KR101418507B1 - 피씨비검사용 지그 검사장치 - Google Patents

피씨비검사용 지그 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101418507B1
KR101418507B1 KR1020140003007A KR20140003007A KR101418507B1 KR 101418507 B1 KR101418507 B1 KR 101418507B1 KR 1020140003007 A KR1020140003007 A KR 1020140003007A KR 20140003007 A KR20140003007 A KR 20140003007A KR 101418507 B1 KR101418507 B1 KR 101418507B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
platform
pcb
jig
inspection jig
coupled
Prior art date
Application number
KR1020140003007A
Other languages
English (en)
Inventor
도광회
Original Assignee
도광회
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 도광회 filed Critical 도광회
Priority to KR1020140003007A priority Critical patent/KR101418507B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101418507B1 publication Critical patent/KR101418507B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07357—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with flexible bodies, e.g. buckling beams
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 피씨비를 검사하는 데 사용되는 검사용 지그의 이상여부를 손쉽게 검사할 수 있도록 된 새로운 구조의 피씨비검사용 지그 검사장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치는 PCB검사용 지그(1)를 승강대(20)에 고정한 후 승강구동기구(30)를 이용하여 PCB검사용 지그(1)의 컨텍트핀(4)이 상기 포고핀(12)에 밀착되도록 한 상태에서, 상기 포고핀(12)을 통해 상기 컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 것을 검사할 수 음으로, PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 지를 효과적으로 감시할 수 있는 장점이 있다.

Description

피씨비검사용 지그 검사장치{tester for PCB testing gig}
본 발명은 피씨비를 검사하는 데 사용되는 검사용 지그의 이상여부를 손쉽게 검사할 수 있도록 된 새로운 구조의 피씨비검사용 지그 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 전자제품을 제조하는 공정 중에는 PCB검사장치를 이용하여 PCB의 불량을 검사하는 공정이 포함되고 있다.
도 1 내지 도 3은 이러한 PCB검사장치에 사용되는 PCB검사용 지그의 일예를 도시한 것으로, 넓은 패널형태로 구성되며 상면에는 상측으로 돌출된 안착부(2a)가 형성된 지지패널(2)과, 상기 안착부(2a)의 상면에서 상측으로 돌출되며 PCB에 형성된 접점에 결합되는 다수개의 와이어프로브(3)와, 상기 지지패널(2)의 하측면에 하측으로 돌출되도록 구비다수개의 컨텍트핀(4)이 구비된다.
이때, 상기 컨텍트핀(4)은 상기 지지패널(20)의 하측면에 2개의 구역으로 나뉘어지도록 구비되며, 상기 와이어프로브(3)와 컨텍트핀(4)은 케이블에 의해 상호 전기적으로 연결된다.
그리고, 상기 PCB검사장치에는 상기 컨텍트핀(4)에 대응되도록 다수개의 포고핀이 구비되어, 상기 PCB검사용 지그(1)를 PCB검사장치에 결합하면, 상기 컨텍트핀(4)과 포고핀이 전기적으로 연결되도록 구성된다.
따라서, PCB검사용 지그(1)를 PCB검사장치에 설치한 상태에서, PCB를 상기 PCB검사용 지그(1)의 안착부(2a)에 결합하면, 상기 와이어프로브(3)가 PCB의 접점에 전기적으로 연결된다.
그리고, 상기 포고핀을 통해 컨텍트핀(4)으로 선택적으로 전원을 인가하고, 인가된 전원이 다른 컨텍트핀(4)으로 전기가 수신되는 상태를 감시함으로써, 상기 PCB의 이상유무를 검사할 수 있다.
한편, 상기 PCB검사용 지그(1)의 돌출부에 형성된 와이어프로브(3)는 집적도가 높게 배치되며, 각각의 와이어프로브(3)가 케이블에 의해 상기 컨텍트핀(4)에 전기적으로 연결됨으로, 상기 컨텍트핀(4)이나 케이블의 사이에 전기누설이나 단선 등의 불량이 발생될 가능성이 매우 높았다.
그런데, 종래에는 이러한 PCB검사용 지그(1)의 이상을 검사할 방법이 없음으로, 종래에는 상기 PCB검사용 지그(1)를 PCB검사장치에 실제로 장착하고, 상기 PCB검사용 지그(1)를 이용하여 실제로 PCB의 이상유무를 확인하는 작업을 실시함으로써, PCB검사용 지그(1)에 이상이 있는 지를 검사하였다.
따라서, PCB검사용 지그(1)에 이상이 발생되었음에도 이러한 오류를 확인하지 못하고 제품을 생산함으로써, 최종적으로 생산된 제품에 불량이 발생되는 경우가 발생되었다.
따라서, 이러한 문제점을 해결할 수 있는 새로운 방법이 필요하게 되었다.
공개특허 10-2001-0045405호 등록실용신안 2001-0045405호 등록특허 10-0551446호 등록특허 10-0420571호
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, PCB검사용 지그(1)의 이상여부를 효과적으로 검사할 수 있도록 된 새로운 구조의 PCB검사용 지그 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 넓은 패널형태로 구성되며 상면에는 상측으로 돌출된 안착부(2a)가 형성된 지지패널(2)과, 상기 안착부(2a)의 상면에서 상측으로 돌출되며 PCB에 형성된 접점에 결합되는 다수개의 와이어프로브(3)와, 상기 지지패널(2)의 하측면으로 돌출되도록 구비되며 상기 와이어프로브(3)와 전기적으로 연결된 다수개의 컨텍트핀(4)을 포함하는 PCB검사용 지그(1)의 이상여부를 검사하는 것으로, 상기 컨텍트핀(4)에 밀착되는 다수개의 포고핀(12)이 구비된 지지대(10)와, 상기 지지대(10)에 승강가능하게 구비되며 상기 PCB검사용 지그(1)가 탈착가능하게 결합되는 승강대(20)와, 상기 승강대(20)에 연결되어 상기 승강대(20)를 승강시키는 승강구동기구(30)를 포함하여, 상기 승강대(20)에 PCB검사용 지그(1)를 결합한 후 상기 승강구동기구(30)를 이용하여 상기 승강대(20)를 하강시키면, 상기 컨텍트핀(4)이 포고핀(12)에 전기적으로 연결되어, 상기 포고핀(12)을 통해 상기 컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 것을 검사할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치가 제공된다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 승강대(20)는 좌우 한 쌍으로 구성되어 상호 측방향으로 이격되도록 구비되고, 상기 승강대(20)의 인접면에는 상기 지지패널(2)의 양단이 삽입되는 삽입홈(21a)이 형성되며, 상기 삽입홈(21a)은 상기 승강대(20)의 전방으로 개구되어, 상기 승강대(20)의 전방에서 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단을 상기 삽입홈(21a)에 삽입하여, 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단을 상기 승강대(20)의 삽입홈(21a)에 결합고정할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치가 제공된다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 상기 승강대(20)에는 상하면을 관통하는 관통공(22a)이 형성되며, 상기 승강구동기구(30)는 상기 승강대(20)에 연결된 복수개의 승강기구(31)와, 상기 승강구동기구(30)에 연결된 구동축(32,33)과, 상기 구동축(32,33)에 연결되어 구동축(32,33)을 구동시키는 구동모터(34)를 포함하고, 상기 승강기구(31)는 상기 관통공(22a)을 관통하여 상기 지지대(10)에 고정된 복수개의 지지바(31b)를 갖는 지지블록(31a)과, 상기 승강대(20)에 승강가능하게 결합되며 하단이 상기 승강대(20)에 결합된 승강블록(31c)과, 상하방향으로 연장되도록 배치되어 상기 지지블록(31a)에 회전가능하게 결합되며 상기 승강블록(31c)에 나사결합된 나사축(31d)을 포함하고, 상기 구동축(32,33)은 베벨기어(35)를 통해 상기 나사축(31d)에 연결된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치가 제공된다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 도전성이 있는 재질의 판형상으로 구성되며 상기 승강대(20)의 상부에 승강가능하게 구비된 통전판(40)과, 상기 통전판(40)에 연결되어 통전판(40)을 승강시키는 상부승강구동기구(50)를 더 포함하며, 상기 PCB검사용 지그(1)가 상기 승강대(20)에 결합된 상태에서 상기 상부승강구동기구(50)로 통전판(40)을 하강시켜 통전판(40)이 상기 PCB검사용 지그(1)의 와이어프로브(3)에 밀착되어 와이어프로브(3) 전체가 상호 통전가능하게 연결되도록 한 상태에서, 컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 단선이 발생되었는지를 검사할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치가 제공된다.
본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치는 PCB검사용 지그(1)를 승강대(20)에 고정한 후 승강구동기구(30)를 이용하여 PCB검사용 지그(1)의 컨텍트핀(4)이 상기 포고핀(12)에 밀착되도록 한 상태에서, 상기 포고핀(12)을 통해 상기 컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 것을 검사할 수 음으로, PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 지를 효과적으로 감시할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 일반적인 PCB검사용 지그를 도시한 사시도,
도 2는 일반적인 PCB검사용 지그의 측단면도,
도 3은 일반적인 PCB검사용 지그의 저면도,
도 4는 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치를 도시한 정면도,
도 5는 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치를 도시한 측면도,
도 6은 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 요부를 도시한 사시도,
도 7은 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 요부를 도시한 평면도,
도 8은 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 지지대를 도시한 평면도,
도 9는 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 지지대와 승강대를 도시한 평면도,
도 10은 도 7의 A-A선 단면을 도시한 측단면도,
도 11은 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 요부를 도시한 정단면도,
도 12는 도 7의 B-B선 단면을 도시한 측단면도,
도 13 내지 도 16은 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 작용을 설명하기 위한 참고도,
도 17은 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 통전판과 상부승강구동기구를 도시한 측단면도,
도 18은 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치의 통전판과 상부승강구동기구의 작용을 도시한 측단면도이다.
이하, 본 발명을 첨부된 예시도면에 의거하여 상세히 설명한다.
도 4 내지 도 17은 는 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치를 도시한 것으로, 상기 PCB검사용 지그(1)는 넓은 패널형태로 구성되며 상면에는 상측으로 돌출된 안착부(2a)가 형성된 지지패널(2)과, 상기 안착부(2a)의 상면에서 상측으로 돌출되며 PCB에 형성된 접점에 결합되는 다수개의 와이어프로브(3)와, 상기 지지패널(2)의 하측면으로 돌출되도록 구비되며 상기 와이어프로브(3)와 전기적으로 연결된 다수개의 컨텍트핀(4)이 구비된 것은 종래와 동일하다.
이때, 상기 컨텍트핀(4)은 상기 지지패널(2)의 하측면에 형성된 2개의 구역에 나뉘어지도록 배치된다.
그리고, 본 발명에 따르면, 상기 PCB검사용 지그 검사장치는 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이, 상기 컨텍트핀(4)에 밀착되는 다수개의 포고핀(12)이 구비된 지지대(10)와, 상기 지지대(10)에 승강가능하게 구비되며 상기 PCB검사용 지그(1)가 탈착가능하게 결합되는 승강대(20)와, 상기 승강대(20)에 연결되어 상기 승강대(20)를 승강시키는 승강구동기구(30)와, 도전성이 있는 재질의 판형상으로 구성되며 상기 승강대(20)의 상부에 승강가능하게 구비된 통전판(40)과, 상기 통전판(40)에 연결되어 통전판(40)을 승강시키는 상부승강구동기구(50)로 구성된다.
이를 자세히 설명하면, 상기 지지대(10)는 도 8 내지 도 12에 도시한 바와 같이, 넓은 패널형상으로 구성되며, 육면체의 박스로 구성된 본체(11)에 구비되어 상기 승강대(20)와 승강구동기구(30)를 지지한다.
상기 포고핀(12)은 상하방향으로 길게 연장되고 상면에 오목한 오목홈이 형성된 핀형태로 구성된 것으로, 상기 지지대(10)의 중앙부에 구비된 포고블럭(13)의 상면에 일정한 패턴을 이루도록 구비되어, 후술하는 작용에 의해 상기 PCB검사용 지그(1)가 하강될 때, 상기 PCB검사용 지그(1)에 구비된 컨텍트핀(4)의 하단이 상기 오목홈에 삽입된 상태로 견고하게 밀착되어 전기적으로 연결되는 기능을 한다.
상기 포고블럭(13)은 상기 지지대(10)의 상면 중앙부에 상하면을 관통하도록 형성된 결합공(14)에 상하면이 상기 지지대(10)의 상하측으로 돌출되도록 결합고정되어, 상기 포고블럭(13)의 하측에 상기 포고핀(12)에 전원을 인가하는 테스트유닛(15)을 연결할 수 있도록 구성된다.
이때, 상기 컨텍트핀(4)은 2개의 구역으로 나눠지도록 분산됨으로, 상기 포고블럭(13) 역시 이에 대응되도록 2개로 구성되어, 상기 지지대(10)의 중앙부에 상호 측방향으로 이격되도록 배치된다.
그리고, 상기 테스트유닛(15)은 각각의 포고핀(12)에 전기적으로 연결되어, 하나의 포고핀(12)에 선택적으로 전원을 인가하고, 다른 포고핀(12)에서 전기가 출력되는 지를 감지하는 기능을 한다.
상기 승강대(20)는 좌우 한 쌍으로 구성되어, 상호 측방향으로 평행하게 이격되도록 구비된 것으로, 전후방향으로 길게 연장된 바형상으로 구성되어 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단이 결합되는 고정바(21)와, 상기 고정바(21)의 외측면에서 외측으로 연장된 연장패널(22)로 구성된다.
이때, 상기 승강대(20)의 인접면, 즉, 상기 고정바(21)의 인접면에는 상기 지지패널(2)의 양단이 삽입되는 삽입홈(21a)이 형성된다.
상기 삽입홈(21a)은 전단부는 상기 승강대(20)의 전방으로 개방되고 후단부는 막히도록 구성되어, 상기 승강대(20)를 상승시킨 상태에서 상기 승강대(20)의 전방에서 상기 승강대(20)의 사이로 상기 PCB검사용 지그(1)를 삽입하면, 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단이 상기 삽입홈(21a) 전방의 개구부를 통해 삽입홈(21a)의 내부로 삽입되어 고정된다.
또한, 상기 지지대(10)에는 상기 승강대(20)의 고정바(21)에 대응되는 형태의 통공(16)이 상하면을 관통하도록 형성되어, 상기 승강대(20)의 하강시 승강대(20)가 충분히 하강될 수 있는 여유공간을 확보할 수 있도록 구성된다.
상기 승강구동기구(30)는 상기 승강대(20)에 연결된 복수개의 승강기구(31)와, 상기 승강구동기구(30)에 연결된 구동축(32,33)과, 상기 구동축(32,33)에 연결되어 구동축(32,33)을 구동시키는 구동모터(34)로 구성된다.
이를 자세히 설명하면, 상기 승강기구(31)는 상기 승강대(20)를 관통하여 상기 지지대(10)에 고정된 복수개의 지지바(31b)를 갖는 지지블록(31a)과, 상기 승강대(20)에 승강가능하게 결합되며 하단이 상기 승강대(20)에 결합된 승강블록(31c)과, 상하방향으로 연장되도록 배치되어 상기 지지블록(31a)에 회전가능하게 결합되며 상기 승강블록(31c)에 나사결합된 나사축(31d)으로 구성된 것으로, 상기 승강대(20)의 연장패널(22) 상면 전후단에 각각 1개씩 총 4개가 구비된다.
이때, 상기 승강대(20)의 연장패널(22)에는 관통공(22a)이 상하면을 관통하도록 형성되며, 상기 지지바(31b)는 상기 관통공(22a)을 통해 하단이 상기 지지대(10)의 상면에 고정결합된다.
상기 승강블록(31c)은 상단이 상기 지지블록(31a)의 내부에 형성된 공간부에 승강가능하게 결합되며 하단은 상기 지지블록(31a)의 하측으로 연장되어 상기 승강대(20)의 연장패널(22) 상면에 고정된다.
상기 나사축(31d)은 상기 승강블록(31c)의 내부에 베어링(31e)을 통해 회전가능하게 결합되어, 나사축(31d)이 정역회전되면 상기 나사축(31d)과 승강블록(31c)의 사이에 발생되는 나사작용에 의해, 상기 승강블록(31c)과 승강대(20)가 승강되도록 한다.
상기 구동축(32,33)은 상기 승강대(20)의 후방에 좌우방향향으로 연장되도록 구비된 제1 구동축(32)과, 상기 제1 구동축(32)의 양단에서 전후방향으로 연장되도록 배치되며 상기 나사축(31d)에 연결된 제2 구동축(33)으로 구성된 것으로, 상기 제1 구동축(32)과 제2 구동축(33)의 연결부, 그리고, 상기 제2 구동축(33)과 나사축(31d)의 연결부에는 각각 베벨기어(35)가 구비되어, 상기 제1 구동축(32)이 회전되면, 상기 제2 구동축(33)과 상기 나사축(31d)이 동시에 회전되도록 구성된다.
상기 구동모터(34)는 타이밍벨트(34a)를 통해 상기 제1 구동축(32)에 연결되어 사이 제1 구동축(32)을 정역회전시킴으로써, 상기 제2 구동축(33)과 상기 나사축(31d)이 정역회전되도록 한다.
따라서, 상기 구동모터(34)를 구동시켜 상기 승강대(20)가 승강되도록 조절할 수 있다.
상기 통전판(40)은 구리나 기타 전기전도성이 뛰어난 금속재질로 구성된 것으로, 도 17에 도시한 바와 같이, 상기 PCB검사용 지그(1)의 안착부(2a)의 면적에 비해 넓게 구성되어, 상기 상부승강구동기구(50)에 의해 통전판(40)이 하강되면, 통전판(40)이 상기 안착부(2a)에 구비된 와이어프로브(3) 전체의 상면에 동시에 밀착되어 상기 와이어프로브(3) 전체가 상호 통전가능하게 연결되도록 한다.
상기 상부승강구동기구(50)는 상기 지지패널(2)에 전후방향으로 위치조절가능하게 구비된 지지부(50)와, 상기 지지부(50)의 하측에 승강가능하게 결합되며 하측면에 상기 통전판(40)이 고정되는 승강부(52)와, 상기 지지부(50)와 승강부(52)의 사이에 구비되어 상기 승강부(52)가 승강되도록 하는 캠기구(53)로 구성된다.
상기 지지부(51)는 상기 본체(11)에 전후방향으로 연장된 가이드레일(51a)에 슬라이드가능하게 결합되어, 상기 통전판(40)이 상기 승강대(20)에 결합된 상기 PCB검사용 지그(1)의 와이어프로브(3) 상부에 위치되도록 위치조절할 수 있도록 구성된다.
상기 승강부(52)는 상면에 경사면(52a)이 형성된다.
그리고, 상기 캠기구(53)는 상기 지지부(50)의 하측에 전후진가능하게 결합되며 하측면에는 상기 경사면(52a)에 대응되는 캠면(53b)이 형성된 캠부재(53a)와, 상기 캠부재(53a)를 전후방향으로 관통하도록 결합된 나사축(53c)과, 상기 나사축(53c)에 연결된 구동모터(53d)로 구성된다.
따라서, 상기 구동모터(53d)를 정역회전시키면, 상기 나사축(53c)에 의해 캠부재(53a)가 전후진되고, 상기 캠부재(53a)의 캠면(53b)과 상기 승강부(52) 상면의 경사면(52a)의 작용에 의해, 도 17 및 도 18에 도시한 바와 같이, 상기 승강부(52)와 승강부(52)의 하측면에 고정된 통전판(40)이 승강된다.
이와 같이 구성된 PCB검사용 지그 검사장치를 이용하여 PCB검사용 지그(1)를 검사하는 방법을 설명하며 다음과 같다.
우선, 도 11 및 도 12에 도시한 바와 같이, 상기 승강대(20)가 상승된 상태에서, 상기 승강대(20)의 전방에서 상기 PCB검사용 지그(1)를 삽입하면, 도 13 및 도 14에 도시한 바와 같이, PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단이 상기 승강대(20)에 형성된 삽입홈(21a)에 삽입되어 고정된다.
그리고, 상기 승강구동기구(30)의 구동모터(34)를 구동시키면, 상기 승강기구(31)에 의해 상기 승강대(20)가 하강되며, 이에 따라, 도 15 및 도 16에 도시한 바와 같이, 상기 승강대(20)에 고정된 PCB검사용 지그(1)의 하측면에 구비된 컨텍트핀(4)이 상기 지지대(10)에 구비된 포고핀(12)에 강하게 가압밀착된다.
그리고, 이와 같이 상기 컨텍트핀(4)이 상기 포고핀(12)에 밀착된 상태에서, 상기 테스트유닛(15)을 통해 하나의 포고핀(12)에 선택적으로 전원을 인가하면, 인가된 전원은 상기 포고핀(12)에 접촉된 컨텍트핀(4)으로 전달된다.
그리고, 이와 같이 하나의 포고핀(12)에만 전원이 인가된 상태에서, 다른 포고핀(12)에서 전기가 출력되는 지를 감지함으로써, 상기 PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 지를 테스트할 수 있다.
즉, 상기 테스트유닛(15)은 하나의 포고핀(12)에만 전원을 인가함으로, 다른 포고핀(12)에서 전기가 출력되는 것은 포고핀(12)에 연결된 컨텍트핀(4)이나 와이어프로브(3) 또는 컨텍트핀(4)과 와이어프로브(3)를 연결하는 케이블 중 어느 곳에서 전기누설이 발생되는 것을 의미하게 된다.
따라서, 이와 같은 방법으로 모든 포고핀(12)에 순차적으로 전원을 인가함으로써, PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 것을 확인할 수 있다.
또한, 동일한 방법으로 상기 와이어프로브(3)의 전기적 누설이나 PCB검사용 지그(1) 내부의 회로적 쇼트 등의 발생여부를 확인할 수 있다.
그리고, 상기 PCB검사용 지그(1)의 전기누설을 검사한 후, 도 18에 도시한 바와 같이, 상기 상부승강구동기구(50)를 이용하여 통전판(40)을 하강시키면, 상기 통전판(40)이 상기 PCB검사용 지그(1)의 와이어프로브(3)에 밀착되어 와이어프로브(3)가 상호 통전가능하게 연결된다.
그리고, 이와같이 와이어프로브(3)가 상호 통전가능하게 연결된 상태에서, 상기 테스트유닛(15)을 이용하여 하나의 포고핀(12)에 선택적으로 전원을 인가함과 동시에 다른 포고핀(12)에 전원이 출력되는 지를 감시하여, PCB검사용 지그(1)에 단선이 발생되었는지를 테스트할 수 있다.
즉, 상기 와이어프로브(3)는 상기 통전판(40)에 의해 상호 통전가능하게 연결됨으로, 하나의 포고핀(12)에만 전원을 인가하더라도, 전원이 상기 통전판(40)을 통해 전체의 와이어프로브(3)로 전달된다.
따라서, 일측의 포고핀(12)에 전원을 인가한 상태에서 전원이 출력되지 않은 포고핀(12)이 있다고 하는 것은, 해당 포고핀(12)에 접촉된 컨텍트핀(4)에 단선이 발생된 것을 의미하게 됨으로, 포고핀(12)에서 전기가 출력되는 지를 감시하여 PCB검사용 지그(1)에 단선 또는 회로단락이 발생되었는지를 확인할 수 있다.
이와 같이 구성된 PCB검사용 지그 검사장치는 PCB검사용 지그(1)를 승강대(20)에 고정한 후 승강구동기구(30)를 이용하여 PCB검사용 지그(1)의 컨텍트핀(4)이 상기 포고핀(12)에 밀착되도록 한 상태에서, 상기 포고핀(12)을 통해 상기 컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 것을 검사할 수 음으로, PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 지를 효과적으로 감시할 수 있는 장점이 있다.
또한, 상기 승강대(20)는 좌우 한 쌍으로 구성되어 상호 측방향으로 이격되도록 구비되고, 상기 승강대(20)의 인접면에는 상기 지지패널(2)의 양단이 삽입되는 삽입홈(21a)이 형성되며, 상기 삽입홈(21a)은 상기 승강대(20)의 전방으로 개구되어, 상기 승강대(20)의 전방에서 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단을 상기 삽입홈(21a)에 삽입하여, 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단을 상기 승강대(20)의 삽입홈(21a)에 결합고정한 후, 상기 승강구동기구(30)로 승강대(20)를 하강시켜 PCB검사용 지그(1)의 컨텍트핀(4)이 상기 지지대(10)에 구비된 포고핀(12)에 확실히 밀착되도록 할 수 있는 장점이 있다.
또한, 상기 승강대(20)에는 상하면을 관통하는 관통공(22a)이 형성되며, 상기 승강구동기구(30)는 상기 승강대(20)에 연결된 복수개의 승강기구(31)와, 상기 승강구동기구(30)에 연결된 구동축(32,33)과, 상기 구동축(32,33)에 연결되어 구동축(32,33)을 구동시키는 구동모터(34)로 구성되고, 상기 승강기구(31)는 상기 관통공(22a)을 관통하여 상기 지지대(10)에 고정된 복수개의 지지바(31b)를 갖는 지지블록(31a)과, 상기 승강대(20)에 승강가능하게 결합되며 하단이 상기 승강대(20)에 결합된 승강블록(31c)과, 상하방향으로 연장되도록 배치되어 상기 지지블록(31a)에 회전가능하게 결합되며 상기 승강블록(31c)에 나사결합된 나사축(31d)으로 구성됨으로, 상기 승강대(20)의 승강높이를 정밀하게 제어하면서도, 상기 PCB검사용 지그(1)를 강한 힘으로 가압하여, 상기 컨텍트핀(4)이 포고핀(12)에 정확히 밀착되도록 할 수 있는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 따른 PCB검사용 지그 검사장치에는 도전성이 있는 재질의 판형상으로 구성되며 상기 승강대(20)의 상부에 승강가능하게 구비된 통전판(40)과, 상기 통전판(40)에 연결되어 통전판(40)을 승강시키는 상부승강구동기구(50)가 더 구비되어, 상기 PCB검사용 지그(1)가 상기 승강대(20)에 결합된 상태에서 상기 상부승강구동기구(50)로 통전판(40)을 하강시켜 통전판(40)이 상기 PCB검사용 지그(1)의 와이어프로브(3)에 밀착되어 와이어프로브(3) 전체가 상호 통전가능하게 연결되도록 한 상태에서, 컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 단선이 발생되었는지를 검사할 수 있음으로, PCB검사용 지그(1)의 전기누설 뿐 아니라 단선도 효과적으로 검사할 수 있는 장점이 있다.
본 실시예의 경우, 상기 상부승강구동기구(50)는 지지부(50)와 승강부(52) 및 캠기구(53)로 구성된 것을 예시하였으나, 상기 상부승강구동기구(50)의 구조는 다양하게 변경될 수 있다.
또한, 필요에 따라, 상기 상부승강구동기구(50)와 통전판(40)의 구조는 생략될 수 있다.
그리고, 상기 포고블럭(13)은 상기 PCB검사용 지그(1)에 구비된 컨텍트핀(4)의 배열에 대응되도록 2개가 구비된 것을 예시하였으나, 상기 포고블럭(13)이 개수 또는 상기 포고핀(12)의 배열은 상기 컨텍트핀(4)의 배열에 대응되도록 다양하게 변경될 수 있다.
1. 지그 10. 지지대
20. 승강대 30. 승강구동기구
40. 통전판 50. 상부승강구동기구

Claims (4)

  1. 상면에는 상측으로 돌출된 안착부(2a)가 형성된 지지패널(2)과,
    상기 안착부(2a)의 상면에서 상측으로 돌출되며 PCB에 형성된 접점에 결합되는 다수개의 와이어프로브(3)와,
    상기 지지패널(2)의 하측면으로 돌출되도록 구비되며 상기 와이어프로브(3)와 전기적으로 연결된 다수개의 컨텍트핀(4)을 포함하는 PCB검사용 지그(1)의 이상여부를 검사하는 것으로,
    상기 컨텍트핀(4)에 밀착되는 다수개의 포고핀(12)이 구비된 지지대(10)와,
    상기 지지대(10)에 승강가능하게 구비되며 상기 PCB검사용 지그(1)가 탈착가능하게 결합되는 승강대(20)와,
    상기 승강대(20)에 연결되어 상기 승강대(20)를 승강시키는 승강구동기구(30)를 포함하여,
    상기 승강대(20)에 PCB검사용 지그(1)를 결합한 후 상기 승강구동기구(30)를 이용하여 상기 승강대(20)를 하강시키면, 상기 컨텍트핀(4)이 포고핀(12)에 전기적으로 연결되어,
    상기 포고핀(12)을 통해 상기 컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 전기누설이 발생되는 것을 검사할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 승강대(20)는 좌우 한 쌍으로 구성되어 상호 측방향으로 이격되도록 구비되고,
    상기 승강대(20)의 인접면에는 상기 지지패널(2)의 양단이 삽입되는 삽입홈(21a)이 형성되며,
    상기 삽입홈(21a)은 상기 승강대(20)의 전방으로 개구되어,
    상기 승강대(20)의 전방에서 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단을 상기 삽입홈(21a)에 삽입하여, 상기 PCB검사용 지그(1)의 지지패널(2) 양단을 상기 승강대(20)의 삽입홈(21a)에 결합고정할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 승강대(20)에는 상하면을 관통하는 관통공(22a)이 형성되며,
    상기 승강구동기구(30)는 상기 승강대(20)에 연결된 복수개의 승강기구(31)와,
    상기 승강구동기구(30)에 연결된 구동축(32,33)과,
    상기 구동축(32,33)에 연결되어 구동축(32,33)을 구동시키는 구동모터(34)를 포함하고,
    상기 승강기구(31)는
    상기 관통공(22a)을 관통하여 상기 지지대(10)에 고정된 복수개의 지지바(31b)를 갖는 지지블록(31a)과,
    상기 승강대(20)에 승강가능하게 결합되며 하단이 상기 승강대(20)에 결합된 승강블록(31c)과,
    상하방향으로 연장되도록 배치되어 상기 지지블록(31a)에 회전가능하게 결합되며 상기 승강블록(31c)에 나사결합된 나사축(31d)을 포함하고,
    상기 구동축(32,33)은 베벨기어(35)를 통해 상기 나사축(31d)에 연결된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    도전성이 있는 재질의 판형상으로 구성되며 상기 승강대(20)의 상부에 승강가능하게 구비된 통전판(40)과,
    상기 통전판(40)에 연결되어 통전판(40)을 승강시키는 상부승강구동기구(50)를 더 포함하며,
    상기 PCB검사용 지그(1)가 상기 승강대(20)에 결합된 상태에서 상기 상부승강구동기구(50)로 통전판(40)을 하강시켜 통전판(40)이 상기 PCB검사용 지그(1)의 와이어프로브(3)에 밀착되어 와이어프로브(3) 전체가 상호 통전가능하게 연결되도록 한 상태에서,
    컨텍트핀(4)에 선택적으로 전원을 인가하여 상기 PCB검사용 지그(1)에 단선이 발생되었는지를 검사할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 PCB검사용 지그 검사장치.
KR1020140003007A 2014-01-09 2014-01-09 피씨비검사용 지그 검사장치 KR101418507B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140003007A KR101418507B1 (ko) 2014-01-09 2014-01-09 피씨비검사용 지그 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140003007A KR101418507B1 (ko) 2014-01-09 2014-01-09 피씨비검사용 지그 검사장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101418507B1 true KR101418507B1 (ko) 2014-07-14

Family

ID=51741929

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140003007A KR101418507B1 (ko) 2014-01-09 2014-01-09 피씨비검사용 지그 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101418507B1 (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101639298B1 (ko) * 2015-12-24 2016-07-13 주식회사 제이디테크 피씨비 검사장치
CN114754820A (zh) * 2022-04-25 2022-07-15 东莞市睿华智能科技有限公司 一种pcb铣刀全参数检测一体设备
CN116754929A (zh) * 2023-08-17 2023-09-15 深圳市凌科凯特电子有限公司 一种车用pcb板的电压测试治具
CN117074927A (zh) * 2023-10-16 2023-11-17 深圳市兆兴博拓科技股份有限公司 Pcb电路板检测装置
CN117741195A (zh) * 2023-12-19 2024-03-22 深圳市富越机电设备有限公司 一种双工位检测装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010045405A (ko) * 1999-11-04 2001-06-05 강창민 피시비 검사 시스템

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010045405A (ko) * 1999-11-04 2001-06-05 강창민 피시비 검사 시스템

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101639298B1 (ko) * 2015-12-24 2016-07-13 주식회사 제이디테크 피씨비 검사장치
CN114754820A (zh) * 2022-04-25 2022-07-15 东莞市睿华智能科技有限公司 一种pcb铣刀全参数检测一体设备
CN114754820B (zh) * 2022-04-25 2024-03-19 东莞市睿华智能科技有限公司 一种pcb铣刀全参数检测一体设备
CN116754929A (zh) * 2023-08-17 2023-09-15 深圳市凌科凯特电子有限公司 一种车用pcb板的电压测试治具
CN116754929B (zh) * 2023-08-17 2023-10-13 深圳市凌科凯特电子有限公司 一种车用pcb板的电压测试治具
CN117074927A (zh) * 2023-10-16 2023-11-17 深圳市兆兴博拓科技股份有限公司 Pcb电路板检测装置
CN117074927B (zh) * 2023-10-16 2024-01-05 深圳市兆兴博拓科技股份有限公司 Pcb电路板检测装置
CN117741195A (zh) * 2023-12-19 2024-03-22 深圳市富越机电设备有限公司 一种双工位检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101418507B1 (ko) 피씨비검사용 지그 검사장치
WO2020051830A1 (zh) 线路板电测设备
KR101919808B1 (ko) 열화상 감지 유닛이 구비된 디스플레이패널의 다중 검사장치
US11105841B2 (en) Flying probe electronic board tester, and test method thereof
KR101466739B1 (ko) 인쇄회로기판 검사장치
KR101611922B1 (ko) 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법
KR102236670B1 (ko) Pcba 검사 장치
KR101320646B1 (ko) 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치
KR101237140B1 (ko) 엘이디칩 접합불량 검사지그
JPH0658978A (ja) 移動式プローバ機構
KR100773309B1 (ko) 정션박스용 버스바 도통검사 장치 및 그 공정
CN204854571U (zh) 适用于电路板的安装孔检测设备
KR20220133503A (ko) 디스플레이 패널 검사장치
CN204612644U (zh) 一种电路板安装孔检测设备
CN108107334B (zh) Led柔性灯条测试机及测试方法
KR101318979B1 (ko) 디스플레이장치의 다연배 제어pcb의 무패널 검사장치
TW200716994A (en) Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method
KR101511175B1 (ko) 위치조절이 가능한 핀 블록
JP2000214207A (ja) 走査検査装置
KR101230626B1 (ko) 전자모듈칩 검사용 소켓
KR101487826B1 (ko) 인버터용 다기종 검사장치
CN218158224U (zh) 电连接件检测机构
JP3968141B2 (ja) マルチテスト用治具とマルチテスター
KR100992930B1 (ko) 프로브 블록 검사 장치 및 검사 방법
KR20180125340A (ko) 디스플레이패널 팔레트용 콘택터 클램핑장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190424

Year of fee payment: 6