KR101232147B1 - A liquid crystal display device and a method for driving the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 스테이지의 수명을 증가시킬 수 있는 액정표시장치 및 이의 구동방법에 관한 것으로, 순차적으로 스캔펄스를 출력하여 액정패널의 게이트 라인들을 차례로 구동시키는 다수개의 스테이지들; 상기 스테이지들 중 임의의 제 1 스테이지로부터의 스캔펄스를 공급받아 임의의 제 2 스테이지를 디스에이블 시키는 적어도 하나의 더미 스테이지; 및, 상기 더미 스테이지로부터 출력된 스캔펄스를 공급받는 적어도 하나의 더미 게이트 라인을 포함하여 구성되는 것이다.
액정표시장치, 쉬프트 레지스터, 스캔펄스, 풀업 스위칭소자, 풀다운 스위칭소자
The present invention relates to a liquid crystal display device and a driving method thereof, which can increase a lifetime of a stage, comprising: a plurality of stages sequentially driving a gate line of a liquid crystal panel by outputting scan pulses; At least one dummy stage supplied with scan pulses from any one of the stages to disable any second stage; And at least one dummy gate line receiving the scan pulse output from the dummy stage.
LCD, shift register, scan pulse, pull-up switching element, pull-down switching element
Description
도 1은 종래의 쉬프트 레지스터를 나타낸 도면1 is a view showing a conventional shift register
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면2 is a view showing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
도 3은 더미 스테이지와 병렬로 접속된 RC 로드를 나타낸 도면3 shows an RC rod connected in parallel with a dummy stage.
도 4는 더미 스테이지와 직렬로 접속된 RC 로드를 나타낸 도면4 shows an RC rod connected in series with a dummy stage;
도 5는 더미 스테이지에 구비된 출력단자의 형상을 나타낸 도면5 is a view showing the shape of the output terminal provided in the dummy stage
도 6은 도 2의 제 2 스테이지의 상세 구성도FIG. 6 is a detailed configuration diagram of the second stage of FIG. 2.
도 7은 제 2 스테이지에 구비된 노드 제어부 및 출력부의 회로구성을 나타낸 도면7 is a diagram illustrating a circuit configuration of a node controller and an output unit provided in the second stage.
도 8은 도 7의 회로구성을 갖는 제 1 내지 제 3 스테이지를 나타낸 도면 8 is a view showing first to third stages having the circuit configuration of FIG.
도 9는 도 8의 스테이지로부터 출력된 스캔펄스, 및 상기 스테이지에 공급되는 각종 신호의 타이밍도를 나타낸 도면FIG. 9 is a diagram illustrating a scan pulse output from a stage of FIG. 8 and timing signals of various signals supplied to the stage.
* 도면의 주요부에 대한 부호 설명* Explanation of symbols on the main parts of the drawings
BST1 내지 BSTn : 스테이지 BSTn+1 : 더미 스테이지BST1 to BSTn: stage BSTn + 1: dummy stage
CLK1 내지 CLK4 : 클럭펄스 SP : 스타트 펄스CLK1 to CLK4: Clock pulse SP: Start pulse
VDD : 제 1 전압원 VSS : 제 2 전압원VDD: first voltage source VSS: second voltage source
Vout1 내지 Voutn+1 : 스캔펄스 200 : 액정패널Vout1 to Voutn + 1: Scan pulse 200: Liquid crystal panel
PXL : 화소 GL1 내지 GLn : 게이트 라인PXL: Pixel GL1 to GLn: Gate Line
GLn+1 : 더미 게이트 라인 DL1 내지 DLm : 데이터 라인GLn + 1: dummy gate lines DL1 to DLm: data line
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 쉬프트 레지스터의 수명을 연장시킬 수 있는 액정표시장치 및 이의 구동방법에 대한 것이다.BACKGROUND OF THE
통상의 액정표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여 액정표시장치는 화소영역들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정패널과 이 액정패널을 구동하기 위한 구동회로를 구비한다. A conventional liquid crystal display device displays an image by adjusting the light transmittance of a liquid crystal using an electric field. To this end, a liquid crystal display device includes a liquid crystal panel in which pixel regions are arranged in a matrix form, and a driving circuit for driving the liquid crystal panel.
상기 액정패널에는 다수개의 게이트 라인들과 다수개의 데이터 라인들이 교차하게 배열되고, 그 게이트 라인들과 데이터 라인들이 수직교차하여 정의되는 영역에 화소영역이 위치하게 된다. 그리고, 상기 화소영역들 각각에 전계를 인가하기 위한 화소전극들과 공통전극이 상기 액정패널에 형성된다. In the liquid crystal panel, a plurality of gate lines and a plurality of data lines are arranged in an intersecting manner, and a pixel region is located in an area defined by vertically intersecting the gate lines and the data lines. Pixel electrodes and a common electrode for applying an electric field to each of the pixel regions are formed on the liquid crystal panel.
상기 화소전극들 각각은 스위칭소자인 박막트랜지스터(TFT; Thin Film Transistor)의 드레인단자 및 소스단자를 경유하여 상기 데이터 라인에 접속된다. 상기 박막트랜지스터는 상기 게이트 라인을 경유하여 게이트단자에 인가되는 스캔펄스에 의해 턴-온되어, 상기 데이터 라인의 데이터 신호가 상기 화소전압에 충전되도록 한다.Each of the pixel electrodes is connected to the data line via a drain terminal and a source terminal of a thin film transistor (TFT) which is a switching element. The thin film transistor is turned on by a scan pulse applied to a gate terminal via the gate line so that a data signal of the data line is charged to the pixel voltage.
한편, 상기 구동회로는 상기 게이트 라인들을 구동하기 위한 게이트 드라이버와, 상기 데이터 라인들을 구동하기 위한 데이터 드라이버와, 상기 게이트 드라이버와 데이터 드라이버를 제어하기 위한 제어신호를 공급하는 타이밍 콘트롤러와, 액정표시장치에서 사용되는 여러 가지의 구동전압들을 공급하는 전원공급부를 구비한다. The driving circuit includes a gate driver for driving the gate lines, a data driver for driving the data lines, a timing controller for supplying a control signal for controlling the gate driver and the data driver, And a power supply unit for supplying various driving voltages used in the plasma display apparatus.
상기 타이밍 콘트롤러는 상기 게이트 드라이버 및 상기 데이터 드라이버의 구동 타이밍을 제어함과 아울러 상기 데이터 드라이버에 화소데이터 신호를 공급한다. 그리고, 상기 전원공급부는 입력 전원을 승압 또는 감압하여 액정표시장치에서 필요로 하는 공통전압(VCOM), 게이트 하이전압 신호(VGH), 게이트 로우전압 신호(VGL) 등과 같은 구동전압들을 생성한다. 그리고, 상기 게이트 드라이버는 스캔펄스를 게이트 라인들에 순차적으로 공급하여 액정패널상의 액정셀들을 1라인분씩 순차적으로 구동한다. 그리고, 상기 데이터 드라이버는 게이트 라인들 중 어느 하나에 스캔펄스가 공급될 때마다 데이터 라인들 각각에 화소 전압신호를 공급한다. 이에 따라, 액정표시장치는 액정셀별로 화소전압신호에 따라 화소전극과 공통전극 사이에 인가되는 전계에 의해 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다.The timing controller controls the driving timings of the gate driver and the data driver and supplies a pixel data signal to the data driver. The power supply unit boosts or depressurizes the input power source to generate driving voltages such as a common voltage VCOM, a gate high voltage signal VGH, and a gate low voltage signal VGL required by the liquid crystal display device. The gate driver sequentially supplies scan pulses to the gate lines to sequentially drive the liquid crystal cells on the liquid crystal panel by one line. The data driver supplies a pixel voltage signal to each of the data lines whenever a scan pulse is supplied to any one of the gate lines. Accordingly, the liquid crystal display displays an image by adjusting light transmittance by an electric field applied between the pixel electrode and the common electrode according to the pixel voltage signal for each liquid crystal cell.
여기서, 상기 게이트 드라이버는 상술한 바와 같은 스캔펄스들을 순차적으로 출력할 수 있도록 쉬프트 레지스터를 구비한다. 이를 첨부된 도면을 참조하여 좀 더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Here, the gate driver includes a shift register for sequentially outputting the scan pulses as described above. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 종래의 쉬프트 레지스터를 나타낸 도면이다.1 is a view showing a conventional shift register.
종래의 쉬프트 레지스터는, 도 1에 도시된 바와 같이, 서로 종속적으로 연결 된 n개의 스테이지들(AST1 내지 ASTn) 및 하나의 더미 스테이지(ASTn+1)로 구성된다. 여기서, 각 스테이지들(AST1 내지 ASTn+1)은 하나씩의 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn+1)를 출력하며, 이때 상기 제 1 스테이지(AST1)부터 더미 스테이지(ASTn+1)까지 차례로 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn+1)를 출력한다. 이때, 상기 더미 스테이지(ASTn+1)를 제외한 상기 스테이지들(AST1 내지 ASTn)로부터 출력된 스캔펄스들(Vout1 내지 Voutn)은 상기 액정패널(도시되지 않음)의 게이트 라인들에 순차적으로 공급되어, 상기 게이트 라인들을 순차적으로 스캐닝하게 된다. As shown in FIG. 1, the conventional shift register includes n stages AST1 to ASTn and one dummy stage ASTn + 1 connected dependently to each other. Here, each of the stages AST1 to ASTn + 1 outputs one scan pulse Vout1 to Voutn + 1, and in this case, the scan pulse Vout1 sequentially from the first stage AST1 to the dummy stage ASTn + 1. To Voutn + 1). In this case, scan pulses Vout1 to Voutn output from the stages AST1 to ASTn except for the dummy stage ASTn + 1 are sequentially supplied to gate lines of the liquid crystal panel (not shown). The gate lines are sequentially scanned.
이와 같이 구성된 쉬프트 레지스터의 전체 스테이지(AST1 내지 ASTn+1)는 제 1 전압원(VDD) 및 제 2 전압원(VSS)과, 그리고 서로 순차적인 위상차를 갖는 제 1 내지 제 4 클럭펄스(CLK1 내지 CLK4) 중 두 개의 클럭펄스를 인가받는다. 여기서, 상기 제 1 전압원(VDD)은 정극성의 전압원을 의미하며, 상기 제 2 전압원(VSS)은 접지전압을 의미한다.The entire stages AST1 to ASTn + 1 of the shift register configured as described above are configured with the first voltage source VDD and the second voltage source VSS, and the first to fourth clock pulses CLK1 to CLK4 having sequential phase differences with each other. Two clock pulses are received. Here, the first voltage source VDD means a positive voltage source, and the second voltage source VSS means a ground voltage.
한편, 상기 스테이지들(AST1 내지 ASTn+1) 중 가장 상측에 위치한 제 1 스테이지(AST1)는, 상기 제 1 전압원(VDD), 제 2 전압원(VSS), 및 상기 두 개의 클럭펄스 외에도 스타트 펄스(SP)를 공급받는다.Meanwhile, the first stage AST1 positioned at the uppermost side of the stages AST1 to ASTn + 1 may include a start pulse (in addition to the first voltage source VDD, the second voltage source VSS, and the two clock pulses). SP).
이와 같이 구성된 종래의 쉬프트 레지스터의 동작을 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation of the conventional shift register configured as described above will be described in detail as follows.
먼저, 타이밍 콘트롤러(도시되지 않음)로부터의 스타트 펄스(SP)가 제 1 스테이지(AST1)에 인가되면, 상기 제 1 스테이지(AST1)는 상기 스타트 펄스(SP)에 응답하여 인에이블된다.First, when a start pulse SP from a timing controller (not shown) is applied to the first stage AST1, the first stage AST1 is enabled in response to the start pulse SP.
이어서, 상기 인에이블된 제 1 스테이지(AST1)는 타이밍 콘트롤러로부터의 제 1 및 제 2 클럭펄스(CLK1 내지 CLK2)를 입력받아 제 1 스캔펄스(Vout1)를 출력하고, 이를 제 1 게이트 라인과 제 2 스테이지(AST2)에 함께 공급한다. 그러면, 상기 제 2 스테이지(AST2)는 상기 제 1 스캔펄스(Vout1)에 응답하여 인에이블된다. Subsequently, the enabled first stage AST1 receives the first and second clock pulses CLK1 to CLK2 from the timing controller, and outputs the first scan pulse Vout1, and the first gate line and the first gate line. It is supplied together to the 2 stage AST2. Then, the second stage AST2 is enabled in response to the first scan pulse Vout1.
이어서, 상기 인에이블된 제 2 스테이지(AST2)는 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 제 2 및 제 3 클럭펄스(CLK2, CLK3)를 입력받아 제 2 스캔펄스(Vout2)를 출력하고, 이를 제 2 게이트 라인, 제 3 스테이지(AST3) 및 상기 제 1 스테이지(AST1)에 함께 공급한다. 그러면, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)에 응답하여 상기 제 3 스테이지(AST3)는 인에이블되고, 또한, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)에 응답하여 상기 제 1 스테이지(AST1)는 디스에이블되어 제 2 전압원(VSS)을 상기 제 1 게이트 라인에 공급한다. Subsequently, the enabled second stage AST2 receives the second and third clock pulses CLK2 and CLK3 from the timing controller and outputs a second scan pulse Vout2, and the second gate line, The third stage AST3 and the first stage AST1 are supplied together. Then, the third stage AST3 is enabled in response to the second scan pulse Vout2, and the first stage AST1 is disabled in response to the second scan pulse Vout2. A second voltage source VSS is supplied to the first gate line.
이어서, 상기 인에이블된 제 3 스테이지(AST3)는 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 제 3 및 제 4 클럭펄스(CLK3, CLK4)를 입력받아 제 3 스캔펄스(Vout3)를 출력하고, 이를 제 3 게이트 라인, 제 4 스테이지(AST4) 및 상기 제 2 스테이지(AST2)에 함께 공급한다. 그러면, 상기 제 3 스캔펄스(Vout3)에 응답하여 상기 제 4 스테이지(AST4)는 인에이블되고, 또한, 상기 제 3 스캔펄스(Vout3)에 응답하여 상기 제 2 스테이지(AST2)는 디스에이블되어 제 2 전압원(VSS)을 상기 제 2 게이트 라인에 공급한다. Subsequently, the enabled third stage AST3 receives the third and fourth clock pulses CLK3 and CLK4 from the timing controller, and outputs a third scan pulse Vout3, and the third gate line, The fourth stage AST4 and the second stage AST2 are supplied together. Then, the fourth stage AST4 is enabled in response to the third scan pulse Vout3, and the second stage AST2 is disabled in response to the third scan pulse Vout3. A second voltage source VSS is supplied to the second gate line.
이와 같은 방식으로, 나머지 제 4 내지 제 n 스테이지(AST4 내지 ASTn)까지 순차적으로 제 4 내지 제 n 스캔펄스(Voutn)를 출력하여 상기 제 4 내지 제 n 게이 트 라인에 순차적으로 인가한다. 결국, 상기 제 1 내지 제 n 게이트 라인은 상기 순차적으로 출력되는 제 1 내지 제 n 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn)에 의해 차례로 스캐닝된다.In this manner, the fourth to nth scan pulses Voutn are sequentially output to the remaining fourth to nth stages AST4 to ASTn and sequentially applied to the fourth to nth gate lines. As a result, the first to nth gate lines are sequentially scanned by the sequentially output first to nth scan pulses Vout1 to Voutn.
한편, 상기 더미 스테이지(ASTn+1)는 상기 제 n 스테이지(ASTn)로부터의 제 n 스캔펄스(Voutn)에 응답하여 인에이블된 후, 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 두 개의 클럭펄스를 입력받아 제 n+1 스캔펄스(Voutn+1)를 상기 제 n 스테이지(ASTn)에 공급하여, 상기 제 n 스테이지(ASTn)가 디스에이블되어 제 n 게이트 라인에 상기 제 2 전압원(VSS)을 제공할 수 있도록 한다. 다시말하면, 상기 더미 스테이지(ASTn+1)는 단지 상기 제 n 스테이지(ASTn)가 제 2 전압원(VSS)을 출력할 수 있도록 상기 제 n+1 스캔펄스(Voutn+1)를 제공할 뿐, 상기 제 n+1 스캔펄스(Voutn+1)를 게이트 라인에는 공급하지 않는다. 따라서, 상기 더미 스테이지(ASTn+1)를 포함한 전체 스테이지의 수는 상기 게이트 라인의 수보다 항상 더 많게 된다. Meanwhile, the dummy stage ASTn + 1 is enabled in response to the nth scan pulse Voutn from the nth stage ASTn, and then receives two clock pulses from the timing controller. One scan pulse Voutn + 1 is supplied to the nth stage ASTn so that the nth stage ASTn is disabled to provide the second voltage source VSS to the nth gate line. In other words, the dummy stage ASTn + 1 merely provides the n + 1 scan pulse Voutn + 1 so that the nth stage ASTn can output the second voltage source VSS. The n + 1th scan pulse Voutn + 1 is not supplied to the gate line. Therefore, the total number of stages including the dummy stages ASTn + 1 is always greater than the number of gate lines.
일반적으로, 상기 제 1 내지 제 n 스테이지(ASTn), 그리고 더미 스테이지(ASTn+1)는 제 1 및 제 2 노드의 충전 및 방전 상태를 제어하기 위한 노드 제어부와, 상기 제 1 및 제 2 노드의 상태에 따라 제 1 스캔펄스(Vout1) 또는 제 2 전압원(VSS)을 출력하여, 이를 액정패널의 게이트 라인에 공급하는 출력부를 갖는다.In general, the first to nth stages ASTn and the dummy stage ASTn + 1 may include a node controller for controlling charge and discharge states of the first and second nodes, and According to the state, the first scan pulse Vout1 or the second voltage source VSS is output and has an output part which supplies the same to the gate line of the liquid crystal panel.
여기서, 상기 제 1 노드와 제 2 노드는 서로 교번적으로 충전 및 방전되는데, 구체적으로 상기 제 1 노드가 충전된 상태일 때에는 상기 제 2 노드가 방전된 상태를 유지하며, 상기 제 2 노드가 충전된 상태일 때에는 상기 제 1 노드가 방전된 상태를 유지하게 된다. Here, the first node and the second node are alternately charged and discharged. Specifically, when the first node is charged, the second node maintains a discharged state, and when the second node is charged The first node is maintained in a discharged state.
이때, 상기 제 1 노드가 충전상태일때는 상기 출력부의 풀업 스위칭소자로부터는 스캔펄스가 출력되고, 상기 제 2 노드가 충전상태일때는 상기 출력부의 풀다운 스위칭소자로부터 제 2 전압원이 출력된다. 물론, 상기 풀업 스위칭소자로부터 출력된 스캔펄스 및 풀다운 스위칭소자로부터 출력된 제 2 전압원은 해당 게이트 라인에 공급된다. 여기서, 상기 풀업 스위칭소자의 게이트단자는 상기 제 1 노드에 접속되며, 드레인단자는 클럭펄스가 인가되는 클럭라인에 접속되며, 소스단자는 상기 게이트 라인에 접속된다. 상기 클럭펄스는 주기적으로 상기 풀업 스위칭소자의 드레인단자에 공급된다. 이때, 상기 풀업 스위칭소자는 상기 매 주기마다 입력되는 클럭펄스들 중 어느 하나를 특정 시점에서 출력하게 된다. 이 특정 시점에 출력된 클럭펄스가 게이트 라인을 구동하기 위한 스캔펄스이다. 이 특정 시점이란, 상기 제 1 노드가 충전되는 시점을 말한다. 즉, 상기 풀업 스위칭소자는 자신의 드레인단자에 주기적으로 계속해서 입력되는 클럭펄스들 중, 상기 특정 시점(즉, 상기 제 1 노드가 충전된 상태의 시점)에 입력된 클럭펄스를 스캔펄스로서 출력하게 된다. 그리고, 상기 스캔펄스의 출력 이후 상기 제 1 노드가 다음 프레임이 시작될 때까지 방전상태로 유지됨에 따라, 상기 풀업 스위칭소자는 한 프레임에 한번의 스캔펄스를 출력하게 된다. 그런데, 상기 클럭펄스는 한 프레임동안 여러 번 출력되기 때문에, 상기 풀업 스위칭소자가 턴-오프된 상태에서도, 즉 상기 제 1 노드가 방전된 상태에서도 상기 클럭펄스는 상기 풀업 스위칭소자의 드레인단자에 계속해서 입력되게 된다. In this case, when the first node is in a charged state, a scan pulse is output from the pull-up switching device of the output unit, and when the second node is in a charged state, a second voltage source is output from the pull-down switching device of the output unit. Of course, the scan pulse output from the pull-up switching element and the second voltage source output from the pull-down switching element are supplied to the corresponding gate line. The gate terminal of the pull-up switching element is connected to the first node, the drain terminal is connected to a clock line to which a clock pulse is applied, and the source terminal is connected to the gate line. The clock pulse is periodically supplied to the drain terminal of the pull-up switching device. In this case, the pull-up switching device outputs any one of the clock pulses input for each period at a specific time point. The clock pulse output at this particular time point is a scan pulse for driving the gate line. This specific time point means a time point at which the first node is charged. That is, the pull-up switching device outputs, as a scan pulse, the clock pulse input at the specific time point (ie, the time point at which the first node is charged) among the clock pulses which are periodically input to its drain terminal. Done. After the output of the scan pulse, the pull-up switching device outputs one scan pulse per frame as the first node is kept in a discharge state until the next frame starts. However, since the clock pulses are output several times during one frame, even when the pull-up switching device is turned off, that is, even when the first node is discharged, the clock pulses continue to the drain terminal of the pull-up switching device. Will be entered.
다시말하면, 상기 풀업 스위칭소자는 한 프레임동안 단 한 번 턴-온되며, 이 턴-온되는 기간에 자신의 드레인단자에 입력되는 클럭펄스를 스캔펄스로 출력한다. 이후, 상기 풀업 스위칭소자는 다음 프레임이 시작될 때까지 턴-오프되며, 이에 따라, 상기 풀업 스위칭소자는 이 턴-오프된 기간에는 아무리 자신의 드레인단자에 클럭펄스가 입력되어도, 이를 스캔펄스로 출력할 수 없다. 그런데, 이와 같이, 상기 풀업 스위칭소자의 드레인단자에 주기적으로 클럭펄스가 인가됨에 따라, 상기 풀업 스위칭소자의 게이트단자가 접속된 제 1 노드와 상기 풀업 스위칭소자의 드레인단자간에 커플링현상이 발생된다. 이와 같은 커플링현상에 의해, 상기 제 1 노드에는 상기 클럭펄스에 따른 소정의 전압이 계속해서 충전되게 된다. 그러면, 상기 제 1 노드가 어느 순간 충전상태로 유지될 수 있다. 즉, 상기 제 1 노드가 원치 않는 타이밍에 충전상태로 유지될 수 있다. 이럴 경우, 상기 제 1 노드가 한 프레임에 두 번 이상 충전상태로 유지될 수 있으며, 이에 의해 상기 풀업 스위칭소자가 한 프레임에 두 번 이상 턴-온될 수 있다. 결국, 상기와 같은 커플링현상에 의해 하나의 스테이지가 한 프레임동안 두 번 이상의 스캔펄스 출력하는 멀티 출력현상이 발생할 수 있다.In other words, the pull-up switching device is turned on only once for one frame, and outputs a clock pulse input to its drain terminal as a scan pulse during this turn-on period. Thereafter, the pull-up switching device is turned off until the next frame starts, so that the pull-up switching device outputs it as a scan pulse no matter how clock pulse is input to its drain terminal during this turn-off period. Can not. However, as the clock pulse is periodically applied to the drain terminal of the pull-up switching device, a coupling phenomenon occurs between the first node to which the gate terminal of the pull-up switching device is connected and the drain terminal of the pull-up switching device. . Due to such a coupling phenomenon, the first node is continuously charged with a predetermined voltage corresponding to the clock pulse. Then, the first node may be kept in a charged state at any moment. In other words, the first node may remain charged at an unwanted timing. In this case, the first node may be maintained in the charging state more than once in one frame, whereby the pull-up switching device may be turned on more than once in one frame. As a result, a multi-output phenomenon in which one stage outputs two or more scan pulses during one frame may occur due to the coupling phenomenon as described above.
물론, 상기와 같은 커플링 현상은 방전용 트랜지스터에 의해 방지된다. 이 방전용 트랜지스터는, 다음단 스테이지로부터의 출력에 응답하여 자신이 속한 스테이지의 제 1 노드를 방전시킨다. 이렇게 함으로써, 상기 제 1 노드가 충전되는 것을 방지한다. 그러나, 이 방전용 트랜지스터가 열화되면, 상기 커플링 현상에 의해 상기 풀업 트랜지스터가 멀티 출력을 발생시키게 된다. 상기 방전용 트랜지스터의 열화는 상기 더미 스테이지가 나머지 스테이지와 다른 접속관계를 나타내는데 기인 한다. 이를 좀 더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Of course, the above coupling phenomenon is prevented by the discharge transistor. This discharge transistor discharges the first node of the stage to which it belongs in response to the output from the next stage. This prevents the first node from being charged. However, when this discharge transistor deteriorates, the pull-up transistor generates multiple outputs by the coupling phenomenon. The deterioration of the discharge transistor is caused by the dummy stage showing a different connection relationship from the remaining stages. If this is explained in more detail as follows.
즉, 종래의 쉬프트 레지스터에 구비된 더미 스테이지는 가장 마지막으로 스캔펄스를 출력하여 제 n 스테이지에 공급한다. 그러나, 상기 더미 스테이지는 게이트 라인에는 스캔펄스를 공급하지 않는다. 다시말하면, 제 1 내지 제 n 스테이지들이 제 1 내지 제 n 게이트 라인에 접속되어 있지만, 상기 더미 스테이지는 게이트 라인에 접속되지 않는다. 상기 게이트 라인은 하나의 로드로서 작용하기 때문에, 상기 게이트 라인에 접속되지 않은 더미 스테이지로부터 출력된 스캔펄스는 나머지 스테이지들로부터 출력된 스캔펄스에 비하여 더 큰 값을 갖게된다.That is, the dummy stage provided in the conventional shift register lastly outputs a scan pulse and supplies it to the nth stage. However, the dummy stage does not supply a scan pulse to the gate line. In other words, although the first to nth stages are connected to the first to nth gate lines, the dummy stage is not connected to the gate line. Since the gate line acts as a load, the scan pulse output from the dummy stage not connected to the gate line has a larger value than the scan pulse output from the remaining stages.
이 더미 스테이지로부터 출력된 스캔펄스는, 이전단 스테이지, 즉 제 n 스테이지에 구비된 방전용 트랜지스터에 공급된다. 그러나, 이 더미 스테이지로부터 출력된 스캔펄스는 다음 스테이지로부터 출력된 스캔펄스보다 더 큰 값을 갖게 되므로, 이러한 스캔펄스를 공급받는 상기 제 n 스테이지의 방전용 트랜지스터는 쉽게 열화된다. 그러면, 상기 제 n 스테이지의 제 1 노드의 방전이 잘 이루어지지 않게 된다. 이에 따라, 상기 제 n 스테이지는, 상술한 커플링 현상에 의해, 멀티 출력을 발생시킨다. 이 n 스테이지로부터의 멀티 출력은, 이전단 스테이지 즉, 제 n-1 스테이지에 공급된다. 정상적인 스캔펄스가 아닌 이 멀티 출력에 의해, 상술한바와 같은 방식으로, 상기 제 n-1 스테이지에 구비된 방전용 트랜지스터도 쉽게 열화된다.The scan pulse output from this dummy stage is supplied to the discharge transistor provided in the previous stage, that is, the nth stage. However, since the scan pulse outputted from this dummy stage has a larger value than the scan pulse outputted from the next stage, the discharge transistor of the nth stage supplied with this scan pulse is easily degraded. Then, the discharge of the first node of the n-th stage is difficult. As a result, the n-th stage generates multiple outputs by the coupling phenomenon described above. The multiple outputs from this n stage are supplied to the previous stage, that is, the n-1 stage. By this multi-output instead of the normal scan pulse, the discharge transistor provided in the n-th stage is also easily degraded in the manner described above.
이러한 원리로, 모든 스테이지에 구비된 방전용 트랜지스터가 모두 열화되어, 각 스테이지는 모두 멀티 출력을 발생시킨다. With this principle, all the discharge transistors provided in all the stages deteriorate, so that each stage generates multiple outputs.
이와 같이, 상기 하나의 스테이지가 한 프레임 동안 두 번 이상의 스캔펄스를 출력하게 되면, 액정패널에 표시되는 화상의 품질이 떨어지게 된다.As such, when one stage outputs two or more scan pulses in one frame, the quality of an image displayed on the liquid crystal panel is degraded.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 더미 스테이지의 출력을 완화시켜 방전용 스위칭소자의 열화를 방지함으로써, 멀티 출력이 발생하는 시기를 지연시킬 수 있는 액정표시장치 및 이의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the liquid crystal display device and its driving method that can delay the timing of the multi output by reducing the output of the dummy stage to prevent deterioration of the switching device for discharge The purpose is to provide.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치는, 순차적으로 스캔펄스를 출력하여 액정패널의 게이트 라인들을 차례로 구동시키는 다수개의 스테이지들; 상기 스테이지들 중 임의의 제 1 스테이지로부터의 스캔펄스를 공급받아 임의의 제 2 스테이지를 디스에이블 시키는 적어도 하나의 더미 스테이지; 및, 상기 더미 스테이지로부터 출력된 스캔펄스를 공급받는 적어도 하나의 더미 게이트 라인을 포함하여 구성됨을 그 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display device including: a plurality of stages sequentially outputting scan pulses to sequentially drive gate lines of a liquid crystal panel; At least one dummy stage receiving scan pulses from any one of the stages to disable any second stage; And at least one dummy gate line supplied with the scan pulse output from the dummy stage.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치는, 순차적으로 스캔펄스를 출력하여 액정패널의 게이트 라인들을 차례로 구동시키는 다수개의 스테이지들; 상기 스테이지들 중 임의의 제 1 스테이지로부터의 스캔펄스를 공급받아 임의의 제 2 스테이지를 디스에이블 시키는 적어도 하나의 더미 스테이지; 및, 상기 더미 스테이지로부터 출력된 스캔펄스를 공급받는 RC 로드를 포함하여 구성됨을 그 특징으로 한다.In addition, the liquid crystal display according to the present invention for achieving the above object, a plurality of stages for sequentially driving the gate lines of the liquid crystal panel by outputting the scan pulse; At least one dummy stage receiving scan pulses from any one of the stages to disable any second stage; And an RC rod supplied with the scan pulse output from the dummy stage.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치의 구동방법은, 순차적으로 스캔펄스를 출력하여 액정패널의 게이트 라인들을 차례로 구동시키는 다수개의 스테이지들과, 상기 스테이지들 중 임의의 제 1 스테이지로부터의 스캔펄스를 공급받아 임의의 제 2 스테이지를 디스에이블 시키는 적어도 하나의 더미 스테이지를 포함하는 액정표시장치의 구동방법에 있어서, 상기 더미 스테이지로부터 스캔펄스를 출력시키는 단계; 및, 상기 더미 스테이지로부터의 스캔펄스를 더미 게이트 라인 및 상기 제 2 스테이지에 공급하는 단계를 포함하여 이루어짐을 그 특징으로 한다.In addition, the driving method of the liquid crystal display according to the present invention for achieving the above object, a plurality of stages for sequentially driving the gate lines of the liquid crystal panel by sequentially outputting the scan pulse, and any of the stages A driving method of a liquid crystal display device comprising at least one dummy stage receiving a scan pulse from a first stage and disabling an arbitrary second stage, the method comprising: outputting a scan pulse from the dummy stage; And supplying a scan pulse from the dummy stage to the dummy gate line and the second stage.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치의 구동방법은, 순차적으로 스캔펄스를 출력하여 액정패널의 게이트 라인들을 차례로 구동시키는 다수개의 스테이지들과, 상기 스테이지들 중 임의의 제 1 스테이지로부터의 스캔펄스를 공급받아 임의의 제 2 스테이지를 디스에이블 시키는 적어도 하나의 더미 스테이지를 포함하는 액정표시장치의 구동방법에 있어서, 상기 더미 스테이지로부터 스캔펄스를 출력시키는 단계; 및, 상기 더미 스테이지로부터의 스캔펄스를 RC 로드 및 상기 제 2 스테이지에 공급하는 단계를 포함하여 이루어짐을 그 특징으로 한다.In addition, the driving method of the liquid crystal display according to the present invention for achieving the above object, a plurality of stages for sequentially driving the gate lines of the liquid crystal panel by sequentially outputting the scan pulse, and any of the stages A driving method of a liquid crystal display device comprising at least one dummy stage receiving a scan pulse from a first stage and disabling an arbitrary second stage, the method comprising: outputting a scan pulse from the dummy stage; And supplying a scan pulse from the dummy stage to the RC rod and the second stage.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면이다.2 is a diagram illustrating a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는, 도 2에 도시된 바와 같이, 서로 수직교차하는 다수개의 게이트 라인들(GL1 내지 GLn+1) 및 다수개의 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)에 의해 정의되는 다수개의 화소(PXL)를 갖는 액정패널(200)과, 상기 액정패널(200)의 게이트 라인들(GL1 내지 GLn+1)을 구동하기 위한 쉬프트 레지스터를 포함한다.As shown in FIG. 2, a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention is defined by a plurality of gate lines GL1 through GLn + 1 and a plurality of data lines DL1 through DLm perpendicularly intersecting with each other. The
상기 액정표시장치의 사이즈를 줄이기 위해, 상기 쉬프트 레지스터는 상기 액정패널(200)상에 내장되는 것이 바람직하다.In order to reduce the size of the liquid crystal display, the shift register may be embedded on the
상기 쉬프트 레지스터는, 서로 종속적으로 연결된 n개의 스테이지(BST1 내지 BSTn)들 및 하나의 더미 스테이지(BSTn+1)로 구성된다. 여기서, 각 스테이지들(BST1 내지 BSTn+1)은 하나씩의 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn+1)를 출력하며, 이때 상기 제 1 스테이지(BST1)부터 더미 스테이지(BSTn+1)까지 차례로 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn+1)를 출력한다. 이때, 상기 스테이지들(BST1 내지 BSTn+1)로부터 출력된 스캔펄스들(Vout1 내지 Voutn)은 상기 액정패널(200)(도시되지 않음)의 게이트 라인들(GL1 내지 GLn+1)에 순차적으로 공급되어, 상기 게이트 라인들(GL1 내지 GLn+1)을 순차적으로 스캐닝하게 된다. 즉, 제 1 내지 제 n 스테이지(BST1 내지 BSTn)는 제 1 내지 제 n 게이트 라인(GL1 내지 GLn)에 접속되며, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 더미 게이트 라인(GLn+1)에 접속된다.The shift register is composed of n stages BST1 to BSTn and one dummy stage BSTn + 1 connected to each other. Here, each of the stages BST1 to BSTn + 1 outputs one scan pulse Vout1 to
본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 상기 쉬프트 레지스터에 구비된 스테이지들간의 접속관계에 따라 두 개 이상의 더미 스테이지를 구비할 수 있다.The liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention may include two or more dummy stages according to a connection relationship between stages provided in the shift register.
상기 제 1 스테이지(BST1) 및 더미 스테이지(BSTn+1)를 제외한 각 스테이지(BST2 내지 BSTn)는 상기 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn)를 출력하는 제 1 내지 제 3 출력라인(241a 내지 241c)을 갖는다.Each stage BST2 to BSTn except for the first stage BST1 and the dummy stage BSTn + 1 has first to
여기서, 각 스테이지(BST2 내지 BSTn)의 제 1 출력라인(241a)은 각 스테이지(BST2 내지 BSTn)와 각 게이트 라인간을 전기적으로 연결하며, 각 스테이지(BST2 내지 BSTn)의 제 2 출력라인(241b)은 자신의 제 1 출력라인(241a)과 다음단 스테이지간을 전기적으로 연결하며, 그리고 각 스테이지(BST2 내지 BSTn)의 제 3 출력라인(241c)은 자신의 제 1 출력라인(241a)과 이전단 스테이지간을 전기적으로 연결한다.Here, the
예를 들어, 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 출력라인(241a)은 상기 제 2 스테이지(BST2)와 제 2 게이트 라인(GL2)간을 전기적으로 접속시키고, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 2 출력라인(241b)은 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 출력라인(241a)과 제 3 스테이지(BST3)간을 전기적으로 접속시키며, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 3 출력라인(241c)은 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 출력라인(241a)과 제 1 스테이지(BST1)간을 전기적으로 접속시킨다.For example, the
상기 제 1 스테이지(BST1)는 제 1 및 제 2 출력라인(241a, 241b)을 가지며, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 제 1 및 제 3 출력라인(241a, 241c)을 갖는다. 즉, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 출력라인(241a)은 상기 제 1 스테이지(BST1)와 제 1 게이트 라인(GL1)간을 전기적으로 접속시키고, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 2 출력라인(241b)은 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 출력라인(241a)과 제 2 스테이지(BST2)간을 전기적으로 접속시킨다.The first stage BST1 has first and
상기 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 1 출력라인(241a)은 상기 더미 스테이지 (BSTn+1)와 더미 게이트 라인(GLn+1)간을 전기적으로 접속시키고, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 3 출력라인(241c)은 상기 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 1 출력라인(241a)과 제 n 스테이지(BSTn)간을 전기적으로 접속시킨다.The
각 스테이지(BST1 내지 BSTn+1)는 자신의 제 1 출력라인(241a)을 통해 해당 게이트 라인에 스캔펄스를 공급하고, 자신의 제 2 출력라인(241b)을 통해 상기 스캔펄스를 자신으로부터 다음단에 위치한 스테이지에 공급하고, 그리고 자신의 제 3 출력라인(241c)을 통해 상기 스캔펄스를 자신으로부터 이전단에 위치한 스테이지에 공급한다.Each stage BST1 to BSTn + 1 supplies scan pulses to its corresponding gate line through its
한편, 이와 같이 구성된 쉬프트 레지스터의 전체 스테이지(BST1 내지 BSTn+1)는 제 1 전압원(VDD) 및 제 2 전압원(VSS)과, 그리고 서로 순차적인 위상차를 갖고 순환하는 제 1 내지 제 4 클럭펄스(CLK1 내지 CLK4) 중 두 개의 클럭펄스를 인가받는다. 여기서, 상기 제 1 전압원(VDD)은 고전위 전압원으로서 정극성의 전압원을 의미하며, 상기 제 2 전압원(VSS)은 저전위 전압원으로서 부극성의 전압원을 의미한다.On the other hand, the entire stages BST1 to BSTn + 1 of the shift registers configured as described above are configured with the first voltage source VDD and the second voltage source VSS, and the first to fourth clock pulses circulating with sequential phase differences. Two clock pulses of CLK1 to CLK4) are applied. Here, the first voltage source VDD refers to a positive voltage source as a high potential voltage source, and the second voltage source VSS refers to a negative voltage source as a low potential voltage source.
여기서, 상기 스테이지들(BST1 내지 BSTn+1) 중 가장 상측에 위치한 제 1 스테이지(BST1) 및, 가장 하측에 위치한 더미 스테이지(BSTn+1)는, 상기 제 1 전압원(VDD), 제 2 전압원(VSS), 및 상기 제 1 내지 제 4 클럭펄스(CLK1 내지 CLK4) 중 두 개의 클럭펄스 외에도 스타트 펄스(SP)를 공급받는다.Here, the first stage BST1 located at the top of the stages BST1 to BSTn + 1 and the dummy stage BSTn + 1 located at the bottom thereof are the first voltage source VDD and the second voltage source ( VSS) and a start pulse SP in addition to two clock pulses among the first to fourth clock pulses CLK1 to CLK4.
한편, 상술한 바와 같이, 상기 제 1 내지 제 4 클럭펄스(CLK1 내지 CLK4)는 서로 한 펄스폭만큼씩 위상지연되어 출력된다. 즉, 상기 제 2 클럭펄스(CLK2)는 상 기 제 1 클럭펄스(CLK1)보다 한 펄스폭만큼 위상지연되어 출력되고, 상기 제 3 클럭펄스(CLK3)는 상기 제 2 클럭펄스(CLK2)보다 한 펄스폭만큼 위상지연되어 출력되고, 상기 제 4 클럭펄스(CLK4)는 상기 제 3 클럭펄스(CLK3)보다 한 펄스폭만큼 위상지연되어 출력되고, 상기 제 1 클럭펄스(CLK1)는 상기 제 4 클럭펄스(CLK4)보다 한 펄스폭만큼 위상지연되어 출력된다.On the other hand, as described above, the first to fourth clock pulses (CLK1 to CLK4) are phase-delayed by one pulse width each other and output. That is, the second clock pulse CLK2 is output by being phase-delayed by one pulse width than the first clock pulse CLK1, and the third clock pulse CLK3 is less than the second clock pulse CLK2. Phase delayed by a pulse width is output, the fourth clock pulse (CLK4) is phase-delayed output by one pulse width than the third clock pulse (CLK3), the first clock pulse (CLK1) is output to the fourth clock Phase delayed by one pulse width than pulse CLK4 is output.
한편, 상기 스테이지들(BST1 내지 BSTn+1) 중 제 1 스테이지(BST1)에 인가되는 스타트 펄스(SP)는 상기 클럭펄스(CLK1 내지 CLK4)보다 더 앞서 출력된다. 즉, 상기 스타트 펄스(SP)는 상기 제 1 클럭펄스(CLK1)보다 한 클럭펄스폭만큼 앞서 출력된다. 또한, 상기 스타트 펄스(SP)는 한 프레임에 한 번만 출력된다. 즉 매 프레임마다 상기 스타트 펄스(SP)가 가장 먼저 출력된 후, 제 1 내지 제 4 클럭펄스(CLK4)들이 차례로 출력된다. 이때, 상기 제 1 내지 제 4 클럭펄스(CLK1 내지 CLK4)들은 순차적으로 출력되며, 또한 순환하면서 출력된다. 즉, 제 1 클럭펄스(CLK1)부터 제 4 클럭펄스(CLK4)까지 순차적으로 출력된 후, 다시 제 1 클럭펄스(CLK1)부터 제 4 클럭펄스(CLK4)까지 순차적으로 출력된다. 따라서, 상기 제 1 클럭펄스(CLK1)는 상기 제 4 클럭펄스(CLK4)와 제 2 클럭펄스(CLK2) 사이에 해당하는 기간에서 출력된다. 여기서, 상기 제 4 클럭펄스(CLK4)와 상기 스타트 펄스(SP)를 서로 동기시켜 출력할 수도 있다. 이때는 상기 제 1 내지 제 4 클럭펄스(CLK1 내지 CLK4)들 중 제 4 클럭펄스(CLK4)가 가장 먼저 출력된다.Meanwhile, the start pulse SP applied to the first stage BST1 among the stages BST1 to BSTn + 1 is output earlier than the clock pulses CLK1 to CLK4. That is, the start pulse SP is output by one clock pulse width ahead of the first clock pulse CLK1. In addition, the start pulse SP is output only once in one frame. That is, after the start pulse SP is output first in every frame, the first to fourth clock pulses CLK4 are sequentially output. In this case, the first to fourth clock pulses CLK1 to CLK4 are sequentially output, and are also output while cycling. That is, after the first clock pulse CLK1 to the fourth clock pulse CLK4 are sequentially output, the first clock pulse CLK1 to the fourth clock pulse CLK4 are sequentially output. Accordingly, the first clock pulse CLK1 is output in a period between the fourth clock pulse CLK4 and the second clock pulse CLK2. The fourth clock pulse CLK4 and the start pulse SP may be output in synchronization with each other. In this case, the fourth clock pulse CLK4 is first outputted among the first to fourth clock pulses CLK1 to CLK4.
한편, 본 발명에 따른 쉬프트 레지스터는 한 개 이상의 클럭펄스를 사용할 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 쉬프트 레지스터는 상기 제 1 내지 제 4 클럭펄스 (CLK4)들 제 1 클럭펄스(CLK1)만을 사용할 수도 있으며, 또는 제 1 및 제 2 클럭펄스(CLK1, CLK2)만을 사용할 수도 있으며, 또는 제 1 내지 제 3 클럭펄스(CLK1 내지 CLK3)만을 사용할 수도 있다. 또한, 본 발명에 따른 쉬프트 레지스터는, 순차적으로 출력되는 4개 이상의 클럭펄스들을 사용할 수도 있다.Meanwhile, the shift register according to the present invention may use one or more clock pulses. That is, the shift register according to the present invention may use only the first clock pulses CLK1 of the first to fourth clock pulses CLK4, or may use only the first and second clock pulses CLK1 and CLK2. Alternatively, only the first to third clock pulses CLK1 to CLK3 may be used. In addition, the shift register according to the present invention may use four or more clock pulses sequentially output.
이와 같이 구성된 쉬프트 레지스터의 동작을 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation of the shift register constructed as described above will be described in detail as follows.
먼저, 타이밍 콘트롤러(도시되지 않음)로부터의 스타트 펄스(SP)가 제 1 스테이지(BST1)에 인가되면, 상기 제 1 스테이지(BST1)는 상기 스타트 펄스(SP)에 응답하여 인에이블된다.First, when a start pulse SP from a timing controller (not shown) is applied to the first stage BST1, the first stage BST1 is enabled in response to the start pulse SP.
이어서, 상기 인에이블된 제 1 스테이지(BST1)는 타이밍 콘트롤러로부터의 제 1 및 제 2 클럭펄스(CLK1 내지 CLK2)를 입력받아 제 1 스캔펄스(Vout1)를 출력하고, 이를 제 1 게이트 라인(GL1)과 제 2 스테이지(BST2)에 함께 공급한다. 그러면, 상기 제 2 스테이지(BST2)는 상기 제 1 스캔펄스(Vout1)에 응답하여 인에이블된다. Subsequently, the enabled first stage BST1 receives the first and second clock pulses CLK1 to CLK2 from the timing controller and outputs the first scan pulse Vout1, and the first gate line GL1. ) And the second stage BST2 together. Then, the second stage BST2 is enabled in response to the first scan pulse Vout1.
이어서, 상기 인에이블된 제 2 스테이지(BST2)는 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 제 2 및 제 3 클럭펄스(CLK2, CLK3)를 입력받아 제 2 스캔펄스(Vout2)를 출력하고, 이를 제 2 게이트 라인(GL2), 제 3 스테이지(BST3) 및 상기 제 1 스테이지(BST1)에 함께 공급한다. 그러면, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)에 응답하여 상기 제 3 스테이지(BST3)는 인에이블되고, 또한, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)에 응답하여 상기 제 1 스테이지(BST1)는 디스에이블되어 제 2 전압원(VSS)을 상기 제 1 게이트 라인(GL1)에 공급한다. Subsequently, the enabled second stage BST2 receives the second and third clock pulses CLK2 and CLK3 from the timing controller and outputs a second scan pulse Vout2, which is then output to the second gate line VST2. GL2), the third stage BST3 and the first stage BST1 are supplied together. Then, the third stage BST3 is enabled in response to the second scan pulse Vout2, and the first stage BST1 is disabled in response to the second scan pulse Vout2. The second voltage source VSS is supplied to the first gate line GL1.
이어서, 상기 인에이블된 제 3 스테이지(BST3)는 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 제 3 및 제 4 클럭펄스(CLK3, CLK4)를 입력받아 제 3 스캔펄스(Vout3)를 출력하고, 이를 제 3 게이트 라인(GL3), 제 4 스테이지(BST4) 및 상기 제 2 스테이지(BST2)에 함께 공급한다. 그러면, 상기 제 3 스캔펄스(Vout3)에 응답하여 상기 제 4 스테이지(BST4)는 인에이블되고, 또한, 상기 제 3 스캔펄스(Vout3)에 응답하여 상기 제 2 스테이지(BST2)는 디스에이블되어 제 2 전압원(VSS)을 상기 제 2 게이트 라인(GL2)에 공급한다. Subsequently, the enabled third stage BST3 receives the third and fourth clock pulses CLK3 and CLK4 from the timing controller and outputs a third scan pulse Vout3, which is then output to the third gate line VST3. GL3), 4th stage BST4, and 2nd stage BST2 are supplied together. Then, the fourth stage BST4 is enabled in response to the third scan pulse Vout3, and the second stage BST2 is disabled in response to the third scan pulse Vout3. The second voltage source VSS is supplied to the second gate line GL2.
이와 같은 방식으로, 나머지 제 4 내지 제 n 스테이지(BST4 내지 BSTn)까지 순차적으로 제 4 내지 제 n 스캔펄스(Voutn)를 출력하여 상기 제 4 내지 제 n 게이트 라인(GLn)에 순차적으로 인가한다. 결국, 상기 제 1 내지 제 n 게이트 라인(GLn)은 상기 순차적으로 출력되는 제 1 내지 제 n 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn)에 의해 차례로 스캐닝된다.In this manner, the fourth to nth scan pulses Voutn are sequentially output to the remaining fourth to nth stages BST4 to BSTn and sequentially applied to the fourth to nth gate lines GLn. As a result, the first to nth gate lines GLn are sequentially scanned by the sequentially output first to nth scan pulses Vout1 to Voutn.
이때, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 상기 제 n 스테이지(BSTn)로부터의 제 n 스캔펄스(Voutn)에 응답하여 인에이블된 후, 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 제 1 및 제 2 클럭펄스(CLK1, CLK2)를 입력받아 제 n+1 스캔펄스(Voutn+1)를 출력하고, 이를 더미 게이트 라인(GLn+1) 및 제 n 스테이지(BSTn)에 공급한다. 그러면, 상기 제 n+1 스캔펄스(Voutn+1)에 응답하여 상기 제 n 스테이지(BSTn)는 디스에이블되어 제 2 전압원(VSS)을 제 n 게이트 라인(GLn)에 공급한다.At this time, the dummy stage BSTn + 1 is enabled in response to the nth scan pulse Voutn from the nth stage BSTn, and then the first and second clock pulses CLK1, CLK2 is input to output the n + 1th scan pulse Voutn + 1 and is supplied to the dummy gate line GLn + 1 and the nth stage BSTn. Then, in response to the n + 1 th scan
한편, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 상기 스타트 펄스(SP)에 의해 디스에이블된다.On the other hand, the dummy stage BSTn + 1 is disabled by the start pulse SP.
이와 같이, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 제 1 내지 제 n 스테이지(BST1 내지 BSTn)와 동일하게 동작한다. 즉, 상기 제 1 내지 제 n 스테이지(BST1 내지 BSTn)가 자신에 해당하는 각 게이트 라인에 스캔펄스를 공급하듯이, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)도 자신에 해당하는 게이트 라인(더미 게이트 라인(GLn+1))에 스캔펄스를 공급한다. 즉, 상기 각 게이트 라인(GL1 내지 GLn+1)은 하나의 로드로서 작용하는데, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)도 게이트 라인(더미 게이트 라인(GLn+1))에 접속됨으로 인해 나머지 스테이지들과 동일한 로드조건을 갖게된다. 따라서, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)로부터 출력되는 스캔펄스(Voutn+1)의 크기와, 나머지 스테이지(BST1 내지 BSTn)로부터 출력되는 각 스캔펄스(Vout1 내지 Voutn)의 크기는 동일해진다. 따라서, 전술한 바와 같은 커플링 현상에 의한 각 스테이지(BST1 내지 BSTn+1)의 오동작을 방지할 수 있다. As described above, the dummy stage BSTn + 1 operates in the same manner as the first to nth stages BST1 to BSTn. That is, as the first to nth stages BST1 to BSTn supply scan pulses to their respective gate lines, the dummy stage BSTn + 1 also has its own gate line (dummy gate line ( Supply the scan pulse to GLn + 1)). That is, each of the gate lines GL1 to GLn + 1 serves as one load, and the dummy stages BSTn + 1 are also connected to the gate line (dummy gate line GLn + 1), so that the other stages It will have the same load condition. Therefore, the magnitude of the scan pulse Voutn + 1 output from the dummy stage BSTn + 1 and the magnitude of each scan pulse Vout1 to Voutn output from the remaining stages BST1 to BSTn become the same. Therefore, malfunction of each stage BST1 to BSTn + 1 due to the coupling phenomenon as described above can be prevented.
여기서, 상기 더미 게이트 라인(GLn+1)과 제 1 내지 제 n 게이트 라인(GL1 내지 GLn)은 동일 물질로 형성하며, 또한 동일한 형상으로 형성하는 것이 바람직하다. 즉, 상기 제 1 내지 제 n 게이트 라인(GL1 내지 GLn)과 상기 더미 게이트 라인(GLn+1)의 저항 및 커패시턴스를 동일하게 형성하는 것이 바람직하다.The dummy gate line GLn + 1 and the first to nth gate lines GL1 to GLn may be formed of the same material and may have the same shape. That is, it is preferable to form the same resistance and capacitance of the first to nth gate lines GL1 to GLn and the dummy gate
한편, 미설명한 TFT(Thin Film Transistor)는 박막트랜지스터이고, CST는 스토리지 커패시턴스이며, CLC는 액정 커패시턴스이다.Meanwhile, TFT (Thin Film Transistor) is a thin film transistor, CST is a storage capacitance, and CLC is a liquid crystal capacitance.
여기서, 상기 더미 게이트 라인(GLn+1)을 지그재그 형태로 형성하여 상기 더미 게이트 라인(GLn+1)의 저항 성분을 더 증가시킬 수 도 있다.Here, the dummy gate
한편, 본 발명에 따른 액정표시장치는 상기 더미 게이트 라인(GLn+1) 대신에 RC 로드를 구비할 수도 있다.Meanwhile, the liquid crystal display according to the present invention may include an RC rod instead of the dummy gate
도 3은 더미 스테이지와 병렬로 접속된 RC 로드를 나타낸 도면이다.3 is a view showing an RC rod connected in parallel with a dummy stage.
더미 스테이지(BSTn+1)는, 도 3에 도시된 바와 같이, RC 로드(340)와 병렬로 접속되어 있다. 상기 RC 로드(340)는 서로 직렬로 접속된 다수의 저항(R)들과, 상기 저항(R)들간의 각 노드에 병렬로 접속된 다수의 커패시터(C)를 포함한다. 여기서, 상술한 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 하나의 제 3 출력라인(241c)만을 가지는데, 상기 RC 로드(340)는 상기 제 3 출력라인(241c)의 일측에 병렬로 접속되어 있다.The dummy stage BSTn + 1 is connected in parallel with the
도 4는 더미 스테이지와 직렬로 접속된 RC 로드를 나타낸 도면으로서, 동 도면에 도시된 바와 같이, 상기 RC 로드(340)는 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 3 출력라인(2741c)과 제 n 스테이지(BSTn)의 입력단자간에 직렬로 접속될 수도 있다.4 is a diagram illustrating an RC rod connected in series with a dummy stage. As shown in the figure, the
도 5는 더미 스테이지에 구비된 출력단자의 형상을 나타낸 도면으로, 동 도면에 도시된 바와 같이, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 3 출력라인(241c) 자체를 지그재그 형상으로 형성하여 별도의 저항(R)을 사용하지 않고 상기 RC 로드를 형성할 수 있다. FIG. 5 is a view showing the shape of an output terminal provided in the dummy stage. As shown in the figure, the
한편, 본 발명의 실시예에 따른 쉬프트 레지스터에 구비된 각 스테이지(BST1 내지 BSTn+1)의 구성을 좀 더 구체적으로 설명하면 다음과 같다. 여기서, 제 2 내지 제 n 스테이지(BST2 내지 BSTn), 그리고 더미 스테이지(BSTn+1)의 구성은 모두 동일하므로 제 2 스테이지(BST2)만을 대표적으로 설명하기로 한다.Meanwhile, the configuration of each stage BST1 to BSTn + 1 provided in the shift register according to the embodiment of the present invention will be described in more detail as follows. Here, since the configurations of the second to nth stages BST2 to BSTn and the dummy stages BSTn + 1 are the same, only the second stage BST2 will be representatively described.
도 6은 도 2의 제 2 스테이지의 상세 구성도이다.FIG. 6 is a detailed configuration diagram of the second stage of FIG. 2.
즉, 상기 제 2 스테이지(BST2)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제 1 노드(Q)의 충전 및 방전, 그리고 제 2 노드(QB)의 충전 및 방전을 제어하는 노드 제어부(300a)와, 상기 제 1 및 제 2 노드(QB)의 상태에 따라 스캔펄스 또는 제 2 전압원(VSS)을 출력하여, 이를 액정패널(200)의 제 2 게이트 라인(GL2)에 공급하는 출력부(300b)를 포함한다.That is, as illustrated in FIG. 6, the second stage BST2 includes a
또한, 상기 출력부(300b)는, 상기 제 1 노드(Q)가 충전상태 일 때 제 2 게이트 라인(GL2)에 스캔펄스 공급하는 풀업 트랜지스터(Tru)와, 상기 제 2 노드(QB)가 충전상태 일 때 상기 제 2 게이트 라인(GL2)에 제 2 전압원(VSS)을 공급하는 풀다운 트랜지스터(Trd)를 포함한다.The
여기서, 상기 제 1 노드(Q)와 제 2 노드(QB)는 서로 교번적으로 충전 및 방전되는데, 구체적으로 상기 제 1 노드(Q)가 충전된 상태일 때에는 상기 제 2 노드(QB)가 방전된 상태를 유지하며, 상기 제 2 노드(QB)가 충전된 상태일 때에는 상기 제 1 노드(Q)가 방전된 상태를 유지하게 된다. 이와 같은 제 1 노드(Q) 및 제 2 노드(QB)의 충전 및 방전 상태는 상기 노드 제어부(300a)에 구비된 다수개의 스위칭소자들(도시되지 않음)에 의해 제어된다.Here, the first node Q and the second node QB are alternately charged and discharged. Specifically, when the first node Q is in a charged state, the second node QB is discharged. The first node Q is discharged when the second node QB is in a charged state. The charging and discharging states of the first node Q and the second node QB are controlled by a plurality of switching elements (not shown) provided in the
제 1 스테이지, 제 3 내지 제 n 스테이지(BST3 내지 BSTn), 및 더미 스테이지(BSTn+1)도 상기 제 2 스테이지(BST2)와 동일한 구성을 갖는다.The first stage, the third to nth stages BST3 to BSTn, and the dummy stage BSTn + 1 also have the same configuration as the second stage BST2.
여기서, 상기 제 2 스테이지(BST2)에 구비된 노드 제어부(300a), 출력부(300b)의 회로구성을 살펴보면 다음과 같다.Here, a circuit configuration of the
도 7은 제 2 스테이지에 구비된 노드 제어부 및 출력부의 회로구성을 나타낸 도면이다.7 is a diagram illustrating a circuit configuration of a node controller and an output unit provided in the second stage.
노드 제어부(300a)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 제 1 내지 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr1 내지 Tr6)를 포함한다. The
제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는, 이전단 스테이지로부터의 스캔펄스에 응답하여, 제 1 노드(Q)를 제 1 전압원(VDD)으로 충전시킨다. 즉, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는, 제 1 스테이지(BST1)로부터의 제 1 스캔펄스(Vout1)에 응답하여 제 1 노드(Q)를 제 1 전압원(VDD)으로 충전시킨다. 이를 위해, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)의 게이트단자는 제 1 스테이지(BST1)의 출력부(300b)에 접속되며, 드레인단자는 제 1 전압원(VDD)을 전송하는 전원라인에 접속되며, 소스단자는 상기 제 1 노드(Q)에 접속된다.The first NMOS transistor Tr1 charges the first node Q to the first voltage source VDD in response to the scan pulse from the previous stage. That is, the first NMOS transistor Tr1 of the second stage BST2 sets the first node Q to the first voltage source VDD in response to the first scan pulse Vout1 from the first stage BST1. Charge with. For this purpose, the gate terminal of the first NMOS transistor Tr1 is connected to the
제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)는, 이전단 스테이지로부터의 스캔펄스에 응답하여, 제 2 노드(QB)를 제 2 전압원(VSS)으로 방전시킨다. 즉, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)는, 제 1 스테이지(BST1)로부터의 제 1 스캔펄스(Vout1)에 응답하여, 상기 제 2 노드(QB)를 제 2 전압원(VSS)으로 방전시킨다. 이를 위해, 상기 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)의 게이트단자는 제 1 스테이지(BST1)의 출력부(300b)에 접속되며, 드레인단자는 제 2 노드(QB)에 접속되며, 소스단자는 상기 제 2 전압원(VSS)을 전송하는 전원라인에 접속된다.The second NMOS transistor Tr2 discharges the second node QB to the second voltage source VSS in response to the scan pulse from the previous stage. That is, in response to the first scan pulse Vout1 from the first stage BST1, the second NMOS transistor Tr2 of the second stage BST2 connects the second node QB to the second voltage source ( VSS). To this end, the gate terminal of the second NMOS transistor Tr2 is connected to the
제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)는, 다음단의 스테이지로부터 출력되는 스캔펄스에 동기된 클럭펄스에 응답하여, 상기 제 2 노드(QB)를 제 1 전압원(VDD)으로 충전시킨다. 즉, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)는, 제 3 클럭 펄스(CLK3)(제 3 스테이지(BST3)로부터 출력된 제 3 스캔펄스(Vout3)에 동기된 클럭펄스)에 응답하여, 상기 제 2 노드(QB)를 제 1 전압원(VDD)으로 충전시킨다. 이를 위해, 상기 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)의 게이트단자는 상기 제 3 클럭펄스(CLK3)를 전송하는 클럭라인에 접속되며, 드레인단자는 상기 제 1 전압원(VDD)을 전송하는 전원라인에 접속되며, 소스단자는 상기 제 2 노드(QB)에 접속된다.The third NMOS transistor Tr3 charges the second node QB to the first voltage source VDD in response to a clock pulse synchronized with the scan pulse output from the next stage. That is, the third NMOS transistor Tr3 of the second stage BST2 is connected to the third clock pulse CLK3 (clock pulse synchronized with the third scan pulse Vout3 output from the third stage BST3). In response, the second node QB is charged with the first voltage source VDD. To this end, the gate terminal of the third NMOS transistor Tr3 is connected to a clock line for transmitting the third clock pulse CLK3, and the drain terminal is connected to a power line for transmitting the first voltage source VDD. The source terminal is connected to the second node QB.
제 4 NMOS 트랜지스터(Tr4)는, 상기 제 2 노드(QB)에 충전된 제 1 전압원(VDD)에 응답하여, 상기 제 1 노드(Q)를 제 2 전압원(VSS)으로 방전시킨다. 이를 위해, 상기 제 4 NMOS 트랜지스터(Tr4)의 게이트단자는 상기 제 2 노드(QB)에 접속되며, 드레인단자는 상기 제 1 노드(Q)에 접속되며, 소스단자는 제 2 전압원(VSS)을 전송하는 전원라인에 접속된다.The fourth NMOS transistor Tr4 discharges the first node Q to the second voltage source VSS in response to the first voltage source VDD charged in the second node QB. To this end, a gate terminal of the fourth NMOS transistor Tr4 is connected to the second node QB, a drain terminal is connected to the first node Q, and a source terminal of the fourth voltage source VSS is connected to the first node QB. It is connected to the transmitting power line.
제 5 NMOS 트랜지스터(Tr5)는, 상기 제 1 노드(Q)에 충전된 제 1 전압원(VDD)에 응답하여, 상기 제 2 노드(QB)를 제 2 전압원(VSS)으로 방전시킨다. 이를 위해, 상기 제 5 NMOS 트랜지스터(Tr5)의 게이트단자는 상기 제 1 노드(Q)에 접속되며, 드레인단자는 제 2 노드(QB)에 접속되며, 소스단자는 제 2 전압원(VSS)을 전송하는 전원라인에 접속된다.The fifth NMOS transistor Tr5 discharges the second node QB to the second voltage source VSS in response to the first voltage source VDD charged in the first node Q. To this end, the gate terminal of the fifth NMOS transistor Tr5 is connected to the first node Q, the drain terminal is connected to the second node QB, and the source terminal transmits the second voltage source VSS. Is connected to the power supply line.
제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)는 상술한 방전용 트랜지스터로서, 다음단 스테이지로부터 출력된 스캔펄스에 응답하여 상기 제 1 노드(Q)를 제 2 전압원(VSS)으로 방전시킨다. 즉, 상기 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)는, 제 3 스테이지(BST3)로부터의 제 3 스캔펄스에 응답하여 상기 제 1 노드(Q)를 제 2 전압원(VSS)으로 방전시킨다. 이를 위해, 상기 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)의 게이트단자는 제 3 스테이지(BST3) 의 출력부(300b)에 접속되며, 드레인단자는 상기 제 1 노드(Q)에 접속되며, 소스단자는 상기 제 2 전압원(VSS)을 전송하는 전원라인에 접속된다.The sixth NMOS transistor Tr6 is the discharge transistor described above, and discharges the first node Q to the second voltage source VSS in response to the scan pulse output from the next stage. That is, the sixth NMOS transistor Tr6 discharges the first node Q to the second voltage source VSS in response to the third scan pulse from the third stage BST3. To this end, the gate terminal of the sixth NMOS transistor Tr6 is connected to the
출력부(300b)는, 풀업 트랜지스터(Tru) 및 풀다운 트랜지스터(Trd)를 포함한다.The
풀업 트랜지스터(Tru)는, 상기 제 1 노드(Q)에 충전된 제 1 전압원(VDD)에 응답하여, 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)의 게이트단자에 인가되는 클럭펄스보다 한 클럭펄스폭만큼 앞선 클럭펄스를 출력한다. 즉, 상기 풀업 트랜지스터(Tru)는, 상기 제 3 클럭펄스(CLK3)보다 한 펄스폭만큼 앞선 제 2 클럭펄스(CLK2)를 출력한다. 그리고, 이 출력된 제 2 클럭펄스(CLK2)를 자신이 속한 스테이지에 접속된 게이트 라인, 이전단의 스테이지, 및 다음단의 스테이지에 공급한다. 즉, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 풀업 트랜지스터(Tru)는, 상기 제 2 클럭펄스(CLK2)를 제 2 게이트 라인(GL2)을 구동하기 위한 제 2 스캔펄스(Vout2)로서 출력한다. 이 제 2 스캔펄스(Vout2)는 상기 제 2 게이트 라인(GL2), 제 1 스테이지(BST1), 및 제 3 스테이지(BST3)에 공급된다. 이를 위해, 상기 풀업 트랜지스터(Tru)의 게이트단자는 제 1 노드(Q)에 접속되어 있으며, 드레인단자는 제 2 클럭펄스(CLK2)를 전송하는 클럭라인에 접속되어 있으며, 소스단자는 제 2 게이트 라인(GL2), 제 1 스테이지(BST1), 및 제 3 스테이지(BST3)에 공통으로 접속된다. 여기서, 상기 제 1 스테이지(BST1)에 공급된 제 2 스캔펄스(Vout2)는 상기 제 1 스테이지(BST1)를 디스에이블시키고, 상기 제 3 스테이지(BST3)에 공급된 제 2 스캔펄스(Vout2)는 상기 제 3 스테이지(BST3)를 인에이블시킨다. The pull-up transistor Tru is clocked ahead of the clock pulse applied to the gate terminal of the third NMOS transistor Tr3 by one clock pulse width in response to the first voltage source VDD charged in the first node Q. Output a pulse. That is, the pull-up transistor Tru outputs the second clock pulse CLK2 that is one pulse width ahead of the third clock pulse CLK3. The output second clock pulse CLK2 is supplied to the gate line connected to the stage to which it belongs, the stage at the previous stage, and the stage at the next stage. That is, the pull-up transistor Tru of the second stage BST2 outputs the second clock pulse CLK2 as a second scan pulse Vout2 for driving the second gate line GL2. The second scan pulse Vout2 is supplied to the second gate line GL2, the first stage BST1, and the third stage BST3. To this end, the gate terminal of the pull-up transistor Tru is connected to the first node Q, the drain terminal is connected to the clock line for transmitting the second clock pulse CLK2, and the source terminal is connected to the second gate. Commonly connected to the line GL2, the first stage BST1, and the third stage BST3. Here, the second scan pulse Vout2 supplied to the first stage BST1 disables the first stage BST1, and the second scan pulse Vout2 supplied to the third stage BST3 is The third stage BST3 is enabled.
풀다운 트랜지스터(Trd)는, 상기 제 2 노드(QB)에 충전된 제 1 전압원(VDD)에 응답하여, 제 2 전압원(VSS)을 출력한다. 그리고, 이 제 2 전압원(VSS)을 자신이 속한 스테이지에 접속된 게이트 라인, 이전단의 스테이지, 및 다음단의 스테이지에 공급한다. 즉, 상기 풀다운 트랜지스터(Trd)는, 상기 제 2 전압원(VSS)을 제 2 게이트 라인(GL2), 제 1 스테이지(BST1), 및 제 3 스테이지(BST3)에 공급한다. 상기 제 2 게이트 라인(GL2)에 공급된 제 2 전압원(VSS)은 상기 제 2 게이트 라인(GL2)을 비활성화시키는 신호로서 기능한다. 이를 위해, 상기 풀다운 트랜지스터(Trd)의 게이트단자는 상기 제 2 노드(QB)에 접속되며, 드레인단자는 제 2 게이트 라인(GL2), 제 1 스테이지(BST1), 및 제 3 스테이지(BST3)에 공통으로 접속되며, 소스단자는 상기 제 2 전압원(VSS)을 전송하는 전원라인에 접속된다.The pull-down transistor Trd outputs the second voltage source VSS in response to the first voltage source VDD charged in the second node QB. Then, the second voltage source VSS is supplied to the gate line connected to the stage to which it belongs, the stage in the previous stage, and the stage in the next stage. That is, the pull-down transistor Trd supplies the second voltage source VSS to the second gate line GL2, the first stage BST1, and the third stage BST3. The second voltage source VSS supplied to the second gate line GL2 functions as a signal for deactivating the second gate line GL2. For this purpose, the gate terminal of the pull-down transistor Trd is connected to the second node QB, and the drain terminal is connected to the second gate line GL2, the first stage BST1, and the third stage BST3. Commonly connected, the source terminal is connected to a power line for transmitting the second voltage source (VSS).
한편, 도 7에 도시된 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는, 제 1 전압원(VDD) 대신에 이전단 스테이지로부터의 스캔펄스를 공급받아, 상기 스캔펄스를 제 1 노드(Q)에 공급할 수도 있다. 이와 같은 경우, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는, 이전단 스테이지로부터의 스캔펄스에 응답하여, 상기 스캔펄스를 제 1 노드(Q)에 충전한다. 이를 위해, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)의 게이트단자 및 소스단자는 이전단 스테이지에 접속되며, 드레인단자는 상기 제 1 노드(Q)에 접속된다. 예를 들어, 제 2 스테이지의 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)의 게이트단자 및 소스단자는 제 1 스테이지에 접속되며, 드레인단자는 상기 제 1 노드(Q)에 접속된다.Meanwhile, the first NMOS transistor Tr1 illustrated in FIG. 7 may receive the scan pulses from the previous stage instead of the first voltage source VDD and supply the scan pulses to the first node Q. In this case, the first NMOS transistor Tr1 charges the scan pulse to the first node Q in response to the scan pulse from the previous stage. To this end, the gate terminal and the source terminal of the first NMOS transistor Tr1 are connected to the previous stage, and the drain terminal is connected to the first node Q. For example, the gate terminal and the source terminal of the first NMOS transistor Tr1 of the second stage are connected to the first stage, and the drain terminal is connected to the first node Q.
또한, 제 1 스테이지(BST1)에 구비된 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는 제 1 전압원(VDD) 대신에 타이밍 콘트롤러로부터의 스타트 펄스(SP)를 공급받아, 상기 스 타트 펄스(SP)를 제 1 노드(Q)에 공급할 수도 있다. 이와 같은 경우, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는, 타이밍 콘트롤러로부터의 스타트 펄스(SP)에 응답하여, 상기 스타트 펄스(SP)를 제 1 노드(Q)에 충전한다. 이를 위해, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)의 게이트단자 및 소스단자는 상기 타이밍 콘트롤러에 접속되며, 드레인단자는 상기 제 1 노드(Q)에 접속된다.In addition, the first NMOS transistor Tr1 included in the first stage BST1 receives the start pulse SP from the timing controller instead of the first voltage source VDD and receives the start pulse SP first. It can also supply to the node Q. In this case, the first NMOS transistor Tr1 charges the start pulse SP to the first node Q in response to the start pulse SP from the timing controller. For this purpose, the gate terminal and the source terminal of the first NMOS transistor Tr1 are connected to the timing controller, and the drain terminal is connected to the first node Q.
또한, 도 7에 도시된 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)는, 클럭펄스 대신에 상기 제 1 전압원(VDD)을 공급받아, 상기 제 1 전압원(VDD)을 제 2 노드(QB)에 공급할 수도 있다. 이와 같은 경우, 상기 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)는, 상기 제 1 전압원(VDD)에 응답하여, 상기 제 1 전압원(VDD)을 제 2 노드(QB)에 충전한다. 이를 위해, 상기 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)의 게이트단자 및 드레인단자는 이전단 스테이지에 접속되며, 소스단자는 상기 제 2 노드(QB)에 접속된다.In addition, the third NMOS transistor Tr3 illustrated in FIG. 7 may receive the first voltage source VDD instead of a clock pulse, and supply the first voltage source VDD to the second node QB. In this case, the third NMOS transistor Tr3 charges the first voltage source VDD to the second node QB in response to the first voltage source VDD. To this end, the gate terminal and the drain terminal of the third NMOS transistor Tr3 are connected to the previous stage, and the source terminal is connected to the second node QB.
제 1 스테이지(BST1), 제 3 내지 제 n 스테이지(BSTn), 및 더미 스테이지(BSTn+1)도 상술한 제 2 스테이지(BST2)와 동일한 구성을 갖는다.The first stage BST1, the third to nth stages BSTn, and the dummy stage BSTn + 1 also have the same configuration as the second stage BST2 described above.
단, 제 1 스테이지(BST1)는, 자신으로부터 이전단의 스테이지가 존재하지 않기 때문에, 상기 제 1 스테이지(BST1)에 구비된 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는 타이밍 콘트롤러로부터의 스타트 펄스(SP)를 공급받는다. 즉, 상기 제 1 스테이지(BST1)에 구비된 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)는, 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 스타트 펄스(SP)에 응답하여, 제 1 노드(Q)를 제 1 전압원(VDD)으로 충전시킨다. 또한, 상기 제 1 스테이지(BST1)에 구비된 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)도 타이밍 콘트롤러로부터의 스타트 펄스(SP)를 공급받는다. 즉, 상기 제 1 스테이지(BST1)에 구 비된 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)는, 상기 타이밍 콘트롤러로부터의 스타트 펄스(SP)에 응답하여, 제 2 노드(QB)를 제 2 전압원(VSS)으로 방전시킨다.However, since the stage before the first stage BST1 does not exist, the first NMOS transistor Tr1 included in the first stage BST1 receives the start pulse SP from the timing controller. To be supplied. That is, the first NMOS transistor Tr1 included in the first stage BST1 charges the first node Q to the first voltage source VDD in response to the start pulse SP from the timing controller. Let's do it. In addition, the second NMOS transistor Tr2 included in the first stage BST1 also receives the start pulse SP from the timing controller. That is, the second NMOS transistor Tr2 provided in the first stage BST1 discharges the second node QB to the second voltage source VSS in response to the start pulse SP from the timing controller. Let's do it.
또한, 상기와 같은 이유로 인해, 상기 제 1 스테이지(BST1)에 구비된 풀업 트랜지스터(Tru)의 소스단자는 제 1 게이트 라인(GL1) 및 제 1 스테이지(BST1)에 공통으로 접속되고, 풀다운 트랜지스터(Trd)의 드레인단자는 제 1 게이트 라인(GL1) 및 제 2 스테이지(BST2)에 공통으로 접속된다.Further, for the same reason as described above, the source terminal of the pull-up transistor Tru provided in the first stage BST1 is commonly connected to the first gate line GL1 and the first stage BST1, and the pull-down transistor ( The drain terminal of Trd is commonly connected to the first gate line GL1 and the second stage BST2.
그리고, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)의 다음단에는 스테이지가 존재하지 않는다. 또한, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 자신으로부터 출력된 제 n+1 스캔펄스를 이전단의 스테이지(즉, 제 n 스테이지(BSTn))에 공급하여 상기 제 n 스테이지(BSTn)를 디스에이블시키는 기능을 한다. 따라서, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)에 구비된 풀업 트랜지스터(Tru)의 소스단자는 더미 게이트 라인(GLn+1) 및 제 n 스테이지에 접속되며, 상기 더미 스테이지에 구비된 풀다운 트랜지스터(Trd)의 드레인단자는 상기 더미 게이트 라인(GLn+1) 및 상기 제 n 스테이지(BSTn)에 접속된다.There is no stage next to the dummy
도 8은 도 7의 회로구성을 갖는 제 1 내지 제 3 스테이지를 나타낸 도면이고, 도 9는 도 8의 스테이지로부터 출력된 스캔펄스, 및 상기 스테이지에 공급되는 각종 신호의 타이밍도를 나타낸 도면이다.FIG. 8 is a diagram illustrating first to third stages having the circuit configuration of FIG. 7, and FIG. 9 is a diagram illustrating timing diagrams of scan pulses output from the stage of FIG. 8 and various signals supplied to the stage.
먼저, 인에이블 기간(T0)동안의 동작을 설명하면 다음과 같다.First, the operation during the enable period T0 will be described.
상기 인에이블 기간(T0)동안에는, 도 9에 도시된 바와 같이, 타이밍 콘트롤러로부터 출력되는 스타트 펄스(SP)만 하이 상태를 유지하고, 나머지 스타트 펄스(SP)는 로우 상태를 유지한다.During the enable period TO, as shown in FIG. 9, only the start pulse SP output from the timing controller is kept high and the remaining start pulse SP is kept low.
상기 타이밍 콘트롤러로부터 출력된 스타트 펄스(SP)는 제 1 스테이지(BST1)에 입력된다. 구체적으로, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 스타트 펄스(SP)는 상기 제 1 스테이지(BST1)에 구비된 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)의 게이트단자와, 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)의 게이트단자에 입력된다. 그러면, 상기 제 1 및 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr1, Tr2)는 턴-온되며, 이때, 상기 턴-온된 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)를 통해 제 1 전압원(VDD)이 제 1 노드(Q)에 인가된다. 이에 따라, 상기 제 1 노드(Q)가 충전되며, 상기 충전된 제 1 노드(Q)에 게이트단자가 접속된 풀업 트랜지스터(Tru)가 턴-온된다. 그리고, 상기 턴-온된 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)를 통해 제 2 전압원(VSS)이 제 2 노드(QB)에 인가된다. 따라서, 상기 제 2 전압원(VSS)에 의해 상기 제 2 노드(QB)는 방전되고, 상기 제 2 노드(QB)에 게이트단자가 접속된 풀다운 트랜지스터(Trd)가 턴-오프된다.The start pulse SP output from the timing controller is input to the first stage BST1. Specifically, as shown in FIG. 8, the start pulse SP includes the gate terminal of the first NMOS transistor Tr1 and the gate terminal of the second NMOS transistor Tr2 provided in the first stage BST1. Is entered. Then, the first and second NMOS transistors Tr1 and Tr2 are turned on, and the first voltage source VDD is connected to the first node Q through the turned-on first NMOS transistor Tr1. Is approved. Accordingly, the first node Q is charged, and the pull-up transistor Tru having a gate terminal connected to the charged first node Q is turned on. The second voltage source VSS is applied to the second node QB through the turned-on second NMOS transistor Tr2. Accordingly, the second node QB is discharged by the second voltage source VSS, and the pull-down transistor Trd having a gate terminal connected to the second node QB is turned off.
한편, 상기 인에이블 기간(T0)동안 타이밍 콘트롤러로부터 출력된 스타트 펄스(SP)는 더미 스테이지(BSTn+1), 그리고 제 2 내지 제 n 스테이지(BST2 내지 BSTn)에도 공급된다. 즉, 상기 스타트 펄스(SP)는 상기 더미 스테이지(BSTn+1)에 구비된 방전부(300c), 그리고 제 2 내지 제 n 스테이지(BST2 내지 BSTn)에 구비된 방전부(300c)에 공급된다. 구체적으로, 상기 스타트 펄스(SP)는 상기 더미 스테이지(BSTn+1)에 구비된 제 9 NMOS 트랜지스터(Tr9)의 게이트단자, 그리고 제 2 내지 제 n 스테이지(BST2 내지 BSTn)에 구비된 제 9 NMOS 트랜지스터(Tr9)의 게이트단자에 입력된다. 이에 따라, 상기 더미 스테이지(BSTn+1), 그리고 제 2 내지 제 n 스테이지(BST2 내지 BSTn)에 구비된 각 제 9 NMOS 트랜지스터(Tr9)는 턴-온되며, 이 때, 상기 턴-온된 제 9 NMOS 트랜지스터(Tr9)를 통해 제 2 전압원(VSS)이 상기 스테이지들(BST2 내지 BSTn+1)의 제 1 노드(Q)에 인가된다. 이에 따라, 상기 스테이지들(BST2 내지 BSTn+1)의 상기 제 1 노드(Q)에 게이트단자가 접속된 풀업 트랜지스터(Tru)가 턴-오프된다.On the other hand, the start pulse SP output from the timing controller during the enable period T0 is also supplied to the dummy stages BSTn + 1 and the second to nth stages BST2 to BSTn. That is, the start pulse SP is supplied to the discharge unit 300c provided in the dummy stage BSTn + 1 and the discharge unit 300c provided in the second to nth stages BST2 to BSTn. Specifically, the start pulse SP may include a gate terminal of a ninth NMOS transistor Tr9 provided in the dummy
이와 같이, 상기 인에이블 기간(T0)동안에는, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 노드(Q)가 제 1 전압원(VDD)으로 충전되고, 상기 제 2 노드(QB)가 제 2 전압원(VSS)으로 방전됨으로써, 상기 제 1 스테이지(BST1)가 인에이블된다.As such, during the enable period T0, as illustrated in FIG. 9, the first node Q of the first stage BST1 is charged with the first voltage source VDD and the second node ( The first stage BST1 is enabled by discharging QB to the second voltage source VSS.
한편, 상기 인에이블 기간(T0)에 출력된 스타트 펄스(SP)는, 더미 스테이지(BSTn+1)에 구비된 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)의 게이트단자에도 공급된다. 이 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)가 턴-온됨에 따라, 제 2 전압원(VSS)이 상기 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 1 노드(Q)에 공급된다. 이에 따라, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)의 제 1 노드(Q)는 방전되고, 상기 제 1 노드(Q)에 게이트단자가 접속된 풀업 트랜지스터(Tru)는 턴-오프된다. 결국, 상기 인에이블 기간(T0)에 상기 더미 스테이지(BSTn+1)는 디스에이블된다.On the other hand, the start pulse SP output in the enable period T0 is also supplied to the gate terminal of the sixth NMOS transistor Tr6 provided in the dummy
이어서, 제 1 기간(T1)동안의 동작을 설명하면 다음과 같다.The operation during the first period T1 will now be described.
제 1 기간(T1)동안에는, 도 9에 도시된 바와 같이, 제 1 클럭펄스(CLK1)만 하이 상태를 유지하고, 나머지 클럭펄스들은 로우 상태를 유지한다. 따라서, 상기 로우 상태의 스타트 펄스(SP)에 응답하여 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 및 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr1, Tr2)는 턴-오프된다. 특히, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터 (Tr1)가 턴-오프됨에 따라, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 노드(Q)는 플로팅 상태로 유지된다. During the first period T1, as shown in FIG. 9, only the first clock pulse CLK1 remains high and the remaining clock pulses remain low. Therefore, the first and second NMOS transistors Tr1 and Tr2 of the first stage BST1 are turned off in response to the low state start pulse SP. In particular, as the first NMOS transistor Tr1 is turned off, the first node Q of the first stage BST1 remains in a floating state.
한편, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 노드(Q)가 상기 인에이블 기간(T0)동안 인가되었던 제 1 전압원(VDD)으로 계속 유지됨에 따라, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 풀업 트랜지스터(Tru)는 턴-온상태를 유지한다. 이때, 상기 턴-온된 풀업 트랜지스터(Tru)의 드레인단자에 상기 제 1 클럭펄스(CLK1)가 인가됨에 따라, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 노드(Q)에 충전된 제 1 전압원(VDD)은 부트스트랩핑에 의해 증폭된다. 따라서, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 풀업 트랜지스터(Tru)의 드레인단자에 인가된 제 1 클럭펄스(CLK1)는 상기 풀업 트랜지스터(Tru)의 소스단자를 통해 안정적으로 출력된다. 이때, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 출력된 제 1 클럭펄스(CLK1)는 제 1 게이트 라인(GL1)에 인가되어 상기 제 1 게이트 라인(GL1)을 구동시키는 제 1 스캔펄스(Vout1)로서 작용한다.Meanwhile, as the first node Q of the first stage BST1 is continuously maintained as the first voltage source VDD applied during the enable period T0, the pull-up transistor of the first stage BST1 Tru) remains turned on. In this case, as the first clock pulse CLK1 is applied to the drain terminal of the turned-on pull-up transistor Tru, the first node Q of the first stage BST1 as shown in FIG. 9. The first voltage source VDD charged to is amplified by bootstrapping. Accordingly, the first clock pulse CLK1 applied to the drain terminal of the pull-up transistor Tru of the first stage BST1 is stably output through the source terminal of the pull-up transistor Tru. In this case, as shown in FIG. 9, the output first clock pulse CLK1 is applied to the first gate line GL1 as a first scan pulse Vout1 for driving the first gate line GL1. Works.
이때, 상기 제 1 스캔펄스(Vout1)는 상기 제 1 게이트 라인(GL1)에 공급됨과 동시에, 제 2 스테이지(BST2)에 입력된다. 구체적으로, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 스캔펄스(Vout1)는 상기 제 2 스테이지(BST2)에 구비된 제 1 NMOS 트랜지스터(Tr1)의 게이트단자와, 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)의 게이트단자에 입력된다. 여기서, 상기 제 2 스테이지(BST2)에 공급된 제 1 스캔펄스(Vout1)는, 상기 제 1 스테이지(BST1)에 공급된 스타트 펄스(SP)와 동일한 역할을 하는 것이다. 즉, 상기 제 2 스테이지(BST2)는, 상기 제 1 스캔펄스(Vout1)에 응답하여, 인에이블된다. 구체적으로, 상기 제 1 스캔펄스(Vout1)에 의해 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 노드(Q)가 제 1 전압원(VDD)으로 충전되고, 제 2 노드(QB)가 방전된다. 다시말하면, 상기 제 1 기간(T1)동안에 제 1 스테이지(BST1)로부터 출력된 제 1 스캔펄스(Vout1)는 제 1 게이트 라인(GL1)을 구동함과 동시에, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 노드(Q)를 충전시키고, 제 2 노드(QB)를 방전시킴으로써 상기 제 2 스테이지(BST2)를 인에이블시키는 역할을 한다.In this case, the first scan pulse Vout1 is supplied to the first gate line GL1 and input to the second stage BST2. Specifically, as illustrated in FIG. 8, the first scan pulse Vout1 may include a gate terminal of the first NMOS transistor Tr1 provided in the second stage BST2, and a gate terminal of the second NMOS transistor Tr2. It is input to the gate terminal. Here, the first scan pulse Vout1 supplied to the second stage BST2 plays the same role as the start pulse SP supplied to the first stage BST1. That is, the second stage BST2 is enabled in response to the first scan pulse Vout1. Specifically, the first node Q of the second stage BST2 is charged to the first voltage source VDD by the first scan pulse Vout1, and the second node QB is discharged. In other words, the first scan pulse Vout1 output from the first stage BST1 during the first period T1 drives the first gate line GL1 and, as shown in FIG. The second stage BST2 is enabled by charging the first node Q of the second stage BST2 and discharging the second node QB.
이어서, 제 2 기간(T2)동안의 동작을 설명하면 다음과 같다.Next, the operation during the second period T2 will be described.
상기 제 2 기간(T2)동안에는, 도 9에 도시된 바와 같이, 제 2 클럭펄스(CLK2)만 하이 상태를 유지하고, 나머지 클럭펄스들은 로우 상태를 유지한다.During the second period T2, as shown in FIG. 9, only the second clock pulse CLK2 remains high and the remaining clock pulses remain low.
따라서, 제 1 기간(T1)에 인가되었던 상기 제 1 스테이지(BST1)로부터의 제 1 스캔펄스(Vout1)가 제 2 기간(T2)에서 로우 상태로 변함에 따라, 이를 게이트단자를 통해 인가받는 상기 2 스테이지의 제 1 및 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr2)는 턴-오프되고, 이에 따라 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 노드(Q)는 플로팅 상태로 유지된다. 한편, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 노드(Q)가 상기 제 1 기간(T1)동안 인가되었던 제 1 전압원(VDD)으로 계속 유지됨에 따라, 상기 제 2 스테이지(BST2)에 구비된 풀업 트랜지스터(Tru)는 턴-온 상태를 유지한다. 이때, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 풀업 트랜지스터(Tru)의 드레인단자에 상기 제 2 클럭펄스(CLK2)가 인가됨에 따라, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 1 노드(Q)에 충전된 제 1 전압원(VDD)은 부트스트랩핑에 의해 증폭된다. 따라서, 상기 풀업 트랜지스터(Tru)의 드레인단자에 인가된 제 2 클럭펄스(CLK2)는 상기 풀업 트랜지스터(Tru)의 소스단자를 통해 안정적으로 출력된다. 이때, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 스테 이지(BST2)로부터 출력되는 상기 제 2 클럭펄스(CLK2)는 제 2 게이트 라인(GL2)에 인가되어 상기 제 2 게이트 라인(GL2)을 구동시키는 제 2 스캔펄스(Vout2)로서 작용한다.Therefore, as the first scan pulse Vout1 from the first stage BST1 applied in the first period T1 changes to a low state in the second period T2, the first scan pulse Vout1 is applied to the gate terminal. The first and second NMOS transistors Tr2 of the two stages are turned off, so that the first node Q of the second stage BST2 remains in a floating state. Meanwhile, as the first node Q of the second stage BST2 is continuously maintained as the first voltage source VDD applied during the first period T1, the pull-up provided in the second stage BST2 is provided. The transistor Tru remains turned on. In this case, as the second clock pulse CLK2 is applied to the drain terminal of the pull-up transistor Tru of the second stage BST2, the first charge Q of the first stage Q of the second stage BST2 is applied. One voltage source VDD is amplified by bootstrapping. Therefore, the second clock pulse CLK2 applied to the drain terminal of the pull-up transistor Tru is stably output through the source terminal of the pull-up transistor Tru. In this case, as shown in FIG. 9, the second clock pulse CLK2 output from the second stage BST2 is applied to a second gate line GL2 to drive the second gate line GL2. Act as a second scan pulse Vout2.
이때, 상기 제 2 스테이지(BST2)로부터 출력되는 제 2 스캔펄스(Vout2)는 상기 제 1 스테이지(BST1)에도 입력된다. 구체적으로, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)는 상기 제 1 스테이지(BST1)에 구비된 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)의 게이트단자에 입력된다. 여기서, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)에 의해서 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)가 턴-온됨에 따라, 상기 제 2 전압원(VSS)이 상기 턴-온된 제 6 NMOS 트랜지스터(Tr6)를 통해 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 노드(Q)(501)에 공급된다. 따라서, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 전압원(VSS)에 의해 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 노드(Q)는 방전된다. 그러면, 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 1 노드(Q)에 게이트단자가 접속된 상기 풀업 트랜지스터(Tru)가 턴-오프된다.In this case, the second scan pulse Vout2 output from the second stage BST2 is also input to the first stage BST1. Specifically, as shown in FIG. 8, the second scan pulse Vout2 is input to the gate terminal of the sixth NMOS transistor Tr6 provided in the first stage BST1. Here, as the sixth NMOS transistor Tr6 of the first stage BST1 is turned on by the second scan pulse Vout2, the sixth NMOS transistor with the second voltage source VSS turned on. It is supplied to the first node Q 501 of the first stage BST1 via Tr6. Therefore, as shown in FIG. 9, the first node Q of the first stage BST1 is discharged by the second voltage source VSS. As a result, the pull-up transistor Tru having the gate terminal connected to the first node Q of the first stage BST1 is turned off.
한편, 이 제 2 기간(T2)에 출력된 상기 제 2 클럭펄스(CLK2)는 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)의 게이트단자에도 인가되고, 이에 따라 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)는 턴-온된다. 이때, 상기 턴-온된 제 3 NMOS 트랜지스터(Tr3)를 통해 제 1 전압원(VDD)이 제 1 스테이지(BST1)의 제 2 노드(QB)에 공급된다. 따라서, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 전압원(VDD)에 의해 상기 제 1 스테이지(BST1)의 제 2 노드(QB)는 충전된다. 그러면, 상기 제 2 스테이지(BST2)의 제 2 노드(QB)에 접속된 풀다운 트랜지스터(Trd) 가 턴-온된다. 이때, 상기 턴-온된 풀다운 트랜지스터(Trd)를 통해 제 2 전압원(VSS)이 제 1 게이트 라인(GL1)에 공급된다. 따라서, 이 제 2 전압원(VSS)은 상기 게이트 라인을 비활성화시키는 신호로서 작용한다. 즉, 이 제 2 기간(T2)동안 제 1 스테이지(BST1)는 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)에 의해 디스에이블된다.On the other hand, the second clock pulse CLK2 output in the second period T2 is also applied to the gate terminal of the third NMOS transistor Tr3 of the first stage BST1. The third NMOS transistor Tr3 of BST1 is turned on. At this time, the first voltage source VDD is supplied to the second node QB of the first stage BST1 through the turned-on third NMOS transistor Tr3. Accordingly, as shown in FIG. 9, the second node QB of the first stage BST1 is charged by the first voltage source VDD. Then, the pull-down transistor Trd connected to the second node QB of the second stage BST2 is turned on. In this case, a second voltage source VSS is supplied to the first gate line GL1 through the turned-on pull-down transistor Trd. Thus, the second voltage source VSS serves as a signal for deactivating the gate line. That is, during the second period T2, the first stage BST1 is disabled by the second scan pulse Vout2.
한편, 이 제 2 기간(T2)동안, 상기 제 2 스테이지(BST2)로부터 출력된 제 2 스캔펄스(Vout2)는 제 3 스테이지(BST3)에도 입력된다. 구체적으로, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)는 상기 제 3 스테이지(BST3)구비된 제 1 및 제 2 NMOS 트랜지스터(Tr1, Tr2)의 게이트단자에 입력된다. 따라서, 상술한 바와 같은 방식으로, 상기 제 3 스테이지(BST3)의 제 1 노드(Q)가 충전되고, 제 2 노드(QB)가 방전된다. 즉, 상기 제 2 스캔펄스(Vout2)에 의해서 상기 제 3 스테이지(BST3)는 인에이블된다.On the other hand, during this second period T2, the second scan pulse Vout2 output from the second stage BST2 is also input to the third stage BST3. Specifically, as shown in FIG. 8, the second scan pulse Vout2 is input to the gate terminals of the first and second NMOS transistors Tr1 and Tr2 provided in the third stage BST3. Thus, in the manner as described above, the first node Q of the third stage BST3 is charged and the second node QB is discharged. That is, the third stage BST3 is enabled by the second scan pulse Vout2.
요약하면, 제 2 기간(T2)동안에는, 상기 제 2 스테이지(BST2)로부터 제 2 스캔펄스(Vout2)가 출력된다. 이 제 2 스캔펄스(Vout2)는 제 2 게이트 라인(GL2)을 구동시키고, 상기 제 1 스테이지(BST1)를 디스에이블시키고, 제 3 스테이지(BST3)를 인에이블시킨다.In summary, during the second period T2, the second scan pulse Vout2 is output from the second stage BST2. The second scan pulse Vout2 drives the second gate line GL2, disables the first stage BST1, and enables the third stage BST3.
이후, 제 3 기간(T3)에는 상기 제 3 스테이지(BST3)가 제 3 스캔펄스(Vout3)를 출력하여 제 3 게이트 라인(GL3)을 구동시킨다. 이 제 3 스캔펄스(Vout3)는 제 2 스테이지(BST2)와 제 4 스테이지(BST4)에도 공급되어, 상기 제 2 스테이지(BST2)를 디스에이블시키고, 상기 제 4 스테이지(BST4)를 인에이블시킨다. 그리고, 제 4 기간에는 제 4 스테이지(BST4)가 제 4 스캔펄스(Vout4)를 출력한다. 이 제 4 스캔 펄스(Vout3)는 제 3 스테이지(BST3)를 디스에이블시키고, 제 5 스테이지를 인에이블시킨다.Thereafter, in the third period T3, the third stage BST3 outputs a third scan pulse Vout3 to drive the third gate line GL3. The third scan pulse Vout3 is also supplied to the second stage BST2 and the fourth stage BST4 to disable the second stage BST2 and to enable the fourth stage BST4. In the fourth period, the fourth stage BST4 outputs the fourth scan pulse Vout4. This fourth scan pulse Vout3 disables the third stage BST3 and enables the fifth stage.
이와 같은 방식으로 더미 스테이지(BSTn+1)까지 차례로 스캔펄스(Voutn+1)를 출력한다. 이때, 상기 더미 스테이지(BSTn+1)로부터 출력된 스캔펄스(Voutn+1)는 더미 게이트 라인(GLn+1) 및 제 n 스테이지(BSTn)에 공급된다. In this manner, scan pulses Voutn + 1 are sequentially output to the dummy
그리고, 다음 프레임이 시작될 때, 상기 타이밍 콘트롤러로부터 스타트 펄스(SP)가 다시 출력되며, 이 스타트 펄스(SP)에 의해 상기 더미 스테이지(BSTn+1)가 디스에이블된다.When the next frame starts, the start pulse SP is output again from the timing controller, and the dummy stage BSTn + 1 is disabled by the start pulse SP.
이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and it is common in the art that various substitutions, modifications, and changes can be made without departing from the technical spirit of the present invention. It will be evident to those who have knowledge of.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명에 따른 액정표시장치 및 이의 구동방법에는 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the liquid crystal display device and the driving method thereof according to the present invention have the following effects.
본 발명에 따른 액정표시장치는, 쉬프트 레지스터의 더미 스테이지에 접속된 더미 게이트 라인을 구비한다. 따라서, 상기 더미 스테이지의 출력단에 걸리는 부하와, 나머지 스테이지의 출력단에 걸리는 부하를 동일하게 유지시킬 수 있다. 이와 같은 동일한 부하에 의해서, 더미 스테이지로부터 출력되는 스캔펄스와 나머지 스테이지들로부터 출력되는 스캔펄스의 크기가 동일해진다.The liquid crystal display device according to the present invention includes a dummy gate line connected to a dummy stage of a shift register. Therefore, the load on the output of the dummy stage and the load on the output of the remaining stages can be kept the same. By the same load, the scan pulses output from the dummy stage and the scan pulses output from the remaining stages become equal.
결국, 본 발명에 따른 액정표시장치는, 각 스테이지에 구비된 풀업 트랜지스터 및 풀다운 트랜지스터의 열화를 방지할 수 있으므로, 쉬프트 레지스터의 수명을 연장시킬 수 있다.As a result, the liquid crystal display according to the present invention can prevent deterioration of the pull-up transistor and the pull-down transistor provided in each stage, thereby extending the life of the shift register.
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