KR100877488B1 - Probe device - Google Patents

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KR100877488B1
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홍석용
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Abstract

A probe unit of a liquid crystal display device is provided to reduce the probability of breakage by reducing the falling down of a pin during movement. A probe unit(10) comprises followings. One-side end of a plurality of pins(20) is contacted to the pad of the LCD panel. A pin socket(30) is connected in order to be detachable. A pin block(40) accommodates the socket spreading. A plurality of pins are divided into a first and a second pin set and connected to a pin socket. A groove(42) which is fit for the general form of the pin socket is built up in the pin block.

Description

프로브 장치{Probe Device}Probe Device

본 발명은 액정 디스플레이 패널용 프로브 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 액정 디스플레이 패널의 불량 화소를 판정하기 위하여 액정 디스플레이의 전극 패드에 접촉되어 전기적 신호를 인가하는 복수개의 핀을 포함하는 프로브 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a probe device for a liquid crystal display panel, and more particularly, to a probe device including a plurality of pins contacting an electrode pad of a liquid crystal display to apply an electrical signal in order to determine defective pixels of the liquid crystal display panel. will be.

액정 디스플레이 장치(LCD)는 1990년대 들어 10인치 이상의 TFT LCD의 양산화가 가능해지면서 현재 노트북 PC, 평판 TV 등에 가장 많이 적용되는 대표적인 디스플레이로 자리잡고 있으며 CRT를 대체하는 디스플레이 중 하나로 각광받고 있다. Liquid crystal display devices (LCDs) have been mass-producing 10-inch or larger TFT LCDs in the 1990s, and are now becoming the most representative displays applied to notebook PCs and flat-panel TVs.

액정 디스플레이 장치(LCD)는 2개의 얇은 유리판 사이에 고체와 액체의 중간 물질인 액정을 주입한 것으로, 상하 유리판 위의 전극의 전압 차에 따라 액정 분자의 배열을 변화시킴으로써 명암을 발생시켜 숫자나 영상을 표시하는 일종의 광 스위치 현상을 이용한 소자이다. 즉, 액정 디스플레이 장치는 비디오 신호에 따라 액정의 광 투과율을 조절하여 이미지를 표시하는 디스플레이이며, 매트릭스 형태로 배열된 셀들을 구비하는 액정표시패널과 비디오 신호에 따라 각 셀의 광 투과율을 제어하는 구동 회로를 포함한다. A liquid crystal display device (LCD) is a liquid crystal that is an intermediate material between a solid and a liquid between two thin glass plates. The liquid crystal display device (LCD) generates a contrast by changing the arrangement of liquid crystal molecules according to the voltage difference between the electrodes on the upper and lower glass plates. It is a device using a kind of optical switch phenomenon to display. That is, the liquid crystal display device is a display for displaying an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal according to the video signal, a liquid crystal display panel having cells arranged in a matrix form and a drive for controlling the light transmittance of each cell according to the video signal It includes a circuit.

한편, LCD 생산 업체에서 액정 디스플레이 패널의 불량 여부를 판정하는 기준은 액정 디스플레이 패널에 포함된 불량 셀(화소)의 개수이다. 불량 셀은 휘점 셀과 암점 셀로 나눌 수 있는데, 통상적으로 허용되는 휘점 셀의 개수가 암점 셀의 개수보다 엄격하다. 이러한 이유 때문에 휘점 셀을 암점화 하여 액정 디스플레이 패널의 수율을 높이는 것이 가능하다. 예를 들어, 휘점 셀은 전혀 허용되지 않고 암점 셀은 1개까지 허용될 경우에 하나의 휘점 셀을 갖는 액정 디스플레이 패널에서 휘점 셀을 암점 셀로 바꾸면 액정 디스플레이 패널은 정상 패널이 될 수 있다.Meanwhile, a criterion for determining whether a liquid crystal display panel is defective by an LCD manufacturer is the number of defective cells (pixels) included in the liquid crystal display panel. A bad cell can be divided into a bright point cell and a dark point cell. In general, the allowable number of bright point cells is stricter than the number of dark point cells. For this reason, it is possible to increase the yield of the liquid crystal display panel by darkening the bright point cell. For example, when no bright spot cell is allowed at all and up to one dark spot cell is allowed, the liquid crystal display panel may be a normal panel when the bright spot cell is replaced with a dark spot cell in a liquid crystal display panel having one bright spot cell.

액정 디스플레이 패널에 포함된 불량 화소를 파악하기 위해서는 해당 화소의 전기적인 오픈 또는 쇼트 여부를 측정해야 하며, 이를 위해서는 해당 화소의 전극 패드에 접촉하여 전기적 신호를 송수신하는 핀을 포함하는 프로브 장치가 필요하다. 이러한 프로브 장치는 대개 액정 디스플레이 패널의 불량 화소를 리페어 하는 장치에 광학계와 같이 구비되어 있어서, 프로브 장치로부터 파악된 불량 화소를 바로 리페어하고, 또한 프로브 장치에 의해서 리페어 후에 리페어가 잘 되었는지를 바로 판단할 수 있다.In order to identify the defective pixel included in the liquid crystal display panel, it is necessary to measure whether the pixel is electrically open or short. To do this, a probe device including a pin for contacting an electrode pad of the pixel and transmitting and receiving an electrical signal is required. . Such a probe device is usually provided with an optical system in a device for repairing a defective pixel of a liquid crystal display panel, so that the defective pixel detected from the probe device can be repaired immediately, and the probe device can immediately determine whether the repair was successful after the repair. Can be.

도 1은 종래기술에 따른 프로브 장치(1)의 구성을 나타내는 도면으로서, 도 1a는 프로브 장치(1)의 평면도이고 도 1b는 도 1a의 프로브 장치(1)를 a 방향에서 본 측면도이다.1 is a view showing the configuration of a probe device 1 according to the prior art, in which FIG. 1A is a plan view of the probe device 1 and FIG. 1B is a side view of the probe device 1 shown in FIG.

도시한 바와 같이, 프로브 장치(1)는 PCB에 해당하는 메인 기판의 중앙에 액정 디스플레이 패널의 전극 패드에 접촉되는 핀(2)이 설치되어 있는 구조로 되어 있다. 도 1의 프로브 장치(1)는 일반적으로 액정 디스플레이 패널의 전체 게이트 라인과 데이터 라인에 동시에 전기적 신호를 인가하는 용도의 프로브 장치에 해당되며, 이러한 용도의 프로브 장치는 복수개의 핀을 필요로 한다. 도 1을 참조하면, 핀(20)은 8개씩 2열로 대향하여 총 16개가 설치되어 있으나, 이는 검사하고자 하는 액정 디스플레이 패널의 상태에 따라 변경될 수 있다. 여기서, 핀(2)은 대략 '┌' 모양의 니들 형태를 가지고 있으며 재질은 텅스텐과 같은 고강도 금속으로 이루어진다. As shown in the drawing, the probe device 1 has a structure in which a pin 2 in contact with an electrode pad of a liquid crystal display panel is provided at the center of the main substrate corresponding to the PCB. The probe device 1 of FIG. 1 generally corresponds to a probe device for applying electrical signals to all gate lines and data lines of a liquid crystal display panel at the same time, and the probe device for this purpose requires a plurality of pins. Referring to FIG. 1, a total of 16 pins 20 are arranged in two rows of eight, which may be changed according to a state of a liquid crystal display panel to be inspected. Here, the pin 2 has a needle shape of approximately '┌' shape and the material is made of a high strength metal such as tungsten.

핀(2)의 일단은 외부의 신호선(미도시)과 연결되고 타단은 액정 디스플레이 패널의 패드에 접촉하게 되어 있다. 또한, 프로브 장치(1)에는 대향하고 있는 핀(2)의 양측으로 에지 센서(3)가 설치되어 있는데, 에지 센서는 핀(2)이 액정 디스플레이 패널의 패드에 잘 접촉되었는지 식별하는 역할을 한다.One end of the pin 2 is connected to an external signal line (not shown), and the other end is in contact with a pad of the liquid crystal display panel. In addition, the probe device 1 is provided with edge sensors 3 on both sides of the opposing pins 2, which are used to identify whether the pins 2 are in good contact with the pads of the liquid crystal display panel. .

도 2는 프로브 장치(10)에서의 핀(2)의 일측 단부의 모양을 나타내는 사시도이다. 도시한 바와 같이, 핀(2)은 패드와 접촉되는 측의 단부로 갈수록 그 폭이 점점 줄어들어 핀(2)의 단부는 원추형 또는 원통형으로 되어 있다. 2 is a perspective view showing the shape of one end of the pin 2 in the probe device 10. As shown in the figure, the width of the pin 2 gradually decreases toward the end of the side in contact with the pad so that the end of the pin 2 is conical or cylindrical.

도 3은 프로브 장치(10)에서의 에지 센서(3)의 구성을 나타내는 측면도이다. 도시한 바와 같이, 에지 센서(3)에는 메인 핀(4)과 메인 핀(4)의 상하로 하부 핀(5)과 상부 핀(6)이 설치되어 있다. 에지 센서(3)에서의 메인 핀(4)과 하부 핀(5) 또는 상부 핀(6)과의 컨택 여부에 따라 핀(2)이 액정 디스플레이 패널의 패드에 실제로 접촉되었는지 또는 핀(2)이 패드에 너무 과도한 압력으로 접촉되었는지를 식별할 수 있다. 에지 센서(3)는 이미 공지의 기술이므로 에지 센서의 동작과 관련한 상세한 설명은 생략하기로 한다.3 is a side view illustrating the configuration of the edge sensor 3 in the probe device 10. As shown, the edge pin 3 is provided with the lower pin 5 and the upper pin 6 above and below the main pin 4 and the main pin 4. Depending on whether the main pin 4 and the lower pin 5 or the upper pin 6 in the edge sensor 3 are in contact, the pin 2 is actually in contact with the pad of the liquid crystal display panel or the pin 2 is It is possible to identify whether the pad has been in contact with too much pressure. Since the edge sensor 3 is already known, a detailed description relating to the operation of the edge sensor will be omitted.

상술한 바와 같은 종래기술에 따른 프로브 장치는 다음과 같은 문제점이 있었다. The probe device according to the prior art as described above has the following problems.

먼저, 핀(2)의 패드와 접촉되는 측의 단부의 모양이 원추형 또는 원통형으로 되어 있기 때문에, 핀이 그 이동 방향에 대하여 좌측 또는 우측으로 미끄러질 확률이 증가하는 문제점이 있다. 다시 말하여, 핀은 패드와 완전히 접촉되기 위하여 패드와 접촉된 상태에서 핀이 약간 앞으로 밀리면서 패드의 표면 밑을 약간 뚫고 들어가야 하며, 이를 위해서는 핀이 소정 길이만큼의 스키드(skid) 동작과 소정 깊이만큼의 오버 드라이브(over drive) 동작이 필수적인데, 종래에는 핀의 단부의 모양이 원추형인 관계로 핀의 스키드 및 오버 드라이브 과정에서 핀이 좌측 또는 우측으로 미끄러져 핀이 파손될 우려가 많다.First, since the shape of the end portion of the side of the pin 2 in contact with the pad is conical or cylindrical, there is a problem that the probability of the pin sliding to the left or the right with respect to the moving direction increases. In other words, the pin must penetrate slightly below the surface of the pad while the pin is pushed forward a little while in contact with the pad in order to be in full contact with the pad. As much as the over drive operation is necessary, in the related art, since the shape of the end of the pin is conical, the pin may slide to the left or right during the skid and overdrive process of the pin, and thus the pin may be broken.

또한, 핀(2)과 핀(2)이 고정되는 메인 기판이 일체형으로 되어 있는 프로브 장치(1)의 구조상 복수개의 핀(2) 중 어느 하나의 핀이라도 파손되면 프로브 장치 전체를 교체해야 하므로 프로브 장치의 유지 보수에 비용이 많이 든다. In addition, if any one of the plurality of pins 2 is damaged due to the structure of the probe device 1 in which the pin 2 and the main substrate to which the pin 2 is fixed are integrated, the entire probe device must be replaced. Maintenance of the device is expensive.

또한, 프로브 장치(1)는 에지 센서(3)를 사용하여 핀의 패드 접촉 여부를 판단하기 때문에 택트 타임(tact time)이 길어지는 단점이 있다. 아울러, 에지 센서(3)는 반복적인 가압 접촉 동작에 의하여 고장이 잘 나고 에지 센서가 고장 나면 핀의 경우와 마찬가지로 프로브 장치 전체를 교체해야 하는 문제점이 있다.In addition, since the probe device 1 determines whether the pin contacts the pad using the edge sensor 3, the tact time is long. In addition, the edge sensor 3 has a problem that the entire probe device needs to be replaced as in the case of the pin when the edge sensor 3 is well-failed by repeated pressing contact operation.

또한, 프로브 장치를 다양한 사양의 액정 디스플레이 패널의 불량 화소 측정에 사용하기 위해서는 핀의 스키드 및 오버 드라이브 거리를 조절할 수 있어야 하는데, 프로브 장치(1)는 처음 제작될 때 이미 핀의 스키드 및 오버 드라이브 거리 가 고정되는 문제점이 있다. 특히, 프로브 장치(1)는 패널 내의 평탄도의 편차가 큰(즉, 패널의 두께 편차가 큰) 대형 액정 디스플레이 패널에 효과적으로 대응할 수 없게 된다.In addition, in order to use the probe device for measuring bad pixels of liquid crystal display panels of various specifications, it is necessary to adjust the skid and overdrive distance of the pin, and when the probe device 1 is manufactured for the first time, the skid and overdrive distance of the pin is already established. There is a problem that is fixed. In particular, the probe apparatus 1 cannot effectively cope with a large liquid crystal display panel having a large variation in the flatness in the panel (that is, a large variation in the thickness of the panel).

또한, 핀(2)의 재질이 텅스텐으로 되어 있는데, 텅스텐의 경우 컨택 포스(contact force)가 크기 때문에 반복되는 핀의 패드 접촉 과정에서 패드가 손상을 입을 우려가 많다는 문제점이 있다.In addition, the material of the pin 2 is made of tungsten. In the case of tungsten, there is a problem in that the pad is likely to be damaged during repeated pad contact with the pin because of a large contact force.

또한, 프로브 장치(1)는 복수개의 핀(2)을 일일이 수작업으로 메인 기판에 삽입 고정하여 제조되기 때문에 제작이 어렵고 제조 단가가 높다는 문제점이 있다.In addition, the probe device 1 is manufactured by inserting and fixing the plurality of pins 2 to the main board by hand, which is difficult to manufacture and has a high manufacturing cost.

이에 본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 핀이 이동 방향에 대하여 좌측 또는 우측으로 미끄러질 확률이 감소하여 핀의 파손 우려가 적은 프로브 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a probe device having a low risk of pin breakage due to a decrease in the probability that the pin slips left or right with respect to the moving direction.

또한, 본 발명은 하나의 핀이 파손된 경우에도 프로브 장치 전체를 교환할 필요가 없어 유지 비용이 절감되는 프로브 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a probe device that does not need to replace the entire probe device even if one pin is broken, thereby reducing the maintenance cost.

또한, 본 발명은 에지 센서를 사용하지 않아서 택트 타임이 감소하여 공정 단가가 절감되면서 유지 비용이 절감되는 프로브 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a probe device that does not use the edge sensor, the tact time is reduced to reduce the process cost while reducing the maintenance cost.

또한, 본 발명은 액정 디스플레이 패널의 상태에 맞게 핀의 스키드 거리 및 오버드라이브 거리를 조절할 수 있는 프로브 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a probe device capable of adjusting a skid distance and an overdrive distance of a fin according to a state of a liquid crystal display panel.

또한, 본 발명은 컨택 포스(contact force)가 작은 재질의 핀을 사용하여 반복되는 핀의 패드 접촉 과정에서도 패드가 손상을 입지 않는 프로브 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a probe device in which the pad is not damaged even in the pad contact process of the pin is repeated using a pin of a small contact force (material).

또한, 본 발명은 제조가 용이하고 제조 단가가 낮은 프로브 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a probe device which is easy to manufacture and low in manufacturing cost.

상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 프로브 장치는 액정 디스플레이 패널의 불량 화소를 감지하기 위하여 액정 디스플레이 패널의 패드에 접촉되는 일측 단부의 형상이 직사각형인 복수 개의 핀을 포함하고, 상기 복수 개의 핀은 세트로 구성되어 탈착되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a probe device according to the present invention includes a plurality of pins having a rectangular shape at one end portion contacting a pad of a liquid crystal display panel to detect a bad pixel of the liquid crystal display panel. Silver is composed of a set, characterized in that detachable.

그리고, 상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 프로브 장치는 액정 디스플레이 패널의 불량 화소를 감지하는 장치로서, 액정 디스플레이 패널의 패드에 접촉되는 일측 단부의 형상이 직사각형인 복 수개의 핀 - 상기 복수 개의 핀은 세트로 구성됨 -과, 상기 복수 개의 핀이 탈착 가능하도록 연결되면서 상기 복수 개의 핀을 지지하는 핀 소켓, 및 상기 핀 소켓을 수용하는 핀 블럭을 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a probe device according to the present invention is a device for detecting a bad pixel of a liquid crystal display panel, the plurality of pins having a rectangular shape at one end contacting the pad of the liquid crystal display panel-the plurality of And a plurality of pins, and a pin socket for supporting the plurality of pins while being detachably connected to the plurality of pins, and a pin block for receiving the pin sockets.

상기 복수개의 핀은 제1 및 제2 핀 세트로 구성되며, 상기 복수개의 핀은 절연성 테이프로 서로 연결되어 상기 복수개의 핀끼리는 일정 간격이 유지될 수 있다. The plurality of pins may include first and second pin sets, and the plurality of pins may be connected to each other by an insulating tape so that the plurality of pins may maintain a predetermined interval.

상기 핀은 Be-Cu 합금 재질로 이루어질 수 있다. The pin may be made of Be-Cu alloy material.

상기 복수개의 핀의 다른 일측에는 전기적 신호 인가를 위한 포고 핀(pogo pin) 접촉부가 형성될 수 있다. A pogo pin contact portion for applying an electrical signal may be formed on the other side of the plurality of pins.

상기 핀 소켓에는 한 개 이상의 탄성체(elastomer)가 설치될 수 있다. One or more elastomers may be installed in the pin socket.

상기 핀 소켓에는 관측창이 설치될 수 있다. An observation window may be installed in the pin socket.

본 발명에 따르면, 핀이 이동 방향에 대하여 좌측 또는 우측으로 미끄러질 확률이 감소하여 핀의 파손 우려가 적어지는 효과가 있다.According to the present invention, the probability that the pin slips left or right with respect to the moving direction is reduced, thereby reducing the risk of breakage of the pin.

또한, 본 발명에 따르면, 하나의 핀이 파손된 경우에도 프로브 장치 전체를 교환할 필요가 없어 프로브 장치의 유지 비용이 절감되는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, even if one pin is broken, there is no need to replace the entire probe device, thereby reducing the maintenance cost of the probe device.

또한, 본 발명에 따르면, 에지 센서를 사용하지 않아서 택트 타임이 감소하 여 공정 단가가 절감되면서도 프로브 장치의 유지 비용이 절감되는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, since the tact time is reduced by not using the edge sensor, the process cost is reduced and the maintenance cost of the probe device is reduced.

또한, 본 발명에 따르면, 핀의 스키드 거리 및 오버드라이브 거리를 조절할 수 있어서 프로브 장치가 액정 디스플레이 패널의 상태에 효과적으로 대응할 수 있다는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, since the skid distance and the overdrive distance of the pin can be adjusted, the probe device can effectively cope with the state of the liquid crystal display panel.

또한, 본 발명에 따르면, 컨택 포스(contact force)가 작은 재질의 핀을 사용함으로써 반복되는 핀의 패드 접촉 과정에서도 패드가 쉽게 손상을 입지 않는다는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, by using a pin of a material with a small contact force, there is an effect that the pad is not easily damaged even during repeated pad contact with the pin.

또한, 본 발명에 따르면, 프로브 장치의 제조가 용이하고 제조 단가가 낮아지는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, there is an effect that the manufacturing of the probe device is easy and the manufacturing cost is low.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성을 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, the configuration of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치(10)의 구성을 나타내는 분해 사시도 및 평면도이다. 그리고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치(10)에서 복수개의 핀(20)이 핀 소켓(30)에 연결된 상태를 나타내는 단면도이다. 4 and 5 are an exploded perspective view and a plan view showing the configuration of the probe device 10 according to an embodiment of the present invention. 6 is a cross-sectional view illustrating a state in which a plurality of pins 20 are connected to a pin socket 30 in a probe device 10 according to an embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 프로브 장치(10)는 복수개의 핀(20), 핀 소켓(30) 및 핀 블록(40)으로 구성된다. 프로브 장치(10)의 전체적인 형상은 핀 블럭(40)의 형상에 따라 원형으로 되어 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.As shown, the probe device 10 is composed of a plurality of pins 20, pin sockets 30 and pin blocks 40. The overall shape of the probe device 10 is circular according to the shape of the pin block 40, but is not necessarily limited thereto.

본 실시예에서, 액정 디스플레이 패널의 패드와 접촉되는 쪽의 핀(20)의 단부는 종래의 프로브 장치(1)와는 달리 그 형상이 직사각형인 것을 특징으로 하며 (도 7 참조), 이는 복수개의 핀(20) 모두에 각각 적용되는 특징이다. 또한, 복수개의 핀(20) 각각은 일체로 이루어져 있으며 핀의 재질은 종래의 프로브 장치(1)와는 달리 Be-Cu 합금으로 이루어져 있다. 핀의 개수는 액정 디스플레이 패널의 패드 사양에 따라 다양하게 변경이 가능하다.In the present embodiment, the end portion of the pin 20 on the side of the liquid crystal display panel in contact with the pad is characterized in that the shape of the pin 20 is rectangular, unlike the conventional probe device 1 (see FIG. 7), which is a plurality of pins. (20) It is a characteristic applied to all. In addition, each of the plurality of pins 20 is integrally formed, and the material of the pins is made of Be-Cu alloy, unlike the conventional probe device 1. The number of pins can be variously changed according to the pad specification of the liquid crystal display panel.

상술한 바와 같이, 본 발명에서는 액정 디스플레이 패널의 패드와 접촉되는 쪽의 핀(20)의 단부의 모양이 직사각형으로 되어 있어서 핀과 패드의 접촉 면적이 커지기 때문에, 핀(20)이 핀의 스키드 동작 방향에 대하여 좌측 또는 우측으로 미끄러질 확률이 현저히 줄어들게 된다. 따라서, 프로브 장치(10)는 핀의 단부의 모양이 원추형인 종래의 프로브 장치와 비교할 때 좌우 미끄러짐에 의하여 핀이 파손될 가능성이 떨어진다. 또한, 본 발명에서는 핀(20)의 재질로 텅스텐보다 컨택 포스가 적은 Be-Cu 합금을 사용하기 때문에 반복되는 핀의 패드 접촉 과정에서도 패드가 손상을 입을 염려가 적다.As described above, in the present invention, the end portion of the pin 20 on the side of the liquid crystal display panel that comes into contact with the pad is rectangular, so that the contact area between the pin and the pad increases, so that the pin 20 skids. The probability of slipping left or right relative to the direction is significantly reduced. Therefore, the probe device 10 is less likely to break the pin due to sliding left and right as compared with the conventional probe device having the conical shape of the end of the pin. In addition, in the present invention, since the Be-Cu alloy having a smaller contact force than tungsten is used as the material of the pin 20, the pad is less likely to be damaged even during repeated pad contact with the pin.

복수개의 핀(20)은 두 개의 핀 세트, 즉 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)로 분리되어 핀 소켓(30)에 연결된다. 즉, 도 5에 도시한 바와 같이, 본 실시예에서 복수개의 핀(20)은 각각 8개의 핀으로 이루어지는 두개의 핀 세트가 대향되어 있는 구성으로 되어 있다. 핀 세트의 개수 역시 등은 액정 디스플레이 패널의 패드 사양에 따라 다양하게 변경이 가능하다. 각 핀 세트를 구성하는 복수개의 핀(20)은 켑톤(Kapton) 테이프와 같은 절연성 테이프를 사용하여 모두 연결되어 있어서 서로 일정한 간격을 유지하고 있다. 복수개의 핀이 복수개의 패드에 동시에 정확하게 접촉되어야 하는 프로브 장치의 특성상 각 핀 세트를 구성하는 핀의 간격 유지는 매우 중요하다.The plurality of pins 20 are separated into two pin sets, that is, the first 20A and the second pin sets 20B, and are connected to the pin socket 30. That is, as shown in Fig. 5, in the present embodiment, the plurality of pins 20 have a configuration in which two pin sets each consisting of eight pins face each other. The number of pin sets can also be changed in various ways depending on the pad specification of the liquid crystal display panel. The plurality of pins 20 constituting each pin set are all connected using an insulating tape such as Kapton tape to maintain a constant distance from each other. It is very important to maintain the spacing of the pins constituting each set of pins due to the nature of the probe device in which a plurality of pins must be accurately and simultaneously contacted with a plurality of pads.

제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)로 구성되는 복수개의 핀(20)은 탈착 가능하도록 핀 소켓(30)에 연결된다. 여기서, 핀 소켓(30)은 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)를 지지하는 역할을 한다. 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)가 핀 소켓(30)에 탈착 가능하도록 연결되게 하기 위하여 양자의 연결 수단은 볼트(24a)를 사용한다. 이를 위하여, 핀 소켓에는 4개의 볼트(24a)에 맞는 4개의 볼트 홈(미도시)이 형성되어 있고, 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)의 양 가장자리에 위치하는 핀에는 볼트(24a)가 관통할 수 있는 볼트 구멍(24b)이 형성되어 있다. 따라서, 핀 소켓(30)에서 볼드(24a)를 해제시키면 언제든지 핀 소켓(30)으로부터 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)를 분리시킬 수 있다. 핀 소켓(30)의 전체적인 형상은 직사각형으로 되어 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.The plurality of pins 20 constituted of the first 20A and the second pin set 20B are connected to the pin sockets 30 so as to be detachable. Here, the pin socket 30 serves to support the first 20A and the second pin set 20B. Both connecting means use bolts 24a to allow the first 20A and second pin set 20B to be detachably connected to the pin socket 30. To this end, four bolt grooves (not shown) are formed in the pin sockets to fit the four bolts 24a, and the pins located at both edges of the first 20A and the second pin sets 20B are disposed in the pin sockets. A bolt hole 24b through which 24a can penetrate is formed. Thus, releasing the bold 24a from the pin socket 30 can separate the first 20A and the second pin set 20B from the pin socket 30 at any time. The overall shape of the pin socket 30 is rectangular, but is not necessarily limited thereto.

상술한 바와 같이, 본 발명에서는 복수개의 핀(20)으로 구성되는 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)가 핀 소켓(30), 나아가서는 프로브 장치(10)로부터 용이하게 탈착 가능하도록 되어 있기 때문에, 복수개의 핀(2) 중 어느 하나의 핀이 파손된 경우에도 프로브 장치 전체를 교체해야 할 필요가 없어서 프로브 장치의 유지 비용이 절감된다.As described above, in the present invention, the first 20A and the second pin set 20B including the plurality of pins 20 can be easily detached from the pin socket 30, and thus the probe device 10. Therefore, even if any one of the plurality of pins 2 is broken, there is no need to replace the entire probe device, thereby reducing the maintenance cost of the probe device.

한편, 액정 디스플레이 패널의 패드와 접촉되지 않는 쪽의 각각의 복수개의 핀(20)의 단부에는 핀(20)으로 전기적 신호를 인가할 수 있도록 하는 포고 핀(pogo pin) 접촉부(22)가 형성된다. 포고 핀은 공지된 기술(대한민국 특허공개공보 제2005-108647호 등 참조)이므로 이와 관련된 상세한 내용은 생략하기로 한다.On the other hand, at the ends of each of the plurality of pins 20 that are not in contact with the pads of the liquid crystal display panel, a pogo pin contact portion 22 for applying an electrical signal to the pins 20 is formed. . Since the pogo pin is a known technique (see Korean Patent Publication No. 2005-108647, etc.), detailed description thereof will be omitted.

핀 블록(40)은 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)가 연결된 핀 소켓(30)을 수용하며, 이로써 프로브 장치(10)가 완전 조립된다. 핀 블록(40)에는 핀 소켓(30)의 전체 형상에 맞는 홈(42)이 형성되어 있다. 핀 소켓(30)이 핀 블록(40)에 수용될 때 제1(20A) 및 제2 핀 세트(20B)가 핀 블록(40)의 홈(42) 바닥에 닿지 않도록 하는 것이 바람직하다. 이를 위하여, 핀 소켓(30)에는 돌출부(32)가 형성되어 있고, 핀 블록(40)에는 걸림턱(44)이 형성되어 있다.The pin block 40 houses the pin socket 30 to which the first 20A and the second set of pins 20B are connected, whereby the probe device 10 is fully assembled. The pin block 40 is formed with a groove 42 suitable for the overall shape of the pin socket 30. When the pin socket 30 is received in the pin block 40, it is desirable to prevent the first 20A and the second pin set 20B from touching the bottom of the groove 42 of the pin block 40. For this purpose, the protrusion 32 is formed in the pin socket 30, and the locking jaw 44 is formed in the pin block 40.

핀 소켓(30)의 중앙에는 관측창(50)이 설치되어 있다. 액정디스플레이 패널의 불량 화소를 판정하기 위하여 복수개의 핀(20)이 패널의 패드에 잘 접촉되도록 복수개의 핀(20)과 복수개의 패드가 정확하게 정렬되는지를 관측창(50)을 통하여 확인할 수 있다.The observation window 50 is provided in the center of the pin socket 30. In order to determine the defective pixel of the liquid crystal display panel, the observation window 50 may determine whether the plurality of pins 20 and the plurality of pads are correctly aligned so that the plurality of pins 20 may be in contact with the pads of the panel.

한편, 핀 소켓(30)의 하부에는 탄성체(elastomer; 60)가 설치되어 있다. 도6에 도시한 바와 같이, 탄성체(60)는 핀(20)의 빔(beam)부와 접하도록 설치된다. 여기서, 핀의 빔부란 핀이 핀 소켓에 고정되는 부분과 패드 접촉을 위하여 핀이 절곡되는 부분 사이의 영역을 대체적으로 의미한다. 탄성체(60)는 복수개의 핀(20) 각각에 대하여 1개씩 설치할 수도 있고(본 실시예에서는 제1 및 제2 핀 세트당 8개씩 총 16개 설치), 복수개의 핀(20) 전체에 대하여 1개를 설치할 수도 있으나(본 실시예에서는 제1 및 제2 핀 세트당 1개씩 총 2개 설치), 반드시 이에 한정되지는 않는다.On the other hand, an elastic body 60 is installed below the pin socket 30. As shown in FIG. 6, the elastic body 60 is provided to be in contact with the beam portion of the fin 20. Here, the beam portion of the pin generally means an area between a portion where the pin is fixed to the pin socket and a portion where the pin is bent for pad contact. One elastic body 60 may be provided for each of the plurality of pins 20 (in this embodiment, 16 in total for each of the first and second pin sets) or one for the entire plurality of pins 20. May be installed (in this embodiment, a total of two installations, one for each of the first and second pin sets), but is not necessarily limited thereto.

탄성체(60)의 역할은 설치 위치에 따라 핀의 빔 길이를 실질적으로 조절하는 데에 있다. 여기서, 빔 길이는 상술한 빔부의 길이를 의미한다. 도 6을 참조하 면, 예를 들어, 탄성체를 사용하지 않은 경우에 빔의 길이는 핀이 고정되는 볼트(24a)의 위치로부터 계산되지만, 탄성체를 사용하는 경우에 빔의 길이는 핀이 탄성체(60)와 접하는 위치로부터 계산된다. 즉, 탄성체를 사용하는 경우에 핀의 빔 길이는 실질적으로 짧아진다.The role of the elastic body 60 is to substantially adjust the beam length of the pin according to the installation position. Here, the beam length means the length of the beam portion described above. Referring to FIG. 6, for example, in the case where no elastic body is used, the length of the beam is calculated from the position of the bolt 24a to which the pin is fixed, but in the case of using the elastic body, the length of the beam is determined by the elasticity of the pin. Calculated from the position in contact with 60). In other words, when an elastic body is used, the beam length of the pin becomes substantially short.

상술한 바와 같이, 본 발명에서는 탄성체(60)의 설치에 따라 핀(20)의 빔 길이를 실질적으로 조절할 수 있기 때문에 그 결과 핀(20)의 스키드 및 오버 드라이브 거리를 조절할 수 있게 된다. 즉, 핀(20)의 스키드 및 오버 드라이브 거리는 핀 재질의 강성 및 핀의 빔 길이의 함수이기 때문에, 만일 핀(20)의 빔 길이를 조절할 수 있으면 자연히 핀(20)의 스키드 및 오버 드라이브 거리도 조절할 수 있게 되는 것이다. 핀(20)의 빔 길이를 조절할 수 있는 본 발명의 구성은 프로브 장치가 한번 제작되면 핀의 빔 길이가 고정되어 조절이 불가능한 종래의 프로브 장치(1)로부터는 전혀 기대할 수 없는 특징이다. As described above, in the present invention, since the beam length of the fin 20 can be substantially adjusted according to the installation of the elastic body 60, the skid and overdrive distance of the fin 20 can be adjusted as a result. That is, since the skid and overdrive distance of the fin 20 is a function of the rigidity of the fin material and the beam length of the fin, if the beam length of the fin 20 can be adjusted, the skid and overdrive distance of the fin 20 will naturally It will be adjustable. The configuration of the present invention that can adjust the beam length of the pin 20 is a feature that can not be expected at all from the conventional probe device 1 is impossible to adjust the fixed beam length of the pin once the probe device is manufactured.

프로브 장치에 있어서 핀의 스키드 및 오버 드라이브 거리의 조절이 가능하면 액정 디스플레이 패널의 사양이 다양하게 변경되어도 하나의 프로브 장치로도 불량 화소 측정을 효과적으로 할 수 있다. 최근에 액정 디스플레이 패널이 대형화 되는 추세에 따라 패널 내의 평탄도의 편차가 점점 커지고 있다. 일반적으로, 패널 내의 평탄도의 편차가 커지면 이에 대응하여 핀의 오버 드라이브 거리가 커져야 하며, 만일 핀의 오버 드라이브 거리가 작으면서 고정되어 있으면 경우에 따라서는 핀이 패드에 접촉이 아예 안 될 수도 있다. 이러한 경우에는 비용의 증가 감수하더라도 프로브 장치 전체를 핀의 오버 드라이브 거리가 큰 것으로 바꾸어야 한다. 그러나, 본 발명에서는 액정 디스플레이 패널의 사이즈에 따라 핀의 오버 드라이브 거리의 조절이 필요한 경우에도, 탄성체 설치 위치를 변경하여 핀의 오버 드라이브 거리를 조절할 수 있기 때문에 프로브 장치 전체를 바꿀 필요가 없게 된다.When the skid and the overdrive distance of the pin can be adjusted in the probe device, even if the specifications of the liquid crystal display panel are variously changed, even one probe device can effectively measure bad pixels. In recent years, as the size of liquid crystal display panels increases, variations in flatness within the panels are gradually increasing. In general, as the deviation of the flatness in the panel increases, the overdrive distance of the pin must be correspondingly increased, and in some cases, the pin may not be in contact with the pad if the overdrive distance of the pin is small and fixed. . In this case, even if the cost is increased, the entire probe device must be replaced with a large overdrive distance of the pin. However, in the present invention, even when the overdrive distance of the pin is required to be adjusted according to the size of the liquid crystal display panel, since the overdrive distance of the pin can be adjusted by changing the elastic installation position, there is no need to change the entire probe device.

또한, 프로브 장치(10)에서 핀(20)의 오버 드라이브 거리를 조절할 수 있음에 따라 종래의 프로브 장치(1)에서 핀의 패드 접촉 여부를 식별하기 위해 설치되는 에지 센서(3)를 굳이 사용할 필요가 없다. 이렇게 되면 에지 센서 사용에 따라 택트 타임(tact time)이 길어지는 단점을 해결할 수 있으며, 아울러 에지 센서의 잦은 고장에 의한 프로브 장치의 교체 비용을 줄일 수 있다.In addition, since the overdrive distance of the pin 20 can be adjusted in the probe device 10, it is necessary to use an edge sensor 3 installed to identify whether the pin contacts the pad in the conventional probe device 1. There is no. This can solve the disadvantage of longer tact time due to the use of the edge sensor, and also reduce the cost of replacing the probe device due to frequent failure of the edge sensor.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치(10)가 적용된 액정 디스플레이패널의 검사 장비를 나타낸 도면이다. 8 is a view showing the inspection equipment of the liquid crystal display panel to which the probe device 10 according to an embodiment of the present invention is applied.

도시한 바와 같이, 프로브 장치(10)는 액정 디스플레이 패널의 리페어 장치에 광학계와 같이 장착됨으로써, 프로브 장치(10)로부터 불량 이라고 판정된 화소를 리페어 장치에서 바로 리페어하고, 또한 리페어 장치에서 불량 화소를 리페어한 후에는 리페어의 성공 여부를 프로브 장치(10)로부터 바로 판단할 수 있게 된다. 작업자는 광학계를 이용하여 프로브 장치(10)의 관측창(50)을 통해 액정 디스플레이 패널의 패드에 복수개의 핀(20)이 잘 정렬되었는지, 또는 잘 접촉되었는지 여부를 관찰할 수 있다. 이러한 관찰 결과를 기초로 하여 프로브 장치(10) 및 이를 포함하는 리페어 장치의 전반적인 조작이 가능하다. As shown in the drawing, the probe device 10 is attached to a repair device of a liquid crystal display panel as an optical system, thereby repairing a pixel determined to be defective from the probe device 10 directly at the repair device, and repairing a bad pixel in the repair device. After repairing, it is possible to immediately determine whether the repair is successful from the probe apparatus 10. The operator may observe whether the plurality of pins 20 are well aligned or well in contact with the pads of the liquid crystal display panel through the observation window 50 of the probe device 10 using the optical system. Based on the observation result, the overall operation of the probe apparatus 10 and the repair apparatus including the same can be performed.

본 발명은 상술한 바와 같이 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에 서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형과 변경이 가능하다. 그러한 변형예 및 변경예는 본 발명과 첨부된 특허청구범위의 범위 내에 속하는 것으로 보아야 한다.Although the present invention has been shown and described with reference to preferred embodiments as described above, it is not limited to the above embodiments and variously modified by those skilled in the art without departing from the spirit of the present invention. Modifications and variations are possible. Such modifications and variations are intended to fall within the scope of the invention and the appended claims.

도 1a는 종래기술에 따른 프로브 장치의 구성을 나타내는 평면도.1A is a plan view showing the configuration of a probe device according to the prior art;

도 1b는 도 1a의 프로브 장치를 a 방향에서 본 측면도.1B is a side view of the probe device of FIG. 1A seen in the a direction.

도 2는 도 1의 프로브 장치에서의 핀의 선단 모양을 나타내는 사시도.Fig. 2 is a perspective view showing the tip shape of the pin in the probe device of Fig. 1.

도 3은 도 1의 프로브 장치에서의 에지 센서의 구성을 나타내는 측면도.FIG. 3 is a side view illustrating the configuration of an edge sensor in the probe device of FIG. 1. FIG.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치의 구성을 나타내는 분해 사시도.Figure 4 is an exploded perspective view showing the configuration of a probe device according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치의 구성을 나타내는 평면도.5 is a plan view showing the configuration of a probe device according to an embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치에서 복수개의 핀이 핀 소켓에 연결된 상태를 나타내는 단면도. 6 is a cross-sectional view illustrating a state in which a plurality of pins are connected to a pin socket in a probe device according to an embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치에서의 핀의 선단 모양을 나타내는 사시도.Figure 7 is a perspective view showing the tip shape of the pin in the probe device according to an embodiment of the present invention.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치가 적용된 액정 디스플레이패널의 검사 장비를 나타낸 도면.8 is a view showing the inspection equipment of the liquid crystal display panel to which the probe device according to an embodiment of the present invention is applied.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10: 프로브 장치10: probe device

20: 핀20: pin

30: 핀 소켓30: pin socket

40: 핀 블럭40: pin block

50: 관측창 50: observation window

60: 탄성체60: elastomer

Claims (7)

액정 디스플레이 패널의 불량 화소를 감지하기 위하여 액정 디스플레이 패널의 패드에 접촉되는 일측 단부의 형상이 직사각형인 복수 개의 핀을 포함하고, 상기 복수개의 핀은 세트로 구성되어 탈착 가능하며, 상기 복수개의 핀은 절연성 테이프로 서로 연결되어 상기 복수개의 핀끼리는 일정 간격이 유지되는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.In order to detect defective pixels of the liquid crystal display panel, a plurality of pins having a rectangular shape at one end contacting the pads of the liquid crystal display panel may be rectangular, and the plurality of pins may be formed as a set and detachable. Probe device, characterized in that the plurality of pins are connected to each other by an insulating tape to maintain a predetermined interval. 액정 디스플레이 패널의 불량 화소를 감지하는 프로브 장치로서,A probe device for detecting a bad pixel of a liquid crystal display panel, 액정 디스플레이 패널의 패드에 접촉되는 일측 단부의 형상이 직사각형인 복수개의 핀 - 상기 복수개의 핀은 세트로 구성됨 -;A plurality of pins having a rectangular shape at one end thereof in contact with the pad of the liquid crystal display panel, the plurality of pins consisting of a set; 상기 복수개의 핀이 탈착 가능하도록 연결되면서 상기 복수개의 핀을 지지하는 핀 소켓; 및A pin socket supporting the plurality of pins while being detachably connected to the plurality of pins; And 상기 핀 소켓을 수용하는 핀 블록을 포함하며,A pin block for receiving the pin socket, 상기 복수개의 핀은 절연성 테이프로 서로 연결되어 상기 복수개의 핀끼리는 일정 간격이 유지되는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.The plurality of pins are connected to each other by an insulating tape so that the plurality of pins are maintained at a predetermined interval. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 복수개의 핀은 제1 및 제2 핀 세트로 구성되는 것을 특징으로 하는 프The plurality of pins is characterized by consisting of a first and a second pin set 로브 장치.Lobe device. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 핀은 Be-Cu 합금 재질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.The pin is a probe device, characterized in that made of Be-Cu alloy material. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 복수개의 핀의 다른 일측에는 전기적 신호 인가를 위한 포고 핀(pogo pin) 접촉부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.Probe device, characterized in that the other side of the plurality of pins are formed with a pogo pin contact for applying an electrical signal. 제2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 핀 소켓에는 한 개 이상의 탄성체(elastomer)가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.Probe device, characterized in that the pin socket is provided with at least one elastomer (elastomer). 제2항에 있어서, The method of claim 2, 상기 핀 소켓에는 관측창이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브 장치.The pin socket is characterized in that the observation window is installed.
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