KR100961561B1 - Probe block for fame style display unit test - Google Patents

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KR100961561B1
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KR1020090132857A
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문상우
박병정
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엠디에이전자(주)
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Abstract

PURPOSE: A probe block for a fame style display unit test is provided to change the damaged blade tip individually by dividing the damaged blade with a tip fix block. CONSTITUTION: A blade tip(110) is connected to a connection pad of a panel. The blade tip forms a rectangular type tip space part. The tip PICS block(120) is provided in the edge of the tip space part. The tip PICS block fixes the blade tip. A ceramic slit(130) guides up and down motion and the location of the blade tip. A block body(140) is located in the upper end of the ceramics slit. The block body is mounted in a manipulator. A ceramic block(150) is connected to the ceramics slit. The ceramic block is combined to the bottom of the block body.

Description

평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭{Probe Block for fame style display unit test}Probe Block for fame style display unit test}

본 발명은 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭에 관한 것으로 더욱 상세하게는 LCD액정 패널(Panel)의 점등이 제대로 되는지 확인하기 위한 테스트 장치인 프로브 블럭에 관한 것으로 LCD의 반제품인 모듈(Module) 제작 이전에 LCD Panel이 이상 없이 제작되어 있는지를 이상 유무를 전기적으로 검사하는 각각의 유니트를 조합한 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭에 관한 것이다.The present invention relates to a probe block for inspecting a flat panel display device. More particularly, the present invention relates to a probe block that is a test device for confirming whether an LCD panel is properly turned on. The present invention relates to a probe block for inspecting a flat panel display device in which each unit for electrically inspecting whether an LCD panel is manufactured without any abnormality is combined.

프로브 블럭은 LCD액정 패널(Panel)의 점등이 제대로 되는지 확인하기 위한 테스트(Test) 장치로서 LCD의 반제품인 모듈(Module) 제작 이전에 LCD Panel이 이상 없이 제작되어 있는지를 검사하는 유니트를 조합하며, 이때, 전기적인 신호를 LCD 글라스(LCD Glass)의 패턴(Pattern) 부위에 인가하여 주는 탐침(Blade Tip)과 이를 지지하는 툴(Tool)이 필요하게 되는데 LCD Panel을 이송시켜주는 장치를 프로브(Prober)라 하고 신호를 인가해 주는 탐침 부위를 프로브 유니트(Probe unit)라 한다. The probe block is a test device to check if the LCD panel is properly lit. It combines a unit to check whether the LCD panel is manufactured without any abnormality before the module, which is a semi-finished product of LCD, At this time, a blade tip and a tool for supporting the electrical signal are required to apply an electrical signal to a pattern portion of the LCD glass, and a device for transferring the LCD panel is called a probe. Probe unit that applies a signal is called a probe unit.

상기 LCD의 Panel상에는 매우 미세한 패턴(Pattern)들이 연결되어 있으며 패턴(Pattern) 사이 간격이 최소 0.03mm~0.2mm 이내에 위치하여 있다. Very fine patterns are connected on the panel of the LCD, and the spacing between the patterns is within at least 0.03 mm to 0.2 mm.

또한, LCD Panel 에는 패턴(Pattern)들이 수천 개씩 형성이 되어 있어 블럭(Block) 단위로 나누어서 검사가 이루어지는데, 이 작고 좁은 단자들을 검사하기 위한 장치가 프로브 블럭(Probe Block)이다.In addition, the LCD panel is formed with thousands of patterns, and the inspection is performed by dividing each block into blocks. A probe block is a device for inspecting the small and narrow terminals.

상기 프로브 블럭(Probe Block)은 미세한 패드(Pad)와 패드(Pad) 사이를 연결하여 패널(Panel)이 구동할 수 있는 전기적인 신호를 연결해주는 역할을 하는 것이다.The probe block serves to connect an electrical signal that can be driven by the panel by connecting between the fine pad and the pad.

이렇게 LCD의 전기적 특성을 검사하기 위한 장치로서 구비되는 것이 프로브 블럭이며, 도 1은 현재 주로 사용되고 있는 프로브 블럭을 도시한 것이다.The probe block is provided as an apparatus for inspecting the electrical characteristics of the LCD. FIG. 1 illustrates a probe block which is mainly used.

종래 사용되던 LCD용 프로브 블럭은 도 1에서와 같이 크게 어셈블리 홀더(10)와 기판 홀더(20)와 블레이드 홀더(30)와 회로기판(40)과 가이드 플레이트(50) 및 블레이드 플레이트(60)로서 이루어지는 구성이다.Conventionally used probe blocks for LCDs are as shown in FIG. 1 as assembly holder 10, substrate holder 20, blade holder 30, circuit board 40, guide plate 50 and blade plate 60. It is a configuration made.

이를 보다 구체적으로 설명하면 어셈블리 홀더(10)는 프로브 카드를 전체적으로 지지하는 부재이다.In more detail, the assembly holder 10 is a member supporting the probe card as a whole.

그리고 기판 홀더(20)는 절연 재질로서 구비되며, 어셈블리 홀더(10) 저면 일 측에 결합 고정되는 구성이다.In addition, the substrate holder 20 is provided as an insulating material, and is configured to be fixedly coupled to one side of the bottom surface of the assembly holder 10.

블레이드 홀더(30)는 기판 홀더(20)와 마찬가지로 절연 재질로서 구비되도록 하되 어셈블리 홀더(10)의 저면에서 기판 홀더(20)에 대응되는 타 측에 결합 고정되는 구성이다.The blade holder 30 is configured to be provided as an insulating material similarly to the substrate holder 20, but is fixedly coupled to the other side corresponding to the substrate holder 20 at the bottom of the assembly holder 10.

이때, 블레이드 홀더(30)는 기판 홀더(20)보다는 하부 측으로 더욱 연장되면서 기판 홀더(20)보다는 두터운 두께로서 구비되도록 한다.At this time, the blade holder 30 is further extended to the lower side than the substrate holder 20 to be provided with a thicker thickness than the substrate holder 20.

이러한 기판 홀더(20)의 저면에 회로 기판(40)을 부착한다.The circuit board 40 is attached to the bottom of the substrate holder 20.

즉, 회로 기판(40)의 일단을 기판 홀더(20)의 저면에 부착되도록 하면서 회로 기판(40)의 저면으로는 회로기판(40)에 인쇄된 회로와 전기적으로 연결되는 접속단자 패턴이 형성되도록 한다.That is, one end of the circuit board 40 is attached to the bottom surface of the substrate holder 20 while the bottom surface of the circuit board 40 forms a connection terminal pattern electrically connected to the circuit printed on the circuit board 40. do.

가이드 플레이트(50)는 블레이드 홀더(30)의 저면에 부착되면서 일단은 기판 홀더(20)의 직하부로 더욱 연장되도록 하여 구비되는 구성이다.The guide plate 50 is attached to the bottom surface of the blade holder 30, and one end thereof is further extended to directly under the substrate holder 20.

가이드 플레이트(50)는 실리콘 재질로서 이루어지면, 특히 2장의 실리콘 플레이트를 상하로 접합시킨 구성으로 구비되도록 한다.When the guide plate 50 is made of a silicon material, in particular, it is to be provided with a configuration in which two silicon plates are joined up and down.

이렇게 만들어진 프로브 블럭은 제작 공정이 많아 제작 단가가 올라가고, 2장의 실리콘 플레이트를 상하로 접합시킨 구성의 가이드 플레이트(50)는 접합 시 접착제가 블레이드 삽입홈으로 흘러들어 블레이드 불량을 초래하게 된다.Probe block made in this way is a lot of manufacturing process cost increases, the guide plate 50 of the configuration in which the two silicon plates are bonded up and down, the adhesive flows into the blade insertion groove during bonding, causing blade failure.

또한, 가이드 플레이트(50)가 따로 블레이드를 잡아주지 않아 블레이드를 정확하게 위치시키기가 힘들고, 블레이드의 유동성이 커지게 된다.In addition, since the guide plate 50 does not separately hold the blade, it is difficult to accurately position the blade, and the fluidity of the blade is increased.

그리고, 블레이드가 밖으로 돌출되지 않아 판넬과 블레이드간의 위치 결정 시간을 증가시키고, 블레이드 결함을 가시적으로 판단하지 못하여 불량유무를 판단하는 시간이 오래 걸린다.In addition, since the blade does not protrude out, it increases the positioning time between the panel and the blade, and it takes a long time to determine whether there is a defect because the blade defect cannot be visually judged.

따라서, 복잡한 구성과 제조 공정에 따라 제조 원가가 상승되고, 리페어가 어려워 결과적으로 엘시디 특성 검사 효율성을 하락시키게 된다.Therefore, the manufacturing cost is increased according to the complicated configuration and manufacturing process, the repair is difficult, and as a result, the efficiency of the LCD characteristic inspection is reduced.

또한, 블레이드에 접착제가 묻는 등 블레이드를 고정이 접합으로 고정되어 어느 하나의 블레이드 불량이 발생하면 전체를 교체하는 등 교체가 매우 어려우며 분리 작업에 의해 블레이드가 파손되는 문제점이 있다.In addition, if the blade is fixed by bonding such as adhesive glue on the blade, if any one of the blade failure occurs, such as replacing the entire replacement is very difficult and there is a problem that the blade is broken by the separation operation.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 프로브 유니트로 조합된 프로브 블럭으로 LCD Panel에 형성되어 있는 수천 개의 패턴 검사로 파손된 블레이드 팁을 상하 다수 개로 정렬시키면서 고정하는 팁 픽스 블럭으로 분리가 가능하여 어느 하나 파손된 블레이드 팁을 개별적으로 교체 가능한 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭을 제공함에 있다. The present invention has been made in view of the above problems, and separated into a tip fix block fixed by aligning a plurality of blade tips broken up and down by a plurality of pattern inspections formed on an LCD panel with a probe block combined with a probe unit. It is possible to provide a probe block for inspecting a flat panel display device, which can individually replace a broken blade tip.

그리고, 상기 블레이드 팁의 상하 운동과 위치를 가이드 하는 세라믹 슬릿은 상하의 2부분으로 블레이드 팁의 체결에 상응하는 형태로 체결되어 프로브 블럭을 조립함에 있어 제작 시간이 단축되는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭을 제공함에 있다. In addition, the ceramic slit for guiding the vertical motion and position of the blade tip is fastened in a form corresponding to the fastening of the blade tip to the upper and lower portions of the blade tip probe block for inspecting a flat panel display device, which reduces manufacturing time in assembling the probe block. In providing.

이같이, 다수 개로 상하 '「」'형태로 체결되는 블레이드 팁을 팁 픽스 블럭이 내측에서 블레이드 팁 정렬 및 고정이 동시에 이루어지는 방식으로 구조의 간편화로 인해 작업성 및 조립시간이 단축되는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭을 제공함에 있다. As described above, the flattened display device that reduces workability and assembly time due to the simplicity of the structure is achieved by simultaneously aligning and fixing the blade tip from the inside of the tip fix block to the blade tips fastened in the form of a plurality of 'top' blades. Providing a probe block for.

이러한 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은, 검사를 수행할 패널의 접속 패드에 접속하는 것으로 다수 개로 상하 '「」' 형태로 체결하되 중앙에는 사각형태 팁 공간부를 형성하는 블레이드 팁과; 상기 블레이드 팁이 체결에 형성된 팁 공간부에서 내측에서 상호 대각선상에 대응하는 모서리측에 마련되어 블레이드 팁을 고정하는 팁 픽스 블럭과; 상기 블레이드 팁의 체결에 상응하는 '「」'형태로 체결되어 블레이드 팁의 상하 운동과 위치를 가이드 하는 세라믹 슬릿과; 상기 세라믹 슬릿의 상단에 위치하여 반도체 상대로 구비된 메니플레이트에 장착되는 블럭바디와; 상기 세라믹 슬릿의 하단에 위치하면서 세라믹 슬릿과 연결되어 블럭바디의 하단으로 결합되는 세라믹 블럭;으로 구성된 것이다.In order to achieve the above technical problem, the present invention is connected to the connection pad of the panel to be inspected, the blade tip is fastened in the form of a plurality of '' 'up and down, but the center to form a rectangular tip space; A tip fix block provided at a corner of the tip space formed at the inner end of the blade tip corresponding to a diagonal line on the inner side to fix the blade tip; A ceramic slit that is fastened in a '' 'shape corresponding to the fastening of the blade tip to guide the vertical motion and position of the blade tip; A block body positioned at an upper end of the ceramic slit and mounted on a manifold provided to a semiconductor; The ceramic block is located at the bottom of the ceramic slit and connected to the ceramic slit and coupled to the bottom of the block body.

이때, 상기 블레이드 팁은 소정의 폭과 길이로 직각도를 가지면서 양 끝단에 각각 패널 접촉부와 패턴 접촉부를 돌출 형성한 것을 포함한다.In this case, the blade tip includes a protruding panel contact portion and the pattern contact portion at each end having a right angle with a predetermined width and length.

그리고, 상기 팁 픽스 블럭은 다수 개의 블레이드 팁이 상하로 결합되어 사각형태의 팁 공간부를 이루는 블레이드 팁을 내측 상하단 모서리에 각각 밀착하면서 소정 부분이 포개져 블레이드 팁이 사각 형태를 유지하도록 하는 것을 포함한다.In addition, the tip fix block includes a plurality of blade tips coupled up and down so that a predetermined portion is overlapped with each other while the blade tips forming a rectangular tip space portion are in close contact with inner top and bottom edges so that the blade tips maintain a square shape. .

또한, 상기 팁 픽스 블럭은 블레이드 팁을 상하 다수 개로 정렬시키면서 고정하는 것으로 분리가 가능하여 어느 하나 파손된 블레이드 팁을 개별적으로 교체 가능한 것을 포함한다.In addition, the tip fix block may be detachable by fixing the blade tips while aligning the plurality of upper and lower pieces include any one that can be replaced individually broken blade tips.

아울러, 상기 블레이드 팁이 다수 개로 밀착되어 사각 형태의 팁 공간부를 이루어 팁 픽스 블럭으로 정렬되면서 고정된 블레이드 팁을 상하 2단으로 고정하는 것을 포함한다.In addition, the blade tip is in close contact with a plurality of pieces forming a tip space portion of the square shape and includes a fixed tip of the fixed blade tip in two stages while being aligned with the tip fix block.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 각각의 유니트로 조합된 프로브 블럭으로 LCD Panel 에 형성되어 있는 수천 개의 패턴 검사로 파손된 블레이드 팁을 상하 다수 개로 정렬시키면서 고정하는 팁 픽스 블럭으로 분리가 가능하여 어느 하나 파손된 블레이드 팁을 개별적으로 교체 가능한 효과가 있다.According to the present invention as described above, the probe block combined with each unit can be separated into a tip fix block for fixing while aligning a number of blade tips broken up by a plurality of patterns formed on the LCD panel up and down a number of any one Broken blade tips can be replaced individually.

또한, 상기 블레이드 팁의 상하 운동과 위치를 가이드 하는 세라믹 슬릿은 상하의 2부분으로 블레이드 팁의 체결에 상응하는 형태로 체결되어 프로브 블럭을 조립함에 있어 제작 시간이 단축되는 효과가 있다.In addition, the ceramic slit for guiding the vertical movement and position of the blade tip is fastened in a form corresponding to the fastening of the blade tip to the upper and lower parts, there is an effect that the manufacturing time in the assembly of the probe block is shortened.

아울러, 다수 개로 상하 '「」'형태로 체결되는 블레이드 팁을 팁 픽스 블럭이 내측에서 블레이드 팁 정렬 및 고정이 동시에 이루어지는 방식으로 블레이드 팁을 정렬시키면서 고정하여 블레이드 팁을 정확하게 위치시키고, 블레이드 팁의 유동성이 없어지는 구조이면서 구조의 간편화로 인해 작업성 및 조립시간이 단축되는 효과가 있으므로 매우 유용한 발명인 것이다.In addition, a plurality of blade tips fastened in the form of upper and lower "" "form the tip of the blade while the tip tip of the blade tip alignment and fixation in a manner that the blade tip is aligned and fixed at the same time to accurately position the blade tip, the fluidity of the blade tip This is a very useful invention because there is an effect of reducing the workability and assembly time due to the simplified structure and the simplified structure.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 구성은, The configuration of the present invention for achieving the above object,

검사를 수행할 패널의 접속 패드에 접속하는 것으로 다수 개로 상하 '「」' 형태로 체결하되 중앙에는 사각형태 팁 공간부를 형성하는 블레이드 팁과;A blade tip which is connected to a connection pad of a panel to be inspected and fastened in a plurality of shapes in the form of a square tip space in the center;

상기 블레이드 팁이 체결에 형성된 팁 공간부에서 내측에서 상호 대각선상에 대응하는 모서리측에 마련되어 블레이드 팁을 고정하는 팁 픽스 블럭과;A tip fix block provided at a corner of the tip space formed at the inner end of the blade tip corresponding to a diagonal line on the inner side to fix the blade tip;

상기 블레이드 팁의 체결에 상응하는 '「」'형태로 체결되어 블레이드 팁의 상하 운동과 위치를 가이드 하는 세라믹 슬릿과;A ceramic slit that is fastened in a '' 'shape corresponding to the fastening of the blade tip to guide the vertical motion and position of the blade tip;

상기 세라믹 슬릿의 상단에 위치하여 반도체 상대로 구비된 메니플레이트에 장착되는 블럭바디와;A block body positioned at an upper end of the ceramic slit and mounted on a manifold provided to a semiconductor;

상기 세라믹 슬릿의 하단에 위치하면서 세라믹 슬릿과 연결되어 블럭바디의 하단으로 결합되는 세라믹 블럭; 구성으로 결합되는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭을 제공함으로써 달성하였다.A ceramic block positioned at a lower end of the ceramic slit and connected to the ceramic slit and coupled to a lower end of the block body; It was achieved by providing a probe block for inspecting a flat panel display device, characterized in that coupled to the configuration.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예에 의하여 본 발명을 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by preferred embodiments of the present invention.

이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.Prior to this, terms or words used in the present specification and claims should not be construed as being limited to the common or dictionary meanings, and the inventors should properly explain the concept of terms in order to best explain their own invention. Based on the principle that can be defined, it should be interpreted as meaning and concept corresponding to the technical idea of the present invention.

따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 하나의 실시 예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Therefore, the embodiments described in the specification and the drawings shown in the drawings are only one of the most preferred embodiments of the present invention, and do not represent all of the technical idea of the present invention, they can be replaced at the time of the present application It should be understood that there may be various equivalents and variations.

도 2는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 분해 사시도이다.2 is an exploded perspective view of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention.

도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 프로브 블럭(200)은 각각의 프로브 유니트로 조합된 프로브 블럭(200)으로 LCD 패널에 형성되어 있는 수천 개의 패턴 검사로 파손된 블레이드 팁(110)을 상하 다수 개로 정렬시키면서 고정하는 팁 픽스 블럭(120)으로 분리가 가능하여 어느 하나 파손된 블레이드 팁(110)을 개별적으로 교체 가능하면서 블레이드 팁(110) 정렬 및 고정이 동시에 이루어지는 방식으로 블레이드 팁(110)을 정렬시키면서 고정하여 블레이드 팁(110)을 정확하게 위치시키고, 블레이드 팁(110)의 유동성이 없어지는 구조이면서 구조의 간편화로 인해 작업성 및 조립시간의 단축되는 것이다.As shown, the probe block 200 according to the present invention is a probe block 200 combined with each probe unit to a plurality of upper and lower blade tips 110 damaged by thousands of pattern inspections formed on the LCD panel. It is possible to separate the fixed tip tip block 120 to align and fix the blade tip 110 in such a way that the blade tip 110 can be individually replaced while the blade tip 110 is aligned and fixed at the same time. While being fixed while positioning the blade tip 110 accurately, the fluidity of the blade tip 110 is lost structure and the workability and assembly time is shortened due to the simplicity of the structure.

이러한, 상기 프로브 블럭(200)에 구성되는 유니트로 검사를 수행할 패널의 접속 패드에 접속하는 블레이드 팁(110)이 다수 개로 상하 '「」'형태로 체결하되 중앙에는 사각 형태 팁 공간부(112)를 형성한다.The blade tip 110, which is connected to the connection pad of the panel to be inspected by the unit configured in the probe block 200, is fastened in the form of a plurality of blade tips 110 up and down in the form of a square tip space 112 at the center thereof. ).

그리고, 상기 블레이드 팁(110)이 체결에 형성된 팁 공간부(112)에서 내측에서 팁 픽스 블럭(120)이 상호 대각선상에 대응하는 모서리측에 마련되어 블레이드 팁(110)을 고정한다.In addition, a tip fix block 120 is provided at a corner side corresponding to a diagonal line from each other in the tip space 112 formed at the blade tip 110 to fasten the blade tip 110.

이렇게 상기 블레이드 팁(110)의 체결에 상응하는 '「」'형태로 세라믹 슬릿(130)이 체결되어 블레이드 팁(110)의 상하 운동과 위치를 가이드 한다.Thus, the ceramic slit 130 is fastened in a '' 'shape corresponding to the fastening of the blade tip 110 to guide the vertical movement and position of the blade tip 110.

반도체 상대로 구비된 메니플레이트에 장착되는 불럭바디(140)는 세라믹 슬릿(130)의 상단에 위치한다.The block body 140 mounted on the manifold provided to the semiconductor is located at the top of the ceramic slit 130.

상기 세라믹 슬릿(130)의 하단에 위치하면서 세라믹 슬릿(130)과 연결되어 블럭바디(140)의 하단으로 결합되는 세라믹 블럭(150) 구성으로 결합되는 것이다.Located at the bottom of the ceramic slit 130 is connected to the ceramic slit 130 is coupled to the ceramic block 150 configuration coupled to the bottom of the block body 140.

이하에서는 상기와 같은 구성을 가진 프로브 블럭에 대해 첨부한 도면에 의하여 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, a probe block having the above configuration will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 도 3은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 블레이드 팁과 팁 픽스 블럭의 조립도이고, 도 4는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 부분 조립도이다.First, FIG. 3 is an assembly diagram of a blade tip and a tip fix block of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention, and FIG. 4 is a partial assembly view of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention.

상기 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 프로브 블럭(200)은 프로브 유니트를 전체적으로 지지하는 부재이다.As shown in the figure, the probe block 200 of the present invention is a member supporting the probe unit as a whole.

여기서, 상기 프로브 유니트는 LCD액정 패널(Panel)의 점등이 제대로 되는지 확인하기 위한 테스트 장치로서 LCD의 반제품인 모듈(Module) 제작 이전에 LCD 패널이 이상 없이 제작되어 있는지를 검사하게 된다. Here, the probe unit is a test device for checking whether the LCD panel is properly turned on. The probe unit checks whether the LCD panel is manufactured without any abnormality before manufacturing the module, which is a semi-finished product of the LCD.

이때, 전기적인 신호를 LCD 글라스(Glass)의 패턴(Pattern) 부위에 인가하여 주는 탐침(Blade Tip)과 이를 지지하는 툴(Tool)이 필요하게 되는데 LCD 패널( Panel)을 이송시켜주는 장치를 프로브(Prober)라 하고 신호를 인가해 주는 탐침 부위를 프로브 유니트라 한다. At this time, a blade tip and a tool for supporting the electrical signal are required to apply an electrical signal to the pattern portion of the LCD glass. A probe for transferring the LCD panel is required. Probe is called the probe unit.

그리고, 프로브 블럭(200)은 LCD의 패널(Panel) 상에는 매우 미세한 패턴들이 연결되어 있으며 패턴 사이 간격이 최소 0.03mm~0.2mm 이내에 위치하여 있다. 또한 LCD 패널에는 패턴들이 수천 개씩 형성이 되어 있어 블럭(Block) 단위로 나누어서 검사가 이루어지는데, 이 작고 좁은 단자들을 검사하기 위한 장치가 프로브 블럭(Probe Block)(200)이다.In addition, the probe block 200 has very fine patterns connected to the panel of the LCD, and the spacing between the patterns is located within at least 0.03 mm to 0.2 mm. In addition, since thousands of patterns are formed on the LCD panel, inspection is performed by dividing into blocks, and a probe block 200 is a device for inspecting the small and narrow terminals.

상기 프로브 블록(200)은 미세한 패드와 패드 사이를 연결하여 패널이 구동할 수 있는 전기적인 신호를 연결해주는 역할을 한다.The probe block 200 serves to connect an electric signal that can be driven by the panel by connecting between the pad and the minute pad.

이러한, 상기 프로브 블럭(200)의 블레이드 팁(110)은 도 5에 도시한 바와 같이 검사를 수행할 패널의 접속 패드에 접속하는 것으로 다수 개로 상하 '「」'형태로 체결하되 중앙에는 사각형태 팁 공간부(112)를 형성한다.The blade tip 110 of the probe block 200 is connected to the connection pad of the panel to be inspected as shown in FIG. The space 112 is formed.

상기 블레이드 팁(110)은 소정의 폭과 길이로 직각도를 가지면서 양 끝단에 각각 패널 접촉부(114)와 패턴 접촉부(116)를 돌출 형성한 것이다.The blade tip 110 has a right angle with a predetermined width and length, and protrudes the panel contact portion 114 and the pattern contact portion 116 at both ends.

즉, 상기 블레이드 팁(110)의 일단부 상측에 패턴 접촉부(114)가 돌출되고, 상기 블레이드 팁(110)의 타단부 하측에 패널 접촉부(116)가 돌출된 것이다.That is, the pattern contact portion 114 protrudes above one end of the blade tip 110, and the panel contact portion 116 protrudes below the other end of the blade tip 110.

이때, 상기 블레이드 팁(110)은 '「' 형상의 블레이드 팁(110)을 반전시켜 상하로 밀착시키는 것으로 하나의 형태를 가진 블레이드 팁(110)으로 사용하는 것이다.At this time, the blade tip 110 is to use the blade tip 110 having one form by inverting the 'tip' shaped blade tip 110 in close contact with each other.

이러한, 상기 블레이드 팁(110)은 소정의 폭과 길이를 갖는 프로브 블럭(200)의 일단부 상측에 패턴 접촉부(116)가 돌출되고, 상기 프로브 블럭(200)의 타단부 하측에 패널 접촉부(114)가 돌출된다.The blade tip 110 has a pattern contact portion 116 protruding from one end of the probe block 200 having a predetermined width and length, and a panel contact portion 114 below the other end of the probe block 200. ) Is projected.

이때, 상기 블레이드 팁(110)이 체결에 형성된 팁 공간부(112)에서 내측에서 상호 대각선상에 대응하는 모서리측에 팁 픽스 블럭(120)이 마련되어 블레이드 팁(110)을 고정하게 된다,.At this time, the tip tip block 120 is provided on the corner side corresponding to the diagonal on the inside in the tip space 112 formed in the blade tip 110 is fastened to secure the blade tip 110 ,.

상기 팁 픽스 블럭(120)은 도 6에 도시한 바와 같이 블레이드 팁(110)을 정렬 및 고정이 동시에 이루어지는 방식으로 블레이드 팁(110)을 정렬시키면서 고정 하여 블레이드 팁(110)을 정확하게 위치시키고, 블레이드 팁(110)의 유동성이 없도록 하게 한다.As shown in FIG. 6, the tip fix block 120 fixes and aligns the blade tip 110 in such a manner that the blade tip 110 is aligned and fixed at the same time, thereby accurately positioning the blade tip 110 and the blade. Make sure that the tip 110 is not fluid.

이러한, 상기 팁 픽스 블럭(120)은 다수 개의 블레이드 팁(110)이 상하로 결합되어 사각형태의 팁 공간부(112)를 이루는 블레이드 팁(110)을 내측 상하단 모서리에 각각 밀착하면서 소정 부분이 포개져 블레이드 팁(110)이 사각 형태를 유지하도록 하는 것이다.The tip fix block 120 has a plurality of blade tips 110 coupled up and down, and a predetermined portion is overlapped while the blade tips 110 forming the tip space 112 having a rectangular shape are in close contact with inner top and bottom edges, respectively. The lower blade tip 110 is to maintain the square shape.

또한, 상기 팁 픽스 블럭(120)은 블레이드 팁(110)이 '「」' 형태로 상하로 결합되어 사각형태의 팁 공간부(112)를 이루되 블레이드 팁(110)이 사선방향으로 소정의 이격 공간(102)이 유지하도록 한다.In addition, the tip fix block 120 has a blade tip 110 is coupled up and down in a '' 'form to form a tip space 112 of the rectangular shape, but the blade tip 110 is spaced in a diagonal direction. Space 102 is maintained.

아울러, 상기 팁 픽스 블럭(120)은 블레이드 팁(110)을 상하 다수 개로 정렬시키면서 고정하는 것으로 분리가 가능하여 어느 하나 파손된 블레이드 팁(110)을 개별적으로 교체 가능하다.In addition, the tip fix block 120 may be separated by fixing the blade tips 110 by arranging the plurality of blade tips 110 up and down so that any one of the broken blade tips 110 may be individually replaced.

이같은 상기 팁 픽스 블럭(120)은 다수 개로 상하 '「」'형태로 체결되는 블레이드 팁(110)을 팁 픽스 블럭(120)이 내측에서 블레이드 팁(110) 정렬과 고정이 동시에 이루어지는 방식으로 구조의 간편화로 인해 작업성 및 조립시간이 단축된다.The tip fix block 120 has a plurality of blade tips 110 fastened in the form of a plurality of upper and lower '' 'form the tip fix block 120 in the manner that the alignment and fixing of the blade tip 110 at the same time at the same time Simplification reduces workability and assembly time.

그리고, 상기 블레이드 팁(110)의 체결에 상응하는 '「」'형태로 상하로 체결되는 세라믹 슬릿(130)은 블레이드 팁(110)의 상하 운동과 위치를 가이드 하는 것이다.In addition, the ceramic slits 130 fastened up and down in a '' 'shape corresponding to the fastening of the blade tip 110 guide the vertical motion and position of the blade tip 110.

아울러, 도 7은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭 의 블레이드 팁과 세라믹 슬릿을 나타낸 도면이며, 도 8은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 블레이드 팁과 세라믹 슬릿 조립을 나타낸 도면이다.In addition, Figure 7 is a view showing the blade tip and the ceramic slit of the probe block for inspecting the flat panel display device according to the present invention, Figure 8 is a blade tip and ceramic slit assembly of the probe block for inspecting the flat panel display device according to the present invention It is a diagram showing.

상기 도면에 도시된 바와 같이, 상기 세라믹 슬릿(130)은 다수 개의 블레이드 팁(110)이 상하로 결합되어 사각 형태를 이루는 블레이드 팁(110)을 상하로 잡아줌으로써 블레이드 팁(110)이 상하로 움직이지 않고 고정되도록 블레이드 팁(110)을 정확하게 정렬하는 것이다.As shown in the figure, the ceramic slit 130 is a blade tip 110 is moved up and down by holding the blade tip 110, which is formed by a plurality of blade tips 110 are coupled up and down to form a square shape. It is to align the blade tip 110 to be fixed instead of.

상기 세라믹 슬릿(130)은 '「' 와 '」'형태로 각각 소정의 폭과 길이로 일체형의 직각도를 가진 것이다.The ceramic slit 130 has an integral right angle with a predetermined width and length in the form of '' and ''.

즉, 상기 세라믹 슬릿(130)은 블레이드 팁(110)을 중심으로 '「' 와 '」'형태로 세라믹 슬릿(130)이 고정되어 블레이드 팁(110)을 잡아주게 되는 것이다.That is, the ceramic slit 130 is to hold the blade tip 110 is fixed to the ceramic slit 130 in the '' 'and' 'shape around the blade tip 110.

이때, 상기 세라믹 슬릿(130)은 기본적으로 '「' 와 '」'형태로 일체형 직각도를 가지게 구성하면서 다른 실시예로 '「' 와 '」'형태가 각각 수직부와 수평부가 분리 구조로 구성하는 것으로 조립 시 수평부와 수직부가 직각을 이루도록 조립되어 직각도를 이루도록 구성할 수 있다.At this time, the ceramic slit 130 is basically configured to have an integral right angle in the form of '' and '', while in other embodiments, the '' and ' When assembled, the horizontal portion and the vertical portion may be assembled to form a right angle to form a right angle.

즉, 상기 세라믹 슬릿(130)은 기본적으로'「' 와 '」'형태로 일체형 직각도의 2개의 상하 조립구조이면서, 다른 실시예로는 각각 분리가 가능한 '「' 와 '」'형태로 4개의 수평부와 수직부가 직각으로 만나 블레이드 팁(110)을 중심으로 상하 조립 구조를 이루게 한다.That is, the ceramic slit 130 is basically two vertical assembly structures of the unitary right angle in the form of '' and '', while in another embodiment, the ceramic slits 130 can be separated in the form of '' and ''. Horizontal and vertical portions of the two dogs meet at right angles to form a vertical assembly structure around the blade tip 110.

아울러, 상기 블레이드 팁(110)이 다수 개로 밀착되어 사각 형태의 팁 공간 부(112)를 이루어 팁 픽스 블럭(120)으로 정렬되면서 고정된 블레이드 팁(110)을 상하 2단으로 고정하는 것이다.In addition, the blade tips 110 are in close contact with a plurality of pieces to form a square tip space portion 112 to be aligned with the tip fix block 120 while fixing the fixed blade tip 110 in two stages up and down.

이때, 기존의 블레이드 팁(110)을 고정하는 실트는 4개로 분할하여 4개 군데 접착(attach) 공정을 하지만 본 발명의 세라믹 슬릿(130)은 상하 2군데로 접합 공정을 줄여 제작 시간을 단축하게 되는 것이다.At this time, the silt fixing the existing blade tip 110 is divided into four and four places attach process (attach) but the ceramic slit 130 of the present invention to reduce the bonding process to two places up and down to shorten the production time Will be.

이렇게 결합되어진 블레이드 팁(110)과 팁 픽스 블럭(120), 세라믹 슬릿(130)으로 부합되어 블레이드 팁(110)이 움직이지 않고 고정되어 프로브 블럭(200)에서 정확하게 정렬되고, 접촉압력도 균일해진다.The blade tip 110, the tip fix block 120, and the ceramic slit 130 are combined so that the blade tip 110 is fixed without moving and is accurately aligned in the probe block 200, and the contact pressure is also uniform. .

아울러, 상기 세라믹 슬릿(130)의 상단에 위치하는 조립되는 블럭바디(140)는 도 9에 도시한 바와 같이 반도체 상대로 구비된 메니플레이트에 장착되는 것으로 상기 세라믹 슬릿(130)의 하단에 위치하면서 세라믹 슬릿(130)과 연결되어 블럭바디(140)의 하단으로 결합되어 각각의 유니트가 조립된 프로브 블럭(200)이 되는 것이다.In addition, the block body 140 to be assembled on the top of the ceramic slit 130 is mounted on the maniplate provided to the semiconductor as shown in Figure 9 is located on the bottom of the ceramic slit 130 and the ceramic It is connected to the slit 130 is coupled to the lower end of the block body 140 is that each unit is assembled to the probe block 200.

즉, 상기 블럭바디(140)가 상단에 위치하고, 팁 픽스 블럭(120)에 의해 상하로 사각 형태를 이루는 블레이드 팁(110)과 상응하는 상하로 고정하는 세라믹 슬릿(130)을 세라믹 블럭(150)이 밑에서 받쳐주어 블럭바디(140)에 순차적으로 삽입 결합되어 하나의 프로브 블럭(200) 조립체를 구성하어 프로브 유니트 블레이드 팁(110) 결함을 최소화하여 안전성을 향상시키고, 제조 공정이 단순화되어, 제작 단가가 하락하고, 리페어가 수월하여 생산성이 향상된다.That is, the block body 140 is located at the top, and the ceramic block 150 is fixed to the ceramic slit 130 to be fixed up and down corresponding to the blade tip 110, which is formed in a square shape up and down by the tip fix block 120. It is supported by the bottom and inserted into the block body 140 in sequence to form a single probe block 200 assembly to minimize the defect of the probe unit blade tip 110 to improve safety, simplifying the manufacturing process, manufacturing cost Decreases, repair is easy, and productivity is improved.

여기서, 상기 본 발명의 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭에 구성 되는 블레이드 팁(110)과 세라믹 슬릿(130)의 다른 실시예로서 도 10 및 도 11에 도시한 바와 같이 우선 블레이드 팁(110)과 같이 소정의 폭과 길이로 직각도를 가지면서 양 끝단에 각각 패널 접촉부(114)와 패턴 접촉부(116)를 돌출 형성하면서 연이어지는 패널 접촉부(114)와 패턴 접촉부(116)가 수평방향으로 소정 길이방향으로 길게 연장되게 형성한 제2 블레이드 팁(110-1)으로 형성한다.Here, as another embodiment of the blade tip 110 and the ceramic slit 130 of the probe block for inspecting the flat panel display device of the present invention, as shown in FIGS. 10 and 11, the blade tip 110 and As described above, the panel contact portion 114 and the pattern contact portion 116 which are connected to each other at a predetermined width and length with the right angle and the panel contact portion 114 and the pattern contact portion 116 protrudingly formed at both ends thereof have a predetermined length in the horizontal direction. It is formed as a second blade tip (110-1) formed to extend in the long direction.

상기 제2 블레이드 팁(110-1)을 상하로 체결하는 블록부재(130-1)가 상하로 체결하되 상부의 블록부재(130-1) 하면에 제2 블레이드 팁(110-1)을 고정하도록 도와주는 제 2 세라믹 슬릿(131)이 각각 패널 접촉부(114)와 패턴 접촉부(116)와 같은 굴곡을 이루어 제2 블레이드 팁(110-1)을 안정적으로 고정하게 된다.Block member 130-1 for fastening the second blade tip 110-1 up and down is fastened up and down, but to fix the second blade tip 110-1 on the lower surface of the block member 130-1. The assisting second ceramic slit 131 is curved like the panel contact part 114 and the pattern contact part 116, respectively, to stably fix the second blade tip 110-1.

이때, 상기 블록부재(130-1)가 상하 사이에 결합되는 제2 블레이드 팁(110-1)을 하나의 '「 ' 형태로 삽입되어 제 2 세라믹 슬릿(131)과 함께 고정된다.In this case, the block member 130-1 is inserted into the second blade tip 110-1, which is coupled between the upper and lower sides, and is fixed together with the second ceramic slit 131.

이 같이 상기 제2 블레이드 팁(110-1)의 상하 운동과 위치를 가이드 하는 블록부재(130-1)는 상하로 제2 블레이드 팁(110-1)의 체결에 상응하는 형태로 체결되어 프로브 블럭을 조립함에 있어 제작 시간이 단축되는 효과가 있다.As such, the block member 130-1 guiding the vertical movement and the position of the second blade tip 110-1 is fastened up and down in a form corresponding to the fastening of the second blade tip 110-1 to the probe block. In assembling the production time is shortened.

이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.As described above, although the present invention has been described by way of limited embodiments and drawings, the present invention is not limited thereto, and the technical idea of the present invention and the following by those skilled in the art to which the present invention pertains. Of course, various modifications and variations are possible within the scope of equivalents of the claims to be described.

도 1은 일반적인 엘시디 검사용 프로브 블럭의 측단면도.1 is a side cross-sectional view of a probe block for a general LCD test.

도 2는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 분해 사시도.2 is an exploded perspective view of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 블레이드 팁과 팁 픽스 블럭의 조립도.3 is an assembly view of a blade tip and a tip fix block of the probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 부분 조립도.4 is a partial assembly view of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention;

도 5는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 블레이드 팁을 나타낸 도면.5 is a view showing a blade tip of the probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 블레이드 팁과 팁 픽스 블럭의 조립 정면도.6 is an assembled front view of the blade tip and the tip fix block of the probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 블레이드 팁과 세라믹 슬릿을 나타낸 도면.7 is a view showing a blade tip and a ceramic slit of the probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention.

도 8은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 블레이드 팁과 세라믹 슬릿 조립을 나타낸 도면.8 is a view showing the assembly of the blade tip and the ceramic slit of the probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention.

도 9는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭이 메인 블럭 조립을 나타낸 도면.9 is a view illustrating a main block assembly of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention;

도 10은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 다른 실시예의 제2 블레이드 팁을 나타낸 도면.10 is a view showing a second blade tip of another embodiment of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention;

도 11은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭의 다른 실시예의 제2 블레이드 팁과 제2 세라믹 슬릿 조립을 나타낸 도면.11 is a view showing a second blade tip and a second ceramic slit assembly of another embodiment of a probe block for inspecting a flat panel display device according to the present invention;

** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 **** Description of symbols for the main parts of the drawing **

102:이격 공간 110:블레이드 팁102: space 110: blade tip

112:팁 공간부 114:패널 접촉부112: tip space 114: panel contact

116:패턴 접촉부 120:팁 픽스 블럭116: pattern contact portion 120: tip fix block

130:세라믹 슬릿 140:블럭 바디130: ceramic slit 140: block body

150:세라믹 블럭 200:프로브 블럭150: ceramic block 200: probe block

Claims (12)

팁이 구비되어 LCD, PDP 등의 평판디스플레이 소자를 검사하는 프로브 블럭에 있어서,Probe block is provided in the probe block for inspecting flat panel display devices such as LCD, PDP, 검사를 수행할 패널의 접속 패드에 접속하는 것으로 다수 개로 상하 '「」'형태로 체결하되 중앙에는 사각형태 팁 공간부(112)를 형성하는 블레이드 팁(110)과;A blade tip 110 which is connected to a connection pad of a panel to be inspected and connected in a plurality of upper and lower '' 'shapes to form a rectangular tip space 112 at the center thereof; 상기 블레이드 팁(110)이 체결에 형성된 팁 공간부(112)에서 내측에서 상호 대각선상에 대응하는 모서리측에 마련되어 블레이드 팁(110)을 고정하는 팁 픽스 블럭(120)과;A tip fix block (120) provided at the corners of the blade space (110) formed at the inner side of the tip space (112) formed in the fastening so as to correspond to each other on a diagonal line; 상기 블레이드 팁(110)의 체결에 상응하는 '「」'형태로 체결되어 블레이드 팁(110)의 상하 운동과 위치를 가이드 하는 세라믹 슬릿(130)과;A ceramic slit 130 that is fastened in a '' 'shape corresponding to the fastening of the blade tip 110 to guide the vertical motion and position of the blade tip 110; 상기 세라믹 슬릿(130)의 상단에 위치하여 반도체 상대로 구비된 메니플레이트에 장착되는 블럭바디(140)와;A block body 140 positioned at an upper end of the ceramic slit 130 and mounted on a maniplate provided to a semiconductor counterpart; 상기 세라믹 슬릿(130)의 하단에 위치하면서 세라믹 슬릿(130)과 연결되어 블럭바디(140)의 하단으로 결합되는 세라믹 블럭(150); 구성으로 결합되는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.A ceramic block 150 positioned at a lower end of the ceramic slit 130 and connected to the ceramic slit 130 and coupled to a lower end of the block body 140; Probe block for inspecting flat panel display device, characterized in that coupled to the configuration. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 블레이드 팁(110)은,The blade tip 110, 소정의 폭과 길이로 직각도를 가지면서 양 끝단에 각각 패널 접촉부(114)와 패턴 접촉부(116)를 돌출 형성한 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.A probe block for inspecting a flat panel display device, comprising protruding panel contact parts 114 and pattern contact parts 116 at both ends with a right angle at a predetermined width and length. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 팁 픽스 블럭(120)은,The tip fix block 120, 다수 개의 블레이드 팁(110)이 상하로 결합되어 사각형태의 팁 공간부(112)를 이루는 블레이드 팁(110)을 내측 상하단 모서리에 각각 밀착하면서 소정 부분이 포개져 블레이드 팁(110)이 사각 형태를 유지하도록 하는 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.A plurality of blade tips 110 are coupled to the top and bottom to form a rectangular tip space 112, the blade tip 110 is in close contact with the upper and lower edges respectively, while the predetermined portion is overlapped blade tip 110 has a square shape Probe block for inspecting a flat panel display device, characterized in that it comprises maintaining. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 팁 픽스 블럭(120)은,The tip fix block 120, 블레이드 팁(110)이 '「」' 형태로 상하로 결합되어 사각형태의 팁 공간부(112)를 이루되 블레이드 팁(110)이 사선방향으로 소정의 이격 공간(102)이 유지하도록 하는 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.Blade tip 110 is coupled to the upper and lower in the '' 'form to form a rectangular tip space 112, but the blade tip 110 to maintain a predetermined space 102 in the diagonal direction Probe block for inspecting flat panel display device characterized in that. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 팁 픽스 블럭(120)은,The tip fix block 120, 블레이드 팁(110)을 상하 다수 개로 정렬시키면서 고정하는 것으로 분리가 가능하여 어느 하나 파손된 블레이드 팁(110)을 개별적으로 교체 가능한 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.A probe block for inspecting a flat panel display device, characterized in that it can be separated by fixing the blade tips 110 by arranging the plurality of blade tips 110 up and down individually. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 팁 픽스 블럭(120)은,The tip fix block 120, 다수 개로 상하 '「」'형태로 체결되는 블레이드 팁(110)을 팁 픽스 블럭(120)이 내측에서 블레이드 팁(110) 정렬과 고정이 동시에 이루어지는 방식으로 구조의 간편화로 인해 작업성 및 조립시간의 단축되는 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.The blade tip 110 fastened in the form of a plurality of blade tips 110 up and down in the form of the tip fix block 120 at the same time is aligned and fixed to the blade tip 110 from the inside, thereby simplifying the workability and assembly time. Probe block for inspecting a flat panel display device, characterized in that it comprises a shortened. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 세라믹 슬릿(130)은,The ceramic slit 130, 다수 개의 블레이드 팁(110)이 상하로 결합되어 사각 형태를 이루는 블레이 드 팁(110)을 상하로 잡아줌으로써 블레이드 팁(110)이 상하로 움직이지 않고 고정되도록 블레이드 팁(110)을 정확하게 정렬하는 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.A plurality of blade tips 110 are coupled up and down to hold the blade tip 110 which forms a square shape up and down to accurately align the blade tip 110 so that the blade tip 110 is fixed without moving up and down. Probe block for inspecting flat panel display, characterized in that it comprises a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 세라믹 슬릿(130)은,The ceramic slit 130, '「' 와 '」'형태로 각각 소정의 폭과 길이로 일체형의 직각도를 가진 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.A probe block for inspecting a flat panel display device, wherein the probe block has an integral right angle with a predetermined width and length in the form of '' and ''. 제3항 또는 제7항에 있어서,The method according to claim 3 or 7, 상기 블레이드 팁(110)이 다수 개로 밀착되어 사각 형태의 팁 공간부(112)를 이루어 팁 픽스 블럭(120)으로 정렬되면서 고정된 블레이드 팁(110)을 상하 2단으로 고정하는 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.A plurality of blade tips 110 are in close contact with each other to form a square tip space portion 112 to be aligned with the tip fix block 120, and the fixed blade tip 110 is fixed to the upper and lower two stages, characterized in that Probe block for inspecting flat panel display devices. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 블럭바디(140)가 상단에 위치하고, 팁 픽스 블럭(120)에 의해 상하로 사각 형태를 이루는 블레이드 팁(110)과 상응하는 상하로 고정하는 세라믹 슬릿(130)을 세라믹 블럭(150)이 밑에서 받쳐주어 블럭바디(140)에 결합되어 하나의 프로브 블럭(200) 조립체를 구성하는 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.The block body 140 is positioned at the top, and the ceramic block 150 is fixed to the ceramic slit 130, which is fixed up and down corresponding to the blade tip 110, which is squared up and down by the tip fix block 120. A probe block for inspecting a flat panel display device, comprising a support body coupled to the block body 140 to constitute an assembly of one probe block 200. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 세라믹 슬릿(130)은,The ceramic slit 130, '「' 와 '」'형태가 각각 수직부와 수평부로 분리되는 구조로 수평부와 수직부가 직각을 이루도록 조립되어 직각도를 이루는 것으로 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.Probe block for flat panel display device inspection, characterized in that the '' 'and' 'form is divided into a vertical portion and a horizontal portion, respectively, the horizontal portion and the vertical portion are assembled to form a right angle to form a right angle. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 패널 접촉부(114)와 패턴 접촉부(116)가 직각도에서 수평방향으로 소정 길이방향으로 길게 연장되는 제2 블레이드 팁(110-1)으로 형성된 것을 포함함을 특징으로 하는 평판형 디스플레이장치 검사용 프로브 블럭.The panel contact portion 114 and the pattern contact portion 116 is formed for the inspection of the flat panel display device, characterized in that it comprises a second blade tip (110-1) extending in a predetermined length direction in the horizontal direction at right angles. Probe Block.
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KR101436294B1 (en) 2013-10-10 2014-09-03 로체 시스템즈(주) Electrode pattern inspecting apparatus and electrode pattern inspecting apparatus system having the same
KR102121618B1 (en) * 2020-02-06 2020-06-10 주식회사 프로이천 Integrated Type Probe Array Block

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