KR101543875B1 - Apparatus for transferring substrate and apparatus for inspecting substrate including the same - Google Patents

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KR101543875B1 KR1020130148499A KR20130148499A KR101543875B1 KR 101543875 B1 KR101543875 B1 KR 101543875B1 KR 1020130148499 A KR1020130148499 A KR 1020130148499A KR 20130148499 A KR20130148499 A KR 20130148499A KR 101543875 B1 KR101543875 B1 KR 101543875B1
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Abstract

기판 검사 장치에 있어서, 상기 장치는 기판의 하면으로 에어를 분사하여 상기 기판을 부상시키는 에어 부상 모듈과, 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판을 이동시키기 위한 기판 이송 모듈과, 상기 에어 부상 모듈의 상부에 배치되며 상기 기판 이송 모듈에 의해 이동되는 기판의 결함을 검출하기 위한 검사 모듈을 포함한다. 상기 기판 이송 모듈은 베이스 패널과, 상기 베이스 패널 상에 회전 가능하도록 장착된 상부 패널과, 상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판의 하부면 중앙 부위를 파지하는 진공척과, 상기 베이스 패널 상에 배치되며 상기 진공척에 의해 파지된 기판의 배치 각도를 조절하기 위하여 상기 상부 패널을 회전시키는 각도 조절부와, 상기 베이스 패널을 수평 이동시키는 구동부를 포함한다.A substrate inspection apparatus comprising: an air floating module for ejecting air onto a lower surface of a substrate to float the substrate; a substrate transfer module for moving a substrate floating by the air floating module; And an inspection module for detecting defects of the substrate which are disposed on the substrate transporting module and are moved by the substrate transporting module. The substrate transfer module includes a base panel, an upper panel rotatably mounted on the base panel, a vacuum chuck disposed on the upper panel and holding a central portion of the lower surface of the substrate floating by the air floating module, An angle adjusting unit disposed on the base panel for rotating the upper panel to adjust an angle of the substrate held by the vacuum chuck, and a driving unit for horizontally moving the base panel.

Description

기판 이송 장치 및 이를 포함하는 기판 검사 장치{Apparatus for transferring substrate and apparatus for inspecting substrate including the same}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate transfer apparatus,

본 발명의 실시예들은 기판 이송 장치 및 이를 포함하는 기판 검사 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 디스플레이 제조 공정에서 기판을 이송하는 장치와 상기 기판 이송 장치에 의해 이송되는 기판의 결함을 검출하기 위한 기판 검사 장치에 관한 것이다.Embodiments of the present invention relate to a substrate transfer apparatus and a substrate inspection apparatus including the same. More particularly, the present invention relates to an apparatus for transferring a substrate in a display manufacturing process and a substrate inspection apparatus for detecting defects in a substrate transferred by the substrate transfer apparatus.

일반적으로, 액정 디스플레이 장치, 플라즈마 디스플레이 장치 등과 같은 디스플레이 장치의 제조 공정에서 기판 상에 형성된 패턴들의 결함을 검사하기 위한 검사 공정이 수행될 수 있다.In general, an inspection process for inspecting defects of patterns formed on a substrate in a manufacturing process of a display device such as a liquid crystal display device, a plasma display device, and the like can be performed.

상기 검사 공정에서는 상기 기판의 상부면 이미지를 획득하기 위한 이미지 획득 유닛이 사용될 수 있으며 상기 기판은 상기 이미지 획득 유닛의 아래에서 수평 방향으로 이송될 수 있다. 일 예로서, 대한민국 등록특허공보 제10-0765124호에는 제1 및 제2 부상 플레이트들과, 상기 제1 및 제2 부상 플레이트들 사이에 배치되어 글라스의 양측 단부들을 각각 파지하는 그리퍼들 및 상기 그리퍼들을 이동시키는 구동부를 포함하는 글라스 반송 장치가 개시되어 있다.In the inspecting step, an image obtaining unit for obtaining the image of the top surface of the substrate may be used, and the substrate may be transported in the horizontal direction under the image obtaining unit. For example, in Korean Patent Registration No. 10-0765124, there are disclosed first and second float plates, grippers disposed between the first and second float plates to grip both side ends of the glass, And a driving unit for moving the glass substrate.

상기와 같은 글라스 반송 장치에서 상기 그리퍼들은 스테이지 상에 일체로 형성된 지지플레이트의 일측면 및 타측면에 장착되며 상기 글라스의 중심 부분 일단 및 타단을 진공 흡착하도록 구성되고 있다.In the above-described glass transfer apparatus, the grippers are mounted on one side and the other side of a support plate integrally formed on a stage, and vacuum suction is performed at one end and the other end of the center of the glass.

그러나, 상기와 같은 종래 기술에 따르면, 기판의 크기가 변경되는 경우 상기 스테이지와 지지플레이트 및 그리퍼들 전체를 교체해야 하므로 상기 글라스 반송 장치를 포함하는 검사 장치의 가동율이 저하될 수 있으며, 또한 기판 크기에 따라 복수의 스테이지와 지지플레이트 및 그리퍼들을 미리 마련해야 하므로 상기 검사 장치의 운용에 소요되는 비용이 크게 증가될 수 있다.However, according to the related art, when the size of the substrate is changed, the entirety of the stage, the support plate, and the grippers need to be replaced, so that the operation rate of the inspection apparatus including the glass transport apparatus may be reduced, Since the plurality of stages, the support plates, and the grippers must be provided in advance in accordance with the test results, the operation cost of the test apparatus can be greatly increased.

한편, 상기 글라스 반송 장치 상에 로드된 글라스의 정렬 상태가 불량할 경우 상기 검사 공정이 정상적으로 수행되지 않을 수 있으며, 이에 따라 별도의 글라스 정렬 장치가 요구될 수 있다. 또한 상기 글라스의 오정렬에 의해 상기 글라스에 대한 재검사가 수행될 수 있으므로 상기 검사 공정에 소요되는 시간이 크게 증가될 수 있다.On the other hand, if the alignment state of the glass loaded on the glass transfer device is poor, the inspection process may not be normally performed, and thus a separate glass alignment device may be required. In addition, since the glass can be re-inspected by misalignment of the glass, the time required for the inspection process can be greatly increased.

본 발명의 실시예들은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위한 것으로 기판의 정렬이 가능하며 상기 기판의 크기 변화에 능동적으로 대응할 수 있는 기판 이송 장치를 제공하는데 제1 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is a first object of the present invention to provide a substrate transfer apparatus capable of aligning a substrate and actively responding to a size change of the substrate.

본 발명의 실시예들은 상술한 바와 같은 기판 이송 장치를 포함하는 기판 검사 장치를 제공하는데 제2 목적이 있다.Embodiments of the present invention have a second object to provide a substrate inspection apparatus including the substrate transfer apparatus as described above.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 기판 이송 장치는, 기판의 하면으로 에어를 분사하여 상기 기판을 부상시키는 에어 부상 모듈과, 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판을 이동시키기 위한 기판 이송 모듈을 포함할 수 있다. 상기 기판 이송 모듈은 베이스 패널과, 상기 베이스 패널 상에 회전 가능하도록 장착된 상부 패널과, 상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판의 하부면 중앙 부위를 파지하는 진공척과, 상기 베이스 패널 상에 배치되며 상기 진공척에 의해 파지된 기판의 배치 각도를 조절하기 위하여 상기 상부 패널을 회전시키는 각도 조절부와, 상기 베이스 패널을 수평 이동시키는 구동부를 포함할 수 있다.According to one aspect of the present invention, there is provided a substrate transfer apparatus including: an air floating module for moving a substrate lifted by the air floating module; And a transfer module. The substrate transfer module includes a base panel, an upper panel rotatably mounted on the base panel, a vacuum chuck disposed on the upper panel and holding a central portion of the lower surface of the substrate floating by the air floating module, An angle adjusting unit disposed on the base panel for rotating the upper panel to adjust an angle of the substrate held by the vacuum chuck, and a driving unit for horizontally moving the base panel.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 에어 부상 모듈은 서로 평행하게 연장하는 제1 및 제2 에어 부상 패널들을 포함할 수 있으며, 상기 기판 이송 모듈은 상기 제1 및 제2 에어 부상 패널들 사이에 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the air floating module may include first and second air floating panels extending parallel to each other, and the substrate transporting module may be disposed between the first and second air floating panels .

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 베이스 패널은 상기 기판의 이송 방향을 따라 연장할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the base panel may extend along the transport direction of the substrate.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 베이스 패널의 중앙 부위와 상기 상부 패널 중앙 부위 사이에는 상기 상부 패널의 회전을 위한 선회 베어링이 배치될 수 있으며, 상기 선회 베어링의 양측에는 상기 상부 패널의 회전을 안내하기 위한 곡선 리니어 모션 가이드가 각각 배치될 수 있다.According to the embodiments of the present invention, a swivel bearing for rotating the upper panel may be disposed between a central portion of the base panel and a central portion of the upper panel, and on both sides of the swivel bearing, And a curved linear motion guide for guidance can be disposed, respectively.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 상부 패널은 상기 베이스 패널과 대략 평행하게 연장할 수 있다. 이때, 상기 각도 조절부는 연결 부재를 통해 상기 상부 패널의 일측 단부와 연결될 수 있으며, 상기 연결 부재를 상기 상부 패널의 연장 방향에 대하여 수직하는 방향으로 상기 연결 부재를 이동시킬 수 있다.According to embodiments of the present invention, the upper panel may extend substantially parallel to the base panel. At this time, the angle adjusting unit may be connected to one end of the upper panel through a connecting member, and the connecting member may be moved in a direction perpendicular to an extending direction of the upper panel.

본 발명의 실시예들에 따르면, 소정의 곡률 반경을 갖고 상기 베이스 패널 상에 장착되는 곡선 가이드 레일과, 상기 상부 패널의 연장 방향을 따라 연장하며 상기 상부 패널의 일측 단부의 하부면에 장착되는 직선 가이드 레일과, 상기 곡선 가이드 레일과 상기 직선 가이드 레일 사이에서 이동 가능하도록 결합되는 가동 블록을 포함하는 크로스 리니어 모션 가이드가 상기 연결 부재와 인접하게 배치될 수 있으며, 상기 연결 부재는 상기 크로스 리니어 모션 가이드의 직선 가이드 레일과 힌지 형태로 결합될 수 있다.According to the embodiments of the present invention, a curved guide rail having a predetermined radius of curvature and mounted on the base panel, a straight line extending along the extending direction of the upper panel and mounted on a lower surface of one side end of the upper panel A cross linear motion guide including a guide rail and a movable block movably coupled between the curved guide rail and the linear guide rail may be disposed adjacent to the link member, The guide rails can be combined with the linear guide rails of the hinges.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 기판 이송 모듈은, 상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판의 하부면 일측 부위를 파지하는 보조 진공척을 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the substrate transfer module may further include an auxiliary vacuum chuck disposed on the upper panel and gripping one side of the lower surface of the substrate floating by the air floating module.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 기판 이송 모듈은, 상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 보조 진공척의 위치를 조절하기 위한 위치 조절부를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the substrate transfer module may further include a position adjusting unit disposed on the upper panel and adjusting a position of the auxiliary vacuum chuck.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 위치 조절부는 상기 보조 진공척의 위치를 조절하기 위하여 상기 보조 진공척을 상기 상부 패널의 연장 방향을 따라 이동시킬 수 있다.According to embodiments of the present invention, the position adjustment unit may move the auxiliary vacuum chuck along the extending direction of the upper panel to adjust the position of the auxiliary vacuum chuck.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 기판 검사 장치는, 기판의 하면으로 에어를 분사하여 상기 기판을 부상시키는 에어 부상 모듈과, 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판을 이동시키기 위한 기판 이송 모듈과, 상기 에어 부상 모듈의 상부에 배치되며 상기 기판 이송 모듈에 의해 이동되는 기판의 결함을 검출하기 위한 검사 모듈을 포함할 수 있다. 이때, 상기 기판 이송 모듈은 베이스 패널과, 상기 베이스 패널의 상에 회전 가능하도록 장착된 상부 패널과, 상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판의 하부면 중앙 부위를 파지하는 진공척과, 상기 베이스 패널 상에 배치되며 상기 진공척에 의해 파지된 기판의 배치 각도를 조절하기 위하여 상기 상부 패널을 회전시키는 각도 조절부와, 상기 베이스 패널을 수평 이동시키는 구동부를 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a substrate, comprising: an air floating module for blowing air to a bottom surface of the substrate to float the substrate; A transfer module and an inspection module disposed on the air floating module for detecting defects in the substrate transferred by the substrate transfer module. The substrate transfer module may include a base panel, an upper panel rotatably mounted on the base panel, and a lower panel disposed on the upper panel, An angle regulating unit disposed on the base panel for rotating the upper panel to adjust an arrangement angle of the substrate held by the vacuum chuck, and a driving unit for horizontally moving the base panel.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 기판 이송 모듈은 기판 하부면 중앙 부위를 파지하기 위한 진공척과 상기 기판의 하부면 일측 부위를 파지하기 위한 보조 진공척을 구비할 수 있으며, 상기 보조 진공척의 위치는 상기 기판의 크기에 따라 조절될 수 있다. 결과적으로, 상기 기판 이송 모듈에 의해 다양한 크기를 갖는 기판들에 대한 검사 공정이 가능하며, 이에 따라 다양한 크기의 기판들에 대한 검사 공정을 수행하는데 소요되는 비용 및 시간이 크게 감소될 수 있다.According to embodiments of the present invention as described above, the substrate transfer module may include a vacuum chuck for holding a central portion of the lower surface of the substrate, and an auxiliary vacuum chuck for gripping one side of the lower surface of the substrate, The position of the vacuum chuck can be adjusted according to the size of the substrate. As a result, it is possible to inspect substrates having various sizes by the substrate transfer module, thereby greatly reducing the cost and time required for performing inspection processes on substrates of various sizes.

특히, 상기 진공척과 보조 진공척에 의해 파지된 상기 기판은 상기 구동부에 의한 상기 기판의 위치 조절 및 상기 각도 조절부에 의한 상기 상부 패널의 배치 각도 조절에 의해 기 설정된 위치와 각도로 정렬될 수 있으며, 이에 따라 상기 기판의 오정렬에 의한 공정 불량이 크게 감소될 수 있다.In particular, the substrate gripped by the vacuum chuck and the auxiliary vacuum chuck can be aligned at an angle to a predetermined position by adjusting the position of the substrate by the driving unit and the angle of arrangement of the upper panel by the angle adjusting unit So that process defects due to misalignment of the substrate can be greatly reduced.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 이송 모듈과 이를 포함하는 기판 검사 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 기판 이송 모듈을 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.
도 3은 도 2에 도시된 기판 이송 모듈의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 4는 도 3에 도시된 보조 진공척과 위치 조절부를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 5 및 도 6은 도 3에 도시된 기판 이송 모듈을 이용하여 서로 다른 크기의 기판들을 이송하는 예들을 설명하기 위한 개략적인 구성도들이다.
도 7은 도 2에 도시된 베이스 패널의 상부 구조를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 8은 도 7에 도시된 각도 조절부를 설명하기 위한 개략적인 확대도이다.1 is a schematic plan view illustrating a substrate transfer module and a substrate inspection apparatus including the substrate transfer module according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic front view for explaining the substrate transfer module shown in Fig.
3 is a schematic structural view for explaining another example of the substrate transfer module shown in Fig.
FIG. 4 is a schematic plan view for explaining the auxiliary vacuum chuck and the position adjusting unit shown in FIG. 3. FIG.
FIGS. 5 and 6 are schematic structural views for illustrating examples of transferring substrates of different sizes using the substrate transfer module shown in FIG.
7 is a schematic plan view for explaining an upper structure of the base panel shown in FIG.
8 is a schematic enlarged view for explaining the angle adjusting portion shown in Fig.

이하, 본 발명은 본 발명의 실시예들을 보여주는 첨부 도면들을 참조하여 더욱 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The invention will be described in more detail below with reference to the accompanying drawings showing embodiments of the invention. However, the present invention should not be construed as limited to the embodiments described below, but may be embodied in various other forms. The following examples are provided so that those skilled in the art can fully understand the scope of the present invention, rather than being provided so as to enable the present invention to be fully completed.

하나의 요소가 다른 하나의 요소 또는 층 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로서 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접적으로 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들 또는 층들이 이들 사이에 게재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접적으로 배치되거나 연결되는 것으로서 설명되는 경우, 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다.When an element is described as being placed on or connected to another element or layer, the element may be directly disposed or connected to the other element, and other elements or layers may be placed therebetween It is possible. Alternatively, if one element is described as being placed directly on or connected to another element, there can be no other element between them. The terms first, second, third, etc. may be used to describe various items such as various elements, compositions, regions, layers and / or portions, but the items are not limited by these terms .

하기에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. Furthermore, all terms including technical and scientific terms have the same meaning as will be understood by those skilled in the art having ordinary skill in the art, unless otherwise specified. These terms, such as those defined in conventional dictionaries, shall be construed to have meanings consistent with their meanings in the context of the related art and the description of the present invention, and are to be interpreted as being ideally or externally grossly intuitive It will not be interpreted.

본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화는 충분히 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차를 포함하는 것이며, 도면들에 설명된 영역은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상은 영역의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.Embodiments of the present invention are described with reference to schematic illustrations of ideal embodiments of the present invention. Thus, changes from the shapes of the illustrations, e.g., changes in manufacturing methods and / or tolerances, are those that can be reasonably expected. Accordingly, the embodiments of the present invention should not be construed as being limited to the specific shapes of the areas illustrated in the drawings, but include deviations in shapes, the areas described in the drawings being entirely schematic and their shapes Is not intended to illustrate the exact shape of the area and is not intended to limit the scope of the invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 이송 모듈과 이를 포함하는 기판 검사 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이며, 도 2는 도 1에 도시된 기판 이송 모듈을 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.FIG. 1 is a schematic plan view for explaining a substrate transfer module and a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic front view for explaining a substrate transfer module shown in FIG.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(100)는 디스플레이 제조 공정에서 기판(10) 상의 결함을 검출하기 위하여 사용될 수 있다.Referring to FIGS. 1 and 2, an inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention can be used to detect defects on the substrate 10 in a display manufacturing process.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 검사 장치(100)는 상기 기판(10)의 하면으로 에어를 분사하여 상기 기판(10)을 부상시키는 에어 부상 모듈(110)과, 상기 에어 부상 모듈(110)에 의해 부상된 기판(10)을 이동시키기 위한 기판 이송 모듈(120) 및 상기 기판 이송 모듈(120)에 의해 이동되는 상기 기판(10)의 결함을 검출하기 위한 검사 모듈(190)을 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the inspection apparatus 100 includes an air floating module 110 for moving the substrate 10 by blowing air to the lower surface of the substrate 10, A substrate transfer module 120 for moving the substrate 10 lifted by the substrate transfer module 120 and an inspection module 190 for detecting defects of the substrate 10 moved by the substrate transfer module 120 .

상기 에어 부상 모듈(110)은 정반(102) 상에 배치될 수 있으며 서로 평행하게 연장하는 제1 및 제2 에어 부상 패널들(112, 114)을 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2 에어 부상 패널들(112, 114) 각각은 상기 기판(10)의 이송 방향(도 1에서 표시된 화살표 방향)으로 연장하는 대략 직사각 형태를 가질 수 있으며, 상기 제1 및 제2 에어 부상 패널들(112, 114)의 상부면에는 상기 기판(10)의 하면으로 에어를 분사하기 위한 복수의 에어 분사구들이 구비될 수 있다.The air floating module 110 may include first and second air floating panels 112 and 114 that may be disposed on the surface plate 102 and extend parallel to each other. Each of the first and second air floating panels 112 and 114 may have a substantially rectangular shape extending in the conveying direction of the substrate 10 (the arrow direction shown in FIG. 1) A plurality of air ejection openings for ejecting air to the lower surface of the substrate 10 may be provided on the upper surface of the air floating panels 112 and 114.

상기 기판 이송 모듈(120)은 상기 정반(102) 상에서 상기 제1 및 제2 에어 부상 패널들(112, 114) 사이에 배치될 수 있다. 상기 기판 이송 모듈(120)은 베이스 패널(122)과, 상기 베이스 패널(122) 상에 회전 가능하도록 장착된 상부 패널(130)과, 상기 상부 패널(130) 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈(110)에 의해 부상된 기판(10)의 하부면 중앙 부위를 파지하는 진공척(140)과, 상기 베이스 패널(122)을 수평 방향, 예를 들면, 상기 에어 부상 모듈(110)의 연장 방향으로 이동시키기 위한 구동부(150)를 포함할 수 있다.The substrate transfer module 120 may be disposed between the first and second airborne panels 112, 114 on the base 102. The substrate transfer module 120 includes a base panel 122, an upper panel 130 mounted to be rotatable on the base panel 122, and an upper panel 130 disposed on the upper panel 130, A vacuum chuck 140 for holding a central portion of a lower surface of the substrate 10 lifted by the air lifting module 110 and a vacuum chuck 140 for holding the base panel 122 in a horizontal direction, And a driving unit 150 for moving the light source.

특히, 상기 기판 이송 모듈(120)은 상기 베이스 패널(122) 상에 배치되어 상기 진공척(140)에 의해 파지된 기판(10)의 배치 각도를 조절하기 위하여 상기 상부 패널(130)을 회전시키는 각도 조절부(160)를 포함할 수 있다.In particular, the substrate transfer module 120 may be disposed on the base panel 122 to rotate the upper panel 130 to adjust the placement angle of the substrate 10 held by the vacuum chuck 140 And may include an angle adjusting unit 160.

상세히 도시되지는 않았으나, 상기 진공척(140)은 진공 펌프 등을 포함하는 진공 모듈(미도시)과 연결될 수 있으며, 상기 진공척(140)의 상부에는 상기 기판(10)을 진공 흡착하기 위한 복수의 진공홀들이 구비될 수 있다.Although not shown in detail, the vacuum chuck 140 may be connected to a vacuum module (not shown) including a vacuum pump, and a plurality of May be provided.

상기 베이스 패널(122)은 상기 기판(10)의 이송 방향을 따라 길게 연장하는 직사각 형태를 가질 수 있다. 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 구동부(150)는 상기 기판(10)의 이송 방향을 따라 연장하는 선형 가이드 레일과, 상기 선형 가이드 레일에 이동 가능하게 결합되는 가동 블록과, 상기 가동 블록에 결합된 볼 스크루 및 상기 볼 스크루를 회전시키기 위한 모터 등을 이용하여 구성될 수 있으며, 상기 베이스 패널(122)은 상기 가동 블록 상에 장착될 수 있다. 그러나, 상기 구동부(150)의 세부 구성은 다양하게 변경 가능하므로 상기 구동부(150)의 세부 구성에 의해 본 발명의 범위가 제한되지는 않을 것이다.The base panel 122 may have a rectangular shape elongated along the conveying direction of the substrate 10. Although not shown in detail, the driving unit 150 includes a linear guide rail extending along the conveying direction of the substrate 10, a movable block movably coupled to the linear guide rail, A screw and a motor for rotating the ball screw, and the base panel 122 may be mounted on the movable block. However, since the detailed configuration of the driving unit 150 can be variously changed, the scope of the present invention is not limited by the detailed configuration of the driving unit 150. [

도 3은 도 2에 도시된 기판 이송 모듈의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.3 is a schematic structural view for explaining another example of the substrate transfer module shown in Fig.

도 3을 참조하면, 상기 기판 이송 모듈(120)은 상기 상부 패널(130) 상에 배치되어 상기 에어 부상 모듈(110)에 의해 부상된 기판(10)의 하부면 일측 부위를 파지하는 보조 진공척(142)을 포함할 수 있다. 상기 보조 진공척(142)은 상기 진공척(140)에 의해 파지된 기판(10)이 상기 구동부(150)에 의해 이송되는 동안 상기 기판(10)의 각도가 변화되는 것을 방지하기 위하여 사용될 수 있다. 특히, 상기 보조 진공척(142)에 의해 상기 기판(10)의 이송 도중에 상기 기판(10)에 진동이 발생되는 것을 충분히 방지할 수 있다.3, the substrate transfer module 120 includes an auxiliary vacuum chuck 130 disposed on the upper panel 130 and holding one side of the lower surface of the substrate 10 lifted by the air floating module 110, (Not shown). The auxiliary vacuum chuck 142 may be used to prevent the angle of the substrate 10 from being changed while the substrate 10 gripped by the vacuum chuck 140 is being transported by the driving unit 150 . In particular, it is possible to sufficiently prevent the vibration of the substrate 10 from being generated during the transfer of the substrate 10 by the auxiliary vacuum chuck 142.

한편, 상기 상부 패널(130)은 상기 베이스 패널(122)과 대략 평행하게 연장하는 직사각 형태를 가질 수 있으며, 상기 기판 이송 모듈(120)은 상기 상부 패널(130) 상에 배치되어 상기 보조 진공척(142)의 위치를 조절하기 위하여 상기 보조 진공척(142)을 상기 상부 패널(130)의 연장 방향으로 이동시키는 위치 조절부(170)를 포함할 수 있다.The upper panel 130 may have a rectangular shape extending substantially parallel to the base panel 122 and the substrate transfer module 120 may be disposed on the upper panel 130, And a position adjusting unit 170 for moving the auxiliary vacuum chuck 142 in the extending direction of the upper panel 130 to adjust the position of the auxiliary vacuum chuck 142.

도 4는 도 3에 도시된 보조 진공척과 위치 조절부를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.FIG. 4 is a schematic plan view for explaining the auxiliary vacuum chuck and the position adjusting unit shown in FIG. 3. FIG.

도 4를 참조하면, 상기 보조 진공척(142)은 상기 상부 패널(130) 상에서 상기 상부 패널(130)의 연장 방향을 따라 이동 가능하도록 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 위치 조절부(170)는 상기 상부 패널(130) 상에서 상기 상부 패널(130)의 연장 방향을 따라 연장하는 선형 가이드 레일과, 상기 선형 가이드 레일을 따라 이동 가능하도록 결합된 가동 블록과, 상기 가동 블록에 결합된 볼 스크루 및 상기 볼 스크루를 회전시키기 위한 모터 등을 이용하여 각각 구성될 수 있으며, 상기 보조 진공척(142)은 상기 위치 조절부(170)의 상기 가동 블록 상에 장착될 수 있다. 그러나, 상기 위치 조절부(170)의 세부 구성은 다양하게 변경 가능하므로 이에 의해 본 발명의 범위가 제한되지는 않을 것이다.Referring to FIG. 4, the auxiliary vacuum chuck 142 may be disposed on the upper panel 130 so as to be movable along the extending direction of the upper panel 130. For example, the position adjuster 170 may include a linear guide rail extending along the extension direction of the upper panel 130 on the upper panel 130, a movable block 170 coupled to be movable along the linear guide rail, And a motor for rotating the ball screw. The auxiliary vacuum chuck 142 may be mounted on the movable block of the position adjusting unit 170, Can be mounted. However, since the detailed configuration of the position adjusting unit 170 can be variously modified, the scope of the present invention is not limited thereto.

도 5 및 도 6은 도 3에 도시된 기판 이송 모듈을 이용하여 서로 다른 크기의 기판들을 이송하는 예들을 설명하기 위한 개략적인 구성도들이며, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 보조 진공척(142)의 위치가 상기 위치 조절부(170)에 의해 조절 가능하므로 상기 기판(10)의 크기가 변화되는 경우에도 이에 능동적으로 대응이 가능하다. 즉, 상기 기판(10)의 크기에 따라 상기 진공척(140)과 상기 보조 진공척(142) 사이의 간격이 조절될 수 있으며, 이에 의해 다양한 크기의 기판들(10, 10A)을 용이하게 이송할 수 있다.FIGS. 5 and 6 are schematic diagrams for illustrating examples of transferring substrates of different sizes using the substrate transfer module shown in FIG. 3. As shown in FIGS. 5 and 6, Since the position of the chuck 142 can be adjusted by the position adjusting unit 170, it is possible to actively cope with the case where the size of the substrate 10 is changed. That is, the gap between the vacuum chuck 140 and the auxiliary vacuum chuck 142 can be adjusted according to the size of the substrate 10, thereby easily transferring the substrates 10 and 10A of various sizes can do.

도 7은 도 2에 도시된 베이스 패널의 상부 구조를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.7 is a schematic plan view for explaining an upper structure of the base panel shown in FIG.

도 7을 참조하면, 상기 베이스 패널(122)의 중앙 부위에는 상기 상부 패널(130)과 연결되는 선회 베어링(162)이 배치될 수 있다. 즉, 상기 선회 베어링(162)은 상기 베이스 패널(122)의 중앙 부위와 상기 상부 패널(130)의 중앙 부위 사이에 배치되어 상기 상부 패널(130)의 회전이 가능하도록 할 수 있다. 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 선회 베어링(162)으로는 크로스 롤러 베어링이 사용될 수 있으며, 상기 선회 베어링(162)의 외륜과 내륜이 상기 베이스 패널(122)과 상부 패널(130)에 각각 장착될 수 있다.Referring to FIG. 7, a swivel bearing 162 connected to the upper panel 130 may be disposed at a central portion of the base panel 122. That is, the swivel bearing 162 may be disposed between a central portion of the base panel 122 and a central portion of the upper panel 130 to enable rotation of the upper panel 130. Although not shown in detail, a cross roller bearing may be used as the swing bearing 162, and an outer ring and an inner ring of the swing bearing 162 may be mounted on the base panel 122 and the upper panel 130, respectively have.

상기 선회 베어링(162)의 양측에는 상기 상부 패널(130)의 회전을 안내하기 위한 곡선 리니어 모션 가이드(164)가 각각 배치될 수 있다. 상기 곡선 리니어 모션 가이드(164)는 소정의 곡률 반경을 갖는 가이드 레일과 상기 가이드 레일에 장착되는 가동 블록을 포함할 수 있으며, 상기 곡선 리니어 모션 가이드들(164)의 가동 블록들에 상기 상부 패널(130)이 장착될 수 있다.Curved linear motion guides 164 for guiding the rotation of the upper panel 130 may be disposed on both sides of the swing bearing 162, respectively. The curved linear motion guides 164 may include a guide rail having a predetermined radius of curvature and a movable block mounted on the guide rail, and the movable blocks of the curved linear motion guides 164 may be coupled to the upper panel 130 may be mounted.

상기 각도 조절부(160)는 연결 부재(166)를 통해 상기 상부 패널(130)의 일측 단부와 연결될 수 있으며, 상기 연결 부재(166)를 상기 상부 패널(130)의 연장 방향에 수직하는 방향 즉 접선 방향으로 이동시킴으로써 상기 상부 패널(130)의 배치 각도를 조절할 수 있다.The angle adjusting unit 160 may be connected to one end of the upper panel 130 through a connecting member 166 and may be connected to the connecting member 166 in a direction perpendicular to the extending direction of the upper panel 130 The angle of the upper panel 130 can be adjusted by moving the tangential direction.

도 8은 도 7에 도시된 각도 조절부를 설명하기 위한 개략적인 확대도이다.8 is a schematic enlarged view for explaining the angle adjusting portion shown in Fig.

도 8을 참조하면, 상기 각도 조절부(160)는 상기 연결 부재(166)를 상기 접선 방향으로 이동시키도록 구성될 수 있다. 일 예로서, 상기 각도 조절부(160)는 상기 접선 방향으로 연장하는 선형 가이드 레일과, 상기 선형 가이드 레일에 이동 가능하도록 결합된 가동 블록과, 상기 가동 블록에 결합된 볼 스크루 및 상기 볼 스크루를 회전시키기 위한 모터 등을 이용하여 구성될 수 있으며, 상기 연결 부재(166)는 상기 가동 블록에 장착될 수 있다.Referring to FIG. 8, the angle adjusting unit 160 may be configured to move the connecting member 166 in the tangential direction. For example, the angle adjuster 160 may include a linear guide rail extending in the tangential direction, a movable block movably coupled to the linear guide rail, a ball screw coupled to the movable block, Or a motor for rotating the movable block 166. The connecting member 166 may be mounted on the movable block.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 베이스 패널(122) 상에는 상기 각도 조절부(160)에 인접하게 배치되어 상기 연결 부재(166)와 상기 상부 패널(130)의 일측 단부를 연결하는 크로스 리니어 모션 가이드(168)가 배치될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the base panel 122 may be provided with a cross member which is disposed adjacent to the angle adjusting unit 160 and connects one end of the upper panel 130 with the connecting member 166, A linear motion guide 168 may be disposed.

상기 크로스 리니어 모션 가이드(168)는 소정의 곡률 반경을 갖고 상기 베이스 패널(122) 상에 장착되는 곡선 가이드 레일과, 상기 상부 패널(130)의 연장 방향을 따라 연장하며 상기 상부 패널(130)의 일측 단부의 하부면에 장착되는 직선 가이드 레일과, 상기 곡선 가이드 레일과 상기 직선 가이드 레일 사이에서 이동 가능하도록 결합되는 가동 블록을 포함할 수 있다. 상기 연결 부재(166)는 상기 직선 가이드 레일의 일측 단부에 힌지 형태를 갖도록 결합될 수 있다. 결과적으로, 상기 연결 부재(166)의 상기 접선 방향 이동에 의해 상기 연결 부재(166)와 크로스 리니어 모션 가이드(168)를 통해 상기 각도 조절부(160)와 연결된 상기 상부 패널(130)의 회전이 가능하게 될 수 있다.The cross linear motion guide 168 includes a curved guide rail having a predetermined radius of curvature and mounted on the base panel 122 and a curved guide rail 160 extending along the extending direction of the upper panel 130, And a movable block coupled to the curved guide rail so as to be movable between the curved guide rail and the linear guide rail. The connecting member 166 may be hinged to one end of the linear guide rail. The tangential movement of the connecting member 166 causes the rotation of the upper panel 130 connected to the angle adjuster 160 via the connecting member 166 and the cross linear motion guide 168 .

상술한 바에 의하면, 상기 각도 조절부(160)와 상기 상부 패널(130)이 상기 연결 부재(166)와 상기 크로스 리니어 모션 가이드(168)를 통해 연결되고 있으나, 이와 다르게 상기 상부 패널(130)의 일측 단부의 하부면에는 상기 상부 패널(130)의 연장 방향으로 형성된 홈 또는 홀이 구비될 수 있으며, 이 경우 상기 연결 부재(166)는 상기 홈 또는 홀에 삽입되는 핀의 형태를 가질 수도 있다.The angle adjusting unit 160 and the upper panel 130 are connected to the connecting member 166 through the cross linear motion guide 168. Alternatively, A groove or a hole may be formed in the lower surface of the end of the upper panel 130 in the extending direction of the upper panel 130. In this case, the connecting member 166 may have the shape of a pin inserted into the groove or hole.

상기 구동부(150)와 각도 조절부(160)는 상기 진공척(140) 상에 로드된 기판(10)의 정렬 상태가 불량한 경우 상기 기판(10)의 위치 및 배치 각도를 조절하여 상기 기판(10)이 기 설정된 위치 및 각도로 정렬되도록 할 수 있다. 결과적으로, 상기 구동부(150)와 각도 조절부(160)에 의한 상기 기판(10)의 정렬 동작을 통하여 상기 기판(10)의 검사 공정에서 기판 오정렬에 의한 공정 불량을 충분히 방지할 수 있다.The driving unit 150 and the angle adjusting unit 160 adjust the position and the placement angle of the substrate 10 when the substrate 10 loaded on the vacuum chuck 140 is in an unsatisfactory alignment state, Can be aligned at predetermined positions and angles. As a result, a defective process due to substrate misalignment in the inspection process of the substrate 10 can be sufficiently prevented through the aligning operation of the substrate 10 by the driving unit 150 and the angle adjusting unit 160.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 도 2에 도시된 바와 같이 상기 진공척(140) 상에 로드된 기판(10)의 정렬 상태를 확인하기 위한 정렬 카메라(180, 182)가 구비될 수 있다. 예를 들면, 상기 검사 장치(100)는 상기 기판(10)에 형성된 정렬 마크 이미지들을 획득하기 위한 제1 정렬 카메라(180)와 제2 정렬 카메라(182)를 포함할 수 있으며, 상기 제1 및 제2 정렬 카메라들(180, 182)은 상기 진공척(140) 상에 로드된 기판(10)의 가장자리 부위들 상에 배치될 수 있다. 특히, 도시되지는 않았으나, 상기 제1 및 제2 정렬 카메라들(180, 180)은 상기 기판(10)의 크기에 따라 이동 가능하게 구성될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, alignment cameras 180 and 182 for checking the alignment state of the substrate 10 loaded on the vacuum chuck 140 may be provided. have. For example, the inspection apparatus 100 may include a first alignment camera 180 and a second alignment camera 182 for obtaining alignment mark images formed on the substrate 10, The second alignment cameras 180 and 182 may be disposed on the edge portions of the substrate 10 loaded on the vacuum chuck 140. In particular, although not shown, the first and second alignment cameras 180 and 180 may be configured to be movable according to the size of the substrate 10.

다시 도 1을 참조하면, 상기 검사 모듈(190)은 상기 기판 이송 모듈(120)에 의해 이송되는 기판(10) 상의 결함을 검출하기 위한 적어도 하나의 스캔 카메라(192)를 포함할 수 있다. 도시된 바에 의하면, 3개의 스캔 카메라(192)가 구비되고 있으나 상기 스캔 카메라(192)의 개수는 다양하게 변경될 수 있으며, 이에 의해 본 발명의 범위가 제한되지는 않을 것이다.Referring again to FIG. 1, the inspection module 190 may include at least one scan camera 192 for detecting defects on the substrate 10 transported by the substrate transport module 120. Although there are three scan cameras 192, the number of the scan cameras 192 may be variously changed, so that the scope of the present invention is not limited thereto.

상기 스캔 카메라(192)는 상기 에어 부상 모듈(110)의 상부에서 상기 기판(10)의 이송 방향에 대하여 수직 방향으로 연장하는 브리지 구조물(194)에 장착될 수 있으며, 상기 브리지 구조물(194)의 길이 방향 즉 상기 기판(10)의 이송 방향에 수직하는 방향으로 이동 가능하게 구성될 수 있다. 상기 기판(10)은 상기 검사 공정을 수행하는 동안 상기 기판(10)의 이송 방향을 따라 왕복 이동될 수 있으며, 상기 스캔 카메라(192)는 상기 브리지 구조물(194) 상에서 그 위치가 조절될 수 있다.The scan camera 192 may be mounted on a bridge structure 194 extending vertically with respect to the direction of transport of the substrate 10 at an upper portion of the air floating module 110, In the longitudinal direction, that is, in a direction perpendicular to the transport direction of the substrate 10. [ The substrate 10 may be reciprocated along the transport direction of the substrate 10 during the inspection process and the scan camera 192 may be adjusted in position on the bridge structure 194 .

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 기판 이송 모듈(120)은 기판(10) 하부면 중앙 부위를 파지하기 위한 진공척(140)과 상기 기판(10)의 하부면 일측 부위를 파지하기 위한 보조 진공척(142)을 구비할 수 있으며, 상기 보조 진공척(142)의 위치는 상기 기판(10)의 크기에 따라 조절될 수 있다. 결과적으로, 상기 기판 이송 모듈(120)에 의해 다양한 크기를 갖는 기판들(10, 10A)에 대한 검사 공정이 가능하며, 이에 따라 다양한 크기의 기판들(10, 10A)에 대한 검사 공정을 수행하는데 소요되는 비용 및 시간이 크게 감소될 수 있다.According to embodiments of the present invention as described above, the substrate transfer module 120 includes a vacuum chuck 140 for holding a central portion of the lower surface of the substrate 10, And the position of the auxiliary vacuum chuck 142 may be adjusted according to the size of the substrate 10. In this case, As a result, it is possible to inspect substrates 10 and 10A having various sizes by the substrate transfer module 120, thereby performing an inspection process on substrates 10 and 10A of various sizes The cost and time required can be greatly reduced.

특히, 상기 진공척(140)과 보조 진공척(142)에 의해 파지된 상기 기판(10)은 상기 구동부(150)에 의한 상기 기판(10)의 위치 조절 및 상기 각도 조절부(160)에 의한 상기 상부 패널(130)의 배치 각도 조절에 의해 기 설정된 위치와 각도로 정렬될 수 있으며, 이에 따라 상기 기판(10)의 오정렬에 의한 공정 불량이 크게 감소될 수 있다.Particularly, the substrate 10 held by the vacuum chuck 140 and the auxiliary vacuum chuck 142 can be moved by the driving unit 150 by adjusting the position of the substrate 10 and by the angle adjusting unit 160 The alignment of the upper panel 130 can be adjusted to a predetermined position and angle, and the process failure due to misalignment of the substrate 10 can be greatly reduced.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the present invention as defined by the following claims It can be understood that

10 : 기판 100 : 검사 장치
110 : 에어 부상 모듈 112, 114 : 에어 부상 패널
120 : 기판 이송 모듈 122 : 베이스 패널
130 : 상부 패널 140 : 진공척
142 : 보조 진공척 150 : 구동부
160 : 각도 조절부 170 : 위치 조절부
180, 182 : 정렬 카메라 190 : 검사 모듈10: substrate 100: inspection device
110: air floating module 112, 114: air floating panel
120: substrate transfer module 122: base panel
130: upper panel 140: vacuum chuck
142: auxiliary vacuum chuck 150:
160: Angle adjusting unit 170: Position adjusting unit
180, 182: alignment camera 190: inspection module

Claims (10)

기판의 하면으로 에어를 분사하여 상기 기판을 부상시키는 에어 부상 모듈; 및
상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판을 이동시키기 위한 기판 이송 모듈을 포함하되,
상기 기판 이송 모듈은,
상기 기판의 이송 방향을 따라 연장하는 베이스 패널;
상기 베이스 패널 상에 회전 가능하도록 장착된 상부 패널;
상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판의 하부면 중앙 부위를 파지하는 진공척;
상기 베이스 패널 상에 배치되며 상기 진공척에 의해 파지된 기판의 배치 각도를 조절하기 위하여 상기 상부 패널을 회전시키는 각도 조절부; 및
상기 베이스 패널을 수평 이동시키는 구동부를 포함하고,
상기 베이스 패널의 중앙 부위와 상기 상부 패널 중앙 부위 사이에는 상기 상부 패널의 회전을 위한 선회 베어링이 배치되며, 상기 선회 베어링의 양측에는 상기 상부 패널의 회전을 안내하기 위한 곡선 리니어 모션 가이드가 각각 배치되는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.An air floating module for blowing air to the lower surface of the substrate to float the substrate; And
And a substrate transfer module for moving the substrate floating by the air floating module,
The substrate transfer module comprises:
A base panel extending along the transport direction of the substrate;
An upper panel rotatably mounted on the base panel;
A vacuum chuck disposed on the upper panel and holding a central portion of the lower surface of the substrate floating by the air floating module;
An angle regulating unit disposed on the base panel and rotating the upper panel to adjust an arrangement angle of the substrate held by the vacuum chuck; And
And a driving unit for horizontally moving the base panel,
A swing bearing for rotating the upper panel is disposed between a central portion of the base panel and a central portion of the upper panel and curved linear motion guides for guiding rotation of the upper panel are disposed on both sides of the swing bearing, And the substrate transfer device. 제1항에 있어서, 상기 에어 부상 모듈은 서로 평행하게 연장하는 제1 및 제2 에어 부상 패널들을 포함하며, 상기 기판 이송 모듈은 상기 제1 및 제2 에어 부상 패널들 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.2. The apparatus of claim 1, wherein the air floating module includes first and second air floating panels extending parallel to each other, and the substrate transporting module is disposed between the first and second air floating panels . 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 상부 패널은 상기 베이스 패널과 평행하게 연장하며, 상기 각도 조절부는 연결 부재를 통해 상기 상부 패널의 일측 단부와 연결되고, 상기 연결 부재를 상기 상부 패널의 연장 방향에 대하여 수직하는 방향으로 상기 연결 부재를 이동시키는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.[2] The apparatus of claim 1, wherein the upper panel extends parallel to the base panel, the angle adjuster is connected to one end of the upper panel via a connecting member, And the connecting member is moved in a direction to move the connecting member. 제5항에 있어서, 소정의 곡률 반경을 갖고 상기 베이스 패널 상에 장착되는 곡선 가이드 레일과, 상기 상부 패널의 연장 방향을 따라 연장하며 상기 상부 패널의 일측 단부의 하부면에 장착되는 직선 가이드 레일과, 상기 곡선 가이드 레일과 상기 직선 가이드 레일 사이에서 이동 가능하도록 결합되는 가동 블록을 포함하는 크로스 리니어 모션 가이드가 상기 연결 부재와 인접하게 배치되며,
상기 연결 부재는 상기 크로스 리니어 모션 가이드의 직선 가이드 레일과 힌지 형태로 결합되는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.The flat panel display according to claim 5, further comprising: a curved guide rail having a predetermined radius of curvature and mounted on the base panel; a straight guide rail extending along the extending direction of the upper panel and mounted on a lower surface of one end of the upper panel; , A cross linear motion guide including a movable block movably coupled between the curved guide rail and the linear guide rail is disposed adjacent to the connecting member,
Wherein the connecting member is hingedly coupled to the linear guide rail of the cross linear motion guide. 제1항에 있어서, 상기 기판 이송 모듈은, 상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판의 하부면 일측 부위를 파지하는 보조 진공척을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.2. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the substrate transfer module further comprises an auxiliary vacuum chuck disposed on the upper panel and gripping one side of the lower surface of the substrate floating by the air floating module, . 제7항에 있어서, 상기 기판 이송 모듈은, 상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 보조 진공척의 위치를 조절하기 위한 위치 조절부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.The substrate transporting apparatus according to claim 7, wherein the substrate transporting module further comprises a position adjusting unit disposed on the upper panel and adjusting a position of the auxiliary vacuum chuck. 제8항에 있어서, 상기 베이스 패널과 상기 상부 패널은 상기 기판의 이송 방향을 따라 연장하며,
상기 위치 조절부는 상기 보조 진공척의 위치를 조절하기 위하여 상기 보조 진공척을 상기 상부 패널의 연장 방향을 따라 이동시키는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.9. The apparatus of claim 8, wherein the base panel and the upper panel extend along a conveying direction of the substrate,
Wherein the position adjuster moves the auxiliary vacuum chuck along the extending direction of the upper panel to adjust the position of the auxiliary vacuum chuck. 기판의 하면으로 에어를 분사하여 상기 기판을 부상시키는 에어 부상 모듈;
상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판을 이동시키기 위한 기판 이송 모듈; 및
상기 에어 부상 모듈의 상부에 배치되며 상기 기판 이송 모듈에 의해 이동되는 기판의 결함을 검출하기 위한 검사 모듈을 포함하되,
상기 기판 이송 모듈은,
상기 기판의 이송 방향을 따라 연장하는 베이스 패널;
상기 베이스 패널의 상에 회전 가능하도록 장착된 상부 패널;
상기 상부 패널 상에 배치되며 상기 에어 부상 모듈에 의해 부상된 기판의 하부면 중앙 부위를 파지하는 진공척;
상기 베이스 패널 상에 배치되며 상기 진공척에 의해 파지된 기판의 배치 각도를 조절하기 위하여 상기 상부 패널을 회전시키는 각도 조절부; 및
상기 베이스 패널을 수평 이동시키는 구동부를 포함하고,
상기 베이스 패널의 중앙 부위와 상기 상부 패널 중앙 부위 사이에는 상기 상부 패널의 회전을 위한 선회 베어링이 배치되며, 상기 선회 베어링의 양측에는 상기 상부 패널의 회전을 안내하기 위한 곡선 리니어 모션 가이드가 각각 배치되는 것을 특징으로 하는 기판 검사 장치.An air floating module for blowing air to the lower surface of the substrate to float the substrate;
A substrate transfer module for moving a substrate floating by the air floating module; And
And an inspection module disposed at an upper portion of the air floating module and detecting a defect of the substrate moved by the substrate transfer module,
The substrate transfer module comprises:
A base panel extending along the transport direction of the substrate;
An upper panel rotatably mounted on the base panel;
A vacuum chuck disposed on the upper panel and holding a central portion of the lower surface of the substrate floating by the air floating module;
An angle regulating unit disposed on the base panel and rotating the upper panel to adjust an arrangement angle of the substrate held by the vacuum chuck; And
And a driving unit for horizontally moving the base panel,
A swing bearing for rotating the upper panel is disposed between a central portion of the base panel and a central portion of the upper panel and curved linear motion guides for guiding rotation of the upper panel are disposed on both sides of the swing bearing, And the substrate inspection apparatus.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006259059A (en) 2005-03-16 2006-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Panel assembling apparatus and panel assembly method
JP2007281285A (en) * 2006-04-10 2007-10-25 Olympus Corp Substrate transport apparatus

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