KR101386346B1 - 반사기재, 백라이트 유닛, 및 반사기재의 제조방법 - Google Patents

Abstract

확실하게 휘도 불균일의 발생을 방지 가능한 반사기재와, 이것을 이용한 백라이트 유닛, 및 반사기재의 제조방법을 제공한다. 레이저 변위계(3)에 의해 반사기재(7)의 표면형상정보를 취득한다. 다음에, 얻어진 요철정보를 푸리에 변환하고, 반사기재의 표면요철형상에 대해서 주파수와 강도의 관계를 얻는다. 다음에, 산출된 주파수와 강도의 관계와 미리 설정된 기준 데이터를 비교한다. 소정범위의 주파수영역에서 강도가 0.6을 초과하는 경우에는 불합격 판정을 행하고, 이 판단영역에서 0.6을 초과하는 데이터가 없으면 합격판정을 행한다.

Description

반사기재, 백라이트 유닛, 및 반사기재의 제조방법{REFLECTING BASE MATERIAL, BACKLIGHT UNIT, AND METHOD FOR MANUFACTURING REFLECTING BASE MATERIAL}

본 발명은 특히 액정 텔레비전 등의 백라이트 유닛에 이용되는 반사기재에 있어서, 사용시에 휘도 불균일이 발생하지 않고 간이하게 제조 가능한 반사기재, 이것을 이용한 백라이트 유닛 및 반사기재의 제조방법에 관한 것이다.

액정 텔레비전의 디스플레이 등에 이용되는 백라이트 유닛에는 도광판에 대해서 광을 반사하는 시트형상, 필름형상, 판형상 등의 반사기재가 이용된다. 이 경우, 반사기재를 도광판의 후방에 배치하고, 예를 들어 에지 라이트방식에 의해 도광판 측방으로부터 광을 조사함으로써 도광판의 표면 전체(즉 디스플레이 전면)에 대해서 광이 균일하게 출사된다.

한편 이용되는 부재(예를 들어 반사기재)에 문제 등이 있으면, 디스플레이에 휘도 불균일이 발생하는 경우가 있다. 휘도 불균일이란 본래 디스플레이 전면에서 균일한 휘도로 시인되어야 하는 경우에도 부분적으로 휘도가 높거나 휘도가 낮은 부분이 발생하는 것을 말한다. 이와 같은 휘도 불균일이 발생하면, 정확한 화상을 재현할 수 없고, 이 디스플레이의 시인자에게도 불쾌감을 주게 된다.

이와 같은 디스플레이의 휘도 불균일에 대해서는, 디스플레이의 표시화면의 휘도분포정보를 취득하고, 이 휘도분포정보와 이 휘도분포정보의 배경휘도와의 차분으로부터 구한 휘도변화량에 대한 배경휘도와의 비를 나타내는 콘트라스트 화상을 생성하고, 콘트라스트 화상을 2차원 푸리에 변환한 2차원 푸리에 스펙트럼에, 배경휘도 또는 표시화면의 크기의 적어도 어느 하나에 대응하여 설정되어 인간의 시각특성에 준한 콘트라스트 감도함수를 연산하고, 그 결과를 2차원 푸리에 역변환하여 휘도 불균일성분의 강도가 휘도정보에 포함되는 평가용 2차원 화상을 생성하고, 이 평가용 2차원 화상의 휘도정보에 기초하여 휘도 불균일을 정량 평가하는 디스플레이의 평가방법이 있다(일본 특개2009-180583호 공보)

일본 특개2009-180583호 공보

그러나 일본 특개2009-180583호 공보의 방법은 반시기재 자체의 성상을 특정하는 것이 아니라, 실제로 조립된 후에 휘도 불균일을 정량 평가하는 것이다. 따라서, 어떠한 성상의 반사기재가 휘도 불균일에 악영향을 미치는 것인지를 특정한 것이 아니다.

한편 반사기재의 표면에 주름 등이 형성되면, 이 "주름" 등의 표면의 요철형상에 의해 휘도 불균일이 발생할 가능성이 있다. 즉, 표면에 어느 정도 이상의 요철형상을 갖는 반사기재를 이용하여 백라이트 유닛을 조립하면 휘도 불균일이 확인될 우려가 있다.

예를 들어 도 7은 종래의 반사기재(10)와, 이것을 이용한 디스플레이(13)를 도시하는 도면이다. 도 7(a)에 도시하는 바와 같이, 반사기재(10)는 제조공정에서 발생하는 요철(11)이 표면에 형성되는 경우가 있다. 특히 발포체 기재에서는 가열공정 등도 있기 때문에 반사기재(10)의 표면에 주름형상의 요철(11)이 형성되는 경우가 있다. 이와 같은 요철(11)은 예를 들어 반사기재(10)의 제조공정에서 길이방향을 따라서 형성되는 경우가 많다.

이와 같은 요철(11)이 어느 정도 이상의 크기가 되면, 휘도 불균일의 요인이 되는 것으로 생각된다. 예를 들어 이와 같은 반사기재(10)를 이용하여 백라이트 유닛을 구성하고, 이것에 광을 조사하여 디스플레이의 전면으로부터 확인하면, 요철(11)의 형태에 대응한 범위에 휘도 불균일(15)이 발생하는 경우가 있다. 따라서, 백라이트 유닛으로서 조립하기 전에 반사기재의 표면 요철량을 측정하고, 반사기재의 평가를 행하여, 소정 값 이상의 큰 요철을 갖는 반사기재를 폐기함으로써 휘도 불균일의 발생을 방지할 수 있다고도 생각된다. 그러나 실제로는 단순한 요철량과 휘도 불균일의 발생은 완전하게 대응하고 있지 않다. 따라서 제조공정에서 휘도 불균일이 발생하거나, 과잉 요철량 관리가 필요로 되는 등의 문제가 있다.

본 발명은 이와 같은 문제를 감안하여 이루어진 것으로, 확실하게 휘도 불균일의 발생을 방지 가능한 반사기재와, 이것을 이용한 백라이트 유닛, 및 반사기재의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

전술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 백라이트 유닛용 반사기재이며, 반사기재의 폭방향의 복수 점을 측정하여 얻어지는 표면 요철 데이터를 푸리에 변환하고, 얻어진 주파수와 강도의 관계로부터 측정점수를 N점으로 했을 때, 파장이 128mm 이하인 파성분의 강도가 0.6N/128 이하인 것을 특징으로 하는 반사기재이다.

상기 반사기재는 상기 표면 요철 데이터의 최대 요철량이 50㎛ 이하인 것이 바람직하다. 상기 반사기재는 내부에 미세기포를 갖고, 두께가 0.2mm 이상이고, 반사율이 90% 이상이고, 결정화도가 30% 이상인 것이 바람직하다. 상기 반사기재의 표면에는 연질 비즈가 도포되어도 된다.

제1 발명에 의하면, 제조가 용이하고 휘도 불균일의 발생도 확실하게 방지 가능한 반사기재를 얻을 수 있다. 특히 단순한 표면의 요철량만으로 판단하는 것이 아니라 요철형상을 파(波)로서 취급하여, 휘도 불균일이 발생하는 파를 측정하기 때문에 과잉 품질이 되는 일도 없다.

또한 표면 요철데이터의 최대 요철량이 50㎛ 이하이면, 보다 확실하게 휘도 불균일의 발생을 방지할 수 있다. 또한 본 발명의 반사기재로서는, 내부에 미세기포를 갖는 발포성 반사기재이며, 두께가 0.2mm 이상, 반사율이 90% 이상, 결정화도가 30% 이상인 것이 특히 유효하다. 연질 비즈를 균일하게 도포하면, 도광판과의 갭을 일정하게 유지할 수 있어, 휘도 불균일의 방지에 더 유효하다. 또한 연질 비즈로서는 예를 들어 경질 유리나 폴리메타크릴산 메틸(PMMA), 연질 폴리메타크릴산 부틸(PBMA)이 사용될 수 있다.

제2 발명은 제1 발명에 따른 반사기재와, 상기 반사기재 상에 마련되는 도광판과, 상기 도광판의 측방에 마련되는 광원을 구비하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛이다.

제2 발명에 의하면, 휘도 불균일이 발생하지 않고 제조가 용이한 백라이트 유닛을 얻을 수 있다.

제3 발명은 백라이트 유닛용 발포성 반사기재의 제조방법이며, 기재를 발포시키는 공정과, 연신도 1.1~1.8로 연신함과 동시에 압축도 0.6~0.8로 압축시키는 공정을 구비하고, 얻어진 기재의 폭방향의 복수 점을 측정하여 표면 요철정보를 얻고, 얻어진 표면 요철정보를 푸리에 변환하여 주파수와 강도와의 관계를 취득하고, 측정점수를 N점으로 했을 때 파장 128mm 이하에 대응하는 주파수에 대한 강도가 모두 0.6N/128 이하인 것을 합격으로 판정하는 것을 특징으로 하는 반사기재의 제조방법이다.

제3 발명에 의하면, 용이하고 확실하게 휘도 불균일이 발생하지 않는 반사기재를 제조할 수 있다.

본 발명에 의하면, 확실하게 휘도 불균일의 발생을 방지 가능한 반사기재와, 이것을 이용한 백라이트 유닛, 및 반사기재의 제조방법을 제공할 수 있다.

도 1은 반사기재 제조장치(1)의 구성도이다.
도 2는 반사기재의 해석의 흐름을 도시하는 플로우차트이다.
도 3은 반사기재(7)에 대한 레이저 변위계(3)의 측정부를 도시하는 도면이다.
도 4는 요철정보를 도시하는 도면이다.
도 5는 반시기재(7)에 대한 레이저 변위계의 동작을 도시하는 도면이다.
도 6은 파정보를 도시하는 도면이다.
도 7은 종래의 반사기재와 휘도 불균일의 발생을 도시하는 도면이다.

이하 도면을 참조하면서 본 발명의 실시형태에 대해서 설명한다. 도 1은 본 발명에 따른 반사기재 제조장치(1)를 도시하는 구성도이다. 반사기재 제조장치(1)는 주로 요철량 검출수단인 레이저 변위계(3), 해석장치(5), 연신·압축라인(9) 등으로 구성된다.

반사기재(7)는 예를 들어 발포체 등의 수지기재인 것이 바람직하고, 시트형상, 필름형상, 판형상 등으로 형성된다. 반사기재(7)의 두께는 0.2mm 이상인 것이 바람직하다. 또한 결정화도는 30% 이상인 것이 바람직하다. 반사기재의 두께가 0.2mm 미만인 경우와 결정화도가 30% 미만인 경우 모두 부드러운 상태여서 물결 주름이 발생하기 쉬우므로 바람직하지 않다. 또한 반사기재의 성능을 확보하기 위해서는 반사기재의 전반사율은 90% 이상인 것이 바람직하다.

보다 상세하게는, 평균 기포지름이 50nm 이상이고 50㎛ 이하인 미세한 기포 또는 기공을 내부에 갖는 열가소성 수지 시트에 바람직하게 이용할 수 있다. 이와 같은 시트로서는, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트의 압출 시트에 탄산 가스를 고압 하에서 함침시킨 후, 가열하여 발포시킨 시트이며, 내부의 기포지름이 50㎛ 이하인 발포 플라스틱제 광반사시트가 있다(예를 들어 후루카와덴키 고교 가부시키가이샤 제품인 MCPET(등록상표) 등).

또한 반사기재(7)의 바람직한 다른 예로서, 필러를 함유하는 열가소성 수지 필름이며, 필러를 핵으로 하여 다수의 보이드가 성형되어 있는 필름을 복수 적층한 것, 또는 이 필름을 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 수지 시트에 합착시킨 것을 들 수 있다. 상기 필러를 함유하는 열가소성 수지는 필름, 필러를 함유하는 미연신 필름을 성형하고, 이 미연신 필름을 연신함으로써, 필름을 핵으로 하여 다수의 보이드를 성형한 다공성 연신필름인 것이 바람직하다.

또한 반사기재(7)가 발포기재인 경우에는 반사기재 제조장치(1)에는 도시를 생략한 발포, 가열라인이 더 마련된다. 또한 상기 시트, 필름에 이용되는 수지 속에는 산화방지제, 자외선방지제, 활제, 안료, 강화제 등의 첨가제를 적절히 첨가할 수도 있다. 또한 이들 첨가제를 함유하는 도포층을 시트, 필름 상에 성형해도 된다. 또한 도 1에서 도시하는 예에서는 롤형상으로 감긴 장척의 기재에 대해서 레이저 변위계(3) 등이 설치되는 예를 도시했으나, 해석장치(5) 및 레이저 변위계(3)를 도시를 생략한 절단공정후에 배치하고, 절단 후의 반사기재(7)에 대해서 레이저 변위계(3)에 의한 계측을 행해도 된다. 이 경우에도 절단공정 및 이 레이저 변위계에 의한 계측공정을 포함하여 반사기재 제조장치(1)라고 칭한다.

연신·압축라인에서는 기재의 주름 등을 제거하기 위해서 기재의 길이방향으로 소정량의 장력이 부여됨과 동시에, 복수의 롤러에 의해 기재의 두께방향으로 압축력이 부여된다. 기재의 압축도(압축후 두께/압축전 두께)는 0.6~0.8 정도인 것이 바람직하다. 압축도가 0.6보다 작아지면 내부 기포가 지나치게 깨져서 내부 기포수가 적어지고, 반사율이 저하되므로 바람직하지 않으며, 압축도가 0.8 이상이면 압축에 의한 물결 주름 억제효과가 적으므로 바람직하지 않다.

또한 기재의 연신도(연신후 길이/연신전 길이)는 1.1~1.8 정도인 것이 바람직하다. 연신도가 1.1보다 작아지면 연신에 의한 물결 주름 억제효과가 적으므로 바람직하지 않다. 연신도가 1.8 이상이면 내부기포가 지나치게 깨져서 내부 기포수가 적어지고, 반사율이 저하되므로 바람직하지 않다.

레이저 변위계(3)는 반사기재(7)의 표면으로부터 소정 거리에 배치되고, 반사기재(7)의 표면에 대해서 일정 거리를 유지하면서 반사기재(7)의 진행방향과는 수직인 방향(즉 반사기재(7)의 폭방향)으로 이동 가능하다. 따라서, 레이저 변위계(3)에 의해 대상이 되는 반사기재(7)의 표면의 요철("주름" 및 두께변화 등을 모두 포함하는 반사기재 전체의 표면방향의 요철량)을 검출 가능하다. 또한 반사기재(7)의 요철정보를 검출 가능하다면 레이저 변위계(3)가 아니어도 되고, 다른 검출수단을 이용해도 된다.

해석장치(5)는 레이저 변위계(3)로부터의 정보를 취득하고, 다양한 해석 및 합격여부 판정을 행할 수 있음과 동시에, 레이저 변위계(3)의 동작을 제어할 수 있다. 해석장치로서는 일반적인 컴퓨터를 이용할 수 있다.

예를 들어 해석장치(5)는 레이저 변위계(3)의 동작을 제어하고, 반사기재(7)의 요철량을 측정함과 동시에 후술하는 연산을 행하여, 반사기재(7)의 합격여부 판정 및 정보의 기억·표시 등을 행할 수 있다.

다음에 반사기재 제조장치(1)에 의해서 반사기재(7)를 제조하는 공정에 대해서 설명한다. 도 2는 반사기재(7)의 제조의 흐름을 도시하는 플로우차트를 도시하는 도면이다. 우선, 전술한 바와 같이 기재를 언코일하면서 연신·압축라인(9)에서 소정량의 연신과 압축이 행해진다(단계100). 또한 필요에 따라서 적절히 발포, 가열공정이 추가되어도 된다.

다음에, 도 3에 도시하는 바와 같이, 반사기재(7)의 폭방향에 대해서 레이저 변위계(3)를 이동시키거나 왕복 동작시켜, 반사기재(7)의 표면 요철량이 검출된다(단계101). 또한 표면 요철량은 단순한 반사기재(7)의 두께변화가 아니라 반사기재 자체에 발생하는 주름이나 변형 등을 포함하는 것이다. 또한 반사기재(7)의 제조방향이 아니라 폭방향에 대해서 검사하는 이유는, 제조공정과의 관계에서 반사기재(7)의 표면 요철(주름 등)이 폭방향에 대해서 크게 발생하기 때문이다.

구체적으로는, 도시를 생략한 구동부 등에 의해 레이저 변위계(3)를 구동시켜서 반사기재(7) 상으로 이동시키면서, 레이저 변위계(3)에 의해 반사기재(7)의 표면형상정보(요철정보)가 취득된다. 요철정보는 반사기재(7)의 폭방향에 대해서 소정간격의 복수 점의 측정에 의해 얻어진다. 또한 레이저 변위계(3)의 이동속도는 반사기재(7)의 제조속도 등에 따라서 설정되어 제어된다.

다음에, 얻어진 요철정보로부터 최대 요철량이 산출되고, 이것이 규정값을 초과하는지 여부가 판단된다(단계102). 또한 규정값은 제품에 요구되는 품질에 따라서 적절히 설정된다. 도 4는 얻어진 요철정보를 도시하는 개념도이다. 도 4에 도시하는 바와 같이, 검사범위(예를 들어 반사기재(7)의 폭방향으로의 이동범위)에서 얻어진 요철정보로부터 최대값 및 최소값을 얻고, 이 차이가 최대 요철량(도면의 E)으로서 산출된다.

즉, 요철정보의 최대값과 최소값으로부터 최대 요철량을 산출하고, 미리 설정된 기준값(예를 들어 50㎛)과 비교하여, 최대 요철량이 기준값을 초과하는지 여부가 판단된다. 또한 이 최대 요철량의 기준값은 미리 대상제품마다 최대 요철량과 휘도 불균일의 발생경향을 조사하여, 휘도 불균일이 발생하지 않는 최대 요철량의 최대값을 기준값으로서 설정하면 된다.

산출된 최대 요철량이 기준값(예를 들어 50㎛) 이하이면, 합격판정을 행하여 제품이 된다(단계107). 종래의 요철량만으로 인한 판단에서는 이 판단으로 종료되고, 기준값을 초과하는 반사기재(7)가 폐기된다.

본 발명에서는, 단계102에서 최대 요철량이 기준값을 초과한 것에 대해서 요철정보를 푸리에 변환하고, 반사기재의 표면 요철형상에 대해서 주파수와 강도와의 관계가 취득된다(단계103). 또한 상기 단계102을 생략하고, 모든 피검물에 대해서 단계103 이후의 평가를 행해도 된다. 또한 전술한 바와 같이, 본 공정을 행하기 전에 반사기재(7)를 소정 길이(제품 크기)로 절단하는 공정을 추가해도 된다.

여기서, 주파수는 반사기재(7)의 요철형상뿐 아니라 반사기재(7)에 대한 레이저 변위계(3)의 이동속도(요철형상의 측정속도)에도 의존한다. 그렇기 때문에 레이저 변위계(3)의 이동속도는 미리 설정된다. 레이저 변위계(3)의 이동속도는 예를 들어 200mm/s 정도 이하이다. 여기서, 얻어진 요철정보는 푸리에 변환되고, 주파수와 강도의 관계가 얻어지는데, 얻어진 주파수는 레이저 변위계(3)의 측정조건 등을 가미하여 파장으로 환산하여 이용할 수도 있다.

또한 도 5(a)에 도시하는 바와 같이, 반사기재(7)가 진행방향(도면의 화살표 B방향)으로 이동하면서 레이저 변위계를 반사기재(7)의 폭방향으로 왕복 이동시키면, 레이저 변위계에 의한 측정부(측정방향)는 반사기재(7)의 폭방향으로 일치하지 않고, 반사기재(7)의 이동속도에 따라서 비스듬하게 측정하게 된다(도면의 C방향). 한편 도 6(b)에 도시하는 바와 같이, 반사기재(7a)를 고정한 상태에서 동일하게 측정을 행하면, 측정부는 반사기재(7a)의 폭방향으로 일치한다(도면의 D방향).

그러나 본 발명에서는 전술한 바와 같이 반사기재(7)가 이동하면서 레이저 변위계(3)를 폭방향으로 이동시킨 경우에, 실제로는 비스듬하게 측정되어 얻어진 요철정보도 반사기재(7)의 폭방향의 요철정보인 것으로 정의한다. 즉, 검출된 요철정보는 반드시 반사기재(7)의 폭방향에 엄밀하게 수직인 방향의 정보일 필요는 없으며, 반사기재(7)의 폭방향으로부터 다소 비스듬하게 측정된 요철정보도 반사기재(7)의 폭방향의 요철정보로서 취급하도록 한다.

다음에 산출된 주파수(파장)와 강도의 관계(파정보)와 미리 설정된 기준 데이터가 비교된다(단계104). 즉, 소정 범위의 주파수(파장) 영역에서의 강도가 기준 데이터에서의 수치와 비교된다. 기준 데이터는 폭방향에서의 요철의 측정점수에 의존하는데, 측정점을 128점으로 한 경우에는 기준 데이터는 예를 들어 소정 범위의 주파수(파장)의 강도가 0.6 이하인 것으로 한다. 또한 측정점이 128, 256, 512, …로 증가할 때마다 기준데이터의 수치(소정범위의 주파수(파장)의 강도)를 0.6, 1.2, 2.4, …로 크게 설정하면 된다(예를 들어 측정점수 N으로 하면 기준 데이터=0.6N/128).

이 기준 데이터는 미리 대상제품마다 측정조건에 따른 강도와 휘도 불균일의 발생경향을 조사하여, 소정 주파수에서 휘도 불균일이 발생하지 않는 강도를 구해놓으면 된다. 또한 이하의 예에서는, 측정점을 128점으로 하고, 기준 데이터가 강도 0.6인 경우에 대해서 설명한다.

다음에, 이 영역의 강도가 0.6(기준 데이터)을 초과하는 데이터인지 여부가 판단된다(단계105). 강도가 0.6(기준 데이터)을 초과하는 경우에는 불합격 판정이 이루어지고, 이 반사기재는 폐기된다(단계106). 한편, 이 판단영역 전역에서 0.6(기준 데이터)을 초과하는 데이터가 없으면 합격 판정하여 제품이 된다(단계107).

도 6은 합격여부 판정을 행하는 파정보와 기준 데이터의 비교를 나타내는 개념도이다. 전술한 바와 같이, 얻어진 파정보는 파장(또는 주파수)와 강도의 관계로 나타난다. 합격 여부의 판단은 평가대상이 되는 파장범위(주파수범위)인 평가범위(25)에서 기준값(도면의 F)을 초과하는 데이터인지 여부에 의해 판단된다.

즉, 평가범위(25)에서 기준값을 초과하는 데이터가 있으면 불합격이 되고, 기준값을 초과하는 데이터가 없으면 합격이 된다. 즉, 평가범위(25) 이외에 대해서는 강도에 대해서 판정할 필요가 없다. 또한 평가범위(25)는 미리 각 파장(주파수)와 강도, 및 휘도 불균일의 발생경향을 조사하여, 휘도 불균일이 발생하지 않는 파장(주파수)의 범위를 설정하면 된다. 예를 들어 평가범위로서 소정파장을 설정하면, 그 이상의 장파장의 요철형상은 휘도 불균일에 작은 영향을 미치기 때문에 평가범위로부터 벗어나게 할 수 있다. 평가범위는 예를 들어 파장 128mm 이하로 하면 된다.

또한 전술한 바와 같이, 기준 데이터는 다양한 주기, 크기의 요철형상을 갖는 반사기재의 샘플을 마련하고, 백라이트 유닛 조립, 목시로 휘도 불균일의 발생유무를 확인하여, 휘도 불균일을 발생시키는 주파수(파장)와 측정점의 수에 따른 강도를 특정하여 미리 정해둔다.

또한 반사기재를 코일형체로 하여 파정보에 의한 판정을 행하는 경우에는 소정 간격으로 반복하여 행해도 되고, 연속적으로 행해도 된다. 또한 상술한 실시형태에서는 1개의 레이저 변위계(3)에 의해 얻은 정보로부터 최대 요철량 및 휘도 불균일을 발생시키는 특정 파장의 판정을 행했으나, 레이저 변위계(3)보다 상류측에 별도의 최대 요철량의 판정에 이용하기 위한 최대 요철량 측정기를 마련해도 된다.

본 발명에 의하면, 휘도 불균일이 발생하지 않는 반사기재(7)를 확실하게 얻을 수 있다. 특히 단순한 최대 요철량만의 평가에서는 과잉품질이 되므로, 휘도 불균일에 악영향을 미치기 쉬운 주파수(파장)영역의 요철성분의 강도를 판정함으로써 예를 들어 휘도 불균일에는 영향을 미치지 않는 요철형상에 대해서는 합격으로서 취급할 수 있다.

[실시예]

다음에 본 발명에 의한 제조방법에 의해 얻어진 반사기재의 평가예에 대해서 설명한다. 피검체인 반사기재는 이하와 같이 제조했다.

우선 폴리에틸렌테레프탈레이트(일본 유니패트 가부시키가이샤 제품, RT-553C) 100중량부에 폴리에스테르계 에라스토머(미츠비시 가가쿠 가부시키가이샤 제품, 프리마로이(등록상표) B1942N) 2중량부를 첨가하여 혼련한 후 0.48mm 두께×540mm 폭×355m 길이의 시트로 성형했다. 이 수지 시트와 올레핀계 부직포의 세퍼레이터를 겹쳐서 수지 시트의 표면끼리 접촉하는 부분이 없도록 감아서 롤형상으로 했다.

그 후 상기 롤을 압력용기에 넣고, 탄산가스로 5.2MPa로 가압하여 수지 시트에 탄산가스를 침투시켰다. 수지 시트에의 탄산가스의 침투시간은 35시간으로 했다. 다음에, 압력용기로부터 롤을 끄집어 내고, 세퍼레이터를 제거하면서 수지 시트만을 220℃로 설정한 열풍순환식 발포로에 연속적으로 공급하여 발포시켰다. 얻어진 발포체는 균일하게 발포되어 있으며, 평균 기포지름이 0.9㎛로 상당히 미세했던 발포체의 두께는 0.7mm이 되고, 발포체 시트의 전반사율은 99.9%이었다.

또한 발포된 기재는 압축도 0.73으로 압축하여 0.51mm 두께로 함과 동시에 연신도 1.5로 연신했다.

압축·연신된 반사기재로부터 폭 520mm로 커트한 복수의 샘플을 끄집어 내고, 레이저 변위계를 소정 높이의 위치에서 폭방향(제조공정에서의 길이방향으로 수직인 방향)으로 50mm/s의 속도, 약 4mm의 피치로 이동시켜서 측정점수 128점에서의 반사기재의 표면 요철량을 검출하여, 전술한 방법으로 각각 평가를 행했다.

또한 평가후의 반사기재에 대해서 백라이트 유닛을 가조립하고, 디스플레이의 표면에서의 휘도를 평가했다. 백라이트 유닛의 구성으로서는 반사기재 상에 순서대로 도광판, 제1 확산 필름, 프리즘 시트, 제2 확산 필름을 조립했다. 도광판의 측방에는 에지 라이트방식으로서 LED(Light Emitting Diode)광원을 마련했다. 또한 프리즘 시트는 0.30mm 두께의 재질 PET이고, 제1 확산 필름은 0.31mm 두께의 재질 PET이고, 제2 확산 필름은 0.38mm 두께의 재질 PET이며, 도광판은 4.0mm 두께의 재질 아크릴인 것을 이용했다.

도광판의 표면측에는 도광판에 수직인 방향으로 2차원 색채휘도계(코니카 미놀타 센싱 가부시키가이샤 제품 CA2000)를 설치하여, 도광판 표면 전체의 휘도를 측정했다. 얻어진 휘도에 대해서 색조화상처리를 행하여, 화상에 기초하여 목시에 의해 휘도 불균일의 발생을 평가했다. 예를 들어 주위와 불연속적인 휘도의 변화나, 부분적인 휘도변화 등이 없는지를 목시로 평가했다. 결과를 표 1에 도시한다.

No.	최대 요철량 50㎛ 이하	최대강도/최대강도파장	본 평가	휘도 불균일
1	×	0.7/32mm	×	×
2	×	0.5/32mm	○	○
3	×	0.6/50mm	○	○
4	×	0.7/50mm	×	×
5	×	0.7/128mm	×	×
6	×	0.7/130mm	○	○

표 1의 "최대 요철량 50㎛ 이하"에서는 각 피검체의 최대 요철량을 조사하여, 50㎛를 초과하는 것을 "×"로 했다. 상기 예에서는 최대 요철량이 50㎛를 초과하는 것만을 대상으로 했다. 또한 전술한 바와 같이, 최대 요철량이 50㎛ 이하이면 모두 휘도 불균일은 발생하지 않았다. 또한 "최대강도/최대강도파장"은 전술한 방법으로 취득한 요철형상의 파정보에 기초하여 푸리에 변환된 파의 최대강도와, 최대강도가 되는 파장을 도시한 것이다(파장은 주파수 및 측정조건에 의해 구했다).

또한 "본 평가"에서는 본 발명의 평가방법에서 기준 데이터를 0.6으로 하고, 파장이 128mm 이하인 영역에서 0.6을 초과하는 강도가 인정되면 "×"로 하고, 이 영역에서 0.6 이하이면 "○"으로 했다. 또한 "휘도 불균일"에서는 실제로 백라이트 유닛을 가조립하고, 디스플레이의 표면에서의 휘도를 평가하여, 목시로 휘도 불균일이 인정된 것을 "×"로 하고, 휘도 불균일이 확인되지 않은 것을 "○"으로 했다.

표 1에 도시하는 바와 같이, 최대 요철량이 50㎛를 초과하는 경우에도 요철의 성상에 따라서는 휘도 불균일이 발생하지 않는 예가 있었다. 예를 들어 No.2, No.3.에서는 강도가 0.6 이하이며, 휘도 불균일은 발생하지 않았다. 또한 No.6에서는 강도가 0.6을 초과하나, 파장이 128mm을 초과하고 있기 때문에 휘도 불균일은 발생하지 않았다. 즉 휘도 불균일은 어느 정도 이상의 파장성분의 요철에서는 발생하지 않는다.

한편 No.1, No.4, No.5에서는 파장 128mm 이하의 범위의 강도가 0.6을 초과하기 때문에 휘도 불균일이 발생했다.

이상으로 첨부 도면을 참조하면서 본 발명의 실시형태를 설명했으나, 본 발명의 기술적 범위는 전술한 실시형태에 좌우되지 않는다. 당업자라면 특허청구범위에 기재된 기술적 사상의 범주 내에서 각종 변경예 또는 수정예를 생각해낼 수 있는 것은 명백하며, 그들도 당연히 본 발명의 기술적 범위에 속하는 것으로 이해된다.

1 : 반사기재 제조장치 3 : 레이저 변위계
5 : 해석장치 7 : 반사기재
10 : 반사기재 11 : 요철
13 : 디스플레이 15 : 휘도 불균일

Claims (6)

1. 백라이트 유닛용 반사기재이며,
   반사기재의 폭방향의 복수 점을 측정하여 얻어지는 표면 요철 데이터를 푸리에 변환하고, 얻어진 주파수와 강도의 관계로부터 측정점수를 N점으로 했을 때, 파장이 128mm 이하인 파성분의 강도가 0.6N/128 이하이고,
   상기 반사기재는 상기 표면 요철 데이터의 최대 요철량이 50 ㎛를 초과하는 것을 특징으로 하는 반사기재.
2. 제1항에 있어서, 상기 반사기재는 내부에 미세기포를 갖고, 두께가 0.2mm 이상이고, 반사율이 90% 이상이고, 결정화도가 30% 이상인 것을 특징으로 하는 반사기재.
3. 제1항에 있어서, 상기 반사기재의 표면에는 연질 비즈가 도포되는 것을 특징으로 하는 반사기재.
4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 기재한 반사기재와,
   상기 반사기재 상에 마련되는 도광판과,
   상기 도광판의 측방에 마련되는 광원을 구비하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
5. 백라이트 유닛용 발포성 반사기재의 제조방법이며,
   기재를 발포시키는 공정과, 연신도 1.1~1.8로 연신함과 동시에 압축도 0.6~0.8로 압축시키는 공정을 구비하고,
   얻어진 기재의 폭방향의 복수 점을 측정하여 표면 요철정보를 얻고,
   상기 표면 요철정보의 최대 요철량을 산출하여, 상기 최대 요철량이 50 ㎛를 초과하는 것에 대하여,
   상기 표면 요철정보를 푸리에 변환하여 주파수와 강도의 관계를 취득하고,
   측정점수를 N점으로 했을 때 파장 128mm 이하에 대응하는 주파수에 대한 강도가 모두 0.6N/128 이하인 것을 합격으로 판정하는 것을 특징으로 하는 반사기재의 제조방법.
6. 삭제

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