KR101277787B1 - 통전 검사 장치 및 연결 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명의 통전 검사 장치는 피검체에 대향 배치된 상태로 상기 피검체 방향으로 이동 가능하고, 계측기의 통신 라인에 연결되며 상기 피검체의 단자수 이상 개수의 제1 핀이 설치되는 제1 지그, 상기 제1 핀의 축 상에 배치되어 일단이 상기 피검체의 단자에 접촉되고 타단이 상기 제1 핀에 접촉되는 제2 핀이 상기 제1 핀 이하의 개수로 관통 설치되며, 상기 피검체와 상기 제1 지그 사이에서 상기 피검체에 따라 교체되는 제2 지그 및 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀에 상기 통전 검사 핀 삽입 방향의 반대 방향에서 삽입 또는 이탈되는 연결핀과 상기 연결핀에서 상기 홀에 삽입되는 돌출부 외의 체결부에 체결되는 제1 리드선이 가장자리에 하나 이상 형성된 제1 리드부와, 상기 제1 리드선에 전기적으로 연결되며 계측기의 통신 라인이 연결되는 제2 리드선이 하나 이상 형성된 제2 리드부가 구비된 기판을 갖는 연결 모듈을 포함함으로써 피검체 변경에 따른 지그 변경과 통신 라인의 유지보수를 용이하게 수행할 수 있다.

Description

통전 검사 장치 및 연결 장치{APPARATUS FOR EXAMINING CONDUCTIVENESS AND CONNECTION APPARATUS}

본 발명은 통전 검사 장치 및 연결 장치에 관한 것으로서, 상세하게는 통전 검사 신호에 사용되는 검침용 핀, 즉 프로브 및 프로브에 연결되는 통신 라인을 용이하게 유지보수할 수 있는 통전 검사 장치 및 연결 장치에 관한 것이다.

통전 검사 장치는 전기 회로에 실제 또는 유사한 정도의 전압을 걸거나 전류를 통과시켜 회로의 상태를 검사하는 장치이다. 통전 검사를 위해 통전 검사 장치는 회로 기판의 각 단자에 접촉하는 검침용 핀, 소위 프로브를 포함하고 있다. 프로브의 타단부는 통신 라인 등을 통해 통전 시험용 계측기에 연결된다.

프로브는 피검체에서 외부로 노출된 단자에 접촉되므로 피검체가 변경될 경우 프로브의 위치, 종류 또한 변경되어야 한다. 프로브 위치, 종류를 변경하기 위해 설치되어 있던 프로브를 소거한 후 피검체에 적합한 새로운 프로브를 설치한다. 이 과정에서 프로브를 계측기에 연결시키는 통신 라인 역시 새롭게 설치되어야 한다.

이때 통신 라인은 와이어로 형성되므로 프로브의 수가 증가할수록 와이어의 개수도 증가한다. 이와 같이 와이어 개수가 증가할 경우 와이어에 대한 유지보수가 어렵다. 즉 소정 프로브에 이상이 발생하여 새로운 프로브로 교체하고자 할 경우 많은 개수의 와이어에서 해당 프로브에 연결된 와이어를 탐색하여야 한다. 그 후 해당 와이어를 프로브로부터 해제한 후 새로운 프로브를 설치하고 수많은 와이어의 틈 사이로 해당 프로브에 해당 와이어를 연결하여야 하는 불편함이 있다.

결과적으로 현재의 통전 검사 장치에 따르면 피검체 변경에 따른 프로브 및 와이어의 유지보수가 어렵다.

한국등록특허공보 제0949993호에는 트랜지스터를 다수개의 트랜지스터를 일정 간격으로 정렬시켜 신속/정확하게 통전 검사를 수행하는 통전 검사 장치가 개시되고 있다. 그러나 검침 단자(7)(프로브)의 유지보수에 대한 대책이 제시되지 않고 있어 검침 단자의 개수가 증가할 경우 위에서 살펴본 문제를 그대로 가지게 된다.

한국등록특허공보 제0949993호

본 발명은 피검체 변경시의 프로브 변경과 통전 검사 신호를 계측기로 전송하는 통신 라인을 용이하게 유지보수할 수 있는 통전 검사 장치 및 연결 장치를 제공하기 위한 것이다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 통전 검사 장치는 피검체에 대향 배치된 상태로 상기 피검체 방향으로 이동 가능하고, 상기 피검체의 단자 신호를 계측기로 전송하는 상기 피검체의 단자수 이상 개수의 제1 핀이 설치되는 제1 지그 및 상기 제1 핀의 축 상에 배치되어 일단이 상기 피검체의 단자에 접촉되고 타단이 상기 제1 핀에 접촉되는 제2 핀이 상기 제1 핀 이하의 개수로 관통 설치되며, 상기 피검체와 상기 제1 지그 사이에서 상기 피검체에 따라 교체되는 제2 지그를 포함할 수 있다.

이때, 상기 제1 지그는 복수의 홀을 포함하고, 상기 제1 핀은 상기 홀에 설치되는 파이프 형상의 리셉터클과 상기 피검체의 대향면 측으로부터 상기 리셉터클에 삽입되는 스프링 핀을 포함하며, 가장자리에 형성되어 연결핀이 체결되는 하나 이상의 제1 리드선과 상기 제1 리드선에 전기적으로 연결되며 상기 계측기의 통신 라인이 연결되는 제2 리드선이 형성된 기판을 구비하고, 상기 피검체 대향면의 반대면 측으로부터 상기 연결핀의 돌출 부위가 상기 리셉터클에 삽입 또는 이탈되도록 하는 연결 모듈을 포함할 수 있다.

일 실시예로서, 본 발명의 통전 검사 장치는, 피검체에 접촉되는 통전 검사 핀; 상기 통전 검사 핀이 삽입되는 홀을 구비한 지그; 상기 홀에 삽입되어 상기 통전 검사 핀과 전기적으로 연결되는 연결핀; 상기 연결핀이 솔더링되는 제1 리드부와, 계측기와 연결되는 제2 리드부가 구비된 기판을 포함할 수 있다.

여기서, 상기 제2 리드부 및 상기 계측기는 FPC(flexible printed circuit), FFC(Flxible Flat Cable) 중 적어도 하나의 연성 기판으로 연결되며, 상기 연성 기판의 배열 개수는 상기 기판의 배열 개수와 일치할 수 있다.

한편, 본 발명의 연결 장치는 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀에 상기 통전 검사 핀 삽입 방향의 반대 방향에서 삽입 또는 이탈되는 연결핀 및 상기 연결핀에서 상기 홀에 삽입되는 돌출부 외의 체결부에 체결되는 제1 리드선이 가장자리에 하나 이상 형성된 제1 리드부와, 상기 제1 리드선에 전기적으로 연결되며 계측기의 통신 라인이 연결되는 제2 리드선이 하나 이상 형성된 제2 리드부가 구비된 기판을 포함할 수 있다.

이때, 상기 제1 리드선은 상기 체결부와 동일한 형상으로 형성되며, 상기 제1 리드선과 상기 체결부는 겹쳐진 상태로 체결될 수 있다.

또한, 상기 기판은 상기 제1 리드선과 상기 제2 리드선을 연결하는 패턴을 포함할 수 있다.

또한, 상기 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀은 2차원 배열로 규칙적으로 형성되고, 상기 기판은 상기 2차원 배열에서 수평 방향으로 형성된 상기 홀과 동일한 간격의 상기 제1 리드선을 구비하며, 상기 2차원 배열에서 수직 방향으로 인접한 상기 홀 간의 간격보다 얇은 두께를 가질 수 있다.

또한, 상기 제1 리드선과 상기 제2 리드선은 상기 기판의 동일면에 형성될 수 있다.

또한, 상기 통신 라인은 FPC(flexible printed circuit), FFC(Flxible Flat Cable) 중 적어도 하나일 수 있다.

이상에서 설명된 바와 같이 본 발명의 통전 검사 장치에 따르면 프로브를 통신 라인이 연결되는 제1 핀과 피검체에 따라 형성되는 제2 핀을 분리 형성함으로써 피검체 변경 또는 제2 핀의 유지보수시 제2 핀이 형성된 지그의 교체만으로 유지보수가 가능하다.

또한, 제1 핀과 통신 라인 사이에 연결 모듈을 개재함으로써 통신 라인에 대한 유지보수를 용이하게 할 수 있다. 이러한 효과는 통신 라인을 FPC, FFC로 구성할 경우에 보다 현저하게 나타난다.

도 1은 본 발명의 통전 검사 장치를 나타낸 개략도.
도 2는 본 발명의 연결 장치를 나타낸 개략도.
도 3은 본 발명의 연결 장치가 지그에 복수개 삽입된 상태를 나타낸 개략도.
도 4는 본 발명의 연결 장치를 지그에 설치한 상태의 측면을 나타낸 개략도.
도 5는 통신 라인으로서 와이어를 이용한 상태를 나타낸 모습을 촬영한 개략도.

이하, 본 발명의 통전 검사 장치 및 연결 장치에 대하여 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다.

도 1은 본 발명의 통전 검사 장치를 나타낸 개략도이다.

도 1에 도시된 통전 검사 장치는 피검체(12)에 대향 배치된 상태로 상기 피검체 방향으로 이동 가능하고, 계측기의 통신 라인(290)에 연결되며 상기 피검체(12)의 단자(11)수 이상 개수의 제1 핀(111)이 설치되는 제1 지그(110) 및 상기 제1 핀(111)의 축 상에 배치되어 일단이 상기 피검체(12)의 단자(11)에 접촉되고 타단이 상기 제1 핀(111)에 접촉되는 제2 핀(131)이 상기 제1 핀(111) 이하의 개수로 관통 설치되며, 상기 피검체(12)와 상기 제1 지그(110) 사이에서 상기 피검체(12)에 따라 교체되는 제2 지그(130)를 포함한다.

통전 검사 장치는 피검체(12)인 전기 회로에 실제 또는 유사한 정도의 전압을 걸거나 전류를 통과시켜 회로의 상태를 검사하는 장치이다. 이때 피검체를 형성하는 각 패턴, 소자의 상태를 검사하기 위해 각 패턴, 소자의 단자에 전기적으로 접촉되는 소위 프로브가 사용된다. 피검체의 구성이 복잡해질수록 사용되는 프로브의 두께는 작아지고 개수는 증가하게 된다. 피검체의 측정 위치에 작은 두께의 많은 프로브를 정확하게 접촉시키기 위해 지그가 사용된다.

이때, 본 발명의 통전 검사 장치는 프로브 지지를 위한 지그를 복수개로 분리하고 있다.

먼저, 프로브를 계측기의 통신 라인(290)에 연결되는 제1 핀(111)과 피검체의 단자에 대면접촉되어 전기적인 통로를 형성하는 제2 핀(131)으로 구분한다.

이때, 제1 지그(110)는 제1 핀(111)을 지지하고, 제2 지그(130)는 제2 핀(131)을 지지한다.

제1 지그(110)는 피검체(12)에 대향 배치되며 피검체(12) 방향으로 이동될 수 있다. 이때 제1 지그(110)에 체결되는 구동 수단(미도시)을 통해 제1 지그(110)가 피검체(12) 방향으로 이동되거나 피검체(12)에 체결되는 구동 수단에 의해 피검체(12)가 제1 지그(110) 방향으로 이동될 수 있다. 또한 제1 지그(110)에는 피검체의 단자수 이상 개수의 제1 핀(111)이 설치된다. 예를 들어 도 1에서 피검체(12)의 단자(11)는 3개이나 제1 핀(111)의 개수는 10개이다. 제1 핀(111)에서 피검체 방향의 반대단에는 통신 라인(290)이 연결되는데 이때 통신 라인(290)은 제1 핀(111)과 동일한 개수의 신호선을 포함한다. 이와 같이 제1 핀의 개수를 피검체 단자수 이상으로 한 것은 다양한 피검체에 대해 동일한 제1 지그를 그대로 이용하기 위함이다.

제1 핀(111)에서 피검체에 마주하는 단부는 제2 핀(131)의 단부와 길이 방향으로 접촉된다. 또한 피검체 단자(11)에 제2 핀(131)이 신뢰성 있게 접촉되도록 제1 핀(111)과 제2 핀(131)에는 피검체 방향으로 압력이 가해진다. 이때의 압력은 또한 피검체 단자를 훼손하지 않아야 하므로 이러한 조건을 만족하는 적정 압력이 생성되도록 제1 핀은 탄성체(미도시)를 포함하는 스프링 핀일 수 있다. 도 1에서 제1 핀(111)은 스프링 등의 탄성 수단이 내장된 몸체부(115)와 평소 스프링에 의해 밖으로 돌출되어 있으며 외부 압력시 몸체부(115)로 수납되는 수납부(117) 및 수납부 단부에 형성된 고정부(119)를 포함하고 있다. 고정부(119)는 수납부보다 큰 두께로 형성되어 수납부가 허용된 범위를 넘어서 몸체부로 수납되어지는 것을 방지하는 동시에 압력에 의해 제2 핀(131)이 제1 핀에서 미끄러져 제1 핀으로부터 이탈하는 것을 방지하기 위한 것이다. 도 1에서 제2 핀(131)의 양 단부는 생산성 향상을 위해 동일한 형상을 갖는 것이 유리하다. 이때 피검체 단자(11)와의 접촉을 위해 제2 핀의 단부는 뾰족하게 형성될 수 있다. 이와 같은 경우 제2 핀(131)의 뾰족한 단부가 제1 핀(111)의 단부와 맞닿게 되며 압력에 의해 제2 핀은 제1 핀과의 접촉부위로부터 이탈될 수 있다. 이를 방지하기 위해 제1 핀의 단부를 형성하는 고정부(119)의 밑면에 오목부 또는 돌기부를 형성할 수 있다. 돌기부를 형성하면 상대적으로 오목부가 형성되므로 오목부를 형성한 효과와 유사하게 제2 핀이 제1 핀으로부터 이탈되는 것이 방지된다.

제1 핀 몸체부(115)의 단부에 통신 라인(290)을 바로 연결할 수 있으며, 제1 핀(111)에 대한 유지보수의 편의를 위해 몇가지 수단을 포함할 수도 있다.

예를 들어 제1 지그(110)에 제1 지그 두께의 길이를 갖는 파이프 형상의 리셉터클(113)을 제1 지그(110)의 홀에 삽입 설치하고, 제1 핀(111)을 리셉터클(113)에 삽입하는 것으로 유지보수의 편의성을 개선할 수 있다. 리셉터클(113)은 제1 핀의 삽입 이탈시의 가이드를 하는 동시에 전도성 재질로 구성될 경우 신호선의 역할을 겸한다. 따라서, 리셉터클(113)에서 제1 핀의 삽입 방향의 반대 방향에서 삽입되는 연결핀(270)과 제1 핀(111)의 전기적 연결을 보장한다. 연결핀(270) 역시 리셉터클에 용이하게 삽입 이탈될 수 있으므로 연결핀(270)에 계측기의 통신 라인을 연결하면 통신 라인 측의 유지보수 또한 용이하게 이루어진다.

제2 지그(130)에는 제2 핀(131)이 제1 핀(111) 이하의 개수로 관통 설치된다. 제2 핀(131)은 제1 핀(111)의 축 상에 배치되어 일단이 피검체(12)의 단자(11)에 접촉되고 타단이 제1 핀(111)에 접촉된다.

본 발명에서 제1 지그(110) 외에 제2 지그(130)를 부가한 것은 제1 지그(110)를 고정해 둔 상태에서 제2 지그(130)만을 교체하는 것으로 피검체의 교체에 대응하기 위한 것이다. 예를 들어 도 1에서 제1 핀의 좌측으로부터 4,5,8번째 제1 핀의 위치에 피검체의 단자가 형성된 경우 제2 핀만 제1 핀의 4,5,8번째에 맞춰 구성하면 피검체에 대한 통전 검사를 수행할 수 있다. 만약 피검체가 교체되어 제1 핀의 1,2,3번째 단자를 이용해야 될 경우 제1 핀을 포함하는 제1 지그는 그대로 둔 상태로 제1 핀의 1,2,3번째 위치에 제 2핀을 배열시킨 새로운 제2 지그로 교체하는 것으로 교체된 피검체의 통전 검사를 수행할 수 있다. 만약 제2 지그가 없이 하나의 지그만을 이용한다면 통전 검사용 핀 뿐만 아니라 통신 라인에 대한 변경까지 이루어져야 하는 불폄함이 있다. 그러나, 본 발명에 따르면 통신 라인(290)이 연결된 제1 지그(110)는 그대로 둔 상태로 제2 지그(130)만을 교체함으로써 다양한 피검체의 통전 검사를 수행할 수 있다.

본 발명에 의하면 제1 지그와 통신 라인에 대한 유지보수의 불편함이 대폭적으로 개선된다. 아울러 통신 라인의 유지보수를 위한 이하의 수단을 부가함으로써 유지보수의 편의를 더욱 개선할 수 있다.

제1 지그에 복수의 홀이 형성되고, 또한 제1 지그의 홀에 복수의 제1 핀이 설치된 경우 통신 라인은 도 5에 나타낸 바와 같이 매우 복잡해진다.

도 5는 통신 라인으로서 와이어를 이용한 상태를 나타낸 모습을 촬영한 개략도로, 제1 지그(10)의 연결핀(70) 각각에 하나의 와이어(90)가 할당되어 통신 라인을 형성하고 있다.

도 5에 나타난 바와 같이 경우에 따라 수많은 와이어(90)가 설치됨으로써 이상 발생시 소망하는 와이어(90) 및 연결핀(70)의 교체가 어렵다.

이러한 문제를 해소하기 위해 연결 모듈(200)을 이용할 수 있다.

연결 모듈은 예를 들어 메모리 기판같은 형태의 평평한 기판(210)으로 이루어진다. 이때 기판의 한쪽 가장자리에는 연결핀(270)이 체결되는 하나 이상의 제1 리드선(211)이 형성된다. 또한, 기판에서 제1 리드선이 형성된 부위의 반대 부위에는 제1 리드선(211)에 전기적으로 연결되며 계측기의 통신 라인(290)이 연결되는 제2 리드선(213)이 형성된다.

연결핀(270)은 선 형태로 구성되어 일부는 제1 리드선(211)에 납땜 등으로 체결된다. 이때 연결 모듈(200)의 기판(210)에서 돌출된 연결핀(270)의 부위는 제1 지그(110)에 형성된 홀에 삽입된다. 제1 리드선(211)의 간격은 연결핀(270)이 삽입되어지는 제1 지그(110)의 홀 간격과 동일하다. 결과적으로 연결 모듈(200)에 의하면 적어도 동일 직선 상으로 복수개의 연결핀(270)을 제1 지그의 홀에 동시에 삽입시킬 수 있다.

이때, 제1 지그의 홀에 삽입되는 연결핀(270)이 용이하게 제1 지그의 홀에 삽입되고 또한 제1 핀과 전기적으로 접속되도록 하기 위해 리셉터클(113)이 이용될 수 있다. 리셉터클(113)은 제1 핀의 몸체부(115)의 길이보다 길게 형성되어 연결핀의 돌출부가 삽입되도록 형성된다.

제1 핀은 피검체의 대향면 측으로부터 리셉터클(113)에 삽입되는 스프링 핀일 수 있다. 스프링 핀의 구조는 앞에서 설명된 몸체부(115), 수납부(117), 고정부(119)를 포함할 수 있다.

전체적으로 연결 모듈(200)은 피검체 대향면의 반대면 측으로부터 연결핀(270)의 돌출 부위가, 제1 지그(110)의 홀에 삽입 설치된 리셉터클(113)에 삽입 또는 이탈되도록 구성된다.

이상의 연결 모듈(200)에 의하면 통신 라인과 연결핀을 연결 모듈 단위로 유지보수할 수 있게 된다. 특히, 통신 라인을 FPC(flexible printed circuit), FFC(Flxible Flat Cable) 등의 연성 기판으로 구성할 경우, 보다 용이한 유지보수가 가능하다. 연성 기판은 가요성이 있어 휘어질 수 있으며 복수의 배선을 포함한다.

도 2는 본 발명의 연결 장치를 나타낸 개략도로서, 도 2에 도시된 연결 장치는 앞에서 살펴본 연결 모듈(200)일 수 있다.

본 발명의 연결 장치는 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀에 상기 통전 검사 핀 삽입 방향의 반대 방향에서 삽입 또는 이탈되는 연결핀(270) 및 상기 연결핀(270)에서 상기 홀에 삽입되는 돌출부(271) 외의 체결부(273)에 체결되는 제1 리드선(211)이 가장자리에 하나 이상 형성된 제1 리드부(212)와, 상기 제1 리드선(211)에 전기적으로 연결되며 계측기의 통신 라인이 연결되는 제2 리드선(213)이 하나 이상 형성된 제2 리드부(214)가 구비된 기판(210)을 포함한다.

통전 검사 핀은 통전 검사 장치에 사용되는 지그가 하나인 경우 피검체의 단자에 접촉되는 제2 핀(131)일 수 있으며, 통전 검사 장치에 사용되는 지그가 두개인 경우 제2 핀(131)과 접촉되는 제1 핀(111)일 수 있다.

연결핀(270)은 선 또는 바늘 형상으로 형성되어 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀에 통전 검사 핀 삽입 방향의 반대 방향으로 삽입 또는 이탈된다. 이때 연결핀(270)은 지그의 홀에 삽입되는 돌출부(271)와 기판의 제1 리드선(211)에 납땜 등으로 체결되는 체결부(273)를 포함한다.

기판(210)은 연결핀(270)이 체결되는 제1 리드부(212)와 통신 라인과 연결되는 제2 리드부(214)를 포함한다.

제1 리드부(212)는 기판의 가장자리에 지그의 홀 간격으로 형성된 하나 이상의 제1 리드선(211)을 포함한다. 제1 리드선(211)은 연결핀의 체결부(273)와 동일한 형상으로 형성되어 체결부(273)와 겹쳐진 상태로 체결된다. 연결핀(270)은 상당히 조밀한 간격으로 지그의 홀에 설치될 수 있으며, 이러한 경우 제1 리드선(211) 간의 단락을 방지하기 위해 제1 리드선은 연결핀(270)과 동일한 형상을 갖는 것이 바람직하다. 또한 연결핀(270)의 두께와 동일한 폭을 갖는 것이 좋다. 제1 리드선(211)의 폭이 연결핀(270)의 두께보다 크면 조밀하게 연결핀을 체결시키기가 곤란하며, 연결핀의 두께보다 작으면 연결핀과 납땜 연결이 신뢰성 있게 이루어지기 어렵기 때문이다.

제2 리드부(214)는 제1 리드선(211)에 전기적으로 연결된 제2 리드선(213)이 하나 이상 형성된다. 제2 리드선(213)의 개수는 제1 리드선(211)의 개수와 동일할 수 있으며, 제2 리드선에는 계측기의 통신 라인이 연결된다. 제2 리드부(214)는 기판에서 제1 리드부(212)의 반대편 또는 측면에 형성될 수 있다.

제1 리드선(211)과 제2 리드선(213)은 패턴(215)으로 연결될 수 있다. 패턴으로 제1 리드선과 제2 리드선을 연결함으로써 연결 모듈의 전체 두께를 소형화할 수 있다. 연결 모듈의 두께를 소형화함으로써 조밀하게 배열된 통전 검사 핀에 대응되도록 연결 모듈을 복수로 설치할 수 있다. 이를 위해 이상에서 설명된 제1 리드선, 제2 리드선, 패턴은 적어도 통전 검사 핀의 두께 이하인 것이 좋다.

또한, 제1 리드선, 제2 리드선, 패턴이 형성되는 기판 역시 두께가 얇을수록 유리하다. 구체적으로 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀이 2차원 배열로 규칙적으로 형성된 경우, 기판(210)은 지그 홀의 2차원 배열에서 수평 방향으로 형성된 홀과 동일한 간격의 제1 리드선(211)을 구비하며, 2차원 배열에서 수직 방향으로 인접한 지그의 홀 간의 간격보다 얇은 두께를 갖는 것이 바람직하다.

도 3은 본 발명의 연결 장치가 지그에 복수개 삽입된 상태를 나타낸 개략도이다. 도 3에서는 연결 장치가 삽입되는 지그를 제1 지그(110)로 나타내었으며 제1 지그에는 복수의 홀(114)이 형성되어 있다. 또한 연결 장치의 제2 리드선에는 FPC 또는 FFC가 통신 라인(290)으로서 연결되어 있다.

살펴보면 지그에 형성된 홀(114) 간의 간격보다 기판(210)의 두께가 얇은 것을 알 수 있다. 만약 기판(210)의 두께가 홀 간의 간격보다 크다면 기판을 지그에 설치할 수 없다.

한편, 제1 리드선(211)과 제2 리드선(213)은 기판(210)의 동일면에 형성되는 것이 좋다. 기판을 얇게 형성하는 것에는 한계가 있기 때문에, 경우에 따라 도 4와 같이 인접한 연결 장치가 서로 밀착하여 지그에 설치될 수 있다.

도 4는 본 발명의 연결 장치를 지그에 설치한 상태의 측면을 나타낸 개략도이다. 살펴보면 연결 장치가 서로 밀착되어 지그(도 4에서는 제1 지그(110))에 설치된 것을 알 수 있다. 이러한 밀착 설치에 의해 앞뒤의 연결 장치가 단락된다면 신뢰성 있는 통전 검사 결과가 도출될 수 없다. 따라서 연결 장치를 밀착하여 배치한 경우라 하더라도 앞뒤의 연결 장치가 단락되지 않도록 하기 위해 제1 리드선과 제2 리드선을 기판의 동일면에 형성한다. 이때 제1 리드선과 제2 리드선을 연결하는 패턴은 기판에서 각 리드선이 형성된 동일면 또는 기판 내부를 관통하여 형성될 수 있다. 이때 패턴은 각 리드선이 형성된 면의 반대면으로 노출되지 않아야 한다. 또한, 기판 자체는 비전도체로 형성되어야 한다.

이상의 구성에 의하면 통신 라인 또는 연결핀의 유지보수를 연결 장치 단위로 수행할 수 있다. 이때 각 연결 장치는 지그에 착탈이 용이한 구조를 가지므로 유지보수의 편의가 증대된다. 아울러 제2 리드선(213)에 연결되는 계측기 등의 통신 라인을 FPC(flexible printed circuit), FFC(Flxible Flat Cable) 등으로 형성할 수 있으며, 이에 따르면 통신 라인의 유지보수가 보다 수월해진다.

한편, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다. 예를 들어 본 명세서에서 기술된 연결 장치의 기판은 평평한 판 형상으로 나타내었으나 굴곡을 갖는 판 형상으로 형성될 수도 있다.

통전 검사 장치에 적용할 수 있다.

특히, 피검체의 변경이 빈번하거나 통신 라인의 유지보수가 어려운 통전 검사 장치에 적용하는 것이 유리하다.

10...지그 11...단자
12...피검체 90...와이어
110...제1 지그 111...제1 핀
113...리셉터클 114...홀
115...몸체부 117...수납부
119...고정부
130...제2 지그 131...제2 핀
200...연결 모듈 210...기판
211...제1 리드선 212...제1 리드부
213...제2 리드선 214...제2 리드부
215...패턴 270, 70...연결핀
290...통신 라인

Claims (10)

1. 피검체에 대향 배치된 상태로 상기 피검체 방향으로 이동 가능하고, 계측기의 통신 라인에 연결되며 상기 피검체의 단자수 이상 개수의 제1 핀이 설치되는 제1 지그; 및
   상기 제1 핀의 축 상에 배치되어 일단이 상기 피검체의 단자에 접촉되고 타단이 상기 제1 핀에 접촉되는 제2 핀이 상기 제1 핀 이하의 개수로 관통 설치되며, 상기 피검체와 상기 제1 지그 사이에서 상기 피검체에 따라 교체되는 제2 지그;를 포함하며,
   상기 제1 지그는 복수의 홀을 포함하고,
   상기 제1 핀은 상기 홀에 설치되는 파이프 형상의 리셉터클과 상기 피검체의 대향면 측으로부터 상기 리셉터클에 삽입되는 스프링 핀을 포함하며,
   가장자리에 형성되어 연결핀이 체결되는 하나 이상의 제1 리드선과 상기 제1 리드선에 전기적으로 연결되며 상기 계측기의 통신 라인이 연결되는 제2 리드선이 형성된 기판을 구비하고, 상기 피검체 대향면의 반대면 측으로부터 상기 연결핀의 돌출 부위가 상기 리셉터클에 삽입 또는 이탈되도록 하는 연결 모듈을 포함하는 통전 검사 장치.
   
2. 삭제
3. 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀에 상기 통전 검사 핀 삽입 방향의 반대 방향에서 삽입 또는 이탈되는 연결핀; 및
   상기 연결핀에서 상기 홀에 삽입되는 돌출부 외의 체결부에 체결되는 제1 리드선이 가장자리에 하나 이상 형성된 제1 리드부와, 상기 제1 리드선에 전기적으로 연결되며 계측기의 통신 라인이 연결되는 제2 리드선이 하나 이상 형성된 제2 리드부가 구비된 기판;
   을 포함하는 연결 장치.
   
4. 제 3 항에 있어서,
   상기 제1 리드선은 상기 체결부와 동일한 형상으로 형성되며, 상기 제1 리드선과 상기 체결부는 겹쳐진 상태로 체결되는 연결 장치.
   
5. 제 3 항에 있어서,
   상기 기판은 상기 제1 리드선과 상기 제2 리드선을 연결하는 패턴을 포함하는 연결 장치.
   
6. 제 3 항에 있어서,
   상기 통전 검사 핀이 삽입되는 지그의 홀은 2차원 배열로 규칙적으로 형성되고,
   상기 기판은 상기 2차원 배열에서 수평 방향으로 형성된 상기 홀과 동일한 간격의 상기 제1 리드선을 구비하며, 상기 2차원 배열에서 수직 방향으로 인접한 상기 홀 간의 간격보다 얇은 두께를 갖는 연결 장치.
   
7. 제 3 항에 있어서,
   상기 제1 리드선과 상기 제2 리드선은 상기 기판의 동일면에 형성되는 연결 장치.
   
8. 제 3 항에 있어서,
   상기 통신 라인은 FPC(flexible printed circuit), FFC(Flxible Flat Cable) 중 적어도 하나인 연결 장치.
   
9. 피검체에 접촉되는 통전 검사 핀;
   상기 통전 검사 핀이 삽입되는 홀을 구비한 지그;
   상기 홀에 삽입되어 상기 통전 검사 핀과 전기적으로 연결되는 연결핀;
   상기 연결핀이 솔더링되는 제1 리드부와, 계측기와 연결되는 제2 리드부가 구비된 기판; 을 포함하는 통전 검사 장치.
   
10. 제 9 항에 있어서,
    상기 제2 리드부 및 상기 계측기는 FPC(flexible printed circuit), FFC(Flxible Flat Cable) 중 적어도 하나의 연성 기판으로 연결되며, 상기 연성 기판의 배열 개수는 상기 기판의 배열 개수와 일치하는 통전 검사 장치.

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