KR102568389B1 - Bonding apparatus - Google Patents
Bonding apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR102568389B1 KR102568389B1 KR1020180064490A KR20180064490A KR102568389B1 KR 102568389 B1 KR102568389 B1 KR 102568389B1 KR 1020180064490 A KR1020180064490 A KR 1020180064490A KR 20180064490 A KR20180064490 A KR 20180064490A KR 102568389 B1 KR102568389 B1 KR 102568389B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- unit
- chip
- head
- circuit board
- wafer
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67144—Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67259—Position monitoring, e.g. misposition detection or presence detection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
본 발명은 본딩 장치를 개시한다. 본 발명은, 복수개의 회로기판을 이송하는 복수개의 이송부와, 상기 각 이송부에서 공급되는 상기 각 회로기판에 칩을 실장하는 복수개의 헤드부와, 상기 각 헤드부와 대응되도록 배치되며, 상기 칩이 일시적으로 안착하는 복수개의 미들스테이지와, 상기 칩이 안착하는 웨이퍼가 배치되는 웨이퍼안착부와, 상기 웨이퍼안착부에 안착된 상기 웨이퍼로부터 상기 칩을 픽업하여 상기 미들스테이지 중 하나로 상기 칩을 공급하는 칩픽업부를 포함하고, 상기 각 미들스테이지는 기 설정된 위치로부터 상기 칩픽어부 사이를 선형 운동한다. The present invention discloses a bonding device. In the present invention, a plurality of transfer units for transferring a plurality of circuit boards, a plurality of heads for mounting chips on each of the circuit boards supplied from each transfer unit, and arranged to correspond to each of the head units, wherein the chips are A plurality of middle stages on which the chip is temporarily seated, a wafer seating section in which a wafer on which the chip is seated is placed, and a chip that picks up the chip from the wafer seated in the wafer seating section and supplies the chip to one of the middle stages. A pick-up unit is included, and each of the middle stages linearly moves between the chip pickers from a predetermined position.
Description
본 발명은 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 본딩 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a device, and more particularly to a bonding device.
일반적으로 본딩 장치는 웨이퍼에서 칩을 분리하여 회로기판(또는 리드 프레임)에 실장하는 장치이다. 이러한 본딩 장치는 하나의 회로기판에 칩을 실장하는 것이 일반적이다. 이때, 칩은 반도체 칩, 소형의 전자부품을 포함할 수 있다. 이러한 작동을 구현하기 위하여 본딩 장치는 웨이퍼에서 칩을 분리하는 장치, 칩을 이송하는 장치 등을 구비할 수 있다. 이때, 본딩 장치가 상기와 같이 하나의 칩을 회로기판에 실장한 후 다른 칩을 실장하거나 다른 장소에 칩을 실장하기 위하여는 상기와 같은 작업을 반복하여 수행하여야 한다. 이러한 경우 본딩 장치를 통하여 회로기판에 필요한 칩을 모두 실장하기 위하여는 많은 시간과 공정순서가 필요하다. In general, a bonding device is a device that separates a chip from a wafer and mounts it on a circuit board (or lead frame). In this bonding device, it is common to mount a chip on one circuit board. In this case, the chip may include a semiconductor chip and a small electronic component. To implement this operation, the bonding device may include a device for separating a chip from a wafer, a device for transferring a chip, and the like. At this time, in order for the bonding device to mount one chip on the circuit board as described above and then mount another chip or mount the chip in another place, the above operation must be repeatedly performed. In this case, a lot of time and process sequences are required to mount all the necessary chips on the circuit board through the bonding device.
이러한 본딩 장치와 관련된 대한민국공개특허 제1999-0045650호(발명의 명칭: 반도체칩의 본딩방법 및 그 장치, 출원인: 가부시끼가이샤 도시바, 니시무로 타이죠)에 구체적으로 개시되어 있다.Korean Patent Publication No. 1999-0045650 related to such a bonding device (Title of Invention: Semiconductor Chip Bonding Method and Device, Applicants: Toshiba Corporation, Nishimuro Taijo) has been specifically disclosed.
본 발명의 실시예들은 본딩 장치를 제공하고자 한다. Embodiments of the present invention seek to provide a bonding device.
본 발명의 일 측면은, 복수개의 회로기판을 이송하는 복수개의 이송부와, 상기 각 이송부에서 공급되는 상기 각 회로기판에 칩을 실장하는 복수개의 헤드부와, 상기 각 헤드부와 대응되도록 배치되며, 상기 칩이 일시적으로 안착하는 복수개의 미들스테이지와, 상기 칩이 안착하는 웨이퍼가 배치되는 웨이퍼안착부와, 상기 웨이퍼안착부에 안착된 상기 웨이퍼로부터 상기 칩을 픽업하여 상기 미들스테이지 중 하나로 상기 칩을 공급하는 칩픽업부를 포함하고, 상기 각 미들스테이지는 기 설정된 위치로부터 상기 칩픽업부 사이를 선형 운동하는 본딩 장치를 제공할 수 있다. In one aspect of the present invention, a plurality of transfer units for transferring a plurality of circuit boards, a plurality of heads for mounting chips on each of the circuit boards supplied from each transfer unit, and disposed to correspond to each of the head units, A plurality of middle stages on which the chip is temporarily seated, a wafer seating portion in which a wafer on which the chip is seated is placed, and the chip is picked up from the wafer seated on the wafer seating portion to transfer the chip to one of the middle stages. A bonding device may include a chip pickup unit for supplying the chip, and each of the middle stages performs a linear movement between the chip pickup units from a predetermined position.
또한, 상기 각 이송부에 배치되는 예비가열부를 더 포함할 수 있다. In addition, a pre-heating unit disposed in each transfer unit may be further included.
또한, 상기 각 이송부에 배치되며, 상기 각 회로기판 중 상기 칩이 실장되는 상기 각 회로기판 부분을 가열하는 가열부를 더 포함할 수 있다. The device may further include a heating unit disposed in each transfer unit and heating a portion of each circuit board on which the chip is mounted among the respective circuit boards.
또한, 상기 복수개의 헤드부는, 서로 이격되도록 배열되는 제1 헤드부, 제2 헤드부, 제3 헤드부 및 제4 헤드부를 포함하고, 상기 제1 헤드부 내지 제4 헤드부는 상기 제4 헤드부 또는 상기 제3 헤드부 중 하나가 작동하고, 상기 제2 헤드부 또는 상기 제1 헤드부 중 하나가 작동할 수 있다.The plurality of heads may include a first head, a second head, a third head, and a fourth head that are arranged to be spaced apart from each other, and the first to fourth heads may include the fourth head. Alternatively, one of the third head units may operate, and either the second head unit or the first head unit may operate.
또한, 상기 제4 헤드부 또는 상기 제3 헤드부 중 다른 하나가 작동하고, 상기 제2 헤드부 또는 상기 제1 헤드부 중 다른 하나가 작동할 수 있다. Also, the other one of the fourth head unit and the third head unit may operate, and the other one of the second head unit and the first head unit may operate.
또한, 상기 회로기판 및 상기 칩 중 적어도 하나를 촬영하는 비젼부를 더 포함할 수 있다. In addition, a vision unit for photographing at least one of the circuit board and the chip may be further included.
또한, 상기 복수개의 헤드부는 서로 이격되도록 배치되며, 상기 복수개의 헤드부 중 최외곽에 배치된 적어도 하나 이상의 상기 헤드부는 일 방향으로 선형 운동 가능할 수 있다. In addition, the plurality of heads are disposed to be spaced apart from each other, and at least one head disposed at an outermost part among the plurality of heads may be linearly movable in one direction.
본 발명의 다른 측면은, 복수개의 회로기판을 이송하는 복수개의 이송부와, 상기 각 이송부에서 공급되는 상기 각 회로기판에 칩을 실장하는 복수개의 헤드부와, 상기 각 헤드부와 대응되도록 배치되며, 상기 칩이 일시적으로 안착하는 복수개의 미들스테이지와, 상기 칩이 안착하는 웨이퍼가 배치되는 웨이퍼안착부와, 상기 웨이퍼안착부에 안착된 상기 웨이퍼로부터 상기 칩을 픽업하여 상기 복수개의 미들스테이지 중 하나로 상기 칩을 공급하는 칩픽업부를 포함하고, 상기 복수개의 헤드부는 서로 이격되도록 배치되며, 상기 복수개의 헤드부 중 최외곽에 배치된 적어도 하나 이상의 상기 헤드부는 일 방향으로 선형 운동 가능한 본딩 장치를 제공할 수 있다.Another aspect of the present invention is a plurality of transfer units for transferring a plurality of circuit boards, a plurality of heads for mounting chips on each of the circuit boards supplied from each transfer unit, and arranged to correspond to each of the head units, A plurality of middle stages on which the chip is temporarily seated, a wafer seating portion in which a wafer on which the chip is seated is placed, and the chip is picked up from the wafer seated on the wafer seating portion and transferred to one of the plurality of middle stages. It includes a chip pickup unit for supplying chips, the plurality of heads are disposed to be spaced apart from each other, and at least one or more heads disposed at the outermost part of the plurality of heads can provide a bonding device capable of linear movement in one direction. there is.
본 발명의 실시예들은 복수개의 칩을 이송하여 회로기판에 실장하는 것이 가능하다. In embodiments of the present invention, it is possible to transfer a plurality of chips and mount them on a circuit board.
본 발명의 실이예들은 종류가 서로 다른 칩을 이송하여 회로기판에 실장하는 것이 가능하다. In practical examples of the present invention, it is possible to transfer chips of different types and mount them on a circuit board.
본 발명의 실시예들은 작업 순서 및 작업 시간을 단축할 수 있으며, 작업 효율을 증대시키는 것이 가능하다. Embodiments of the present invention can reduce work order and work time, it is possible to increase work efficiency.
도 1은 본 발명의 일 실시에에 따른 본딩 장치를 보여주는 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 본딩 장치의 로딩부, 예비가열부 및 이송부의 일부를 보여주는 평면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 본딩 장치의 헤드부 및 언로딩부를 보여주는 평면도이다.
도 4는 도 1에 도시된 웨이퍼에서 칩을 분리하는 본딩 장치의 부분을 보여주는 평면도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 본딩 장치를 보여주는 평면도이다.1 is a plan view showing a bonding device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view showing parts of a loading part, a preheating part, and a conveying part of the bonding device shown in FIG. 1 .
3 is a plan view showing a head portion and an unloading portion of the bonding device shown in FIG. 1;
FIG. 4 is a plan view showing a portion of a bonding device for separating chips from the wafer shown in FIG. 1 .
5 is a plan view showing a bonding device according to another embodiment of the present invention.
본 발명은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 한편, 본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성요소들은 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.The present invention will become clear with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in various different forms, only these embodiments make the disclosure of the present invention complete, and common knowledge in the art to which the present invention belongs. It is provided to fully inform the holder of the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims. Meanwhile, terms used in this specification are for describing the embodiments and are not intended to limit the present invention. In this specification, singular forms also include plural forms unless specifically stated otherwise in a phrase. As used herein, "comprises" and/or "comprising" means that a stated component, step, operation, and/or element is present in the presence of one or more other components, steps, operations, and/or elements. or do not rule out additions. Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. Terms are only used to distinguish one component from another.
도 1은 본 발명의 일 실시에에 따른 본딩 장치를 보여주는 평면도이다. 도 2는 도 1에 도시된 본딩 장치의 로딩부, 예비가열부 및 이송부의 일부를 보여주는 평면도이다. 도 3은 도 1에 도시된 본딩 장치의 헤드부 및 언로딩부를 보여주는 평면도이다. 도 4는 도 1에 도시된 웨이퍼에서 칩을 분리하는 본딩 장치의 부분을 보여주는 평면도이다.1 is a plan view showing a bonding device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a plan view showing parts of a loading part, a preheating part, and a conveying part of the bonding device shown in FIG. 1 . 3 is a plan view showing a head portion and an unloading portion of the bonding device shown in FIG. 1; FIG. 4 is a plan view showing a portion of a bonding device for separating chips from the wafer shown in FIG. 1 .
도 1 내지 도 4를 참고하면, 본딩 장치(100)는 로딩부(110), 언로딩부(120), 이송부(130), 클리너(140), 예비가열부(150), 가열부(160), 제1 헤드부(171), 제2 헤드부(172), 제3 헤드부(173), 제4 헤드부(174), 미들스테이지(180), 칩픽업부(185), 웨이퍼안착부(186), 웨이퍼얼라이너(187) 웨이퍼이송부(189) 및 비젼부(미도시)를 포함할 수 있다. 1 to 4, the
로딩부(110)는 회로기판(P1,P2,P3,P4)이 외부로부터 공급될 수 있다. 이때, 로딩부(110)는 다양한 방식으로 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 이송부(130)로 공급할 수 있다. 일 실시예로써 로딩부(110)는 회로기판(P1,P2,P3,P4)이 안착되며, 안착된 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 이송부(130)가 적재하여 이동시킬 수 있다. 이때, 로딩부(110)에는 이송부(130)의 일부와 분리 가능하도록 결합하거나 이송부(130)의 일부가 로딩부(110) 상으로 이동하는 것이 가능하다. 다른 실시예로써 로딩부(110)는 안착된 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 이송부(130)로 이송시키는 로봇암 등을 구비하는 것도 가능하다. 또 다른 실시예로써 로딩부(110)는 회로기판(P1,P2,P3,P4)이 안착되며, 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 이송시키는 별도의 컨베이어, 롤러 등을 포함하는 것도 가능하다. 이러한 경우 로딩부(110)는 별도의 스테이지에 컨베이어 또는 롤러 등이 배치되어 작동함으로써 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 이송시킬 수 있다. 이때, 로딩부(110)는 상기에 한정되는 것은 아니며, 회로기판(P1,P2,P3,P4)이 안착되며, 이송부(130)로 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 공급하는 모든 형태를 포함할 수 있다. The
언로딩부(120)는 이송부(130)로 이송되는 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 칩(D)이 실장된 후 회로기판(P1,P2,P3,P4)이 이송부(130)로부터 전달될 수 있다. 이때, 언로딩부(120)는 상기에서 설명한 로딩부(110)와 유사하게 형성되어 이송부(130)로부터 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 회수할 수 있다. 언로딩부(120)는 칩(D)이 실장된 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 외부로 반출시킬 수 있다. 이때, 반출시키는 방법은 로봇암 등을 통하여 자동을 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 반출시키거나 사람 등이 수동으로 외부로 반출시키는 것도 가능하다.In the
상기와 같은 이송부(130)는 2개 구비될 수 있다. 예를 들면, 이송부(130)는 서로 이격되도록 배열되는 제1 이송부(131)와 제2 이송부(132)를 포함할 수 있다. 이때, 제1 이송부(131)는 제1 회로기판(P1) 및 제2 회로기판(P2)을 제1 방향으로 이송할 수 있으며, 제2 이송부(132)는 제3 회로기판(P3) 및 제4 회로기판(P4)을 제1 방향으로 이송할 수 있다. 이때, 제1 이송부(131)와 제2 이송부(132)는 서로 동일 또는 유사하므로 이하에서는 설명의 편의를 위하여 제1 이송부(131)를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. Two
제1 이송부(131)는 제1 회로기판(P1) 또는 제2 회로기판(P2)이 안착하는 제1 안착부(131a)와 제1 안착부(131a)가 선형 운동 가능하도록 배치된 제1 레일부(131b)를 포함할 수 있다. 이때, 제1 안착부(131a)와 제1 레일부(131b) 사이는 별도의 리니어모터가 배치되어 상기 리니어모터는 제1 안착부(131a)를 선형 운동시킬 수 있다. The
클리너(140)는 이송부(130)로부터 이격되도록 배치될 수 있다. 이때, 클리너(140)는 클리너지지부(141)와 클리너지지부(141)에 선형 운동 가능하게 배치되는 클리너헤드부(142)를 포함할 수 있다. 이때, 클리너헤드부(142)는 공기를 흡입하거나 가스를 회로기판(P1,P2,P3,P4)으로 공급함으로써 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 외면의 이물질을 제거할 수 있다. The cleaner 140 may be disposed to be spaced apart from the
예비가열부(150)는 클리너(140)와 대향하도록 배치될 수 있다. 이때, 예비가열부(150)는 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 하면에 배치되어 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 열을 가할 수 있다. 특히 예비가열부(150)는 뜨거운 가스를 회로기판(P1,P2,P3,P4)으로 공급하거나 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 빛 등을 조사하여 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 가열할 수 있다. 다른 실시예로써 예비가열부(150)는 히터를 포함하여 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 가열하는 것도 가능하다. 이때, 예비가열부(150)는 제1 이송부(131)에 대응되도록 배치되는 제1 예비가열부(151)와 제2 이송부(132)에 대응되도록 배치되는 제2 예비가열부(152)를 포함할 수 있다. The preheating
가열부(160)는 예비가열부(150)로부터 이격되도록 배치될 수 있다. 이때, 가열부(160)는 칩(D)이 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 실장될 때 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 독립적으로 가열할 수 있다. 이러한 경우 가열부(160)는 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 칩(D)이 실장되는 회로기판(P1,P2,P3,P4) 부분을 국부적으로 가열시키는 것이 가능하다. The
상기와 같은 가열부(160)는 제1 회로기판(P1)의 제1 실장위치에 대응되는 제1 가열부(161), 제2 회로기판(P2)의 제2 실장위치에 대응되는 제2 가열부(162), 제3 회로기판(P3)의 제3 실장위치에 대응되는 제3 가열부(163) 및 제4 회로기판(P4)의 제4 실장위치에 대응되는 제4 가열부(164)를 포함할 수 있다. 이러한 경우 제1 가열부(161) 내지 제4 가열부(164) 각각은 복수개 구비될 수 있다. 이때, 복수개의 제1 가열부(161)는 서로 이격되도록 배치되며, 복수개의 제2 가열부(162)는 서로 이격되도록 배치될 수 있다. 또한, 복수개의 제3 가열부(163)는 서로 이격되도록 배치되며, 복수개의 제4 가열부(164)는 서로 이격되도록 배치될 수 있다. 이러한 경우 각 가열부(160)의 자세는 칩(D)이 실장되는 부분에 배치될 수 있다. The
제1 헤드부(171) 내지 제4 헤드부(174)는 각각 서로 독립적으로 구동할 수 있다. 이때, 제1 헤드부(171) 내지 제4 헤드부(174)는 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 칩(D)을 실장시킬 수 있다. 이러한 경우 제1 헤드부(171)와 제4 헤드부(174)는 서로 동일 또는 유사하므로 제1 헤드부(171)를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. The
제1 헤드부(171)는 칩(D)을 픽업하여 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 실장하는 제1 헤드(171a)와 제1 헤드(171a)가 제1 방향과 상이한 제2 방향(예를 들면, 제1 헤드지지부(171b)의 길이 방향 또는 제1 방향과 수직한 방향)으로 선형 운동 가능하게 배치된 제1 헤드지지부(171b)를 포함할 수 있다. 제1 헤드(171a)는 칩(D)을 흡착하여 제1 회로기판(P1)에 실장할 수 있다. 이때, 제1 헤드(171a)는 칩(D)을 진공 등으로 흡착할 수 있다. 일 실시예로써 제1 헤드지지부(171b)는 제1 헤드(171a)의 선형 운동을 가이드하도록 리니어모션가이드를 포함할 수 있다. 다른 실시예로써 제1 헤드지지부(171b)는 제1 헤드(171a)의 선형 운동을 가이드하도록 배치되는 레일을 포함하는 것도 가능하다. 이때, 제1 헤드지지부(171b)는 상기에 한정되는 것은 아니며, 제1 헤드(171a)가 선형 가능하게 배치되고, 제1 헤드(171a)의 선형 운동을 가이드하는 모든 구조 및 장치를 포함할 수 있다. 상기와 같은 제1 헤드지지부(171b)는 제1 헤드(171a)와 제1 헤드지지부(171b) 사이에는 제1 헤드(171a)를 선형 운동시키는 별도의 제1 헤드구동부(171c)를 포함하는 것도 가능하다. 이러한 경우 제1 헤드구동부(171c)는 다양한 형태로 형성될 수 있다. 예를 들면, 제1 헤드구동부(171c)는 제1 헤드(171a)와 연결되는 볼스크류와, 제1 헤드지지부(171b)에 배치되며 상기 볼스크류와 연결되는 모터를 포함할 수 있다. 다른 실시예로써 제1 헤드구동부(171c)는 제1 헤드(171a)와 제1 헤드지지부(171b) 사이에 배치되어 제1 헤드(171a)와 연결되는 리니어모터를 포함할 수 있다. 또 다른 실시예로써 제1 헤드구동부(171c)는 제1 헤드지지부(171b)에 배치되어 제1 헤드(171a)와 연결되는 실린더를 포함하는 것도 가능하다. 이때, 제1 헤드구동부(171c)는 상기에 한정되는 것은 아니며, 제1 헤드(171a)와 연결되어 제1 헤드(171a)를 선형 운동시키는 모든 구조를 포함할 수 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 제1 헤드구동부(171c)가 리니어모터를 포함하는 경우를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. The
상기와 같은 제1 헤드부(171)와 제4 헤드부(174)는 제1 방향으로 선형 운동 가능할 수 있다. 예를 들면, 제1 헤드부(171)와 제4 헤드부(174)는 제1 헤드지지부(171b)의 길이 방향에 대해 수직한 방향(또는 제1 방향)으로 선형 운동할 수 있다. 즉, 제1 헤드부(171)와 제4 헤드부(174)는 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)이 이송되는 방향으로 선형 운동할 수 있다. 이러한 경우 제1 헤드부(171)와 제4 헤드부(174)는 서로 반대 방향으로 선형 운동할 수 있다. The
미들스테이지(180)는 칩(D)이 일시적으로 안착할 수 있다. 이때, 미들스테이지(180)는 복수개 구비될 수 있다. 예를 들면, 미들스테이지(180)는 2개 구비될 수 있으며, 다른 실시예로써 미들스테이지(180)는 4개 구비될 수 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 미들스테이지(180)가 제1 미들스테이지(181), 제2 미들스테이지(182), 제3 미들스테이지(183) 및 제4 미들스테이지(184)를 포함하는 경우를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. 이때, 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184)는 서로 동일 또는 유사하므로 제1 미들스테이지(181)를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. The
제1 미들스테이지(181)는 칩픽업부(185)에서 픽업된 칩(D)이 안착되어 일시적으로 저장될 수 있다. 이때, 제1 미들스테이지(181)는 다양한 방향으로 선형 운동할 수 있다. 예를 들면, 제1 미들스테이지(181)는 제1 방향과 제2 방향으로 각각 선형 운동할 수 있다. 이러한 경우 제1 미들스테이지(181)는 기 설정된 위치에서 제1 칩픽업부(185-1)가 배치된 위치까지 선형 운동할 수 있다. 특히 제1 미들스테이지(181)는 웨이퍼(W)와 칩픽업부(185) 사이의 공간에서 선형 운동할 수 있다. 제1 미들스테이지(181)는 플레이트 형태로 형성될 수 있으며, 칩(D)이 안착되도록 홈 등과 같은 칩안착부가 배치될 수 있다. 이러한 경우 제1 미들스테이지(181)는 제1 헤드부(171)와 대응되도록 배치될 수 있으며, 제1 헤드부(171)와 칩픽업부(185) 사이에 배치될 수 있다. In the first
상기와 같은 미들스테이지(180)는 스테이지구동부(196,197)에 안착되어 선형 운동할 수 있다. 이러한 경우 복수개의 미들스테이지(180)는 각 미들스테이지(180)가 독립적으로 선형 운동하는 스테이지구동부(196,197)에 배치될 수 있다. 이러한 경우 스테이지구동부(196,197)는 리니어모터, 볼스크류 및 모터를 포함하는 형태 등 다양한 형태로 형성될 수 있다. 복수개의 스테이지구동부(196,197)는 서로 대향하도록 배치되는 제1 스테이지구동부(196)와 제2 스테이지구동부(197)를 포함할 수 있다. 이때, 제1 스테이지구동부(196)는 제1 미들스테이지(181)와 제2 미들스테이지(182)와 연결될 수 있으며, 제2 스테이지구동부(197)는 제3 미들스테이지(183)와 제4 미들스테이지(184)와 연결될 수 있다.The
칩픽업부(185)는 웨이퍼(W)의 칩(D)을 픽업하여 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184) 중 하나로 공급할 수 있다. 이때 칩픽업부(185)는 제1 미들스테이지(181)와 제2 미들스테이지(182)로 칩(D)을 공급하는 제1 칩픽업부(185-1)와 제3 미들스테이지(183)와 제4 미들스테이지(184)로 칩(D)을 공급하는 제2 칩픽업부(185-2)를 포함할 수 있다. 이때, 제1 칩픽업부(185-1)와 제2 칩픽업부(185-2)는 서로 동일 또는 유사하므로 이하에서는 제1 칩픽업부(185-1)를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. The
제1 칩픽업부(185-1)는 웨이퍼(W)로부터 칩(D)을 픽업할 수 있다. 이때, 제1 칩픽업부(185-1)는 칩(D)을 픽업하는 제1 칩픽업헤드(185-1a), 제1 칩픽업헤드(185-1a)가 선형 운동하는 제1 칩픽업헤드지지부(185-1b) 및 제1 칩픽업헤드지지부(185-1b)에 배치되어 제1 칩픽업헤드(185-1a)를 제1 방향 및 제2 방향 중 적어도 하나의 방향으로 선형 운동시키고, 제1 칩픽업헤드(185-1a)를 승하강시키는 제1 칩픽업헤드구동부(미도시)를 포함할 수 있다. 이때, 제1 칩픽업헤드(185-1a)는 칩(D)을 진공 등을 통하여 고정할 수 있다. The first chip pickup unit 185-1 may pick up the chip D from the wafer W. At this time, the first chip pickup unit 185-1 includes a first chip pickup head 185-1a that picks up chips D and a first chip pickup head that linearly moves the first chip pickup head 185-1a. It is disposed on the support part 185-1b and the first chip pick-up head support part 185-1b to linearly move the first chip pick-up head 185-1a in at least one of the first direction and the second direction. 1 may include a first chip pickup head driver (not shown) that lifts and lowers the chip pickup head 185-1a. At this time, the first chip pickup head 185-1a may fix the chip D through vacuum or the like.
웨이퍼안착부(186)는 웨이퍼(W)가 안착될 수 있다. 이때, 웨이퍼안착부(186)에는 웨이퍼(W)로부터 칩(D)이 분리될 때 웨이퍼(W)를 고정시커가나 웨이퍼(W)에 일정 힘을 가함으로써 칩(D)이 쉽게 분리하도록 할 수 있다. The wafer W may be seated on the
웨이퍼얼라이너(187)는 웨이퍼(W)가 적재되는 웨이퍼카세트(188)로부터 인출되는 웨이퍼(W)를 기계적으로 정렬할 수 있다. 이때, 웨이퍼얼라이너(187)는 레일 형태로 형성되어 웨이퍼(W)의 이동 경로 상에 배치되며, 웨이퍼(W)의 이동을 가이드할 수 있다. The
웨이퍼이송부(189)는 웨이퍼(W)가 적재되는 링 형태의 웨이퍼적재부(미도시)에 안착된 웨이퍼(W)를 웨이퍼안착부(186)로 이송시킬 수 있다. 이때, 웨이퍼이송부(189)는 그립퍼 형태 등으로 형성되어 상기 웨이퍼적재부와 연결될 수 있다. 이러한 경우 웨이퍼이송부(189)는 길이 가변함으로써 상기 웨이퍼적재부와 선택적으로 결합할 수 있다. The
상기 비젼부는 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 자세 및 칩(D)의 자세 중 적어도 하나를 촬영할 수 있다. 이때, 상기 비젼부는 회로기판프리얼라인비젼부(191), 본드비젼부(192), 하부비젼부(193), 미들비젼부(194) 및 웨이퍼비젼부(195)를 포함할 수 있다. 이러한 상기 비젼부는 회로기판(P1,P2,P3,P4) 및 칩(D) 중 적어도 하나를 촬영하는 카메라를 포함할 수 있다. 이러한 상기 비젼부는 단수개 또는 복수개 구비될 수 있다. 이때, 상기 비젼부가 단수개 또는 복수개 구비되는 경우 상기 비젼부는 제1 방향 및 제2 방향 중 적어도 하나의 방향으로 선형 운동할 수 있다.The vision unit may capture at least one of the postures of the circuit boards P1, P2, P3, and P4 and the postures of the chip D. In this case, the vision unit may include a circuit board
회로기판프리얼라인비젼부(191)는 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 자세를 촬영할 수 있다. 일 실시예로써 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 하나 구비될 수 있다. 이러한 경우 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 이동 경로에 배치되도록 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 이동 경로로 이동할 수 있다. 예를 들면, 제1 회로기판(P1) 및 제2 회로기판(P2)이 이동되는 경우 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 제1 회로기판(P1) 및 제2 회로기판(P2)의 이동 경로 상에 배치될 수 있다. 또한, 제3 회로기판(P3) 및 제4 회로기판(P4)이 이동되는 경우 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 제3 회로기판(P3) 및 제4 회로기판(P4)의 이동 경로 상에 배치될 수 있다. 이때, 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 상기의 자세 상을 이동하도록 제2 방향으로 선형 운동할 수 있다. 다른 실시예로써 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 복수개 구비될 수 있으며, 각 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 제1 회로기판(P1) 및 제3 회로기판(P3)에 대응되도록 배치될 수 있다. 이때, 각 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 제1 회로기판(P1) 및 제3 회로기판(P3)에 배치된 피듀셀마크를 촬영할 수 있다. 특히 각 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 제1 회로기판(P1) 및 제3 회로기판(P3)이 각각 이동하는 경로 상에 배치될 수 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 하나 구비되는 경우를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. The circuit board
본드비젼부(192)는 헤드부(170)에 배치될 수 있다. 이때, 본드비젼부(192)는 칩(D)이 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 본딩된 상태 또는 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)을 촬영할 수 있다. 이러한 경우 본드비젼부(192)는 각 헤드부(170)에 대응하도록 배치되는 제1 본드비젼부(192a), 제2 본드비젼부(192b), 제3 본드비젼부(192c) 및 제4 본드비젼부(192d)를 포함할 수 있다. The
하부비젼부(193)는 칩(D)이 이동하는 경로 상에 배치되어 각 헤드(미도시)에 부착된 칩(D)의 자세(예를 들면, 틀어진 정도 등)를 촬영할 수 있다. 하부비젼부(193)는 복수개 구비될 수 있다. 이때, 하부비젼부(193)는 2개 구비될 수 있으며, 2개의 하부비젼부(193)는 제2 헤드(172a)의 이동 경로 상에 배치되는 제1 하부비젼부(193a)와 제3 헤드(173a)의 이동 경로 상에 배치되는 제2 하부비젼부(193b)를 포함할 수 있다. 이때, 제1 하부비젼부(193a)와 제2 하부비젼부(193b)는 위치가 고정되도록 배치될 수 있다. The
미들비젼부(194)는 미들스테이지(180) 상에 배치되어 미들스테이지(180) 상의 칩(D)의 자세를 촬영할 수 있다. 일 실시예로써 미들비젼부(194)는 하나 구비될 수 있으며, 하나의 미들비젼부(194)는 각 미들스테이지(180)에 대응되는 자세에 대응되도록 제1 방향 및 제2 방향 중 적어도 하나의 방향으로 선형 운동할 수 있다. 다른 실시예로써 미들비젼부(194)는 2개 구비될 수 있으며, 하나의 미들비젼부(194)는 제1 미들스테이지(181)와 제2 미들스테이지(182)의 상면에 배치되도록 제1 미들스테이지(181)와 제2 미들스테이지(182) 사이를 선형 운동할 수 있다. 또한, 다른 미들비젼부(194)는 제3 미들스테이지(183)와 제4 미들스테이지(184)의 상면에 배치되도록 제3 미들스테이지(183)와 제4 미들스테이지(184) 사이를 선형 운동할 수 있다. 또 다른 실시예로서 미들비젼부(194)는 4개 구비되며, 각 미들비젼부(194)는 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184) 각각에 대응되도록 배치될 수 있다. 이러한 경우 각 미들비젼부(194)는 각 미들스테이지(180)에 대응되는 자세에 고정될 수 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 미들비젼부(194)가 2개 구비되는 경우를 중심으로 상세히 설명하기로 한다. The
웨이퍼비젼부(195)는 웨이퍼안착부(186)의 상면에 배치되어 웨이퍼(W)를 촬영할 수 있다. 이때, 웨이퍼비젼부(195)에서 촬영된 웨이퍼(W)의 이미지를 근거로 웨이퍼(W) 상의 칩(D)의 불량 여부 등을 판별할 수 있다. 또한, 웨이퍼비젼부(195)는 웨이퍼(W)의 자세를 촬영할 수 있으므로 이러한 웨이퍼(W)의 이미지를 근거로 웨이퍼(W)의 자세가 기 설정된 자세와 동일한지 판별할 수 있다.The
상기와 같은 상기 비젼부에서 촬영된 칩(D)의 자세 및 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 자세 중 적어도 하나를 측정함으로써 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 자세를 조정하거나 칩(D)의 자세를 조정할 수 있다. 이러한 경우 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 자세를 조정하기 위하여 이송부(130)의 자세를 조정하거나 이송부(130)에 안착된 회로기판(P1,P2,P3,P4)의 자세를 조정할 수 있다. 또한, 칩(D)의 자세를 조정하기 위하여 각 헤드(171a,172a,173a,174a)를 조정하거나 각 미들스테이지(180) 상에서 각 칩(D)의 자세를 조정할 수 있다. 이러한 경우 회로기판(P1,P2,P3,P4) 및 칩(D) 중 적어도 하나가 안착되거나 흡착하는 구성요소는 회로기판(P1,P2,P3,P4) 및 칩(D) 중 적어도 하나의 자세를 가변시키기 위한 별도의 자세조정부를 구비할 수 있다. Adjusting the posture of the circuit board (P1, P2, P3, P4) by measuring at least one of the posture of the chip (D) and the posture of the circuit board (P1, P2, P3, P4) photographed by the vision unit as described above. Alternatively, the position of the chip (D) can be adjusted. In this case, in order to adjust the posture of the circuit boards P1, P2, P3, and P4, the posture of the
한편, 상기와 같은 본딩 장치(100)는 복수개의 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 복수개의 칩(D)을 배치한 후 칩(D)을 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 본딩할 수 있다. On the other hand, in the
구체적으로 본딩 장치(100)가 작동하는 경우 웨이퍼카세트(188)에 적재된 웨이퍼(W)를 웨이퍼이송부(189)를 통하여 인출할 수 있다. 이때, 웨이퍼(W)는 웨이퍼얼라이너(187)를 통하여 자세가 조절되고, 웨이퍼카세트(188)로부터 웨이퍼안착부(186)로 이송되어 웨이퍼안착부(186)에 적재된 상태일 수 있다. Specifically, when the
또한, 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)을 순차적으로 로딩부(110)에 안착하여 제1 이송부(131) 및 제2 이송부(132)에 공급할 수 있다. 이때, 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)이 제1 이송부(131) 또는 제2 이송부(132)를 통하여 공급되는 방법은 유사하므로 이하에서는 설명의 편의를 위하여 제2 회로기판(P2)을 제1 이송부(131)로 이송하는 방법에 대해서 상세히 설명하기로 한다. In addition, the first circuit board P1 to the fourth circuit board P4 may be sequentially seated on the
제1 이송부(131)는 제1 이송부(131)로 공급되는 제2 회로기판(P2)을 제1 예비가열부(151)의 자세에 배치할 수 있다. 회로기판프리얼라인비젼부(191)는 제2 회로기판(P2)의 피듀셀마크를 촬영할 수 있다. 촬영된 피듀셀마크와 기 설정된 이미지를 비교하여 제2 회로기판(P2)의 자세를 판단하고, 촬영된 피듀셀마크가 기 설정된 자세에 대응되도록 제2 회로기판(P2)의 자세를 조정할 수 있다. The
상기와 같이 제2 회로기판(P2)이 제1 예비가열부(151)의 상면에 배치되면, 제1 예비가열부(151)는 제2 회로기판(P2)을 가열할 수 있다. 이후 제1 이송부(131)는 제2 회로기판(P2)을 제2 실장위치에 배치할 수 있다. 이때, 제2 실장위치는 제2 가열부(162)가 배치되는 자세일 수 있다. As described above, when the second circuit board P2 is disposed on the upper surface of the first
상기와 같이 제2 실장위치에 제2 회로기판(P2)이 배치된 후 제1 회로기판(P1)도 제2 회로기판(P2)과 유사한 과정을 거쳐 제1 실장위치에 배치될 수 있다. 이때, 제1 실장위치는 제1 가열부(161)가 배치되는 자세일 수 있다. 이러한 경우 제1 안착부(131a)는 복수개 구비될 수 있으며, 각 제1 안착부(131a)는 제1 회로기판(P1) 또는 제2 회로기판(P2)이 각각 안착할 수 있다. As described above, after the second circuit board P2 is disposed at the second mounting position, the first circuit board P1 may also be disposed at the first mounting position through a process similar to that of the second circuit board P2. In this case, the first mounting position may be a posture in which the
상기와 같은 과정이 진행되는 동안 제2 이송부(132)는 제4 회로기판(P4)을 제4 실장위치에 배치하며, 제3 회로기판(P3)을 제3 실장위치에 배치할 수 있다. 이때, 제4 회로기판(P4)의 이동은 제2 회로기판(P2)의 이동과 동시에 수행될 수 있으며, 제3 회로기판(P3)의 이동은 제1 회로기판(P1)의 이동과 동시에 수행될 수 있다. While the above process is in progress, the
상기와 같이 제1 이송부(131)와 제2 이송부(132)가 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)을 각각 제1 실장위치 내지 제4 실장위치에 배치하면, 제2 회로기판(P2)과 제4 회로기판(P4)은 언로딩부(120)에 가깝게 배치되고, 제1 회로기판(P1)과 제3 회로기판(P3)은 로딩부(110)에 가깝게 배치될 수 있다. As described above, when the
상기와 같이 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)이 각각 제1 실장위치 내지 제4 실장위치에 배치되는 경우 새로운 회로기판(P1,P2,P3,P4)이 각각 제1 예비가열부(151)와 제2 예비가열부(152)에 배치될 수 있다. As described above, when the first circuit board P1 to the fourth circuit board P4 are disposed in the first to fourth mounting positions, respectively, the new circuit boards P1, P2, P3, and P4 are respectively first preliminary. It may be disposed in the
한편, 상기와 같은 작업이 진행되는 동안 웨이퍼(W)로부터 칩(D)이 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184)에 공급될 수 있다. 칩(D)이 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184)에 공급되는 방법은 서로 유사하므로 이하에서는 설명의 편의를 위하여 제4 미들스테이지(184)로 칩(D)이 공급되는 내용을 중심으로 상세히 설명하기로 한다. Meanwhile, while the above operation is in progress, the chip D may be supplied from the wafer W to the first
구체적으로 웨이퍼(W)에 배치된 칩(D)을 제2 칩픽업부(185-2)가 칩(D)을 픽업할 수 있다. 이때, 제2 칩픽업헤드(185-2a)는 수직 방향으로 선형 운동하여 칩(D)을 픽업할 수 있다. 제4 미들스테이지(184)는 제1 방향 및 제2 방향 중 적어도 하나의 방향으로 선형 운동하여 제2 칩픽업헤드(185-2a)의 하부에 배치될 수 있다. 이때, 웨이퍼비젼부(195)를 통하여 촬영된 이미지를 근거로 칩(D)의 불량여부를 판별하여 정상적인 칩(D)만을 픽업하는 것이 가능하다. 상기와 같이 칩(D)이 제4 미들스테이지(184)에 공급되는 동안 제1 칩픽업부(185-1)는 칩(D)을 제2 미들스테이지(182)에 공급할 수 있다. 이때, 제2 미들스테이지(182)는 제1 칩픽업부(185-1)의 하면에 배치되어 제1 칩픽업부(185-1)에서 공급되는 칩(D)이 안착될 수 있다. Specifically, the second chip pickup unit 185-2 may pick up the chip D disposed on the wafer W. At this time, the second chip pickup head 185-2a may linearly move in the vertical direction to pick up the chip D. The fourth
상기의 과정이 완료되면, 제2 칩픽업부(185-2)와 제1 칩픽업부(185-1)는 칩(D)을 제3 미들스테이지(183)와 제1 미들스테이지(181)에 각각 공급할 수 있다. 이때, 칩(D)을 제3 미들스테이지(183)와 제1 미들스테이지(181)에 각각 공급하는 방법은 상기에서 설명한 칩(D)이 제4 미들스테이지(184)와 제2 미들스테이지(182)에 공급되는 방법과 유사하므로 상세한 설명은 생략하기로 한다. When the above process is completed, the second chip pickup unit 185-2 and the first chip pickup unit 185-1 transfer the chip D to the third
상기와 같이 칩(D)이 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184)에 공급되면, 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184)는 각각 기 설정된 자세로 복귀할 수 있다. 이때, 미들비젼부(194)가 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184) 상에 배치된 칩(D)을 촬영할 수 있다. 이렇게 촬영된 칩(D)의 이미지와 기 설정된 이미지를 비교하여 칩(D)의 자세(예를 들면, 칩(D)의 틀어진 정도 등)를 판별하여 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184)를 자세를 가변시킴으로써 칩(D)의 자세를 기 설정된 자세에 대응시킬 수 있다. As described above, when the chip D is supplied to the first
상기와 같이 칩(D)의 자세 조정이 완료되면, 제1 헤드(171a) 내지 제4 헤드(174a)가 선형 운동하여 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184) 각각에 배치된 칩(D)을 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)으로 이송시킬 수 있다. 이때, 제1 헤드(171a) 내지 제4 헤드(174a)는 언로딩부(120)에 가까운 부분부터 이동하여 칩(D)을 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 실장할 수 있다. 예를 들면, 제4 헤드(174a)가 움직이고, 제2 헤드(172a)가 움직여 칩(D)을 제4 회로기판(P4) 및 제3 회로기판(P3)에 실장할 수 있다. 이후 제3 헤드(173a)가 움직이고, 제1 헤드(171a)가 움직여 칩(D)을 제4 회로기판(P4) 및 제3 회로기판(P3)에 칩(D)을 실장할 수 있다. As described above, when the posture adjustment of the chip D is completed, the
이후 다시 제4 헤드(174a), 제2 헤드(172a), 제3 헤드(173a) 및 제1 헤드(171a)가 순차적으로 움직여 칩(D)을 제2 회로기판(P2) 및 제1 회로기판(P1)에 실장할 수 있다. 이러한 작업이 진행되는 동안 제1 칩픽업부(185-1)와 제2 칩픽업부(185-2)가 다시 상기와 같이 칩(D)을 제1 미들스테이지(181) 내지 제4 미들스테이지(184)에 안착할 수 있다. Thereafter, the
다른 실시예로써 제4 헤드(174a)가 칩(D)을 제4 회로기판(P4)에 실장한 후 제3 헤드(173a)가 칩(D)을 제4 회로기판(P4)에 실장할 수 있다. 이때, 제3 헤드(173a)가 칩(D)을 제4 회로기판(P4)에 실장하는 경우 제2 칩픽업부(185-2)는 칩(D)을 제4 미들스테이지(184)에 안착시키는 것도 가능하다. 이후 제4 헤드(174a)는 칩(D)을 제2 회로기판(P2)에 실장할 수 있으며, 제2 칩픽업부(185-2)는 칩(D)을 제3 미들스테이지(183)에 배치할 수 있다. 제3 헤드(173a)는 제3 미들스테이지(183)의 칩(D)을 제2 회로기판(P2)에 실장할 수 있다. In another embodiment, after the
상기와 같은 작업이 진행된 후 제2 헤드(172a)가 칩(D)을 제3 회로기판(P3)에 실장하고, 제1 헤드(171a)는 칩(D)을 제3 회로기판(P3)에 실장할 수 있다. 이후 제2 헤드(172a) 및 제1 헤드(171a)는 칩(D)을 제1 회로기판(P1)에 실장하는 것도 가능하다. After the above operation is performed, the
또 다른 실시예로써 제4 헤드(174a)와 제3 헤드(173a)가 동시에 작동하여 칩(D)을 제4 회로기판(P4) 또는 제2 회로기판(P2)에 실장하는 것도 가능하며, 제2 헤드(172a)와 제1 헤드(171a)가 동시에 작동하는 것도 가능하다. As another embodiment, the
또 다른 실시예로써 제4 헤드(174a) 또는 제3 헤드(173a) 중 하나가 움직이고, 제2 헤드(172a) 또는 제1 헤드(171a) 중 하나가 움직일 수 있다. 또한, 제4 헤드(174a) 또는 제3 헤드(173a) 중 다른 하나가 움직이고, 제2 헤드(172a) 또는 제1 헤드(171a) 중 다른 하나가 움직일 수 있다. 즉, 제4 헤드(174a), 제2 헤드(172a), 제3 헤드(173a), 제1 헤드(171a)가 순차적으로 움직이거나 제3 헤드(173a), 제2 헤드(172a), 제4 헤드(174a) 및 제1 헤드(171a)가 순차적으로 움직일 수 있다. 다른 실시예로써 제4 헤드(174a), 제1 헤드(171a), 제3 헤드(173a) 및 제2 헤드(172a)가 순차적으로 움직이거나 제3 헤드(173a), 제1 헤드(171a), 제4 헤드(174a) 및 제2 헤드(172a)가 순차적으로 움직이는 것도 가능하다.As another embodiment, one of the
상기와 같이 제1 헤드(171a) 내지 제4 헤드(174a)가 작동함으로써 칩(D)을 신속하게 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)에 실장하는 것이 가능하다. As described above, by operating the
상기와 같이 제1 헤드(171a) 내지 제4 헤드(174a)가 칩(D)을 이송시키는 동안 제1 하부비젼부(193a) 및 제2 하부비젼부(193b)는 칩(D)의 자세를 촬영할 수 있다. 이때, 촬영된 칩(D)의 자세와 기 실정된 자세를 비교하여 제1 헤드(171a) 내지 제4 헤드(174a)의 자세(예를 들면, 회전, 상승 등)를 변경함으로써 칩(D)의 자세를 기 설정된 자세에 대응되도록 조절할 수 있다. As described above, while the
상기와 같은 경우 제1 하부비젼부(193a)는 제2 헤드(172a)가 선형 운동하는 경로 상에 배치되므로 제1 헤드(171a)가 선형 운동하는 경로 상 존재하지 않을 수 있다. 이러한 경우 제1 헤드부(171)가 제1 방향으로 선형 운동하여 제1 헤드(171a)가 제1 하부비젼부(193a)의 상면을 지나도록 할 수 있다. 이때, 제1 헤드(171a)는 제2 헤드(172a)의 이동 경로의 일부를 통과할 수 있다. 또한, 제2 하부비젼부(193b)도 제3 헤드(173a)가 선형 운동하는 경로 상에 배치되므로 제4 헤드부(174)를 제1 방향으로 선형 운동시킴으로써 제4 헤드(174a)의 이동 시 제4 헤드(174a)가 제2 하부비젼부(193b)의 상면을 지나도록 할 수 있다. 따라서 하나의 제1 하부비젼부(193a) 또는 하나의 제2 하부비젼부(193b)를 통하여 두 개의 헤드에 부착된 칩(D)의 자세를 확인하는 것이 가능하다. In the above case, since the first
제1 헤드(171a) 내지 제4 헤드(174a)가 칩(D)을 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)에 실장할 때 본드비젼부(192)는 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)의 자세를 측정함으로써 칩(D)이 정확한 자세에 실장되도록 제1 헤드(171a) 내지 제4 헤드(174a)의 자세를 조정할 수 있다. When the
한편, 상기와 같은 본딩 장치(100)는 상기의 경우 이외에도 칩(D)의 품질에 따라 선택적으로 제1 회로기판(P1) 내지 제4 회로기판(P4)에 칩(D)을 실장하는 것이 가능하다. On the other hand, in the
예를 들면, 웨이퍼(W)가 웨이퍼카세트(188)에 안착될 때 웨이퍼(W)의 표면을 검사하여 웨이퍼(W)의 칩(D) 상태에 대한 정보가 웨이퍼카세트(188)에 기록될 수 있다. 이러한 기록된 정보는 웨이퍼카세트(188)가 본딩 장치(100)에 공급되면, 본딩 장치(100)에 입력될 수 있다. 이를 근거로 본딩 장치(100)는 칩(D)의 품질에 따라서 실장되는 회로기판의 자세를 결정할 수 있다. 구체적으로 본딩 장치(100)는 고품질의 칩(D)은 언로딩부(120)와 근접한 제2 회로기판(P2)과 제4 회로기판(P4)에만 실장할 수 있다. 또한, 본딩 장치(100)는 저품질의 칩(D)을 로딩부(110)와 근접한 제1 회로기판(P1)과 제3 회로기판(P3)에만 실장할 수 있다. 다른 실시에로써 본딩 장치(100)는 고품질의 칩(D)을 제1 이송부(131)에 배치된 제1 회로기판(P1)과 제2 회로기판(P2)에 실장할 수 있다. 또한, 본딩 장치(100)는 저품질의 칩(D)을 제2 이송부(132)에 배치된 제3 회로기판(P3)과 제4 회로기판(P4)에 실장하는 것도 가능하다. 이때, 본딩 장치(100)는 상기에 한정되는 것은 아니며, 고품질의 칩(D)을 복수개의 회로기판(P1,P2,P3,P4) 중 일부에만 실장되고, 저품질의 칩(D)을 복수개의 회로기판(P1,P2,P3,P4) 중 나머지에만 실장되도록 제어하는 것이 가능하다. 따라서 본딩 장치(100)는 사용자의 요구, 제품의 사용 환경에 따라서 고품질의 칩(D)만 실장되거나 저품질의 칩(D)만 실장된 회로기판을 공급하는 것이 가능하다. For example, when the wafer (W) is seated on the
상기의 경우 이외에도 본딩 장치(100)는 서로 종류가 상이한 칩(D)을 각 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 실장하는 것도 가능하다. 예를 들면, 제1 헤드(171a)와 제3 헤드(173a)는 A종류의 칩(D)을 실장하고 제2 헤드(172a)와 제4 헤드(174a)는 A종류의 칩(D)과 상이한 B종류의 칩(D)을 실장하는 것이 가능하다. 이러한 경우 웨이퍼(W)는 A종류의 칩(D)을 포함하는 웨이퍼(W)와 B종류의 칩(D)을 포함하는 웨이퍼(W)가 순차적으로 공급되거나 동시에 공급될 수 있다. 특히 이러한 경우 칩픽업부(185), 웨이퍼안착부(186), 웨이퍼얼라이너(187) 및 웨이퍼이송부(189)는 복수개 구비될 수 있으며, 복수개의 칩픽업부(185), 웨이퍼안착부(186), 웨이퍼얼라이너(187) 및 웨이퍼이송부(189)는 서로 적층되는 형태로 배열되거나 서로 대향하도록 배치될 수 있다. In addition to the above case, the
따라서 본딩 장치(100)는 동시에 복수개의 회로기판(P1,P2,P3,P4)에 칩(D)을 개별적이면서 독립적으로 실장하는 것이 가능하므로 작업 효율을 증대할 수 있다. Therefore, since the
또한, 본딩 장치(100)는 동일한 장치에서 다양한 형태의 칩(D)을 동시에 실장하는 것이 가능함으로써 칩(D)을 정확한 위치에 실장하는 것이 가능하다. In addition, since the
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 본딩 장치를 보여주는 평면도이다.5 is a plan view showing a bonding device according to another embodiment of the present invention.
도 5를 참고하면, 본딩 장치(200)는 로딩부(210), 언로딩부(220), 이송부(230), 클리너(240), 예비가열부(250), 가열부(260), 헤드부(270), 미들스테이지(280), 칩픽업부(285), 웨이퍼안착부(286), 웨이퍼얼라이너(287), 웨이퍼이송부(289) 및 비젼부(미표기)를 포함할 수 있다. 이때, 로딩부(210), 언로딩부(220), 이송부(230), 클리너(240), 예비가열부(250), 가열부(260), 헤드부(270), 웨이퍼안착부(286), 웨이퍼얼라이너(287) 및 웨이퍼이송부(289)는 상기 도 1 내지 도 4에서 설명한 것과 동일 또는 유사하므로 상세한 설명은 생략하기로 한다. Referring to FIG. 5 , the
상기 비젼부는 회로기판프리얼라인비젼부(291), 본드비젼부(292), 하부비젼부(293), 미들비젼부(294) 및 웨이퍼비젼부(295)를 포함할 수 있다. 이때, 회로기판프리얼라인비젼부(291), 본드비젼부(292), 하부비젼부(293), 미들비젼부(294) 및 웨이퍼비젼부(295)는 상기 도 1 내지 도 4에서 설명한 것과 동일 또는 유사하므로 상세한 설명은 생략하기로 한다. The vision unit may include a circuit board
미들스테이지(280) 및 칩픽업부(285)는 상기 도 1 내지 도 4에서 설명한 것과 같이 복수개 구비될 수 있다. 이때, 복수개의 칩픽업부(285)는 칩픽업헤드(미표기)를 제1 방향 및 제2 방향 중 적어도 하나로 이동시킬 수 있다. 이때, 복수개의 미들스테이지(280)는 기 설정된 위치에 고정되도록 배치될 수 있다. 이러한 경우 각 칩픽업부(285)는 각 칩픽업헤드를 제1 방향 및 제2 방향 중 적어도 하나로 이동시키고, 승하강 운동시키는 칩피업헤드구동부(미도시)를 구비할 수 있다. 이러한 경우 상기 칩픽업헤드구동부는 리니어모터, 볼스크류 및 모터를 포함하는 형태 등 다양한 형태로 형성될 수 있다. The
상기와 같은 경우 본딩 장치(200)가 작동하는 경우 칩이 각 미들스테이지(280)로 공급될 때 각 칩픽업부(285)는 칩(D)을 각 웨이퍼(미표기)로부터 분리하여 각 미들스테이지(280)에 공급할 수 있다. 이후 칩(D)을 회로기판(P)에 실장하는 방법은 상기에서 설명한 것과 동일 또는 유사하게 수행될 수 있다. In the above case, when the
따라서 본딩 장치(200)는 복수개의 칩(D)을 이송하여 회로기판(P)에 실장하는 것이 가능하다. Therefore, the
본딩 장치(200)는 종류가 서로 다른 칩(D)을 이송하여 회로기판(P)에 실장하는 것이 가능하다. The
본딩 장치(200)는 작업 순서 및 작업 시간을 단축할 수 있으며, 작업 효율을 증대시키는 것이 가능하다.
비록 본 발명이 상기 언급된 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정이나 변형을 하는 것이 가능하다. 따라서 첨부된 특허청구의 범위에는 본 발명의 요지에 속하는 한 이러한 수정이나 변형을 포함할 것이다.Although the present invention has been described with respect to the preferred embodiments mentioned above, various modifications and variations are possible without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, the scope of the appended claims will include such modifications and variations as long as they fall within the gist of the present invention.
100,200: 본딩 장치
110,210: 로딩부
120,220: 언로딩부
130,230: 이송부
140,240: 클리너
150,250: 예비가열부
160,260: 가열부
170,270: 헤드부
180,280: 미들스테이지
185,285: 칩픽업부
186,286: 웨이퍼안착부
187,287: 웨이퍼얼라이너
188,288: 웨이퍼카세트
189,289: 웨이퍼이송부
191,291: 회로기판프리얼라인비젼부
192,292: 본드비젼부
193,293: 하부비젼부
194,294: 미들비젼부
195,295: 웨이퍼비젼부100,200: bonding device
110,210: loading unit
120,220: unloading unit
130,230: transfer unit
140,240: Cleaner
150,250: pre-heating unit
160,260: heating unit
170,270: head part
180,280: middle stage
185,285: chip pickup unit
186,286: wafer seating part
187,287: wafer aligner
188,288: wafer cassette
189,289: wafer transfer unit
191,291: circuit board pre-line vision unit
192,292: Bond vision department
193,293: lower vision unit
194,294: middle vision part
195,295: wafer vision unit
Claims (8)
상기 각 이송부에서 공급되는 상기 각 회로기판에 칩을 실장하는 복수개의 헤드부;
상기 각 헤드부와 대응되도록 배치되며, 상기 칩이 일시적으로 안착하는 복수개의 미들스테이지;
상기 칩이 안착하는 웨이퍼가 배치되는 웨이퍼안착부;
상기 웨이퍼안착부에 안착된 상기 웨이퍼로부터 상기 칩을 픽업하여 상기 복수개의 미들스테이지 중 하나로 상기 칩을 공급하는 칩픽업부;
상기 각 이송부로부터 이격되도록 배치되어 상기 각 회로기판의 외면의 이물질을 제거하는 클리너;
상기 클리너와 대향하도록 상기 각 이송부에 배치되어 상기 각 회로기판에 열을 가하는 예비가열부; 및
상기 예비가열부로부터 이격되도록 상기 각 이송부에 배치되며, 상기 각 회로기판 중 상기 칩이 실장되는 상기 각 회로기판 부분을 가열하는 가열부;를 포함하고,
상기 각 미들스테이지는 기 설정된 위치로부터 상기 칩픽업부 사이를 선형 운동하는 본딩 장치.A plurality of transfer units for transferring a plurality of circuit boards;
a plurality of head units for mounting chips on each of the circuit boards supplied from each transfer unit;
a plurality of middle stages arranged to correspond to each of the heads and on which the chips are temporarily seated;
a wafer seating portion in which a wafer on which the chip is seated is placed;
a chip pick-up unit which picks up the chip from the wafer seated on the wafer seating unit and supplies the chip to one of the plurality of middle stages;
a cleaner that is disposed to be spaced apart from each of the transfer units and removes foreign substances from the outer surface of each of the circuit boards;
a pre-heating unit disposed in each of the conveying units to face the cleaner and applying heat to each of the circuit boards; and
A heating unit disposed in each of the transfer units to be spaced apart from the preheating unit and heating each of the circuit board portions on which the chip is mounted, among the circuit boards,
Each of the middle stages performs a linear movement between the chip pickup units from a predetermined position.
상기 복수개의 헤드부는, 서로 이격되도록 배열되는 제1 헤드부, 제2 헤드부, 제3 헤드부 및 제4 헤드부;를 포함하고,
상기 제1 헤드부 내지 제4 헤드부는 상기 제4 헤드부 또는 상기 제3 헤드부 중 하나가 작동하고, 상기 제2 헤드부 또는 상기 제1 헤드부 중 하나가 작동하는 본딩 장치. According to claim 1,
The plurality of head parts include a first head part, a second head part, a third head part, and a fourth head part arranged to be spaced apart from each other,
The bonding device wherein one of the fourth head part and the third head part operates, and one of the second head part and the first head part operates in the first to fourth head parts.
상기 제4 헤드부 또는 상기 제3 헤드부 중 다른 하나가 작동하고, 상기 제2 헤드부 또는 상기 제1 헤드부 중 다른 하나가 작동하는 본딩 장치. According to claim 4,
A bonding device in which another one of the fourth head part or the third head part operates, and the other one of the second head part and the first head part operates.
상기 회로기판 및 상기 칩 중 적어도 하나를 촬영하는 비젼부;를 더 포함하는 본딩 장치.According to claim 1,
The bonding device further comprising a vision unit for photographing at least one of the circuit board and the chip.
상기 복수개의 헤드부는 서로 이격되도록 배치되며, 상기 복수개의 헤드부 중 최외곽에 배치된 적어도 하나 이상의 상기 헤드부는 일 방향으로 선형 운동 가능한 본딩 장치. According to claim 1,
The plurality of head parts are disposed to be spaced apart from each other, and at least one or more heads disposed at an outermost part among the plurality of head parts are linearly movable in one direction.
상기 각 이송부에서 공급되는 상기 각 회로기판에 칩을 실장하는 복수개의 헤드부;
상기 각 헤드부와 대응되도록 배치되며, 상기 칩이 일시적으로 안착하는 복수개의 미들스테이지;
상기 칩이 안착하는 웨이퍼가 배치되는 웨이퍼안착부;
상기 웨이퍼안착부에 안착된 상기 웨이퍼로부터 상기 칩을 픽업하여 상기 복수개의 미들스테이지 중 하나로 상기 칩을 공급하는 칩픽업부;
상기 각 이송부로부터 이격되도록 배치되어 상기 각 회로기판의 외면의 이물질을 제거하는 클리너;
상기 클리너와 대향하도록 상기 각 이송부에 배치되어 상기 각 회로기판에 열을 가하는 예비가열부; 및
상기 예비가열부로부터 이격되도록 상기 각 이송부에 배치되며, 상기 각 회로기판 중 상기 칩이 실장되는 상기 각 회로기판 부분을 가열하는 가열부;를 포함하고,
상기 복수개의 헤드부는 서로 이격되도록 배치되며, 상기 복수개의 헤드부 중 최외곽에 배치된 적어도 하나 이상의 상기 헤드부는 일 방향으로 선형 운동 가능한 본딩 장치.A plurality of transfer units for transferring a plurality of circuit boards;
a plurality of head units for mounting chips on each of the circuit boards supplied from each transfer unit;
a plurality of middle stages arranged to correspond to each of the heads and on which the chips are temporarily seated;
a wafer seating portion in which a wafer on which the chip is seated is disposed;
a chip pick-up unit which picks up the chip from the wafer seated on the wafer seating unit and supplies the chip to one of the plurality of middle stages;
a cleaner that is disposed to be spaced apart from each of the transfer units and removes foreign substances from the outer surface of each of the circuit boards;
a pre-heating unit disposed in each of the conveying units to face the cleaner and applying heat to each of the circuit boards; and
A heating unit disposed in each of the transfer units to be spaced apart from the preheating unit and heating each of the circuit board portions on which the chip is mounted, among the circuit boards,
The plurality of head parts are disposed to be spaced apart from each other, and at least one or more heads disposed at an outermost part among the plurality of head parts are linearly movable in one direction.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180064490A KR102568389B1 (en) | 2018-06-04 | 2018-06-04 | Bonding apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180064490A KR102568389B1 (en) | 2018-06-04 | 2018-06-04 | Bonding apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190138204A KR20190138204A (en) | 2019-12-12 |
KR102568389B1 true KR102568389B1 (en) | 2023-08-18 |
Family
ID=69003823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020180064490A KR102568389B1 (en) | 2018-06-04 | 2018-06-04 | Bonding apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102568389B1 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102489320B1 (en) * | 2022-06-25 | 2023-01-18 | (주)케이셈테크놀러지 | Semiconductor die bonding apparatus and method for cantilever type |
CN117612980B (en) * | 2024-01-23 | 2024-04-02 | 天津中科晶禾电子科技有限责任公司 | Wafer bonding device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005197589A (en) * | 2004-01-09 | 2005-07-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Component mounting method and device thereof |
KR100851242B1 (en) | 2008-03-27 | 2008-08-08 | 비전세미콘 주식회사 | Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11163047A (en) | 1997-11-27 | 1999-06-18 | Toshiba Corp | Manufacture of semiconductor device and apparatus therefor |
KR100864855B1 (en) * | 2007-03-08 | 2008-10-23 | (주)창조엔지니어링 | In-line Processing Apparatus of Cleaning and Bonding for Mounting Semiconductor Device on the Substrate |
KR100929197B1 (en) * | 2007-12-14 | 2009-12-01 | 세크론 주식회사 | Semiconductor chip bonding device and semiconductor chip bonding method using same |
KR20120096727A (en) * | 2011-02-23 | 2012-08-31 | 삼성테크윈 주식회사 | Apparatus and method for picking up and mounting bare die |
KR20130117191A (en) * | 2012-04-18 | 2013-10-25 | 한미반도체 주식회사 | Transfering device of processing unit |
KR20170042955A (en) * | 2015-10-12 | 2017-04-20 | 세메스 주식회사 | Die bonding apparatus |
-
2018
- 2018-06-04 KR KR1020180064490A patent/KR102568389B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005197589A (en) * | 2004-01-09 | 2005-07-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Component mounting method and device thereof |
KR100851242B1 (en) | 2008-03-27 | 2008-08-08 | 비전세미콘 주식회사 | Plazma cleaning apparatus for a semiconductor panel |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20190138204A (en) | 2019-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8819929B2 (en) | Component mounting method | |
KR100632378B1 (en) | In-line auto fog bonding m/c | |
TWI259542B (en) | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method | |
KR101874756B1 (en) | Bonding apparatus and bonding method | |
JP4308772B2 (en) | Component supply head device, component supply device, component mounting device, and mounting head unit moving method | |
KR102568389B1 (en) | Bonding apparatus | |
JP5212520B2 (en) | Electronic component handler and handler | |
JP5934919B2 (en) | Tray replacement method and component mounting apparatus | |
TW200423270A (en) | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method | |
JP2003273167A (en) | Electronic component loading device and electronic component loading method | |
JP2009032825A (en) | Backup plate forming apparatus, surface mounting machine with the same, and backup plate forming method | |
KR102568388B1 (en) | Bonding apparatus | |
JP6862015B2 (en) | Mounting device | |
US10784130B2 (en) | Bonding apparatus | |
JP3661658B2 (en) | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method | |
JP2003133797A (en) | Part mounting apparatus | |
JP3932501B2 (en) | Ball mounting device | |
JP3763283B2 (en) | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method | |
JP7579295B2 (en) | Mounting System | |
KR102663549B1 (en) | Unnecessary matter removing apparatus of conductive particle mounting board | |
JP4222179B2 (en) | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method | |
KR200398244Y1 (en) | In-line auto fog bonding m/c | |
JP2004363399A (en) | Die bonding method of electronic component and die bonder | |
JP4105022B2 (en) | Conductive ball array mounting method and apparatus, and bump forming method and apparatus | |
JP5099098B2 (en) | Component mounting apparatus and component mounting method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
X701 | Decision to grant (after re-examination) | ||
GRNT | Written decision to grant |