KR101320646B1 - 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치 - Google Patents

디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 베이스;
상기 베이스의 상부에 결합되어 승하강하는 푸셔; 및
상기 푸셔가 하강함에 따라 디스플레이 패널의 회로부로부터 전기적으로 접속을 해제하도록 PCB부를 이동시키고, 푸셔가 상승함에 따라 디스플레이 패널의 회로부에 PCB부를 부착하는 캠;
을 포함하는 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 디스플레이 패널 검사장치를 제공한다.

Description

디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치{TESTING MODULE FOR DISPLAY PANEL AND THE DEVICE COMPRISING THE SAME}
본 발명은 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디스플레이 패널의 성능검사시 일일이 수작업을 통해 검사하지 않고, 자동으로 단시간내에 대량으로 정밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, PMP(Portable Media Player), 노트북 컴퓨터, 고선명 텔레비전, 통신 단말기, 휴대용 수신기와 같은 제품들의 대중화와 함께 이러한 제품들의 디스플레이로서 평판 디스플레이 패널이 널리 이용되고 있다.
이러한 평판 디스플레이 패널은 복수의 광원을 통해 빛을 제어하게 되는데, 빛을 제어하는 방법으로는 각각의 광원에서 빛을 발생하도록 하는 방법과, 빛을 자체적으로 발생하지 않고 반사 또는 투과 과정을 통해 빛의 양을 조정하는 방법이 존재한다.
전자의 경우를 능동 디스플레이라고 하며 LED(Light Emitting Diode)가 이에 속하고, 후자의 경우를 수동 디스플레이라고 하며 LCD(Liquid Crystal Display)가 이에 속한다.
한편, 현대에는 LED 관련 기술이 발달함에 따라 지속적인 신기술 개발과 함께 대다수의 디스플레이 영역에 LED 기술이 채용되면서 그 시장성이 커지고 있는 시점에 있으며, 이러한 기술 발달은 다양한 종류의 LED 모듈 검사 장치를 요구하고 있는 실정이다.
이에 따라, 육안에 의한 목시검사, 일반 점측정 휘도계에 의한 검사 등이 사용되고 있으나, 육안 검사의 경우에는 LED 모듈의 검사가 검사자의 육안에 의존되므로 작업 결과가 매우 주관적이고, 실수로 인한 문제 발생의 가능성이 높고, 일반 점측정 휘도계에 의한 검사의 경우에는 샘플링 검사에 적합하다는 한계가 있다.
본 발명은 상기한 바와 같이 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 디스플레이 패널의 성능검사시 일일이 수작업을 통해 검사하지 않고, 자동으로 단시간내에 대량으로 정밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치를 제공함에 있다.
상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.
(1) 베이스;
상기 베이스의 상부에 결합되어 승하강하는 푸셔; 및
상기 푸셔가 하강함에 따라 디스플레이 패널의 회로부로부터 전기적으로 접속을 해제하도록 PCB부를 이동시키고, 푸셔가 상승함에 따라 디스플레이 패널의 회로부에 PCB부를 부착하는 캠;
을 포함하는 디스플레이 패널 검사모듈.
(2) 제 1항에 있어서,
상기 푸셔의 하부에 제1연결핀이 형성되고, 상기 캠의 일단에는 제1연결핀의 이동을 안내하는 제1가이드슬롯이 형성되며, 타단에는 PCB부를 지지하는 지지대의 하측단부에 형성된 제2연결핀의 이동을 안내하는 제2가이드슬롯을 포함하는 디스플레이 패널 검사모듈.
(3) 제 1항에 있어서,
상기 베이스에 지지대의 수직운동을 안내하는 가이드홈이 형성된 것을 특징으로 하는 제2가이드슬롯을 포함하는 디스플레이 패널 검사모듈.
(4) 제 1항에 있어서,
상기 베이스에 지지대의 하측단부가 수직으로 상승한 다음 회전가능하도록 회전턱을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사모듈.
(5) 제1항 내지 제4항 중 선택된 어느 한 항에 따른 디스플레이 패널 검사모듈; 및 디스플레이 패널의 탑재실이 장착된 소켓을 포함하는 디스플레이 패널 검사장치.
(6) 제5항에 있어서, 상기 탑재실의 양측에 한쌍의 래치가 더 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
(7) 제5항에 있어서, 상기 탑재실의 바닥면에 일정간격으로 데이터핀이 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
(8) 제5항에 있어서, 상기 탑재실의 바닥면 중앙에 디스플레이패널을 흡착하기 위한 공기흡입구가 더 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
본 발명에 의하면, 디스플레이 패널의 성능검사시 일일이 수작업을 통해 검사하지 않고, 자동으로 단시간내에 대량으로 정밀하게 검사할 수 있는 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 검사장치를 제공한다.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 전체 구성도.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 디스플레이 패널 탑재부의 단면도.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사모듈의 사시도.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사모듈의 동작과정도.
본 발명은 베이스;
상기 베이스의 상부에 결합되어 승하강하는 푸셔; 및
상기 푸셔가 하강함에 따라 디스플레이 패널의 회로부로부터 전기적으로 접속을 해제하도록 PCB부를 이동시키고, 푸셔가 상승함에 따라 디스플레이 패널의 회로부에 PCB부를 부착하는 캠;
을 포함하는 디스플레이 패널 검사모듈 및 이를 포함하는 디스플레이 검사장치를 제공한다.
이하 본 발명의 내용을 실시예로서 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 전체 구성도이다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치는 디스플레이 패널이 탑재되어지는 소켓(100)과 디스플레이 패널 검사모듈(200)로 이루어진다.
소켓(100)은 디스플레이 패널(110)이 장착되는 탑재실(10) 및 디스플레이 패널을 잠금 및 해제하는 래치(20)를 포함한다. 래치(20)는 탑재실(10)의 양측면에 한 쌍으로 설치되며, 탑재실(10)에 패널(110)을 안착시키기 위해 먼저 래치(20)를 개방하고, 패널(110)을 탑재실(10)에 안착시킨 후 래치(20)를 잠궈 패널을 고정시킨다. 테스트가 종료되면 다시 래치(20)를 개방하여 패널을 탈착한다. 이때 래치(20)의 동작은 수동으로 혹은 자동으로 개폐시킬 수 있도록 할 수 있음은 물론이다.
패널(100)의 회로부(혹은 인터페이스부)(120) 말단에는 전기접속부(121)가 형성되어 있으며, 상기 전기접속부는 디스플레이 패널 검사모듈(110)의 PCB부(113)의 하면에 대응하도록 형성된 전기접속부(미도시)와 전기적인 접촉을 이루게 된다. 상기 전기접속부는 예를 들어, 공지의 프로브 핀과 그라운드 핀 및 이에 대응하는 단자를 포함한다.
도 2에 도시한 바와 같이, 탑재실(10)은 바닥면에 일정간격으로 돌출된 데이터핀(11)이 형성되어 있다. 상기 데이터핀(11)은 패널에 데이터신호를 공급하며, 뿐만 아니라 탑재실(10) 내에 안착되는 패널(110)의 높이를 보정하는 역할도 수행할 수 있다. 이 경우, 데이터핀(11)의 높이를 가변할 수 있도록 수직이동부재(미도시, 예로 랙앤피니언기어와 모터로 이루어질 수 있음)를 소켓의 탑재부(10) 아래에 형성하는 것이 바람직하다.
탑재실(10)의 바닥면 중앙에는 패널(110)을 데이터핀에 흡착하기 위한 공기흡입구(12)가 형성되어 있다. 이를 통해 탑재실(10)내의 공기를 흡입하여 패널이 데이터핀(11)에 밀착될 수 있도록 하는 것이 가능하다. 공기를 흡입하기 위한 수단으로는 공지의 콤프레셔와 같은 장치와 에어라인(air line)을 연결하여 구현할 수 있다.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사모듈의 사시도이다.
디스플레이 패널 검사모듈(이하, 검사모듈이라 함)(110)은 푸셔(111)와 베이스(112)를 포함한다. 푸셔(111)는 베이스(112)의 상부에 장착되어 상하 운동을 수행하게 된다. 푸셔(111)에는 제1연결핀(111a)이 하부 일측에 형성되어 있다.
베이스(112)의 내부에 패널의 테스트를 위한 PCB부(113)를 작동시키기 위한 캠(116)이 장착된다. 캠(116)은 상기 제1연결핀(119)의 이동을 안내하는 제1가이드슬롯(116a)과 PCB부(113)를 지지하는 지지대(114)의 하단에 형성된 제2연결핀(114a)의 이동을 안내하는 제2가이드슬롯(115) 및 캠(116)의 회전중심인 피벗축(118)을 포함한다.
상기에서 지지대(114)는 도 4에 도시된 바와 같이 베이스(112)에 형성된 가이드홈(112a)을 따라 상승 및 하강하고, 지지대가 하사점에 이르면 베이스(112)의 회전축에서 지지대(114)는 회전운동에 이어 수직하강하여 PCB부(113) 하면의 전기접속부가 패널(100)의 회로부(혹은 인터페이스부)(120)에 대향하게 위치되어 전기적으로 접속되어지게 된다.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사모듈의 동작과정도이다.
푸셔(111)가 상승하면 제1연결핀(111a)도 캠(116)의 제1가이드슬롯(117)을 따라 상승한다. 이때, 제1연결핀(11a)이 상승함에 따라 캠은 피벗축(118)을 중심으로 회전한다. 동시에 타단에 형성된 제2가이드슬롯(115)이 회전하강하면서 제2가이드슬롯(115)내 삽입된 제2연결핀(114a)을 아래로 끌어당기게 된다(A). 따라서, 지지대(114)는 베이스의 가이드홈(112a)에 안내되어 하사점에 이를 때까지 직선으로 이동이 안내되고, 푸셔의 상승이 완료되면 지지대(114)의 말단에 결합된 PCB부(113) 하면의 전기접속부가 패널(100)의 회로부(혹은 인터페이스부)(120)에 대향하게 위치되어 전기적으로 접속을 이루게 된다.
이와 같은 동작에 의해 전기적으로 접속된 디스플레이 패널(100)의 검사가 완료된 후, 패널(100)을 탈착하는 과정은 상기 과정의 역과정을 통해 이루어진다.
즉, 푸셔(111)를 하강시키면, 제1연결핀(111a)도 캠(116)의 제1가이드슬롯(117)을 따라 하강한다. 이때, 제1연결핀(111a)이 하강함에 따라 캠은 피벗축(118)을 중심으로 반대방향으로 회전한다. 동시에 타단에 형성된 제2가이드슬롯(115)이 회전상승하면서 제2가이드슬롯(115)내 삽입된 제2연결핀(114a)을 위로 가압한다. 이 과정을 통해 제2연결핀(114a)은 상사점에 이르기 이전의 소정의 위치까지 상승하면서 지지대(114)의 하단 소정 위치에서 베이스의 회전턱(112b)을 중심으로 회전운동으로 전환된다(B). 회전운동의 개시 이후 제2연결핀(114a)이 상사점에 도달할 때까지 말단에 결합된 PCB부(113)가 함께 회전하여 패널(100)의 회로부(혹은 인터페이스부)(120)는 상기 PCB부로부터 탈착되어질 수 있다(C).
푸셔의 하강이 완료되면 동시에 제1연결핀(111a) 및 제2연결핀(114a)의 운동도 완료되며 캠은 원래의 위치로 복귀하게 된다.
상기 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사모듈에서 푸셔는 구동부(미도시)를 통해 수동 혹은 자동으로 승하강시킬 수 있다. 이때 구동부는 캠구조를 통해 구현할 수 있으며, 자동으로 동작하도록 구현할 경우 캠의 일단에 액츄에이터(미도시)를 장착하여 동작을 자동으로 제어하도록 한다.
결국 상기와 같은 동작에 의해 지지대(114)의 말단에 장착된 PCB부(113)는 푸셔의 승하강 동작에 의한 캠(116)의 운동을 매개하여 직선운동과 회전운동을 병행하는 것에 의해 자동으로 패널의 접촉단자와 안전하게 전기적으로 접촉이 이루어질 수 있게 되어 테스트 과정을 신속하고 정확하게 수행할 수 있다.
상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 소켓
110: 디스플레이패널
111: 푸셔
111a: 제1연결핀
112: 베이스
112a: 가이드홈
113: PCB부
114: 지지대
114a: 제2연결핀
115: 제2가이드슬롯
116: 캠
117: 제1가이드슬롯
118: 피벗축
120: 회로부
200: 디스플레이패널 검사모듈

Claims (8)

  1. 베이스;
    상기 베이스의 상부에 결합되어 승하강하는 푸셔; 및
    상기 푸셔가 하강함에 따라 디스플레이 패널의 회로부로부터 전기적으로 접속을 해제하도록 PCB부를 이동시키고, 푸셔가 상승함에 따라 디스플레이 패널의 회로부에 PCB부를 부착하는 캠;을 포함하되,
    상기 푸셔의 하부에 제1연결핀이 형성되고, 상기 캠의 일단에는 제1연결핀의 이동을 안내하는 제1가이드슬롯이 형성되며, 타단에는 PCB부를 지지하는 지지대의 하측단부에 형성된 제2연결핀의 이동을 안내하는 제2가이드슬롯을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사모듈.
  2. 삭제
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 베이스에 지지대의 수직운동을 안내하는 가이드홈이 형성된 것을 특징으로 하는 제2가이드슬롯을 포함하는 디스플레이 패널 검사모듈.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 베이스에 지지대의 하측단부가 수직으로 상승한 다음 회전가능하도록 회전턱을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사모듈.
  5. 제1항, 제3항 및 제4항 중 선택된 어느 한 항에 따른 디스플레이 패널 검사모듈; 및 디스플레이 패널의 탑재실이 장착된 소켓을 포함하는 디스플레이 패널 검사장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 탑재실의 양측에 한쌍의 래치가 더 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 탑재실의 바닥면에 일정간격으로 데이터핀이 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 탑재실의 바닥면 중앙에 디스플레이패널을 흡착하기 위한 공기흡입구가 더 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.
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