KR100869984B1 - 반도체 메모리, 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작방법 - Google Patents
반도체 메모리, 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100869984B1 KR100869984B1 KR1020060066336A KR20060066336A KR100869984B1 KR 100869984 B1 KR100869984 B1 KR 100869984B1 KR 1020060066336 A KR1020060066336 A KR 1020060066336A KR 20060066336 A KR20060066336 A KR 20060066336A KR 100869984 B1 KR100869984 B1 KR 100869984B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- access
- bank
- address
- data
- banks
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40603—Arbitration, priority and concurrent access to memory cells for read/write or refresh operations
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40615—Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40618—Refresh operations over multiple banks or interleaving
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1063—Control signal output circuits, e.g. status or busy flags, feedback command signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
Abstract
Description
Claims (13)
- 메모리 셀을 각각 구비하며, 상호 독립적으로 동작 가능한 복수의 뱅크와,상기 뱅크의 액세스 동작을 제어하는 뱅크 제어부와,액세스 동작을 실행 중인 뱅크를 나타내는 뱅크 어드레스를 유지하는 어드레스 유지부와,상기 어드레스 유지부에 유지된 뱅크 어드레스를, 액세스 요구와 함께 외부로부터 공급되는 외부 어드레스에 포함되는 뱅크 어드레스와 비교하는 어드레스 비교부와,상기 어드레스 비교부에 의한 비교 결과가 일치하고 있는 동안, 비지(busy) 신호를 활성화하는 비교 결과 출력부와,상기 비교 결과에 기초하여 내부 클록의 출력을 정지하는 클록 제어부와,상기 내부 클록에 기초하여 동작하고, 상기 액세스 요구 또는 상기 외부 어드레스를 수신하는 입력부를 구비하며,상기 뱅크의 수는, 상기 뱅크 제어부가 동시에 액세스 가능한 뱅크의 수보다 많은 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,상기 뱅크 제어부는, 상기 액세스 요구마다, 반도체 메모리의 외부로 데이터를 1회 출력하기 위해서, 또는 반도체 메모리의 외부로부터 데이터를 1회 입력하기 위해서, 상기 뱅크 중 어느 것을 액세스하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,상기 어드레스 유지부는, 상기 외부 어드레스에 대응하는 뱅크가 액세스 동작을 실행하고 있는 동안, 상기 외부 어드레스에 포함되는 뱅크 어드레스를 유지하고,상기 뱅크 제어부는, 상기 비교 결과가 일치했을 때에, 상기 액세스 요구 및 상기 외부 어드레스를 일시적으로 유지하고, 상기 비교 결과가 일치하지 않을 때에, 상기 외부 어드레스에 대응하는 뱅크의 액세스 동작을 시작하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,반도체 메모리는, 외부 클록에 동기하여 동작하고,1회의 액세스 동작은, 소정수의 클록 사이클수인 액세스 사이클수에 대응하는 기간에서 실행되고,상기 어드레스 유지부는, 상기 액세스 사이클수 이상이며, 상기 뱅크의 수보다 적은 뱅크 어드레스를 유지하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,반도체 메모리는, 외부 클록에 동기하여 동작하고,1회의 액세스 동작은, 소정수의 클록 사이클수인 액세스 사이클수에 대응하는 기간에서 실행되고,상기 뱅크 제어부는, 각각이 상기 뱅크 중 어느 것을 독립적으로 액세스하기 위한 복수의 뱅크 액세스 회로를 구비하고,상기 뱅크 액세스 회로의 수는, 상기 액세스 사이클수 이상이며, 상기 뱅크의 수보다 적은 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,상기 뱅크를 액세스하기 위한 내부 액세스 요구를 생성하는 내부 액세스 요구 생성부를 구비하며,반도체 메모리는, 외부 클록에 동기하여 동작하고,1회의 액세스 동작은, 소정수의 사이클 클록수인 액세스 사이클수에 대응하는 기간에서 실행되고,상기 뱅크 제어부는, 각각이 상기 뱅크 중 어느 것을 독립적으로 액세스하기 위한 복수의 뱅크 액세스 회로를 구비하고,상기 뱅크 액세스 회로의 수는, 상기 액세스 사이클수에 1을 더한 수 이상이며, 상기 뱅크의 수보다 적은 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,상기 뱅크로부터 독출된 데이터를 외부로 출력하기 위한 데이터 출력부를 구비하고,상기 뱅크 중 어느 것이 액세스 동작으로서 독출 동작을 실행하는 중에, 상기 어드레스 비교부에 의한 상기 비교 결과가 일치를 나타낼 때에, 상기 데이터 출 력부는, 독출 동작 중인 뱅크로부터 독출된 데이터를 출력하고, 상기 비교 결과가 일치를 나타내고 있는 동안, 독출된 데이터를 계속해서 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,상기 뱅크에 기록하는 데이터를 외부로부터 수신하는 데이터 입력부를 구비하고,상기 데이터 입력부는, 상기 어드레스 비교부에 의한 상기 비교 결과가 일치를 나타내고 있는 동안, 새로운 데이터의 수신을 정지하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 적어도 하나의 반도체 메모리와, 상기 반도체 메모리의 액세스를 제어하는 액세스 제어부를 갖는 컨트롤러를 구비하는 메모리 시스템으로서,상기 반도체 메모리는,메모리 셀을 각각 지니며, 상호 독립적으로 동작 가능한 복수의 뱅크와,상기 뱅크의 액세스 동작을 제어하는 뱅크 제어부와,액세스 동작을 실행 중인 뱅크를 나타내는 뱅크 어드레스를 유지하는 어드레스 유지부와,상기 어드레스 유지부에 유지된 뱅크 어드레스를, 액세스 요구와 함께 외부로부터 공급되는 외부 어드레스에 포함되는 뱅크 어드레스와 비교하는 어드레스 비교부와,상기 어드레스 비교부에 의한 비교 결과가 일치하고 있는 동안, 비지(busy) 신호를 활성화하는 비교 결과 출력부를 구비하고,상기 어드레스 비교 결과에 기초하여, 상기 액세스 요구 또는 상기 외부 어드레스를 수신하는 입력부에 공급하는 내부 클록의 출력을 정지시키며,상기 컨트롤러는,상기 반도체 메모리를 액세스하기 위한 액세스 커맨드, 상기 외부 어드레스 및 기록 데이터를 출력하고, 상기 반도체 메모리로부터의 독출 데이터를 수신하는 액세스 제어부를 구비하고,상기 액세스 제어부는, 활성화된 상기 비지 신호를 받고 있는 동안, 다음 액세스 커맨드, 다음 외부 어드레스 및 다음 기록 데이터의 출력을 일시적으로 정지하고, 이미 상기 반도체 메모리에 출력한 액세스 커맨드에 대응하는, 상기 반도체 메모리로부터의 독출 데이터의 수신을 정지하는 것을 특징으로 하는 메모리 시스템.
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 입력부는, 상기 내부 클록에 동기하여 동작하고, 상기 외부 어드레스 및 상기 액세스 요구를 수신하여 상기 뱅크 제어부와 상기 어드레스 유지부에 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서,상기 내부 클록에 동기하여 동작하고, 상기 뱅크에서 판독된 데이터를 외부에 출력하기 위한 데이터 출력부를 구비하며,상기 뱅크 중 어느 하나가 액세스 동작으로서 독출 동작을 실행하고 있는 경우, 상기 내부 클록이 정지하고 있는 동안, 상기 데이터 출력부는, 상기 판독된 데이터를 계속 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 삭제
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2006-00074533 | 2006-03-17 | ||
JP2006074533A JP4772546B2 (ja) | 2006-03-17 | 2006-03-17 | 半導体メモリ、メモリシステムおよびメモリシステムの動作方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070094429A KR20070094429A (ko) | 2007-09-20 |
KR100869984B1 true KR100869984B1 (ko) | 2008-11-21 |
Family
ID=38180198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060066336A KR100869984B1 (ko) | 2006-03-17 | 2006-07-14 | 반도체 메모리, 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7483331B2 (ko) |
EP (1) | EP1835506B1 (ko) |
JP (1) | JP4772546B2 (ko) |
KR (1) | KR100869984B1 (ko) |
CN (1) | CN101038783B (ko) |
DE (1) | DE602006009896D1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9911479B2 (en) | 2015-07-13 | 2018-03-06 | SK Hynix Inc. | Semiconductor memory device outputting read-busy signal and memory system including the same |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7652922B2 (en) * | 2005-09-30 | 2010-01-26 | Mosaid Technologies Incorporated | Multiple independent serial link memory |
US7668040B2 (en) * | 2006-12-22 | 2010-02-23 | Fujitsu Microelectronics Limited | Memory device, memory controller and memory system |
KR100914265B1 (ko) | 2007-05-10 | 2009-08-27 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치, 그것을 포함한 메모리 시스템 및그것의 읽기 방법 |
FR2916066A1 (fr) * | 2007-05-10 | 2008-11-14 | Samsung Electronics Co Ltd | Procede pour faire fonctionner un dispositif a memoire et dispositif electronique |
US7936639B2 (en) * | 2007-09-27 | 2011-05-03 | Micron Technology, Inc. | System and method for processing signals in high speed DRAM |
KR101416834B1 (ko) | 2008-08-20 | 2014-07-08 | 삼성전자주식회사 | 저항체를 이용한 비휘발성 메모리 장치 |
US8027192B2 (en) * | 2008-08-20 | 2011-09-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Resistive memory devices using assymetrical bitline charging and discharging |
FR2938670B1 (fr) * | 2008-11-17 | 2012-02-10 | Stmicroelectronics Crolles Sas | Dispositif de controle de l'activite de modules d'un reseau de modules de memoire |
CN102696021B (zh) | 2009-11-05 | 2016-03-16 | 拉姆伯斯公司 | 接口时钟管理 |
US8422315B2 (en) * | 2010-07-06 | 2013-04-16 | Winbond Electronics Corp. | Memory chips and memory devices using the same |
KR101989860B1 (ko) * | 2012-12-21 | 2019-06-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 컨트롤러 및 이를 포함하는 메모리 시스템 |
US9417685B2 (en) * | 2013-01-07 | 2016-08-16 | Micron Technology, Inc. | Power management |
US10037294B2 (en) * | 2016-05-20 | 2018-07-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, electronic component, and electronic device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11194969A (ja) | 1998-01-05 | 1999-07-21 | Nec Kofu Ltd | メモリ制御回路およびメモリ装置 |
US20020012282A1 (en) | 1999-06-03 | 2002-01-31 | Hidetoshi Saito | Semiconductor memory and nonvolatile semiconductor memory having redundant circuitry for replacing defective memory cell |
US6360285B1 (en) * | 1994-06-30 | 2002-03-19 | Compaq Computer Corporation | Apparatus for determining memory bank availability in a computer system |
KR20040008709A (ko) * | 2002-07-19 | 2004-01-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고속 데이터 억세스를 위한 디램 |
KR20050058224A (ko) * | 2003-12-11 | 2005-06-16 | 소니 가부시끼 가이샤 | 반도체 기억 장치 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11283364A (ja) | 1998-03-30 | 1999-10-15 | Toshiba Corp | マルチバンクdram及びこのマルチバンクdramを備えたデータ処理システム |
FR2820874B1 (fr) * | 2001-02-13 | 2003-05-30 | St Microelectronics Sa | Procede de gestion a acces aleatoire et rapide d'une memoire dram |
JP2003263892A (ja) * | 2002-03-11 | 2003-09-19 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP4127054B2 (ja) * | 2003-01-14 | 2008-07-30 | ソニー株式会社 | 半導体記憶装置 |
CN100485807C (zh) * | 2003-06-30 | 2009-05-06 | 富士通微电子株式会社 | 半导体存储器设备 |
-
2006
- 2006-03-17 JP JP2006074533A patent/JP4772546B2/ja active Active
- 2006-06-15 DE DE602006009896T patent/DE602006009896D1/de active Active
- 2006-06-15 EP EP06115556A patent/EP1835506B1/en active Active
- 2006-06-20 US US11/455,673 patent/US7483331B2/en active Active
- 2006-07-07 CN CN2006100984542A patent/CN101038783B/zh active Active
- 2006-07-14 KR KR1020060066336A patent/KR100869984B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6360285B1 (en) * | 1994-06-30 | 2002-03-19 | Compaq Computer Corporation | Apparatus for determining memory bank availability in a computer system |
JPH11194969A (ja) | 1998-01-05 | 1999-07-21 | Nec Kofu Ltd | メモリ制御回路およびメモリ装置 |
US20020012282A1 (en) | 1999-06-03 | 2002-01-31 | Hidetoshi Saito | Semiconductor memory and nonvolatile semiconductor memory having redundant circuitry for replacing defective memory cell |
KR20040008709A (ko) * | 2002-07-19 | 2004-01-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고속 데이터 억세스를 위한 디램 |
KR20050058224A (ko) * | 2003-12-11 | 2005-06-16 | 소니 가부시끼 가이샤 | 반도체 기억 장치 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9911479B2 (en) | 2015-07-13 | 2018-03-06 | SK Hynix Inc. | Semiconductor memory device outputting read-busy signal and memory system including the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101038783A (zh) | 2007-09-19 |
US7483331B2 (en) | 2009-01-27 |
US20070217278A1 (en) | 2007-09-20 |
KR20070094429A (ko) | 2007-09-20 |
JP2007250121A (ja) | 2007-09-27 |
CN101038783B (zh) | 2010-06-02 |
DE602006009896D1 (de) | 2009-12-03 |
JP4772546B2 (ja) | 2011-09-14 |
EP1835506A1 (en) | 2007-09-19 |
EP1835506B1 (en) | 2009-10-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100869984B1 (ko) | 반도체 메모리, 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작방법 | |
US10671319B2 (en) | Memory device configured to store and output address in response to internal command | |
US9293188B2 (en) | Memory and memory controller for high reliability operation and method | |
US5889714A (en) | Adaptive precharge management for synchronous DRAM | |
KR100575137B1 (ko) | 반도체집적회로 및 데이터처리시스템 | |
US7675800B2 (en) | Semiconductor memory, memory controller, system, and operating method of semiconductor memory | |
KR101746735B1 (ko) | 고신뢰성 동작을 위한 메모리 제어기를 갖는 데이터 프로세서 및 방법 | |
JP5430484B2 (ja) | 半導体記憶装置、及びその制御方法 | |
KR20180064940A (ko) | 해머 리프레쉬 동작을 수행하는 메모리 시스템 | |
US7263020B2 (en) | Memory device capable of refreshing data using buffer and refresh method thereof | |
US20060069855A1 (en) | System and method for controlling the access and refresh of a memory | |
US6779074B2 (en) | Memory device having different burst order addressing for read and write operations | |
CN107257964B (zh) | Dram电路、计算机系统和访问dram电路的方法 | |
US9355703B2 (en) | Devices, systems and methods with improved refresh address generation | |
US6859407B1 (en) | Memory with auto refresh to designated banks | |
JP6812060B2 (ja) | メモリ装置の低電力状態の終了のための装置及び方法 | |
US6549991B1 (en) | Pipelined SDRAM memory controller to optimize bus utilization | |
US6918016B1 (en) | Method and apparatus for preventing data corruption during a memory access command postamble | |
JP3789998B2 (ja) | メモリ内蔵プロセサ | |
US7093067B2 (en) | DRAM architecture enabling refresh and access operations in the same bank | |
JP2023543426A (ja) | Dramのリフレッシュ管理リスト | |
JP3705276B2 (ja) | 半導体メモリ装置におけるリフレッシュ制御および内部電圧の生成 | |
US11797440B2 (en) | Method and NMP DIMM for managing address map | |
CN117501230A (zh) | 多存储列存储器控制器中的高效存储列切换 | |
US20230197184A1 (en) | Memory system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
AMND | Amendment | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121023 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131022 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141021 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151016 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161019 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171018 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181018 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191107 Year of fee payment: 12 |