KR100948805B1 - 전자 방해 검출 장치 및 그 제어 방법 - Google Patents
전자 방해 검출 장치 및 그 제어 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100948805B1 KR100948805B1 KR1020090073024A KR20090073024A KR100948805B1 KR 100948805 B1 KR100948805 B1 KR 100948805B1 KR 1020090073024 A KR1020090073024 A KR 1020090073024A KR 20090073024 A KR20090073024 A KR 20090073024A KR 100948805 B1 KR100948805 B1 KR 100948805B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- probe
- plate
- electromagnetic interference
- detection
- probe member
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
- G01R29/0835—Testing shielding, e.g. for efficiency
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0871—Complete apparatus or systems; circuits, e.g. receivers or amplifiers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
상기 프로브 감지 센서를 상기 플레이트에 배치하는 단계; 상기 플레이트에 배치된 상기 프로브 감지 센서를 향해 상기 프로브 부재를 이동시키는 단계; 상기 이동된 프로브 부재가 상기 프로브 감지 센서에 접촉되면, 그 접촉을 상기 프로브 감지 센서가 감지하는 단계; 및 상기 프로브 감지 센서에 의해 상기 프로브 부재의 접촉이 감지되면, 그 접촉 시의 상기 프로브 부재의 말단의 높이값을 이용하여, 상기 제어부가 상기 프로브 부재의 Z축 상의 위치 오차를 보정하는 단계;를 포함한다.
상기 플레이트의 구획선에 신호를 인가하는 단계; 상기 인가된 신호를 상기 프로브 부재에서 감지하는 단계; 상기 플레이트의 구획선에 대한 영상을 상기 영상 촬영 부재가 촬영하는 단계; 및 상기 영상 촬영 부재에서 촬영된 상기 구획선의 위치값과, 상기 프로브 부재에 의해 감지되는 상기 신호에 따른 상기 구획선의 위치값을 이용하여, 상기 제어부가 상기 프로브 부재의 평면에서의 위치값을 보정하는 단계;를 포함한다.
Claims (7)
- 전자 방해의 검출 대상체가 놓이는 플레이트를 포함하는 본체;상기 본체에 설치되어 이동되면서, 상기 플레이트 상에 놓인 상기 검출 대상체의 전자 방해(EMI)를 감지할 수 있는 프로브(probe) 부재;상기 플레이트 상에서 상기 프로브 부재의 접촉을 감지할 수 있는 프로브 감지 센서; 및상기 프로브 감지 센서에 의해 상기 프로브 부재의 접촉이 감지되면, 그 접촉 시의 상기 프로브 부재의 말단의 높이값을 이용하여 상기 프로브 부재의 Z축 상의 위치 오차를 보정하는 제어부;를 포함하는 전자 방해 검출 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 프로브 감지 센서는 상기 프로브 부재의 접촉 시의 압력을 감지하는 압력 센서인 것을 특징으로 하는 전자 방해 검출 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 프로브 감지 센서는 상기 플레이트에 놓일 수 있는 테스트 부재에 설치된 것을 특징으로 하는 전자 방해 검출 장치.
- 전자 방해의 검출 대상체가 놓이고, 신호가 인가되는 구획선이 형성되는 플 레이트를 포함하는 본체;상기 본체에 설치되어 이동되면서, 상기 구획선에서 인가되는 상기 신호와 상기 플레이트 상에 놓인 상기 검출 대상체의 전자 방해 중 적어도 하나를 감지할 수 있는 프로브 부재;상기 구획선이 형성된 상기 플레이트에 대한 영상을 촬영할 수 있는 영상 촬영 부재; 및상기 영상 촬영 부재에서 촬영된 상기 구획선의 위치값과, 상기 프로브 부재에 의해 감지되는 상기 신호에 따른 상기 구획선의 위치값을 이용하여, 상기 프로브 부재의 평면에서의 위치값을 보정하는 제어부;를 포함하는 전자 방해 검출 장치.
- 전자 방해의 검출 대상체가 놓이는 플레이트를 포함하는 본체; 상기 본체에 설치되어 이동되면서, 상기 플레이트 상에 놓인 상기 검출 대상체의 전자 방해(EMI)를 감지할 수 있는 프로브(probe) 부재; 상기 플레이트 상에서 상기 프로브 부재의 접촉을 감지할 수 있는 프로브 감지 센서; 및 제어부;를 포함하는 전자 방해 검출 장치의 제어 방법에 있어서,상기 프로브 감지 센서를 상기 플레이트에 배치하는 단계;상기 플레이트에 배치된 상기 프로브 감지 센서를 향해 상기 프로브 부재를 이동시키는 단계;상기 이동된 프로브 부재가 상기 프로브 감지 센서에 접촉되면, 그 접촉을 상기 프로브 감지 센서가 감지하는 단계; 및상기 프로브 감지 센서에 의해 상기 프로브 부재의 접촉이 감지되면, 그 접촉 시의 상기 프로브 부재의 말단의 높이값을 이용하여, 상기 제어부가 상기 프로브 부재의 Z축 상의 위치 오차를 보정하는 단계;를 포함하는 전자 방해 검출 장치의 제어 방법.
- 전자 방해의 검출 대상체가 놓이고, 신호가 인가되는 구획선이 형성되는 플레이트를 포함하는 본체; 상기 본체에 설치되어 이동되면서, 상기 구획선에서 인가되는 상기 신호와 상기 플레이트 상에 놓인 상기 검출 대상체의 전자 방해 중 적어도 하나를 감지할 수 있는 프로브 부재; 상기 구획선이 형성된 상기 플레이트에 대한 영상을 촬영할 수 있는 영상 촬영 부재; 및 제어부;를 포함하는 전자 방해 검출 장치의 제어 방법에 있어서,상기 플레이트의 구획선에 신호를 인가하는 단계;상기 인가된 신호를 상기 프로브 부재에서 감지하는 단계;상기 플레이트의 구획선에 대한 영상을 상기 영상 촬영 부재가 촬영하는 단계; 및상기 영상 촬영 부재에서 촬영된 상기 구획선의 위치값과, 상기 프로브 부재에 의해 감지되는 상기 신호에 따른 상기 구획선의 위치값을 이용하여, 상기 제어부가 상기 프로브 부재의 평면에서의 위치값을 보정하는 단계;를 포함하는 전자 방해 검출 장치의 제어 방법.
- 전자 방해의 검출 대상체가 놓이는 플레이트를 포함하는 본체;상기 본체에 설치되어 이동되면서, 상기 플레이트 상에 놓인 상기 검출 대상체의 전자 방해를 감지할 수 있는 프로브 부재;상기 플레이트에 놓인 상기 검출 대상체에 레이저를 조사할 수 있는 레이저 조사 부재; 및상기 검출 대상체가 놓인 상기 플레이트에 대한 영상을 촬영할 수 있는 영상 촬영 부재;를 포함하고,상기 영상 촬영 부재에 의해 촬영된 영상의 특정한 지점과 상기 레이저 조사 부재에서 조사되어 상기 검출 대상체에 입사된 레이저의 입사 지점 사이의 이격 거 리와, 상기 영상 촬영 부재와 상기 레이저 조사 부재가 이루는 각도를 이용하여, 상기 검출 대상체의 높이를 산출하는 것을 특징으로 하는 전자 방해 검출 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090073024A KR100948805B1 (ko) | 2009-08-07 | 2009-08-07 | 전자 방해 검출 장치 및 그 제어 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090073024A KR100948805B1 (ko) | 2009-08-07 | 2009-08-07 | 전자 방해 검출 장치 및 그 제어 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100948805B1 true KR100948805B1 (ko) | 2010-03-24 |
Family
ID=42183617
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090073024A KR100948805B1 (ko) | 2009-08-07 | 2009-08-07 | 전자 방해 검출 장치 및 그 제어 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100948805B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013040497A2 (en) * | 2011-09-15 | 2013-03-21 | University Of Washington Through Its Center For Commercialization | Systems and methods for sensing environmental changes using light sources as sensors |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0555317A (ja) * | 1991-08-26 | 1993-03-05 | Nec Yamaguchi Ltd | 半導体検査装置 |
KR20070115737A (ko) * | 2006-05-31 | 2007-12-06 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 프로브선단의 검출 방법, 얼라인먼트 방법 및 이들방법들을 기록한 기억 매체, 및 프로브 장치 |
JP2009002871A (ja) | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Tokyo Electron Ltd | プローブカードの登録方法及びこのプログラムを記録したプログラム記録媒体 |
KR20090053737A (ko) * | 2007-11-22 | 2009-05-27 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 검사 장치 |
-
2009
- 2009-08-07 KR KR1020090073024A patent/KR100948805B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0555317A (ja) * | 1991-08-26 | 1993-03-05 | Nec Yamaguchi Ltd | 半導体検査装置 |
KR20070115737A (ko) * | 2006-05-31 | 2007-12-06 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 프로브선단의 검출 방법, 얼라인먼트 방법 및 이들방법들을 기록한 기억 매체, 및 프로브 장치 |
JP2009002871A (ja) | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Tokyo Electron Ltd | プローブカードの登録方法及びこのプログラムを記録したプログラム記録媒体 |
KR20090053737A (ko) * | 2007-11-22 | 2009-05-27 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 검사 장치 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013040497A2 (en) * | 2011-09-15 | 2013-03-21 | University Of Washington Through Its Center For Commercialization | Systems and methods for sensing environmental changes using light sources as sensors |
WO2013040497A3 (en) * | 2011-09-15 | 2013-05-10 | University Of Washington Through Its Center For Commercialization | Systems and methods for sensing environmental changes using light sources as sensors |
US9618553B2 (en) | 2011-09-15 | 2017-04-11 | University Of Washington Through Its Center For Commercialization | Systems and methods for sensing environmental changes using light sources as sensors |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3566166B2 (ja) | ツール位置測定方法、オフセット測定方法、基準部材およびボンディング装置 | |
JP3373831B2 (ja) | 試験片の伸び測定方法及び装置 | |
KR100283834B1 (ko) | 반도체칩의 본딩방법 및 그 장치 | |
KR100706460B1 (ko) | 기판 맞붙임장치 및 방법 및 기판 검출장치 | |
JP2001249007A5 (ko) | ||
EP1574300A2 (en) | Measuring system | |
KR102637020B1 (ko) | 차세대 휨 측정 시스템 | |
KR101019842B1 (ko) | 프로브 카드의 등록 방법 및 이 프로그램을 기록한프로그램 기록 매체 | |
US9574873B2 (en) | Position detection system for detecting position of object | |
US20190370995A1 (en) | Strip edge detection device and strip edge detection method | |
JP5095164B2 (ja) | 撮像装置の光軸ずれ検出方法、部品位置補正方法及び部品位置補正装置 | |
JP2013243273A (ja) | 部品吸着動作監視装置及び部品有無検出装置 | |
JP5158686B2 (ja) | 吸着部品表裏判定装置及び吸着部品表裏判定方法 | |
KR100948805B1 (ko) | 전자 방해 검출 장치 및 그 제어 방법 | |
JP2001272210A (ja) | 距離認識装置 | |
KR101744483B1 (ko) | 전자제품 테스트용 지그 | |
JP2010098122A (ja) | 電子部品実装装置 | |
JP2013140082A (ja) | 高さ測定装置及び高さ測定方法 | |
WO2021079541A1 (ja) | 外観検査装置及び、不良検査方法 | |
JP2019219357A (ja) | 撮影装置、撮影方法および撮影プログラム | |
JP3677974B2 (ja) | 移動体の位置決め装置 | |
KR20120093530A (ko) | 평판디스플레이 검사를 위한 자동화 연결장치 | |
KR20080089741A (ko) | 부품실장기의 부품인식장치 및 이를 이용한 부품실장방법 | |
KR20140123860A (ko) | 박막 증착 장치 및 이를 이용한 박막 형성 방법 | |
KR101289880B1 (ko) | 리드형 구조물의 리드 간 동일평면성 계측 장치 및 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
A302 | Request for accelerated examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130312 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140313 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160513 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170310 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180226 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190124 Year of fee payment: 10 |