KR101311498B1 - 광학 필름의 결함 검사 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 미리 결정된 속도로 주행하는 광학 필름의 표면에 존재하는 결함을 검사하기 위한 시스템에 관한 것으로서, 상기 광학 필름의 제1 광학적 결함을 검사하기 위한 촬영 유니트를 구비하는 제1 검사 장치; 및 제1 광학적 결함과 다른 광학 필름의 제2 광학적 결함을 검사하기 위한 제2 촬영 유니트를 구비하는 제2 검사 장치를 구비한다.

Description

광학 필름의 결함 검사 시스템{System for inspecting faulty of optical film}

우선권

본 발명은 인용에 의해 그 전체 내용이 본 명세서에 합체되는, 2011.10.20.자로 출원된 대한민국 특허 출원 번호 제10-2011-0107642호의 'FPR 필름의 불량 검사 장치'의 우선권을 향유한다.

본 발명은 광학 필름의 결함 검사 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 예를 들어, 3D 디스플레이 장치에 사용되는 FPR 필름에 PET 필름과 같은 광학 필름의 위상변화에 의한 광학적 결함(예, 3D 불량)을 검사할 수 있는 시스템에 관한 것이다.

일반적으로, 인간이 3차원 입체감을 느끼는 이유는 우안과 좌안이 시차를 두고 사물을 인지하기 때문인 것으로 알려져 있다. 즉, 인간의 두 눈은 약 65cm의 간격을 두고 떨어져 위치하기 때문에, 서로 약간 다른 방향의 영상을 보는 과정에서 발생한 양안 시차에 의해 사람은 입체감을 인식한다.

최근, 사람의 양안에 시차가 있는 영상들을 입력시키는 방법으로 입체 영상을 구현할 수 있는 입체 영상 표시 시스템들에 대한 관심이 높아 지고 있다.

일반적으로, 입체 영상 디스플레이 기기들은 셔터 안경, 미세 편광기(micro polarizer), 패턴드 라타더(patterned retarder) 등과 같은 안경식 3D 디스플레이, 패럴렉스 배리어(parallax barrier), 렌티큘러 렌즈(lenticular lens) 등과 같은 무안경식 3D 디스플레이, 및 홀로그램식 3D 디스플레이로 구분될 수 있다. 이것들 중에서, 입체 영상 디스플레이 기기는 액티브 방식(셔터 글라스 방식)과, 패시브 방식(FPR 방식)이 보편화 되어 있다.

액티브 방식은 디스플레이는 좌,우에 해당하는 화면을 매우 빠른 속도로 교대로 송출하고, 이에 맞춰 사용자가 착용한 입체 안경도 이러한 송출 영상에 연동되어 함께 작동된다. 즉, 액티브 방식은 소위, '시간 분할 방식'으로서, 좌안용 영상의 경우 좌안 렌즈가 열릴 때 우안 렌즈가 닫히는 반면, 우안용 영상은 우안 렌즈가 열릴 때 좌안 렌즈가 닫히는 구조이다. 이 방식은 화면을 또렷하게 볼 수 있다는 장점이 있으나, 디스플레이와 안경의 움직임을 동기화시켜야 하는 고도의 기술이 필요하다.

패시브 방식은 소위, '공간 분할 방식'으로서, 서로 다른 편광 특성을 갖는 좌안용 영상과 우안용 영상을 송출할 수 있으며 전면에 편광 필터가 부착된 디스플레이와 사용자가 착용하는 편광 안경을 구비한다. 편광 안경의 좌안 렌즈에는 디스플레이로부터 송출되는 좌안용 영상만 투시되고, 편광 안경의 우안용 렌즈에는 디스플레이의 우안용 영상만 투시됨으로써 사용자가 입체감을 느낄 수 있다. 이러한 패스브 방식은 기술적 어려움 없이 구현이 용이하다.

그런데, 패시브 방식에 사용되는 편광 필터는, 편광판 자체가 좌안용 영상 표시부와 우안용 영상 표시부에 대응되도록 패터닝되어 있거나, 편광판에 좌안용 영상 표시부와 우안용 영상 표시부에 각각 대응되도록 편광판에 부착될 수 있는 패터닝된 위상차판(광학 필터)과 같은 소위, 패턴드 리타드 필름(FPR: Film-type Patterned Retarder)을 사용한다.

또한, 패턴드 리타더(patterned retarder)는 기재의 종류에 따라 유리-타입과 필름-타입으로 구분된다. 그러나, 유리-타입 패턴드 라타더는 디스플레이의 대형화 추세에 부합하기 어렵기 때문에, 최근에는 유기 고분자 필름을 기재로 사용하는 패턴드 리타더(patterned retarder) 필름이 대세를 이루고 있다.

그런데, 패턴드 리타더에 형성된 패턴의 크기는 화소 또는 화소 단위 넓이에 해당하여 매우 정교하며 대개 그 패턴의 형태가 LCD의 행 또는 열에 맞추어 형성되고 이를 LCD에 장착할 때 LCD 픽셀의 행 또는 열의 위치와 정확히 일치(align)시켜 부착해야 할 필요성이 있기 때문에 패턴드 리타더의 제조 과정에서 치수 불량의 발생을 억제해야 함은 물론, 패턴드 리타더의 액정층, 배양층 등의 손상에 기인하는 위상 변화에 의한 불량(2D용 디스플레이 패널의 불량과 무관함)을 엄격하게 제어해야 할 필요성이 있다.

또한, 종래의 제조 방식에 따르면, 완성된 패턴드 리타더는 운송 불량 등의 이유로 보호필름을 부착시켜 디스플레이 패널 제조사로 인도되고, 인도된 패턴드 리타더는 패널에 최종적으로 부착되기 전에 예를 들어, 편광판 2장을 크로스시켜 육안으로 검사하는 소위 '풀라인(full line)' 검사 방식을 이용하고 있기 때문에 불량율이 매우 높은 문제점이 있다. 따라서, 패턴드 리타더 필름의 제조 라인에서 그 위상 변화에 의한 불량을 검사하기 위한 시스템의 개발이 요구되고 있다.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점들을 해결하기 위해 착상된 것으로서, 3D 필름의 양산과 더불어 제품의 품질 보증을 위해 제품의 제조 과정 즉, 광학 필름이 와인더에 감기기 전의 인라인(IN-LINE)에서 제품의 3D 불량을 검사할 수 있는 광학 필름의 결함 검사 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.

다른 측면에 따르면, 본 발명은 IPS 패널 또는 TN 패널에 각각 부착될 수 있는 광학 특성을 가진 광학 필름들이 변경되더라도 시스템에서 그러한 패널에 맞게 필터의 종류를 적절하게 변경시킬 수 있는 광학 필름의 결함 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.

또 다른 측면에 따르면, 본 발명은 광학 필름의 위상차 변화에 따른 3D 불량들을 그룹핑하고, 그렇게 그룹핑되에 세분화된 3D 불량들을 각기 다른 방식으로 분리하여 검출할 수 있는 구조를 가진 광학 필름의 결함 검사 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.

상기 문제점들을 해결하기 위해서 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템은, 미리 결정된 속도로 주행하는 광학 필름의 표면에 존재하는 결함을 검사하기 위한 시스템에 있어서, 상기 광학 필름의 제1 광학적 결함을 검사하기 위한 촬영 유니트를 구비하는 제1 검사 장치; 및 상기 제1 광학적 결함과 다른 상기 광학 필름의 제2 광학적 결함을 검사하기 위한 제2 촬영 유니트를 구비하는 제2 검사 장치를 구비한다.

바람직하게, 상기 광학 필름은 서로 다른 광축을 갖는 L 및 R 패턴들이 형성된 패턴드 리타드 필름(FPR)이다.

바람직하게, 상기 FPR은 배향층과 액정층이 형성된 기재가 주행하는 과정에서 와인더에 와인딩되기 전의 인-라인(IN-Line) 상태에 있다.

바람직하게, 상기 제1 광학적 결함은 영상 반전에 의한 위상 변화를 수반할 수 있도록 상기 광학 필름에 존재하는 휘점, 암점, 스크라치, 이물 불량으로 구성된 그룹 중에서 선택된 적어도 어느 하나의 불량을 포함한다.

바람직하게, 상기 제2 광학적 결함은 영상 반전을 일으키지 않을 정도의 그레이(grey) 형태를 띠는 얼룩 불량 또는 상기 광학 필름의 두께 변화에 따른 압흔 불량을 포함한다.

바람직하게, 상기 제1 검사 장치는: 상기 광학 필름에 광을 조사할 수 있도록 상기 촬영 유니트와 대향되게 설치된 조명 유니트; 상기 광학 필름과 상기 조명 유니트 사이에 배치된 제1 필터 유니트; 및 상기 광학 필름과 상기 촬영 유니트 사이에 배치된 제2 필터 유니트를 구비한다.

바람직하게, 상기 촬영 유니트는 상기 조명 유니트를 통해 광이 조사된 상태에서 상기 제1 및 제2 필터 유니트들에 의해 조합된 값에 의해 나타나는 상기 광학 필름의 폭 방향의 미리 결정된 영역을 촬영하기 위한 다수의 카메라들을 구비한다.

바람직하게, 상기 카메라들은: 상기 광학 필름의 폭 방향으로 미리 결정된 제1 간격으로 서로 이격 배치된 다수의 홀수 카메라들을 포함하는 홀수 카메라 그룹; 및 상기 홀수 카메라 그룹으로부터 상기 광학 필름의 진행 방향으로 미리 결정된 간격만큼 이격 배치되고 상기 홀수 카메라들에 의해 촬영되지 않는 상기 광학 필름의 폭 부분을 촬영할 수 있도록 상기 제1 간격의 중심에 초점이 각각 맞춰지도록 미리 결정된 제2 간격으로 서로 이격 배치된 다수의 짝수 카메라들을 포함하는 짝수 카메라 그룹을 구비한다.

바람직하게, 상기 조명 유니트는 상기 광학 필름의 폭 방향 전체에 걸쳐 광을 조사할 수 있다.

바람직하게, 상기 조명 유니트는: 조명 프레임에 설치된 다수의 엘이디 조명들; 및 상기 엘이디 조명들로부터 방사되는 광을 면광원으로 변환시켜 상기 광학 필름에 조사시킬 수 있는 도광판을 구비한다.

바람직하게, 상기 제1 필터 유니트는 편광 필터를 구비한다.

바람직하게, 상기 편광 필터는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 편광 필터 쉬트를 구비한다.

바람직하게, 상기 제1 필터 유니트는, 상기 조명 유니트와 상기 촬영 유니트가 형성하는 초점 라인에 상기 광학 필름의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 제1 및 제2편광 필터들을 선택적으로 위치시킬 수 있는 필터 이송 부재를 구비한다.

바람직하게, 상기 필터 이송 부재는: 상기 광학 필름과 평행하도록 상기 광학 필름으로부터 미리 결정된 간격만큼 이격되게 배치되고 상기 조명 유니트의 광이 각각 투과될 수 있는 제1 관통 슬릿과 제2 관통 슬릿이 형성된 제1 필터 브라켓; 상기 제1 관통 슬릿 및 상기 제2 관통 슬릿에 각각 설치된 제1 편광 필터 쉬트 및 제2 편광 필터 쉬트; 및 상기 제1 필터 브라켓을 선택적으로 이동시킬 수 있도록 상기 제1 필터 브라켓과 제1 필터 프레임 사이에 마련된 가이드부를 구비한다.

바람직하게, 상기 제1 필터 유니트는 상기 홀수 카메라 그룹에 대응되는 홀수 제1 필터 유니트와 상기 짝수 카메라 그룹에 대응되는 짝수 제1 필터 유니트로 구분된다.

바람직하게, 상기 제2 필터 유니트는 상기 광학 필름의 L 및 R 패턴들을 분리하고 빛의 산란을 제어하기 위한 원형 편광 필터를 구비한다.

바람직하게, 상기 원형 편광 필터는 원형으로 조립된 필터 모듈을 포함한다.

바람직하게, 상기 필터 모듈은 상기 촬영 유니트의 끝단에 일체로 배치된다.

바람직하게, 상기 촬영 유니트는 다수의 카메라들을 구비하고; 상기 필터 모듈은 각각의 카메라의 렌즈 끝단에 고정 설치된다.

바람직하게, 상기 제2 검사 장치는: 상기 광학 필름에 광을 조사할 수 있도록 상기 제2 촬영 유니트와 대향되게 설치된 제2 조명 유니트; 상기 광학 필름과 제2 상기 조명 유니트 사이에 배치된 제1 PL 필터 유니트; 및 상기 광학 필름과 상기 제2 촬영 유니트 사이에 설치되고, 상기 제1 PL 필터 유니트와 광학적으로 매칭될 수 있는 제2 PL 필터 유니트를 구비한다.

바람직하게, 상기 제2 촬영 유니트는 상기 제2 조명 유니트를 통해 광이 조사된 상태에서 상기 제1 및 제2 PL 필터 유니트들에 의해 조합된 값에 의해 나타나는 상기 광학 필름의 폭 방향의 미리 결정된 영역을 촬영하기 위한 다수의 카메라들을 구비한다.

바람직하게, 상기 제2 조명 유니트는 상기 광학 필름의 폭 방향 전체에 걸쳐 광을 조사할 수 있다.

바람직하게, 상기 제2 조명 유니트는: 제2 조명 프레임에 설치된 다수의 엘이디 조명들; 및 상기 엘이디 조명들로부터 방사되는 광을 면광원으로 변환시켜 상기 광학 필름에 조사시킬 수 있는 도광판을 구비한다.

바람직하게, 상기 제1 PL 필터 유니트는 편광 필터를 구비한다.

바람직하게, 상기 편광 필터는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 편광 필터 쉬트를 구비한다.

바람직하게, 상기 제1 PL 필터 유니트는, 상기 제2 조명 유니트와 상기 제2 촬영 유니트가 형성하는 초점 라인에 상기 광학 필름의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 두 개의 편광 필터들을 선택적으로 위치시킬 수 있는 제1 이송 부재를 구비한다.

바람직하게, 상기 제1 이송 부재는: 상기 광학 필름과 평행하도록 상기 광학 필름으로부터 미리 결정된 간격만큼 이격되게 배치되고 상기 제2 조명 유니트의 광이 각각 투과될 수 있는 제1 관통 슬릿과 제2 관통 슬릿이 형성된 제1 PL 필터 브라켓; 상기 제1 관통 슬릿 및 상기 제2 관통 슬릿에 각각 설치된 제1 편광 필터 쉬트 및 제2 편광 필터 쉬트; 및 상기 제1 필터 브라켓을 선택적으로 이동시킬 수 있도록 상기 제1 필터 브라켓과 제1 필터 프레임 사이에 마련된 가이드부를 구비한다.

바람직하게, 상기 제2 PL 필터 유니트는 상기 편광 필터와 광학적으로 매칭될 수 있는 제2 편광 필터를 구비한다.

바람직하게, 상기 제2 편광 필터는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 제2 편광 필터 쉬트를 구비한다.

바람직하게, 상기 제2 PL 필터 유니트는, 상기 제2 조명 유니트와 상기 제2 촬영 유니트가 형성하는 초점 라인에 상기 광학 필름의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 제1 및 제2편광 필터들을 선택적으로 위치시킬 수 있는 제2 이송 부재를 구비한다.

바람직하게, 상기 제2 이송 부재는: 상기 광학 필름과 평행하도록 상기 광학 필름으로부터 미리 결정된 간격만큼 이격되게 배치되고 상기 제2 조명 유니트의 광이 각각 투과될 수 있는 제1 관통 슬릿과 제2 관통 슬릿이 형성된 제2 필터 브라켓; 상기 제1 관통 슬릿 및 상기 제2 관통 슬릿에 각각 설치된 제1 편광 필터 쉬트 및 제2 편광 필터 쉬트; 및 상기 제2 필터 브라켓을 선택적으로 이동시킬 수 있도록 상기 제2 필터 브라켓과 제2 필터 프레임 사이에 마련된 제2 가이드부를 구비한다.

바람직하게, 본 발명의 시스템은 상기 제1 검사 장치의 상기 촬영 유니트와 상기 제2 검사 장치의 제2 촬영 유니트에 의해 촬영된 영상에 나타난 결함의 위치 정보에 상응하도록 주행하는 상기 광학 필름의 표면에 결함 유무를 마킹할 수 있는 마킹 유니트를 구비한다.

바람직하게, 본 발명의 시스템은 상기 촬영 유니트에 의해 촬영된 영상들에 표시된 결함의 위치 정보를 연산 및 저장할 수 있는 제어 유니트; 및 상기 각각의 영상을 표시할 수 있는 디스플레이 유니트를 더 구비한다.

본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 시스템은, 기재 => 배향막 => 액정 => 릴리스 필름 순서로 제작되는 광학 필름의 제조 라인에서 와인더에 광학 필름이 감기기 전에 불량을 검출할 수 있다. 불량으로 판단된 필름 영역은 불량 표시 마크가 인쇄될 수 있다.

본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템에 있어서, 제1 검사 장치의 조명 측 PL 필터와 제2 검사 장치의 조명측 PL 필터와 카메라측 PL 필터는 IPS 패널에 부착되도록 된 광학 필름, TN 패널에 부착되도록 된 광학 필름과 같이, 검사되는 광학 필름의 종류에 상응하는 광특성을 가진 필터를 선택적으로 사용할 수 있도록 구성된다.

본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템은 다음과 같은 효과를 가진다.

첫째, 광학 필름의 위상차 변화에 따른 3D 불량들을 서로 구역과 조건을 달리하는 제1 검사 장치와 제2 검사 장치를 통해 각각 검사하거나 상호 보완적으로 검사함으로써, 완벽한 검사가 가능하고 따라서, 생산되는 광학 필름의 제품의 완성도를 높일 수 있고, 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

둘째, IPS 패널에 사용될 광학 필름 또는 TN 패널에 사용될 광학 필름과 같이, 검사될 광학 필름의 종류가 변경될 때마다 검사 대상 광학 필름의 광특성에 상응하는 광특성을 가진 편광 필터 쉬트를 선택적으로 변경함으로써, 광학 필름의 종류에 따른 별도의 검사 시스템의 중복 투자를 방지하여 생산 원가를 절감할 수 있다(즉, 제1 검사 장치 또는 제2 검사 장치의 편광 필터는 IPS 패널용 광학 필름 또는 TN 패널용 광학 필름에 각각 상응하도록 하나의 조합 또는 한 쌍의 조합이 존재함).

셋째, 예를 들어, FPR의 화이트 패턴 내에서 액정이 도트 형식으로 손상을 입으면 손상을 입은 도트가 반전되어 블랙 도트로 보이게 되고, 반대로 블랙 패턴에서는 화이트 도트로 보이게 되는 것과 같은, 휘점 불량, 암점 불량, 스크래치 불량 등과 같이, 광학 필름의 생산 공정 중, 액정층, 배향층이 손상됨으로써 위상 변화가 발생하는 불량을 상대적으로 선명한 이미지를 구현할 수 있는 제1 검사 장치를 이용하여 특히 검사할 수 있다.

넷째, 카메라 측 PL 필터와 조명 측 PL 필터 각각의 광축 조합을 통해 3D 불량(예, 액정층이 파이지는 않았으나 손가락으로 눌려 있는 듯한 형상의 얼룩 불량, 영상이 반전될 만큼의 손상을 입지 않으면서 블랙도 화이트도 아닌 그레이 형태의 얼룩 불량 또는 광학 필름의 두께 변화에 따른 압흔 불량 등)을 제2 검사 장치를 통해 특히 검사할 수 있다.

다섯째, 제1 검사 장치와 제2 검사 장치는 서로 분리된 3D 불량만을 검출하도록 된 것은 아니다. 예를 들어, 시인성이 큰 3D 불량은 제1 및 제2 검사 장치들 모두가 검출할 수 있고, 제1 검사 장치에서는 불량의 크기가 작아서 검출하지 못하는 것도 제2 검사 장치에서는 뚜렷하고 명확하게 검출하는 경우도 있으며, 그 반대의 경우도 가능한 것과 같이, 제1 검사 장치와 제2 검사 장치는 상호 보완적이다.

여섯째, FPR 필름의 생산 과정에서 와인더에 감기기 전에 필름의 불량 여부를 검사하여 검사 유형에 따른 선조치를 할 수 있기 때문에 생산 효율을 증대시키고 생산비를 절감할 수 있다.

본 발명은 아래 도면들에 의해 구체적으로 설명될 것이지만, 이러한 도면은 본 발명의 바람직한 실시예를 나타낸 것이므로 본 발명의 기술사상이 그 도면에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.
도 1은 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 주요 구성을 개략적으로 도시한 개념도이다.
도 2는 본 발명의 다른 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 3은 본 발명의 다른 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 제1 검사 장치의 주요 구성요소들을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 제1 검사 장치의 조명 유니트 부위의 확대도이다.
도 5는 조명 유니트 부위를 발췌 도시한 도 3의 우측면도이다.
도 6은 제1 검사 장치의 제1 필터 유니트 부위를 발췌 도시한 도 3의 우측면도이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 제1 검사 장치의 필터 이송 부재에 의한 제1 필터 유니트의 동작을 설명하기 위한 개념도이다.
도 8은 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 제1 검사 장치의 촬영 유니트 부위를 발췌 도시한 도 2의 좌측면도이다.
도 9는 도 2의 제2 검사 장치의 주요 부위의 확대도이다.
도 10은 도 9의 평면도이다.
도 11은 도 2 및 도 10에 도시된 제1 PL 필터 유니트 부위를 발췌 도시한 좌측면도이다.
도 12는 도 2 및 도 10에 도시된 제2 PL 필터 유니트 부위를 발췌 도시한 우측면도이다.
도 13은 제2 검사 장치의 제1 및 제2 PL 필터 유니트들의 동작을 설명하기 위한 개념도이다.
도 14는 도 2에 도시된 마킹 유니트 부위의 확대도이다.

이하, 첨부된 도면들을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예에 대해서 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.

도 1은 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 주요 구성을 개략적으로 도시한 개념도이다.

도 1을 참조하면, 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템(300)은 미리 결정된 속도로 주행하는 광학 필름(10)의 표면에 존재하는 결함을 검사하기 위한 것으로서, 광학 필름(10)의 제1 광학적 결함을 검사하기 위한 촬영 유니트(40)를 구비하는 제1 검사 장치(1)와 제1 광학적 결함과 다른 광학 필름(10)의 제2 광학적 결함을 검사하기 위한 제2 촬영 유니트(76)를 구비하는 제2 검사 장치(70)를 구비한다.

광학 필름(10)은 후술하는 바와 같이, 예를 들어, FPR일 수 있다. 또한, 광학 필름(10)의 제1 광학적 결함은, FPR의 액정층(18)이 예를 들어, 도트 형식의 손상에 의한 생기는 결함으로서, 실제로 촬영 유니트(40)를 이용하여 광학 필름(10)을 촬영하게 되면, 손상을 입은 도트 형상이 반전되어 블랙 도트 형태로 보이게 되고, 반대로 블랙 패턴에서 액정층(18)이 도트 형태로 손상되면 화이트 도트로 보이게 되는 것과 같이, 휘점 불량, 암점 불량, 스크래치 불량 등을 포함한다. 즉, 제1 광학적 결함은 광학 필름(10)의 생산 공정 중, 액정층(18) 및/또는 배향층(16)이 손상됨으로써 광학 필름(10)의 위상 변화가 발생하는 불량을 말한다.

본 발명의 시스템(300)은 제2 검사 장치(70)보다 상대적으로 선명한 이미지를 구현할 수 있는 제1 검사 장치(1)를 이용하여 광학 필름(10)의 제1 광학적 결함을 1차적으로 검사를 한다.

한편, 제2 광학적 결함은, 예를 들어, 액정층(18)이 파이지는 않았으나 손가락으로 눌려 있는 듯한 형상의 얼룩 불량, 영상이 반전될 만큼의 손상을 입지 않으면서 블랙도 화이트도 아닌 그레이 형태의 얼룩 불량 등을 의미한다. 이러한 얼룩 불량 형태의 제2 광학적 결함은 제1 광학적 결함과 실질적으로 구분되는 것이 바람직하다. 또한, 본 시스템(300)에서 광학 필름(10)의 제2 광학적 결함은 제2 검사 장치(70)를 이용하여 2차적으로 검사된다.

제1 검사 장치(1)는 일정한 속도로 주행하는 광학 필름(10)의 결함을 1차적으로 검사하기 위한 것으로서, 광학 필름(10)에 광을 조사할 수 있는 조명 유니트(20), 광학 필름(10)과 조명 유니트(20) 사이에 배치된 제1 필터 유니트(30), 광학 필름(10)을 촬영할 수 있도록 조명 유니트(20)와 대향되게 설치된 촬영 유니트(40), 및 광학 필름(10)과 촬영 유니트(40) 사이에 배치된 필터(54)를 포함하는 제2 필터 유니트(50)를 구비한다.

제2 검사 장치(70)는 제1 검사 장치(1)에 의해 검사되지 않거나 전혀 다른 이유에 의해 광학 필름(10)의 표면에 발생한 결함을 2차적으로 검사하기 위한 것으로서, 제1 검사 장치(1)와 일정한 간격으로 이격되도록 설치된다. 제2 검사 장치(70)는 주행되는 광학 필름(10)에 광을 조사할 수 있는 제2 조명 유니트(72), 광학 필름(10)과 제2 조명 유니트(72) 사이에 배치된 제1 PL 필터 유니트(74), 광학 필름(10)을 촬영할 수 있도록 제2 조명 유니트(72)와 대향되게 설치된 제2 촬영 유니트(76), 및 광학 필름(10)과 제2 촬영 유니트(76) 사이에 배치되고 제1 PL 필터 유니트(74)와 광학적으로 매칭될 수 있는 제2 PL 필터 유니트(78)를 구비한다.

전술한 바와 같이, 광학 필름(10)은 서로 다른 광축을 갖는 L 및 R 패턴들이 형성된 패턴드 리타드 필름(FPR)이다. 이러한 FPR 형태의 광학 필름(10)은 기재(14)의 일면에 배향층(16)과 액정층(18)이 형성되어 있다. 후술하는 바와 같이, 패턴드 리타드 필름 또는 광학 필름(10)은 필름이 주행하는 과정에서 와인더(미도시)에 와인딩되기 전의 인-라인(IN-Line) 상태에 있는 것이 바람직하다. 대안적 실시예에 있어서, 광학 필름의 결함 검사 제1 검사 장치(1)는 제작이 완료된 패턴드 리타더 필름 또는 이러한 필름을 소정 크기로 절단한 광학 필터에 대해서도 적용될 수 있음을 당업자는 충분히 이해할 것이다.

광학 필름(10)의 기재(14)는 예를 들면, 트리아세틸 셀룰로오스, 폴리아크릴레이트, 폴리에틸렌 테레프탈레이트, 폴리카보네이트, 폴리에틸렌, 노보르넨 유도체 등의 사이클로 올레핀 폴리머로 이루어진다. 기재(14)는 면내 위상차 및 두께 방향 위상차가 거의 없는 등방성 기재이거나, 면내 위상차 없이 두께 방향의 위상차 값만을 갖는 것이 바람직하다. 한편, 광학 필름(10)의 폭은 기재(14)의 폭에 의해 실질적으로 결정되는데, 예를 들어, 1200mm 내지 2200mm의 폭으로 다양하게 구성될 수 있다.

광학 필름(10)의 배향층(16)은 제1배향막과 제2배향막이 서로 다른 배향 처리 방식과, 배향 방향을 가진다. 예를 들면, 제1배향막이 광 배향막이면, 제2 배향막은 러빙 배향막을 사용하고, 제1 배향막이 러빙 배향막이면 제2 배향막은 광 배향막을 사용한다. 이와 같이 처리 방식이 다른 배향막을 사용할 경우, 하나의 배향막 처리 방법이 다른 배향막에 영향을 미치지 않기 때문에 마스크나 포토레지스트와 같은 복잡한 과정을 거치지 않고도 서로 다른 배향 방향을 갖는 배향막을 손쉽게 형성할 수 있다. 예를 들면, 러빙 배향막에 UV 편광을 조사하더라도, 배향막의 배향 방향이 바뀌지 않으며, 거꾸로 광 배향막에 러빙 처리를 하는 경우도 마찬가지이다. 따라서, 러빙 배향막을 도포한 다음, 제1배향 방향으로 러빙 처리를 하여 러빙 배향막을 형성하고, 그 위에 일정한 간격으로 광 배향막용 고분자막을 도포하고, 제1배향 방향과 다른 제2배향 방향으로 편광된 UV 편광을 조사하는 방법으로, 서로 다른 배향 방향을 갖는 제1배향막과 제2배향막을 형성할 수 있다. 또한, 제1 배향막과 제2 배향막의 배향 방향은 서로 수직인 것이 바람직하다.

광학 필름(10)의 액정층(18)은 제1배향막 및 제2배향막의 상부에 형성되며, 제1배향막에 의해 배향된 제1영역 및 제2배향막에 의해 배향된 제2영역으로 패터닝된다. 배향막 위에 액정 물질을 도포하면, 액정 물질은 배향막의 배향 방향을 따라 배향되는데, 제1배향막과 제2배향막은 배향 방향이 서로 다르기 때문에, 그 위에 형성되는 액정층(18)도 서로 다른 방향으로 배향되어 액정층(18)이 교대로 형성되며, 그 결과 패터닝된 위상차층을 형성할 수 있다. 또한, 액정층(18)의 패턴은 제2 배향막의 도포 패턴에 따라 결정된다. 예를 들어, 제2배향막이 스트라이프 모양인 경우, 스트라이프 패턴의 액정층이 형성되고, 제2 배향막이 바둑판 모양으로 도포되는 경우 바둑판 패턴의 액정층이 형성된다.

한편, 액정층(18)은 그 두께에 따라 다양한 위상차를 가질 수 있으며, 바람직하게는 λ/4 위상차 지연층일 수 있다. 액정층(18)이 λ/4 위상차 지연층일 경우, 입사 광원이 선편광인 경우에는 원편광으로, 또 입사광원이 원편광인 경우에는 선편광으로 편광을 바꿔주는 역할을 수행하며, 이러한 기능은 3차원 입체 영상 표시에 유용하게 사용될 수 있기 때문이다.

도 1을 참조하면, 제1 검사 장치(1)의 조명 유니트(20)는 촬영 유니트(40)가 광학 필름(10)의 표면을 촬영하는데 필요한 광을 제공하기 위해 광학 필름(10) 방향으로 광을 조사하기 위한 것으로서, 예를 들어, LED 조명을 이용한다. 물론, 조명 유니트(20)는 LED 조명 이에 형광등, 백열등 등과 같은 조명을 이용할 수도 있음을 당업자는 이해할 것이다.

제1 검사 장치(1)의 제1 필터 유니트(30)는 광학 필름(10)과 조명 유니트(20) 사이에 배치되는 것으로서, 검사가 필요한 광학 필름(10)의 종류에 상응하는 특정의 각도로 편광 기능을 수행할 수 있는 PL(편광) 필터를 포함한다. 즉, 제1 필터 유니트(30)는 예를 들어, 광학 필름(10)이 IPS(In-Plane Swithcing) 패널에 사용되는 FPR인 경우와 TN(Twisted Nematic) 패널에 사용되는 FPR인 경우에 따라 각기 다른 특정 각도를 가진 PL 필터가 사용될 수 있다. 제1 필터 유니트(30)는 제2 필터 유니트(50)의 원형 편광 필터(54)의 기능을 보완하고 위상변화에 따른 빛의 포화를 제한하는 기능을 가진다.

제1 검사 장치(1)의 촬영 유니트(40)는 조명 유니트(20)로부터 조사된 광이 제1 필터 유니트(30)에 의해 편광되어 광학 필름(10)이 가지고 있는 편광축 및 제2 필터 유니트(50)를 통해 보상 또는 편광된 빛에 의해 최적화된 광학 필름(10)의 표면을 촬영하기 위한 것으로서, 카메라(42)를 포함한다.

제1 검사 장치(1)의 제2 필터 유니트(50)는 광학 필름(10)과 촬영 유니트(40) 사이에 배치된 CPL(원형 편광) 필터(54)를 포함한다. CPL 필터(54)는 광학 필름(10)의 L 패턴(좌안용 패턴)과 R 패턴(우안용 패턴)을 분리시키고 빛의 산란을 제어하기 위한 것이다. 또한, 제2 필터 유니트(50)의 필터(54)는 후술하는 바와 같이, 원형의 모듈 구조를 가질 수 있고, 후술하는 바와 같이, 제2 필터 유니트(50)는 촬영 유니트(40)의 카메라(42)의 선단에 일체로 고정 설치되는 것이 바람직하다.

제2 검사 장치(70)의 제2 조명 유니트(72)는 제2 촬영 유니트(76)가 광학 필름(10)의 표면을 촬영하는데 필요한 광을 제공하기 위해 광학 필름(10) 방향으로 광을 조사하기 위한 것으로서, 예를 들어, LED 조명을 이용한다. 물론, 제2 조명 유니트(72)는 LED 조명 이에 형광등, 백열등 등과 같은 조명을 이용할 수도 있음을 당업자는 이해할 것이다.

제2 검사 장치(70)의 제1 PL 필터 유니트(74)는 광학 필름(10)과 제2 조명 유니트(72) 사이에 배치되는 것으로서, 검사가 필요한 광학 필름(10)의 종류에 상응하는 특정의 각도로 편광 기능을 수행할 수 있는 PL(편광) 필터를 포함한다. 즉, 제1 PL 필터 유니트(74)는 예를 들어, 광학 필름(10)이 IPS(In-Plane Swithcing) 패널에 사용되는 FPR인 경우와 TN(Twisted Nematic) 패널에 사용되는 FPR인 경우에 따라 각기 다른 특정 각도를 가진 PL 필터가 사용될 수 있다. 제1 PL 필터 유니트(74)의 편광 필터는 광학 필름(10)의 위상변화에 따른 빛의 포화를 제한하는 기능을 가진다.

제2 검사 장치(70)의 제2 촬영 유니트(76)는 제2 조명 유니트(72)로부터 조사된 광이 제1 PL 필터 유니트(74)에 의해 편광되어 광학 필름(10)이 가지고 있는 편광축과 제2 PL 필터 유니트(78)를 통해 보상 또는 편광된 빛에 의해 최적화된 광학 필름(10)의 표면을 촬영하기 위한 것으로서, 카메라(71)를 포함한다.

제2 검사 장치(70)의 제2 PL 필터 유니트(78)는 전술한 제1 PL 필터 유니트(74)의 편광 필터와 구조적, 기능적으로 동일한 제2 편광 필터를 구비한다. 즉, 제2 필터 유니트(78)의 제2 편광 필터 역시 광학 필름(10)의 위상변화에 따른 빛의 포화를 제한하는 기능을 가진다. 광학 필름(10)이 IPS(In-Plane Swithcing) 패널에 사용되는 FPR인 경우와 TN(Twisted Nematic) 패널에 사용되는 FPR인 경우에 따라 각기 다른 특정 각도를 가진 제2 편광 필터가 사용된다. 따라서, 제1 PL 필터 유니트(74)가 IPS 패널에 상응하는 광특성을 가진 제1 PL 필터를 사용하는 경우, 제2 PL 필터 유니트(78) 역시 제1 PL 필터와 동일한 광특성을 가진 제2 PL 필터를 사용한다. TN 패널에 사용될 광학 필름(10)의 경우도 동일하다.

도 2는 본 발명의 다른 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 구성도이다. 도 1에서 설명된 참조부호와 동일한 구성요소는 동일한 기능을 가진 동일부재이다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 다른 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템(400)은, 미도시된 성형부에서 기재(14)의 일면에 배향층(16)과 액정층(18)이 인쇄된 FPR과 같은 광학 필름(10) 미도시된 와인더()에 의해 소정 속도로 주행되는 경로 상에 설비된다. 검사 시스템(400)은 주행하고 있는 광학 필름(10)의 폭 방향으로 소정 간격을 가진 다수의 섹터들로 분할하여 연속적으로 이미지를 촬영함으로써 즉각적으로 제조 라인 상에서 광학 필름(10)이 와인더에 감기기 전에 광학 필름(10)의 위상 차이에 따른 결함(3D 불량)을 검사하기 위한 것이다. 또한, 본 시스템(400)은 제1 광학적 결함과 제2 광학적 결함으로 구분된 광학 필름(10)의 3D 불량들을 서로 다른 구성과 방식을 각각 구비하는 제1 검사 장치(100)와 제2 검사 장치(200)를 이용하여 검사한다. 즉, 본 시스템(400)에 있어서, 제1 광학적 결함은 제1 검사 장치(100)에 의해 1 차적으로 검사되고 제2 광학적 결함은 제2 검사 장치(200)에 의해 2차적으로 검사된다. 이를 위해, 각각의 검사 장치들(100)(200)은 메인 프레임(102) 상에 설치되어 성형부로부터 와인더까지 광학 필름(10)의 주행을 가이드하는 다수의 롤러들(104)을 구비한다.

도 3은 본 발명의 다른 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 제1 검사 장치의 주요 구성들을 개략적으로 도시한 평면도이다.

도 2및 도 3을 참조하면, 본 실시예에 따른 광학 필름의 제1 검사 장치(100)는 전술한 실시예와 유사하게, 기재(14)의 일면에 배향층(16)과 액정층(18)이 형성되어 FPR과 같은 광학 필름(10)을 생산하는 과정 즉, 광학 필름(10)이 와인더(미도시)에 와인딩되기 전의 IN-Line 상태에서, 광학 필름(10)의 위상변화에 의한 3D 불량(제1 광학적 결함)을 검사하기 위한 것이다.

전술한 바와 같이, 본 실시예에 따른 제1 검사 장치(100)는 다수의 롤러들(104)을 따라 소정 속도로 주행되는 광학 필름(10)에 광을 조사하기 위한 조명 유니트(120)와, 조명 유니트(120)와 광학 필름(10) 사이에 설치된 제1 필터 유니트(130), 조명 유니트(120)를 통해 광이 조사된 상태에서 광학 필름(10)의 폭 방향의 소정 영역을 촬영하기 위한 다수의 카메라들(142)을 가진 촬영 유니트(140), 및 촬영 유니트(140)의 각각의 카메라(142)의 선단에 각각 설치된 필터(154)를 포함하는 제2 필터 유니트(150)를 구비한다.

도 4는 도 3에 도시된 제1 검사 장치의 조명 유니트 부위의 확대도이고, 도 5는 조명 유니트 부위를 발췌 도시한 도 3의 우측면도이다.

도 2 내지 도 5를 참조하면, 조명 유니트(120)는 광학 필름(10)의 폭 방향 전체에 걸쳐 광을 조사하기 위한 것으로서, 조명의 수명, 휘도의 안정성, 유지 보수성 등을 감안해 엘이디를 이용하는 것이 바람직하다. 조명 유니트(120)는 후술하는 바와 같이, 홀수 카메라 그룹(141)과 짝수 카메라 그룹(143)에 각각 대응되는 홀수 조명 그룹(121)과 짝수 조명 그룹(123)으로 분리된다. 홀수 및 짝수 조명 그룹들(121)(123)은 메인 프레임(102)을 가로질러 설치된 조명 프레임(125)에 설치된다.

조명 유니트(120)는 다수의 엘이디들(122)을 포함하는 조명 모듈(124), 엘이디(122)로부터 방사되는 광을 면광원으로 변환시켜 광학 필름(10)에 조사시킬 수 있도록 광학 필름(10)의 폭보다 큰 길이를 가진 도광판(126), 조명 모듈(124)과 도광판(126)이 설치될 수 있는 조명 케이스(128), 및 엘이디(122)로부터 발생되는 열을 외부로 방출하기 위해 핀 구조를 가진 방열부재(127)를 구비한다. 조명 유니트(120)의 엘이디(122)의 수 또는 그 배치 등은 알려진 방식의 다른 조명으로 대체될 수 있음은 당업자가 충분히 이해할 수 있다. 또한, 도 5에서 숫자들(원문자들)은 광학 필름(10)의 폭 방향으로 카메라들의 배치 순서를 나타낸다.

도 6은 제1 검사 장치의 제1 필터 유니트 부위를 발췌 도시한 도 3의 우측면도이다.

도 2, 도 3 및 도 6을 참조하면, 제1 필터 유니트(130)는 조명 유니트(120)로부터 출사되는 광을 편광시키기 위한 편광 필터를 구비한다. 후술하는 바와 같이, 편광 필터는 광학 필름(10)의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 필터 쉬트(132)(134)를 포함한다. 제1 필터 유니트(130)는 광학 필름(10)의 위상변화에 따른 빛의 포화를 제한하는 기능을 가진다.

본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 시스템(400)는 IPS(In-Plane Swithcing) 패널에 사용되는 FPR필름 또는 TN(Twisted Nematic) 패널에 사용되는 FPR 필름을 각각 검사할 수 있다. 따라서, 제1 검사 장치(100)는 검사 대상인 광학 필름(10)의 종류에 상응하도록 각기 다른 특정 각도를 가진 편광 필터(쉬트)가 제1 필터 유니트(130)로 사용되어야 한다. 예를 들어, IPS 패널을 위한 FPR 필름은 배향막을 45도 각도로 전면 도포하고, 노광기에 마스크를 장착한 다음 UV를 조사하여 에너지를 흡수한 구간은 배향막이 135도 각도로 회전하고, 그 위에 액정층을 도포하여 최종적으로 45도 및 135도의 각도를 가진 패턴 쌍을 형성하는 한편, TN 패널을 위한 FPR 필름은 0도 각도로 배향막을 도포하고, 에너지를 부여하여 90도 각도로 회전시켜 액정층을 도포하여 0도와 90도 각도의 패턴 쌍을 형성한다. 따라서, 제1 필터 유니트(130)는 검사 대상 광학 필름(10)의 패턴 쌍들이 형성하는 각도의 종류에 따라 서로 다른 고유의 각도를 가진 필터 쉬트들(132)(134)을 사용할 필요가 있다. 그러므로, 본 실시예에 따른 장치(100)는 전술한 바와 같은 IPS 패널 및 TN 패널에 적합한 고유의 편광각을 가진 2개의 필터 쉬트들(132)(134) 사이의 어느 하나를 선택할 수 있도록 한다. 이를 위해, 상기 장치(100)는 필터 이송 부재(136)를 구비한다. 즉, 필터 이송 부재(136)는 조명 유니트(120)와 촬영 유니트(140)가 형성하는 초점 라인(FL:도 7 참조)에 광학 필름(10)의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 제1 필터 쉬트(132) 및 제2필터 쉬트(134) 선택적으로 위치시킬 수 있다. 그 구체적인 작동 원리는 아래에서 상세히 설명한다.

제1 필터 유니트(130)는 조명 유니트(120)의 광이 각각 투과될 수 있도록 광학 필름(10)의 폭 방향으로 길게 각각 형성된 제1 관통 슬릿(138a)과 제2 관통 슬릿(138b)이 마련되며 이동 가능하게 설치된 제1 필터 브라켓(138), 제1 관통 슬릿(138a)과 제2 관통 슬릿(138b)을 각각 막도록 각각 제1 필터 쉬트(132)와 제2 필터 쉬트(134)가 위치된 상태에서, 제1 필터 쉬트(132)와 제2 필터 쉬트(134)의 가장자리를 제1 필터 브라켓(138)에 고정하기 위한 다수의 고정편들(138c)을 구비한다. 또한, 제1 필터 유니트(130)는 홀수 카메라 그룹(141)에 상응하는 위치에 설치된 홀수 제1 필터 그룹(131)과 짝수 카메라 그룹(143)에 상응하는 위치에 설치된 짝수 제1 필터 그룹(133)을 구비한다. 홀수 및 짝수 제1 필터 그룹들(131)(133)은 각각 동일한 구조의 제1 필터 브라켓(138)에 제1 필터 쉬트(132)와 제2 필터 쉬트(134)가 설치된다. 따라서, 홀수 및 짝수 제1 필터 그룹들(131)(133)의 작동 방식도 동일하다.

도 7은 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템의 제1 검사 장치의 필터 이송 부재에 의한 제1 필터 유니트의 동작을 설명하기 위한 개념도이다.

도 7을 참조하면, 필터 이송 부재(136)는 제1 필터 브라켓(138)의 양단에 마련된 한 쌍의 가이드 봉들(135), 제1 필터 프레임(137)에 고정 설치되고 가이드 봉들(135)이 슬라이딩 삽입될 수 있는 가이드 블록(139), 제1 필터 브라켓(138)의 위치를 고정할 수 있도록 가이드 블록에 마련된 위치 고정부(139a)를 구비한다. 예를 들어, 검사 대상 광학 필름(10)이 IPS 패널에 사용되는 경우, 제2 관통 슬릿(138b)에 설치된 제2 필터 쉬트(134)가 초점 라인(FL)에 위치되고, 검사 대상 광학 필름(10)이 TN 패널에 사용되는 경우, 필터 이송 부재(136)의 가이드 봉들(135)은 가이드 블록(139)을 따라 화살표 "A" 방향으로 이동하여 제1 관통 슬릿(138a)에 설치된 제1 필터 쉬트(132)가 초점 라인(FL)에 위치되게 할 수 있다.

대안적 실시예에 있어서, 필터 이송 부재(136)는 공압 또는 유압에 의해 그 위치가 선택적으로 조절될 수 있도록 구성되는 것이 바람직하다.

도 8은 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 결함 검사 시스템의 제1 검사 장치의 촬영 유니트 부위를 발췌 도시한 도 2의 좌측면도이다.

도 2, 도 3 및 도 8에 도시된 바와 같이, 촬영 유니트(140)는 주행하고 있는 광학 필름(10)을 연속적으로 촬영하기 위한 것으로서, 통상의 구조와 해상도를 가진 다수의 카메라들(142)을 구비한다.

카메라들(142)은 광학 필름(10)의 폭 방향으로 미리 결정된 제1 간격(D1)으로 서로 이격 배치된 다수의 홀수 카메라들(142)을 포함하는 홀수 카메라 그룹(141)과, 홀수 카메라 그룹(141)으로부터 광학 필름(10)의 주행 방향으로 미리 결정된 간격만큼 이격 배치되고 홀수 카메라들(142)에 의해 촬영되지 않는 광학 필름(10)의 폭 부분들을 촬영할 수 있도록 제1 간격(D1)의 중심에 초점이 각각 맞춰지도록 미리 결정된 제2 간격(D2)으로 서로 이격 배치된 다수의 짝수 카메라들(142)을 포함하는 짝수 카메라 그룹(143)으로 구분된다.

홀수 카메라 그룹(141)에 속하는 홀수 카메라들(142)과 짝수 카메라 그룹(143)에 속하는 짝수 카메라들(142)은 각각 메인 프레임(102)을 가로질러 광학 필름(10)의 폭 방향과 평행하게 배치되고 수직 방향으로 서로 소정 간격 이격된 홀수 그룹 프레임(145)과 짝수 그룹 프레임(147)에 각각 설치된다. 따라서, 홀수 카메라 그룹(141)에 속하는 각각의 홀수 카메라(142)와 짝수 카메라 그룹(143)에 속하는 각각의 카메라(142)와 지그 재그 패턴으로 배열되기 때문에, 주행하는 광학 필름(10)은 먼저 홀수 카메라 그룹(141)의 카메라들(142)에 의해 광학 필름(10)의 폭 방향으로 제1 간격(D1)만큼 이격된 간격들을 제외한 홀수 영역들()이 촬영되고, 이어서 짝수 카메라 그룹(143)의 짝수 카메라들(142)에 의해 짝수 영역들()이 촬영된다. 홀수 카메라 그룹(141)에 속하는 각각의 홀수 카메라(142) 사이의 제1 간격(D1)과 짝수 카메라 그룹(143)에 속하는 각각의 짝수 카메라(142) 사이의 제2 간격(D2)은 서로 동일한 것이 바람직하고, 인접하는 각각의 제1 간격(D1)과 제2 간격(D2)은 동일 선상에 위치시킬 때 그 폭 방향 가장자리들이 약간 중첩되거나 서로 경계를 이루는 것이 바람직하다.

각각의 카메라들(142)은 예를 들어, 대략 35마이크로 미터의 해상도를 가지며, 초당 900장 내지 1200장의 영상을 촬영할 수 있는 성능을 가진 알려진 카메라가 사용될 수 있다. 촬영 유니트(140)에 설치되는 카메라들(142)의 설치의 수는 각각의 카메라(142)의 해상도 사용되는 광학 필름(10)의 폭의 길이 등에 따라 다르게 배치될 수 있음은 물론이다. 또한, 본 실시예에 따른 장치(100)는 충분한 수의 카메라들(142)을 마련하고, 검사 대상 광학 필름(10)의 폭에 상응하도록 작동이 불필요한 카메라를 오프시킬 수도 있다.

도 8을 참조하면, 제2 필터 유니트(150)는 광학 필름(10)의 L 및 R 패턴들을 서로 분리하고 빛의 산란을 제어하기 위한 원형 편광 필터(154)를 구비한다. 원형 편광 필터(154)는 원형으로 조립된 필터 모듈을 포함한다. 필터 모듈(158)은 촬영 유니트(140)의 각각의 카메라(142)의 끝단에 일체로 고정 설치된다. 제2 필터 유니트(150)의 필터(154)의 조립 순서, 모듈 구조, 카메라(142)에 대한 설치 구조는 광학적 특성을 훼손하지 않는 범위 내에서 적절하게 재배치되거나 재조절 될 수 있음은 당업자가 충분히 이해할 것이다. 또한, 필터 모듈(158)과 촬영 유니트(140)의 카메라(142) 끝단 사이의 연결은 나사 결합, 끼움 결합, 커플링, 컨넥터 등과 같이 다양한 방식에 의해 이루어질 수 있음을 당업자는 이해할 것이다.

도 10은 도 2의 제2 검사 장치의 주요 부위의 확대도이고, 도 11은 도 10의 평면도이다. 도 1에서 설명된 참조부호와 동일한 구성요소는 동일한 기능을 가진 동일부재이다.

도 2, 도 10 및 도 11을 참조하면, 제2 검사 장치(200)는 제1 검사 장치(100)에 의해 광학 필름(10)의 제1 광학적 결함이 검사된 후, 제1 광학적 결함과 다른 제2 광학적 결함을 검사하기 위한 것이다.

제2 검사 장치(200)는 제1 검사 장치(100)에 의해 검사된 후 롤러들(104)을 따라 소정 속도로 주행되는 광학 필름(10)에 광을 조사하기 위한 제2 조명 유니트(220)와, 제2 조명 유니트(220)와 광학 필름(10) 사이에 설치된 제1 PL 필터 유니트(230), 제2 조명 유니트(220)를 통해 광이 조사된 상태에서 광학 필름(10)의 폭 방향의 소정 영역을 촬영하기 위한 다수의 카메라들(242)을 가진 제2 촬영 유니트(240), 광학 필름(10)과 제2 촬영 유니트(240) 사이에 설치되며 제1 PL 필터 유니트(230)의 광특성과 매칭될 수 있는 광특성을 가진 제2 PL 필터 유니트(260)를 구비한다.

제2 조명 유니트(220)는 전술한 제1 검사 장치의 조명 유니트(120)의 구조 및 기능이 실질적으로 동일하다. 제2 조명 유니트(220)는 광학 필름(10)의 폭 방향 전체에 걸쳐 광을 조사하기 위한 것으로서, 조명의 수명, 휘도의 안정성, 유지 보수성 등을 감안해 엘이디를 이용하는 것이 바람직하다.

제2 조명 유니트(220)는 메인 프레임(102)을 가로질러 설치된 조명 프레임(225), 조명 프레임(225)에 설치된 다수의 엘이디들(222)을 포함하는 조명 모듈(224), 엘이디(122)로부터 방사되는 광을 면광원으로 변환시켜 광학 필름(10)에 조사시킬 수 있도록 광학 필름(10)의 폭보다 큰 길이를 가진 도광판(226), 조명 모듈(224)과 도광판(226)이 설치될 수 있는 조명 케이스(228), 및 엘이디(222)로부터 발생되는 열을 외부로 방출하기 위해 핀 구조를 가진 방열부재(227)를 구비한다. 제2 조명 유니트(220)의 엘이디(222)의 수 또는 그 배치 등은 알려진 방식의 다른 조명으로 대체될 수 있음은 당업자가 충분히 이해할 수 있다.

제2 촬영 유니트(240)는 주행하고 있는 광학 필름(10)을 연속적으로 촬영하기 위한 것으로서, 통상의 구조와 해상도를 가진 다수의 카메라들(242)을 구비한다. 다수의 카메라들(242)은 광학 필름(10)의 폭 방향으로 소정 간격(D3:도 10 참조)으로 서로 이격 배치된다. 여기서, 간격(D3)는 각각의 카메라들(242)이 광학 필름(10)의 폭을 약간씩 중첩하여 촬영할 수 있도록 결정될 수 있지만, 그러한 중첩부가 나타나지 않도록 선택되는 것이 바람직하다. 각각의 카메라들(242)은 메인 프레임(102)을 가로질러 광학 필름(10)의 폭 방향과 평행하게 배치된 카메라 프레임(245)에 설치된다. 각각의 카메라들(242)은 예를 들어, 대략 100마이크로 미터의 해상도를 가지며, 초당 900장 내지 1200장의 영상을 촬영할 수 있는 성능을 가진 알려진 카메라가 사용될 수 있다. 제2 촬영 유니트(240)에 설치되는 카메라들(242)의 설치의 수는 각각의 카메라(242)의 해상도 사용되는 광학 필름(10)의 폭의 길이 등에 따라 다르게 배치될 수 있음은 물론이다. 또한, 본 실시예에 따른 장치(200)는 충분한 수의 카메라들(242)을 마련하고, 검사 대상 광학 필름(10)의 폭에 상응하도록 작동이 불필요한 카메라를 오프시킬 수도 있다.

제1 검사 장치(100)의 촬영 유니트(140)의 카메라들(142)은 짝수 카메라 그룹과 홀수 카메라 그룹으로 분리 배열되지만, 제2 검사 장치(200)의 제2 촬영 유니트(240)의 카메라들(242)은 그러한 구별이 불필요하다.

도 12는 도 2 및 도 10에 도시된 제1 PL 필터 유니트 부위를 발췌 도시한 좌측면도이다.

도 2, 도 10 및 도 12를 참조하면, 제1 PL 필터 유니트(230)는 제2 조명 유니트(220)로부터 출사되는 광을 편광시키기 위한 편광 필터를 구비한다. 전술한 제1 검사 장치(100)의 제1 필터 유니트(130)와 유사하게, 편광 필터는 광학 필름(10)의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 필터 쉬트(232)(234)를 포함한다. 이에 대해서는 아래에서 더 상세히 설명된다.

본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 장치(200)는 IPS(In-Plane Swithcing) 패널에 사용되는 FPR필름 또는 TN(Twisted Nematic) 패널에 사용되는 FPR 필름을 각각 검사할 수 있다. 따라서, 본 장치(200)는 검사 대상인 광학 필름(10)의 종류에 상응하도록 각기 다른 특정 각도를 가진 편광 필터(쉬트)가 제1 PL 필터 유니트(230)로 사용되어야 한다. 예를 들어, IPS 패널을 위한 FPR 필름은 배향막을 45도 각도로 전면 도포하고, 노광기에 마스크를 장착한 다음 UV를 조사하여 에너지를 흡수한 구간은 배향막이 235도 각도로 회전하고, 그 위에 액정층을 도포하여 최종적으로 45도 및 235도의 각도를 가진 패턴 쌍을 형성하는 한편, TN 패널을 위한 FPR 필름은 0도 각도로 배향막을 도포하고, 에너지를 부여하여 90도 각도로 회전시켜 액정층을 도포하여 0도와 90도 각도의 패턴 쌍을 형성한다. 따라서, 제1 PL 필터 유니트(230)는 검사 대상 광학 필름(10)의 패턴 쌍들이 형성하는 각도의 종류에 따라 서로 다른 고유의 각도를 가진 필터 쉬트들(232)(234)을 사용할 필요가 있다. 그러므로, 제2 검사 장치(200)는 전술한 바와 같은 IPS 패널 및 TN 패널에 적합한 고유의 편광각을 가진 2개의 필터 쉬트들(232)(234) 사이의 어느 하나를 선택할 수 있도록 한다. 이를 위해, 제2 검사 장치(200)는 제1 이송 부재(236)를 구비한다. 즉, 제1 이송 부재(236)는 제2 조명 유니트(220)와 제2 촬영 유니트(240)가 형성하는 초점 라인(FL:도 10 참조)에 광학 필름(10)의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 제1 필터 쉬트(232) 및 제2필터 쉬트(234) 선택적으로 위치시킬 수 있다. 그 구체적인 작동 원리는 아래에서 상세히 설명한다.

도 12에 도시된 바와 같이, 제1 PL 필터 유니트(230)는 제2 조명 유니트(220)의 광이 각각 투과될 수 있도록 광학 필름(10)의 폭 방향으로 길게 각각 형성된 제1 관통 슬릿(238a)과 제2 관통 슬릿(238b)이 마련되며 이동 가능하게 설치된 제1 필터 브라켓(238), 제1 관통 슬릿(238a)과 제2 관통 슬릿(238b)을 각각 막도록 각각 제1 필터 쉬트(232)와 제2 필터 쉬트(234)가 위치된 상태에서, 제1 필터 쉬트(232)와 제2 필터 쉬트(234)의 가장자리를 제1 필터 브라켓(238)에 고정하기 위한 다수의 고정편들(238c)을 구비한다. 또한, 제1 필터 브라켓(238)은 제3 관통 슬릿(238d)을 더 구비한다. 이러한 제3 관통 슬릿(238d)은 전술한 바와 같은 PN 패널, IPS 패널 이외의 다른 패널에 상응하는 다른 종류의 광학 필터에 적합한 편광 필터 쉬트 또는 다른 형태의 테스트용 편광 필터 쉬트를 부착하기 위한 스페어 공간이다. 따라서, 제3 관통 슬릿(238d)은 통상적으로 편광 필터 쉬트를 부착하지 않은 상태에서 사용된다.

제1 이송 부재(236)는 제1 필터 브라켓(238)의 양단이 각각 설치되고 메인 프레임(102)에 설치된 가이드 레일(106)과 가이드 봉(108)에 각각 결합되는 가이드 블록(231)을 구비한다. 가이드 블록(231)은 제1 필터 브라켓(238)의 일단이 설치되는 브라켓 설치부(235), 가이드 레일(106)에 결합되는 레일 결합부(237), 가이드 봉(108)이 삽입되는 봉 삽입부(233)를 구비한다. 제1 이송 부재(236)는 공압 또는 유압에 의해 그 위치가 조절될 수 있도록 구성되는 것이 바람직하다.

도 14에 도시된 바와 같이, 예를 들어, 검사 대상 광학 필름(10)이 IPS 패널에 사용되는 필름일 경우, 제1 관통 슬릿(238a)에 설치된 제1 필터 쉬트(232)가 초점 라인(FL)에 위치된다. 그러나, 검사 대상 광학 필름(10)이 TN 패널에 사용되는 필름일 경우, 제1 이송 부재(236)는 제1 필터 브라켓(238)을 화살표 "A" 방향으로 이동시켜 제2 관통 슬릿(238b)에 설치된 제2 필터 쉬트(234)가 초점 라인(FL)에 위치되게 한다.

도 13은 도 2 및 도 10에 도시된 제2 PL 필터 유니트 부위를 발췌 도시한 우측면도이다.

도 2, 도 10, 도 13을 참조하면, 제2 PL 필터 유니트(260)는 전술한 제1 PL 필터 유니트(230)의 편광 필터와 구조적, 기능적으로 동일한 제2 편광 필터를 구비한다. 즉, 제2 필터 유니트(260)의 제2 편광 필터 역시 광학 필름(10)의 위상변화에 따른 빛의 포화를 제한하는 기능을 가진다. 광학 필름(10)이 IPS(In-Plane Swithcing) 패널에 사용되는 FPR인 경우와 TN(Twisted Nematic) 패널에 사용되는 FPR인 경우에 따라 각기 다른 특정 각도를 가진 제2 편광 필터가 사용된다. 따라서, 제1 PL 필터 유니트(230)가 IPS 패널에 상응하는 광특성을 가진 제1 PL 필터를 사용하는 경우, 제2 PL 필터 유니트(260) 역시 제1 PL 필터와 동일한 광특성을 가진 제2 PL 필터를 사용한다. TN 패널에 사용될 광학 필름(10)의 경우도 동일하다.

따라서, 제2 PL 필터 유니트(260)는 검사 대상 광학 필름(10)의 패턴 쌍들이 형성하는 각도의 종류에 따라 서로 다른 고유의 각도를 가진 필터 쉬트들(262)(264)을 사용할 필요가 있다. 그러므로, 본 실시예에 따른 장치(200)는 전술한 바와 같은 IPS 패널 및 TN 패널에 적합한 고유의 편광각을 가진 2개의 필터 쉬트들(262)(264) 사이의 어느 하나를 선택할 수 있도록 한다. 이를 위해, 상기 장치(200)는 제2 이송 부재(266)를 구비한다. 즉, 제2 이송 부재(266)는 제2 조명 유니트(220)와 제2 촬영 유니트(240)가 형성하는 초점 라인(FL:도 10 참조)에 광학 필름(10)의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 제1 필터 쉬트(262) 및 제2필터 쉬트(264) 선택적으로 위치시킬 수 있다. 그 구체적인 작동 원리는 아래에서 상세히 설명한다.

도 13에 도시된 바와 같이, 제2 PL 필터 유니트(260)는 제2 조명 유니트(220)의 광이 각각 투과될 수 있도록 광학 필름(10)의 폭 방향으로 길게 각각 형성된 제1 관통 슬릿(268a)과 제2 관통 슬릿(268b)이 마련되며 이동 가능하게 설치된 제2 필터 브라켓(268), 제1 관통 슬릿(268a)과 제2 관통 슬릿(268b)을 각각 막도록 각각 제1 필터 쉬트(262)와 제2 필터 쉬트(264)가 위치된 상태에서, 제1 필터 쉬트(262)와 제2 필터 쉬트(264)의 가장자리를 제1 필터 브라켓(268)에 고정하기 위한 다수의 고정편들(268c)을 구비한다. 또한, 제1 필터 브라켓(268)은 제3 관통 슬릿(268d)을 더 구비한다. 이러한 제3 관통 슬릿(268d)은 전술한 바와 같은 PN 패널, IPS 패널 이외의 다른 패널에 상응하는 다른 종류의 광학 필터에 적합한 편광 필터 쉬트 또는 다른 형태의 테스트용 편광 필터 쉬트를 부착하기 위한 스페어 공간이다. 따라서, 제3 관통 슬릿(268d)은 통상적으로 편광 필터 쉬트를 부착하지 않은 상태에서 사용된다.

제2 이송 부재(266)는 제2 필터 브라켓(268)의 양단이 각각 설치되고 메인 프레임(102)에 설치된 가이드 레일(106)과 가이드 봉(108)에 각각 결합되는 가이드 블록(261)을 구비한다. 가이드 블록(261)은 제2 필터 브라켓(268)의 일단이 설치되는 브라켓 설치부(265), 가이드 레일(106)에 결합되는 레일 결합부(267), 가이드 봉(108)이 삽입되는 봉 삽입부(263)를 구비한다. 제1 이송 부재(266)는 공압 또는 유압에 의해 그 위치가 조절될 수 있도록 구성되는 것이 바람직하다.

도 14는 제2 검사 장치의 제1 및 제2 PL 필터 유니트들의 동작을 설명하기 위한 개념도이다.

도 14에 도시된 바와 같이, 예를 들어, 검사 대상 광학 필름(10)이 IPS 패널에 사용되는 필름이고, 제1 필터 유니트(230)의 제1 필터 브라켓(238)의 제1 관통 슬릿(238a)에 설치된 제1 필터 쉬트(232)가 초점 라인(FL)에 위치되리 경우, 제2 필터 유니트(260)의 제2 필터 브라켓(268) 역시 제1 관통 슬릿(268a)에 위치된 제1 필터 쉬트(262)가 초점 라인(FL)에 위치됨으로써, 제1 필터 유니트(230)의 제1 필터 쉬트(232)와 제2 필터 유니트(260)의 제1 필터 쉬트(262)가 서로 동일한 광특성을 이용하여 그에 상응하는 광학 필름(10)의 표면을 검사하도록 준비된다. 그러나, 검사 대상 광학 필름(10)이 TN 패널에 사용되는 광학 필름(10)일 경우, 제1 이송 부재(236)에 의해 제1 필터 브라켓(238)이 화살표 "A" 방향으로 이동되어 제2 관통 슬릿(238b)에 설치된 제2 필터 쉬트(234)를 초점 라인(FL)에 위치시키게 되면, 제2 이송 부재(266) 역시 제2 필터 브라켓(268)을 화살표 "B" 방향으로 이송시켜, 제2 필터 유니트(260)의 제2 관통 슬릿(268b)에 위치된 제2 필터 쉬트(264)를 초점 라인(FL)에 위치되도록 한다.

다시, 도 2를 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템(400)은 제1 검사 장치(100)의 촬영 유니트(140)의 카메라들(142)과 제2 검사 장치(200)의 제2 촬영 유니트(240)의 카메라들(242)에 의해 각각 촬영된 영상들에 나타난 결함의 위치 정보에 상응하도록 주행하는 광학 필름(10)의 표면에 결함 유무를 마킹할 수 있는 마킹 유니트(190)를 더 구비한다. 마킹 유니트(190)는 후술하는 제어 유니트에 의해 제어된다.

도 15는 도 2에 도시된 마킹 유니트 부위의 확대도이다.

도 2 및 도 15을 참조하면, 마킹 유니트(190)는 소정의 패턴(예, 원형 고리 모양)의 마커를 광학 필름의 해당 위치 정보에 마킹할 수 있도록 광학 필름(10)과 대략 20mm 간격으로 배치된 다수의 환형의 분출구를 가진 분사기들(192)을 구비한다.

각각의 분사기(192)는 잉크를 저장할 수 있는 잉크 저장통(194)이 설치될 수 있는 마킹 본체(196), 분출구를 선택적으로 온오프시킴으로써 공기압에 의해 잉크 저장통(194)에 저장된 잉크를 단속적으로 절환할 수 있는 솔레노이드 밸브(198)를 구비한다. 잉크 저장통(194)은 마킹 본체(196)에 탈착 가능하게 결합될 수 있는 카트리지 구조를 가진다. 따라서, 잉크 저장통(194)의 잉크가 소진되는 경우 새로운 카트리지로 교환될 수 있다.

본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템(400)은 전술한 바와 같이, 제1 검사 장치(100)의 촬영 유니트(140) 및 제2 검사 장치(200)의 촬영 유니트(240)에 의해 촬영된 영상들에 표시된 결함의 위치 정보를 연산 및 저장할 수 있는 제어 유니트(미도시), 및 각각의 영상을 표시할 수 있는 디스플레이 유니트(미도시)를 더 구비한다.

제어 유니트는 예를 들어, 제1 검사 장치(100)의 제1 필터 유니트(130)의 위치 이동 동작, 제2 검사 장치(200)의 제1 및 제2 PL 필터 유니트들(230)(260)의 위치 이동 동작 등과 같이 시스템(400)의 기능들을 수행하는 전반적인 플로우에 관계되도록 설정될 수 있음은 당업자가 충분히 이해할 것이다.

한편, 본 시스템(400)에 있어서, 제1 검사 장치(100)와 제2 검사 장치(200)는 광학 필름(10)의 주행 순서에 따라 배치될 필요는 없다. 즉, 본 실시예는 광학 필름(10)의 제1 광학적 결함을 제1 검사 장치(100)를 통해 먼저 검사한 후 광학 필름(10)의 제2 광학적 결함을 제2 검사 장치(200)를 통해 검사하는 방식이다. 그러나, 그 순서를 변경하여 제2 검사 장치(200)를 이용하여 광학 필름(10)의 제2 광학적 결함을 먼저 검사한 후 제1 검사 장치(100)를 이용하여 광학 필름(10)의 제1 광학적 결함을 검사할 수도 있음을 당업자는 충분히 이해할 것이다.

또한, 광학 필름(10)의 주행 속도와 제1 검사 장치(100)의 카메라들(142)과 제2 검사 장치(200)의 카메라들(242)의 성능(해상도 등)은 상호 의존적 관계에 있음을 당업자는 충분히 이해할 것이다.

본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템(400)에 있어서, 제1 검사 장치(100)의 촬영 유니트(140)의 카메라(142)는 세로 방향의 흑백 스트라이프(L패턴 및 R패턴의 연속된 상태)의 백색 스트라이프의 소정 부위가 원형 또는 도트 형식으로 손상된 3D 불량을 검사할 있다. 따라서, 이렇게 손상된 도트는 영상 반전에 의해 블랙 도트로 보여서, 휘점 또는 암점 불량을 나타내거나, 백색 스트라이프의 일 부분에 스크래치가 형성됨으로써 나타나는 불량(스크라치 불량)을 나타낸다. 이러한 3D 불량은 모두 광학 필름(10)의 생산 공정 중, 액정층, 배향층이 손상됨으로써 위상 변화가 발생하는 불량(제1광학적 결함)이다.

한편, 본 발명의 바람직한 예시적 실시예에 따른 광학 필름의 결함 검사 시스템(400)의 제2 검사 장치(200)의 제2 촬영 유니트(240)의 카메라(242)는 세로 방향의 흑백 스트라이프(L패턴 및 R패턴의 연속된 상태)의 소정 부위에 그레이 형상의 불량(액정층이 파이지는 않았으나 손가락으로 눌려 있는 듯한 형상의 얼룩 불량, 영상이 반전될 만큼의 손상을 입지 않으면서 블랙도 화이트도 아닌 그레이 형태의 얼룩 불량)을 검사한다.

10…광학 필름 14…기재
16…배향층 18…액정층
100…결함 검사 장치 120…조명 유니트
130…제1 필터 유니트 140…촬영 유니트
150…제2 필터 유니트 190…마킹 유니트
200…결함 검사 장치 220…조명 유니트
230…제1 PL 필터 유니트 240…촬영 유니트
260…제2 PL 필터 유니트

Claims (33)

1. 미리 결정된 속도로 주행하는 광학 필름의 표면에 존재하는 결함을 검사하기 위한 시스템에 있어서,
   상기 광학 필름의 제1 광학적 결함을 검사하기 위한 촬영 유니트를 구비하는 제1 검사 장치; 및
   상기 제1 광학적 결함과 다른 상기 광학 필름의 제2 광학적 결함을 검사하기 위한 제2 촬영 유니트를 구비하는 제2 검사 장치를 구비하고,
   상기 제1검사 장치는, 상기 광학 필름을 사이에 두고 배치된 조명 유니트 및 촬영 유니트와, 상기 광학 필름 및 상기 조명 유니트 사이에 배치된 제1필터 유니트를 구비하되, 상기 제1필터 유니트는 상기 조명 유니트와 상기 촬영 유니트가 형성하는 초점 라인에 상기 광학 필름의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 제1 및 제2편광 필터를 포함하는 필터들 중에서 어느 하나를 선택적으로 위치시킬 수 있는 필터 이송 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
2. 청구항 1에 있어서,
   상기 광학 필름은 서로 다른 광축을 갖는 L 및 R 패턴들이 형성된 패턴드 리타드 필름(FPR)인 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
3. 청구항 2에 있어서,
   상기 FPR은 배향층과 액정층이 형성된 기재가 주행하는 과정에서 와인더에 와인딩되기 전의 인-라인(IN-Line) 상태에 있는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
4. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 제1 광학적 결함은 영상 반전에 의한 위상 변화를 수반할 수 있도록 상기 광학 필름에 존재하는 휘점, 암점, 스크라치, 이물 불량으로 구성된 그룹 중에서 선택된 적어도 어느 하나의 불량을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
5. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 제2 광학적 결함은 영상 반전을 일으키지 않을 정도의 그레이(grey) 형태를 띠는 얼룩 불량 또는 상기 광학 필름의 두께 변화에 따른 압흔 불량을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
6. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 제1 검사 장치는:
   상기 광학 필름과 상기 촬영 유니트 사이에 배치된 제2 필터 유니트를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
7. 청구항 6에 있어서,
   상기 촬영 유니트는 상기 조명 유니트를 통해 광이 조사된 상태에서 상기 제1 및 제2 필터 유니트들에 의해 조합된 값에 의해 나타나는 상기 광학 필름의 폭 방향의 미리 결정된 영역을 촬영하기 위한 다수의 카메라들을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
8. 청구항 7에 있어서,
   상기 카메라들은:
   상기 광학 필름의 폭 방향으로 미리 결정된 제1 간격으로 서로 이격 배치된 다수의 홀수 카메라들을 포함하는 홀수 카메라 그룹; 및
   상기 홀수 카메라 그룹으로부터 상기 광학 필름의 진행 방향으로 미리 결정된 간격만큼 이격 배치되고 상기 홀수 카메라들에 의해 촬영되지 않는 상기 광학 필름의 폭 부분을 촬영할 수 있도록 상기 제1 간격의 중심에 초점이 각각 맞춰지도록 미리 결정된 제2 간격으로 서로 이격 배치된 다수의 짝수 카메라들을 포함하는 짝수 카메라 그룹을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
9. 청구항 6에 있어서,
   상기 조명 유니트는 상기 광학 필름의 폭 방향 전체에 걸쳐 광을 조사할 수 있는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
   
10. 청구항 9에 있어서,
    상기 조명 유니트는:
    조명 프레임에 설치된 다수의 엘이디 조명들; 및
    상기 엘이디 조명들로부터 방사되는 광을 면광원으로 변환시켜 상기 광학 필름에 조사시킬 수 있는 도광판을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
11. 청구항 6에 있어서,
    상기 제1 필터 유니트는 편광 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
12. 청구항 1에 있어서,
    상기 편광 필터는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 편광 필터 쉬트를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
13. 삭제
14. 청구항 1에 있어서,
    상기 필터 이송 부재는:
    상기 광학 필름과 평행하도록 상기 광학 필름으로부터 미리 결정된 간격만큼 이격되게 배치되고 상기 조명 유니트의 광이 각각 투과될 수 있는 제1 관통 슬릿과 제2 관통 슬릿이 형성된 제1 필터 브라켓;
    상기 제1 관통 슬릿 및 상기 제2 관통 슬릿에 각각 설치된 제1 편광 필터 쉬트 및 제2 편광 필터 쉬트; 및
    상기 제1 필터 브라켓을 선택적으로 이동시킬 수 있도록 상기 제1 필터 브라켓과 제1 필터 프레임 사이에 마련된 가이드부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
15. 청구항 8에 있어서,
    상기 제1 필터 유니트는 상기 홀수 카메라 그룹에 대응되는 홀수 제1 필터 유니트와 상기 짝수 카메라 그룹에 대응되는 짝수 제1 필터 유니트로 구분되는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
16. 청구항 6에 있어서,
    상기 제2 필터 유니트는 상기 광학 필름의 L 및 R 패턴들을 분리하고 빛의 산란을 제어하기 위한 원형 편광 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
17. 청구항 16에 있어서,
    상기 원형 편광 필터는 원형으로 조립된 필터 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
18. 청구항 17에 있어서,
    상기 필터 모듈은 상기 촬영 유니트의 끝단에 일체로 배치되는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
19. 청구항 18에 있어서,
    상기 촬영 유니트는 다수의 카메라들을 구비하고;
    상기 필터 모듈은 각각의 카메라의 렌즈 끝단에 고정 설치된 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
20. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 검사 장치는:
    상기 광학 필름에 광을 조사할 수 있도록 상기 제2 촬영 유니트와 대향되게 설치된 제2 조명 유니트;
    상기 광학 필름과 제2 상기 조명 유니트 사이에 배치된 제1 PL 필터 유니트; 및
    상기 광학 필름과 상기 제2 촬영 유니트 사이에 설치되고, 상기 제1 PL 필터 유니트와 광학적으로 매칭될 수 있는 제2 PL 필터 유니트를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
21. 청구항 20에 있어서,
    상기 제2 촬영 유니트는 상기 제2 조명 유니트를 통해 광이 조사된 상태에서 상기 제1 및 제2 PL 필터 유니트들에 의해 조합된 값에 의해 나타나는 상기 광학 필름의 폭 방향의 미리 결정된 영역을 촬영하기 위한 다수의 카메라들을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
22. 청구항 21에 있어서,
    상기 제2 조명 유니트는 상기 광학 필름의 폭 방향 전체에 걸쳐 광을 조사할 수 있는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
23. 청구항 22에 있어서,
    상기 제2 조명 유니트는:
    제2 조명 프레임에 설치된 다수의 엘이디 조명들; 및
    상기 엘이디 조명들로부터 방사되는 광을 면광원으로 변환시켜 상기 광학 필름에 조사시킬 수 있는 도광판을 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
24. 청구항 20에 있어서,
    상기 제1 PL 필터 유니트는 편광 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
25. 청구항 24에 있어서,
    상기 편광 필터는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 편광 필터 쉬트를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
26. 청구항 20에 있어서,
    상기 제1 PL 필터 유니트는, 상기 제2 조명 유니트와 상기 제2 촬영 유니트가 형성하는 초점 라인에 상기 광학 필름의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 두 개의 편광 필터들을 선택적으로 위치시킬 수 있는 제1이송 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
27. 청구항 26에 있어서,
    상기 제1 이송 부재는:
    상기 광학 필름과 평행하도록 상기 광학 필름으로부터 미리 결정된 간격만큼 이격되게 배치되고 상기 제2 조명 유니트의 광이 각각 투과될 수 있는 제1 관통 슬릿과 제2 관통 슬릿이 형성된 제1 PL 필터 브라켓;
    상기 제1 관통 슬릿 및 상기 제2 관통 슬릿에 각각 설치된 제1 편광 필터 쉬트 및 제2 편광 필터 쉬트; 및
    상기 제1 필터 브라켓을 선택적으로 이동시킬 수 있도록 상기 제1 필터 브라켓과 제1 필터 프레임 사이에 마련된 가이드부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
28. 청구항 24에 있어서,
    상기 제2 PL 필터 유니트는 상기 편광 필터와 광학적으로 매칭될 수 있는 제2 편광 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
29. 청구항 28에 있어서,
    상기 제2 편광 필터는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 길게 배치된 단일의 가늘고 긴 제2 편광 필터 쉬트를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
30. 청구항 20에 있어서,
    상기 제2 PL 필터 유니트는, 상기 제2 조명 유니트와 상기 제2 촬영 유니트가 형성하는 초점 라인에 상기 광학 필름의 광학특성에 대응되는 최적각을 가진 서로 다른 특성을 가진 제1 및 제2편광 필터들을 선택적으로 위치시킬 수 있는 제2 이송 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
31. 청구항 30에 있어서,
    상기 제2 이송 부재는:
    상기 광학 필름과 평행하도록 상기 광학 필름으로부터 미리 결정된 간격만큼 이격되게 배치되고 상기 제2 조명 유니트의 광이 각각 투과될 수 있는 제1 관통 슬릿과 제2 관통 슬릿이 형성된 제2 필터 브라켓;
    상기 제1 관통 슬릿 및 상기 제2 관통 슬릿에 각각 설치된 제1 편광 필터 쉬트 및 제2 편광 필터 쉬트; 및
    상기 제2 필터 브라켓을 선택적으로 이동시킬 수 있도록 상기 제2 필터 브라켓과 제2 필터 프레임 사이에 마련된 제2 가이드부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
32. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 검사 장치의 상기 촬영 유니트와 상기 제2 검사 장치의 제2 촬영 유니트에 의해 촬영된 영상에 나타난 결함의 위치 정보에 상응하도록 주행하는 상기 광학 필름의 표면에 결함 유무를 마킹할 수 있는 마킹 유니트를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.
    
33. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬영 유니트와 상기 제2 촬영 유니트에 의해 촬영된 영상들에 표시된 결함의 위치 정보를 연산 및 저장할 수 있는 제어 유니트; 및
    상기 각각의 영상을 표시할 수 있는 디스플레이 유니트를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 시스템.

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