KR101095785B1 - 패키지 장치 및 동작 방법 - Google Patents
패키지 장치 및 동작 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101095785B1 KR101095785B1 KR1020090047826A KR20090047826A KR101095785B1 KR 101095785 B1 KR101095785 B1 KR 101095785B1 KR 1020090047826 A KR1020090047826 A KR 1020090047826A KR 20090047826 A KR20090047826 A KR 20090047826A KR 101095785 B1 KR101095785 B1 KR 101095785B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- voltage
- controller
- memory chip
- level
- cam cell
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C15/00—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C15/00—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores
- G11C15/04—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores using semiconductor elements
- G11C15/046—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores using semiconductor elements using non-volatile storage elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/143—Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/20—Memory cell initialisation circuits, e.g. when powering up or down, memory clear, latent image memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
Description
제 1 전압에 의해 동작하는 하나 이상의 메모리 칩과; 상기 제 1 전압의 전압 레벨이 설정되는 전압 레벨 이상으로 상승되는지를 감지하는 전압 감지 회로; 및 제 2 전압에 의해 동작하고, 상기 전압 감지회로가 상기 제 1 전압의 전압 레벨이 설정되는 전압 레벨 이상임을 감지했을 때, 상기 메모리 칩의 동작을 제어하기 시작하는 컨트롤러를 포함한다.
Claims (18)
- 제 1 전압에 의해 동작하는 하나 이상의 메모리 칩과;상기 제 1 전압의 전압 레벨이 설정되는 전압 레벨 이상으로 상승되는지를 감지하는 전압 감지 회로; 및제 2 전압에 의해 동작하고, 상기 전압 감지회로가 상기 제 1 전압의 전압 레벨이 설정되는 전압 레벨 이상임을 감지했을 때, 상기 메모리 칩의 동작을 제어하기 시작하는 컨트롤러를 포함하는 패키지 장치.
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 전압 감지회로는,상기 제 1 전압의 전압 레벨에 따른 감지전압을 출력하기 위한 전압 감지부; 및상기 감지전압과 기준전압을 비교하여 비교결과에 따른 제어신호를 출력하기 위한 비교부를 포함하는 패키지 장치.
- 제 3항에 있어서,상기 전압 감지부는,상기 제1 전압을 분배하여 상기 감지전압으로 출력하기 위한 제 1 및 제 2 저항수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 3항에 있어서,상기 비교부는,상기 감지전압이 상기 기준전압보다 높아지면, 하이 레벨의 제어신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 컨트롤러는 상기 제어신호가 하이 레벨로 출력되면 상기 메모리 칩에 포함된 캠셀의 옵션정보를 로딩하도록 하는 명령어를 상기 메모리칩으로 입력하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 3항에 있어서,상기 비교부는,상기 감지전압과 상기 기준전압을 비교하여 제 1 비교신호를 출력하는 제 1 비교부;상기 제 1 비교신호와 상기 기준전압을 비교하여 제 2 비교신호를 출력하는 제 2 비교부; 및상기 제 2 비교신호를 반전 출력하는 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 7항에 있어서,상기 제 1 비교부는 상기 감지전압이 상기 기준전압보다 높으면, 상기 제 1 비교신호를 상기 컨트롤러에 입력되는 전원전압레벨로 출력하고,상기 제 2 비교부는 상기 제 1 비교신호의 전압 레벨이 상기 기준전압보다 높으면, 상기 제 2 비교신호를 상기 컨트롤러에 입력되는 전원전압레벨로 출력하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 1 전압에 의해 동작하고, 옵션정보를 저장하는 캠셀을 포함하는 메모리칩과,제 2 전압에 의해 동작하고, 상기 제 1 전압이 설정된 전압 레벨 이상으로 상승되었는지를 확인하기 위한 전압 감지회로를 포함하고, 상기 감지회로에 의해 상기 제 1 전압이 설정된 전압 레벨 이상으로 상승된 것을 확인했을 때, 상기 캠셀의 옵션정보를 로딩하도록 제어하는 명령어를 상기 메모리 칩으로 입력하는 컨트롤러를 포함하는 패키지 장치.
- 제 9항에 있어서,상기 전압 감지회로는,상기 제 1 전압의전압 레벨에 따른 감지전압으로 출력하기 위한 전압 감지부; 및상기 감지전압과 기준전압을 비교하여 비교결과에 따른 제어신호를 출력하기 위한 비교부를 포함하는 패키지 장치.
- 제 10항에 있어서,상기 전압 감지부는,상기 제 1 전압을 분배하여 상기 감지전압으로 출력하기 위한 제 1 및 제 2 저항수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 10항에 있어서,상기 비교부는,상기 감지전압이 상기 기준전압보다 높아지면, 하이 레벨의 제어신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 12항에 있어서,상기 컨트롤러는 상기 제어신호가 하이 레벨로 출력되면 상기 캠셀의 옵션정보를 로딩하도록 하는 명령어를 상기 메모리칩으로 입력하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 10항에 있어서,상기 비교부는,상기 감지전압과 상기 기준전압을 비교하여 제 1 비교신호를 출력하는 제 1 비교부;상기 제 1 비교신호와 상기 기준전압을 비교하여 제 2 비교신호를 출력하는 제 2 비교부; 및상기 제 2 비교신호를 반전 출력하는 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 14항에 있어서,상기 제 1 비교부는 상기 감지전압이 상기 기준전압보다 높으면, 상기 제 1 비교신호를 상기 컨트롤러에 입력되는 전원전압레벨로 출력하고,상기 제 2 비교부는 상기 제 1 비교신호의 전압 레벨이 상기 기준전압보다 높으면, 상기 제 2 비교신호를 상기 컨트롤러에 입력되는 전원전압레벨로 출력하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 14항에 있어서,상기 컨트롤러는 상기 인버터의 출력이 로우 레벨로 변경되면, 상기 캠셀의 옵션정보를 로딩하도록 하는 명령어를 상기 메모리칩으로 입력하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치.
- 제 1 전원에 의해 동작하고, 캠셀을 포함하는 하나 이상의 메모리칩과, 제 2 전원에 의해 동작하는 컨트롤러를 포함하는 패키지 장치의 동작 방법에 있어서,상기 제 1 및 제 2 전원이 입력되는 단계;상기 컨트롤러에서 상기 제 1 전원의 전압 레벨이 설정된 전압 레벨에 도달했는지 여부를 판단하는 단계; 및상기 판단결과, 상기 제1 전원의 전압 레벨이 설정된 전압 레벨에 도달하면 상기 컨트롤러에서 상기 메모리칩으로 상기 캠셀의 데이터를 로딩하도록 하는 명령어를 입력하는 단계를 포함하는 패키지 장치의 동작 방법.
- 제 17항에 있어서,상기 캠셀 로딩 명령어가 입력되면, 상기 메모리칩에서 상기 캠셀에 저장된 옵션정보를 로딩하여 임시 저장하는 것을 특징으로 하는 패키지 장치의 동작 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090047826A KR101095785B1 (ko) | 2009-05-29 | 2009-05-29 | 패키지 장치 및 동작 방법 |
US12/774,665 US8310882B2 (en) | 2009-05-29 | 2010-05-05 | Package apparatus and method of operating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090047826A KR101095785B1 (ko) | 2009-05-29 | 2009-05-29 | 패키지 장치 및 동작 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100129070A KR20100129070A (ko) | 2010-12-08 |
KR101095785B1 true KR101095785B1 (ko) | 2011-12-21 |
Family
ID=43220065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090047826A KR101095785B1 (ko) | 2009-05-29 | 2009-05-29 | 패키지 장치 및 동작 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8310882B2 (ko) |
KR (1) | KR101095785B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101066738B1 (ko) * | 2009-12-21 | 2011-09-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 메모리 소자 및 이의 동작 방법 |
CN105978600A (zh) * | 2015-11-13 | 2016-09-28 | 乐视移动智能信息技术(北京)有限公司 | 一种支持载波聚合的处理器及移动终端 |
KR102248686B1 (ko) * | 2020-02-14 | 2021-05-04 | 엘에스일렉트릭(주) | 외부 메모리 접근 시스템 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100378603B1 (ko) * | 2000-10-10 | 2003-03-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래그 신호 발생 장치 |
KR100519536B1 (ko) * | 2000-12-28 | 2005-10-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 코드 저장 메모리 셀 센싱 회로 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6331950B1 (en) * | 1999-10-19 | 2001-12-18 | Fujitsu Limited | Write protect input implementation for a simultaneous operation flash memory device |
KR100368315B1 (ko) * | 1999-12-28 | 2003-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래시 메모리의 어드레스 버퍼 |
US6636081B1 (en) * | 2002-03-26 | 2003-10-21 | E-Cmds Corporation | Voltage-comparing device with analog-signal converter |
KR100463201B1 (ko) * | 2002-05-28 | 2004-12-23 | 삼성전자주식회사 | 파워 검출 회로, 이를 이용한 플래시 메모리 장치, 그 플래시 메모리 장치의 파워-온 독출 신호 발생 방법 및 플래시 메모리 장치의 안정적인 파워-온 독출 방법 |
JP3863508B2 (ja) * | 2003-07-03 | 2006-12-27 | Necエレクトロニクス株式会社 | 電源電圧検出回路及び半導体集積回路装置 |
-
2009
- 2009-05-29 KR KR1020090047826A patent/KR101095785B1/ko active IP Right Grant
-
2010
- 2010-05-05 US US12/774,665 patent/US8310882B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100378603B1 (ko) * | 2000-10-10 | 2003-03-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래그 신호 발생 장치 |
KR100519536B1 (ko) * | 2000-12-28 | 2005-10-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 코드 저장 메모리 셀 센싱 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8310882B2 (en) | 2012-11-13 |
US20100302876A1 (en) | 2010-12-02 |
KR20100129070A (ko) | 2010-12-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9042152B2 (en) | Data read circuit, a non-volatile memory device having the same, and a method of reading data from the non-volatile memory device | |
EP2284837B1 (en) | Method and apparatus for managing behavior of memory devices | |
US8406072B2 (en) | System and method of reference cell testing | |
US20160132339A1 (en) | Systems and methods involving control-i/o buffer enable circuits and/or features of saving power in standby mode | |
US10031792B2 (en) | Flash memory | |
US10916274B2 (en) | Power management integrated circuits and semiconductor memory modules including power management integrated circuits | |
US20140068321A1 (en) | Memory device and integrated circuit | |
KR20140013695A (ko) | 페일 어드레스 감지기, 그것을 포함하는 반도체 메모리 장치 및 페일 어드레스 감지 방법 | |
KR101095785B1 (ko) | 패키지 장치 및 동작 방법 | |
JP5351899B2 (ja) | 電子機器を操作する方法、電子機器およびメモリ装置 | |
US8947935B2 (en) | Integrated circuit and apparatuses including the same | |
US8051342B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US7839224B2 (en) | Oscillator with a stable oscillating frequency | |
US8665626B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and control method | |
US9159445B2 (en) | Semiconductor device with fuse array and operating method thereof | |
TWI747688B (zh) | 半導體裝置 | |
KR101005125B1 (ko) | 불휘발성 메모리 소자 및 그 동작 방법 | |
KR101066738B1 (ko) | 불휘발성 메모리 소자 및 이의 동작 방법 | |
KR20220095608A (ko) | 보조 전원 관리 장치 및 이를 포함하는 전자 시스템 | |
CN109003634B (zh) | 一种芯片启动方法和一种flash芯片 | |
KR20120013538A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법 | |
US9053776B2 (en) | Setting information storage circuit and integrated circuit chip including the same | |
US10707861B2 (en) | Semiconductor apparatus including a power gating circuit | |
JP5205030B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
WO2023190324A1 (ja) | メモリ装置及びメモリ装置の電源制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141126 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151120 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161125 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171124 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181126 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191125 Year of fee payment: 9 |