일반적으로 정전기 방전(ElectroStatic Discharge, ESD) 보호회로는 반도체 장치 설계시 정전기로 인한 제품의 파괴와 열화를 방지하기 위해 반도체 내부 회로와 외부 입출력 핀이 연결되는 패드(이하, '입출력패드'라 함) 사이에 설치되는 회로를 말한다.
대전된 인체나 기계에 반도체 회로가 접촉되면, 인체나 기계에 대전된 정전기가 반도체 회로의 외부 핀을 통해 입출력 패드를 거쳐 반도체 내부회로로 방전되면서 큰 에너지를 가진 과도전류가 내부회로에 흘러 반도체 회로에 큰 손상을 줄 수 있다. 또한, 반도체 내부회로에 대전된 정전기가 기계의 접촉에 의해 기계를 통해 외부로 방전되면서, 과도전류가 반도체 내부회로에 흘러 반도체 회로를 손상시킬 수도 있다.
따라서, 대부분의 반도체 집적회로에서는 정전기 방전에 기인한 손상을 방지하기 위하여 입출력패드와 반도체 내부회로 사이에 정전기 방전 보호회로를 설치한다.
도 1은 일반적인 액정표시장치의 구동 집적회로(Integrated Circuit, IC) 칩의 소스 드라이버의 출력단자에 구비된 정전기 방전 보호회로를 도시한 회로도이다.
도 1을 참조하면, 종래기술에 따른 정전기 방전 보호회로는 실질적으로 한 채널당 할당된 영역의 폭이 좁기 때문에 각 패드에서 자체적으로 정전기 스트레스를 감당할 수 있는 클램프(clamp)를 집적하기에는 면적이 부족하여 대부분의 경우 도 1과 같이 다이오드(MPD, MND)를 통해 전류를 방전한다. 대부분의 소스 드라이버의 출력은 접지전압(즉, 0V)에서 소정의 포지티브(positive)(+) 동작전압 사이의 값을 가지며, 따라서, 이를 구동하는 회로도 포지티브 동작전압을 갖는 소자를 이용하여 회로를 구성하고, 정전기 방전 보호회로 역시 상기 동작전압에 최적화하여 제작된다.
구체적으로, 입출력패드(I/O)와, 소스 전압을 입출력패드(I/O)로 전달하는 출력버퍼(106)와, 입출력패드(I/O)를 통해 유입되는 정전기를 다양한 경로로 전달하여 내부회로를 보호하는 전달부(108)와, 전원라인(102)과 접지라인(104) 간의 전압차를 일정 전압으로 유지시키는 클램프(110)를 구비한다. 또한, 출력버퍼(106)로 전달되는 신호를 입출력패드(I/O)로 전달하는 스위칭부(112)와 저항(114)을 구비한다.
전달부(108)는 서로 순방향으로 직렬 연결된 두 개의 다이오드(MPD, MND)로 이루어진다. 다이오드(MPD)는 전원라인(102)과 입출력패드(I/O) 사이에 연결된다. 다이오드(MND)는 입출력패드(I/O)와 접지라인(104) 사이에 연결된다. 그리고, 다이오드(MPD)의 캐소드 단자는 전원라인(102)과 연결되고, 애노드 단자는 입출력패드(I/O)와 연결된다. 다이오드(MND)의 캐소드 단자는 입출력패드(I/O)와 연결되고, 애노드 단자는 접지라인(104)과 연결된다.
이러한 구성을 갖는 정전기 방전 보호회로는 정상동작시 전달부(108)의 다이오드(MPD, MND)가 모두 역방향 바이어스 상태가 되어 동작하지 않아 회로 동작에 영향을 주지 않는다. 반면, 입출력패드(I/O)와 전원전압(VPP) 패드 또는 접지전압(VSS) 패드 간에 정전기가 발생할 경우, 다이오드(MPD, MND) 중 어느 하나가 동작되어 정전기 방전경로를 제공하여 정전기가 내부회로로 유입되어 내부회로를 파괴하는 것을 방지한다.
이러한 종래기술에 따른 정전기 방전 보호회로는 프레임 반전(frame inversion)이나 라인 반전(line inversion)에서와 같이 접지전압에서 포지티브 동작전압을 갖는 액정표시장치에 적용할 수는 있다. 하지만, 도트 반전방식을 지원하는 액정표시장치에서는 프레임 반전이나 라인 반전과 다르게 네가티브(negative)(-) 동작전압에서 포티지브 동작전압까지 필요하다. 즉, 네가티브 동작전압에서 접지전압, 그리고 접지전압에서 포지티브 동작전압이 요구되기 때문에 도 1에 도시된 종래기술에 따른 정전기 방전 보호회로로는 적용할 수 없는 문제가 발생된다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다. 또한, 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 도면부호(또는, 참조부호)로 표기된 부분은 동일한 요소를 나타낸다.
명세서 전체 기재에 있어서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할 때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 사이에 다른 소자를 사이에 두고 '전기적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 구비(또는 포함)한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
실시예1
도 2는 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로를 설명하기 위해 도시한 회로도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로는 도트 반전방식을 지원하기 위해 도 1에 도시된 정전기 방전 보호회로와 다르게 2개의 출력버퍼를 구비한다. 제1 출력버퍼(206A)는 포지티브 전원라인(202)(이하, 제1 전원라인이라 함)과 접지라인(203) 사이에 연결되어 접지전압(VSS)에서 포지티브 전원전압(VPP)(이하, 제1 전원전압이라 함)을 출력한다. 제2 출력버퍼(206B)는 접지라인(203)과 네가티브 전원라인(204)(이하, 제2 전원라인이라 함) 사이에 연결되어 네가티브 전원전압(VNN)(이하, 제2 전원전압이라 함)에서 접지전압(VSS)까지 출력한다.
또한, 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로는 제1 및 제2 출력버퍼(206A, 206B)에 따라 2개의 클램프를 구비한다. 제1 클램프(210A)는 제1 전원라인(202)과 접지라인(203) 사이에 연결되어 제1 전원라인(202)과 접지라인(203) 사이를 일정 전압으로 유지시킨다. 제2 클램프(210B)는 접지라인(203)과 제2 전원라인(204) 사이에 연결되어 접지라인(203)과 제2 전원라인(204) 사이를 일정 전압으로 유지시킨다.
또한, 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로는 2개의 전달부를 구비한다. 제1 전달부(208A)와 제2 전달부(208B)는 각각 한 개의 다이오드(MPD, MND)로 이루어진다. 제1 전달부(208A)는 제1 전원라인(202)과 입출력패드(I/O) 사이에 연결된다. 제2 전달부(208B)는 입출력패드(I/O)와 제2 전원라인(204) 사이에 연결된다.
제1 전달부(208A)의 다이오드(MPD)와 제2 전달부(208B)의 다이오드(MND)는 순방향 연결된다. 다이오드(MPD)는 웰(well)을 기준으로 다이오드(MND)와 서로 다 른 도전형(P형 또는 N형)으로 형성된다. 예컨대, 다이오드(MPD)는 웰이 N형으로 이루어지고, 다이오드(MND)는 웰이 P형으로 이루어진다. 다이오드(MPD, MND)는 서로 동일한 크기의 항복전압을 갖는다. 여기서, 항복전압이라 함은 다이오드(MPD, MND)의 양단에 걸리는 역방향 전압에서 다이오드(MPD, MND)가 파괴되지 않고 견딜 수 있는 최대 전압을 의미한다. 또한, 다이오드(MPD)는 제1 출력버퍼(206A)의 제1 동작전압보다 높은 항복전압을 가지고, 다이오드(MND)는 제2 출력버퍼(206B)의 제2 동작전압보다 높은 항복전압을 갖는다. 여기서, 제1 및 제2 동작전압은 입출력패드(I/O)를 통해 내부회로, 즉 소스 드라이버에 구성된 소자를 동작시키는 전압을 말한다.
또한, 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로는 제1 출력버퍼(206A)로부터 출력되는 제1 동작전압을 입출력패드(I/O)로 전달하는 제1 스위칭부(212A)와, 제2 출력버퍼(206B)로부터 출력되는 제2 동작전압을 입출력패드(I/O)로 전달하는 제2 스위칭부(212B)를 더 구비한다. 제1 및 제2 스위칭부(212A, 212B)는 각각 PMOS 트랜지스터와 NMOS 트랜지스터가 병렬 접속된 전송 게이트로 이루어진다.
전술한 바와 같이 도 2에 도시된 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로는 도트 반전방식을 지원하는 액정표시장치의 구동 IC칩의 소스 드라이버에 적용할 수 있다.
예를 들어, 제1 전원전압(VPP)이 5V, 접지전압(VSS)이 0V, 제2 전원전압(VNN)이 -5V이면, 제1 출력버퍼(206A)는 0~5V의 전압레벨을 갖는 제1 동작전압을 출력하고, 제2 출력버퍼(206B)는 -5~0V의 전압레벨을 갖는 제2 동작전압을 출력한다. 이에 따라, 입출력패드(I/O)로 출력되는 동작전압은 -5~5V의 전압레벨을 가지게 되므로, 제1 및 제2 스위칭부(212A, 212B)는 대략 30V의 고전압 스위치를 사용한다. 이러한 고전압 스위치는 원-칩 구동 IC칩에서 게이트 구동을 위해 사용되는 소자와 동일하다.
실시예2
도 3은 본 발명의 실시예2에 따른 정전기 방전 보호회로를 설명하기 위해 도시한 회로도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예2에 따른 정전기 방전 보호회로는 도 2에 도시된 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로와 유사한 구성을 갖는다. 다만, 제1 전달부(308A)와 제2 전달부(308B)를 구성하는 다이오드에 있어서 서로 큰 차이를 보이고 있다.
도 2에 도시된 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로의 동작특성을 설명한다.
접지전압(VSS) 모드 포지티브 방전의 경우, 방전경로는 제1 전원라인(202)을 통해 형성된다. 이때, 다이오드(MND)에 걸리는 역방향 전압(VRMND)은 하기 수학식 1과 같다.
VRMND = VMPD + 2VC
상기 수학식 1에서 'VMPD'는 다이오드(MPD)의 순방향 전압, 'VC'는 클램프 전압이다.
상기 수학식 1에서와 같이 다이오드(MND)의 역방향 전압(VRMND)이 다이오드(MPD)의 순방향 전압(VMPD)과 클램프 전압(VC)에 의해 다이오드(MND)의 항복전압을 넘을 수 있다.
제1 전원전압(VPP) 모드 네거티브 방전의 경우, 방전경로는 제2 전원라인(204)을 통해 형성된다. 이때, 다이오드(MPD)에 걸리는 역방향 전압(VRMPD)은 하기 수학식 2와 같다.
VRMPD = VMND + 2VC
상기 수학식 2에서 'VMND'는 다이오드(MND)의 순방향 전압, 'VC'는 클램프 전압이다.
상기 수학식 2에서와 같이 다이오드(MPD)의 역방향 전압(VRMPD)이 다이오드(MND)의 순방향 전압(VMND)과 클램프 전압(VC)에 의해 다이오드(MPD)의 항복전압을 넘을 수 있다.
한편, 제1 전원전압(VPP) 모드 또는 접지전압(VSS) 모드와 관련이 없는 CDM(Charged Device Model) 방전의 경우에도 동일한 경로의 방전이 일어날 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로를 도트 반전을 지원하는 구동 IC칩에 적용하면 정전기 방전 보호회로의 다이오드가 파괴될 수 있 다. 이를 방지하기 위해서는 제1 및 제2 전달부(208A, 208B)의 다이오드(MPD, MND)의 항복전압을 높여야 한다.
따라서, 도 3에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예2에 따른 정전기 방전 보호회로에서는 제1 전달부(308A)는 항복전압이 높은 한 개의 고전압 다이오드(HPD)로 구현하고, 제2 전달부(308B)는 항복전압이 중간전압인 2개의 중전압 다이오드(MND1, MND2)를 직렬 연결하여 구현한다. 이와 같이 구현하게 되면, 고전압 다이오드(HPD)는 상기 수학식 2의 역방향 전압(VRMPD)을 견딜 수 있고, 직렬 연결된 중전압 다이오드(MND1, MND2)는 상기 수학식 1의 역방향 전압(VRMND)을 견딜 수 있다.
도 7은 도 3에 도시된 제1 및 제2 전달부(308A, 308B)의 구성을 도시한 단면도이다.
도 7을 참조하면, 도 3에서 제1 전달부(308A)의 고전압 다이오드(HPD)는 반도체 기판(100) 내에 형성된 고전압 N-웰(High-voltage N-well, HNW)과, 고전압 N-웰 내에 형성된 고전압 P-도핑영역(HP+)으로 이루어진다. 고전압 다이오드(HPD)를 구성하는 고전압 P-도핑영역(HP+)은 입출력패드(I/O)와 연결되고, 고전압 N-웰(HNW)은 공통적으로 제1 전원전압(VPP)이 인가되는 제1 전원라인(202)과 연결된다.
제2 전달부(308B)의 중전압 다이오드(MND1, MND2)는 각각 고전압 N-웰(HNW) 내에 형성된 중전압 P-웰(Midium-voltage P-well, MPW)과, 중전압 P-웰(MPW) 내에 형성된 중전압 N-도핑영역(MN+)으로 이루어진다. 중전압 다이오드(MND1)의 중전압 P-웰(MPW)은 제2 전원전압(VNN)이 인가되는 제2 전원라인(204)과 연결되고, 중전압 N-도핑영역(MN+)은 중전압 다이오드(MND2)의 중전압 P-웰(MPW)과 연결된다. 중전압 다이오드(MND2)의 중전압 N-도핑영역(MN+)은 고전압 다이오드(HPD)의 고전압 P-도핑영역(HP+)과 연결된다.
도 7에 도시된 바와 같이, 제1 전달부(308A)의 고전압 다이오드(HPD)에 있어서, 고전압 N웰(HNW)은 공통적으로 제1 전원전압(VPP)이 인가되는 제1 전원라인(202)과 연결된다. 이에 따라, 중전압 다이오드(MND2)의 중전압 P-웰(MPW)과 고전압 다이오드(HPD)의 고전압 P-도핑영역(HP+) 사이의 간격만 유지하면 좁은 채널영역에 고전압 다이오드(HPD)를 구현하는 것이 가능하다. 또한, 중전압 다이오드(MND1, MND2)에 있어서도, 이들(MND1, MND2)의 중전압 P-웰(MPW) 사이의 간격만 유지하면 좁은 채널영역에 2개의 중전압 다이오드(MND1, MND2)를 구현하는 것 또한 가능하다.
실시예3
도 4는 본 발명의 실시예3에 따른 정전기 방전 보호회로를 설명하기 위해 도시한 회로도이다. 도 8은 도 4에 도시된 제1 및 제2 전달부(408A, 408B)의 단면도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예3에 따른 정전기 방전 보호회로는 도 3에 도시된 실시예2에 따른 정전기 방전 보호회로와 다르게 제1 전달부(408A)를 2개의 중전압 다이오드(MPD1, MPD2)로 구성하고, 제2 전달부(408B)를 1개의 고전압 다이 오드(MND)로 구성한다. 제1 및 제2 전달부(408A, 408B)외의 구성들은 도 3과 동일하다.
도 8에서와 같이, 본 발명의 실시예3에서는 도 7에 도시된 실시예2와 반대로 고전압 P-웰(HPW)을 사용한다. 고전압 P-웰(HPW)은 제2 전원전압(VNN)이 인가되는 제2 전원라인(204)과 연결된다. 그리고, 고전압 P-웰(HPW) 내에는 제1 전달부(408A)의 중전압 다이오드(MPD1, MPD2)를 각각 형성하기 위해 중전압 N-웰(MNW)이 각각 형성된다. 또한, 제2 전달부(408B)의 고전압 다이오드(HND)를 형성하기 위해 고전압 P-웰(HPW) 내에는 고전압 N-도핑영역(HN+)이 형성된다. 제2 전달부(408B)의 고전압 다이오드(HND)는 제2 출력버퍼(206B)의 제2 동작전압보다 높은 항복전압을 갖는다. 그리고, 제1 전달부(408A)의 중전압 다이오드(MPD1, MPD2) 각각은 제1 출력버퍼(206A)의 제1 동작전압과 동일한 항복전압을 갖거나 더 높은 항복전압을 갖는다. 물론, 고전압 다이오드(HND)는 중전압 다이오드(MPD1, MPD2)보다 높은 항복전압을 갖는다. 예컨대, 소스 동작전압이 -5~5V에서 스윙하는 경우 고전압 다이오드(HND)는 30V, 중전압 다이오드(MPD1, MPD2)는 5V의 항복전압을 갖도록 제조된다.
실시예4
도 5는 본 발명의 실시예4에 따른 정전기 방전 보호회로를 설명하기 위해 도시한 회로도이다. 도 9는 도 5에 도시된 제1 및 제2 및 전달부(508A, 508B)의 단면도이다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예4에 따른 정전기 방전 보호회로는 제1 및 제2 전달부(508A, 508B)가 각각 2개의 중전압 다이오드(MPD1, MPD2, MND1, MND2)로 구성된다.
도 9와 같이, 본 발명의 실시예4에 따른 정전기 방전 보호회로는 고전압 N-웰(HNW) 또는 고전압 P-웰(HPW) 내에 중전압 N-웰(MNW)과 중전압 P-웰(MPW)이 형성되고, 중전압 N-웰(MNW) 내에는 중전압 P-도핑영역(MP+)이 형성되고, 중전압 P-웰(MPW) 내에는 중전압 N-도핑영역(MN+)이 형성된다. 중전압 다이오드(MPD1)의 중전압 N-웰(MNW)은 제1 전원전압(VPP)이 인가되는 제1 전원라인(202)과 연결되고, 중전압 다이오드(MND1)의 중전압 P-웰(MPW)은 제2 전원전압(VNN)이 인가되는 제2 전원라인(204)과 연결된다.
실시예5
도 6은 본 발명의 실시예5에 따른 정전기 방전 보호회로를 설명하기 위해 도시한 회로도이다. 도 10은 도 6에 도시된 제1 및 제2 및 전달부(608A, 608B)의 단면도이다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예5에 따른 정전기 방전 보호회로는 실시예3 및 4와 달리 제1 및 제2 전달부(608A, 608B)가 각각 1개의 고전압 다이오드(HPD, HND)로 구성된다.
도 10에서와 같이, 본 발명의 실시예5에서는 제1 및 제2 전달부(608A, 608B)를 각각 고전압 다이오드(HPD, HND)로 구성한다. 고전압 다이오드(HPD, HND)는 제1 및 제2 출력버퍼(206A, 206B)의 제1 및 제2 동작전압보다 높은 항복전압, 바람직하게는 소스 동작전압이 -5~5V에서 스윙하는 경우 30V의 항복전압을 갖는 소자로 제조한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 기술적 사상은 바람직한 실시예에서 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 특히, 도트 반전방식을 지원하는 액정표시장치의 구동 IC칩의 소스 드라이버의 출력단(입출력패드)에 구비되는 정전기 방전 보호회로에 대해 설명하였으나, 이는 일례로서, 동작전압이 네가티브에서 포지티브까지 요구되는 소자에는 모두 적용할 수 있다. 이렇듯, 이 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예들이 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 종래기술에 따른 정전기 방전 보호회로를 도시한 회로도.
도 2는 본 발명의 실시예1에 따른 정전기 방전 보호회로를 도시한 회로도.
도 3은 본 발명의 실시예2에 따른 정전기 방전 보호회로를 도시한 회로도.
도 4는 본 발명의 실시예3에 따른 정전기 방전 보호회로를 도시한 회로도.
도 5는 본 발명의 실시예4에 따른 정전기 방전 보호회로를 도시한 회로도.
도 6은 본 발명의 실시예5에 따른 정전기 방전 보호회로를 도시한 회로도.
도 7은 도 3에 도시된 제1 및 제2 전달부(308A, 308B)를 도시한 단면도.
도 8은 도 4에 도시된 제1 및 제2 전달부(408A, 408B)를 도시한 단면도.
도 9는 도 5에 도시된 제1 및 제2 전달부(508A, 508B)를 도시한 단면도.
도 10은 도 6에 도시된 제1 및 제2 전달부(608A, 608B)를 도시한 단면도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
102 : 전원라인 104 : 접지라인
106 : 출력버퍼 108 : 전달부
110 : 클램프 112 : 스위칭부
114, 214 : 저항 202 : 제1 전원라인
203 : 접지라인 204 : 제2 전원라인
206A : 제1 출력퍼버 206B : 제2 출력버퍼
208A, 308A, 408A, 508A, 608A : 제1 전달부
208B, 308B, 408B, 508B, 608B : 제2 전달부
210A : 제1 클램프 210B : 제2 클램프
212A : 제1 스위칭부 212B : 제2 스위칭부