KR100838143B1 - 전기 광학 장치, 전기 광학 장치의 구동 방법, 전압 모니터방법 및 전자기기 - Google Patents

Abstract

(과제)

영역 주사 구동과 상 전개 구동을 병용했을 때의 전압 측정 동작을 규정한다.

(해결수단)

주사선 구동 회로는, 전송 개시 펄스 (DX) 를 클록 신호 (CLX) 로 차례로 시프트하는 시프트 레지스터와, 복수의 주사선 각각에 대응하여 형성됨과 함께 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 중 어느 하나가 공급되고, 시프트 레지스터에 기초한 시프트 신호의 펄스폭을, 공급된 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 중 어느 하나의 펄스폭으로 좁혀 주사선에 주사 신호로서 공급한다. 또한 블록 선택 회로는, 전송 개시 펄스 (DY) 를 클록 신호 (CLY) 로 차례로 시프트하는 시프트 레지스터를 갖는다. 검출 회로는, 전송 개시 펄스 (DY) 와 인에이블 신호 (Enb1) 와 전송 개시 펄스 (DX) 가 소정 조건을 만족한 것을 검출하여 전압 측정 회로에 대해 전압 측정을 허가하는 신호 (Me) 를 출력한다.

주사선 구동회로, 검출 회로, 블록 선택 회로

Description

전기 광학 장치, 전기 광학 장치의 구동 방법, 전압 모니터 방법 및 전자기기{ELECTRO-OPTICAL APPARATUS, METHOD FOR DRIVING ELECTRO-OPTICAL APPARATUS, METHOD FOR MONITORING VOLTAGE, AND ELECTRONIC DEVICE}

도 1 은 본 발명의 실시형태에 관련된 전기 광학 장치의 전체 구성을 나타내는 블록도.

도 2 는 같은 전기 광학 장치에서의 표시 패널의 구성을 나타내는 도.

도 3 은 같은 전기 광학 장치에 대한 화상 데이터와 표시 영역의 관계를 나타내는 도.

도 4 는 같은 표시 패널의 화소의 구성을 나타내는 도.

도 5 는 같은 전기 광학 장치에서의 메모리로 입출력되는 화상 데이터를 나타내는 도.

도 6 은 같은 전기 광학 장치에서의 주사선 구동 회로의 구성을 나타내는 도.

도 7 은 같은 주사선 구동 회로의 동작을 나타내는 도.

도 8 은 같은 전기 광학 장치에서의 블록 선택 회로의 구성을 나타내는 도.

도 9 는 같은 전기 광학 장치에서의 수평 주사를 나타내는 도.

도 10 은 같은 전기 광학 장치에서의 데이터 신호의 전압 파형을 나타내는 도.

도 11 은 같은 전기 광학 장치에서의 전압 모니터의 타이밍을 나타내는 도.

도 12 는 같은 전기 광학 장치에서의 전압 조정을 나타내는 도.

도 13 은 같은 전기 광학 장치를 적용한 전자기기의 일례인 프로젝터의 구성을 나타내는 도.

*부호의 설명*

10…전기 광학 장치 50…처리 회로

52…주사 제어 회로 60…검출 회로

70…전압 측정 회로군 100…표시 패널

110…화소 112…주사선

114…데이터선 116…TFT

118…화소 전극 130…주사선 구동 회로

140…블록 선택 회로 151…TFT

171…화상신호선 310…S/P 변환 회로

340…증폭 회로군 2100…프로젝터

본 발명은 이른바 영역 주사 구동에서의 표시 품위를 개선하는 기술에 관한 것이다.

최근에는, 액정 등의 전기 광학 특성을 이용하여 화상을 형성함과 함께, 이 화상을 광학계에 의해 확대 투사하는 프로젝터가 보급되고 있다. 이러한 화상을 형성하는 소형 표시 패널에서는, 화소 사이가 매우 좁기 때문에 이른바 디스클리네이션 (배향 불량) 이 문제가 된다. 이 디스클리네이션에 대해서는, 인접 화소끼리를 동일 극성으로 하는 면반전 (프레임 반전이라고도 함) 방식을 채용하여 회피할 수 있지만, 면반전 방식에서는, 표시 화면의 예를 들어 상부와 하부에서 표시의 균일성이 없어진다는 문제가 있다.

이 표시의 균일성을 도모하기 위해, 프레임의 기간을 예를 들어 제 1 및 제 2 기간으로 분할함과 함께 표시 영역을 상 영역 (제 1 영역) 과 하 영역 (제 2 영역) 으로 분할하는 한편, 상 영역과 하 영역을 교대로 선택하고, 또한 선택한 각 영역에서 주사선을 위로부터 아래 방향을 향해 선택하여, 제 1 기간에서는 상 영역을 정극성으로 하고 하 영역을 부극성으로 하는 한편, 제 2 기간에서는 상 영역을 부극성으로 하고 하 영역을 정극성으로 하는, 이른바 영역 주사 구동이 제안되어 있다 (특허문헌 1 참조).

[특허문헌 1] 일본 공개특허공보 2004－177930호

그런데 상기 프로젝터는, 그 자체에 화상을 작성하는 기능은 없고, PC 나 텔레비전 튜너 등의 상위 장치로부터 화상 데이터 (또는 화상신호) 를 공급받는다. 이 화상 데이터는, 화소의 계조 (밝기) 를 화소마다 지정하는 것이며, 매트릭스상으로 배열하는 화소를 수직 및 수평 주사한 형식으로 공급된다.

그러나 영역 주사 구동에서는 상 및 하 영역이 교대로 계속 선택되므로, 표시 패널의 수직 주사에서 블랭킹 기간이라는 것이 존재하지 않는다. 이 때문에, 영역 주사 구동에서는 블랭킹 기간을 이용한 처리, 예를 들어 표시 품위를 개선하기 위한 처리를 실현하는 것이 곤란하다는 문제가 있었다.

본 발명은 상기 서술한 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적으로 하는 것은, 이른바 영역 주사 구동에 있어서 블랭킹 기간에 상당하는 기간을 만들어 내어 당해 기간에 있어서 필요한 처리를 실행하는 것이 가능한 전기 광학 장치, 전기 광학 장치의 구동 방법, 전압 모니터 방법 및 전자기기를 제공하는 것에 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 화소 영역에 복수 행의 주사선과 복수 열의 데이터선의 교차에 대응하여 형성되며, 상기 주사선이 선택되었을 때 상기 데이터선에 공급된 데이터 신호의 전압에 따른 계조가 되는 화소를 복수 갖는 전기 광학 장치로서, 상기 화소 영역을 상기 주사선을 따라 적어도 제 1 영역 및 제 2 영역으로 분할하여 전송 개시 펄스를 차례로 시프트하는 시프트 레지스터를 구비하고, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 일방의 주사선을 선택한 후에는 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 타방의 주사선을 선택하는 주사선 구동 회로와, 상기 주사선이 선택되었을 때, m (m 은 데이터선 열수보다 적은 2 이상의 정수) 열의 데이터선으로 이루어지는 블록을 차례로 선택하는 블록 선택 회로와, 선택된 주사선과 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 대응하는 화소의 계조에 따른 전압의 데이터 신호를 m 개의 화상신호선에 각각 공급하는 데이터 신호 공급 회로와, 상기 데이터선 각각에 형성되며, 상기 m 개의 화상신호선에 공급된 상기 데이터 신호를 상기 블록 선택 회로에 의해 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 샘플링하는 샘플링 스위치와, 상기 전송 개시 펄스가 상승하고 나서 1행째의 상기 주사선에 대응하는 화상신호가 공급될 때까지의 기간에, 상기 m 개의 화상신호선 중 적어도 1개에 공급된 데이터 신호의 전압을 측정하는 전압 측정 회로를 구비하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 제 2 경우에서 복수의 주사선이 모두 선택되지 않는 기간을 영역 주사 구동에서의 블랭킹 기간에 상당하는 기간으로 하여, 필요한 처리, 구체적으로는 데이터 신호의 전압을 측정하는 처리를 실행하는 것이 가능해진다.

여기에서, 본 발명에 있어서 상기 전압 측정 회로는, 측정한 데이터 신호의 전압이 미리 정해진 목표치가 되도록 상기 데이터 신호 공급 회로에 의한 데이터 신호의 전압을 조정해도 된다.

또, 본 발명에 있어서, 상기 주사선 구동 회로는, 소정의 전송 개시 펄스 (DX) 를 소정의 클록 신호 (CLX) 로 차례로 시프트하는 시프트 레지스터와, 상기 복수의 주사선 각각에 대응하여 형성됨과 함께 소정의 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 하나가 공급되고, 상기 시프트 레지스터에 기초한 시프트 신호의 펄스폭을, 공급된 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 한 펄스폭으로 좁혀 상기 주사선에 주사 신호로서 공급하는 논리 회로를 가지며, 상기 제 1 및 제 2 인에이블 신호는, 상기 복수의 주사선에 대응하는 논리 회로에 교대로 공급됨과 함께, 각 논리 회로에 공급되는 상기 제 1 및 제 2 인에이블 신호가 상기 제 1 영역에 속하는 주사선에 대응하는 논리 회로와 상기 제 2 영역에 속하는 주사선에 대응하는 논리 회로에서 대칭인 관계에 있으며, 상기 블록 선택 회로는, 소정의 전송 개시 펄스 (DY) 를 소정의 클록 신호 (CLY) 로 차례로 시프트하는 시프트 레지스터를 가지며, 상기 전송 개시 펄스 (DY) 와, 상기 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 하나와, 상기 전송 개시 펄스 (DX) 가 소정의 조건을 만족한 것을 검출하여 상기 전압 측정 회로에 대해 상기 전압의 측정을 허가하는 검출 회로를 추가로 갖는 구성으로 해도 된다.

이 구성에 있어서, 상기 검출 회로는 상기 전송 개시 펄스 (DY) 와, 상기 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 하나를 전환 가능하게 하여 상기 소정의 조건을 검출해도 된다.

또한 본 발명은, 화소 영역에 복수 행의 주사선과 복수 열의 데이터선의 교차에 대응하여 형성되며, 상기 주사선이 선택되었을 때 상기 데이터선에 공급된 데이터 신호의 전압에 따른 계조가 되는 화소를 복수 가지며, 상기 화소 영역을 상기 주사선을 따라 적어도 제 1 영역 및 제 2 영역으로 분류한 전기 광학 장치로서, 상기 복수의 주사선을 소정 방향을 향하도록 일정한 간격을 두고 배타적으로 선택하고, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 일방의 주사선을 선택한 후에는 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 타방의 주사선을 선택하는 제 1 경우와, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 일방의 주사선을 선택한 후에는 선택한 주사선에 대해 상기 소정 방향에서 인접하는 주사선을 선택하는 제 2 경우로 나누어 상기 복수의 주사선을 선택하는 주사선 구동 회로와, 상기 주사선이 선택되었을 때, m (m 은 데이터선 열수보다 적은 2 이상의 정수) 열의 데이터선으로 이루어지는 블록을 차례로 선택하 는 블록 선택 회로와, 선택된 주사선과 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 대응하는 화소의 계조에 따른 전압의 데이터 신호를 m 개의 화상신호선에 각각 공급하는 데이터 신호 공급 회로와, 상기 데이터선 각각에 형성되며, 상기 m 개의 화상신호선에 공급된 상기 데이터 신호를 상기 블록 선택 회로에 의해 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 샘플링하는 샘플링 스위치와, 상기 제 2 경우에서, 상기 복수의 주사선이 모두 선택되지 않을 때, 상기 m 개의 화상신호선 중 적어도 1개에 공급된 데이터 신호의 전압을 측정하는 전압 측정 회로를 구비하는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명은, 전기 광학 장치뿐만 아니라, 당해 전기 광학 장치의 구동 방법이나, 당해 전기 광학 장치에서의 데이터 신호의 전압 모니터 방법, 나아가 당해 전기 광학 장치를 갖는 전자기기로도 개념짓는 것이 가능하다.

발명을 실시하기 위한 최선의 형태

이하, 본 발명의 실시형태에 대해 도면을 참조하여 설명한다. 도 1 은 본 실시형태에 관련된 전기 광학 장치의 전체 구성을 나타내는 블록도이다.

도 1 에 나타내는 바와 같이, 이 전기 광학 장치 (10) 는 처리 회로 (50) 와 표시 패널 (100) 로 크게 나뉜다. 이 중 처리 회로 (50) 는 프린트 기판에 형성된 회로 모듈이며, 표시 패널 (100) 과는 FPC (Flexible Printed Circuit) 기판 등에 의해 접속되어 있다.

처리 회로 (50) 는, 메모리 (300), S/P 변환 회로 (310), D/A 변환 회로군 (320), 반전 회로 (330), 증폭 회로군 (340), 주사 제어 회로 (52), 검출 회로 (60) 및 전압 측정 회로군 (70) 을 갖는다.

메모리 (300) 는, 도시생략된 상위 장치로부터 공급되는 화상 데이터 (Vin) 를 주사 제어 회로 (52) 에 의한 제어에 따라 일단 축적 (기입) 한 후, 화상 데이터 (Vout) 로서 독출하는 것이다. 여기에서, 화상 데이터 (Vin) 및 화상 데이터 (Vout) 는 화소의 계조 (밝기) 를 화소마다 지정하는 데이터이다.

본 실시형태에 있어서, 화상 데이터 (Vin) 로 계조가 지정되는 화소는, 도 2 에 나타내는 바와 같이 세로 20행×가로 24열의 매트릭스상으로 배열한다.

이들 화소 각각에 대응하는 화상 데이터 (Vin) 가, 수직 주사 신호 (Vs) 및 수평 주사 신호 (Hs) 및 도트 클록 신호 (Dclk) 에 동기하여, 도 3(a) 에 나타내는 바와 같이 공급된다. 상세하게는, 화상 데이터 (Vin) 는 프레임 기간에 걸쳐 1행 1열∼1행 24열, 2행 1열∼2행 24열, 3행 1열∼3행 24열, …, 20행 1열∼20행 24열과 같은 순서로 공급된다.

이러한 순서로 공급되는 화상 데이터 (Vin) 는, 도 3(b) 에 나타내는 바와 같이 1행분의 절반만 메모리 (300) 에 축적된 시점에서 축적 동작과 병행하면서 축적 속도의 2배의 속도로 독출되어 화상 데이터 (Vout) 로서 출력된다. 따라서 1행분의 화상 데이터 (Vin) 는, 당해 1행분의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 후반에서 2배의 속도로 변환되어 화상 데이터 (Vout) 로서 출력된다. 그리고 동 도면에 나타내는 바와 같이, 2배의 속도로 독출된 화상 데이터 (Vout) 와 동일한 화소에 대응하는 것이, 10행후의 화상 데이터 (Vin) 의 1행분이 공급되는 기간의 전반에서 2배의 속도로 다시 독출된다.

이 때문에, 예를 들어 2행째의 화상 데이터 (Vout) 는 당해 2행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 후반과 12행째의 화상 데이터 (Vout) 가 공급되는 기간의 전반에 있어서 각각 2 배속으로 출력되게 된다.

또한 본 실시형태에 있어서, 프레임 기간 중 1행째부터 10행째까지의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간을 제 1 기간으로 하고, 11행째부터 20행째까지의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간을 제 2 기간으로 한다.

또 화상 데이터 (Vin) (화상 데이터 (Vout)) 는 1행째부터 20행째까지 공급되지만, 실제로 표시되는 것은 도 2 에서 굵은 선의 영역 (100a) 으로 나타나는 5행째부터 16행째까지이며, 그 이외에는 비표시 더미 화소이다. 이 때문에, 1행째부터 4행째까지 및 17행째부터 20행째까지의 화상 데이터 (Vin) (화상 데이터 (Vout)) 는 화소의 최저 계조인 흑색을 지정하는 더미 데이터가 된다.

그리고 본 실시형태에서는, 편의적으로 화소의 배열을 X 방향을 따라 2 분할하여 1(5)행째부터 10행째까지의 영역을 상 영역 (제 1 영역) 으로 하고, 11행째부터 20(15)행째까지의 영역을 하 영역 (제 2 영역) 으로 하고 있다.

도 1 에 있어서, S/P 변환 회로 (310) 는 메모리 (300) 로부터 독출된 화상 데이터 (Vout) 를 6 채널로 분배함과 함께 각각 시간축으로 6배 신장하여 (상 전개 또는 시리얼-패럴렐 변환이라고도 함), 화상 데이터 (Vd1d∼Vd6d) 로서 출력하는 것이다. 여기에서, 설명의 편의상 화상 데이터 (Vd1d∼Vd6d) 를 각각 채널 1∼6 이라 부른다.

D/A 변환 회로군 (320) 은 채널마다 형성된 D/A 변환기의 집합체이며, 화상 데이터 (Vd1d∼Vd6d) 를 각각 계조치에 따른 전압의 아날로그 신호로 변환하는 것이다.

반전 회로 (330) 는, 아날로그 변환된 신호를 후술하는 전압 (Vc) 을 기준으로 하여 정전 또는 반전시켜 데이터 신호 (Vid1a∼Vid6a) 로서 출력하는 것이다. 여기에서 전압 (Vc) 은, 후술하는 도 10 에 나타내는 바와 같이 데이터 신호의 진폭 기준 (중심) 이다. 본 실시형태에서는, 편의상 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 에 대해서는 전압 (Vc) 보다 고위측을 정극성, 저위측을 부극성으로 각각 부르고 있다.

증폭 회로군 (340) 은 채널마다 형성된 전압 증폭 회로 (342) 의 집합체이며, 정전 또는 반전한 데이터 신호 (Vid1a∼Vid6a) 의 전압을 Vc 를 기준으로 하여 정부 양극성의 각각에 대하여, 설정된 전압 증폭률로 각각 증폭하여 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 로서 표시 패널 (100) 의 화상신호선에 공급하는 것이다.

다음에 편의상 전기 광학 변화에 의해 화상을 형성하는 표시 패널 (100) 의 구성에 대해 설명한다. 표시 패널 (100) 은 데이터선이나 주사선, TFT, 화소 전극 등이 형성된 소자 기판과 공통 전극이 형성된 대향 기판을, 일정한 간극을 두고 전극 형성면이 서로 대향하도록 접합함과 함께 이 간극에 액정을 밀봉한 구성으로 되어 있다. 도 4 는 이 표시 패널 (100) 의 전기적인 구성을 나타내는 블록도이며, 도 5 는 표시 패널 (100) 에서의 화소의 구성을 나타내는 도이다.

도 4 에 나타내는 바와 같이, 표시 패널 (100) 에서는 실제로 표시되는 영역 (100a) 에 상당하는 5행째부터 16행째까지의 12행의 주사선 (112) 이 도면에서 X (수평) 방향으로 연속 배치되는 한편, 24(=6×4) 열의 데이터선 (114) 이 도면에서 Y (수직) 방향으로 연속 배치되어 있다. 그리고 이들 주사선 (112) 과 데이터선 (114) 의 교차 부분 각각에 대응하도록 화소 (110) 가 형성되어 있다.

상기 서술한 바와 같이 화소의 배열이 2 분할되어 있으므로, 영역 (100a) 에 있어서 5∼10행째에 상당하는 주사선 (112 ; 도 4 에서 위에서부터 세면 1∼6행째의 주사선 (112)) 은 상 영역에 속하고, 영역 (100a) 에 있어서 11∼16행째에 상당하는 주사선 (112 ; 도 4 에서 위에서부터 세면 7∼12행째의 주사선 (112)) 은 하 영역에 속하게 된다.

또 본 실시형태에 있어서, 24열의 데이터선 (114) 은 6열마다 블록화되어 있다. 이 때문에 설명의 편의상 왼쪽에서부터 세어 1, 2, 3, 4번째의 블록을 각각 B1, B2, B3, B4 라고 표기한다.

화소 (110) 의 상세한 구성에 대해서는, 도 5 에 나타내는 바와 같이 n 채널형 박막 트랜지스터 (Thin Film Transistor : 이하 간단히 「TFT」라 함 ; 116) 의 소스가 데이터선 (114) 에 접속됨과 함께 드레인이 화소 전극 (118) 에 접속되는 한편, 게이트가 주사선 (112) 에 접속되어 있다.

또한 화소 전극 (118) 에 대향하도록 공통 전극 (108) 이 전체 화소에 대해 공통으로 형성되어, 시간적으로 일정한 전압 (LCcom) 으로 유지된다. 그리고 이들 화소 전극 (118) 과 공통 전극 (108) 사이에 액정층 (105) 이 협지되어 있다. 이 때문에, 화소마다 화소 전극 (118), 공통 전극 (108) 및 액정층 (105) 으로 이루어지는 액정 용량이 구성되게 된다.

본 실시형태에 있어서, 공통 전극 (108) 에 인가되는 전압 (LCcom) 은 데이터 신호의 진폭 기준 전압 (Vc) 과 동일하지만, 후술하는 이유에 의해 양자 전압이 상이한 경우가 있다.

특별히 도시하지는 않지만, 양 기판의 각 대향면에는 액정 분자의 장축 방향이 양 기판 사이에서 예를 들어 약 90도 연속적으로 비틀리도록 러빙 처리된 배향막이 각각 형성되는 한편, 양 기판의 각 배면측에는 배향 방향에 따른 편광자가 각각 형성된다.

화소 전극 (118) 과 공통 전극 (108) 사이를 통과하는 빛은, 액정 용량에 인가되는 전압 실효값이 제로이면 액정 분자의 비틀림을 따라 약 90도 선광하는 한편, 당해 전압 실효값이 커짐에 따라 액정 분자가 전계 방향으로 기울어지는 결과, 그 선광성이 소실된다. 이 때문에, 예를 들어 투과형에 있어서, 입사측과 배면측에 배향 방향에 맞춰 편광축이 서로 직교하는 편광자를 각각 배치시키면, 당해 전압 실효값이 제로에 가까우면 빛의 투과율이 최대가 되어 백색 표시가 되는 한편, 전압 실효값이 커짐에 따라 투과하는 광량이 감소하여, 마침내는 투과율이 최소인 흑색 표시가 된다 (노멀리 화이트 모드).

또, TFT (116) 를 사이에 둔 액정 용량으로부터의 전하 리크의 영향을 줄이기 위해 축적 용량 (109) 이 화소마다 형성되어 있다. 이 축적 용량 (109) 의 일단은 화소 전극 (118 ; TFT (116) 의 드레인) 에 접속되는 한편, 그 타단은 전체 화소에 걸쳐 용량선 (107) 에 공통 접속되고, 예를 들어 전원의 저위측이며 전압 기준의 전위 (Gnd) 에 공통 접지되어 있다.

계속하여, 화소 영역 (100a) 의 주변에는 주사선 구동 회로 (130) 나 블록 선택 회로 (140) 등의 주변 회로가 형성되어 있다.

이 중 주사선 구동 회로 (130) 는, 상세한 것은 후술하지만, 5, 6, 7, 8, …, 16행째의 주사선 (112) 에 각각 주사 신호 (G5, G6, G7, G8, …, G16) 를 공급하는 것이다. 다음에, 블록 선택 회로 (140) 는 블록 (B1, B2, B3, B4) 을 차례로 선택하기 위한 샘플링 신호 (S1, S2, S3, S4) 를 각각 출력하는 것이다.

샘플링 스위치로서 기능하는 TFT (151) 는 데이터선 (114) 의 각각에 대응하여 형성되고, 그 드레인은 대응하는 데이터선의 일단에 접속된다. 여기에서, 동일 블록에 속하는 데이터선 (114) 에 대응하는 6개의 TFT (151) 의 게이트에는 블록에 대응하는 샘플링 신호가 공통으로 공급된다. 예를 들어, 블록 (B2) 에 속하는 7∼12열째의 데이터선 (114) 에 대응하는 6개의 TFT (151) 의 게이트에는 당해 블록 (B2) 에 대응하는 샘플링 신호 (S2) 가 공통으로 공급된다.

한편, 표시 패널 (100) 에서는, 처리 회로 (50) 에 의한 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 가 6개의 화상신호선 (171) 에 공급된다. 그리고 이들 6개의 화상신호선 (171) 에는 TFT (151) 의 소스가, 다음에 설명하는 바와 같이 접속되어 있다.

즉, 도 4 에 있어서 왼쪽에서부터 세어 j열째의 데이터선 (114) 의 일단에 드레인이 접속된 TFT (151) 는, j 를 6 으로 나눈 나머지가 「1」이면 그 소스는 데이터 신호 (Vid1) 가 공급되는 화상신호선 (171) 에 접속되고, 마찬가지로 j 를 6 으로 나눈 나머지가 「2」, 「3」, 「4」, 「5」, 「0」 인 데이터선 (114) 에 드레인이 접속된 TFT (151) 는, 그 소스는 데이터 신호 (Vid2∼Vid6) 가 공급되는 화상신호선 (171) 에 각각 접속되어 있다.

예를 들어, 도 4 에 있어서 11열째의 데이터선 (114) 에 드레인이 접속된 TFT (151) 의 소스는 「11」을 6 으로 나눈 나머지가 「5」이기 때문에, 데이터 신호 (Vid5) 가 공급되는 화상신호선 (171) 에 접속된다. j 는, 데이터선 (114) 에 대해 열 번호를 특정하지 않고 일반적으로 설명하는 경우의 기호이며, 본 실시형태에서는 1≤j≤24 를 만족하는 정수 중 어느 하나이다.

다시 설명을 도 1 로 되돌리면, 주사 제어 회로 (52) 는 주로 다음과 같은 제어를 하는 것이다. 즉, 주사 제어 회로 (52) 는, 첫 번째로 상위 장치로부터 공급되는 도트 클록 신호 (Dclk), 수직 주사 신호 (Vs) 및 수평 주사 신호 (Hs) (모두 파형에 대해서는 도시생략) 에 기초하여 메모리 (300) 에서의 축적 (기입) 및 독출을 제어하고, 두 번째로 메모리 (300) 에 대한 독출에 동기하여 상기 서술한 S/P 변환 회로 (310) 에서의 상 전개를 제어하고, 세 번째로 상기 독출에 동기 하여 전송 개시 펄스 (DX) 및 클록 신호 (CLX) 를 생성하여 블록 선택 회로 (140) 에 의한 수평 주사를 제어하는 한편, 전송 개시 펄스 (DY), 클록 신호 (CLY), 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 를 생성하여 주사선 구동 회로 (130) 에 의한 수직 주사를 제어하고, 네 번째로 반전 회로 (330) 에 대해 제 1 기간에서 11∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 경우에는 부극성 기입을 지정하고, 1∼10행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 경우에는 정극성 기입을 지정하는 한편, 제 2 기간에서 1∼10행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 경우에는 부극성 기입을 지정하고, 11∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 경우에는 정극성 기입을 지정한다.

한편, 검출 회로 (det ; 60) 는 후술하는 전송 개시 펄스 (DX, DY) 및 인에이블 신호 (Enb1) 가 소정의 조건을 만족했을 때 전압 모니터 동작의 허가를 나타내는 신호 (Me) 를 H 레벨로 하여 출력하는 것이다.

전압 측정 회로군 (70) 은 채널마다 형성된 전압 측정 회로 (mon ; 72) 의 집합체이다. 각 전압 측정 회로 (72) 는 신호 (Me) 가 H 레벨이 되었을 때 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 중 대응하는 채널의 데이터 신호의 전압을 측정함과 함께, 측정한 전압이 목표로 하는 전압이 되도록, 대응하는 채널의 전압 증폭 회로 (342) 의 전압 증폭률을 설정 변경하는 것이다.

검출 회로 (60) 및 전압 측정 회로군 (70) 의 상세 동작에 대해서는 후술한다.

다음에, 주사선 구동 회로 (130) 의 구성에 대해 도 6 을 참조하여 설명한다.

도 6 에 있어서, 시프트 레지스터 (132) 는 클록 신호 (CLY) 의 논리 레벨이 천이 (상승 및 하강) 할 때마다 전송 개시 펄스 (DY) 를 차례로 시프트하여, 그 시프트 신호 (Y4, Y5, Y6, Y7, …, Y16) 를 출력하는 것이다.

AND 회로 (134) 는 인접하는 시프트 신호끼리의 논리곱 신호를 출력하는 것이다. AND 회로 (136) 는 AND 회로 (134) 에 의한 출력 신호 (논리곱 신호) 와 인에이블 신호 (Enb1) 또는 인에이블 신호 (Enb2) 중 어느 하나와의 논리곱 신호를 출력하는 것이다.

여기에서 시프트 레지스터 (132) 에 의한 시프트 신호 (Y4 및 Y5) 의 논리곱 신호를 입력하는 AND 회로 (136) 의 출력이 주사 신호 (G5) 로 되고, 이하 마찬가지로 (Y5 및 Y6), (Y6 및 Y7), …, (Y14 및 Y15), (Y15 및 Y16) 의 논리곱 신호에 기초한 AND 회로 (136) 의 출력이 각각 주사 신호 (G6, G7, …, G15, G16) 로 되어 각각 5, 6, 7, …, 15, 16행째의 주사선 (112) 에 각각 공급된다.

또한 AND 회로 (136) 와 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 의 관계에 대해서는 다음과 같다. 상세하게는, 상 영역 중 홀수인 5, 7, 9행째의 주사선 (112) 에 주사 신호를 공급하는 AND 회로 (136) 에는 인에이블 신호 (Enb2) 가 공급되고, 짝수인 6, 8, 10행째의 주사선 (112) 에 주사 신호를 공급하는 AND 회로 (136) 에는 인에이블 신호 (Enb1) 가 공급되는 한편, 하 영역 중 홀수인 11, 13, 15행째의 주사선 (112) 에 주사 신호를 공급하는 AND 회로 (136) 에는 인에이블 신호 (Enb1) 가 공급되고, 짝수인 12, 14, 16행째의 주사선 (112) 에 주사 신호를 공급하는 AND 회로 (136) 에는 인에이블 신호 (Enb2) 가 공급된다. 즉, AND 회로 (136) 에 대한 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 의 공급 관계에 대해서는 상 영역과 하 영역에서 서로 대칭인 관계에 있다.

한편, 블록 선택 회로 (140) 의 구성에 대해서는, 도 8 에 나타내는 바와 같이 주사선 구동 회로 (130) 와 기본적으로 동일하며, 시프트 레지스터 (142) 와 AND 회로 (144) 를 갖는다. 단, 블록 선택 회로 (140) 는 주사 제어 회로 (52) 로부터 공급되는 제어 신호가 상이하다는 점 및 시프트 레지스터 (142) 의 단수에 있어서 주사선 구동 회로 (130) 에서의 시프트 레지스터 (132) 및 AND 회로 (134) 와 상이하다.

상세하게는, 블록 선택 회로 (140) 에서는 시프트 레지스터 (142) 에, 주사선 구동 회로 (130) 에 공급되는 전송 개시 펄스 (DY), 클록 신호 (CLY) 대신에 전송 개시 펄스 (DX), 클록 신호 (CLX) 가 공급됨과 함께 시프트 레지스터 (142) 의 단수가 5단이 되며, 인접하는 시프트 신호끼리의 논리곱 신호가 샘플링 신호 (S1, S2, S3, S4) 로서 출력되는 구성으로 되어 있다.

다음에, 전기 광학 장치의 동작에 대해 설명한다.

먼저, 화상 데이터 (Vin) 가, 도 3(a) 에 나타내는 바와 같이 프레임 기간에 걸쳐 1행 1열∼1행 24열, 2행 1열∼2행 24열, 3행 1열∼3행 24열, …, 20행 1열∼20행 24열과 같은 화소의 순서로 공급된다.

이 화상 데이터 (Vin) 는, 메모리 (300) 의 기입·독출에 의해, 상기 서술한 도 3(b) 에 나타내는 바와 같이 화상 데이터 (Vout) 로서 출력된다. 이 때문에, 화상 데이터 (Vout) 는 동도 또는 도 11 에 나타내는 바와 같이 프레임 기간의 제 1 기간에서는 하 영역이 앞이고 상 영역이 뒤이며 11, 1, 12, 2, 13, 3, 14, 4, …, 20, 10행째와 같은 순서로 공급되고, 제 2 기간에서는 반대로 상 영역이 앞이고 하 영역이 뒤가 되어 1, 11, 2, 12, 3, 13, 4, 14, …, 10, 20행째와 같은 순서로 독출되고 출력된다.

여기에서 주사 제어 회로 (52) 는, 도 11 에 나타내는 바와 같이 클록 신호 (CLY) 의 논리 레벨을, 제 1 기간에 있어서 11 및 1행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 기간에 L 레벨로 하고, 이후 2행분의 화상 데이터 (Vout) 를 독출할 때마다 반전시킨다. 그리고 주사 제어 회로 (52) 는 동도에 나타내는 바와 같이 전 송 개시 펄스 (DY) 의 펄스폭 (H 레벨) 을 클록 신호 (CLY) 의 1 주기로 함과 함께 그 공급 개시 타이밍을 제 1 기간에서는 14행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 타이밍으로 하고, 제 2 기간에서는 4행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 타이밍으로 한다.

이 때문에, 전송 개시 펄스 (DY) 는, 제 1 기간의 14, 1, 15, 5행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간에 있어서 H 레벨이 되고, 제 2 기간의 1, 14, 5, 15행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간에 있어서 H 레벨이 된다. 또, 전송 개시 펄스 (DY) 는 클록 신호 (CLY) 의 5 주기분마다 출력되게 된다.

이러한 전송 개시 펄스 (DY) 및 클록 신호 (CLY) 가 주사선 구동 회로 (130) 에 공급되면, 시프트 레지스터 (132) 에 의한 시프트 신호 (Y4) 는 도 7 에 나타내는 바와 같이 전송 개시 펄스 (DY) 와 거의 같은 파형이 되고, 이후 시프트 신호 (Y5, Y6, Y7, …, Y16) 는 전송 개시 펄스 (DY ; 시프트 신호 (Y4)) 를 클록 신호 (CLY) 의 반주기씩 시프트한 것이 된다. 이 때문에, AND 회로 (134) 에 의해 구해지는, 인접하는 시프트 신호끼리의 논리곱 신호는, 도 7 에 있어서 시프트 신호의 해칭 (hatching) 영역으로 나타내는 것이 되어, 대응하는 단의 전단과 대응하는 단의 중복 부분이 된다.

전송 개시 펄스 (DY) 는 상기 서술한 바와 같이 클록 신호 (CLY) 의 5 주기마다 출력되므로, 시프트 신호 (Y4) 및 시프트 신호 (Y14) 는 동시에 H 레벨이 된다. 마찬가지로 시프트 신호 (Y5) 및 시프트 신호 (Y15) 와 시프트 신호 (Y6) 및 시프트 신호 (Y16) 는 동시에 H 레벨이 된다.

한편, 주사 제어 회로 (52) 는, 메모리 (300) 에 대한 기입·독출에 동기하여 다음과 같은 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 를 출력한다. 상세하게는, 주사 제어 회로 (52) 는 도 7 또는 도 11 에 나타내는 바와 같이 클록 신호 (CLY) 에 동기 하고, 또한 클록 신호 (CLY) 의 주파수를 2배화한 신호 (FRP) 로 한 경우에 인에이블 신호 (Enb1) 로서, 제 1 기간에서는 클록 신호 (CLY) 의 1 주기의 1/4 (신호 (FRP) 의 1 주기의 1/2) 보다 약간 좁은 폭의 펄스를, 클록 신호 (CLY) 의 하강 타이밍을 사이에 두고 연속하여 2 쇼트 (shot) 출력하는 한편, 제 2 기간에서는 같은 펄스의 2 쇼트를, 클록 신호 (CLY) 의 상승 타이밍을 사이에 두고 연속하여 출력한다. 이 때, 주사 제어 회로 (52) 는 1 쇼트의 펄스를, 신호 (FRP) 의 논리 레벨이 일정한 기간에 출력한다.

또한 주사 제어 회로 (52) 는, 제 1 기간에서는 인에이블 신호 (Enb1) 의 위상을 180도 지연시킨 것을 인에이블 신호 (Enb2) 로 한다. 그리고 주사 제어 회로 (52) 는, 제 2 기간에서는 제 1 기간에서의 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 를 바꾼다. 즉, 주사 제어 회로 (52) 는 제 1 기간에서의 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 를 제 2 기간에서의 인에이블 신호 (Enb2, Enb1) 로 한다.

클록 신호 (CLY) 의 논리 레벨은 2행분의 화상 데이터 (Vout) 가 독출될 때마다 반전되므로, 당해 클록 신호 (CLY) 의 2배의 주파수인 신호 (FRP) 의 논리 레벨은 1행분의 화상 데이터 (Vout) 가 독출될 때마다 반전하게 된다.

제 1 및 제 2 기간의 최초에서는 신호 (FRP) 는 H 레벨이다. 이 때문에, 신호 (FRP) 는 1행분의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 기간에서 H 레 벨이 되고, 당해 기간의 후반 기간에서 L 레벨이 된다.

인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 가 주사선 구동 회로 (130) 에서의 AND 회로 (136) 에 공급되면, 도 7 에 나타내는 바와 같이 AND 회로 (134) 에 의해 구해진 논리곱 신호의 펄스폭이 당해 인에이블 신호 (Enb1) 또는 인에이블 신호 (Enb2) 에 의해 좁혀져, 주사 신호로서 출력된다.

여기에서, 각 주사 신호에 대해 도 7 및 도 11 에 나타내는 인에이블 신호 (Enb1, Enb2) 나 도 3(a) 에서의 화상 데이터 (Vin), 도 3(b) 에서의 화상 데이터 (Vout) 의 관계에서 설명하면, 외부 장치로부터 5행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 및 후반 기간에 있어서 각각 주사 신호 (G15, G5) 가 H 레벨이 되고, 6행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 및 후반 기간에 있어서, 각각 주사 신호 (G16, G6) 가 H 레벨이 된다. 17행째 이후에는 주사선 (112) 이 존재하지 않기 때문에, 7행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에서는 그 후반 기간에서만 주사 신호 (G7) 가 H 레벨이 된다. 마찬가지로 8∼14행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에는 그 후반 기간에서만 주사 신호 (G8∼G14) 가 각각 H 레벨이 된다.

그리고 15행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 및 후반 기간에 있어서 각각 주사 신호 (G5, G15) 가 H 레벨이 되고, 16행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 및 후반 기간에 있어서 주사 신호 (G6, G16) 가 각각 H 레벨이 된다. 상기 서술한 바와 같이 17행째 이후에서는 주사선 (112) 이 존재하지 않기 때문에, 17∼20행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에서는 그 전반 기간에서만 주사 신호 (G7∼G10) 가 각각 H 레벨이 된다.

1∼4행째의 주사선 (112) 은 존재하지 않기 때문에, 1∼4행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에서는 그 전반 기간에서만 주사 신호 (G11∼G14) 만이 각각 H 레벨이 된다.

이러한 주사 신호의 공급을 바꾸어 말하면, 주사 신호 (G5, G6, G7, …, G16) 는 주사선 (112) 을 위에서 아래로 향하도록 일정한 간격을 두고 차례로 H 레벨이 된다. 이 때, 제 1 기간에 있어서 하 영역의 주사 신호 (G15) (주사 신호 (G16)) 가 H 레벨이 된 직후에는 각각 상 영역의 주사 신호 (G5) (주사 신호 (G6)) 가 H 레벨이 되고, 제 2 기간에 있어서 상 영역의 주사 신호 (G5) (주사 신호 (G6)) 가 H 레벨이 된 직후에는 각각 하 영역의 주사 신호 (G15) (주사 신호 (G16)) 가 H 레벨이 된다 (제 1 의 경우).

한편, 제 1 기간에 있어서 주사 신호 (G6) (주사 신호(G7∼G13)) 가 H 레벨이 된 후의 다음은 하 방향에 인접한 주사 신호 (G7) (주사 신호 (G8∼G14)) 가 H 레벨이 되고, 제 2 기간에 있어서 주사 신호 (G7) (주사 신호 (G8∼G13)) 가 H 레벨이 된 후의 다음은 하 방향에 인접한 주사 신호 (G8) (주사 신호 (G9∼G15)) 가 H 레벨이 된다 (제 2 의 경우).

여기에서, 외부 장치로부터 5행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 기간에서는 메모리 (300) 로부터 15행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출됨과 함께 주사 신호 (G15) 가 H 레벨이 된다.

15행째의 화상 데이터 (Vout) 는, 상세하게는 15행 1열부터 15행 24열까지의 화상 데이터 (Vout) 는, 첫 번째로 도 9 에 나타내는 바와 같이 S/P 변환 회로 (310) 에 의해 6 채널로 분배됨과 함께, 시간축에 대해 6배로 신장되고, 두 번째로 D/A 변환 회로군 (320) 에 의해 각각 아날로그 신호로 변환되고, 세 번째로 또한 제 1 기간에 있어서 1행분의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 기간이기 때문에, 부극성 기입이 지정된 결과, 반전 회로 (330) 에 의해 전압 (Vc) 을 기준으로 반전된 부극성의 데이터 신호 (Vid1a∼Vid6a) 로서 출력되고, 네 번째로 전압 (Vc) 을 기준으로 하여 전압 증폭되어 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 로서 출력된다.

한편, 상기 서술한 바와 같이 블록 선택 회로 (140) 은, 주사선 구동 회로 (130) 에서의 시프트 레지스터 (132) 및 AND 회로 (134) 와 동일한 구성이다 (도 8 참조). 이 때문에, 논리곱 신호에 상당하는 샘플링 신호 (S1) 는 전송 개시 펄스 (DX) 의 공급으로부터 클록 신호 (CLX) 의 반주기만큼 지연된 타이밍으로 출력됨과 함께, 이 샘플링 신호를 클록 신호 (CLX) 의 반주기만큼 차례로 시프트시킨 것이 샘플링 신호 (S2, S3, S4) 가 된다.

이 타이밍에 맞추기 위해, 주사 제어 회로 (52) 는, 도 9 에 나타내는 바와 같이 클록 신호 (CLX) 의 반주기를 6 화소분의 화상 데이터 (Vout) 가 공급되는 기간이 되도록, 상 전개 처리를 S/P 변환 회로 (310) 에 실행시킴과 함께, 1∼6열째의 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 를 출력하는 타이밍보다 6 화소분 선행시킨 타이밍으로 전송 개시 펄스 (DX) 를 H 레벨로 함과 함께, 12열째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하기 직전에 L 레벨로 한다.

이것에 의해, 1∼6열째의 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 가 출력되는 기간에 샘 플링 신호 (S1) 가 H 레벨이 되고, 7∼12열째, 13∼18열째 및 19∼24열째의 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 가 출력되는 기간에 샘플링 신호 (S2, S3 및 S4) 가 각각 H 레벨이 된다.

지금 주사 신호 (G15) 가 H 레벨이 되는 기간에 있어서, 샘플링 신호 (S1) 가 H 레벨이 되면, 도 4 에서 왼쪽에서부터 1번째의 블록 (B1) 에 속하는 1∼6열째의 데이터선 (114) 에는 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 가 각각 샘플링 된다. 주사 신호 (G15) 가 H 레벨이면, 15행째의 화소 (110) 의 1 행분에서의 TFT (116) 가 모두 온 상태가 되므로, 당해 6열의 데이터선 (114) 에 샘플링된 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 의 전압은, 도 4 에서 15행째의 주사선 (112) 과 1∼6열째의 데이터선 (114) 과 교차하는 화소 (110) 의 화소 전극 (118) 에 각각 인가되게 된다.

이 후, 샘플링 신호 (S2) 가 H 레벨이 되면, 이번에는 2번째의 블록 (B2) 에 속하는 7∼11열째의 데이터선 (114) 에 각각 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 의 전압이 샘플링되고, 이들 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 의 전압이 i행째의 주사선 (112) 과 당해 6열의 데이터선 (114) 과 교차하는 화소의 화소 전극 (118) 에 각각 인가되게 된다.

샘플링 신호 (S3, S4) 가 차례로 H 레벨이 되면, 블록 (B3, B4) 에 속하는 6열의 데이터선 (114) 에 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 의 전압이 각각 샘플링되고, 이들 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 가 15행째의 주사선 (112) 과 선택된 6열의 데이터선 (114) 과 교차하는 화소의 화소 전극 (118) 에 각각 인가되게 된다.

이것에 의해, 15행 1열부터 15행 24열까지의 화소에 대한 부극성의 전압 기 입이 실행되게 된다. 주사 신호 (G15) 가 L 레벨이 되어 TFT (116) 가 오프되어도, 기입된 전압은 액정 용량이나 축적 용량 (109) 에 의해 유지된다.

다음에, 외부 장치로부터 5행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 후반 기간에서는 메모리 (300) 로부터 5행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출됨과 함께 주사 신호 (G5) 가 H 레벨이 된다.

기본적인 동작은, 화상 데이터 (Vout) 가 5행째인 점 및 제 1 기간에서 1행 분의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 후반 기간이므로 정극성 기입이 지정되는 점을 제외하면, 주사 신호 (G5) 가 H 레벨이 되는 전반 기간과 동일하다.

따라서 외부 장치로부터 5행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 후반 기간에서는 주사 신호 (G5) 가 H 레벨이 되어, 5행 1열로부터 5행 24열까지의 화소에 대한 정극성의 전압 기입이 실행되게 된다.

여기에서, 5행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에서는 그 전반 기간에 있어서 15행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되고, 그 후반 기간에 있어서 5행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출된다. 이 때의 데이터 신호 (Vid1) 의 전압 파형은, 예를 들어 도 10 에 나타내는 것과 같아진다.

상기 서술한 바와 같이, 신호 (FRP) 는 1행분의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 기간에서 H 레벨이 되고, 당해 기간의 후반 기간에서 L 레벨이 된다. 또, 기입 극성은 제 1 기간에 있어서 11∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 경우에는 부극성이고, 1∼10행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 경우에는 정극성인 한편, 제 2 기간에 있어서 1∼10행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 경우에는 부극성이고, 11∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 경우에는 정극성이다. 이 때문에, 제 1 및 제 2 기간 중 어느 경우에나 데이터 신호 (Vid1) 는 신호 (FRP) 가 H 레벨이면 부극성이 되고, 전압 (Vc) 에 대해 화상 데이터 (Vout) 로 지정된 전압 (도 10 에서 ↓ 로 나타냄) 만 저위측 전압되는 한편, 신호 (FRP) 가 L 레벨이면 정극성이 되고, 전압 (Vc) 에 대해 화상 데이터 (Vout) 로 지정된 전압 (도 10 에서 ↑ 로 나타냄) 만 고위측 전압된다.

여기에서, 화상 데이터 (Vout) 에 대응하지 않는 기간에는 데이터 신호 (Vid1) 의 전압은, 정극성이면 흑색에 상당하는 전압 (Vb(+)) 이 되고, 부극성이면 흑색에 상당하는 전압 (Vb(-)) 이 된다.

또, 도 10 에서 전압 Vw(+), Vw(-) 는 각각 정극성, 부극성의 백색에 상당하는 전압이다. 즉 데이터 신호 (Vid1) 는, 정극성이면 전압 Vw(+) 이상 전압 Vb(+) 이하의 범위에서, 부극성이면 전압 Vb(-) 이상 전압 Vw(-) 이하의 범위에서 각각 계조에 따른 값이 된다.

전압 (Vc) 은 데이터 신호의 진폭 기준이므로, 전압 Vb(+), Vw(+) 와 전압 Vb(-), Vw(-) 은 전압 (Vc) 을 기준으로 대칭인 관계가 된다. 또, 여기에서는 데이터 신호 (Vid1) 를 예시하고 있지만, 다른 채널의 데이터 신호 (Vid2∼Vid6) 에 대해서도 마찬가지로 화상 데이터 (Vout) 로 지정된 전압이며, 정 또는 부극성의 전압이 된다.

접지 전위 (Gnd) 는 샘플링 신호나 주사 신호 등의 논리 신호의 L 레벨에 상당하며, 전압 (Vdd) 은 논리 신호의 H 레벨에 상당한다.

외부 장치로부터 6행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 동작에 대해서도 5행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 동작과 동일하며, 당해 기간의 전반 기간에서는 메모리 (300) 로부터 16행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출됨과 함께 주사 신호 (G16) 가 H 레벨이 되어 16행째의 화소에 대한 부극성의 전압 기입이 실행되고, 후반 기간에서는 메모리 (300) 로부터 6행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출됨과 함께 주사 신호 (G6) 가 H 레벨이 되어 6행째의 화소에 대한 정극성의 전압 기입이 실행된다.

7∼14행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에서는, 그 후반 기간에서만 주사 신호 (G7∼G14) 가 각각 H 레벨이 되어 7∼14행째의 화소에 대한 정극성의 전압 기입이 실행된다.

15, 16행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간 중 전반 기간에서는 메모리 (300) 로부터 5, 6행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출됨과 함께 주사 신호 (G5, G6) 가 H 레벨이 되어 5, 6행째의 화소에 대한 부극성의 전압 기입이 실행되는 한편, 후반 기간에서는 15, 16행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출됨과 함께 주사 신호 (G15, G16) 가 H 레벨이 되어 15, 16행째의 화소에 대한 정극성의 전압 기입이 실행된다.

17∼20행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에서는, 그 전반 기간에서 주사 신호 (G7∼G10) 가 각각 H 레벨이 되어 7∼10행째의 화소에 대한 부극성의 전압 기입이 실행된다.

1∼5행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간에서는, 그 후반 기간에서 주사 신호 (G1∼G5) 가 각각 H 레벨이 되어 1∼5행째의 화소에 대한 정극성의 전압 기입이 실행된다.

이러한 구동에 의하면, 어떤 화소에 주목했을 때, 당해 주목 화소에 대응하는 주사선이 선택되고 나서 다음번 선택될 때까지의 기간에 있어서, 데이터선 (114) 에는 정극성과 부극성의 전압이 교대로 인가되므로, 데이터선의 전압이 당해 화소의 액정 용량의 유지 전압에 미치는 영향 (특히 TFT (116) 의 오프 리크량) 이 표시 영역 위와 아래에서 차이가 생기는 일이 없다.

또 본 실시형태에서는, 어떤 행이 선택된 타이밍에서는 당해 행에 위치하는 화소와 당해 행과 1개 위의 행에 위치하는 화소에서 기입 극성이 상반되지만, 그 이외의 화소끼리는 기입 극성이 동일해진다. 이 때문에, 디스클리네이션 (배향 불량) 에 의한 표시 품위의 저하도 방지할 수 있다.

그런데, 상기 서술한 바와 같이 본 실시형태에서는, 데이터 신호 (Vout) 를 6 채널로 분배함과 함께, 시간축으로 6배로 신장하는 상 전개 처리를 실행하고 있다. 상 전개 처리하지 않는 구성에서는, 데이터 신호를 1 화소마다 데이터선에 샘플링하기 위해 데이터선에 데이터 신호를 공급하는 시간을 충분히 확보할 수 없게 되어, 화소에 대한 기입이 불충분해질 가능성이 있기 때문이다.

그러나 이 상 전개 처리를 실행하는 구성에서는, 데이터 신호 (Vid1∼Vid6) 에 있어서, 어떠한 이유에 의해 채널간의 특성에 차이가 발생하면, 예를 들어 모든 화소를 동일한 계조로 하는 표시를 할 때에도 데이터선 (114) 에 샘플링되는 전압에 차이가 생기게 된다. 이 때문에, 표시되는 계조가 미묘하게 달라 이것이 표 시 품위를 저하시킨다.

이 차이를 없애는 방향의 처리를 실행할 수 있으면 좋겠지만, 이러한 처리를 실행하는 타이밍이 문제가 된다. 즉, 영역 주사 구동에서는 끊임없이 데이터 신호 (Vout) 가 독출되므로, 표시 패널의 수직 주사에서 단순한 블랭킹 기간이 존재하지 않는 것이다.

그래서 먼저 본 실시형태에서는, 1∼4행째 및 17∼20행째를 더미 화소로 하고 있다. 이것에 의해 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하지만 대응하는 주사선이 존재하지 않는다. 이 때문에, 더미 화소가 없으면, 어느 주사 신호가 H 레벨이 되는 기간에 더미 화소를 형성함으로써, 어느 주사 신호가 L 레벨이 되는 기간을 형성할 수 있다. 본 실시형태에서는 이 기간을 의사적인 블랭킹 기간으로 이용하기로 하고 있다.

단, 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간의 전반 또는 후반 기간 중 일방의 기간에서는 동일한 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되지만, 타방의 기간에서는 10행 떨어진 화상 데이터 (Vout) 가 독출되어 전압의 기입이 실행된다. 그리고 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간 중 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간에서의 전반 또는 후반의 관계는, 제 1 기간 및 제 2 기간에서 바뀐다.

여기에서, 수직 주사 신호나 수평 주사 신호 등을 카운트하여 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vin) 가 공급되는 기간을 검출함과 함께 제 1 및 제 2 기간 중 어느 것인지를 판별하고, 이들 검출 결과에 따라 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간을 특정하는 구성도 생각할 수 있지만, 회로 구성이 복잡화될 우려가 있다.

그래서 본 실시형태에서는, 1∼4행째 및 17∼20행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간 중 주사 제어 회로 (52) 에 의해 출력되는 전송 개시 펄스 (DX, DY) 및 인에이블 신호 (Enb1) 가 소정의 조건을 만족했을 때 상기 채널의 차를 없애는 방향의 처리를 실행하는 것으로 한 것이다.

상세하게는, 검출 회로 (60) 는 전송 개시 펄스 (DX, DY) 및 인에이블 신호 (Enb1) 를 입력하고, 다음 기간에서 신호 (Me) 를 H 레벨로 한다. 즉, 검출 회로 (60) 는 전송 개시 펄스 (DY) 가 출력되고 있는 (H 레벨로 되어 있는) 기간에서, 인에이블 신호 (Enb1) 가 H 레벨이 되는 기간의 1 쇼트째이며 전송 개시 펄스 (DX) 의 하강 타이밍으로부터 신호 (FRP) 의 논리 레벨이 천이할 때까지의 타이밍까지의 기간에 걸쳐 신호 (Me) 를 H 레벨로 하고, 전압 측정 회로군 (70) 에 대해 전압 모니터 동작을 허가한다.

또한 검출 회로 (60) 는, 전송 개시 펄스 (DY) 가 출력되고 있는 기간에 있어서, 인에이블 신호 (Enb1) 가 최초로 H 레벨이 되는 기간 직후의 전송 개시 펄스 (DX) (의 하강) 에만 주목할 필요가 있는데, 이러한 구성으로는 주목하는 전송 개시 펄스 (DX) 가 하강할 때 전송 개시 펄스 (DX) 를 마스크함으로써, 이후의 전송 개시 펄스 (DX) 를 무시함과 함께, 전송 개시 펄스 (DY) 가 H 레벨로부터 L 레벨로 하강한 것에 의해 당해 마스크를 해제하는 구성을 생각할 수 있다.

상기 서술한 바와 같이, 제 1 기간에 있어서 전송 개시 펄스 (DY) 가 H 레벨이 되는 것은 14, 4, 15, 5행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 기간이며, 이 중 인에이블 신호 (Enb1) 가 H 레벨이 되는 기간은 4행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 기간이다. 그리고 전송 개시 펄스 (DX) 가 하강하는 타이밍은 12열째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되기 직전이다.

한편, 제 2 기간에 있어서 전송 개시 펄스 (DY) 가 H 레벨이 되는 것은 4, 14, 5, 15행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 기간이며, 이 중 인에이블 신호 (Enb1) 가 H 레벨이 되는 기간은 4행째의 화상 데이터 (Vout) 를 독출하는 기간이다. 그리고 전송 개시 펄스 (DX) 가 하강하는 타이밍은, 11열째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출된 직후이다.

따라서 제 1 및 제 2 기간 모두에서 신호 (Me) 는, 상세하게는 영역 (100a) 에 속하는 행 직전에 위치하는 더미의 4행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 도중부터, 영역 (100a) 에 속하는 행의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되기 직전까지에서 H 레벨이 된다.

검출 회로 (60) 에 의해 신호 (Me) 가 H 레벨이 되면, 전압 측정 회로군 (70) 에서의 각 채널의 전압 측정 회로 (72) 는 각각 대응하는 채널의 데이터 신호의 전압을 측정함과 함께, 측정한 전압이 목표로 하는 전압이 되도록, 대응하는 채널의 전압 증폭 회로 (342) 의 전압 증폭률을 설정 변경한다.

여기에서, 4행째의 화상 데이터 (Vout) 는 더미이므로, 이 화상 데이터 (Vout) 에 대응하는 전압은 제 1 기간에서는 정극성 기입이 지정되는 관계상, 흑색 의 정극성에 상당하는 전압 Vb(+) 가 된다. 이 때문에, 제 1 기간에서 채널 1∼6 의 목표 전압은 Vb(+) 이다.

이 때문에, 예를 들어 채널 (1) 에 대응하는 전압 측정 회로 (72) 는, 도 12에 나타내는 바와 같이, 측정한 데이터 신호 (Vid1) 의 전압이 목표 전압인 Vb(+) 로부터 어긋나 있으면, 채널 (1) 에 대응하는 데이터 신호 (Vid1) 가 전압 Vb(+) 가 되도록 전압 증폭 회로 (342) 의 전압 증폭률을 변경한다. 측정한 데이터 신호 (Vid1) 의 전압이 목표 전압인 Vb(+) 에 일치하면, 전압 증폭 회로 (342) 에서의 전압 증폭률의 변경을 종료한다. 다른 채널 (2∼6) 에 대해서도 동일한 동작이 실행된다.

또, 제 2 기간에서는 부극성 기입이 지정되는 관계상, 4행째의 화상 데이터 (Vout) 에 대응하는 전압은 흑색의 부극성에 상당하는 전압 Vb(-) 가 된다. 즉, 제 2 기간에서 채널 (1∼6) 의 목표 전압은 Vb(-) 가 되어, 신호 (Me) 가 H 레벨이 되었을 때 동일한 동작이 실행된다.

또 이러한 전압 측정으로부터 전압 증폭률 변경까지의 동작은, 도 11 에서 해칭으로 나타내는 바와 같이, 신호 (Me) 가 H 레벨이 되는 기간보다 충분히 짧은 기간에 완료된다. 이 때문에, 신호 (Me) 는 그 H 레벨이 되는 타이밍이 중요하고, L 레벨이 되는 타이밍은 그다지 중요하지는 않다.

본 실시형태에서는, 영역 주사 구동에 있어서 상 전개 처리하는 경우에서도 의사적으로 블랭킹 기간을 만들어 내, 이 기간에서 각 채널의 특성차를 없애는 방향의 처리를 실행하고 있다. 이 때, 의사적 (擬似的) 인 블랭킹 기간의 개시 타이밍은 영역 주사 구동에 이용하는 전송 개시 펄스 (DX, DY) 및 인에이블 신호 (Enb1) 의 논리 레벨이 소정의 조건을 만족했을 때로 하고 있으므로, 카운터나 그 카운트 결과를 판단하는 구성이 불필요해져 구성의 간이화를 도모하는 것이 가능해진다.

상기 서술한 실시형태에서는, 설명의 편의상, 영역 (100a) 에서의 화소의 배열을 세로 12행×가로 24열의 매트릭스 배열로 함과 함께 상하 4행씩 더미로 했지만, 이것에 한정되지 않는 것은 말할 필요도 없다.

이와 같이 매트릭스 배열, 특히 더미에 관한 배열을 변경하면, 더미행의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간이 인에이블 신호 (Enb2) 가 H 레벨이 되는 기간에 대응하는 경우도 있다. 이 때문에, 검출 회로 (60) 는 인에이블 신호 (Enb1) 또는 인에이블 신호 (Enb2) 중 어느 하나를 적절하게 전환하여 입력하는 구성이 바람직하다.

그리고, 상기 서술한 실시형태에서는 4행째의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간의 일부에서 신호 (Me) 를 H 레벨로 했지만, 이 구성은 주로 전송 개시 펄스 (DY) 가 공급되는 타이밍과 전송 개시 펄스 (DY) 가 공급되고 나서 최초로 주사 신호가 H 레벨이 되는 행과의 관계 (즉, 주사선 구동 회로 (130) 의 구성) 에 의존한다. 이 때문에, 주사 제어 회로 (52) 가 출력하는 신호를 이용하여 특정 가능하다면, 4행째 이외의 어느 한 행의 더미의 화상 데이터 (Vout) 가 독출되는 기간에서 신호 (Me) 를 H 레벨로 해도 된다.

또, 신호 (Me) 가 H 레벨이 되었을 때, 전압 측정으로부터 전압 증폭률 변경 까지의 동작을 6 채널분 동시 병행적으로 개시했지만, 실행 타이밍을 채널마다 시프트시키면서 차례로 실행하는 구성으로 해도 된다.

한편, 상기 서술한 실시형태에서는, S/P 변환 회로 (310) 에서의 상 전개수 (m) 를 「6」으로 하고 화상신호선 (171) 의 개수도 「6」으로 했지만, 이 상 전개수 및 화상신호선의 개수를 나타내는 m 에 대해서는 2 이상의 정수이면 된다.

또한 처리 회로 (50) 는 디지털의 화상 데이터 (Vin) 를 입력하여 상 전개했지만, 아날로그의 화상신호를 입력하여 상 전개 처리하는 구성으로 해도 된다. 그리고 상기 서술한 실시형태에 있어서는, 공통 전극 (108) 과 화소 전극 (118) 의 전압 실효값이 작은 경우에 백색 표시를 하는 노멀리 화이트 모드로서 설명했지만, 흑색 표시를 하는 노멀리 블랙 모드로 해도 된다.

블록 선택 회로 (140) 에서는, 서로 인접하는 시프트 신호끼리의 논리곱 신호를 샘플링 신호 (S1, S2, S3, S4) 로 했지만, 주사선 구동 회로 (130) 와 같이 인에이블 신호를 이용하여 당해 논리곱 신호의 펄스폭을 더욱 좁히는 구성으로 해도 된다.

실시형태에서는, 공통 전극 (108) 에 인가되는 전압 (LCcom) 을, 도 10 에 나타내는 바와 같이 데이터 신호의 진폭 기준과 동일한 전압 (Vc) 으로 하였다.

그러나 TFT (116) 의 게이트·드레인 간의 기생 용량에 기인하여 온으로부터 오프했을 때 드레인 (화소 전극 (118)) 의 전위가 저하하는 현상 (푸시다운, 관통, 필드 스루 등이라 불림) 이 발생하는 경우가 있다. 액정층 (105) 의 열화를 방지하기 위해 액정 용량에 대해서는 교류 구동이 원칙이지만, 전압 (LCcom) 과 극성 반전의 기준 전압 (Vc) 을 동일하게 하여 교류 구동하면, 푸시다운 때문에 액정 용량의 전압 실효값은 부극성 기입이 정극성 기입보다 약간 커져 버린다. 그래서, 푸시다운의 영향을 무시할 수 없는 경우에는 동일 계조로 정극성·부극성 기입을 해도 액정 용량의 전압 실효값이 서로 동일해지도록, 공통 전극 (108) 의 전압 (LCcom) 을 극성 반전의 기준 전압 (Vc) 보다 약간 저위로 하는 구성이 바람직하다.

상기 서술한 실시형태에서는 액정으로서 TN 형을 이용했지만, BTN (Bi-stable Twisted Nematic) 형·강유전형 등의 메모리성을 갖는 쌍안정형이나, 고분자 분산형, 또한 분자의 장축방향과 단축방향에서 가시광의 흡수에 이방성을 갖는 염료 (게스트) 를 일정한 분자 배열의 액정 (호스트) 에 용해하여 염료 분자를 액정 분자와 평행하게 배열시킨 GH (게스트 호스트) 형 등의 액정을 이용해도 된다.

또, 전압 무인가시에는 액정 분자가 양 기판에 대해 수직 방향으로 배열되는 한편, 전압 인가시에는 액정 분자가 양 기판에 대해 수평 방향으로 배열된다는 수직 배향 (호메오트로픽 배향) 의 구성으로 해도 되고, 전압 무인가시에는 액정 분자가 양 기판에 대해 수평 방향으로 배열되는 한편, 전압 인가시에는 액정 분자가 양 기판에 대해 수직 방향으로 배열되는 평행 (수평) 배향 (호모지니어스 배향) 의 구성으로 해도 된다. 이와 같이 본 발명에서는, 액정이나 배향 방식으로서 여러 가지 것에 적용하는 것이 가능하다.

다음에, 상기 서술한 실시형태에 관련된 전기 광학 장치를 이용한 전자기기의 일례로서, 상기 서술한 표시 패널 (100) 을 라이트 밸브로서 이용한 프로젝터에 대해 설명한다. 도 13 은 이 프로젝터의 구성을 나타내는 평면도이다. 이 도에 나타내는 바와 같이, 프로젝터 (2100) 내부에는 할로겐 램프 등의 백색광원으로 이루어지는 램프 유닛 (2102) 이 형성되어 있다. 이 램프 유닛 (2102) 으부터 사출된 투사광은, 내부에 배치된 3장의 미러 (2106) 및 2장의 다이크로익 미러 (2108) 에 의해 R (적), G (녹), B (청) 의 3 원색으로 분리되고, 각 원색에 대응하는 라이트 밸브 (100R, 100G 및 100B) 에 각각 유도된다. B 색의 광은 다른 R 색이나 G 색과 비교하면 광로가 길기 때문에, 그 손실을 막기 위해 입사 렌즈 (2122), 릴레이 렌즈 (2123) 및 출사 렌즈 (2124) 로 이루어지는 릴레이 렌즈계 (2121) 를 통하여 유도된다.

여기에서, 라이트 밸브 (100R, 100G 및 100B) 의 구성은 상기 서술한 실시형태에서의 표시 패널 (100) 과 동일하고, 처리 회로 (도 13 에서는 생략) 로부터 공급되는 R, G, B 의 각 색에 대응하는 화상신호로 각각 구동되는 것이다. 즉 이 프로젝터 (2100) 에서는, 표시 패널 (100) 을 포함하는 전기 광학 장치가 R, G, B 의 각 색에 대응하여 3세트 형성된 구성으로 되어 있다.

라이트 밸브 (100R, 100G, 100B) 에 의해 각각 변조된 광은 다이크로익 프리즘 (2112) 에 3 방향으로부터 입사된다. 그리고 이 다이크로익 프리즘 (2112) 에 있어서, R 색 및 B 색의 광은 90도로 굴절하는 한편 G 색의 광은 직진한다. 따라서 각 색의 화상이 합성된 후, 스크린 (2120) 에는 투사 렌즈 (2114) 에 의해 컬러 화상이 투사되게 된다.

라이트 밸브 (100R, 100G 및 100B) 에는 다이크로익 미러 (2108) 에 의해 R, G, B 의 각 원색에 대응하는 광이 입사되므로, 상기 서술한 바와 같이 컬러 필터를 형성할 필요는 없다. 또한 라이트 밸브 (100R, 100B) 의 투과 이미지는 다이크로익 미러 (2112) 에 의해 반사된 후에 투사되는 데에 반해, 라이트 밸브 (100G) 의 투과 이미지는 그대로 투사되므로, 라이트 밸브 (100R, 100B) 에 의한 수평 주사 방향은, 라이트 밸브 (100G) 에 의한 수평 주사 방향과 반대방향으로 하여 좌우를 반전시킨 이미지를 표시하는 구성으로 되어 있다.

전자기기로는, 도 13 을 참조하여 설명한 것 외에도 텔레비전이나 뷰파인더형·모니터 직시형 비디오테이프 레코더, 카 내비게이션 장치, 페이저, 전자수첩, 전자계산기, 워드프로세서, 워크스테이션, 화상 전화, POS 단말, 디지털스틸카메라, 휴대전화기, 터치 패널을 구비한 기기 등을 들 수 있다. 그리고 이들 각종 전자기기에 대해 본 발명에 관련된 전기 광학 장치를 적용할 수 있는 것은 말할 필요도 없다.

영역 주사 구동에 있어서 블랭킹 기간에 상당하는 기간을 만들어 내어 당해 기간에 있어서 필요한 처리를 실행하는 것이 가능하다.

Claims (8)

1. 화소 영역에, 복수 행의 주사선과 복수 열의 데이터선, 상기 복수 행의 주사선과 복수 열의 데이터선의 교차에 대응하여 형성된 복수의 화소를 갖는 전기 광학 장치로서,

   전송 개시 펄스를 차례로 시프트하는 시프트 레지스터를 구비하고, 상기 화소 영역을 상기 주사선을 따라 적어도 제 1 영역 및 제 2 영역으로 가상적으로 분할하여, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 일방에 포함되는 주사선을 선택한 후에, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 타방에 포함되는 주사선을 선택하는 주사선 구동 회로,

   상기 주사선이 선택되었을 때, m (m 은 데이터선 열수보다 작은 2 이상의 정수) 열의 데이터선으로 이루어지는 블록을 차례로 선택하는 블록 선택 회로,

   선택된 주사선과 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 대응하는 화소의 계조에 따른 전압의 데이터 신호를, m 개의 화상신호선에 각각 공급하는 데이터 신호 공급 회로,

   상기 데이터선 각각에 형성되며, 상기 m 개의 화상신호선에 공급된 상기 데이터 신호를, 상기 블록 선택 회로에 의해 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 샘플링하는 샘플링 스위치, 및

   상기 전송 개시 펄스가 상승할 때부터 1행째의 상기 주사선에 대응하는 화상신호가 공급될 때까지의 기간에, 상기 m 개의 화상신호선 중 적어도 1개에 공급된 데이터 신호의 전압을 측정하는 전압 측정 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 전압 측정 회로는, 측정한 데이터 신호의 전압이 미리 정해진 목표치가 되도록, 상기 데이터 신호 공급 회로에 의한 데이터 신호의 전압을 조정하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 주사선 구동 회로는,

   전송 개시 펄스 (DY) 를 클록 신호 (CLY) 로 차례로 시프트하는 시프트 레지스터, 및

   상기 복수의 주사선 각각에 대응하여 형성됨과 함께, 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 하나가 공급되고, 상기 시프트 레지스터로부터 출력된 시프트 신호의 펄스폭을, 상기 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 하나의 펄스폭으로 좁혀, 상기 주사선에 주사 신호로서 공급하는 논리 회로를 가지며,

   상기 제 1 인에이블 신호가 공급되는 논리 회로와, 상기 제 2 인에이블 신호가 공급되는 논리 회로는 교대로 배열되며,

   상기 블록 선택 회로는, 전송 개시 펄스 (DX) 를 클록 신호 (CLX) 로 차례로 시프트하는 시프트 레지스터를 가지며,

   상기 전송 개시 펄스 (DY), 상기 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 하나, 및 상기 전송 개시 펄스 (DX) 의 레벨을 검출함으로써, 상기 전압 측정 회로에 대해 상기 전압의 측정을 허가할지 여부를 검출하는 검출 회로를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
4. 제 3 항에 있어서,

   상기 검출 회로는,

   상기 전송 개시 펄스 (DY) 와, 상기 제 1 또는 제 2 인에이블 신호 중 어느 하나를 전환 가능하게 하여 상기 레벨을 검출하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
5. 화소 영역에 복수 행의 주사선과 복수 열의 데이터선의 교차에 대응하여 형성되며, 상기 주사선이 선택되었을 때 상기 데이터선에 공급된 데이터 신호의 전압 에 따른 계조가 되는 화소를 복수 가지며,

   상기 화소 영역을 상기 주사선을 따라, 적어도 제 1 영역 및 제 2 영역으로 가상적으로 분할한 전기 광학 장치로서,

   상기 복수의 주사선을 소정 방향을 향하도록 일정한 간격을 두고 배타적으로 선택하고,

   상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 일방의 주사선을 선택한 후에, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 타방의 주사선을 선택하는 제 1 경우와, 상기 제 1 영역 또 는 제 2 영역의 일방의 주사선을 선택한 후에, 선택한 주사선에 대해 상기 소정 방향에서 인접하는 주사선을 선택하는 제 2 경우로 나누어, 상기 복수의 주사선을 선택하는 주사선 구동 회로,

   상기 주사선이 선택되었을 때, m (m 은 데이터선 열수보다 작은 2 이상의 정수) 열의 데이터선으로 이루어지는 블록을 차례로 선택하는 블록 선택 회로,

   선택된 주사선과 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 대응하는 화소의 계조에 따른 전압의 데이터 신호를, m 개의 화상신호선에 각각 공급하는 데이터 신호 공급 회로,

   상기 데이터선 각각에 형성되며, 상기 m 개의 화상신호선에 공급된 상기 데이터 신호를, 상기 블록 선택 회로에 의해 선택된 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 샘플링하는 샘플링 스위치, 및

   상기 제 2 경우에서, 상기 복수의 주사선이 모두 선택되지 않을 때, 상기 m 개의 화상신호선 중 적어도 1개에 공급된 데이터 신호의 전압을 측정하는 전압 측정 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
6. 화소 영역에 복수 행의 주사선과 복수 열의 데이터선의 교차에 대응하여 형성되며, 상기 주사선이 선택되었을 때 상기 데이터선에 공급된 데이터 신호의 전압 에 따른 계조가 되는 화소를 복수 가지며,

   상기 화소 영역을 상기 주사선을 따라, 적어도 제 1 영역 및 제 2 영역으로 가상적으로 분할한 전기 광학 장치에서의 데이터 신호의 전압 모니터 방법으로서,

   전송 개시 펄스를 차례로 시프트함으로써, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 일방의 주사선을 선택한 후에, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 타방의 주사선을 선택하고,

   상기 주사선을 선택했을 때, m (m 은 데이터선 열수보다 작은 2 이상의 정수) 열의 데이터선으로 이루어지는 블록을 차례로 선택하고,

   선택한 주사선과 선택한 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 대응하는 화소의 계조에 따른 전압의 데이터 신호를, m 개의 화상신호선에 각각 공급하고,

   상기 m 개의 화상신호선에 공급한 상기 데이터 신호를, 선택한 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 샘플링하고,

   상기 전송 개시 펄스가 상승할 때 부터 1행째의 상기 주사선에 대응하는 화상신호가 공급될 때까지의 기간에, 상기 m 개의 화상신호선 중 적어도 1개에 공급된 데이터 신호의 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치에서의 데이터 신호의 전압 모니터 방법.
7. 화소 영역에 복수 행의 주사선과 복수 열의 데이터선의 교차에 대응하여 형성되며, 상기 주사선이 선택되었을 때 상기 데이터선에 공급된 데이터 신호의 전압 에 따른 계조가 되는 화소를 복수 가지며,

   상기 화소 영역을 상기 주사선을 따라, 적어도 제 1 영역 및 제 2 영역으로 가상적으로 분할한 전기 광학 장치의 구동 방법으로서,

   전송 개시 펄스를 차례로 시프트함으로써, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 일방의 주사선을 선택한 후에, 상기 제 1 영역 또는 제 2 영역의 타방의 주사선을 선택하고,

   상기 주사선을 선택했을 때, m (m 은 데이터선 열수보다 작은 2 이상의 정수) 열의 데이터선으로 이루어지는 블록을 차례로 선택하고,

   선택한 주사선과 선택한 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 대응하는 화소의 계조에 따른 전압의 데이터 신호를, m 개의 화상신호선에 각각 공급하고,

   상기 m 개의 화상신호선에 공급한 상기 데이터 신호를, 선택한 블록에 속하는 m 열의 데이터선에 샘플링하고,

   상기 전송 개시 펄스가 상승할 때 부터 1행째의 상기 주사선에 대응하는 화상신호가 공급될 때까지의 기간에, 상기 m 개의 화상신호선 중 적어도 1개에 공급된 데이터 신호의 전압을 측정하고,

   측정한 데이터 신호의 전압이 미리 정해진 목표치가 되도록, 측정한 화상신호선에 공급되는 데이터 신호의 전압을 조정하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
8. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 기재된 전기 광학 장치를 갖는 것을 특징으로 하는 전자기기.

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