KR101396604B1 - Apparatus for Testing Liquid Crystal Display Device - Google Patents

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KR101396604B1 KR1020060117894A KR20060117894A KR101396604B1 KR 101396604 B1 KR101396604 B1 KR 101396604B1 KR 1020060117894 A KR1020060117894 A KR 1020060117894A KR 20060117894 A KR20060117894 A KR 20060117894A KR 101396604 B1 KR101396604 B1 KR 101396604B1
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Abstract

본 발명은 인쇄회로기판에 착탈 가능하게 결합되고 가변 저항용 단자를 구비하는 지그를 구비하여 인쇄회로기판으로부터 액정표시패널로 공급되는 공통전압을 미세하게 조정하도록 한 액정표시장치용 검사장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an inspection apparatus for a liquid crystal display apparatus, which is detachably coupled to a printed circuit board and includes a jig having a variable resistance terminal to finely adjust a common voltage supplied from a printed circuit board to a liquid crystal display panel .

본 발명에 따른 액정표시장치용 검사장치는, 제1 연결 단자를 구비하여 상기 액정표시패널에 공통전압을 공급하는 인쇄회로기판; 및 상기 인쇄회로기판과 착탈 가능하게 결합되며, 상기 제1 연결 단자와 접속되는 제2 연결 단자를 구비하여 상기 제2 연결 단자의 가변되는 저항값을 통해 상기 인쇄회로기판의 공통전압을 조절하는 어댑터를 구비한다.An inspection apparatus for a liquid crystal display according to the present invention includes: a printed circuit board having a first connection terminal to supply a common voltage to the liquid crystal display panel; And an adapter that is detachably coupled to the printed circuit board and includes a second connection terminal connected to the first connection terminal to adjust a common voltage of the printed circuit board through a variable resistance value of the second connection terminal, Respectively.

Description

액정표시장치용 검사장치{Apparatus for Testing Liquid Crystal Display Device}[0001] Apparatus for Testing Liquid Crystal Display Device [

도 1은 전기적 검사공정에 사용되는 검사장치용 인쇄회로기판을 보여주는 도면.1 is a view showing a printed circuit board for an inspection apparatus used in an electrical inspection process.

도 2는 검사장치용 인쇄회로기판에 집적된 공통전압 발생부의 일부를 보여주는 도면.2 is a view showing a part of a common voltage generating unit integrated on a printed circuit board for an inspection apparatus;

도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치용 검사장치에 의해 검사되는 액정표시패널을 제조공정을 순차적으로 나타내는 도면.3 is a view sequentially showing a manufacturing process of a liquid crystal display panel inspected by an inspection apparatus for a liquid crystal display according to the present invention.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 검사장치를 나타내는 도면.4 is a view showing an inspection apparatus for a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention.

도 5는 도 4의 공통전압 조정장치에 구비된 인쇄회로기판을 보여주는 도면.5 is a view showing a printed circuit board included in the common voltage regulating device of FIG.

도 6은 도 4의 공통전압 조정장치에 구비된 어댑터를 보여주는 도면.FIG. 6 is a view showing an adapter included in the common voltage regulating device of FIG. 4; FIG.

도 7은 인쇄회로기판과 어댑터의 결합 사시도.7 is a perspective view of the printed circuit board and the adapter shown in Fig.

도 8은 도 7을 A - A'에 따라 절췌하여 도시한 단면도.FIG. 8 is a cross-sectional view of FIG. 7 taken along line A-A '; FIG.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >       Description of the Related Art

100: 액정표시패널 120: 공통전압 조정장치100: liquid crystal display panel 120: common voltage regulator

122: 인쇄회로기판 122-1,122-2: 제1 및 제2 연결단자122: printed circuit boards 122-1 and 122-2: first and second connection terminals

124: 어댑터 124-1,124-2: 제3 및 제4 연결단자124: Adapters 124-1 and 124-2: Third and fourth connection terminals

124-3: 비아 홀 140: 테스트 지그 124-3: via hole 140: test jig

160: 니들 블럭160: Needle block

본 발명은 액정표시장치용 검사장치에 관한 것으로, 특히 인쇄회로기판에 착탈 가능하게 결합되고 가변 저항용 단자를 구비하는 지그를 구비하여 인쇄회로기판으로부터 액정표시패널로 공급되는 공통전압을 미세하게 조정하도록 한 액정표시장치용 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus for a liquid crystal display, and more particularly to an inspection apparatus for a liquid crystal display apparatus, which comprises a jig having a terminal for a variable resistor and detachably connected to a printed circuit board to finely adjust a common voltage supplied from the printed circuit board to the liquid crystal display panel And to an inspection apparatus for a liquid crystal display apparatus.

최근의 정보화 사회에서 표시소자는 시각정보 전달매체로서 그 중요성이 어느 때보다 강조되고 있다. 현재 주류를 이루고 있는 음극선관(Cathode Ray Tube) 또는 브라운관은 무게와 부피가 큰 문제점이 있다. 이러한 음극선관의 한계를 극복할 수 있는 많은 종류의 평판표시소자(Flat Panel Display)가 개발되고 있다. In recent information society, the importance of display devices as visual information delivery media is emphasized more than ever. Cathode Ray Tube (CRT) or cathode ray tube, which is currently mainstream, has a problem in weight and volume. Many types of flat panel displays capable of overcoming the limitations of the cathode ray tube have been developed.

평판표시소자에는 액정표시장치(Liquid Crystal Display : LCD), 전계 방출 표시소자(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : PDP) 및 일렉트로루미네센스(Electroluminescence : EL) 등이 있고 이들 대부분이 실용화되어 시판되고 있다.The flat panel display device includes a liquid crystal display (LCD), a field emission display (FED), a plasma display panel (PDP), and an electroluminescence (EL) Most of these are commercialized and commercially available.

액정표시장치는 전자제품의 경박단소 추세를 만족할 수 있고 양산성이 향상되고 있어 많은 응용분야에서 음극선관을 빠른 속도로 대체하고 있다. Liquid crystal display devices can meet the trend of light and small size of electronic products and have improved mass productivity and are rapidly replacing cathode ray tubes in many applications.

액정표시장치는 매트릭스 형태로 배열된 화소들에 화상정보에 따른 데이터신호를 개별적으로 공급하여 그 화소들의 광투과율을 조절함으로써 원하는 화상을 표시할 수 있도록 한 표시장치이다. A liquid crystal display (LCD) is a display device capable of displaying a desired image by individually supplying data signals according to image information to pixels arranged in a matrix form and controlling light transmittance of the pixels.

액정표시장치는 액정표시패널의 각 화소에 화상 데이터 신호를 인가하기 위하여, 박막트랜지스터 기판 상의 데이터라인들로 비디오 데이터를 공급하기 위한 데이터 구동부와 게이터라인에 순차적으로 게이트 온 전압을 인가하기 위한 게이트 구동부, 그리고 게이트 구동부와 데이터 구동부를 구동시키는 전압을 발생시키고 처리된 영상신호를 제공하는 인쇄회로기판을 갖는다.The liquid crystal display device includes a data driver for supplying video data to the data lines on the thin film transistor substrate, and a gate driver for sequentially applying a gate-on voltage to the gate line in order to apply an image data signal to each pixel of the liquid crystal display panel. And a printed circuit board for generating a voltage for driving the gate driver and the data driver and providing a processed video signal.

액정표시패널은 일정한 셀 갭이 유지되도록 합착된 컬러필터 기판 및 박막트랜지스터 기판과, 양 기판의 셀 갭에 주입된 액정층으로 구성된다.The liquid crystal display panel comprises a color filter substrate and a thin film transistor substrate bonded together to maintain a constant cell gap, and a liquid crystal layer injected into the cell gap of both substrates.

구동부는 게이트 구동부 및 데이터 구동부를 포함한다. 게이트 구동부는 액정표시패널의 게이트라인들을 구동시키며, 데이터 구동부는 액정표시패널의 데이터라인들을 구동시킨다. 이 구동부는 인쇄회로기판상에 집적회로 형태로 집적되어 있다.The driving unit includes a gate driving unit and a data driving unit. The gate driving unit drives the gate lines of the liquid crystal display panel, and the data driving unit drives the data lines of the liquid crystal display panel. The driver is integrated on the printed circuit board in the form of an integrated circuit.

인쇄회로기판은 화상데이터에 대응하여 화소에 인가되는 데이터 전압을 형성하는 감마전압과 공통전극에 인가되는 기준전압인 공통전압을 발생시키기 위한 전압발생부를 포함한다. The printed circuit board includes a voltage generating unit for generating a gamma voltage for forming a data voltage to be applied to the pixel corresponding to the image data and a common voltage which is a reference voltage to be applied to the common electrode.

액정표시패널은 각 기판의 제조 공정이 끝난 후 양품 및 불량을 판정하기 위 하여 전기적 검사를 통해 진행되는 검사공정을 거친다. After the manufacturing process of each substrate, the liquid crystal display panel undergoes an inspection process through electrical inspection to determine good products and defects.

도 1 전기적 검사공정에 사용되는 검사장치용 인쇄회로기판을 보여주며, 도 2는 검사장치용 인쇄회로기판에 집적된 공통전압 발생부의 일부를 보여준다.1 shows a printed circuit board for an inspection apparatus used in an electrical inspection process, and Fig. 2 shows a part of a common voltage generator integrated on a printed circuit board for an inspection apparatus.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래 검사장치용 인쇄회로기판(10)상에는 저항 연결단자(30)가 실장되고, 이 연결단자(30)를 통해 고정저항(20)이 접속되어 있다. 고정저항(20)은 도 2에 도시된 바와 같이 인쇄회로기판에 집적되어 있는 공통전압 발생부의 오피 앰프(40)에 구비된 비반전 단자(+)로 기준전압(Vref)이 공급되게 한다. 테스트 공통전압은 고정저항(20)에 의해 결정되는 비반전 단자(+)의 기준전압(Vref)과 반전단자(-)의 입력전압(Vi)이 오피 앰프(40)를 통해 반전 증폭됨으로써 발생된 후 액정표시패널로 인가되게 된다. 통상 액정표시패널은 데이터전압과 공통전압의 전위차로 충전되며, 이 전위차로 형성되는 전계에 의해 액정분자들의 배열이 바뀌면서 투과되는 빛의 광량을 조절하거나 빛을 차단하게 된다. 따라서, 액정표시패널의 검사 공정에서 특이한 불량(휘점불량, 크로스토크 불량 등)이 발생했을 때, 테스트 공통전압을 가변을 통해 최적의 공통전압을 찾을 필요가 있다. 1, a resistor connection terminal 30 is mounted on a printed circuit board 10 for a conventional inspection apparatus, and a fixed resistor 20 is connected through the connection terminal 30. The fixed resistor 20 allows the reference voltage Vref to be supplied to the non-inverting terminal (+) provided in the operational amplifier 40 of the common voltage generator integrated on the printed circuit board as shown in FIG. The test common voltage is generated by inverting and amplifying the reference voltage Vref of the non-inverting terminal (+) determined by the fixed resistor 20 and the input voltage Vi of the inverting terminal (-) through the operational amplifier 40 And then applied to the liquid crystal display panel. In general, a liquid crystal display panel is charged with a potential difference between a data voltage and a common voltage, and the arrangement of liquid crystal molecules is changed by an electric field formed by this potential difference, thereby controlling the amount of light transmitted or blocking light. Therefore, when a peculiar defect (defective lattice defect, crosstalk defect, or the like) occurs in the inspection process of the liquid crystal display panel, it is necessary to find an optimum common voltage by varying the test common voltage.

종래 검사장치용 인쇄회로기판상에 실장된 고정저항으로는 테스트 공통전압을 가변시킬 수 없다. 테스트 공통전압의 가변을 위해서는 부득이하게 인쇄회로기판상에 실장된 고정저항을 가변저항으로 대체하여야 한다. 이를 위해서는 인쇄회로기판의 개조가 선행되어야 하며 특히, 적용하려는 모델, 검사장치의 대수에 맞게 일일이 인쇄회로기판을 개조해야되는 불편을 초래한다. The test common voltage can not be varied with the fixed resistor mounted on the printed circuit board for the conventional inspection apparatus. In order to change the test common voltage, a fixed resistor mounted on a printed circuit board must be replaced by a variable resistor inevitably. In order to do this, the printed circuit board must be remodeled. In particular, the printed circuit board must be remodeled in accordance with the number of models and inspection apparatuses to be applied.

따라서, 본 발명의 목적은 인쇄회로기판에 착탈 가능하게 결합되고 가변 저항용 단자를 포함하는 어댑터를 구비하여 인쇄회로기판으로부터 액정표시패널로 공급되는 공통전압을 미세하게 조정할 수 있도록 한 액정표시장치용 검사장치를 제공하는 데 있다. It is therefore an object of the present invention to provide a liquid crystal display device capable of finely adjusting a common voltage supplied from a printed circuit board to a liquid crystal display panel by having an adapter detachably coupled to a printed circuit board and including a variable resistance terminal And an inspection apparatus.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 검사장치는, 제1 연결 단자를 구비하여 상기 액정표시패널에 공통전압을 공급하는 인쇄회로기판; 및 상기 인쇄회로기판과 착탈 가능하게 결합되며, 상기 제1 연결 단자와 접속되는 제2 연결 단자를 구비하여 상기 제2 연결 단자의 가변되는 저항값을 통해 상기 인쇄회로기판의 공통전압을 조절하는 어댑터를 구비한다.In order to achieve the above object, an inspection apparatus for a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention includes: a printed circuit board having a first connection terminal to supply a common voltage to the liquid crystal display panel; And an adapter that is detachably coupled to the printed circuit board and includes a second connection terminal connected to the first connection terminal to adjust a common voltage of the printed circuit board through a variable resistance value of the second connection terminal, Respectively.

상기 제1 연결단자와 상기 제2 연결단자는 비아 홀을 통해 접속된다.The first connection terminal and the second connection terminal are connected through a via hole.

상기 비아 홀은 도전성 금속으로 형성된다.The via hole is formed of a conductive metal.

상기 도전성 금속은 구리인 것을 특징으로 한다.And the conductive metal is copper.

상기 제2 연결단자는 가변 저항과 접속된다.The second connection terminal is connected to a variable resistor.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시 예의 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and features of the present invention will become apparent from the following description of embodiments with reference to the accompanying drawings.

이하, 도 3 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 8. FIG.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치용 검사장치에 의해 검사되는 액정표시패널의 제조공정을 순차적으로 나타내는 도면이다. 3 is a view sequentially showing a manufacturing process of a liquid crystal display panel inspected by an inspection apparatus for a liquid crystal display according to the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 액정표시패널은 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막형성/러빙 공정, 기판합착/액정주입 공정, 검사 공정, 리페어(Repair) 공정을 거쳐 완성된다. As shown in FIG. 3, the liquid crystal display panel is completed through a substrate cleaning, a substrate patterning process, an orientation film formation / rubbing process, a substrate bonding / liquid crystal injection process, an inspection process, and a repair process.

기판세정 공정에서는 액정표시소자의 기판 표면에 오염된 이물질을 세정액으로 제거한다. In the substrate cleaning process, contaminants which are contaminated on the substrate surface of the liquid crystal display element are removed by a cleaning liquid.

기판 패터닝 공정은 컬러필터 기판의 패터닝 공정과 TFT 어레이 기판의 패터닝 공정으로 나뉘어 실시된다.The substrate patterning process is divided into a patterning process of the color filter substrate and a patterning process of the TFT array substrate.

배향막형성/러빙 공정에서는 컬러필터 기판과 TFT 어레이 기판 각각에 배향막을 도포하고 그 배향막을 러빙포 등으로 러빙한다. In the alignment film forming / rubbing process, an alignment film is applied to each of the color filter substrate and the TFT array substrate, and the alignment film is rubbed with a rubbing cloth or the like.

기판합착/액정주입 공정에서는 실재(Sealant)를 이용하여 컬러필터 기판과 TFT 어레이기판을 합착하고 액정주입구를 통하여 액정과 스페이서를 주입한 다음, 그 액정주입구를 봉지한다. In the substrate bonding / liquid crystal injection process, the color filter substrate and the TFT array substrate are bonded using a sealant, the liquid crystal and the spacer are injected through the liquid crystal injection hole, and then the liquid crystal injection hole is sealed.

검사 공정은 TFT 어레이 기판에 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선과 화소전극이 형성된 후에 실시되는 전기적 검사와 기판합착/액정주입 공정 후에 실시되는 전기적검사 및 육안검사를 포함한다. 기판합착/액정주입 공정 후에 실시되는 전기적검사에는 액정표시패널의 양품 및 불량을 판정하기 위하여 액정표시패널로 테스트 신호를 인가하는 검사장치가 이용된다. 이러한 검사장치에 대해서는 도4 내지 도 8의 설명을 통해 상술하기로 한다. The inspection process includes an electrical inspection performed after the signal lines and pixel electrodes such as the data lines and the gate lines are formed on the TFT array substrate, and the electrical inspection and the visual inspection performed after the substrate adhesion / liquid crystal injection process. In the electrical inspection performed after the substrate bonding / liquid crystal injection process, an inspection device for applying a test signal to the liquid crystal display panel is used to determine good products and defects of the liquid crystal display panel. Such an inspection apparatus will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 8. FIG.

리페어 공정은 검사 공정에 의해 리페어가 가능한 것으로 판정된 기판에 대한 복원을 실시한다. 한편, 검사 공정에서 리페어가 불가능한 기판들은 폐기처분된다. The repair process performs restoration on the substrate determined to be repairable by the inspection process. On the other hand, substrates that can not be repaired in the inspection process are discarded.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 검사장치를 나타낸다.4 shows an inspection apparatus for a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 검사장치는 테스트 지그(140)와 공통전압 조정장치(120)를 구비한다.Referring to FIG. 4, an inspection apparatus for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a test jig 140 and a common voltage regulator 120.

테스트 지그(140)는 피 검사체인 액정표시패널(100)에 공급되는 테스트 신호를 발생하기 위한 소스 구동회로(미도시) 및 게이트 구동회로(미도시)를 포함한다. 이 테스트 지그(140)에는 각 구동회로로부터의 테스트 신호를 액정표시패널(100)로 전달하기 위한 니들 블럭(Needle Block: 160)이 구비되어 있다.The test jig 140 includes a source driving circuit (not shown) and a gate driving circuit (not shown) for generating a test signal to be supplied to the liquid crystal display panel 100 as a subject to be inspected. The test jig 140 is provided with a needle block 160 for transmitting a test signal from each driving circuit to the liquid crystal display panel 100.

소스 구동회로 및 게이트 구동회로는 집적회로 형태로 테스트 지그에 실장된다.The source driver circuit and the gate driver circuit are mounted on the test jig in the form of an integrated circuit.

니들 블럭(160)은 각 구동회로로부터의 테스트 신호를 액정표시패널(100)로 전달한다. 이를 위해, 니들 블럭(160)은 테스트 신호를 전달하기 위해 다수의 탐침(Probe Needle)들을 구비한다. 이 탐침은 액정표시패널(100)에 형성된 게이트 패드 및 데이터 패드에 접속되어 테스트 신호가 액정표시패널(100)로 공급되게 한다.The needle block 160 transmits a test signal from each driving circuit to the liquid crystal display panel 100. To this end, the needle block 160 includes a plurality of probe needles for transmitting test signals. The probe is connected to a gate pad and a data pad formed on the liquid crystal display panel 100 so that a test signal is supplied to the liquid crystal display panel 100.

공통전압 조정장치(120)는 인쇄회로기판과 어댑터를 구비한다. The common voltage regulating device 120 includes a printed circuit board and an adapter.

인쇄회로기판에는 타이밍 콘트롤러와 공통전압 발생회로가 집적회로 형태로 실장되어 있다. 타이밍 콘트롤러는 제어신호들을 발생하여 테스트 지그(140)에 구 비된 구동회로들의 구동 타이밍을 제어한다. 공통전압 발생회로는 액정표시패널(100)에 공급될 공통전압을 발생한다.A timing controller and a common voltage generating circuit are mounted on the printed circuit board in the form of an integrated circuit. The timing controller generates control signals to control the driving timings of the driving circuits connected to the test jig 140. The common voltage generating circuit generates a common voltage to be supplied to the liquid crystal display panel 100.

어댑터는 가변저항과 접속되는 연결단자를 구비하고, 이 연결단자를 통해 공통전압 발생회로에 의해 발생된 공통전압을 가변한다. The adapter includes a connection terminal connected to the variable resistor, and the common voltage generated by the common voltage generation circuit is varied through the connection terminal.

도 5 및 도 6은 각각 도 4의 공통전압 조정장치에 구비된 인쇄회로기판 및 어댑터를 보여준다.5 and 6 show a printed circuit board and an adapter provided in the common voltage regulating device of FIG.

인쇄회로기판(122)에는 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2 연결단자(122-1, 122-2)가 구비되어 있다. 이 제1 및 제2 연결단자(122-1, 122-2)는 어댑터로부터 공급되는 가변된 저항값을 공통전압 발생회로로 공급하는 역할을 한다. 이 가변저항값에 의해 도 2에서 설명한 오피 앰프의 비반전 단자로 입력되는 기준전압이 바뀌게 되어 결과적으로 공통전압이 조절되게 된다.The printed circuit board 122 is provided with first and second connection terminals 122-1 and 122-2 as shown in FIG. The first and second connection terminals 122-1 and 122-2 serve to supply a variable resistance value supplied from the adapter to the common voltage generation circuit. By this variable resistance value, the reference voltage inputted to the non-inverting terminal of the operational amplifier explained in FIG. 2 is changed, and as a result, the common voltage is adjusted.

어댑터(124)는 도 6에 도시된 바와 같이, 몸체와 제3 및 제4 연결단자(124-1,124-2)를 구비한다. 몸체는 인쇄회로기판(122)과 착탈 가능하게 결합된다. 몸체가 인쇄회로기판(122)과 결합 되면, 제3 및 제4 연결단자(124-1,124-2)는 비아 홀을 통해 인쇄회로기판(122)의 제1 및 제2 연결단자(122-1, 122-2)와 접속된다. 이를 위해 몸체의 일측면에는 비아 홀이 형성된다. 어댑터(124)의 제3 및 제4 연결단자(124-1,124-2)는 검사자의 조작에 의해 저항값이 변하는 가변저항에 접속된다.The adapter 124 includes a body and third and fourth connection terminals 124-1 and 124-2, as shown in FIG. The body is detachably coupled to the printed circuit board 122. When the body is coupled with the printed circuit board 122, the third and fourth connection terminals 124-1 and 124-2 are electrically connected to the first and second connection terminals 122-1 and 122-2 of the printed circuit board 122 via the via- 122-2. For this purpose, a via hole is formed on one side of the body. The third and fourth connection terminals 124-1 and 124-2 of the adapter 124 are connected to a variable resistor whose resistance value is changed by the operation of the inspector.

도 7은 인쇄회로기판과 어댑터의 결합 사시도이다.7 is a perspective view showing a printed circuit board and an adapter combined;

도 7에 도시된 바와 같이, 인쇄회로기판(122)과 어댑터(124)의 결합에 의해, 가변저항(200)에 접속된 어댑터(124)의 제3 및 제4 연결단자(124-1,124-2)는 인쇄회로기판(122)의 제1 및 제2 연결단자(122-1,122-2)와 일대일로 접속된다.7, by the combination of the printed circuit board 122 and the adapter 124, the third and fourth connection terminals 124-1 and 124-2 of the adapter 124 connected to the variable resistor 200 Are connected to the first and second connection terminals 122-1 and 122-2 of the printed circuit board 122 on a one-to-one basis.

도 8은 도 7을 A - A'에 따라 절췌하여 도시한 단면도이다.FIG. 8 is a cross-sectional view of FIG. 7 taken along the line A-A '.

도 8을 참조하면, 어댑터(124)의 제3 및 제4 연결단자(124-1,124-2)와 인쇄회로기판(122)의 제1 및 제2 연결단자(122-1,122-2)는 비아 홀(124-3)을 통해 접속된다. 비아 홀(124-3)은 어댑터(124)의 제3 및 제4 연결단자(124-1,124-2)와 인쇄회로기판(122)의 제1 및 제2 연결단자(122-1,122-2) 사이의 어댑터(124) 몸체를 관통하여 형성된다. 이 비아 홀(124-3)은 도전성 금속으로 형성된다. 도전성 금속의 대표적 예로는 구리등을 들 수 있다.Referring to FIG. 8, the third and fourth connection terminals 124-1 and 124-2 of the adapter 124 and the first and second connection terminals 122-1 and 122-2 of the printed circuit board 122 are connected to the via- (124-3). The via hole 124-3 is formed between the third and fourth connection terminals 124-1 and 124-2 of the adapter 124 and the first and second connection terminals 122-1 and 122-2 of the printed circuit board 122 Through the body of the adapter 124 of FIG. The via hole 124-3 is formed of a conductive metal. Representative examples of the conductive metal include copper and the like.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치용 검사장치는 가변저항과 접속되는 가변 저항용 단자를 포함하는 어댑터를 구비하여 인쇄회로기판으로부터 액정표시패널로 공급되는 공통전압을 미세하게 조정할 수 있다.As described above, the inspection apparatus for a liquid crystal display according to the present invention includes an adapter including a variable resistor terminal connected to a variable resistor, so that the common voltage supplied from the printed circuit board to the liquid crystal display panel can be finely adjusted .

나아가, 본 발명에 따른 액정표시장치용 검사장치는 인쇄회로기판에 착탈 가능하게 결합되는 가변 저항용 단자를 포함하는 어댑터를 구비하여, 적용 모델 변화에 따른 인쇄회로기판의 개조없이 공통전압을 조정할 수 있게 함으로써, 인쇄회로기판의 개조에 따른 제반 비용을 절감할 수 있다. Furthermore, an inspection apparatus for a liquid crystal display according to the present invention includes an adapter including a variable resistance terminal detachably coupled to a printed circuit board, and can adjust a common voltage without modifying a printed circuit board Thereby making it possible to reduce costs associated with the modification of the printed circuit board.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니 라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

Claims (5)

액정표시패널을 검사하기 위한 액정표시장치용 검사장치에 있어서,An inspection apparatus for a liquid crystal display apparatus for inspecting a liquid crystal display panel, 상기 액정표시패널에 공급되는 공통 전압을 조정하기 위하여 인쇄회로기판 및 어댑터를 구비한 공통전압 조정장치; 및 A common voltage regulating device having a printed circuit board and an adapter for adjusting a common voltage supplied to the liquid crystal display panel; And 상기 어댑터와 연결된 가변저항;을 포함하고,And a variable resistor connected to the adapter, 상기 인쇄회로기판은,Wherein the printed circuit board includes: 서로 이격되어 배치된 제1 및 제2 연결 단자 및 상기 액정표시패널에 공통전압을 공급하는 공통전압발생부를 구비하고, First and second connection terminals arranged to be spaced apart from each other, and a common voltage generator for supplying a common voltage to the liquid crystal display panel, 상기 공통전압발생부는,Wherein the common voltage generator comprises: 비반전단자로 기준 전압을 공급받고, 반전단자로 입력 전압을 공급받아 공통 전압을 출력하는 연산 증폭기를 포함하고,And an operational amplifier for receiving a reference voltage from a non-inverting terminal and supplying an input voltage to the inverting terminal and outputting a common voltage, 상기 기준 전압은 전원 전압이 저항과 상기 가변 저항에 의하여 전압 분배된 전압으로써, 상기 가변 저항의 값에 따라 조절되고,Wherein the reference voltage is a voltage whose power supply voltage is divided by a resistor and the variable resistor and is adjusted according to a value of the variable resistor, 상기 어댑터는,The adapter includes: 상기 인쇄회로기판과 착탈 가능하게 결합되며, 상기 제1 및 제2 연결 단자 각각에 대응되는 위치에 배치된 제3 및 제4 연결 단자 및 상기 제3 및 제4 연결단자 각각에 대응되는 위치에 형성된 비아홀을 구비하고,And third and fourth connection terminals detachably coupled to the printed circuit board and disposed at positions corresponding to the first and second connection terminals, respectively, and third and fourth connection terminals formed at positions corresponding to the third and fourth connection terminals, respectively, A via hole, 상기 비아 홀은 상기 제1 연결단자와 상기 제3 연결단자 및 상기 제2 연결단자와 상기 제4 연결단자 각각을 상호 연결하며,Wherein the via hole interconnects the first connection terminal, the third connection terminal, the second connection terminal, and the fourth connection terminal, 상기 가변 저항은 상기 제3 및 제4 연결 단자에 접속되는 액정표시장치용 검사장치.And the variable resistor is connected to the third and fourth connection terminals. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 비아 홀은 도전성 금속으로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 검사장치.Wherein the via hole is formed of a conductive metal. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, 상기 도전성 금속은 구리인 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 검사장치.Wherein the conductive metal is copper. 삭제delete
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010070133A (en) * 1999-10-12 2001-07-25 가부시키가이샤 어드밴티스트 Contact structure having silicon finger contactors and total stack-up structure using same
KR20040090164A (en) * 2003-04-16 2004-10-22 (주)포커스전자 Apparatus for Testing Electric Devices
KR20050091013A (en) * 2002-12-20 2005-09-14 에이티지 테스트 시스템즈 지엠비에이취 코오아퍼레이션 케이지 Adapter for testing conductor arrangements
KR20060110523A (en) * 2005-04-20 2006-10-25 삼성전자주식회사 Common voltage generator and display device having the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010070133A (en) * 1999-10-12 2001-07-25 가부시키가이샤 어드밴티스트 Contact structure having silicon finger contactors and total stack-up structure using same
KR20050091013A (en) * 2002-12-20 2005-09-14 에이티지 테스트 시스템즈 지엠비에이취 코오아퍼레이션 케이지 Adapter for testing conductor arrangements
KR20040090164A (en) * 2003-04-16 2004-10-22 (주)포커스전자 Apparatus for Testing Electric Devices
KR20060110523A (en) * 2005-04-20 2006-10-25 삼성전자주식회사 Common voltage generator and display device having the same

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