KR101385481B1 - 터치 패널 장치 및 터치 패널의 터치 검출 방법 - Google Patents

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Abstract

오동작을 방지하고 조작감을 향상시킬 수 있는 것과 동시에 사용 메모리를 삭감할 수 있는 터치 패널 장치 및 터치 패널 터치 검출 방법을 얻는다.
터치 패널의 1 수평라인에서의 로우데이터를 취득하는 로우데이터 취득부와, 로우데이터 취득부에서 취득된 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를, 평균 베이스라인으로써 산출하는 평균 베이스라인 산출부와, 터치 패널의 1 수평라인의 각 센서에 대하여 취득된 로우데이터와 평균 베이스라인을 비교하여, 로우데이터가 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우에 터치 유로 판정하고, 로우데이터가 임계치 이하의 경우에 터치 무로 판정하는 터치 검출 처리부를 구비한다.

Description

터치 패널 장치 및 터치 패널의 터치 검출 방법{TOUCH PANEL DEVICE AND METHOD FOR DETECTING TOUCH OF TOUCH PANEL}
본 발명은 정전 용량 방식의 터치 패널 장치 및 터치 패널의 터치 검출 방법에 관한 것이다.
정전 용량 방식의 터치 패널은 손가락의 접촉 등에 의한 정전 용량의 변화를 측정하는 것에 의해 터치 위치를 검출하는 것이며, 예를 들면 휴대 전화나 태블릿 PC 등에 적용되고 있다.
도 6은 종래의 일반적인 터치 패널 장치를 나타내는 블록 구성도이다. 도 6에서 터치 패널 장치는 터치 패널(10), 터치 제어 IC(Integrated Circuit)(20), MCU(Micro Control Unit)(30), MCU(30)내에 베이스라인 데이터(후술함)의 전용으로 할당된 메모리 영역인 메모리(40) 및 호스트 컨트롤러(50)를 구비하고 있다. MCU(30)는 CPU와 메모리(1차 메모리)를 갖는 마이크로 프로세서로 구성되어 있다.
터치 패널(10)은 후술하는 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display; 이하 LCD)의 표면에 설치되어 터치 제어 IC(20)로부터의 제어 명령에 따라 각 센서의 로우데이터(raw data)를 아날로그 신호로 출력한다.
터치 제어 IC(20)는 MCU(30)로부터의 제어 명령에 따라 터치 패널(20)에 대한 센싱 방법 등을 제어하는 것과 동시에, 터치 패널(10)로부터의 아날로그 신호의 로우데이터를 디지털 신호로 변환하여 출력한다.
MCU(30)는 호스트 컨트롤러(50)로부터의 제어 명령에 따라 터치 제어 IC(20)의 동작을 제어하는 것과 동시에, 터치 제어 IC(20)로부터의 디지털 신호의 로우데이터가 입력된다. 또한, MCU(30)는 메모리(40)에 저장된 베이스라인 데이터를 읽어내는 것과 동시에, 입력된 로우데이터에 근거하여 베이스라인 데이터를 갱신한다.
MCU(30)는 다음번의 터치 검출 처리시 사용하기 위하여, 갱신 후의 베이스라인 데이터를 메모리(40)에 기입한다. 또한, MCU(30)는 터치 제어 IC(20)로부터의 로우데이터와 메모리(40)로부터 읽어낸 베이스라인 데이터와의 차분 데이터에 근거하여, 터치 검출 처리에 의해 터치의 유무를 검출하고, 터치 검출 신호를 호스트 컨트롤러(50)로 출력한다.
호스트 컨트롤러(50)는 MCU(30)의 동작을 제어하는 것과 동시에, MCU(30)로부터의 터치 검출 신호가 입력된다. 또한, 호스트 컨트롤러(50)는 LCD의 타이밍 컨트롤러(도시하지 않음)에 대하여 LCD의 액정 기입을 행하기 위한 제어 명령을 출력한다.
이하, 도 7의 플로우 챠트를 참조하여 도 6에 타나낸 터치 패널 장치의 MCU(30)의 동작에 대해 설명한다.
우선, MCU(30)는 터치 패널(10) 및 터치 제어 IC(20)로부터 터치 패널(10)의 모든 센서(1프레임의 모든 센서 교점)에 대하여 로우데이터를 일괄적으로 취득한다(단계 S51). 계속하여, MCU(30)는 메모리(40)에 저장된 베이스라인 데이터를 읽어낸다(단계 S52).
다음에, MCU(30)는 터치 제어 IC(20)로부터의 로우데이터와 메모리(40)로부터 읽어낸 베이스라인 데이터를 비교하고, 터치 패널(10)의 모든 센서에 대해 베이스라인 데이터를 갱신하고, 다음번의 터치 검출시 사용하기 위하여 갱신 후의 베이스라인 데이터를 메모리(40)에 기입한다(단계 S53).
구체적으로, MCU(30)는 터치 패널(10)의 각 센서에 대하여 로우데이터가 베이스라인 데이터보다 큰 경우 베이스라인 데이터를 증가시키고, 로우데이터가 베이스라인 데이터보다 작은 경우 베이스라인 데이터를 감소시키고, 로우데이터와 베이스라인 데이터가 동일한 경우 베이스라인 데이터를 갱신하지 않는다. 또한, 터치 검출시에는 베이스라인 데이터를 갱신하지 않는다.
계속하여, MCU(30)는 터치 제어 IC(20)로부터의 로우데이터로부터 메모리(40)로부터 읽어낸 베이스라인 데이터를 감산하고, 터치 패널(10)의 모든 센서에 대해 차분 데이터를 산출한다(단계 S54).
다음에, MCU(30)는 터치 제어 IC(20)로부터의 로우데이터와 단계 S54로 산출한 차분 데이터에 근거하여, 터치 패널(10)의 각 센서에 대해 터치 검출 처리를 실시하고, 터치 유무를 나타내는 터치 검출 신호를 호스트 컨트롤러(50)로 출력하고(단계 S55), 도 7의 처리를 종료한다.
구체적으로, MCU(30)는 터치 검출 처리에 대하여 스텝 S54로 산출한 차분 데이터가 임계치 이상의 경우 터치 유로 판정하고, 차분 데이터가 임계치 이하의 경우 터치 무로 판정한다.
즉, 제M(M은 정수) 프레임 기간에 있어서 로우데이터를 예시한 도 8에 나타낸 바와 같이, 로우데이터가 베이스라인 데이터로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우 터치 유로 판정된다.
여기서, 도 9의 단면도를 참조하여 종래의 일반적인 터치 패널(10)을 구비한 액정 표시 장치에 대하여 설명한다. 도 9에서 액정 표시 장치는 LCD(60)와, LCD(60)의 표면에 설치된 터치 패널(10)들로 구성되어 있다.
LCD(60)는 제1 편광판(61), TFT(Thin Film Transistor)측 유리 기판(62), TFT측 유리 기판(62)의 표면에 형성된 액정 구동 전극(63), 칼라 필터측 유리 기판(64) 및 제2 편광판(65)이 적층되어 구성되어 있다. 액정은 TFT측 유리 기판(62)과 액정 구동 전극(63) 사이에 주입되지만 도시를 생략하고 있다. 또한, 칼라 필터 및 배향막도 도시를 생략하고 있다.
터치 패널(10)은 제2 편광판(65)과 에어 갭을 개입시켜 설치된 쉴드 ITO(Indium Tin Oxide)(11), 센서 기판(12), 센서 기판(12)의 표면에 형성된 센서 ITO(13), 접착제(14) 및 접착제(14)에 의해서 접착되는 커버 유리(15)가 적층되어 구성되어 있다.
일반적으로, 액정 표시 장치에 대하여 LCD(60)의 액정 기입에 수반하여 노이즈가 발생한다. 이하, 노이즈를 LCD 노이즈라 한다. 그리고, 가장 큰 LCD 노이즈는 액정 구동 전극(63)에 공급되는 공통 전압(Vcom)의 변동에 의한 노이즈이다.
도 9에 나타낸 액정 표시 장치에서 칼라 필터측 유리 기판(64)은 약 0.4mm, 제2 편광판(65)은 약 0.2mm, 에어갭은 약 0.5mm, 센서 기판(12)은 약 0.5mm의 두께를 각각 갖고 있다.
이에 따라, LCD 노이즈 발생원이 되는 액정 구동 전극(63)으로부터 터치 패널(10)의 센서 ITO(13)까지는 약 1.6mm의 거리가 확보된다. 쉴드 ITO(11)가 존재하는 것과 동시에 쉴드 ITO(11)가 그라운드(GND)에 접속되어 있으므로, 도 9에 나타낸 액정 표시 장치는 LCD 노이즈에 대한 강한 구성이다.
한편, 최근에는 정전 용량 방식의 터치 센서의 박형화가 진행되고 있어 LCD 내부에 센서가 내장된 온 셀 방식의 터치 센서가 제안되고 있다. (예를 들면, 특허 문헌 1 참조)
도 10은 종래의 박형 터치 센서를 구비한 액정 표시 장치를 나타낸 단면도이다. 도 10에서 액정 표시 장치는 LCD(60A)와, LCD(60A)의 내부에 센서 ITO(13)가 형성된 박형 터치 패널(10A)로 구성되어 있다.
LCD(60A)는 제1 편광판(61), TFT측 유리 기판(62), TFT측 유리 기판(62)의 표면에 형성된 액정 구동 전극(63), 칼라 필터측 유리 기판(64), 제2 편광판(65)이 적층되어 구성되어 있다. 액정은 TFT측 유리 기판(62)과 액정 구동 전극(63) 사이에 주입되지만 도시를 생략하고 있다. 또한, 칼라 필터 및 배향막도 도시를 생략하고 있다.
터치 패널(10A)은 칼라 필터측 유리 기판(64)의 표면에 형성된 센서 ITO(13), 제2 편광판(65)의 표면에 설치된 접착제(14), 및 접착제(24)에 의해 접착되는 커버 유리(15)가 적층되어 구성되어 있다.
특허문헌 1: 일본특허공개 특개2010-232162호
그러나, 종래 기술에는 이하와 같은 문제점이 있다.
도 10에 나타낸 종래의 박형 터치 센서를 갖는 액정 표시 장치에서 칼라 필터측 유리 기판(64)이 약 0.4mm의 두께이므로, LCD 노이즈 발생원인이 되는 액정 구동 전극(63)으로부터 터치 센서(10A)의 센서 ITO(13)까지의 거리가 약 0.4mm가 된다.
즉, 도 10에 나타낸 종래의 액정 표시 장치는, 도 9에 나타낸 액정 표시 장치와 대비하여, 액정 구동 전극(63)과 센서 ITO(13)의 거리가 가깝게 된다. 또한, 도 9에 나타낸 쉴드 ITO가 생략되어 있는 것으로부터, LCD 노이즈의 영향을 받기 쉬운 구성이 되고 있다. 이로 인하여, 박막 터치 패널(10A)을 구비한 터치 패널 장치에 대해서는 LCD 노이즈의 영향에 의해 로우데이터가 급격하게 상하하는 경우가 있다.
이때, 박막 터치 패널(10A)를 구비한 터치 패널 장치에 대하여, 제M 프레임 기간에서의 로우데이터를 예시한 도 11에 나타낸 바와 같이 LCD 노이즈의 영향에 의해 로우데이터가 임계치 이하로 변동하는 것으로써, 터치되고 있음에도 불구하고 터치 무로 판정되는 경우가 있다.
이것은 베이스라인 데이터가 LCD 노이즈의 영향에 의한 로우데이터의 급격한 변동에 추종되어 있지 않은 것이 원인이다. 도 12는 종래의 박형 터치 패널 장치의 터치되고 있는 포인트에서의 로우데이터의 변동을 예시하는 설명도이다. 여기서, 이 포인트는 연속하여 터치가 계속되고 있는 것으로 한다.
도 12에 대하여, 로우데이터가 급격하게 베이스라인 데이터 이하가 된 후, 다음의 프레임 시간에서 베이스라인 데이터 또는 임계치 이상이 되고 있는 점이 있다. 이때, 베이스라인 데이터는 감소된 후 증가되거나, 터치 검출시라고 하여 갱신되지 않기 때문에 거의 일정한 값을 나타내게 된다.
즉, 로우데이터가 단시간에 큰 변동량으로 베이스라인 데이터의 상하를 추이하는 경우 베이스라인 데이터가 로우데이터의 급격한 변동을 추종하지 못하고, 거의 일정한 값을 계속 나타내게 된다. 그로 인하여, 로우데이터가 단시간에 크게 하부로 변동했을 경우 터치되고 있는 것에도 불구하고 터치 무로 판정되는 경우가 있다.
따라서, LCD 노이즈의 영향에 의해 오동작이 발생하는 것과 동시에 조작감이 저하아여 터치 패널 장치의 퍼포먼스가 저하된다고 하는 문제가 있었다.
또한, 갱신 후의 베이스라인 데이터는 다음번의 터치 검출 처리시에 사용하기 위하여 베이스라인 데이터 전용으로 할당된 메모리에 기입되므로, 이 메모리의 용량을 1프레임의 모든 센서 교점분으로 확보할 필요가 있는 문제도 있었다.
본 발명은 상기와 같은 과제를 해결하기 위하여 안출된 것으로, LCD 노이즈 영향을 저감함으로써 오동작을 방지하고 조작감을 향상시킬 수 있는 것과 동시에 사용 메모리를 삭감할 수 있는 터치 패널 장치 및 터치 패널 터치 검출 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명과 관련된 터치 패널 장치는, 정전 용량 방식의 터치 패널을 구비한 터치 패널 장치이며, 터치 패널의 1 수평라인에서의 로우데이터를 취득하는 로우데이터 취득부와, 로우데이터 취득부에서 취득된 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를, 평균 베이스라인으로 산출하는 평균 베이스라인 산출부와, 터치 패널의 1 수평라인의 각 센서에 대하여 취득된 로우데이터와 평균 베이스라인을 비교하여, 로우데이터가 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우에 터치 유로 판정하고, 로우데이터가 임계치 이하의 경우에 터치 무로 판정하는 터치 검출 처리부를 구비한 것이다.
또한, 본 발명과 관련된 터치 패널의 터치 검출 방법은, 정전 용량 방식의 터치 패널의 터치 검출 방법이며, 터치 패널의 1 수평라인에서의 로우데이터를 취득하는 로우데이터 취득 단계와, 로우데이터 취득 단계에서 취득된 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를 평균 베이스라인으로 산출하는 평균 베이스라인 산출 단계와, 터치 패널의 1 수평라인의 각 센서에 대하여 취득된 로우데이터와 평균 베이스라인을 비교하여, 로우데이터가 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우에 터치 유로 판정하고, 로우데이터가 임계치 이하의 경우에 터치 무로 판정하는 단계를 구비한 것이다.
본 발명과 관련된 터치 패널 장치 및 터치 패널의 터치 검출 방법에 의하면, 로우데이터 취득부는 터치 패널의 1 수평 라인에 있어서의 로우데이터를 취득하고, 평균 베이스라인 산출부는 로우데이터 취득부에서 취득된 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를 평균 베이스라인으로 산출하고, 터치 검출 처리부는 터치 패널의 1 수평라인의 각 센서에 대하여 취득된 로우데이터와 평균 베이스라인을 비교하여, 로우데이터가 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우에 터치 유로 판정하고, 로우데이터가 임계치 이하의 경우에 터치 무로 판정한다.
이에 따라, LCD 노이즈의 영향을 저감하는 것으로써, 터치 패널의 오동작을 방지하고 조작감을 향상시킬 수 있다. 또한, 종래 필요한 1 프레임의 모든 센서 교점분의 메모리가 불필요하므로 사용 메모리를 삭감할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예과 관련된 터치 패널 장치를 나타내는 블록 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 터치 패널 장치의 터치 패널에서 1 수평라인의 로우데이터 취득 위치를 나타내는 설명도이다.
도 3(a)~(c)는 도 2에 나타낸 각 취득 위치에서의 차분 데이터를 나타내는 설명도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 터치 패널 장치의 MCU 동작을 나타내는 플로우 챠트이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 터치 패널 장치의 제M 프레임 시간에서의 로우데이터를 예시하는 설명도이다.
도 6은 종래의 일반적인 터치 패널 장치를 나타내는 블록 구성도이다.
도 7은 종래의 일반적인 터치 패널 장치의 MCU 동작을 나타내는 플로우 챠트이다.
도 8은 종래의 일반적인 터치 패널 장치의 제M 프레임 시간에서의 로우데이터를 예시하는 설명도이다.
도 9는 종래의 일반적인 터치 패널을 구비한 액정 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 10은 종래의 박형 터치 패널을 구비한 액정 표시 장치를 나타내는 단면도이다.
도 11은 종래의 박형 터치 패널 장치의 제M 프레임 시간에서의 로우데이터를 예시하는 설명도이다.
도 12는 종래의 박형 터치 패널 장치의 터치되고 있는 포인트에서의 로우데이터 변동을 예시하는 설명도이다.
이하, 본 발명에 따른 터치 패널 장치 및 터치 패널의 터치 검출 방법의 바람직한 실시예에 대하여 도면을 이용하여 설명하지만, 바람직한 실시예로 한정되는 것은 아니다. 각 도면에서 동일하거나 상응하는 부분에 대해서는 동일 부호를 부여하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 터치 패널 장치를 나타내는 블록 구성도이다. 도 1에서 터치 패널 장치는 터치 패널(10A), 터치 제어 IC(20), MCU(30A) 및 호스트 컨트롤러(50)를 구비하고 있다.
터치 패널(10A)은 도 10에 나타낸 박형 터치 패널이나 도 9에 나타낸 터치 패널이다. 이와 달리, 터치 패널(10A)은 표시 장치내에 내장될 수 있다. 또, 터치 패널(10A)의 동작과, 터치 제어 IC(20) 및 호스트 컨트롤러(50)의 구성 및 동작은 도 6의 것과 동일하므로 설명을 생략한다.
MCU(30A)는 로우데이터 취득부(31), 평균 베이스라인 산출부(32) 및 터치 검출 처리부(33)를 구비하고 있다. MCU(30A)는 CPU와 프로그램을 격납한 메모리(1차 메모리)를 구비하는 마이크로 프로세서로 구성되어 있고, MCU(30A)를 구성하는 각 블록은 메모리에 소프트웨어로써 기억되고 있다.
도 2, 3을 참조하여 터치 패널(10A)에 중첩하는 LCD 노이즈에 대하여 설명한다. 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 터치 패널 장치의 터치 패널에서 1 수평라인의 로우데이터의 취득 위치를 나타내는 설명도이다. 도 3(a)~(c)는 도 2에 나타낸 각 취득 위치에 있어서의 차분 데이터를 나타내는 설명도이다.
구체적으로, 도 3(a)는 도 2의 취득 위치 N(N은 정수)에 있어서의 차분 데이터(로우데이터 - 베이스라인 데이터)를 나타내고, 도 3(b)는 도 2의 취득 위치 N+1에 있서의 차분 데이터를 나타내고, 도 3(c)는 도 2의 취득 위치 N+2에 있어서의 차분 데이터를 나타내고 있다. 도 2, 3에서는 취득 위치 N+2가 터치되고 있는 경우에 대하여 설명한다.
도 2, 3에서 차분 데이터의 변동은 터치 위치의 오프셋 성분을 제외하고 고려하면, 각 취득 위치에서 동일한 형상이 되고 있음을 알 수 있다. 즉, 터치 패널(10A)의 1수평라인에 대하여 터치 패널(10A)에 동일한 LCD가 중첩하고 있는 것을 알 수 있다. 따라서, 터치 패널(10A)의 1수평라인 단위로 LCD 노이즈의 영향을 저감하는 것을 고려한다.
전술한 도 8, 도 11을 참조하면, 1 수평라인상의 각 센서의 로우데이터는 거의 같은 값을 받고 있음을 알 수 있다. 여기서, 터치 패널(10A)의 1 수평라인에 있어서의 로우데이터의 평균치를 베이스라인(이하, 평균 베이스라인이라 함)으로 하여, 로우데이터와 평균 베이스라인과의 차분 데이터에 근거하여 터치 유무를 검출하는 것을 고려할 수 있다.
이하, 도 4의 플로우 챠트를 참조하면서 도 1에 나타낸 터치 패널 장치의 MCU(30A)의 동작에 대하여 설명한다.
로우데이터 취득부(31)는 터치 패널(10A)의 1 수평라인의 로우데이터를 취득한다(단계 S1).
평균 베이스라인 산출부(32)는 단계 S1에서 취득된 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를 산출한다(단계 S2). 평균 베이스라인 산출부(32)는 산출한 로우데이터의 평균치를 1 수평라인의 평균 베이스라인으로 MCU(30A)내의 메모리(1차 메모리)에 저장한다. 이 1차 메모리는 범용 메모리 영역에 있고, 별도 전용으로 할당할 필요가 없는, 이외에도 사용 가능한 메모리이다.
이와 같이, 종래는 다음번의 터치 검출 처리시 사용하기 위해, 갱신 후의 베이스라인 데이터를 베이스라인 전용으로 할당했던 메모리(도 6의 메모리 40)에 1프레임의 모든 센서 교점분을 기입할 필요가 있었지만, 본 발명은 산출한 평균 베이스라인을 MCU(30A)내의 1차 메모리에 저장하는 것으로, 베이스라인 데이터를 다음번의 터치 검출 처리까지 보유할 필요가 없으므로 사용 메모리를 삭감할 수 있다.
평균 베이스라인 산출부(32)는 서로 이웃되는 로우데이터의 차분이 임계치 이상인 경우, 즉 터치 검출시 해당 로우데이터를 평균치의 산출로부터 제외한다. 이것에 의해 터치 미검출시 기준이 되는 평균 베이스라인을 고정밀도로 산출할 수 있다.
터치 검출 처리부(33)는 터치 제어 IC(20)로부터의 로우데이터와 단계 S2로 산출한 평균 베이스라인에 근거하여 터치 패널(10A)의 1 수평라인의 각 센서에 대한 터치 검출 처리를 실시하고, 터치 유무를 나타내는 터치 검출 신호를 호스트 컨트롤러(50)로 출력하고(단계 S3), 도 4의 처리를 종료한다.
구체적으로, 터치 검출 처리부(33)는 제M(M은 정수) 프레임 시간에 있어서의 로우데이터를 예시한 도 5에 나타낸 바와 같이, 로우데이터가 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우 터치 유로 판정하고, 로우데이터가 임계치 이하인 경우 터치 무로 판정한다.
로우데이터 취득부(31), 평균 베이스라인 산출부(52) 및 터치 검출 처리부(33)는 계속되는 사이클에서 다음 수평라인에 대하여 순차적으로 도 4에 나타낸 처리를 반복적으로 실행한다.
이상과 같이, 실시예에 의하면, 로우데이터 취득부는 터치 패널의 1 수평 라인에 있어서의 로우데이터를 취득하고, 평균 베이스라인 산출부는 로우데이터 취득부에서 취득된 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를 평균 베이스라인으로 산출하고, 터치 검출 처리부는 터치 패널의 1 수평라인의 각 센서에 대하여 취득된 로우데이터와 평균 베이스라인을 비교하여, 로우데이터가 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우에 터치 유로 판정하고, 로우데이터가 임계치 이하의 경우에 터치 무로 판정한다.
이에 따라, LCD 노이즈의 영향을 저감하는 것으로써, 터치 패널의 오동작을 방지하고 조작감을 향상시킬 수 있다. 또한, 종래 필요한 1 프레임의 모든 센서 교점분의 메모리가 불필요하므로 사용 메모리를 삭감할 수 있다.
10, 10A: 터치 패널 11: 쉴드 ITO
12: 센서 기판 13: 센서 ITO
14: 접착제 15: 커버 유리
20: 터치 제어 IC 30, 30A: MCU
31: 로우데이터 취득부 32: 평균 베이스라인 산출부
33: 터치 검출 처리부 40: 메모리
50: 호스트 컨트롤러 61: 제1 편광판
62: TFT측 유리 기판 63: 액정 구동 전극
64: 칼라필터측 유리 기판 65: 제2 편광판

Claims (4)

  1. 정전 용량 방식의 터치 패널을 구비한 터치 패널 장치에 있어서,
    상기 터치 패널의 1 수평라인의 로우데이터를 취득하는 로우데이터 취득부와,
    상기 로우데이터 취득부로부터의 상기 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를 평균 베이스라인으로 산출하는 평균 베이스라인 산출부와,
    상기 터치 패널의 1 수평라인의 각 센서에 대하여 취득된 로우데이터와 상기 평균 베이스라인을 비교하여, 상기 로우데이터가 상기 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우에 터치 유로 판정하고, 상기 로우데이터가 상기 임계치 이하의 경우에 터치 무로 판정하는 터치 검출 처리부를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 평균 베이스라인 산출부는
    서로 이웃한 로우데이터의 차분이 상기 임계치 이상인 경우 해당 로우데이터를 평균치의 산출로부터 제외하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 장치.
  3. 정전 용량 방식의 터치 패널의 터치 검출 방법에 있어서,
    상기 터치 패널의 1 수평라인에 있어서의 로우데이터를 취득하는 로우데이터 취득 단계와,
    상기 로우데이터 취득 단계에서 취득된 상기 1 수평라인의 로우데이터의 평균치를 평균 베이스라인으로 산출하는 평균 베이스라인 산출 단계와,
    상기 터치 패널의 1 수평라인의 각 센서에 대하여 취득된 상기 로우데이터와 상기 평균 베이스라인을 비교하여, 상기 로우데이터가 상기 평균 베이스라인으로부터 일정한 거리에 있는 임계치 이상인 경우에 터치 유로 판정하고, 상기 로우데이터가 상기 임계치 이하의 경우에 터치 무로 판정하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 터치 검출 방법.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 평균 베이스라인 산출 단계는
    서로 이웃한 로우데이터의 차분이 상기 임계치 이상인 경우 해당 로우데이터를 평균치의 산출로부터 제외하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 터치 검출 방법.
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