KR100845284B1 - 두개의 닙코우 디스크를 이용한 공초점 주사 현미경 - Google Patents
두개의 닙코우 디스크를 이용한 공초점 주사 현미경 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100845284B1 KR100845284B1 KR1020040075996A KR20040075996A KR100845284B1 KR 100845284 B1 KR100845284 B1 KR 100845284B1 KR 1020040075996 A KR1020040075996 A KR 1020040075996A KR 20040075996 A KR20040075996 A KR 20040075996A KR 100845284 B1 KR100845284 B1 KR 100845284B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- nipkou
- scanning microscope
- light
- confocal scanning
- disk
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0016—Technical microscopes, e.g. for inspection or measuring in industrial production processes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/0044—Scanning details, e.g. scanning stages moving apertures, e.g. Nipkow disks, rotating lens arrays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
Description
Claims (16)
- 광원;상기 광원으로부터 발생한 빛을 일정 방향으로 조명하는 조명장치;상기 조명장치에서 입사되는 빛이 단일개구를 통과한 빛의 형태로 진행하도록 슬릿 형태의 개구가 형성되고 서로 다른 속도로 회전되는 2개의 닙코우 디스크;상기 닙코우 디스크를 통과한 빛이 시편 상에 결상되도록 하는 제1광학계;시편에서 반사된 후 다시 상기 닙코우 디스크를 통과한 반사광이 결상되도록 하는 제2광학계를 포함하는 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제1항에 있어서,상기 조명장치는 광원으로부터 입사되는 빛을 평행빔으로 바꿔주는 시준렌즈와; 상기 시준렌즈에서 입사되는 빛의 방향을 전환시켜주는 광분할기를 포함하는 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제1항에 있어서,상기 두개의 닙코우 디스크는 서로 인접하여 겹치도록 설치된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제1항에 있어서,상기 두개의 닙코우 디스크 사이에는 이들 사이를 통과하는 빛을 안내하는 중계광학계가 구비된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 두 닙코우 디스크는 그 회전축이 일직선 상에 있도록 설치된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제1항에 있어서,상기 제1광학계는 상기 닙코우 디스크들을 통과한 빛을 평행광으로 만들어 주는 튜브렌즈와, 상기 튜브렌즈를 통과한 평행광을 집광하는 대물렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제1항에 있어서,상기 제2광학계는 상기 닙코우 디스크들을 통과한 반사광을 평행광으로 만들어주는 제1렌즈와, 상기 제1렌즈를 통과한 평행광을 집광하는 제2렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제1항에 있어서,상기 공초점 주사 현미경은 상기 제2광학계에서 결상되는 상을 전기적 신호로 변환하여 검출하기 위한 광전검출기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 슬릿 형태의 개구가 형성된 2개의 닙코우 디스크를 포함하고, 상기 2개의 닙코우 디스크는 이들의 개구를 통과한 빛이 단일개구를 통과한 빛의 형태로 진행하도록 배치된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제10항에 있어서,상기 두 닙코우 디스크는 서로 인접하여 겹치도록 설치된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제10항에 있어서,상기 두 닙코우 디스크 사이에는 중계광학계가 구비된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제10항에 있어서,상기 두 닙코우 디스크는 서로 다른 속도로 회전하는 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제10항에 있어서,상기 두 닙코우 디스크는 그 회전축이 일직선 상에 있도록 설치된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 슬릿 형태의 개구가 형성된 2개의 닙코우 디스크를 포함하고,상기 두 닙코우 디스크에 형성된 개구의 조합에 의해 공통개구가 형성되며, 상기 공통개구의 위치가 가변되도록 상기 닙코우 디스크가 회전가능하게 설치된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
- 제15항에 있어서,상기 두 닙코우 디스크 사이에는 중계광학계가 구비된 것을 특징으로 하는 공초점 주사 현미경.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040075996A KR100845284B1 (ko) | 2004-09-22 | 2004-09-22 | 두개의 닙코우 디스크를 이용한 공초점 주사 현미경 |
US11/106,569 US7388712B2 (en) | 2004-09-22 | 2005-04-15 | Confocal scanning microscope using two Nipkow disks |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040075996A KR100845284B1 (ko) | 2004-09-22 | 2004-09-22 | 두개의 닙코우 디스크를 이용한 공초점 주사 현미경 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060027145A KR20060027145A (ko) | 2006-03-27 |
KR100845284B1 true KR100845284B1 (ko) | 2008-07-09 |
Family
ID=36073652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040075996A KR100845284B1 (ko) | 2004-09-22 | 2004-09-22 | 두개의 닙코우 디스크를 이용한 공초점 주사 현미경 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7388712B2 (ko) |
KR (1) | KR100845284B1 (ko) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008047893A1 (fr) * | 2006-10-19 | 2008-04-24 | Olympus Corporation | Microscope |
SG173902A1 (en) * | 2009-03-05 | 2011-09-29 | Agency Science Tech & Res | A method and system for enhancing a microscopy image |
JP2011085759A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点光スキャナ |
KR101241439B1 (ko) * | 2010-11-26 | 2013-03-18 | 주식회사 나노프로텍 | 마이크로 렌즈 어레이를 이용한 공초점 측정 장치 |
US9297999B2 (en) | 2010-12-11 | 2016-03-29 | Jonathan K. George | Synthetic focal plane imager |
US9170414B2 (en) * | 2013-02-27 | 2015-10-27 | Yancy Corp. | Method and apparatus for producing a super-magnified wide-field image |
DE102013005563A1 (de) * | 2013-03-28 | 2014-10-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtmikroskop und verfahren zum untersuchen einer mikroskopischen probe |
JP6163447B2 (ja) * | 2013-09-26 | 2017-07-12 | 株式会社クボタ | エンジン |
GB201413872D0 (en) * | 2014-08-05 | 2014-09-17 | Imp Innovations Ltd | Multiplexed optical projection tomography |
CN106052870A (zh) * | 2016-05-23 | 2016-10-26 | 湖北久之洋红外系统股份有限公司 | 一种高分辨率红外成像光谱仪及其成像方法 |
DE102017203413A1 (de) | 2017-03-02 | 2018-09-06 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Bildgebung mittels eines Mikroskops und Mikroskop |
JP7306428B2 (ja) * | 2021-06-04 | 2023-07-11 | 横河電機株式会社 | 共焦点スキャナ、共焦点スキャナシステム、及び共焦点顕微鏡システム |
CN114838673B (zh) * | 2022-05-18 | 2024-03-19 | 长春长光辰英生物科学仪器有限公司 | 用于转盘共聚焦系统的阿基米德条纹转盘及其分区方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11271622A (ja) * | 1998-03-19 | 1999-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 光学顕微鏡 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2989891A (en) * | 1957-02-19 | 1961-06-27 | Robotron Corp | Apparatus for inspecting articles |
US3072740A (en) * | 1961-02-06 | 1963-01-08 | Robert W Astheimer | Nipkow scanner |
DE1472293A1 (de) * | 1966-08-10 | 1969-01-23 | Leitz Ernst Gmbh | Vorrichtung zur optischen Abtastung mikroskopischer Objekte |
US3671754A (en) * | 1968-06-18 | 1972-06-20 | Univ Connecticut | Scanning apparatus for biological microdensitometry |
US4927254A (en) * | 1987-03-27 | 1990-05-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Scanning confocal optical microscope including an angled apertured rotating disc placed between a pinhole and an objective lens |
US5351150A (en) * | 1987-09-24 | 1994-09-27 | Washington University | Rotating slit aperture for scanning microscopy |
US5067805A (en) | 1990-02-27 | 1991-11-26 | Prometrix Corporation | Confocal scanning optical microscope |
US5532873A (en) | 1993-09-08 | 1996-07-02 | Dixon; Arthur E. | Scanning beam laser microscope with wide range of magnification |
JP2988320B2 (ja) | 1995-06-13 | 1999-12-13 | 横河電機株式会社 | 共焦点光スキャナ |
JP3152130B2 (ja) | 1995-11-01 | 2001-04-03 | 横河電機株式会社 | 共焦点光スキャナ |
US5835228A (en) * | 1996-01-19 | 1998-11-10 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Image pickup apparatus, density measuring optical system and scanning optical microscope |
JPH09325279A (ja) | 1996-06-04 | 1997-12-16 | Nikon Corp | タンデム走査型コンフォーカル顕微鏡 |
US5760950A (en) * | 1996-07-25 | 1998-06-02 | Advanced Scanning, Ltd. | Scanning confocal microscope |
WO1998046122A1 (en) * | 1997-04-17 | 1998-10-22 | Avimo Group Limited | Ocular microcirculation examination and treatment apparatus |
KR20010034046A (ko) | 1998-01-12 | 2001-04-25 | 월랙 오와이 | 다수의 스캐닝 빔을 갖는 공초점 현미경 |
GB0103946D0 (en) * | 2001-02-17 | 2001-04-04 | Medical Res Council | Scanning assembly |
TW555954B (en) | 2001-02-28 | 2003-10-01 | Olympus Optical Co | Confocal microscope, optical height-measurement method, automatic focusing method |
US6934079B2 (en) * | 2002-05-03 | 2005-08-23 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissen-schaften e. V. | Confocal microscope comprising two microlens arrays and a pinhole diaphragm array |
JP4148349B2 (ja) | 2002-05-24 | 2008-09-10 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 共焦点顕微鏡及び微小開口回転盤 |
-
2004
- 2004-09-22 KR KR1020040075996A patent/KR100845284B1/ko active IP Right Grant
-
2005
- 2005-04-15 US US11/106,569 patent/US7388712B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11271622A (ja) * | 1998-03-19 | 1999-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 光学顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7388712B2 (en) | 2008-06-17 |
KR20060027145A (ko) | 2006-03-27 |
US20060061857A1 (en) | 2006-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7388712B2 (en) | Confocal scanning microscope using two Nipkow disks | |
US9989746B2 (en) | Light microscope and microscopy method | |
CN107526156B (zh) | 光片显微镜以及用于运行光片显微镜的方法 | |
JP4979246B2 (ja) | 欠陥観察方法および装置 | |
US6578961B2 (en) | Massively parallel inspection and imaging system | |
US6388808B1 (en) | Confocal microscopic equipment | |
US20040129858A1 (en) | Automatic focussing device for an optical appliance | |
JP5918009B2 (ja) | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | |
WO2002023248A1 (fr) | Microscope confocal et procede de mesure de hauteur utilisant ledit microscope | |
US20190204578A1 (en) | Microscope for observing individual illuminated inclined planes with a microlens array | |
KR102086992B1 (ko) | 핀홀 어레이를 사용하는 물체의 공초점형 이미징 | |
KR100721512B1 (ko) | 분산 광학계를 이용한 실시간 공초점 현미경 | |
KR20130026702A (ko) | 고감도 실시간 공초점 형광 현미경 | |
JP2006091507A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
EP2733514A1 (en) | Apparatus for structured illumination of a specimen | |
KR101241439B1 (ko) | 마이크로 렌즈 어레이를 이용한 공초점 측정 장치 | |
US10983320B2 (en) | Optical arrangement for imaging a sample | |
KR100519266B1 (ko) | 공초점 현미경 | |
EP4102282B1 (en) | Confocal scanner, confocal scanner system, and confocal microscope system | |
JP5614759B2 (ja) | 検査装置 | |
KR20060111142A (ko) | 공초점 어레이 검출기를 이용한 마이크로스코프 | |
JP2003524194A (ja) | 対象物を光学的に走査するための装置 | |
JPH11218677A (ja) | 共焦点ディスク | |
JPWO2020016971A1 (ja) | 標本観察装置 | |
KR20190000057A (ko) | 공초점 형광 현미경 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130701 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140630 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150630 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160630 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170630 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180629 Year of fee payment: 11 |