JP4700141B1 - ガラス製品のゴブ検査装置 - Google Patents

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Abstract

ゴブに混入した異物や泡を容易に検出できるようにする。
オリフィスから切り出されて落下しているゴブをラインスキャンカメラで撮像してゴブ画像Ａを作成し、ゴブ画像Ａをゴブ一般部が黒く、周囲光彩部及び欠点が白くなる境界値で二値化した画像Ｂを作成し、該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化し、白黒反転した画像Ｃを作成し、画像Ｂと画像Ｃを足し合わせた画像Ｄを作成し、画像Ｄの黒い領域の外周縁から任意画素数内側に入り込んだ領域を検査領域として設定し、ゴブ画像Ａの該検査領域を検査してゴブの良否判定を行うことで、前記課題を解決する。
【選択図】図１

Description

本発明は、ガラスびんなどのガラス製品を、成形機で大量に製造する際に、金型に装入するゴブの異物、泡及びゴブ形状の検査を行う検査装置に関する。
ガラスびんなどのガラス製品の、傷、泡、異物などの欠陥の検査は、徐冷炉で徐冷された後に（いわゆるコールドエンドで）可視光により行われている。このような装置は、一般に下記特許文献１〜３に示されるように、ガラス製品を回転させながら、製品に向かって投光器で光を照射し、その反射光又は透過光をカメラで捉え、その画像を処理して欠陥を発見するものである。
一方、ガラスびんなどのガラス製品を、成形機で大量に製造する際に、金型に装入するゴブの体積又は重量を測定する装置ないし方法が、下記特許文献４〜６に開示されている。
特許文献６には、さらに、ゴブ形状の３次元データを好適なゴブ形状のデータと比較し、ゴブの形状を適切なゴブ形状に近づけてガラス製品の品質を向上させることが記載されている。
特開２００３−４６４９号公報 特開２０００−１９１３０号公報 特開平７−１０３９１５号公報 特公昭６３−５２３２６号公報 特開平７−３３４４５号公報 ＷＯ２００３／８３４８号公報
成形されたガラス製品について行う従来の欠陥検査は、欠陥が発生した製品部分によって正確な検査が困難な場合がある。例えばガラスびんの場合、口部や底部などの複雑な形状を有する部分における泡、異物の欠陥を洩れなく発見するのは困難で、不良品が良品と判定され、検査をパスしてしまうことがあった。
本発明は、このような検査洩れを少なくし、若しくはなくすことを課題とし、そのために、容易にゴブに混入した異物や泡を検出できるようにすることを目的とする。
〔請求項１〕
本発明は、オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
該処理手段は、
前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
該ゴブ画像Ａをゴブ一般部が黒く、周囲光彩部及び欠点が白くなる境界値で二値化した画像Ｂを作成し、
該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化し、白黒反転した画像Ｃを作成し、
画像Ｂと画像Ｃを足し合わせた画像Ｄを作成し、
画像Ｄの黒い領域の外周縁から任意画素数内側に入り込んだ領域を検査領域として設定し、
前記ゴブ画像Ａの該検査領域の検査により、ゴブの良否判定を行うことを特徴とするゴブ検査装置である。
オリフィスから切り出されたゴブは、高温のため発光している。落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラで捉えることで、ゴブ全体をスキャンすることができる。
ラインスキャンカメラを設ける位置は、オリフィスから切り出されて自由落下しているゴブを捉えられる位置であればよく、特に制限されないが、なるべく水平方向にゴブを捉えることが望ましい。
ラインスキャンカメラは、主に可視光を捉える、市販されている一般的なものを使用できる。また、ゴブ自体が発光しているために、特に照明手段は必要としない。
ゴブ内の各部で発光した光は、ゴブの外周面で反射、屈折して複雑な光路を進むため、通常ゴブの周囲部分が他の一般部分よりも明るく見える周囲光彩部ができる。この周囲光彩部は、欠陥がなくとも明るく見えるので、この部分を除いて検査領域を設定する。
ゴブに泡や異物が混入した欠陥があると、通常その部分が他の部分よりも明るくなるので、例えば、ゴブ画像Ａの検査領域の中で明るさが急激に変化しているところを検出することで、ゴブの欠陥（泡、異物の混入）を検査することができる。良否判定方法は種々有り、必要に応じて適当な方法を選択できる。
処理手段は、市販のパーソナルコンピュータを使用できるが、市販のフレームグラバー及び画像処理ソフトウェアと組み合わせることが望ましい。
〔請求項２〕
また本発明は、前記検査領域の検査を、ゴブ画像Ａの検査領域内における所定の明るさ閾値を超える画素数の数が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項１に記載のゴブ検査装置である。
ゴブに泡や異物が混入した欠陥があると、通常その部分が他の部分よりも明るくなるので、ゴブの一般部分の明るさと、欠陥部分の明るさの間の適当な明るさを明るさ閾値とすることで、欠陥部分の画素数を検出できる。
画素数閾値は、許容できる欠陥の程度を考慮して定めればよい。
〔請求項３〕
また本発明は、オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
該処理手段は、
前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
該ゴブ画像をゴブ一般部が黒く、周囲光彩部及び欠点が白くなる境界値で二値化した画像Ｂを作成し、
該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化し、白黒反転した画像Ｃを作成し、
画像Ｂと画像Ｃを足し合わせた画像Ｄを作成し、
画像Ｄの黒い領域の外周縁から任意画素数内側に入り込んだ領域を検査領域として設定し、
画像Ｄの該検査領域内における白い部分に基づいて検査し、ゴブの良否を判定することを特徴とするゴブ検査装置である。
画像Ｄの検査領域内には、泡・異物の欠陥が白くなっているので、その白い部分を検出してゴブの欠陥検査を行うことができる。
〔請求項４〕
また本発明は、前記処理手段が、前記画像Ｄの検査領域内の白い部分の画素数の合計が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項３に記載のゴブ検査装置である。
これは、代表的な良否判定方法であるが、その他にも、白い部分が複数あるとき一つの白い部分の面積が所定の画素数を超えたときに不良ゴブと判定する方法などがある。良否判定方法は、必要に応じて適当な方法を選択できる。
〔請求項５〕
また本発明は、オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
該処理手段は、
前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
該ゴブ画像をゴブ一般部が黒く、周囲光彩部及び欠点が白くなる境界値で二値化した画像Ｂを作成し、
該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化し、白黒反転した画像Ｃを作成し、
前記画像Ｂの白領域の周囲を所定画素数の幅で浸食した画像Ｅを作成し、
該画像Ｅの白領域の周囲を所定画素数の幅で膨張させた画像Ｆを作成し、
該画像Ｆと前記画像Ｃを足し合わせた画像Ｇを作成し、
該画像Ｇの黒い領域内の白い部分に基づいて検査し、ゴブの良否を判定することを特徴とするゴブ検査装置である。
この検査装置は、検査領域を設定することなく、泡・異物の欠陥検査を行うことができる。検査領域を設定すると、周囲光彩部の近くにある欠陥が検査領域から外れてしまうことがあるが、この検査装置ではそのようなことを防ぐことができる。
画像Ｇの黒い領域内において、泡・異物の欠陥部分が白くなっているので、その白い部分を検出してゴブの欠陥検査を行うことができる。
〔請求項６〕
また本発明は、前記処理手段が、前記画像Ｇの黒い領域内の白い部分の画素数の合計が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項５に記載のゴブ検査装置である。
これは、代表的な良否判定方法であるが、その他にも、白い部分が複数あるとき一つの白い部分の面積が所定の画素数を超えたときに不良ゴブと判定する方法などがある。良否判定方法は、必要に応じて適当な方法を選択できる。
〔請求項７〕
また本発明は、オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
該処理手段は、
前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化した画像Ｈを作成し、
Ｈ画像の白領域の突起部を削り取った画像Ｉを作成し、
Ｈ画像からＩ画像を差し引いた画像Ｊを作成し、
前記画像Ｊの黒い領域内の白い部分の画素数の合計が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項３に記載のゴブ検査装置である。
この検査装置は、ゴブ周辺に飛び出した異物（飛び出し異物）を検出できるものである。前記の検査装置は、いずれも、飛び出し異物を周囲光彩部として排除してしまうため、検出することができない。
画像Ｊには、飛び出し異物部分が白くなっている。また、Ｈ画像の白領域の突起部を削り取った画像Ｉでは、飛び出し異物以外の部分もわずかに削り取っている可能性があるので、適当な画素数閾値を設けることで、飛び出し異物のみを検出することができる。
本発明の検査装置は、請求項１〜４検査装置の検査領域を検査する方法、請求項５又は６の検査装置の画像Ｇを検査する方法、請求項７の検査装置の画像Ｊを検査する方法の２以上又は全ての検査方法を併せ持たせることができる。併せ持たせた全ての方法で検査し、一つの検査方法でも不良と判定されたものは不良ゴブとなる。
〔請求項８〕
また本発明は、前記ラインスキャンカメラを複数有し、各ラインスキャンカメラによるゴブ画像を検査し、そのうちの一つでも不良ゴブと判定されたときにそのゴブを不良ゴブと判定する請求項１〜７の何れかに記載のゴブ検査装置である。
図３は上から見たゴブの模式図である。同図に示すように、ゴブ５の内部から出てくる光は、ゴブの外周面で屈折してカメラ４に達する。したがって、同図の斜線部分はカメラ４では見えない部分５８となっている。ゴブ全体を検査するには、１個のカメラでは不十分で、複数のカメラを異なるアングルで配置する必要がある。
本発明の検査装置で不良と判定されたゴブは、金型に供給される前にゴブ排除装置で排除し、又は製品に成形された後にホットエンド（徐冷炉に入る手前）でリジェクタによって排除することができる。
ゴブの形状は、製品の形状に比べて単純であるので、泡、異物などの混入を精度良く発見できる。
不良ゴブから成形された製品をホットエンドで排除することで、コールドエンドの検査で欠陥製品がパスしてしまう危険を大幅に減少できる。
ラインスキャンカメラを用い、データの解析も簡単なので、設備費用が安価であり、２秒程度の間隔で切り出される全てのゴブの検査にも十分に対応できる。
ゴブが切り出されてから金型内に供給されるまでの模式図である。 成形機で成形されたガラス製品が徐冷炉に入るまでの説明図である。 上から見たゴブにおけるカメラで見えない部分の説明図である。 検査領域を作成する説明図である。 ゴブ画像Ａから画像Ｆを作成するまでの説明図である。 画像Ｆから画像Ｇを作成するまでの説明図である。 ゴブ画像Ａから画像Ｊを作成するまでの説明図である。 糸引き部の欠陥を有するゴブの説明図である。 糸引き部の発生の説明図である。
以下、いわゆるＩＳ成形機でガラス製品（ガラスびん）を成形する過程におけるゴブの検査に適用した実施形態について説明する。
図１は、オリフィス２１からゴブ５が切り出されたところを示している。
溶融ガラス２５が満たされたスパウト２０には、回転するチューブ２３、上下動するプランジャ２４が装備され、プランジャ２４が下降して溶融ガラス２５がオリフィス２１から押し出されると、シャー２２が作動してこれを切断し、ゴブ５が切り離されて落下する。落下したゴブ５は、アッパーファンネル３０、ロワファンネル３２、スクープ３３、トラフ３４及びデフレクタ３５からなるゴブ分配手段を経て金型１１（粗型）内に供給される。トラフ３４、デフレクタ３５及び金型１１は成形機の複数あるセクションごとに設けられ、スクープ３３が向きを変えながらゴブを複数セクションの各金型に順次供給する。
同図において、符号２６はシャー２１を冷却するために水を噴霧するシャースプレー、符号２７はアッパーファンネル３０を冷却するために水を噴霧する冷却スプレーである。
ラインスキャンカメラ４は、アッパーファンネル３０から出てロワファンネル３２に入る間の落下するゴブ５を狙って複数台設けられる。ラインスキャンカメラが設置される環境は高温であるので、カメラはクーリングボックス（図示せず）内に収納するなどして冷却することが望ましい。ラインスキャンカメラ４からのデータは、フレームグラバーを経てパーソナルコンピュータに送られ、画像処理が行われ、ゴブに泡や異物が混入しているかどうか判定される。
ラインスキャンカメラ４は、移動体の表面を水平の線視野で捉え、一定ピッチ毎に走査を行いビデオ信号として出力する。今回使用したカメラは水平方向に２０４８画素有し、高分解能な画像取り込みができる。ゴブが画素列と直角方向に移動することによって、ゴブの全面を画像データとして取り込む。
処理手段は市販のコンピュータ（パーソナルコンピュータ）で、記憶手段（メモリ、ハードディスク）を内蔵し、表示手段４（モニタ）及び入力手段（キーボード、マウス）が接続されている。表示手段には、ゴブ画像やゴブ画像を加工した種々の画像など、所望の情報を表示できる。さらに、市販の画像処理ソフトウェアが組み込まれ、フレームグラバーが接続されている。
ＩＳ成形機１は、この場合第１セクションから第１０セクションの１０個のセクション（図２における丸数字はセクション番号を表す。）を有し、第１セクションがコンベア１２の最も下流側、第１０セクションが最も上流側になっている。（図２）
ＩＳ成形機１に附属している制御システムは、シャーカット信号、タイミング信号、リセット信号を有する。
シャーカット信号は、制御システムがシャー２２を動作させるときに発するパルス信号である。
タイミング信号は、ＩＳ成形機の動作速度に同期したパルス信号で、例えば、１周期の動作を完了する間（全てのセクションで１回成形を完了する間）に１８００パルスを出力する。
ゴブを切断するシャーカットのタイミング、成形機の全ての部分の動作やコンベア１２の搬送速度などはこのタイミング信号に同期している。
リセット信号は、ＩＳ成形機１が１周期の動作を完了するごとに１パルス出力されるものである。
処理手段は、ＩＳ成形機１の制御システムからシャーカット信号、タイミング信号及びリセット信号を受け取ることで、検査したゴブから成形されたガラス製品６がリジェクタ１３の正面まで搬送されてリジェクタ１３を動作させるタイミングを把握できる。
図２は、成形機１で成形されたガラス製品６（ガラスびん）が徐冷炉１６に入るまでの様子を示している。
本発明の検査装置で検査されたゴブは、ＩＳ成形機１の粗型に装入され、成形機内でパリソン成形及び仕上成形が行われ、成形されたガラス製品６はコンベア１２の上を徐冷炉１６に向かって搬送されて行き、プッシャー１５によって徐冷炉１６の中に送り込まれる。
リジェクタ１３は、ＩＳ成形機１と徐冷炉１６の間のコンベア１２の脇に設けられている。
処理手段は、不良と判定したゴブ５から成形されたガラス製品６が、リジェクタ１３の正面に搬送されてくるタイミングでリジェクタ１３を作動させ、そのガラス製品を廃棄部１４に向かって吹き飛ばし、コンベア１２上から排除する。
ラインスキャンカメラ４からのデータ（ラインデータ）は処理手段に送られ、解析される。処理手段は、先ず、ラインスキャンカメラ４からのデータを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成する。
〔検査領域の設定〕
制御手段は、図４に示されるように、ゴブ画像Ａから画像Ｂ、画像Ｃを作成し、画像Ｂと画像Ｃを足し合わせて画像Ｄを作成し、画像Ｄから検査領域を設定する。
図４，５のゴブ画像Ａにおいて、符号５１は周囲光彩部で、欠陥ではなく、ゴブ内部からの光がゴブ外周面で屈折、反射した結果明るく見える部分である。符号５２はいわゆる飛島で、欠陥ではなく、周辺光彩部５１の影響で、その近傍に明るく見える小さな部分であり、飛島５２はゴブの形状によって時々発生することがある。符号５３は周辺光彩部５１の近くにある泡・異物などの欠陥で明るく見える。符号５４は周辺光彩部５１から離れた位置にある泡・異物などの欠陥で明るく見える。符号５５はシャースプレー２６、冷却スプレー２７から噴霧された小さな水滴がカメラ４でゴブと重なって写されたもので、暗く見える。
画像Ｂは、ゴブ画像Ａを二値化した画像である。二値化の境界値は、周囲光彩部５１、飛島５２及び欠陥５３，５４の明るさと、ゴブの一般部の明るさの間の適当な明るさを選択する。画像Ｂにおいて、周囲光彩部５１、飛島５２、及び欠陥５３，５４は白く、その他の部分は黒くなっている。
画像Ｃは、ゴブ画像Ａを二値化し、白黒反転した画像である。この場合の二値化の境界値は、ゴブ全体が白くなるように、背景の明るさよりも明るい適当な明るさを選択する。画像Ｃにおいて、ゴブ全体が黒く、背景は白くなっている。
画像Ｄは、画像Ｂと画像Ｃを加算したものである。画像の加算において、黒＋黒＝黒、黒＋白＝白、白＋白＝白である。画像Ｄにおいて、黒い領域の外周形状は、ゴブの外周形状から周囲光彩部５１を除いた形状となっている。その黒い領域の中に、飛島５２及び欠陥５３，５４が白くなって存在している。
図４のＤ画像に破線で示すように、画像Ｄの黒い領域の外周縁から任意画素数内側に入り込んだ領域を検査領域５６として設定する。この画素数は、周囲光彩部５１と飛島５２の間の画素数よりもやや大きな画素数にする。この画素数は５〜２０程度で、ほとんどの場合１０程度が望ましい。これにより、画像Ｄの左上に示されるように、飛島５２（欠陥ではない）が検査領域５６から外れ、飛島５２が欠陥と判定されることが防止される。ただし、画像Ｄの右上に示されるように、周囲光彩部５１の近くに欠陥５３があると、これも検査領域５６から外れてしまう。したがって、このような欠陥５３は後述する方法によって検査される。
〔検査領域内の検査〕
検査領域内の検査には、種々の方法がある。
例えば、ゴブ画像Ａから検査領域を抽出し、そのデータの中で明るさが急に変化している（隣り合う画素の明るさの差が所定の明るさ閾値より大きい）個所の個数が所定の個数閾値より大きい場合、そのゴブを不良ゴブと判定することができる。
また、ゴブ画像Ａから検査領域を抽出し、そのデータの中で明るさが所定の明るさ閾値を越える画素の数を検出し、その画素数が所定の画素数閾値を超える場合に、そのゴブを不良ゴブと判定することができる。
また、画像Ｄの検査領域５６において、白い部分の合計の画素数が所定の画素数閾値を超える場合に、そのゴブを不良ゴブと判定することができる。
また、画像Ｄの検査領域５６において、白い部分が複数あるとき、そのうちの一つの白い部分の画素数が所定の画素数閾値を超える場合に、そのゴブを不良ゴブと判定することができる。
〔検査領域を設定しない検査〕
制御手段は、図５に示されるように、ゴブ画像Ａを二値化して画像Ｂを作成し、画像Ｂから画像Ｅを作成し、画像Ｅから画像Ｆを作成する。さらに、図６に示されるように、画像Ｆとゴブ画像Ａを二値化して白黒反転した画像Ｃを足し合わせて画像Ｇを作成し、画像Ｇに基づいてゴブの検査を行う。
ゴブ画像Ａを二値化した画像Ｂ、及び二値化して白黒反転した画像Ｃは、前記の実施形態で説明したとおりのものである。画像Ｅは、画像Ｂの各白領域の周囲を所定画素数（例えば２０画素）の厚さで浸食したものである。このような浸食は、パーソナルコンピュータに組み込まれた一般の画像処理ソフトウェアに通常備わっている機能である。画像Ｅでは、浸食によって飛島５２が消滅し、周囲光彩部５１と欠陥５３，５４は小さくなっている。飛島の大きさは欠陥に比べて小さいため、この操作によって消滅するのである。画像Ｆは、画像Ｅの白領域の周囲を所定画素数（例えば２０画素）の厚さで膨張させたものである。このような膨張も、パーソナルコンピュータに組み込まれた一般の画像処理ソフトウェアに通常備わっている機能である。画像Ｆを画像Ｂと比較すると、画像Ｆは飛島５２が消滅しているが、周囲光彩部５１及び欠陥５３，５４はほぼ同じ形状、大きさである。飛島（欠陥ではない）が消滅することにより、飛島を欠陥と誤判定することが防止される。
画像Ｇは、画像Ｃと画像Ｆを加算したものである。画像Ｇの黒い領域の中には、欠陥５３，５４のみが残り、周囲光彩部５１及び飛島５２は消滅している。したがって、画像Ｇの黒い領域の中の白い部分を検査することでゴブを良否判定することができる。
画像Ｇの黒い領域内の検査には種々の方法がある。
例えば、画像Ｇの黒い領域内において、白い部分の合計の画素数が所定の画素数閾値を超える場合に、そのゴブを不良ゴブと判定することができる。
また、画像Ｇの黒い領域内において、白い部分が複数あるとき、そのうちの一つの白い部分の画素数が所定の画素数閾値を超える場合に、そのゴブを不良ゴブと判定することができる。
〔飛び出し異物の検査〕
制御手段は、図７に示されるように、ゴブ画像Ａを二値化して画像Ｈを作成し、画像Ｈから画像Ｉを作成し、画像Ｈから画像Ｉを差し引いて画像Ｊを作成し、画像Ｊの黒い領域内の白い部分の画素数の合計が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する。
画像Ｈは、ゴブ画像Ａを二値化したものであるが、この場合の二値化の境界値は、ゴブ全体が白くなるように、背景の明るさよりも明るい適当な明るさを選択する。画像Ｈにおいて、ゴブ全体が白く、背景は黒くなっている。画像Ｉは、Ｈ画像の白領域の突起部（飛び出し突起５７）を削り取ったものである。このような削り取りは、パーソナルコンピュータに組み込まれた一般の画像処理ソフトウェアに通常備わっている機能である。
画像Ｊは画像Ｈから画像Ｆを減算したものである。画像の減算において、黒−黒＝黒、黒−白＝黒、白−黒＝白、白−白＝黒である。
画像Ｊには飛び出し突起５７のみが白くなっている。Ｈ画像の白領域の突起部を削り取った画像Ｉでは、飛び出し異物以外の部分もわずかに削り取っている可能性がある。その場合、画像Ｊに、飛び出し異物以外の白い部分（欠陥ではない）が僅かに生じるが、画素数閾値（例えば５画素）を適当に選択することで、飛び出し異物以外の白い部分を欠陥と判定することを防ぐことができる。
この飛び出し異物を検出する装置は、いわゆる「糸引き」というゴブの欠陥も検出することができる。図８に糸引き部５９の欠陥を有するゴブを示す。糸引き部は、糸状に細長く伸びて飛び出した欠陥で、成形後のガラス製品表面に糸引き部のガラスがすじ状に付着して明らかな外観欠点となる。糸引き部５９は、図９に示すように、シャー２２で溶融ガラス２５を切断する部分に固い異物７があるときに発生する。固い異物のためシャーの切れが悪くなり、その後シャーで切断したゴブは不良ゴブとなる可能性がある。
画像Ｊで不良ゴブと判定したとき、処理手段は警報（ブザー、点滅灯など）を作動させるようにすることができる。警報が作動すると、オペレータは直ちにシャーの刃の状態を確認し、必要ならシャーを交換する。それにより、一連の不良品の発生を未然に防ぐことが可能となる。
処理手段は、画像処理したゴブを、泡や異物が混入している不良ゴブと判定した場合、ゴブ排除装置３１（図１）を作動してそのゴブを排除することができる。
又は、不良ゴブは排除せず、不良ゴブから成形されたガラス製品を、成形機から徐冷炉までの間のコンベア上を搬送されているときにリジェクタにより排除することができる。これは、ゴブ自体を排除すると製品を成形しない（１回パスの）金型が生じ、この金型が冷えてしまい、次に成形する製品に微小クラックやしわなどの欠陥が生じる可能性があるからである。製品の排除を成形機から徐冷炉までの間で行うのは、処理手段に成形機のタイミング信号などを送ることで、処理手段が、検査したゴブで成形した製品がリジェクタの正面に到達して排除するタイミングを個別に把握でき、正確に不良ゴブから成形された製品を排除できるからである。リジェクタは、コンベア上のガラス製品をエアで吹き飛ばすタイプのもの、押し出すタイプのものなど、周知のものを使用できる。
１ 成形機
１１ 金型
１２ コンベア
１３ リジェクタ
１４ 廃棄部
１５ プッシャー
１６ 徐冷炉
２０ スパウト
２１ オリフィス
２２ シャー
２３ チューブ
２４ プランジャ
２５ 溶融ガラス
２６ シャースプレー
２７ 冷却スプレー
３０ アッパーファンネル
３１ ゴブ排除装置
３２ ロワファンネル
３３ スクープ
３４ トラフ
３５ デフレクタ
４ カメラ
５ ゴブ
５１ 周囲光彩部
５２ 飛島
５３ 欠陥
５４ 欠陥
５５ 水滴
５６ 検査領域
５７ 飛び出し突起
５８ 見えない部分
５９ 糸引き部
６ ガラス製品
７ 異物
Ａ ゴブ画像
Ｂ 画像Ｂ
Ｃ 画像Ｃ
Ｄ 画像Ｄ
Ｅ 画像Ｅ
Ｆ 画像Ｆ
Ｇ 画像Ｇ
Ｈ 画像Ｈ
Ｉ 画像Ｉ
Ｊ 画像Ｊ

Claims (8)

  1. オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
    該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
    該処理手段は、
    前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
    該ゴブ画像Ａをゴブ一般部が黒く、周囲光彩部及び欠点が白くなる境界値で二値化した画像Ｂを作成し、
    該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化し、白黒反転した画像Ｃを作成し、
    画像Ｂと画像Ｃを足し合わせた画像Ｄを作成し、
    画像Ｄの黒い領域の外周縁から任意画素数内側に入り込んだ領域を検査領域として設定し、
    前記ゴブ画像Ａの該検査領域の検査により、ゴブの良否判定を行うことを特徴とするゴブ検査装置。
  2. 前記検査領域の検査を、ゴブ画像Ａの検査領域内における所定の明るさ閾値を超える画素数の数が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項１に記載のゴブ検査装置。
  3. オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
    該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
    該処理手段は、
    前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
    該ゴブ画像をゴブ一般部が黒く、周囲光彩部及び欠点が白くなる境界値で二値化した画像Ｂを作成し、
    該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化し、白黒反転した画像Ｃを作成し、
    画像Ｂと画像Ｃを足し合わせた画像Ｄを作成し、
    画像Ｄの黒い領域の外周縁から任意画素数内側に入り込んだ領域を検査領域として設定し、
    画像Ｄの該検査領域内における白い部分に基づいて検査し、ゴブの良否を判定することを特徴とするゴブ検査装置。
  4. 前記処理手段が、前記画像Ｄの検査領域内の白い部分の画素数の合計が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項３に記載のゴブ検査装置。
  5. オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
    該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
    該処理手段は、
    前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
    該ゴブ画像をゴブ一般部が黒く、周囲光彩部及び欠点が白くなる境界値で二値化した画像Ｂを作成し、
    該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化し、白黒反転した画像Ｃを作成し、
    前記画像Ｂの白領域の周囲を所定画素数の幅で浸食した画像Ｅを作成し、
    該画像Ｅの白領域の周囲を所定画素数の幅で膨張させた画像Ｆを作成し、
    該画像Ｆと前記画像Ｃを足し合わせた画像Ｇを作成し、
    該画像Ｇの黒い領域内の白い部分に基づいて検査し、ゴブの良否を判定することを特徴とするゴブ検査装置。
  6. 前記処理手段が、前記画像Ｇの黒い領域内の白い部分の画素数の合計が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項５に記載のゴブ検査装置。
  7. オリフィスから切り出されて落下しているゴブを水平方向にスキャンするラインスキャンカメラと、
    該ラインスキャンカメラからのデータを処理する処理手段を有し、
    該処理手段は、
    前記データの各ラインを垂直方向に連続させることでゴブ画像Ａを作成し、
    該ゴブ画像Ａをゴブ全体が白く、背景が黒くなる境界値で二値化した画像Ｈを作成し、
    Ｈ画像の白領域の突起部を削り取った画像Ｉを作成し、
    Ｈ画像からＩ画像を差し引いた画像Ｊを作成し、
    前記画像Ｊの黒い領域内の白い部分の画素数の合計が所定の画素数閾値を超えたときに不良ゴブと判定する請求項３に記載のゴブ検査装置。
  8. 前記ラインスキャンカメラを複数有し、各ラインスキャンカメラによるゴブ画像を検査し、そのうちの一つでも不良ゴブと判定されたときにそのゴブを不良ゴブと判定する請求項１〜７の何れかに記載のゴブ検査装置。
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