KR101659322B1 - Sockets for memory testing device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 메모리 테스트용 소켓장치에 관한 것으로, 래치의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 함으로써 하나의 메모리 테스트 소켓을 통해 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리 테스트가 가능하도록 함에 그 목적이 있다. 이를 위해 구성되는 본 발명은 상용 소켓보드 상에 실장된 하나 이상의 메모리 소켓이 상부측으로 삽입 노출되도록 소켓 노출공이 다수 형성되어 상용 소켓보드 상부측에 설치 고정되는 베이스 플레이트; 소켓 노출공의 길이 방향 양측 각각에 대향 설치되어지되 대향면 상에는 상하로 가이드홈이 형성된 한 쌍의 지지부라켓; 지지부라켓 각각의 가이드홈 상에 상하 이동 가능하게 설치되어지되 대향면에는 메모리가 장착되는 슬롯이 하나 이상 형성된 이젝터 겸용 소켓; 지지브라켓 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 내외로 회전을 통해 이젝터 겸용 소켓을 하강 또는 상승시키는 한 쌍의 승강용 래치; 승강용 래치의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓을 상향으로 이동시켜 메모리를 이젝트시키는 메모리 이젝트수단; 승강용 래치 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 메모리를 상용 소켓보드의 메모리 소켓으로 가압하는 한 쌍의 가압용 래치; 가압용 래치의 대향면 각각에 설치되어 메모리의 양측 상단을 가압하는 하나 이상의 메모리 가압부재; 가압용 래치의 내외 회전시 회전을 가이드하는 회전 가이드수단; 및 한 쌍의 승강용 래치를 연결하여 내외로 회전시 동시에 자동되도록 하는 작동링크의 구성으로 이루어진다.The present invention relates to a socket test apparatus for a memory test, in which a latch structure is constituted by a double-turn structure, so that a memory test socket can be accommodated by accommodating and pressing various types of memories having the same length but different vertical lengths. So that various types of memory tests having different vertical lengths can be performed. The present invention configured for this purpose comprises a base plate having a plurality of socket exposure holes formed therein and fixed to the upper side of a commercial socket board so that at least one memory socket mounted on a commercial socket board is inserted and exposed to the upper side; A pair of support racks opposed to each of both longitudinal sides of the socket exposure hole and having guide grooves formed on the opposite sides thereof in the vertical direction; An ejector socket having one or more slots on the opposite sides of which are mounted a memory, the socket being vertically movable on a guide groove of each support racket; A pair of lifting and lowering latches provided inside and outside the support bracket so as to be rotatable inwardly and outwardly to rotate the lifting and lowering socket up and down; Memory ejecting means for ejecting the memory by moving the ejector-operated socket upwardly when the lifting latch is rotated outward; A pair of latching lugs rotatably installed inside and outside each of the lifting latches to press the memory into the memory socket of the commercial socket board; At least one memory pressing member provided on each of opposite sides of the pressure latch to press both upper ends of the memory; Rotation guiding means for guiding rotation when the pressure latch is rotated inward and outward; And a pair of lifting / lowering latches connected to each other so that the lifting / lowering latches are simultaneously automatically rotated inward / outward.
Description
본 발명은 메모리 테스트용 소켓장치에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 상용화된 소켓보드의 메모리 소켓 상부측으로 설치되어 메모리의 불량여부를 테스트하기 위한 메모리 테스트 소켓에 장착되는 메모리의 상하 사이즈에 관계없이 메모리 테스트 소켓에 메모리의 장착이 가능하도록 한 메모리 테스트용 소켓장치에 관한 것이다.More particularly, the present invention relates to a socket test apparatus for a memory test, and more particularly, to a socket test apparatus for testing a memory, which is installed above a memory socket of a commercially available socket board, To a memory test socket device capable of mounting a memory in a socket.
일반적으로, 퍼스널 컴퓨터는 중앙처리장치(CPU)의 발전에 따라 그 성능이 비약적으로 향상되고 있으며, 더 빠르고 성능이 우수한 컴퓨터를 개발하기 위한 경쟁은 끊임없이 이어지고 있어 슈퍼컴퓨터, 병렬처리 컴퓨터 및 RISC(Reduced Instruction Set Computer) 등의 개발이 이루어졌다. 물론, 지금도 컴퓨터의 성능을 향상시키기 위한 노력은 계속되고 있다.In general, the performance of a personal computer has been dramatically improved with the development of a central processing unit (CPU), and competition for developing a faster and more superior computer has been continuously continued. Therefore, a supercomputer, a parallel processing computer, and a RISC Instruction Set Computer) have been developed. Of course, there are still efforts to improve the performance of computers.
전술한 바와 같이 더 빠르고 성능이 우수한 컴퓨터를 개발하기 위한 경쟁은 더 많은 데이터를 고속으로 처리할 수 있는 CPU와 고집적·고용량·고속도화된 메모리 칩의 개발에 초점이 맞추어져 그 개발 경쟁이 가속화되고 있다. 특히, 이러한 CPU의 개발 속도에 맞추어 고집적·고용량·고속도화된 메모리 역시 개발 경쟁이 가속화되고 있다.As described above, competition for developing faster and better-performing computers is focused on the development of CPUs capable of processing more data at high speed and memory chips with high density, high capacity, and high speed, have. In particular, high-density, high-capacity, and high-speed memories have been accelerating development competition in line with the development speed of such CPUs.
한편, 전술한 바와 같이 고집적·고용량·고속도화된 메모리의 불량률을 테스트하기 위한 종래의 기술로는 메모리 소켓이 실장된 소켓보드에 메모리 테스트 장치를 고정시킨 다음 소켓보드에 실장된 메모리 소켓과 메모리의 전기적인 접촉을 통해 전기적인 접속여부를 확인할 수 있도록 함으로써 테스트할 대상물인 메모리의 불량여부를 테스트하는 방법이 제공되고 있다.Meanwhile, as a conventional technique for testing the defective rate of a highly integrated, high-capacity, high-speed memory as described above, a memory test apparatus is fixed to a socket board on which a memory socket is mounted, There is provided a method of testing whether or not a memory, which is an object to be tested, is defective by making it possible to check whether electrical connection is made through electrical contact.
전술한 메모리의 종류로는 크게 DDR1, DDR2, DDR3 로 나누어 진다. 이때, DDR은 Double Data Rate의 약자로, 원래의 이름은 DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Acess Memory)이다. 이름 그대로 한 번의 클럭(1Hz)에 데이터를 주고 받을 수 있어서 더블이라는 이름이 붙었다. 이전에 사용하던 SDR(Single Data Rate)에서는 한 번의 클럭에 신호를 주거나 또는 받거나 둘 중 하나 밖에 못했다. DDR 메모리들은 클럭에 따라 표 1 과 같이 나눌 수 있다.The types of memory described above are largely divided into DDR1, DDR2, and DDR3. In this case, DDR stands for Double Data Rate, and the original name is DDR SDRAM (Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory). As the name implies, you can send and receive data at a single clock (1 Hz). Previously, the single data rate (SDR) used to signal or receive only one clock. DDR memories can be divided as shown in Table 1 according to the clock.
PC-3200 (400MHz), PC-4200 (533MHz) PC-1600 (200 MHz), PC-2100 (266 MHz), PC-2700 (333 MHz)
PC-3200 (400 MHz), PC-4200 (533 MHz)
PC2-6400 (800MHz), PC2-8500 (1066MHz)PC2-3200 (400MHz), PC2-4200 (533MHz), PC2-5300 (667MHz),
PC2-6400 (800MHz), PC2-8500 (1066MHz)
표 1 에서와 같은 다양한 종류의 메모리는 좌우의 길이나 상하의 길이가 동일한 형태로 이루어질 수도 있으나, 대체적으로 다양한 종류의 메모리는 좌우 길이는 물론 상하 길이가 다른 형태로 이루어져 있다.As shown in Table 1, various kinds of memories may be formed in the same length in the right and left directions or in the upper and lower lengths, but in general, various types of memories have different lengths as well as left and right lengths.
한편, 전술한 바와 같은 메모리 모듈의 불량 여부를 메모리 테스트 장치를 통해 테스트하기 위해서는 상용화된 소켓보드 상에 설치되는 메모리 테스트 소켓을 이용하여 메모리를 실장시킴으로써 전원의 인가 여부를 통해 메모리의 불량여부를 확인하게 된다. 이러한 메모리의 불량여부를 테스트하는 최근의 종래 기술로는 다음과 같은 기술이 개시되어 있다.In order to test whether the memory module is defective as described above through a memory test apparatus, a memory is mounted using a memory test socket installed on a commercially available socket board to check whether the memory is defective . [0003] The following conventional techniques have been disclosed for testing whether such memory is defective or not.
종래 기술에 따른 메모리 테스트 장치로는 소켓보드 상에 실장된 메모리 소켓 상부측으로 설치되어지되 양측 내측면 상에는 메모리의 측단을 가이드하는 슬롯이 형성된 메모리 테스트 소켓, 메모리 테스트 소켓의 양측에 내외측으로 일정범위 회전 가능하게 설치된 한 쌍의 래치, 한 쌍의 래치 각각에 구성되어 메모리 테스트 소켓의 삽입된 메모리를 양측 상단의 가압을 통해 소켓보드의 메모리 소켓에 실장시키는 메모리 가압부재 및 한 쌍의 래치를 연결하여 동시에 동작되도록 하는 연결링크의 구성으로 이루어진다.The memory test apparatus according to the related art includes a memory test socket which is installed on the upper side of a memory socket mounted on a socket board and has a slot for guiding a side end of the memory on both inner sides, A pair of latches which are provided at each of the pair of latches to connect an inserted memory of the memory test socket to the memory socket of the socket board through the upper end of the upper surface of the socket, And a connection link configured to be operated.
전술한 바와 같이 구성된 종래 기술의 메모리 테스트 장치는 상용화된 소켓보드의 메모리 소켓 상부측으로 메모리 테스트 소켓을 일치시킨 상태로 소켓보드에 고정된다. 이처럼 고정된 메모리 테스트 소켓의 양측에 구성된 래치를 외측 방향으로 회전시킨 상태에서 메모리 테스트 소켓의 슬롯을 통해 메모리를 삽입한다.The memory test apparatus of the prior art constructed as described above is fixed to the socket board with the memory test socket aligned with the upper side of the memory socket of the commercially available socket board. With the latches configured on both sides of the fixed memory test socket rotated outward, the memory is inserted through the slots of the memory test socket.
그리고, 전술한 바와 같이 메모리 테스트 소켓의 슬롯을 통해 메모리를 삽입한 다음에는 외측 방향으로 회전된 래치를 내측 방향으로 회전시켜 메모리 가압부재의 가압을 통해 메모리를 소켓보드에 실장된 메모리 소켓에 접속되도록 가압하게 된다. 이때, 메모리 소켓으로 가압된 메모리의 접속단자와 메모리 소켓의 접속핀은 상호 접속되어진다.Then, after inserting the memory through the slot of the memory test socket as described above, the outwardly rotated latch is rotated inward to push the memory through the memory pressing member so as to be connected to the memory socket mounted on the socket board And pressurized. At this time, the connection terminal of the memory pressurized to the memory socket and the connection pin of the memory socket are mutually connected.
전술한 바와 같이 메모리 소켓으로 가압된 메모리의 접속단자와 메모리 소켓의 접속핀이 상호 접속된 상태에서 전원의 인가여부를 통해 메모리의 불량여부를 확인하게 된다. 즉, 전원의 인가시 전기적으로 도통되면 메모리가 정상적인 제품으로 판단하고, 전기적으로 도통되지 않게 되면 불량제품으로 판단하게 된다.As described above, in the state where the connection terminal of the memory pressurized by the memory socket and the connection pin of the memory socket are connected to each other, whether or not the memory is defective is checked through the application of power. That is, if the electric power is applied, the memory is determined to be a normal product, and if it is not electrically connected, the product is determined to be a defective product.
그러나, 전술한 바와 같은 종래 기술에 따른 메모리 테스트 장치는 도 1 에 도시된 바와 같이 좌우 길이는 동일한데 상하의 길이가 다른 다양한 종류의 메모리를 삽입하여 실장시킬 수 있는 구조가 아니기 때문에 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 종류의 메모리를 테스트하기 위해서는 해당 메모리의 상하 길이에 맞는 구조의 메모리 테스트 소켓을 갖추어야 하는 문제가 발생된다.However, since the memory test apparatus according to the related art as described above has the same left and right length as shown in FIG. 1, it can not be mounted by inserting various kinds of memories having different lengths up and down, In order to test different types of memory with different vertical lengths, it is necessary to have a memory test socket having a structure corresponding to the vertical length of the memory.
본 발명은 종래 기술의 제반 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 래치의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 함으로써 하나의 메모리 테스트 소켓을 통해 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리 테스트가 가능하도록 한 메모리 테스트용 소켓장치를 제공함에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been conceived to solve all the problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a latch structure having a dual rotation structure, And it is an object of the present invention to provide a socket device for a memory test in which various types of memory tests with different vertical lengths can be performed through a memory test socket.
또한, 본 발명에 따른 기술의 다른 목적은 래치의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 한 구조를 통해 메모리 테스트용 소켓장치의 구입에 따른 비용을 줄일 수 있도록 함에 그 목적이 있다.It is another object of the present invention to provide a memory test socket having a structure in which a latch is structured to have a double rotation structure so as to accommodate and pressurize various types of memories having the same left and right length but different upper and lower lengths. And it is an object of the present invention to reduce the cost of purchasing a device.
한편, 본 발명에 따른 기술의 또 다른 목적은 래치의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 함으로써 보다 원활한 메모리 테스트가 이루어질 수 있도록 함에 그 목적이 있다.It is a further object of the present invention to provide a latch structure in which the latch structure is constructed to have a dual rotation structure so that it can receive and press various types of memories having the same length but different up and down lengths, The purpose is to make it possible.
아울러, 본 발명에 따른 기술은 메모리 테스트 소켓의 구조를 래치의 회전에서 의해 승강되도록 하는 구조로 구성함으로써 메모리 테스트 소켓에 삽입되는 메모리를 소켓보드의 메모리 소켓에 실장되는 메모리의 이젝트를 보다 용이하게 할 수 있도록 하여 메모리 테스트의 시간을 절약할 수 있도록 함에 그 목적이 있다.In addition, according to the present invention, the structure of the memory test socket is structured such that the structure of the memory test socket is lifted by the rotation of the latch, thereby facilitating the memory inserted in the memory test socket into the memory socket mounted on the socket board So that the memory test time can be saved.
나아가, 본 발명에 따른 기술은 메모리 테스트 소켓에 삽입된 메모리를 가압하여 소켓보드의 메모리 소켓에 실장되도록 하는 메모리 가압부재를 힌지축을 통해 회전하는 구조로 구성함으로써 메모리 양측 상단의 파손을 방지할 수 있도록 함에 그 목적이 있다.Further, according to the present invention, a memory pressing member for pressing a memory inserted in a memory test socket to be mounted on a memory socket of a socket board is configured to be rotated through a hinge shaft, thereby preventing damage to both ends of the memory It has its purpose.
전술한 목적을 달성하기 위해 구성되는 본 발명은 다음과 같다. 즉, 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치는 상용 소켓보드 상에 실장된 하나 이상의 메모리 소켓이 상부측으로 삽입 노출되도록 소켓 노출공이 다수 형성되어 상용 소켓보드 상부측에 설치 고정되는 베이스 플레이트; 소켓 노출공의 길이 방향 양측 각각에 대향 설치되어지되 대향면 상에는 상하로 가이드홈이 형성된 한 쌍의 지지부라켓; 지지부라켓 각각의 가이드홈 상에 상하 이동 가능하게 설치되어지되 대향면에는 메모리가 장착되는 장착슬롯이 하나 이상 형성된 이젝터 겸용 소켓; 지지브라켓 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 내외로 회전을 통해 이젝터 겸용 소켓을 하강 또는 상승시키는 한 쌍의 승강용 래치; 승강용 래치의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓을 상향으로 이동시켜 메모리를 이젝트시키는 메모리 이젝트수단; 승강용 래치 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 메모리를 상용 소켓보드의 메모리 소켓으로 가압하는 한 쌍의 가압용 래치; 가압용 래치의 대향면 각각에 설치되어 메모리의 양측 상단을 가압하는 하나 이상의 메모리 가압부재; 가압용 래치의 내외 회전시 회전을 가이드하는 회전 가이드수단; 및 한 쌍의 승강용 래치를 연결하여 내외로 회전시 동시에 자동되도록 하는 작동링크의 구성으로 이루어진다.The present invention configured to achieve the above-described object is as follows. That is, a socket for memory testing according to the present invention includes: a base plate having a plurality of socket exposure holes formed therein and fixed to the upper side of a commercial socket board so that one or more memory sockets mounted on a commercial socket board are inserted and exposed to the upper side; A pair of support racks opposed to each of both longitudinal sides of the socket exposure hole and having guide grooves formed on the opposite sides thereof in the vertical direction; An ejector combination socket having one or more mounting slots mounted on a guide groove of each support racket so as to be movable up and down, A pair of lifting and lowering latches provided inside and outside the support bracket so as to be rotatable inwardly and outwardly to rotate the lifting and lowering socket up and down; Memory ejecting means for ejecting the memory by moving the ejector-operated socket upwardly when the lifting latch is rotated outward; A pair of latching lugs rotatably installed inside and outside each of the lifting latches to press the memory into the memory socket of the commercial socket board; At least one memory pressing member provided on each of opposite sides of the pressure latch to press both upper ends of the memory; Rotation guiding means for guiding rotation when the pressure latch is rotated inward and outward; And a pair of lifting / lowering latches connected to each other so that the lifting / lowering latches are simultaneously automatically rotated inward / outward.
전술한 본 발명에 따른 구성에서 이젝터 겸용 소켓은 지지부라켓 각각의 가이드홈 상에 상하 이동 가능하게 설치되어 장착되는 메모리의 양측 하단을 지지하는 지지슬롯이 형성된 지지소켓; 지지소켓의 상부측으로 결합되어지되 지지슬롯에 대응하여 메모리를 가이드하는 가이드슬롯이 형성된 가이드소켓; 및 지지소켓과 가이드소켓을 체결하여 결합시키는 체결나사의 구성으로 이루어질 수 있다.In the above-described structure according to the present invention, the ejector-combined socket comprises a support socket provided on a guide groove of each support racket and movable up and down to support a lower end of a memory mounted thereon; A guide socket coupled to the upper side of the support socket and having a guide slot for guiding the memory corresponding to the support slot; And a fastening screw for fastening and coupling the support socket and the guide socket.
한편, 전술한 지지소켓의 지지슬롯 하단은 닫혀 있는 형태로 이루어져 메모리의 양측 하단이 지지될 수 있도록 한 구성으로 이루어지고, 가이드소켓의 가이드슬롯 상단에는 일정 경사각으로 모따기면이 더 형성되어 삽입되는 메모리를 가이드슬롯으로 가이드되도록 하는 구성으로 이루어질 수 있다.The lower end of the support slot of the support socket is closed so that both lower ends of the memory can be supported. The upper end of the guide slot of the guide socket is formed with a chamfered surface at a predetermined inclination angle. May be guided by a guide slot.
그리고, 본 발명에 따른 구성에서 메모리 이젝트수단은 이젝터 겸용 소켓을 구성하는 가이드소켓 각각의 외측면에 형성되는 걸림홈; 및 승강용 래치 각각의 대향면 일측에 대향 형성되어지되 가이드소켓의 걸림홈 상에 걸림되어 승강용 래치의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓을 상승시켜 메모리를 이젝터 겸용 소켓으로부터 이젝트시키는 걸림부재의 구성으로 이루어질 수 있다.Further, in the structure according to the present invention, the memory ejecting means includes a latching groove formed on an outer surface of each of the guide sockets constituting the ejector socket, And a latch member which is formed to be opposed to one side of the opposing face of each of the lift latches and which is hooked on the latch groove of the guide socket to raise the ejector socket when the lift latch rotates outwardly to eject the memory from the ejector socket Lt; / RTI >
전술한 바와 같은 본 발명에 따른 구성에서 회전 가이드수단은 승강용 래치 각각의 양측에 장홈의 형태로 대향 형성되는 가이드홀; 및 가압용 래치의 대향면 각각에 대향 설치되어지되 각각의 양단이 가이드홀 상에 삽입 결합되어 가이드홀의 범위내에서 가압용 래치의 회전이 이루어질 수 있도록 하는 가이드축의 구성으로 이루어질 수 있다. 이때, 회전 가이드수단을 구성하는 가이드홀의 상하 범위는 메모리의 상하 최대 길이 사이즈와 최소 길이 사이즈에 대응하여 형성됨이 보다 양호하다.In the configuration according to the present invention as described above, the rotation guide means includes guide holes formed on both sides of each of the lifting latches in the form of grooves opposed to each other; And a guide shaft which is provided so as to be opposed to each of the opposite faces of the pressure latch, wherein both ends of each of the guide holes are inserted into the guide hole to allow rotation of the pressure latch within the range of the guide hole. At this time, it is preferable that the upper and lower ranges of the guide holes constituting the rotation guide means are formed corresponding to the upper and lower maximum length size and the minimum length size of the memory.
아울러, 본 발명에 따른 구성에서 메모리 가압부재는 회전 가이드수단을 구성하는 가이드축 각각에 회전 가능하게 설치되어 메모리의 양측 상단을 회전 가압하는 가압롤러의 구성으로 이루어질 수 있다.In addition, in the configuration according to the present invention, the memory pressing member may be constituted by a pressing roller which is rotatably installed on each of the guide shafts constituting the rotation guide means and rotates and presses the upper ends of both sides of the memory.
그리고, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 구성에서 메모리 가압부재를 구성하는 가압롤러가 다수인 경우 인접한 가압롤러 각각을 분리하는 격벽이 가압용 래치의 대향면 각각에 일체로 더 형성될 수 있다. 이때, 격벽은 가압롤러의 좌우 유동을 방지하는 기능을 한다.In the configuration according to the present invention as described above, when there are a plurality of pressure rollers constituting the memory pressing member, a partition wall separating each of the adjacent pressure rollers may be integrally formed on each of the opposite surfaces of the pressure latch. At this time, the partition wall functions to prevent lateral movement of the pressure roller.
한편, 본 발명에 따른 구성에는 승강용 래치에 가압용 래치를 내외로 회전 가능하게 결합시키는 회전축 상에 설치되어 가압용 래치를 상시 원위치시키는 방향으로 탄성력의 작용이 이루어지는 토션스프링이 더 구성될 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a torsion spring provided on a rotating shaft for rotatably coupling a pressurizing latch to an up-and-down latch, the torsion spring having an action of an elastic force in a direction in which the press- .
전술한 바와 같은 본 발명에 따른 구성에서 작동링크는 한 쌍의 지지브라켓에 대향 설치된 승강용 래치 각각의 동일 방향 측면에 설치 고정되는 지지보; 및 양측의 지지보를 회전 가능하게 연결하여 일측의 승강용 래치를 내외로 회전시키는 경우 타측의 승강용 래치가 동시에 작동되도록하는 연결링크의 구성으로 이루어질 수 있다. 이때, 연결링크는 일단이 일정 각도로 절곡된 형태로 이루어질 수 있다.In the structure according to the present invention as described above, the operating link is secured to the same direction side surface of each of the lifting latches which are provided opposite to the pair of supporting brackets. And a connecting link for connecting the supporting beams on both sides to rotate the elevating latch to rotate the elevating latch in one side and the elevating latch in the other side to operate simultaneously. At this time, the connection link may be formed by bending one end at a certain angle.
그리고, 본 발명에 따른 구성에서 승강용 래치의 대향면 각각에는 가압용 래치의 내측 방향 회전시 일정 범위 이상의 회전을 제한하는 회전 제한봉이 더 설치될 수 있다.Further, in the configuration according to the present invention, each of the opposite surfaces of the lifting latch may be further provided with a rotation restricting rod for restricting rotation beyond a predetermined range when the pressing latch is rotated in the inward direction.
본 발명의 기술에 따르면 래치의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 함으로써 하나의 메모리 테스트 소켓을 통해 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리 테스트가 가능하도록 하는 효과가 있다.According to the technology of the present invention, the latch structure is configured to have a double rotation structure, so that it is possible to accommodate and press various types of memories having the same length but different up and down lengths, So that it is possible to perform the memory test of the kind.
또한, 본 발명에 따른 기술은 하나의 메모리 테스트 소켓을 통해 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리 테스트가 가능하도록 함으로써 메모리 테스트용 소켓장치의 구입에 따른 비용을 줄일 수 있음은 물론, 보다 원활한 메모리 테스트가 이루어질 수 있도록 하는 효과가 발현된다.In addition, the technology according to the present invention makes it possible to perform various types of memory tests with different vertical lengths through a single memory test socket, thereby reducing the cost of purchasing a socket device for memory test, An effect is obtained that can be achieved.
아울러, 본 발명에 따른 기술은 메모리 테스트 소켓의 구조를 래치의 회전에서 의해 승강되도록 하는 구조로 구성함으로써 메모리 테스트 소켓에 삽입되는 메모리를 소켓보드의 메모리 소켓에 실장되는 메모리의 이젝트를 보다 용이하게 할 수 있도록 하여 메모리 테스트의 시간을 절약할 수가 있다.In addition, according to the present invention, the structure of the memory test socket is structured such that the structure of the memory test socket is lifted by the rotation of the latch, thereby facilitating the memory inserted in the memory test socket into the memory socket mounted on the socket board To save time in memory testing.
나아가, 본 발명에 따른 기술은 메모리 테스트 소켓에 삽입된 메모리를 가압하여 소켓보드의 메모리 소켓에 실장되도록 하는 메모리 가압부재를 힌지축을 통해 회전하는 구조로 구성함으로써 메모리 양측 상단의 파손을 방지할 수가 있다.Further, the technique according to the present invention can prevent the breakage of both upper ends of the memory by constituting the memory pushing member which rotates through the hinge axis so as to press the memory inserted in the memory test socket and to be mounted on the memory socket of the socket board .
도 1 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 상용 소켓보드에 설치된 상태를 보인 사시 구성도.
도 2 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 보인 사시 구성도.
도 3 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 보인 평면 구성도.
도 4 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 보인 측면 구성도.
도 5a 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치에서 메모리의 삽입을 분리하여 보인 사시 구성도.
도 5b 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치에서 메모리의 장착 상태를 보인 사시 구성도.
도 6 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치의 메모리 테스트 소켓을 분리하여 보인 사시 구성도.
도 7 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치의 메모리 테스트 소켓을 분리하여 보인 측면 구성도.
도 8 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 통해 상하 길이가 긴 사이즈의 메모리를 장착시 래치의 작용을 보인 측면 구성도.
도 9 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 통해 상하 길이가 작은 사이즈의 메모리를 장착시 래치의 작용을 보인 측면 구성도.1 is a perspective view showing a socket device for memory testing according to the present invention installed on a commercially available socket board.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a socket for memory testing,
3 is a plan view showing a socket device for memory testing according to the present invention.
4 is a side view showing a socket device for memory testing according to the present invention.
FIG. 5A is a perspective view of a socket for a memory test according to the present invention, in which the insertion of a memory is separated; FIG.
5B is a perspective view showing a mounting state of a memory in a socket device for memory testing according to the present invention.
FIG. 6 is a perspective view showing a memory test socket of the socket device for memory test according to the present invention. FIG.
FIG. 7 is a side view showing a memory test socket of the socket device for memory test according to the present invention. FIG.
FIG. 8 is a side view showing the operation of the latch when a memory of a size of a long upper and lower length is mounted through a socket device for memory testing according to the present invention. FIG.
FIG. 9 is a side view showing the operation of the latch when a memory having a small vertical length is mounted through a socket device for memory testing according to the present invention. FIG.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치의 바람직한 실시 예를 상세히 설명하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of a socket device for memory testing according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 상용 소켓보드에 설치된 상태를 보인 사시 구성도, 도 2 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 보인 사시 구성도, 도 3 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 보인 평면 구성도, 도 4 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 보인 측면 구성도, 도 5a 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치에서 메모리의 삽입을 분리하여 보인 사시 구성도, 도 5b 는 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치에서 메모리의 장착 상태를 보인 사시 구성도, 도 6 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치의 메모리 테스트 소켓을 분리하여 보인 사시 구성도 및 도 7 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치의 메모리 테스트 소켓을 분리하여 보인 측면 구성도이다.FIG. 2 is a perspective view showing a socket device for memory testing according to the present invention. FIG. 3 is a perspective view showing a socket test apparatus according to a preferred embodiment of the present invention. FIG. 4 is a side view showing a socket device for a memory test according to the present invention. FIG. 5A is a side view showing a socket device for a memory test according to the present invention. FIG. 6 is a perspective view showing a memory test socket of the memory test socket device according to the present invention, and FIG. 6 is a perspective view showing a memory test socket of the memory test socket device according to the present invention. 7 is a side view showing a memory test socket of the socket device for memory test according to the present invention.
도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)는 상용 소켓보드(10) 상에 실장된 하나 이상의 메모리 소켓(20)이 상부측으로 삽입 노출되도록 소켓 노출공(112)이 다수 형성되어 상용 소켓보드(10) 상부측에 설치 고정되는 베이스 플레이트(110), 소켓 노출공(112)의 길이 방향 양측 각각에 대향 설치되어지되 대향면 상에는 상하로 가이드홈(122)이 형성된 한 쌍의 지지부라켓(120), 지지부라켓(120) 각각의 가이드홈(122) 상에 상하 이동 가능하게 설치되어지되 대향면에는 메모리(30)가 장착되는 장착슬롯(132)이 하나 이상 형성된 이젝터 겸용 소켓(130), 지지브라켓(120) 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 내외로 회전을 통해 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강 또는 상승시키는 한 쌍의 승강용 래치(140), 승강용 래치(140)의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓(130)을 상향으로 이동시켜 메모리(30)를 이젝트시키는 메모리 이젝트수단, 승강용 래치(140) 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 메모리(30)를 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)으로 가압하는 한 쌍의 가압용 래치(160), 가압용 래치(160)의 대향면 각각에 설치되어 메모리(30)의 양측 상단을 가압하는 하나 이상의 메모리 가압부재(170), 가압용 래치(160)의 내외 회전시 회전을 가이드하는 회전 가이드수단 및 한 쌍의 승강용 래치(140)를 연결하여 내외로 회전시 동시에 자동되도록 하는 작동링크(190)를 포함한 구성으로 이루어진다.1 to 7, a socket device 100 for memory testing according to the present invention includes socket socket 20 for inserting and exposing at least one memory socket 20 mounted on a commercially available socket board 10, A base plate 110 formed on the upper side of the commercial socket board 10 and having a plurality of guide grooves 122 formed on the opposite sides of the socket exposure hole 112, And a mounting slot 132 in which the memory 30 is mounted is provided on one of the opposite surfaces of the support racket 120 and the support racket 120, A pair of lifting and lowering latches 140 that are installed inside and outside of the ejector socket 130 and the support bracket 120 so as to be rotatable inward and outward to lower or raise the ejector socket 130, The outer side of the latch 140 A memory ejecting means for ejecting the memory 30 by moving the display ejector socket 130 upward and a memory 30 mounted rotatably inward and outward on each of the lifting latches 140 so as to store the memory 30 on the commercial socket board 10 A pair of pressing latches 160 for pressing the memory latches 160 against the memory socket 20, one or more memory pressing members 170 provided on the opposing faces of the pressing latches 160 to press both ends of the memory 30, A rotation guide means for guiding rotation of the pressing latch 160 when the pressing latch 160 rotates inside and outside, and an operating link 190 for connecting the pair of the lifting latches 140 so as to be simultaneously rotated inside and outside.
전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)는 베이스 플레이트(110) 상에 형성된 소켓 노출공(112)의 하부로부터 상부로 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)이 삽입되어 상향으로 노출되도록 상용 소켓보드(10)의 상부측에 설치 고정된다. 이때, 상용 소켓보드(10)는 퍼스널 컴퓨터에 실제 적용되는 메인보드와 같은 것이다.The
한편, 전술한 바와 같이 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)이 상향으로 노출되도록 상용 소켓보드(10)의 상부측에 베이스 프레이트(110)를 설치 고정하게 되면 이젝트 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)과 메모리 소켓(20)의 슬롯(도시하지 않음) 각각은 상하로 상호 일치하게 된다. 이에 따라, 이젝트 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132) 각각으로 삽입 장착되는 메모리(30)는 이젝트 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 대응하는 메모리 소켓(20)의 슬롯에만 실장되어진다.If the
전술한 바와 같이 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 상용 소켓보드(10)의 상부측으로 장착 고정시킨 상태에서 메모리(30)의 테스트 과정을 살펴보면 다음과 같다. 먼저, 도 1 및 도 5a 에 도시된 바와 같이 상용 소켓보드(10)의 상부측으로 장착 고정된 메모리 테스트용 소켓장치(100)의 승강용 래치(140)를 외측으로 회전시킨 상태에서 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 테스트하고자 하는 메모리(30)를 삽입 장착한다.A test procedure of the
다음으로, 전술한 바와 같이 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 테스트하고자 하는 메모리(30)를 삽입 장착한 다음에는 도 1 및 도 5b 에 도시된 바와 같이 양측 한 쌍의 가압용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시켜 메모리 가압부재(170)의 가압이 이루어질 수 있도록 한다. 이때, 양측 한 쌍의 가압용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시키게 되면 가압용 래치(160)가 설치되는 승강용 래치(140) 역시 대향 방향인 내측 방향으로 회전이 이루어진다.Next, after the
전술한 바와 같이 양측 한 쌍의 가압용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시키게 되면 이젝터 겸용 소켓(130)에 삽입 장착된 메모리(30)는 메모리 가압부재(170)에 의해 메모리 소켓(20)의 슬롯으로 가압이 이루어진다. 이때, 이젝터 겸용 소켓(130)은 상하로 일정범위 승강 가능하도록 구성되기 때문에 메모리(30)의 가압시 하강되어 하강되는 메모리(30)가 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장될 수 있도록 한다.The
한편, 전술한 바와 같이 가압용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시켜 이젝터 겸용 소켓(130)에 삽입 장착된 메모리(30)가 메모리 가압부재(170)에 의해 메모리 소켓(20)의 슬롯으로 실장되도록 한 다음에는 전원을 인가하여 메모리(30)의 전기적인 도통여부를 확인함으로써 메모리(30)의 불량여부를 판가름하게 된다.On the other hand, as described above, the
반면, 전술한 바와 같이 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 통해 메모리 소켓(20)의 슬롯에 메모리(30)를 실장시켜 메모리(30)의 불량여부를 확인한 다음에는 메모리 소켓(20)에 실장된 메모리(30)를 분리하게 되는데, 이때 메모리 소켓(20)에 실장된 메모리(30)의 분리는 대향방향으로 회전된 상태의 승 강용 래치(140)를 외측방향으로 회전시키는 작용만으로 이젝터 겸용 소켓(130)이 상승되어 메모리 소켓(20)으로부터 메모리(30)의 이젝트가 이루어진다.As described above, after the
다시 말해서, 전술한 바와 같이 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 통해 메모리 소켓(20)의 슬롯에 메모리(30)를 실장시켜 메모리(30)의 불량여부를 확인한 상태에서 가압용 래치(160)를 외측방향으로 회전시키게 되면 승강용 래치(140) 역시 외측방향으로 회전하게 되고, 이에 따라 메모리 이젝트수단에 의해 이젝터 겸용 소켓(130)이 상승되어 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)으로부터 실장된 메모리(30)의 이젝트가 이루어진다.In other words, as described above, when the
전술한 바와 같이 이젝트수단에 의해 이젝터 겸용 소켓(130)이 상승되어 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)으로부터 실장된 메모리(30)의 이젝트가 이루어진 다음에는 메모리 소켓(20)으로부터 이젝트된 상태로 이젝터 겸용 소켓(130)에 삽입 장착된 메모리(30)를 이젝터 겸용 소켓(130)으로부터 분리하게 되면 메모리(30)의 분리가 이루어진다.After the
한편, 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)는 앞서도 기술한 바와 같이 래치(140, 160)의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리(230)를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 한 기술로, 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 메모리(30)를 예로 들어 설명하면 다음과 같다.Meanwhile, the
먼저, 도 8 을 참조하여 설명하면 상하 길이가 최대 사이즈인 메모리(30)를 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 통해 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장시키는 경우 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 테스트하고자 하는 메모리(30)를 삽입 장착한 상태에서 양측 한 쌍의 승가용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시켜 메모리 가압부재(170)의 가압이 이루어질 수 있도록 한다.8, when the
전술한 바와 같이 상하 길이가 최대 사이즈인 메모리(30)의 경우 한 쌍의 가압용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시키게 되면 승강용 래치(140)는 내측으로 완전한 회전이 이루어지나 가압용 래치(160)는 회전되지 않거나 미미한 정도의 회전만이 이루어져 메모리 이젝트수단과 가압부재(170)에 의해 메모리 소켓(20) 상에 메모리(30)의 실장이 이루어진다.As described above, in the case of the
반면, 도 9 를 참조하여 설명하면 상하 길이가 최대 사이즈에 비해 작은 사이즈인 메모리(30)를 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 통해 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장시키는 경우에는 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 테스트하고자 하는 상하 길이가 작은 사이즈의 메모리(30)를 삽입 장착한 상태에서 양측 한 쌍의 승가용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시켜 메모리 가압부재(170)의 가압이 이루어질 수 있도록 한다.9, when the
전술한 바와 같이 상하 길이가 작은 사이즈인 메모리(30)의 경우에는 한 쌍의 가압용 래치(160)를 대향 방향인 내측 방향으로 회전시키게 되면 승강용 래치(140)가 내측으로 완전하게 회전된 상태에서도 가압부재(170)와 메모리(30)의 상단면 사이에는 일정거리 떨어지게 된다. 이러한 상태에서 가압용 래치(160)를 대향 방향으로 더 회전시키게 되면 메모리 가압부재(170)가 메모리(30) 양측 상단에 접촉할 때까지 가압용 래치(160)의 회전이 이루어진다.As described above, in the case of the
한편, 전술한 바와 같이 가압용 래치(160)를 대향 방향으로 더 회전시키는 과정에서 메모리 가압부재(170)와 메모리(30) 양측 상단의 접촉이 이루어지면서부터 메모리(30)이 가압이 이루어져 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장이 이루어진다. 이때, 메모리(30)의 실장이 완전하게 이루어진 상태에서 가압용 래치(160)를 가압하는 힘을 해제하면 가압용 래치(160)는 원상태로 복원된다.In the process of rotating the
본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 구성하는 각각의 구성요소를 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다. 먼저, 본 발명을 구성하는 베이스 플레이트(110)는 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 상용 소켓보드(10)에 설치 고정시키기 위한 것으로, 이러한 베이스 플레이트(110)는 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 상용 소켓보드(10)의 상부측에 설치 고정되어 상용 소켓보드(10) 상에 실장된 메모리 소켓(20)이 수용되도록 한다.Each component constituting the
다시 말해서, 전술한 바와 같은 베이스 플레이트(110)는 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 상용 소켓보드(10) 상에 실장된 하나 이상의 메모리 소켓(20)이 상부측으로 삽입 노출되도록 소켓 노출공(112)이 다수 형성된 구성으로 이루어져 상용 소켓보드(10) 상부측에 설치 고정된다. 이때, 상용 소켓보드(10) 상에 실장된 메모리 소켓(20)은 베이스 플레이트(110)의 소켓 노출공(112) 하부를 통해 상부측으로 노출되어진다.In other words, the
한편, 전술한 바와 같이 상용 소켓보드(10) 상에 실장된 메모리 소켓(20)이 하부를 통해 상부측으로 노출되도록 하는 베이스 플레이트(110)의 소켓 노출공(112)은 메모리 소켓(20)에 대응하여 하나 또는 다수로 형성된다.As described above, the
다음으로, 본 발명을 구성하는 지지브라켓(120)은 이젝터 겸용 소켓(130)과 승강용 래치(140)를 설치하기 위한 것으로, 이러한 지지브라켓(120)은 도 1 내지 도 2, 도 4, 도 5, 도 6 및 도 7 에 도시된 바와 같이 소켓 노출공(112)의 길이 방향 양측 각각에 대향 설치되어지되 대향면 상에는 상하로 가이드홈(122)이 형성된 한 쌍의 구조로 이루어진다.Next, the
전술한 바와 같이 구성된 지지브라켓(120)은 소켓 노출공(112)의 길이방향 양 끝단에 인접한 베이스 플레이트(110) 상부면 각각에 대향 설치된다. 이때, 지지브라켓(120)의 대향면 각각에는 후술하는 이젝터 겸용 소켓(130)을 상하로 승강 가이드하기 위한 가이드홈(122)이 형성된다.The supporting
다음으로, 본 발명을 구성하는 이젝터 겸용 소켓(130)은 메모리(30)를 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 일치되도록 배열시키는 것으로, 이러한 이젝터 겸용 소켓(130)은 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 지지부라켓(120) 각각의 가이드홈(122) 상에 상하 이동 가능하게 설치되어지되 대향면에는 메모리(30)가 장착되는 장착슬롯(132)이 하나 이상 형성된 구성으로 이루어진다.The ejector-
한편, 전술한 바와 같은 이젝터 겸용 소켓(130)은 도 6 에 도시된 바와 같이 지지부라켓(120) 각각의 가이드홈(122) 상에 상하 이동 가능하게 설치되어 장착되는 메모리(30)의 양측 하단을 지지하는 지지슬롯(132a)이 형성된 지지소켓(130a), 지지소켓(130a)의 상부측으로 결합되어지되 지지슬롯(132a)에 대응하여 메모리(30)를 가이드하는 가이드슬롯(132b)이 형성된 가이드소켓(130b) 및 지지소켓(130a)과 가이드소켓(130b)을 체결하여 결합시키는 체결나사(134)의 구성으로 이루어진다.6, the
전술한 바와 같이 체결나사(134)를 통해 하부와 상부로 결합 구성되는 이젝터 겸용 소켓(130)의 지지소켓(130a)과 가이드소켓(130b)에 형성된 지지슬롯(132a)과 가이드슬롯(132b)은 상하 동일 선상으로 배열되어 장착슬롯(132)으로 삽입 장착되는 메모리(30)의 걸림이 발생되지 않도록 한다. 이때, 지지소켓(130a)에 형성되는 지지슬롯(132a)의 하단은 닫혀 있는 구성으로 이루어져 장착슬롯(132)을 통해 삽입되는 메모리(30)의 양측 하단이 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 지지되도록 한다.The
아울러, 전술한 바와 같이 구성된 이젝터 겸용 소켓(130)을 상부측을 구성하는 가이드소켓(130b)의 가이드슬롯(132b) 상단에는 일정 경사각으로 모따기면(136)이 형성되어 가이드소켓(130b)의 가이드슬롯(132b) 상단으로 삽입되는 메모리(30)가 보다 용이하게 삽입될 수 있도록 한다. 즉, 모따기면(136) 상에 메모리(30)의 하단이 접촉되면 가이드슬롯(132b)의 입구측으로 미끄러져 삽입될 수 있도록 한다.In addition, a
다음으로, 본 발명을 구성하는 승강용 래치(140)는 내외측으로 회전을 통해 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강 또는 상승시켜 메모리(30)의 실장 또는 이젝트가 이루어질 수 있도록 하는 것으로, 이러한 승강용 래치(140)는 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 지지브라켓(120) 각각에 회전축(142 : 도 8 및 도 9 참조)을 통해 내외로 회전 가능하게 설치되어 내외로의 회전을 통해 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강 또는 상승시키는 한 쌍의 구조로 이루어진다.Next, the lifting
다시 말해서, 전술한 바와 같이 구성된 승강용 래치(140)는 후술하는 메모리 이젝터수단을 통해 승강용 래치(140)와 결합되는 이젝터 겸용 소켓(130)을 승강용 래키(140)를 내외측으로 회전시킴으로써 이젝터 겸용 소켓(130)의 하강에 따른 메모리(30)의 실장 또는 이젝터 겸용 소켓(130)의 상승에 따른 메모리(30)의 이젝트가 이루어질 수 있도록 한다.In other words, the lifting
따라서, 전술한 바와 같이 구성된 승강용 래치(140)는 후술하는 메모리 가압부재(170)에 의한 메모리(30)의 가압과 동시에 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강시킨 다는 것을 알 수 있다. 즉, 가압용 래치(160)의 회전에 따른 승강용 래키(140)의 내측방향 회전시 메모리 가압부재(170)에 의한 메모리(30)의 가압과 메모리 이젝터수단에 의한 이젝터 겸용 소켓(130)의 하강은 동시에 이루어진다.Therefore, it can be seen that the
다음으로, 본 발명을 구성하는 메모리 이젝트수단은 이젝터 겸용 소켓(130)을 상승시켜 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장된 메모리(30)를 이젝트시키기 위한 것으로, 이러한 메모리 이젝트수단은 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 승강용 래치(140)의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓(130)을 상향으로 이동시켜 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장된 메모리(30)를 이젝트시키는 구성이다.Next, the memory ejecting means constituting the present invention is for ejecting the
전술한 바와 같은 메모리 이젝트수단은 이젝터 겸용 소켓(130)을 구성하는 가이드소켓(130b) 각각의 외측면에 형성되는 걸림홈(150) 및 승강용 래치(140) 각각의 대향면 일측에 대향 형성되어지되 가이드소켓(130b)의 걸림홈(150) 상에 걸림되어 승강용 래치(140)의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓(130)을 상승시켜 메모리(30)를 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)으로부터 이젝트시키는 걸림부재(152)의 구성으로 이루어진다.The memory ejecting means as described above is formed so as to be opposed to one side of each of the
한편, 전술한 바와 같은 메모리 이젝트수단은 앞서도 기술한 바와 같이 각각의 대향면 일측에 대향 형성되는 걸림부재(152)가 이젝터 겸용 소켓(130)을 구성하는 가이드소켓(130b)의 걸림홈(150) 상에 삽입되어 걸리는 구조로 이루어지기 때문에 승강용 래치(140)의 내측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강시켜 메모리 소켓(20)에 메모리(30)의 실장은 물론, 승강용 래치(140)의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓(130)을 상승시켜 메모리 소켓(20)에 실장된 메모리(30)를 이젝트시키게 된다.In the meantime, as described above, the memory ejecting means as described above includes the engaging
전술한 바와 같이 본 발명을 구성하는 메모리 이젝트수단은 승강용 래치(140)의 내외측 방향으로 회전시 이젝트 겸용 소켓(130)능 하강 또는 상싱시켜 메모리 가압부재(170)에 의해 가압되는 메모리(30)가 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 보다 용이하게 실장되도록 함은 물론, 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장된 메모리(30)의 이젝트가 원활하기 이루어질 수 있도록 한다.As described above, the memory ejecting means constituting the present invention includes a memory 30 (not shown) which is pressed by the
다음으로, 본 발명을 구성하는 가압용 래치(160)는 이젝트 겸용 소켓(130)에 삽입 장착된 메모리(30)를 하향으로 가압하기 위한 것으로, 이러한 가압용 래치(160)는 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 승강용 래치(140) 각각에 회전지지축(162)을 통해 내외로 회전 가능하게 설치되어 메모리(30)를 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)으로 가압하는 한 쌍의 구조로 이루어진다.Next, the
전술한 바와 같은 가압용 래치(160)는 앞서 기술한 바와 같은 승강용 래치(140)와 이중 회전구조를 형성하는 것으로, 좌우 길이는 동일하나 상하의 길이가 따른 다양한 종류의 메모리(30)에 대하여 가압이 이루어질 수 있도록 하는 구성이다. 이때, 상하 길이가 최대 사이즈인 메모리(30)의 경우 가압용 래치(160)의 내측방향 회전은 이루어지지 않거나 미미한 정도의 회전만 이루어지고, 상하 길이가 작은 사이즈인 메모리(30)의 경우에는 이젝트 겸용 소켓(130)에 삽입 장착된 메모리(30)의 상단과 메모리 가압부재(170) 사이의 이격된 거리만큼 가압용 래치(160)의 회전이 이루어진다.The
다음으로, 본 발명을 구성하는 메모리 가압부재(170)는 가압용 래치(160)의 내측방향 회전시 이젝트 겸용 소켓(130)에 삽입 장착된 메모리(30)의 상단을 가압하여 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)으로 실장되도록 하는 것으로, 이러한 메모리 가압부재(170)는 가압용 래치(160)의 대향면 각각에 설치되어 메모리(30)의 양측 상단을 가압하는 하나 이상으로 구성된다.Next, the
전술한 바와 같은 메모리 가압부재(170)는 후술하는 회전 가이드수단을 구성하는 가이드축(182) 각각에 회전 가능하게 설치되어 메모리(30)의 양측 상단을 회전 가압하는 가압롤러의 구성으로 이루어진다. 이처럼 가압롤러 형태의 메모리 가압부재(170)는 메모리(30) 상단의 가압시 메모리(30) 상단면에서 수평방향으로 이동되는 가운데 회전되어 메모리(30)에 전달되는 압력을 분산시키게 된다.The
따라서, 전술한 바와 같이 가압롤러 형태의 이루어져 메모리(30) 상단의 가압시 메모리(30) 상단면에서 수평방향으로 이동되는 가운데 회전되어 메모리(30)에 전달되는 압력을 분산시키는 구조로 메모리 가압부재(170)를 구성함으로써 메모리 가압부재(170)에 의해 메모리(30) 상단면이 파손되는 것을 방지할 수가 있다.As described above, when the upper surface of the
한편, 전술한 바와 같은 메모리 가압부재(170)를 구성하는 가압롤러가 다수인 경우 인접한 가압롤러 각각을 분리하는 격벽(200)이 가압용 래치(160)의 대향면 각각에 일체로 더 형성될 수 있다. 이러한 격벽(200)은 가압롤러의 좌우 유동을 방지하여 해당 메모리(30)에만 가압이 작용되도록 한다.Meanwhile, when the number of the pressing rollers constituting the
다음으로, 본 발명을 구성하는 회전 가이드수단은 가압용 래치(160)의 내외 회전시 회전을 가이드하는 것으로, 이러한 회전 가이드수단은 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 승강용 래치(140) 각각의 양측에 장홈의 형태로 대향 형성되는 가이드홀(180) 및 가압용 래치(160)의 대향면 각각에 대향 설치되어지되 각각의 양단이 가이드홀(180) 상에 삽입 결합되어 가이드홀(180)의 범위내에서 가압용 래치(160)의 회전이 이루어질 수 있도록 하는 가이드축(182)의 구성으로 이루어진다.Next, the rotation guiding means constituting the present invention guides the rotation of the
전술한 바와 같이 구성된 회전 가이드수단은 도 8 에 도시된 바와 같이 메모리 가압부재(170)를 통해 상하 길이가 최대 사이즈인 메모리(30)를 가압시에는 가압용 래치(160)의 회전이 이루어지지 않거나 미미한 회전에 그치기 때문에 가이드축(182)이 가이드홀(180)의 최상단에 위치될 것이다.8, when the
반면, 도 9 에 도시된 바와 같이 상하 길이가 작은 사이즈나 최소 사이즈의 메모리(30)를 가압시에는 메모리 가압부재(170)가 메모리(30)의 상단면에 접촉될 때까지 가압용 래치(160)의 회전이 이루어지기 때문에 가이드축(182)은 가이드홀(180)의 하부측으로 이동된다. 가이드축(182)은 최대 가이드홀(180)의 최하단까지도 이동될 수 있다.9, when the
따라서, 전술한 바와 같은 회전 가이드수단을 구성하는 가이드홀(180)의 상하 범위는 메모리(30)의 상하 최대 길이 사이즈와 최소 길이 사이즈에 대응하여 형성된다고 볼 수 있다.Therefore, the upper and lower range of the
다음으로, 본 발명을 구성하는 작동링크(190)는 일측의 승강용 래치(140)를 내외측으로 회전시키는 경우 타측의 승강용 래치(140) 역시 내외측 동일방향으로 작동되록 하는 것으로, 이러한 작동링크(190)는 도 1 내지 도 7 에 도시된 바와 같이 한 쌍의 지지브라켓(120)에 대향 설치된 승강용 래치(140) 각각의 동일 방향 측면에 설치 고정되는 지지보(192) 및 양측의 지지보(192)를 회전 가능하게 연결하여 일측의 승강용 래치(140)를 내외로 회전시키는 경우 타측의 승강용 래치(140)가 동시에 작동되도록하는 연결링크(194)의 구성으로 이루어진다.Next, the
다시 말해서, 전술한 바와 같이 구성된 작동링크(190)는 지지보(192)와 연결링크(194)의 연결 부분이 힌지를 통해 회전 가능하게 연결된 구성으로 이루어져 일측의 승강용 래치(140)를 내외로 회전시키는 경우 타측의 승강용 래치(140)에 작동링크(190)를 통해 힘이 원활하게 전달되도록 한다.In other words, the
한편, 전술한 바와 같은 작동링크(190)의 구성에서 연결링크(194)는 일단이 일정 각도로 절곡된 형태로 이루어진다. 이처럼 연결링크(194)의 일단을 일정 각도로 절곡된 형태로 형성함으로써 본 발명에 따른 소켓장치(100)를 통해 메모리(30)의 불량여부 테스트를 수행하는 경우 기구적인 간섭을 최소화할 수 있도록 한다.Meanwhile, in the structure of the
아울러, 전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)의 구성에는 승강용 래치(140)에 가압용 래치(160)를 내외로 회전 가능하게 결합시키는 회전지지축(162) 상에 설치되어 가압용 래치(160)를 상시 원위치시키는 방향으로 탄성력의 작용이 이루어지는 토션스프링(210)이 더 구성될 수 있다.In addition, in the configuration of the
전술한 바와 같은 토션스프링(210)은 가압력이 해제된 경우 가압용 래치(160)를 상시 원위치시킴으로써 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장된 메모리(30)를 이젝트시키기 위해 승강용 래치(140)를 외측방향으로 회전시키는 경우 가압용 래치(160)에 의한 승강용 래치(140)의 외측방향 회전작용을 원활하게 할 수 있도록 한다.The
또한, 본 발명에 따른 구성에는 앞서와 같은 기술구성에 더하여 승강용 래치(140)의 대향면 각각에 가압용 래치(160)의 내측 방향 회전시 일정 범위 이상의 회전을 제한하는 회전 제한봉(220)이 더 설치된다. 이러한 회전 제한봉(220)에 의한 가압용 래치(160)의 회전 제한은 가압용 래치(160)의 내측 방향 회전시 가이드축(182)이 가이드되는 가이드홀(180)의 최하단에 인접한 시점에서 가압용 래치(160)와의 접촉을 통해 회전이 제한된다.In addition, in the configuration according to the present invention, in addition to the above-described technical construction, a
도 8 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 통해 상하 길이가 긴 사이즈의 메모리를 장착시 래치의 작용을 보인 측면 구성도, 도 9 은 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치를 통해 상하 길이가 작은 사이즈의 메모리를 장착시 래치의 작용을 보인 측면 구성도이다.FIG. 8 is a side view showing the operation of the latch when a memory of a size of a long upper and lower length is mounted through a socket device for memory testing according to the present invention. FIG. And is a side view showing the action of the latch when a small-sized memory is mounted.
앞서와 같은 구성으로 이루어진 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 통해 좌우의 길이는 동일하나 상하의 길이가 다른 종류의 메모리(230)를 장착하여 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장시키는 과정을 설명하면 도 8 및 도 9 에서와 같다. 이때, 도 8 에서는 상하의 길이가 최대 사이즈인 메모리(30)를 보인 것이고, 도 9 에서는 도 8 의 메모리(30)에 비해 상하의 길이가 작은 사이즈를 보인 것이다.The memory socket 230 of the commercially
도 8 의 (a)에 도시된 바와 같이 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20) 상부측으로 설치된 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 통해 상하 길이가 최대 사이즈인 메모리(30)를 테스트하는 경우 먼저, 가압용 래치(160)를 외측으로 젖히게 되면 그 힘에 의해 승강용 래치(140)가 동시에 외측으로 회전된다.The
한편, 전술한 바와 같이 가압용 래치(160)를 외측 방향으로 젖히는 힘에 의해 승강용 래치(140)가 동시에 외측 방향으로 회전하게 되는 과정에서 이젝터 겸용 소켓(130)이 상승하게 된다. 즉, 승강용 래치(140) 상의 메모리 이젝트수단을 구성하는 걸림부재(152)가 이젝터 겸용 소켓(130)의 외측면에 형성되는 걸림홈(150)에 걸린 상태로 승강용 래치(140)의 외측 방향 회전시 이젝터 겸용 소켓(130)을 상승시키게 된다.On the other hand, as described above, the
전술한 바와 같은 상태에서 메모리(30)의 양측 하단을 양측 이젝터 겸용 소켓(130) 상의 대향된 장착슬롯(132)에 삽입 장착되도록 한다. 이때, 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 삽입되는 메모리(30)는 장착슬롯(132)의 하단이 닫혀 있는 구조이기 때문에 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 삽입 장착된 상태로 지지된다.The lower ends of the
그리고, 전술한 바와 같이 이젝터 겸용 소켓(130)에 메모리(30)를 삽입 장착한 상태에서 도 8 의 (b)에서와 같이 가압용 래치(160)를 내측 방향으로 젖혀 승강용 래치(140)의 내측 방향 회전이 이루어질 수 있도록 한다. 이때, 가압용 래치(160)의 내측 방향 젖힘에 의해 승강용 래치(140)의 내측 방향 회전이 이루어지는 과정에서 승강용 래치(140) 상의 메모리 이젝트수단을 구성하는 걸림부재(152)가 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강시켜 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 메모리(30)를 실장시키게 된다.8 (b), in the state where the
한편, 도 8 의 메모리(30)는 앞서도 기술한 바와 같이 상하 길이가 최대 사이즈이기 때문에 메모리 이젝트수단을 구성하는 걸림부재(152)가 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강시켜 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 메모리(30)를 실장되는 시점과 가압용 래치(160)의 대향면 상에 구성된 메모리 가압부재(170)에 의한 메모리(30) 상단의 가압 접촉시점은 동시에 이루어진다.8, since the upper and lower lengths are the maximum size as described above, the latching
전술한 바와 같이 상하 길이가 최대 사이즈인 메모리(30)를 이젝터 겸용 소켓(130)을 통해 삽입 장착하여 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장되도록 하는 과정에서는 도 8 의 (a)와 (b)를 살펴보건데 가압용 래치(160)가 회전지지축(162)을 중심으로 전혀 회전되지 않은 상태를 볼 수 있다. 이는 토션스프링(210)의 압축이 없는 것을 통해 알 수 있다.8 (a), in the process of inserting the
반면, 도 9 의 (a)에 도시된 바와 같이 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20) 상부측으로 설치된 본 발명에 따른 메모리 테스트용 소켓장치(100)를 통해 상하 길이가 최대 사이즈보다 작은 메모리(32)를 테스트하는 경우에는 가압용 래치(160)를 외측으로 젖혀 승강용 래치(140)를 외측으로 회전시킴으로써 이젝터 겸용 소켓(130)에 메모리(32)를 삽입할 수 있도록 개방시킨다.9 (a), a memory
한편, 전술한 바와 같이 가압용 래치(160)를 외측 방향으로 젖히는 힘에 의해 승강용 래치(140)가 동시에 외측 방향으로 회전하게 되는 과정에서 승강용 래치(140) 상의 메모리 이젝트수단을 구성하는 걸림부재(152)가 이젝터 겸용 소켓(130)의 외측면에 형성되는 걸림홈(150)에 걸린 상태로 승강용 래치(140)의 외측 방향 회전시 이젝터 겸용 소켓(130)을 상승시키게 된다.On the other hand, in the process of simultaneously rotating the lifting
전술한 바와 같은 승강용 래치(140)를 외측 방향으로 회전시켜 이젝터 겸용 소켓(130)을 상승시킨 상태에서 메모리(32)의 양측 하단을 양측 이젝터 겸용 소켓(130) 상의 대향된 장착슬롯(132)에 삽입 장착되도록 한다. 이때, 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 삽입되는 메모리(32)는 장착슬롯(132)의 하단이 닫혀 있는 구조이기 때문에 이젝터 겸용 소켓(130)의 장착슬롯(132)에 삽입 장착된 상태로 지지된다.The upper and lower ends of the
그리고, 전술한 바와 같이 이젝터 겸용 소켓(130)에 메모리(32)를 삽입 장착한 상태에서 도 9 의 (b)에서와 같이 가압용 래치(160)를 내측 방향으로 젖혀 승강용 래치(140)의 내측 방향 회전이 이루어질 수 있도록 한다. 이때, 가압용 래치(160)의 내측 방향 젖힘에 의해 승강용 래치(140)의 내측 방향 회전이 이루어지는 과정에서 승강용 래치(140) 상의 메모리 이젝트수단을 구성하는 걸림부재(152)가 이젝터 겸용 소켓(130)을 하강시켜 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 메모리(30)를 실장시키게 된다.9 (b), when the
전술한 도 9 의 (b)에서와 같이 승강용 래치(140)가 내측 방향으로 완전하게 회전된 상태에서 이젝터 겸용 소켓(130)과 동시에 하강되어 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장되는 상하 길이가 작은 사이즈의 메모리(32) 상단과 가압용 래치(160)의 대향면 상에 구성된 가압부재(170) 하단 사이에는 일정거리의 유격이 발생된다. 이는 승강용 래치(140)의 내측 방향 최대 회전시 상하 길이가 최대 사이즈인 도 8 의 메모리(30) 상단에 가압부재(170)의 접촉이 이루어질 수 있도록 설계되기 때문이다.The lifting
한편, 전술한 도 9 의 (b)에서와 같이 승강용 래치(140)를 내측 방향으로 완전하게 회전시키는 경우 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 상하 길이가 작은 사이즈의 메모리(32)가 실장되더라도 가압부재(170)에 의한 가압이 이루어지지 않은 상태이기 때문에 테스트 상에 문제가 발생될 수 있다.9 (b), when the lifting
전술한 바와 같은 문제를 보완하기 위해 본 발명은 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 사이즈의 메모리(30, 32) 모두를 수용하여 테스트할 수 있는 구조를 구성하기 위해 대향 설치되는 승강용 래치(140)에 대향되도록 가압용 래치(160)를 설치한 구조를 제공하고 있다. 이때, 가압용 래치(160)는 회전지지축(162)을 통해 내외측으로 일정범위 회전되도록 구성되어지되 회전지지축(162) 상에 설치되어 일단과 타단이 승강용 래치(140)와 가압용 래치(160)에 지지되는 토션스프링(210)을 통해 외측 방향으로 탄성력을 받는 구조로 이루어진다.In order to solve the above-described problems, the present invention provides a structure for testing and accommodating all of
따라서, 전술한 바와 같이 회전지지축(162) 상에 설치되어 외측 방향으로 탄성력을 발하는 토션스프링(210)의 작용에 의해 가압용 래치(160)는 상시 외측으로 젖혀진 상태로 있게 된다. 이러한 상태에서 상용자에 의해 가압용 래치160)에 내측 방향으로 가압하는 힘이 작용되면 승강용 래치(140)의 내측 방향 최대 회전 시점까지는 가압용 래치(160)의 내측 방향 회전은 이루어지지 않고, 승강용 래치(140)의 내측 방향 최대 회전된 이후부터 가압용 래치(160)의 내측 방향 회전이 이루어진다.Therefore, as described above, the
다시 말해서, 전술한 도 9 의 (b)에서와 같이 승강용 래치(140)가 내측 방향으로 완전하게 회전된 상태에서 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 실장되는 상하 길이가 작은 사이즈의 메모리(32) 상단과 가압용 래치(160)의 대향면 상에 구성된 가압부재(170) 하단 사이에 일정거리의 유격이 발생된 상태에서 도 9 의 (c)에 도시된 바와 같이 가압용 래치(160)를 내측 방향으로 힘을 가하게 되면 유격 거리만큼 가압용 래치(160)의 내측 방향 회전이 이루어지면서 가압부재(170)에 의한 메모리(32)의 가압이 이루어진다.In other words, as shown in Fig. 9 (b), when the lifting
전술한 바와 같이 승강용 래치(140)의 내측 방향 회전에 의해 상용 소켓보드(10)의 메모리 소켓(20)에 메모리(32)가 실장된 상태에서 가압용 래치(160)의 내측 방향 회전에 의해 메모리(32)의 가압이 이루어진 다음, 전원의 인가에 의해 메모리(32)의 불량여부 테스트가 이루어진다. 이때, 가압용 래치(160)를 가압하는 힘을 해제하면 토션스프링(210)의 탄성력에 의해 가압용 래치(160)는 원상태로 복원된다.By the inward rotation of the
한편, 도 9 의 (c)에서와 같이 상하 길이가 작은 사이즈나 최소 사이즈의 메모리(32)를 가압시에는 메모리 가압부재(170)가 메모리(32)의 상단면에 접촉될 때까지 가압용 래치(160)의 회전이 이루어지기 때문에 가이드축(182)은 가이드홀(180)의 하부측으로 이동된다. 이때, 가이드축(182)은 최대 가이드홀(180)의 최하단까지도 이동될 수 있다.9 (c), when the
이상에서와 같이 본 발명에 따른 기술은 래치(140, 160)의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리(30)를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 함으로써 메모리(30)의 불량여부 테스트를 보다 원활하게 할 수 있도록 한다.As described above, according to the present invention, the structures of the
본 발명은 전술한 실시 예에 국한되지 않고 본 발명의 기술사상이 허용하는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시할 수가 있다.The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made within the scope of the technical idea of the present invention.
10. 상용 소켓보드 20. 메모리 소켓
30. 메모리(상하 최대 사이즈) 32. 메모리(상하 작은 사이즈)
100. 소켓장치 110. 베이스 플레이트
112. 소켓 노출공 120. 지지브라켓
122. 가이드홈 130. 이젝터 겸용 소켓
132. 장착슬롯 134. 체결나사
136. 모따기면 140. 승강용 래치
150. 걸림홈 152. 걸림부재
160. 가압용 래치 162. 회전지지축
170. 메모리 가압부재 180. 가이드홀
182. 가이드축 190. 작동링크
192. 지지보 194. 연결링크
200. 격벽 210. 토션스프링
220. 회전 제한봉10.
30. Memory (Up and Down Maximum Size) 32. Memory (Up and Down Small Size)
100.
112. Socket
122.
132. Mounting
136.
150. Retaining
160.
170.
182.
192.
200.
220. Rotation restrainer
Claims (14)
상기 소켓 노출공의 길이 방향 양측 각각에 대향 설치되어지되 대향면 상에는 상하로 가이드홈이 형성된 한 쌍의 지지부라켓;
상기 지지부라켓 각각의 가이드홈 상에 상하 이동 가능하게 설치되어지되 대향면에는 메모리가 장착되는 장착슬롯이 하나 이상 형성된 이젝터 겸용 소켓;
상기 지지브라켓 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 내외로 회전을 통해 상기 이젝터 겸용 소켓을 하강 또는 상승시키는 한 쌍의 승강용 래치;
상기 승강용 래치의 외측방향 회전시 상기 이젝터 겸용 소켓을 상향으로 이동시켜 상기 메모리를 이젝트시키는 메모리 이젝트수단;
상기 승강용 래치 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 상기 메모리를 상기 상용 소켓보드의 메모리 소켓으로 가압하는 한 쌍의 가압용 래치;
상기 가압용 래치의 대향면 각각에 설치되어 상기 메모리의 양측 상단을 가압하는 하나 이상의 메모리 가압부재;
상기 가압용 래치의 내외 회전시 회전을 가이드하는 회전 가이드수단;
상기 한 쌍의 승강용 래치를 연결하여 내외로 회전시 동시에 자동되도록 하는 작동링크; 및
상기 승강용 래치의 대향면 각각에 설치되어 상기 가압용 래치의 내측 방향 회전시 일정 범위 이상의 회전을 제한하는 회전 제한봉을 포함한 구성으로 이루어진 메모리 테스트용 소켓장치.A base plate having a plurality of socket exposure holes formed therein and fixed to the upper side of the commercial socket board so that at least one memory socket mounted on the commercial socket board is inserted and exposed to the upper side;
A pair of support rails provided opposite to each other in the longitudinal direction of the socket exposure hole and having guide grooves formed on the opposing surfaces in the vertical direction;
An ejector socket having one or more mounting slots on the opposite sides of which are mounted a memory, the socket being vertically movably mounted on a guide groove of each of the support racquets;
A pair of lifting and lowering latches provided inside and outside the support bracket, respectively, for rotating the lifting and lowering socket up and down, respectively;
A memory ejecting means for ejecting the memory by moving the ejector-compatible socket upward when the lifting latch is rotated outward;
A pair of latching lugs rotatably installed in each of the lifting latches to press the memory into the memory socket of the commercial socket board;
At least one memory pressing member provided on each of opposing surfaces of the pressing latch to press both upper ends of the memory;
Rotation guiding means for guiding the rotation of the pressing latch when it is inwardly and outwardly rotated;
An actuating link connecting the pair of lifting latches and simultaneously automatically rotating the lifting and lowering latches in and out; And
And a rotation restricting bar provided on each of the opposing faces of the lifting latch to limit rotation beyond a predetermined range when the pressing latch rotates in the inward direction.
상기 지지소켓의 상부측으로 결합되어지되 상기 지지슬롯에 대응하여 상기 메모리를 가이드하는 가이드슬롯이 형성된 가이드소켓; 및
상기 지지소켓과 가이드소켓을 체결하여 결합시키는 체결나사의 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 메모리 테스트용 소켓장치.[2] The apparatus of claim 1, wherein the ejector socket includes: a support socket provided on a guide groove of each of the support racquets to be movable up and down and having a support slot for supporting both lower ends of the memory;
A guide socket coupled to the upper side of the support socket and having a guide slot for guiding the memory corresponding to the support slot; And
And a fastening screw for fastening and coupling the support socket and the guide socket.
상기 승강용 래치 각각의 대향면 일측에 대향 형성되어지되 상기 가이드소켓의 걸림홈 상에 걸림되어 상기 승강용 래치의 외측방향 회전시 상기 이젝터 겸용 소켓을 상승시켜 상기 메모리를 상기 이젝터 겸용 소켓으로부터 이젝트시키는 걸림부재의 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 메모리 테스트용 소켓장치.The memory ejecting apparatus according to any one of claims 2 to 4, wherein the memory ejecting means comprises: an engaging groove formed on an outer surface of each of the guide sockets constituting the ejector- And
Wherein the latch is formed to be opposed to one side of the opposing face of each of the lifting latches so as to be engaged with the engaging groove of the guide socket to raise the ejector socket when the lifting latch is rotated outward to eject the memory from the ejector- And a latching member for latching the memory cell.
상기 가압용 래치의 대향면 각각에 대향 설치되어지되 각각의 양단이 상기 가이드홀 상에 삽입 결합되어 상기 가이드홀의 범위내에서 상기 가압용 래치의 회전이 이루어질 수 있도록 하는 가이드축의 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 메모리 테스트용 소켓장치.The apparatus according to claim 1, wherein the rotation guide means comprises guide holes formed on both sides of each of the lifting latches so as to face each other in the form of an elongated groove; And
And a guide shaft provided opposite to each of opposite surfaces of the pressing latch so that both ends of the guide shaft are inserted and coupled on the guide hole so that the pressing latch can be rotated within the range of the guide hole. A socket device for a memory test.
상기 양측의 지지보를 회전 가능하게 연결하여 일측의 상기 승강용 래치를 내외로 회전시키는 경우 타측의 상기 승강용 래치가 동시에 작동되도록하는 연결링크의 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 메모리 테스트용 소켓장치.[2] The apparatus according to claim 1, wherein the actuating link comprises: a support beam fixedly mounted on a side surface of each of the lift latches facing the pair of support brackets; And
Wherein the connecting link is configured such that when one of the lifting latches is rotated inside and outside, the lifting latches of the other side are simultaneously operated.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020140185773A KR101659322B1 (en) | 2014-12-22 | 2014-12-22 | Sockets for memory testing device |
| CN201410853000.6A CN105810253B (en) | 2014-12-22 | 2014-12-31 | Socket device for memory test |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020140185773A KR101659322B1 (en) | 2014-12-22 | 2014-12-22 | Sockets for memory testing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20160077248A KR20160077248A (en) | 2016-07-04 |
| KR101659322B1 true KR101659322B1 (en) | 2016-10-04 |
Family
ID=56420890
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020140185773A KR101659322B1 (en) | 2014-12-22 | 2014-12-22 | Sockets for memory testing device |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101659322B1 (en) |
| CN (1) | CN105810253B (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102571578B1 (en) * | 2021-05-28 | 2023-08-28 | 주식회사 아이에스시 | Memory module jig apparatus |
| CN114204302B (en) * | 2021-11-02 | 2024-03-15 | 深圳市博德越科技有限公司 | Adapter card |
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| KR100704002B1 (en) | 2005-04-07 | 2007-04-09 | 김태완 | Module test socket |
| KR20080081385A (en) | 2007-03-05 | 2008-09-10 | 주식회사 주로에이티에스 | Memory module test socket device |
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2014
- 2014-12-22 KR KR1020140185773A patent/KR101659322B1/en active IP Right Grant
- 2014-12-31 CN CN201410853000.6A patent/CN105810253B/en active Active
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN105810253A (en) | 2016-07-27 |
| CN105810253B (en) | 2018-10-16 |
| KR20160077248A (en) | 2016-07-04 |
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