KR101004594B1 - 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치 - Google Patents

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Abstract

(과제) 자기 센서 어레이를 사용하여 자성 담체를 검지하는 경우에, 자기 센서의 배열 방향에 인접하는 인접 자구로부터의 오버랩의 영향을 받지 않고, 각 자기 센서로부터 검출 신호를 출력시킨다.
(해결 수단) 자화 영역 (11) 을 갖는 자성 담체 (13) 의 주행 방향과 직교하는 방향에, 어레이상으로 인접하여 배치된 복수의 자기 센서 (17) 를 자성 담체에 대하여 작동시킨다. 이 작동에 의해, 각 자기 센서로부터, 각각의 자기 센서에 정대 (正對) 하는 정대 자구로부터의 정대 자계 강도와, 이 정대 자구에 인접하는 인접 자구로부터의 인접 자계 강도에 대응한 출력 신호를 꺼낸다. 그리고, 각각의 출력 신호에 대하여, 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분의 보정을 실시하여, 정대 자계 강도에서 기인하는 정대 신호 성분을, 각 자기 센서의 검출 신호로서 각각 출력시킨다.
자기 센서, 인접 자계 강도, 정대 자구, 정대 자계 강도, 자성 담체

Description

자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치{DETECTION METHOD OF MAGNETIC SENSOR DETECTING SIGNAL AND DETECTION DEVICE}
본 발명은 자화 영역을 갖는 자성 담체 중에 대하여 자기 센서를 작동시키고, 이 자기 센서로부터 검출 신호를 검출하는 방법 및 그 장치에 관한 것이다.
종래 주지하는 바와 같이, 자기 센서는 예를 들어 지폐, 수표, 또는 유가 증권 등의 진위를 판별하는 판별 장치 등에 사용된다 (예를 들어, 특허 문헌 1 참조). 즉, 이들 지폐, 수표, 유가 증권 등이, 예를 들어 자성 잉크 등의 자화 영역을 갖는 자성 담체인 것을 이용하고, 자기 센서를 사용하여 자화 영역으로부터의 자계 강도의 패턴 (이하, 간단히 패턴이라고도 칭한다) 을 검출한다. 그리고, 검출된 이들 자성 담체 중의 자화 영역의 패턴과, 미리 준비된 기준의 패턴을 비교함으로써, 당해 자성 담체의 판별이 이루어진다.
자성 담체가 갖는 자화 영역의 패턴을 검출하기 위해서, 자기 센서는, 반송되는 자성 담체의 주행 방향에 직교하는 방향에, 어레이상으로 인접하여 복수 배치된다. 그리고, 이들 복수의 자기 센서, 즉 자기 센서 어레이에 의해, 일정한 속도로 반송되는 자화 영역으로부터의 자계 강도를, 일정한 시간마다 검출 신호로 서 출력한다. 이로써 얻어진 각 시간에 있어서의 검출 신호로부터 전체적인 자화 영역의 패턴이 검출된다.
여기서, 자기 센서 어레이를 사용하여, 자화 영역으로부터의 자계 강도를 검출 신호로서 출력할 때에는, 자기 센서 어레이를 구성하는 각 자기 센서는, 각각에 정대 (正對) 하는 자화 영역의 자구 (磁區), 즉 정대 자구로부터의 정대 자계 강도에 따른 출력 신호를 꺼내어, 검출 신호로서 출력한다.
특허 문헌 1 : 일본 공개특허공보 2006-236198호
그러나, 자기 센서 어레이를 사용하여 자성 매체를 검지하는 경우에는, 각 자기 센서가, 이들에 대응하는 정대 자구로부터의 정대 자계 강도에 추가하여, 각 정대 자구의 주위의 자구로부터의 자계 강도를 검지하는, 이른바 오버랩으로 불리는 현상이 발생된다.
오버랩은, 자화 영역으로부터의 자계가 퍼짐을 갖는 것에 기인하여 발생된다. 즉, 자화 영역으로부터의 자계가 퍼짐을 갖고 자화 센서에 검지되기 때문에, 각 자구로부터의 자계는, 대응하는 각 자화 센서뿐만 아니라, 이들에 인접하는 자기 센서에 걸쳐 검지된다. 그 때문에, 상기 서술한 바와 같이, 각 자기 센서는, 대응하는 정대 자계 강도뿐만 아니라, 대응하는 각 정대 자구의 주위의 자구로부터의 자계 강도도 검지한다.
이와 같이, 자기 센서 어레이를 사용하여 자성 매체를 검지하는 경우에 오버랩이 발생되면, 각 자구로부터의 자계 강도가, 복수의 자기 센서에 중복하여 검지된다. 그 때문에, 각 자기 센서는, 대응하는 정대 자계 강도와, 각 정대 자구의 주위의 자구로부터의 오버랩에 의한 자계 강도를 포함하여 검지하고, 출력 신호를 꺼낸다. 그 결과, 각 자기 센서의 분해능이 저하되어, 출력하는 검출 신호의 신뢰성이 악화된다는 문제가 발생된다.
그런데, 오버랩은, 검지 대상의 자성 담체와 이간시켜서 사용하는 것을 상정한 자기 센서, 즉 이간형 자기 센서에 있어서, 특히 현저하게 발생된다. 이간 형 자기 센서는, 검지 대상의 자성 담체와 밀착시켜 사용하는 것을 상정한 이른바밀착형 자기 센서와 비교하여, 자계를 넣기 위해서 개구된 개구부의 면적이 크기 때문에, 정대 자구의 주위의 자구에서 기인하는 자계의 영향을 받기 쉽다.
또, 자계는, 자화 영역으로부터의 거리에 비례하여 퍼지기 때문에, 밀착형 자기 센서와 비교하여, 자기 센서 및 자성 담체간의 이간 거리를 크게 설정하여 사용하는 이간형 자기 센서는, 정대 자구의 주위의 자구에서 기인하는 자계의 영향을 받기 쉽다. 따라서, 이간형 자기 센서를 사용하여 자성 담체를 검지하는 경우에는, 출력되는 검출 신호에 오버랩이 현저하게 영향을 미친다.
여기서, 각 자기 센서에 대한 오버랩은, 각 정대 자구의 주위의 자구 중에서, 자기 센서의 배열 방향에 인접하는 인접 자구로부터의 자계 강도, 즉 인접 자계 강도에서 기인하는 것이, 특히 자기 센서의 분해능을 저하시킨다.
각 정대 자구의 주위의 자구 중에서, 반송되는 자성 담체의 주행 방향에 위치하는 자구는, 자성 담체가 반송됨으로써, 어차피 각 자기 센서의 정대 자구가 되는 자구, 및/또는 이미 각 자기 센서의 정대 자구인 자구이기 때문에, 이들 자구로부터의 오버랩에 의해, 각 자기 센서의 분해능이 현저하게 저하되는 경우는 없다.
이것에 대하여, 각 정대 자구의 주위의 자구 중에서, 자기 센서의 배열 방향에 인접하는 인접 자구로부터의 오버랩은, 자기 센서 어레이를 구성하는 각 자구 센서에 걸쳐 영향을 미치기 때문에, 각 자기 센서의 분해능을 현저하게 저하시킨다. 그 때문에, 인접 자계 강도에서 기인하는 오버랩은, 출력되는 검출 신호에 영향을 미친다.
본 발명의 목적은, 밀착형 또는 이간형 자기 센서에 의한 자기 센서 어레이를 사용하여 자성 담체를 검지하는 경우에, 자기 센서의 배열 방향에 인접하는 인접 자구로부터의 오버랩의 영향을 받지 않고, 각 자기 센서로부터 검출 신호를 출력시키는 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치를 제안하는 것에 있다.
상기 서술한 목적의 달성을 도모하기 위해, 본 발명의 요지에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법은, 이하의 과정을 포함한다.
즉, 자화 영역을 갖는 자성 담체의 주행 방향과 직교하는 방향에, 어레이상으로 인접하여 배치된 복수의 자기 센서를 자성 담체에 대하여 작동시킨다.
그리고, 이 작동에 의해, 각 자기 센서로부터, 각각의 자기 센서에 정대하는 정대 자구로부터의 정대 자계 강도와, 이 정대 자구에 인접하는 인접 자구로부터의 인접 자계 강도에 대응한 출력 신호를 꺼낸다.
그리고, 각각의 출력 신호에 대하여, 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분의 보정을 실시하여, 정대 자계 강도에서 기인하는 정대 신호 성분을, 각 자기 센서의 검출 신호로서 각각 출력시킨다.
또, 본 발명의 요지에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 장치는, 상기 서술한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법을 실시하기 위해서, 이하의 특징을 갖는다.
즉, 자기 센서 검출 신호의 검출 장치는, 자화 영역을 갖는 자성 담체에 대하여 작동하고, 또한 그 자성 담체의 주행 방향과 직교하는 방향으로 어레이상으로 인접하여 배치된 복수의 자기 센서와, 이들 각 자기 센서의 출력 신호를 보정하여 검출 신호를 출력시키는 보정 수단을 구비한다.
그리고, 복수의 자기 센서는, 이들 각 자기 센서로부터, 각각의 자기 센서에 정대하는 정대 자구로부터의 정대 자계 강도와, 이 정대 자구에 인접하는 인접 자구로부터의 인접 자계 강도에 대응한 상기 출력 신호를 꺼낸다.
또, 보정 수단은, 각각의 출력 신호에 대하여, 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분의 보정을 실시하여, 정대 자계 강도에서 기인하는 정대 신호 성분을, 검출 신호로서 각각 출력시킨다.
본 발명의 요지에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치에 의하면, 보정 수단에 의해, 각 자기 센서가 꺼낸 출력 신호에 대하여, 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분, 즉 인접 자구로부터의 오버랩에 의해 꺼내진 신호 성분의 보정을 실시한다. 이로써, 정대 자구에 기인하는 정대 신호 성분을, 각 자기 센서의 검출 신호로서 각각 출력시킨다.
따라서, 본 발명의 요지에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치에서는, 인접 자구로부터의 오버랩에 의한 인접 신호 성분을 포함하지 않고, 검출 신호를 출력할 수 있다. 그 때문에, 본 발명의 요지에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치에서는, 이간형 자기 센서를 사용한 경우에 있어서도, 오버랩에 기인한, 자기 센서의 분해능의 저하를 억제할 수 있다.
이하, 도면을 참조하여, 본 발명에 의한 실시형태에 관련된 노광 위치 결정 방법에 대해 설명한다. 또한, 각 도면은, 본 발명을 이해할 수 있는 정도로, 각 구성 요소의 형상, 크기, 및 배치 관계를 개략적으로 나타내고 있는 것에 불과하다. 따라서, 본 발명의 구성은, 조금도 도시의 구성예에만 한정되는 것은 아니다.
<실시형태>
이 실시형태에서는, 자기 센서 어레이를 사용하여 자성 담체를 검지하는 자기 센서 검출 신호의 검출 방법으로서, 자기 센서의 배열 방향에 인접하는 인접 자구로부터의 오버랩의 영향을 받지 않고, 각 자기 센서로부터 검출 신호를 출력시키는 자기 센서 검출 신호의 검출 방법, 및 자기 센서 검출 신호의 검출 장치에 대해 설명한다.
도 1 은, 본 발명의 자기 센서 검출 신호의 검출 방법, 및 검출 장치의 이 실시형태의 설명에 제공되는 사시도이다.
또, 도 2 는, 본 발명의 자기 센서 검출 신호의 검출 방법, 및 검출 장치의 이 실시형태의 설명에 제공되는 평면도이다.
또, 도 3 은, 본 발명의 자기 센서 검출 신호의 검출 방법, 및 검출 장치의 이 실시형태의 설명에 제공되는 도면으로서, 도 2 에 나타내는 I-I 선에 있어서의 절취부의, 화살표 방향으로부터 본 단면도이다.
이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치는, 일정한 기준면을 따라 주행하는, 자화 영역 (11) 을 갖는 자성 담체 (13) 를 검지한다. 그래서, 이 실시형태에서는, 이 기준면을, 자성 담체 (13) 가 설치되어 수 평 방향으로 주행하는 주행면 (15) 으로 한다 (도 3 참조). 그리고, 자성 담체 (13) 의 주행 방향을, 각 도면 중에 화살표로 나타낸다.
또, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치 에 의해 검지되는 자성 담체 (13) 는, 예를 들어, 지폐, 수표, 또는 유가 증권 등의 자성 영역을 갖는 지엽류, 그 외 자성 영역을 갖는 평판상의 구조체이다. 그리고, 자성 담체 (13) 는, 검출면 (13a) 의 전체면 또는 일부에 자화 영역 (11) 을 갖고 있다. 또한, 도 1 및 도 2 의 구성예에서는, 검출면 (13a) 의 일부에 자화 영역 (11) 을 갖는 자성 담체 (13) 를 나타내고 있다.
이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 장치는, 자기 센서 (17) 와 보정 수단 (19) 을 구비하고 있다.
자기 센서 (17) 는, 자성 담체 (13) 를 검지할 목적으로 형성되어 있다. 그 때문에, 자기 센서 (17) 는, 자성 담체 (13) 의 주행 방향과 직교하는 방향, 즉 도 1 및 도 2 에 화살표로 나타내는 배열 방향에 어레이상으로 인접하여 복수 배치되어 있다. 또한, 이하, 이들 어레이상으로 배치된 복수의 자기 센서 (17) 를 자기 센서 어레이 (21) 라고도 칭한다. 또, 이하, 자기 센서 (17) 의 배열 방향을 단순히 자기 센서 (17) 의 방향이라고도 칭한다.
배치하는 자기 센서 (17) 의 개수는, 검지 대상인 자성 담체 (13) 의, 자기 센서 (17) 의 방향에 있어서의 폭에 따라 설정한다. 즉, 자기 센서 어레이 (21) 를 사용하여 자성 담체 (13) 를 검지하기 위해서, 이 자성 담체 (13) 의, 자기 센서 (17) 의 방향의 폭보다, 자기 센서 어레이 (21) 의 배열 방향의 폭이 커지 도록, 배치하는 자기 센서 (17) 의 개수를 설정한다. 그리고, 이 실시형태에서는, 자기 센서 어레이 (21) 를 구성하는 복수의 자기 센서 (17) 중에서, 적어도 양단으로부터 첫번째의 자기 센서가, 자성 담체 (13) 와 대향하지 않도록 자기 센서 (17) 의 개수를 설정한다. 따라서, 자기 센서 어레이 (21) 는, 자성 담체 (13) 와 대향하는 자기 센서 (17) (이하, 대향 자기 센서 (18a) 라고도 칭한다), 및 자성 담체 (13) 와 대향하지 않는 자기 센서 (17) (이하, 비대향 자기 센서 (18b) 라고도 칭한다) 를 포함한다. 그리고, 비대향 자기 센서 (18b) 는, 대향 자기 센서 (18a) 를 사이에 두고 배치된다. 또한, 도 1 및 도 2 에서는, 8 개의 자기 센서 (17), 즉 자기 센서 (17a), 자기 센서 (17b), 자기 센서 (17c), 자기 센서 (17d), 자기 센서 (17e), 자기 센서 (17f), 자기 센서 (17g), 및 자기 센서 (17h) 를 배치한 구성예를 나타내고 있다. 그리고, 이들 도 1 및 도 2 의 구성예에서는, 8 개의 자기 센서 (17) 중에서, 자기 센서 (17c), 자기 센서 (17d), 자기 센서 (17e), 및 자기 센서 (17f) 가, 검지 대상인 자성 담체 (13) 와 대향하는 대향 자기 센서 (18a) 이다. 또, 자기 센서 (17a), 자기 센서 (17b), 자기 센서 (17g), 및 자기 센서 (17h) 는, 자성 담체 (13) 와 대향하고 있지 않은 비대향 자기 센서 (18b) 이다.
자기 센서 어레이 (21) 는, 주행면 (15) 을 일정 속도로 주행하는 자성 담체 (13) 를 검지하기 위해서 일정 시간마다 작동한다. 그리고, 이 각 작동에 의해, 각 자기 센서 (17) 로부터, 검지한 자계 강도에 대응한 출력 신호를 꺼낸다. 이 실시형태에서는, 구동 회로 (22) 로부터 각 자기 센서 (17) 에 일정 시간마다 작동 신호가 보내짐으로써, 각 자기 센서 (17) 는, 자성 담체 (13) 에 대하여 동시에 작동한다.
자성 담체 (13) 의 주행 속도 및 각 작동 간의 시간 간격은, 검지 대상인 자성 담체의 종류, 또는 얻어야할 검출 신호의 정밀도 등에 따라, 임의 적합하게 설정하는 것이 바람직하다. 또, 자성 담체 (13) 는, 예를 들어 주지의 롤러 등으로 반송됨으로써, 주행면 (15) 을 주행한다 (도시하지 않음).
각각의 자기 센서 (17) 는, 이들 각 자기 센서 (17) 에 정대하는 자성 담체 (13) 중의 각 자구 (23), 즉 정대 자구로부터의 정대 자계 강도와, 이들 각 정대 자구에 자기 센서 (17) 의 배열 방향에 인접하는 인접 자구로부터의 인접 자계 강도에 대응한 출력 신호를 꺼낸다. 여기서, 도 1 의 구성예에서는, 자기 센서 (17c) 는 자구 (23c) 와, 자기 센서 (17d) 는 자구 (23d) 와, 자기 센서 (17e) 는 자구 (23e), 및 자기 센서 (17f) 는 자구 (23f) 와 각각 정대하고 있다. 따라서, 이들의 각 조합은, 각각 각 자기 센서 (17) 와, 각각에 대응하는 정대 자구의 관계를 나타내고 있다. 또, 각 정대 자구와 자기 센서의 배열 방향에 있어서 인접하는 자구가, 각 자기 센서 (17) 에 대응하는 인접 자구가 된다. 예를 들어, 자기 센서 (17d) 에 대응하는 인접 자구는, 자기 센서 (17d) 의 정대 자구인 자구 (23d) 에 인접하는, 자구 (23c) 및 (23e) 이다.
그리고, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법에서는, 이와 같이 배치된 자기 센서 어레이 (21) 에 의해, 각 자기 센서 (17) 로부터, 각각 인 정대하는 정대 자구로부터의 정대 자계 강도와, 각 정대 자구에 인접하는 인접 자구로부터의 인접 자계 강도에 대응한 출력 신호를 꺼낸다.
또, 자기 센서 어레이 (21) 는, 증폭 회로 (25), 및 A/D 컨버터 (29) 를 개재하여 보정 수단 (19) 에 접속되어 있다. 증폭 회로 (25) 는, 자기 센서 어레이 (21) 를 구성하는 각 자기 센서 (17) 가 꺼낸 출력 신호의 정보를, 동일 배율로 증폭한다. 또, A/D 컨버터 (29) 는, 증폭된 출력 신호의 정보를 디지털 데이터로 변환하여, 보정 수단 (19) 에 입력한다.
그리고, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법에서는, 자기 센서 어레이 (21) 가 자성 담체 (13) 를 검지하여 얻은 출력 신호를, 증폭회로 (25), 및 A/D 컨버터 (29) 를 개재하여, 각 자기 센서 (17) 마다 보정 수단 (19) 에 입력한다.
보정 수단 (19) 은, 출력 신호에 대하여, 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분의 보정을 실시하여, 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을, 검출 신호로서 각각 출력시키는 목적으로 설치된다.
이미 설명한 바와 같이, 각 자기 센서 (17) 는, 정대 자계 강도 및 인접 자계 강도를 검지한다. 따라서, 각 자기 센서 (17) 가 꺼내는 출력 신호는, 이들 정대 자계 강도 및 인접 자계 강도에서 기인하는 정대 신호 성분 및 인접 신호 성분을 포함한다.
여기서, 출력 신호에 포함되는 인접 신호 성분은, 상기 서술한 오버랩에 의해 검지된 소망하지 않은 인접 자계 강도에서 기인하는 신호 성분이다. 그리고, 이미 설명한 바와 같이, 오버랩에 의한 인접 자계 강도를 검지하는 것에 기인 하여, 각 자기 센서 (17) 에 있어서의 분해능의 저하, 또는 출력하는 검출 신호의 신뢰성의 악화라는 문제가 생길 우려가 있다.
그래서, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법에서는, 검출 장치에 설치한, 예를 들어 주지의 컴퓨터 (CPU) 등의 보정 수단 (19) 에 의해, 인접 신호 성분의 보정을 실시하고, 정대 신호 성분만을 각 자기 센서 (17) 의 검출 신호로서 각각 출력한다.
그 때문에, 보정 수단 (19) 은, 제어부 (32), 기억부 (33), 처리부 (35), 및 판별부 (36) 를 포함한다.
그런데, 이미 설명한 바와 같이, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치에서는, 자기 센서 어레이 (21) 는, 대향 자기 센서 (18a) 및 비대향 자기 센서 (18b) 를 포함하고, 비대향 자기 센서 (18b) 가 대향 자기 센서 (18a) 를 사이에 두고 배치되어 있다. 즉, 이 실시형태에서는, 복수의 자기 센서 (17) 에, 자성 담체 (13) 에 정대하는, 제 1 번째로부터 제 n (n 은 0 을 제외한 자연수) 번째까지 순서대로 배치된 n 개의 자기 센서를 대향 자기 센서 (18a) 로서 포함시킨다. 또한, 도 1 및 도 2 에서는, 4 개의 대향 자기 센서 (18a) 를 포함시켜, 순서대로 자기 센서 (17c) 를 제 1 번째의 대향 자기 센서 (18a), 자기 센서 (17d) 를 제 2 번째의 대향 자기 센서 (18a), 자기 센서 (17e)를 제 3 번째의 대향 자기 센서 (18a), 및 자기 센서 (17f) 를 제 4 번째의 대향 자기 센서 (18a) 로 한 구성예를 나타내고 있다.
여기서, 각 대향 자기 센서 (18a) 는, 대응하는 정대 신호 성분에 추가하여, 인접 자구로부터의 자계 강도와 보정 계수 α (α 는 0＜α＜1 의 실수) 와의 곱셈에 의해 산출되는 인접 신호 성분을 꺼낸다. 또한, α 는, 자기 센서 (17) 의 감도, 및 자기 센서 (17) 와 자성 담체 (13) 의 이간 거리에 따른 고유의 상수이고, 이미 알려진 자계 강도를 가진 기준 자성 담체를 사용하여, 실측적으로 산출 가능한 값이다. 그리고, 이 실시형태에서는, α 를 미리 산출해 둔다.
그리고, 제 1 로부터 제 n 번째까지의 각 대향 자기 센서 (18a) 중에서, 양단에 위치하는 대향 자기 센서, 즉 제 1 번째의 대향 자기 센서 (이하, 제 1 자기 센서라고도 칭한다), 및 제 n 번째의 대향 자기 센서 (이하, 제 n 자기 센서라고도 칭한다) 를 제외하는, 제 i (i 는 1＜i＜n 의 자연수) 번째의 대향 자기 센서 (이하, 제 i 자기 센서라고도 칭한다) 는, 정대하는 제 i 정대 자구로부터의 정대 신호 성분에 추가하여, 제 i 정대 자구의 양측의 인접 자구, 즉 제 i-1 인접 자구 및 제 i+1 인접 자구로부터의 인접 신호 성분을 검지한다.
여기서, Ai 를 제 i 자기 센서가 꺼내는 출력 신호, 및 Bi 를 제 i 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분으로 한다. 또, Bi -1 을 제 i-1 인접 자구에서 기인하는 신호 성분, 및 Bi +1 을 제 i+1 인접 자구로부터의 신호 성분으로 하면, 제 i 자기 센서가 꺼내는 인접 신호 성분은, αBi -1+αBi +1 이 된다. 따라서, 제 i 자기 센서가 꺼내는 출력 신호 Ai 는, 이하의 식 (1) 에 의해 나타내어진다.
Ai=Bi+αBi -1+αBi +1 (1＜i＜n) … (1)
또, 제 1 번째로부터 제 n 번째까지의 각 대향 자기 센서 (18a) 중에서, 양단에 위치하는 대향 자기 센서, 즉 제 1 자기 센서 및 제 n 자기 센서에 각각 정대하는 제 1 정대 자구 및 제 n 정대 자구는, 각 자구 (23) 중에서 자기 센서 (17) 의 배열 방향의 양단에 위치한다. 따라서, 이들 제 1 정대 자구 및 제 n 정대 자구는, 각각 자기 센서 (17) 의 배열 방향에 있어서의 편측에서 1 개의 인접 자구와 인접한다.
따라서, 제 1 자기 센서는, 정대하는 제 1 정대 자구로부터의 정대 신호 성분에 추가하여, 제 1 정대 자구에 인접하는 인접 자구, 즉 제 2 인접 자구로부터의 인접 신호 성분을 검지한다. 또, 제 n 자기 센서는, 정대하는 제 n 정대 자구로부터의 정대 신호 성분에 추가하여, 제 n-1 정대 자구에 인접하는 인접 자구, 즉 제 n-1 인접 자구로부터의 인접 신호 성분을 검지한다.
여기서, A1 을 제 1 자기 센서가 꺼내는 출력 신호, B1 을 제 1 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분, An 을 제 n 자기 센서가 꺼내는 출력 신호, 및 Bn 을 제 n 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분으로 한다. 또, B2 를 제 2 인접 자구에서 기인하는 신호 성분, 및 Bn -1 을 제 n-1 인접 자구에서 기인하는 신호 성분으로 하면, 제 1 자기 센서가 꺼내는 인접 신호 성분은 αB2, 또, 제 n 자기 센서가 꺼내는 인접 신호 성분은 αBn -1 이 된다. 따라서, 제 1 자기 센서가 꺼내는 출력 신호 A1 는, 이하의 식 (2) 에 의해 나타내어진다. 또, 제 n 자기 센서가 꺼내는 출력 신호 An 은, 이하의 식 (3) 에 의해 나타내어진다.
A1=B1+αB2 (i=1) … (2)
An=Bn+αBn -1 (i=n) … (3)
여기서, 당연한 것이면서, 제 i-1 인접 자구는, 대향 자기 센서 (18a) 중에서, 제 i-1 번째의 제 i-1 자기 센서에 정대하는 제 i-1 정대 자구이다. 따라서, Bi -1 은, 제 i-1 자기 센서에 대응하는 정대 신호 성분이다. 또, 제 i+1 인접 자구는, 대향 자기 센서 (18a) 중에서, 제 i+1 번째의 제 i+1 자기 센서에 정대하는 제 i+1 정대 자구이다. 따라서, Bi +1 은, 제 i+1 자기 센서에 대응하는 정대 신호 성분이다. 또, 제 2 인접 자구는, 대향 자기 센서 (18a) 중에서, 제 2번째의 제 2 자기 센서에 정대하는 제 2 정대 자구이다. 따라서, B2 는, 제 2 자기 센서에 대응하는 정대 신호 성분이다. 또, 제 n-1 인접 자구는, 대향 자기 센서 (18a) 중에서, 제 n-1 번째의 제 n-1 자기 센서에 정대하는 제 n-1 정대 자구이다. 따라서, Bn -1 은, 제 n-1 자기 센서에 대응하는 정대 신호 성분이다.
또, 자기 센서 어레이 (21) 중에서, 비대향 자기 센서 (18b) 는, 정대 자구가 존재하지 않기 때문에, 검출 신호를 검출할 필요가 없다. 따라서, 비대향 자기 센서 (18b) 에서는, 출력 신호를 0 으로 간주한다.
상기 서술한 식 (1) ∼ (3) 에 있어서, A1, Ai, 및 An 은, 자기 센서 어레이 (21) 에 의해 자성 담체 (13) 를 검지함으로써 꺼내지는 출력 신호의 실측값이다. 또, 이미 설명한 바와 같이, α 는, 미리 산출하여 설정하는 보정 계수이다. 따라서, 식 (1) ∼ (3) 에, 각 대향 자기 센서 (18a) 로부터 꺼낸 출력 신호를 입력함으로써, 검출해야할 각 대향 자기 센서 (18a) 의 정대 신호 성분의 항의 수와, 식의 수를 일치시킬 수 있다. 그 때문에, 식 (1) ∼ (3) 을 사용함으로써, 각 대향 자기 센서 (18a) 의 정대 신호 성분을 산출할 수 있다.
이하, 이 실시형태에 관련된 검출 장치가, 도 1 및 도 2 의 구성, 즉 자기 센서 (17c), 자기 센서 (17d), 자기 센서 (17e), 및 자기 센서 (17f) 의 4 개의 대향 자기 센서 (18a) 를 포함하는 경우를 예를 들어, 식 (1) ∼ (3) 을 사용하여 각 대향 자기 센서 (18a) 의 정대 신호 성분을 산출하는 방법을 설명한다.
도 1 및 도 2 의 구성예에서는, 자기 센서 어레이 (21) 는, 제 1 로부터 제 4 까지의 대향 자기 센서 (18a) 로서, 순서대로 자기 센서 (17c) (이하, 제 1 자기 센서 (17c) 라고도 칭한다), 자기 센서 (17d) (이하, 제 2 자기 센서 (17d) 라고도 칭한다), 자기 센서 (17e) (이하, 제 3 자기 센서 (17e) 라고도 칭한다), 및 자기 센서 (17f) (이하, 제 4 자기 센서 (17f) 라고도 칭한다) 를 포함한다. 즉, 이 구성예에서는 n=4 가 된다.
제 1 자기 센서 (17c) 는, 각 대향 자기 센서 (18a) 의 제 1 번째로서, 자기 센서 (17) 의 배열 방향의 일단에 위치하고 있기 때문에, 상기 서술한 식 (2) 를 사용하여 정대 신호 성분을 산출한다. 즉 제 1 자기 센서 (17c) 가 꺼내는 출력 신호 A1 은, 정대하는 자구 (23c) 로부터의 정대 신호 성분 B1 과, 자구 (23c) 의 인접 자구인 자구 (23d) 로부터의 인접 신호 성분 αB2 를 포함하기 때문에, 상기 서술한 식 (2) 를 사용하여, 이하의 식 (4) 로 나타내어진다.
A1=B1+αB2 … (4)
또, 제 2 자기 센서 (17d) 는, 제 1 자기 센서 (17c), 및 제 n 자기 센서, 즉 이 구성예에 있어서의 제 4 자기 센서 (17f) 사이에 위치하는 제 i 자기 센서이다. 그 때문에, 상기 서술한 식 (1) 을 사용하여 정대 신호 성분을 산출한다. 즉 제 2 자기 센서 (17d) 가 꺼내는 출력 신호 A2 는, 정대하는 자구 (23d) 로부터의 정대 신호 성분 B2 와, 자구 (23d) 의 인접 자구인 자구 (23c) 및 자구 (23e)로부터의 인접 신호 성분 αB1 및 αB3 을 포함하기 때문에, 상기 서술한 식 (1) 을 사용하여, 이하의 식 (5) 로 나타내어진다.
A2=B2+αB1+αB3 … (5)
또, 제 3 자기 센서 (17e) 는, 제 1 자기 센서 (17c), 및 제 n 자기 센서, 즉 이 구성예에 있어서의 제 4 자기 센서 (17f) 사이에 위치하는 제 i 자기 센서이다. 그 때문에, 상기 서술한 식 (1) 을 사용하여 정대 신호 성분을 산출한다. 즉 제 3 자기 센서 (17e) 가 꺼내는 출력 신호 A3 은, 정대하는 자구 (23e) 로부터의 정대 신호 성분 B3 과, 자구 (23e) 의 인접 자구인 자구 (23d) 및 자구 (23f) 로부터의 인접 신호 성분 αB2 및 αB4 를 포함하기 때문에, 상기 서술한 식 (1) 을 사용하여, 이하의 식 (6) 으로 나타내어진다.
A3=B3+αB2 +αB4 … (6)
또, 제 4 자기 센서 (17f) 는, 각 대향 자기 센서 (18a) 의 제 n 번째로서, 자기 센서 (17) 의 배열 방향의 제 1 자기 센서 (17c) 와는 반대의 일단에 위치하고 있기 때문에, 상기 서술한 식 (3) 을 사용하여 정대 신호 성분을 산출한다. 즉 제 4 자기 센서 (17f) 가 꺼내는 출력 신호 A4 는, 정대하는 자구 (23f) 로부터의 정대 신호 성분 B4 와, 자구 (23f) 의 인접 자구인 자구 (23e) 로부터의 인접 신호 성분 αB3 을 포함하기 때문에, 상기 서술한 식 (3) 을 사용하여, 이하의 식 (7) 로 나타내어진다.
A4=B4+αB3 … (7)
이들 식 (4) ∼ (7) 로부터, B2 및 B3 은 이하의 식 (8) 및 (9) 로 나타내어진다.
B2={(A2-αA1) (1-α2)-αA3+α2A4}/(1-3α2+α4) … (8)
B3=(A3-αA4-αB2)/(1-α2) … (9)
이들 식 (8) 및 (9) 에, 각 대향 자기 센서 (18a) 가 꺼낸 A1, A2, A3, A4 와 보정 계수 α 를 대입함으로써, B2 및 B3 을 산출할 수 있다. 그리고, 산출한 B2 및 B3 을 식 (4) 및 (7) 에 대입함으로써, B1 및 B4 를 산출할 수 있다.
이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법에서는, 각 자기 센서 (17) 가 꺼낸 출력 신호를 보정하기 위해서, 검출 장치의 기억부 (33) 에, 식 (1) ∼ (3) 을 미리 기억시킨다.
그리고, 처리부 (35) 에 있어서, 기억부 (33) 로부터 판독된 식 (1) ∼ (3) 으로부터, n 개의 자기 센서 (17), 즉 대향 자기 센서 (18a) 에 의해 꺼낸 각각의 출력 신호 Ai (i 는 1≤i≤n 의 자연수) 의 값을 이용하여, 각각의 정대 신호 Bi (i 는 1≤i≤n 의 자연수) 를 산출한다.
보다 상세하게는, 각 자기 센서 (17) 가 꺼낸 각각의 출력 신호 Ai 를, 제어부 (32) 에서 식별한다. 그리고, 식별한 자기 센서 (17) 마다의 각 출력 신호를 기억부 (33) 에 입력한다.
처리부 (35) 는, 식별된 각 출력 신호로부터, n 개의 자기 센서 (17), 즉 대향 자기 센서 (18a) 로부터의 출력 신호를, 각 대향 자기 센서 (18a) 의 위치에 따라, 식 (1), 식 (2), 또는 식 (3) 에 입력하고, 정대 신호 성분 Bi 를 산출한다.
또, 처리부 (35) 는, 자성 담체 (13) 와 대향하지 않는 위치에 배치된 자기 센서 (17), 즉 비대향 자기 센서 (18b) 로부터의 출력 신호를, 0 으로 간주한다.
그리고, 검출 장치는, 예를 들어 주지의 프린터, 디스플레이 등을 사용하여, 정대 신호 성분 Bi 를 검출 신호로서 출력한다.
이와 같이, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법에서는, 검출 장치에 설치한 보정 수단 (19) 에 의해, 정대 신호 성분만을 검출 신호로서 출력할 수 있다.
또, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 장치는, 광 센서 (37) 를 구비하고 있다. 그리고, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법에서는, 이 광 센서 (37) 를 사용하여, 자기 센서 어레이 (21) 로부터, 자성 담체 (13) 와 정대하는 n 개의 자기 센서 (17) 를 선택한다.
이미 설명한 바와 같이, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법에서는, 보정 수단 (19) 에 있어서, 대향 자기 센서 (18a) 로부터 꺼낸 각 출력 신호를, 각각의 위치에 따른 식 (1), 식 (2), 또는 식 (3) 에 입력한다. 그 때문에, 이 실시형태에서는, 각 자기 센서 (17) 로부터의 출력 신호를, 대향 자기 센서 (18a) 로부터의 출력 신호와, 비대향시 센서 (18b) 로부터의 출력 신호를, 처리부 (35) 에 판별시킨다. 그리고, 처리부 (35) 에, 자기 센서 어레이 (21) 에 포함되는 대향 자기 센서 (18a) 중에서, 자기 센서 (17) 의 배열 방향의 양단에 위치하는 자기 센서 (17), 즉 제 1 자기 센서 및 제 n 자기 센서의 위치를 인식시킨다.
그래서, 이 실시형태에서는, 주행면 (15) 을 주행하는 자성 담체 (13) 가, 자기 센서 어레이 (21) 에 의해 검지되기 전인, 광 센서 (37) 를 사용하여 자성 담체 (13) 로부터 광 신호를 취득함으로써, 자성 담체 (13) 의, 자기 센서 (17) 의 배열 방향의 폭 (W) 을 검지한다.
광 센서 (37) 는, 증폭 회로 (39) 및 A/D 컨버터 (41) 를 개재하여 보정 수단 (19) 에 접속되어 있다. 증폭 회로 (39) 는, 광 센서 (37) 가 취득한 광 신호를 동일 배율로 증폭한다. 또, A/D 컨버터 (41) 는, 증폭된 광 신호를 디지털 데이터로 변환하고, 보정 수단 (19) 에 입력할 목적으로 설치된다.
그리고, 이 실시형태에서는, 광 센서 (37) 가 검지한 자성 담체 (13) 의 폭 (W) 을, 보정 수단 (19) 의 판별부 (36) 에 입력한다. 이로써, 판별부 (36) 는 주행하는 자성 담체 (13) 가 자기 센서 어레이 (21) 에 의해 검지될 때에, 각 자기 센서 (17) 를, 자성 담체 (13) 와 대향하는 대향 자기 센서 (18a) 와, 자성 담체 (13) 와 대향하지 않는 비대향 자기 센서 (18b) 를 판별한다. 그리고 이 판별부 (36) 로부터의 정보에 의해, 처리부 (35) 는, 검지한 폭 (W) 에 대응한 n 개의 자기 센서를, 복수의 자기 센서 (17) 에서 선택한다. 그 결과, 이 실시형태에서는, 처리부 (35) 는, 꺼낸 각 출력 신호를, 각각의 대향 자기 센서 (18a) 의 위치에 따른 식 (1), 식 (2), 또는 식 (3) 에 입력할 수 있다.
여기서, 이 실시형태에서는, 자기 센서 어레이 (21) 가, 자성 담체 (13) 와 부분적으로 대향하는 자기 센서 (17) 를 포함한 경우에는, 그 자기 센서 (17) 는, 대향 자기 센서 (18a) 로서 판별부 (36) 에 인식된다.
또, 자성 담체 (13) 의 자기 센서 (17) 의 배열 방향의 폭 (W) 이 일정하지 않은 경우에는, 판별부 (36) 는, 자성 담체 (13) 의 주행 속도 및 자기 센서 어레이 (21) 의 각 작동 간의 시간 간격에 기초하여, 자기 센서 어레이 (21) 의 작동마다, 그 작동시의 자성 담체 (13) 의 폭 (W) 에 대응한 n 개의 자기 센서를 처리부 (35) 에 선택시킨다.
광 센서 (37) 는, 예를 들어, 투과형 광 센서, 반사형 광 센서, 그 외 주지의 광 센서로부터, 설계에 따른 바람직한 것이 사용된다. 또한, 도 1 및 도 2 의 구성예에서는, 자성 담체 (13) 를 조사하기 위한 광원 (37a), 및 조사된 자성 담체 (13) 로부터의 투과광을 취득하기 위해서, 수광면 (37ba) 을 주행면 (15) 에 대향시켜 배치한 수광부 (37b) 를 구비한 투과형 광 센서를 사용한 경우를 나타내고 있다.
이 실시형태에서는, 구동 회로로부터 광 센서 (37) 에, 일정 시간마다 작동 신호가 보내짐으로써, 광 센서 (37) 는, 자성 담체 (13) 에 대하여 동시에 작동한다. 이 광 센서 (37) 를 작동시키기 위한 구동 회로는, 바람직하게는, 상기 서술한 자기 센서 (17) 를 작동시키기 위한 구동 회로 (22) 를 공통적으로 사용하는 것이 좋다. 또한, 각 도면에서는, 자기 센서 (17) 및 광 센서 (37) 를, 공통의 구동 회로 (22) 에서 작동시키는 구성예를 나타내고 있다. 또, 이 실시형태에서는, 구동 회로를 제어부 (32) 로 제어하는 구성이어도 된다 (도시하지 않음).
또, 이 실시형태에서는, 정확하게 자성 담체 (13) 의 폭 (W) 을 검지하기 위해서, 검출 장치를 구비하는 광 센서 (37) 의 분해능을, 자기 센서 (17) 의 분해능의 적어도 2 배 이상으로 설정하는 것이 바람직하다. 즉, 바람직하게는, 이 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 장치는, 자기 센서 어레이 (21) 를 구성하는 자기 센서 (17) 의, 적어도 2 배 이상의 개수의 광 센서 (37) 를 배치하는 것이 좋다. 또, 이들 각 광 센서 (37) 는, 자기 센서 어레이 (21) 의 배열 방향과 평행하여, 인접시켜 배치하는 것이 바람직하다. 또한, 도 1 및 도 2 의 구성예에서는, 투과형 광 센서 (37) 의 수광부 (37b) 를, 자기 센서 (17) 의 개수 배치한 경우, 즉 광 센서 (37) 의 분해능을 자기 센서 (17) 의 2 배로 설정한 경우를 나타내고 있다. 또, 수광부 (37b) 에 대응시켜 광원 (37a) 을 복수 배치해도 된다 (도시하지 않음).
이 실시형태에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치에 의하면, 보정 수단 (19) 에 의해, 자성 담체 (13) 와 정대하는 각 자기 센서 (17), 즉 각 대향 자기 센서 (18a) 가 꺼낸 출력 신호에 대하여, 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분, 즉 인접 자구로부터의 오버랩에 의해 꺼내진 신호 성분의 보정을 실시한다. 이로써, 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을, 각 대향 자기 센서 (18a) 의 검출 신호로서 각각 출력시킨다.
따라서, 이 실시형태에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치에서는, 인접 자구로부터의 오버랩에 의한 인접 신호 성분을 포함하지 않고, 검출 신호를 출력할 수 있다. 그 때문에, 이 실시형태에 의한 자기 센서 검출 신호의 검출 방법 및 검출 장치에서는, 이간형 자기 센서를 사용한 경우에 있어서도, 오버랩에 기인한, 각 자기 센서 (17) 의 분해능의 저하를 억제할 수 있다.
도 1 은 본 발명의 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법, 및 검출 장치의 설명에 제공되는 사시도이다.
도 2 는 본 발명의 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법, 및 검출 장치의 설명에 제공되는 평면도이다.
도 3 은 본 발명의 실시형태에 관련된 자기 센서 검출 신호의 검출 방법, 및 검출 장치의 설명에 제공되는 도면이고, 도 2 에 나타내는 I-I 선에 있어서의 절취부위, 화살표 방향으로부터 본 단면도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
11 : 자화 영역
13 : 자성 담체
15 : 주행면
17 : 자기 센서
18a : 대향 자기 센서
18b : 비대향 자기 센서
19 : 보정 수단
21 : 자기 센서 어레이
22 : 구동 회로
23 : 자구
25, 39 : 증폭 회로
29, 41 : A/D 컨버터
32 : 제어부
33 : 기억부
35 : 처리부
36 : 판별부
37 : 광 센서

Claims (6)

  1. 자화 영역을 갖는 자성 담체의 주행 방향과 직교하는 방향에, 어레이상으로 인접하여 배치된 복수의 자기 센서를 상기 자성 담체에 대하여 작동시키고,
    상기 작동에 의해, 각 상기 자기 센서로부터, 각각의 자기 센서에 정대 (正對) 하는 정대 자구 (磁區) 로부터의 정대 자계 강도와, 상기 정대 자구에 인접하는 인접 자구로부터의 인접 자계 강도에 대응한 출력 신호를 꺼내고,
    각각의 상기 출력 신호에 대하여, 상기 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분의 보정을 실시하여, 상기 정대 자계 강도에서 기인하는 정대 신호 성분을, 각 상기 자기 센서의 검출 신호로서 각각 출력시키는 것을 특징으로 하는 자기 센서 검출 신호의 검출 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 자기 센서에, 상기 자성 담체에 정대하는, 제 1 번째로부터 제 n (n 은 0 을 제외한 자연수) 번째까지 순서대로 배치된 n 개의 자기 센서를 포함시키고,
    상기 n 개의 자기 센서의 제 i (i 는 1＜i＜n 의 자연수) 번째로 배치된 제 i 자기 센서가 꺼내는 출력 신호를 Ai, 상기 제 i 자기 센서에 정대하는 제 i 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을 Bi, 보정 계수를 α (α 는 0＜α＜1 의 실수 ), 또 상기 제 i 정대 자구에 인접하는 제 i-1 인접 자구 및 제 i+1 인접 자구에서 기인하는 인접 신호 성분을 αBi -1 및 αBi +1 로 하고,
    상기 n 개의 자기 센서의 제 1 번째로 배치된 제 1 자기 센서가 꺼내는 출력 신호를 A1, 상기 제 1 자기 센서에 정대하는 제 1 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을 B1, 또 상기 제 1 정대 자구에 인접하는 제 2 인접 자구에서 기인하는 인접 신호 성분을 αB2 로 하고,
    상기 n 개의 자기 센서의 제 n 번째로 배치된 제 n 자기 센서가 꺼내는 출력 신호를 An, 상기 제 n 자기 센서에 정대하는 제 n 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을 Bn, 또 상기 제 n 정대 자구에 인접하는 제 n-1 인접 자구에서 기인하는 인접 신호 성분을 αBn - 1 로 하여,
    식
    Ai=Bi+αBi -1+αBi +1 (1＜i＜n)
    A1=B1+αB2 (i=1)
    An=Bn+αBn -1 (i=n)
    에, 상기 n 개의 자기 센서에 의해 꺼낸 Ai (i 는 1≤i≤n 의 자연수) 의 값을 이용하여, Bi (i 는 1≤i≤n 의 자연수) 를 산출함으로써, 상기 정대 신호 성분 을 각 상기 자기 센서의 검출 신호로서 각각 출력시키는 것을 특징으로 하는 자기 센서 검출 신호의 검출 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    광 센서를 사용하여 상기 자성 담체의 상기 자기 센서의 배열 방향의 폭을 검지하고,
    상기 검지한 폭에 대응시켜, 상기 복수의 자기 센서로부터 상기 n 개의 자기 센서를 선택하는 것을 특징으로 하는 자기 센서 검출 신호의 검출 방법.
  4. 자화 영역을 갖는 자성 담체에 대하여 작동하고, 또한 그 자성 담체의 주행 방향과 직교하는 방향으로 어레이상으로 인접하여 배치된 복수의 자기 센서와,
    각 상기 자기 센서의 출력 신호를 보정하여 검출 신호를 출력하는 보정 수단을 포함하고,
    상기 복수의 자기 센서는, 각 상기 자기 센서로부터, 각각의 자기 센서에 정대 (正對) 하는 정대 자구 (磁區) 로부터의 정대 자계 강도와, 상기 정대 자구에 인접하는 인접 자구로부터의 인접 자계 강도에 대응한 상기 출력 신호를 출력하고,
    상기 보정 수단은, 각각의 상기 출력 신호에 대하여, 상기 인접 자계 강도에서 기인하는 인접 신호 성분의 보정을 실시하여, 상기 정대 자계 강도에서 기인하는 정대 신호 성분을, 상기 검출 신호로서 각각 출력하는 것을 특징으로 하는 자기 센서 검출 신호의 검출 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 복수의 자기 센서는, 상기 자성 담체에 정대하는, 제 1 번째로부터 제 n (n 은 0 을 제외한 자연수) 번째까지 순서대로 배치된 n 개의 자기 센서를 포함하고,
    상기 보정 수단은, 기억부와 처리부를 포함하고,
    상기 기억부는, 상기 n 개의 자기 센서의 제 i (i 는 1＜i＜n 의 자연수) 번째로 배치된 제 i 자기 센서가 꺼내는 출력 신호를 Ai, 상기 제 i 자기 센서에 정대하는 제 i 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을 Bi, 보정 계수를 α (α 는 0＜α＜1 의 실수), 또 상기 제 i 정대 자구에 인접하는 제 i-1 인접 자구 및 제 i+1 인접 자구에서 기인하는 인접 신호 성분을 αBi -1 및 αBi +1 로 하고,
    상기 n 개의 자기 센서의 제 1 번째로 배치된 제 1 자기 센서가 꺼내는 출력 신호를 A1, 상기 제 1 자기 센서에 정대하는 제 1 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을 B1, 또 상기 제 1 정대 자구에 인접하는 제 2 인접 자구에서 기인하는 인접 신호 성분을 αB2 로 하고,
    상기 n 개의 자기 센서의 제 n 번째로 배치된 제 n 자기 센서가 꺼내는 출력 신호를 An, 상기 제 n 자기 센서에 정대하는 제 n 정대 자구에서 기인하는 정대 신호 성분을 Bn, 또 상기 제 n 정대 자구에 인접하는 제 n-1 인접 자구에서 기인하는 인접 신호 성분을 αBn - 1 로 하여,
    식
    Ai=Bi+αBi -1+αBi +1 (1＜i＜n)
    A1=B1+αB2 (i=1)
    An=Bn+αBn -1 (i=n)
    을, 미리 기억하고,
    상기 처리부는, 상기 기억부로부터 판독된 상기 식으로부터, 상기 n 개의 자기 센서에 의해 꺼낸 Ai (i 는 1≤i≤n 의 자연수) 의 값을 이용하여, Bi (i 는 1≤i≤n 의 자연수) 를 산출하는 것을 특징으로 하는 자기 센서 검출 신호의 검출 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 자성 담체의 상기 자기 센서의 배열 방향의 폭을 검지하고, 또한 상기 검지된 폭에 대응하여, 상기 복수의 자기 센서로부터 상기 n 개의 자기 센서를 선택하는 광 센서를 구비하는 특징으로 하는 자기 센서 검출 신호의 검출 장치.
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102262794A (zh) * 2011-08-10 2011-11-30 深圳市怡化电脑有限公司 用于钞票检测的智能型磁性传感器模组
JP6226629B2 (ja) * 2013-08-09 2017-11-08 株式会社東芝 磁気検出装置及び紙葉類処理装置
CN103400440A (zh) * 2013-08-15 2013-11-20 广州广电运通金融电子股份有限公司 一种磁信号检测方法及装置
CN105182259A (zh) * 2015-08-04 2015-12-23 南京信息工程大学 一种空间磁场强度分布式同步检测装置及方法
EP3650816B1 (en) * 2018-11-12 2021-01-27 Melexis Technologies SA Magnetic position sensor system and method
CN113544528A (zh) * 2019-03-13 2021-10-22 日本电产理德股份有限公司 检测值修正系统、系数计算方法以及检测值修正方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000172899A (ja) 1998-12-09 2000-06-23 Omron Corp データ補正装置
JP2005182115A (ja) 2003-12-16 2005-07-07 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 紙葉類識別センサの駆動回路及び紙葉類識別装置
JP2006350820A (ja) 2005-06-17 2006-12-28 Toshiba Corp 紙葉類識別装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0795098B2 (ja) * 1989-03-29 1995-10-11 株式会社島津製作所 磁気探知装置
JPH03179214A (ja) * 1989-12-07 1991-08-05 Fuji Electric Co Ltd アレイセンサの出力方式
PT1221679E (pt) * 2001-01-08 2004-04-30 Rue De Int Ltd Leitor de fita magnetica
JP4953666B2 (ja) * 2006-03-08 2012-06-13 日本電産サンキョー株式会社 磁気センサ装置および識別装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000172899A (ja) 1998-12-09 2000-06-23 Omron Corp データ補正装置
JP2005182115A (ja) 2003-12-16 2005-07-07 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 紙葉類識別センサの駆動回路及び紙葉類識別装置
JP2006350820A (ja) 2005-06-17 2006-12-28 Toshiba Corp 紙葉類識別装置

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