KR100936792B1 - 반도체 메모리 장치의 라이트 데이터 로딩 제어 회로 및방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (13)
- 반도체 메모리 장치의 라이트 데이터 로딩 제어 회로에 있어서,글로벌 버스와,상기 글로벌 버스에 접속되며, 라이트를 위한 미리 결정된 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제1 버스트길이의 절반인 제2 버스트길이의 데이터를 상기 글로벌 버스상에 선택적으로 로딩하는 데이터 블럭과,상기 글로벌 버스에 접속되며, 상기 글로벌 버스상에 로딩된 상기 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 라이트하는 메모리 뱅크를 포함함을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 회로.
- 제1항에 있어서, 버스트길이 정보에 따라 상기 데이터 블럭의 선택적인 로딩 동작을 위한 제어신호를 발생하여 상기 데이터 블럭으로 제공하는 제어신호 발생기를 더 포함함을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 회로.
- 제2항에 있어서, 상기 데이터 블럭은,라이트를 위한 상기 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 입력하는 데이터 입력부와,상기 글로벌 버스에 접속되며, 상기 데이터 입력부에 입력된 데이터를 입력하고 상기 제어신호에 따라 상기 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 상기 글로벌 버스상에 로딩하는 글로벌 입출력 전달부를 포함함을 특징으로 하는 데이터 로딩 제어 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 메모리 뱅크는,각각 상기 글로벌 버스에 접속되는 제1 및 제2 라이트 드라이버들을 포함하며,상기 글로벌 버스상에 상기 제1 버스트길이의 데이터가 로딩된 경우, 상기 제1 및 제2 라이트 드라이버들 각각은 상기 로딩된 데이터중 상기 제2 버스트길이만큼의 데이터를 라이트하고,상기 글로벌 버스상에 상기 제2 버스트길이의 데이터가 로딩된 경우, 상기 제1 및 제2 라이트 드라이버중 어느 하나가 상기 로딩된 데이터를 라이트하는 것을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 회로.
- 제1항 내지 제4항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 버스트길이의 데이터는 8비트의 데이터이고, 상기 제2 버스트길이의 데이터는 4비트의 데이터임을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 회로.
- 반도체 메모리 장치의 라이트 데이터 로딩 제어 회로에 있어서,버스트 길이 정보에 따른 제어신호를 발생하는 제어신호 발생기와,라이트를 위한 미리 결정된 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제1 버스트길이의 절반인 제2 버스트길이의 데이터를 입력하는 데이터 입력부와,상기 데이터 입력부에 입력된 데이터를 상기 제1 버스트길이의 데이터로 정렬하는 데이터 정렬부와,상기 데이터 정렬부에 의해 정렬된 데이터를 입력하고 상기 제어신호 발생기에 의해 발생된 상기 제어신호에 따라 상기 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 글로벌 버스상에 선택적으로 로딩하는 글로벌 입출력 전달부와,상기 글로벌 버스상에 로딩된 상기 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 라이트하는 메모리 뱅크를 포함함을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 회로.
- 제6항에 있어서, 상기 글로벌 입출력 전달부는, 상기 글로벌 버스상에 로딩될 상기 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 증폭하여 로딩하는 센스 증폭기를 포함함을 특징으로 하는 데이터 로딩 제어 회로.
- 제6항에 있어서, 상기 글로벌 버스는, 상기 제2 버스트길이만큼의 데이터를 각각 로딩하기 위한 제1 글로벌 버스와, 제2 글로벌 버스를 포함함을 특징으로 하는 데이터 로딩 제어 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 메모리 뱅크는,상기 제1 글로벌 버스 및 상기 제2 글로벌 버스에 각각 접속되는 제1 및 제2 라이트 드라이버들을 포함하며,상기 제1 글로벌 버스 및 상기 제2 글로벌 버스 모두에 상기 제1 버스트길이의 데이터가 로딩된 경우, 상기 제1 및 제2 라이트 드라이버들 각각은 상기 로딩된 데이터중 상기 제2 버스트길이만큼의 데이터를 라이트하고,상기 제1 글로벌 버스 및 상기 제2 글로벌 버스중 어느 한 버스에 상기 제2 버스트길이의 데이터가 로딩된 경우, 상기 제1 및 제2 라이트 드라이버중 어느 한 드라이버가 상기 로딩된 데이터를 라이트하는 것을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 회로.
- 제6항 내지 제9항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 버스트길이의 데이터는 8비트의 데이터이고, 상기 제2 버스트길이의 데이터는 4비트의 데이터임을 특징으 로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 회로.
- 글로벌 버스와, 상기 글로벌 버스에 접속되며 라이트를 위한 데이터를 입력하여 상기 글로벌 버스상에 로딩하는 데이터 블럭과, 상기 글로벌 버스상에 로딩된 데이터를 라이트하는 메모리 뱅크를 포함하는 반도체 메모리 장치의 라이트 데이터 로딩 제어 방법에 있어서,버스트길이 정보에 따라 상기 데이터 블럭의 선택적인 로딩 동작을 위한 제어신호를 발생하는 과정과,상기 제어신호에 따라 라이트를 위한 미리 결정된 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제1 버스트길이의 절반인 제2 버스트길이의 데이터를 상기 글로벌 버스상에 선택적으로 로딩하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 선택적 로딩 과정은,라이트를 위한 상기 제1 버스트길이의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 입력하는 과정과,상기 입력된 데이터를 상기 제1 버스트길이의 데이터로 정렬하는 과정과,상기 정렬된 데이터를 입력하고, 상기 제어신호에 따라 상기 제1 버스트길이 의 데이터 또는 상기 제2 버스트길이의 데이터를 상기 글로벌 버스상에 로딩하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 데이터 로딩 제어 방법.
- 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 제1 버스트길이의 데이터는 8비트의 데이터이고, 상기 제2 버스트길이의 데이터는 4비트의 데이터임을 특징으로 하는 라이트 데이터 로딩 제어 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080067199A KR100936792B1 (ko) | 2008-07-10 | 2008-07-10 | 반도체 메모리 장치의 라이트 데이터 로딩 제어 회로 및방법 |
US12/344,687 US8031554B2 (en) | 2008-07-10 | 2008-12-29 | Circuit and method for controlling loading of write data in semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080067199A KR100936792B1 (ko) | 2008-07-10 | 2008-07-10 | 반도체 메모리 장치의 라이트 데이터 로딩 제어 회로 및방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100936792B1 true KR100936792B1 (ko) | 2010-01-14 |
Family
ID=41505035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080067199A KR100936792B1 (ko) | 2008-07-10 | 2008-07-10 | 반도체 메모리 장치의 라이트 데이터 로딩 제어 회로 및방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8031554B2 (ko) |
KR (1) | KR100936792B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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2008
- 2008-07-10 KR KR1020080067199A patent/KR100936792B1/ko active IP Right Grant
- 2008-12-29 US US12/344,687 patent/US8031554B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
US8031554B2 (en) | 2011-10-04 |
US20100008166A1 (en) | 2010-01-14 |
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