KR101112193B1 - Rotational led inspection-device - Google Patents

Rotational led inspection-device Download PDF

Info

Publication number
KR101112193B1
KR101112193B1 KR1020100110807A KR20100110807A KR101112193B1 KR 101112193 B1 KR101112193 B1 KR 101112193B1 KR 1020100110807 A KR1020100110807 A KR 1020100110807A KR 20100110807 A KR20100110807 A KR 20100110807A KR 101112193 B1 KR101112193 B1 KR 101112193B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
led
groove
unit
vacuum
feeder
Prior art date
Application number
KR1020100110807A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
박양수
Original Assignee
박양수
주식회사 아스텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박양수, 주식회사 아스텍 filed Critical 박양수
Priority to KR1020100110807A priority Critical patent/KR101112193B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101112193B1 publication Critical patent/KR101112193B1/en

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67333—Trays for chips
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations

Abstract

PURPOSE: A rotary LED inspecting device is provided to shorten a process by using a groove for inserting an LED instead of vacuum in an LED transfer process. CONSTITUTION: A rotary LED inspecting device includes a bowl feeder, a linear feeder, and an inspecting unit(10). A central rotating unit has a plurality of grooves(18) for inserting and fixing an LED. The LED inserted into the groove rotates with a preset angle in a preset direction. An insertion unit horizontally inserts the LED supplied from the linear feeder into the groove. A first inspecting unit(21) inspects the property of the LED arranged on the upper side of the central rotating unit. A first sensor measures the LED which is arranged on the central rotating unit and is inserted into the groove.

Description

회전형 엘이디 검사 장치{ROTATIONAL LED INSPECTION-DEVICE} ROTATIONAL LED INSPECTION-DEVICE}

본 발명은 회전형 엘이디 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 엘이디를 이송하는 과정에서 기존의 베큠을 이용하지 않고 홈을 이용함으로써, 경제성 및 구조의 단순화를 이룬 회전형 엘이디 검사 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a rotatable LED inspection apparatus, and more particularly, to a rotatable LED inspection apparatus for simplifying the economy and structure by using a groove without using a conventional vacuum in the process of transferring the LED.

한국공개특허 제10-2010-0071304호에서는 엘이디 테이핑기용 광특성 검사 방법 및 장치에 대해 개시되어 있다. Korean Unexamined Patent Publication No. 10-2010-0071304 discloses an optical tape inspection method and apparatus for an LED taping machine.

도 7에는 이러한 종래의 엘이디 테이핑기용 광특성 검사 장치가 도시되어 있다. 엘이디 포장(테이핑)에 있어서는 엘이디의 불량 여부를 먼저 판단한 후에 불량 엘이디는 제거하고, 합격 판정을 받은 엘이디만을 소정의 방법을 통해 테이핑할 필요가 있다. 도 7에 도시된 장치는 엘이디의 테이핑의 전단계로서, 엘이디의 전기적 특성 및 광특성을 검사하여 불량 여부를 검사하는 장치이다. FIG. 7 illustrates an optical characteristic inspection apparatus for such a conventional LED taper. In LED packaging (tapping), it is necessary to first determine whether or not the LED is defective, and then remove the defective LED, and only the LED which has been judged to pass is taped through a predetermined method. The device shown in FIG. 7 is a device for checking whether the LED is defective by checking the electrical and optical characteristics of the LED as a previous step of taping the LED.

이러한 과정을 달성하기 위해서 검사 장치의 특성을 살펴보면, 먼저 보울 피더(Bowl Feeder)(92)로부터 엘이디를 정렬하여 검사부로 공급하게 되는데, 보울 피더(92)는 현재 널리 사용되고 있는 방법으로 접시형태의 수납장치에 엘이디를 공급하게 되면, 상기 보울 피더(92)에 바깥쪽으로 힘이 가해지는 원심력을 유발하는 진동이 발생하게 된다. 이러한 진동은 보울 피더(92)에 설치된 모터(미도시)를 통해서 발생하게 된다. Looking at the characteristics of the inspection device to achieve this process, first to align the LED from the bowl feeder (Bowl Feeder) 92 is supplied to the inspection unit, the bowl feeder 92 is a plate-type storage in a currently widely used method When an LED is supplied to the device, vibrations are generated that cause centrifugal force to be applied to the bowl feeder 92 outwardly. This vibration is generated through a motor (not shown) installed in the bowl feeder 92.

보울 피더(92)에는 나선형을 그리며 엘이디가 올려질 수 있는 계단이 설치되어 있는데, 상기 엘이디의 경우 원심력에 의해 상기 계단의 벽면을 타고 피더의 테두리를 돌아서 이동하는 과정을 거친다. The bowl feeder 92 has a staircase in which the LED can be raised in a spiral shape. The LED feeder goes through the wall of the staircase by centrifugal force and moves around the edge of the feeder.

보울 피더(92)에는 상기 엘이디의 정렬 상태를 측정할 수 있는 비젼이 설치되어 있고, 이 비젼 인식을 통해 엘이디의 정렬 상태를 확인할 수 있다. 엘이디가 정확하게 정렬되어 있지 않을 경우에는 보울 피더 측면에 설치되어 있는 홀을 통해 공압을 공급함으로써 다시 엘이디를 피더 중앙으로 다시 떨어뜨림으로써 항상 정확한 정렬 상태의 엘이디를 공급할 수 있도록 한다. The bowl feeder 92 is equipped with a vision that can measure the alignment of the LED, it is possible to confirm the alignment of the LED through the vision recognition. If the LEDs are not aligned correctly, air is supplied through a hole in the bowl feeder side to drop the LEDs back to the center of the feeder so that the LEDs can always be fed correctly.

엘이디의 상태를 파악하는 것은 엘이디 상하면과 엘이디 홈(112)의 위치 등을 파악하여 항상 엘이디의 상하면이 일치하고 엘이디 홈의 위치 또한 정확한 장소에 위치하고 있어야 하므로, 일정한 방향으로 엘이디 공급이 가능하게 되는 것이다. Identifying the state of the LED is to identify the top and bottom of the LED and the location of the LED groove 112 and the like, the upper and lower sides of the LED must always be consistent and the location of the LED home should also be located in the correct place, it is possible to supply the LED in a certain direction .

이 과정을 거친 후에 엘이디는 리니어 피더(93)를 통과하게 되는데, 리니어 피더(93)는 직선형태로 구성되는 것이 일반적이며, 리니어 피더(93)의 끝부분에는 엘이디 검사부가 위치하게 된다. After this process, the LED is passed through the linear feeder 93, the linear feeder 93 is generally configured in a straight form, the LED inspection unit is located at the end of the linear feeder (93).

이 상태에서 중앙 회전기(90)가 회전하면서 리니어 피더(93)를 통해 공급되는 엘이디를 하나씩 흡착하여 이동하게 되는데, 중앙 회전기는 소정의 각도를 이동한 후에 다시 소정의 높이만큼 아래 방향으로 내려와 공급되는 엘이디를 흡착하게 되고, 흡착이 완료되면 다시 소정의 높이만큼 올라간 후에 소정의 각도를 이동하는 형태로 구성되어 있다. In this state, as the central rotor 90 rotates, the LEDs supplied through the linear feeder 93 are absorbed and moved one by one. After moving a predetermined angle, the central rotor descends downward by a predetermined height and is supplied. The LED is adsorbed, and when the adsorption is completed, the LED is raised by a predetermined height and then moved by a predetermined angle.

이와 같이 이동하기 위하여는 엘이디를 흡착하는 방법으로는 상부로부터 하부방향으로 베큠(94)이 설치되어 있는데, 베큠(94)은 공기를 빨아들이는 역할을 수행하도록 구성되어 있으며, 이 과정을 통해 베큠기능을 수행하는 관을 엘이디 표면으로 접근하면 엘이디가 흡착되며, 이동하는 과정에서도 엘이디는 떨어지지 않게 된다. In order to move in this way, the method of absorbing the LED is provided with a vacuum 94 from the top to the lower direction, the vacuum 94 is configured to perform the role of sucking air, through this process Approaching the functioning tube to the LED surface adsorbs the LED, and the LED does not fall even during the movement.

이와 같이 소정의 각도만큼 이동하게 되면 다음 베큠(94)이 상부에서 하부로 내려와 리니어 피더(93)를 통해 공급되는 엘이디를 베큠을 이용하여 흡착하게 되는 과정을 거치게 되는데, 이전에 흡착되어진 엘이디는 정렬하는 과정을 거칠 필요가 있다. 이는 베큠을 이용하여 엘이디를 흡착하는 과정에서 엘이디의 방향이 틀어져 있을 수 있기 때문이다. In this way, when moved by a predetermined angle, the next bezel 94 descends from the top to the bottom, and the LED supplied through the linear feeder 93 is absorbed by using the bezel. The previously adsorbed LEDs are aligned. You need to go through the process. This is because the direction of the LED may be misaligned in the process of adsorbing the LED using the vacuum.

이러한 정렬을 위한 정렬기(95)의 구조는 현재 널리 사용되고 있는 방식을 사용하게 되는데, 엘이디의 구조가 사각형을 하고 있으므로, 4면에서 소정의 평면을 한 바가 동시에 엘이디 쪽으로 접근하여 엘이디가 베큠에 부착되어 있는 각도를 정밀하고 정확하게 재조정하게 되는 방식을 사용하게 된다. The structure of the aligner 95 for the alignment is to use a method that is widely used at present, since the structure of the LED is a square, a flat plane on the four sides of the bar at the same time approached the LED toward the LED attached to the vacuum This is done by precisely and accurately adjusting the angle.

정렬기(95)는 먼저 엘이디를 흡착한 상태에서 베큠(94)이 상부에서 하부로 내려오면 상기 정렬기의 4면에서 동일하게 엘이디를 밀어주게 되고, 엘이디는 정확하게 정렬되는 방식이다. The aligner 95 pushes the LEDs on the four sides of the aligner when the vacuum 94 is lowered from the top to the bottom while the LEDs are first adsorbed, and the LEDs are aligned correctly.

이후 다음 단계에 인수기(96)를 거치게 되는데, 인수기(96)의 경우 중앙 회전기(90)가 상부에서 하부로 내려와서 엘이디를 흡착하여 다시 상부로 올라가 소정의 각도를 이동하게 된다면 인수기(96)는 하부로부터 상부로이동하여 중앙 회전기(90)로부터 엘이디를 인수하게 된다. Then, the next step is passed through the take-up 96, in the case of the take-up 96, if the central rotor 90 descends from the top to the upper side to absorb the LED to move up a predetermined angle to move the predetermined angle ( 96 moves from bottom to top to take over the LED from the central rotor 90.

일반적으로 중앙 회전기에는 12개의 베큠이 제공되고, 인수기에는 대략 3개 정도의 베큠을 설치된다. 인수기(96)에 설치되는 베큠의 경우 하부에서 상부쪽을 바라보고 있도록 하고, 중앙 회전기에 설치되는 베큠의 경우에는 상부에서 하부를 바라보고 있도록 제공된다. Typically, 12 vanes are provided for the central rotor, and approximately 3 vanes are installed for the acceptor. In the case of the vacuum installed in the receiver 96, the upper side is provided to face the upper side, and in the case of the vacuum installed in the central rotor, the upper side is provided to face the lower side.

인수기(96)가 회전하여 중앙 회전기로부터 벗어나 외부로 엘이디를 인출시키게 되며 외부로 인출된 상타에서 엘이디의 광특성을 측정하는 과정을 거친다. The acceptor 96 rotates to pull the LEDs out of the central rotor and to measure the optical characteristics of the LEDs at the atta.

상기 인수기(96)를 이용하여 엘이디를 중앙 회전기 외부로 인출시켜 광특성을 측정한 후, 다시 인수기(96)가 회전하여 중앙 회전기로 엘이디를 공급하게 되는데, 일차적으로 중앙 회전기의 베큠과 인수기의 베큠이 만날때 인수기의 베큠 기능을 해제하고 중앙 회전기의 베큠 기능을 활성화하여 중앙 회전기가 인수기로부터 엘이디를 전달받게 된다. After the LEDs are drawn out of the central rotating machine using the take-up machine 96 to measure optical characteristics, the receiving machine 96 rotates to supply the LEDs to the central rotating machine. When the machine meets, the center machine receives the LED from the machine by releasing the machine's vacuum function and activating the center rotor's vacuum function.

이때 엘이디의 특성이 합격 판정을 받았을 때는 지속적으로 진행하게 되고, 불합격 판정을 받았을 때에는 외부로 배출할 수 있도록 하기 위하여 버림통(97)에 불합격 판정을 받은 엘이디를 떨어뜨리게 된다. At this time, when the characteristic of the LED is determined to pass, the progress is continued, and when the rejection is determined to drop the rejected LED in the bin (97) in order to be discharged to the outside.

이러한 종래의 엘이디 검사 장치의 경우에는 각 엘이디의 이송을 위하여 이에 대응하는 개수 만큼의 베큠 장치가 필요하게 되어, 구조가 복잡해지고 제작 비용이 증가하는 문제가 있다. In the conventional LED inspection apparatus, a number of vacuuming apparatuses corresponding to the number of the LEDs are required for the transfer of each LED, resulting in a complicated structure and an increase in manufacturing cost.

또한, 엘이디의 중심과 베큠의 중심을 맞추기 위하여 정렬기(95)를 추가로 요구하는 등의 공정상의 복잡성이 문제가 된다. In addition, the complexity of the process, such as requiring an additional aligner 95 to align the center of the LED and the center of the vacuum becomes a problem.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 중앙 회전기에 의하여 엘이디를 이송시키는 과정에서 베큠에 의한 흡착을 유지시키는 대신에 엘이디가 삽입될 수 있는 홈을 제공하는 것을 특징으로 한다. The present invention has been made to solve the above problems, it characterized in that to provide a groove into which the LED can be inserted instead of maintaining the adsorption by the vacuum in the process of transferring the LED by the central rotor.

이를 통해, 엘이디는 삽입홈에 끼워진 상태로 이송되므로, 베큠에 의한 흡착 상태를 지속적으로 유지시킬 필요가 없게 된다.Through this, the LED is transported in the state inserted in the insertion groove, there is no need to constantly maintain the adsorption state by the vacuum.

또한, 엘이디가 홈에 끼워진 상태로 이송되고, 검사부를 통과하게 되어 별도의 정렬기에 의한 정렬 단계를 생략할 수 있게 된다. In addition, the LED is transported in the state fitted in the groove, and passes through the inspection unit can be omitted the alignment step by a separate aligner.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 다음과 같은 과제 해결 수단을 제공한다. The present invention provides the following problem solving means to solve the above problems.

본 발명의 일측면은 적재된 엘이디(100)를 소정의 방향으로 정렬하여 공급하는 보울 피더((1)와, 상기 보울 피더(1)로부터 공급받은 엘이디(100)를 순차적으로 공급하는 리니어 피더(2)와, 상기 리니어 피더(2)로부터 엘이디(100)를 공급받아 불량 여부를 판단하는 검사부(10)를 포함하는 회전형 엘이디 검사 장치에 있어서,
상기 검사부(10)는,
상기 엘이디(100)가 삽입되어 고정되도록 원주면을 따라 복수 개의 홈(18)이 제공되고, 상기 홈(18)이 수평방향으로 형성되어 삽입된 상기 엘이디(100)를 소정의 방향과 각도로 회전시키는 중앙 회전기(11)와, 상기 리니어 피더(2)로부터 공급되는 상기 엘이디(100)를 수평방향으로 상기 홈(18)에 삽입시키는 삽입 유닛(3)과, 상기 중앙 회전기(11)의 상부에 배치되어 삽입된 상기 엘이디(100)의 특성을 검사하는 제1 검사 유닛(21)과, 상기 중앙회전기(11)에 배치되어 상기 홈(18)에 삽입된 상기 엘이디(100)의 존재 유무를 측정하는 제1 센서(31)와, 상기 리니어피더(2) 및 상기 홈(18) 사이에 배치되어 상기 엘이디(100)의 이동을 단속하는 스토퍼(4)와, 상기 중앙 회전기(11)에 배치되어 상기 홈(18)과 연통되게 형성된 복수개의 관(17)과, 상기 중앙 회전기(11)의 내측에 배치되고, 상기 중앙 회전기(11)의 소정각도 회전 시 상기 복수개의 관(17) 중 어느 하나와 연통되도록 흡입관(57)이 형성된 베큠설치부(13)와, 상기 베큠설치부(13)에 배치되고 상기 흡입관(57)을 통해 공기를 흡입하여 상기 홈(18)을 향해 상기 엘이디(100)가 수평방향으로 이동되도록 흡입력을 발생시키는 제 1 베큠(51)과, 상기 홈(18)에는 상기 엘이디(100)의 삽입을 원활하게 하기 위해 상기 삽입유닛(3) 측으로 확장되도록 경사부(19)를 포함하고, 상기 중앙 회전기(11)는 상기 베큠설치부(13)의 외주면을 따라 회전되면서 다음 스텝으로 이동 시 상기 복수개의 관(17) 중 어느 하나와만 상기 흡입관(57)이 연통되게 배치된 회전형 엘이디 검사 장치를 제공한다. One side of the present invention is a bowl feeder (1) for aligning and supplying the loaded LED 100 in a predetermined direction, and a linear feeder for sequentially supplying the LED (100) supplied from the bowl feeder (1) 2) and a rotation type LED inspection apparatus including the inspection unit 10 for receiving the LED 100 from the linear feeder 2 to determine whether there is a defect,
The inspection unit 10,
A plurality of grooves 18 are provided along the circumferential surface so that the LEDs 100 are inserted and fixed, and the grooves 18 are formed in a horizontal direction to rotate the inserted LEDs 100 in a predetermined direction and angle. A central rotary machine (11), an insertion unit (3) for inserting the LED (100) supplied from the linear feeder (2) into the groove (18) in a horizontal direction, and an upper portion of the central rotary machine (11). The presence or absence of the first inspection unit 21 for inspecting the characteristics of the LED 100 is disposed and inserted, and the LED 100 disposed in the central rotor 11 and inserted into the groove 18 A stopper 4 disposed between the first sensor 31, the linear feeder 2, and the groove 18 to control the movement of the LED 100, and the central rotary machine 11. A plurality of pipes 17 formed in communication with the grooves 18, and disposed inside the central rotary machine 11, Vacuum installation unit 13 formed with a suction pipe 57 and the vacuum installation unit 13 so as to communicate with any one of the plurality of pipes 17 when the predetermined angle of the central rotary machine 11 rotates; A first vacuum 51 which sucks air through a 57 to generate suction force such that the LED 100 moves in the horizontal direction toward the groove 18, and the LED 100 in the groove 18. It includes an inclined portion 19 to be extended to the insertion unit (3) side to facilitate the insertion of the central rotor 11 is rotated along the outer circumferential surface of the vacuum installation unit 13 when moving to the next step Provided is a rotary LED inspection device in which the suction pipe 57 is in communication with only one of the plurality of pipes (17).

삭제delete

삭제delete

삭제delete

또한, 상기 검사부(10)는, 불량으로 판정되는 엘이디(101)를 분류하는 제1 분류기(41)와, 정상으로 판정되는 엘이디(100)를 분류하는 제2 분류기(42)를 더 포함할 수 있다. In addition, the inspection unit 10 may further include a first classifier 41 for classifying the LED 101 determined as defective and a second classifier 42 for classifying the LED 100 determined as normal. have.

본 발명은 중앙 회전기에 의하여 엘이디를 이송시키는 과정에서 베큠에 의한 흡착을 유지시키는 대신에 엘이디가 삽입될 수 있는 홈을 제공하여, 엘이디가 삽입홈에 끼워진 상태로 이송되므로, 베큠에 의한 흡착 상태를 지속적으로 유지시킬 필요가 없게 되는 효과가 있다. The present invention provides a groove into which the LED can be inserted instead of maintaining the adsorption by the vacuum in the process of transferring the LED by the central rotor, so that the LED is transported in the inserted state, the suction state by the vacuum There is an effect that does not need to be kept constant.

또한, 엘이디가 홈에 끼워진 상태로 이송되고, 검사부를 통과하게 되어 별도의 정렬기에 의한 정렬 단계를 생략할 수 있는 효과가 있다. In addition, the LED is transported in the state inserted into the groove, there is an effect that the alignment step by a separate aligner can be omitted by passing through the inspection unit.

도 1은 본 발명에서 사용되는 검사용 엘이디의 평면도.
도 2는 본 발명에서 사용되는 검사용 엘이디의 측면도.
도 3은 본 발명에 의한 엘이디 검사 장치의 평면도.
도 4는 본 발명에 의한 엘이디 검사 장치의 측면도.
도 5는 본 발명에 의한 중앙 회전기에 엘이디를 끼우는 방식의 개념도.
도 6은 본 발명에 의한 중앙 회전기로부터 엘이디를 이탈시키는 방식의 개념도.
도 7은 종래의 엘이디 검사 장치의 평면도. 1 is a plan view of the inspection LED used in the present invention.
Figure 2 is a side view of the test LED used in the present invention.
3 is a plan view of the LED inspection apparatus according to the present invention.
4 is a side view of the LED inspection device according to the present invention.
5 is a conceptual diagram of a method of fitting the LED to the central rotor according to the present invention.
Figure 6 is a conceptual diagram of a way of leaving the LED from the central rotor according to the present invention.
7 is a plan view of a conventional LED inspection apparatus.

이하 첨부된 도면을 중심으로 하여 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

다만, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 용어가 동일하더라도 표시하는 부분이 상이하면 도면 부호가 일치하지 않음을 미리 말해두는 바이다.However, in describing the present invention, when it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. Even if the terms are the same, if the displayed portions are different, it is to be noted that the reference numerals do not match.

그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 설정된 용어들로서 이는 실험자 및 측정자와 같은 사용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있으므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.The terms to be described below are terms set in consideration of functions in the present invention, and may be changed according to a user's intention or custom such as an experimenter and a measurer, and the definitions should be made based on the contents throughout the present specification.

본 명세서에서 소개되는 도면들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달되도록 하기 위해 제시되는 예로서, 본 발명은 이하 제시되는 도면들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. The drawings introduced in this specification are examples presented to sufficiently convey the spirit of the present invention to those skilled in the art, and the present invention may be embodied in other forms without being limited to the drawings presented below.

도 1은 본 발명에서 사용되는 검사용 엘이디의 평면도로서, 이러한 엘이디는 사용처에 따라 다양한 형태로 생산될 수 있으며 필요에 따라서는 패키징된 형태로 생산되는 것도 가능할 수 있다. 다만, 본 발명에서 사용되는 엘이디는 홈에 끼워질 수 있도록 사각형의 단면을 가지는 것이 바람직하다. 1 is a plan view of the inspection LED used in the present invention, such an LED may be produced in various forms depending on the intended use and may also be produced in a packaged form as needed. However, the LED used in the present invention preferably has a rectangular cross section so as to be fitted into the groove.

일반적으로 엘이디에는 4개의 리드(111)가 부착되어 전원을 인가할 수 있도록 구성되는 것이 일반적이다. In general, four leads 111 are attached to the LED and configured to apply power.

도 2는 본 발명에서 사용되는 검사용 엘이디의 측면도를 도시한 것으로서, 상기 리드(111)는 단지 엘이디(100)의 하층부 뿐만 아니라 하층부로부터 연장되어 엘이디 측면 소정의 높이까지 연장되어 있어서, 하층부 뿐만 아니라 측면을 통해서도 전원을 인가할 수 있도록 구성되어 있으므로 효과적으로 활용하는 것이 가능하다. 다만, 도 1 및 도 2는 본 발명에 의한 검사 장치에서 사용되는 엘이디 형상의 일실시예일뿐 본 발명의 권리범위를 부당하게 제한해서는 안 된다. Figure 2 shows a side view of the inspection LED used in the present invention, the lead 111 is not only extending from the lower layer as well as the lower layer of the LED 100 extends to a predetermined height of the LED side, as well as the lower layer Since it is configured to apply power through the side, it is possible to use effectively. 1 and 2 are merely one embodiment of the LED shape used in the inspection apparatus according to the present invention, and should not unduly limit the scope of the present invention.

이하 도면을 통하여 본 발명에 의한 회전형 엘이디 검사 장치를 구체적으로 설명하기로 한다. 도 3은 본 발명에 의한 엘이디 검사 장치의 평면도를, 도 4는 본 발명에 의한 엘이디 검사 장치의 측면도를 도시하고 있다. Hereinafter, a rotating LED inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. 3 is a plan view of the LED inspection apparatus according to the present invention, Figure 4 is a side view of the LED inspection apparatus according to the present invention.

본 발명에 의한 회전형 엘이디 검사 장치의 일실시예로서, 적재된 엘이디(100)를 소정의 방향으로 정렬하여 공급하는 보울 피더(1)와, 보울 피더(1)로부터 공급받은 엘이디(100)를 순차적으로 공급하는 리니어 피더(2)와, 리니어 피더(2)로부터 엘이디(100)를 공급받아 불량 여부를 판단하는 검사부(10)를 포함한다. As one embodiment of the rotary LED inspection device according to the present invention, the bowl feeder 1 for aligning and supplying the stacked LEDs 100 in a predetermined direction, and the LED 100 supplied from the bowl feeder 1 It includes a linear feeder 2 to be sequentially supplied, and the inspection unit 10 for receiving the LED 100 from the linear feeder 2 to determine whether or not there is a defect.

보울 피더(1) 및 리니어 피더(2)는 종래의 기술과 큰 차이가 없고, 배경기술에서 구체적으로 설명한 바 있으므로 자세한 설명은 생략하기로 한다. The bowl feeder 1 and the linear feeder 2 are not significantly different from the prior art, and have been described in detail in the background, and thus detailed description thereof will be omitted.

본 발명의 특징은 검사부(10)의 구성에 있다. 검사부(10)는, 엘이디(100)가 삽입될 수 있도록 원주면을 따라 복수 개의 홈(18)이 제공되고, 엘이디(100)를 소정의 방향과 각도로 이동시키는 중앙 회전기(11)와, 리니어 피더(2)로부터 공급되는 엘이디(100)를 홈(18)에 삽입시키는 삽입 유닛(3)을 주요 구성으로 한다. 중앙 회전기(11)는 회전축을 중심으로 하여 회전하는 원판 형상을 가진다. 이는 각 스텝마다 소정의 각도 만큼 특정 방향으로 회전하도록 구성된다. A feature of the present invention lies in the configuration of the inspection unit 10. The inspection unit 10 is provided with a plurality of grooves 18 along the circumferential surface so that the LED 100 can be inserted, and a central rotary machine 11 for moving the LED 100 at a predetermined direction and angle, and linearly. The inserting unit 3 which inserts the LED 100 supplied from the feeder 2 into the groove | channel 18 is made into a main structure. The central rotor 11 has a disk shape that rotates about a rotation axis. It is configured to rotate in a specific direction by a predetermined angle for each step.

삽입 유닛(3)은 리니어 피더(2)의 끝단부와 중앙 회전기(11)의 홈이 만나는 곳에 제공되는 것으로서, 리니어 피더(2)를 따라 공급되는 엘이디를 홈(18)에 삽입하는 기능을 수행한다. The insertion unit 3 is provided where the end of the linear feeder 2 and the groove of the central rotary machine 11 meet, and performs a function of inserting the LED supplied along the linear feeder 2 into the groove 18. do.

삽입 유닛(3)의 끝단부에는 스토퍼(4)가 제공되는데, 밀려서 제공되는 엘이디(100)를 멈추게 한 후에, 빈 홈(18)이 위치하면, 스토퍼(4)가 열리는 구조이다. 이 상태에서 삽입 유닛(3)이 엘이디(100)를 홈(18)에 삽입하게 되는데, 엘이디(100)의 뒤편에서 엘이디(100)를 홈(18)으로 밀어넣는 구조가 일반적이다. 또는 엘이디(100)의 측면을 잡고 홈(18)으로 밀어넣는 것도 가능하다. 이에 대해서는 일반적인 구조이므로, 자세한 설명은 생략하기로 한다. A stopper 4 is provided at the end of the insertion unit 3, and the stopper 4 is opened when the empty groove 18 is positioned after stopping the led 100 provided by pushing. In this state, the insertion unit 3 inserts the LED 100 into the groove 18. A structure in which the LED 100 is pushed into the groove 18 from the back of the LED 100 is generally used. Alternatively, the side of the LED 100 may be grabbed and pushed into the groove 18. Since this is a general structure, a detailed description thereof will be omitted.

홈(18)의 입구부에는 엘이디(100)의 삽입을 원활하게 하기 위한 경사부(19)가 양측으로 형성되는 것이 바람직하다. The inlet portion of the groove 18 is preferably formed with both sides of the inclined portion 19 for smoothly inserting the LED (100).

스토퍼(4)는 엘이디(100)가 홈(18)에 삽입된 후에는 다음 빈 홈(18)이 위치할 때까지 다시 엘이디(100)의 이동을 차단시키게 된다. After the stopper 4 is inserted into the groove 18, the stopper 4 again blocks the movement of the LED 100 until the next empty groove 18 is positioned.

엘이디(100)를 홈(18)에 보다 효율적으로 삽입시키기 위해서는, 검사부(10)에 흡입관(57)을 포함하는 제1 베큠(51)을 더 포함하는 것이 바람직하다. In order to insert the LED 100 into the groove 18 more efficiently, it is preferable that the inspection unit 10 further includes a first vacuum 51 including the suction pipe 57.

도 5는 이러한 제1 베큠(51)을 포함하는 구조에서, 엘이디(100)를 홈(18)에 삽입하는 과정을 도시한 것이다. 도 5에서는 제1 베큠(51)이 홈(18)과 동일 평면 상에 위치하는 것으로 도시되었으나, 제1 베큠(51)은 홈(18)의 아래쪽 또는 위쪽에 제공될 수도 있다. FIG. 5 illustrates a process of inserting the LED 100 into the groove 18 in the structure including the first vacuum 51. In FIG. 5, the first vacuum 51 is shown to be coplanar with the groove 18, but the first vacuum 51 may be provided below or above the groove 18.

중앙 회전기(11)의 원주면을 따라 제공되는 홈(18)의 내측면에는 관(17)이 형성되어 있고, 상기 관(17)은 홈(18)이 리니어 피더(2)의 끝단부에 위치할 때에 제1 베큠(51)에 연결된 흡입관(57)과 밀착 연결된다. A tube 17 is formed on the inner side of the groove 18 provided along the circumferential surface of the central rotor 11, in which the groove 18 is located at the end of the linear feeder 2. When in contact with the suction pipe (57) connected to the first vacuum (51).

제1 베큠(51)은 흡입력을 발생시키고, 엘이디(100)가 이로 인해 홈의 내측으로 삽입되는 원리이다. 이러한 제1 베큠(51)의 기능은 삽입 유닛(3)과 동시에 작용할 수 있고, 삽입 유닛(3)의 기능을 대체할 수도 있다. The first vacuum 51 generates a suction force, which causes the LED 100 to be inserted into the groove. This function of the first vacuum 51 may act simultaneously with the insertion unit 3 and may replace the function of the insertion unit 3.

하나의 엘이디(100)가 홈(18)에 삽입된 후에는, 엘이디(100)는 홈(18)에 고정되어 중앙 회전기(11)의 회전에 따라 다음 스텝으로 이동하게 되므로, 엘이디(100)를 제1 베큠(51)의 흡입력에 의해 계속적으로 고정시킬 필요가 없다. 즉, 본 발명에서 제1 베큠(51)의 기능은 엘이디(100)를 홈(18)으로 삽입시키기 위함이지, 엘이디(100)를 지속적으로 유지시키기 위함이 아니다. After the one LED 100 is inserted into the groove 18, the LED 100 is fixed to the groove 18 to move to the next step in accordance with the rotation of the central rotary machine 11, so that the LED 100 It is not necessary to fix it continuously by the suction force of the 1st bezel 51. That is, in the present invention, the function of the first vacuum 51 is to insert the LED 100 into the groove 18, but not to continuously maintain the LED 100.

이후 빈 홈(18)이 오면, 빈 홈(18)의 관(17)이 제1 베큠(51)의 흡입관(57)에 연결되어 앞의 공정을 반복 수행한다. Since the empty groove 18 comes, the tube 17 of the empty groove 18 is connected to the suction pipe 57 of the first vacuum 51 to repeat the above process.

홈(18)에 엘이디(100)가 삽입되어 이송되는 본 발명에 의할 경우, 엘이디(100)의 정렬을 위해 별도의 정렬기가 필요하지 않다는 장점이 있다. 이송 과정 또는 검사과정에서 홈(18)에 고정된 엘이디(100)의 방향이 변화하지 않기 때문이다. According to the present invention in which the LED 100 is inserted into the groove 18 and transported, there is an advantage that a separate aligner is not required for the alignment of the LED 100. This is because the direction of the LED 100 fixed to the groove 18 does not change during the transfer process or the inspection process.

물론, 홈의 개수만큼 베큠을 추가로 하는 것도 가능하나, 본 발명에서는 한개의 베큠을 사용하여도 동일한 효율을 얻을 수 있다는 장점이 있다. Of course, it is also possible to add as much as the number of grooves, but in the present invention, there is an advantage that the same efficiency can be obtained even by using one vacuum.

검사부(10)는 중앙 회전기(10)에 삽입된 엘이디(100)의 특성을 검사하는 제1 검사 유닛(21)과, 제1 검사 유닛(21)의 전방부에 배치되어 홈(18)에 엘이디(100)의 존재 유무를 측정하는 제1 센서(31)를 포함한다. The inspection unit 10 includes a first inspection unit 21 for inspecting characteristics of the LED 100 inserted into the central rotary machine 10, and an LED disposed in the groove 18 in front of the first inspection unit 21. And a first sensor 31 that measures the presence or absence of 100.

제1 검사 유닛(21)은 엘이디의 광특성 또는 전기적 특성을 측정하기 위한 것으로서, 일반적으로 알려진 사항이므로 자세한 설명은 생략하기로 한다. The first inspection unit 21 is for measuring the optical or electrical characteristics of the LED, and since it is generally known, a detailed description thereof will be omitted.

제1 센서(31)는 홈(18)이 제1 검사 유닛(21)으로 이동하기 전에 위치하는 것이 바람직한데, 이는 상기 홈(18)에 엘이디(100)가 존재하지 않는 경우, 빈 홈(18)이 제1 검사 유닛(21)에 위치 시 제1 검사 유닛(21)의 동작을 하지 않도록 제어하기 위함이다. The first sensor 31 is preferably located before the groove 18 moves to the first inspection unit 21, which is an empty groove 18 if no LED 100 is present in the groove 18. This is to control not to operate the first inspection unit 21 when is located in the first inspection unit 21.

이를 위해서는 별도의 제어부가 필요할 수 있으나, 이는 당업자에게 자명한 사항이므로 자세한 설명은 생략하기로 한다. To this end, a separate control unit may be required, but since this is obvious to those skilled in the art, a detailed description thereof will be omitted.

제1 센서(31)는 이외에도 검사를 받는 엘이디(100)의 개수를 세는 기능을 수행할 수 있다. The first sensor 31 may also perform a function of counting the number of LEDs 100 to be inspected.

또한, 검사부(10)는, 제1 검사 유닛(21)의 하류에 제공되어, 엘이디(100)의 특성을 검사하는 제2 검사 유닛(22)과, 상기 홈(18)에 엘이디(100)의 존재 유무를 측정하는 제2 센서(32)를 더 포함할 수 있다. In addition, the inspection unit 10 is provided downstream of the first inspection unit 21 to inspect the characteristics of the LED 100, and the grooves 18 of the LED 100 to the second inspection unit 22. It may further include a second sensor 32 for measuring the presence or absence.

제2 검사 유닛(22)은 제1 검사 유닛(21)과 유사한 것으로서, 복수 개의 검사를 한번에 수행할 수 있다는 장점이 있다. 제2 센서(32)는 홈(18)에 엘이디(100)의 존재 유무를 측정하는 것으로서, 이는 제1 센서(31)에서 엘이디(100)가 존재한다고 측정된 홈(100)에 존재하는 엘이디가 이송 중 이탈되는 지 여부를 판단하기 위함이다. 따라서 이러한 제2 센서(32)는 제2 검사 유닛(22)의 하류에 위치하는 것이 바람직하다. The second inspection unit 22 is similar to the first inspection unit 21 and has an advantage in that a plurality of inspections can be performed at one time. The second sensor 32 measures the presence or absence of the LED 100 in the groove 18, which indicates that the LED existing in the groove 100 measured as the LED 100 exists in the first sensor 31 is present. This is to determine whether the deviation occurs during the transfer. Therefore, this second sensor 32 is preferably located downstream of the second inspection unit 22.

검사부(10)는, 불량으로 판정되는 엘이디(101)를 분류하는 제1 분류기(41)와, 정상으로 판정되는 엘이디(100)를 분류하는 제2 분류기(42)를 더 포함할 수 있다. The inspection unit 10 may further include a first classifier 41 that classifies the LED 101 that is determined to be defective, and a second classifier 42 that classifies the LED 100 that is determined to be normal.

제1 분류기(41) 및 제2 분류기(42)는 홈(18)에 삽입된 엘이디(100)를 홈(18)으로부터 이탈시키는 것으로서, 제1 베큠(51)의 기능과 반대로 이해할 수 있다. The first classifier 41 and the second classifier 42 separate the LED 100 inserted into the groove 18 from the groove 18, and can be understood as opposed to the function of the first vacuum 51.

도 6은 이에 대한 구성을 도시한 것으로서, 베큠(52)과 연결된 배출관(58)이 홈(18)에 연결된 관(17)과 밀착 연결되어, 베큠(52)으로부터 압력을 엘이디(100)에 전달하는 기능이다. 본 명세서에서 베큠(52)으로 표현한 것은 흡입력 뿐만 아니라 외부로 압력을 발생시키는 것을 포함하는 것으로 이해될 수 있다. 6 illustrates a configuration thereof, and the discharge pipe 58 connected to the vacuum 52 is closely connected to the pipe 17 connected to the groove 18 to transfer pressure from the vacuum 52 to the LED 100. Function. The expression 52 as used herein may be understood to include generating a pressure to the outside as well as the suction force.

본 발명은 상기와 같은 실시예에 의해 권리범위가 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적인 사상을 가지고 있다면 모두 본 발명의 권리범위에 해당된다고 볼 수 있으며, 본 발명은 특허청구범위에 의해 권리범위가 정해짐을 밝혀둔다.The present invention is not limited to the scope of the embodiments by the above embodiments, all having the technical spirit of the present invention can be seen to fall within the scope of the present invention, the present invention is the scope of the claims by the claims Note that is determined.

1 : 보울 피더, 2 : 리니어 피더, 3 : 삽입 유닛, 10 : 검사부, 11 : 중앙 회전기, 21 : 제1 검사 유닛, 22 : 제2 검사 유닛, 31 : 제1 센서, 32 : 제2 센서, 41 : 제1 분류기, 42 : 제2 분류기Reference Signs List 1: bowl feeder, 2: linear feeder, 3: insertion unit, 10: inspection unit, 11: central rotating machine, 21: first inspection unit, 22: second inspection unit, 31: first sensor, 32: second sensor, 41: first classifier, 42: second classifier

Claims (5)

적재된 엘이디(100)를 소정의 방향으로 정렬하여 공급하는 보울 피더((1)와, 상기 보울 피더(1)로부터 공급받은 엘이디(100)를 순차적으로 공급하는 리니어 피더(2)와, 상기 리니어 피더(2)로부터 엘이디(100)를 공급받아 불량 여부를 판단하는 검사부(10)를 포함하는 회전형 엘이디 검사 장치에 있어서,
상기 검사부(10)는,
상기 엘이디(100)가 삽입되어 고정되도록 원주면을 따라 복수 개의 홈(18)이 제공되고, 상기 홈(18)이 수평방향으로 형성되어 삽입된 상기 엘이디(100)를 소정의 방향과 각도로 회전시키는 중앙 회전기(11)와,
상기 리니어 피더(2)로부터 공급되는 상기 엘이디(100)를 수평방향으로 상기 홈(18)에 삽입시키는 삽입 유닛(3)과,
상기 중앙 회전기(11)의 상부에 배치되어 삽입된 상기 엘이디(100)의 특성을 검사하는 제1 검사 유닛(21)과,
상기 중앙회전기(11)에 배치되어 상기 홈(18)에 삽입된 상기 엘이디(100)의 존재 유무를 측정하는 제1 센서(31)와,
상기 리니어피더(2) 및 상기 홈(18) 사이에 배치되어 상기 엘이디(100)의 이동을 단속하는 스토퍼(4)와,
상기 중앙 회전기(11)에 배치되어 상기 홈(18)과 연통되게 형성된 복수개의 관(17)과,
상기 중앙 회전기(11)의 내측에 배치되고, 상기 중앙 회전기(11)의 소정각도 회전 시 상기 복수개의 관(17) 중 어느 하나와 연통되도록 흡입관(57)이 형성된 베큠설치부(13)와,
상기 베큠설치부(13)에 배치되고 상기 흡입관(57)을 통해 공기를 흡입하여 상기 홈(18)을 향해 상기 엘이디(100)가 수평방향으로 이동되도록 흡입력을 발생시키는 제 1 베큠(51)과,
상기 홈(18)에는 상기 엘이디(100)의 삽입을 원활하게 하기 위해 상기 삽입유닛(3) 측으로 확장되도록 경사부(19)를 포함하고,
상기 중앙 회전기(11)는 상기 베큠설치부(13)의 외주면을 따라 회전되면서 다음 스텝으로 이동 시 상기 복수개의 관(17) 중 어느 하나와만 상기 흡입관(57)이 연통되게 배치된 회전형 엘이디 검사 장치.
Bowl feeder (1) for aligning the stacked LEDs 100 in a predetermined direction and supplying them, a linear feeder (2) for sequentially supplying the LEDs (100) supplied from the bowl feeder (1), and the linear In the rotatable LED inspection apparatus comprising an inspection unit 10 for receiving the LED 100 from the feeder 2 to determine whether or not defective,
The inspection unit 10,
A plurality of grooves 18 are provided along the circumferential surface so that the LEDs 100 are inserted and fixed, and the grooves 18 are formed in a horizontal direction to rotate the inserted LEDs 100 in a predetermined direction and angle. The central rotator 11,
An insertion unit 3 for inserting the LED 100 supplied from the linear feeder 2 into the groove 18 in a horizontal direction;
A first inspection unit 21 for inspecting a characteristic of the LED 100 which is disposed on and inserted above the central rotor 11;
A first sensor 31 disposed on the central rotor 11 to measure the presence or absence of the LED 100 inserted into the groove 18;
A stopper 4 disposed between the linear feeder 2 and the groove 18 to control the movement of the LED 100;
A plurality of pipes 17 disposed in the central rotary machine 11 so as to communicate with the grooves 18;
A vacuum installation unit 13 disposed inside the central rotor 11 and having a suction tube 57 formed therein so as to communicate with any one of the plurality of tubes 17 when a predetermined angle of the central rotor 11 is rotated;
A first vacuum (51) disposed in the vacuum installation unit (13) and generating suction force to suck air through the suction pipe (57) and move the LED (100) in a horizontal direction toward the groove (18); ,
The groove 18 includes an inclined portion 19 to extend toward the insertion unit 3 in order to facilitate the insertion of the LED 100,
The central rotary machine 11 is rotated along the outer circumferential surface of the vacuum mounting unit 13, the rotary LED is disposed so that the suction tube 57 is in communication with only one of the plurality of tubes 17 when moving to the next step Inspection device.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 청구항 1에 있어서,
상기 검사부(10)는,
불량으로 판정되는 엘이디(101)를 분류하는 제1 분류기(41)와,
정상으로 판정되는 엘이디(100)를 분류하는 제2 분류기(42)를 더 포함하는,
회전형 엘이디 검사 장치.
The method according to claim 1,
The inspection unit 10,
A first classifier 41 for classifying the LED 101 determined as defective, and
Further comprising a second classifier 42 for classifying the LED 100 is determined to be normal,
Rotary LED inspection device.
KR1020100110807A 2010-11-09 2010-11-09 Rotational led inspection-device KR101112193B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100110807A KR101112193B1 (en) 2010-11-09 2010-11-09 Rotational led inspection-device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100110807A KR101112193B1 (en) 2010-11-09 2010-11-09 Rotational led inspection-device

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110131317A Division KR20120049837A (en) 2011-12-08 2011-12-08 Rotational led inspection-device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101112193B1 true KR101112193B1 (en) 2012-02-27

Family

ID=45840184

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100110807A KR101112193B1 (en) 2010-11-09 2010-11-09 Rotational led inspection-device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101112193B1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101368231B1 (en) 2012-09-10 2014-02-28 (주)에이피텍 The apparatus automatically tapping led
CN113751369A (en) * 2020-06-02 2021-12-07 慧萌高新科技有限公司 Chip electronic part conveying disc for chip electronic part checking and sorting device
TWI814193B (en) * 2021-02-26 2023-09-01 日商愛德萬測試股份有限公司 Test device, test method and computer readable storage medium
US11800619B2 (en) 2021-01-21 2023-10-24 Advantest Corporation Test apparatus, test method, and computer-readable storage medium

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2584310Y2 (en) 1992-10-20 1998-10-30 エム・シー・エレクトロニクス株式会社 IC inspection equipment
JP2002043194A (en) 2000-07-21 2002-02-08 Tokyo Weld Co Ltd Work-inspecting device
KR100478885B1 (en) * 2000-05-23 2005-03-28 일렉트로 사이언티픽 인더스트리즈, 아이엔씨 A Visual Inspection Machine For Inspecting Multi-sided Electronic Components
KR100713799B1 (en) * 2006-04-07 2007-05-04 (주)알티에스 Apparatus for dual electronic part inspection

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2584310Y2 (en) 1992-10-20 1998-10-30 エム・シー・エレクトロニクス株式会社 IC inspection equipment
KR100478885B1 (en) * 2000-05-23 2005-03-28 일렉트로 사이언티픽 인더스트리즈, 아이엔씨 A Visual Inspection Machine For Inspecting Multi-sided Electronic Components
JP2002043194A (en) 2000-07-21 2002-02-08 Tokyo Weld Co Ltd Work-inspecting device
KR100713799B1 (en) * 2006-04-07 2007-05-04 (주)알티에스 Apparatus for dual electronic part inspection

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101368231B1 (en) 2012-09-10 2014-02-28 (주)에이피텍 The apparatus automatically tapping led
CN113751369A (en) * 2020-06-02 2021-12-07 慧萌高新科技有限公司 Chip electronic part conveying disc for chip electronic part checking and sorting device
CN113751369B (en) * 2020-06-02 2024-04-05 慧萌高新科技有限公司 Chip electronic component conveying disc for chip electronic component inspection and sorting device
US11800619B2 (en) 2021-01-21 2023-10-24 Advantest Corporation Test apparatus, test method, and computer-readable storage medium
TWI814193B (en) * 2021-02-26 2023-09-01 日商愛德萬測試股份有限公司 Test device, test method and computer readable storage medium
US11788885B2 (en) 2021-02-26 2023-10-17 Advantest Corporation Test apparatus, test method, and computer-readable storage medium

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101112193B1 (en) Rotational led inspection-device
KR101707220B1 (en) An Apparatus for Inspecting a Battery with X-ray Image and a Method for Inspecting a Battery Using the Same
KR102101228B1 (en) LED module inspection and packing system
US20110261185A1 (en) Chip component carrying method and system, and visual inspection method and system
US8528197B2 (en) Method for mounting electronic parts
TWI260755B (en) System for processing electronic devices
KR100650290B1 (en) Noncontact conveying plate
KR101111925B1 (en) Apparatus and method for turning the polarity of electronic parts to the same direction
KR20150109305A (en) Handler for semiconductor package
CN110429044A (en) Cutting apparatus
JP2005219002A (en) Element classification and storage apparatus
CN106211737A (en) Electronic component carrying apparatus
KR20120049837A (en) Rotational led inspection-device
KR20130023072A (en) Clssification apparatus and operation method
KR102124131B1 (en) LED module sorting and classification system
KR101611876B1 (en) Handler for semiconductor package
KR101368231B1 (en) The apparatus automatically tapping led
TW201543047A (en) Conveying method and apparatus of electronic component inspection sorting
JP5835244B2 (en) Work transfer device
CN105109768B (en) A kind of continous way rolls the elastic detection machine of lid
TWI727520B (en) Electronic component conveying method, electronic component conveying device and conveying equipment
TWM521802U (en) Packaged chip detection device and chip turning module thereof
JP2004205228A (en) Paper cup inspection apparatus
TW201543046A (en) Conveying, sorting method and apparatus of electronic component
CN103900900B (en) Vertical pulling capacity detects the rotating disk mechanism of machine

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
A107 Divisional application of patent
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141125

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee