KR101372413B1 - 패턴 기판 제조방법 - Google Patents
패턴 기판 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101372413B1 KR101372413B1 KR1020120113235A KR20120113235A KR101372413B1 KR 101372413 B1 KR101372413 B1 KR 101372413B1 KR 1020120113235 A KR1020120113235 A KR 1020120113235A KR 20120113235 A KR20120113235 A KR 20120113235A KR 101372413 B1 KR101372413 B1 KR 101372413B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- electrolyte
- manufacturing
- nanoparticles
- pattern
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 123
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims abstract description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 41
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 34
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 13
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 10
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 9
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 7
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 claims description 4
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 4
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 4
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 claims description 4
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 claims description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims description 3
- VVJKKWFAADXIJK-UHFFFAOYSA-N Allylamine Chemical compound NCC=C VVJKKWFAADXIJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 claims description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 12
- 229920001467 poly(styrenesulfonates) Polymers 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 229920000144 PEDOT:PSS Polymers 0.000 description 2
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 1
- 229920002518 Polyallylamine hydrochloride Polymers 0.000 description 1
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000000089 atomic force micrograph Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000005345 chemically strengthened glass Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000001338 self-assembly Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/20—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/20—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
- H10K71/231—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by etching of existing layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/621—Providing a shape to conductive layers, e.g. patterning or selective deposition
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K77/00—Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
- H10K77/10—Substrates, e.g. flexible substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/50—Photovoltaic [PV] devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/87—Light-trapping means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/85—Arrangements for extracting light from the devices
- H10K50/854—Arrangements for extracting light from the devices comprising scattering means
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
본 발명은 패턴 기판 제조방법에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 유기태양전지를 포함하는 광전지 또는 유기발광소자의 광학적 성능을 향상시킬 수 있는 패턴 기판 제조방법에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명은 기판을 전해질 처리하여 상기 기판의 표면에 정전기력을 발생시키는 제1 단계; 상기 기판 표면에 나노 파티클을 흡착시키는 제2 단계; 상기 나노 파티클을 에칭 마스크로 하여 상기 기판 표면을 식각하는 제3 단계; 및 상기 기판 표면에 남겨져 있는 상기 나노 파티클을 제거하는 제4 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법을 제공한다.
이를 위해, 본 발명은 기판을 전해질 처리하여 상기 기판의 표면에 정전기력을 발생시키는 제1 단계; 상기 기판 표면에 나노 파티클을 흡착시키는 제2 단계; 상기 나노 파티클을 에칭 마스크로 하여 상기 기판 표면을 식각하는 제3 단계; 및 상기 기판 표면에 남겨져 있는 상기 나노 파티클을 제거하는 제4 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법을 제공한다.
Description
본 발명은 패턴 기판 제조방법에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 유기태양전지를 포함하는 광전지 또는 유기발광소자의 광학적 성능을 향상시킬 수 있는 패턴 기판 제조방법에 관한 것이다.
현재 각광받고 있는 차세대 기술 및 제품에는 유기물(organic materials)을 기반으로 한 유기 광 소자들이 있다. 예를 들어, 대표적인 유기 광 소자로는 모바일 디스플레이 및 SSL(solid state lighting)에 적용되고 있는 유기발광소자(organic light emitting diode)와 유기물을 흡수층으로 적용한 유기태양전지(organic solar cell)를 들 수 있다. 현재, 이들 소자들은 유기물 자체의 집중적인 연구 결과, 상당한 성능을 가지는 유기물질들이 개발되고 있다.
하지만, 이들 유기 광 소자들을 구성하기 위해서는 유기물과 무기소재와의 결합을 피할 수 없다. 유기 광 소자에 사용되는 대표적인 무기소재로는 투명 전극, 금속 반사 전극, 유리 기판 등이 있는데, 특히, 투명한 무기소재의 경우 굴절률의 차이 등으로 인해 광 손실 등이 상당하며 이에 따른 광 효율 향상에 많은 제약이 생기게 된다.
이러한 이유로 인하여 새로운 유기물 개발도 중요한 가운데 무기소재를 기반으로 하는 광 효율 향상을 위한 연구 개발도 지속적으로 요구되고 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 유기태양전지를 포함하는 광전지 또는 유기발광소자의 광학적 성능을 향상시킬 수 있는 패턴 기판 제조방법을 제공하는 것이다.
이를 위해, 본 발명은 기판을 전해질 처리하여 상기 기판의 표면에 정전기력을 발생시키는 제1 단계; 상기 기판 표면에 나노 파티클을 흡착시키는 제2 단계; 상기 나노 파티클을 에칭 마스크로 하여 상기 기판 표면을 식각하는 제3 단계; 및 상기 기판 표면에 남겨져 있는 상기 나노 파티클을 제거하는 제4 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법을 제공한다.
여기서, 상기 전해질 처리는, 상기 기판을 양(+)으로 대전되어 있는 제1 전해질이 녹아 있는 용액에 담근 후 린싱하는 제1 과정, 상기 제1 과정 후 상기 기판을 음(-)으로 대전되어 있는 제2 전해질이 녹아 있는 용액에 담근 후 린싱하는 제2 과정, 및 상기 제2 과정 후 상기 기판을 상기 제1 전해질이 녹아 있는 용액에 담근 후 린싱하는 제3 과정을 포함할 수 있다.
이때, 상기 제1 전해질 및 상기 제2 전해질은 수용액에 녹는 유기물 계열의 물질일 수 있다.
특히, 상기 제1 전해질은 PAH(poly(allylamine hydrochloride))이고, 상기 제2 전해질은 PSS(poly(styrene sulfonate))일 수 있다.
또한, 상기 제1 전해질 및 상기 제2 전해질은 NaCl 용액에 녹아 있을 수 있다.
그리고 상기 전해질 처리는, 상기 제3 과정 후 상기 기판을 건조시키는 제4 과정을 더 포함할 수 있다.
아울러, 상기 제2 단계는, 상기 기판을 상기 나노 파티클이 분산되어 있는 수용액에 침지시키는 과정, 및 상기 기판을 상기 수용액으로부터 꺼내 건조시키는 과정을 포함할 수 있다.
그리고 상기 나노 파티클은 SiO2, TiO2 및 Nb2O3를 포함하는 산화물 계열의 물질 중 어느 하나 또는 폴리머 계열의 물질일 수 있다.
또한, 상기 제1 단계 전 상기 기판의 표면을 산소 플라즈마 처리할 수 있다.
그리고 상기 기판은 TCO 기판, 사파이어 기판, 질화갈륨 기판 및 유리 기판 중 어느 하나의 기판일 수 있다.
본 발명에 따르면, 기판의 표면을 전해질 처리하고, 나노 파티클을 흡착시킨 후 이를 에칭 마스크로 하여 기판의 표면을 패터닝함으로써, 유기태양전지의 투명 전극 또는 유기발광소자의 광추출층으로 적용 시 적용된 유기 광 소자의 광 효율을 향상시킬 수 있다.
도 1 내지 도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법을 공정 순으로 나타낸 공정 모식도.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 사용되는 전해질들의 화학 구조를 나타낸 도면.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에서 실리카 나노 파티클의 분포 형상을 나타낸 이미지.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에서 패턴 기판 표면의 에칭 후 형상을 나타낸 이미지.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 따라 제조된 패턴 기판의 간접적인 광 효율을 측정하기 위해 구성한 모식도.
도 13은 도 12의 구조에서 패턴 기판의 에칭 깊이에 따른 파장-반사율 변화를 나타낸 그래프.
도 14는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 따라 제조된 패턴 기판의 에칭 깊이에 따른 전류-전압 변화를 나타낸 그래프.
도 15는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 따라 제조된 패턴 기판의 표면과 비교 예에 따라 제조된 패턴 기판의 표면을 AFM으로 측정한 이미지.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 사용되는 전해질들의 화학 구조를 나타낸 도면.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에서 실리카 나노 파티클의 분포 형상을 나타낸 이미지.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에서 패턴 기판 표면의 에칭 후 형상을 나타낸 이미지.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 따라 제조된 패턴 기판의 간접적인 광 효율을 측정하기 위해 구성한 모식도.
도 13은 도 12의 구조에서 패턴 기판의 에칭 깊이에 따른 파장-반사율 변화를 나타낸 그래프.
도 14는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 따라 제조된 패턴 기판의 에칭 깊이에 따른 전류-전압 변화를 나타낸 그래프.
도 15는 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 따라 제조된 패턴 기판의 표면과 비교 예에 따라 제조된 패턴 기판의 표면을 AFM으로 측정한 이미지.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법에 대해 상세히 설명한다.
아울러, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단된 경우 그 상세한 설명은 생략한다.
본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법은 유기태양전지를 포함하는 광전지의 투명전극용 기판 또는 유기발광소자의 광추출 기판에 적용 가능한 표면에 패턴에 형성되어 있는 기판을 제조하는 방법이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 패턴 기판 제조방법은, 먼저, 기판(100)을 준비한다. 여기서, 준비되는 기판(100)은 TCO(transparent conductive oxide) 기판, 사파이어 기판, 질화갈륨 기판 및 유리 기판 중 어느 하나의 기판일 수 있다. 이중, TCO 기판으로는 ITO(Indium Tin Oxide), ZnO 등이 사용될 수 있다. 이러한 기판(100)은 지지체(미도시) 상에 증착된 형태일 수 있다. 이때, 지지체(미도시) 로는 광 투과율이 우수하고 기계적 물성이 우수한 물질, 예컨대, 열경화 또는 UV 경화가 가능한 유기필름인 고분자 계열의 물질이나 화학강화유리인 소다라임 유리(SiO2-CaO-Na2O) 또는 알루미노실리케이트계 유리(SiO2-Al2O3-Na2O)가 사용될 수 있다. 그리고 기판(100)은 이러한 지지체(미도시) 상에 스퍼터링이나 화학기상증착 공정에 의해 증착될 수 있다. 이때, 본 발명의 실시 예에 따른 기판(100)이 유리 기판인 경우 지지체(미도시) 자체가 기판(100)으로 사용될 수 있다.
다음으로, 준비된 기판(100)을 전해질 처리한다. 여기서, 기판(100)을 전해질 처리하는 이유는 기판(100) 표면에 정전기력을 발생시켜, 후속 공정 시 기판(100) 표면에, 정전기적인 인력을 매개로 나노 파티클(도 5의 130)을 흡착시키기 위함이다. 본 발명의 실시 예에서는 층상 자가 정열법(layer by layer self-assembly method)에 의해 기판(100)과 전해질 사이에 서로 반대의 전하를 형성하게 하여 정전기적인 인력을 발생시킬 수 있다.
이때, 본 발명의 실시 예에서는 기판(100)을 전해질 처리하기 전 기판(100) 표면을 산소(O2) 플라즈마 처리할 수 있다. 이와 같이, 기판(100)의 표면을 산소 플라즈마 처리하면, 기판(100)의 표면에 산소가 풍부해지고, 이는 결국, 기판(100) 표면을 더욱 더 음의 전하(negatively charged)가 많이 분포되는 상태로 만들게 된다.
그 다음, 도 2에 도시한 바와 같이, 양(+)으로 대전되어 있는 제1 전해질(110)이 녹아 있는 용액에 산소 플라즈마 처리된 기판(100)을 담근 후 탈이온수(de-ionized water)로 린싱(rinsing) 한다. 이때, 제1 전해질(110)로는 수용액에 녹는 유기물 계열의 물질을 사용할 수 있는데, 본 발명의 실시 예에서는 도 9의 (a)와 같은 화학 구조를 갖는 PAH(poly(allylamine hydrochloride))를 제1 전해질(110)로 사용할 수 있다.
그 다음, 도 3에 도시한 바와 같이, 음(-)으로 대전되어 있는 제2 전해질(120)이 녹아 있는 용액에 다시 기판(100)을 담근 후 탈이온수로 린싱한다. 이때, 제2 전해질(120)로는 제1 전해질(110)과 마찬가지로 수용액에 녹는 유기물 계열의 물질을 사용할 수 있고, 특히, 도 9의 (b)와 같은 화학 구조를 갖는 PSS(poly(styrene sulfonate))를 제2 전해질(120)로 사용할 수 있다.
그 다음, 도 4에 도시한 바와 같이, 다시, 양(+)으로 대전되어 있는 제1 전해질(110)이 녹아 있는 용액에 기판(100)을 담근 후 탈이온수로 린싱한 다음, 이를 건조시킨다. 여기서, 제1 전해질(110)과 제2 전해질(120)은 NaCl 용액에 녹아있는 형태로 준비될 수 있다.
본 발명의 실시 예와 같이, 서로 다른 전하를 띄는 전해질 용액을 번갈아 사용하는 이유는 후속 공정을 통해 기판(100)의 표면에 흡착되는 나노 파티클(도 5의 130)을 단층(monolayer)으로 균일하게 그리고 랜덤하게 분포시키기 위함이다.
다음으로, 도 5에 도시한 바와 같이, 전해질 처리를 통해 표면에 정전기력이 발생된 기판(100)의 표면에, 정전기적인 인력을 매개로 나노 파티클(130)을 흡착시킨다. 본 발명의 실시 예에서는 나노 파티클(130)로 SiO2, TiO2 및 Nb2O3를 포함하는 산화물 계열의 물질 중 어느 하나를 사용하거나 PS(polystyrene)과 같은 폴리머 계열의 물질을 사용할 수 있다.
예를 들어, 나노 파티클(130)로 SiO2를 사용한 경우, 나노 파티클(130)을 흡착시키는 공정은, 먼저, 약 500㎚ 직경을 가지는 나노 파티클(130)이 분산된 수용액에 전해질 처리가 된 기판(100)을 침지시킨 후 약 30분 ~ 1시간 동안 유지한다. 이때, 침지 과정에서 기판(100)의 표면에는 나노 파티클(130)이 정전기적인 인력에 의해 흡착되어 도 10에 나타낸 바와 같이, 랜덤하게 분포된다. 여기서, 기판(100)에 흡착되는 나노 파티클(130)의 밀도는 전해질 처리 공정 시 제1 전해질(110)과 제2 전해질(120)이 용해되어 있는 NaCl 용액의 몰(㏖) 농도에 따라 결정된다.
그 다음, 이러한 기판(100)을 수용액으로부터 꺼내 약 100℃ 온도에서 충분히 건조시킨다.
다음으로, 도 6 및 도 7에 도시한 바와 같이, 에칭 공정을 통해 나노 파티클(130)을 에칭 마스크로 하여 기판(100) 표면을 식각하고, 에칭 후 기판(100) 표면에 남겨져 있는 나노 파티클(130)을 제거하면, 도 8 및 도 11에 나타낸 바와 같이, 표면에 나노 및 마이크로 크기의 요철 구조(101)가 형성되어 있는 즉, 표면에 패턴이 형성되어 있는 패턴 기판(100a)이 만들어진다. 여기서, 기판(100)으로 TCO 기판을 사용한 경우 RIE(reactive ion etching process) 방식으로 에칭을 진행할 수 있다. 이때, 에칭 가스로는 Ar/O2의 혼합 가스가 사용된다. 그리고 기판(100)으로 사파이어 기판 또는 질화갈륨 기판을 사용한 경우에는 ICP(inductively coupled plasma process) 방식으로 에칭을 진행해야 하며, 이때, 에칭 가스로는 BCl4가 사용될 수 있다. 또한, 기판(100)으로 유리 기판을 사용한 경우 TCO 기판을 사용한 경우와 마찬가지로 RIE 방식으로 에칭을 진행할 수 있는데, 다만, 에칭 가스로 CF4를 사용하면, 에칭 효율을 향상시킬 수 있다.
여기서, 나노 파티클(130)과 기판(100) 표면과의 흡착력은 전해질에 의한 전하 크기가 아주 작으므로, 울트라-소닉(ultra-sonic), 물리적인 스터링(stirring) 및 러빙(rubbing)과 같은 방법을 통해, 기판(100)의 표면으로부터 실리카 나노 파티클(130)을 쉽게 제거할 수 있다.
한편, 본 발명에서는 ITO 박막의 표면 패터닝에 의한 광 효율 향상의 간접적인 효과를 확인하기 위해서 도 12에 도시한 바와 같이, PEDOT: PSS(poly(3,4-ethylenedioxythiophene) poly(styrenesulfonate)) 물질을 반사층으로 가정하여 반사율을 측정하였다. 도 13의 파장-반사율 변화 그래프를 보면, 패터닝되지 않은 ITO(Ref. ITO)를 기준으로, 가시광선 영역에서 에칭 두께에 따라 반사율이 점차 낮아지는 것으로 확인되었고, 특히, 에칭 깊이가 60㎚인 ITO의 경우 반사율이 가장 낮게 측정되었다. 여기서, 반사율이 낮다는 것은 PEDOT: PSS 물질을 통해 외부로 빠져 나간 빛이 더 많다는 것을 의미하고, 나아가, 유기태양전지의 투명전극으로 적용 시 유기태양전지의 광 흡수층에 더 많은 빛이 전달된다는 것을 의미한다.
또한, 도 14는 ITO 에칭 깊이에 따른 광전 변환 효율(power conversion efficiency)을 나타낸 그래프로, 패터닝되지 않은 ITO(Ref. ITO)에 비해 패터닝된 ITO의 경우 효율이 더 좋게 나타났으며, 30㎚의 에칭 깊이를 가지는 경우 가장 좋은 효율을 나타내는 것으로 확인되었다. 그리고 그래프를 보면, 개방 전압(Voc)은 약 0.58eV로 모든 샘플에 동일하지만, ITO 표면의 에칭 두께에 따른 단락 전류(Jsc)는 각기 다름을 알 수 있다. 이는, ITO 표면을 기준으로 깊이 방향으로 더 깊게 에칭된 ITO에 의해 더 많은 빛이 광 흡수층으로 들어와 더 많은 전류로 변환되었음을 의미한다.
아울러, 도 13의 반사율과 도 14의 광전 변환 효율을 비교해 보면, 에칭 깊이가 30㎚ 이상에서는 반사율과 광전 변환 효율의 선행적인(linear) 관계가 성립되지 않는데, 이는, 광 흡수층을 구성하는 정공 수송층(hole transport layer)의 두께가 30㎚ 정도로, 30㎚ 이상의 에칭 깊이를 가지는 유기태양전지의 경우 유기태양전지의 광흡수층과 ITO 박막의 직접적인 접촉이 이루어져 소자 성능의 향상을 방해할 가능성이 크기 때문이다.
상기와 같은 실험 분석 결과를 토대로, 본 발명의 실시 예에 따라, 유리기판 위에 코팅된 ITO 표면에 랜덤한 분포를 가지는 요철 구조를 형성시켜주면, 서로 다른 굴절률을 가지는 매질 계면에서 광이 투과할 때에 더 많은 광이 빠져나갈 수 있어, 유기태양전지의 투명 전극으로 적용 시 광 효율을 향상시킬 수 있으며, 유기발광소자의 광효율 향상을 위해 이의 광추출층으로도 적용 가능하다.
아울러, 도 15는 ITO 박막 표면에 대해 본 발명의 실시 예에 따라 복수 회 전해질 처리한 후 에칭하고 난 다음의 ITO 박막 표면과 비교 예로, 일 회 전해질 처리한 후 에칭하고 한 다음의 ITO 박막 표면을 AFM(Atomic Force Microscope)으로 측정한 이미지로, 복수 회 전해질 처리한 경우(a) 비교 예(b)보다 상대적으로 균일한 구조를 나타내는 것으로 확인되었다. 즉, 비교 예에 따른 경우(b)에는 표면 상태가 상대적으로 불균일하고, 에칭된 표면들이 부분적으로 뭉쳐있는 것으로 확인되었다.
한편, 하기의 표 1은 본 발명의 광전 변환 효율 측정과 관련된 인자들을 나타낸 표이다.
Ref | 10㎚ etched ITO |
20㎚ etched ITO |
30㎚ etched ITO |
60㎚ etched ITO |
|
Etching 두께(㎚) | 0 | 10 | 20 | 30 | 60 |
면저항(Ω/㎠) | 7.80 | 7.89 | 7.93 | 8.24 | 8.57 |
Jsc(㎃/㎠) | 9.19 | 9.61 | 9.67 | 9.99 | 9.72 |
Voc(V) | 0.648 | 0.652 | 0.644 | 0.644 | 0.640 |
FF(%) | 64.5 | 63.3 | 66.5 | 66.0 | 61.4 |
Efficiency(%) | 3.80 | 4.03 | 4.12 | 4.23 | 3.83 |
표 1을 보면, 에칭 깊이가 증가할수록 면저항은 아주 미미하게 점차 증가하지만, 전체적인 효율은 에칭 깊이가 30㎚일 때 가장 우수하게 나타났으며, 에칭 깊이가 이보다 더 깊어질 경우에는 오히려 효율이 감소되는 것으로 나타났다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100: 기판 101: 요철 구조
110: 제1 전해질 120: 제2 전해질
130: 나노 파티클 100a: 패턴 기판
110: 제1 전해질 120: 제2 전해질
130: 나노 파티클 100a: 패턴 기판
Claims (10)
- 기판을 전해질 처리하여 상기 기판의 표면에 정전기력을 발생시키는 제1 단계;
상기 기판 표면에 나노 파티클을 흡착시키는 제2 단계;
상기 나노 파티클을 에칭 마스크로 하여 상기 기판 표면을 식각하는 제3 단계; 및
상기 기판 표면에 남겨져 있는 상기 나노 파티클을 제거하는 제4 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제1항에 있어서,
상기 전해질 처리는,
상기 기판을 양(+)으로 대전되어 있는 제1 전해질이 녹아 있는 용액에 담근 후 린싱하는 제1 과정,
상기 제1 과정 후 상기 기판을 음(-)으로 대전되어 있는 제2 전해질이 녹아 있는 용액에 담근 후 린싱하는 제2 과정, 및
상기 제2 과정 후 상기 기판을 상기 제1 전해질이 녹아 있는 용액에 담근 후 린싱하는 제3 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제2항에 있어서,
상기 제1 전해질 및 상기 제2 전해질은 수용액에 녹는 유기물 계열의 물질인 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제3항에 있어서,
상기 제1 전해질은 PAH(poly(allylamine hydrochloride))이고, 상기 제2 전해질은 PSS(poly(styrene sulfonate))인 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제4항에 있어서,
상기 제1 전해질 및 상기 제2 전해질은 NaCl 용액에 녹아 있는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제2항에 있어서,
상기 전해질 처리는,
상기 제3 과정 후 상기 기판을 건조시키는 제4 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제1항에 있어서,
상기 제2 단계는,
상기 기판을 상기 나노 파티클이 분산되어 있는 수용액에 침지시키는 과정, 및
상기 기판을 상기 수용액으로부터 꺼내 건조시키는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제1항에 있어서,
상기 나노 파티클은 SiO2, TiO2 및 Nb2O3를 포함하는 산화물 계열의 물질 중 어느 하나 또는 폴리머 계열의 물질인 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 단계 전 상기 기판의 표면을 산소 플라즈마 처리하는 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
- 제1항에 있어서,
상기 기판은 TCO 기판, 사파이어 기판, 질화갈륨 기판 및 유리 기판 중 어느 하나의 기판인 것을 특징으로 하는 패턴 기판 제조방법.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120113235A KR101372413B1 (ko) | 2012-10-12 | 2012-10-12 | 패턴 기판 제조방법 |
EP13186274.0A EP2720285B1 (en) | 2012-10-12 | 2013-09-27 | Method of fabricating patterned substrate |
US14/048,772 US8927310B2 (en) | 2012-10-12 | 2013-10-08 | Method of fabricating patterned substrate |
CN201310475637.1A CN103730577A (zh) | 2012-10-12 | 2013-10-12 | 制造图案化基板的方法 |
JP2013214940A JP6242147B2 (ja) | 2012-10-12 | 2013-10-15 | パターン基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120113235A KR101372413B1 (ko) | 2012-10-12 | 2012-10-12 | 패턴 기판 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101372413B1 true KR101372413B1 (ko) | 2014-03-10 |
Family
ID=49303754
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120113235A KR101372413B1 (ko) | 2012-10-12 | 2012-10-12 | 패턴 기판 제조방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8927310B2 (ko) |
EP (1) | EP2720285B1 (ko) |
JP (1) | JP6242147B2 (ko) |
KR (1) | KR101372413B1 (ko) |
CN (1) | CN103730577A (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101800849B1 (ko) * | 2016-01-27 | 2017-11-23 | 서강대학교산학협력단 | 염료감응 태양전지용 산란층, 및 이의 제조 방법 |
WO2019054555A1 (ko) * | 2017-09-14 | 2019-03-21 | 한국과학기술연구원 | 반도체 기판을 텍스쳐링하는 방법과, 이 방법에 의해 제조된 반도체 기판, 그리고, 이러한 반도체 기판을 포함하는 태양 전지 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104319328A (zh) * | 2014-10-14 | 2015-01-28 | 中山大学 | 一种GaN基LED芯片表面粗化的方法 |
US10121919B2 (en) * | 2017-01-06 | 2018-11-06 | Nanoclear Technologies Inc. | Control of surface properties by deposition of particle monolayers |
US10017384B1 (en) | 2017-01-06 | 2018-07-10 | Nanoclear Technologies Inc. | Property control of multifunctional surfaces |
US10319868B2 (en) | 2017-01-06 | 2019-06-11 | Nanoclear Technologies Inc. | Methods and systems to boost efficiency of solar cells |
DE102017121245B3 (de) | 2017-09-13 | 2018-12-20 | Westfälische Wilhelms-Universität Münster | Strukturierung von OLED-Schichten und entsprechend strukturierte OLEDs |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3094880B2 (ja) * | 1995-03-01 | 2000-10-03 | 住友金属工業株式会社 | 有機化合物の結晶化制御方法およびそれに用いる結晶化制御用固体素子 |
KR20080020827A (ko) * | 2006-09-01 | 2008-03-06 | 삼성전자주식회사 | 고밀도 패턴 미디어용 나노 템플릿의 형성 방법 및 이를이용한 고밀도 자기 저장매체 |
KR20120054554A (ko) * | 2010-11-19 | 2012-05-30 | 한국생산기술연구원 | 콜로이달 나노 입자를 이용한 바이오 필름 형성 방지용 기판의 제조방법, 이로부터 제조된 기판 및 상기 기판을 포함하는 수질 검사 센서 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000261008A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-09-22 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池用シリコン基板の粗面化方法 |
KR100577693B1 (ko) * | 2004-05-20 | 2006-05-10 | 광주과학기술원 | 콜로이드 다중 입자층 구조를 이용한 반사 방지막과 이의제조방법 |
JP2006065302A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-03-09 | Dainippon Printing Co Ltd | 反射防止構造およびこの反射防止構造を有する光学部材 |
JP4253302B2 (ja) * | 2005-01-06 | 2009-04-08 | 株式会社東芝 | 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法 |
DE102007056924A1 (de) * | 2007-08-31 | 2009-03-05 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsemittierendes Bauelement |
CN101186447A (zh) * | 2007-12-14 | 2008-05-28 | 北京航空航天大学 | 氧化锌自组装颗粒膜的制备方法 |
JP2009231500A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池用基板とその製造方法および太陽電池の製造方法 |
JP5042110B2 (ja) * | 2008-04-22 | 2012-10-03 | サルナス、ペトロニス | ナノ細孔の製造 |
US7957621B2 (en) * | 2008-12-17 | 2011-06-07 | 3M Innovative Properties Company | Light extraction film with nanoparticle coatings |
US20100224236A1 (en) * | 2009-03-03 | 2010-09-09 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Nanohole Film Electrodes |
TW201300310A (zh) * | 2011-06-28 | 2013-01-01 | Aceplux Optotech Inc | 具有奈米圖案的磊晶基板及發光二極體的製作方法 |
-
2012
- 2012-10-12 KR KR1020120113235A patent/KR101372413B1/ko active IP Right Grant
-
2013
- 2013-09-27 EP EP13186274.0A patent/EP2720285B1/en not_active Not-in-force
- 2013-10-08 US US14/048,772 patent/US8927310B2/en active Active
- 2013-10-12 CN CN201310475637.1A patent/CN103730577A/zh active Pending
- 2013-10-15 JP JP2013214940A patent/JP6242147B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3094880B2 (ja) * | 1995-03-01 | 2000-10-03 | 住友金属工業株式会社 | 有機化合物の結晶化制御方法およびそれに用いる結晶化制御用固体素子 |
KR20080020827A (ko) * | 2006-09-01 | 2008-03-06 | 삼성전자주식회사 | 고밀도 패턴 미디어용 나노 템플릿의 형성 방법 및 이를이용한 고밀도 자기 저장매체 |
KR20120054554A (ko) * | 2010-11-19 | 2012-05-30 | 한국생산기술연구원 | 콜로이달 나노 입자를 이용한 바이오 필름 형성 방지용 기판의 제조방법, 이로부터 제조된 기판 및 상기 기판을 포함하는 수질 검사 센서 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101800849B1 (ko) * | 2016-01-27 | 2017-11-23 | 서강대학교산학협력단 | 염료감응 태양전지용 산란층, 및 이의 제조 방법 |
WO2019054555A1 (ko) * | 2017-09-14 | 2019-03-21 | 한국과학기술연구원 | 반도체 기판을 텍스쳐링하는 방법과, 이 방법에 의해 제조된 반도체 기판, 그리고, 이러한 반도체 기판을 포함하는 태양 전지 |
US11527673B2 (en) | 2017-09-14 | 2022-12-13 | Korea Institute Of Science And Technology | Method of texturing semiconductor substrate, semiconductor substrate manufactured using the method, and solar cell including the semiconductor substrate |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2720285A1 (en) | 2014-04-16 |
CN103730577A (zh) | 2014-04-16 |
US20140106491A1 (en) | 2014-04-17 |
US8927310B2 (en) | 2015-01-06 |
EP2720285B1 (en) | 2019-03-27 |
JP2014082495A (ja) | 2014-05-08 |
JP6242147B2 (ja) | 2017-12-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101372413B1 (ko) | 패턴 기판 제조방법 | |
Islam et al. | Investigation of the Changes in Electronic Properties of Nickel Oxide (NiO x) Due to UV/Ozone Treatment | |
Zhao et al. | Efficient color-stable inverted white organic light-emitting diodes with outcoupling-enhanced ZnO layer | |
Han et al. | Highly conductive transparent and flexible electrodes including double-stacked thin metal films for transparent flexible electronics | |
KR20120138764A (ko) | 투명 전도성 산화물, 금속 및 산화물의 조합에 기초한 투명 전극 | |
JP2015507351A (ja) | 表面プラズモン構造体を備えた有機光電子装置および製作の方法 | |
KR101510578B1 (ko) | 태양전지용 표면처리 도전성 유리 제조 방법 | |
JP6352906B2 (ja) | 第1の電極、活性層、および第2の電極を含むタイプのスタックを構成する方法 | |
US20080146011A1 (en) | Method of forming self-assembled monolayer on ito film | |
Nirmal et al. | Flexible memristive organic solar cell using multilayer 2D titanium carbide MXene electrodes | |
Kong et al. | Performance improvement of dye-sensitized solar cells by surface patterning of fluorine-doped tin oxide transparent electrodes | |
Zhao et al. | Bending durable and recyclable mesostructured perovskite solar cells based on superaligned ZnO nanorod electrode | |
Lim et al. | Solar power generation enhancement of dye-sensitized solar cells using hydrophobic and antireflective polymers with nanoholes | |
Zhang et al. | A Self‐Assembled Vertical‐Gradient and Well‐Dispersed MXene Structure for Flexible Large‐Area Perovskite Modules | |
Ye et al. | Interfacial Energy Level Alignment and Defect Passivation by Using a Multifunctional Molecular for Efficient and Stable Perovskite Solar Cells | |
KR20110000966A (ko) | 이중 기공을 갖는 역전 광결정 구조체 및 그 제조방법과, 염료감응 태양전지 및 그 제조방법 | |
Liao et al. | Producing Microscale Ge Textures via Titanium Nitride‐and Nickel‐Assisted Chemical Etching with CMOS‐Compatibility | |
CN105895830A (zh) | 一种有机发光二极管ito电极的制备方法 | |
ES2702210T3 (es) | Electrodo soportado transparente para OLED | |
CN108258130B (zh) | 一种调控氧化铟锡表面能与功函数的含氟自组装单层膜及制备方法 | |
CN102709490A (zh) | 一种有机光电器件透明氧化物电极的溶液处理方法 | |
Ashari et al. | Study of branched TiO2 nanotubes and their application to dye sensitized solar cells | |
Lin et al. | Orderly Nanopatterned Indium Tin Oxide Electrode Combined with Atomic‐Layer‐Deposited Metal Oxide Interlayer for Inverted Organic Solar Cells | |
KR102145636B1 (ko) | 유기발광소자의 제조방법 및 이를 이용한 유기발광소자 | |
KR20090111009A (ko) | 전도성 고분자 투명전극 및 그 제조 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170123 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171222 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181219 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191219 Year of fee payment: 7 |