)는 검사대상물을 안착시킨 언로딩 플레이트(210)가 작동 반경 내로 진입하면, 레일을 따라 검사대상물의 상부로 이동 및 하강하여 검사대상물을 흡착 파지하고, 자동 검사부(300)의 작동 반경으로 진입하여 자동 검사부(300)의 검사 플레이트(320)에 언로딩시켜 검사대상물을 자동 검사부(300)로 이송시킨다.When the unloading plate 220 is placed within the operating radius of the unloading plate 210 on which the test object is seated, the unloading machine 220 moves to the upper part of the test object and descends along the rail to suck and hold the test object, and the automatic test unit 300 operates. It enters a radius and unloads the inspection plate 320 of the automatic inspection unit 300 to transfer the inspection object to the automatic inspection unit 300.

도 3을 참조하면, 자동 검사부(300)는 FOG 공정에서 제조된 검사대상물의 휘도, 떨림, 균일성 등의 디스플레이 성능을 판정하는 것으로, 인덱스 테이블(310), 검사 플레이트(320), 플리커 검사기(330), 및 점등 검사기(340)의 구성을 포함한다.Referring to FIG. 3, the automatic inspection unit 300 determines display performance such as brightness, shaking, and uniformity of the inspection object manufactured by the FOG process, and includes an index table 310, an inspection plate 320, and a flicker inspection device ( 330, and the lighting checker 340.

여기서, 자동 검사부(300)는 검사대상물의 양부 판정은 물론, 불량 내용의 종류 및 불량 내용의 등급 등을 각각 구체적으로 판정할 수 있다. 이때, 불량 내용의 종류 및 불량 내용의 등급 등은 목적에 따라 작업자에 의해 각기 달리 설정될 수 있음은 물론이다.Here, the automatic inspection unit 300 may determine whether the inspection object is good or not, and specifically determine the type of the defective content and the grade of the defective content, respectively. At this time, the type of the bad content and the grade of the bad content may be set differently by the operator according to the purpose, of course.

인덱스 테이블(310)은 원판 형상으로 마련되어 중심축을 기준으로 기설정된 각도만큼 시계방향으로 회전함으로써, 테이블에 실린 검사대상물이 테이블의 반경을 따라 마련된 복수의 검사기에 이송되도록 한다. 이때, 인덱스 테이블(310)이 원판 형상의 구조로 마련되어 검사대상물의 이송 거리가 일정 반경 상에 설정됨으로써, 검사 공간은 크게 감축될 수 있다.The index table 310 is provided in a disk shape and rotates clockwise by a predetermined angle with respect to the central axis, so that the inspection object loaded on the table is transferred to a plurality of inspection machines provided along the radius of the table. At this time, the index table 310 is provided in a disk-shaped structure, the transport distance of the inspection object is set on a predetermined radius, the inspection space can be significantly reduced.

검사 플레이트(320)는 검사대상물이 일정 배열로 안착되어 인덱스 테이블(310)의 회전을 따라 이송되는 공간을 의미하며, 인덱스 테이블(310)의 외주연부를 따라 90°각도로 4개의 지점에 각각 형성된다. 여기서, 검사 플레이트(320)는 4개의 검사대상물이 인덱스 테이블(310)의 반경을 따라 4개의 지점에 안착될 수 있는 구조로 도시하고 설명하였으나, 이는 하나의 실시예에 불과하며 검사 플레이트(320)의 수량, 위치, 간격, 폭은 검사 공정의 종류 및 목적에 따라 각기 달리 형성될 수 있다.The inspection plate 320 refers to a space in which the inspection objects are seated in a predetermined arrangement and transported along the rotation of the index table 310, and are formed at four points at 90 ° angles along the outer periphery of the index table 310, respectively. do. Here, the test plate 320 is shown and described as a structure in which four test objects can be seated at four points along the radius of the index table 310, but this is only one embodiment and the test plate 320 The quantity, location, spacing, and width of the can be formed differently depending on the type and purpose of the inspection process.

플리커 검사기(330) 및 점등 검사기(340)는 인덱스 테이블(310)의 반경을 따라 복수로 설치되어 검사대상물의 양부를 자동 검사를 통해 판정한다. 플리커 검사와 점등 검사는 익히 공지된 기술이 사용될 수 있음은 물론이며, 이에 그 상세한 설명은 생략한다.The flicker inspector 330 and the lighting inspector 340 are provided in plural along the radius of the index table 310 to determine the quality of the inspection object through automatic inspection. Of course, well-known techniques may be used for the flicker inspection and the lighting inspection, and a detailed description thereof will be omitted.

여기서, 검사 플레이트(320)가 90°간격으로 4군데에 마련되고, 플리커 검사기(330)와 점등 검사기(340)가 각각 시계방향을 따라 270°및 360°위치에 배치됨으로써, 나머지 두 군데에 노출되는 검사 플레이트(320)는 검사대상물의 로딩 및 언로딩을 위한 공간으로 사용될 수 있다.Here, the inspection plate 320 is provided in four places at intervals of 90 °, and the flicker tester 330 and the lighting tester 340 are disposed at 270 ° and 360 ° positions along the clockwise direction, respectively, thereby exposing the remaining two places. The inspection plate 320 may be used as a space for loading and unloading the inspection object.

본 발명의 일 실시예에서는 180°에 노출되는 검사 플레이트(320)에서 검사대상물의 언로딩과 양부가 판정된 검사대상물의 로딩 과정이 이루어지도록 상정하여 설명하였으나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되는 것이 아니며, 90°부분에서 불량 판정된 검사대상물이 로딩되고, 180°부근에서 양품 판정된 검사대상물이 로딩됨으로써, 양품 판정된 검사대상물과 불량 판정된 검사대상물이 각각 분류되어 이송될 수 있음은 물론이다.In the exemplary embodiment of the present invention, an unloading of the inspection object and loading of the inspection object in which the quantity is determined in the inspection plate 320 exposed to 180 ° are assumed, but the technical idea of the present invention is limited thereto. The inspection object is determined to be defective at 90 ° and the inspection object is determined to be good at around 180 °, whereby the inspection object and the defective object to be judged as good may be classified and transported, respectively. to be.

또한, 자동 검사부(300) 내에서 검사대상물이 원판 형상의 인덱스 테이블(310)에 의해서 이송되는 인덱스(Index) 방식을 상정하여 도시하고 설명하였으나, 메인 이송라인에 따라 복수개의 자동 검사기가 마련되고, 검사대상물이 순차적으로 이송되어 양부가 판정되는 인라인(In-Line) 방식으로 검사대상물이 이송되어 검사될 수 있다.In addition, assuming the index method in which the inspection object is conveyed by the index table 310 of the disc shape in the automatic inspection unit 300, but shown and described, a plurality of automatic inspection machines are provided according to the main transfer line, The inspection object may be transferred and inspected in an in-line manner in which the inspection object is sequentially transferred to determine the quality.

도 4를 참조하면, 로딩부(400)는 자동 검사부(300)에서 양부가 판정된 검사대상물을 흡착 파지하여 분류 장치(500)로 안내하기 위한 것으로, 로딩 플레이트(410) 및 로딩기(420)의 구성을 포함한다.Referring to FIG. 4, the loading unit 400 is for guiding and holding the inspection object determined by the automatic inspection unit 300 to guide the classification apparatus 500. The loading plate 410 and the loading unit 420 may be used. Includes the configuration of.

로딩 플레이트(410)는 로딩기(420)를 통해 검사 플레이트(320)에서 흡착 파지되어 이송되는 검사대상물을 상면에 안착시켜 후술될 분류 장치(500) 방향으로 이동함으로써, 분류 이송기(510)의 작동 반경으로 안내한다.The loading plate 410 is mounted on the upper surface of the inspection object which is sucked and held by the inspection plate 320 through the loading machine 420 on the upper surface, and moves in the direction of the classification apparatus 500 to be described later. To the working radius.

로딩기(420)는 플리커 검사와 점등 검사를 통해 양부가 판정된 검사대상물이 검사플레이트에 안착되어 다시 언로딩지점인 180°부분에 도달하면, 양부가 판정된 검사대상물의 상부로 이동 및 하강하여 흡착 파지하며, 레일을 따라 이동하여 로딩 플레이트(410)의 4열의 슬롯에 파지된 검사대상물을 안착시킨다. The loading machine 420 moves and descends to the upper part of the inspected object when the inspected object determined by flicker inspection and lighting inspection reaches the 180 ° portion which is unloading point again when it is seated on the inspection plate. Suction gripping, and moves along the rail to seat the inspection object held in the four rows of slots of the loading plate 410.

상술한 로딩 플레이트(410)와 로딩기(420)는 앞서 설명한 언로딩 플레이트(210)와 언로딩기(220)의 구성과 기능이 동일하며, 이에 그 상세한 설명은 생략하기로 한다.The above-described loading plate 410 and the loader 420 have the same configuration and function as the unloading plate 210 and the unloader 220 described above, and a detailed description thereof will be omitted.

분류 장치(500)는 자동 검사부(300)에서 판정된 검사대상물의 양부 및 불량 내용의 종류 및 등급을 분류하여 후단 공정 또는 후처리 공정으로 이송시키는 것으로, 분류 이송기(510), 분류 트레이(520) 및 분류 얼라인기(530) 및 분류 컨베어(540)의 구성을 포함한다.The classification apparatus 500 classifies the types and grades of the quantity and quality of the inspection object determined by the automatic inspection unit 300 and transfers them to a post-process or post-processing process. The sorting conveyer 510 and the sorting tray 520 And the configuration of the sorting aligner 530 and sorting conveyor 540.

분류 이송기(510)는 작동 반경 내로 진입한 로딩 플레이트(410)의 상면에 안착되어 있는 양부가 판정된 검사대상물을 순차적으로 흡착 파지하여, 불량 판정된 검사대상물은 불량 내용의 종류 및 등급에 따라 분류 트레이(520)로 이송하고, 양품 판정된 검사대상물은 분류 컨베어(540)로 이송한다. 이때, 분류 이송기(510)는 공급 이송기(110)의 구성과 동일하게 상부에 설치된 레일을 따라 상승된 상태로 로딩 플레이트(410)와 분류 트레이(520)의 작동 반경 사이를 왕복 이동한다.The sorting conveyer 510 sequentially sucks and grasps an inspection object having been determined whether or not it is seated on the upper surface of the loading plate 410 that has entered the operating radius, so that the inspection object determined to be defective is determined according to the type and grade of the defective content. The inspection object is transferred to the sorting tray 520, and the inspection object determined to be good quality is conveyed to the sorting conveyor 540. At this time, the sorting conveyer 510 reciprocates between the operating radius of the loading plate 410 and the sorting tray 520 in a raised state along the rail installed at the top, similar to the configuration of the feed conveyer 110.

분류 트레이(520)는 분류 이송기(510)에 의해 이송된 불량 판정된 검사대상물을 상면에 안착시킨 상태로 하강하여, 복수개의 트레이가 도시되지는 않았으나 이미 기설정된 이송 경로를 따라 이동하여 불량 판정된 검사대상물을 후처리 또는 재활용 공정으로 이송한다.The sorting tray 520 is lowered in a state in which the defective object to be inspected conveyed by the sorting conveyer 510 is seated on the upper surface, and a plurality of trays are not shown, but are moved along a preset conveying path, thereby determining the defect. The inspected object is transferred to a post-treatment or recycling process.

이때, 분류 얼라인기(530)는 분류 트레이(520) 상면에 안착되어 있는 검사대상물을 재정렬시켜 분류 트레이(520)에 의해 이송되도록 하며, 공급 얼라인기(130)의 구성과 기능이 동일하여 그 상세한 설명은 생략한다.At this time, the sorting aligner 530 rearranges the inspection object seated on the upper surface of the sorting tray 520 to be transported by the sorting tray 520, and the configuration and function of the supply aligning device 130 are the same. Description is omitted.

분류 컨베어(540)는 로딩 플레이트(410)와 분류 트레이(520) 사이에 분류 이송기(510)의 왕복 방향을 가로지르는 방향으로 마련되어, 분류 이송기(510)가 상면에 안착시킨 양품 판정된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 이송한다.The sorting conveyor 540 is provided between the loading plate 410 and the sorting tray 520 in a direction crossing the reciprocating direction of the sorting conveyer 510, so that the sorting inspection determined by the sorting conveyer 510 seated on the upper surface. The object is transferred to a post-production process.

다음으로, 검사대상물이 불량 판정에 의해 불규칙하게 제거되어 검사대상물의 배열이 달라질 때, 달라진 배열의 검사대상물을 재정렬시키는 기술에 대해 설명하기로 한다.Next, a description will be given of a technique of rearranging the inspected object in the changed arrangement when the inspected object is irregularly removed by the defect determination and the arrangement of the inspected object is changed.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 각각 승하강하여 검사대상물의 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 검사대상물을 재정렬시켜 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이며, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 회전하여 검사대사물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.FIG. 5 is an operation diagram illustrating an operation of a feeder in which a picker (adsorption jig) according to an embodiment of the present invention is lifted and lowered to perform an unloading function of an inspection object, and FIG. 6 is an embodiment of the present invention. FIG. 7 is an operation diagram illustrating an operation of a feeder in which a picker (adsorption jig) according to the present invention rearranges an inspection object to perform a loading and unloading function of the inspection object, and FIG. 7 is a picker (adsorption jig) according to an embodiment of the present invention. Is an operation diagram illustrating the operation of the conveyor to rotate and perform the loading and unloading function of the inspection metabolism.

도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명이 각 이송기는 4열로 배치되는 검사대상물을 흡착파지하기 위해, 흡착 지그로 마련되는 픽커(P)가 기본 2열 최소 1열로 마련된다. 그러나, 본 발명의 기술적 사상이 이에 한정되는 것은 아니며, 검사대상물의 배열이 5열 이상일 수 있거나, 픽커(P)가 4열 또는 그 이상으로 마련되어 피킹 동작을 수행할 수 있음은 물론이다.As shown in FIG. 5, each feeder of the present invention is provided with a picker P provided as a suction jig for at least one column of basic two rows in order to suck and hold the inspection objects arranged in four rows. However, the technical spirit of the present invention is not limited thereto, and the arrangement of the inspection objects may be five or more rows, or four or more rows of pickers P may be provided to perform the picking operation.

상술한 기능을 수행하기 위하여, 이송기는 검사대상물을 피킹하는 흡착기(P10), 흡착기(P10)를 상하방향으로 이동시키는 구동기(P20) 및 흡착기(P10)의 수평 및 수직 이동을 가능하게 하는 이동기(P30)의 구성을 포함한다.In order to perform the above-described function, the feeder is an adsorber (P10) for picking the inspection object, a driver (P20) for moving the adsorber (P10) in the up and down direction, and a mover (10) which enables horizontal and vertical movement of the adsorber (P10). P30).

상술한 피킹 동작은 2열의 픽커(P)가 4열로 배치되는 검사대상물을 각각 2열씩 피킹하거나, 4열의 픽커(P)가 4열의 검사대상물을 4열 모두 피킹하는 동작이 수행되어 로딩과 언로딩 과정을 수행하는 것을 기본으로 한다.The above-mentioned picking operation is performed by picking two objects each of the two object pickers P arranged in four rows, or by picking the four rows of pickers P four rows of four objects to be loaded and unloaded. It is based on performing the process.

그러나, 자동 검사부(300)에서 양부 판정을 받은 검사대상물에서 불량 판정된 검사대상물만을 피킹한다거나, 플레이트 상에 불규칙한 배열로 배치되는 복수 검사대상물의 위치 변화에 따라 2열 또는 4열의 픽커(P)는 규칙적인 제어 동작을 통해 목적한 검사대상물만을 선별할 수 있고, 검사대상물을 부가하여 부족한 슬롯이 존재하는 플레이트를 만재시킬 수 있다.However, the picker P of two rows or four rows may be picked only by picking only the inspection object that is determined to be defective in the inspection object that has been determined by the automatic inspection unit 300 or by changing the position of a plurality of inspection objects arranged in an irregular arrangement on the plate. Through regular control operations, only the target inspection object can be selected, and the inspection object can be added to load a plate having insufficient slots.

우선, 바람직한 일 실시예의 구성은 픽커(P)에 한 쌍으로 마련되는 지그의 개별적인 동작을 통해 검사대상물을 선별하여 로딩 또는 언로딩할 수 있다.First, the configuration of the preferred embodiment can be selected or loaded or unloaded the inspection object through the individual operation of the jig provided in pairs on the picker (P).

예를 들면, 4열의 검사대상물 중, 1열 및 3열에 불량 판정된 검사대상물이 존재할 때, 좌우측 한 쌍의 흡착 지그를 갖는 픽커(P)는 1, 2열의 위치로 이동하여, 좌측의 지그만 하강한 상태로 진공 흡착 기능을 이용하여 1열의 검사대상물을 피킹하고, 2, 3열의 위치로 이동하여 우측의 지그가 하강한 상태로 진공 흡착 기능을 이용하여 3열의 검사대상물을 피킹하여 양부가 판정된 검사대상물 중에서 불량 판정된 검사대상물을 선별하여 로딩할 수 있다.For example, when there are inspection objects that are determined to be defective in rows 1 and 3 among the four rows of inspection objects, the picker P having a pair of left and right suction jig moves to positions 1 and 2, With the vacuum adsorption function in the lowered state, pick a test object in one row, move to the positions of rows 2 and 3, and use the vacuum suction function to pick the test object in three rows with the jig on the right side to determine whether it is ok or not. The inspection object determined to be defective among the inspected objects may be selected and loaded.

또한, 취합을 위해 언로딩할 때에는 부족한 슬롯으로 픽커(P)의 각 흡착 지그들을 이송시켜 진공 흡착력을 제거하여 검사대상물을 해당 슬롯에 언로딩함으로써, 각 검사 공정을 마치고 양품 판정된 검사대상물들을 하나의 플레이트에 각각 취합하여 만재된 상태의 검사대상물들을 후단 검사 공정 또는 후단 제조 공정에 이송시킬 수 있다.In addition, when unloading for collection, each suction jig of the picker P is transferred to the insufficient slot to remove the vacuum suction force, and the test object is unloaded into the corresponding slot. Each of the inspection objects in the loaded state can be transported to a post-end inspection process or a post-end manufacturing process by collecting each plate.

다음으로, 도 6에 도시된 바와 같이, 좌우측 한 쌍의 지그를 갖는 픽커(P)가 불규칙한 배열을 갖는 검사대상물의 배열을 정렬시킨 후, 한 쌍의 지그에 양품 또는 불량 판정된 검사대상물을 선별하여 피킹할 수 있다.Next, as shown in Figure 6, the picker (P) having a pair of left and right jig align the array of the inspection object having an irregular arrangement, and then screened the inspection object determined good or bad on the pair of jig Can be picked.

예를 들어, 상술한 바와 같이, 4열의 검사대상물 중, 1열과 3열에 불량 판정된 검사대상물이 있는 경우, 한 쌍의 지그는, 1, 2열의 위치로 이동하여 1, 2열의 검사대상물을 피킹하고, 우측의 지그가 1열로 이동하여 2열에서 피킹된 검사대상물을 언로딩시킨 후, 다시 좌우측 지그가 2, 3열로 이동하여 불량 판정된 검사대상물만을 피킹함으로써, 양품 판정된 검사대상물 속에서 불량 판정된 검사대상물들을 선별할 수 있다.For example, as described above, when there are inspection objects that are determined to be defective in rows 1 and 3 among the four rows of inspection objects, the pair of jig moves to positions 1 and 2 to pick the inspection objects in rows 1 and 2. Then, the jig on the right moves to the first row to unload the inspection object picked in the second row, and then the left and right jig moves to the second and third row again to pick only the inspection object that is judged to be defective. The inspected objects can be screened.

또한, 4열의 검사대사물 중, 1열과 4열에 불량 판정된 검사대상물이 있는 경우, 한 쌍의 지그는 우측 지그가 1열 위치로 이동하여, 1열의 검사대상물을 피킹하고, 다시 좌측 지그가 4열 위치로 이동하여 4열의 검사대상물을 피킹함으로써, 피킹된 검사대상물의 좌우측 순서는 뒤바뀔 수 있으나, 목적한 검사대상물을 선별할 수 있다.In addition, if there are inspection objects in the first row and the fourth row among the four inspection metabolites, the pair of jig moves the right jig to the first row position, picking the first row of inspection objects, and again the left jig is the fourth row. By moving to the position and picking the four rows of the test object, the left and right order of the picked test object can be reversed, but the target test object can be selected.

마지막으로, 도 7에 도시된 바와 같이, 한 쌍의 지그가 구동기(P20)(중심축)을 기준으로 회전하는 기능을 통해 목적한 검사대상물을 선별하여 로딩 또는 언로딩되도록 할 수 있다.Finally, as shown in FIG. 7, a pair of jigs may be loaded or unloaded by selecting a desired inspection object through a function of rotating based on the driver P20 (center axis).

예를 들어, 좌측의 지그가 우선 불량 판정된 검사대상물을 피킹하고, 한 쌍의 지그가 중심축을 기준으로 회전하여 나머지 우측 지그가 불량 판정된 검사대상물을 피킹함으로써, 불량 판정된 검사대상물이나 양품 판정된 검사대상물의 부족한 슬롯을 채울 수 있다.For example, the left side jig first picks up an inspection object that is determined to be defective, and a pair of jigs rotate about the central axis, and the remaining right jig picks an inspection object that is determined to be defective. The missing slots can be filled.

이하에서는, 자동 검사부에 언로딩된 검사대상물에 자동 컨택하여 검사 신호를 공급하는 검사신호공급 기술에 대해 설명한다.Hereinafter, a description will be given of a test signal supply technology for supplying a test signal by automatically contacting the test object unloaded in the automatic test unit.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 신호 공급장치의 전체 구성을 나타내는 측단면도이고, 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 `A` 부분의 확대도로 자동 신호 공급장치의 동작 원리를 나타내기 위한 도면이다.8 is a side cross-sectional view showing the overall configuration of the automatic signal supply apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 9 is an enlarged view of the 'A' portion according to an embodiment of the present invention the operating principle of the automatic signal supply apparatus It is a figure for showing.

도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 자동 신호 공급장치(600)는 자동 검사부(300)에 언로딩된 검사대상물에 소켓 타입 또는 핀 타입 형태로 마련되는 신호공급부(M)에 자동으로 컨택하여 검사 신호를 공급하는 것으로, 시계방향을 기준으로 180°부근에 구비된다.As shown in FIG. 8, the automatic signal supply device 600 of the present invention automatically contacts the signal supply unit M provided in the socket type or the pin type form on the inspection object unloaded by the automatic inspection unit 300. By supplying a test signal, it is provided near 180 ° with respect to the clockwise direction.

종래에는 각 FOG 검사대상물의 종류에 따라 소켓 또는 핀 타입의 신호공급부(M)의 위치 및 형상이 다양하게 마련됨으로써, 작업자의 수작업을 통해 검사대상물에 검사 신호를 인가할 수밖에 없었으나, 본 발명의 일 실시예에서는 자동 신호 공급장치(600)를 이용하여 자동화된 신호 공급 시스템을 구현할 수 있다.Conventionally, since the position and the shape of the socket or pin type signal supply unit M are variously provided according to the type of each FOG inspection object, there is no choice but to apply the inspection signal to the inspection object through the manual operation of the operator. In one embodiment, the automated signal supply device 600 may be used to implement an automated signal supply system.

본 발명의 자동 신호 공급장치(600)는 상술한 기능을 수행하기 위하여, 본체 프레임(610), 구동유닛(620), 이동헤드(630), 및 신호공급유닛(640)의 구성을 포함한다.The automatic signal supply device 600 of the present invention includes a configuration of the main frame 610, the drive unit 620, the moving head 630, and the signal supply unit 640 to perform the above-described function.

본체 프레임(610)은 구동유닛(620), 이동헤드(630) 등을 내부에 수용하여, 구동유닛(620)과 이동헤드(630)의 결합 구조를 제공함과 동시에 이동 경로를 제공할 수 있으며, 폭방향의 좌우 양측에는 본체 프레임(610)의 길이방향을 따라 연장형성되되, 끝단에서 상하방향으로 굴절된 구조의 관통된 형태의 안내홈(611)이 형성된다.The main frame 610 accommodates the driving unit 620, the moving head 630, and the like, and provides a moving path while providing a coupling structure of the driving unit 620 and the moving head 630, The left and right sides of the width direction extend along the longitudinal direction of the main body frame 610, the guide groove 611 of the penetrating form of the structure refracted in the vertical direction at the end is formed.

구동유닛(620)은 본체 프레임(610)의 내부에 수용되어, 본체 프레임(610)의 내부 구조를 따라 왕복 이동함으로써, 후술될 이동헤드(630)의 이동을 위한 구동력을 생성 및 제공하는 것으로, 실린더(621), 지지블럭(622) 및 승강레일(623)의 구성을 포함한다.The drive unit 620 is accommodated in the main body frame 610, by reciprocating along the internal structure of the main body frame 610, to generate and provide a driving force for the movement of the moving head 630 to be described later, The configuration of the cylinder 621, the support block 622 and the lifting rail 623.

실린더(621)은 공압 또는 유압으로 구동되어 본체 프레임(610)의 길이방향의 구동력을 생성하며, 지지블럭(622)는 일측이 실린더(621)과 결합되어 실린더(621)의 구동력에 따라 왕복 이동하며, 타측이 후술될 이동헤드(630)와 접함으로써, 실린더(621)의 구동력을 이동헤드(630)에 전달한다.The cylinder 621 is driven by pneumatic or hydraulic pressure to generate a driving force in the longitudinal direction of the body frame 610, the support block 622 is coupled to the cylinder 621 one side is reciprocated in accordance with the driving force of the cylinder 621 And, the other side is in contact with the moving head 630, which will be described later, transmits the driving force of the cylinder 621 to the moving head 630.

이때, 지지블럭(622)의 이동헤드(630)와 결합되는 면에는 승강레일(623)이 돌출된 구조로 마련되어 이동헤드(630)와 슬라이딩 결합됨으로써, 이동헤드(630)와의 결합 구조를 형성하여 결합력을 부가함은 물론, 이동헤드(630)의 상하방향 이동을 안내한다.At this time, the lifting rail 623 is provided on the surface that is coupled to the moving head 630 of the support block 622 is formed to protrude and slidingly coupled with the moving head 630, thereby forming a coupling structure with the moving head 630 As well as adding a coupling force, guides the vertical movement of the moving head 630.

이동헤드(630)는 일측에 슬라이딩 결합된 지지블럭(622)를 따라 이동하여 타측에 결합된 신호공급유닛(640)의 이동 경로를 제어하는 것으로, 레일홈(미도시) 및 안내돌기(631)의 구성을 포함한다.The moving head 630 moves along the support block 622 slidingly coupled to one side to control the movement path of the signal supply unit 640 coupled to the other side, the rail groove (not shown) and the guide protrusion 631. Includes the configuration of.

레일홈은 지지블럭(622)과 접하는 면에, 승강레일(623)의 구조와 대응되게 인입된 형상으로 마련되어 승강레일(623)과 슬라이딩 결합됨으로써, 지지블럭(622)을 기준으로 이동헤드(630)의 상하 방향의 이동을 안내하며, 안내돌기(631)는 이동헤드(630)의 폭방향의 대칭된 양측에 원통형으로 돌출 형성되어 안내홈(611)에 끼워진 상태로 안내홈(611)을 따라 이동함으로써, 지지블럭(622)를 기준으로 이동헤드(630)의 수평 방향의 이동을 안내한다.The rail groove is formed in an inlet shape corresponding to the structure of the elevating rail 623 on the surface in contact with the support block 622 and is slidably coupled with the elevating rail 623 to move the moving head 630 based on the support block 622. The guide protrusion 631 guides the movement in the vertical direction, and protrudes in a cylindrical shape on both sides of the width direction of the moving head 630 along the guide groove 611 in a state of being fitted into the guide groove 611. By moving, the movement of the moving head 630 in the horizontal direction with respect to the support block 622 is guided.

안내돌기(631)는 이동헤드(630)의 폭방향의 양측에 대치된 형상으로 돌출된 원통형상의 돌기로, 상술한 안내홈(611)에 끼워져 안내홈(611)의 형상에 의해 이동 경로가 안내되어진다.The guide protrusion 631 is a cylindrical protrusion projecting in a shape opposed to both sides of the moving head 630 in the width direction. The guide protrusion 631 is fitted into the guide groove 611 described above, and the movement path is guided by the shape of the guide groove 611. It is done.

신호공급유닛(640)은 이동헤드(630)의 하면에 결합되어 이동헤드(630)의 이동 경로를 따라 이동함으로써, 검사 플레이트(320)에 언로딩된 검사대상물의 신호공급부(M)에 접촉하여 신호발생장치(미도시)에서 제공되는 검사 신호를 검사대상물에 제공한다.The signal supply unit 640 is coupled to the lower surface of the moving head 630 and moves along the moving path of the moving head 630 to contact the signal supply unit M of the inspection object unloaded on the inspection plate 320. The inspection signal provided from the signal generator (not shown) is provided to the inspection object.

이때, 신호공급유닛(640)은 검사대상물의 소켓 또는 핀 타입의 신호공급부(M)에 대응되는 형상 및 구조의 커넥터(641)가 마련되어 신호공급부(M)에 접촉 또는 삽입됨으로써, 인가되는 검사 신호를 통해 검사대상물의 영상이 송출되도록 할 수 있다.At this time, the signal supply unit 640 is provided with a connector 641 of the shape and structure corresponding to the socket or pin-type signal supply unit M of the inspection object to be contacted or inserted into the signal supply unit M, the test signal applied Through the image of the inspection object can be sent.

아울러, 검사 과정이 끝난 후, 커넥터(641)가 신호공급부(M)에서 이격될 때, 신호공급부(M)를 고정시키는 고정부재(G)가 더 마련되어 원활한 검사 신호 공급 과정이 구현될 수 있음은 물론이다.In addition, after the inspection process is finished, when the connector 641 is spaced apart from the signal supply unit (M), a fixing member (G) for fixing the signal supply unit (M) is further provided that a smooth inspection signal supply process may be implemented. Of course.

도 9를 참조하여 신호공급유닛(640)의 승하강 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to Figure 9 describes the lifting operation of the signal supply unit 640 as follows.

본 발명의 신호공급유닛(640)은 실린더(621)의 왕복 이동에 따른 구동력이 안내홈(611)의 안내 경로와 승강레일(623)의 안내 경로에 의해 방향이 변환되어 이동헤드(630)에 전달됨으로써, 이동헤드(630)의 승하강 동작에 따라 이동헤드(630)에 결합된 신호공급유닛(640) 역시 승하강하게 된다. 이에 따라, 신호공급유닛(640)은 검사대상물의 신호공급부(M)에 접촉 또는 삽입되어 검사 신호를 공급할 수 있다.In the signal supply unit 640 of the present invention, the driving force according to the reciprocating movement of the cylinder 621 is changed in direction by the guide path of the guide groove 611 and the guide path of the lifting rail 623 to the moving head 630. By being transmitted, the signal supply unit 640 coupled to the moving head 630 also moves up and down in accordance with the lifting operation of the moving head 630. Accordingly, the signal supply unit 640 may be in contact with or inserted into the signal supply unit M of the inspection object to supply the inspection signal.

실린더(621)의 구동력이 안내홈(611)과 승강레일(623)에 따라 변환되는 과정을 설명하기 위해, 실린더(621)의 길이방향의 이동 방향을 제1 방향이라 하고, 승하강되는 신호공급유닛(640)의 이동 방향을 제2 방향이라 하며, 이동헤드(630)가 지지블럭(622)의 승강레일(623)을 기준으로 이동되는 방향을 제3 방향이라 가정하면, 제3 방향은 제1 방향과 제2 방향 사이에서 제1 방향 또는 제2 방향과 근접하게 형성된다.In order to explain the process of the driving force of the cylinder 621 is converted according to the guide groove 611 and the lifting rail 623, the longitudinal direction of movement of the cylinder 621 is referred to as the first direction, the signal supply is raised and lowered When the movement direction of the unit 640 is referred to as a second direction, and the moving direction of the moving head 630 based on the lifting rails 623 of the support block 622 is assumed to be the third direction, the third direction is set as the third direction. It is formed to be close to the first direction or the second direction between the first direction and the second direction.

제3 방향이 제1 방향과 근접하게 형성되면, 이동헤드(630)의 승하강 이동거리에 비해 실린더(621)의 왕복 이동거리가 비약적으로 상승하게 되어, 실린더(621)의 왕복 이동거리를 이용하여 이동헤드(630)의 승하강 높이를 조절할 때, 그 높이를 보다 세밀하게 조절할 수 있다.When the third direction is formed to be close to the first direction, the reciprocating movement distance of the cylinder 621 is significantly increased compared to the raising and lowering movement distance of the moving head 630, thereby using the reciprocating movement distance of the cylinder 621. By adjusting the lifting height of the moving head 630, the height can be adjusted more precisely.

한편, 제3 방향이 제2 방향과 근접하게 형성되면, 실린더(621)의 왕복 이동거리에 비해 이동헤드(630)의 승하강 이동거리가 비약적으로 상승하게 되어, 실린더(621)의 왕복 이동거리를 이용하여 이동헤드(630)의 승하강 높이를 조절할 때, 작은 구동력 또는 실린더(621)의 작은 왕복 이동거리로, 이동헤드(630)의 승하강 높이를 큰 폭으로 조정할 수 있다.On the other hand, when the third direction is formed close to the second direction, the lifting and lowering movement distance of the moving head 630 is significantly increased compared to the reciprocating movement distance of the cylinder 621, so that the reciprocating movement distance of the cylinder 621 When adjusting the raising and lowering height of the moving head 630 by using a small driving force or a small reciprocating movement distance of the cylinder 621, the raising and lowering height of the moving head 630 can be largely adjusted.

다만, 제3 방향이 실린더(621)의 하중 전달 방향인 제1 방향 또는 이동헤드(630)의 승강동작에 의한 하중 전달 방향인 제2 방향에 근접하면 할수록, 제1 방향과 제2 방향의 하중의 합력의 방향과 멀어지게 되어, 이동헤드(630)에 의한 승강레일(623)에 가해지는 부하가 크게 증가할 수밖에 없다.However, the closer the third direction is to the first direction that is the load transmission direction of the cylinder 621 or the second direction that is the load transmission direction by the lifting operation of the moving head 630, the more the loads of the first and second directions Since the distance from the direction of the force of the force, the load applied to the lifting rail 623 by the moving head 630 is inevitably increased.

따라서, 제3 방향은 제1 방향의 하중과 제2 방향의 하중의 합력 방향과 직교하는 방향으로 형성되는 것이 바람직하다.Therefore, it is preferable that a 3rd direction is formed in the direction orthogonal to the direction of the joint force of the load of a 1st direction, and a load of a 2nd direction.

제3 방향을 결정하기 위해, 실린더(621)로부터 전달되는 하중의 합력 방향을 예측하면, 제1 방향으로 전달되는 실린더(621)의 구동력은 이동헤드(630)가 안내홈(611)의 슬라이딩 구간(d1)을 이동시키는 힘과 이동헤드(630)가 안내홈(611)의 승강 구간(d2)을 이동시키는 힘이라 가정할 수 있으며, 이에, 그 힘의 크기는 슬라이딩 구간(d1)의 거리와 승강 구간(d2)의 거리에 비례한다 할 수 있다.In order to determine the third direction, when the direction of the force of the load transmitted from the cylinder 621 is predicted, the driving force of the cylinder 621 transmitted in the first direction is determined by the moving head 630 of the sliding section of the guide groove 611. It can be assumed that the force (d 1 ) and the moving head 630 is a force for moving the lifting section (d 2 ) of the guide groove (611), the magnitude of the force is a sliding section (d 1 ) It may be proportional to the distance of and the distance of the lifting section (d 2 ).

도면에서는 제작의 편의를 고려하여, 제3 방향이 제2 방향과 직교하는 방향으로 설정하여 도시하였으나, 바람직한 제3 방향은 상술한 바와 같이 힘의 합력 방향과 직교하는 방향이다. 다만, 안내홈(611)의 승강 구간(d2)이 슬라이딩 구간(d1)에 비해 비교적 작은 거리로 형성됨으로써, 바람직한 제3 방향은 도면에 도시된 제2 방향에 직교하는 방향과 큰 차이를 보이지 않아 제작의 편의를 고려하여, 제3 방향은 제2 방향에 직교하는 방향으로 설정되어도 무방하며, 이를 통해, 이동헤드(630) 동작의 불연속적인 문제, 굴절부분의 마모 문제 및 안내돌기(631)와 안내홈(611)이 변형되거나 파손되는 문제 등을 경감할 수 있다.In the drawings, the third direction is set in a direction orthogonal to the second direction in consideration of manufacturing convenience, but the preferred third direction is a direction orthogonal to the direction of force of force as described above. However, since the lifting section d 2 of the guide groove 611 is formed at a relatively smaller distance than the sliding section d 1 , the preferred third direction has a large difference from the direction orthogonal to the second direction shown in the drawing. Since the third direction may be set in a direction orthogonal to the second direction in view of the convenience of manufacturing, the discontinuous problem of the movement of the moving head 630, the wear problem of the refractive portion, and the guide protrusion 631. ) And the guide groove 611 can be alleviated problems such as deformation or breakage.

위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등개념으로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings. However, since the above-described embodiments have only been described with reference to preferred examples of the present invention, the present invention is limited to the above embodiments. It should not be understood that the scope of the present invention is to be understood by the claims and equivalent concepts described below.

IS : FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템
100 : 공급 장치
110 : 공급 이송기
120 : 공급 트레이
130 : 공급 얼라인기
200 : 언로딩부
210 : 언로딩 플레이트
220 : 언로딩기
300 : 자동 검사부
310 : 인덱스 테이블
320 : 검사 플레이트
330 : 플리커 검사기
340 : 점등 검사기
400 : 로딩부
410 : 로딩 플레이트
420 : 로딩기
500 : 분류 장치
510 : 분류 이송기
520 : 분류 트레이
530 : 분류 얼라인기
540 : 분류 컨베어
P : 피커
P10 : 흡착기
P20 : 구동기
P30 : 이동기
600 : 신호 공급장치
610 : 본체 프레임
611 : 안내홈
620 : 구동유닛
621 : 실린더
622 : 지지블럭
623 : 승강레일
630 : 이동헤드
631 : 안내돌기
640 : 신호공급유닛
641 : 커넥터
M : 신호공급부 G : 고정부재
d1 : 슬라이딩 구간 d2 : 승강 구간IS: Display Panel Inspection System of FOG Process
100: feeder
110: feed conveyor
120: feed tray
130: supply aligner
200: unloading unit
210: unloading plate
220: unloading machine
300: automatic inspection unit
310: index table
320: inspection plate
330: Flicker Checker
340: lighting checker
400: loading unit
410: loading plate
420: loading machine
500: sorting device
510: class feeder
520 Sorting Tray
530: sorting aligner
540: Classification Conveyor
P: Picker
P10: Adsorber
P20: Driver
P30: Mover
600: signal supply device
610 body frame
611: Information Home
620: drive unit
621: cylinder
622 support block
623: lifting rail
630: moving head
631: Guide protrusion
640: signal supply unit
641: Connector
M: Signal supply part G: Fixed member
d 1 : sliding section d 2 : lifting section

Claims (6)

FOG(Film On Glass) 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템으로서,
FOG 공정에서 제조된 검사대상물이 언로딩되어 플리커(Flicker) 검사와 점등 검사를 통해 상기 검사대상물의 양부를 판정하고, 불량 내용의 종류 및 불량 내용의 등급을 판정하는 자동 검사부;
상기 자동 검사부에 의해 양부가 판정된 검사대상물 중, 양품 판정된 검사대상물은 후단 공정으로 이송하며, 불량 판정된 검사대상물은 불량 내용의 종류별 및 등급별로 선별하여 재처리 또는 재활용 공정으로 이송하는 분류 장치; 및
상기 자동 검사부에서 양부가 판정된 검사대상물을 흡착 파지하여 메인 이송라인에 로딩시키는 로딩기 및 상기 로딩기로부터 상기 양부가 판정된 검사대상물을 이송받아 상기 분류 장치에 제공하기 위해 상기 분류 장치 방향으로 왕복 이동하는 로딩 플레이트
를 포함하고,
상기 분류 장치는,
상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 이송시키는 분류 컨베어와, 상기 자동 검사부에서 불량 판정된 검사대상물을 후단 재처리 또는 후단 재활용 공정으로 각각 이송시키는 분류 트레이와, 상기 로딩 플레이트에 안착된 검사대상물을 판정된 양부 또는 판정된 불량 내용의 종류 및 등급에 따라 상기 분류 컨베어와 상기 분류 트레이로 이송시키는 분류 이송기 및 상기 분류 트레이에 안착된 불량 판정된 검사대상물을 정렬시키는 분류 얼라인기의 구성를 포함하는 것을 특징으로 하는
FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템.Display panel inspection system of FOG (Film On Glass) process,
An automatic inspection unit which unloads the inspection object manufactured in the FOG process to determine the quality of the inspection object through a flicker test and a lighting test, and determines the type of the defective content and the grade of the defective content;
Of the inspection objects determined by the automatic inspection unit, the inspection object is determined whether the good quality is transferred to the rear end process, and the classification object that is determined to be defective and sorted by the type and grade of the defective content to reprocessing or recycling process ; And
The automatic inspection unit sucks and grasps the inspection object determined by the inspection unit and loads it on the main transport line, and the inspection object is transferred back and forth in the direction of the classification apparatus to receive the inspection object determined by the loading unit from the loading machine and provide it to the classification apparatus. Moving loading plate
Including,
The sorting device,
A sorting conveyor for transferring the inspection object determined by the automatic inspection unit to a post-production process, a sorting tray for transferring the inspection object determined to be defective in the automatic inspection unit to a post-reprocessing or post-recycling process, and the loading plate The sorting conveyor for transferring the sorted inspection object to the sorting conveyor and the sorting tray and the sorting aligner for sorting the defective inspected test object seated on the sorting tray according to the type and grade of the determined quality or the determined defective content. Characterized in that it comprises a configuration
Display panel inspection system of FOG process. 제 1항에 있어서,
상기 자동 검사부는,
상기 언로딩된 FOG 공정에서 제조된 검사대상물이 중심축을 기준으로 설정된 회전각 단위로 회전되어, 상기 회전각 단위 부분에 각각 마련된 복수의 자동 검사 과정에 상기 FOG 공정에서 제조된 검사대상물을 이송시킴으로써, 상기 FOG 검사대상물이 양부가 판정되도록 하는 인덱스(Index) 방식으로 구동되거나,
상기 언로딩된 FOG 공정에서 제조된 검사대상물이 메인 이송라인을 따라 마련되는 복수의 자동 검사 과정에 순차적으로 이송되어, 상기 FOG 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 인라인(In-Line) 방식으로 구동되는 것을 특징으로 하는
FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템.The method of claim 1,
The automatic inspection unit,
The inspection object manufactured in the unloaded FOG process is rotated by a rotation angle unit set based on a central axis, and the inspection object manufactured in the FOG process is transferred to a plurality of automatic inspection processes respectively provided in the rotation angle unit part. The FOG inspection object is driven in an index manner to determine whether or not
The inspection object manufactured in the unloaded FOG process is sequentially transferred to a plurality of automatic inspection processes provided along the main transfer line, and driven in an in-line manner to determine whether the FOG inspection object is determined. Characterized by
Display panel inspection system of FOG process. 제 1항에 있어서,
상기 검사대상물을 상면에 안착시켜 전단 제조 공정으로부터 이송해 오는 공급 트레이와, 상기 공급 트레이에 안착된 상기 검사대상물을 흡착 파지하여 메인 이송라인으로 이송시키는 공급 이송기 및 상기 공급 트레이에 안착된 상기 검사대상물을 상기 공급 이송기의 흡착 파지 반경에 포함되도록 정렬시키는 공급 얼라인기로 구성되는 공급 장치;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템.The method of claim 1,
A feed tray for seating the inspection object on the upper surface and transported from the shear manufacturing process, a feed feeder for adsorptive gripping and transporting the inspection object seated on the supply tray to the main transport line, and the inspection seated on the supply tray. And a supply device configured to supply an object to align the object to be included in the suction gripping radius of the supply feeder.
Display panel inspection system of FOG process. 제 3항에 있어서,
상기 공급 이송기로부터 상기 검사대상물을 이송 받기 위해, 상기 공급 이송기의 작동 반경으로 왕복 이동하는 언로딩 플레이트 및 상기 언로딩 플레이트의 상면에 안착된 검사대상물을 흡착 파지하여, 상기 자동 검사부에 언로딩시키는 언로딩기로 구성되는 언로딩부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
FOG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템.The method of claim 3, wherein
In order to receive the inspection object from the feed conveyor, the unloading plate reciprocating to the operating radius of the feed conveyor and the inspection object seated on the upper surface of the unloading plate are absorbed and gripped to unload the automatic inspection unit. Characterized in that it further comprises; an unloading unit consisting of an unloader to make
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