KR101028594B1 - 프로그래머 장치 - Google Patents

프로그래머 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101028594B1
KR101028594B1 KR1020080132385A KR20080132385A KR101028594B1 KR 101028594 B1 KR101028594 B1 KR 101028594B1 KR 1020080132385 A KR1020080132385 A KR 1020080132385A KR 20080132385 A KR20080132385 A KR 20080132385A KR 101028594 B1 KR101028594 B1 KR 101028594B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
read
verification
semiconductor device
microcomputer
Prior art date
Application number
KR1020080132385A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20100073662A (ko
Inventor
김지만
Original Assignee
(주) 컴파스 시스템
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 컴파스 시스템 filed Critical (주) 컴파스 시스템
Priority to KR1020080132385A priority Critical patent/KR101028594B1/ko
Publication of KR20100073662A publication Critical patent/KR20100073662A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101028594B1 publication Critical patent/KR101028594B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1004Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's to protect a block of data words, e.g. CRC or checksum
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1076Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2284Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by power-on test, e.g. power-on self test [POST]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/30Arrangements for executing machine instructions, e.g. instruction decode
    • G06F9/38Concurrent instruction execution, e.g. pipeline or look ahead
    • G06F9/3885Concurrent instruction execution, e.g. pipeline or look ahead using a plurality of independent parallel functional units
    • G06F9/3887Concurrent instruction execution, e.g. pipeline or look ahead using a plurality of independent parallel functional units controlled by a single instruction for multiple data lanes [SIMD]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/44Arrangements for executing specific programs
    • G06F9/451Execution arrangements for user interfaces
    • G06F9/453Help systems
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M13/00Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes
    • H03M13/03Error detection or forward error correction by redundancy in data representation, i.e. code words containing more digits than the source words
    • H03M13/05Error detection or forward error correction by redundancy in data representation, i.e. code words containing more digits than the source words using block codes, i.e. a predetermined number of check bits joined to a predetermined number of information bits
    • H03M13/09Error detection only, e.g. using cyclic redundancy check [CRC] codes or single parity bit
    • H03M13/095Error detection codes other than CRC and single parity bit codes
    • H03M13/096Checksums

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Probability & Statistics with Applications (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

본 발명은, 탑재되는 프로그램 대상인 복수 개의 반도체 디바이스와, 각각의 반도체 디바이스에 대응하여 설치되어 상기 반도체 디바이스에 데이터 프로그램 또는 데이터 소거를 수행하는 복수 개의 FPGA와, 상기 복수의 FPGA를 제어하여 복수 개의 반도체 디바이스에 대한 프로그램 과정 또는 데이터 소거 과정을 제어하는 마이컴을 구비하여 구성되되, 상기 FPGA는 상기 마이컴의 제어에 따라 상기 반도체 디바이스에 데이터 프로그램후 또는 데이터 소거후, 데이터의 검증을 위한 읽기(read)시에 데이터 읽기와 동시에 데이터 검증을 위한 CheckSum과 CRC를 하드웨어적으로 연산처리하는 프로그래머 장치를 제공한다.

Description

프로그래머 장치 {Programmer}
본 발명은 프로그래머 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 프로그램 및 데이터저장 가능한 반도체장치(이하, "반도체 디바이스"라고 한다)의 복수 개를 한번에 데이터 프로그램(write)후 또는 데이터 소거(erase)후 검증을 위한 읽기(read)시에 데이터 검증을 FPGA(Field Programmable Gate Array)에서 하드웨어적으로 연산처리하도록 하여 데이터 읽기와 동시에 데이터 검증이 이루어지도록 구성된 프로그래머 장치에 관한 것이다.
종래, ROM과 NOR 플래시 메모리 및 NAND 플래시 메모리 등과 이를 내장하는 반도체장치(이하, 모두 "반도체 디바이스"라고 한다)는 프로그래머(예를 들면 ROM 라이터 또는 프래시 메모리 라이터)에서 16갱(Gang)까지 병렬로 프로그램(write) 및 데이터 검증(verify)을 각각 실시했다. 이러한 프로그래머에서는 프로그램 기능 수행시에 순차 수행이 아닌 병렬 처리로 1갱 처리와 16갱 처리 간에 시간 차이가 거의 없으며, 또한 1갱 마다 1개의 반도체 디바이스인 타겟 디바이스(Target Device)에 프로그램(write), 읽기(read) 및 데이터 검증(verify) 기능이 가능하도록 구성되어 있다.
도 1에 도시한 바와 같이, 종래 프로그래머 장치는, 프로그램할 N개의 반도체 디바이스인 타겟 디바이스(30_1~30_N; 30)를 탑재하고, 미도시한 모드설정부를 통하여 프로그램모드를 설정하면 마이컴(10)은 미도시한 버퍼 메모리에 저장된 데이터를 읽어와서 병렬로 N개의 FPGA(20_1~20_N; 20)에 전달하고 FPGA(20_1~20_N; 20)에 의하여 데이터를 타겟 디바이스(반도체 디바이스)(30_1~30_N; 30)에 동시에 프로그램(write)하게 된다(파란색의 점선 참조).
그후, 타겟 디바이스(반도체 디바이스)(30_1~30_N; 30)에 프로그램한 내용을 검증할 때는 모든 내용을 미도시한 버퍼 메모리 내용과 비교해서 이상 유무를 알려 주어야 한다. 즉, 프로그램한 내용의 이상 유무를 확인하기 위해서는 모든 타겟 디바이스(반도체 디바이스)(30_1~30_N; 30)에 저장된 내용을 읽어 와서 버퍼 메모리의 내용과 비교하여 이상 유무를 알려 주어야 한다. 이때는 순차적으로 각 갱(gang)마다 개별적으로 읽기(read)하여 데이터 검증(verify; CheckSum 및 CRC)을 마이컴(10)에서 소프트웨어적으로 연산처리하도록 되어 있다(빨강색의 점선 참조). 이에 따라 마이컴(10)은 N개의 타겟 디바이스(반도체 디바이스)(30_1~30_N; 30)에 대하여 N번의 데이터 검증과정을 수행하여야 하므로 마이컴(10)의 부하가 많이 걸리게 된다는 문제가 있다.
따라서, 본 발명은 프로그램 및 데이터저장 가능한 반도체장치(이하, "반도체 디바이스"라고 한다)의 복수 개를 한번에 데이터 프로그램(write)후 또는 데이터 소거후 데이터의 검증을 위한 읽기(read)시에 데이터 검증(verify; CheckSum 및 CRC)을 FPGA에서 하드웨어적으로 연산처리하도록 하여 마이컴의 부하를 줄이며, 또한 데이터 읽기와 동시에 데이터 검증이 이루어지도록 하여 데이터 검증 시간을 단축할 수 있도록 된 프로그래머 장치를 제공하고자 함에 그 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 프로그래머 장치는, 탑재되는 프로그램 대상인 복수 개의 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)와, 각각의 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)에 대응하여 설치되어 상기 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)에 데이터 프로그램 또는 데이터 소거를 수행하는 복수 개의 FPGA(200_1~200_N; 200)와, 상기 복수의 FPGA(200_1~200_N; 200)를 제어하여 복수 개의 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)에 대한 프로그램 과정 또는 데이터 소거과정을 제어하는 마이컴(100)을 구비하여 구성되되; 상기 FPGA(200_1~200_N; 200)는, 상기 마이컴(100)의 제어에 따라 상기 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)에 데이터 프로그램후 또는 데이터 소거후, 데이터의 검증을 위한 읽기(read)시에 데이터 읽기와 동시에 데이터 검증을 위한 CheckSum과 CRC를 하드웨어적으로 연산처리하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 FPGA(200_1~200_N; 200)는, 듀얼포트 램(210)과, 플래시 메모리 엔진이 내장된 컨트롤러(230)와, 데이터 검증(CheckSum/CRC) 연산을 수행하는 데이터 검증 컴퓨팅 로직(240)과, 누적 연산결과를 저장하는 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼(220)를 포함하여 구성된다.
또한, 상기 컨트롤러(230)는, 상기 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)에 대한 데이터 프로그램후 또는 데이터 소거후 상기 마이컴(100)으로부터 데이터 검증(Check-SUM, CRC) 연산을 하도록 하는 신호와 데이터 읽기 요청신호가 입력되면, 플래시 메모리 엔진을 인에이블하도록 하는 제1과정과, 상기 듀얼포트 램(210)에서 읽기 및 데이터 검증 동작에 필요한 각종 파라미터를 해독하는 제2과정과, 상기 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)에 데이터 읽기 명령 신호를 전송하여 상기 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)로부터 데이터를 읽어와서 상기 듀얼포트 램(210)에 저장하는 제3과정과, 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증 연산을 진행하도록 상기 데이터 검증 컴퓨팅 로직(240)을 제어하여 상기 데이터 검증 컴퓨팅 로직(240)에서 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증 연산을 수행한 후에 누적 연산 결과를 상기 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼(220)에 저장하도록 하는 제4과정을 수행하되, 상기 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)의 전체 데이터 영역을 읽을 때까지 상기 제3과정과 제4과정을 반복하여 수행하며, 상기 마이컴(100)은 상기 FPGA(200_1~200_N; 200)에서 상기 반도체 디바이스(300_1~300_N; 300)의 전체 데이터 영역에 대한 데이터 검증 연산이 완료된 후에 상기 FPGA(200_1~200_N; 200)의 어큐레이트 컴퓨팅 버퍼(220)에 저장된 최종 누적 연산 결과를 읽어와서 원본 검 증(Check-SUM, CRC) 데이터와 비교하여 검증을 완료한다.
상기와 같이 구성된 본 발명에 의하면, 복수 개의 반도체 디바이스를 한번에 데이터 프로그램(write)한 후에 또는 데이터 소거 후에 데이터의 검증을 위한 읽기(read)시에 데이터 검증을 FPGA에서 하드웨어적으로 연산처리하도록 함으로써 마이컴의 부하를 줄일 수 있게 된다. 또한, FPGA에서 데이터 검증을 위한 데이터 읽기와 동시에 데이터 검증이 이루어지므로 데이터 검증 시간을 단축할 수 있게 된다.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 프로그래머 장치에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명에 따른 프로그램장치의 데이터 쓰기(program) 및 데이터 검증 과정을 설명하기 위한 도면이다.
동 도면에 도시한 바와 같이, 본 발명의 프로그래머 장치는, 프로그램할 N개의 반도체 디바이스인 타겟 디바이스(반도체 디바이스)(300_1~300_N; 300)를 탑재하고, 미도시한 모드설정부를 통하여 프로그램모드를 설정하면 마이컴(10)은 미도시한 버퍼 메모리에 저장된 데이터를 읽어와서 병렬로 N개의 FPGA(200_1~200_N; 200)에 전달하고 FPGA(200_1~200_N; 200)에 의하여 데이터를 타겟 디바이스(300_1~300_N; 300)에 동시에 프로그램(write)하게 된다(파란색의 점선 참조).
그후, 타겟 디바이스(반도체 디바이스)(300_1~300_N; 300)에 프로그램한 내 용을 검증할 때는 순차적으로 각 갱(gang)마다 개별적으로 읽기(read)와 동시에 데이터 검증(verify; CheckSum 및 CRC)을 FPGA(200_1~200_N; 200)에서 하드웨어적으로 연산처리하도록 되어 있다(빨강색의 점선 참조).
따라서, 본 발명에서는 데이터 읽기(read)와 동시에 데이터 검증을 FPGA에서 하드웨어적으로 수행하게 되므로 마이컴의 부하를 줄일 수 있게 되고, 전체적인 데이터 검증 시간도 단축할 수 있게 된다.
도 3은 본 발명에 따른 프로그램 장치에서 데이터 검증 절차를 설명하기 위한 구체적인 블록 구성을 도시한 도면이다.
동 도면에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 FPGA(200)는 듀얼포트 램(210)과, 플래시 메모리 엔진이 내장된 컨트롤러(230)와, 데이터 검증 연산을 수행하는 데이터 검증(CheckSum/CRC) 컴퓨팅 로직(240)과, 누적 연산결과를 저장하는 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼(220)를 포함하여 구성된다.
본 발명에 따른 프로그램 장치의 데이터 검증 절차에서, 먼저 마이컴(100)은 데이터 검증(Check-SUM, CRC) 연산을 하도록 FPGA(200)의 컨트롤러(230)의 플래시 메모리 엔진을 인에이블하도록 요청한다(①)
그후, 마이컴(100)은 FPGA(200)에 데이터 읽기를 하도록 요청한다(②). 이에 따라, FPGA(200)의 컨트롤러(230)는 듀얼포트 램(210)에서 읽기 및 데이터 검증 동작에 필요한 각종 파라미터를 해독한다(③).
이어, FPGA(200)의 컨트롤러(230)는 타겟 디바이스(300)에 데이터 읽기 명령 신호를 전송하고(④), 이에 따라 타겟 디바이스(300)로부터 데이터를 읽어오며(⑤) 또한 이 읽어온 데이터를 듀얼포트 램(210)에 저장한다(⑥).
그후, FPGA(200)의 컨트롤러(230)는 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증(Check-SUM, CRC) 연산을 진행하도록 데이터 검증 컴퓨팅 로직(240)을 제어하고(⑦), 이에 따라 데이터 검증 컴퓨팅 로직(240)에서 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증 연산을 수행한 후에 누적 연산 결과를 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼(220)에 저장하도록 한다(⑧).
이어, 타겟 디바이스(300)의 전체 데이터영역을 읽을 때까지 상기한 ④, ⑤, ⑥, ⑦, ⑧의 과정을 반복한다.
그후, 타겟 디바이스(300)의 전체 데이터영역의 데이터에 대한 검증이 완료되면, 상기 마이컴(100)은 FPGA(200)의 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼(220)에 저장된 최종 누적 연산 결과를 읽어와서 원본 검증(Check-SUM, CRC) 데이터와 비교하여 검증을 완료한다(⑨).
도 4는 본 발명에 따른 프로그램 장치에서 데이터 읽기 타이밍 차트이다.
동 도면에서, 구간 ①은 리드 데이터 셋업 시간(Read Data Setup Time)으로, 타겟 디바이스(300)에 OE(Out enable) 신호가 입력된 후 데이터가 타겟 디바이스(300)로부터 출력되기까지 시간이다.
또, 해저드(Hazard) 구간 ②에서는 두 개 이상의 신호가 입/출력될 때 각각의 회로의 지연시간차가 발생하는 것으로 유효한 데이터가 아니다.
그후, 해저드 구간 ② 이후에 데이터가 안정되며, 유효한 시점에서 데이터 버스의 데이터를 컨트롤러(230)의 플래시 메모리 엔진에서 읽는다(구간 ③).
이어, 유효 데이터를 읽은 이후에 남은 읽기 사이클 시간(Read Cycle Time)동안 Check-SUM 연산을 한다(구간 ④).
그후, 유효 데이터를 읽은 이후에 남은 읽기 사이클 시간 동안 CRC 연산을 한다(구간 ⑤).
이어, 해저드(Hazard) 구간 ⑥에서는 유효한 데이터가 아니다.
여기서, 클럭 시간은 절대 시간이므로 읽기 사이클 시간도 역시 절대 시간이다. 따라서, FPGA(200)에서 정해진 시간 안에서 읽기와 동시에 데이터 검증 연산도 동시에 이루어진다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 복수 개의 반도체 디바이스를 한번에 데이터 프로그램(write) 후에 데이터 소거 후에 데이터의 검증을 위한 읽기(read)시에 데이터 검증을 FPGA에서 하드웨어적으로 연산처리하도록 함으로써 마이컴의 부하를 줄일 수 있게 된다. 또한, FPGA에서 데이터 검증을 위한 데이터 읽기와 동시에 데이터 검증이 이루어지므로 데이터 검증 시간을 단축할 수 있게 된다.
한편, 상기한 특정 실시예에는 타겟 디바이스에 데이터를 프로그램하는 경우에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 데이터 소거의 경우에도 마찬가지로 적용할 수 있다는 것을 당해 기술분야에 통상의 지식을 가진 자라면 용이하게 이해할 수 있을 것이다.
한편, 본 발명은 상기한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지로 수정 및 변형하여 실시할 수 있는 것 이다. 이러한 수정 및 변형이 첨부하는 특허청구범위에 포함되는 것이라면 본 발명에 속하는 것임은 자명할 것이다.
도 1은 종래 프로그래머 장치의 데이터 쓰기(program) 및 데이터 검증과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 프로그램장치의 데이터 쓰기(program) 및 데이터 검증과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 프로그램 장치에서 데이터 검증 절차를 설명하기 위한 구체적인 블록 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 프로그램 장치에서 데이터 읽기 타이밍 차트이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
100 : 마이컴 200,200_1~200_N : FPGA
210 : 듀얼포트 램 200 : 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼
230 : 컨트롤러 240 : 에러체크 컴퓨팅 로직
300 : 타겟 디바이스(반도체 디바이스)

Claims (3)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 탑재되는 프로그램 대상인 복수 개의 반도체 디바이스와, 각각의 반도체 디바이스에 대응하여 설치되어 상기 반도체 디바이스에 데이터 프로그램 또는 데이터 소거를 수행하는 복수 개의 FPGA와, 상기 복수의 FPGA를 제어하여 복수 개의 반도체 디바이스에 대한 프로그램 과정 또는 데이터 소거과정을 제어하는 마이컴을 구비하여 구성되되,
    상기 FPGA는, 상기 마이컴의 제어에 따라 상기 반도체 디바이스에 데이터 프로그램후 또는 데이터 소거후, 데이터의 검증을 위한 읽기(read)시에 데이터 읽기와 동시에 데이터 검증을 위한 CheckSum과 CRC를 하드웨어적으로 연산처리하기 위하여, 듀얼포트 램과, 플래시 메모리 엔진이 내장된 컨트롤러와, 데이터 검증(CheckSum/CRC) 연산을 수행하는 데이터 검증 컴퓨팅 로직과, 누적 연산결과를 저장하는 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼를 포함하여 구성되고,
    상기 컨트롤러는, 상기 반도체 디바이스에 대한 데이터 프로그램후 또는 데이터 소거후 상기 마이컴으로부터 데이터 검증(Check-SUM, CRC) 연산을 하도록 하는 신호와 데이터 읽기 요청신호가 입력되면, 상기 플래시 메모리 엔진을 인에이블하도록 하고 나서 상기 듀얼포트 램에서 읽기 및 데이터 검증 동작에 필요한 각종 파라미터를 해독한 후, 상기 반도체 디바이스에 데이터 읽기 명령 신호를 전송하여 상기 반도체 디바이스로부터 데이터를 읽어와서 상기 듀얼포트 램에 저장하고 나서 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증 연산을 진행하도록 상기 데이터 검증 컴퓨팅 로직을 제어하여 상기 데이터 검증 컴퓨팅 로직에서 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증 연산을 수행한 후에 누적 연산 결과를 상기 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼에 저장하도록 하되, 상기 반도체 디바이스의 전체 데이터 영역을 읽을 때까지 상기한 "상기 반도체 디바이스에 데이터 읽기 명령 신호를 전송하여 상기 반도체 디바이스로부터 데이터를 읽어와서 상기 듀얼포트 램에 저장하고 나서 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증 연산을 진행하도록 상기 데이터 검증 컴퓨팅 로직을 제어하여 상기 데이터 검증 컴퓨팅 로직에서 상기 읽어온 데이터에 대한 데이터 검증 연산을 수행한 후에 누적 연산 결과를 상기 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼에 저장하는 동작"을 반복하여 수행하며,
    상기 마이컴은 상기 FPGA에서 상기 반도체 디바이스의 전체 데이터 영역에 대한 데이터 검증 연산이 완료된 후에 상기 FPGA의 상기 어큐뮬레이트 컴퓨팅 버퍼에 저장된 최종 누적 연산 결과를 읽어와서 원본 검증(Check-SUM, CRC) 데이터와 비교하여 검증을 완료하는 것을 특징으로 하는 프로그래머 장치.
KR1020080132385A 2008-12-23 2008-12-23 프로그래머 장치 KR101028594B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080132385A KR101028594B1 (ko) 2008-12-23 2008-12-23 프로그래머 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080132385A KR101028594B1 (ko) 2008-12-23 2008-12-23 프로그래머 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100073662A KR20100073662A (ko) 2010-07-01
KR101028594B1 true KR101028594B1 (ko) 2011-04-13

Family

ID=42636584

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080132385A KR101028594B1 (ko) 2008-12-23 2008-12-23 프로그래머 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101028594B1 (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105378494A (zh) * 2013-02-21 2016-03-02 爱德万测试公司 具有用于独立测试多个dut的多个基于fpga的硬件加速器块的测试体系架构
US10884847B1 (en) 2019-08-20 2021-01-05 Advantest Corporation Fast parallel CRC determination to support SSD testing
US10976361B2 (en) 2018-12-20 2021-04-13 Advantest Corporation Automated test equipment (ATE) support framework for solid state device (SSD) odd sector sizes and protection modes
US11137910B2 (en) 2019-03-04 2021-10-05 Advantest Corporation Fast address to sector number/offset translation to support odd sector size testing
US11237202B2 (en) 2019-03-12 2022-02-01 Advantest Corporation Non-standard sector size system support for SSD testing

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9952276B2 (en) 2013-02-21 2018-04-24 Advantest Corporation Tester with mixed protocol engine in a FPGA block
US10161993B2 (en) 2013-02-21 2018-12-25 Advantest Corporation Tester with acceleration on memory and acceleration for automatic pattern generation within a FPGA block
US11009550B2 (en) 2013-02-21 2021-05-18 Advantest Corporation Test architecture with an FPGA based test board to simulate a DUT or end-point
US9810729B2 (en) 2013-02-28 2017-11-07 Advantest Corporation Tester with acceleration for packet building within a FPGA block

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990059251A (ko) * 1997-12-30 1999-07-26 윤종용 반도체 메모리 장치 및 그 장치의 프로그램/소거 검증 방법
KR100337006B1 (ko) 1998-11-17 2002-05-17 김 만 복 전자회로 설계검증장치 및 방법
KR100778459B1 (ko) * 2006-05-26 2007-11-21 (주) 컴파스 시스템 복수의 전자장치를 프로그램, 소거 및 검증하는 장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990059251A (ko) * 1997-12-30 1999-07-26 윤종용 반도체 메모리 장치 및 그 장치의 프로그램/소거 검증 방법
KR100258574B1 (ko) 1997-12-30 2000-06-15 윤종용 반도체 메모리 장치 및 그 장치의 프로그램/소거 검증 방법
KR100337006B1 (ko) 1998-11-17 2002-05-17 김 만 복 전자회로 설계검증장치 및 방법
KR100778459B1 (ko) * 2006-05-26 2007-11-21 (주) 컴파스 시스템 복수의 전자장치를 프로그램, 소거 및 검증하는 장치

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105378494A (zh) * 2013-02-21 2016-03-02 爱德万测试公司 具有用于独立测试多个dut的多个基于fpga的硬件加速器块的测试体系架构
TWI550629B (zh) * 2013-02-21 2016-09-21 愛德萬測試股份有限公司 具有多個用以獨立測試多個受測試器件之基於fpga之硬體加速器區塊的測試架構
US10976361B2 (en) 2018-12-20 2021-04-13 Advantest Corporation Automated test equipment (ATE) support framework for solid state device (SSD) odd sector sizes and protection modes
US11137910B2 (en) 2019-03-04 2021-10-05 Advantest Corporation Fast address to sector number/offset translation to support odd sector size testing
US11237202B2 (en) 2019-03-12 2022-02-01 Advantest Corporation Non-standard sector size system support for SSD testing
US10884847B1 (en) 2019-08-20 2021-01-05 Advantest Corporation Fast parallel CRC determination to support SSD testing

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100073662A (ko) 2010-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101028594B1 (ko) 프로그래머 장치
KR100918707B1 (ko) 플래시 메모리를 기반으로 한 메모리 시스템
US9971647B2 (en) Apparatus and method for programming ECC-enabled NAND flash memory
US7921339B2 (en) Flash storage device with data correction function
CN107451025B (zh) 控制存储芯片的测试方法及系统
CN108563590B (zh) 基于片上flash存储器的otp控制器和控制方法
CN104951334A (zh) FPGA双片QSPI flash的程序加载方法
KR20170140225A (ko) 향상된 명령어 세트를 구비한 중앙 처리 유닛
JP2002297562A (ja) マイクロコンピュータ、書込み方法及び消去方法
US5651128A (en) Programmable integrated circuit memory comprising emulation means
US11816039B2 (en) Multi-mode protected memory
CN105138308A (zh) 一种更新寄存器的方法及装置
KR20120038076A (ko) 낸드 플래시 메모리의 데이터 입출력 방법과 그 방법을 이용한 임베디드 시스템
US20140122785A1 (en) Data writing method and system
JP5309938B2 (ja) 要求処理装置、要求処理システムおよびアクセス試験方法
KR20080062173A (ko) 복수의 메모리를 갖는 메모리 시스템 그것의 메모리 억세스방법
JP4873526B2 (ja) 半導体集積回路及びマイクロコンピュータ
US20080071517A1 (en) Emulations system and emulation method
CN102200926B (zh) 一种存储器读操作功能的仿真验证方法
US9582266B2 (en) Apparatus and methods for in-application programming of flash-based programable logic devices
KR101764509B1 (ko) 컨트롤러의 신뢰성을 검증 가능한 차지 스토리지 메모리 장치
WO2012172682A1 (ja) 演算処理装置及び演算処理装置の制御方法
KR101679477B1 (ko) 메모리 구동 주변 회로 검증시간을 단축하기 위한 임베디드 ddr 메모리를 이용한 검증 방법 및 시스템
JP2019153118A (ja) 評価解析対象メモリ装置及びメモリ評価解析システム
KR101212762B1 (ko) 반도체 장치 및 그의 테스트 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150212

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160201

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170124

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180205

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200310

Year of fee payment: 10