KR100977220B1 - method for testing liquid crystal display panel of COG type - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정패널을 구동하기 위한 드라이버 IC의 출력 패드와 입력 패드의 불량 유무(숏트 및 오픈 등)를 검사하여 소자의 신뢰성을 향상시키도록 한 COG 방식의 액정패널 검사방법에 관한 것으로서, 기판상에 서로 수직한 방향으로 형성되는 게이트 라인 및 데이터 라인의 일측단에 일체로 연결된 출력 패드와 입력 패드를 형성하는 단계, 상기 출력 패드와 입력 패드의 불량 유무를 검사하는 단계, 상기 출력 패드와 입력 패드를 레이저 컷팅 장비를 이용하여 분리하는 단계, 상기 분리된 출력 패드와 입력 패드 사이에 드라이버 IC를 실장하는 단계로 이루어짐을 특징으로 한다.The present invention relates to a liquid crystal panel inspection method of a COG type in which the reliability of a device is improved by inspecting whether or not an output pad of a driver IC for driving a liquid crystal panel and an input pad (short and open) Forming an output pad and an input pad integrally connected to one end of a gate line and a data line formed in a direction perpendicular to each other, checking whether the output pad and the input pad are defective, And a driver IC is mounted between the separated output pad and the input pad.

COG, 숏팅 바, 출력 패드, 입력 패드, 드라이버 ICCOG, Shorting Bar, Output Pad, Input Pad, Driver IC

Description

ＣＯＧ 방식의 액정패널 검사방법{method for testing liquid crystal display panel of COG type}[0001] The present invention relates to a liquid crystal panel (COG)

도 1은 종래의 숏팅 바가 설치된 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도1 is a plan view showing a COG type liquid crystal panel having a conventional shorting bar.

도 2는 도 1의 Ⅱ - Ⅱ'선에 따른 COG 방식의 액정패널을 나타낸 단면도FIG. 2 is a cross-sectional view showing a COG type liquid crystal panel according to II-II '

도 3은 도 1의 어레이 기판을 나타낸 레이아웃도Fig. 3 is a layout diagram showing the array substrate of Fig. 1

도 4는 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 설명하기 위한 레이 아웃도4 is a layout view for explaining a COG method liquid crystal panel inspection method according to the present invention

도 5는 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도5 is a plan view showing a COG type liquid crystal panel according to the present invention.

도 6은 도 5의 어레이 기판을 나타낸 레이 아웃도Figure 6 is a layout view of the array substrate of Figure 5;

도 7a 내지 도 7c는 도 6의 Ⅶ - Ⅶ'선에 따른 COG 방식의 액정패널 검사방법을 설명하기 위한 공정단면도FIGS. 7A to 7C are cross-sectional views illustrating a COG-method liquid crystal panel inspection method according to VII-VII '

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS

31 : 어레이 기판 32 : 컬러필터 기판31: array substrate 32: color filter substrate

33 : 출력 패드 34 : 입력 패드33: output pad 34: input pad

35 : 드라이버 IC 36 : 숏팅 바35: Driver IC 36: Shorting bar

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 입력 패드 및 출력 패드의 숏트(short) 및 오픈(open) 여부를 검사하는데 적당한 COG 방식의 액정패널 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display (LCD), and more particularly, to a liquid crystal panel inspection method using a COG method suitable for inspecting short and open of an input pad and an output pad.

일반적으로 액정표시장치에 있어서 TFT-LCD 액정표시장치를 구동하기 위한 구동신호를 공급하는 구동 IC를 TFT-LCD 패널에 접속하는 실장 기술은 WB(Wire Bonding)방식, TAB(Tape Automated Bonding)방식, 및 COG(Chip On Glass)방식으로 구분된다.In general, a mounting technique for connecting a driving IC for supplying a driving signal for driving a TFT-LCD liquid crystal display device to a TFT-LCD panel in a liquid crystal display device is a WB (Wire Bonding) method, a TAB (Tape Automated Bonding) And a COG (Chip On Glass) method.

먼저, 상기 WB 방식은 금(Au) 와이어를 이용하여 패널 전극과 구동 IC를 접속하는 방식을 이용한 실장 방법이다.First, the WB method is a mounting method using a method of connecting a panel electrode and a driving IC using a gold (Au) wire.

이어, 상기 TAB 방식은 필름 케리어(film carrier)에 구동 IC가 접속된 패캐지(package)를 패널에 실장하는 기술이다.The TAB method is a technique of mounting a package, on which a driving IC is connected to a film carrier, on a panel.

그리고 상기 COG 방식은 베어 칩(Bare Chip) 자체에 범프(Bump)를 형성한 후 입력 패드와 출력 패드가 형성된 액정패널에 실장하는 기술이다.The COG method is a technique of forming a bump on a bare chip itself and mounting the bump on a liquid crystal panel having an input pad and an output pad.

그리고 액정표시장치의 공정 중에 정전기가 내부 TFT-LCD 어레이에 인가되어 내부 소자(박막트랜지스터 등)가 파괴되므로 이를 방지하고, 또한 TFT-LCD 어레이 완성 후 어레이 검사를 용이하게 하기 위하여 숏팅 바가 필요하게 되었다.In addition, since a static electricity is applied to the internal TFT-LCD array during the process of the liquid crystal display device, internal elements (thin film transistors, etc.) are destroyed, and a shorting bar is required to facilitate the inspection of the array after completing the TFT-LCD array .

즉, 숏팅 바는 각 게이트 라인 및 데이터 라인에 각각 연결되는 숏팅 바로 구성되고, 어레이 검사시 게이트 라인의 단락유무를 체크하기 위해 각 게이트 라인이 연결된 숏팅 바에 전원을 인가하고 각 게이트 라인의 반대쪽에서 체크하여 게이 트 라인의 단락 유무를 체크하며, 데이터 라인도 마찬가지 방법으로 체크한다.That is, the shorting bars are connected to the gate lines and the data lines, respectively. In order to check whether the gate lines are short-circuited during the array inspection, power is applied to the shorting bars to which the gate lines are connected, And the data line is checked in the same manner.

이와같이 숏팅 바는 실제 TFT-LCD를 구동함에 있어서는 전혀 이용되지 않고, 상기와 같이 정전기 방지 및 어레이 검사시에 이용되는 것이므로 최종적으로는 제거된다.Thus, the shorting bar is not used at all in driving the TFT-LCD, and is used at the time of the prevention of static electricity and the inspection of the array.

즉, TFT-LCD의 어레이가 완성되고 어레이 검사가 끝나면 상판과 하판을 합착한 후, 스크라이브(scribe) 공정과 그라인딩(grinding) 공정을 거쳐서 상기 숏팅 바를 제거한다.That is, when the array of the TFT-LCD is completed and the array is inspected, the upper and lower plates are attached to each other, and then the scribing process and the grinding process are performed to remove the shorting bar.

한편, 이와 같은 숏팅 바를 형성함에 있어서, 실장 방식에 따라 게이트 라인 및 데이터 라인의 구성이 다르기 때문에 실장 방식에 따라 숏팅 바를 형성하기가 난해하였다.On the other hand, in forming such a shorting bar, it is difficult to form a shorting bar according to the mounting method because the configurations of the gate line and the data line are different according to the mounting method.

즉, TAB 방식은 베어 칩 양측에 케리어 필름이 연결되기 때문에 TFT-LCD 패널상에서 공간을 확보할 수 있으므로 구동 IC 실장 영역인 게이트 라인 패드 및 데이터 라인 패드 일측에 숏팅 바를 형성하였다.That is, since a carrier film is connected to both sides of the bare chip, a space can be secured on the TFT-LCD panel, so that a shorting bar is formed on one side of the gate line pad and the data line pad which are the driving IC mounting regions.

그러나, COG 방식은 TFT-LCD 패널의 구동 IC 실장 영역에 입력 패드와 출력 패드가 형성되어야 하므로 TFT-LCD 패널상에서 공간을 확보하기가 곤란하여 구동 IC 실장 영역에 숏팅 바를 설치하기가 어려웠다.However, since the input pad and the output pad must be formed in the driving IC mounting region of the TFT-LCD panel, it is difficult to secure a space on the TFT-LCD panel, so that it is difficult to install the shorting bar in the driving IC mounting region.

그런데 최근에는 COG 방식의 액정패널에서도 COG 실장 영역에 숏팅 바를 설치한 기술이 개발되었다.Recently, however, a technique has been developed in which a shorting bar is provided in a COG mounting region even in a liquid crystal panel of a COG type.

이와 같은 COG 실장용 액정표시장치에서 숏팅 바를 형성한 종래의 기술을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다. A conventional technique for forming a shorting bar in such a COG mounting liquid crystal display device will now be described with reference to the accompanying drawings.                         

도 1은 종래의 숏팅 바가 설치된 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도이고, 도 2는 도 1의 Ⅱ - Ⅱ'선에 따른 COG 방식의 액정패널을 나타낸 단면도이다.FIG. 1 is a plan view of a COG type liquid crystal panel having a conventional shorting bar, and FIG. 2 is a cross-sectional view of a COG type liquid crystal panel taken along the line II - II 'of FIG.

도 1에 도시한 바와 같이, 어레이 기판(11)과 컬러필터 기판(12)으로 이루어지고, 상기 어레이 기판(11)과 컬러필터 기판(12) 사이에는 액정층(도시되지 않음)이 주입되어 있다. A liquid crystal layer (not shown) is injected between the array substrate 11 and the color filter substrate 12 as shown in Fig. 1 .

여기서, 상기 어레이 기판(11)은 상기 컬러필터 기판(12)보다 더 넓은 면적을 가지므로, 상기 컬러필터 기판(12)으로 덮이지 않는 부분이 존재하는데, 이 부분에는 액정 패널의 배선에 신호를 인가하기 위한 출력 패드(13) 및 입력 패드(14)가 위치한다.Here, since the array substrate 11 has a wider area than the color filter substrate 12, there is a portion that is not covered with the color filter substrate 12, and a signal is applied to the wirings of the liquid crystal panel The output pad 13 and the input pad 14 for applying the voltage are located.

그리고 상기 출력 패드(13)와 입력 패드(14) 사이에 액정패널을 구동하기 위한 드라이버 IC(15)가 구성된다. A driver IC (15) for driving the liquid crystal panel is formed between the output pad (13) and the input pad (14).

한편, 전술한 바와 같이 액정패널의 하부에는 광원으로 이용되는 백라이트(도시하지 않음)가 배치되어 있다.On the other hand, as described above, a backlight (not shown) used as a light source is disposed below the liquid crystal panel.

또한, 도 2에 도시한 바와 같이, 어레이 기판(11)상에 일정한 간격을 갖고 형성되는 출력 패드(13) 및 입력 패드(14)와, 상기 출력 패드(13) 및 입력 패드(14)가 노출되도록 콘택홀을 갖고 형성되는 절연막(16)으로 이루어져 있다.2, the output pad 13 and the input pad 14, which are formed at regular intervals on the array substrate 11, and the output pad 13 and the input pad 14, And an insulating film 16 formed so as to have a contact hole thereon.

여기서, 상기 출력 패드(13)와 입력 패드(14) 사이에 상기 어레이 기판(11)의 표면이 소정부분 노출되도록 오픈된 영역(A)에 드라이버 IC(도 1의 15)가 구성된다.A driver IC (15 in FIG. 1) is formed between the output pad 13 and the input pad 14 in a region A where the surface of the array substrate 11 is partially exposed.

도 3은 도 1의 어레이 기판을 나타낸 레이 아웃도이다. 3 is a layout view showing the array substrate of Fig.                         

도 3에 도시한 바와 같이, 기판(어레이 기판)상에 일정한 간격을 갖고 일방향으로 복수개의 게이트 라인(21)이 배열되고, 상기 각 게이트 라인(21)에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수개의 데이터 라인(22)이 배열된다.As shown in Fig. 3, a plurality of gate lines 21 are arranged on a substrate (array substrate) at regular intervals and in one direction, and a plurality of gate lines 21 are arranged at regular intervals in a direction perpendicular to each gate line 21. [ The data lines 22 are arranged.

여기서, 상기 수직한 방향으로 배열된 게이트 라인(21) 및 데이터 라인(22)의해 어레이 영역이 형성된다An array region is formed by the gate lines 21 and the data lines 22 arranged in the vertical direction

상기 각 게이트 라인(21)과 데이터 라인(22)의 일측 끝단에는 출력 패드(23)가 형성되며, 상기 각 출력 패드(23)에 대향되는 부분에는 일정 간격을 갖고 복수개의 입력 패드(24)가 형성된다.An output pad 23 is formed at one end of each of the gate lines 21 and the data line 22 and a plurality of input pads 24 .

여기서, 상기 출력 패드(23)와 입력 패드(24)가 형성된 부분이 드라이버 IC 실장 영역(25)이다.The portion where the output pad 23 and the input pad 24 are formed is the driver IC mounting region 25.

그리고 상기 드라이버 IC 실장 영역(25)내에 숏팅 바(26)가 형성된다.A shorting bar (26) is formed in the driver IC mounting area (25).

즉, 상기 숏팅 바(26)는 각 출력 패드(23)와 입력 패드(24) 사이의 출력 패드(23)에 연결되어 형성된다.That is, the shorting bars 26 are connected to the output pads 23 between the output pads 23 and the input pads 24.

도 3에서 미설명 부호는 27은 레이저 컷팅 라인이다.3, reference numeral 27 denotes a laser cutting line.

이와 같이 구성하여 박막트랜지스터 및 화소전극 등을 구비한 TFT-LCD를 형성한 다음 출력 패드(23)에 대해 불량(숏트 또는 오픈 등) 유무를 검사하고, 검사가 끝나면 어레이 기판과 컬러필터 기판을 합착하고, 상기 숏팅 바(26)와 출력 패드(23) 사이를 레이저 컷팅(laser cutting) 장비를 이용하여 컷팅한다.After the TFT-LCD including the thin film transistor and the pixel electrode is formed as described above, the presence or absence of a defect (short or open) is checked with respect to the output pad 23, and the array substrate and the color filter substrate are bonded And cutting between the shorting bar 26 and the output pad 23 is performed using a laser cutting equipment.

즉, 종래에는 TFT LCD의 검사방법으로 프로빙 니들(probing needle)을 출력 패드(23)에 연결된 숏팅 바(26)에 연결시키어 출력 패드(23)의 이상유무를 검사한 후, 레이저 컷팅에 의해 숏팅 바(26)와 출력 패드(23)를 분리하였다.That is, conventionally, a probing needle is connected to a shorting bar 26 connected to the output pad 23 by a method of inspecting TFT LCD to check whether or not there is an abnormality in the output pad 23, The bar 26 and the output pad 23 were separated.

따라서 종래의 COG 방식의 액정패널은 드라이버 IC 형성영역에 숏팅 바를 형성하여 출력 패드의 이상 유무를 검사해야 함으로써 상기 입력 패드(24)의 이상 유무에 대해서는 특별하게 검출할 수가 없었다.Therefore, in the conventional COG type liquid crystal panel, a shorting bar is formed in the driver IC forming area to check whether or not there is an abnormality in the output pad, so that the abnormality of the input pad 24 can not be specifically detected.

결국, 상기 입력 패드(24)를 검사하기 위한 별도의 지그(jug)를 형성해야만 한다.As a result, a separate jug for inspecting the input pad 24 must be formed.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 액정패널을 구동하기 위한 드라이버 IC의 출력 패드와 입력 패드의 불량 유무(숏트 및 오픈 등)를 검사하여 소자의 신뢰성을 향상시키도록 한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a COG method in which reliability of an element is improved by inspecting an output pad of a driver IC for driving a liquid crystal panel, The present invention also provides a method of inspecting a liquid crystal panel.

본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법은 기판상에 서로 수직한 방향으로 형성되는 게이트 라인 및 데이터 라인의 일측단에 일체로 연결된 출력 패드와 입력 패드를 형성하는 단계, 상기 출력 패드와 입력 패드의 불량 유무를 검사하는 단계, 상기 출력 패드와 입력 패드를 레이저 컷팅 장비를 이용하여 분리하는 단계, 상기 분리된 출력 패드와 입력 패드 사이에 드라이버 IC를 실장하는 단계로 이루어짐을 특징으로 한다.The method of inspecting a liquid crystal panel of a COG type according to the present invention comprises the steps of forming an input pad and an output pad integrally connected to one end of a gate line and a data line formed in a direction perpendicular to each other on a substrate, Inserting a driver IC between the output pad and the input pad; separating the output pad and the input pad using a laser cutting device;

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이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a COG method liquid crystal panel inspection method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법을 설명하기 위한 레이 아웃도이다.4 is a layout diagram for explaining a COG-method liquid crystal panel inspection method according to the present invention.

도 4에 도시한 바와 같이, 기판(어레이 기판)상에 일정한 간격을 갖고 일방향으로 복수개의 게이트 라인(31)이 배열되고, 상기 각 게이트 라인(31)에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수개의 데이터 라인(32)이 배열된다.As shown in FIG. 4, a plurality of gate lines 31 are arranged in a predetermined direction on a substrate (array substrate) in one direction, and a plurality of gate lines 31 are formed at regular intervals in a direction perpendicular to the gate lines 31 The data lines 32 are arranged.

이어, 상기 각 게이트 라인(31)과 데이터 라인(32)의 일측 끝단에는 출력 패드(33)가 형성되고, 상기 각 출력 패드(33)에 대향되는 부분에는 일정 간격을 갖는 복수개의 입력 패드(34)가 형성된다.An output pad 33 is formed on one end of each of the gate lines 31 and the data line 32 and a plurality of input pads 34 Is formed.

여기서, 상기 출력 패드(33)와 입력 패드(34) 사이가 드라이버 IC 실장 영역(35)이다. Here, the area between the output pad 33 and the input pad 34 is the driver IC mounting area 35.                     

그리고 상기 드라이버 IC 실장 영역(35)내에 상기 출력 패드(33)와 입력 패드(34)에 연결되는 숏팅 바(36)가 배열되어 있다.And a shorting bar 36 connected to the output pad 33 and the input pad 34 is arranged in the driver IC mounting area 35. [

한편, 미설명 부호는 37은 레이저 컷팅 라인이다.On the other hand, reference numeral 37 denotes a laser cutting line.

이와 같이 구성하여 박막트랜지스터 및 화소전극 등을 구비한 TFT-LCD를 형성한 다음 상기 숏팅 바(36)를 이용하여 상기 출력 패드(33) 및 입력 패드(34)의 불량(숏트 또는 오픈 등)을 검사하고, 검사가 끝나면 어레이 기판과 컬러필터 기판을 합착하고, 상기 숏팅 바(36)와 출력 패드(33) 및 입력 패드(34) 사이를 레이저 컷팅(laser cutting) 장비를 이용하여 컷팅한다.After the TFT-LCD having the thin film transistor and the pixel electrode is formed in this manner, the shorting bar 36 is used to prevent the defective (short or open) of the output pad 33 and the input pad 34 After the inspection is completed, the array substrate and the color filter substrate are attached to each other, and the space between the shorting bar 36 and the output pad 33 and the input pad 34 is cut using a laser cutting equipment.

즉, 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 제조방법은 숏팅 바(36)에 출력 패드(33)와 입력 패드(34)를 연결한 후 상기 숏팅 바(36)를 통해 상기 출력 패드(33)와 입력 패드(34)의 불량 유무를 동시에 검사한 후, 레이저 컷팅에 의해 숏팅 바(36)와 출력 패드(33) 및 입력 패드(34)를 분리한다.That is, in the COG type liquid crystal panel manufacturing method according to the present invention, the output pad 33 and the input pad 34 are connected to the shorting bar 36, and then the output pad 33 is connected to the shorting bar 36 through the shorting bar 36 The presence or absence of a defect in the input pad 34 is inspected simultaneously and then the cutting pad 36 is separated from the output pad 33 and the input pad 34 by laser cutting.

도 5는 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널을 나타낸 평면도이고, 도 6은 도 5의 어레이 기판을 나타낸 레이 아웃도이다.FIG. 5 is a plan view of a COG type liquid crystal panel according to the present invention, and FIG. 6 is a layout view of the array substrate of FIG.

도 5에 도시한 바와 같이, 기판(어레이 기판)상에 일정한 간격을 갖고 일방향으로 복수개의 게이트 라인(41)이 배열되고, 상기 각 게이트 라인(41)에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수개의 데이터 라인(42)이 배열된다.5, a plurality of gate lines 41 are arranged on a substrate (array substrate) at regular intervals and in one direction, and a plurality of gate lines 41 are arranged at regular intervals in a direction perpendicular to the gate lines 41 The data lines 42 are arranged.

상기 각 게이트 라인(41)과 데이터 라인(42)의 일측 끝단에는 출력 패드(43)가 형성되며, 상기 각 출력 패드(43)에 대향되는 부분에는 일정 간격을 갖고 복수개의 입력 패드(44)가 형성된다. An output pad 43 is formed at one end of each of the gate lines 41 and the data line 42. A plurality of input pads 44 are formed at predetermined intervals in the portion opposed to the output pads 43 .                     

여기서, 상기 출력 패드(43)에 대향되도록 입력 패드(44)가 형성된 부분이 드라이버 IC 실장 영역(45)이다.The portion where the input pad 44 is opposed to the output pad 43 is the driver IC mounting region 45.

한편, 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널은 종래의 COG 방식의 액정패널에 비하여 별도의 숏팅 바를 구성할 필요없이 출력 패드(43)와 입력 패드(44)의 불량 유무를 검사할 수 있도록 한다.Meanwhile, the COG type liquid crystal panel according to the present invention can check the defectiveness of the output pad 43 and the input pad 44 without having to form a separate shorting bar as compared with the conventional COG type liquid crystal panel.

즉, 도 6에서와 같이, 어레이 기판(41)과 컬러필터 기판(42)으로 이루어지고, 상기 어레이 기판(41)과 컬러필터 기판(42) 사이에는 액정층(도시되지 않음)이 주입되어 있다. 6, an array substrate 41 and a color filter substrate 42 are provided, and a liquid crystal layer (not shown) is injected between the array substrate 41 and the color filter substrate 42 .

여기서, 상기 어레이 기판(41)은 상기 컬러필터 기판(42)보다 더 넓은 면적을 가지므로, 상기 컬러필터 기판(42)으로 덮이지 않는 부분이 존재하는데, 이 부분에는 액정 패널의 배선에 신호를 인가하기 위한 출력 패드(43) 및 입력 패드(44)가 일체로 연결되어 있다.Here, since the array substrate 41 has a larger area than the color filter substrate 42, there is a portion that is not covered by the color filter substrate 42, and a signal is applied to the wiring of the liquid crystal panel An output pad 43 and an input pad 44 are integrally connected.

즉, 본 발명에서 COG 방식의 액정패널 검사시 상기 출력 패드(43)와 입력 패드(44)를 분리하지 않는 상태에서 동시에 출력 패드(43)와 입력 패드(44)의 불량 유무를 검사한 후, 상기 드라이버 IC 실장 영역(B)에 해당하는 부분의 출력 패드(43)와 입력 패드(44)를 레이저 컷팅 장비를 이용하여 컷팅하여 분리한다. That is, in the present invention, when the liquid crystal panel of the COG type is inspected, the output pad 43 and the input pad 44 are not separated from each other, and at the same time, The output pad 43 and the input pad 44 corresponding to the driver IC mounting area B are cut and separated by using a laser cutting equipment.

한편, 상기 어레이 기판(41)은 화상정보가 인가되는 데이터 라인들과 게이트신호가 인가되는 게이트 라인들이 서로 수직 교차하여 배치되고, 그 교차부에 액정 셀들을 스위칭하기 위한 박막트랜지스터와, 상기 박막트랜지스터에 접속되어 액정 셀을 구동하는 화소전극과, 상기 화소전극과 박막트랜지스터를 보호하기 위해 전면 에 형성된 보호막이 구비되어 있다.The array substrate 41 includes a thin film transistor for arranging data lines to which image information is applied and gate lines to which gate signals are applied so as to cross each other and switching liquid crystal cells at intersections thereof, And a protective film formed on the entire surface to protect the pixel electrode and the thin film transistor.

그리고 상기 컬러필터 기판(42)에는 블랙 매트릭스에 의해 셀 영역별로 분리되어 도포된 칼라 필터들과, 상기 어레이 기판(41)에 형성된 화소전극의 상대전극인 공통전극이 구비되어 있다. The color filter substrate 42 is provided with color filters separately applied to the cell regions by a black matrix and common electrodes which are counter electrodes of the pixel electrodes formed on the array substrate 41.

상기한 바와 같이 구성된 어레이 기판(41)과 컬러필터 기판(42)은 스페이서(spacer)에 의해 일정하게 이격되도록 셀-갭(cell-gap)이 마련되고, 상기 화상표시부의 외곽에 형성된 실 패턴(seal pattern)에 의해 합착되어 단위 액정패널을 이루게 된다.The array substrate 41 and the color filter substrate 42 constructed as described above are provided with a cell gap so as to be spaced apart from each other by a spacer, seal pattern to form a unit liquid crystal panel.

도 7a 내지 도 7c는 도 6의 Ⅶ - Ⅶ'선에 따른 COG 방식의 액정패널 검사방법을 설명하기 위한 공정단면도이다.7A to 7C are cross-sectional views illustrating a method of inspecting a COG-type liquid crystal panel according to VII-VII 'of FIG.

도 7a에 도시한 바와 같이, 어레이 기판(41)상에 금속막을 증착한 후 선택적으로 제거하여 입력 패드 및 출력 패드용 도전성 라인(47)을 형성한다.As shown in FIG. 7A, a metal film is deposited on the array substrate 41 and then selectively removed to form the conductive lines 47 for the input pad and the output pad.

도 7b에 도시한 바와 같이, 상기 도전성 라인(47)을 포함한 어레이 기판(41)의 전면에 보호막(46)을 형성한다.The protective film 46 is formed on the entire surface of the array substrate 41 including the conductive lines 47 as shown in FIG. 7B.

이어, 포토 및 식각 공정을 통해 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극의 표면과 입력 패드 및 출력 패드가 형성된 영역이 오픈되도록 상기 보호막(46)을 선택적으로 제거한다.Then, the passivation layer 46 is selectively removed through the photo and etch process so that the surface of the drain electrode of the thin film transistor and the region where the input pad and the output pad are formed are opened.

이어, 상기 보호막(46)이 선택적으로 제거되어 노출된 입력 패드와 출력 패드용 도전성 라인(47)의 불량 유무를 검사한다.Then, the protective film 46 is selectively removed to check whether the exposed input pad and the conductive pad for the output pad 47 are defective.

즉, 본 발명에서는 출력 패드와 입력 패드를 분리하지 않고 전극 형태로 남 겨둔 상태에서 도전성 라인(47)을 이용하여 불량 유무를 검사한다.That is, in the present invention, the presence or absence of defects is checked by using the conductive line 47 in a state where the output pad and the input pad remain in the form of an electrode without being separated.

도 7c에 도시한 바와 같이, 상기 검사가 완료되면 레이저 컷팅 장비를 이용하여 상기 도전성 라인(47)을 선택적으로 컷팅하여 출력 패드(43)와 입력 패드(44)를 분리한 후 드라이버 IC를 실장한다.As shown in FIG. 7C, when the inspection is completed, the conductive line 47 is selectively cut using a laser cutting device to separate the output pad 43 and the input pad 44, and then the driver IC is mounted .

이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the general inventive concept as defined by the appended claims and their equivalents. Will be clear to those who have knowledge of.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의한 COG 방식의 액정패널 검사방법은 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the COG method liquid crystal panel inspection method according to the present invention has the following effects.

즉, 액정패널을 구동하기 위해 탑제되는 드라이버 IC의 입력 패드와 출력 패드의 불량(숏트 및 오픈 등) 유무를 동시에 검사할 수 있기 때문에 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.That is, since it is possible to simultaneously check whether the input pad and the output pad of the driver IC to be mounted for driving the liquid crystal panel are defective (short or open) or the like, the reliability of the device can be improved.

Claims (4)

삭제delete 삭제delete 기판상에 서로 수직한 방향으로 형성되는 게이트 라인 및 데이터 라인의 일측단에 일체로 연결된 출력 패드와 입력 패드를 형성하는 단계;Forming an input pad and an output pad integrally connected to one end of a gate line and a data line formed in a direction perpendicular to each other on a substrate; 상기 출력 패드와 입력 패드의 불량 유무를 검사하는 단계;Inspecting whether or not the output pad and the input pad are defective; 상기 출력 패드와 입력 패드를 레이저 컷팅 장비를 이용하여 분리하는 단계;Separating the output pad and the input pad using a laser cutting device; 상기 분리된 출력 패드와 입력 패드 사이에 드라이버 IC를 실장하는 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 COG 방식의 액정패널 검사방법.And mounting a driver IC between the separated output pad and the input pad. 삭제delete
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