KR100999864B1 - Probe block for the lcd - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A probe block for inspecting a heterogeneous liquid crystal display panel is provided to efficiently use equipment by simultaneously inspecting different panels using one inspection device. CONSTITUTION: A first probe and a second probe(60) connect a first flexible board and a second flexible board with target panels one by one. A first guide plate(20) elastically supports the first probe. A second upper guide plate(40) and a second lower guide plate(50) elastically support a second probe on the upper and lower sides of the first guide plate. A slit and a hooking protrusion guide the horizontal protrusion(33) of the first probe to be contacted with the first flexible board on the upper side of the first guide plate. A slit for a probe guides the contact between the first probe and a first panel.

Description

이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록{Probe block for the LCD}Probe block for heterogeneous liquid crystal display panel inspection

본 발명은 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 수직으로 합착된 두 종류의 LCD패널 또는 수직으로 합착된 일반 LCD패널과 터치패널의 이상유무를 동시에 검사할 수 있도록 하기 위하여 두 종류의 프로브들과 이들 프로브를 지지하는 가이드플레이트를 하나의 블록 조립체로 구성함으로써, 하나의 검사장비로 서로 다른 패널을 동시에 검사할 수 있으므로 생산성이 향상되고, 또한 프로브들은 회로기판과 납땜되지 않은 형태(nonsoldering type)로써 프로브가 조립식으로 가이드플레이트에 결합되므로 불량 프로브의 교체가 편리한 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록에 관한 것이다.The present invention relates to a probe block for heterogeneous liquid crystal display panel inspection, and more particularly, in order to be able to simultaneously inspect two types of LCD panels vertically bonded or normal LCD panels vertically bonded and touch panels. By constructing two types of probes and a guide plate for supporting these probes in one block assembly, it is possible to simultaneously inspect different panels with one inspection equipment, thereby increasing productivity. Also, the probes are not soldered with a circuit board. As a nonsoldering type, the probe is assembled to the guide plate in a prefabricated manner, and thus relates to a probe block for inspecting a heterogeneous liquid crystal display panel which is easy to replace a defective probe.

일반적으로 액정디스플레이(LCD : Liquid Crystal Display)는 TFT(Thin Film Transistor), TN(Twisted Nematic), STN(Super Twisted Nematic), CSTN(Color Super Twisted Nematic), DSTN(Double Super Twisted Nematic)Type 및 유기EL(Electro Luminescence)Type이 있으며, 이러한 패널이 픽셀에러(Pixel error)없이 정상작동 하는지를 검사하는데 프로브 블록이 사용된다.In general, liquid crystal displays (LCDs) include thin film transistors (TFT), twisted nematic (TN), super twisted nematic (STN), color super twisted nematic (STN), double super twisted nematic (DSTN) types There is an EL (Electro Luminescence) type, and a probe block is used to check whether these panels operate normally without pixel errors.

현재까지 개발된 프로브는 텅스텐 또는 레늄 텅스텐 와이어를 모재로 제작된 니들형(Needle Type), 니켈 또는 베릴륨동을 모재로 제작된 블레이드형(Blade Type), 폴리마이드 필름(Ploymide Film)에 동판 또는 기타 도전체를 올려 애칭가공하여 제작한 필름형(Film Type), 필름형에 반도체 공정기술을 이용하여 도전성 매체를 주입한 하이브리드형(Hybride Type), 스프링 장력을 이용한 포고핀(Pogo Pin)을 소재로 제작한 포고형(Pogo Type), 반도체 Mems공정기술을 이용한 Mems형(Mems Type)등이 있다.Probes developed so far are needle type made of tungsten or rhenium tungsten wire as the base material, blade type made of nickel or beryllium copper as base material, copper plate or other in polymide film. Film type manufactured by raising conductor and nickname processing, Hybrid type in which conductive medium is injected into film type using semiconductor process technology, and Pogo Pin using spring tension Produced Pogo type, Mems type using semiconductor Mems process technology.

상기 유기EL Type중 AMOLED(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode)는 백라이트에 의해 빛을 발하는 LCD와는 달리 자체에서 빛을 발하는 디스플레이를 말한다. TFT LCD에 견줘 동영상 응답 속도가 1000배 이상 빠르고, 색 재현율과 명암비도 월등하여 동영상에 최적화된 디스플레이로 인정되나 기술적인 한계 및 가격적인 측면에서 볼때 현재로선 핸드폰용 디스플레이 패널에 사용중이다.Among the organic EL types, AMOLED (Active Matrix Organic Light-Emitting Diode) refers to a display that emits light on its own, unlike an LCD that emits light by a backlight. Compared to TFT LCD, the video response speed is over 1000 times faster, and the color reproducibility and contrast ratio are excellent, so it is recognized as an optimized display for video. However, in terms of technical limitations and price, it is currently used for display panels for mobile phones.

이러한 다양한 종류의 패널을 검사하는데 있어서, 종래에는 한 종류의 패널에 하나의 검사장비를 이용하였기 때문에 다품종 소량생산되는 핸드폰용 패널의 경우 비효율적인 측면이 있었다.In inspecting such various types of panels, conventionally, since one test equipment is used for one type of panel, there is an inefficient aspect in the case of a mobile phone panel produced in small quantities of various kinds.

특히 두종류의 소량 생산되는 패널이라던가 소량생산되는 일반 LCD패널과 터치패널 같은 서로 다른 종류의 패널을 검사하기 위해 두대의 검사장비를 사용해야 되므로 공간을 많이 차지하고 고가의 검사장비를 여러대 갖춰야 되므로 설비비가 증가되는 등의 단점이 있었다.In particular, two inspection equipments must be used to inspect two different types of panels such as general-purpose LCD panels and touch panels, which are produced in small quantities, and thus require a lot of space and expensive inspection equipment. There were disadvantages such as increased.

본 발명은 종래의 문제점을 감안하여 개발한 것으로서, 본 발명의 목적은 수직으로 합착된 두 종류의 LCD패널 또는 수직으로 합착된 일반 LCD패널과 터치패널의 이상유무를 동시에 검사할 수 있도록 하기 위하여 두 종류의 프로브들과 이들 프로브를 지지하는 가이드플레이트를 하나의 조립체로 구성함으로써, 하나의 검사장비로 서로 다른 패널을 동시에 검사할 수 있으므로 설비를 효율적으로 사용할 수 있으며 또한 생산성이 향상되는 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록을 제공함에 있다.The present invention has been developed in view of the conventional problems, and an object of the present invention is to allow two types of vertically bonded LCD panels or vertically bonded general LCD panels and touch panels to simultaneously check for abnormalities. It is possible to use different types of probes and guide plates for supporting these probes in one assembly, so that different panels can be inspected at the same time with one inspection equipment, so that the equipment can be used efficiently and the productivity of heterogeneous liquid crystal display panels can be improved. In providing a probe block for inspection.

이를 위하여 본 발명은 검사장비에 각각 연결된 제1,2플랙시블기판들과 검사대상 제1,2패널들을 회로적으로 일대일 연결하는 다수의 제1프로브 및 제2프로브들이 구비되고, 상기 제1프로브들을 탄성적으로 지지하는 제1가이드플레이트가 구비되고, 상기 제1가이드플레이트의 상,하측에는 상기 제2프로브들을 탄성적으로 지지하는 제2상부가이드플에이트 및 제2하부가이드플레이트가 각각 구비되며, 상기 제1가이드플레이트의 상단에는 상기 제1프로브의 수평돌기가 상기 제1플랙시블기판과 접촉되도록 안내하는 슬릿 및 걸림턱이 각각 형성되고, 하단에는 상기 제1프로브의 제1탐침이 상기 제1패널의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿이 형성되며, 상기 제2상부가이드플레이트에는 상기 제2프로브의 좌우구속돌기가 제2플랙시블기판과 접촉되도록 안내하는 슬릿 및 걸림턱이 각각 형성되며, 상기 제2하부가이드플레이트에는 상기 제2프로브의 제2탐침이 상기 제2패널의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿이 형성된 특징이 있다.To this end, the present invention is provided with a plurality of first probes and second probes for connecting the first and second flexible substrates connected to the inspection equipment and the first and second panels to be tested one-to-one in circuit, respectively, the first probe A first guide plate for elastically supporting the second guide plate, and upper and lower sides of the first guide plate are provided with a second upper guide plate and a second lower guide plate for elastically supporting the second probes, respectively. At the top of the first guide plate, a slit and a locking step for guiding the horizontal protrusion of the first probe to contact the first flexible substrate are formed, respectively, and at the bottom of the first guide plate, the first probe of the first probe is formed. Probe slits are formed to guide the terminals of the first panel, and the left and right restraints of the second probe are in contact with the second flexible substrate on the second upper guide plate. And a slit and a locking step for locking guide formed respectively, wherein the lower guide plate 2 has a characteristic is formed with a slit to guide the probe to the second probe of said second probe into contact with the end of the second panel.

다품종 소량생산되는 핸드폰 같은 패널의 경우 종류와 크기가 다양하므로 패널의 형태가 변할때 마다 이를 검사하기 위한 프로브블록을 새롭게 구성해야 되므로 검사비용이 증가되는 문제점이 있었으나, 본 발명은 이종의 패널을 검사하기위한 두 종류의 프로브를 하나의 블록으로 조립하였으므로 하나의 검사장비에서 수직으로 합착된 두 종류의 패널을 동시에 검사할 수 있다. 따라서 다품종 소량생산되는 패널제품에 적합하므로 설비비를 줄일 수 있으며, 하나의 설비를 효율적으로 활용할 수 있는 이점이 있다.In the case of a panel such as a cell phone produced in a small quantity of various varieties, since the type and size of the panel is changed, a probe block for inspecting it every time the shape of the panel is changed has a problem in that the inspection cost is increased, but the present invention is to examine the heterogeneous panel. Since two types of probes are assembled into one block, it is possible to simultaneously inspect two types of panels that are vertically bonded by one test equipment. Therefore, it is suitable for panel products that are produced in small quantities of various types, and thus, equipment cost can be reduced, and one facility can be efficiently utilized.

또한 프로브를 지지하는 프로브 블록을 3등분하여 제1블록으로 하나의 프로브를 지지하고 나머지 두개의 블록을 상기 제1블록의 상,하측에 조립식으로 체결하여 하나의 프로브 블록이 완성되도록 하면 이들 프로브들의 간격유지를 위한 슬롯의 형성이 쉬워지므로 프로브 블록의 제작이 편리한 이점이 있으며, 프로브들은 해당 가이드플레이트에 조립식으로 체결되며 이들 프로브들은 검사장비의 인쇄회로기판과 납땜방식이 아닌 접촉 방식으로 연결되기 때문에 불량 프로브를 검사현장에서 작업자가 쉽게 교체가능한 이점이 있다.In addition, by dividing the probe block supporting the probe into three parts to support one probe as the first block, and fastening the other two blocks to the upper and lower sides of the first block to form one probe block, Since the formation of slots for maintaining the spacing is easy, the manufacturing of the probe block is convenient, and the probes are prefabricated to the corresponding guide plate, and these probes are connected to the printed circuit board of the inspection equipment by contact rather than soldering. There is an advantage that the operator can easily replace the defective probe at the inspection site.

도 1은 본 발명 한 실시예의 프로브블록의 분리 사시도
도 2는 본 발명 한 실시예의 프로브블록의 분리 단면도
도 3은 본 발명 한 실시예의 프로브블록의 조립 단면도1 is an exploded perspective view of a probe block of one embodiment of the present invention
Figure 2 is an exploded cross-sectional view of the probe block of one embodiment of the present invention
Figure 3 is an assembled cross-sectional view of the probe block of one embodiment of the present invention

본 발명 한 실시예의 프로브블록은 제1패널(70) 검사용 제1프로브(30)를 지지하는 제1가이드플레이트(20)가 구비되고, 상기 제1가이드플레이트(20)의 상,하측에 결합되어 제2패널(71)을 검사하기위한 제프로브(60)를 지지하는 제2상부가이드플레이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50)로 구성된다.The probe block according to the embodiment of the present invention includes a first guide plate 20 for supporting the first probe 30 for inspecting the first panel 70 and is coupled to the upper and lower sides of the first guide plate 20. And a second upper guide plate 40 and a second lower guide plate 50 for supporting the probe 60 for inspecting the second panel 71.

상기 제1프로브(30)는 블레이드 형태로써 한쪽 끝단에 수평탄성부(34)로 연결되는 수평돌기(33)가 상부로 돌출 구비되고, 상기 수평돌기(33)와 대향되도록 다른쪽 끝단에 수직돌기(36)가 상부로 돌출되며, 상기 수직돌기(36)의 하부에는 원호형 수직탄성부(32)로 연결되어 제1패널(70)과 접촉되는 제1탐침(31)이 구비된다.The first probe 30 is in the form of a blade is provided with a horizontal projection (33) connected to the horizontal elastic portion 34 at one end protruding upward, the vertical projection at the other end so as to face the horizontal projection (33) A 36 is protruded upward, and a lower portion of the vertical protrusion 36 is provided with a first probe 31 connected to the arc-shaped vertical elastic portion 32 to be in contact with the first panel 70.

상기 제1가이드플레이트(20)에는 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)가 걸리는 걸림턱(22)이 측면에 돌출 구비되고, 상기 수직돌기(36)가 끼워들어가는 걸림홈(24)이 구비되며, 상기 제1탐침(31)이 제자리에서 승강되도록 안내하는 탐침용 슬릿(21)이 구비된다. 그리고 상기 걸림턱(22)에는 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)와 수평탄성부(34) 사이에 형성된 끼움편(35)이 들어가도록 안내하는 슬릿(23)이 구비된다.The first guide plate 20 is provided with a latching jaw 22 to which the horizontal protrusion 33 of the first probe 30 is projected on the side, and the locking groove 24 into which the vertical protrusion 36 is inserted. Is provided, the probe slit 21 for guiding the first probe 31 is raised in place is provided. In addition, the locking jaw 22 is provided with a slit 23 for guiding the fitting piece 35 formed between the horizontal protrusion 33 and the horizontal elastic part 34 of the first probe 30.

그리고 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)와 회로적으로 접촉되는 제1플랙시블기판(10)이 구비되어 검사장비와 연결되며, 상기 제1프로브(30)가 상기 제1가이드플레이트(20)와 결합되면 수평돌기(33)와 걸림턱(22)에 의해 제1프로브(30)의 상,하측 방향이 구속되고, 상기 수직돌기(36)와 걸림홈(24)에 의해 제1프로브(30)의 좌,우측 방향이 구속되며, 끼움편(35)과 슬릿(23)에 의해 제1프로브(30)의 전,후측 방향이 구속된 상태로 상기 제1탐침(31)이 탄성적으로 움직이면서 제1패널(70)의 단자들과 접촉될 수 있다.In addition, a first flexible substrate 10 which is in circuit contact with the horizontal protrusion 33 of the first probe 30 is provided and connected to the inspection equipment, and the first probe 30 is connected to the first guide plate. When combined with the 20, the upper and lower directions of the first probe 30 are constrained by the horizontal protrusion 33 and the locking jaw 22, and the first protrusion is formed by the vertical protrusion 36 and the locking groove 24. Left and right directions of the probe 30 are constrained, and the first probe 31 is burned in a state in which the front and rear directions of the first probe 30 are constrained by the fitting piece 35 and the slit 23. While sexually moving it may be in contact with the terminals of the first panel (70).

상기 제2상부가이드플레이트(40)의 상단에는 제2프로브(60)의 상부에 형성된 좌우구속돌기(65)가 끼워져 걸리는 슬릿(41)과 걸림턱(42)이 형성되고, 상기 제2하부가이드플레이트(50)의 하단에는 상기 제2프로브(60)의 하단에 형성된 제2탐침(61)의 꼽히는 탐침용 슬릿(51)이 형성된다. 그리고 상기 제1가이드플레이트(20)의 측면에는 상기 제2상부가이드플레이트(40)와 접하는 부분으로 걸림홈(25)이 형성되어 상기 제프로브(60)의 중간에 형성된 상하구속돌기(64)가 끼워져 걸리는 구성이다.On the upper end of the second upper guide plate 40 is formed a slit 41 and a locking jaw 42 to which the left and right restraint projections 65 formed on the upper portion of the second probe 60 are fitted. At the lower end of the plate 50, a protruding slit 51 of the second probe 61 formed at the lower end of the second probe 60 is formed. In addition, a locking groove 25 is formed at a side of the first guide plate 20 in contact with the second upper guide plate 40 so that the upper and lower binding protrusions 64 formed in the middle of the zeprobe 60 are formed. It is the structure that is caught.

또한 상기 제2프로브(60)에는 상단에 신호입력단(66)이 형성되고 상기 신호입력단(66)에 탄성을 부여하는 수평탄성부(63)가 구비되며, 상기 제2탐침(61)에 탄성을 부여하는 수직탄성부(62)가 구비되고, 상기 좌우구속돌기(65)는 제2플랙시블기판(11)과 접촉되어 검사장비와 회로적으로 연결된다. 상기 신호입력단(66)은 검사장비와 별도로 연결되어 검사 대상 패널에 신호를 입력할 수 있다.In addition, the second probe 60 is provided with a horizontal elastic portion 63 having a signal input end 66 formed at an upper end thereof and giving elasticity to the signal input end 66, and providing elasticity to the second probe 61. A vertical elastic portion 62 is provided, and the left and right restraint protrusions 65 are in contact with the second flexible substrate 11 and are connected to the test equipment in a circuit. The signal input terminal 66 may be connected to the test equipment separately to input a signal to the test target panel.

이처럼 구성된 본 발명 한 실시예의 프로브블록은 제1프로브(30) 및 제프로브(60)들이 제1,2가이드플레이트(20)(40)(50)에 조립식으로 체결되므로 검사현장에서 불량이 발생되면 해당 프로브만 교체하면 되므로 사용이 편리한 이점이 있다.Probe block of an embodiment of the present invention configured as described above is the first probe 30 and the probe 60 are assembled to the first and second guide plates 20, 40, 50, so that when a defect occurs in the inspection site It is convenient to use because only the probe needs to be replaced.

본 발명의 프로브블록은 제1가이드플레이트(20)의 상,하부에 제2상부가이드플레이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50)가 접착제 또는 기타 나사 체결방식으로 결합되어 하나의 블록을 이루는 것이다. 이러한 블록에 해당 프로브들을 조립과정하는 살펴보면, 먼저 제1프로브(30)는 제1가이드플레이트(20)의 밑에서 수직으로 밀어 넣어 상기 수직돌기(36)가 걸림홈(24)에 끼워들어가고 수평돌기(33)가 걸림턱(22)에 걸리도록 한다.In the probe block of the present invention, the second upper guide plate 40 and the second lower guide plate 50 are coupled to each other by using an adhesive or other screw fastening method to form one block on the upper and lower portions of the first guide plate 20. will be. Looking at the process of assembling the probes in such a block, first the first probe 30 is pushed vertically from the bottom of the first guide plate 20, the vertical projection 36 is inserted into the locking groove 24 and the horizontal projection ( 33) is caught by the locking jaw (22).

이때 상기 수평돌기(33)는 수평탄성부(34)를 이용하여 한쪽으로 벌린 상태에서 상기 걸림턱(22)에 형성된 슬릿(23)으로 들어가도록 안내한 뒤 제1프로브(30)를 밀어 넣으면 걸림턱(22)이 슬릿(23)을 벗어나는 순간 수평탄성부(34)의 복원력에 의해 원위치 되면서 걸림턱(22)의 상단에 수평돌기(33)가 걸려 제1프로브(30)가 고정된다. 상기 수평돌기(33)는 제1플랙시블기판(10)의 단자부와 탄성적으로 접촉되므로 검사장비와 회로적으로 연결되고, 상기 제1프로브(30)의 제1탐침(31)은 탐침용 슬릿(21)에 자리잡는다.At this time, the horizontal protrusion 33 is guided to enter the slit 23 formed in the locking jaw 22 in the state opened to one side by using the horizontal elastic portion 34, and then push the first probe 30 When the jaw 22 is out of the slit 23, the first probe 30 is fixed by the horizontal protrusion 33 hanging on the upper end of the latching jaw 22 while being restored to its original position by the restoring force of the horizontal elastic part 34. Since the horizontal protrusion 33 is elastically in contact with the terminal portion of the first flexible substrate 10 is connected to the test equipment in a circuit, the first probe 31 of the first probe 30 is a probe slit It is situated at (21).

제2프로브(60)는 제2상부가이드플레이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50) 쪽으로 수평이동 시켜 조립하면 되는데, 이때 상기 제프로브(60)의 상부에 형성된 좌우구속돌기(65)가 슬릿(41)에 끼워들어가 걸림턱(42)에 걸린 상태에서 제2플랙시블기판(11)과 회로적으로 연결된다. 또한 제2프로브(60)의 중간에 형성된 상하구속돌기(64)는 제1가이드플레이트(20)의 걸림홈(25)에 끼워지고 하부의 제2탐침(61)은 탐침용 슬릿(51)에 끼워진 상태로 상하측 및 좌우측 방향으로 구속된다.The second probe 60 may be assembled by horizontally moving toward the second upper guide plate 40 and the second lower guide plate 50. In this case, the left and right restraining protrusions 65 formed on the upper part of the ze probe 60 may be formed. It is inserted into the slit 41 and is connected to the second flexible substrate 11 in a state of being caught by the locking jaw (42). In addition, the upper and lower confinement protrusions 64 formed in the middle of the second probe 60 are fitted into the locking grooves 25 of the first guide plate 20, and the lower second probe 61 is attached to the probe slit 51. It is restrained in the up and down and left and right directions in the fitted state.

따라서 제1프로브(30)는 제1탐침(31)이 제1패널(70)의 단자부와 접촉되고 수평돌기(33)가 제1플랙시블기판(10)에 접촉되어 검사장비와 제1패널(70)을 회로적으로 연결시킨다. 그리고 제2프로브(60)는 제1탐침(31)이 제2패널(71)의 단자부와 접촉되고 좌우구속돌기(65)가 제2플랙시블기판(11)에 접촉되어 검사장비와 제2패널(71)을 회적으로 연결시켜 하나의 프로브블록으로 서로다른 두 종류의 패널을 동시에 검사할 수 있다.Therefore, in the first probe 30, the first probe 31 contacts the terminal portion of the first panel 70, and the horizontal protrusion 33 contacts the first flexible substrate 10 so that the inspection device and the first panel ( 70) make a circuit connection. In the second probe 60, the first probe 31 contacts the terminal portion of the second panel 71, and the left and right restraint protrusion 65 contacts the second flexible substrate 11 so that the inspection device and the second panel may contact each other. By connecting 71 to each other, two different types of panels can be examined simultaneously with one probe block.

10 : 제1플랙시블기판 11 : 제2플랙시블기판
20 : 제1가이드플레이트 21 : 탐침용 슬릿
22 : 걸림턱 23 : 슬릿
24 : 걸림홈 25 : 걸림턱
30 : 제1프로브 31 : 제1탐침
32 : 수직탄성부 33 : 수평돌기
34 : 수평탄성부 35 : 끼움편
36 : 수직돌기 40 : 제2상부가이드플레이트
41 : 슬릿 42 : 걸림턱
50 : 제2하부가이드플레이트 51 : 탐침용 슬릿
60 : 제2프로브 61 : 제2탐침
62 : 수직탄성부 63 : 수평탄성부
64 : 상하구속돌기 65 : 좌우구속돌기
70 : 제1패널 71 : 제2패널10: 1st flexible board 11: 2nd flexible board
20: first guide plate 21: probe slit
22: jam jaw 23: slit
24: locking groove 25: locking jaw
30: first probe 31: first probe
32: vertical elastic portion 33: horizontal projection
34: horizontal elastic portion 35: fitting
36: vertical projection 40: second upper guide plate
41: Slit 42: Jamming Jaw
50: second lower guide plate 51: probe slit
60: second probe 61: second probe
62: vertical elastic portion 63: horizontal elastic portion
64: up and down binding protrusion 65: left and right binding protrusion
70: first panel 71: second panel

Claims (2)

검사장비에 각각 연결된 제1,2플랙시블기판들(10)(11)과 검사대상 제1,2패널들(70)(71)을 회로적으로 일대일 연결하는 다수의 제1프로브(30) 및 제2프로브(60)들이 구비되고,
상기 제1프로브(30)들을 탄성적으로 지지하는 제1가이드플레이트(20)가 구비되고,
상기 제1가이드플레이트(20)의 상,하측에는 상기 제2프로브(60)들을 탄성적으로 지지하는 제2상부가이드플에이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50)가 각각 구비되며,
상기 제1가이드플레이트(20)의 상단에는 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)가 상기 제1플랙시블기판(10)과 접촉되도록 안내하는 슬릿(23) 및 걸림턱(22)이 각각 형성되고, 하단에는 상기 제1프로브(30)의 제1탐침(31)이 상기 제1패널(70)의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿(21)이 형성되며,
상기 제2상부가이드플레이트(40)에는 상기 제2프로브(60)의 좌우구속돌기(65)가 제2플랙시블기판(11)과 접촉되도록 안내하는 슬릿(41) 및 걸림턱(42)이 각각 형성되며,
상기 제2하부가이드플레이트(50)에는 상기 제2프로브(60)의 제2탐침(61)이 상기 제2패널(71)의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿(51)이 형성됨을 특징으로 하는 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록.A plurality of first probes 30 for connecting the first and second flexible substrates 10 and 11 and the first and second panels 70 and 71 to be inspected one-to-one circuits, respectively; Second probes 60 are provided,
A first guide plate 20 for elastically supporting the first probe 30 is provided,
Upper and lower sides of the first guide plate 20 are provided with a second upper guide plate 40 and a second lower guide plate 50 for elastically supporting the second probes 60, respectively.
At the upper end of the first guide plate 20, a slit 23 and a locking jaw 22 for guiding the horizontal protrusion 33 of the first probe 30 to contact the first flexible substrate 10 are provided. Each of the first probe 31 of the first probe 30 is formed at the lower end of the probe slit 21 to guide the contact with the terminals of the first panel 70 is formed,
The second upper guide plate 40 has a slit 41 and a locking jaw 42 for guiding the left and right restraining protrusions 65 of the second probe 60 to contact the second flexible substrate 11, respectively. Formed,
The second lower guide plate 50 is formed with a probe slit 51 for guiding the second probe 61 of the second probe 60 to contact the terminals of the second panel 71. Probe block for heterogeneous liquid crystal display panel inspection. 제 1 항에 있어서,
상기 제1프로브(30)에는 상기 수평돌기(33)가 제1플랙시블기판(10)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수평탄성부(34)가 구비되고, 상기 제1탐침(31)이 상기 제1패널(70)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수직탄성부(32)가 구비되며,
상기 제2프로브(60)에는 상기 좌우구속돌기(65)가 제2플랙시블기판(11)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수평탄성부(63)가 구비되고, 상기 제2탐침(61)이 제2패널(71)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수직탄성부(62)가 구비됨을 특징으로 하는 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록.The method of claim 1,
The first probe 30 is provided with a horizontal elastic portion 34 for guiding the horizontal protrusion 33 to be in elastic contact with the first flexible substrate 10, the first probe 31 is It is provided with a vertical elastic portion 32 for guiding elastic contact with the first panel 70,
The second probe 60 is provided with a horizontal elastic portion 63 for guiding the left and right confinement protrusions 65 to elastically contact the second flexible substrate 11, and the second probe 61 is provided. Probe block for heterogeneous liquid crystal display panel, characterized in that the vertical elastic portion 62 is provided to guide the elastic contact with the second panel (71).
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101298572B1 (en) 2011-11-18 2013-08-22 김지수 Probe assembly having multiple bodies
KR101999521B1 (en) 2019-01-17 2019-07-12 위드시스템 주식회사 pin breakage prevention type multi contact socket
KR102121887B1 (en) * 2020-04-03 2020-06-11 주식회사 케이에스디 Moving probe unit for testing OLED panel
KR20210124365A (en) * 2019-11-12 2021-10-14 쑤저우 에이치와이씨 테크놀로지 코포레이션 리미티드 probe module
KR20230076513A (en) * 2021-11-24 2023-05-31 (주)티에스이 Probe card

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100448276B1 (en) 2003-10-08 2004-09-13 (주)솔트론 a probe, an assembly body of probe and a manufacturing method thereof
KR100747653B1 (en) 2006-03-10 2007-08-08 주식회사 코디에스 Probe unit for inspection of flat display panel
KR100951717B1 (en) 2009-06-25 2010-04-07 주식회사 한택 Probe block

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100448276B1 (en) 2003-10-08 2004-09-13 (주)솔트론 a probe, an assembly body of probe and a manufacturing method thereof
KR100747653B1 (en) 2006-03-10 2007-08-08 주식회사 코디에스 Probe unit for inspection of flat display panel
KR100951717B1 (en) 2009-06-25 2010-04-07 주식회사 한택 Probe block

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101298572B1 (en) 2011-11-18 2013-08-22 김지수 Probe assembly having multiple bodies
KR101999521B1 (en) 2019-01-17 2019-07-12 위드시스템 주식회사 pin breakage prevention type multi contact socket
KR20210124365A (en) * 2019-11-12 2021-10-14 쑤저우 에이치와이씨 테크놀로지 코포레이션 리미티드 probe module
KR102615603B1 (en) 2019-11-12 2023-12-19 쑤저우 에이치와이씨 테크놀로지 코포레이션 리미티드 probe module
KR102121887B1 (en) * 2020-04-03 2020-06-11 주식회사 케이에스디 Moving probe unit for testing OLED panel
KR20230076513A (en) * 2021-11-24 2023-05-31 (주)티에스이 Probe card
WO2023096237A1 (en) * 2021-11-24 2023-06-01 주식회사 티에스이 Probe card
KR102614924B1 (en) 2021-11-24 2023-12-19 (주)티에스이 Probe card

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