KR100934107B1 - Printed circuit board manufacturing method providing fine pitch metal bumps - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플립칩 공법에 적용되는 인쇄회로기판 제조에 관한 것으로, 플립칩 접속시에 이용되는 미세 피치의 범프를 제조하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 기존에 사용하던 고가의 메탈 스퍼터 공정 대신에 주석 도금 공정을 채용하고, 금속 범프의 패턴을 형성하기 위하여 드라이 필름 노광 공정을 사용하지 않으므로, 금속 범프의 피치 길이를 미세화하는 경우에 드라이 필름이 박리 되지 않아 제품 불량이 발생하는 문제를 방지할 수 있다. 더욱이, 본 발명은 주석 도금면 위에 형성한 금 도금층의 평탄도가 우수하여 플립칩 실장을 용이하게 하는 장점이 있다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of printed circuit boards applied to the flip chip method, and to a method of manufacturing bumps of fine pitch used in flip chip connection. The present invention employs a tin plating process instead of the expensive metal sputtering process used in the past, and does not use a dry film exposure process to form a pattern of the metal bumps, and thus, when the pitch length of the metal bumps is miniaturized This does not peel off can prevent the problem that the product defects occur. Furthermore, the present invention has the advantage of excellent flatness of the gold plating layer formed on the tin plating surface to facilitate flip chip mounting.

Description

미세 피치의 금속 범프를 제공하는 인쇄회로기판 제조 방법{METHOD OF FABRICATING PRINTED CIRCUIT BOARD WITH FINE PITCH METAL BUMP}METHODS OF FABRICATING PRINTED CIRCUIT BOARD WITH FINE PITCH METAL BUMP}

본 발명은 플립칩(flip chip) 공법에 적용되는 인쇄회로기판(PCB; printed circuit board) 제조에 관한 것으로, 플립칩 접속시에 메탈 범프(bump)를 미세 피치 길이를 갖도록 인쇄회로기판을 제조하는 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of a printed circuit board (PCB) applied to a flip chip method, and to manufacturing a printed circuit board having a fine pitch length of metal bumps during flip chip connection. It is about a method.

전자 제품을 소형 경박화 하기 위하여 반도체 칩을 기판에 직접 실장하는 플립칩 기술이 적용되고 있다. 반도체 칩을 기판에 플립칩 실장하기 위해서는 전기적 접속을 위해 솔더볼(solder ball) 또는 범프가 필요하게 된다. In order to miniaturize and reduce electronic products, flip chip technology, in which a semiconductor chip is directly mounted on a substrate, has been applied. In order to flip-chip a semiconductor chip onto a substrate, solder balls or bumps are required for electrical connection.

도1a 내지 도1f는 종래 기술에 따라 플립칩을 위한 금속 범프를 형성하는 과정을 나타낸 도면이다. 도1a는 전형적인 다층 인쇄회로기판의 일 실시예를 나타내고 있다. 기판에 금속 펌프를 형성하기 위한 종래 기술로서, 도1b를 참조하면 기판의 표면에 메탈 스퍼터(metal sputter) 공정을 진행하여 표면에 메탈(1)을 형성한다. 1A to 1F illustrate a process of forming a metal bump for a flip chip according to the related art. Figure 1a shows one embodiment of a typical multilayer printed circuit board. As a conventional technique for forming a metal pump on a substrate, referring to FIG. 1B, a metal sputter process is performed on a surface of a substrate to form a metal 1 on the surface.

도1c를 참조하면, 기판의 앙면에 드라이 필름(2)을 밀착하고, 주어진 소정의 회로 패턴에 따라 노광 및 현상 과정을 진행하여 스퍼터된 메탈층을 선택적으로 노 출하도록 한다. 이어서, 도1d와 같이 니켈 및 금 전기 도금을 진행하면, 스퍼터 메탈 층이 노출된 부위에만 니켈 도금층(3)과 금 도금층(4)이 형성된다. 이어서, 도1e에서와 같이 드라이 필름(2)을 박리 제거하고(이때에, 피치 길이가 미세한 경우 드라이 필름 박리가 잘 되지 않는다), 스퍼터 메탈층을 식각하면 도1f와 같은 니켈 및 금 도금으로 구성된 금속 범프가 형성된다.Referring to FIG. 1C, the dry film 2 is closely adhered to the face of the substrate, and the exposure and development processes are performed according to a given predetermined circuit pattern to selectively expose the sputtered metal layer. Subsequently, when nickel and gold electroplating are performed as shown in FIG. 1D, the nickel plating layer 3 and the gold plating layer 4 are formed only at the portions where the sputtered metal layer is exposed. Subsequently, the dry film 2 is peeled off as shown in FIG. 1E (at this time, dry film peeling is difficult when the pitch length is minute), and when the sputter metal layer is etched, it is composed of nickel and gold plating as shown in FIG. 1F. Metal bumps are formed.

그런데 종래 기술의 경우 고가의 메탈 스퍼터 공정이 필요한 단점이 있으며, 도1c의 드라이 필름 밀착, 노광, 현상 과정에서 제작하고자 하는 금속 범프의 폭이 수십 마이크로미터 급으로 축소하는 경우 드라이 필름 박리가 용이하지 않은 단점이 있다.However, in the prior art, there is a disadvantage that an expensive metal sputtering process is required, and when the width of the metal bump to be manufactured is reduced to several tens of micrometers during the dry film adhesion, exposure, and development process of FIG. 1C, dry film peeling is not easy. There is a disadvantage.

따라서, 본 발명의 제1 목적은 플립칩 실장을 위한 금속 범프의 피치를 미세화할 수 있는 인쇄회로기판 제조 방법을 제공하는 데 있다.Accordingly, a first object of the present invention is to provide a printed circuit board manufacturing method capable of miniaturizing the pitch of metal bumps for flip chip mounting.

본 발명의 제2 목적은 상기 제1 목적에 부가하여, 금속 범프 형성을 위해 고가의 메탈 스퍼터 공정을 생략할 수 있는 인쇄회로기판 제조 방법을 제공하는 데 있다.A second object of the present invention is to provide a printed circuit board manufacturing method which can omit an expensive metal sputtering process for forming metal bumps in addition to the first object.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 구리-알루미늄-구리(CAC; Copper-Aluminum-Copper)와 같은 동박/중간층/동박 구조의 캐리어(carrier)에 주석/구리(Sn/Cu) 도금(plating)을 실시하고 회로 패턴을 형성한 후, 알칼리 에칭을 통해 균일하게 트렌치(trench) 구조를 형성하고, 금/니켈 (Au/Ni) 도금으로 트렌치 내부에 범프(bump)를 형성하고, 무전해 동도금을 형성한 후에 드라이 필름을 패터닝하여 무전해 동도금층을 선택적으로 노출하고 전기 동도금을 실시한 후, 드라이 필름을 박리 제거하고, 필요에 따라 적층 공정을 반복 수행하고 최종적으로 만들어진 기판을 캐리어의 중앙층을 중심으로 양면의 동박을 필오프(peel off)함으로써 적층 구조를 상하로 양분하여 코어리스 기판이 얻어진다. 이어서 알칼리 에칭, 주석 에칭, 알칼리 에칭을 반복함으로써 내부에 있는 범프를 외부로 노출시키는 공정으로 구성됨을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a tin / copper (Sn / Cu) plating on a carrier of a copper foil / intermediate layer / copper structure, such as copper-aluminum-copper (CAC). After forming a circuit pattern, a trench structure is uniformly formed by alkali etching, bumps are formed inside the trench by Au / Ni plating, and electroless copper plating is performed. After forming, the dry film is patterned to selectively expose the electroless copper plating layer and subjected to electrocopper plating, and then the dry film is peeled off and removed, the lamination process is repeated if necessary, and the finally made substrate is centered on the carrier's center layer. By peeling off copper foil of both surfaces, a laminated structure is divided up and down and a coreless board | substrate is obtained. Subsequently, by repeating alkali etching, tin etching, and alkali etching, it is characterized by the process of exposing the bump inside.

본 발명을 적용하여 플립칩 실장을 위한 금속 범프를 형성하는 경우, 종래 기술과 달리 고비용의 도전층 스퍼터 형성 공정이 필요 없으며, 피치 길이가 수십 마이크로미터 이하로 축소되어 미세화되는 경우 겪는 드라이 필름의 박리시의 불완전성 문제를 해결하는 효과가 있다. 더욱이, 본 발명이 제안하는 주석(Sn) 도금을 적용하는 경우, 종래의 코어리스 공정에 비하여 도금된 금(Au)의 표면 평탄도가 훨씬 양호한 장점이 있다. When forming the metal bumps for flip chip mounting by applying the present invention, unlike the prior art, expensive conductive layer sputter formation process is not required, and the dry film suffers when the pitch length is reduced to tens of micrometers or less and is miniaturized. It has the effect of solving the problem of incompleteness of poetry. Moreover, when applying the tin (Sn) plating proposed by the present invention, there is an advantage that the surface flatness of the plated gold (Au) is much better than the conventional coreless process.

본 발명은 인쇄회로기판 제조 방법에 있어서, (a) 중앙층으로부터 양면에 피복된 동박을 벗겨(peel off) 낼 수 있도록 형성된 동박/중앙층/동박 구조의 캐리어 상하 동박 표면 전체에 대해 주석 도금층 및 동 도금층을 형성하는 단계; (b) 상기 동 도금층 표면에 소정의 회로 패턴에 따라 에치 레지스트 패턴을 형성하고, 상기 에치 레지스트 패턴에 의해 노출된 동 도금층을 선택 식각하여 주석 도금층을 상기 에치 레지스트 패턴에 따라 선택적으로 노출하고, 금 전기 도금 및 니켈 전기 도금을 진행해서 상기 선택 노출된 주석 도금층 표면에 금 도금층과 니켈 도금층을 형성하고, 기판의 표면 전체에 대해 무전해 동 도금층을 형성하는 단계; (c) 상기 무전해 동 도금층 위에 드라이 필름을 도포하고 소정의 회로 패턴에 따라 노광, 현상, 식각 공정을 진행해서 상기 무전해 동 도금층이 선택적으로 노출되도록 드라이 필름 패턴을 형성하는 단계; (d) 전기 동 도금을 실시하여 상기 무전해 동 도금층이 상기 드라이 필름 패턴에 의해 선택적으로 노출된 부위에만 전기 동 도금층을 형성하고, 드라이 필름을 박리한 후 플래시 에칭 실시하여 표면에 남아 있는 무전해 동 도금층을 제거하는 단계; (e) 캐리어의 동박 위에 상하로 적층 가공된 전체 기판을 개별 절단하여 재단하고, 재단된 각각의 기판에 대해 동박/중앙층/동박 구조의 캐리어를 구성하는 중앙층을 양면 동박으로부터 벗겨 분리하여, 두 개로 양분된 코어리스 기판을 형성하는 단계; 및 (f) 상기 두 개로 양분된 코어리스 기판에 대해 알칼리 에칭/주석 박리 에칭/알칼리 에칭을 순차적으로 진행함으로써 동박층/주석층/동박층을 제거함으로써, 에치 레지스트 사이에 니켈 및 금 도금층으로 구성된 금속 범프를 노출시켜 형성하는 단계를 포함하는 인쇄회로기판 제조 방법을 제공하다.The present invention provides a method for manufacturing a printed circuit board, comprising: (a) tin-plating layer on the entire copper foil upper / lower copper surface of a copper foil / middle layer / copper structure formed so as to peel off copper foil coated on both sides from a center layer; Forming a copper plating layer; (b) forming an etch resist pattern on the surface of the copper plating layer according to a predetermined circuit pattern, selectively etching the copper plating layer exposed by the etch resist pattern to selectively expose the tin plating layer according to the etch resist pattern, and Electroplating and nickel electroplating to form a gold plating layer and a nickel plating layer on the surface of the selectively exposed tin plating layer, and forming an electroless copper plating layer on the entire surface of the substrate; (c) forming a dry film pattern to selectively expose the electroless copper plating layer by applying a dry film on the electroless copper plating layer and performing exposure, development, and etching processes according to a predetermined circuit pattern; (d) electroplating to form the electroplating layer only at the portions where the electroless copper plating layer is selectively exposed by the dry film pattern, peeling off the dry film and performing flash etching to leave the electroless remaining on the surface. Removing the copper plating layer; (e) Cutting and cutting all the substrates laminated up and down on the copper foil of the carrier individually, and peeling and separating the center layer constituting the carrier of the copper foil / middle layer / copper structure from each of the cut substrates from the double-sided copper foil, Forming a bisected coreless substrate; And (f) removing the copper foil layer / tin layer / copper foil layer by sequentially performing alkali etching / tin peel etching / alkali etching on the two bisected coreless substrates, thereby forming a nickel and gold plating layer between the etch resists. Provided is a method of manufacturing a printed circuit board comprising the step of exposing the metal bumps.

이하에서는, 첨부 도면 도2a 내지 2p를 참조하여 본 발명에 따른 금속 범프 제조 공법의 양호한 실시예를 상세히 설명한다.DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the metal bump manufacturing method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, FIGS. 2A to 2P.

도2a를 참조하면, 알루미늄(10a)을 중앙으로 CAC(Copper-Aluminum-Copper) 캐리어(10)가 도시되어 있다. 본 명세서에서는 본 발명의 양호한 실시예로서, CAC 캐리어를 가지고 본 발명의 사상을 설명하지만, 반드시 CAC 캐리어에 국한할 필요는 없으며, 가공 공정을 모두 진행한 후에 중앙층과 동박을 서로 쉽게 박리하여 벗겨 낼 수 있는 동박/중앙층/동박 구조의 캐리어 구조 어느 것이나 가능하다. Referring to FIG. 2A, a copper-aluminum-copper (CAC) carrier 10 is shown centered on aluminum 10a. In the present specification, as a preferred embodiment of the present invention, the idea of the present invention is described with a CAC carrier, but the present invention is not necessarily limited to the CAC carrier. Any carrier structure of a copper foil / middle layer / copper foil structure which can be produced is possible.

우선, 재단한 CAC 캐리어(10) 표면 전체에 대하여 주석(Sn) 도금을 실시하여, 주석 도금층(20)을 형성한다(도2b). 이어서, 도2c를 참조하면 주석 도금층(20)으로 피복된 CAC 캐리어(10)의 상하면 및 측면 등 표면 전체에 대해 동 도금을 실시하여 동 도금층(30)을 형성한다. 여기서, 도2a 내지 도2c의 도면의 캐리어 측면에 도금층이 나타난 것은, 가공하는 전체 기판의 단면을 상징적으로 표현한 것이며, 최종적으로 가공 기판을 디바이스 별로 절단 재단하는 경우 측면의 도금 층은 사라지게 된다. First, tin (Sn) plating is performed on the entire surface of the cut CAC carrier 10 to form a tin plating layer 20 (Fig. 2B). Subsequently, referring to FIG. 2C, copper plating is performed on the entire surface such as the upper and lower surfaces and the side surfaces of the CAC carrier 10 coated with the tin plating layer 20 to form the copper plating layer 30. Here, the appearance of the plating layer on the carrier side of the drawings of FIGS. 2A to 2C is a symbolic representation of the cross section of the entire substrate to be processed, and finally, when the cutting substrate is cut and cut for each device, the plating layer on the side disappears.

도2d를 참조하면, CAC 캐리어(10)의 상부면 및 하부면에 PSR(Photo-Sensitive-Resist)과 같은 감광성 에치 레지스트를 도포하고, 소정의 회로 패턴에 따라 노광, 현상 및 식각을 수행하여 에치 레지스트 패턴(40)을 형성한다. Referring to FIG. 2D, a photosensitive etch resist such as PSR (Photo-Sensitive-Resist) is applied to the upper and lower surfaces of the CAC carrier 10, and exposure, development, and etching are performed according to a predetermined circuit pattern. The resist pattern 40 is formed.

에치 레지스트 패턴(40)에 의해 선택적으로 동 도금층(30)을 피복하고 있는 CAC 캐리어(10)에 대해 알칼리 에칭을 수행하면, 도2e와 같이 노출된 동 도금층이 모두 식각 제거되어 주석 도금층(20)이 에치 레지스트 패턴(40)에 따라 선택적으로 노출된다. When alkali etching is performed on the CAC carrier 10 selectively covering the copper plating layer 30 by the etch resist pattern 40, all of the exposed copper plating layers are etched away as shown in FIG. 2E, and the tin plating layer 20 is removed. It is selectively exposed in accordance with this etch resist pattern 40.

도2f를 참조하면, 주석 도금층(20)이 선택적으로 노출된 상태에서 금/니 켈(Au/Ni) 도금을 진행함으로써, 주석 도금층(20)이 노출된 표면 부위 위에만 차례로 금 도금층(50)과 니켈 도금층(60)이 형성되어 금속 범프의 형태를 이루게 된다.Referring to FIG. 2F, gold / nickel (Au / Ni) plating is performed in a state where the tin plating layer 20 is selectively exposed, thereby sequentially depositing the gold plating layer 50 only on the exposed surface portion of the tin plating layer 20. And nickel plating layer 60 is formed to form a metal bump.

도2g를 참조하면, 에치 레지스트 패턴(40)과 함께 선택적으로 노출된 주석 도금층(20) 표면 위에만 Au/Ni 도금층(50, 60)이 형성된 기판의 상하 표면 전체에 대하여 무전해 동도금을 실시하여 화학동(70)을 형성한다. Referring to FIG. 2G, electroless copper plating is performed on the entire upper and lower surfaces of the substrate on which the Au / Ni plating layers 50 and 60 are formed only on the surface of the tin plating layer 20 selectively exposed together with the etch resist pattern 40. The chemical copper 70 is formed.

CAC 캐리어 위의 구조물 표면 전체에 피복된 화학동(70) 위에 드라이 필름을 밀착 형성하고, 소정의 회로 패턴에 따라 노광, 현상 및 식각 공정을 진행하여 도2h에 도시한 바와 같은 드라이 필름 패턴(80)을 형성한다. 이때에, 드라이 필름 패턴(80)은 니켈 도금층(60)에 도포된 화학동(70)을 마스크하고 있어서, 후속하여 전기 동도금을 실시하는 경우, 도2i에서와 같이 드라이 필름 패턴(80)이 마스크 하지 않고 노출되어 있는 화학동(70) 위에만 동 도금층(90)이 형성된다.The dry film is closely formed on the chemical copper 70 coated on the entire surface of the structure on the CAC carrier, and the exposure, development, and etching processes are performed in accordance with a predetermined circuit pattern to dry film pattern 80 as shown in FIG. 2H. ). At this time, the dry film pattern 80 masks the chemical copper 70 applied to the nickel plating layer 60, and when the subsequent electrocopper plating is performed, the dry film pattern 80 masks as shown in FIG. Instead, the copper plating layer 90 is formed only on the exposed chemical copper 70.

이어서, 패턴을 형성하고 있던 드라이 필름을 박리하여 제거하면, 도2g와 같이 에치 레지스트(40)와 니켈 도금층(60) 위에 남아 있는 동 도금층(90)으로 동박 회로가 형성된다. 이때에, 드라이 필름이 박리된 후 기판 표면에 남아 있던 화학동(70)은 도2k에서와 같이 플래시 에칭 공정을 통해 제거된다. 이어서, 동박이 도포된 절연층(100)을 적층 라미네이트하여 도2l과 같이 CAC 캐리어(10)의 동박 양 쪽에 적층 기판을 형성한다. 그리고 나면, 기존의 방법에 따라, 드라이 필름을 덮고 소정의 회로 패턴에 따라 동박 회로를 형성하고 필요에 따라 마이크로 비아 홀등을 형성한다. Subsequently, when the dry film which forms the pattern is peeled off and removed, a copper foil circuit is formed with the copper plating layer 90 which remains on the etch resist 40 and the nickel plating layer 60 like FIG. 2G. At this time, the chemical copper 70 remaining on the substrate surface after the dry film is peeled off is removed through a flash etching process as shown in FIG. 2K. Subsequently, the insulating layer 100 coated with copper foil is laminated and laminated to form laminated substrates on both sides of the copper foil of the CAC carrier 10 as shown in FIG. 2L. Then, according to the existing method, a dry film is covered, a copper foil circuit is formed according to a predetermined circuit pattern, and micro via holes etc. are formed as needed.

이어서, 필요시에 적층 라미네이트 공정을 반복하여 다층 기판을 형성하고 나서, 전체 기판을 개별 소자별로 절단하여 재단하고, 각각의 기판에 대해 중앙의 CAC 층에 대해 구리층과 알루미늄층 사이에 서로 벗겨지도록 힘을 가해 필오프(peel off) 과정을 진행하면, 도2m에서와 같이 알루미늄층(10a)을 사이에 두고 상층 동박과 하층 동박(10b)이 서로 벗겨져 적층 구조가 양분되어 두 개(200, 300)의 코어리스 기판으로 분리된다. Subsequently, if necessary, the multilayer lamination process is repeated to form a multilayer substrate, and then the entire substrate is cut and cut by individual elements, and peeled from each other between the copper layer and the aluminum layer with respect to the central CAC layer for each substrate. When applying a peel off process by applying a force, the upper copper foil and the lower copper foil 10b are peeled off from each other with the aluminum layer 10a interposed therebetween, as shown in FIG. ) Into a coreless substrate.

이를 다시 설명하면 다음과 같다. 도2l에 도시한 대로 RCC(Resin Coated Copper)와 같은 동박이 도포된 절연층(100)을 적층하고 이미지 작업을 거쳐 회로 패턴을 형성하는 것을 수회 반복하여 적층 기판을 완성하고 나면, 도2m에서 도면 부호 110으로 나타낸 대로 CAC 캐리어(10)의 상하 양쪽에 두 개의 적층 회로 기판이 형성되어 있는 구조를 얻게 된다. This will be described as follows. After stacking the insulating layer 100 coated with a copper foil such as Resin Coated Copper (RCC) as shown in FIG. 2L and forming a circuit pattern through an image operation, the laminated substrate is completed several times. As shown by reference numeral 110, a structure in which two laminated circuit boards are formed on both the upper and lower sides of the CAC carrier 10 is obtained.

그런데 처리 중인 기판 전체에는 도2m의 도면 부호 110으로 나타낸 구조물이 다수 개 반복해서 형성되어 있으므로, 개별로 절단하여 재단하는 경우에 도면 부호 110으로 나타낸 개별 기판을 얻을 수 있게 된다. 이때에, 기판을 절단하면 도2m의 도면 부호 110에 나타낸 주석 도금층 측면 돌출부는 실제로 나타나지 않게 된다. By the way, since the structure shown by the reference numeral 110 of FIG. 2M is repeatedly formed in the whole process board | substrate, when cutting and cutting individually, the individual board | substrate shown by the reference numeral 110 can be obtained. At this time, when the substrate is cut, the tin-plated layer side protrusion shown by reference numeral 110 in FIG. 2M does not actually appear.

따라서, 도2m의 도면 부호 110으로 나타낸 기판의 중앙부 CAC 캐리어에 대해 알루미늄층(10a)을 사이에 두고, 동박층(10b)이 서로 벗겨질 수 있도록 가압하면, 도2m에서와 같이 도면 부호 10a, 200, 300으로 표현되는 세 개의 파트로 분리할 수 있게 된다.Therefore, when the aluminum foil layer 10a is pressed against the central CAC carrier of the substrate indicated by reference numeral 110 in FIG. 2M and the copper foil layers 10b can be peeled off from each other, as shown in FIG. It can be separated into three parts, represented by 200 and 300.

이어서, 양분되어 쪼개진 기판(200, 300)에 대해서 알칼리 에칭을 수행하여 노출된 동박(10b; 도시하지 않음)을 박리 제거한다. 도2n에 도시한 바와 같이, 주석 도금층(20)을 제거하기 위하여 습식 식각을 하면 주석 도금층을 박리 제거할 수 있다. 이어서, 알칼리 에칭을 진행하면 기판 표면에 노출되어 있던 동 도금층(30)이 박리 제거되어 도2p와 같이 에치 레지스트(40) 사이에 니켈 도금층(60)과 금 도금층(50)으로 형성된 금속 범프(500)를 얻게 된다.Subsequently, alkali etching is performed on the divided and divided substrates 200 and 300 to peel off and remove the exposed copper foil 10b (not shown). As shown in FIG. 2N, when the wet etching is performed to remove the tin plating layer 20, the tin plating layer may be peeled off. Subsequently, when the alkali etching is performed, the copper plating layer 30 exposed on the substrate surface is peeled off and the metal bump 500 formed of the nickel plating layer 60 and the gold plating layer 50 between the etch resists 40 as shown in FIG. 2P. )

이상에서, 본 발명의 양호한 실시예로서, CAC 캐리어를 시작 기판으로 하여 코어리스 인쇄회로기판 제조 공법을 설명하였으나, 반드시 CAC 캐리어를 사용할 필요는 없으며 도2m에 나타낸 공정 단계에서 중간층을 중심으로 상하 양분하기 위해 기판을 벗겨 낼 수 있는 구조면 충분하다. 본 발명의 양호한 실시예로, CAC 캐리어 대신에 양면에 동박이 피복된 수지 절연체 층이 사용될 수도 있다.In the above, as a preferred embodiment of the present invention, a method of manufacturing a coreless printed circuit board using a CAC carrier as a starting substrate has been described, but it is not necessary to use a CAC carrier and the upper and lower nutrients are mainly centered on the intermediate layer in the process step shown in FIG. In order to do this, a structure capable of peeling off the substrate is sufficient. In a preferred embodiment of the present invention, a resin insulator layer coated with copper foil on both sides may be used instead of the CAC carrier.

전술한 내용은 후술할 발명의 특허 청구 범위를 더욱 잘 이해할 수 있도록 본 발명의 특징과 기술적 장점을 다소 폭넓게 개선하였다. 본 발명의 특허 청구 범위를 구성하는 부가적인 특징과 장점들이 이하에서 상술 될 것이다. 개시된 본 발명의 개념과 특정 실시예는 본 발명과 유사 목적을 수행하기 위한 다른 구조의 설계나 수정의 기본으로서 즉시 사용될 수 있음이 당해 기술 분야의 숙련된 사람들에 의해 인식되어야 한다. The foregoing has somewhat broadly improved the features and technical advantages of the present invention to better understand the claims that follow. Additional features and advantages that make up the claims of the present invention will be described below. It should be appreciated by those skilled in the art that the conception and specific embodiments of the invention disclosed may be readily used as a basis for designing or modifying other structures for carrying out similar purposes to the invention.

또한, 본 발명에서 개시된 발명 개념과 실시예가 본 발명의 동일 목적을 수행하기 위하여 다른 구조로 수정하거나 설계하기 위한 기초로서 당해 기술 분야의 숙련된 사람들에 의해 사용될 수 있을 것이다. 또한, 당해 기술 분야의 숙련된 사람에 의한 그와 같은 수정 또는 변경된 등가 구조는 특허 청구 범위에서 기술한 발 명의 사상이나 범위를 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 진화, 치환 및 변경이 가능하다. In addition, the inventive concepts and embodiments disclosed herein may be used by those skilled in the art as a basis for modifying or designing other structures for carrying out the same purposes of the present invention. In addition, such modifications or altered equivalent structures by those skilled in the art may be variously evolved, substituted and changed without departing from the spirit or scope of the invention as described in the claims.

이상과 같이, 본 발명은 종래 기술과 달리 메탈 스퍼터 공정을 진행하여 전기 도금을 위한 메탈 층을 형성하는 대신에 기판에 주석 도금을 진행하므로 저비용 공정 진행이 가능하고, 더욱이 드라이 필름 노광 공정으로 금속 범프의 위치를 정의하지 아니하므로 미세 피치 패턴의 경우 드라이 필름이 박리되지 않는 문제점을 원천적으로 제거할 수 있다. 본 발명은 저비용 높은 신뢰도의 금속 범프를 제조 가능하도록 함으로써 플립칩 표면 실장에 적용 가능하다.As described above, the present invention, unlike the prior art, instead of forming a metal layer for electroplating by performing a metal sputtering process, tin plating is performed on a substrate, thereby enabling a low-cost process to be carried out, and furthermore, a metal bump by a dry film exposure process. Since it does not define the position of the fine pitch pattern, the problem that the dry film does not peel off can be eliminated at the source. The present invention is applicable to flip chip surface mounting by making it possible to manufacture metal bumps of low cost and high reliability.

도1a 내지 도1f는 종래 기술에 따라 플립칩을 위한 금속 범프를 형성하는 과정을 나타낸 도면.1A-1F illustrate a process of forming a metal bump for a flip chip according to the prior art.

도2a 내지 2p는 본 발명에 따른 금속 범프 제조 공법을 나타낸 도면.Figure 2a to 2p shows a metal bump manufacturing method according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10: 메탈 10: metal

20: 드라이 필름 20: dry film

30: 니켈 도금 30: nickel plated

40: 에치 레지스트 패턴 40: etch resist pattern

50: 금 도금층 50: gold plated layer

60: 니켈 도금층 60: nickel plated layer

70: 화학동 동박층 70: copper copper layer

80: 드라이 필름 패턴 80: dry film pattern

90: 동 도금층 90: copper plating layer

100: 동박이 도포된 절연층100: insulating layer coated with copper foil

500: 금속 범프500: metal bump

Claims (1)

인쇄회로기판의 금속 범프 제조 방법에 있어서,In the metal bump manufacturing method of a printed circuit board, (a) 중앙층으로부터 양면에 피복된 동박을 벗겨(peel off) 낼 수 있도록 형성된 제1 동박/중앙층/제1 동박 구조의 캐리어에 대하여, 상기 제1 동박의 상하 표면 및 상기 캐리어의 측면 전체에 대해 주석 도금층을 형성하고, 상기 주석 도금층 위에 동 도금을 진행하여 제2 동박을 형성하는 단계;(a) With respect to the carrier of the first copper foil / middle layer / first copper foil structure formed to peel off the copper foil coated on both sides from the center layer, the upper and lower surfaces of the first copper foil and the whole side surface of the carrier Forming a tin plating layer on the tin plating layer, and performing copper plating on the tin plating layer to form a second copper foil; (b) 상기 캐리어의 상부면 및 하부면에 형성된 제2 동박 표면에 소정의 회로 패턴에 따라 에치 레지스트 패턴을 형성하고, 상기 에치 레지스트 패턴에 의해 선택적으로 노출된 제2 동박을 선택 식각함으로써 상기 주석 도금층을 상기 에치 레지스트 패턴에 따라 선택적으로 노출하고, 금 전기 도금 및 니켈 전기 도금을 진행해서 상기 선택 노출된 주석 도금층 표면에 금 도금층과 니켈 도금층을 차례로 형성하고, 기판의 표면 전체에 대해 무전해 동 도금을 진행하여 제3 동박을 형성하는 단계; (b) forming the etch resist pattern on the surface of the second copper foil formed on the upper and lower surfaces of the carrier according to a predetermined circuit pattern, and selectively etching the second copper foil selectively exposed by the etch resist pattern. The plating layer is selectively exposed according to the etch resist pattern, gold electroplating and nickel electroplating are performed to sequentially form a gold plating layer and a nickel plating layer on the surface of the selectively exposed tin plating layer, and electroless copper is applied to the entire surface of the substrate. Performing plating to form a third copper foil; (c) 상기 제3 동박 위에 드라이 필름을 도포하고 소정의 회로 패턴에 따라 노광, 현상, 식각 공정을 진행해서 상기 제3 동박이 선택적으로 노출되도록 드라이 필름 패턴을 형성하는 단계;(c) applying a dry film on the third copper foil and performing exposure, development, and etching processes according to a predetermined circuit pattern to form a dry film pattern to selectively expose the third copper foil; (d) 상기 드라이 필름이 선택적으로 마스크하고 있는 제3 동박에 대해 전기 동 도금을 실시하여 상기 노출된 제3 동박 위에만 제4 동박을 형성하고, 드라이 필름을 박리한 후 플래시 에칭 실시하여 표면에 노출되어 남아 있는 제3 동박을 제거하는 단계;(d) electroforming copper plating on the third copper foil selectively masked by the dry film to form a fourth copper foil only on the exposed third copper foil, peeling off the dry film and performing flash etching on the surface. Removing the exposed third copper foil; (e) 상기 단계 (d) 결과 구조물 상하 표면에 제1 절연층과 제5 동박을 적층라미네이트하고, 소정의 회로 패턴에 따라 상기 제5 동박을 선택적으로 식각하고 도금을 진행하여 동박 회로와 층간 전기접속 비아 홀을 형성하는 단계; (e) laminating the first insulating layer and the fifth copper foil on the upper and lower surfaces of the structure as a result of the step (d), selectively etching the fifth copper foil according to a predetermined circuit pattern, and plating the copper foil circuit and the interlayer electricity. Forming a connection via hole; (f) 개별 절단된 각각의 기판의 측면이 중앙층과 제1 동박의 측면으로 노출되도록, 상기 단계 (e) 결과 가공된 전체 기판을 개별 절단하여 재단하고, 재단된 각각의 기판에 대해 캐리어 중앙층을 양면의 제1 동박으로부터 벗겨 분리하여, 두 개로 양분된 코어리스 기판을 형성하는 단계; 및(f) cut and cut the entire processed substrate individually so that the side of each cut individual substrate is exposed to the side of the center layer and the first copper foil, and the carrier center for each cut substrate Peeling and separating the layer from the first copper foil on both sides to form a bisected coreless substrate; And (g) 상기 단계 (f) 결과 코어 없이 두 개로 양분된 코어리스 기판에 대해 알칼리 에칭을 하여 노출된 제1 동박을 제거하고, 노출된 주석을 에칭 박리 제거하고, 상기 주석층이 제거되어 노출된 제2 동박을 에칭 제거함으로써, 에치 레지스트 사이에 니켈 및 금 도금층으로 구성된 금속 범프를 노출시켜 형성하는 단계(g) alkali-etching the two bisected coreless substrates without the core as a result of the step (f) to remove the exposed first copper foil, etching exfoliating and exposing the exposed tin, and removing the tin layer to expose Etching away the second copper foil to form a metal bump formed of nickel and gold plating layers between the etch resists. 를 포함하는 인쇄회로기판의 금속 범프 제조 방법.Metal bump manufacturing method of a printed circuit board comprising a.
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