KR100851242B1 - Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel - Google Patents

Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel Download PDF

Info

Publication number
KR100851242B1
KR100851242B1 KR1020080028307A KR20080028307A KR100851242B1 KR 100851242 B1 KR100851242 B1 KR 100851242B1 KR 1020080028307 A KR1020080028307 A KR 1020080028307A KR 20080028307 A KR20080028307 A KR 20080028307A KR 100851242 B1 KR100851242 B1 KR 100851242B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
magazine
cleaned
plasma cleaning
unit
cleaning chamber
Prior art date
Application number
KR1020080028307A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
윤통섭
Original Assignee
비전세미콘 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 비전세미콘 주식회사 filed Critical 비전세미콘 주식회사
Priority to KR1020080028307A priority Critical patent/KR100851242B1/en
Priority to JP2011500681A priority patent/JP5214017B6/en
Priority to PCT/KR2008/002448 priority patent/WO2009119937A1/en
Priority to CN2008801283068A priority patent/CN101980798B/en
Priority to TW097120585A priority patent/TWI368266B/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100851242B1 publication Critical patent/KR100851242B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B7/00Cleaning by methods not provided for in a single other subclass or a single group in this subclass
    • B08B7/0035Cleaning by methods not provided for in a single other subclass or a single group in this subclass by radiant energy, e.g. UV, laser, light beam or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67063Apparatus for fluid treatment for etching
    • H01L21/67069Apparatus for fluid treatment for etching for drying etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67207Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process
    • H01L21/67213Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process comprising at least one ion or electron beam chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67778Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
    • H01L21/67781Batch transfer of wafers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

A plasma cleaning apparatus for semiconductor panel is provided to minimize an occupied area of equipment by arranging a plurality of cleaning chambers at upper and lower sides. A plurality of plasma cleaning chambers(100) are vertically arranged in parallel to each other. An unloading unit(200) moves magazines including cleaning targets to the plasma cleaning chambers. A plurality of first pushers(250) are installed at the unloading unit to discharge the cleaning targets of the magazines to the plasma cleaning chambers. A rotary transfer unit(300) receives the empty magazines from the unloading unit, rotates horizontally the empty magazines at 180 degrees, and moves the empty magazines to the backside of the plasma cleaning chambers. A loading unit(400) receives the empty magazines from the rotary unit and moves the empty magazines to the backside of each plasma cleaning chambers. A second pusher(500) loads the cleaning targets into the empty magazines of the loading unit.

Description

반도체용 플라즈마 세정장치{Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel}Plasma cleaning apparatus for a semiconductor panel

본 발명은 반도체 제조 공정중 플라즈마 방전을 통해 반도체부품(피세정물 또는 PCB 기판) 등을 세척하기 위한 플라즈마 세정장치에 관한 것으로서, 특히 메거진 내에 수납된 반도체부품의 플라즈마 세정과정이 연속적으로 이루어지게 함으로써 조업효율을 향상시키도록 한 반도체용 플라즈마 세정장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plasma cleaning apparatus for cleaning a semiconductor component (a thing to be cleaned or a PCB substrate) through a plasma discharge during a semiconductor manufacturing process. Particularly, the plasma cleaning process of a semiconductor component housed in a magazine is continuously performed. The present invention relates to a plasma cleaning device for semiconductors that improves operating efficiency.

일반적으로, 반도체 제조 공정에 사용되는 플라즈마 세정장치는 플라즈마 방전을 통해 예컨대 피세정물이나 PCB 기판 등과 같은 반도체부품을 세척하는 장치로서, 반도체 제조공정마다 설치되어 반도체부품(이하 '피세정물' 이라 함)의 표면을 세정하도록 되어 있다.In general, a plasma cleaning apparatus used in a semiconductor manufacturing process is a device for cleaning a semiconductor component such as a to-be-cleaned object or a PCB substrate through a plasma discharge, and is installed in each semiconductor manufacturing process to be referred to as a semiconductor component (hereinafter referred to as 'cleaned object'). Is cleaned.

즉, 피세정물은 그 종류에 따라서 스트립핑-다이본딩-와이어본딩-패키지몰딩-마킹 등의 제조공정을 거치게 되는데, 각 공정마다 이루어지는 물리적 화학적 처리로 인하여 표면이 오염되기 때문에 각 공정전 단계에서 오염된 표면을 세정하기 위한 별도의 세정공정이 요구되는 것이다.That is, the object to be cleaned undergoes manufacturing processes such as stripping-die bonding-wire bonding-package molding-marking, etc., and the surface is contaminated by the physical and chemical treatments of each process. A separate cleaning process is required to clean the contaminated surface.

특히 플라즈마를 이용한 세정방법은 피세정물의 세정뿐만 아니라 다이본딩과 와이어본딩시 구리로 이루어진 피세정물의 표면의 세정도 함께 이루어지기 때문에 피세정물의 표면을 은이나 금으로 도금하지 않아도 되므로 반도체의 생산비용과 공정의 단순화에 기여할 수 있다는 장점 때문에 최근에 널리 사용되고 있다.In particular, since the cleaning method using plasma not only cleans the object to be cleaned but also cleans the surface of the object to be cleaned made of copper during die bonding and wire bonding, the surface of the object to be cleaned does not have to be plated with silver or gold, thus producing a semiconductor. It has been widely used recently because of its ability to contribute to the simplification of the process.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 플라즈마 세척장치(1)는 밀폐 가능한 챔버(10)와, 상기 챔버(10)내로 다수의 피세정물(L)이 수납된 메거진(60)들이 탑재되는 카세트(20)와, 메거진(60)을 탑재한 카세트(20)가 수납된 상태에서 밀폐되는 챔버(10) 내부의 공기를 흡인 배출시켜 챔버(10) 내부를 진공상태로 만들기 위한 공기 흡입장치(30)와, 진공된 챔버(10) 내부에 아르곤, 크세논, 헬륨 및 네온과 같은 가스를 투입하기 위한 가스공급장치(40)와, 가스공급장치(40)를 통해 챔버(10) 내부에 공급된 가스에 전류를 흘려 플라즈마를 발생시키는 전류발생장치(50)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, a conventional plasma cleaning apparatus 1 includes a chamber 10 that can be sealed, and a cassette 60 in which a plurality of objects L are stored into the chamber 10. 20 and an air inhalation device 30 for suctioning and discharging air in the chamber 10 to be sealed in a state in which the cassette 20 mounted with the magazine 60 is accommodated, so that the inside of the chamber 10 is vacuumed. ), A gas supply device 40 for introducing a gas such as argon, xenon, helium and neon into the vacuum chamber 10, and a gas supplied into the chamber 10 through the gas supply device 40. It is configured to include a current generating device 50 for flowing a current to generate a plasma.

도 2에 도시된 바와 같이, 상기 카세트(20)는 상면을 형성하는 상부프레임(21)과, 상기 상부프레임(21)의 저부에 위치된 상태로 다수의 메거진(60)이 안착되는 하부프레임(22)과, 상기 상부프레임(21) 및 하부프레임(22) 사이에 각각 구비되며 상기 하부프레임(22)에 안착된 각 메거진(60)의 양측면에 각각 대향되게 장착되어 플라즈마 방전을 유도하는 다수의 측면전극판(23)으로 구성된다.As shown in FIG. 2, the cassette 20 includes an upper frame 21 forming an upper surface and a lower frame on which a plurality of magazines 60 are seated in a state located at a bottom of the upper frame 21. 22 and between the upper frame 21 and the lower frame 22 and mounted on opposite sides of each magazine 60 seated on the lower frame 22 to induce plasma discharge. It consists of a side electrode plate 23.

여기서, 각각의 메거진(60) 내에는 그 높이 방향을 따라 다수의 피세정물(L)이 소정 간격으로 탑재되며, 메거진(60)의 양측면은 상기 각 피세정물(L)의 서랍식 수납이 가능하게 높이 방향을 따라 가이드턱(61)들이 고정된다. 상기 가이드턱(61)들은 균일한 간격으로 상호 이격된 상태로 고정되는데 이는 이격된 각 가이드 턱(61) 간의 틈새를 통해 플라즈마가 원활하게 유입되어 각 피세정물(L)을 효과적으로 세척할 수 있도록 하기 위함이다.Here, in each magazine 60, a plurality of objects to be cleaned L are mounted at predetermined intervals along a height direction thereof, and both sides of the magazine 60 may be a drawer-type storage of each object to be cleaned L. FIG. Guide jaws 61 are fixed along the height direction. The guide jaws 61 are fixed to be spaced apart from each other at uniform intervals so that the plasma flows smoothly through the gaps between the guide jaws 61 spaced apart so that each of the objects to be cleaned L can be effectively cleaned. To do this.

이러한 구성으로 이루어진 종래 반도체용 플라즈마 세정장치(1)는 공기흡입장치(30)를 통해 세정장치 내부를 진공상태로 만든 다음 가스공급장치(40)를 통해 가스를 주입시킨 후 카세트(20)에 설치된 전극판에 전류를 인가하여 내부에 공급된 가스를 이온화 또는 활성화시켜 활성화된 가스가 전자와 양이온으로 분리되면서 챔버(10) 내부가 플라즈마 상태로 되게 함으로써, 이 플라즈마의 활동에 의하여 매거진 내의 피세정물(L)의 세정이 이루어지도록 한다.The plasma cleaning device 1 for semiconductors having such a configuration is provided in the cassette 20 after injecting gas through the gas supply device 40 by vacuuming the inside of the cleaning device through the air suction device 30. By applying a current to the electrode plate to ionize or activate the gas supplied therein, the activated gas is separated into electrons and cations so that the inside of the chamber 10 is in a plasma state, and the object to be cleaned in the magazine by the action of this plasma. (L) is cleaned.

상기와 같은 종래의 플라즈마 세정장치(1)는 작업자가 피세정물(L)이 수납된 메거진(60)을 카세트(20)내에 장착시킨 후 다시 챔버(10)내에 투입하고, 세정처리가 완료된 후에는 다시 챔버(10)내에서 카세트(20)를 꺼내고 새로운 카세트(20)로 갈아 끼워야 하기 때문에 세정작업이 연속적으로 이루어지지 못하여 세정처리 능률 및 피세정물(L)의 생산성이 크게 저하되는 문제점이 있었다.In the conventional plasma cleaning apparatus 1 as described above, the operator mounts the magazine 60 containing the object to be cleaned L in the cassette 20 and then inserts it into the chamber 10 again, after the cleaning process is completed. Since the cassette 20 needs to be removed from the chamber 10 and replaced with a new cassette 20, the cleaning operation cannot be continuously performed, and the efficiency of the cleaning process and the productivity of the object to be cleaned (L) are greatly reduced. there was.

본 발명은 상기한 종래 문제점들을 고려하여 이루어진 것으로서, 피세정물의 세정작업이 메거진의 투입에서부터 메거진의 인출까지 자동으로 연속 처리되게 하여 세정처리 능률 및 피세정물의 생산성이 향상되게 하는 반도체용 플라즈마 세정장치를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and the plasma cleaning apparatus for semiconductors enables the cleaning operation of the object to be cleaned to be continuously processed from the introduction of the magazine to the withdrawal of the magazine, thereby improving the cleaning treatment efficiency and the productivity of the object to be cleaned. The purpose is to provide.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 반도체용 플라즈마 세정장치는 수직으로 나란하게 배치된 복수의 플라즈마 세정챔버; 세정진행 상황에 따라 하부에서 상부로 이동하면서 피세정물이 일정간격을 두고 탑재된 메거진들을 각 플라즈마 세정챔버의 전방으로 순차 이동시키는 언로드유닛; 각 플라즈마 세정챔버에 대응되도록 상기 언로드 유닛에 복수로 설치되어, 언로드유닛에 의해 이동되는 매거진 내부에 탑재된 피세정물들을 플라즈마 세정챔버측으로 하나씩 밀어서 배출시키는 제1푸셔; 피세정물들이 모두 배출된 빈메거진을 언로드부로부터 공급받아 180도 수평회전시킨 다음 플라즈마 세정챔버의 후방으로 이송시키는 회전이송유닛; 상기 회전 이송유닛으로부터 빈메거진을 공급받으며, 세정진행 상황에 따라 상부에서 하부로 이동하면서 공급받은 빈메거진들을 각 플라즈마 세정챔버의 후방으로 순차 이동시키는 로드유닛; 및 세정이 완료된 피세정물들을 상기 로드부의 빈메거진 내부로 밀어서 탑재시키는 제2푸셔를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the semiconductor plasma cleaning apparatus of the present invention comprises a plurality of plasma cleaning chambers arranged side by side vertically; An unloading unit which sequentially moves the loaded objects to the front of each plasma cleaning chamber while the object to be cleaned is moved at a predetermined interval while moving from the bottom to the top according to the cleaning progress situation; A plurality of first pushers installed in the unloading unit so as to correspond to the plasma cleaning chambers, each of the first pushers for discharging the objects to be mounted in the magazine moved by the unloading unit to the plasma cleaning chamber; A rotation transfer unit which receives the empty magazine from which all objects to be cleaned are supplied from the unloading unit, rotates horizontally by 180 degrees, and then transfers it to the rear of the plasma cleaning chamber; A load unit which receives the empty magazine from the rotary transfer unit and sequentially moves the supplied empty magazines to the rear of each plasma cleaning chamber while moving from top to bottom according to the cleaning progress situation; And a second pusher for pushing and cleaning the cleaned objects to be loaded into the empty magazine of the rod part.

상기한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 반도체용 플라즈마 세정장치에 의하면, 중앙에는 플라즈마 세정이 이루어지는 세정챔버를 상하로 복수배치하고, 전방에는 메거진의 피세정물을 각 세정챔버로 공급하는 언로드유닛을 배치하며, 후방에는 세정을 마친 각 세정챔버의 피세정물들을 언로드유닛으로부터 전달받은 빈메거진에 순차적으로 탑재시키는 로드유닛을 배치시킴으로써, 피세정물의 세정작업이 상부의 세정챔버와 하부의 세정챔버에서 번갈아 가면서 연속적으로 이루어지게 되므로 생산성을 크게 향상시킬 수 있는 효과가 있다.According to the plasma cleaning apparatus for semiconductors according to the present invention configured as described above, a plurality of cleaning chambers in which plasma cleaning is performed is arranged up and down at the center, and an unloading unit is arranged at the front to supply the object to be cleaned of the magazine to each cleaning chamber. In the rear side, a rod unit for sequentially mounting the cleaned objects in each of the cleaned cleaning chambers in the empty magazine received from the unloading unit is alternated between the upper cleaning chamber and the lower cleaning chamber. Since it is made continuously while going, there is an effect that can greatly improve the productivity.

뿐만 아니라, 본 발명에 따른 반도체용 플라즈마 세정장치는 세정챔버를 상하로 복수배치하였기 때문에 장비가 차지하는 공간을 최소화할 수 있고, 작업자는 빈 메거진을 언로드부에 투입하고 로드부를 통해 배출되는 메거진을 수거하기만 하면 되므로 작업성이 크게 향상되는 효과가 있다.In addition, the semiconductor plasma cleaning apparatus according to the present invention can minimize the space occupied by the equipment because the plurality of cleaning chambers are arranged up and down, the operator puts an empty magazine in the unloading unit and collects the magazine discharged through the loading unit Just because you have the effect is greatly improved workability.

본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 바람직한 실시예에 대한 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.The features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of preferred embodiments based on the accompanying drawings. Prior to this, the terms or words used in the present specification and claims are defined in the technical spirit of the present invention on the basis of the principle that the inventor can appropriately define the concept of the term in order to explain his invention in the best way. It must be interpreted to mean meanings and concepts.

이하에서는 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in detail.

도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 반도체용 플라즈마 세정장치는 수직으로 배치된 복수의 플라즈마 세정챔버(100)와, 피세정물이 탑재된 메거진들을 각 플라즈마 세정챔버(100)측으로 순차 이동시키는 언로드유닛(200)과, 상기 언로드유닛(200)에 설치되어 매거진 내부에 탑재된 피세정물들을 플라즈마 세정챔버(100)측으로 배출시키는 제1푸셔(250)와, 피세정물들이 모두 배출된 빈메거진을 언로드유닛(200)으로부터 공급받아 180° 수평회전시킨 다음 플라즈마 세정챔버(100)의 후방으로 이송시키는 회전이송유닛(300)과, 상기 회전이송유닛(300)으로부터 공급받은 빈메거진들을 플라즈마 세정챔버(100)측 후방으로 순차 이동시키는 로드유닛(400)과, 세정이 완료된 피세정물들을 상기 로드유닛(400)의 빈메거진 내부로 밀어서 탑재시키는 제2푸셔(500)로 크게 구성된다.3 and 4, the semiconductor plasma cleaning apparatus of the present invention includes a plurality of plasma cleaning chambers 100 arranged vertically, and magazines on which a substance to be cleaned is mounted to each plasma cleaning chamber 100. The unloading unit 200 for sequential movement, the first pusher 250 installed in the unloading unit 200, and the first pusher 250 for discharging the objects to be mounted in the magazine to the plasma cleaning chamber 100, and the objects to be cleaned are all The discharge magazine is supplied from the unloading unit 200 and rotates 180 ° horizontally, and then rotates to the rear of the plasma cleaning chamber 100. The transfer unit 300 and the empty magazine supplied from the rotation transfer unit 300. The rod unit 400 to sequentially move the particles to the rear of the plasma cleaning chamber 100 and the second pusher 500 to push and clean the cleaned objects into the empty magazine of the rod unit 400. It is composed.

<플라즈마 세정챔버><Plasma cleaning chamber>

본 실시예에서는 플라즈마 세정챔버(100)가 수직으로 일정간격을 두고 한 쌍이 구비된 것을 예를 들어 도시하고 설명한다.In the present embodiment, the plasma cleaning chamber 100 is illustrated and described by way of example, in which a pair is provided at a predetermined interval vertically.

각 플라즈마 세정챔버(100)는 동일구성으로서, 로드유닛(400)을 통해 이송된 피세정물이 안착되는 바닥판(110)과, 상기 바닥판(110)과 선택적으로 합치될 수 있 도록 상기 바닥판(110)의 연직 상부에 승강가능하게 설치되며 바닥판(110)과 합치된 상태에서는 플라즈마가 발생될 수 있도록 소정의 내부공간을 갖는 상판(120)으로 구성된다.Each plasma cleaning chamber 100 has the same configuration, and the bottom plate 110 on which the object to be transported through the rod unit 400 is seated, and the bottom plate 110 may be selectively matched with the bottom plate 110. The upper plate 120 is installed to be movable up and down on the vertical portion of the plate 110 and has a predetermined inner space so that plasma can be generated in a state in which the plate 110 is aligned with the bottom plate 110.

그리고 상기 바닥판(110)의 상부에는 언로드유닛(200)을 통해 세정챔버(100) 내부로 진입하는 피세정물의 양측을 지지하여 피세정물이 바닥판(110)으로부터 이격된 상태로 안착시키는 한 쌍의 안착부재(111)가 고정된다. 이와 같이 피세정물을 세정챔버(100)의 바닥으로 이격시키는 이유는 피세정물이 바닥판(110)에 밀착됨으로써 플라즈마 가스와의 접촉이 제한되어 세정이 원활하게 이루어지지 않게 되는 것을 방지하기 위함이다.In addition, the upper part of the bottom plate 110 supports both sides of the object to be cleaned to enter the cleaning chamber 100 through the unloading unit 200, so that the object to be cleaned is separated from the bottom plate 110. The pair of seating members 111 are fixed. The reason for separating the object to be cleaned to the bottom of the cleaning chamber 100 as described above is to prevent the object from being cleaned smoothly because the contact with the plasma gas is limited by being adhered to the bottom plate 110. to be.

한편, 도시하지는 않았으나, 상판(120)에는 상판(120)을 통해 세정챔버(100) 내부로 아르곤, 크세논, 헬륨 및 네온과 같은 플라즈마 가스를 공급하는 가스공급관이 연결되며, 하판에는 챔버 내부를 진공상태로 만들기 위한 공기흡입장치와 연결된 공기배출공이 형성되어 있다. 또한, 세정챔버(100)의 내부에는 상기 가스공급관(114)을 통해 챔버 내부에 공급된 가스에 전류를 흘려 플라즈마를 발생시키는 전류발생장치가 구비되어 있다.On the other hand, although not shown, the upper plate 120 is connected to the gas supply pipe for supplying a plasma gas, such as argon, xenon, helium and neon through the upper plate 120 to the cleaning chamber 100, the lower plate is vacuumed inside the chamber An air exhaust hole is formed in connection with the air intake device to bring it into a state. In addition, the cleaning chamber 100 is provided with a current generator for generating a plasma by flowing a current to the gas supplied into the chamber through the gas supply pipe 114.

도 5 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 각 세정챔버(100)의 바닥판(110)에는 내부를 순환하는 히팅에어에 의해 자체발열되고 냉각에어에 의해 냉각됨으로써 피세정물을 적정온도로 가열시키는 히팅유닛(115)이 구비되어 있다.5 to 7, the bottom plate 110 of each cleaning chamber 100 is self-heated by a heating air circulating therein and cooled by a cooling air to heat the object to be cleaned to an appropriate temperature. Heating unit 115 is provided.

상기 바닥판(110) 하부에는 히팅유닛(115)측으로 히팅에어 또는 냉각에어를 순환시켜 주기 위한 에어순환 파이프(112)가 연결된다. 상기 에어순환 파이프(112) 는 각각 유입관(112a)과 배출관(112b)으로 구분된다.An air circulation pipe 112 for circulating the heating or cooling air toward the heating unit 115 is connected to the bottom of the bottom plate 110. The air circulation pipe 112 is divided into an inlet pipe 112a and an outlet pipe 112b, respectively.

그리고, 상기 히팅유닛(115)은 안착부재(111)가 표면에 설치되는 상부세라믹판(115a)과, 커버플레이트(115b)와, 히팅플레이트(115c)와, 하부세라믹판(115d)으로 적층구성된다.In addition, the heating unit 115 is composed of an upper ceramic plate 115a, a cover plate 115b, a heating plate 115c, and a lower ceramic plate 115d on which a seating member 111 is installed on a surface thereof. do.

이중 상기 히팅플레이트(115c)의 표면에는 에어루트(116)가 전면에 걸쳐 균일하게 형성되며, 상기 에어루트의 양단(116a,116b)은 상기 에어순환 파이프(112)와 연통된다. 이를 위하여 상기 하부세라믹판(115d)에는 에어루트의 양단(116a,116b)과 에어순환 파이프(112)를 연통시켜 주는 연통공(미도시)이 형성된다.An air route 116 is uniformly formed on the front surface of the heating plate 115c, and both ends 116a and 116b of the air route communicate with the air circulation pipe 112. To this end, the lower ceramic plate 115d is provided with a communication hole (not shown) for communicating both ends 116a and 116b of the air route with the air circulation pipe 112.

상기와 같은 구성에 의하여, 세정시작 전 유입관(112a)을 통해 고온의 에어가 공급되면, 공급된 히팅에어는 하부세라믹판(115d)의 연통공을 지나 히팅플레이트(115c)로 유입되고 에어루트(116)를 통해 히팅플레이트(115c)를 순환하면서 히팅플레이트(115c)을 가열시킨 다음 배출관(112b)를 통해 외부로 배출된다.By the configuration as described above, if hot air is supplied through the inlet pipe (112a) before the start of cleaning, the supplied heating air is introduced into the heating plate (115c) through the communication hole of the lower ceramic plate (115d) and the air route The heating plate 115c is heated while circulating the heating plate 115c and then discharged to the outside through the discharge pipe 112b.

이와 같이 히팅플레이트(115c)가 가열되면 상부세라믹판(115a)이 가열되면서 상부세라믹판(115a) 상부에 위치된 피세정물도 적절한 온도로 가열되므로 플라즈마 세정 효과를 극대화시킬 수 있다.As such, when the heating plate 115c is heated, the upper ceramic plate 115a is heated, and the object to be cleaned placed on the upper ceramic plate 115a is also heated to an appropriate temperature, thereby maximizing the plasma cleaning effect.

한편, 세정챔버(100) 내부의 온도가 필요 이상으로 상승될 경우에는 상기 에어순환파이프(112)의 유입관(112a)으로 냉각공기를 투입시키면 냉각에어가 에어루트(116)를 통해 히팅플레이트(115c)를 순환하면서 히팅플레이트(115c)를 냉각시킨다.On the other hand, when the temperature inside the cleaning chamber 100 rises more than necessary, when cooling air is introduced into the inlet pipe 112a of the air circulation pipe 112, the cooling air is heated through the air route 116 ( The heating plate 115c is cooled while circulating 115c.

상기 세정챔버(100)는 상기 상부세라믹판(115a)과 하부세라믹판(115d)이 세라믹재질로 이루어져 있어서 잦은 열변화에도 변형이 발생되지 않게 될 뿐만 아니라, 히팅플레이트(115c)를 비롯한 세정챔버(100)의 바닥판(110)만 온도가 상승되므로 세정챔버(100)의 주변장치로 열이 발산되는 것을 최소화시킬 수 있다.In the cleaning chamber 100, the upper ceramic plate 115a and the lower ceramic plate 115d are made of a ceramic material, so that deformation does not occur even when frequent thermal changes, and the cleaning chamber including the heating plate 115c ( Since only the bottom plate 110 of the temperature rises 100, it is possible to minimize heat dissipation to the peripheral device of the cleaning chamber 100.

한편, 각 플라즈마 세정챔버(100)의 전방에는 제1푸셔(250)에 의해 매거진으로부터 배출되는 피세정물들이 차례로 안착되도록 좌우방향으로 배치된 복수의 가이더(132)를 갖는 제1안착부(130)가 구비되고, 각 플라즈마 세정챔버(100)의 후방에는 플라즈마 세정챔버(100)로부터 배출되는 세정 완료된 피세정물들이 안착되도록 좌우방향으로 배치된 복수의 가이더(142)를 갖는 제2안착부(140)가 구비된다.Meanwhile, in front of each plasma cleaning chamber 100, a first seating part 130 having a plurality of guiders 132 disposed in a lateral direction such that the objects to be discharged from the magazine by the first pusher 250 are sequentially seated. And a second seating part having a plurality of guiders 142 disposed in the left and right directions so that the cleaned objects to be discharged from the plasma cleaning chamber 100 are seated at the rear of each plasma cleaning chamber 100. 140 is provided.

그리고, 상기 제1, 제2안착부(130,140)에는 안착지점까지 피세정물을 후방이동시키는 피더(131,141)가 각 가이더(132,142)마다 설치된다.The first and second seating parts 130 and 140 are provided with feeders 131 and 141 for moving the object to be rearward to the seating point for each guider 132 and 142.

도 8에 도시된 바와 같이, 상기 제1안착부(130)의 피더(131)는 각 가이더(132)를 동시에 관통하는 회전축(131a)과, 상기 회전축(131a)에 회전력을 부여하는 구동모터(131b)와, 각 가이더(132)로 진입하는 피세정물이 놓여지도록 각 가이더(132)마다 설치되며 상기 회전축(131a)으로부터 회전력을 전달받아 진입하는 피세정물을 가이더(132)의 후방으로 피딩시키는 피딩벨트(131c)와, 상기 피딩벨트(131c) 상부에 놓여진 피세정물의 상부를 하방으로 가압하는 피딩롤러(131d)로 구성된다.As shown in FIG. 8, the feeder 131 of the first seating unit 130 has a rotation shaft 131a which simultaneously passes through each guider 132, and a driving motor that applies rotational force to the rotation shaft 131a. 131b) and each of the guiders 132 so that the objects to be entered into each guider 132 are placed and fed to the rear of the guider 132 by the rotary shaft 131a. The feeding belt 131c and the feeding roller 131d for pressing the upper part of the object to be cleaned placed above the feeding belt 131c downward.

상기 피더(131)의 전방에는 피세정물의 접근을 감지하는 센서(131e)가 부착되어 있어, 상기 센서(131e))가 피정물의 접근을 감지하면 상기 구동모터(131a)가 동작을 개시한다.The front of the feeder 131 is attached with a sensor 131e for detecting the approach of the object to be cleaned, when the sensor 131e detects the approach of the object, the driving motor 131a starts operation.

한편, 제2안착부(140)의 피더(141)는 제1안착부(130)의 피더(131)와 동일한 구성으로 이루어진다.Meanwhile, the feeder 141 of the second seating part 140 has the same configuration as the feeder 131 of the first seating part 130.

그리고, 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제1안착부(130)에는 상기 제1안착부(130)에 안착된 피세정물들을 해당 플라즈마 세정챔버(100)측으로 이동시키거나 세정완료된 피세정물을 제2안착부(140)측으로 이동시키는 피세정물 이동수단(150)이 구비된다.And, as shown in Figure 9, the first to be mounted 130, the object to be cleaned on the first seat 130 is moved to the plasma cleaning chamber 100, or the object to be cleaned The object to be moved 150 is provided to move the side to the second seating part 140.

상기 피정물 이동수단은 제1안착부(130)로부터 플라즈마 세정챔버(100)에 이르는 구간을 왕복이동하는 엘엠가이드(151)와, 상기 엘엠가이드(151)를 따라 왕복이동하는 핑거암(152)과, 상기 핑거암(152)에 선택적으로 상하회동이 가능하도록 설치되어 하향회동된 상태에서 상기 제1안착부(130)에 안착된 피세정물들을 해당 플라즈마 세정챔버(100)측으로 밀거나 세정완료된 피세정물을 제2안착부(140)측으로 밀어서 이동시키는 핑거(153)들로 구성된다.The retentive movement means includes an LM guide 151 for reciprocating a section from the first seating unit 130 to the plasma cleaning chamber 100, and a finger arm 152 for reciprocating along the LM guide 151. In addition, the finger arm 152 is installed to be selectively rotated up and down and is pushed to the plasma cleaning chamber 100 to clean the object to be seated on the first seating portion 130 in the down-rotated state It consists of the fingers 153 for moving the object to be washed by pushing the second mounting portion 140 side.

미설명부호 M은 메거진이다.Unexplained symbol M is a magazine.

<언로드유닛><Unloading Unit>

언로드유닛(200)은 세정챔버(100)의 전방에 배치된다.The unloading unit 200 is disposed in front of the cleaning chamber 100.

도 10에 도시된 바와 같이, 상기 언로드유닛(200)은 피세정물이 일정간격을 두고 탑재된 메거진들을 외부로부터 공급받아 픽업위치로 이송시키는 컨베어(210)와, 상기 컨베어(210)를 통해 픽업위치로 이송된 메거진을 픽업하는 클램프(220)와, 상기 클램프(220)가 설치되며 픽업된 메거진을 각 제1푸셔(250)측으로 수직 이 동시키는 엘리베이터(230)와, 상기 클램프(220)가 제1안착부(130)의 각 가이더(132) 전방에 위치되도록 상기 엘리베이터(230)를 순차이동시키는 수평이송로봇(240)으로 구성된다.As shown in FIG. 10, the unloading unit 200 receives a magazine loaded from the outside at a predetermined interval from the outside, and transports it to a pickup position, and picks up the conveyor 210. Clamp 220 for picking up the magazine transported to the position, the clamp 220 is installed, the elevator 230 for vertically moving the picked up magazine to the first pusher 250 side, and the clamp 220 It consists of a horizontal transfer robot 240 for sequentially moving the elevator 230 to be located in front of each guider 132 of the first seating portion (130).

상기 언로드유닛(200)은 엘리베이터(230)를 통해 세정진행 상황에 따라 하부에서 상부로 이동하면서 수평이송로봇(240)을 통해 피세정물이 일정간격을 두고 탑재된 메거진들을 각 플라즈마 세정챔버(100)의 전방으로 순차 이동시킨다.The unloading unit 200 moves through the elevator 230 from the bottom to the upper side according to the cleaning progress situation, and loads the magazines mounted at regular intervals through the horizontal transfer robot 240 to each plasma cleaning chamber 100. In order to move forward).

상기 컨베어(210)는 도면상 좌측에서 우측으로 메거진을 이송시키도록 설치된 컨베어본체(211)와, 상기 컨베어본체(211)의 후방에 위치되어 컨베어본체(211)를 따라 이송된 메거진이 안착되며 안착된 메거진을 픽업위치로 상승시키는 업로더(212)와, 상기 업로더(212)에 메거진이 안착됨을 감지하여 상기 클램프(220)측으로 픽업신호를 보내는 제1메거진센서(213)로 구성된다.The conveyor 210 is a conveyor main body 211 is installed to transport the magazine from the left to the right in the drawing, and the magazine is transported along the conveyor main body 211 is seated on the rear of the conveyor body 211 is seated An uploader 212 for raising the magazine to a pickup position, and a first magazine sensor 213 for detecting a magazine seated on the uploader 212 and sending a pickup signal to the clamp 220.

도 10 및 도 11에 도시된 바와 같이, 상기 클램프(220)는 엘리베이터(230)에 고정된 클램프블럭(221)과, 상기 클램프블럭(221) 하부에 설치된 클램핑실린더(222)와, 상기 클램핑 실린더의 양측에 연결되어 클램핑실린더(222)의 동작에 따라 이격정도가 달라지는 한 쌍의 클램퍼(223,223)와, 상기 클램핑실린더(222)를 통해 클램퍼(223,223) 사이에 수평상태로 설치되어 클램퍼(223,223) 사이에 위치되는 메거진의 상부를 탄성가압하는 탄성가압판(224)과, 상기 클램퍼(223,223)의 일측에 설치되어 탄성가압판(224)의 위치를 통해 메거진이 정상적인 클램핑위치에 도달했는지를 감지하여 상기 클램핑실린더(222)측으로 클램핑신호를 보내는 제3메거진센서(225)로 구성된다.As shown in FIGS. 10 and 11, the clamp 220 includes a clamp block 221 fixed to an elevator 230, a clamping cylinder 222 installed below the clamp block 221, and the clamping cylinder. A pair of clampers 223 and 223 connected to both sides of the clamping cylinder 222, and the separation degree varies depending on the operation of the clamping cylinder 222, and are installed in a horizontal state between the clampers 223 and 223 through the clamping cylinder 222, and the clampers 223 and 223. The clamping by detecting whether the magazine has reached the normal clamping position through the position of the elastic pressing plate 224 and the elastic pressing plate 224 to elastically press the upper portion of the magazine located between, and the clamper (223, 223) The third magazine sensor 225 sends a clamping signal to the cylinder 222 side.

상기 엘리베이터(230)는 제1푸셔(250)측으로 수직이동되도록 설치된 엘엠가이드로서, 수직가이드(231)와, 수직가이드(231)에 양단이 결합된 수직나사봉(232)과, 상기 수직나사봉(232)에 정역회전력을 부여하는 서보모터(233)로 구성될 수 있다. 상기 수직나사봉(232)에는 클램프블럭(221)이 나선체결된다. 따라서 상기 서보모터(233)가 구동되면 수직나사봉(232)이 일방향으로 회전되면서 수직나사봉(232)에 나선체결된 클램프블럭(221)이 회전하는 수직나사봉(232)의 나선을 따라 상승 또는 하강된다.The elevator 230 is an LM guide installed to move vertically toward the first pusher 250, a vertical guide 231, a vertical screw rod 232 coupled to both ends of the vertical guide 231, the vertical screw rod The servo motor 233 may be configured to give the reverse rotational power to 232. The clamp block 221 is spirally fastened to the vertical screw rod 232. Accordingly, when the servo motor 233 is driven, the vertical screw rod 232 is rotated in one direction, and the clamp screw 221 spirally fastened to the vertical screw rod 232 rotates along the spiral of the vertical screw rod 232. Or descend.

상기 수평이송로봇(240)은 엘리베이터(230)의 후방에 설치된 엘엠가이드로서, 엘리베이터(230)의 후방에 고정되어 엘리베이터(230)의 좌우방향의 수평이송을 가이드하는 수평가이드(241)와, 상기 수평가이드(241)의 양단에 결합된 수평나사봉(242)과, 상기 수평나사봉(242)에 정역회전력을 부여하는 서보모터(243)로 구성될 수 있다.The horizontal transfer robot 240 is an L guide installed at the rear of the elevator 230, the horizontal guide 241 is fixed to the rear of the elevator 230 to guide the horizontal transfer in the left and right direction of the elevator 230, and A horizontal screw rod 242 coupled to both ends of the horizontal guide 241, and the servo motor 243 to give the reverse rotation power to the horizontal screw rod 242.

본 실시예에서는 상기 엘리베이터(230)의 안정된 수평이동을 위해 상기 수평이송로봇(240)은 엘리베이터(230)의 중앙에 설치되고, 엘리베이터(230)의 하단에는 수평가이드(241)만을 설치하였다.In this embodiment, the horizontal transfer robot 240 is installed in the center of the elevator 230, the horizontal guide 241 is installed only at the lower end of the elevator 230 for the stable horizontal movement of the elevator (230).

<회전이송유닛><Rotation Transfer Unit>

회전이송유닛(300)은 언로드유닛(200)으로부터 플라즈마 세정챔버(100) 후방의 로드유닛(400)에 이르는 이송구간을 갖는 이송컨베어(310)와, 피세정물들이 모두 배출된 빈메거진이 안착되는 컨베어(320)와, 상기 컨베어(320)의 하부에 연결되어 상기 컨베어(320)를 180°수평회전시키는 턴테이블(330)로 구성된다.The rotary transfer unit 300 includes a transfer conveyor 310 having a transfer section from the unload unit 200 to the load unit 400 behind the plasma cleaning chamber 100, and an empty magazine in which all the objects to be cleaned are discharged. Conveyor 320 and the turntable 330 is connected to the lower portion of the conveyor 320 to rotate the conveyor 320 180 ° horizontally.

상기 회전이송유닛(300)은 피세정물들이 모두 배출된 빈메거진을 언로드유닛(200)으로부터 공급받아 턴테이블(330)을 통해 180°수평회전시킨 다음 이송컨베어(310)를 통해 플라즈마 세정챔버(100)의 후방으로 이송시킨다.The rotary transfer unit 300 receives an empty magazine from which all the objects to be cleaned are discharged from the unload unit 200, rotates 180 ° horizontally through the turntable 330, and then rotates the plasma cleaning chamber 100 through the transfer conveyor 310. ) To the rear.

이와 같이 빈메거진을 180°로 수평회전시키는 이유는 메거진의 전후단에 각각 설치된 피세정물 이탈방지장치(A) 때문이다. 상기 이탈방지장치(A)는 메거진의 상단에 설치된 회동부재(A1)와 이 회동부재(A1)에 연결된 차단바(A2)로 이루어지며, 이중 상기 차단바(A2)는 메거진의 상단으로부터 하단을 가로지르도록 설치되어 사용자가 상기 회동부재(A1)를 회동시키면 그 회동방향에 따라 차단바(A2)가 메거진의 해당 단부를 차단 또는 개방시키도록 회동된다.The reason why the empty magazine is horizontally rotated by 180 ° is because of the separation-avoidance devices A installed at the front and rear ends of the magazine, respectively. The separation prevention device (A) is composed of a rotating member (A1) installed on the top of the magazine and the blocking bar (A2) connected to the rotating member (A1), the blocking bar (A2) of the lower end from the top of the magazine When installed so as to cross the user rotates the rotation member (A1), the blocking bar (A2) is rotated to block or open the corresponding end of the magazine according to the rotation direction.

따라서, 도 12a에 도시된 바와 같이, 언로딩 상태에서의 메거진은 피세정물의 안정된 언로딩을 위하여 피세정물 이탈방지에 의해 전방이 차단되고 후방이 개방된 상태이므로, 후속되는 로딩동작시 세정완료된 피세정물이 빈메거진 내부로 원활하게 탑재될 수 있도록 도 12c와 같이 빈메거진을 180°로 수평회전시켜야 한다.Thus, as shown in Figure 12a, the magazine in the unloaded state is blocked in the front and the rear is opened by the separation of the object to prevent the unloading of the object to be cleaned, the cleaning is completed in the subsequent loading operation The empty magazine should be rotated horizontally to 180 ° as shown in FIG. 12C so that the object to be cleaned can be loaded smoothly into the empty magazine.

도 12a 내지 12c는 턴테이블(330)이 초기상태에서 180°수평회전되는 동작과정을 순서대로 도시한 것이다.12A to 12C sequentially illustrate an operation process in which the turntable 330 is horizontally rotated 180 ° in an initial state.

<제1푸셔><First pusher>

제1푸셔(250)는 각 플라즈마 세정챔버(100)에 대응되도록 상기 언로드유닛(200)에 복수로 설치된다.A plurality of first pushers 250 are installed in the unloading unit 200 so as to correspond to the plasma cleaning chambers 100.

도 10에 도시된 바와 같이, 상기 제1푸셔(250)는 엘리베이터(230)에 고정된 푸쉬블럭(251)과 상기 푸쉬블럭(251)에 고정된 푸쉬실린더(252)와 상기 푸쉬실린 더(252)의 로드 단부에 설치된 푸셔팁(253)으로 구성되어, 언로드유닛(200)에 의해 이동되는 매거진 내부에 탑재된 피세정물들을 플라즈마 세정챔버(100)측으로 하나씩 밀어서 배출시킨다.As shown in FIG. 10, the first pusher 250 includes a push block 251 fixed to the elevator 230, a push cylinder 252 fixed to the push block 251, and the push cylinder 252. It consists of a pusher tip 253 installed at the rod end of the), and pushes the to-be-cleaned objects mounted in the magazine moved by the unloading unit 200 toward the plasma cleaning chamber 100 one by one.

<로드유닛><Road unit>

로드유닛(400)은 세정챔버(100)의 후방에 배치된다.The rod unit 400 is disposed at the rear of the cleaning chamber 100.

상기 로드유닛(400)은 회전이송유닛(300)으로부터 이송된 빈메거진을 픽업하는 클램프(410)와, 상기 클램프(410)가 설치되며 픽업된 빈메거진을 제2푸셔(500)측으로 수직 이동시키는 엘리베이터(420)와, 상기 클램프(410)가 제2안착부(140)의 각 가이더(142) 전방에 위치되도록 상기 엘리베이터(420)를 순차이동시키는 수평이송로봇(430)과, 제2푸셔(500)에 의해 상기 빈메거진 내부로 세정완료된 피세정물이 모두 탑재된 경우, 상기 엘리베이터(420)를 통해 상기 메거진을 전달받아 외부로 배출시키는 컨베어(440)로 구성된다.The rod unit 400 includes a clamp 410 for picking up an empty magazine transferred from the rotation transfer unit 300, and the clamp 410 is installed to vertically move the picked up empty magazine toward the second pusher 500. An elevator 420, a horizontal transfer robot 430 which sequentially moves the elevator 420 so that the clamp 410 is located in front of each guider 142 of the second seating part 140, and a second pusher ( In the case where all of the cleaned objects to be cleaned inside the empty magazine by 500 are mounted, the conveyor 440 receives the magazine through the elevator 420 and discharges it to the outside.

상기 로드유닛(400)은 클램프(410)를 통해 회전이송유닛(300)으로부터 빈메거진을 공급받아 세정진행 상황에 따라 엘리베이터(420)를 통해 하부에서 상부로 이동하면서 공급받은 빈메거진들을 수평이송로봇(430)을 통해 각 플라즈마 세정챔버(100)의 후방으로 순차 이동시킨다.The load unit 400 receives the empty magazine from the rotation transfer unit 300 through the clamp 410 and moves the empty magazines supplied from the lower side to the upper side through the elevator 420 according to the cleaning process. It sequentially moves to the rear of each plasma cleaning chamber 100 through 430.

상기 컨베어(440)는 컨베어본체(441)와, 상기 컨베어본체(441)의 후방에 위치되어 엘리베이터(420)에 의해 이송된 메거진이 안착되며 안착된 메거진을 컨베어본체(441)로 하강시키는 다운로더(442)와, 상기 다운로더(442)에 메거진이 안착됨을 감지하고 상기 다운로더(442)측으로 하강신호를 보내는 제2메거진센서(443)로 구성된다.The conveyor 440 is located at the rear of the conveyor body 441 and the conveyor body 441, the magazine transported by the elevator 420 is seated, the downloader for lowering the seated magazine to the conveyor body 441 ( 442 and a second magazine sensor 443 which senses that the magazine is seated in the downloader 442 and sends a falling signal to the downloader 442.

한편, 상기 클램프(410)는 언로드유닛(200)의 클램프(220)와 동일 구성이므로 여기서의 상세한 설명은 생략하기로 한다.On the other hand, the clamp 410 is the same configuration as the clamp 220 of the unloading unit 200, so a detailed description thereof will be omitted.

<제2푸셔><2nd pusher>

제2푸셔(500)는 제2안착부(140)에 위치되어 세정이 완료된 피세정물들을 상기 로드유닛(400)의 빈메거진 내부로 밀어서 탑재시킨다.The second pusher 500 is mounted on the second seating unit 140 to clean the objects to be cleaned by pushing them into the empty magazine of the rod unit 400.

도 13에 도시된 바와 같이, 상기 제2푸셔(500)는 제2안착부(140)와 나란하게 설치된 안내레일(510)과, 상기 안내레일(510)을 따라 일정구간을 왕복이동하는 푸쉬바(520)와, 상기 푸쉬바(520)에 왕복이동력을 부여하는 푸쉬실린더(530)와, 상기 푸쉬바(520)에 선택적으로 상하회동이 가능하게 설치되며 하향회동된 상태에서 상기 제2안착부(140)에 안착된 피세정물들을 순차적으로 로드유닛(400)의 빈메거진측으로 밀어서 탑재시키는 복수의 핑거(540)로 구성된다.As shown in FIG. 13, the second pusher 500 includes a guide rail 510 installed in parallel with the second seating part 140, and a push bar reciprocating a predetermined section along the guide rail 510. 520, a push cylinder 530 that provides a reciprocating movement force to the push bar 520, and a second seat in a downwardly rotated state to be selectively installed in the push bar 520 so as to be selectively rotated up and down. It consists of a plurality of fingers (540) for mounting the object to be seated on the unit 140 by sequentially pushing to the empty magazine side of the load unit (400).

이 경우, 제2안착부(140)의 각 가이더(142)의 로드유닛(400)측 단부에는 제4메거진센서(145)가 설치되는 것이 바람직하다. 상기 제4메거진센서(145)는 감지한 빈메거진 신호를 제2푸셔(500)로 보내어 해당 핑거(153)로 하여금 피세정물 탑재동작을 수행하도록 한다. 이를 위하여, 상기 제2푸셔(500)의 각 핑거(153)에는 제4메거진센서(145)로부터 전송되는 빈메거진 신호를 감지하여 해당 핑거(153)만을 하향동작시킴으로써 피세정물 탑재동작이 핑거(153)마다 개별적으로 수행되도록 하는 센서(550)가 각각 설치된다.In this case, it is preferable that the fourth magazine sensor 145 is installed at the rod unit 400 side end of each guider 142 of the second seating part 140. The fourth magazine sensor 145 sends the detected empty magazine signal to the second pusher 500 to allow the corresponding finger 153 to perform the object to be cleaned. To this end, each finger 153 of the second pusher 500 senses an empty magazine signal transmitted from the fourth magazine sensor 145 and operates only the corresponding finger 153 to perform the mounting of the object to be cleaned. Each sensor 550 is installed 153 to be individually performed.

이와 같은 구성으로 이루어진 본 발명에 따른 반도체용 플라즈마 세정장치는 상하로 배치된 복수의 세정챔버(100)에 순차적으로 피세정물을 공급하는 언로딩 동작과, 피세정물을 공급받은 각 세정유닛에서 이루어지는 플라즈마 세정동작과, 세정이 완료된 피세정물들이 로드유닛(400)을 통해 각 세정챔버(100)로부터 순차적으로 빈메거진에 탑재되는 로드동작이 세정챔버(100)별로 번갈아가며서 연속적으로 수행된다.The plasma cleaning apparatus for semiconductors according to the present invention having such a configuration includes an unloading operation of sequentially supplying the object to be cleaned to the plurality of cleaning chambers 100 arranged up and down, and in each cleaning unit supplied with the object to be cleaned. The plasma cleaning operation is performed and the rod operations in which the cleaned objects are mounted in the empty magazine sequentially from each cleaning chamber 100 through the rod unit 400 are alternately performed for each cleaning chamber 100. .

<언로딩 동작><Unloading action>

먼저, 작업자가 피세정물을 탑재한 메거진들을 언로드유닛(200)의 컨베어본체(211)로 진입시키면, 상기 메거진들은 컨베어본체(211)를 타고 업로더(212)까지 이송된다. 업로더(212)까지 인송된 메거진은 업로더(212)에 안착되는데, 이때 업로더(212)에 설치된 제1메거진센서(213)가 메거진의 안착여부를 감지하여 정상적으로 안착된 경우에 한하여 클램프(220)측으로 픽업신호를 전송한다.First, when a worker enters the magazines on which the object to be cleaned is loaded into the conveyor body 211 of the unloading unit 200, the magazines are transferred to the uploader 212 by the conveyor body 211. The magazine sent up to the uploader 212 is seated in the uploader 212, in which case the first magazine sensor 213 installed in the uploader 212 detects whether the magazine is seated and is normally seated. 220, the pickup signal is sent.

클램프(220)가 제1메거진센서(213)로부터 픽업신호를 전달받게 되면 엘리베이터(230)는 업로더(212)에 안착된 메거진을 픽업할 수 있도록 클램프(220)를 하강시킨다. 이때, 클램프(220)의 탄성가압판(224)은 클램프(220)가 과도하게 하강할 경우 클램프블럭(221)과 메거진와의 충돌로 인해 발생되는 충격을 흡수하여 메거진을 보호한다.When the clamp 220 receives a pickup signal from the first magazine sensor 213, the elevator 230 lowers the clamp 220 to pick up a magazine seated on the uploader 212. At this time, the elastic pressing plate 224 of the clamp 220 to protect the magazine by absorbing the shock generated by the collision of the clamp block 221 and the magazine when the clamp 220 is excessively lowered.

클램프(220)가 하강하면, 클램퍼(223,223)의 일측에 설치된 제3메거진센서(225)가 탄성가압판(224)의 위치를 통해 메거진이 정상적인 클램핑위치에 도달했는지를 감지하여 메거진이 정상적인 클램핑위치에 도달한 것으로 판단될 경우에 한 하여 클램핑실린더(222)측으로 클램핑신호를 보낸다. 이에 따라, 클램핑신호를 전달받은 클램핑실린더(222)가 동작되면 클램퍼(223,223)들의 이격정도가 작아지면서 메거진은 클램핑된다.When the clamp 220 descends, the third magazine sensor 225 installed at one side of the clampers 223 and 223 senses whether the magazine has reached the normal clamping position through the position of the elastic pressure plate 224, and thus the magazine is in the normal clamping position. Only when it is determined that it has reached, the clamping signal is sent to the clamping cylinder 222 side. Accordingly, when the clamping cylinder 222 receiving the clamping signal is operated, the separation degree of the clampers 223 and 223 is reduced, and the magazine is clamped.

메거진의 클램핑이 완료되면, 엘리베이터(230)가 상승하여 픽업한 메거진을 하부에 위치한 제1푸셔(250)측으로 이동시킨다. 메거진이 제1푸셔(250)측으로 이동되면 제1푸셔(250)의 푸쉬실린더(252)가 동작되면서 푸셔팁(253)이 메거진 내부에 탑재된 피세정물을 하부에 위치된 플라즈마 세정챔버(100)측으로 밀어낸다. 이러한 제1푸셔(250)의 동작은 언로드유닛(200)의 수평이송로봇(240)이 엘리베이터(230)를 제1안착부(130)에 설치된 각 가이더(132)들측으로 순차이동시킬 때마다 순차적으로 이루어진다. 피세정물은 제1푸셔(250)에 의해 세정챔버(100)의 제1안착부(130)로 이동된다.When the clamping of the magazine is completed, the elevator 230 ascends and moves the picked up magazine to the first pusher 250 located below. When the magazine is moved to the first pusher 250 side, the push cylinder 252 of the first pusher 250 is operated and the pusher tip 253 is mounted on the inside of the magazine. To the side. The operation of the first pusher 250 is sequentially performed whenever the horizontal transfer robot 240 of the unloading unit 200 sequentially moves the elevator 230 to the guiders 132 installed in the first seating unit 130. Is done. The object to be cleaned is moved to the first seating part 130 of the cleaning chamber 100 by the first pusher 250.

이와 같은 피세정물의 언로드동작이 완료되면, 엘리베이터(230)가 상승하면서 상부에 위치된 세정챔버(100)측으로 메거진을 이동시킨다. 그리고 상부에 위치된 세정챔버(100)에 대하여 상술한 바와 같은 피세정물의 언로드동작을 반복실시한다.When the unloading operation of the object to be cleaned is completed, the elevator 230 moves up to move the magazine toward the cleaning chamber 100 located above. Then, the unloading operation of the object to be cleaned as described above is repeatedly performed on the cleaning chamber 100 located above.

상부 피세정물의 언로드동작이 실시되는 동안 하부의 세정챔버(100)는 도 3에 도시된 바와 같이 개방되고, 제1안착부(130)의 피더(131)는 가이더(132)에 안착된 피세정물을 개방된 세정챔버(100)의 내부로 진입시키도록 동작된다. 이때 피더(131)의 피딩롤러(131d)는 피더(131)의 전방에 설치된 센서(131e)에 의해 하향회동하면서 가이더(132)에 안착된 피세정물의 상부에 밀착된다. 따라서, 피세정물은 피딩벨트(131c)를 따라 후방으로 이송되고 있는 상태에서 상기 피딩롤러(131d)에 의해 피세정물을 세정챔버(100)측으로 확실하게 이송된다.During the unloading operation of the upper object to be cleaned, the lower cleaning chamber 100 is opened as shown in FIG. 3, and the feeder 131 of the first seating part 130 is mounted on the guider 132. It is operated to enter water into the open cleaning chamber (100). At this time, the feeding roller 131d of the feeder 131 is in close contact with the upper part of the object to be mounted on the guider 132 while rotating downward by the sensor 131e installed in front of the feeder 131. Therefore, the to-be-cleaned object is reliably conveyed to the cleaning chamber 100 side by the said feeding roller 131d in the state conveyed to the rear along the feeding belt 131c.

한편, 피세정물이 피더(131)에 의해 세정챔버(100)측으로 이송됨과 동시에 피세정물 이동수단(150)이 동작된다.Meanwhile, the object to be cleaned is transferred to the cleaning chamber 100 by the feeder 131 and the object to be moved 150 is operated at the same time.

피세정물 이동수단(150)의 엘엠가이드(151)는 피세정물의 전단에 핑거(153)들이 위치되도록 핑거암(152)을 이동시킨 다음 핑거암(152)을 후방으로 이동시켜 상기 핑거(153)들이 피세정물의 전단을 밀어서 세정챔버(100)의 내측에 정확한 위치에 탑재되도록 한다. 상기 핑거(153)들은 상향회동된 상태에서 핑거암(152)이 전방으로 이동될 때 피세정물의 전단을 밀어낼 수 있도록 하향회동된다.The EL guide 151 of the object to be cleaned 150 moves the finger arm 152 such that the fingers 153 are positioned at the front end of the object to be cleaned, and then moves the finger arm 152 to the rear to move the finger 153. ) Pushes the front end of the object to be cleaned so that it is mounted at the correct position inside the cleaning chamber 100. The fingers 153 are pivoted downward to push the front end of the object to be cleaned when the finger arm 152 is moved forward in the pivoted state.

<세정동작><Cleaning operation>

피세정물 이동수단(150)을 통해 피세정물이 하부의 세정챔버(100)에 탑재되면 개방된 세정챔버(100)가 닫히면서 플라즈마 세정이 이루어진다.When the object to be cleaned is mounted in the lower cleaning chamber 100 through the object to be cleaned 150, the cleaning chamber 100 is closed and plasma cleaning is performed.

한편, 하부의 세정챔버(100)에서 플라즈마 세정이 이루어지는 동안 상부의 세정챔버(100)측의 피더(131)와 피세정물 이동수단(150)이 동작하면서 상부의 세정챔버(100) 내부로 피세정물을 탑재시킨다.On the other hand, while the plasma cleaning is performed in the lower cleaning chamber 100, the feeder 131 and the object to be moved 150 on the upper cleaning chamber 100 are operated while being pumped into the upper cleaning chamber 100. Mount the wash.

하부의 세정챔버(100)의 세정작업이 완료되면 세정챔버(100)가 다시 개방되고 피세정물 이동수단(150)이 동작하면서 세정챔버(100) 내부의 세정완료된 피세정물을 세정챔버(100) 밖으로 밀어서 배출시킨다. 세정챔버(100) 밖으로 배출된 세정완료된 피세정물은 제2안착부(140)의 가이더(142)에 안착되는데, 피세정물이 가이더(142)에 안착됨과 동시에 피더(141)가 동작되면서 세정완료된 피세정물은 가이 더(142)의 후단까지 이송된다.When the cleaning operation of the lower cleaning chamber 100 is completed, the cleaning chamber 100 is opened again and the cleaning object moving means 150 operates to clean the cleaned object inside the cleaning chamber 100. ) And slide it out. The cleaned object to be discharged out of the cleaning chamber 100 is seated on the guider 142 of the second seating part 140. The object to be cleaned is seated on the guider 142 and the feeder 141 is operated to clean it. The finished object to be cleaned is transferred to the rear end of the guider 142.

한편, 피세정물이 하부의 세정챔버(100)로부터 배출되어 제2안착부(140)에 안착되는 동안 상부의 세정챔버(100)는 플라즈마세정을 실시한다. 이와 동시에, 피세정물이 모두 배출된 빈메거진은 언로드유닛(200)에 의해 회전이송유닛(300)의 컨베어(210)로 이송된다. 도 12a에 도시된 바와 같이, 빈메거진이 컨베어(320)의 상부에 놓여지면 도 12c에 도시된 바와 같이 턴테이블(330)이 180°회전한 다음, 컨베어(320)가 동작된다. 이에 따라, 빈메거진은 컨베어(320)로부터 이송컨베어(310)로 이송되며 이송컨베어(310)를 따라 로드유닛(400)까지 일괄 이송된다.Meanwhile, while the object to be cleaned is discharged from the lower cleaning chamber 100 and seated on the second seating part 140, the upper cleaning chamber 100 performs plasma cleaning. At the same time, the empty magazine in which all the objects to be cleaned are discharged is conveyed to the conveyor 210 of the rotation transfer unit 300 by the unloading unit 200. As shown in FIG. 12A, when the empty magazine is placed on top of the conveyor 320, the turntable 330 is rotated 180 ° as shown in FIG. 12C, and the conveyor 320 is operated. Accordingly, the empty magazine is transferred from the conveyor 320 to the conveying conveyor 310 and collectively conveyed to the load unit 400 along the conveying conveyor 310.

빈메거진이 로드유닛(400)측으로 이송되면 로드유닛(400)의 클램프(410)가 상기 빈메거진을 픽업하고 엘리베이터(420)와 수평이송로봇(430)이 동작하면서 빈메거진을 하부의 세정챔버(100)의 제2안착부(140)의 각 가이더(142)의 후방으로 순차이송시킨다.When the empty magazine is transported to the load unit 400 side, the clamp 410 of the load unit 400 picks up the empty magazine and the elevator 420 and the horizontal transfer robot 430 operate to clean the empty magazine with a lower cleaning chamber ( 100 is sequentially transferred to the rear of each guider 142 of the second seating portion 140.

<로딩동작><Loading operation>

빈메거진이 제2안착부(140)의 가이더(142) 후방으로 이송되면, 가이더(142)의 로드유닛(400)측 단부에 설치된 제4메거진센서(145)가 빈메거진을 감지하고 이 빈메거진 신호를 제2푸셔(500)로 보낸다. 이 빈메거진 신호는 제2푸셔(500)의 핑거(153)에 연결된 센서(550)로 전달되는데, 이 센서(550)가 해당 핑거(540)에 피세정물 탑재동작 개시신호를 보내면 해당 핑거(153)가 하향동작함과 동시에 제2푸셔(500)가 로드유닛(400)측으로 이동하면서 피세정물을 하나씩 차례로 밀어서 빈메거진에 탑재시킨다. 제2푸셔(500)와 해당핑거(540)는 다시 원래 위치로 이동하여 다음 동작을 위해 대기한다.When the empty magazine is transported to the rear of the guider 142 of the second seating part 140, the fourth magazine sensor 145 installed at the end of the rod unit 400 side of the guider 142 detects the empty magazine and the empty magazine The signal is sent to the second pusher 500. The empty magazine signal is transmitted to the sensor 550 connected to the finger 153 of the second pusher 500. When the sensor 550 sends a start signal for mounting the object to the finger 540, the corresponding finger ( At the same time as the 153 moves downward, the second pusher 500 moves toward the rod unit 400 and pushes the objects to be cleaned one by one to be mounted in the empty magazine. The second pusher 500 and the corresponding finger 540 move back to the original position and wait for the next operation.

이와 같은 로드유닛(400)의 로딩동작은 제2안착부(140)에 안착된 피세정물들에 대하여 순차적으로 반복되며, 하부의 세정챔버(100)측 로딩동작이 완료되면 로드유닛(400)은 상부의 세정챔버(100)측 로딩동작을 위해 메거진을 상승시켜 상부의 세정챔버(100)측 제2안착부(140)의 가이더(142) 후방으로 위치시킨다.The loading operation of the rod unit 400 is sequentially repeated with respect to the objects to be seated on the second seating unit 140. When the loading operation of the lower side of the cleaning chamber 100 is completed, the loading unit 400 is completed. The magazine is raised for the loading operation of the upper cleaning chamber 100 and positioned behind the guider 142 of the second seating part 140 of the upper cleaning chamber 100.

한편, 상기와 같이 하부의 세정챔버(100)측의 로딩동작이 이루어지는 동안 상부의 세정챔버(100)측에서는 세정동작이 완료되고, 세정완료된 피세정물들은 피세정물 이동수단(150)의 동작에 따라 세정챔버(100) 밖으로 배출된다. 세정챔버(100) 밖으로 배출된 세정완료된 피세정물은 제2안착부(140)의 가이더(142)에 안착되는데, 가이더(142)에 안착됨과 동시에 피더(141)가 동작되면서 세정완료된 피세정물은 가이더(142)의 후단까지 일괄이송된다.Meanwhile, while the loading operation is performed on the lower side of the cleaning chamber 100 as described above, the cleaning operation is completed on the upper side of the cleaning chamber 100, and the cleaned objects are cleaned according to the movement of the object to be cleaned 150. It is discharged out of the cleaning chamber 100. The cleaned object to be discharged out of the cleaning chamber 100 is seated on the guider 142 of the second seating part 140. The cleaned object to be cleaned while being seated on the guider 142 and the feeder 141 is operated. Is collectively transferred to the rear end of the guider 142.

그리고 가이더(142) 후단까지 이송된 피세정물들은 상부의 세정챔버(100)측 로딩동작을 위해 상승된 메거진의 내부로 순차 탑재된다. 이때의 로딩동작은 하부의 세정챔버(100)측에서 실시했던 로딩동작과 동일하게 각 피세정물들에 대하여 순차적으로 반복실시된다.The objects to be transported to the rear end of the guider 142 are sequentially loaded into the magazine which is raised for the loading operation of the upper cleaning chamber 100. At this time, the loading operation is repeatedly performed on each of the objects to be cleaned in the same manner as the loading operation performed at the lower side of the cleaning chamber 100.

상기와 같이 상부의 세정챔버(100)를 통해 세정완료된 피세정물들이 메거진에 모두 탑재되면, 로드유닛(400)의 엘리베이터(420)가 메거진을 다운로더(442)에 안착시키며, 제2메거진센서(443)가 메거진의 안착을 감지하면 다운로더(442)측으로 하강신호를 보낸다. 제2메거진센서(443)으로부터 하강신호를 전달받은 다운로더(442)는 하강되며 다운로더(442)와 함께 하강된 메거진은 컨베어(441)를 따라 외 부로 배출된다.As described above, when all the cleaned objects are cleaned in the magazine through the upper cleaning chamber 100, the elevator 420 of the load unit 400 seats the magazine on the downloader 442, and the second magazine sensor ( When 443 detects the seating of the magazine, it sends a falling signal to the downloader 442 side. The downloader 442 that receives the falling signal from the second magazine sensor 443 is lowered and the magazine lowered together with the downloader 442 is discharged to the outside along the conveyor 441.

본 발명의 반도체용 플라즈마 세정장치 상기와 같은 과정을 한 사이클로 하여 연속적으로 반복동작된다.Plasma cleaning device for semiconductors of the present invention is repeatedly operated in a cycle as described above.

본 발명은 특정한 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 특허청구범위에 의해 마련되는 본 발명의 정신이나 분야를 벗어나지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변화될 수 있으며, 이 또한 본 발명의 범위에 포함되어야 한다.While the invention has been shown and described with respect to specific embodiments thereof, it will be understood that the invention can be variously modified and modified without departing from the spirit or scope of the invention as set forth in the following claims. It should be included in the scope of the invention.

도 1은 종래의 플라즈마 세정장치의 사용상태 단면도.1 is a cross-sectional view of a state of use of a conventional plasma cleaning apparatus.

도 2는 종래의 플라즈마 세정장치를 구성하는 카세트 및 카세트 내부에 장착되는 메거진을 나타내는 조립사시도.2 is an assembled perspective view showing a cassette constituting a conventional plasma cleaning apparatus and a magazine mounted inside the cassette.

도 3은 본 발명의 플라즈마 세정장치의 사시도.3 is a perspective view of the plasma cleaning apparatus of the present invention.

도 4는 도 3의 정면도.4 is a front view of FIG. 3.

도 5는 본 발명을 구성하는 세정챔버의 바닥판 단면도.5 is a bottom plate cross-sectional view of the cleaning chamber of the present invention.

도 6은 본 발명을 구성하는 세정챔버의 바닥판 저면사시도.Figure 6 is a bottom perspective view of the bottom plate of the cleaning chamber of the present invention.

도 7은 본 발명을 구성하는 세정챔버의 히팅플레이트 평면도.7 is a plan view of the heating plate of the cleaning chamber of the present invention.

도 8은 본 발명을 구성하는 제1안착부에 설치된 피더의 구성을 나타내는 사시도.8 is a perspective view showing a configuration of a feeder provided in the first seating portion of the present invention.

도 9는 본 발명을 구성하는 제1푸셔의 사시도.9 is a perspective view of a first pusher constituting the present invention;

도 10은 본 발명을 구성하는 로드유닛의 사시도.10 is a perspective view of a rod unit constituting the present invention.

도 11은 본 발명을 구성하는 로드유닛의 클램프 측면도.Figure 11 is a side view of the clamp of the rod unit constituting the present invention.

도 12a 내지 12c는 각각 본 발명을 구성하는 회전이송유닛의 동작상태를 순서대로 나타낸 도면.12a to 12c are views showing the operating state of the rotational transfer unit constituting the present invention in order.

도 13은 본 발명을 구성하는 제2푸셔의 사시도.13 is a perspective view of a second pusher constituting the present invention;

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

100...세정챔버 110...바닥판100 cleaning chamber 110 bottom plate

111...안착부재 112...에어순환파이프111 ... seat member 112 ... air circulation pipe

112a...유입관 112b...배출관112a ... inlet pipe 112b ... outlet pipe

115...히팅유닛 115a...상부세라믹판 115 ... heating unit 115a ... top ceramic plate

115b...커버플레이트 115c...히팅플레이트115b ... Cover Plate 115c ... Heating Plate

115d...하부세라믹판 130...제1안착부115d ... lower ceramic plate 130 ... first seat

131,141...피더 131a...회전축131,141 Feeder 131a

131b...구동모터 131c...피딩벨트131b ... drive motor 131c ... feeding belt

131d...피딩롤러 132,142...가이더131d ... Feeding Roller 132,142 ... Guide

140...제2안착부 145...제4메거진센서140 2nd seat 145 4th magazine sensor

150...피세정물 이동수단 151...엘엠가이드150 ... Measures to be cleaned 151 ... LM Guide

152...핑거암 153,540...핑거152 ... Fingerarm 153,540 ... Finger

200... 언로드유닛 210,411...컨베어200 ... Unloading unit 210,411 ... Conveyor

211,441...컨베어본체 212...업로더211,441 ... Conveyor Body 212 ... Uploader

213...제1메거진센서 220,410...클램프213 1st magazine sensor 220,410 ... clamp

221...클램프블럭 222...클램핑실린더221 ... clamp block 222 ... clamping cylinder

223...클램퍼 224...탄성가압판223 ... clamper 224 ... elastic pressure plate

225...제3메거진센서 230,420...엘리베이터225 ... 3rd magazine sensor 230,420 ... elevator

240,430...수평이송로봇 250...제1푸셔240,430 ... Horizontal transport robot 250 ... 1 pusher

252,530...푸쉬실린더 300...회전이송유닛252,530 Push cylinder 300 Rotary feed unit

310...이송컨베어 320...컨베어310.Transport conveyor 320 ... Conveyor

330...턴테이블 400...로드유닛330 turntable 400 load unit

442...다운로더 443...제2메거진센서442 Downloader 443 Second magazine sensor

500...제2푸셔 510...안내레일500 ... 2nd pusher 510 ... Information rail

520...푸쉬바520 ... push bar

Claims (14)

수직으로 나란하게 배치된 복수의 플라즈마 세정챔버;A plurality of plasma cleaning chambers arranged vertically side by side; 세정진행 상황에 따라 하부에서 상부로 이동하면서 피세정물이 일정간격을 두고 탑재된 메거진들을 각 플라즈마 세정챔버의 전방으로 순차 이동시키는 언로드유닛;An unloading unit which sequentially moves the loaded objects to the front of each plasma cleaning chamber while the object to be cleaned is moved at a predetermined interval while moving from the bottom to the top according to the cleaning progress situation; 각 플라즈마 세정챔버에 대응되도록 상기 언로드유닛에 복수로 설치되어, 언로드유닛에 의해 이동되는 매거진 내부에 탑재된 피세정물들을 플라즈마 세정챔버측으로 하나씩 밀어서 배출시키는 제1푸셔;A plurality of first pushers installed in the unloading unit so as to correspond to the plasma cleaning chambers, each of the first pushers for discharging the objects to be mounted in the magazine moved by the unloading unit to the plasma cleaning chamber; 피세정물들이 모두 배출된 빈메거진을 언로드유닛로부터 공급받아 180°수평회전시킨 다음 플라즈마 세정챔버의 후방으로 이송시키는 회전이송유닛;A rotation transfer unit which receives the empty magazine from which all the objects to be cleaned are supplied from the unloading unit, rotates horizontally by 180 °, and then transfers the rear side of the plasma cleaning chamber; 상기 회전이송유닛으로부터 빈메거진을 공급받으며, 세정진행 상황에 따라 하부에서 상부로 이동하면서 공급받은 빈메거진들을 각 플라즈마 세정챔버의 후방으로 순차 이동시키는 로드유닛; 및A load unit which receives the empty magazine from the rotation transfer unit and sequentially moves the supplied empty magazines to the rear of each plasma cleaning chamber while moving from the bottom to the upper side according to the cleaning progress situation; And 세정이 완료된 피세정물들을 상기 로드유닛의 빈메거진 내부로 밀어서 탑재시키는 제2푸셔를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.And a second pusher for pushing and cleaning the cleaned objects to be loaded into the empty magazine of the load unit. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 각 플라즈마 세정챔버의 전방에는 상기 제1푸셔에 의해 매거진으로부터 배출되는 피세정물들이 차례로 안착되도록 좌우방향으로 배치된 복수의 가이더를 갖는 제1안착부가 구비되고,In front of each plasma cleaning chamber is provided with a first seating portion having a plurality of guiders disposed in the left and right directions so that the objects to be discharged from the magazine by the first pusher in turn 각 플라즈마 세정챔버의 후방에는 플라즈마 세정챔버로부터 배출되는 세정 완료된 피세정물들이 안착되도록 좌우방향으로 배치된 복수의 가이더를 갖는 제2안착부가 구비되며,Behind each plasma cleaning chamber is provided with a second seating portion having a plurality of guiders disposed in the left and right directions so that the cleaned objects to be discharged from the plasma cleaning chamber is seated, 상기 제1, 제2안착부에는 안착지점까지 피세정물을 후방이동시키는 피더가 각 가이더마다 설치되고,The first and second seats are provided with feeders for rearwardly moving the object to the seating point for each guider, 상기 제1안착부에는 상기 제1안착부에 안착된 피세정물들을 해당 플라즈마 세정챔버측으로 이동시키거나 세정완료된 피세정물을 제2안착부측으로 이동시키는 피세정물 이동수단이 구비된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.The first seating unit may include a to-be-cleaned object moving means for moving the to-be-washed object seated on the first seating part to the plasma cleaning chamber side or to move the cleaned object to the second seating part side. A plasma cleaning device for semiconductors. 제2항에 있어서The method of claim 2 상기 피더는The feeder 각 가이더를 동시에 관통하는 회전축;A rotating shaft passing through each guider at the same time; 상기 회전축에 회전력을 부여하는 구동모터;A drive motor for imparting rotational force to the rotating shaft; 각 가이더로 진입하는 피세정물이 놓여지도록 각 가이더마다 설치되며, 상기 회전축으로부터 회전력을 전달받아 진입하는 피세정물을 가이더의 후방으로 피딩시키는 피딩벨트; 및A feeding belt which is installed for each guider so that the objects to be entered into each guider are placed, and feeds the objects to be entered to the rear of the guider by receiving rotational force from the rotation shaft; And 상기 피딩벨트 상부에 놓여진 피세정물의 상부를 하방으로 가압하는 피딩롤러로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.And a feeding roller configured to press the upper portion of the object to be cleaned placed above the feeding belt downward. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 피세정물 이동수단은The means for moving the object to be cleaned 제1안착부로부터 플라즈마 세정챔버에 이르는 구간을 왕복이동하는 엘엠가이드;An LM guide reciprocating a section from the first seat to the plasma cleaning chamber; 상기 엘엠가이드를 따라 왕복이동하는 핑거암; 및A finger arm reciprocating along the LM guide; And 상기 핑거암에 선택적으로 상하회동이 가능하도록 설치되어, 하향회동된 상태에서 상기 제1안착부에 안착된 피세정물들을 해당 플라즈마 세정챔버측으로 밀거나 세정완료된 피세정물을 제2안착부측으로 밀어서 이동시키는 핑거들로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.The finger arm is installed to be selectively rotated up and down, and in the down-rotated state, the objects to be cleaned seated on the first seating part are pushed toward the plasma cleaning chamber side or the surfaces to be cleaned are pushed to the second seating part side. Plasma cleaning device for a semiconductor, characterized in that consisting of moving fingers. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 언로드유닛은The unload unit 피세정물이 일정간격을 두고 탑재된 메거진들을 외부로부터 공급받아 픽업위치로 이송시키는 컨베어;Conveyor for receiving the magazines mounted at a predetermined interval from the outside to be transported to the pickup position; 상기 컨베어를 통해 픽업위치로 이송된 메거진을 픽업하는 클램프;A clamp for picking up a magazine transferred to a pickup position through the conveyor; 상기 클램프가 설치되며, 픽업된 메거진을 각 제1푸셔측으로 수직 이동시키는 엘리베이터; 및An elevator to which the clamp is installed to vertically move the picked up magazine to each first pusher; And 상기 클램프가 제1안착부의 각 가이더 전방에 위치되도록 상기 엘리베이터를 순차이동시키는 수평이송로봇을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.And a horizontal transfer robot for sequentially moving the elevator such that the clamp is positioned in front of each guider of the first seat. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 컨베어는The conveyor 컨베어본체;Conveyor body; 상기 컨베어본체의 후방에 위치되어 컨베어본체를 따라 이송된 메거진이 안착되며, 안착된 메거진을 픽업위치로 상승시키는 업로더; 및An uploader positioned at the rear of the conveyor body to seat a magazine transported along the conveyor body and to raise the seated magazine to a pickup position; And 상기 업로더에 메거진이 안착됨을 감지하고 상기 클램프측으로 픽업신호를 보내는 제1메거진센서를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.And a first magazine sensor for detecting a magazine seated on the uploader and sending a pickup signal to the clamp side. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 로드유닛은The load unit 회전이송유닛으로부터 이송된 빈메거진을 픽업하는 클램프;Clamp for picking up the empty magazine transferred from the rotation transfer unit; 상기 클램프가 설치되며, 픽업된 빈메거진을 제2푸셔측으로 수직 이동시키는 엘리베이터;The clamp is installed, the elevator for moving the picked up empty magazine vertically to the second pusher side; 상기 클램프가 제2안착부의 각 가이더 전방에 위치되도록 상기 엘리베이터를 순차이동시키는 수평이송로봇; 및A horizontal transfer robot that sequentially moves the elevator such that the clamp is positioned in front of each guider of the second seat; And 제2푸셔에 의해 상기 빈메거진 내부로 세정완료된 피세정물이 모두 탑재된 경우, 상기 엘리베이터를 통해 상기 메거진을 전달받아 외부로 배출시키는 컨베어를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.And a conveyor for receiving the magazine through the elevator and discharging it to the outside when all of the cleansed objects cleaned in the empty magazine by the second pusher are mounted. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 컨베어는Conveyor 컨베어본체;Conveyor body; 상기 컨베어본체의 후방에 위치되어 엘리베이터에 의해 이송된 메거진이 안착되며, 안착된 메거진을 컨베어본체로 하강시키는 다운로더; 및A downloader positioned at the rear of the conveyor body to seat a magazine transported by an elevator and to lower the seated magazine to the conveyor body; And 상기 다운로더에 메거진이 안착됨을 감지하고 상기 다운로더측으로 하강신호를 보내는 제2메거진센서를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.And a second magazine sensor which senses that the magazine is seated on the downloader and sends a down signal to the downloader side. 제5항 또는 제7항에 있어서,The method according to claim 5 or 7, 상기 클램프는The clamp is 엘리베이터에 고정된 클램프블럭;A clamp block fixed to the elevator; 상기 클램프블럭 하부에 설치된 클램핑실린더;A clamping cylinder installed under the clamp block; 상기 클램핑 실린더의 양측에 연결되어 클램핑실린더의 동작에 따라 이격정도가 달라지는 한 쌍의 클램퍼;A pair of clampers connected to both sides of the clamping cylinder and varying in degree of separation according to an operation of a clamping cylinder; 상기 클램핑실린더를 통해 클램퍼 사이에 수평상태로 설치되어 클램퍼 사이에 위치되는 메거진의 상부를 탄성가압하는 탄성가압판; 및An elastic pressure plate installed in a horizontal state between the clampers through the clamping cylinder to elastically press the upper portion of the magazine positioned between the clampers; And 상기 클램퍼의 일측에 설치되어 탄성가압판의 위치를 통해 메거진이 정상적인 클램핑위치에 도달했는지를 감지하여 상기 클램핑실린더측으로 클램핑신호를 보내는 제3메거진센서로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.Plasma cleaning device for semiconductors comprising a third magazine sensor installed on one side of the clamper to detect whether the magazine has reached the normal clamping position through the position of the elastic pressure plate to send a clamping signal to the clamping cylinder. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 회전이송유닛은The rotational transfer unit 언로드유닛로부터 플라즈마 세정챔버 후방의 로드유닛에 이르는 이송구간을 갖는 이송컨베어; 및A conveying conveyor having a conveying section from the unloading unit to the load unit behind the plasma cleaning chamber; And 피세정물들이 모두 배출된 빈메거진이 안착되는 컨베어와 상기 컨베어의 하부에 연결되어 상기 컨베어를 180°수평회전시키는 턴테이블로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.A plasma cleaning apparatus for semiconductors, comprising: a conveyor on which empty magazines discharged from all objects to be cleaned are seated, and a turntable connected to a lower portion of the conveyor to rotate the conveyor 180 ° horizontally. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 제2푸셔는The second pusher 제2안착부와 나란하게 설치된 안내레일;A guide rail installed in parallel with the second seating portion; 상기 안내레일을 따라 일정구간을 왕복이동하는 푸쉬바;A push bar reciprocating a predetermined section along the guide rail; 상기 푸쉬바에 왕복이동력을 부여하는 푸쉬실린더; 및A push cylinder for imparting a reciprocating movement force to the push bar; And 상기 푸쉬바에 선택적으로 상하회동이 가능하게 설치되며, 하향회동된 상태에서 상기 제2안착부에 안착된 피세정물들을 순차적으로 로드유닛의 빈메거진측으로 밀어서 탑재시키는 복수의 핑거로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.The push bar may be selectively mounted up and down, and configured to include a plurality of fingers for sequentially mounting the objects to be mounted on the second seat in the downwardly rotated state to the empty magazine side of the rod unit. Plasma cleaning device for semiconductors. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 제2안착부의 각 가이더의 로드유닛측 단부에는 빈메거진을 감지하여 감지한 빈메거진 신호를 제2푸셔로 보내어 해당 핑거로 하여금 피세정물 탑재동작을 수행하도록 하는 제4메거진센서가 설치된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.The fourth magazine sensor is installed at the rod unit side end of each guider of the second seating unit to detect the empty magazine and send the detected empty magazine signal to the second pusher so that the corresponding finger performs the mounting operation of the object to be cleaned. A plasma cleaning device for semiconductors. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 세정챔버는 로드유닛을 통해 이송된 피세정물이 안착되는 바닥판과, 상기 바닥판과 선택적으로 합치될 수 있도록 상기 바닥판의 연직 상부에 승강가능하게 설치되며 바닥판과 합치된 상태에서는 플라즈마가 발생될 수 있도록 소정의 내부공간을 갖는 상판과, 상기 바닥판의 상부에 고정되어 언로드유닛을 통해 세정챔버 내부로 진입하는 피세정물의 양측을 지지하여 피세정물이 바닥판으로부터 이격된 상태로 안착시키는 한 쌍의 안착부재를 구비하며,The cleaning chamber is installed on the bottom plate on which the object to be transported through the rod unit is seated, and the upper and lower portions of the bottom plate so as to be selectively matched with the bottom plate. The upper plate having a predetermined internal space so as to be generated, and is fixed to the upper portion of the bottom plate to support both sides of the to-be-cleaned object entering the cleaning chamber through the unloading unit in a state in which the to-be-cleaned object is separated from the bottom plate It has a pair of mounting members for seating, 상기 바닥판에는 내부를 순환하는 히팅에어에 의해 자체발열되고 냉각에어에 의해 냉각됨으로써 피세정물을 적정온도로 가열시키는 히팅유닛이 설치된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.The bottom plate is a plasma cleaning device for semiconductors, characterized in that a heating unit for heating the object to be heated to a proper temperature by self-heating by a heating air circulating inside and cooling by a cooling air. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 히팅유닛은 안착부재가 표면에 고정된 상부세라믹판과 커버플레이트와 히팅플레이트와 하부세라믹판으로 적층구성되며,The heating unit is composed of a stacking of the upper ceramic plate and the cover plate and the heating plate and the lower ceramic plate is fixed to the mounting member, 상기 히팅플레이트의 표면에는 외부로부터 공급되는 히팅에어 또는 냉각에어 가 순환되도록 하기 위한 에어루트가 전면에 걸쳐 균일하게 형성된 것을 특징으로 하는 반도체용 플라즈마 세정장치.Surface of the heating plate is a plasma cleaning device for semiconductors, characterized in that the air route for circulating the heating air or cooling air supplied from the outside is uniformly formed over the entire surface.
KR1020080028307A 2008-03-27 2008-03-27 Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel KR100851242B1 (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080028307A KR100851242B1 (en) 2008-03-27 2008-03-27 Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel
JP2011500681A JP5214017B6 (en) 2008-03-27 2008-04-30 Plasma cleaning apparatus for semiconductor panels with cleaning chamber
PCT/KR2008/002448 WO2009119937A1 (en) 2008-03-27 2008-04-30 Plasma cleaning apparatus for a semiconductor panel with cleaning chambers
CN2008801283068A CN101980798B (en) 2008-03-27 2008-04-30 Plasma cleaning apparatus for a semiconductor panel with cleaning chambers
TW097120585A TWI368266B (en) 2008-03-27 2008-06-03 Plasma cleaning apparatus for semiconductor panel with cleaning chambers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080028307A KR100851242B1 (en) 2008-03-27 2008-03-27 Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100851242B1 true KR100851242B1 (en) 2008-08-08

Family

ID=39881434

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080028307A KR100851242B1 (en) 2008-03-27 2008-03-27 Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel

Country Status (4)

Country Link
KR (1) KR100851242B1 (en)
CN (1) CN101980798B (en)
TW (1) TWI368266B (en)
WO (1) WO2009119937A1 (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101104927B1 (en) 2010-04-29 2012-01-12 비전세미콘 주식회사 Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel
KR101312494B1 (en) 2013-01-09 2013-10-01 주식회사 디에스이엔티 Printed circuit board in and out apparatus of double type for plasma surface treating and n and out method therefor
KR101505923B1 (en) * 2013-10-01 2015-03-26 (주)대일테크 Printed circuit board process apparatus
KR20150097861A (en) * 2014-02-17 2015-08-27 (주) 예스티 Transporting apparatus for magazine accommodating semiconductor component
WO2016052808A1 (en) * 2014-10-01 2016-04-07 비전세미콘 주식회사 Semiconductor plasma cleaning apparatus
KR101723017B1 (en) * 2016-01-26 2017-04-05 아메스산업(주) Transfer Apparatus for Magazine
KR20190138203A (en) * 2018-06-04 2019-12-12 한화정밀기계 주식회사 Bonding apparatus
KR20190138204A (en) * 2018-06-04 2019-12-12 한화정밀기계 주식회사 Bonding apparatus
CN113207239A (en) * 2021-05-25 2021-08-03 江苏创源电子有限公司 Flexible circuit board cleaning device
US11955359B2 (en) 2020-06-10 2024-04-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Magazine supporting equipment and semiconductor manufacturing apparatus including the same

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102227157B (en) * 2011-04-14 2013-08-21 北京泰拓精密清洗设备有限公司 Hairbrush cleaning machine of through type
CN102240654A (en) * 2011-04-15 2011-11-16 中山市硕俪电子有限公司 Cleaner and cleaning method of PCB (Printed Circuit Board) surface
CN103785490B (en) * 2012-10-31 2016-05-11 无锡华润安盛科技有限公司 Online plasma cleaning method
CN106735701B (en) * 2016-12-28 2019-08-09 中国电子科技集团公司第二研究所 A kind of welding pre-processing device
CN111644427A (en) * 2020-06-12 2020-09-11 哈尔滨工业大学 Normal pressure plasma cleaning system

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100256215B1 (en) 1993-02-26 2000-06-01 히가시 데쓰로 Multi-chamber system
KR20050049910A (en) * 2003-11-24 2005-05-27 세메스 주식회사 Wafer transfer apparatus and wafer cleaning system using this apparatus
KR20060052347A (en) * 2004-11-01 2006-05-19 동경 엘렉트론 주식회사 Substrate processing method, system and program

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03124022A (en) * 1989-10-06 1991-05-27 Tokyo Electron Ltd Treatment device
JP3124022B2 (en) * 1990-09-27 2001-01-15 キヤノン株式会社 Ink jet recording apparatus and non-discharge detection method
JPH07335616A (en) * 1994-06-06 1995-12-22 Hitachi Ltd Wafer treatment device
JP3737897B2 (en) * 1998-12-01 2006-01-25 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ Substrate transfer mechanism of plasma cleaning equipment
KR100666546B1 (en) * 2005-06-02 2007-01-09 비전세미콘 주식회사 Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100256215B1 (en) 1993-02-26 2000-06-01 히가시 데쓰로 Multi-chamber system
KR20050049910A (en) * 2003-11-24 2005-05-27 세메스 주식회사 Wafer transfer apparatus and wafer cleaning system using this apparatus
KR20060052347A (en) * 2004-11-01 2006-05-19 동경 엘렉트론 주식회사 Substrate processing method, system and program

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101104927B1 (en) 2010-04-29 2012-01-12 비전세미콘 주식회사 Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel
KR101312494B1 (en) 2013-01-09 2013-10-01 주식회사 디에스이엔티 Printed circuit board in and out apparatus of double type for plasma surface treating and n and out method therefor
KR101505923B1 (en) * 2013-10-01 2015-03-26 (주)대일테크 Printed circuit board process apparatus
KR20150097861A (en) * 2014-02-17 2015-08-27 (주) 예스티 Transporting apparatus for magazine accommodating semiconductor component
KR101600394B1 (en) 2014-02-17 2016-03-09 (주)예스티 Transporting apparatus for magazine accommodating semiconductor component
WO2016052808A1 (en) * 2014-10-01 2016-04-07 비전세미콘 주식회사 Semiconductor plasma cleaning apparatus
KR101723017B1 (en) * 2016-01-26 2017-04-05 아메스산업(주) Transfer Apparatus for Magazine
KR20190138203A (en) * 2018-06-04 2019-12-12 한화정밀기계 주식회사 Bonding apparatus
KR20190138204A (en) * 2018-06-04 2019-12-12 한화정밀기계 주식회사 Bonding apparatus
KR102568388B1 (en) 2018-06-04 2023-08-18 한화정밀기계 주식회사 Bonding apparatus
KR102568389B1 (en) 2018-06-04 2023-08-18 한화정밀기계 주식회사 Bonding apparatus
US11955359B2 (en) 2020-06-10 2024-04-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Magazine supporting equipment and semiconductor manufacturing apparatus including the same
CN113207239A (en) * 2021-05-25 2021-08-03 江苏创源电子有限公司 Flexible circuit board cleaning device

Also Published As

Publication number Publication date
JP5214017B2 (en) 2013-06-19
CN101980798B (en) 2012-11-21
JP2011519471A (en) 2011-07-07
WO2009119937A1 (en) 2009-10-01
TW200941563A (en) 2009-10-01
CN101980798A (en) 2011-02-23
TWI368266B (en) 2012-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100851242B1 (en) Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel
KR101795431B1 (en) Material loading / unloading device of the glass molding device
KR100666546B1 (en) Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel
JP2012175043A (en) Joining device, joining system, joining method, program and computer storage medium
KR100624832B1 (en) Window Coating System for Protecting Liquid Crystal Display
KR20100045605A (en) A sawing and sorting system for semiconducdtor package
TW202313431A (en) Electronic device testing apparatus and testing method thereof
KR101479766B1 (en) Plazma cleaning Apparatus for manufactring semiconductor package
JP5214017B6 (en) Plasma cleaning apparatus for semiconductor panels with cleaning chamber
JP3617354B2 (en) Injection molding method and apparatus
KR20010088720A (en) Transfer device of chip condensers
KR101058886B1 (en) PCC feeder of plasma processing equipment
CN106796873B (en) Plasma cleaning device for semiconductor
KR101104927B1 (en) Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel
KR20090053303A (en) Tray supplying and collecting apparatus for test handler and tray transferring method using the same
KR100864262B1 (en) Apparatus of Cleaning a Wafer
WO2006115466A1 (en) Improved net block assembly
KR102274543B1 (en) saw &amp; placement system
KR102132013B1 (en) Package unloading apparatus
JP2012092390A (en) Plating apparatus, plating method, and recording medium having plating program recorded thereon
KR20170061300A (en) Substrate cleaning module and substrate transferring apparatus having the same
KR200380252Y1 (en) Window Coating System for Protecting Liquid Crystal Display
JP4027088B2 (en) Plasma cleaning apparatus and plasma cleaning method for cleaning a substrate using the plasma cleaning apparatus
KR101213709B1 (en) Plazma cleaning apparatus for asemiconductor panel with air cleaner
KR102105943B1 (en) Package unloading apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120807

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130806

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140804

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150703

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160802

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180723

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190729

Year of fee payment: 12