KR101033392B1 - 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치 및 광원 장치 - Google Patents

면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치 및 광원 장치 Download PDF

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Abstract

광학 헤드(41)는 제1 및 제2 부재(51, 61)와 통형 부재(71)를 포함한다. 제1 부재에는 해당 제1 부재(51)를 관통하도록 제1∼제5 구멍부(52∼56)가 연속하여 형성되어 있다. 제2 부재(61)에는 해당 제2 부재(61)를 관통하도록 제6∼제8 구멍부(62∼64)가 연속하여 형성되어 있다. 제2 부재(61)는 제5 구멍부(56)에 내삽되어 고정된다. 반도체 발광소자(61)는 제5 구멍부(56)에 내삽되어 고정된다. 반도체 발광소자(23)는 제6 구멍부(62)에 삽입된다. 통형 부재(71)는 제1 통 부분(72)과 제2 통 부분(73)을 가지고 있고, 제4 구멍부(55)에 내삽된다. 렌즈(27)는 제2 구멍부(53)와 제3 구멍부(54)의 경계부에 형성되는 단부와 제1 통 부분(72) 사이에 끼워져 고정된다. 광속 정형 부재(25)는 제4 구멍부(55)와 제5 구멍부(56)의 경계부에 형성되는 단부와 제2 부재(61) 사이에 끼워져 고정된다.
면역, 크로마토 그래피, 시험 장치, 항원, 항체, 포토다이오드, 정색, 시험편

Description

면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치 및 광원 장치{DEVICE FOR MEASURING IMMUNOCHROMATOGRAPHY TEST PIECE AND LIGHT SOURCE DEVICE}
본 발명은 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치 및 광원 장치에 관한 것이다.
면역 크로마토 그래피 시험편에는 검체 중의 항원(또는 항체)과의 사이에 항원 항체 반응을 일으키는 항체(또는 항원)가 면역 크로마토 그래피 시험편의 특정의 위치에 미리 띠 형상으로 도포되어 있다. 색소로 표지(mark)된 검체(檢體) 중의 항원(또는 항체)이 전개액(展開液)에 의해 상기 특정의 위치까지 전개되면, 띠 형상으로 도포된 항체(또는 항원)와의 사이에 검체 중의 항원(또는 항체)이 항원 항체 반응을 일으켜 트랩(trap)되고, 상기 특정의 위치에는 색소에 의해 발색한 정색(coloration) 라인이 형성된다. 이러한 면역 크로마토 그래피 시험편에서는 형성된 정색 라인의 정색도를 측정 장치에 의해 광학적으로 측정함으로써, 검체 중의 항원(또는 항체)의 양을 정량적으로 분석할 수 있다.
여기서, 면역 크로마토 그래피 시험편 등의 시험편의 정색도를 측정하는 장치로서, 면역 크로마토 그래피 시험편의 시료 전개 방향(면역 크로마토 그래피 시험편에서의 항원 또는 항체의 이동 방향)과 직교하는 방향(정색 라인과 평행한 방 향)으로 연장된 광속 단면을 갖는 측정광을 조사하고, 그 측정광에 의한 면역 크로마토 그래피 시험편으로부터의 반사광을 검출하는 것이 알려져 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조.). 이 특허 문헌 1에 기재된 측정 장치에서는 광원으로서 레이저 다이오드를 구비하고, 레이저 다이오드로부터의 광을 집속 렌즈와 슬릿에 의해 상기 측정광으로 하고 있다.
[특허 문헌 1] 일본 특개평 11-326191호 공보
(발명의 개시)
그렇지만, 상기 특허 문헌 1에 개시된 측정 장치에서는 미광(迷光)이 발생하고, 이 미광에 의해 면역 크로마토 그래피 시험편 상에 결상되는 측정광의 선명함(sharpness)이 소실되어 버려, 정색도의 측정 정밀도가 저하한다는 문제점을 가지고 있다. 미광 발생에 의한 측정 정밀도의 저하는 특히 광원의 광강도를 높일 경우에 현저한 것으로 된다.
본 발명은 전술한 점에 감안하여 이루어진 것으로, 그 제1 목적은 미광의 발생을 억제하고, 정색도의 측정 정밀도를 향상하는 것이 가능한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치를 제공하는 것에 있다.
또한, 본 발명의 제2 목적은 미광의 발생을 억제하고, 선명한 슬릿광을 조사하는 것이 가능한 광원 장치를 제공하는 것에 있다.
전술한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치는 면역 크로마토 그래피 시험편에 측정광을 조사하는 조사 광학계와, 측정광의 조사에 의한 면역 크로마토 그래피 시험편으로부터의 반사광을 검출하는 검출 광학계를 구비한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치에 있어서, 조사 광학계는 반도체 발광소자와 반도체 발광소자로부터의 광을 면역 크로마토 그래피 시험편에 형성되는 정색 라인과 대략 평행한 방향으로 연장되는 광속 단면을 갖는 광으로 정형하기 위한 광속 정형 부재와, 광속 정형 부재로부터의 광을 면역 크로마토 그래피 시험편 상에 결상시키기 위한 렌즈와, 반도체 발광소자와 광속 정형(整形) 부재와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제1 배플부(baffle part)와, 광속 정형 부재와 렌즈와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제2 배플부와, 렌즈와 면역 크로마토 그래피 시험편 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제3 배플부를 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치에서는, 반도체 발광소자와 광속 정형 부재와의 사이에 제1 배플부가 배치되고, 광속 정형 부재와 렌즈와의 사이에 제2 배플부가 배치되며, 렌즈와 면역 크로마토 그래피 시험편의 사이에 제3 배플부가 배치되므로, 이러한 통형의 각 배플부에 의해 미광의 발생이 억제되게 된다. 또한, 렌즈에 의해 광속 정형 부재로부터의 광이 면역 크로마토 그래피 시험편 상에 결상된다. 이들에 의해 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것이 억제되고, 면역 크로마토 그래피 시험편 상에 조사되는 측정광은 선명해져 정색도의 측정 정밀도를 대폭 향상할 수 있다.
또한, 조사 광학계는 제1 배플부와 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고, 제1 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것이 바람직하다. 이 경우, 통 형상 공간부에 미광이 봉입되게 되어 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 조사 광학계는 광속 정형 부재와 제2 배플부와의 사이에 배치되고, 제2 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것이 바람직하다. 이 경우, 통 형상 공간부에 미광이 봉입되게 되어 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 조사 광학계는 렌즈와 제3 배플부와의 사이에 배치되고, 제3 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것이 바람직하다. 이 경우, 통 형상 공간부에 미광이 봉입되게 되어 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 조사 광학계는 광학 헤드에 장착되어 있고, 해당 광학 헤드는 제3 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제1 구멍부와, 제1 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제2 구멍부와, 제2 구멍부보다도 큰 내경을 가지고 렌즈가 삽입되는 제3 구멍부와, 제3 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제4 구멍부와, 제4 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제5 구멍부가 연속하여 형성된 제1 부재와, 제5 구멍부에 내삽되고, 반도체 발광소자가 삽입되는 제6 구멍부와 제1 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제7 구멍부가 연속하여 형성된 제2 부재와, 제4 구멍부에 내삽되고, 일단측 부분이 제2 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 통형 부재를 포함하며, 제2 구멍부와 제3 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 통형 부재로 렌즈가 고정되고, 제4 구멍부와 제5 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 제2 부재로 광속 정형 부재가 고정되어 있는 것이 바람직하다. 이 경우, 조사 광학계(반도체 발광소 자, 광속 정형 부재, 렌즈, 제1 배플부, 제2 배플부 및 제3 배플부)를 상기 광학 헤드에 조립하여 유닛화할 수 있고, 구조의 간소화를 도모할 수 있음과 동시에, 반도체 발광소자, 광속 정형 부재 및 렌즈를 용이하게 조립할 수 있다.
또한, 제2 부재에는 제7 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제8 구멍부가 해당 제7 구멍부에 연속하여 형성되어 있는 것이 바람직하다. 이 경우, 제8 구멍부에 의해 화상 형성되는 공간부에 미광이 봉입되게 되어 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 통형 부재는 타단측 부분의 내경이 일단측 부분의 내경보다도 크게 설정되어 있는 것이 바람직하다. 이 경우, 통형 부재에서의 타단부 측 부분에 의해 화상 형성되는 공간부에 미광이 봉입되게 되어 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 제1 구멍부, 제7 구멍부 및 통형 부재의 일단측 부분의 내측에는 암나사가 형성되어 있는 것이 바람직하다. 이 경우, 암나사를 형성한다는 매우 간이한 구성으로 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 효과적으로 억제할 수 있다.
또한, 조사 광학계 및 검출 광학계가 장착되는 광학 헤드와, 면역 크로마토 그래피 시험편을 탑재하기 위한 탑재 플레이트와, 정색 라인을 횡단하는 주사 방향으로 탑재 플레이트와 광학 헤드를 상대 이동시키는 주사 기구를 더 갖는 것이 바람직하다. 이 경우, 광학 헤드에 조사 광학계 및 검출 광학계가 장착되어 있으면, 구조가 간소하게 되고, 더욱이, 광학 헤드를 주사 방향으로 이동시키는 경우의 주 사 기구가 1 계통으로 끝나, 주사 기구의 구조나 그 제어계의 구성이 간단하게 된다.
또한, 반도체 발광소자는 발광 다이오드인 것이 바람직하다. 이 경우, 광원의 광강도를 높일 수 있다.
또한, 광속 정형 부재는 면역 크로마토 그래피 시험편에 형성되는 정색 라인과 대략 평행한 방향으로 연장되는 슬릿이 형성된 판형 부재로 하는 것이 바람직하다. 이 경우, 광속 정형 부재의 구조를 간소화 할 수 있다.
전술한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 광원 장치는 측정 대상물에 슬릿광을 조사하는 광원 장치에 있어서, 반도체 발광소자와, 반도체 발광소자로부터의 광을 슬릿광으로 정형하기 위한 광속 정형 부재와, 광속 정형 부재로부터의 광을 측정 대상물 상에 결상시키기 위한 렌즈와, 반도체 발광소자와 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제1 배플부와, 광속 정형 부재와 렌즈와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제2 배플부와, 렌즈와 측정 대상물의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제3 배플부를 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 광원 장치에서는, 반도체 발광소자와 광속 정형 부재와의 사이에 제1 배플부가 배치되고, 광속 정형 부재와 렌즈와의 사이에 제2 배플부가 배치되고, 렌즈와 면역 크로마토 그래피 시험편의 사이에 제3 배플부가 배치되므로, 이러한 통형의 배플부에 의해 미광의 발생이 억제되게 된다. 또한, 렌즈에 의해 광속 정형 부재로부터의 슬릿광이 측정 대상물 상에 결상된다. 이들에 의해 측정 대 상물에 불필요한 미광이 입사하는 것이 억제되고, 측정 대상물 상에 조사되는 슬릿광은 선명하게 된다.
또한, 제1 배플부와 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고, 제1 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것이 바람직하다. 이 경우, 통 형상 공간부에 미광이 봉입되게 되어 측정 대상물에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 광속 정형 부재와 제2 배플부와의 사이에 배치되고, 제2 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것이 바람직하다. 이 경우, 통 형상 공간부에 미광이 봉입되게 되어 측정 대상물에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 렌즈와 제3 배플부와의 사이에 배치되고, 제3 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것이 바람직하다. 이 경우, 통 형상 공간부에 미광이 봉입되게 되고 측정 대상물에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 전술한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치는 면역 크로마토 그래피 시험편을 탑재하는 받침대와, 받침대를 향하여 측정광을 조사하는 조사 광학계와, 받침대 측으로부터 입사하는 광을 검출하는 검출 광학계를 구비하고 있고, 조사 광학계 및 검출 광학계는 받침대에 대하여 소정의 주사 방향으로 상대적으로 이동하고, 조사 광학계는 반도체 발광소자와, 반도체 발광소자로부터의 광을 상기 소정의 방향과 교차하는 방향으로 연장되 는 광속 단면을 갖는 광으로 정형하는 광속 정형 부재와, 광속 정형 부재로부터의 광을 결상시키는 렌즈와, 반도체 발광소자와 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제1 배플부와, 광속 정형 부재와 렌즈와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제2 배플부와, 렌즈와 받침대의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제3 배플부를 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치에서는 면역 크로마토 그래피 시험편에 불필요한 미광이 입사하는 것이 억제되고, 면역 크로마토 그래피 시험편 상에 조사되는 측정광은 선명해져 정색도의 측정 정밀도를 대폭 향상할 수 있다.
도 1은 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치를 나타내는 사시도이다.
도 2는 도 1에 나타낸 광학 헤드 및 면역 크로마토 그래피 시험 용구의 사시도이다.
도 3은 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치에 의해 측정되는 면역 크로마토 그래피 시험 용구의 평면도이다.
도 4는 도 1 및 도 2에 나타낸 광학 헤드의 측면도이다.
도 5는 도 1 및 도 2에 나타낸 광학 헤드의 평면도이다.
도 6은 도 1 및 도 2에 나타낸 광학 헤드의 단면도이다.
도 7은 도 1 및 도 2에 나타낸 광학 헤드의 분해 단면도이다.
도 8은 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치에 포함되는 조사 광학계의 구성을 설명하기 위한 개략도이다.
도 9는 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 시스템 구성도이다.
도 10은 도 3에 나타낸 면역 크로마토 그래피 시험 용구에 포함되는 면역 크로마토 그래피 시험편의 투과광의 흡광 프로파일을 나타내는 선도이다.
도 11은 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 변형예를 나타내는 사시도이다.
도 12는 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 변형예를 나타내는 분해 사시도이다.
도 13은 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 변형예를 나타내는 사시도이다.
도 14는 도 11∼도 13에 나타낸 광학 헤드의 단면도이다.
이하, 도면을 참조하면서 본 발명에 의한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 적합한 실시 형태에 대하여 상세히 설명한다. 또, 설명에 있어서 동일 요소 또는 동일 기능을 갖는 요소에는 동일 부호를 사용하는 것으로 하고 중복하는 설명은 생략한다. 또한, 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치는 본 발명의 실시 형태에 관한 광원 장치를 포함하고 있다.
도 1은 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치를 나 타내는 사시도이고, 도 2는 도 1에 나타낸 광학 헤드 및 면역 크로마토 그래피 시험 용구의 사시도이다. 본 실시 형태의 측정 장치 MD는 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성된 정색 라인 CL에 측정광을 조사하고, 그 반사광의 수광에 의해 정색 라인 CL의 정색도를 측정하는 장치이다. 이 측정 장치 MD는, 도 1에 나타나듯이, 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE를 탑재하는 받침대로서의 탑재 플레이트(11)와, 조사 광학계(21) 및 검출 광학계(31)를 장착하는 광학 헤드(41)와, 탑재 플레이트(11)에 대하여 광학 헤드(41)를 주사 방향으로 이동시키는 주사 기구(12)를 가지고 있다. 조사 광학계(21)는 탑재 플레이트(11)를 향하여 광을 조사함으로써, 탑재 플레이트(11)에 탑재된 면역 크로마토 그래피 시험편(1)으로 측정광을 조사한다. 검출 광학계(31)는 탑재 플레이트(11) 측으로부터의 광이 입사함으로써 면역 크로마토 그래피 시험편(1)으로부터의 반사광을 검출한다.
여기서, 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE는 도 3에도 나타나듯이, 평면에서 보아 직사각형 형상의 케이싱(casing)(3)과, 해당 케이싱(3) 내에 보유되어 있는 면역 크로마토 그래피 시험편(1)을 가지고 있다. 도 3은 면역 크로마토 그래피 시험 용구의 평면도이다.
케이싱(3)에는 그 장변 방향을 따라 검체를 적하시키기 위한 검체 점착 윈도우(window)(5)와, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 정색 부분을 노출시키는 관측용 윈도우(7)가 설치되어 있다. 검체 점착 윈도우(5)를 성형하는 에지부(edge part)(5a∼5d) 및 관측용 윈도우(7)를 성형하는 에지부(7a∼7d)는 면역 크로마토 그래피 시험편(1)으로 향하여 경사져 설치되어 있고, 테이퍼형으로 형성되어 있다. 또, 본 실시 형태의 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE에서, 관측용 윈도우(7)의 일부는 구획부(7e)로 구획되는 것에 의해 컨트롤 윈도우로서 사용된다.
면역 크로마토 그래피 시험편(1)은 니트로셀룰로스 멤브레인 (nitrocellulose membrane)이나 여과지 등의 재질로 이루어지고, 직사각형 형상을 나타내고 있다. 면역 크로마토 그래피 시험편(1)은 검체 점착 윈도우에 대응하는 위치에 설치되는 검체 점착부(1a)와, 관측용 윈도우(7)에 대응하는 위치에 설치되는 검출부(1b)를 가지고 있다. 검출부(1b)는 검체 중의 항원(또는, 항체)과 반응하는 각각의 항체(또는 항원)가 도포되어 고정화되어 있고, 라인 형상(또는, 띠 형상)으로 되어 있다.
검체는 검체 점착 윈도우(5)로부터 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검체 점착부(1a)에 적하된다. 검체 중의 항원(또는 항체)은 표지 색소와 결합하고, 검체 중의 항원(또는 항체)과 표지 색소와의 결합체나 미반응의 표지 색소는 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 장변 방향으로 이동한다. 지금, 만일 검체 중에 항원이 포함되어 있고, 항원이 검출부(1b)와 각각 항원 항체 반응하는 것으로 한다. 검체가 이동함에 따라 검체 중의 항원과 검출부(1b)에 고정되어 있는 항체가 특이적으로 반응하고, 반응한 검출부(1b)에는 표지 색소에 의해 정색한 라인 형상의 패턴(정색 라인 CL)이 형성된다. 이 정색 라인 CL은 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에서의 검체 중의 항원(또는 항체)의 이동 방향과 교차하는 방향(예를 들어, 직교하는 방향)으로 연장되어 형성되고, 관측용 윈도우(7)로부터 관측할 수 있다. 정색 라인 CL의 폭은 통상 1.0mm 정도이다. 또한, 정색 라인 CL의 길이 방향의 길이는 통상 5mm 정도이다.
조사 광학계(21)는, 도 1 및 도 2에 나타나듯이, 반도체 발광소자(23)와, 광속 정형 부재(25)와, 렌즈(27)를 가지고 있고, 이러한 반도체 발광소자(23), 광속 정형 부재(25) 및 렌즈(27)는 광학 헤드(41)에 장착되어 있다. 본 실시 형태에서, 반도체 발광소자(23)로서 발광 다이오드(LED)가 사용되고 있고, 그 사양은 중심 파장 530nm, 휘도 3000mc, 지향각 20°로 설정되어 있다.
광속 정형 부재(25)는 반도체 발광소자(23)로부터의 광을 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성되는 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향, 즉 광학 헤드(41)의 주사 방향으로 교차하는 방향(본 실시 형태에서는 광학 헤드(41)의 주사 방향으로 직교하는 방향)으로 연장되는 광속 단면을 갖는 광으로 정형하기 위한 것이고, 슬릿(slit)(25a)이 형성된 판형 부재로 이루어진다. 슬릿(25a)의 형상은 직사각형 형상(예를 들면, 폭 50㎛, 길이 3mm)으로 설정되어 있다. 슬릿(25a)이 연장되는 방향은 광속 정형 부재(25)가 광학 헤드(41)에 장착된 상태에서, 탑재 플레이트(11)에 탑재된 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE 내의 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성되는 정색 라인 CL과 대략 평행으로 되도록 설정된다. 이에 의해 반도체 발광소자(23)로부터의 광은 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성되는 정색 라인 CL과 평행한 슬릿광으로 된다.
렌즈(27)는 광속 정형 부재(25)로부터의 광(면역 크로마토 그래피 시험편에 형성되는 정색 라인 CL과 대략 평행한 슬릿광)을 탑재 플레이트(11)에 탑재된 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE 내의 면역 크로마토 그래피 시험편(1) 상에 결상시 키기 위한 것이다. 본 실시 형태에서, 렌즈(27)의 초점 거리는 6mm로 설정되어 있고, 면역 크로마토 그래피 시험편(1) 상에 결상된 슬릿 광상의 크기는 폭 50㎛, 길이 3mm가 된다.
검출 광학계(31)는, 도 1 및 도 2에 나타나듯이, 반도체 수광소자(33)를 가지고 있고, 이 반도체 수광소자(33)는 광학 헤드(41)에 장착되어 있다. 본 실시 형태에서, 반도체 수광소자(33)로서 실리콘(Si) 포토다이오드가 사용되고 있다.
광학 헤드(41)는 도 4∼도 7에 나타나듯이, 제1 부재(51), 제2 부재(61)와 통형 부재(71)를 포함하고 있고, 그 상부가 주사 기구(12)를 구성하는 슬라이더 블록(13)에 지지판(14)을 통해 고정됨으로써 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE의 위쪽에 지지되어 있다. 도 4는 도 1 및 도 2에 나타난 광학 헤드의 측면도이고, 도 5는 도 1 및 도 2에 나타난 광학 헤드의 평면도이고, 도 6은 도 1 및 도 2에 나타난 광학 헤드의 단면도이고, 도 7은 도 1 및 도 2에 나타난 광학 헤드의 분해 구성도이다.
제1 부재(51)에는 해당 제1 부재(51)를 관통하도록 소정의 내경(예를 들면, M2 정도)을 갖는 암나사 형상의 제1 구멍부(52)와, 제1 구멍부(52)보다도 큰 내경(예를 들면,φ4mm 정도)을 갖는 제2 구멍부(53)와, 제2 구멍부(53)보다도 큰 내경(예를 들면,φ6mm 정도)을 갖는 제3 구멍부(54)와, 제3 구멍부(54)보다도 큰 내경을 갖는 제4 구멍부(55)(예를 들면, 길이 방향 6.8mm를 갖는 사각형 형상 구멍)와, 제4 구멍부(55)보다도 큰 내경을 갖는 제5 구멍부(56)(예를 들면, 길이 방향 15mm를 갖는 사각형 형상 구멍)가 연속하여 형성되어 있다. 또한, 제1 부재(51)에는 제2 부재(61)를 고정하기 위한 볼트가 나선 결합하는 볼트 구멍(57)이 형성되어 있다. 제1 부재(51)는 제1 구멍부(52)가 탑재 플레이트(plate)(11)(면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE) 측에 위치하고, 또한, 제1∼제5 구멍부(52∼56)의 중심축이 탑재 플레이트(11)(면역 크로마토 그래피 시험편(1))에 대략 직교하도록 배치된다. 또, 렌즈(27)는 제3 구멍부(54)에 삽입된다.
제2 부재(61)는 반도체 발광소자(23)의 광축에 수직인 면에서의 단면이 사각 형상을 나타내고 있고, 해당 제2 부재(61)를 관통하도록 제6 구멍부(62)와, 제7 구멍부(63)와, 제8 구멍부(64)가 연속하여 형성되어 있다. 또, 제2 부재(61)에는 볼트를 삽통하기 위한 관통 구멍(65)이 형성되어 있다. 이 제2 부재(61)는 제1 부재(51)의 제5 구멍부(56)에 내삽되고, 볼트에 의해 제1 부재(51)에 고정된다. 반도체 발광소자(23)는 제6 구멍부(62)에 삽입된다. 제7 구멍부(63)의 내경은 암나사 형상으로 소정의 내경(예를 들면, M3 정도)으로 설정되어 있고, 제8 구멍부(64)의 내경은 제7 구멍부(63)의 내경보다 큰 값(예를 들면,φ5mm 정도)으로 설정되어 있다. 또, 제1 부재(51)의 제5 구멍부(56)는 제2 부재(61)의 형상에 대응하여 사각형 형상 구멍으로 하고 있지만, 이에 한정되지 않고, 제2 부재(61)의 형상에 대응하고, 해당 제2 부재(61)가 내삽 가능한 형상(예를 들면, 원형 형상)을 가지고 있으면 좋다.
통형 부재(71)는 일단측에 암나사 형상으로 소정의 내경(예를 들면, M2 정도)을 갖는 제1 통부분(72)과, 타단측에, 제1 통부분(72)보다도 큰 내경(예를 들면, φ5mm 정도)을 갖는 제2 통부분(73)을 가지고 있다. 통형 부재(71)는 제1 부재 (51)의 제4 구멍부(55)에 내삽된다. 또, 통형 부재(71)는 반도체 발광소자(23)의 광축에 수직인 면에서의 단면에서 보면, 외측 형상은 사각형 형상으로 되어 있다. 또한, 제1 부재(51)의 제4 구멍부(55)는 통형 부재(71)의 형상에 대응하여 사각형 형상 구멍으로 하고 있지만, 이에 한정되지 않고 통형 부재(71)의 형상에 대응하고, 해당 통형 부재(71)가 내삽 가능한 형상(예를 들면, 원형 형상)을 가지고 있으면 좋다.
제1 부재(51)로의 조사 광학계(21)의 각 요소의 조립은 우선, 렌즈(27)를 제3 구멍부(54)에 삽입하고, 그 후 통형 부재(71)를 제4 구멍부(55)에 삽입한다. 이어서 제4 구멍부(55)와 제5 구멍부(56)와의 경계부에 형성되는 단부에 광속 정형 부재(25)를 탑재하고, 제2 부재(61)를 제5 구멍부(56)에 삽입한다. 그리고, 기판(도시하지 않음)에 지지된 반도체 발광소자(23)를 제6 구멍부(62)에 삽입하고, 볼트에 의해 기판 및 제2 부재(61)를 제1 부재(51)에 고정한다. 이때, 렌즈(27)는 제1 부재(51)의 제2 구멍부(53)와 제3 구멍부(54)와의 경계부에 형성되는 단부와 통형 부재(71)의 제1 통부분(72) 사이에 끼워 고정된다. 또한, 광속 정형 부재(25)는 제1 부재(51)의 제4 구멍부(55)와 제5 구멍부(56)와의 경계부에 형성되는 단부와 제2 부재(61) 사이에 끼워 고정된다.
반도체 발광소자(23)로부터 출사된 광은, 도 8에도 나타나듯이, 반도체 발광소자(23) 측으로부터 차례로, 제2 부재(61)의 제7 구멍부(63), 제8 구멍부(64), 슬릿(25a), 통형 부재(71)의 제2 통부분(73), 제1 통부분(72), 렌즈(27), 제1 부재(51)의 제2 구멍부(53) 및 제1 구멍부(52)를 통과하고, 면역 크로마토 그래피 시험 편(1)에 형성된 정색 라인 CL과 대략 평행한 슬릿광으로 되어, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 대략 수직인 방향으로부터 해당 면역 크로마토 그래피 시험편(1)으로 조사된다. 이때, 제7 구멍부(63)는 반도체 발광소자(23)와 광속 정형 부재(25)와의 사이에 배치되고, 미광을 제거하기 위한 통형의 제1 배플부로서 기능한다. 또한, 제1 통부분(72)은 광속 정형 부재(25)와 렌즈(27)와의 사이에 배치되고, 미광을 제거하기 위한 통형의 제2 배플부로서 기능한다. 또한, 제1 구멍부(52)는 렌즈(27)와 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 사이에 배치되고, 미광을 제거하기 위한 통형의 제3 배플부로서 기능한다. 또한, 제8 구멍부(64)에 의해 화상 형성되는 공간부는 제7 구멍부(63)(제1 배플부)와 광속 정형 부재(25)와의 사이에 배치되고, 제7 구멍부(63)보다도 큰 직경의 통 형상 공간부로서 기능한다. 또한, 제2 통부분(73)에 의해 화상 형성되는 공간부는 광속 정형 부재(25)와 제1 통부분(72)(제2 배플부)과의 사이에 배치되고, 제1 통부분(72)의 내경보다도 큰 직경의 통 형상 공간부로서 기능한다. 또한, 제2 구멍부(53)에 의해 화상 형성되는 공간부는 렌즈(27)와 제1 구멍부(52)(제3 배플부)와의 사이에 배치되고, 제1 구멍부(52)보다도 큰 직경의 통 형상 공간부로서 기능한다.
제1 부재(51)에는 해당 제1 부재(51)를 관통하도록 소정의 내경(예를 들면,φ3.2mm 정도)을 갖는 제9 구멍부(58)와, 제9 구멍부(58)보다 큰 내경(예를 들면,φ8mm 정도)을 갖는 제10 구멍부(59)가 연속하여 형성되어 있다. 제9 구멍부(58)는 탑재 플레이트(11)(면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE) 측에 위치하고 있다. 또한, 제9 구멍부(58)는 그 하단부가 제1 구멍부(52)와 면역 크로마토 그래피 시험편 (1)에 형성되는 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향으로 나열되어 있고, 해당 하단부로부터 상기 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향을 따라 기울어진 위쪽으로 연장되어 있다.
반도체 수광소자(33)는 제10 구멍부(59)에 설치된다. 반도체 수광소자(33)는 기판(도시하지 않음)에 지지되어 있고, 해당 기판은 반도체 수광소자(33)를 제10 구멍부(59)에 삽입한 상태로 제1 부재(51)에 볼트 조임에 의해 고정된다. 이에 의해 반도체 수광소자(33)는 면역 크로마토 그래피 시험편(1) 상의 측정광의 조사 위치로부터 면역 크로마토 그래피 시험편(1)으로 형성되는 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향의 기울어진 위쪽에 설치되게 되고, 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향의 기울어진 위쪽으로의 반사광을 검출한다. 제9 구멍부(58)는 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE의 케이싱(3)에서 생기는 미광을 제거하고, 반사광을 콜리메이트(collimate) 하기 위한 콜리메이터(collimater)로서 기능한다.
주사 기구(12)는, 도 1에 나타내듯이, 슬라이더 블록(13)을 탑재 플레이트(11)의 길이 방향, 즉, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성되는 정색 라인 CL을 직각으로 횡단하는 주사 방향으로 슬라이딩(sliding) 가능하게 안내하는 좌우 1쌍의 가이드 레일(15)과, 이 가이드 레일(15)의 길이 방향을 따라 슬라이더 블록(13)의 측면에 형성된 락(16)에 서로 맞물리는 피니언(17)과, 이 피니언(pinion)(17)에 서로 맞물리는 웜기어(worm gear)(18)가 고정된 구동 모터(19) 등을 구비하고 있다.
이 주사 기구(12)에서는 구동 모터(19)에 의해 웜기어(18)가 정회전 방향으 로 회전하면, 피니언(17)이 감속하여 회전 구동되고, 이 피니언(17)에 락(lock)(16)이 서로 맞물리는 슬라이더 블록(13)이 좌우 1쌍의 가이드 레일(15)에 안내되어 주사 방향으로 이동한다. 그 결과, 광학 헤드(41)가 탑재 플레이트(11)에 대하여 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성된 정색 라인 CL을 직각으로 횡단하는 주사 방향으로 이동한다. 즉, 광학 헤드(41)의 주사 방향은 탑재 플레이트(11)에 탑재된 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성되어 있는 정색 라인 CL이 연장되는 방향과 교차한다. 슬릿(25a)이 연장되는 방향과 광학 헤드(41)의 주사 방향과는 교차(본 실시 형태에서는 직교)하고 있고, 광속 정형 부재(25)는 반도체 발광소자(23)로부터의 광을 광학 헤드(41)의 주사 방향과 교차하는 방향으로 연장되는 광속 단면을 갖는 광으로 정형한다.
측정 장치 MD는 주사 기구(12)의 구동 모터(19)의 회전 제어와, 반도체 발광소자(23)의 점등 제어와 반도체 수광소자(33)의 수광 신호의 처리 및 그 처리 결과의 표시를 위해, 도 9에 나타내는 제어부(81) 및 측정 결과 표시부(83)를 가지고 있다. 도 9는 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 시스템 구성도이다.
제어부(81)는 주사 기구(12)의 구동 모터(19)의 정회전, 정지, 역회전의 회전 제어를 행함과 동시에, 구동 모터(19)의 정회전에 의해 광학 헤드(41)가 주사 방향으로 이동하는 동안, 반도체 발광소자(23)를 점등하여 측정광(슬릿광)을 케이싱(3)의 관측용 윈도우(7)에 노출하는 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검출부(1b) 상에 조사시킨다.
또한, 제어부(81)는 반도체 발광소자(23)의 점등에 의해 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검출부(1b)로부터 반사하는 반사광을 수광한 반도체 수광소자(33)로부터 검출 신호를 입력하고, 이 검출 신호에 근거하여, 예를 들면 측정광의 흡광 프로파일(profile)을 작성한다. 그리고, 작성한 흡광 프로파일로부터, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 발색한 정색 라인 CL의 흡광도 ABS를 연산식(1)에 의해 산출한다.
ABS=logTi/To…(1)
또, To는 발색한 정색 라인 CL로부터의 반사광의 출력 신호 강도이고, Ti는 발색이 없는 부분으로부터의 반사광의 출력 신호 강도이다.
그리고, 제어부(81)는 미리 작성된 검량 특성 선도를 참조함으로써, 산출한 흡광도 ABS에 따라 검체 중에 포함되는 항원(또는 항체)의 총량(농도)을 구하고, 이를 측정 결과 표시부(83)에 표시시킨다.
전술한 구성을 갖는 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 측정 장치 MD를 사용하여 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 정색도를 측정하기 위해서는 우선, 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE(도 3 참조)를 준비하고, 검체를 케이싱(3)의 검체 점착 윈도우(5)로부터 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검체 점착부(1a)에 적하한다. 이에 의해 검체가 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검출부(1b)를 향해 전개하고, 검출부(1b)에 띠 형상으로 도포된 항체(또는 항원)와의 사이에 검체 중의 항원(또는 항체)이 항원 항체 반응을 일으켜 트랩됨으로써 색소에 의해 발색한 정색 라인 CL이 형성된다.
이러한 준비 후, 도 1에 나타내듯이, 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE를 탑재 플레이트(11) 상에 탑재하고, 제어부(81)(도 9 참조)에 의해 반도체 발광소자(23)를 점등시킴과 동시에, 구동 모터(19)를 정회전 방향으로 회전시킨다. 이 조작에 의해 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성된 정색 라인 CL과 대략 평행한 슬릿광이 케이싱(3)의 관측용 윈도우(7)를 통해 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검출부(1b)에 조사됨과 동시에, 광학 헤드(41)가 주사 방향을 따라 이동을 개시하여 슬릿 광상이 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검출부(1b) 상을 주사 방향으로 이동하게 된다. 그리고, 반도체 수광소자(33)가, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검출부(1b)로부터 반사하는 반사광 중, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 형성된 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향의 기울어진 위쪽으로의 반사광을 수광하여 검출 신호를 제어부(81)로 출력한다.
검출 신호를 입력한 제어부(81)는 예를 들면 도 10에 나타내는 측정광의 흡광 프로파일을 작성하고, 이 흡광 프로파일로부터, 면역 크로마토 그래피 시험편(1) 상의 정색 라인 CL의 흡광도 ABS를 상기 연산식(1)에 의해 산출한다. 그리고, 제어부(81)는 미리 작성된 검량 특성 선도를 참조함으로써, 산출한 흡광도 ABS에 따라 검체 중에 포함되는 항원(또는 항체)의 총량(농도)을 구하고, 이를 측정 결과 표시부(83)에 표시시킨다.
이와 같이 하여, 본 실시 형태의 측정 장치 MD에 의하면, 케이싱(3) 내에 수용된 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 검출부(1b)에 형성된 정색 라인 CL의 정색도가 측정된다.
이상과 같이, 본 실시 형태에서는 반도체 발광소자(23)와 광속 정형 부재(25)와의 사이에 제7 구멍부(63)(제1 배플부)가 배치되고, 광속 정형 부재(25)와 렌즈(27)와의 사이에 통형 부재(71)의 제1 통부분(72)(제2 배플부)이 배치되고, 렌즈(27)와 면역 크로마토 그래피 시험편(1)(탑재 플레이트(11))의 사이에 제1 구멍부(52)(제3 배플부)가 배치되므로, 이러한 구멍부 및 통부분에 의해 미광의 발생이 억제되게 된다. 또한, 렌즈(27)에 의해 광속 정형 부재(25)로부터의 광(슬릿광)이 면역 크로마토 그래피 시험편(1) 상에 결상된다. 이러한 결과, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 불필요한 미광이 입사하는 것이 억제되고, 면역 크로마토 그래피 시험편(1) 상에 조사되는 측정광(슬릿광)은 선명해져 정색도의 측정 정밀도를 대폭 향상할 수 있다.
그런데, 정색 라인 CL은 해당 정색 라인 CL이 연장되는 방향으로 정색 얼룩을 갖는 것이 있다. 그렇지만, 본 실시 형태에서는 조사 광학계(21)에 의해 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향으로 연장되는 슬릿광이 정색 라인 CL에 겹쳐지도록 조사되므로, 정색 얼룩이 발생한 경우에서도 정색 얼룩이 광학적으로 평균화되어, 정색 얼룩이 광학적으로 평균화된 반사광이 반도체 수광 소자(33)에 입사 되게 되고, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 정색도를 정밀도 좋게 측정할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서 광학 헤드(41)는 제7 구멍부(63)와 광속 정형 부재(25)와의 사이에 배치되고, 제7 구멍부(63)보다도 큰 직경의 제8 구멍부(64)를 가지고 있다. 이에 의해 조사 광학계(21)는 제8 구멍부(64)에 의해 화상 형성되는 공간부(통 형상 공간부)를 가지도록 구성된다. 이 결과, 이 제8 구멍부(64)에 의해 화상 형성되는 공간부에 미광이 봉입되게 되고, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서 광학 헤드(41)는 광속 정형 부재(25)와 통형 부재(71)의 제1 통부분(72)과의 사이에 배치되고, 제1 통부분(72)보다도 큰 내경의 제2 통부분(73)을 가지고 있다. 이에 의해 조사 광학계(21)는 제2 통부분(73)에 의해 화상 형성되는 공간부(통 형상 공간부)를 가지도록 구성된다. 이 결과, 이 제2 통부분(73)에 의해 화상 형성되는 공간부에 미광이 봉입되게 되어 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서 광학 헤드(41)는 렌즈(27)와 제1 구멍부(52)와의 사이에 배치되고, 제1 구멍부(52)보다도 큰 직경의 제2 구멍부(53)를 가지고 있다. 이에 의해 조사 광학계(21)는 제2 구멍부(53)에 의해 화상 형성되는 공간부(통 형상 공간부)를 가지도록 구성된다. 이 결과, 이 제2 구멍부(53)에 의해 화상 형성되는 공간부에 미광이 봉입되게 되어 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 억제할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서 조사 광학계(21)는 광학 헤드(41)에 장착되어 있고, 해당 광학 헤드(41)는 제1 구멍부(52), 제2 구멍부(53), 제3 구멍부(54), 제4 구멍부(55) 및 제5 구멍부(56)가 연속하여 형성된 제1 부재(51)와, 제5 구멍부(56)에 내삽되고, 제6 구멍부(62) 및 제7 구멍부(63)가 연속하여 형성된 제2 부재(61)와, 제4 구멍부(55)에 내삽되는 통형 부재(71)를 포함하고 있다. 그리고, 제2 구멍부(53)와 제3 구멍부(54)와의 경계부에 형성되는 단부와 통형 부재(71)로 렌즈(27)가 고정되고, 제4 구멍부(55)와 제5 구멍부(56)와의 경계부에 형성되는 단부와 제2 부재(61)로 광속 정형 부재(25)가 고정되어 있다. 이에 의해 조사 광학계(21)를 상기 광학 헤드(41)에 조립하여 유닛화할 수 있고, 구조의 간소화를 도모할 수 있음과 동시에, 반도체 발광소자(23), 광속 정형 부재(25) 및 렌즈(27)를 용이하게 조립할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서, 제1 구멍부(52), 제7 구멍부(63) 및 통형 부재(71)의 제1 통부분(72)의 내측에는 암나사가 형성되어 있다. 이에 의해 암나사를 형성한다는 매우 간이한 구성으로 면역 크로마토 그래피 시험편(1)에 불필요한 미광이 입사하는 것을 보다 한층 효과적으로 억제할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서 측정 장치 MD는 조사 광학계(21) 및 검출 광학계(31)가 장착되는 광학 헤드(41)와, 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE(면역 크로마토 그래피 시험편(1))를 탑재하기 위한 탑재 플레이트(11)와, 정색 라인 CL을 횡단하는 주사 방향으로 탑재 플레이트(11)와 광학 헤드(41)를 상대 이동시키는 주사 기구(12)를 가지고 있다. 이에 의해 광학 헤드(41)에 조사 광학계(21) 및 검출 광학계(31)가 장착되어 있으면, 구조가 간소하게 되고, 더욱이, 광학 헤드(41)를 주사 방향으로 이동시키는 경우의 주사 기구(12)가 1 계통으로 끝나, 주사 기구(12)의 구조나 그 제어계의 구성이 간단하게 된다.
또한, 본 실시 형태에서 반도체 발광소자(23)로서 발광 다이오드를 사용하고 있다. 이에 의해 광원의 광강도를 높일 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서 광속 정형 부재(25)로서 면역 크로마토 그래피 시험 편(1)에 형성되는 정색 라인 CL과 대략 평행한 방향으로 연장되는, 즉, 광학 헤드(41)의 주사 방향과 교차하는 방향으로 성장하는 슬릿(25a)이 형성된 판형 부재를 사용하고 있다. 이에 의해 광속 정형 부재(25)의 구조를 간소화 할 수 있다.
다음에, 도 11∼도 14를 참조하여, 본 실시 형태의 측정 장치 MD의 변형예를 설명한다. 도 11 및 도 13은 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 변형예를 나타내는 사시도이다. 도 12는 본 실시 형태에 관한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치의 변형예를 나타내는 분해 사시도이다. 도 14는 도 11∼도 13에 나타낸 광학 헤드의 단면도이다.
변형예에 관한 측정 장치 MD는 하면이 개구한 상자 형상을 갖는 케이스(도시하지 않음)와, 케이스의 통로를 막는 베이스 플레이트(base plate)(101)를 구비한다. 베이스 플레이트(101)에는 상기 제어부(81)를 구성하는 CPU 등이 탑재된 제1 기판(103)과, 주사 기구(12)가 배치되는 섀시(chassis)(105)가 고정되어 있다. 섀시(105)는 단면이 대략 직사각형으로 된 통 형상을 나타내고 있고, 베이스 플레이트(101)와 대향하여 배치되는 저부(107)와, 저부(107)의 양단으로부터 각각 연장되는 1쌍의 종벽부(109)와, 저부(107)와 대향하고 또한 각 종벽부(縱壁部)(109)에 접속되는 정부(111)를 포함하고 있다. 정부(111)는 종벽부(109)에 대하여 탈착 가능하게 되어 있다.
섀시(105)에는 트레이(tray)(113)가 섀시(105)의 길이 방향으로 슬라이드 가능하게 배치되어 있다. 종벽부(109)는 트레이(113)를 사이에 두고, 해당 트레이(13)의 양측에 위치하고 있다. 또, 도 11 및 도 12는 트레이(113)가 섀시(105)로부 터 인출된 상태를 나타내고, 도 13은 트레이(113)가 섀시(105) 중에 도입된 상태를 나타내고 있다. 트레이(113)에는 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE를 보유하는 홀더(holder)(115)가 탑재된다.
트레이(113)는 섀시(10)에 대하여 착탈 가능하고, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)을 탑재하는 받침대로서 기능한다. 트레이(113)에는 홀더(115)를 위치 결정하기 위한 위치 결정편(113a)이 설치되어 있다. 각각의 종벽부(109)에는 트레이(113)를 적절히 슬라이드시키기 위한 규제편(109a)이 설치되어 있다. 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE를 보유한 홀더(115)를 탑재한 트레이(113)가 섀시(105) 내에 도입된 상태에서는 트레이(113) 및 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE가 종벽부(109) 및 정부(111)로 둘러싸이게 된다. 이에 의해 섀시(105)의 밖으로부터 면역 크로마토 그래피 시험 용구 TE(면역 크로마토 그래피 시험편(1))에 광이 입사하는 것을 억제할 수 있어 면역 크로마토 그래피 시험편의 정색도의 측정 정밀도를 대폭 향상할 수 있다.
정부(111)에는 노치(notch)(111a)가 섀시(105)의 길이 방향으로 연장되도록 형성되어 있다. 정부(111)의 상면에는 노치(111a)를 사이에 두도록 하여, 1쌍의 가이드 레일(rail)(15)이 고정되어 있다. 슬라이더 블록(13)은 노치(111a)의 위쪽에 위치하고, 노치(111a)가 연장되는 방향, 즉 섀시(105)의 길이 방향으로 이동 가능하다. 슬라이더 블록(13)에는 광학 헤드(41)를 부착하기 위한 브래킷(bracket)(117)이 고정된다.
구동 모터(19)는 섀시(105) 내에 배치되어 있다. 피니언(17)은 종벽부(109) 로부터 정부(111)에 걸쳐 형성된 구멍(119)을 통해, 그 상부가 정부(111)에 위치하도록 배치되어 있다. 피니언(17)의 상부는 슬라이더 블록(13)에 형성된 락(16)에 서로 맞물린다. 피니언(17)의 하부는 구동 모터(19)의 회전축에 고정된 웜기어(worm gear)(18)에 서로 맞물린다.
광학 헤드(41)는 노치(111a)를 통해 성장하는 브래킷(117)에 고정되어 있다. 이에 의해 광학 헤드(41)는 슬라이더 블록(13)의 이동에 따라 섀시(105)의 내측을 해당 섀시(105)의 길이 방향을 따라 이동하게 된다. 이에 의해 섀시(105)의 밖으로부터 반도체 수광소자(33)에 광이 입사하는 것을 억제할 수 있고, 면역 크로마토 그래피 시험편(1)의 정색도의 측정 정밀도를 대폭 향상할 수 있다. 광학 헤드(41)의 주사 방향은 섀시(105)의 길이 방향과 일치한다.
광학 헤드(41)에는 반도체 발광소자(23)의 발광을 제어하기 위한 구동 회로가 형성된 제2 기판(121)이 고정되어 있다. 이 제2 기판(121)은 금속제의 커버(cover)(123)로 보호되어 있다. 제1 기판(103)과 제2 기판(121)과는 가요성 및 탄력성을 갖는 통신 케이블(125)로 전기적으로 접속되어 있다.
통신 케이블(125)은 한쪽의 종벽부(109)에 형성된 구멍(127)으로부터 섀시(105)의 내측에 이르고, 섀시(105)의 내측을 한쪽의 종벽부(109)를 따라 해당 섀시(105)의 길이 방향으로 연장되어, 한쪽의 종벽부(109)의 끝단으로부터 다른 한쪽의 종벽부(109)(제2 기판(121))를 향하여 섀시(105)의 외측을 통해 만곡하도록 설치되어 있다. 통신 케이블(125)에서의 섀시(105) 중에 위치하는 부분은 한쪽의 종벽부(109)에 접착 등에 의해 고정되어 있다.
통신 케이블(125)에서의 한쪽의 종벽부(109)에 고정된 부분으로부터 제2 기판(121)까지의 길이는 광학 헤드(41)(제2 기판(121))의 이동 거리를 고려하여 설정할 필요가 있다. 이와 같이, 섀시(105)의 내측을 통해 통신 케이블(125)을 배치함으로써, 통신 케이블(125)의 길이가 짧게 되어 엉킴이나 절곡, 말림 등을 막을 수 있다.
변형예에서의 광학 헤드(41)는 도 14에 나타나듯이, 반도체 발광소자(23) 및 반도체 수광소자(33)가, 각각 1쌍씩 설치되어 있다. 즉, 상기 조사 광학계와 검출 광학계가 1쌍 설치되게 되고, 1개의 면역 크로마토 그래피 시험 용구에 수용된 2장의 면역 크로마토 그래피 시험편의 정색도를 동시에 측정할 수 있다.
변형예에 관한 측정 장치 MD에서는 슬라이더 블록(13) 및 1쌍의 가이드 레일(15)은 정부(頂部)(111)에서의 1쌍의 종벽부(109) 및 정부(111)에 의해 둘러싸이는 공간과는 반대의 면 상에 배치되어 있고, 정부(111)에는 1쌍의 가이드 레일(15)에 의해 사이에 끼워지는 위치에, 광학 헤드(41)의 주사 방향으로 연장되는 노치(111a)가 형성되고, 광학 헤드(41)와 슬라이더 블록(13)과는 노치를 통해 접속되어 고정되어 있다. 이에 의해 광학 헤드(41)를 섀시의 내측, 즉 1쌍의 종벽부(109) 및 정부(111)에 의해 둘러싸이는 공간 내에 주사 방향으로 확실하게 이동시킬 수 있는 구성을 간이하고 또한 저비용으로 실현할 수 있다.
상기 실시 형태 및 그 변형예에 관한 측정 장치 MD에서는 광학 헤드(41)가 탑재 플레이트(11) 혹은 트레이(113)에 대하여 주사 방향으로 이동한다. 이 때문에, 측정 장치 MD는 탑재 플레이트(11) 혹은 트레이(113)가 광학 헤드(41)에 대하 여 주사 방향으로 이동하는 형식의 측정 장치에 비해 탑재 플레이트(11) 혹은 트레이(113) 측의 구성이 간소화되게 되고, 탑재 플레이트(11) 혹은 트레이(113)가 더러워진 경우에서도 비교적 용이하게 세정할 수 있다. 이 결과, 측정 장치 MD는 위생적으로도 뛰어나다.
또한, 변형예에 관한 측정 장치 MD에서는 트레이(113)는 섀시(105)에 대하여 착탈 가능하다. 이에 의해 트레이(113)를 용이하게 세정할 수 있어 위생적으로 보다 한층 뛰어나다.
본 발명은 전술한 실시 형태에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 반도체 발광소자(23)로서 발광 다이오드 대신에 레이저 다이오드 등의 그 밖의 반도체 발광소자를 사용해도 좋다. 또한, 반도체 수광소자(33)로서 Si 포토다이오드 대신에 포토 트랜지스터, CCD 이미지 센서 등의 그 밖의 반도체 수광소자를 사용해도 좋다.
또, 본 실시 형태에서는 상기 배플부로서 모두 암나사 형상을 형성하고 있지만, 배플부로서 기능하는 것이면, 각각의 구멍부 및 통부분과 다른 내경의 평판을 형성하는 등 여러가지 구성을 채용할 수 있다.
본 발명은 임신 검사, 변잠혈(便潛血) 검사 등에 사용되는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치에 이용할 수 있다.

Claims (16)

  1. 면역 크로마토 그래피 시험편에 측정광을 조사하는 조사 광학계와, 상기 측정광의 조사에 의한 상기 면역 크로마토 그래피 시험편으로부터의 반사광을 검출하는 검출 광학계를 구비한 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치에 있어서,
    상기 조사 광학계는,
    반도체 발광소자와,
    상기 반도체 발광소자로부터의 광을 상기 면역 크로마토 그래피 시험편에 형성되는 정색 라인과 대략 평행한 방향으로 연장되는 광속 단면을 갖는 광으로 정형하기 위한 광속 정형 부재와,
    상기 광속 정형 부재로부터의 광을 상기 면역 크로마토 그래피 시험편 상에 결상시키기 위한 렌즈와,
    상기 반도체 발광소자와 상기 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제1 배플부와,
    상기 광속 정형 부재와 상기 렌즈와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제2 배플부와,
    상기 렌즈와 상기 면역 크로마토 그래피 시험편의 사이에 배치되고, 미광을 제거하기 위한 통형의 제3 배플부를 갖는 동시에 광학 헤드에 장착되어 있고, 해당 광학 헤드는,
    상기 제3 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제1 구멍부와, 상기 제1 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제2 구멍부와, 상기 제2 구멍부보다도 큰 내경을 가지고 상기 렌즈가 삽입되는 제3 구멍부와, 상기 제3 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제4 구멍부와, 상기 제4 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제5 구멍부가 연속하여 형성된 제1 부재와,
    상기 제5 구멍부에 내삽되고, 상기 반도체 발광소자가 삽입되는 제6 구멍부와 상기 제1 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제7 구멍부가 연속하여 형성된 제2 부재와,
    상기 제4 구멍부에 내삽되고, 일단측 부분이 상기 제2 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 통형 부재를 포함하며,
    상기 제2 구멍부와 상기 제3 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 상기 통형 부재로 상기 렌즈가 고정되고,
    상기 제4 구멍부와 상기 제5 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 상기 제2 부재로 상기 광속 정형 부재가 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 조사 광학계는 상기 제1 배플부와 상기 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고, 상기 제1 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 조사 광학계는 상기 광속 정형 부재와 상기 제2 배플부와의 사이에 배치되고, 상기 제2 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 조사 광학계는 상기 렌즈와 상기 제3 배플부와의 사이에 배치되고, 상기 제3 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제2 부재에는 상기 제7 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제8 구멍부가 해당 제7 구멍부에 연속하여 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 통형 부재는 타단측 부분의 내경이 상기 일단측 부분의 내경보다도 크게 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 구멍부, 상기 제7 구멍부 및 상기 통형 부재의 상기 일단측 부분의 내측에는 암나사가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 광학 헤드에는 상기 검출 광학계가 더 장착되어 있고,
    상기 면역 크로마토 그래피 시험편을 탑재하기 위한 탑재 플레이트와,
    상기 정색 라인을 횡단하는 주사 방향으로 상기 탑재 플레이트와 상기 광학 헤드를 상대 이동시키는 주사 기구를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 반도체 발광소자는 발광 다이오드인 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 광속 정형 부재는 상기 면역 크로마토 그래피 시험편에 형성되는 상기 정색 라인과 대략 평행한 방향으로 연장되는 슬릿이 형성된 판형 부재인 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  11. 측정 대상물에 슬릿광을 조사하는 광원 장치에 있어서,
    반도체 발광소자와,
    상기 반도체 발광소자로부터의 광을 슬릿광으로 정형하기 위한 광속 정형 부재와,
    상기 광속 정형 부재로부터의 광을 상기 측정 대상물 상에 결상시키기 위한 렌즈와,
    상기 반도체 발광소자와 상기 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고, 미광을 제거하기 위한 통형의 제1 배플부와,
    상기 광속 정형 부재와 상기 렌즈와의 사이에 배치되고, 미광을 제거하기 위한 통형의 제2 배플부와,
    상기 렌즈와 상기 측정 대상물의 사이에 배치되고, 미광을 제거하기 위한 통형의 제3 배플부를 갖는 동시에 광학 헤드에 장착되어 있고, 해당 광학 헤드는,
    상기 제3 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제1 구멍부와, 상기 제1 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제2 구멍부와, 상기 제2 구멍부보다도 큰 내경을 가지고 상기 렌즈가 삽입되는 제3 구멍부와, 상기 제3 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제4 구멍부와, 상기 제4 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제5 구멍부가 연속하여 형성된 제1 부재와,
    상기 제5 구멍부에 내삽되고, 상기 반도체 발광소자가 삽입되는 제6 구멍부와 상기 제1 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제7 구멍부가 연속하여 형성된 제2 부재와,
    상기 제4 구멍부에 내삽되고, 일단측 부분이 상기 제2 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 통형 부재를 포함하며,
    상기 제2 구멍부와 상기 제3 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 상기 통형 부재로 상기 렌즈가 고정되고,
    상기 제4 구멍부와 상기 제5 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 상기 제2 부재로 상기 광속 정형 부재가 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 광원 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제1 배플부와 상기 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고, 상기 제1 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 광원 장치.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 광속 정형 부재와 상기 제2 배플부와의 사이에 배치되고, 상기 제2 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 광원 장치.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 렌즈와 상기 제 3 배플부와의 사이에 배치되고, 상기 제3 배플부보다도 큰 직경의 통 형상 공간부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 광원 장치.
  15. 면역 크로마토 그래피 시험편을 탑재하는 받침대와,
    상기 받침대를 향하여 측정광을 조사하는 조사 광학계와,
    상기 받침대 측으로부터 입사하는 광을 검출하는 검출 광학계를 구비하고 있고,
    상기 조사 광학계 및 검출 광학계는 상기 받침대에 대하여 소정의 주사 방향으로 상대적으로 이동하고,
    상기 조사 광학계는 반도체 발광소자와,
    상기 반도체 발광소자로부터의 광을 상기 소정의 주사 방향과 교차하는 방향으로 연장되는 광속 단면을 갖는 광으로 정형하는 광속 정형 부재와,
    상기 광속 정형 부재로부터의 광을 결상시키는 렌즈와,
    상기 반도체 발광소자와 상기 광속 정형 부재와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제1 배플부와,
    상기 광속 정형 부재와 상기 렌즈와의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제2 배플부와,
    상기 렌즈와 상기 받침대의 사이에 배치되고 미광을 제거하기 위한 통형의 제3 배플부를 갖는 동시에 광학 헤드에 장착되어 있고, 해당 광학 헤드는,
    상기 제3 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제1 구멍부와, 상기 제1 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제2 구멍부와, 상기 제2 구멍부보다도 큰 내경을 가지고 상기 렌즈가 삽입되는 제3 구멍부와, 상기 제3 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제4 구멍부와, 상기 제4 구멍부보다도 큰 내경을 갖는 제5 구멍부가 연속하여 형성된 제1 부재와,
    상기 제5 구멍부에 내삽되고, 상기 반도체 발광소자가 삽입되는 제6 구멍부와 상기 제1 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 제7 구멍부가 연속하여 형성된 제2 부재와,
    상기 제4 구멍부에 내삽되고, 일단측 부분이 상기 제2 배플부로서 기능하도록 소정의 내경을 갖는 통형 부재를 포함하며,
    상기 제2 구멍부와 상기 제3 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 상기 통형 부재로 상기 렌즈가 고정되고,
    상기 제4 구멍부와 상기 제5 구멍부와의 경계부에 형성되는 단부와 상기 제2 부재로 상기 광속 정형 부재가 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 면역 크로마토 그래피 시험편의 측정 장치.
  16. 삭제
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