KR101022089B1 - Substrate cooling method and substrate cooling apparatus - Google Patents
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Abstract
기판을 반송 롤러에 의해 반송하면서, 보다 염가로 효율적으로 기판을 냉각한다.The substrate is cooled more efficiently and inexpensively while conveying the substrate by a conveying roller.
냉각 처리부(1C)는, 가열 처리 후의 기판(S)을 반송 롤러(14)에 의해 반송하면서, 이 반송 롤러(14)에 의해 기판(S)을 냉각하도록 구성된다. 즉, 기판(S)을 반송 롤러(14)에 의해 반송하면서 노즐(26)에 의해 반송 롤러(14)의 내부에 상온의 냉각수를 살수하고, 이 냉각수를 상기 반송 롤러(14)가 갖는 열에 의해 기화(증발)시켜 외부로 배기함으로써 반송 롤러(14)를 냉각하여, 이에 의해 기판(S)을 냉각하도록 하였다.The cooling processing part 1C is comprised so that the board | substrate S may be cooled by this conveyance roller 14, conveying the board | substrate S after heat processing with the conveyance roller 14. As shown in FIG. That is, while conveying the board | substrate S by the conveyance roller 14, the cooling water of normal temperature is sprinkled inside the conveyance roller 14 by the nozzle 26, and this cooling water is carried out by the heat which the said conveying roller 14 has. The conveyance roller 14 was cooled by vaporizing (evaporating) and exhausting it to the outside, and thereby, the board | substrate S was cooled.
Description
본 발명은, 가열 처리가 실시된 LCD, PDP용 유리 기판 등의 기판에 대해 냉각 처리를 실시하는 기판 냉각 방법 및 기판 냉각 장치에 관한 것이다.This invention relates to the board | substrate cooling method and board | substrate cooling apparatus which perform a cooling process with respect to board | substrates, such as LCD and PDP glass substrate which heat-processed.
종래, 유리 기판 등의 제조에 있어서의 포토리소그래피의 프로세스에서는, 포토레지스트 피막을 기판에 형성하는 전단계의 처리로서, 세정 후의 기판에 가열 처리를 실시하여 수분을 제거하는 처리(탈수 베이크 처리) 및 가열 후의 기판을 냉각하는 냉각 처리를 순차적으로 기판에 실시하는 것이 행해진다. 이 종류의 처리는, 종래, 핫 플레이트 및 콜드 플레이트의 순서로 기판을 로봇 핸드에 의해 옮기면서 행해지고 있었지만, 최근에는, 스루풋을 향상시키기 위해, 특허 문헌 1에 기재된 장치와 같이, 기판을 롤러 반송하면서, 반송 롤러를 따라 배치된 히터에 의해 기판을 가열한 후, 하류측에서, 소정 온도로 냉각한 냉각 가스를 분사함으로써 기판을 냉각하는 것이 행해지고 있다. 또한, 이 문헌 1에는, 냉각 가스가 반송 롤러에 분사되어 롤러 자체도 차가워지므로, 기판으로부터 롤러로의 열전도를 이용하여 기판을 효율적으로 냉각할 수 있는 점, 또 반송 롤러 내에 냉각수를 순환시킴으로 써, 동일한 효과를 얻을 수 있는 점이 기재되어 있다.Conventionally, in the process of photolithography in the manufacture of a glass substrate or the like, as a process of the previous step of forming a photoresist film on the substrate, a process of removing the moisture by performing heat treatment on the substrate after cleaning (dehydration bake treatment) and heating Subsequently, the substrate is subjected to a cooling process for cooling the substrate later. This kind of treatment has been conventionally performed while moving the substrate by the robot hand in the order of the hot plate and the cold plate, but recently, in order to improve the throughput, as in the apparatus described in Patent Document 1, while roller conveying the substrate, After heating a board | substrate with the heater arrange | positioned along a conveyance roller, cooling a board | substrate is performed by spraying the cooling gas cooled to the predetermined temperature in the downstream side. In addition, in this document 1, since the cooling gas is injected to the conveying roller and the roller itself becomes cold, the substrate can be efficiently cooled by using the heat conduction from the substrate to the roller, and by circulating the cooling water in the conveying roller, It is described that the same effect can be obtained.
[특허 문헌 1: 일본국 특허공개 2006-245110호 공보][Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open No. 2006-245110]
특허 문헌 1에 기재되어 있는 바와 같이, 반송 롤러에 의해 기판을 냉각하는 것은 기판의 냉각 수단으로서 유효하다. 그러나, 냉각 가스를 분사하여 반송 롤러를 냉각하는 경우에는, 많은 냉열이 필요해지므로 러닝코스트가 많아진다는 문제가 있다. 또, 반송 롤러에 냉각수를 순환시키는 경우에도, 냉각 기능을 구비한 냉각수의 순환 설비가 필요해지고, 또 반송 롤러로부터의 액체의 누출을 방지하기 위한 특수한 시일 구조 등이 필요해지므로, 장치 비용이나 러닝코스트가 많아진다는 문제가 있다.As described in Patent Literature 1, cooling the substrate by the transfer roller is effective as a cooling means for the substrate. However, when cooling a conveyance roller by injecting a cooling gas, since a lot of cooling heat is needed, there exists a problem that a running cost increases. In addition, even when the conveying roller is circulated with the cooling water, a circulating facility for the cooling water having a cooling function is required, and a special seal structure for preventing the leakage of liquid from the conveying roller is required. There is a problem that increases.
본 발명은, 상기와 같은 사정을 감안하여 이루어진 것이고, 반송 롤러에 의해 기판을 반송하면서, 보다 염가의 구성으로 기판을 냉각하는 것을 목적으로 하고 있다.This invention is made | formed in view of the above circumstances, and an object is to cool a board | substrate with a cheaper structure, conveying a board | substrate with a conveyance roller.
상기의 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 따른 기판 냉각 방법은, 가열 처리 후의 기판을 냉각하는 기판 냉각 방법으로서, 상기 기판을 반송 롤러에 의해 반송하면서 당해 반송 롤러의 내부에 냉각용의 액체를 도입하고, 이 액체를 상기 반송 롤러의 회전에 따라 기화시켜 그 증기를 당해 반송 롤러의 외부로 배기함으로써, 상기 반송 롤러를 통해 상기 기판을 냉각하도록 한 것이다.In order to solve the said subject, the board | substrate cooling method which concerns on this invention is a board | substrate cooling method which cools the board | substrate after heat processing, and introduces the liquid for cooling into the said conveyance roller, conveying the said board | substrate with a conveyance roller. The liquid is vaporized in accordance with the rotation of the transfer roller and the vapor is exhausted to the outside of the transfer roller to cool the substrate through the transfer roller.
요컨대, 반송 롤러의 내부에 액체를 도입하고, 반송 롤러의 회전에 따라 당해 롤러 내주면을 따라 상기 액체를 이동시킴으로써 당해 액체를 액막화(液膜化), 혹은 액적화(液滴化)시켜, 이에 의해 당해 액체의 표면적(기액 계면의 면적)을 증대시켜 액체의 기화를 촉진시킴으로써, 반송 롤러가 갖는 기화열의 소비를 촉진시켜 반송 롤러를 냉각한다. 그리고, 이와 같이 냉각한 반송 롤러에 의해 기판을 반송함으로써, 기판으로부터 반송 롤러로의 열전도에 의해 기판을 냉각하도록 한 것이다. 이러한 방법에 의하면, 비교적 적은 액체의 양으로 효과적으로 반송 롤러를 냉각할 수 있고, 또 반송 롤러 내에서 액체를 기화시키면서 그대로 배기하므로, 반송 롤러로부터의 액체의 누출을 방지하기 위한 엄밀한 시일 구조 등도 불필요해진다. 그 때문에, 간단한 구성으로 기판을 냉각하는 것이 가능해진다.In other words, the liquid is introduced into the conveying roller, and the liquid is formed into a liquid film or a droplet by moving the liquid along the inner circumferential surface of the roller as the conveying roller rotates. By increasing the surface area (area of the gas-liquid interface) of the liquid to promote vaporization of the liquid, the consumption of the heat of vaporization of the conveying roller is promoted to cool the conveying roller. And the board | substrate is conveyed by the conveyance roller cooled in this way, and it is made to cool a board | substrate by the heat conduction from a board | substrate to a conveyance roller. According to this method, the conveying roller can be cooled effectively with a relatively small amount of liquid, and since the liquid is evacuated while vaporizing the liquid in the conveying roller, a rigid seal structure for preventing the leakage of liquid from the conveying roller is also unnecessary. . Therefore, it becomes possible to cool a board | substrate with a simple structure.
또한, 상기 액체로서는 여러 가지의 액체가 사용 가능하지만, 취급의 편리성이나 러닝코스트를 고려하면, 상기 액체로서 상온의 물을 반송 롤러 내에 도입하는 것이 적합하다.In addition, various liquids can be used as the liquid, but considering the convenience of handling and the running cost, it is suitable to introduce water at room temperature into the conveying roller as the liquid.
한편, 본 발명에 따른 기판 냉각 장치는, 가열 처리 후의 기판을 냉각하는 기판 냉각 장치로서, 상기 기판을 그 폭방향에 걸쳐 연속적으로 지지하도록 구성된 중공의 반송 롤러와, 상기 반송 롤러의 내부에, 공간 비율이 큰 상태가 유지되는 범위 내에서 냉각용의 액체를 공급하는 액체 공급 수단과, 적어도 회전 중인 상기 반송 롤러 내를 환기하는 환기 수단을 구비하고 있는 것이다.On the other hand, the board | substrate cooling apparatus which concerns on this invention is a board | substrate cooling apparatus which cools the board | substrate after heat processing, The hollow conveyance roller comprised so that the said board | substrate is continuously supported over the width direction, and the inside of the said conveyance roller is spaced. It is provided with the liquid supply means which supplies the liquid for cooling in the range in which the state with a large ratio is maintained, and the ventilation means which ventilates at least the inside of the said conveying roller in rotation.
이 장치에 의하면, 액체 공급 수단에 의해 반송 롤러 내에 액체가 도입됨으로써 반송 롤러의 열이 액체의 기화열로서 소비되어 반송 롤러가 냉각되고, 이와 같이 냉각된 반송 롤러에 의해 기판이 반송됨으로써, 반송 롤러로의 열전도에 의해 기판이 냉각된다. 이러한 열 이동이 발생함으로써 기판이 냉각되게 된다. 특히, 반송 롤러에 대해, 공간 비율이 큰 상태가 유지되도록 액체가 도입됨과 더불어 반송 롤러 내가 환기되는 구성으로 되어 있으므로, 반송 롤러 내에서는, 액체가 롤러 내주면을 따라 이동하여 액막화하거나, 혹은 액적화함으로써 표면적(기액 계면의 면적)이 증대한다. 그 때문에, 액체의 표면적의 증대와 상기 환기의 상호 작용에 의해 액체의 기화가 효과적으로 촉진된다. 따라서, 상기와 같은 열 이동이 원활하게 행해져, 이에 의해 반송 중인 기판이 효과적으로 냉각되게 된다.According to this apparatus, the liquid is introduced into the conveying roller by the liquid supply means, so that the heat of the conveying roller is consumed as the heat of vaporization of the liquid, the conveying roller is cooled, and the substrate is conveyed by the cooled conveying roller, thereby to the conveying roller. The substrate is cooled by the heat conduction of. This heat transfer takes place and the substrate is cooled. In particular, since the liquid is introduced to the conveying roller so that the state of the space ratio is maintained and the conveying roller is ventilated, in the conveying roller, the liquid moves along the inner circumferential surface of the roller to form a liquid film or droplets. As a result, the surface area (area of the gas-liquid interface) increases. Therefore, vaporization of the liquid is effectively promoted by the interaction between the increase in the surface area of the liquid and the ventilation. Therefore, the above heat transfer is performed smoothly, whereby the substrate being conveyed is effectively cooled.
이 구성에 있어서, 상기 액체 공급 수단은, 반송 롤러 내에 삽입되어 그 축방향으로 연장되는 노즐을 포함하고, 이 노즐은, 상기 반송 롤러 중 적어도 기판을 지지하는 영역에 상기 액체를 공급하는 것임이 적합하다.In this configuration, the liquid supply means includes a nozzle inserted into the conveying roller and extending in the axial direction, and the nozzle is suitable for supplying the liquid to at least an area of the conveying roller that supports the substrate. Do.
이 구성에 의하면 반송 롤러 중 특히 기판과의 접촉 부분을 집중적으로 냉각하는 것이 가능해지므로, 적은 액량으로 효과적으로 기판을 냉각하는 것이 가능해진다.According to this structure, since it becomes possible to cool especially the contact part with a board | substrate among conveying rollers, it becomes possible to cool a board | substrate effectively with a small amount of liquid.
또, 상기 노즐은, 상기 반송 롤러의 길이방향에 있어서 균등하게 상기 액체를 공급하는 것임이 적합하다.Moreover, it is suitable that the said nozzle supplies the said liquid uniformly in the longitudinal direction of the said conveyance roller.
이 구성에 의하면, 반송 롤러의 길이방향을 따라 온도 구배가 생기는 것을 유효하게 방지할 수 있어, 기판을 균일하게 냉각하는 것이 가능해진다.According to this structure, a temperature gradient can be effectively prevented from occurring along the longitudinal direction of a conveyance roller, and it becomes possible to cool a board | substrate uniformly.
또한, 상기 액체로서는 여러 가지의 것이 적용 가능하지만, 취급성이나 러닝코스트를 고려하면 물을 이용하는 것이 유효하다. 따라서, 상기 액체 공급 수단은, 상기 액체로서 물을 공급하는 것임이 적합하다.Moreover, although various things are applicable as said liquid, it is effective to use water in consideration of handleability and a running cost. Therefore, it is suitable that the said liquid supply means supplies water as the said liquid.
또, 상기 구성에 있어서는, 상기 반송 롤러로의 공급 전에 상기 액체를 냉각 하는 냉각 수단을 설치하도록 해도 된다.Moreover, in the said structure, you may make it provide the cooling means which cools the said liquid before supply to the said conveying roller.
이 구성에 의하면, 소량의 액체로 보다 많은 기화열을 반송 롤러로부터 빼앗는 것이 가능해지므로, 보다 효과적으로 반송 롤러를 냉각하는 것이 가능해지고, 그 만큼, 기판의 냉각 효과가 향상된다.According to this structure, since it becomes possible to take away more heat of vaporization from a conveyance roller with a small amount of liquid, it becomes possible to cool a conveyance roller more effectively, and the cooling effect of a board | substrate improves by that much.
청구항 1, 2에 따른 기판 냉각 방법 및 청구항 3∼7에 따른 기판 냉각 장치에 의하면, 냉각 기구를 구비한 냉각수의 순환 설비 등을 설치하지 않고, 반송 중인 기판을 반송 롤러에 의해 효과적으로 냉각할 수 있다. 따라서, 종래의 이 종류의 기판 냉각 장치에 비해, 보다 염가의 구성으로 기판을 냉각할 수 있게 된다.According to the board | substrate cooling method of
본 발명의 바람직한 실시 형태에 대해 도면을 이용하여 설명한다.Preferred embodiment of this invention is described using drawing.
도 1은, 본 발명에 따른 기판 냉각 장치(본 발명에 따른 기판 냉각 방법이 사용되는 기판 냉각 장치)가 장착된 기판 처리 장치의 주요부를 개략적으로 단면도로 도시하고 있다.1 shows schematically in cross section a main part of a substrate processing apparatus equipped with a substrate cooling apparatus according to the present invention (a substrate cooling apparatus in which the substrate cooling method according to the present invention is used).
이 기판 처리 장치는, LCD, PDP용의 유리 기판(S)(이하, 기판(S)이라고 한다)에 포토리소그래피의 프로세스에 따라 각종 처리를 실시하는 것으로, 상류측에서부터 순서대로, 기판(S)을 세정하는 세정 처리부(1A), 기판(S)을 소정 온도까지 가열하는 가열 처리부(1B) 및 가열 후의 기판(S)을 소정 온도까지 냉각하는 냉각 처리부(1C)(본 발명에 따른 기판 냉각 장치에 상당한다)를 갖고 있다. 이 냉각 처리부(1C)의 하류측에는, 레지스트 피막을 기판(S) 상에 형성하는 레지스트 도포부 등이 더 설치되어 있다.This substrate processing apparatus performs various processes to the glass substrate S (henceforth a board | substrate S) for LCD and PDP according to the photolithography process, and the board | substrate S is sequentially performed from an upstream side.
각 처리부(1A∼1C)는, 기판 반송용의 개구부를 통해 서로 연통하는 상자형의 처리조(10∼12)를 갖고 있다. 이들 처리조(10∼12)의 내부에는, 소정의 간격으로 반송 롤러(14)가 설치되어 있고, 기판(S)을 수평 자세로 반송하면서, 세정 처리부(1A)로부터 순차적으로 하류측의 처리부(1B, 1C)에 기판(S)을 반송하도록 되어 있다.Each
세정 처리부(1A)에는, 예를 들면 브러싱 세정, 블로우 세정 및 린스 세정 등을 순차적으로 기판(S)에 실시하기 위한 각 세정 수단(도시 생략)이 설치되고, 그 최하류측에는, 린스 처리 후, 기판(S)에 부착된 린스액을 제거하기 위한 상하 한 쌍의 에어 나이프(16a, 16b)가 배치되어 있다.1 A of washing | cleaning process parts are provided with each washing | cleaning means (not shown) for performing brushing washing | cleaning, blow washing | cleaning, rinse washing | cleaning, etc. sequentially to the board | substrate S, and after the rinse process in the most downstream side, A pair of upper and
가열 처리부(1B)에는, 반송 롤러(14)를 사이에 둔 상하 양측의 위치에 패널 히터(17a, 17b)가 배치되어 있다. 또, 도시를 생략하고 있지만, HMDS(헥사메틸디실라잔) 등, 레지스트 피막의 밀착 강화제를 가열 중인 기판(S)에 분무하기 위한 노즐 등이 배치되어 있다.
냉각 처리부(1C)에는, 기판(S)의 냉각 수단을 겸하는 상기 반송 롤러(14)가 설치되어 있다. 요컨대, 냉각 처리부(1C)는, 기판(S)으로부터 반송 롤러(14)로의 열전도를 이용하여 기판(S)을 냉각하도록 구성되어 있고, 따라서, 냉각 처리부(1C)의 반송 롤러(14)는, 다른 처리부(1A, 1B)의 반송 롤러(14)와는 달리, 이 열전도에 의한 기판(S)의 냉각이 효과적으로 행해지도록 당해 반송 롤러(14)가 구성되어 있다. 이 점에 대해서는 뒤에 상술한다.The said
상기의 구성에 의해, 이 기판 처리 장치에서는, 반송 롤러(14)의 구동에 의해 기판(S)을 반송하면서, 세정 처리부(1A)에 있어서, 브러싱 세정, 블로우 세정 및 린스 세정 등을 기판(S)에 실시함으로써 기판(S)을 세정하고, 가열 처리부(1B)에 있어서, 기판(S)을 소정 온도(100℃∼130℃)까지 가열하여 기판(S)의 수분을 제거하고, 냉각 처리부(1C)에 있어서, 소정 온도(상온)까지 기판(S)을 냉각한다. 그리고 그 후, 포토레지스트의 도포 등, 포토리소그래피의 프로세스에 의거한 나머지의 처리를 순차적으로 기판(S)에 실시하도록 되어 있다.By the above structure, in this substrate processing apparatus, brushing cleaning, blow cleaning and rinse cleaning are performed in the
도 2는, 냉각 처리부(1C)에 있어서의 반송 롤러(14)의 구조를 단면도로 개략적으로 도시하고 있다. 이 도시에 나타낸 바와 같이, 반송 롤러(14)는, 그 축방향으로 관통하는 중공 형상의 롤러로서 전체가 열전도성이 우수한 금속 재료(알루미늄 등)에 의해 구성되어 있다.FIG. 2 schematically shows the structure of the
반송 롤러(14)의 전후 양단(도 2에서는 좌우 양단)은 처리조(12)의 전후 측판(18, 19)에 형성되는 개구부(18a, 19a)를 통해 처리조(12)의 외부로 도출되어, 전후 측판(18, 19)의 외측에 각각 연결되는 기계실(20)에 삽입되어 있다. 각 기계실(20)에는 지지 부재(22)가 설치되어 있고, 상기 반송 롤러(14)의 양단부가 이들 지지 부재(22)에 베어링(24)을 통해 지지됨으로써, 반송 롤러(14)가 회전 가능하게 지지되어 있다. 그리고, 반송 롤러(14)의 후단 부분에 풀리(15)가 고정되고, 이 풀리(15)에 구동 벨트(2)가 걸쳐짐으로써, 반송 롤러(14)가 회전 구동되도록 되어 있다.Both front and rear ends (left and right ends in FIG. 2) of the
반송 롤러(14)의 내부에는, 당해 롤러 내에 냉각수를 공급하기 위한 축형상 의 노즐(26)이 삽입되어 있다. 이 노즐(26)은, 반송 롤러(14)를 관통하여, 양단부가 각 기계실(20)의 측벽에 지지됨으로써, 반송 롤러(14)의 대략 중심축 상에 배치되어 있다.Inside the
노즐(26)에는, 그 길이방향을 따라 소정의 간격으로 복수의 노즐구(26a)가 병설되어 있고, 그 일단측으로부터 도입되는 냉각수를, 도 3에 나타낸 바와 같이, 반송 롤러 내주면의 둘레방향에 있어서의 특정 개소를 향해(도시의 예에서는 하향으로) 살수하도록 구성되어 있다. 노즐구(26a)는, 반송 롤러(14) 중 처리조(12)의 전후 측벽 사이를 포함하는 영역(적어도 기판(S)을 지지하는 영역)에 걸쳐 설치되어 있다.In the
냉각수로서는 상온의 물이 이용되고 있다. 이 냉각수는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 저수 탱크(30)로부터 펌프(28)의 구동에 의해 노즐(26)에 공급되도록 되어 있다. 또한, 이 냉각수의 공급 계통에는, 그 유량을 제어하는 전자 밸브 등을 포함하는 유량 제어 수단이 설치되어 있고, 반송 롤러(14) 내에 있어서, 공간 비율 쪽이 커지는 범위 내에서 반송 롤러(14) 내에 냉각수가 공급되도록 상기 노즐(26)에 대한 냉각수의 공급량이 제어되도록 되어 있다. 즉, 당 실시 형태에서는, 당해 공급 계통 및 상기 노즐(26) 등이 본 발명의 액체 공급 수단에 상당한다.Normal temperature water is used as cooling water. This cooling water is supplied to the
노즐(26)의 노즐구(26a)는, 예를 들면 냉각수의 도입측(도 2에서는 좌측)으로부터 멀어질수록 구경이 커지도록 형성되어 있고, 이에 의해 길이방향에 걸쳐 냉각수의 토출량이 대략 균일해지도록 노즐(26)이 구성되어 있다.The
또한, 기계실(20)의 내부는, 그 하부에 형성되는 배기구(20a) 및 배기 통로 를 통해 도시 외의 부압 펌프 등에 의해 부압 흡인되어 있고, 이에 의해 기계실(20)로부터 처리조(12)로 개구부(18a, 19a)를 통해 파티클 등이 침입하는 것이 방지됨과 더불어, 반송 롤러(14) 내부의 환기가 행해지도록 되어 있다. 즉, 당 실시 형태에서는, 기계실(20)이나 부압 펌프 등이, 본 발명의 환기 수단에 상당한다.In addition, the inside of the
상기의 구성에 의해, 냉각 처리부(1C)에서는, 기판(S)의 반송 중에 반송 롤러(14)에 의해 기판(S)에 대해 냉각 처리를 실시한다. 즉, 기판(S)의 반송 중은, 펌프(28)의 작동에 의해 노즐(26)에 냉각수가 공급되고, 이에 의해 반송 롤러(14)의 내주면에 대해 냉각수가 살수된다. 따라서, 이 상태로 기판(S)이 반송 롤러(14) 상을 이동하면, 기판(S)으로부터 반송 롤러(14)로의 열전도에 의해 기판(S)이 냉각되고, 반송 롤러(14)의 열이 냉각수에 뺏김으로써 반송 롤러(14)가 냉각된다. 요컨대, 이러한 열 이동이 행해지는 결과, 기판(S)이 냉각되게 된다.By the said structure, in the
이 때, 냉각 처리부(1C)에 반입되는 기판(S)는, 100℃∼130℃의 고온이므로, 반송 롤러(14)도 이것에 가까운 온도가 된다. 따라서, 상기와 같이, 반송 롤러(14) 내에, 공간 비율 쪽이 커지는 범위 내에서 상온의 냉각수가 공급되면, 당해 냉각수는, 신속하게 기화하게 되고, 이와 같이 반송 롤러(14)의 열이 냉각수의 기화열로서 소비됨으로써 반송 롤러(14)가 효과적으로 냉각되게 된다. 특히 이 경우, 냉각수는, 반송 롤러(14)의 내주면을 따라 둘레방향으로 이동함으로써 액막화하거나, 혹은 액적화함으로써 그 표면적(기액 계면의 면적)이 증대한다. 그 때문에, 냉각수의 기화(증발)가 촉진되어, 반송 롤러(14)가 효과적으로 냉각되게 된다.At this time, since the board | substrate S carried in to the
또한, 이와 같이 하여 반송 롤러(14) 내에서 발생한 증기는, 기계실(20) 내 의 부압 흡인(반송 롤러(14) 내의 환기)에 따라 반송 롤러(14)의 외부로 이동하여, 상기 배기구(20a)를 통해 외부로 배기되게 된다. 따라서, 반송 롤러(14) 내가 증기에 의해 포화 상태가 되는 것이 방지되고, 이에 의해 반송 롤러(14) 내에서의 냉각수의 기화가 촉진된다. 그리고 이와 같이 냉각수의 기화가 촉진되는 결과, 상기와 같은 열 이동이 원활하게 행해지게 되어, 이에 의해 반송 중인 기판(S)의 냉각이 양호하게 행해진다.In addition, the steam generated in the conveying
또한, 상기와 같은 냉각 처리부(1C)에서는, 기판(S)의 반입 전에 있어서도, 반송 롤러(14)가 구동되면서 그 내부에 냉각수가 도입되고, 또한 반송 롤러(14) 내가 환기됨으로써 반송 롤러(14)가 효과적으로 냉각된다. 즉, 이 경우도, 롤러 내주면을 따라 냉각수가 이동함으로써 액막화하거나, 혹은 액적화함으로서 냉각수의 표면적이 증대하므로, 이러한 냉각수의 표면적의 증대와 상기 환기의 상호 작용에 의해 냉각수의 기화가 촉진되어, 그 결과, 반송 롤러(14)가 효과적으로 냉각된다. 따라서, 효과적으로 반송 롤러(14)를 냉각해 둘 수 있다.In addition, in the above-mentioned
이상과 같이, 반송 롤러(14) 내에 상온의 냉각수를 도입하여 이것을 기화시켜, 기화열을 빼앗음으로써 반송 롤러(14)를 냉각하는 상기와 같은 냉각 처리부(1C)의 구성에 의하면, 냉매를 이용하여 냉각수를 사전에 냉각하지 않고 비교적 적은 물의 양으로 효과적으로 반송 롤러(14)를 냉각할 수 있다. 또한, 반송 롤러(14) 내에서 기화(증발)한 증기를 그대로 외부 배기하도록 구성되어 있으므로, 반송 롤러(14)에 대해 냉각수를 순환시키는 설비가 불필요하고, 또한 반송 롤러(14) 내에 냉각수를 도입하면서도, 반송 롤러로부터의 액체의 누출을 방지하기 위한 엄밀한 시일 구조도 필요 없다.As mentioned above, according to the structure of the above-mentioned
따라서, 기판(S)으로부터 반송 롤러(14)로의 열전도를 이용하여 효과적으로 기판(S)을 냉각하면서도, 종래의 이 종류의 장치, 즉 반송 롤러 내에 액밀 상태로 냉각수를 순환시키면서 당해 롤러를 냉각하거나, 혹은 냉기를 반송 롤러에 분사하여 당해 롤러를 냉각하도록 하고 있는 종래의 장치에 비하면, 보다 염가의 구성으로 효율적으로 기판(S)을 냉각할 수 있다는 효과가 있다.Therefore, while cooling the board | substrate S effectively using the heat conduction from the board | substrate S to the
또한, 이상 설명한 냉각 처리부(1C)는, 본 발명에 따른 기판 냉각 장치(본 발명에 따른 기판 냉각 방법이 실시되는 기판 냉각 장치)의 바람직한 실시 형태의 일례로서, 그 구체적인 구성은, 본 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에서 적절히 변경 가능하다. 예를 들면 이하와 같은 구성을 적용하는 것도 가능하다.In addition, 1 C of cooling processing parts demonstrated above is an example of preferable embodiment of the substrate cooling apparatus (substrate cooling apparatus in which the substrate cooling method which concerns on this invention is implemented) concerning this invention, The specific structure is the summary of this invention. It can change suitably in the range which does not deviate. For example, the following structures can be applied.
예를 들면, 상기 실시 형태에서는, 노즐(26)의 길이방향에 걸쳐 냉각수의 토출량이 대략 균일해지도록, 냉각수의 도입측(도 2에서는 좌측)으로부터 멀어질수록 노즐구(26a)의 구경이 커지는 구조가 채용되어 있지만, 이 이외에, 예를 들면 노즐구(26a)의 구경은 균일하고, 도 4에 나타낸 바와 같이, 냉각수의 도입측으로부터 멀어질수록 직경 치수가 작아지는 노즐 구조를 채용하는 것도 가능하다. 이 구성의 경우도, 노즐(26)의 길이방향에 걸쳐 냉각수의 토출량을 균일화할 수 있다. 요는, 노즐(26)의 구조는, 냉각수의 토출량을 길이방향으로 균일화할 수 있으면 어떠한 구조도 채용 가능하다. 또한, 상기 실시 형태에서는, 노즐(26)의 길이방향 한쪽측으로부터 냉각수를 도입하는 예에 대해 설명하였지만, 노즐(26)의 양단으로부터 냉각수를 도입하는 경우에는, 도 2나 도 3의 구조에 준하여, 노즐(26)의 길이방 향에 걸쳐 냉각수의 토출량이 균일화되는 노즐 구조를 채용하면 된다.For example, in the above embodiment, the diameter of the
또, 상기 실시 형태에서는, 냉각수로서 상온의 물을 노즐(26)에 공급하고 있지만, 냉각수를 사전에 냉각하는 구성으로 해도 무방하고, 냉각수의 공급 계통에, 저수 탱크(30)로부터 공급되는 물을 냉각하는 냉각 장치를 장착하도록 해도 된다. 이와 같이 냉각수를 사전에 냉각하는 구성이어도, 냉각 처리부(1C)는, 상기와 같이, 공간 비율 쪽이 커지는 범위 내에서 반송 롤러(14) 내에 냉각수를 공급하는 구성이므로, 반송 롤러에 냉각수를 순환시키는 일반적인 구성, 요컨대, 반송 롤러 내에 액밀 상태로 냉각수를 순환시키면서 당해 롤러를 냉각하는 종래 장치에 비하면, 반송 롤러(14)에 공급하는 냉각수의 물의 양은 적고, 냉각수의 냉각에 필요한 냉열의 양도 적어도 된다. 따라서, 종래 장치에 비하면 냉각수를 냉각하기 위한 러닝코스트가 싸고, 그 만큼, 염가로 기판(S)을 냉각할 수 있다.Moreover, in the said embodiment, although water of normal temperature is supplied to the
또, 상기 실시 형태에서는, 기계실(20) 내를 흡인 배기함으로써 반송 롤러(14) 내에서 발생한 증기의 외부 배출을 촉진시키도록 본 발명의 환기 수단이 구성되어 있지만, 환기 수단의 구성은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 반송 롤러(14)의 일단측에 송풍기 등을 더 설치하여 반송 롤러(14) 내에 강제적으로 에어를 불어넣음으로써 증기의 외부 배출을 촉진시키도록 구성해도 된다.In addition, in the said embodiment, although the ventilation means of this invention is comprised so that the exhaust | exhaustion of the steam which generate | occur | produced in the
또, 상기 실시 형태에서는, 기판(S)을 수평 자세로 반송하면서 냉각하지만, 물론, 기판(S)을 경사 자세(반송 방향과 직교하는 방향으로 그 한쪽측에서부터 다른 쪽측으로 경사지는 자세)로 반송하면서 냉각하도록 해도 된다. 이 경우에는, 예를 들면 반송 롤러(14)를 관통하는 실시 형태와 같은 노즐(26) 대신에 반송 롤 러(14)의 상위측의 단부에 냉각수를 공급하는 노즐을 설치하고, 반송 롤러(14)의 안쪽 바닥면을 따라 그 상위측에서부터 냉각수를 유하시키도록 구성해도 된다. 이 구성에 의하면, 냉각수가 반송 롤러(14) 내를 유하할 때에 반송 롤러(14)로부터 기화열을 빼앗아 기화하게 되므로, 기판(S)을 수평 반송하는 경우와 동일하게 반송 롤러(14)를 냉각할 수 있다. 또한, 상기와 같이 냉각수를 반송 롤러(14)를 따라 유하시키는 경우에는, 기화하지 않고 유하하는 냉각수를 반송 롤러(14)의 단부에서 받아 외부로 배출하는 배출 수단을 설치하도록 해도 된다. 이 구성은, 상기 실시 형태의 구성에 대해서도 채용 가능하다.Moreover, in the said embodiment, although cooling while conveying the board | substrate S to a horizontal attitude | position, it is, of course, conveying the board | substrate S to the inclined attitude | position (an attitude | position which inclines from one side to the other side in the direction orthogonal to a conveyance direction). You may cool while cooling. In this case, instead of the
도 1은 본 발명에 따른 기판 냉각 장치(본 발명에 따른 기판 냉각 방법이 사용되는 기판 냉각 장치)가 장착되는 기판 처리 장치의 주요부를 도시한 개략 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic sectional drawing which shows the principal part of the substrate processing apparatus with which the substrate cooling apparatus which concerns on this invention (substrate cooling apparatus in which the substrate cooling method which concerns on this invention is used) is mounted.
도 2는 냉각 처리부(본 발명에 따른 기판 냉각 장치)의 구성을 도시한 단면도(도 1의 A-A선 단면도)이다.FIG. 2 is a cross-sectional view (sectional view taken along the line A-A of FIG. 1) showing the configuration of the cooling processing unit (substrate cooling device according to the present invention).
도 3은 반송 롤러의 단면도이다. 3 is a cross-sectional view of the conveying roller.
도 4는 반송 롤러의 다른 구성을 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view showing another configuration of the conveying roller.
[부호의 설명][Description of the code]
1A : 세정 처리부1A: cleaning processing unit
1B : 가열 처리부1B: heat treatment unit
1C : 냉각 처리부1C: Cooling Treatment Unit
10∼12 : 처리조10 to 12: treatment tank
14 : 반송 롤러14: conveying roller
26 : 노즐26: nozzle
30 : 저수 탱크30: reservoir tank
S : 기판S: Substrate
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KR20220098492A (en) * | 2021-01-04 | 2022-07-12 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | Electrode rolling apparatus and electrode rolling method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0790354A (en) * | 1993-09-21 | 1995-04-04 | Kawasaki Steel Corp | Roll for transporting high-temperature steel products |
JPH07133126A (en) * | 1993-11-01 | 1995-05-23 | Asahi Glass Co Ltd | Conveyor roll of glass heating furnace |
JP2000302468A (en) | 1999-04-19 | 2000-10-31 | Asahi Glass Co Ltd | Glass pane-carrying roll structure in glass pane-heating furnace |
JP2004150736A (en) | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pdp substrate cooling device and method |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW502130B (en) * | 1997-06-17 | 2002-09-11 | Toshiba Corp | Cleaning method of substrate |
TWI221862B (en) * | 1999-12-24 | 2004-10-11 | Ebara Corp | Apparatus and method for plating a substrate, and method and apparatus for electrolytic treatment |
JP3894104B2 (en) * | 2002-11-15 | 2007-03-14 | 東京エレクトロン株式会社 | Developing method, developing apparatus, and developer regenerating apparatus |
JP2005201393A (en) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Nippon Steel Chem Co Ltd | Heating press roll |
JP2006264020A (en) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Fuji Photo Film Co Ltd | Method and apparatus for manufacturing laminated substrate |
JP4699235B2 (en) * | 2006-02-20 | 2011-06-08 | 株式会社サイアン | Plasma generating apparatus and work processing apparatus using the same |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0790354A (en) * | 1993-09-21 | 1995-04-04 | Kawasaki Steel Corp | Roll for transporting high-temperature steel products |
JPH07133126A (en) * | 1993-11-01 | 1995-05-23 | Asahi Glass Co Ltd | Conveyor roll of glass heating furnace |
JP2000302468A (en) | 1999-04-19 | 2000-10-31 | Asahi Glass Co Ltd | Glass pane-carrying roll structure in glass pane-heating furnace |
JP2004150736A (en) | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pdp substrate cooling device and method |
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