이하, 첨부되는 도면들을 참조로 하여, 본 발명의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치. 및 이를 갖는 마그네트론 스퍼터링 설비를 설명하도록 한다.
- 일 실시예 -
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따르는 마그네트론 스퍼터링 설비를 보여주는 단면도이다. 도 3는 도 2의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치가 동작되는 것을 보여주는 단면도이다. 도 4는 도 2의 진공 챔버의 내부에 격리 플레이트가 설치된 것을 보여주는 단면도이다. 도 5는 도 2의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치의 동작을 보여주는 흐름도이다.
본 발명의 일 실시예에 따르는 마그네트론 스퍼터링 설비는 일정의 진공이 형성될 수 있는 내부 공간을 이루는 진공 챔버(100)를 갖는다.
상기 진공 챔버(100)의 일측에는 불활성 가스를 진공 챔버(100)의 내부로 공급하는 가스 공급관(121)이 설치되고, 상기 진공 챔버(100)의 타측에는 일정의 공정 진행 이후에 상기 진공 챔버(100)의 내부에 잔류되는 공정 가스가 배기되는 가스 배출관(122)이 설치된다.
상기 진공 챔버(100)의 내부 하측부에는 일정 크기의 기판(111)이 안착되는 척(110)이 설치된다.
상기 진공 챔버(100)의 내부 상측부에는 상기 척(110)과 마주 보도록 금속의 재질로 이루어지는 타켓(130)이 설치된다.
상기 타켓(130)의 상부에 위치되도록 상기 진공 챔버(100)의 내부 상측에는 일정의 자장을 형성하는 자석(210)과 상기 자석(210)을 고정하는 고정 플레이트(220)를 갖는 마그네트론 부(200)가 설치된다.
도면에 도시되지는 않았지만, 본 발명은 상기 진공 챔버(100)에 배기관을 통하여 접속된 진공 펌프와, 상기 척(110)에 고주파를 인가하기 위한 고주파 전원을 구비한다.
그리고, 본 발명의 스퍼터링 설비는 상기 진공 챔버(100)의 내부에서 진행되는 스퍼터링 공정을 제어하는 공정 제어부(140)를 갖는다.
그리고, 본 발명은 타켓(130)에 형성되는 자장이 기설정되는 기준 자장의 범위에 포함되도록 상기 마그네트론 부(200)와 상기 타켓(130)과의 거리를 일정 거리 이격시키는 이동 유니트를 갖는다.
상기 이동 유니트의 구성을 설명하도록 한다.
상기 이동 유니트는 상기 타켓(130)의 일측 근방에 배치되며 상기 타켓(130)에 형성되는 자장을 측정하는 자장 측정부(300)와, 상기 마그네트론 부(200)와 연결되어 상기 마그네트론 부(200)를 일정 위치로 이동시키는 위치 이동부와, 상기 자장 측정부(300)와 전기적으로 연결되며 상기 측정되는 자장이 상기 기준 자장 범위에 포함되도록 상기 위치 이동부를 동작시키어 상기 마그네트론 부(200)를 상기 타켓(130)으로부터 일정 거리 이격시키도록 제어하는 제어부(500)로 구성된다. 상기 제어부(500)는 상기 공정 제어부(140)와 전기적으로 연결된다.
상기 제어부(500)에는 0 내지 10 가우스(G)의 범위를 이루는 기준 자장 범위(ΔGs)가 기설정된다. 상기 제어부(500)에는 스퍼터링 공정이 수행되는 공정 자장 범위(ΔGp), 200 내지 800 가우스의 범위가 기설정된다.
상기 자장 측정부(300)는 상기 진공 챔버(100)의 내측벽에 설치된다. 즉, 상기 자장 측정부(300)는 도 2에 도시된 바와 같이 타켓(130)의 저면 근방에 배치되는 것이 좋다.
상기 위치 이동부는 가변 실린더(410)이다. 상기 가변 실린더(410)는 제어부(500)와 전기적으로 연결되는 구동부(600)와 연결되고, 상기 구동부(600)로부터 구동력을 제공받아 구동된다.
상기 가변 실린더(410)는 마그네트론 부(200)의 고정 플레이트(210)의 상단에 체결되는 가변축(411)과, 상기 가변축(411)을 신장시키는 실린더 몸체(412)로 구성된다. 상기 가변 실린더(410)는 적어도 2개 이상으로 구성되는 것이 좋다.
한편, 도 4를 참조 하면, 상기 진공 챔버(100)의 내부에는 고정 플레이트(210)를 경계로 상측으로 제 1영역(a1)과, 하측으로 척(110)이 설치되는 제 2영역(a2)으로 구분될 수 있다.
상기 제 1영역(a1)과 상기 제 2영역(a2)을 구획 지음과 아울러 고정 플레이트(210)에 고정된 자석(220)으로 인하여 제 1영역(a1)에 형성될 수 있는 자장을 흡수할 수 있도록 상기 진공 챔버(100)의 내부에는 격리 플레이트(250)가 더 설치된다.
상기 격리 플레이트(250)는 고정 플레이트(210)의 양측 외주를 따라 진공 챔버(100)의 내측벽에 고정 설치될 수 있다.
다음은, 도 2 내지 도 5를 참조 하여, 본 발명의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치. 및 이를 갖는 마그네트론 스퍼터링 설비의 작용을 설명하도록 한다.
진공 챔버(100)의 내부에서는 척(100) 상에 안착된 기판(111)에 대하여 스퍼터링 공정이 수행될 수 있다.
제어부(500)는 공정 제어부(140)로부터 전기적 신호를 실시간으로 전송 받을 수 있다(S100).
상기 제어부(500)는 진공 챔버(100)의 내부에서 스퍼터링 공정이 진행 중인지의 여부를 판단할 수 있다. 예컨대, 상기 공정 제어부(140)는 상기 공정이 진행되는 경우에 공정 진행 중임에 대한 신호를 제어부(500)로 전송하고, 공정이 중지된 상태인 경우에 공정이 중지임을 알리는 신호를 제어부(500)로 전송할 수 있다.
여기서, 상기 제어부(500)는 상기 공정 진행 또는 공정이 중지임을 알리는 신호를 사용하여 공정 진행 여부를 판단할 수 있다(S200).
예컨대, 공정이 진행되지 않는 경우에, 상기 제어부(500)는 자장 측정부(300)를 작동시킨다.
그리고, 상기 자장 측정부(300)는 진공 챔버(100)의 내부에 설치되는 타켓(130)의 저면 근방의 자장을 측정하여 제어부(500)로 전송할 수 있다.
이어, 상기 제어부(500)는 상기 측정된 자장(Gd)이 기설정된 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되는 지의 여부를 판단할 수 있다(S220).
여기서, 상기 기준 자장의 범위(ΔGs)는 0 내지 10 가우스 일수 있다.
만일, 상기 측정된 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되지 않는 경우에, 상기 제어부(500)는 구동부(600)를 전기적 신호를 전송한다.
상기 구동부(600)는 도 2에 도시된 마그네트론 부(200)의 자석(220)과 타켓(130)과의 거리 L1을 도 3에 도시된 바와 같이 L1'로 이격시키도록 위치 이동부인 가변 실린더(410)를 구동시킨다(S221).
여기서, 상기 가변 실린더(410)의 가변축(411)은 마그네트론 부(200)의 고정 플레이트(210)의 상단을 끌어 올릴 수 있다.
이때, 상기 자장 측정부(300)는 실시간으로 상기 타켓(130) 저면의 자장을 측정하여 제어부(500)로 전송한다.
따라서, 상기 제어부(500)는 상기 측정되는 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함될 때까지 상기 구동부(600)를 통하여 가변 실린더(410)를 작동시키어 상기 마그네트론 부(200)를 상승시킬 수 있다.
반면에, 상기 제어부(500)는 상기 측정되는 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되는 경우에, 상기 제어부(500)는 위치 이동부를 작동시키지 않고, 마그네트론 부(200)의 설정 위치를 그대로 유지한다(S230).
이어, 상기 제어부(500)는 공정 제어부(140)를 사용하여 공정이 대기되는 상태를 이루고(S240), 추후 공정이 있는지의 유무를 판단(S250)할 수 있다.
한편, 상기 제어부(500)는 공정이 진행되는 경우에, 자장 측정부(300)로부터 측정된 자장(Gd)을 전송 받고(S300), 측정되는 자장(Gd)이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함되는 지의 여부를 판단 할 수 있다(S400).
상기 측정되는 자장(Gd)이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함되지 않는 경우에, 상기 제어부(500)는 측정되는 자장이 200 내지 800 가우스의 범위를 갖는 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함될 때까지 가변 실린더(410)를 사용하여 마그네트론 부(200)를 상승시킬 수 있다(S500).
반면에, 상기 측정되는 자장(Gd)이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함되는 경우에, 상기 제어부(500)는 위치 이동부를 작동시키지 않고, 마그네트론 부(200)의 설정 위치를 그대로 유지하고(S410), 공정 제어부(140)로 신호를 전송하여 공정을 진행하도록 할 수 있다(S420).
- 다른 실시예 -
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따르는 마그네트론 스퍼터링 설비를 보여주 는 단면도이다. 도 7은 도 6의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치가 동작되는 것을 보여주는 단면도이다. 도 8은 도 6의 진공 챔버의 내부에 격리 플레이트가 설치된 것을 보여주는 단면도이다. 도 9는 도 8의 격리 플레이트의 배치 상태를 보여주는 평면도이다. 도 10은 도 6의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치의 동작을 보여주는 흐름도이다.
본 발명의 다른 실시예에 따르는 마그네트론 스퍼터링 설비는 상기 일 실시예에서 언급된 진공 챔버(100)를 갖는다.
상기 다른 실시예를 따르는 마그네트론 스퍼터링 설비는 상기 일 실시예와 다른 위치 이동부를 갖는다.
도 6 및 도 7을 참조 하면, 본 발명에 따르는 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치.는 마그네트론 부(200)와, 이동 유니트로 구성된다.
상기 마그네트론 부(200)는 상기 일 실시예의 구성과 동일하다.
상기 이동 유니트는 자장 측정부(300)와, 위치 이동부와, 제어부(500)로 구성된다.
상기 위치 이동부는 회전 모터(421)와 회전축(422)으로 구성되는 회전 유닛(420)이다.
상기 회전 모터(421)는 마그네트론 부(200)의 고정 플레이트(210)의 일측에 위치되도록 진공 챔버(100)의 내측벽에 설치된다.
상기 회전축(422)은 고정 플레이트(210) 양측단에 돌출 형성된다. 상기 회전축(422)의 일단은 진공 챔버(100)의 내측벽에 힌지 연결되고, 타단은 상기 회전 모 터(421)에 연결된다.
상기 회전 모터(421)는 제어부(500)와 전기적으로 연결되는 구동부(600)로부터 구동력을 제공 받아 회전될 수 있다.
한편, 도 8 및 도 9를 참조 하면, 상기 진공 챔버(100)의 내부에는 고정 플레이트(210)를 경계로 상측으로 제 1영역(a1)과, 하측으로 척(110)이 설치되는 제 2영역(a2)으로 구분될 수 있다.
상기 제 1영역(a1)과 상기 제 2영역(a2)을 구획 지음과 아울러 고정 플레이트(210)에 고정된 자석(220)으로 인하여 제 1영역(a1)에 형성될 수 있는 자장을 흡수할 수 있도록 상기 진공 챔버(100)의 내부에는 격리 플레이트(251)가 더 설치된다.
상기 격리 플레이트(251)는 고정 플레이트(210)의 양측 외주 및 회전축(422)의 외주를 따르는 홈(251a)이 형성되고, 상기 격리 플레이트(251)의 외주는 진공 챔버(100)의 내측벽에 형성되는 고정홈(100a)에 끼워져 고정 설치될 수 있다.
따라서, 고정 플레이트(210)가 회전축(422)을 회전 중심으로 회전되는 경우에, 상기 격리 플레이트(251)는 상기 회전되는 고정 플레이트(210)에 간섭되지 않을 수 있다.
다음은, 도 6 내지 도 10을 참조 하여, 본 발명의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치 및 이를 갖는 마그네트론 스퍼터링 설비의 작용을 설명하도록 한다.
진공 챔버(100)의 내부에서는 척(110) 상에 안착된 기판에 스퍼터링 공정이 수행될 수 있다.
제어부(500)는 공정 제어부(140)로부터 전기적 신호를 실시간으로 전송 받을 수 있다(S100).
상기 제어부(500)는 진공 챔버(100)의 내부에서 스퍼터링 공정이 진행 중인지의 여부를 판단할 수 있다(S200).
예컨대, 상기 공정 제어부(140)는 공정이 진행되는 경우에 공정 진행 중임에 대한 신호를 제어부로 전송하고, 공정이 중지된 상태인 경우에 공정이 중지임을 알리는 신호를 제어부(500)로 전송할 수 있다.
따라서, 상기 제어부(500)는 공정 진행 여부를 판단할 수 있다.
여기서, 상기 제어부(500)는 상기 공정이 중지임을 알리는 신호를 전송 받으면, 자장 측정부(300)를 작동시킨다.
그리고, 상기 자장 측정부(300)는 진공 챔버(100)의 내부에 설치되는 타켓(130)의 저면 근방의 자장을 측정하여 제어부(500)로 전송할 수 있다(S210).
이어, 상기 제어부(500)는 상기 측정된 자장(Gd)이 기설정된 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되는 지의 여부를 판단할 수 있다(S220).
여기서, 상기 기준 자장의 범위(ΔGs)는 0 내지 10 가우스 일수 있다.
만일, 상기 측정된 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되지 않는 경우에, 상기 제어부(500)는 구동부(600)를 전기적 신호를 전송한다.
상기 구동부(600)는 도 2에 도시된 마그네트론 부(200)의 자석(220)과 타켓(130)과의 거리 L2을 도 3에 도시된 바와 같이 L2'로 이격시키도록 회전 모터(421)와 회전축(422)으로 구성되는 위치 이동부를 구동시킨다(S230).
여기서, 상기 회전 모터(421)는 회전축(422)을 180도 회전시키어 마그네트론 부(200)의 고정 플레이트(210)를 회전시킬 수 있다.
이때, 상기 자장 측정부(300)는 실시간으로 상기 타켓(130) 저면의 자장을 측정하여 제어부(500)로 전송한다.
따라서, 상기 제어부(500)는 상기 측정되는 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함될 때까지 상기 구동부(600)를 통하여 회전 모터(421)를 작동시키어 상기 고정 플레이트(210)에 고정된 자석(220)을 제 1영역(a1)에 위치시키도록 회전시킨다.
이때, 상기 제 1영역(a1)과 제 2영역(a2)이 격리 플레이트(251)를 통하여 서로 격리되고, 상기 격리 플레이트(251)가 자장을 흡수할 수 있는 재질로 이루어질 수 있기 때문에, 제 2영역(a2)으로 회전되어 위치된 자석(220)에서 발생되는 자장이 제 2영역(a2)에 위치되는 타켓(130)에 전달되는 것을 일정 이상으로 저지할 수도 있다.
반면에, 상기 제어부(500)는 상기 측정되는 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되는 경우에, 상기 제어부(500)는 위치 이동부를 작동시키지 않고, 마그네트론 부(200)의 설정 위치를 그대로 유지한다(S230).
이어, 상기 제어부(500)는 공정 제어부(140)를 사용하여 공정이 대기되는 상태를 이루고(S240), 추후 공정이 있는지의 유무를 판단할 수 있다(S250).
한편, 상기 제어부(500)는 공정이 진행되는 경우에, 자장 측정부(300)로부터 측정된 자장(Gd)을 전송 받고(S300), 측정되는 자장이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포 함되는 지의 여부를 판단 할 수 있다(S400).
상기 측정되는 자장(Gd)이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함되지 않는 경우에, 상기 제어부(500)는 측정되는 자장(Gd)이 200 내지 800 가우스의 범위를 갖는 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함될 때까지 회전 모터(421)를 사용하여 마그네트론 부(200)를 회전시킬 수 있다(S600).
반면에, 상기 측정되는 자장(Gd)이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함되는 경우에, 상기 제어부(500)는 위치 이동부를 작동시키지 않고, 마그네트론 부(200)의 설정 위치를 그대로 유지하고(S410), 공정 제어부(140)로 신호를 전송하여 공정을 진행하도록 할 수 있다(S420).
- 또 다른 실시예 -
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따르는 마그네트론 스퍼터링 설비를 보여주는 단면도이다. 도 12는 도 11의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치의 제 1위치 이동부가 동작되는 것을 보여주는 단면도이다. 도 13은 도 11의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치의 제 2위치 이동부가 동작되는 것을 보여주는 단면도이다. 도 14는 도 11의 진공 챔버의 내부에 격리 플레이트가 설치된 것을 보여주는 단면도이다. 도 15는 도 11의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치의 동작을 보여주는 흐름도이다.
상기 또 다른 실시예를 따르는 마그네트론 스퍼터링 설비는 상기 다른 실시예와 다른 위치 이동부를 갖는다.
도 6 및 도 7을 참조 하면, 본 발명에 따르는 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치.는 마그네트론 부와, 이동 유니트로 구성된다.
상기 마그네트론 부(200)는 상기 일 실시예 및 다른 실시예의 구성과 동일하다.
상기 이동 유니트는 자장 측정부(300)와, 위치 이동부와, 제어부(500) 및 선택부(450)로 구성된다.
상기 위치 이동부는 제 1위치 이동부와 제 2위치 이동부로 구성된다.
상기 제 1위치 이동부는 가변축(411)과 실린더 몸체(412)로 구성되는 가변 실린더(410)이고, 상기 제 2위치 이동부는 회전 모터(421)와 회전축(422)으로 구성되는 회전 유닛(420)이다.
도 11 및 도 12를 참조 하면, 고정 플레이트(210)의 양측단에는 회전축(422)이 돌출된다.
상기 고정 플레이트(210)의 일측단에 형성되는 회전축(422)은 회전 모터(421)와 연결된다.
그리고, 상기 고정 플레이트(210)의 상부에는 2개의 가변 실린더(410)가 설치된다.
하나의 가변 실린더(410)의 가변축(411)의 끝단은 고정 플레이트(210) 타측단에 형성되는 회전축(422)과 힌지(H) 연결된다.
다른 하나의 가변 실린더(410)의 가변축(411)의 끝단은 상기 회전 모터(421)에 고정된다.
한편, 도 14를 참조 하면, 상기 진공 챔버(100)의 내부에는 고정 플레이트(210)를 경계로 상측으로 제 1영역(a1)과, 하측으로 척(110)이 설치되는 제 2영역(a2)으로 구분될 수 있다.
상기 제 1영역(a1)과 상기 제 2영역(a2)을 구획 지음과 아울러 고정 플레이트(210)에 고정된 자석(220)으로 인하여 제 1영역(a1)에 형성될 수 있는 자장을 흡수할 수 있도록 상기 진공 챔버(100)의 내부에는 격리 플레이트(252)가 더 설치된다.
상기 격리 플레이트(252)는 고정 플레이트(210)의 상부에 배치될 수 있다. 상기 격리 플레이트(252)의 폭은 상기 가변 실린더들(410)의 가변축들(411)의 사이 거리에 포함된다.
또한, 상기 격리 플레이트(252)는 진공 챔버(100)의 내측 상단면에 스프링들(253)을 통하여 탄성 지지될 수 있다.
다음은, 도 11 내지 도 15를 참조 하여, 본 발명의 자화 방지용 마그네트론 부 이송 장치. 및 이를 갖는 마그네트론 스퍼터링 설비의 작용을 설명하도록 한다.
진공 챔버(100)의 내부에서는 척(110) 상에 안착된 기판(111)에 스퍼터링 공정이 수행될 수 있다.
제어부(500)는 공정 제어부(140)로부터 전기적 신호를 실시간으로 전송 받을 수 있다(S100).
상기 제어부(500)는 진공 챔버(100)의 내부에서 스퍼터링 공정이 진행 중인지의 여부를 판단할 수 있다. 예컨대, 상기 공정 제어부(140)는 공정이 진행되는 경우에 공정 진행 중임에 대한 신호를 제어부(500)로 전송하고, 공정이 중지된 상태인 경우에 공정이 중지임을 알리는 신호를 제어부(500)로 전송할 수 있다.
여기서, 상기 제어부(500)는 상기 공정이 중지임을 알리는 신호를 전송 받으면, 자장 측정부(300)를 작동시킨다.
그리고, 상기 자장 측정부(300)는 진공 챔버(100)의 내부에 설치되는 자장 측정부(300)는 타켓(130)의 저면 근방의 자장을 측정하여 제어부(500)로 전송할 수 있다(S210).
이어, 상기 제어부(500)는 상기 측정된 자장(Gd)이 기설정된 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되는 지의 여부를 판단할 수 있다(S220).
여기서, 상기 기준 자장의 범위는 0 내지 10 가우스 일수 있다.
만일, 상기 측정된 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되지 않는 경우에, 선택부(450)를 통하여 위치 이동부를 선택한다(S260).
선택부(450)를 통하여 제 1위치 이동부가 선택되는 경우에(S270), 제어부(500)는 마그네트론 부(200)의 수직 위치를 조절할 수 있다(S271).
즉, 상기 측정된 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되지 않는 경우에, 상기 제어부(500)는 구동부(600)를 전기적 신호를 전송한다.
상기 구동부(600)는 도 11에 도시된 마그네트론 부(200)의 자석(220)과 타켓(130)과의 거리 L3을 도 12에 도시된 바와 같이 L3'로 이격시키도록 제 1위치 이동부인 가변 실린더(410)를 구동시킨다.
여기서, 상기 가변 실린더(410)의 가변축(411)은 마그네트론 부(200)의 고정 플레이트(210)의 상단을 끌어 올릴 수 있다.
이때, 상기 자장 측정부(300)는 실시간으로 상기 타켓(130) 저면의 자장을 측정하여 제어부(500)로 전송한다.
따라서, 상기 제어부(500)는 상기 측정되는 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함될 때까지 상기 구동부(600)를 통하여 가변 실린더(410)를 작동시키어 상기 마그네트론 부(200)를 상승시킬 수 있다.
여기서, 도 14에 도시되 격리 플레이트(252)는 상승되는 고정 플레이트(210)의 상면에 접촉되어 상승될 수 있다.
또한, 상기 선택부(450)를 통하여 제 2위치 이동부가 선택되는 경우에(S280), 제어부(500)는 마그네트론 부(200)의 회전 위치를 조절할 수 있다(S281).
즉, 상기 제어부(500)는 구동부(600)를 전기적 신호를 전송한다.
상기 구동부(600)는 도 11에 도시된 마그네트론 부(200)의 자석(220)과 타켓(130)과의 거리 L3를 도 13에 도시된 바와 같이 L3로 이격시키도록 회전 모터(421)와 회전축(422)으로 구성되는 회전 유닛(420)인 제 2위치 이동부를 구동시킨다.
여기서, 상기 회전 모터(421)는 회전축(422)을 180도 회전시키어 마그네트론 부(200)의 고정 플레이트(210)를 회전시킬 수 있다.
이때, 상기 자장 측정부(300)는 실시간으로 상기 타켓(130) 저면의 자장을 측정하여 제어부(500)로 전송한다.
따라서, 상기 제어부(500)는 상기 측정되는 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함될 때까지 상기 구동부(600)를 통하여 회전 모터(421)를 작동시키어 상기 고정 플레이트(210)에 고정된 자석(220)을 제 1영역(a1)에 위치시키도록 회전시킨다.
이때, 도 14를 참조 하면, 회전되어 위치되는 자석(220)은 격리 플레이트(252)와 마주 보도록 위치될 수 있다.
그리고, 상기 격리 플레이트(252)가 자장을 흡수할 수 있는 재질로 이루어질 수 있기 때문에 상기 회전되어 위치된 자석(220)에서 발생되는 자장은 격리 플레이트(252)에서 일정 이상으로 흡수되고, 타켓(130)으로 전달되지 않을 수 있다.
반면에, 상기 제어부(500)는 상기 측정되는 자장(Gd)이 기준 자장의 범위(ΔGs)에 포함되는 경우에, 상기 제어부(500)는 위치 이동부를 작동시키지 않고, 마그네트론 부의 설정 위치를 그대로 유지한다(S230).
이어, 상기 제어부(500)는 공정 제어부(140)를 사용하여 공정이 대기되는 상태를 이루고(S240), 추후 공정이 있는지의 유무를 판단할 수 있다(S250).
한편, 상기 제어부(500)는 공정이 진행되는 경우에, 자장 측정부(300)로부터 측정된 자장을 전송 받고, 측정되는 자장(Gd)이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함되는 지의 여부를 판단 할 수 있다(S400).
상기 측정되는 자장(Gd)이 공정 자장 범위(ΔGp)에 포함되지 않는 경우에, 상기 제어부(500)는 선택부(450)를 통하여 상기에 언급된 바와 같이 제 1위치 이동부를 선택하거나(S800), 제 2위치 이동부를 선택할 수 있다(S900).
따라서, 상기 제 1위치 이동부가 선택되는 경우에(S800), 상기 측정되는 자장(Gd)이 기설정된 공정 자장의 범위(ΔGp) 내에 포함될 때까지 가변 실린더(410)를 사용하여 마그네트론 부(200)의 수직 위치를 조절한다(S810).
또한, 상기 제 2위치 이동부가 선택되는 경우에(S900), 상기 측정되는 자장(Gd)이 기설정된 공정 자장의 범위(ΔGp) 내에 포함될 때까지 회전 유닛(420)을 사용하여 마그네트론 부(200)를 회전 조절할 수 있다(S910).