KR101476793B1 - Socket for electrical test - Google Patents

Socket for electrical test Download PDF

Info

Publication number
KR101476793B1
KR101476793B1 KR20130102706A KR20130102706A KR101476793B1 KR 101476793 B1 KR101476793 B1 KR 101476793B1 KR 20130102706 A KR20130102706 A KR 20130102706A KR 20130102706 A KR20130102706 A KR 20130102706A KR 101476793 B1 KR101476793 B1 KR 101476793B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
terminal
hole
housing
spring member
disposed
Prior art date
Application number
KR20130102706A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김종원
Original Assignee
주식회사 아이에스시
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 아이에스시 filed Critical 주식회사 아이에스시
Priority to KR20130102706A priority Critical patent/KR101476793B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101476793B1 publication Critical patent/KR101476793B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

The present invention relates to a socket for a test and, more specifically, a socket for a test, which is arranged between a device to be tested and a test device to electrically connect a terminal of the device to be tested and a pad of the test device. The socket for a test comprises: a housing having through holes formed in a horizontal direction at every locations corresponding to terminals of a device to be tested; a seat member which is arranged at the lower side of the housing and has insertion holes formed at every locations corresponding to the through holes; a maintaining member having an upper part arranged along the upper surface of the seat member around the insertion holes, a lower part arranged along the lower surface of the seat member around the insertion holes, and a connection part which connects the upper part and the lower part, is arranged along the inner wall of the insertion holes, and has a center hole formed therein; a first spring member which is inserted into the through hole of the housing and has a greater external diameter than the center hole; and a contact terminal which has a greater external diameter than the center hole and includes a protrusion terminal unit arranged at the lower side of the maintaining member, an insertion terminal unit fitted and hooked in the lower end of the spring member, and a connection unit that has at least a portion inserted into the center hole and connects the protrusion terminal unit and the insertion terminal unit.

Description

테스트용 소켓{Socket for electrical test}Socket for electrical test

본 발명은 테스트용 소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 제조가 간편하면서도 내구성이 우수한 테스트용 소켓에 대한 것이다.The present invention relates to a test socket, and more particularly, to a test socket which is simple in manufacturing and excellent in durability.

일반적으로 제조가 완료된 반도체 디바이스와 같은 피검사기판의 불량여부를 판단하기 위하여 전기적 테스트를 실시한다. 구체적으로는 검사장치로부터 소정의 테스트신호를 피검사기판으로 흘려보내 그 기판의 단락여부를 판정하게 된다. 이러한 검사장치와 피검사기판은 서로 직접 접속되는 것이 아니라, 소위 테스트용 소켓이라는 매개장치를 이용하여 간접적으로 접속되게 된다. 그 이유는 검사장치의 단자에 피검사기판의 단자가 직접 접촉하는 경우에는 반복적인 테스트과정에서 검사장치의 단자가 마모 또는 파손이 발생하게 되며 이러한 검사장치의 단자가 파손되면 전체적인 검사장치를 교체해야 하여 전체적으로 많은 비용이 발생될 요인이 되기 때문이다. 따라서, 테스트용 소켓을 사용하게 되면 피검사기판은 검사장치에 장착된 테스트소켓에 접촉하게 되고 이에 따라 테스트용 소켓이 반복적인 접촉에 의하여 마모 또는 파손되며 그 테스트용 소켓만을 교체하여 주면 되어 전체적인 교체비용을 절약할 수 있게 된다.In general, an electrical test is performed to determine whether or not a substrate to be inspected, such as a semiconductor device that has been manufactured, is defective. Specifically, a predetermined test signal is caused to flow from the testing apparatus to the test substrate to determine whether the substrate is short-circuited. Such an inspection apparatus and a substrate to be inspected are not directly connected to each other, but are indirectly connected using an intermediate apparatus called a so-called test socket. This is because when the terminal of the inspection board directly contacts the terminal of the inspection apparatus, the terminal of the inspection apparatus is worn or damaged in the repeated test process. If the terminal of the inspection apparatus is broken, the whole inspection apparatus should be replaced This is because it causes a large cost as a whole. Therefore, when the test socket is used, the test substrate is brought into contact with the test socket mounted on the test apparatus, and thus the test socket is abraded or damaged by repetitive contact, and only the test socket is replaced, Thereby saving costs.

한편, 이러한 테스트용 소켓으로는 다양한 방식이 채용되고 있으나 스프링 타입 또는 러버타입이 널리 이용되고 있다. On the other hand, various test sockets are used, but spring type or rubber type are widely used.

도 1에서는 종래기술에 따른 스프링 타입을 도시하고 있으며, 이러한 스프링 타입의 테스트용 소켓(100)은 피검사 디바이스(130)의 단자(131)와 대응되는 위치마다 상하방향으로 관통공(111)이 형성되는 하우징(110)과, 상기 하우징(110)의 관통공(111) 내에 삽입되며 적어도 상하단이 하우징(110)으로부터 돌출되는 스프링(120)을 포함하여 구성된다. 이때, 하우징(110)은 절연성 소재로 이루어져 전기적인 쇼트가 일어나는 것을 방지한다. 상기 테스트용 소켓(100)은 검사장치(140)에 탑재되며 각 스프링(120)은 검사장치(140)의 패드(141)와 접촉된다.The spring type test socket 100 has a through hole 111 in a vertical direction at positions corresponding to the terminals 131 of the device under test 130 And a spring 120 inserted into the through hole 111 of the housing 110 and having at least upper and lower ends protruded from the housing 110. At this time, the housing 110 is made of an insulating material to prevent electrical short-circuiting. The test socket 100 is mounted on the inspection apparatus 140 and each spring 120 is contacted with the pad 141 of the inspection apparatus 140.

이러한 테스트용 소켓은 검사장치에 탑재된 상태에서 검사가 필요한 피검사 디바이스의 단자와 접촉되도록 구성되어 있다. 상기 피검사 디바이스는 소정의 트레이로부터 운반되어 이동되고 상기 테스트용 소켓에 안착됨으로서 전기적인 검사를 수행하게 한다. 한편, 테스트용 소켓에 안착된 피검사 디바이스는 각 단자가 스프링과 접촉되어 있는 상태로 전기적인 테스트 준비상태에 놓이게 되는데, 이때 검사장치로부터 소정의 신호가 인가되면 그 인가된 신호가 스프링을 거쳐 상기 피검사디바이스로 전달됨으로서 소정의 테스트를 수행하게 되는 것이다.The test socket is configured to be in contact with a terminal of the device to be inspected which is required to be inspected while being mounted on the inspection device. The device to be inspected is carried from a predetermined tray, moved, and seated in the test socket, thereby performing electrical inspection. On the other hand, the device to be inspected placed on the test socket is placed in an electrical test preparation state in which each terminal is in contact with the spring. When a predetermined signal is applied from the testing device, And is then transmitted to the inspected device to perform a predetermined test.

이러한 종래기술에 따르는 테스트용 소켓은 다음과 같은 문제점이 있다.The test socket according to the prior art has the following problems.

즉, 상술한 종래기술에 따른 테스트용 소켓은 내부에 스프링이 하우징으로부터 이탈하는 것을 방지하기 위하여, 하우징의 관통공 상하단에 단턱을 구비하고 있다. 즉, 관통공 주위에 배치되는 단턱에 상기 스프링이 걸리게 함으로서 상기 하우징 내에 유지될 수 있도록 한다. 그러나, 이와 같이 하우징의 상하단에 단턱을 마련하기 위해서는 하우징에 다수의 드릴링 작업을 수행해야 한다는 문제점이 있다. 또한, 단턱이 마련되기 위해서는 하우징이 최소한의 두께를 가지고 있어야 한다는 문제점이 있다. 즉, 하우징의 두께가 얇은 경우에는 그에 따라서 단턱의 크기도 작아져야 하며 이에 따라서 외부로부터 가해지는 충격에 의하여 상기 단턱이 쉽게 파손되는 문제점이 있게 된다.That is, the test socket according to the related art has a step at the upper and lower ends of the through-hole of the housing to prevent the spring from being detached from the housing. That is, the spring is engaged with the stepped portion disposed around the through-hole so as to be held in the housing. However, in order to form a step on the upper and lower ends of the housing, a plurality of drilling operations must be performed on the housing. Further, there is a problem that the housing must have a minimum thickness in order to provide a step. That is, when the thickness of the housing is thin, the size of the step should be reduced accordingly, and thus the step is easily broken by an impact applied from the outside.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 제작이 용이하면서도 내구성이 우수한 테스트용 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a test socket that is easy to manufacture and has excellent durability.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 테스트용 소켓은, 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 상기 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 테스트용 소켓으로서,In order to achieve the above object, a test socket of the present invention is a test socket which is disposed between an inspecting device and an inspecting device and electrically connects terminals of the inspecting device and pads of the inspecting device to each other,

상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 상하방향으로 관통공이 형성되는 하우징;A housing having a through hole formed in a vertical direction at each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;

상기 하우징의 하측에 배치되되 상기 관통공과 대응되는 위치마다 삽입공이 형성되는 시트부재;A sheet member disposed at a lower side of the housing and having insertion holes formed at positions corresponding to the through holes;

상기 삽입공 주위의 시트부재 상면을 따라서 배치되는 상측부와, 상기 삽입공 주위의 시트부재의 하면을 따라서 배치되는 하측부와, 상기 상측부와 상기 하측부를 연결하며 상기 삽입공의 내측벽을 따라서 배치되며 중앙홀이 마련되는 연결부를 포함하는 유지부재;An upper side portion disposed along the upper surface of the sheet member around the insertion hole, a lower portion disposed along the lower surface of the sheet member around the insertion hole, and a lower portion connecting the upper portion and the lower portion, A retaining member including a connection portion provided with a center hole;

상기 하우징의 관통공 내에 삽입되되 외경이 상기 중앙홀보다 큰 제1스프링부재; 및A first spring member inserted into the through hole of the housing and having an outer diameter larger than the center hole; And

상기 중앙홀보다 큰 외경을 가지되 상기 유지부재의 하측에 배치되는 돌출단자부와, 상기 스프링부재의 하단에 끼워걸리는 삽입단자부와, 상기 돌출단자부와 상기 삽입단자부를 연결하되 적어도 일부가 상기 중앙홀 내에 삽입되는 연결부를 포함하는 접촉단자를 구비한다.A protruding terminal portion having an outer diameter larger than that of the center hole and disposed at a lower side of the holding member; an insertion terminal portion to be fitted to a lower end of the spring member; And a contact terminal including a connection portion to be inserted.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 스프링부재의 상단에는 피검사 디바이스의 단자와 접촉되는 접속단자가 결합될 수 있다.A connection terminal which is in contact with a terminal of the device to be inspected may be coupled to an upper end of the spring member.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 제1스프링부재의 내부에는 하단이 상기 접촉단자의 상면과 접촉되는 제2스프링부재가 배치될 수 있다.A second spring member may be disposed in the first spring member such that the lower end of the second spring member contacts the upper surface of the contact terminal.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 제1스프링부재의 내부에는 상단이 접속단자의 하면과 접촉되고 하단이 상기 접촉단자의 상면과 접촉되는 제2스프링부재가 배치될 수 있다.A second spring member may be disposed inside the first spring member such that the upper end thereof is in contact with the lower surface of the connection terminal and the lower end thereof is in contact with the upper surface of the contact terminal.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 관통공은 직경이 일정하게 유지될 수 있다.The diameter of the through-hole can be kept constant.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 관통공은 상단으로부터 하측으로 갈수록 내경이 감소되는 테이퍼부가 배치될 수 있다.The through hole may have a tapered portion whose inner diameter decreases from the upper end to the lower end.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 시트부재는 상기 하우징의 하단에 접착제 또는 위치고정용 핀에 의하여 부착될 수 있다.The sheet member may be attached to the lower end of the housing by an adhesive or a position fixing pin.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 삽입단자부는 제1스프링부재의 하단 내경보다 큰 확경부를 포함하되, 상기 확경부의 외경은 상기 중앙홀의 내경보다 작을 수 있다.The insert terminal portion includes a diameter enlarged portion that is larger than a lower end inner diameter of the first spring member. The outer diameter of the enlarged diameter portion may be smaller than the inner diameter of the center hole.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 테스트용 소켓은, 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 상기 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 테스트용 소켓으로서,In order to achieve the above object, a test socket of the present invention is a test socket which is disposed between an inspecting device and an inspecting device and electrically connects terminals of the inspecting device and pads of the inspecting device to each other,

상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 상하방향으로 관통공이 형성되는 하우징;A housing having a through hole formed in a vertical direction at each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;

상기 하우징의 상측에 배치되되 상기 관통공과 대응되는 위치마다 삽입공이 형성되는 시트부재;A sheet member disposed on the upper side of the housing and having an insertion hole formed at a position corresponding to the through hole;

상기 삽입공 주위의 시트부재 상면을 따라서 배치되는 상측부와, 상기 삽입공 주위의 시트부재의 하면을 따라서 배치되는 하측부와, 상기 상측부와 상기 하측부를 연결하며 상기 삽입공의 내측벽을 따라서 배치되며 중앙홀이 마련되는 연결부를 포함하는 유지부재;An upper side portion disposed along the upper surface of the sheet member around the insertion hole, a lower portion disposed along the lower surface of the sheet member around the insertion hole, and a lower portion connecting the upper portion and the lower portion, A retaining member including a connection portion provided with a center hole;

상기 하우징의 관통공 내에 삽입되되 외경이 상기 중앙홀보다 큰 제1스프링부재; 및A first spring member inserted into the through hole of the housing and having an outer diameter larger than the center hole; And

상기 중앙홀보다 큰 외경을 가지되 상기 유지부재의 상측에 배치되는 돌출단자부와, 상기 스프링부재의 상단에 끼워걸리는 삽입단자부와, 상기 돌출단자부와 상기 삽입단자부를 연결하되 적어도 일부가 상기 중앙홀 내에 삽입되는 연결부를 포함하는 접촉단자를 포함할 수 있다.A protruding terminal portion having an outer diameter larger than that of the center hole and disposed on the upper side of the retaining member; an insertion terminal portion which is fitted to an upper end of the spring member; and a connection terminal portion connecting the protruding terminal portion and the insertion terminal portion, And a contact terminal including a connection portion to be inserted.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 테스트용 소켓은, 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 상기 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 테스트용 소켓으로서,In order to achieve the above object, a test socket of the present invention is a test socket which is disposed between an inspecting device and an inspecting device and electrically connects terminals of the inspecting device and pads of the inspecting device to each other,

상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 상하방향으로 관통공이 형성되는 하우징;A housing having a through hole formed in a vertical direction at each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;

상기 하우징과 결합되며 상기 관통공과 대응되는 위치마다 삽입공이 형성되는 시트부재;A sheet member coupled to the housing and having an insertion hole formed at a position corresponding to the through hole;

상기 삽입공 주위의 시트부재 상면을 따라서 배치되는 상측부와, 상기 삽입공 주위의 시트부재의 하면을 따라서 배치되는 하측부와, 상기 상측부와 상기 하측부를 연결하며 상기 삽입공의 내측벽을 따라서 배치되며 중앙홀이 마련되는 연결부를 포함하는 유지부재;An upper side portion disposed along the upper surface of the sheet member around the insertion hole, a lower portion disposed along the lower surface of the sheet member around the insertion hole, and a lower portion connecting the upper portion and the lower portion, A retaining member including a connection portion provided with a center hole;

상기 하우징의 관통공 내에 삽입되되 외경이 상기 중앙홀보다 큰 제1스프링부재; 및A first spring member inserted into the through hole of the housing and having an outer diameter larger than the center hole; And

일측은 상기 유지부재에 결합되고 타측은 상기 제1스프링부재에 결합되는 접촉단자를 포함할 수 있다.One end of which is connected to the holding member and the other end of which is connected to the first spring member.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 유지부재에 결합되는 접촉단자의 일측은 상기 중앙홀보다 큰 외경을 가질 수 있다.One side of the contact terminal coupled to the holding member may have an outer diameter larger than that of the center hole.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 유지부재는, 상기 시트부재가 강도가 높은 소재로 이루어질 수 있다.The holding member may be made of a material having a high strength.

상기 테스트용 소켓에서,In the test socket,

상기 시트부재는 유연성의 합성수지 소재로 이루어지고, 상기 유지부재는 금속소재로 이루어질 수 있다.The sheet member may be made of a flexible synthetic resin material, and the holding member may be made of a metal material.

본 발명에 따른 테스트용 소켓은, 하우징 내에 배치되는 스프링부재가 시트부재에 결합되는 접촉단자에 끼워져 결합되어 있으므로, 스프링부재가 접촉단자에 의하여 하우징 외부로 이탈되는 것이 방지됨에 따라서 하우징 내에 별도의 단턱을 배치할 필요가 없으며 이에 따라서 하우징의 제작이 간편해지는 장점이 있다.The test socket according to the present invention is characterized in that the spring member disposed in the housing is fitted to the contact terminal to be coupled to the sheet member so that the spring member is prevented from being detached to the outside of the housing by the contact terminal, There is an advantage that the manufacture of the housing is simplified.

또한 테스트용 소켓에서 상기 시트부재에는 상기 접촉단자가 배치되어 상기 유지부재가 시트부재에 결합시 쉽게 이탈되지 않는다는 장점이 있다.In addition, there is an advantage that the contact terminal is disposed on the sheet member in the test socket so that the holding member can not be easily separated when the holding member is engaged with the sheet member.

도 1은 종래기술에 따른 테스트용 소켓을 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트용 소켓의 평면도.
도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ 단면도.
도 4는 도 2의 테스트용 소켓의 작동모습을 나타내는 도면.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트용 소켓을 나타내는 도면. 1 shows a socket for testing according to the prior art;
2 is a plan view of a test socket according to an embodiment of the present invention;
3 is a sectional view taken along the line III-III of Fig.
4 is a view showing an operation of the test socket of Fig. 2; Fig.
5 shows a socket for testing according to another embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트용 소켓을 첨부된 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.Hereinafter, a test socket according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트용 소켓(10)은, 피검사 디바이스(90)와 검사장치(92)의 사이에 배치되어 피검사 디바이스(90)의 단자(91)와 검사장치(92)의 패드(93)를 서로 전기적으로 접속시키는 것이다. The test socket 10 according to the embodiment of the present invention is disposed between the device under test 90 and the inspecting device 92 and is provided between the terminal 91 of the device 90 to be inspected and the inspecting device 92, The pads 93 of the pads 93 are electrically connected to each other.

이러한 테스트용 소켓(10)은, 하우징(20), 시트부재(30), 유지부재(40), 접속단자(50), 제1스프링부재(60), 제2스프링부재(70) 및 접촉단자(80)를 포함하여 구성된다.The test socket 10 includes a housing 20, a sheet member 30, a holding member 40, a connecting terminal 50, a first spring member 60, a second spring member 70, (80).

상기 하우징(20)은 테스트용 소켓(10)의 몸체를 구성하는 것으로서, 대략 소정의 두께를 가지는 평판형상으로 이루어지며 절연성의 소재로 이루어진다. 구체적으로 상기 하우징(20)은 가공성이 우수하면서도 절연성이 좋은 합성수지소재로 이루어질 수 있다. The housing 20 constitutes the body of the test socket 10 and has a flat plate shape having a predetermined thickness and is made of an insulating material. Specifically, the housing 20 may be made of a synthetic resin material having excellent workability and good insulation.

이러한 하우징(20)에는 상측에 배치되는 피검사 디바이스(90)의 단자와 대응되는 위치마다 관통공(21)이 배치된다. 상기 관통공(21)은 접촉될 피검사 디바이스(90)의 단자의 외경과 대응되는 직경을 가질 수 있다. The housing 20 is provided with a through hole 21 at a position corresponding to the terminal of the device under test 90 arranged on the upper side. The through hole 21 may have a diameter corresponding to the outer diameter of the terminal of the device under test 90 to be contacted.

한편, 상기 하우징(20)에서 상기 관통공(21)의 주위에는 테이퍼부(22)가 마련된다. 상기 테이퍼부(22)는 하우징(20)의 상단으로부터 하측으로 갈수록 내경이 감소되도록 구성된다. 한편, 상기 테이퍼부(22)로부터 하우징(20)의 하단까지의 관통공(21)은 직경이 일정하게 유지될 수 있다. Meanwhile, a tapered portion 22 is provided around the through hole 21 in the housing 20. The tapered portion 22 is configured such that the inner diameter decreases from the upper end of the housing 20 toward the lower side. Meanwhile, the diameter of the through-hole 21 from the tapered portion 22 to the lower end of the housing 20 can be kept constant.

상기 시트부재(30)는, 상기 하우징(20)의 하면측에 부착되어 위치고정되는 것으로서, 얇은 두께를 가지면서 유연성이 좋은 소재로 이루어질 수 있다. 구체적으로는 필름 또는 메쉬 중 어느 하나를 사용할 수 있다. 시트부재(30)로서 필름을 사용하는 경우에는 절연성을 갖는 유연한 것이면 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들어 폴리이미드 수지, 액정 폴리머, 폴리에스테르, 불소계 수지 등으로 이루어지는 수지 시트, 섬유를 짠 크로스에 상기한 수지를 함침한 시트 등을 이용할 수 있지만, 유지부재(40)가 형성될 삽입공(31)이 에칭에 의해 쉽게 형성할 수 있는 점에서 에칭 가능한 재료로 이루어지는 것이 바람직하고, 특히 폴리이미드가 바람직하다. The sheet member 30 is attached to the bottom surface of the housing 20 and is fixed to the sheet member 30. The sheet member 30 may be made of a thin and flexible material. Specifically, either a film or a mesh can be used. When a film is used as the sheet member 30, it is not particularly limited as long as it is flexible and has insulating properties. For example, a resin sheet made of a polyimide resin, a liquid crystal polymer, a polyester, A resin impregnated sheet or the like can be used. However, it is preferable that the insert hole 31 in which the holding member 40 is to be formed is made of an etchable material in view of being easily formed by etching, Do.

또한 시트부재(30)로서, 메쉬를 사용하는 경우에 유기 섬유에 의해 형성된 것을 바람직하게 이용할 수 있다. 이러한 유기 섬유로서는 폴리테트라플루오르에틸렌 섬유 등의 불소 수지 섬유, 아라미드 섬유, 폴리에틸렌 섬유, 폴리아릴레이트 섬유, 나일론 섬유, 폴리에스테르 섬유 등을 들 수 있다. 또한, 유기 섬유로서는 그 직경이 10 내지 200 ㎛인 것을 이용하는 것이 바람직하다As the sheet member 30, those formed of organic fibers in the case of using a mesh can be preferably used. Examples of such organic fibers include fluororesin fibers such as polytetrafluoroethylene fibers, aramid fibers, polyethylene fibers, polyarylate fibers, nylon fibers, and polyester fibers. As the organic fibers, those having a diameter of 10 to 200 mu m are preferably used

한편, 시트부재(30)의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 유연성이 좋은 범위인 10 내지 50 ㎛인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 10 내지 25 ㎛이다. On the other hand, the thickness of the sheet member 30 is not particularly limited, but is preferably 10 to 50 占 퐉, more preferably 10 to 25 占 퐉, which is a good range of flexibility.

이러한 시트부재(30)는, 하우징(20)의 하면측에 접착제 및/또는 위치고정핀에 의하여 고정된다. 이러한 시트부재(30)에는 상기 관통공(21)과 대응되는 위치바다 삽입공(31)이 다수 배치된다. 상기 삽입공(31)의 크기는 상기 관통공(21)보다는 다소 작은 것이 바람직하다.The sheet member 30 is fixed to the lower surface side of the housing 20 by an adhesive and / or a position fixing pin. In the sheet member 30, a plurality of sea insertion holes 31 corresponding to the through holes 21 are arranged. The size of the insertion hole 31 is preferably smaller than that of the through hole 21.

상기 유지부재(40)는 상기 삽입공(31)의 주위에 배치되어 접촉단자(80)가 상기 시트부재(30)에 견고하게 결합할 수 있도록 하기 위한 것으로서, 상측부(41)와, 하측부(42)와, 연결부(43)를 포함하여 구성된다.The holding member 40 is disposed around the insertion hole 31 to allow the contact terminal 80 to firmly engage with the sheet member 30 and includes an upper portion 41, (42), and a connecting portion (43).

상기 상측부(41)는, 대략 중앙에 구멍이 형성된 고리형상으로 이루어지되, 상기 삽입공(31) 주위의 시트부재(30)의 상면에 배치된다. 이러한 상측부(41)는 제1스프링부재(60)와 접촉되어 상기 스프링부재를 지지할 수 있다.The upper portion 41 is formed in an annular shape having a hole at a substantially central portion thereof and is disposed on the upper surface of the sheet member 30 around the insertion hole 31. The upper side portion 41 may contact the first spring member 60 to support the spring member.

상기 하측부(42)는 상기 상측부(41)와 대응되는 형상을 가지는 것으로서, 상기 삽입공(31)의 주위의 시트부재(30)의 하면에 배치된다. 이러한 하측부(42)는 접촉단자(80)의 돌출단자부(81)의 상면과 접촉될 수 있다.The lower portion 42 has a shape corresponding to the upper portion 41 and is disposed on the lower surface of the sheet member 30 around the insertion hole 31. [ The lower portion 42 may be in contact with the upper surface of the protruding terminal portion 81 of the contact terminal 80. [

상기 연결부(43)는, 상기 상측부(41)와 상기 하측부(42)를 연결하며 상기 삽입공(31)의 내측벽을 따라서 배치되는 것으로서, 중앙에는 중앙홀(44)이 형성된다. 이러한 연결부는 대략 원통형태로 이루어지게 된다.The connecting portion 43 connects the upper portion 41 and the lower portion 42 and is disposed along the inner wall of the insertion hole 31 and has a center hole 44 formed at the center thereof. Such a connection portion is formed in a substantially cylindrical shape.

상기 유지부재(40)는, 니켈, 구리, 금, 은, 팔라듐, 철 등을 이용할 수 있고, 유지부재(40)로서는 전체가 단일의 금속으로 이루어지는 것이라도, 2종 이상의 금속의 합금으로 이루어지는 것 또는 2종 이상의 금속이 적층되어 이루어지는 것이라도 좋다.The retaining member 40 may be made of a single metal or may be made of an alloy of two or more kinds of metals as long as the retaining member 40 can be made of a metal such as nickel, copper, gold, silver, palladium, iron, Or two or more kinds of metals may be laminated.

또한, 유지부재(40)에 있어서의 상측부(41) 및 하측부(42)의 표면에는 상기 표면산화를 방지하는 동시에, 접촉 저항이 작은 전극부를 얻기 위해, 금, 은, 팔라듐 등의 화학적으로 안정되고 도전성을 갖는 금속 피막이 형성되어 있어도 좋다. 이러한 유지부재(40)는 도금처리를 실시함에 의하여 제작될 수 있는 데, 도금방식에는 특별하게 한정됨이 없고 다양한 도금방식이 채용될 수 있다.The surface of the upper portion 41 and the lower portion 42 of the holding member 40 may be chemically treated with gold, silver, palladium or the like in order to prevent surface oxidation and to obtain an electrode portion having a small contact resistance. A metal film having a stable and conductive property may be formed. Such a holding member 40 can be manufactured by performing a plating process, but the plating method is not particularly limited, and various plating methods can be employed.

상기 접속단자(50)는, 하우징(20)의 관통공(21) 상측에 배치되는 것으로서, 구체적으로는 제1스프링부재(60)와 결합되는 것이다. 이러한 접속단자(50)는 상측에 다수의 탐침이 형성되어 있으며 탐침의 하측에는 제1스프링부재(60)가 억지끼움될 수 있는 홈이 둘레방향을 따라서 형성되어 있다. 상기 접속단자(50)는 피검사 디바이스(90)의 단자와 접촉되어 전기적인 접속을 가능하게 하는 것으로서, 도전성이 우수한 소재가 사용되는 것이 바람직하며 특히 유지부재(40)와 동일 또는 유사한 금속소재가 사용될 수 있다. 또한, 필요하다면 그 표면에 금, 은 등의 전도성이 좋은 금속소재가 도금처리될 수 있다.The connection terminal 50 is disposed on the upper side of the through hole 21 of the housing 20 and is concretely connected to the first spring member 60. A plurality of probes are formed on the upper side of the connection terminal 50, and grooves are formed along the circumferential direction below the probes so that the first spring member 60 can be detained. The connection terminal 50 is in contact with a terminal of the device under test 90 to enable electrical connection. It is preferable to use a material having excellent conductivity. In particular, a metal material similar to or similar to the holding member 40 Can be used. Further, if necessary, a metal material having good conductivity such as gold or silver can be plated on its surface.

상기 제1스프링부재(60)는, 상기 하우징(20)의 관통공(21) 내에 삽입되며 압축과 신장이 가능한 것으로서, 통상적인 압축 코일 스프링이 사용될 수 있다. 이러한 제1스프링부재(60)는 그 외경이 상기 중앙홀(44)보다 커서 중앙홀(44)을 통하여 외부로 빠져나가는 것이 방지된다. 한편, 상기 제1스프링부재(60)는 접촉단자(80)와 접속단자(50)의 사이에 배치되어 접촉단자(80)에 가해지는 전기적인 신호 또는 전류를 상기 접속단자(50)에 접촉시키는 것으로서 전도성이 우수한 소재를 모재로 사용하거나 또는 전도성이 우수한 소재를 이용하여 표면피복처리하는 것이 바람직하다.The first spring member 60 is inserted into the through hole 21 of the housing 20 and is compressible and stretchable. A conventional compression coil spring can be used. The first spring member 60 is prevented from escaping through the center hole 44 because the outer diameter of the first spring member 60 is larger than that of the center hole 44. The first spring member 60 is disposed between the contact terminal 80 and the connection terminal 50 and contacts the connection terminal 50 with an electrical signal or current applied to the contact terminal 80 It is preferable to use a material having excellent conductivity as a base material or a surface coating treatment using a material having excellent conductivity.

상기 제1스프링부재(60)는, 상단이 상기 접속단자(50)와 착탈가능하게 결합되며 하단은 상기 접촉단자(80)와 착탈가능하게 결합되어 있게 된다. 구체적으로 상기 제1스프링부재(60)의 하단은 상기 접촉단자(80)의 돌출단자부(81)에 억지끼움되어 결합될 수 있다.The upper end of the first spring member 60 is detachably coupled to the connection terminal 50 and the lower end of the first spring member 60 is detachably coupled to the contact terminal 80. Specifically, the lower end of the first spring member 60 may be engaged with the protruding terminal portion 81 of the contact terminal 80.

상기 제2스프링부재(70)는, 상기 제1스프링부재(60)의 내부에 배치되는 것으로서, 구체적으로는 그 상단이 상기 접속단자(50)의 하면과 접촉하면 그 하단이 접촉단자(80)의 상면과 접촉되어 상기 접속단자(50)와 상기 접촉단자(80)를 서로 멀어지는 방향으로 탄성바이어스시키는 것이다. 이러한 제2스프링부재(70)는 상기 제1스프링부재(60)와 함께 사용되었을 때 전체적인 탄성반발력을 증가시킴은 물론, 전기적으로 상기 접촉단자(80)와 접속단자(50)를 연결하는 경우에 전체적인 current pass 를 짧게 함으로서 전체적인 전기적인 저항을 낮출 수 있게 한다. 이러한 제2스프링부재(70)는 전도성이 우수한 모재를 이용하여 제작되거나 또는 그 표면에 전도성이 우수한 금, 은 등의 귀금속을 표면도금할 수 있다.The second spring member 70 is disposed inside the first spring member 60. Specifically, when the upper end of the second spring member 70 contacts the lower surface of the connection terminal 50, So that the connection terminal 50 and the contact terminal 80 are elastically biased in directions away from each other. When the second spring member 70 is used together with the first spring member 60, the overall resilient repulsive force is increased, and when the contact terminal 80 is electrically connected to the connection terminal 50 By shortening the overall current pass, the overall electrical resistance can be lowered. The second spring member 70 can be manufactured using a base material having excellent conductivity or can surface-coat a noble metal such as gold, silver or the like with excellent conductivity on the surface thereof.

상기 접촉단자(80)는, 검사장치(92)의 패드(93)와 접촉되고 상기 제1스프링부재(60)와 결합되어 상기 제1스프링부재(60)의 관통공(21) 내에서의 이탈을 방지하기 위한 것이다. 이러한 접촉단자(80)는, 돌출단자부(81)와, 삽입단자부(82)와, 연결부를 포함하여 구성된다.The contact terminal 80 is in contact with the pad 93 of the inspection apparatus 92 and is engaged with the first spring member 60 so as to be separated from the through hole 21 of the first spring member 60 . The contact terminal 80 includes a protruding terminal portion 81, an inserting terminal portion 82, and a connecting portion.

상기 돌출단자부(81)는 상기 접촉단자(80)의 하측에 배치되는 것으로서 대략 원판형상으로 이루어지되 그 외주면에는 상기 중앙홀(44)보다 외경이 크게 형성된다. 구체적으로는 돌출단자부(81)의 외경은 상기 중앙홀(44)보다 대략 1.2 ~ 2 배 이내의 범위를 가지도록 구성된다. 상기 돌출단자부(81)는 그 하단에 소정의 곡률반경을 가지도록 돌출된 부분이 형성되고 그 돌출된 부분이 검사장치(92)의 패드(93)와 접촉된다.The protruding terminal portion 81 is disposed on the lower side of the contact terminal 80, and is formed in a substantially disc shape. On the outer circumferential surface of the protruding terminal portion 81, the outer diameter is larger than the center hole 44. Specifically, the outer diameter of the protruding terminal portion 81 is set to be approximately 1.2 to 2 times larger than the center hole 44. The protruding terminal portion 81 is formed with a protruded portion at a lower end thereof so as to have a predetermined radius of curvature, and the protruding portion is brought into contact with the pad 93 of the inspecting device 92.

상기 삽입단자부(82)는, 상기 접촉단자(80)의 상측에 배치되는 것으로서, 상기 제1스프링부재(60)의 하단에 끼워걸리는 것으로서 상기 제1스프링부재(60)의 하단보다 다소 큰 외경을 가지되, 중앙홀(44)보다도 다소 작은 외경을 가지는 것이 바람직하다. 이에 따라서 스프링부재만 제거되면 상기 접촉단자(80)를 상기 시트부재(30)로부터 용이하게 제거할 수 있다.The insertion terminal portion 82 is disposed on the upper side of the contact terminal 80 and is engaged with the lower end of the first spring member 60. The insertion terminal portion 82 has an outer diameter slightly larger than the lower end of the first spring member 60 It is preferable to have an outer diameter slightly smaller than that of the central hole 44. Accordingly, when the spring member is removed, the contact terminal 80 can be easily removed from the sheet member 30.

상기 연결부(83)는, 삽입단자부(82)와, 돌출단자부(81)의 사이에 배치되는 것으로서, 상기 돌출단자부(81)와 상기 삽입단자부(82)를 연결하되 적어도 일부가 상기 중앙홀(44) 내에 삽입되도록 구성된다. 이러한 연결부(83)는 대략 원판형태로 이루어지고 상기 중앙홀(44)보다 다소 작은 외경을 가지도록 구성된다.The connection unit 83 is disposed between the insertion terminal unit 82 and the protrusion terminal unit 81 and connects the protrusion terminal unit 81 and the insertion terminal unit 82 so that at least a portion of the protrusion terminal unit 81 is connected to the center hole 44 . The connecting portion 83 is formed in a substantially disc shape and has a slightly smaller outer diameter than the center hole 44.

한편, 상기 접촉단자(80)는 검사장치(92)의 패드(93) 및 스프링부재와 접촉되어 전류를 전달하는 기능을 수행하기 때문에 전도성이 우수한 소재를 사용하는 것이 바람직하며, 또한 필요에 따라서는 전도성이 높은 귀금속 소재를 표면처리하는 것도 좋다. The contact terminal 80 contacts the pad 93 and the spring member of the inspecting device 92 and performs a function of transmitting a current. Therefore, it is preferable to use a material having excellent conductivity, It is also good to surface the noble metal material with high conductivity.

이러한 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트용 소켓은 다음과 같은 작용효과를 가진다.The test socket according to one embodiment of the present invention has the following operational effects.

먼저, 도 4에 도시한 바와 같이 검사장치(92)에 테스트 소켓을 탑재한 상태에서 피검사용 디바이스를 테스트 소켓의 상측에 배치한다. 구체적으로는 상기 테스트 소켓의 접촉단자(80)의 하단이 상기 검사장치(92)의 패드(93)에 접촉되도록 상기 테스트 소켓을 검사장치(92)에 안착시킨 후에, 검사가 필요한 피검사용 디바이스를 상기 테스트 소켓의 상측에 배치한다.First, as shown in Fig. 4, the test device is mounted on the test socket 92, and the test device is placed on the test socket. Specifically, after the test socket is placed on the testing device 92 so that the lower end of the contact terminal 80 of the test socket is brought into contact with the pad 93 of the testing device 92, And placed on the upper side of the test socket.

이후에, 피검사용 디바이스를 하강시켜 피검사 디바이스(90)의 단자들이 상기 테스트 소켓의 접속단자(50)에 접촉되도록 하며 소정 깊이 가압하여 충분한 접촉압을 가지면서 상기 피검사용 디바이스의 단자들이 접속단자(50)에 확실하게 접촉되도록 한다. 이후에, 검사장치(92)로부터 소정의 검사신호를 인가하면, 상기 검사신호는 테스트용 소켓(10)의 접촉단자(80)를 거쳐서 제1스프링부재(60) 및/또는 제2스프링부재(70), 접속단자(50)를 지나서 피검사용 디바이스의 단자로 인가된다. 한편, 소정의 전기적인 검사가 완료되면 상기 피검사용 디바이스를 제거하게 되는데, 이때 제1스프링부재(60) 및 제2스프링부재(70)는 탄성복원되면서 상기 접속단자(50)를 상승시키게 한다. Thereafter, the tested device is lowered so that the terminals of the device under test 90 are brought into contact with the connection terminals 50 of the test socket, (50). Thereafter, when a predetermined inspection signal is applied from the inspection apparatus 92, the inspection signal is transmitted to the first spring member 60 and / or the second spring member (not shown) via the contact terminal 80 of the test socket 10 70, and passes through the connection terminal 50 and is applied to the terminal of the device under test. Meanwhile, when the predetermined electrical inspection is completed, the test device is removed. At this time, the first spring member 60 and the second spring member 70 are elastically restored to raise the connection terminal 50.

한편, 이때 제1스프링부재(60)는 시트부재(30)에 고정되어 있는 접촉단자(80)에 결합되어 있으므로 외부로 이탈되는 것이 방지되고 하우징(20) 내에 필요한 위치를 유지하게 된다.At this time, since the first spring member 60 is coupled to the contact terminal 80 fixed to the seat member 30, the first spring member 60 is prevented from being detached to the outside, and the required position is maintained in the housing 20.

이러한 본 발명의 테스트용 소켓은, 기존의 테스트용 소켓과는 달리 하우징에 별도의 스프링의 이탈을 방지하도록 하는 단턱을 마련할 필요가 없어 전체적인 제조공정이 단순화되는 장점이 있다. 즉, 하우징에 부착된 시트부재 및 상기 시트부재에 결합되는 접촉단자에 의하여 스프링부재의 위치가 유지될 수 있어 하우징에 별도의 단턱을 마련할 필요가 없게 되는 것이다.The test socket of the present invention is advantageous in that the entire manufacturing process is simplified since there is no need to provide a step for preventing the spring from separating from the housing unlike the conventional test socket. That is, the position of the spring member can be maintained by the sheet member attached to the housing and the contact terminal coupled to the sheet member, so that there is no need to provide a separate step in the housing.

또한, 본 발명의 테스트용 소켓에서는 시트부재의 삽입공 주변에 접촉단자를 견고하게 유지시키는 유지부재를 배치함에 따라서, 유연성이 있는 시트부재로부터 쉽게 접촉단자가 이탈하는 것이 방지할 수 있다. 즉, 단순하게 시트부재에 억지끼움 식으로 결합시키는 접촉단자는 통상적으로 얇고 유연성이 있는 시트부재로부터 쉽게 이탈될 염려가 있으나, 본 실시예에서는 비교적 견고한 유지부재가 상기 시트부재에 배치되고 접촉단자는 유지부재에 의하여 시트부재에 위치고정되고 있으므로 쉽게 시트부재로부터 이탈되지 않게 되는 것이다.Further, in the test socket of the present invention, by arranging the holding member for firmly holding the contact terminal around the insertion hole of the sheet member, it is possible to prevent the contact terminal from easily separating from the flexible sheet member. That is, the contact terminals, which are simply coupled to the sheet member in a detachable manner, may be easily separated from the sheet member, which is usually thin and flexible. However, in this embodiment, a relatively rigid holding member is disposed on the sheet member, The sheet member is fixed to the sheet member by the holding member, so that the sheet member is not easily separated from the sheet member.

또한, 본 발명의 테스트용 소켓에서는 제1스프링부재 내에 제2스프링부재를 내부에 마련하고 있기 때문에, 전체적인 current pass를 감소시키는 장점이 있다. 즉, 나선반경이 큰 제1스프링부재에 비하여 제2스프링부재는 나선반경이 작기 때문에 전체적인 나선길이도 제2스프링부재가 제1스프링부재에 비하여 짧게 되고 이에 따라서 전체적인 current pass 도 감소될 수 있게 된다. 이와 같이 current pass 도 감소되는 경우에는 전기적인 저항도 감소하여 검사의 신뢰성을 상승시킬 수 있게 된다.Further, in the test socket of the present invention, since the second spring member is provided inside the first spring member, there is an advantage of reducing the overall current pass. In other words, since the spiral radius of the second spring member is smaller than that of the first spring member having a larger spiral radius, the overall spiral length of the second spring member is shorter than that of the first spring member, . When the current pass is also reduced, the electrical resistance is reduced, thereby increasing the reliability of the test.

또한, 본 발명의 테스트용 소켓에서는, 하우징의 관통공 상단에 테이퍼부를 마련하고 있기 때문에, 피검사용 디바이스의 단자가 관통공의 중앙으로부터 다소 위치벗어난 상태로 하우징에 접근하는 경우에도 상기 테이퍼부에 의하여 상기 피검사용 디바이스가 적절한 위치로 안내될 수 있다는 장점이 있다. Further, in the test socket of the present invention, since the tapered portion is provided at the upper end of the through hole of the housing, even when the terminal of the device under test is approaching the housing in a state slightly displaced from the center of the through hole, There is an advantage that the tested device can be guided to an appropriate position.

이러한 본 발명의 일실시예에 따른 테스트용 소켓은 다음과 같이 변형되는 것도 가능하다.The test socket according to an embodiment of the present invention may be modified as follows.

상술한 실시예에서는 시트부재 및 접촉단자가 하우징의 하측에 배치되는 것을 예시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 도 5에 개시된 바와 같이 시트부재(30')가 하우징(10')의 상면 측에 고정부착되고 접촉단자(80')가 시트부재(30')에 결합된 상태로 하우징(10')의 상측에 배치되는 것도 가능하다. 이때 접촉단자(80)는 피검사용 디바이스의 단자와 접촉될 수 있는 구조를 가지고 있게 된다. 또한 제1스프링부재(60')의 교체가 필요한 경우에는 접촉단자로부터 이탈되도록 하우징의 하측으로 잡아당김에 의하여 용이하게 제거할 수 있다는 장점이 있다. 이때 제1스프링부재(60')는 그 하단이 직접 하우징(20')의 관통공(21') 하단으로부터 돌출되어 검사장치(92')의 패드(93')와 직접 접촉될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 제1스프링부재의 하단에 별도의 연결용 단자가 배치되고 그 단자를 통하여 검사장치의 패드와 전기적으로 연결될 수 있음은 물론이다.In the above embodiment, the sheet member and the contact terminal are disposed on the lower side of the housing. However, the present invention is not limited to this, and the sheet member 30 'may be fixed to the upper surface side of the housing 10' And the contact terminal 80 'is disposed on the upper side of the housing 10' in a state where the contact terminal 80 'is coupled to the sheet member 30'. At this time, the contact terminal 80 has a structure capable of being in contact with the terminal of the device under test. In addition, when the first spring member 60 'is required to be replaced, the first spring member 60' can be easily removed by pulling the first spring member 60 'downward from the contact terminal. At this time, the lower end of the first spring member 60 'directly protrudes from the lower end of the through hole 21' of the housing 20 'and can directly contact the pad 93' of the testing device 92 '. However, the present invention is not limited to this, and a separate connection terminal may be disposed at the lower end of the first spring member and electrically connected to the pad of the inspection apparatus through the terminal.

한편, 상술한 실시예에서는 시트부재가 하우징의 상측 또는 하측에만 배치되는 것을 예시하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 상측 및 하측에 각각 배치되는 것도 가능하며 필요에 따라서는 하우징의 중앙에 배치되는 것도 고려할 수 있다. 즉, 하우징에 별도의 단턱이 없이 시트부재에 의해서만 상기 스프링부재가 위치를 유지할 수 있으면서, 시트부재에서 삽입공의 주위에 유지부재가 배치되는 구성이라면 당업자가 통상적으로 고려할 수 있는 형태로 변경되는 것은 본 발명의 권리범위에 속하게 될 수 있다.In the above-described embodiment, the sheet member is disposed only on the upper side or the lower side of the housing. However, the present invention is not limited thereto, and it is possible to arrange the sheet member on the upper side and the lower side, . That is, the configuration in which the holding member is disposed around the insertion hole in the sheet member while the spring member can maintain the position of the spring member only by the sheet member without a separate step in the housing is changed into a form that can be considered by those skilled in the art And can fall within the scope of the present invention.

이상에서 일 실시예를 들어 본 발명을 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예들 및 변형예에 한정되는 것은 아니고 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims.

10...테스트용 소켓 20...하우징
21...관통공 22...테이퍼부
30...시트부재 31...삽입공
40...유지부재 41...상측부
42...하측부 43...연결부
44...중앙홀 50...접속단자
60...제1스프링부재 70...제2스프링부재
80...접속단자 81...돌출단자부
82...삽입단자부 83...연결부
90...피검사 디바이스 91...단자
92...검사장치 93...패드10 ... test socket 20 ... housing
21 ... through hole 22 ... tapered portion
30 ... sheet member 31 ... insertion hole
40 ... holding member 41 ... upper side
42 ... lower portion 43 ... connection
44 ... center hole 50 ... connection terminal
60 ... first spring member 70 ... second spring member
80 ... connection terminal 81 ... protruding terminal portion
82 ... insertion terminal portion 83 ... connection portion
90 ... Inspection device 91 ... Terminal
92 ... test device 93 ... pad

Claims (13)

피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 상기 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 테스트용 소켓으로서,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 상하방향으로 관통공이 형성되는 하우징;
상기 하우징의 하측에 배치되되 상기 관통공과 대응되는 위치마다 삽입공이 형성되는 시트부재;
상기 삽입공 주위의 시트부재 상면을 따라서 배치되는 상측부와, 상기 삽입공 주위의 시트부재의 하면을 따라서 배치되는 하측부와, 상기 상측부와 상기 하측부를 연결하며 상기 삽입공의 내측벽을 따라서 배치되며 중앙홀이 마련되는 연결부를 포함하는 유지부재;
상기 하우징의 관통공 내에 삽입되되 외경이 상기 중앙홀보다 큰 제1스프링부재; 및
상기 중앙홀보다 큰 외경을 가지되 상기 유지부재의 하측에 배치되는 돌출단자부와, 상기 제1스프링부재의 하단에 끼워걸리는 삽입단자부와, 상기 돌출단자부와 상기 삽입단자부를 연결하되 적어도 일부가 상기 중앙홀 내에 삽입되는 연결부를 포함하는 접촉단자를 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.A test socket which is disposed between an inspected device and an inspecting device and electrically connects a terminal of the device to be inspected and a pad of the inspecting device to each other,
A housing having a through hole formed in a vertical direction at each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;
A sheet member disposed at a lower side of the housing and having insertion holes formed at positions corresponding to the through holes;
An upper side portion disposed along the upper surface of the sheet member around the insertion hole, a lower portion disposed along the lower surface of the sheet member around the insertion hole, and a lower portion connecting the upper portion and the lower portion, A retaining member including a connection portion provided with a center hole;
A first spring member inserted into the through hole of the housing and having an outer diameter larger than the center hole; And
A protruding terminal portion having an outer diameter larger than that of the center hole and disposed at a lower side of the retaining member; an insertion terminal portion that is fitted to the lower end of the first spring member; and a connection terminal portion connecting the protruding terminal portion and the insertion terminal portion, And a contact terminal including a connection portion to be inserted into the hole. 제1항에 있어서,
상기 제1스프링부재의 상단에는 피검사 디바이스의 단자와 접촉되는 접속단자가 결합되는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.The method according to claim 1,
And a connection terminal that is in contact with a terminal of the device to be inspected is coupled to an upper end of the first spring member. 제1항에 있어서,
상기 제1스프링부재의 내부에는 하단이 상기 접촉단자의 상면과 접촉되는 제2스프링부재가 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.The method according to claim 1,
And a second spring member is disposed in the first spring member such that a lower end of the second spring member contacts an upper surface of the contact terminal. 제2항에 있어서,
상기 제1스프링부재의 내부에는 상단이 접속단자의 하면과 접촉되고 하단이 상기 접촉단자의 상면과 접촉되는 제2스프링부재가 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.3. The method of claim 2,
And a second spring member is disposed inside the first spring member such that the upper end thereof is in contact with the lower surface of the connection terminal and the lower end thereof is in contact with the upper surface of the contact terminal. 제1항에 있어서,
상기 관통공은 직경이 일정하게 유지되는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the through-hole has a constant diameter. 제1항에 있어서,
상기 관통공은 상단으로부터 하측으로 갈수록 내경이 감소되는 테이퍼부가 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the through hole has a tapered portion whose inner diameter decreases from the upper end to the lower end. 제1항에 있어서,
상기 시트부재는 상기 하우징의 하단에 접착제 또는 위치고정용 핀에 의하여 부착되는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the sheet member is attached to the lower end of the housing by an adhesive or a position fixing pin. 제1항에 있어서,
상기 삽입단자부는 제1스프링부재의 하단 내경보다 큰 확경부를 포함하되, 상기 확경부의 외경은 상기 중앙홀의 내경보다 작은 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the insertion terminal portion includes a diameter enlarged portion that is larger than a lower end inner diameter of the first spring member, wherein an outer diameter of the enlarged diameter portion is smaller than an inner diameter of the center hole. 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 상기 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 테스트용 소켓으로서,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 상하방향으로 관통공이 형성되는 하우징;
상기 하우징의 상측에 배치되되 상기 관통공과 대응되는 위치마다 삽입공이 형성되는 시트부재;
상기 삽입공 주위의 시트부재 상면을 따라서 배치되는 상측부와, 상기 삽입공 주위의 시트부재의 하면을 따라서 배치되는 하측부와, 상기 상측부와 상기 하측부를 연결하며 상기 삽입공의 내측벽을 따라서 배치되며 중앙홀이 마련되는 연결부를 포함하는 유지부재;
상기 하우징의 관통공 내에 삽입되되 외경이 상기 중앙홀보다 큰 제1스프링부재; 및
상기 중앙홀보다 큰 외경을 가지되 상기 유지부재의 상측에 배치되는 돌출단자부와, 상기 제1스프링부재의 상단에 끼워걸리는 삽입단자부와, 상기 돌출단자부와 상기 삽입단자부를 연결하되 적어도 일부가 상기 중앙홀 내에 삽입되는 연결부를 포함하는 접촉단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.A test socket which is disposed between an inspected device and an inspecting device and electrically connects a terminal of the device to be inspected and a pad of the inspecting device to each other,
A housing having a through hole formed in a vertical direction at each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;
A sheet member disposed on the upper side of the housing and having an insertion hole formed at a position corresponding to the through hole;
An upper side portion disposed along the upper surface of the sheet member around the insertion hole, a lower portion disposed along the lower surface of the sheet member around the insertion hole, and a lower portion connecting the upper portion and the lower portion, A retaining member including a connection portion provided with a center hole;
A first spring member inserted into the through hole of the housing and having an outer diameter larger than the center hole; And
A protruding terminal portion having an outer diameter larger than that of the center hole and disposed on the upper side of the holding member; an insertion terminal portion to be fitted to an upper end of the first spring member; And a contact terminal including a connection portion inserted into the hole. 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 상기 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 테스트용 소켓으로서,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 상하방향으로 관통공이 형성되는 하우징;
상기 하우징과 결합되며 상기 관통공과 대응되는 위치마다 삽입공이 형성되는 시트부재;
상기 삽입공 주위의 시트부재 상면을 따라서 배치되는 상측부와, 상기 삽입공 주위의 시트부재의 하면을 따라서 배치되는 하측부와, 상기 상측부와 상기 하측부를 연결하며 상기 삽입공의 내측벽을 따라서 배치되며 중앙홀이 마련되는 연결부를 포함하는 유지부재;
상기 하우징의 관통공 내에 삽입되되 외경이 상기 중앙홀보다 큰 제1스프링부재; 및
일측은 상기 유지부재에 결합되고 타측은 상기 제1스프링부재에 결합되는 접촉단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.A test socket which is disposed between an inspected device and an inspecting device and electrically connects a terminal of the device to be inspected and a pad of the inspecting device to each other,
A housing having a through hole formed in a vertical direction at each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;
A sheet member coupled to the housing and having an insertion hole formed at a position corresponding to the through hole;
An upper side portion disposed along the upper surface of the sheet member around the insertion hole, a lower portion disposed along the lower surface of the sheet member around the insertion hole, and a lower portion connecting the upper portion and the lower portion, A retaining member including a connection portion provided with a center hole;
A first spring member inserted into the through hole of the housing and having an outer diameter larger than the center hole; And
And a contact terminal, one side of which is coupled to the holding member and the other side of which is coupled to the first spring member. 제10항에 있어서,
상기 유지부재에 결합되는 접촉단자의 일측은 상기 중앙홀보다 큰 외경을 가지는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.11. The method of claim 10,
And one side of the contact terminal coupled to the holding member has an outer diameter larger than that of the center hole. 제10항에 있어서,
상기 유지부재는 상기 시트부재보다 강도가 높은 소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.11. The method of claim 10,
Wherein the holding member is made of a material having a higher strength than the sheet member. 제12항에 있어서,
상기 시트부재는 유연성의 합성수지 소재로 이루어지고, 상기 유지부재는 금속소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.13. The method of claim 12,
Wherein the sheet member is made of a flexible synthetic resin material, and the holding member is made of a metal material.
KR20130102706A 2013-08-28 2013-08-28 Socket for electrical test KR101476793B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130102706A KR101476793B1 (en) 2013-08-28 2013-08-28 Socket for electrical test

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130102706A KR101476793B1 (en) 2013-08-28 2013-08-28 Socket for electrical test

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101476793B1 true KR101476793B1 (en) 2014-12-29

Family

ID=52680030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20130102706A KR101476793B1 (en) 2013-08-28 2013-08-28 Socket for electrical test

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101476793B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020076689A1 (en) * 2018-10-12 2020-04-16 Ironwood Electronics, Inc. Inductance canceling spring pin contact
WO2023167479A1 (en) * 2022-03-04 2023-09-07 (주)포인트엔지니어링 Electrically conductive contact pin, alignment plate, and inspection apparatus comprising same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1145746A (en) * 1997-07-28 1999-02-16 Yokowo Co Ltd Conductive contact piece
KR100915428B1 (en) * 2003-11-05 2009-09-03 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 Conductive contact holder and conductive contact unit
KR101004297B1 (en) * 2008-07-18 2011-01-03 주식회사 아이에스시테크놀러지 Spring structure and test socket using thereof
KR101138963B1 (en) * 2010-01-21 2012-04-25 주식회사 아이에스시테크놀러지 Test socket and the fabrication method therefor

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1145746A (en) * 1997-07-28 1999-02-16 Yokowo Co Ltd Conductive contact piece
KR100915428B1 (en) * 2003-11-05 2009-09-03 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 Conductive contact holder and conductive contact unit
KR101004297B1 (en) * 2008-07-18 2011-01-03 주식회사 아이에스시테크놀러지 Spring structure and test socket using thereof
KR101138963B1 (en) * 2010-01-21 2012-04-25 주식회사 아이에스시테크놀러지 Test socket and the fabrication method therefor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020076689A1 (en) * 2018-10-12 2020-04-16 Ironwood Electronics, Inc. Inductance canceling spring pin contact
WO2023167479A1 (en) * 2022-03-04 2023-09-07 (주)포인트엔지니어링 Electrically conductive contact pin, alignment plate, and inspection apparatus comprising same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101573450B1 (en) Test socket
TWI526700B (en) Test socket with high density conduction section
KR101284212B1 (en) Test socket which can be aligned easily
KR100769891B1 (en) Contact probe and socket
TWI588493B (en) Test socket
KR101004296B1 (en) Test socket having conductive wire
US9423419B2 (en) Test socket including electrode supporting portion and method of manufacturing test socket
KR101353481B1 (en) Test socket with high density conduction section
KR101366171B1 (en) Test socket with high density conduction section
KR101482245B1 (en) Electrical test socket
KR101471116B1 (en) Test socket with high density conduction section
KR20100081131A (en) Insert for handler
KR101672935B1 (en) Test socket
KR101624689B1 (en) Electrical connecting connector
KR101173191B1 (en) Test socket
KR20150079255A (en) Sheet-form connector and electrical connector apparatus
US8727328B2 (en) Insert for handler
KR101483757B1 (en) Connector for electrical connection
KR101476793B1 (en) Socket for electrical test
KR101339167B1 (en) Test socket
KR101138964B1 (en) Test socket
KR101476794B1 (en) Socket for test and fabrication method thereof
KR101920855B1 (en) Electrical test socket
KR101827860B1 (en) Pin block assembly
KR20160109587A (en) Probe pin

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee