KR101316816B1 - 카메라모듈 검사용 소켓 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 피검사물인 카메라모듈이 수용 안착되는 로딩부를 구비하는 베이스플레이트; 상기 베이스 플레이트에 수평 왕복운동 가능하게 형성되는 슬라이더; 상기 슬라이더에 승하강 왕복운동 가능하게 형성되며, 상기 카메라모듈의 상부에 대응하는 덮개부를 구비하는 상판; 상기 베이스플레이트의 저면에 부착되는 하부 인쇄회로기판; 및 상기 하부 인쇄회로기판에 하단이 접속되고, 상단이 상기 로딩부에 안착되는 카메라모듈의 커넥터부에 접속되는 접속 핀블럭;을 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 검사용 소켓을 제공한다.

Description

카메라모듈 검사용 소켓{TEST SOCKET FOR CAMERA MODULE}
본 발명은 카메라모듈 검사용 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 렌즈부와 커넥터부가 서로 다른면에 배치된 카메라모듈의 검사를 자동화할 수 있는 카메라 모듈 검사용 소켓에 관한 것이다.
최근 이동통신단말기에 대부분이 카메라가 구비되고 있으며, 이러한 대부분의 카메라는 CMOS나 CCD 이미지 센서가 적용된 소형 카메라가 사용된다.
소형카메라는 인쇄회로기판에 CMOS나 CCD 이미지센서가 장착된 후 렌즈(lens)와 하우징(housing)에 조립된 후 외부와 전기적으로 통신하기 위한 플렉서블 인쇄회로기판과 전기적으로 연결시켜 카메라모듈을 제작하게 되며, 이 후 제작이 완료된 카메라모듈이 정상적으로 동작을 하는지 여부를 검사하게 된다.
카메라모듈의 정상 동작 여부를 검사하기 위해 종래에는 모니터의 화면과 소정거리 이격된 위치에 작업자가 카메라모듈을 장착한 후 모니터의 화면에 검사 이미지(image)를 표시하면 이를 카메라모듈에서 촬영하고 촬영된 결과를 작업자가 확인하여 카메라모듈의 정상 동작의 여부를 수동적으로 판단하게 된다.
본 발명과 관련된 선행기술로는 대한민국 등록특허 등록번호 10-1019417호 '카메라모듈 검사용 소켓'(공고일자 2011년 3월 7일)이 있다.
본 발명의 목적은 카메라 모듈의 검사를 자동화할 수 있는 카메라모듈 검사용 소켓을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 카메라모듈 검사용 소켓이 별도의 배선 연결 없이 접속핀 블록과 인쇄회로기판 등을 통해 검사장비와 접속되도록 함으로써 카메라모듈 검사용 소켓의 내구성을 향상시킴에 있다.
본 발명은, 피검사물인 카메라모듈이 수용 안착되는 로딩부를 구비하는 베이스플레이트; 상기 베이스 플레이트에 수평 왕복운동 가능하게 형성되는 슬라이더; 상기 슬라이더에 승하강 왕복운동 가능하게 형성되며, 상기 카메라모듈의 상부에 대응하는 덮개부를 구비하는 상판; 상기 베이스플레이트의 저면에 부착되는 하부 인쇄회로기판; 및 상기 하부 인쇄회로기판에 하단이 접속되고, 상단이 상기 로딩부에 안착되는 카메라모듈의 커넥터부에 접속되는 접속 핀블럭;을 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 검사용 소켓을 제공한다.
상기 하부 인쇄회로기판은 검사장비와 전기적으로 연결되는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 로딩부는 진공수단과 연결되는 흡착홈을 구비할 수 있다.
아울러, 상기 덮개부는 상기 카메라모듈의 렌즈부를 노출시키기 위한 관통홀을 구비할 수 있다.
상기 슬라이더는 상기 카메라모듈에 근접하는 전진위치와, 상기 카메라모듈에서 이격된 후진위치 사이를 왕복운동하고, 상기 덮개부는 상기 전진위치에서는 상기 카메라모듈의 수직상부에 위치하고, 상기 후진위치에서는 상기 카메라모듈을 벗어나도록 동작하며, 상기 슬라이더가 전진위치일 때 상기 덮개부가 하강하여 상기 카메라모듈이 상기 로딩부와 상기 덮개부 사이에 고정되도록 하는 것이 바람직하다.
다양한 형태의 카메라모듈에 대응할 수 있도록 상기 로딩부 및 상기 덮개부는 탈부착 가능하게 형성되며, 상기 접속 핀블럭 및 상기 하부 인쇄회로기판도 탈부착 가능하게 형성되는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 카메라모듈 검사용 소켓은 카메라모듈이 공급되면, 자동으로 밀착 고정한 후 검사를 수행하도록 동작함으로써, 카메라모듈 검사를 자동 또는 반자동화할 수 있는 효과를 가져온다.
그리고, 본 발명에 따른 카메라모듈 검사용 소켓은 카메라모듈의 커넥터에 접속부로 접속한 후, 상부 인쇄회로기판, 핀블럭, 하부 인쇄회로기판을 순차적으로 거친 후 검사장비에 연결되는 구조를 제공함으로써 움직이는 부분에 배선이 연결되지 않아도 되고, 배선부분에서 발생하는 고장 또는 내구성의 문제를 해결할 수 있는 효과를 가져온다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 사시도,
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 분리사시도,
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 슬라이더가 후진위치에 놓여진 상태를 나타낸 측단면도,
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 슬라이더가 전진위치로 이동한 상태를 나타낸 측단면도,
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 상판이 하강한 상태를 나타낸 측단면도임.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 바람직한 일 실시예를 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다.
또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로써 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 분리사시도이다.
본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓(100)은, 카메라모듈(10)이 공급되면 자동으로 카메라모듈(10)을 고정하고 검사를 수행하기 위한 것으로, 베이스플레이트(110)와, 슬라이더(120)와, 수직실린더(125)와, 상판(130)을 포함한다.
베이스플레이트(110)는 피검사물인 카메라모듈(10)이 수용 안착되는 로딩부(140)를 구비하며, 저면에 하부 인쇄회로기판(160)이 부착된다.
하부 인쇄회로기판(160)은 카메라모듈(10)과 접속되어 신호를 주고 받으면 카메라모듈을 검사를 수행하는 검사장비(미도시)와 연결된다.
카메라모듈 검사용 소켓(100)은 피검사물인 카메라모듈(10)을 상기 검사장비에 접속시키는 역할을 수행하는 것으로, 카메라모듈(10)의 커넥터부(14)가 접속 핀블럭(150)으로 검사 장비와 연결된 하부 인쇄회로기판(160)과 연결됨으로써, 카메라모듈(10)을 검사장비에 연결하여 검사를 수행할 수 있도록 해준다.
카메라모듈(10)은 렌즈부(12)와 커넥터부(14)가 동일한 면에 형성된 형태와, 렌즈부(12)와 커넥터부(14)가 서로 다른면에 형성된 형태가 있는데, 본 발명은 도 1에 도시된 바와 같이 렌즈부(12)와 커넥터부(14)가 반대면에 형성된 형태에 적용되는 것이다. 이하에서 카메라모듈(10)의 렌즈부(12)가 구비된 면을 전면, 그 반대면을 배면으로 칭한다.
베이스플레이트(110)에 구비되는 로딩부(140)는 카메라모듈(10)의 배면 형상에 대응하는 홈의 형태로 형성될 수 있으며, 카메라모듈(10)을 진공 흡착하기 위한 흡착홈(142)을 구비할 수 있다. 카메라모듈(10)의 배면에는 커넥터가 구비되지 않으므로, 로딩부(140)는 단지 카메라모듈(10)의 배면을 견고하게 고정하는 역할을 수행하게 되며, 전기적인 접속과는 무관하다.
로딩부(140)에는 카메라모듈(10)을 진공으로 흡착 고정하기 위한 흡착홈(142)이 구비될 수 있다. 흡착홈(142)은 별도의 진공수단과 연결되어, 카메라모듈(10)이 안착되면 음압을 제공하여 카메라모듈(10)이 로딩부(140)에 견고하게 고정될 수 있도록 한다.
슬라이더(120)는 베이스플레이트(110)에 대하여 수평 왕복 운동이 가능하게 형성된다.
슬라이더(120)와 베이스플레이트(110)는 별도의 수평이동수단(미도시)이 연결되어, 슬라이더(120)가 베이스플레이트(110)에 대하여 수평방향으로 왕복운동 할 수 있다.
슬라이더(120)는 로딩부(140)에 놓여진 카메라모듈(10)에 가장 근접한 전진위치와, 상기 카메라모듈(10)에 대하여 가장 이격된 후진위치 사이를 왕복 이동하게 된다.
이때, 슬라이더(120)가 카메라모듈(10)에 근접할 경우 슬라이더(120)와 베이스플레이트(110)와의 마찰을 저감하도록, 베이스플레이트(110)에는 슬라이더(120)와 접하는 부위에 완충부(115)가 설치될 수 있다.
여기서, 상기 완충부(115)는 스프링 형태로 이루어져, 상기 슬라이더(120)의 움직임을 제한하는 스토퍼(stopper) 기능을 담당한다.
한편, 슬라이더(120)에는 상판(130)이 승하강 가능하게 연결된다. 보다 상세하게는 상기 상판(130)과 슬라이더(120)는 수직방향으로 길이가 가변하는 수직실린더(125)를 통해 연결된다.
상기 수직실린더(125)는 공압, 유압 또는 모터의 구동력에 의하여 왕복운동하는 형태로 이루어질 수 있다.
즉, 상기 수직실린더(125)는 공압실린더, 유압실린더, 전동실린더 등을 포함할 수 있다.
상기 상판(130)은 상기 카메라모듈(10)의 상부를 감싸는 형태의 덮개부(135)를 구비한다.
카메라모듈(10)이 하부는 로딩부(140)와 상부의 덮개부(135) 사이에 압착 고정되는 구성을 가지고 있다. 즉, 카메라모듈(10)이 로딩부(140)와 덮개부(135) 사이에 밀착되며 견고하게 고정될 수 있는 구조를 가진다.
또한, 덮개부(135)는 카메라모듈(10)의 렌즈부(12)를 노출시키기 위한 관통공(132)을 구비하는 것이 바람직하다.
카메라모듈(10)을 검사하기 위해서는 렌즈부(12)가 노출되어야 한다. 렌즈부(12)가 노출되어야 렌즈부(12)의 성능을 평가할 수 있기 때문이다.
접속 핀블럭(150)의 상단은 카메라모듈(10)의 커넥터부(14)에 전기적으로 접속되고, 하단은 베이스플레이트(110)의 저면에 구비되는 하부 인쇄회로기판(160)에 접속된다. 그런데, 상술한 바와 같이 하부 인쇄회로기판(160)은 검사장비와 연결되어 있는 것으로, 결과적으로 카메라모듈(10)의 커넥터부(14)가 접속 핀블럭(150)과, 하부 인쇄회로기판(160)을 통해 검사장비와 연결된다.
또한, 상기 로딩부(140)와 덮개부(135)는 탈부착 가능하게 형성되어, 다양한 형태의 카메라모듈(10)을 평가할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 접속 핀블럭(150)과, 하부 인쇄회로기판(160)도 상기 로딩부(140)와 함께 탈부착 가능하게 형성되는 것이 바람직하다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 슬라이더가 후진위치에 놓여진 상태를 나타낸 측단면도이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 슬라이더가 전진위치로 이동한 상태를 나타낸 측단면도이다.
도 3과 도 4에 도시된 바와 같이, 슬라이더(120)는 전진위치와 후진위치 사이에서 왕복운동하게 된다.
이때, 슬라이더(120)에 결합된 상판(130)도 슬라이더(120)와 함께 이동하게 된다.
도 3에 도시된 바와 같이, 후진위치에서는 카메라모듈(10)이 안착되는 로딩부(도 1의 140) 위쪽이 개방된 상태인 것이 바람직하다. 후진위치에서 카메라모듈(10)이 로딩부(도 1의 140)로 용이하게 공급될 수 있도록 하기 위한 것이다.
슬라이더(120)의 후진위치에서 카메라모듈(10)이 로딩부(140)에 안착된 후, 슬라이더(120)가 전진위치로 이동한다. 이때, 상판(130)은 슬라이더(120)에서 상승한 상태를 유지한다.
슬라이더(120)가 전진위치로 이동하면, 상판(130)의 덮개부(135)가 카메라모듈(10)의 수직 상부에 위치하게 된다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 상판이 하강한 상태를 나타낸 측단면도이다.
도시된 바와 같이, 슬라이더(120)가 전진위치로 이동한 후, 상판(130)이 하강하게 된다.
슬라이더(120)가 전진위치에 있을 때, 상판(130)의 덮개부(135)가 카메라모듈(10)의 상부에 위치하게 된다. 이때, 상판(130)이 하강하면 덮개부(135)가 하강하여 카메라모듈(10)의 상부를 압착하게 된다.
결과적으로 카메라모듈(10)은 로딩부(140)와 덮개부(135)의 사이에 압착 고정되고, 이로 인해 접속 핀블럭(150)이 카메라모듈(10) 저면의 커넥터부(14)에 전기적으로 접속된다. 접속 핀블럭(150)은 하단이 하부 인쇄회로기판(160)에 접속되며, 하부 인쇄회로기판(160)은 검사 장비에 연결되어 있다.결과적으로, 카메라모듈(10)이 접속 핀블럭(150) -> 하부 인쇄회로기판(160) -> 검사 장비의 순으로 연결되어, 검사 장비가 카메라모듈(10)의 검사를 수행하게 된다.
덮개부(135)에는 상술한 바와 같이, 관통홀(도 3의 152)이 구비되어, 카메라모듈(10)의 렌즈부(12)는 덮개부(150)의 관통홀(도 3의 152)을 통해 외부로 노출된다.
로딩부(140)와 덮개부(150)는 탈부착 가능하게 형성되는 것이 바람직하다.
이는 다양한 형상의 카메라모듈(10)의 검사를 가능하게 하기 위함이다.
아울러, 로딩부(140)와 덮개부(150)를 교환하는 것으로 다양한 형태의 카메라모듈(10) 검사에 사용할 수 있게 된다. 이 때 로딩부(140)에 배치되는 접속 블럭(150)도 교체할 수 있으며, 하부 인쇄회로기판(160)도 함께 교체할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
이하, 본 발명에 따른 카메라모듈 검사용 소켓(100)의 동작에 관하여 살펴본다.
베이스플레이트(110)에 대하여 슬라이더(120)가 후진위치이고, 상판(130)이 상승한 상태에서 피검사 대상물인 카메라모듈(10)이 베이스플레이트(110)의 로딩부(140)로 공급된다.
카메라모듈(10)은 작업자에 의하여 공급될 수도 있고, 자동공급장치에 의하여 공급될 수도 있다.
카메라모듈(10)이 로딩부(140)에 안착되면, 슬라이더(120)가 전진위치로 이동한 후, 상판(130)이 하강하여, 카메라모듈(10)의 상부가 덮개부(135)에 의하여 압착된다.
이 상태에서 접속 핀블럭(150)이 카메라모듈(10)에 전기적으로 연결되며, 접속 핀블럭(150)과 하부 인쇄회로기판(160)을 통해 카메라모듈(10)이 검사장비에 연결되어 카메라모듈(10)의 성능을 검사할 수 있게 된다.
검사가 완료되면, 상판(130)이 상승한 후 슬라이더(120)가 후진위치로 이동하고, 검사가 완료된 카메라모듈(10)을 로딩부(140)에서 제거하고, 다음 카메라모듈(10)에 대하여 동일한 작업을 반복하여 수행하게 된다.
이렇게 본 발명에 따른 카메라모듈 검사용 소켓(100)은 카메라모듈(10)을 로딩부(140)에 공급하면, 슬라이더(120)와 상판(130)이 이동하여 카메라모듈(10)에 접속함으로써, 자동으로 검사를 수행하게 된다.
첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.
10 : 카메라모듈 12 : 렌즈부
14 : 커넥터부 110 : 베이스플레이트
110 : 베이스플레이트 120 : 슬라이더
125 : 수직실린더 130 : 상판
150 : 접속 핀블럭 160 : 하부 인쇄회로기판

Claims (8)

  1. 피검사물인 카메라모듈이 수용 안착되는 로딩부를 구비하는 베이스플레이트;
    상기 베이스 플레이트에 수평 왕복운동 가능하게 형성되는 슬라이더;
    상기 슬라이더에 승하강 왕복운동 가능하게 형성되며, 상기 카메라모듈의 상부에 대응하며 카메라모듈의 렌즈부를 노출시키기 위한 관통홀을 구비하는 덮개부를 구비하는 상판;
    상기 베이스플레이트의 저면에 부착되며 검사장비와 전기적으로 연결되는 하부 인쇄회로기판; 및
    상기 하부 인쇄회로기판에 하단이 접속되고, 상단이 상기 로딩부에 안착되는 카메라모듈의 커넥터부에 접속되는 접속 핀블럭;을 포함하며,
    상기 슬라이더는 상기 카메라모듈에 근접하는 전진위치와, 상기 카메라모듈에서 이격된 후진위치 사이를 왕복운동하고,
    상기 덮개부는 상기 전진위치에서는 상기 카메라모듈의 수직상부에 위치하고, 상기 후진위치에서는 상기 카메라모듈을 벗어나고,
    상기 슬라이더가 전진위치일 때 상기 덮개부가 하강하여 상기 카메라모듈이 상기 로딩부와 상기 덮개부 사이에 고정되며, 이로 인해 상기 접속 핀블럭이 상기 카메라모둘 저면의 커넥터부에 전기적으로 접속되어, 상기 카메라 모듈이 접속 핀블럭과 하부 인쇄회로기판을 통해 검사장비와 연결되는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 검사용 소켓.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 로딩부는 진공수단과 연결되는 흡착홈을 구비하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 검사용 소켓.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 로딩부 및 상기 덮개부는 탈부착 가능하게 형성되는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 검사용 소켓.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 접속 핀블럭 및 상기 하부 인쇄회로기판은 탈부착 가능하게 형성되는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 검사용 소켓.
KR20130055036A 2013-05-15 2013-05-15 카메라모듈 검사용 소켓 KR101316816B1 (ko)

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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101574486B1 (ko) 2015-09-14 2015-12-11 디플러스(주) 테스트 소켓
KR101616391B1 (ko) * 2015-10-27 2016-04-29 주식회사 제이앤에프이 카메라 모듈 검사용 소켓
KR20160111558A (ko) * 2015-03-16 2016-09-27 황영수 정밀 이송 구조의 자동 검사 소켓
KR101672936B1 (ko) * 2015-11-30 2016-11-16 주식회사 아이에스시 카메라 모듈 검사장치
KR101685468B1 (ko) * 2015-08-29 2016-12-14 주식회사 메카텍시스템즈 카메라 모듈용 자동 테스트 소켓
KR101699799B1 (ko) 2016-02-18 2017-01-25 주식회사 코바텍 모바일용 카메라 모듈의 품질 불량 유무 검사장치
KR101786780B1 (ko) 2015-07-03 2017-10-18 주식회사 엔티에스 전자모듈 칩 자동화 검사장치
KR20180058988A (ko) 2016-11-25 2018-06-04 디플러스(주) 제품 테스트 장치
KR101901814B1 (ko) * 2018-01-24 2018-09-27 손문배 카메라 모듈 검사용 지그장치
KR102165483B1 (ko) * 2019-12-06 2020-10-14 디플러스(주) 제품 테스트 장치

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101920856B1 (ko) * 2016-08-17 2018-11-21 주식회사 아이에스시 카메라 모듈 검사장치
CN109642916B (zh) * 2018-11-23 2022-03-15 福建联迪商用设备有限公司 一种功能测试夹具

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101246182B1 (ko) * 2013-01-22 2013-03-22 프라임텍 주식회사 카메라모듈 검사용 소켓

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006220505A (ja) * 2005-02-09 2006-08-24 Micronics Japan Co Ltd 校正基板用治具
KR100991162B1 (ko) * 2008-11-25 2010-11-01 주식회사 엔티에스 카메라모듈의 이미지센서 검사용 소켓
CN201479319U (zh) * 2009-06-18 2010-05-19 纮华电子科技（上海）有限公司 成像检测装置
JP2011171011A (ja) * 2010-02-16 2011-09-01 Sharp Corp テストソケット

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101246182B1 (ko) * 2013-01-22 2013-03-22 프라임텍 주식회사 카메라모듈 검사용 소켓

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101713949B1 (ko) 2015-03-16 2017-03-09 황영수 정밀 이송 구조의 자동 검사 소켓
KR20160111558A (ko) * 2015-03-16 2016-09-27 황영수 정밀 이송 구조의 자동 검사 소켓
KR101786780B1 (ko) 2015-07-03 2017-10-18 주식회사 엔티에스 전자모듈 칩 자동화 검사장치
KR101685468B1 (ko) * 2015-08-29 2016-12-14 주식회사 메카텍시스템즈 카메라 모듈용 자동 테스트 소켓
KR101574486B1 (ko) 2015-09-14 2015-12-11 디플러스(주) 테스트 소켓
KR101616391B1 (ko) * 2015-10-27 2016-04-29 주식회사 제이앤에프이 카메라 모듈 검사용 소켓
KR101672936B1 (ko) * 2015-11-30 2016-11-16 주식회사 아이에스시 카메라 모듈 검사장치
WO2017095071A1 (ko) * 2015-11-30 2017-06-08 주식회사 아이에스시 카메라 모듈 검사장치
CN108604056A (zh) * 2015-11-30 2018-09-28 株式会社Isc 相机模块检验装置
CN108604056B (zh) * 2015-11-30 2020-09-29 株式会社Isc 相机模块检验设备
KR101699799B1 (ko) 2016-02-18 2017-01-25 주식회사 코바텍 모바일용 카메라 모듈의 품질 불량 유무 검사장치
KR20180058988A (ko) 2016-11-25 2018-06-04 디플러스(주) 제품 테스트 장치
KR101901814B1 (ko) * 2018-01-24 2018-09-27 손문배 카메라 모듈 검사용 지그장치
KR102165483B1 (ko) * 2019-12-06 2020-10-14 디플러스(주) 제품 테스트 장치

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