KR101400220B1 - 유리 제품의 곱 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

곱에 혼입된 이물이나 기포를 용이하게 검출할 수 있게 한다. 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 라인 스캔 카메라로 촬상하여 곱 화상(A)을 작성하고, 곱 화상(A)을 곱 일반부가 검고, 주위광채부 및 결점이 하얗게 되는 경계값으로 이치화한 화상(B)을 작성하고, 이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화하여, 흑백 반전한 화상(C)을 작성하고, 화상(B)과 화상(C)을 서로 합한 화상(D)를 작성하고, 화상(D)의 검은 영역의 외주 가장자리로부터 임의 화소수 내측으로 들어간 영역을 검사영역으로서 설정하고, 곱 화상(A)의 이 검사영역을 검사하여 곱의 양부 판정을 행함으로써 상기 과제를 해결한다.

Description

유리 제품의 곱 검사 장치{GOB INSPECTION SYSTEM FOR GLASS PRODUCT}
본 발명은 유리병 등의 유리 제품을 성형기로 대량으로 제조할 때, 금형에 장입하는 곱(Gob)의 이물, 기포 및 곱 형상의 검사를 행하는 검사 장치에 관한 것이다.
유리병 등의 유리 제품의 상처, 기포, 이물 등의 결함의 검사는 서랭로에서 서랭된 후에(소위 콜드엔드에서) 가시광선에 의해 행해지고 있다. 이러한 장치는 일반적으로 하기 특허문헌 1∼3에 개시되는 바와 같이, 유리 제품을 회전시키면서, 제품을 향하여 투광기로 광을 조사하고, 그 반사광 또는 투과광을 카메라로 포착하고, 그 화상을 처리하여 결함을 발견하는 것이다.
한편, 유리병 등의 유리 제품을 성형기로 대량으로 제조할 때, 금형에 장입하는 곱의 체적 또는 중량을 측정하는 장치 또는 방법이 하기 특허문헌 4∼6에 개시되어 있다.
특허문헌 6에는, 또한, 곱 형상의 3차원 데이터를 적합한 곱 형상의 데이터와 비교하여, 곱의 형상을 적절한 곱 형상에 근접시켜 유리 제품의 품질을 향상시키는 것이 기재되어 있다.
일본 특개 2003-4649호 공보 일본 특개 2000-19130호 공보 일본 특개 평7-103915호 공보 일본 특공 소63-52326호 공보 일본 특개 평7-33445호 공보 WO2003/8348호 공보
(발명의 개요)
(발명이 해결하고자 하는 과제)
성형된 유리 제품에 대하여 행하는 종래의 결함 검사는 결함이 발생한 제품 부분에 의해 정확한 검사가 곤란한 경우가 있다. 예를 들면, 유리병의 경우, 주둥이부나 바닥부 등의 복잡한 형상을 갖는 부분에 있어서의 기포, 이물의 결함을 빠짐없이 발견하는 것은 곤란하여, 불량품이 우량품으로 판정되어, 검사를 통과해 버리는 경우가 있었다.
본 발명은 이러한 검사 누락을 적게 하거나, 혹은 없애는 것을 과제로 하고, 그것을 위해, 용이하게 곱에 혼입된 이물이나 기포를 검출할 수 있게 하는 것을 목적으로 한다.
[청구항 1]
본 발명은 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔 하는 라인 스캔 카메라와,
이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
이 처리 수단은,
상기 데이터의 각 라인을 수직 방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
이 곱 화상(A)을 곱 일반부가 검고, 주위광채부 및 결점이 희게 되는 경계값으로 이치화(二値化)한 화상(B)을 작성하고,
이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화하여, 흑백 반전한 화상(C)을 작성하고,
화상(B)과 화상(C)을 서로 합한 화상(D)을 작성하고,
화상(D)의 검은 영역의 외주 가장자리로부터 임의 화소수 내측으로 들어간 영역을 검사영역으로서 설정하고,
상기 곱 화상(A)의 이 검사영역의 검사에 의해, 곱의 양부(良否) 판정을 행하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치이다.
오리피스로부터 잘라진 곱은 고온이기 때문에 발광하고 있다. 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라로 포착함으로써 곱 전체를 스캔할 수 있다.
라인 스캔 카메라를 설치하는 위치는 오리피스로부터 잘라져서 자유낙하하고 있는 곱을 포착할 수 있는 위치이면 되고, 특별히 제한되지 않지만, 가능한 한 수평방향으로 곱을 포착하는 것이 바람직하다.
라인 스캔 카메라는, 주로 가시광선을 포착하는, 시판되고 있는 일반적인 것을 사용할 수 있다. 또한 곱 자체가 발광하고 있기 때문에, 특별히 조명 수단은 필요로 하지 않는다.
곱 내의 각 부에서 발광한 광은, 곱의 외주면에서 반사, 굴절하여 복잡한 광로를 진행하기 때문에, 통상 곱의 주위 부분이 다른 일반 부분보다도 밝게 보이는 주위광채부가 생긴다. 이 주위광채부는 결함이 없더라도 밝게 보이므로, 이 부분을 제외하고 검사영역을 설정한다.
곱에 기포이나 이물이 혼입된 결함이 있으면, 통상 그 부분이 다른 부분보다도 밝아지므로, 예를 들면, 곱 화상(A)의 검사영역 중에서 밝기가 급격하게 변화되고 있는 것을 검출함으로써 곱의 결함(기포, 이물의 혼입)을 검사할 수 있다. 양부 판정 방법은 여러 가지 있으며, 필요에 따라 적당한 방법을 선택할 수 있다.
처리 수단은 시판의 pc를 사용할 수 있지만, 시판의 플레임 그래버 및 화상처리 소프트웨어와 조합하는 것이 바람직하다.
[청구항 2]
또 본 발명은 상기 처리 수단이, 곱 화상(A)의 검사 영역 내에서의 소정의 밝기 임계값(역치)을 초과하는 화소수의 수가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 청구항 1에 기재된 곱 검사 장치이다.
곱에 기포이나 이물이 혼입된 결함이 있으면, 통상 그 부분이 다른 부분보다도 밝아지므로, 곱의 일반 부분의 밝기와, 결함 부분의 밝기 사이의 적당한 밝기를 밝기 임계값으로 함으로써 결함 부분의 화소수를 검출할 수 있다.
화소수 임계값은 허용할 수 있는 결함의 정도를 고려하여 정하면 된다.
[청구항 3]
또 본 발명은 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라와,
이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
이 처리 수단은,
상기 데이터의 각 라인을 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
이 곱 화상(A)을 곱 일반부가 검고, 주위광채부 및 결점이 희게 되는 경계값으로 이치화한 화상(B)을 작성하고,
이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화하여, 흑백 반전된 화상(C)을 작성하고,
화상(B)과 화상(C)을 서로 합한 화상(D)을 작성하고,
화상(D)의 검은 영역의 외주 가장자리로부터 임의 화소수 내측으로 들어간 영역을 검사영역으로서 설정하고,
화상(D)의 이 검사영역 내에서의 흰 부분에 기초하여 검사하여, 곱의 양부를 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치이다.
화상(D)의 검사영역 내에는, 기포·이물의 결함이 하얗게 되어 있으므로, 그 흰 부분을 검출하여 곱의 결함 검사를 행할 수 있다.
[청구항 4]
또 본 발명은 상기 처리 수단이 상기 화상(D)의 검사영역 내의 흰 부분의 화소수의 합계가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 제3항에 있어서의 곱 검사 장치이다.
이것은, 대표적인 양부 판정 방법이지만, 그 밖에도, 흰 부분이 복수 있을 때 하나의 흰 부분의 화소수가 소정의 화소수를 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 방법 등이 있다. 양부판정 방법은 필요에 따라 적당한 방법을 선택할 수 있다.
[청구항 5]
또 본 발명은 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라와,
이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
이 처리 수단은,
상기 데이터의 각 라인을 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
이 곱 화상(A)을 곱 일반부가 검고, 주위광채부 및 결점이 하얗게 되는 경계값으로 이치화한 화상(B)을 작성하고,
이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화하여, 흑백 반전된 화상(C)을 작성하고,
상기 화상(B)의 흰 영역의 주위를 소정 화소수의 폭으로 침식한 화상(E)을 작성하고,
이 화상(E)의 흰 영역의 주위를 소정 화소수의 폭으로 팽창시킨 화상(F)을 작성하고,
이 화상(F)과 상기 화상(C)을 서로 합한 화상(G)을 작성하고,
이 화상(G)의 검은 영역 내의 흰 부분에 기초하여 검사하고, 곱의 양부를 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치이다.
이 검사 장치는, 검사영역을 설정하지 않고, 기포·이물의 결함 검사를 행할 수 있다. 검사영역을 설정하면, 주위광채부의 근처에 있는 결함이 검사영역으로부터 벗어나 버리는 경우가 있지만, 이 검사 장치에서는 그러한 것을 막을 수 있다.
화상(G)의 검은 영역 내에서, 기포·이물의 결함 부분이 하얗게 되어 있으므로, 그 흰 부분을 검출하여 곱의 결함 검사를 행할 수 있다.
[청구항 6]
또 본 발명은, 상기 처리 수단이 상기 화상(G)의 검은 영역 내의 흰 부분의 화소수의 합계가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 제 5 항에 있어서의 곱 검사 장치이다.
이것은, 대표적인 양부 판정 방법이지만, 그 밖에도, 흰 부분이 복수 있을 때 하나의 흰 부분의 화소수가 소정의 화소수를 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 방법 등이 있다. 양부 판정 방법은 필요에 따라 적당한 방법을 선택할 수 있다.
[청구항 7]
또 본 발명은 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라와,
이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
이 처리 수단은,
상기 데이터의 각 라인을 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화한 화상(H)을 작성하고,
H 화상의 흰 영역의 돌기부를 깎아낸 화상(I)을 작성하고,
H 화상으로부터 I 화상을 뺀 화상(J)을 작성하고,
상기 화상(J)의 검은 영역 내의 흰 부분의 화소수의 합계가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 곱 검사 장치이다.
이 검사 장치는 곱 주변으로 뛰어나온 이물(돌출 이물)을 검출할 수 있는 것이다. 상기의 검사 장치는, 모두, 돌출 이물을 주위광채부로서 배제해 버리기 때문에, 검출할 수 없다.
화상(J)에는 돌출 이물 부분이 하얗게 되어 있다. 또한 H 화상의 흰 영역의 돌기부를 깎아낸 화상(I)에서는 돌출 이물 이외의 부분도 약간 깎아냈을 가능성이 있으므로, 적당한 화소수 임계값을 설정함으로써, 돌출 이물만을 검출할 수 있다.
본 발명의 검사 장치는, 청구항 1∼4중 어느 하나의 검사 장치의 검사영역을 검사하는 방법, 청구항 5 또는 6의 검사 장치의 화상(G)을 검사하는 방법, 청구항 7의 검사 장치의 화상(J)을 검사하는 방법 중 2 이상 또는 모든 검사 방법을 겸비할 수 있다. 겸비시킨 모든 방법으로 검사하여, 하나의 검사 방법이라도 불량이라고 판정된 것은 불량 곱이 된다.
[청구항 8]
또한 본 발명은 상기 라인 스캔 카메라를 복수 갖고, 각 라인 스캔 카메라에 의한 곱 화상을 검사하고, 그 중 하나라도 불량 곱으로 판정되었을 때에 그 곱을 불량 곱으로 판정하는 청구항 1∼7 중 어느 하나에 기재된 곱 검사 장치이다.
도 3은 위에서 본 곱의 모식도이다. 동 도면에 도시하는 바와 같이, 곱(5)의 내부로부터 나오는 광은 곱의 외주면에서 굴절하여 카메라(4)에 도달한다. 따라서, 동 도면의 사선 부분은 카메라(4)에서는 보이지 않는 부분(58)으로 되어 있다. 곱 전체를 검사하기 위해서는, 1개의 카메라로는 불충분하여, 복수의 카메라를 다른 각도로 배치할 필요가 있다.
본 발명의 검사 장치에서 불량이라고 판정된 곱은 금형에 공급되기 전에 곱 배제 장치로 배제하거나, 또는 제품으로 성형된 후에 핫 엔드(서랭로에 들어가기 전)에서 리젝터에 의해 배제할 수 있다.
곱의 형상은 제품의 형상에 비해 단순하므로, 기포, 이물 등의 혼입을 정확하게 발견할 수 있다.
불량 곱으로 성형된 제품을 핫 엔드에서 배제함으로써 콜드 엔드의 검사에서 결함 제품이 통과되어 버리는 위험을 대폭 감소할 수 있다.
라인 스캔 카메라를 사용하여, 데이터의 해석도 간단하므로, 설비 비용이 저렴하고, 2초 정도의 간격으로 잘라지는 모든 곱의 검사에도 충분히 대응할 수 있다.
도 1은 곱이 잘라지고 나서 금형 내로 공급될 때까지의 모식도.
도 2는 성형기로 성형된 유리 제품이 서랭로에 들어갈 때까지의 설명도.
도 3은 위에서 본 곱에 있어서의 카메라에서 보이지 않는 부분의 설명도.
도 4는 검사영역을 작성하는 설명도.
도 5는 곱 화상(A)으로부터 화상(F)을 작성할 때까지의 설명도.
도 6은 화상(F)으로부터 화상(G)을 작성할 때까지의 설명도.
도 7은 곱 화상(A)으로부터 화상(J)을 작성할 때까지의 설명도.
도 8은 실끌림부의 결함을 갖는 곱의 설명도.
도 9는 실끌림부의 발생의 설명도.
(발명을 실시하기 위한 형태)
이하, 소위 IS 성형기로 유리 제품(유리병)을 성형하는 과정에 있어서의 곱의 검사에 적용한 실시형태에 대하여 설명한다.
도 1은 오리피스(21)로부터 곱(5)이 잘라진 것을 나타내고 있다.
용융 유리(25)가 채워진 스파우트(20)에는, 회전하는 튜브(23), 상하동하는 플런저(24)가 장비되고, 플런저(24)가 하강하여 용융 유리(25)가 오리피스(21)로부터 밀어내지면, 시어(22)가 작동하여 이것을 절단하고, 곱(5)이 잘려나가 낙하한다. 낙하한 곱(5)은, 어퍼 퍼넬(30), 로어 퍼넬(32), 스쿠프(33), 트로프(34) 및 디플렉터(35)로 이루어지는 곱 분배 수단을 통하여 금형(11)(조형(粗型)) 내에 공급된다. 트로프(34), 디플렉터(35) 및 금형(11)은 성형기의 복수 섹션마다 설치되고, 스쿠프(33)가 방향을 바꾸면서 곱을 복수 섹션의 각 금형에 차례로 공급한다. 동 도면에서, 부호 26은 시어(22)를 냉각하기 위하여 물을 분무하는 시어 스프레이, 부호 27은 어퍼 퍼넬(30)을 냉각하기 위하여 물을 분무하는 냉각 스프레이이다.
라인 스캔 카메라(4)는 어퍼 퍼넬(30)로부터 유래하여 로어 퍼넬(32)로 들어가는 동안에 낙하하는 곱(5)을 겨냥하여 복수대 설치된다. 라인 스캔 카메라가 설치되는 환경은 고온이므로, 카메라는 쿨링 박스(도시 생략) 내에 수납하는 등 하여 냉각하는 것이 바람직하다. 라인 스캔 카메라(4)로부터의 데이터는 프레임 그래버를 거쳐 pc에 보내지고, 화상 처리가 행해져, 곱에 기포이나 이물이 혼입되어 있는지 아닌지가 판정된다.
라인 스캔 카메라(4)는 이동체의 표면을 수평선 시야로 포착하고, 일정 피치마다 주사를 행하여 비디오 신호로서 출력한다. 이번 사용한 카메라는 수평방향으로 2048 화소를 가져, 고분해능 화상 읽기가 가능하다. 곱이 화소열과 직각방향으로 이동함으로써, 곱의 전체면을 화상 데이터로서 받아들인다.
처리 수단은 시판의 컴퓨터(pc)로, 기억 수단(메모리, 하드 디스크)을 내장하고, 표시 수단(모니터) 및 입력 수단(키보드, 마우스)이 접속되어 있다. 표시 수단에는 곱 화상이나 곱 화상을 가공한 여러 화상 등, 원하는 정보를 표시할 수 있다. 또한, 시판의 화상처리 소프트웨어가 포함되고, 프레임 그래버가 접속되어 있다.
IS 성형기(1)는 이 경우 제 1 섹션으로부터 제 10 섹션의 10개의 섹션(도 2에 있어서의 원숫자는 섹션 번호를 나타낸다.)을 갖고, 제 1 섹션이 컨베이어(12)의 가장 하류측, 제 10 섹션이 가장 상류측으로 되어 있다.(도 2)
IS 성형기(1)에 부속되어 있는 제어 시스템은 시어 커트 신호, 타이밍 신호, 리셋 신호를 갖는다. 시어 커트 신호는 제어 시스템이 시어(22)를 동작시킬 때에 내는 펄스 신호이다.
타이밍 신호는, IS 성형기의 동작 속도에 동기한 펄스 신호로, 예를 들면, 1주기의 동작을 완료하는 동안(모든 섹션에서 1회 성형을 완료하는 동안)에 1800펄스를 출력한다.
곱을 절단하는 시어 커트의 타이밍, 성형기의 모든 부분의 동작이나 컨베이어(12)의 반송 속도 등은 이 타이밍 신호에 동기하고 있다.
리셋 신호는 IS 성형기(1)가 1주기의 동작을 완료할 때마다 1펄스 출력되는 것이다.
처리 수단은 IS 성형기(1)의 제어 시스템으로부터 시어 커트 신호, 타이밍 신호 및 리셋 신호를 받아들임으로써 검사한 곱으로부터 성형된 유리 제품(6)이 리젝터(13)의 정면까지 반송되어 리젝터(13)를 동작시키는 타이밍을 파악할 수 있다.
도 2는 성형기(1)로 성형된 유리 제품(6)(유리병)이 서랭로(16)에 들어갈 때까지의 모습을 나타내고 있다.
본 발명의 검사 장치로 검사된 곱은 IS 성형기(1)의 조형에 장입되고, 성형 기 내에서 패리슨 성형 및 마무리 성형이 행해지고, 성형된 유리 제품(6)은 컨베이어(12) 위를 서랭로(16)를 향하여 반송되어 가고, 푸셔(15)에 의해 서랭로(16) 속으로 보내진다.
리젝터(13)는 IS 성형기(1)와 서랭로(16) 사이의 컨베이어(12)의 옆에 설치되어 있다.
처리 수단은 불량이라고 판정한 곱(5)으로 성형된 유리 제품(6)이 리젝터(13)의 정면에 반송되어 오는 타이밍에 리젝터(13)를 작동시켜, 그 유리 제품을 폐기부(14)를 향하여 날려버려, 컨베이어(12) 상에서 배제한다.
라인 스캔 카메라(4)로부터의 데이터(라인 데이터)는 처리 수단에 보내지고, 해석된다. 처리 수단은, 우선, 라인 스캔 카메라(4)로부터의 데이터를 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성한다.
[검사 영역의 설정]
처리 수단은, 도 4에 도시하는 바와 같이, 곱 화상(A)으로부터 화상(B), 화상(C)을 작성하고, 화상(B)과 화상(C)을 서로 합하여 화상(D)을 작성하고, 화상(D)으로부터 검사영역을 설정한다.
도 4, 5의 곱 화상(A)에 있어서, 부호 51은 주위광채부이며, 결함이 아니고, 곱 내부로부터의 광이 곱 외주면에서 굴절, 반사한 결과 밝게 보이는 부분이다. 부호 52는 부속광채부(飛島)이며, 결함이 아니고, 주변광채부(51)의 영향으로, 그 근방에 밝게 보이는 작은 부분으로, 부속광채부(52)는 곱의 형상에 의해 때때로 발생하는 경우가 있다. 부호 53은 주변광채부(51)의 근처에 있는 기포·이물 등의 결함으로 밝게 보인다. 부호 54는 주변광채부(51)로부터 떨어진 위치에 있는 기포·이물 등의 결함으로 밝게 보인다. 부호 55는 시어 스프레이(26), 냉각 스프레이(27)로부터 분무된 작은 물방울이 카메라(4)에서 곱과 겹쳐서 찍힌 것으로, 어둡게 보인다.
화상(B)은 곱 화상(A)을 이치화한 화상이다. 이치화의 경계값은 주위광채부(51), 부속광채부(52) 및 결함(53, 54)의 밝기와, 곱의 일반부의 밝기 사이의 적당한 밝기를 선택한다. 화상(B)에 있어서, 주위광채부(51), 부속광채부(52), 및 결함(53, 54)은 희고, 그 밖의 부분은 검게 되어 있다.
화상(C)은 곱 화상(A)을 이치화하고, 흑백 반전한 화상이다. 이 경우의 이치화의 경계값은 곱 전체가 하얗게 되도록, 배경의 밝기보다도 밝은 적당한 밝기를 선택한다. 화상(C)에 있어서, 곱 전체가 검고, 배경은 하얗게 되어 있다.
화상(D)은 화상(B)과 화상(C)을 가산한 것이다.
화상의 가산에 있어서, 흑+흑=흑, 흑+백=백, 백+백=백이다. 화상(D)에 있어서, 검은 영역의 외주 형상은 곱의 외주 형상으로부터 주위광채부(51)를 제외한 형상으로 되어 있다. 그 검은 영역 속에, 부속광채부(52) 및 결함(53, 54)이 하얗게 되어 존재하고 있다.
도 4의 D 화상에 파선으로 나타내는 바와 같이, 화상(D)의 검은 영역의 외주 가장자리로부터 임의 화소수 내측으로 들어간 영역을 검사영역(56)으로서 설정한다. 이 화소수는 주위광채부(51)와 부속광채부(52) 사이의 화소수보다 약간 큰 화소수로 한다. 이 화소수는 5∼20 정도이며, 대부분의 경우 10 정도가 바람직하다. 이것에 의해, 화상(D)의 좌상측에 나타나는 바와 같이, 부속광채부(52)(결함은 아님)가 검사영역(56)으로부터 벗어나, 부속광채부(52)가 결함이라고 판정되는 것이 방지된다. 단, 화상(D)의 우상측에 나타나는 바와 같이, 주위광채부(51)의 근처에 결함(53)이 있으면, 이것도 검사영역(56)으로부터 벗어나 버린다. 따라서, 이러한 결함(53)은 후술하는 방법에 의해 검사된다.
[검사영역 내의 검사]
검사영역 내의 검사에는 여러 방법이 있다.
예를 들면, 곱 화상(A)으로부터 검사영역을 추출하고, 그 데이터 중에서 밝기가 갑자기 변화하고 있는(이웃하는 화소의 밝기의 차가 소정의 밝기 임계값보다 큼) 개소의 개수가 소정의 개수 임계값보다 큰 경우, 그 곱을 불량 곱으로 판정할 수 있다.
또한 곱 화상(A)으로부터 검사영역을 추출하고, 그 데이터 중에서 밝기가 소정의 밝기 임계값을 초과하는 화소의 수를 검출하고, 그 화소수가 소정의 화소수 임계값을 초과하는 경우에, 그 곱을 불량 곱으로 판정할 수 있다.
또한 화상(D)의 검사영역(56)에서, 흰 부분의 합계의 화소수가 소정의 화소수 임계값을 초과하는 경우에, 그 곱을 불량 곱으로 판정할 수 있다.
또한 화상(D)의 검사영역(56)에서, 흰 부분이 복수 있을 때, 그 중 하나의 흰 부분의 화소수가 소정의 화소수 임계값을 초과하는 경우에, 그 곱을 불량 곱으로 판정할 수 있다.
[검사영역을 설정하지 않는 검사]
처리 수단은, 도 5에 도시되는 바와 같이, 곱 화상(A)을 이치화하여 화상(B)을 작성하고, 화상(B)으로부터 화상(E)을 작성하고, 화상(E)으로부터 화상(F)을 작성한다. 또한, 도 6에 도시되는 바와 같이, 화상(F)과 곱 화상(A)을 이치화하여 흑백 반전한 화상(C)을 서로 합하여 화상(G)을 작성하고, 화상(G)에 기초하여 곱의 검사를 행한다.
곱 화상(A)을 이치화한 화상(B), 및 이치화하여 흑백 반전한 화상(C)은 상기의 실시형태에서 설명한 바와 같은 것이다. 화상(E)은 화상(B)의 각 흰 영역의 주위를 소정 화소수(예를 들면, 20화소)의 폭으로 침식한 것이다. 이러한 침식은 pc에 포함된 일반 화상처리 소프트웨어에 통상 구비되어 있는 기능이다. 화상(E)에서는 침식에 의해 부속광채부(52)가 소멸되고, 주위광채부(51)와 결함(53, 54)은 작아져 있다. 부속광채부의 크기는 결함에 비해 작기 때문에, 이 조작에 의해 소멸하는 것이다. 화상(F)은 화상(E)의 흰 영역의 주위를 소정 화소수(예를 들면, 20화소)의 폭으로 팽창시킨 것이다. 이러한 팽창도, pc에 포함된 일반 화상처리 소프트웨어에 통상 구비되어 있는 기능이다. 화상(F)을 화상(B)과 비교하면, 화상(F)은 부속광채부(52)가 소멸되어 있지만, 주위광채부(51) 및 결함(53, 54)은 거의 동일한 형상, 크기이다. 부속광채부(결함은 아님)가 소멸함으로써, 부속광채부를 결함으로 오판정 하는 것이 방지된다.
화상(G)은 화상(C)과 화상(F)을 가산한 것이다. 화상(G)의 검은 영역 속에는 결함(53, 54)만이 남고, 주위광채부(51) 및 부속광채부(52)는 소멸되어 있다. 따라서, 화상(G)의 검은 영역 속의 흰 부분을 검사함으로써 곱을 양부 판정할 수 있다.
화상(G)의 검은 영역 내의 검사에는 여러 방법이 있다. 예를 들면, 화상(G)의 검은 영역 내에서, 흰 부분의 합계의 화소수가 소정의 화소수 임계값을 초과하는 경우에, 그 곱을 불량 곱으로 판정할 수 있다.
또한 화상(G)의 검은 영역 내에서, 흰 부분이 복수 있을 때, 그 중 하나의 흰 부분의 화소수가 소정의 화소수 임계값을 초과하는 경우에, 그 곱을 불량 곱으로 판정할 수 있다.
[돌출 이물의 검사]
처리 수단은, 도 7에 도시되는 바와 같이, 곱 화상(A)을 이치화하여 화상(H)을 작성하고, 화상(H)으로부터 화상(I)을 작성하고, 화상(H)으로부터 화상(I)를 빼서 화상(J)을 작성하고, 화상(J)의 검은 영역 내의 흰 부분의 화소수의 합계가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정한다.
화상(H)은 곱 화상(A)을 이치화한 것이지만, 이 경우의 이치화의 경계값은 곱 전체가 하얗게 되도록, 배경의 밝기보다도 밝은 적당한 밝기를 선택한다. 화상(H)에 있어서, 곱 전체가 희고, 배경은 검게 되어 있다. 화상(I)은 H 화상의 흰 영역의 돌기부(돌출 돌기(57))를 깎아낸 것이다. 이러한 깍아내기는 pc에 포함된 일반 화상처리 소프트웨어에 통상 구비되어 있는 기능이다.
화상(J)은 화상(H)으로부터 화상(I)을 감산한 것이다. 화상의 감산에 있어서, 흑-흑=흑, 흑-흰=흑, 백-흑=백, 백-흰=흑이다.
화상(J)에는 돌출 돌기(57)만이 하얗게 되어 있다. H 화상의 흰 영역의 돌기부를 깎아낸 화상(I)에서는, 돌출 이물 이외의 부분도 약간 깎아냈을 가능성이 있다. 그 경우, 화상(J)에, 돌출 이물 이외의 흰 부분(결함은 아님)이 약간 발생하지만, 화소수 임계값(예를 들면, 5화소)을 적당히 선택함으로써 돌출 이물 이외의 흰 부분을 결함으로 판정하는 것을 막을 수 있다.
이 돌출 이물을 검출하는 장치는, 소위 「실끌림」이라고 하는 곱의 결함도 검출할 수 있다. 도 8에 실끌림부(59)의 결함을 갖는 곱을 도시한다. 실끌림부는 실 모양으로 가늘고 길게 늘어나 튀어나온 결함으로, 성형 후의 유리 제품 표면에 실끌림부의 유리가 줄 모양으로 부착되어 명확한 외관 결점이 된다. 실끌림부(59)는, 도 9에 도시하는 바와 같이, 시어(22)로 용융 유리(25)를 절단하는 부분에 단단한 이물(7)이 있을 때에 발생한다. 단단한 이물 때문에 시어의 절단력이 나빠지고, 그 후 시어로 절단한 곱은 불량 곱으로 될 가능성이 있다.
화상(J)에서 불량 곱으로 판정했을 때, 처리 수단을 경보(버저, 점멸 등등)를 작동시키도록 할 수 있다. 경보가 작동하면, 오퍼레이터는 즉시 시어날의 상태를 확인하고, 필요하다면 시어를 교환한다. 그것에 의해, 일련의 불량품의 발생을 미연에 막는 것이 가능하게 된다.
처리 수단은 화상처리한 곱을, 기포나 이물이 혼입되어 있는 불량 곱으로 판정한 경우, 곱 배제 장치(31)(도 1)를 작동하여 그 곱을 배제할 수 있다.
또는, 불량 곱은 배제하지 않고, 불량 곱으로부터 성형된 유리 제품을 성형기로부터 서랭로까지의 사이의 컨베이어 위를 반송되고 있을 때에 리젝터에 의해 배제할 수 있다. 이것은 곱 자체를 배제하면 제품을 성형하지 못하는(1회 패스의) 금형이 생겨, 이 금형이 식어 버려, 다음에 성형하는 제품에 미소 크랙이나 주름 등의 결함이 생길 가능성이 있기 때문이다. 제품의 배제를 성형기로부터 서랭로까지의 사이에서 행하는 것은, 처리 수단에 성형기의 타이밍 신호 등을 보냄으로써, 처리 수단이 검사한 곱으로 성형한 제품이 리젝터의 정면에 도달하여 배제할 타이밍을 개별적으로 파악할 수 있고, 정확하게 불량 곱으로 성형된 제품을 배제할 수 있기 때문이다. 리젝터는 컨베이어 위의 유리 제품을 에어로 날려버리는 타입의 것, 밀어내는 타입의 것 등, 주지의 것을 사용할 수 있다.
1 성형기
11 금형
12 컨베이어
13 리젝터
14 폐기부
15 푸셔
16 서랭로
20 스파우트
21 오리피스
22 시어
23 튜브
24 플런저
25 용융 유리
26 시어 스프레이
27 냉각 스프레이
30 어퍼 퍼넬
31 곱 배제 장치
32 로어 퍼넬
33 스쿠프
34 트로프
35 디플렉터
4 카메라
5 곱
51 주위광채부
52 부속광채부
53 결함
54 결함
55 물방울
56 검사영역
57 돌출 돌기
58 보이지 않는 부분
59 실끌림부
6 유리 제품
7 이물
A 곱 화상
B 화상 B
C 화상 C
D 화상 D
E 화상 E
F 화상 F
G 화상 G
H 화상 H
I 화상 I
J 화상 J

Claims (8)

  1. 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라와,
    이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
    이 처리 수단은,
    상기 데이터의 각 라인을 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
    이 곱 화상(A)을 곱 일반부가 검고, 주위광채부 및 결점이 하얗게 되는 경계값으로 이치화한 화상(B)을 작성하고,
    이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화하여, 흑백 반전한 화상(C)을 작성하고,
    화상(B)과 화상(C)을 서로 합한 화상(D)을 작성하고,
    화상(D)의 검은 영역의 외주 가장자리로부터 임의 화소수 내측으로 들어간 영역을 검사영역으로서 설정하고,
    상기 곱 화상(A)의 이 검사영역의 검사에 의해, 곱의 양부 판정을 행하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 처리 수단이 곱 화상(A)의 검사영역 내에서의 소정의 밝기 임계값을 초과하는 화소수의 수가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.
  3. 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라와,
    이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
    이 처리 수단은,
    상기 데이터의 각 라인을 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
    이 곱 화상(A)을 곱 일반부가 검고, 주위광채부 및 결점이 하얗게 되는 경계값으로 이치화한 화상(B)을 작성하고,
    이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화하여, 흑백 반전한 화상(C)을 작성하고,
    화상(B)과 화상(C)을 서로 합한 화상(D)을 작성하고,
    화상(D)의 검은 영역의 외주 가장자리로부터 임의 화소수 내측으로 들어간 영역을 검사영역으로서 설정하고,
    화상(D)의 이 검사영역 내에서의 흰 부분에 기초하여 검사하고, 곱의 양부를 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 처리 수단이 상기 화상(D)의 검사영역 내의 흰 부분의 화소수의 합계가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.
  5. 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라와,
    이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
    이 처리 수단은,
    상기 데이터의 각 라인을 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
    이 곱 화상(A)을 곱 일반부가 검고, 주위광채부 및 결점이 하얗게 되는 경계값으로 이치화한 화상(B)을 작성하고,
    이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화하여, 흑백 반전한 화상(C)을 작성하고,
    상기 화상(B)의 흰 영역의 주위를 소정 화소수의 폭으로 침식한 화상(E)을 작성하고,
    이 화상(E)의 흰 영역의 주위를 소정 화소수의 폭으로 팽창시킨 화상(F)을 작성하고,
    이 화상(F)과 상기 화상(C)을 서로 합한 화상(G)을 작성하고,
    이 화상(G)의 검은 영역 내의 흰 부분에 기초하여 검사하고, 곱의 양부를 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 처리 수단이 상기 화상(G)의 검은 영역 내의 흰 부분의 화소수의 합계가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.
  7. 오리피스로부터 잘라져서 낙하하고 있는 곱을 수평방향으로 스캔하는 라인 스캔 카메라와,
    이 라인 스캔 카메라로부터의 데이터를 처리하는 처리 수단을 갖고,
    이 처리 수단은,
    상기 데이터의 각 라인을 수직방향으로 연속시킴으로써 곱 화상(A)을 작성하고,
    이 곱 화상(A)을 곱 전체가 희고, 배경이 검게 되는 경계값으로 이치화한 화상(H)을 작성하고,
    H 화상의 흰 영역의 돌기부를 깎아낸 화상(I)을 작성하고,
    H 화상으로부터 I 화상을 뺀 화상(J)을 작성하고,
    상기 화상(J)의 검은 영역 내의 흰 부분의 화소수의 합계가 소정의 화소수 임계값을 초과했을 때에 불량 곱으로 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.
  8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 라인 스캔 카메라를 복수 갖고, 각 라인 스캔 카메라에 의한 곱 화상을 검사하고, 그 중 하나라도 불량 곱으로 판정되었을 때에 그 곱을 불량 곱으로 판정하는 것을 특징으로 하는 곱 검사 장치.

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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4999032B1 (ja) * 2011-07-28 2012-08-15 東洋ガラス株式会社 Ｉｓ成形機のゴブ到着タイミング監視装置
JP5485324B2 (ja) * 2012-03-28 2014-05-07 日本山村硝子株式会社 ゴブ監視処理方法およびゴブ生成装置
CN103033343B (zh) * 2012-12-13 2015-07-01 京东方科技集团股份有限公司 检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置
CN104568989A (zh) * 2014-12-30 2015-04-29 湖北优尼科光电技术股份有限公司 玻璃基板的缺陷检测方法
ES2965966T3 (es) * 2016-07-12 2024-04-17 Yoshino Gypsum Co Método de inspección, método de inspección y notificación, método de fabricación que incluye el método de inspección, aparato de inspección y aparato de fabricación
CN109636778B (zh) * 2018-11-22 2021-03-23 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板的缺陷检测方法以及显示面板的缺陷检测装置
US10798315B2 (en) * 2019-03-01 2020-10-06 Owens-Brockway Glass Container Inc. Removal of interference of absorbers from intensity data
US20210107821A1 (en) * 2019-10-15 2021-04-15 Emhart Glass S.A. Trough to thermally balance loaded gob temp
CN111062257A (zh) * 2019-11-21 2020-04-24 四川极智朗润科技有限公司 一种基于形态学和运动学特征的微小目标识别方法
CN111125968B (zh) * 2019-12-24 2023-04-14 辽宁工程技术大学 一种基于lda的新生采空区固相结构及流场回归方法
CN112317363B (zh) * 2020-10-15 2022-10-21 大数金科网络技术有限公司 一种工业产品智能检测系统及检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003008348A1 (fr) * 2001-07-19 2003-01-30 Kawaso Electric Industrial Co., Ltd. Procede de controle de la qualite de paraisons de verre et dispositif de controle de la qualite dans un procede de moulage d'articles en verre
JP2005227257A (ja) * 2004-01-16 2005-08-25 Nakagami Corporation:Kk 円筒型容器の外周面検査装置
JP3851395B2 (ja) * 1996-12-06 2006-11-29 ペンタックス株式会社 光学部材検査装置及び光学部材検査方法
WO2012035657A1 (ja) * 2010-09-17 2012-03-22 東洋ガラス株式会社 ガラス製品成形システム

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4205973A (en) * 1978-11-08 1980-06-03 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for measuring the volume and shape of a glass gob
JPS6352326A (ja) 1986-08-20 1988-03-05 Sanyo Electric Co Ltd 磁気記録媒体
US5434616A (en) * 1993-04-21 1995-07-18 Erin Technologies, Inc. Gob measuring apparatus
JPH0733445A (ja) 1993-07-27 1995-02-03 Nippon Electric Glass Co Ltd ゴブ重量の制御方法
JP3394800B2 (ja) 1993-10-06 2003-04-07 日本山村硝子株式会社 ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法
JP3241666B2 (ja) 1998-07-03 2001-12-25 東洋ガラス株式会社 ガラス容器の欠陥検査装置
JP3505655B2 (ja) 2001-06-18 2004-03-08 東洋ガラス株式会社 ガラス容器検査装置
JP2003262843A (ja) 2002-03-11 2003-09-19 Seiko Epson Corp 液晶パネル検査方法及び装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3851395B2 (ja) * 1996-12-06 2006-11-29 ペンタックス株式会社 光学部材検査装置及び光学部材検査方法
WO2003008348A1 (fr) * 2001-07-19 2003-01-30 Kawaso Electric Industrial Co., Ltd. Procede de controle de la qualite de paraisons de verre et dispositif de controle de la qualite dans un procede de moulage d'articles en verre
JP2005227257A (ja) * 2004-01-16 2005-08-25 Nakagami Corporation:Kk 円筒型容器の外周面検査装置
WO2012035657A1 (ja) * 2010-09-17 2012-03-22 東洋ガラス株式会社 ガラス製品成形システム

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