KR101934624B1 - 사출 성형 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 유리의 에지의 둘레에 개스킷을 형성하기 위한 사출 성형 장치에 관한 것이다. 사출 성형 장치는 사출 성형 다이(101, 201, 301, 401, 501)와, 사출 성형 다이의 내부에 배치되며 그리고 유리(105, 305, 505)를 사출 성형 다이(101, 201, 301, 401, 501)의 내부에 고정하도록 구성되는 고정 요소(102)와, 사출 성형 장치에 장착되며 그리고 유리(105, 305, 505)의 이미지 또는 진동을 검출하도록 구성되는 검출 유닛(103)과, 검출 유닛(103)과 커플링되며 그리고 검출 유닛(103)의 검출 결과에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하도록 구성되는 결정 유닛(104, 204, 306, 507)을 포함한다. 사출 성형 장치는 유리 파손 여부를 결정함으로써 유리 파손에 의한 사출 성형 다이(101, 201, 301, 401, 501)의 스크래칭 위험이 감소될 수 있다. 따라서, 사출 성형 수율이 향상될 수 있고, 사출 성형 다이를 보수하기 위한 시간이 단축될 수 있으며, 사출 성형 다이의 수명이 연장될 수 있다.

Description

사출 성형 장치{INJECTION MOLDING APPARATUS}
[관련 출원의 상호 참조]
본 출원은 그 전체 내용이 본 명세서에서 원용되는 2014년 4월 16일자로 출원된 "사출 성형 장치"라는 발명의 명칭을 갖는 중국 특허 출원 제20142018650.1호의 우선권을 참조한다.
[기술분야]
본 개시내용은 유리 기술 분야에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 유리의 에지의 둘레에 개스킷을 형성하기 위한 사출 성형 장치에 관한 것이다.
유리 개스킷은 유리와 차량 차체 사이의 밀봉을 향상시키고, 소음을 감소시키며, 유리의 안정성과 외관을 개선시킨다.
차량용 후방 삼각형 윈도우 조립체가 도 1에 도시되어 있다. 차량용 후방 삼각형 윈도우 조립체는 유리(11), 및 유리(11)의 에지의 둘레에 형성된 개스킷(12)을 포함한다. 개스킷(12)은 접착면(121), 립(122), 및 접착제를 수용하기 위한 그루브(123)를 포함한다. 그루브(123)는 접착면(121) 내에 형성되며 그리고 접착제 누출을 방지하기 위해 유리 접착제가 코팅 중에 횡방향으로 유동하는 것을 방지하도록 구성된다. 립(122)은 시트 형상이며 그리고 압착될 때 변형될 수 있다. 개스킷(12)은 사출 성형 공정에 의해 통상 형성된다.
구체적으로, 사출 성형 공정은 유리(11)를 사출 성형 다이의 내부에 배치하는 단계와, 원료를 액체 플라스틱 내에서 가소화하는 단계와, 액체 플라스틱을 사출 성형 다이 내부의 공동에 주입하는 단계와, 액체 플라스틱을 사출 성형 다이의 공동 내에서 냉각 및 경화하는 단계를 포함한다. 이런 식으로, 사출 성형 다이의 공동의 형상과 일치하는 형상을 갖는 개스킷(12)이 형성된다.
그러나, 사출 성형 다이를 폐쇄하는 동안, 사출 성형 다이 내의 유리는 유리가 적소에 위치되어 있지 않은 경우 또는 사출 성형 다이 폐쇄 압력이 너무 높은 경우 파쇄될 수도 있다.
액체 플라스틱이 사출 성형 다이에 주입될 때, 파손된 유리는 액체 플라스틱의 유동과 함께 활주되어 사출 성형 다이의 내측부를 스크래칭할 수도 있다. 스크래치가 있는 사출 성형 다이를 사용하여 개스킷을 형성하면, 결함이 개스킷의 표면 상에 형성될 수도 있는데, 이는 사출 성형 수율을 감소시킨다.
사출 성형 다이 내의 유리의 파손 여부를 결정함으로써 유리 파손에 의한 사출 성형 다이의 스크래칭 위험이 감소되고 사출 성형 수율이 향상될 수 있는 사출 성형 장치가 제공된다.
실시예에서, 유리의 에지의 둘레에 개스킷을 형성하기 위한 사출 성형 장치가 제공된다. 사출 성형 장치는 사출 성형 다이와, 사출 성형 다이의 내부에 배치되며 그리고 유리를 사출 성형 다이의 내부에 고정하도록 구성되는 적어도 하나의 고정 요소와, 사출 성형 다이에 또는 적어도 하나의 고정 요소 상에 장착되며 그리고 유리의 이미지 또는 진동을 검출하도록 구성되는 검출 유닛과, 검출 유닛과 커플링되며 그리고 검출 유닛의 검출 결과에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하도록 구성되는 결정 유닛을 포함한다.
몇몇의 실시예에서, 검출 유닛은, 사출 성형 다이의 내부에 배치되며 그리고 유리를 조명하도록 구성되는 광원과, 광원에 의해 조명된 유리의 이미지를 획득하도록 구성되는 이미지 센서를 포함할 수도 있으며, 결정 유닛은 유리의 이미지에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하기 위해 이미지 센서와 커플링된다.
몇몇의 실시예에서, 광원과 이미지 센서는 유리의 동일한 측부 상에 배치될 수도 있으며, 이미지 센서는 유리에 의해 반사된 광에 기초하여 유리의 이미지를 획득하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 광원과 이미지 센서는 유리의 상이한 측부 상에 배치될 수도 있으며, 이미지 센서는 유리를 관통하는 광에 기초하여 유리의 이미지를 획득하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 사출 성형 다이는 유리의 위에 있는 상부 다이 반부 및 유리의 아래에 있는 하부 다이 반부를 포함할 수도 있고, 상부 다이 반부와 하부 다이 반부 중의 하나의 다이 반부는 관통구를 갖춘 상태로 구성되고, 이미지 센서는 사출 성형 다이의 내부에 배치된 일단부와, 관통구를 통해 배치되어 결정 유닛과 커플링되는 타단부를 갖고, 광원은 상부 다이 반부와 하부 다이 반부 중의 하나의 다이 반부의 내부 벽 상에 배치되며, 내부 벽은 사출 성형 다이의 공동을 향한다.
몇몇의 실시예에서, 복수의 광원이 내부 벽 상에 배열될 수도 있으며, 복수의 광원은 관통구의 둘레에 균등하게 분포된다.
몇몇의 실시예에서, 광원은 발광 다이오드(LED)일 수도 있으며, 이미지 센서는 카메라일 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 검출 유닛은 진동 센서일 수도 있으며, 결정 유닛은 진동 센서와 커플링될 수도 있으며 그리고 진동 센서에 의해 검출된 진동이 유리 파손 진동과 일치하는지 여부에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 진동 센서는 압전 세라믹을 포함할 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 고정 요소는 고정 요소 상에 배치된 유리를 흡인하기 위한 흡인 컵을 포함할 수도 있으며, 진동 센서는 유리와 부착된 흡인 컵 상의 위치에 배치될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 고정 요소는 흡인 컵을 둘러싸는 밀봉 스트립을 추가로 포함알 수도 있고, 밀봉 스트립은 유리를 지지하도록 구성될 수도 있으며, 진동 센서는 밀봉 스트립 상에 배치될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 진동 센서는 사출 성형 다이의 내부 벽 또는 외부 벽 상에 배치될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 검출 유닛은 음향 센서일 수도 있으며, 결정 유닛은 음향 센서와 커플링될 수도 있으며 그리고 음향 센서에 의해 검출된 사운드가 유리 파손 사운드와 일치하는지 여부에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 사출 성형 다이는 유리의 위에 있는 상부 다이 반부 및 유리의 아래에 있는 하부 다이 반부를 포함하고, 상부 다이 반부와 하부 다이 반부 중의 하나의 다이 반부는 관통구를 갖춘 상태로 구성되며, 음향 센서는 사출 성형 다이의 내부에 배치된 일단부 및 관통구를 통해 배치되어 결정 유닛과 커플링되는 타단부를 갖는다.
몇몇의 실시예에서, 방음 층이 관통구의 단부 내에 충진될 수도 있으며, 단부는 사출 성형 다이의 공동으로부터 이격되어 있다.
몇몇의 실시예에서, 사출 성형 장치는 사출 성형 다이의 외부에 배치되며 그리고 주변 사운드를 검출하도록 구성되는 주변 사운드 검출기를 더 포함하며, 결정 유닛은 음향 센서와 주변 사운드 검출기 양자 모두와 커플링되며 그리고 음향 센서와 주변 사운드 검출기에 의해 검출된 신호들 사이의 차이에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하도록 구성된다.
몇몇의 실시예에서, 검출 유닛은 전기 신호를 출력하도록 구성될 수도 있으며, 결정 유닛은, 검출 유닛과 커플링되며 그리고 전기 신호를 수신하여 수신된 전기 신호에 기초하여 시간 영역 전기 신호를 생성하도록 구성되는 수신기와, 수신기와 커플링되며 그리고 시간 영역 전기 신호를 주파수 영역 전기 신호로 변환시키도록 구성되는 변환기와, 변환기와 커플링되며 그리고 주파수 영역 전기 신호가 유리가 파손될 때 발생된 신호의 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치한다고 결정될 때 경보를 발생시키도록 구성되는 비교기를 포함할 수도 있다.
본 개시내용의 실시예는 다음과 같은 이점을 제공할 수 있다. 유리의 이미지 또는 진동이 검출 유닛에 의해 검출되고, 유리 파손 여부가 검출 유닛의 검출 결과에 기초하여 결정 유닛에 의해 결정된다. 이런 식으로, 사출 성형 다이의 내부에 배치된 유리의 파손 여부가 결정됨으로써, 유리가 파손되었다고 결정될 때 사출 성형 공정이 적시에 종결될 수 있고, 파손된 유리에 의한 사출 성형 다이의 스크래칭 위험이 감소될 수 있고, 사출 성형 다이를 보수하기 위한 시간이 단축될 수 있으며, 사출 성형 다이의 수명이 연장될 수 있다.
또한, 유리의 이미지가 검출되고, 유리 파손 여부가 유리의 이미지에 기초하여 결정된다. 검출 결과를 불 수가 있으며, 그리고 검출 유닛은 비교적 단순하고 유리와의 직접적인 접촉을 필요로 하지 않는데, 이는 유리의 표면에 거의 영향을 미치지 않으며 그리고 또한 사출 성형 수율을 향상시킨다.
도 1은 종래 기술의 차량용 후방 삼각형 윈도우의 개략도이다.
도 2는 본 개시내용의 실시예에 따른 사출 성형 장치의 개략도이다.
도 3은 도 2의 검출 유닛에 의해 획득된 검출 결과에 대한 개략도이다.
도 4는 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치의 개략도이다.
도 5는 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치의 개략도이다.
도 6은 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치의 개략도이다.
도 7은 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치의 개략도이다.
도 8은 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치를 사용하는 사출 성형 방법에 대한 개략적인 흐름도이다.
실시예에서, 유리의 에지의 둘레에 개스킷을 형성하기 위한 사출 성형 장치가 제공된다. 사출 성형 장치는 사출 성형 다이와, 사출 성형 다이의 내부에 배치되며 그리고 유리를 사출 성형 다이의 내부에 고정하도록 구성되는 적어도 하나의 고정 요소와, 사출 성형 다이에 또는 적어도 하나의 고정 요소 상에 장착되며 그리고 유리의 이미지 또는 진동을 검출하도록 구성되는 검출 유닛과, 검출 유닛과 커플링되며 그리고 검출 유닛의 검출 결과에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하도록 구성되는 결정 유닛을 포함한다.
본 개시내용의 실시예에서, 유리의 이미지 또는 진동이 검출 유닛에 의해 검출되며, 유리 파손 여부가 검출 유닛의 검출 결과에 기초하여 결정 유닛에 의해 결정된다. 이런 식으로, 사출 성형 다이의 내부에 배치된 유리의 파손 여부가 결정됨으로써, 유리가 파손되었다고 결정될 때 사출 성형 공정이 적시에 종결될 수 있고, 파손된 유리에 의한 사출 성형 다이의 스크래칭 위험이 감소될 수 있고, 사출 성형 다이를 보수하기 위한 시간이 단축될 수 있으며, 사출 성형 다이의 수명이 연장될 수 있다.
본 개시내용의 상술된 목적, 특징 및 이점은 첨부 도면과 함께 이하의 상세한 설명을 참조하면 보다 잘 이해될 것이다.
도 2는 본 개시내용의 실시예에 따른 사출 성형 장치의 개략도이다. 사출 성형 장치는 사출 성형 다이(101), 복수의 고정 요소(102), 검출 유닛(103), 및 결정 유닛(104)을 포함한다.
사출 성형 다이(101)는 원형 코너를 갖는 직사각형 유리(105)의 에지의 둘레에 개스킷을 형성하도록 구성된다.
복수의 고정 요소(102)가 사출 성형 다이(101)의 내부에 배치된다. 몇몇의 실시예에서, 고정 요소(102)는 유리(105)가 사출 성형 다이(101)의 내부에 고정되도록 유리(105)를 흡인 및 지지하기 위한 흡인 컵일 수도 있다. 도 2에서, 고정 요소(102)는 유리(105)를 균등하게 흡인 및 고정하기 위한 4개의 흡인 컵을 포함한다.
검출 유닛(103)은 유리(105)의 진동을 검출하도록 구성된다. 몇몇의 실시예에서, 검출 유닛(103)은 진동 센서일 수도 있으며 그리고 유리(105)의 진동을 전기 신호로 변환시키도록 구성될 수도 있다. 전기 신호는 유리(105)의 진동의 진폭 및 주파수에 대응하는 진폭 및 주파수를 갖는다. 몇몇의 실시예에서, 유리(105)가 파손될 때 발생된 진동은 특정한 진폭 및 주파수를 갖는다. 따라서, 진동 센서는 유리(105)가 파손될 때 발생된 진동을 특징 주파수 및 특징 진폭을 갖는 전기 신호로 변환시키도록 구성된다.
도 3은 도 2의 검출 유닛(103)에 의해 획득된 검출 결과에 대한 개략도이다. 도 3에서, 수평 좌표는 검출 유닛(103)에 의해 획득된 전기 신호의 주파수이며, 수직 좌표는 전기 신호의 대응하는 진폭이다. 전기 신호는 사출 성형 다이 폐쇄 진동에 대응하는 전기 신호(01)와, 사출 성형 장치의 진동에 대응하는 전기 신호(02)와, 유리 파손 진동에 대응하는 (점선 박스로 도시된) 전기 신호(03)를 포함한다. 전기 신호(03)는 전기 신호(01)의 주파수와 진폭 및 전기 신호(02)의 주파수와 진폭과 상이한 주파수와 진폭을 갖는다.
몇몇의 실시예에서, 진동 센서는 PbZrxTi1 - xO3과 같은 압전 세라믹을 포함할 수도 있다. 압전 세라믹은 유리의 진동을 검출하는데 도움이 되는 높은 민감도를 가지며 비교적 저렴하다. 몇몇의 실시예에서, 진동 센서는 진동을 또한 검출할 수 있는 결정질과 같은 다른 재료를 포함할 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 검출 유닛(103)은 유리(105)가 몇 번 파손되었는지에 관한 정보를 획득하기 위해 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정에서 유리(105)의 진동을 반복적으로 검출하도록 구성되는데, 이는 유리 파손에 의한 사출 성형 다이의 스크래칭 위험을 또한 감소시킬 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 검출 유닛(103)은 고정 주파수에서 유리(105)의 진동을 검출하도록 구성될 수도 있다. 고정 주파수는 너무 높거나 너무 낮을 수는 없다. 고정 주파수가 너무 낮은 경우, 유리 파손 여부가 적시에 검출될 수가 없는데, 이는 사출 성형 다이의 스크래치를 유발시킬 수도 있다. 고정 주파수가 너무 높은 경우, 검출 유닛(103)의 제조 비용이 상대적으로 높아지며 그리고 주파수 검출에 의해 획득된 정보가 너무 많음으로 인해 결정 유닛(104)에 대한 요건이 너무 엄격해질 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 고정 주파수는 20㎐ 내지 20㎑의 범위 내에 있을 수도 있다. 예컨대, 검출 유닛(103)은 20㎐, 10㎑ 또는 20㎑의 주파수에서 유리(105)의 진동을 검출하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 사출 성형 다이는 검출 유닛(103)과 커플링된 제어기, 예컨대 컴퓨터를 포함할 수도 있다. 제어기는 사출 성형 다이(101)의 폐쇄를 제어하도록 구성될 수도 있으며, 그리고 사출 성형 다이(101)의 폐쇄 동안 검출을 수행하기 위해 검출 유닛(103)을 반복적으로 작동시키도록(예컨대, 작동 신호를 이용하여 작동시키도록) 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 제어기는 또한 사출 성형 공정의 절차를 제어하도록 구성될 수도 있으며, 그리고 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정에서 각각 검출을 수행하도록 검출 유닛(103)을 반복적으로 작동시키도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 진동 센서는 고정 요소(102) 상에 배치될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 진동 센서는 진동 센서가 유리(105)와 밀접하게 접촉될 수도 있도록 그리고 유리(105)가 진동할 때 유리(105)의 진동을 정확히 검출할 수 있도록 유리(105)와 부착된 흡인 컵 상의 위치에 배치될 수도 있다. 또한, 진동 센서는 유리(105)가 진동할 때 느슨해지지 않을 수도 있다.
도 2를 참조하면, 압전 세라믹은 흡인 컵의 크기의 절반보다 작은 크기를 가질 수도 있으며 그리고 흡인 컵의 에지 구역 상에 배치될 수도 있다. 흡인 컵의 중앙 구역과 유리(105) 사이에 공동이 존재함으로써, 유리(105)가 공동의 소기에 의해 흡인 컵에 흡착될 수 있다. 흡인 컵의 에지 구역은 유리(105)와 가장 밀접하게 접촉되는 구역일 수도 있다. 따라서, 압전 세라믹을 흡인 컵의 에지 구역 상에 배치함으로써, 진동 센서는 유리(105)와 밀접하게 부착될 수도 있다.
결정 유닛(104)은 진동 센서와 커플링될 수도 있으며 그리고 진동 센서에 의해 검출된 진동이 유리 파손 진동과 일치하는지 여부에 기초하여 유리(105) 파손 여부를 결정하도록 구성될 수도 있다.
유리(105)가 파손될 때 발생된 진동에 대응하는 전기 신호의 특징 주파수 및 특징 진폭은 결정 유닛(104)에 사전에 저장된다. 결정 유닛(104)은 진동 센서에 의해 발생된 전기 신호가 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치할 때 유리(105)가 파손되었다고 결정하도록 구성될 수도 있다.
도 3을 참조하면, 전기 신호(03)는 전기 신호(01)의 주파수와 진폭 및 전기 신호(02)의 주파수와 진폭과 상이한 주파수와 진폭을 갖는다. 이 점에 기초하여, 결정 유닛(104)은 전기 신호(03)에 대응하는 특징 주파수 및 특징 진폭을 사전에 저장한다. 검출 유닛(103)에 의해 획득된 전기 신호가 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치할 때, 결정 유닛(104)은 유리(105)가 파손되었다고 결정한다.
도 2를 참조하면, 결정 유닛(104)은, 진동 센서와 커플링되며 그리고 진동 센서에 의해 발생된 전기 신호를 수신하여 수신된 전기 신호에 기초하여 시간 영역 전기 신호를 생성하도록 구성되는 수신기(1041)와, 수신기(1041)와 커플링되며 그리고 시간 영역 전기 신호를 주파수 영역 전기 신호로 변환시키도록 구성되는 변환기(1042)와, 변환기(1042)와 커플링되며 그리고 주파수 영역 전기 신호가 유리(105)가 파손될 때 발생된 진동의 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치한다고 결정될 때 유리(105)가 파손되었다고 결정하도록 구성되는 비교기(1043)를 포함한다.
몇몇의 실시예에서, 변환기(1042)는 시간 영역 전기 신호를 주파수 영역 전기 신호로 변환시킬 수 있는 푸리에 변환 변환기일 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 비교기(1043)는 유리(105)가 파손되었다고 결정될 때 적시에 경고하기 위해 경보를 발생시키도록 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 비교기(1043)는 경보 벨과 커플링될 수도 있으며 그리고 유리(105)가 파손되었을 때 경보 벨이 사운드 경보를 발생시킬 수 있게 경보 신호를 경보 벨에 송신하도록 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 비교기(1043)는 경보 램프와 커플링될 수도 있으며 그리고 유리(105)가 파손되었을 때 경보 램프가 광 경보를 발생시킬 수 있게 경보 신호를 경보 램프에 송신하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 수신기(1041), 변환기(1042), 및 비교기(1043)는 함께 통합될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 결정 유닛(104)은 오실로스코프 또는 컴퓨터일 수도 있으며, 그리고 수신기(1041), 변환기(1042), 및 비교기(1043)는 오실로스코프 또는 컴퓨터에 통합될 수도 있다.
도 4는 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치의 개략도이다. 도 2와 유사한 구조체들은 이 실시예에선 상세히 기술되지 않는다. 도 4의 사출 성형 장치와 도 2의 사출 성형 장치의 차이점이 다음과 같이 기술된다.
고정 요소는 흡인 컵(202)뿐만 아니라 적어도 하나의 밀봉 스트립(205)을 포함한다. 적어도 하나의 밀봉 스트립(205)은 사출 성형 다이(201)의 내부에 그리고 흡인 컵(202)의 둘레에 배치될 수도 있으며 그리고 (도 4에는 도시 안 된) 유리를 지지하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 진동 센서(203)는 밀봉 스트립(205) 상에 배치될 수도 있다. 유리가 사출 성형 다이(201)의 내부에 배치될 때, 밀봉 스트립(205)은 유리를 지지하도록 유리와 접촉될 수도 있다. 밀봉 스트립(205) 상에 배치될 때, 진동 센서(203)는 유리가 파손될 때 발생된 진동에 대응하는 전기 신호를 획득하기 위해 유리의 진동을 검출할 수 있다.
몇몇의 실시예에서, 결정 유닛(204)은 유리 파손 여부를 추가적으로 검출하기 위해 진동 센서(203)에 의해 실시간으로 획득된 전기 신호를 표시하도록 구성되는 오실로스코프일 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 오실로스코프는 또한 진동 센서(203)에 의해 획득된 전기 신호가 유리가 파손될 때 발생된 진동의 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치한다고 결정될 때 경보를 발생시키도록 구성될 수도 있다.
진동 센서의 상세 위치는 본 개시내용의 실시예에 제한되지 않는다는 것을 알아야 한다. 진동 센서는 유리의 진동에 대한 검출이 수행될 수 있는 위치에 배치되어야 한다. 몇몇의 실시예에서, 진동 센서는 사출 성형 다이의 내측부 또는 외측부 상에 배치될 수도 있다.
도 5는 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치의 개략도이다. 도 2와 유시한 구조체들은 이 실시예에선 상세히 기술되지 않는다. 도 5의 사출 성형 장치와 도 2의 사출 성형 장치의 차이점은 유리 파손 여부를 결정하기 위해 유리(305)의 이미지를 검출하는 것을 포함한다는 점이다. 상세한 차이점이 다음과 같이 기술된다.
도 5에서, 검출 유닛은, 사출 성형 다이(301) 내에 배치되며 그리고 유리(305)를 조명하도록 구성되는 광원(302)과, 광원(302)에 의해 조명된 유리(305)의 이미지를 획득하도록 구성되는 이미지 센서(303)를 포함하며, 결정 유닛(306)은 유리(305)의 이미지에 기초하여 유리(305) 파손 여부를 결정하기 위해 이미지 센서(303)와 커플링된다.
사출 성형 다이(301)는 유리(305)의 위에 있는 상부 다이 반부(3011)와, 유리(305)의 아래에 있는 하부 다이 반부(3012)를 포함하며, 상부 다이 반부(3011)는 관통구(304)를 갖춘 상태로 구성된다.
광원(302)과 이미지 센서(303)는 사출 성형 다이(301)의 내부에 장착될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 광원(302)은 사출 성형 다이(301)의 공동을 향하는 상부 다이 반부(3011)의 내부 벽 상에 배치된다. 이미지 센서(303)는 상부 다이 반부(3011)의 관통구(304)의 내부에 배치된 일단부와, 관통구(304)를 통해 배치되어 결정 유닛(306)과 커플링된 타단부를 갖는다. 광원(302)에 의해 조사된 광은 유리(305)의 표면을 조명하며 그리고 유리(305)에 의해 반사된다. 이미지 센서(303)는 반사된 광을 수신하여 반사된 광에 기초하여 유리(305)의 이미지를 생성하도록 구성될 수도 있다.
유리(305)가 완성되면, 광원(302)에 의해 조사된 광의 대부분은 유리(305)를 관통할 수 있어서 반사가 거의 유발되지 않는다. 따라서, 이미지 센서(303)에 의해 획득된 유리(305)의 이미지는 비교적 낮은 휘도를 갖는다. 유리(305)가 파손된 경우, 광원(302)에 의해 조사된 광은 파손된 유리(305)의 크랙에 의해 반사될 수도 있다. 따라서, 이미지 센서(303)는 크랙의 반사광에 의해 형성되는 밝은 스트립을 내포하는 이미지를 획득할 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 이미지 센서(303)는 유리(305) 파손 여부를 검출하기 위해 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정 각각에서 광원(302)의 반사된 광 또는 전송된 광에 의해 조명된 유리(305)의 이미지를 반복적으로 획득하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 검출 유닛(306)은 유리(305)의 현재 이미지와 유리(305)의 이전 이미지를 비교함으로써 유리(305) 파손 여부를 결정하도록 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 검출 유닛(306)은 이미지 센서(303)에 의해 획득된 유리(305)의 이미지의 휘도가 유리(305)가 파손될 때 획득된 유리(305)의 이미지의 휘도와 일치하는지 여부를 결정함으로써 유리(305) 파손 여부를 결정하도록 구성될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 광원(302)은 LED일 수도 있고, 이미지 센서는 카메라(예컨대, 미니 카메라)일 수도 있으며, 결정 유닛(306)은 컴퓨터일 수도 있다.
상기 실시예에서, 관통구(304)는 상부 다이 반부(3011) 내에 배치되고, 광원(302)은 사출 성형 다이(301)의 공동을 향하는 상부 다이 반부(3011)의 내부 벽 상에 배치되며, 이미지 센서(303)는 관통구(304)의 내부에 배치된 일단부를 갖는다. 그러나 몇몇의 실시예에서, 관통구는 하부 다이 반부(3012) 내에 배치될 수도 있고, 광원(302)은 사출 성형 다이(301)의 공동을 향하는 하부 다이 반부(3012)의 내부 벽 상에 배치될 수도 있으며, 이미지 센서(303)는 하부 다이 반부(3012)의 관통구의 내부에 배치된 일단부를 가지며 그리고 광원(302)에 의해 조사된 광과 유리(305)에 의해 반사된 광에 기초하여 유리(305)의 이미지를 획득하도록 구성된다.
도 5를 여전히 참조하면, 몇몇의 실시예에서 광원(302)과 이미지 센서(303)는 유리(305)의 상이한 측부 상에 배치될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 광원(302)은 사출 성형 다이(301)의 공동을 향하는 하부 다이 반부(3012)의 내부 벽 상에 배치될 수도 있으며, 이미지 센서(303)는 상부 다이 반부(3011)의 관통구(304)의 내부에 배치된 일단부를 가지며 그리고 광원(302)에 의해 조사된 광과 유리(305)를 관통하는 광에 기초하여 유리(305)의 이미지를 획득하도록 구성될 수도 있다.
유리(305)가 완성되면, 광원(302)에 의해 조사된 광의 대부분은 유리(305)를 관통할 수 있어서 반사가 거의 유발되지 않는다. 따라서, 이미지 센서(303)에 의해 획득된 유리(305)의 이미지는 비교적 높은 휘도를 갖는다. 유리(305)가 파손된 경우, 광원(302)에 의해 조사된 광은 파손된 유리(305)의 크랙에 의해 반사되어 유리(305)를 관통하지 않을 수도 있다. 따라서, 이미지 센서(303)는 어두운 스트립을 내포하는 이미지를 획득할 수도 있는데, 이 어두운 스트립은 크랙에 의해 야기된 광 전송의 실패로 인해 형성된다.
몇몇의 실시예에서, 하부 다이 반부(3012)는 관통구를 갖춘 상태로 구성될 수도 있고, 광원(302)은 사출 성형 다이(301)의 공동을 향하는 상부 다이 반부(3011)의 내부 벽 상에 배치될 수도 있으며, 이미지 센서(303)는 하부 다이 반부(3012)의 관통구의 내부에 배치되며 그리고 광원(302)에 의해 조사된 광과 유리(305)를 관통하는 광에 기초하여 유리(305)의 이미지를 획득하도록 구성될 수도 있다.
도 5에 도시된 실시예에서, 유리(305)의 이미지가 검출되고, 유리(305) 파손 여부가 검출된 이미지에 기초하여 결정된다. 검출 결과를 불 수가 있으며, 그리고 검출 유닛[예컨대, 이미지 센서(303)]은 비교적 단순하고 유리와의 직접적인 접촉을 필요로 하지 않는데, 이는 유리(305)의 표면에 거의 영향을 미치지 않는다.
도 6은 본 개시내용의 실시예에 따른 사출 성형 장치의 개략도이다. 도 5와 상이한 점은 사출 성형 다이(401)의 내부 벽 상에 배치되며 관통구(403)의 둘레에 균등하게 분포된 복수의 광원(402)이 존재한다는 점이다.
상기 방식으로 배치된 복수의 광원(402)은 관통구(403) 내의 이미지 센서(404)가 균등한 휘도를 갖는 유리의 이미지를 획득할 수 있도록 유리를 균등하게 조사하는데, 이는 결정 유닛이 이미지에 기초하여 유리 파손을 보다 정확하게 결정하는 것을 가능케 한다.
도 7은 본 개시내용의 실시예에 따른 사출 성형 장치의 개략도이다. 도 2에 도시된 실시예와 유사하게, 유리(505) 파손 여부는 유리(505)의 진동의 검출에 기초하여 결정된다. 도 7에서, 유리(505) 파손 여부는 또한 유리(505)의 진동에 의해 발생된 사운드의 검출에 기초하여 결정된다.
몇몇의 실시예에서, 사출 성형 장치의 검출 유닛은 검출된 사운드를 전기 신호로 변환시키도록 구성되는 음향 센서(503)이다. 몇몇의 실시예에서, 음향 센서(503)는 사출 성형 다이(501) 내에 장착될 수도 있다.
음향 센서(503)는 사출 성형 다이(501) 내의 다양한 사운드를 검출하여 검출된 사운드를 전기 신호로 변환시키도록 구성될 수도 있다. 유리(505)가 파손될 때 발생된 사운드는 특정 주파수 및 특정 진폭을 갖는다. 음향 센서(503)는 유리(505)가 파손될 때 발생된 진동을 특징 주파수 및 특징 진폭을 갖는 전기 신호로 변환시킬 수 있다.
결정 유닛(507)은 음향 센서(503)와 커플링될 수도 있으며 그리고 음향 센서(503)에 의해 검출된 사운드가 유리 파손 사운드와 일치하는지 여부에 기초하여 유리(505) 파손 여부를 결정하도록 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 유리(505)가 파손될 때 발생된 사운드에 대응하는 전기 신호의 특징 주파수 및 특징 진폭은 결정 유닛(507)에 사전에 저장될 수도 있다. 결정 유닛(507)은 음향 센서(503)에 의해 발생된 전기 신호가 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치할 때 유리(505)가 파손되었다고 결정하도록 구성될 수도 있다.
도 7을 참조하면, 사출 성형 다이(501)는 유리(505)의 위에 있는 상부 다이 반부(5011) 및 유리(505)의 아래에 있는 하부 다이 반부(5012)를 포함하는데, 상부 다이 반부(5011)는 관통구(504)를 갖춘 상태로 구성된다. 음향 센서(503)는 사출 성형 다이(501)의 내부에 배치된 일단부와, 관통구(504)를 통해 배치되어 결정 유닛(507)과 커플링된 타단부를 갖는다.
몇몇의 실시예에서, 결정 유닛(507)은, 음향 센서(503)와 커플링되며 그리고 음향 센서(503)에 의해 발생된 전기 신호를 수신하여 수신된 전기 신호에 기초하여 시간 영역 전기 신호를 생성하도록 구성되는 (도시 안 된) 수신기와, 수신기와 커플링되며 그리고 시간 영역 전기 신호를 주파수 영역 전기 신호로 변환시키도록 구성되는 (도시 안 된) 변환기와, 변환기와 커플링되며 그리고 주파수 영역 전기 신호가 유리(505)가 파손될 때 발생된 사운드의 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치한다고 결정될 때 유리(505)가 파손되었다고 결정하도록 구성되는 (도시 안 된) 비교기를 포함할 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 변환기는 시간 영역 전기 신호를 주파수 영역 전기 신호로 변환시킬 수 있는 푸리에 변환 변환기일 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 비교기는 유리(505)가 파손되었다고 결정될 때 경보를 발생시키도록 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 비교기는 경보 벨과 커플링될 수도 있으며 그리고 유리(505)가 파손되었을 때 경보 벨이 사운드 경보를 발생시킬 수 있게 경보 신호를 경보 벨에 송신하도록 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 비교기는 경보 램프와 커플링될 수도 있으며 그리고 유리(505)가 파손되었을 때 경보 램프가 광 경보를 발생시킬 수 있게 경보 신호를 경보 램프에 송신하도록 구성될 수도 있다.
도 7에 도시된 바와 같이, 수신기, 변환기 및 비교기는 컴퓨터에 통합될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 수신기, 변환기 및 비교기는 컴퓨터에 통합 안 될 수도 있다.
도 7을 참조하면, 방음 층(502)이 관통구(504)의 단부 내에 충진될 수도 있는데, 이 단부는 사출 성형 다이(501)의 공동으로부터 이격되어 있다. 방음 층(502)은 음향 센서(503)가 사출 성형 다이(501) 내의 사운드를 주로 검출하도록 사출 성형 다이(501) 내의 음향 센서(503)를 밀봉하도록 구성되는데, 이는 유리(505)의 진동에 의해 발생된 사운드의 보다 정확한 검출을 가능케 하며 또한 유리 파손에 대한 검출 정확도를 향상시킨다. 본 개시내용의 실시예에서, 음향 센서(303)를 밀봉하는 방법은 제한되지 않는다. 몇몇의 실시예에서, 음향 센서(303)는 다른 방식으로 사출 성형 다이(501) 내에 밀봉될 수도 있다.
도 7을 참조하면, 몇몇의 실시예에서 사출 성형 장치는 사출 성형 다이(501)의 외부에 배치되어 주변 사운드를 검출하도록 구성되는 주변 사운드 검출기(506)를 추가로 포함하며, 결정 유닛(507)은 음향 센서(503)와 주변 사운드 검출기(506) 양자 모두와 커플링되고 그리고 음향 센서(503)와 주변 사운드 검출기(506)에 의해 검출된 신호들 사이의 차이에 기초하여 유리(505) 파손 여부를 결정하도록 구성된다.
음향 센서(503)는 사출 성형 다이(501) 내의 사운드뿐만 아니라 사출 성형 다이(501) 외부의 주변 사운드도 검출할 수 있다. 주변 사운드가 유리 파손에 대한 검출에 미치는 영향을 배제하기 위해, 결정 유닛(507)은 주변 사운드 검출기(506)에 의해 검출된 주변 사운드에 기초하여 주변 사운드를 제거하도록 구성될 수도 있다. 몇몇의 실시예에서, 주변 사운드 검출기(506)에 의해 검출된 주변 사운드는 비교적 큰 세기를 갖지만, 음향 센서(503)에 의해 검출된 주변 사운드는 비교적 작은 세기를 갖는다. 결정 유닛(507)은, 주변 사운드 검출기(506)에 의해 검출된 주변 사운드에 대응하는 전기 신호를 감소시키도록, 음향 센서(503)에 의해 검출된 주변 사운드에 대응하는 전기 신호에서 감소된 전기 신호를 차감하여 차감된 전기 신호를 달성하도록, 그리고 차감된 전기 신호에 기초하여 유리(505) 파손 여부를 결정하도록 구성된다. 이런 식으로, 결정 정확도가 향상될 수도 있다.
도 7을 참조하면, 몇몇의 실시예에서 필터(508)가 음향 센서(503)[또는 음향 센서(503) 및 주변 사운드 검출기(506)]와 결정 유닛(507) 사이에 배치될 수도 있다. 필터(508)는 유리 파손 사운드의 특징 주파수를 갖는 잡음을 제외한 대부분의 잡음을 필터링하도록 구성되는데, 이는 또한 유리 파손에 대한 결정 정확도를 향상시킬 수도 있다.
도 8은 본 개시내용의 실시예에 다른 사출 성형 장치를 사용하는 사출 성형 방법에 대한 개략적인 흐름도이다. 본 발명의 방법은 유리의 에지의 둘레에 개스킷을 형성하는데 이용되며 그리고 S1, S2, S3 및 S4를 포함한다.
S1에서, 사출 성형 다이가 제공된다.
S2에서, 유리가 사출 성형 다이의 내부에 고정된다.
S3에서, 유리의 이미지 또는 진동이 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정에서 검출된다.
S4에서, 유리 파손 여부가 S3에서의 검출 결과에 기초하여 결정된다.
유리의 이미지 또는 진동이 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정에서 검출됨으로써, 유리 파손 여부가 검출 결과에 기초하여 결정될 수 있다. 이런 식으로, 사출 성형 다이의 내부에 배치된 유리의 파손 여부가 결정됨으로써, 유리가 파손되었다고 결정될 때 사출 성형 공정이 종결될 수도 있으며 그리고 파손된 유리에 의한 사출 성형 다이의 스크래칭 위험이 감소될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, 유리의 이미지 또는 진동은 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정에서 반복적으로 검출될 수도 있다. 반복적인 검출에 기초하여, 유리 파손 여부에 관한 정보가 여러 번 획득될 수 있으며 그리고 유리 파손 여부가 적시에 결정될 수도 있다. 이런 식으로, 유리 파손에 의한 사출 성형 다이의 스크래칭 위험이 또한 감소될 수도 있고, 사출 성형 다이를 보수하기 위한 시간이 단축될 수도 있으며, 사출 성형 다이의 수명이 연장될 수도 있다.
본 명세서의 이후에서, S1, S2, S3 및 S4가 본 개시내용의 실시예와 함께 상세히 추가적으로 기술된다.
도 5를 참조하면, S1에서 상부 다이 반부(3011) 및 하부 다이 반부(3012)를 포함하는 사출 성형 다이(301)가 제공된다.
S2에서, 유리(305)가 사출 성형 다이(301)의 내부에 고정된다. 몇몇의 실시예에서, 유리(305)는 상부 다이 반부(3011)와 하부 다이 반부(3012) 사이에 고정된다.
S3에서, 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정에서 유리(305)의 이미지를 검출하는 단계는, 광원(302)으로 유리(305)를 조사하는 단계와, 광원(302)의 반사된 광 또는 전송된 광에 의해 조명된 유리(305)의 이미지를 반복적으로 획득하는 단계를 포함할 수도 있다.
S4에서, 검출 결과에 기초하여 유리(305) 파손 여부를 결정하는 단계는, 유리(305)의 현재 이미지와 유리(305)의 이전 이미지를 비교함으로써 유리(305) 파손 여부를 결정하는 단계를 포함할 수도 있다.
상기 실시예에서, 유리(305)의 이미지가 검출되며 그리고 유리(305) 파손 여부가 검출된 이미지에 기초하여 결정된다.
대신에 몇몇의 실시예에선, 유리의 진동이 검출되며 그리고 유리 파손 여부가 검출된 진동에 기초하여 결정될 수도 있다.
몇몇의 실시예에서, S3에서 (도 2에 도시된 바와 같은) 유리의 진동 또는 (도 7에 도시된 바와 같은) 유리의 진동에 의해 발생된 사운드가 다이 폐쇄 공정, 사출 성형 공정 및 다이 개방 공정에서 검출된다.
따라서, S4에서 유리 파손 여부가 S3에서의 검출 결과에 기초하여 결정된다. 구체적으로는, 유리의 진동에 의해 발생된 유리 또는 사운드의 진동이 시간 영역 전기 신호로 변환되고, 시간 영역 전기 신호가 주파수 영역 전기 신호로 변환되며, 그리고 주파수 영역 전기 신호가 유리가 파손될 때 발생된 사운드의 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치한다고 결정될 때 경보가 발생된다.
도 7을 참조하면, 몇몇의 실시예에서 유리의 진동에 의해 발생된 사운드를 검출하는 단계는, 사출 성형 다이(501)의 내부에서뿐만 아니라 사출 성형 다이(501)의 외부에서도 사운드를 검출하는 단계를 포함할 수도 있다. 검출 결과에 기초하여 유리(505) 파손 여부를 결정하는 단계는, 사출 성형 다이(501)의 내부의 사운드와 사출 성형 다이(501)의 외부의 사운드를 비교함으로써 유리(505) 파손 여부를 결정하는 단계를 포함할 수도 있다. 따라서, 사출 성형 다이(501)의 외부의 주변 사운드가 유리(505)에 미치는 영향이 감소될 수도 있으며, 유리 파손에 대한 검출 정확도가 향상될 수도 있다.
본 개시내용은 본 개시내용의 바람직한 실시예를 참조하여 상술되었지만, 본 개시내용은 예로서만 제공될 뿐 제한적인 것이 아님을 알아야 한다. 통상의 기술자들은 본 개시내용의 범주 및 기술사상을 벗어나지 않고 본 발명의 실시예를 변형 및 변경시킬 수 있다. 따라서, 본 개시내용의 보호 범주는 청구범위에 의해 규정된 범주에 따라 결정된다.

Claims (18)

  1. 유리의 에지의 둘레에 개스킷을 형성하기 위한 사출 성형 장치로서,
    사출 성형 다이와,
    상기 사출 성형 다이의 내부에 배치되며 그리고 유리를 사출 성형 다이의 내부에 고정하도록 구성되는 적어도 하나의 고정 요소와,
    상기 사출 성형 다이에 장착되며 그리고 검출된 사운드를 전기 신호로 변환하도록 구성되는 음향 센서, 및
    상기 음향 센서와 커플링되며 상기 전기 신호를 주파수 영역 전기 신호로 변환시키도록 구성되고, 그리고 상기 주파수 영역 전기 신호가 유리가 파손될 때 생성되는 신호의 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치하는지 여부에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하는 결정 유닛을 포함하는 사출 성형 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 사출 성형 다이는 유리의 위에 있는 상부 다이 반부 및 유리의 아래에 있는 하부 다이 반부를 포함하고,
    상기 상부 다이 반부와 하부 다이 반부 중의 하나의 다이 반부는 관통구를 갖춘 상태로 구성되며,
    상기 음향 센서는 사출 성형 다이의 내부에 배치된 일단부와, 관통구를 통해 배치되어 결정 유닛과 커플링되는 타단부를 갖는 사출 성형 장치.
  3. 제2항에 있어서, 방음 층이 관통구의 단부 내에 충진되며, 상기 단부는 사출 성형 다이의 공동으로부터 이격되어 있는 사출 성형 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 사출 성형 다이의 외부에 배치되며 그리고 주변 사운드를 검출하도록 구성되는 주변 사운드 검출기를 더 포함하며,
    상기 결정 유닛은 음향 센서와 주변 사운드 검출기 양자 모두와 커플링되며 그리고 음향 센서와 주변 사운드 검출기에 의해 검출된 신호들 사이의 차이에 기초하여 유리 파손 여부를 결정하도록 구성되는 사출 성형 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 결정 유닛은,
    음향 센서와 커플링되며 그리고 전기 신호를 수신하여 수신된 전기 신호에 기초하여 시간 영역 전기 신호를 생성하도록 구성되는 수신기와,
    수신기와 커플링되며 그리고 시간 영역 전기 신호를 주파수 영역 전기 신호로 변환시키도록 구성되는 변환기, 및
    변환기와 커플링되며 그리고 주파수 영역 전기 신호가 유리가 파손될 때 발생되는 신호의 특징 주파수 및 특징 진폭과 일치한다고 결정될 때 경보를 발생시키도록 구성되는 비교기를 포함하는 사출 성형 장치.
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