KR100827218B1 - 지문 기반 스마트카드 - Google Patents
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Abstract
복수의 전하 저장 디바이스들(12), 즉, 지문 접촉 표면(13)을 포함하는 에폭시 내에 배치되는 도전성 구체들(21)로 도전성 표면들(22)을 통해 연결하는 공유된 메모리를 갖는 지문 캡쳐 디바이스(10)와 공유되는 프로세서 디바이스 및 메모리를 포함하는 스마트 카드 회로를 포함하는 단일한 임베딩된 IC 칩(1222)을 포함하는 스마트카드 디바이스(1200)가 개시된다. 대상(26)의 상승된 부분들이 어떠한 도전성 구체들(21)과 적절하게 접촉할 때, 대응하는 전하 저장 디바이스(12)는 접지된 도전성 표면에 접속되는 개별적 도전성 구체를 통해 방전할 것이다. 이러한 방전은 대상의 거칠음 형상(asperity feature)들을 동시에 감지하여 그 감지된 정보 또한 저장하도록 작용한다.
전하 저장 디바이스, 지문 접촉 표면, 도전성 구체, 스마트카드, 지문 캡쳐 디바이스
Description
본 발명은 일반적으로 임베딩된 지문 인증 능력을 갖는 스마트카드들에 관한 것이다.
지문들은 개인에 따라 유일한 것으로 충분히 이해되므로, 식별 및 확인을 위해 유용하다. 지문을 구성하는 표면의 거칠음(asperity)(즉, 돌출부들 및 함몰부들)은 다양한 방식들로 감시되어 영상화될 수 있고, 그 후에 이러한 목적들을 위해 이전에 저장된 지문 정보와 비교하도록 사용될 수 있다.
지문은 개인의 신원을 인증하는 신뢰성 있고 저렴한 수단을 제공한다. 따라서, 지문 식별 시스템들은 민사 및 형사상 애플리케이션들 모두에 따른 현대 사회에서 중요한 역할을 수행해 왔다. 예를 들어, 대중 안전 구역들 내 범죄자 식별은 최신 조사의 필수적 부분이다. 유사하게는, 신용 카드 또는 개인 신원 사기와 같은 민사상 애플리케이션들에서 지문 식별은 보안 프로세스의 근본적인 부분이 되어 왔다.
지문 식별 및 인증에 대해 한가지 공지된 애플리케이션은 스마트카드와 연관된다. 그러한 애플리케이션에서, 지문 인증 모듈은 스마트카드 내에 임베딩된다. 상기 지문 인증 모듈은 전형적으로, 다른 지문들이 확인되는데 대비하는 초기의 지 문 이미지를 캡쳐, 등록 및 저장하기 위해 사용자에 대한 등록 알고리즘을 수행하는 단계와, 상기 확인 단계에서 사용하기 위해 다음의 지문 이미지를 캡쳐하는 단계와, 상기 저장된 지문 이미지 및 사용자 인증을 비교하기 위해 알고리즘을 수행하는 단계에 필요한 모든 요소들을 포함하는 자급식 집적 회로("IC")의 세트이다. 따라서, 상기 지문 모듈은 전형적으로 센서 디바이스, 프로세싱 디바이스 및 메모리 디바이스를 포함한다. 일단 인증된 사용자의 지문이 확인되면, 또한 스마트카드 내에 임베딩되는 개별적 스마트카드 IC 칩은 호스트 시스템과 통신을 진행 및 설정하도록 자동적으로 활성화될 수 있다.
임베딩된 지문 인증 시스템들과 함께 상기 기술된 스마트카드들은 다수의 제한들을 갖는다. 예를 들어, 상기 지문 인증 모듈은 스마트카드 칩으로부터 IC 칩들의 완전히 개별적인 세트이다. 이것은 실리콘의 개별적 조각들이 각각의 IC 칩에 대해 사용되어야 하기 때문에 스마트카드의 비용이 증가한다. 이것은 또한 그 개별적인 IC 칩들로 인해 스마트카드의 전력 소모를 증가시킨다.
지문 인증이 갖는 이러한 스마트카드들의 또 다른 제한은 2개 IC 칩들이 전형적으로 스마트카드의 반대측들 상에 위치된다는 것이다. 따라서, 스마트카드 IC가 예를 들어 라디오 주파수 통신과 같이 비접촉(contact-less) 수단을 통해 호스트 디바이스와의 통신을 설정하는 애플리케이션에 있어서, 상기 2개 칩들을 접속시키는데 필요로되는 회로는 전형적으로 스마트카드가 판독기 디바이스로부터 적당한 거리에 놓여 계속해서 운용도를 유지하도록 충분한 이득을 통해 바람직한 주파수에서 안테나에 대해 사용가능한 영역을 제한한다.
2개의 개별적 칩들, 스마트 카드 기능들에 대한 것과 센서 기능들에 대한 것의 또 다른 제한은 보안성 위반들에 적용되는 상기 2개 사이의 물리적 상호접속 경로가 존재한다는 것이다. 예를 들어, 또 다른 사람의 지문을 상기 시스템으로 삽입하는 것이 있다.
계속해서, 또 다른 제한은 지문 인증 칩 상의 센서가 전형적으로 커패시턴스 기반이라는 것이다. 커패시턴스 기반 메카니즘들은 상대적으로 양호한 거칠음 검출을 제공하지만, 상기 메카니즘을 손상시키거나 파괴할 수 있는 정전기 방전에 민감하다. 많은 그러한 메카니즘들은 그러한 정전기 방전에 대해 보호하기 위해 티타늄 질화물 재료들을 사용해야 하고, 이것은 제조 과정을 복잡하게 한다. 더욱이, 그러한 커패시턴스 기반 메카니즘들은 전형적으로 저장 가능한 데이터로 감지된 거칠음들을 변환하기 위해 상당한 양의 프로세싱 능력을 요구한다. 지문을 캡쳐하는데 있어서 커패시턴스 기반 센서들의 제한들 이외에, 스마트 카드와 용량성 기반 센서들을 집적하기 위한 능력들에 따른 제한들이 존재한다. 예를 들어, 용량성 센서들은 통상적으로 스마트 카드 IC 내에 포함되지 않는 프로세싱을 위해 동작가능한 증폭기들을 요구한다. 이러한 디바이스들의 추가는 스마트 카드 IC의 비용, 사이즈, 및 전력 소모를 실질적으로 증가시킬 것이다.
그러므로, 별개의 스마트카드 및 지문 인증 IC 칩들을 요구하지 않는 지문 인증 능력들을 갖는 비용 효과적인 스마트카드에 대한 필요성이 존재한다. 스마트카드가 정전기 방전에 대해 자신을 보호하기 위한 적절하고 비용 효과적인 수단을 갖는 것이 추가로 바람직하다.
본 발명의 양호한 실시예는 첨부된 도면들을 참조로 하여 단지 예로써 이제부터 기술된다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 도시한 개략도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 상세히 도시한 개략도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 도시한 상세도.
도 4는 본 발명의 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 도시한 상세도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 흐름도.
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 상세히 도시한 개략도.
도 7은 본 발명의 실시예에 따라 구성된 디바이스를 도시한 블록도.
도 8은 본 발명의 대안적인 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 상세히 도시한 개략도.
도 9는 본 발명의 대안적인 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 상세히 도시한 개략도.
도 10은 본 발명의 대안적인 실시예에 따라 구성된 디바이스의 측면을 상세히 도시한 개략도.
도 11은 본 발명에 따른 지문 기반 스마트카드의 측면을 상세히 도시한 개략 도.
도 12는 본 발명의 실시예에 따른 지문 기반 스마트카드를 도시한 도면.
도 13은 도 12의 스마트카드의 후방을 도시한 분해도.
도 14는 본 발명의 실시예에 따라 구성된 바와 같은 거칠음 검출 디바이스를 도시한 블록도.
도 15는 본 발명의 실시예에 따라 구성된 바와 같은 흐름도.
도 16은 본 발명의 실시예에 따라 구성된 바와 같이 거칠음 검출기와 초기에 접촉하는 거칠음의 측면을 상세히 도시한 개략도.
도 17은 본 발명의 실시예에 따라 구성된 바와 같이 이후의 시간에 거칠음 검출기와 접촉하는 거칠음의 측면을 상세히 도시한 개략도.
도 18은 예시적 거칠음을 도시한 사시도.
도 19는 본 발명의 실시예에 따라 구성된 바와 같이 도 18의 거칠음에 대한 예시적인 위치적 특징 정보를 도시한 상위 평면도.
도 20은 본 발명의 실시예에 따라 구성된 바와 같은 흐름도.
본 발명이 많은 서로 다른 형태들에 따른 실시예들로 변경되는 동안, 본 명세서가 본 발명의 원리들의 예로 고려되고, 제시되기 기술되는 특정한 실시예들로 본 발명을 제한하도록 의도되지 않는다는 이해를 통해 세부적인 특정한 실시예들에 따라 도시되고 기술될 것이다. 추가로, 본 명세서에서 사용되는 용어들 및 단어들은 제한적이지 않으며 단지 예시적인 것으로 고려되어야 한다. 또한, 예시의 단순 성과 명확성을 위해 도면들에 도시된 요소들이 반드시 비율에 따라 도시되지는 않는다는 것을 이해할 것이다. 예를 들어, 그 요소들의 일부의 치수들은 서로 비교하여 확대될 수 있다. 추가로, 적절히 고려되는 경우, 참조 번호들은 대응하는 요소들을 표시하도록 도면들 중에서 반복된다.
일반적으로 보여지는 바와 같이, 이하 기술되는 실시예들은 지문 기반 스마트카드 IC를 포함한다. 본 명세서에서 사용되는 바와 같이, "지문들(fingerprints)"은 일반적으로 지문들에 제한되지 않으며 장문들(palm prints), 및 글로브 프린트들(glove prints)을 포함하는 거칠음들을 갖는 어떠한 표면 또는 패터닝된 촉감을 생성할 수 있는 다른 유사한 표면 변화들을 참조하도록 사용된다.
일 실시예에 있어서, 본 발명은 예를 들어 호스트 시스템과의 통신을 설정하는 것과 같은 지문 인증 및 스마트카드 능력들 모두에 대해 단일 IC 칩을 그에 임베딩한 스마트카드를 포함한다. 단일 IC 칩은 적어도 하나의 메모리 디바이스 및 종래 스마트카드 프로세싱 디바이스를 포함하는 스마트카드 회로와 함께 집적되는 지문 캡쳐 디바이스를 포함한다. 따라서, 지문 캡쳐 디바이스는 스마트카드 스마트카드 회로와 함께 메모리를 공유하며, 또한 지문 접촉 표면을 포함한다. 예를 들어 사용자의 처음 지문을 캡쳐하여 인증하기 위한 등록 알고리즘과, 계속해서 캡쳐된 프린트를 비교하는 매칭 알고리즘들과 같은 지문 캡쳐 디바이스와 연관된 어떠한 프로세싱 기능도 스마트카드의 프로세서 기능과 공유된다.
상기 메모리는 복수의 메모리 셀들로 구성되고, 여기서 각각의 메모리 셀들은 대응하는 전기 디바이스를 갖는다. 지문 접촉 표면은 그 메모리에 실질적으로 동일 평면으로 배치되고, 그를 통해 형성되는 복수의 도전성 경로들을 갖는다. 이러한 도전성 경로들의 적어도 일부는 상기 메모리 셀들 내 대응하는 전기적 디바이스들 중 적어도 일부에 전도 가능하게 연결된다. 일 실시예에서, 상기 전기 디바이스들은 전하 저장 디바이스들로 구성된다.
그렇게 구성되어, 그것의 표면상에 거칠음들을 갖는 대상은 지문 접촉 표면과 접촉한 상태로 놓일 수 있다. 상기 전기적 디바이스들은 이전에 존재하는 전하를 유지하거나, 거칠음들의 패턴에 직접적으로 대응하여 방전된다. 결과적으로, 거칠음 패턴은 동시에 감지되어 저장된다. 패턴이 감지된 동일한 메모리 셀들 내에 정확하게 감지된 정보가 저장될 수 있을 때, 중요한 포스트 감지 계산 프로세싱은 상기 저장을 위해 적절한 그 감지된 정보를 렌더링하도록 거의 또는 전혀 요구되지 않는다. 매우 빈약한 형태의 인자들이 또한 쉽게 수용될 수 있고, 전체적인 디바이스는 현재 가장 저렴하게 사용가능한 종래 기술의 대응물보다 더 적은 크기의 적어도 하나의 주문인 가격 포인트에서 렌더링될 수 있다.
이제 도 1을 참조로 하면, 지문 캡쳐 디바이스는 일반적으로 각각이 공지된 종래 기술 테크닉에 따른 적어도 하나의 전하 저장 디바이스(12)를 포함하는 복수의 메모리 셀들(11)로 구성된다. 일 실시예에 있어서, 이러한 메모리는 예를 들어 랜덤 액세스 메모리와 같은 반도체 메모리를 포함한다. 보다 특별한 실시예에 있어서, 상기 메모리는 정적 랜덤 액세스 메모리로 구성될 수 있다. 그러한 메모리에 있어서, 전하 저장 디바이스(12)의 충전된 상태는 대응하는 메모리 셀 내에 저장되는 논리 1 또는 0을 표현한다. 지문 접촉 표면(13)은 메모리 셀들(11) 위에 배치된 다. 지문 접촉 표면은 도전성 경로들(14) 중 적어도 일부가 전하 저장 디바이스들(12) 중 적어도 일부에 전도 가능하게 연결되는 것과 같이 그것을 통해 형성되는 복수의 도전성 경로들(14)을 갖는다. 그렇게 구성되고 이하 보다 상세히 기술되는 것과 관련하여, 도전성 경로는 메모리를 포함하는 개별적 전하 저장 디바이스들(12) 및 지문 접촉 표면(13)의 외부 표면 사이에 존재한다.
이제 도 2를 참조로 하면, 지문 캡쳐 디바이스(10)의 실시예의 보다 상세한 표현이 설명될 것이다. 이러한 기술에서 제시되는 바와 같이, 각각의 전하 저장 디바이스(12)는 메모리의 외부 표면상에 형성되는 바와 같이 도전성 표면(22)에 전기적으로 연결된다. 이러한 도전성 표면들(22)은 전극 패드들을 포함하고, 어떠한 적절한 도전성 재료로 형성될 수 있다. 이러한 도전성 표면들(22)은 금으로 도금되는 것이 바람직하다(지문 접촉 표면은 이러한 도전성 표면들(22)에 관하여 기계적 및 화학적 보호를 제공할 것이지만, 얼마간의 습기가 지문 접촉 표면을 침투할 가능성이 높을 것이며, 금도금은 도전성 표면들(22) 부식 약화를 막는데 도움이 될 것이다). 추가로, 도전성 표면들(22)의 일부는 공통 레일(28)에 연결된다. 도시된 바와 같이, 도전성 표면들(22)은 전하 저장 디바이스들(12) 및 공통 레일(28)에 연결되는데 관하여 교체하도록 제시된다. 다른 배치들 및 비율들이 가능하며, 실제로 제시된 애플리케이션 콘텍스트에서 향상된 성능을 제공할 수 있다. 이러한 실시예에 있어서, 비율에 따라 도시되지 않을지라도, 도전성 표면들은 대략 한 측당 2천 인치인 제곱 패드들이다.
손가락 끝 지문들을 감지하는데 사용하도록 의도되는 지문 캡쳐 디바이스 (10)에 대해, 지문 접촉 표면(13)은 대략적으로 폭이 0.5 mm이고 길이가 0.5 mm 일 수 있다. 자신들의 대응하는 전하 저장 디바이스들(12)을 갖는 메모리 셀들 및 도전성 표면들(22)은 대상과의 접촉이 기대되는 지문 접촉 표면(13)의 전체 부분의 적절한 센서 적용범위를 보장하기 위한 배열에 따라 배치될 것이다. 예를 들어, 그러한 실시예는 보다 안전한 행정적 애플리케이션들에서 사용될 수 있다. 그러나, 또 다른 실시예에서 본 발명은 상업적 애플리케이션들에서 주로 사용될 수 있고, 여기서 지문 캡쳐 디바이스는 "스와이프 센서(swipe sensor)"이고, 접촉 표면은 대략 16.5 mm x 1.5 mm와 같은 치수를 통해 서로 다른 외관 비율을 갖는다. 더욱이, 지문 캡쳐 디바이스의 치수들은 전형적으로 스마트카드의 단일 IC 칩의 치수들과 실질적으로 동일하다. 추가로, 상기 IC 칩의 지문 부분은 스마트카드의 후면에 따른 개방을 통해 액세스 가능할 수 있다.
이러한 실시예에서, 지문 접촉 표면(13)은 에폭시 재료로 구성된다. 보다 구체적으로는, 지문 접촉 표면(13)은 이방성 재료로 구성된다. 이러한 실시예에서, 지문 접촉 표면(13)을 통해 형성되는 전기적 도전성 경로들(14)은 도전성 구체들(21)로 구성된다. 이러한 실시예에서, 도전성 구체들(21)은 직경이 대략 7x10-6 m이고(구체들은 도면에서 비율에 따라 도시되지 않는다), 니켈로 구성된다. 그러한 재료의 구체들은 과거에 이른바 도전성 에폭시 재료들로 포함되었었다. 그러나, 그러한 과거의 실시예들에서 그러한 구체들은 은 또는 금과 같은 높은 품질의 전도체를 통해 코팅되었다. 여기서, 니켈 구체들은 그러한 전도체를 통해 코팅되지 않는다. 대신에, 니켈 산화물 코딩이 전형적으로 대략의 그 구체를 형성한다. 결과적으로, 상기 구체들이 전기를 전도할지라도, 그 구체들은 또한 전기의 흐름에 대한 상당한 저항을 나타낸다. 이러한 접근 방식이 종래의 견해에 상당히 반대될지라도, 이러한 실시예의 적어도 일부 이익들이 이하 보다 명확히 나타날 것이다.
도전성 구체들(21)을 포함하는 에폭시 재료들이 (도전성 표면들(22)을 포함하는) 메모리상에 배치될 때, 도전성 구체들(21) 중 하나 또는 그 이상은 도전성 표면들(22) 중 하나에 인접하여 놓일 가능성이 높다. 실제로, 도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 도전성 구체들(21)은 어떠한 제시된 도전성 표면(22)에 인접하여 놓일 가능성이 높다. 예를 들어, 상기 설명된 바와 같이 도전성 표면(22) 및 도전성 구체(21) 치수들을 추정하고, 15 내지 25 퍼센트의 구체 도핑 비율을 추정하면, 각각의 도전성 표면(22)과 접촉하는 대략 8 내지 12개 도전성 구체들(21)이 존재할 것이다. 리던던시의 이러한 레벨은 모든 도전성 표면들(22)(및 그것들의 대응하는 메모리 셀들(11))이 지문 감지 및 저장 프로세스에 대해 능동적이고 사용가능하다는 것을 보장한다.
이하 관련된 바와 같이, 지문 접촉 표면(13)을 포함하는 에폭시는 압축되어 경화된다. 그러나, 그러한 압축 및 경화는 구체들(21)의 노출된 부분이 신뢰성 있는 결과로 생긴다는 것을 보장할 수 없다. 그러므로, 잠시 도 4를 참조로 하면, 지문 접촉 표면(13)의 외부 표면은 도전성 구체들(21)의 부분(41)을 노출하도록 처리될 수 있다. 예를 들어, 마모 또는 플라즈마 클렌징은 이러한 결과를 달성하기 위해 사용될 수 있다.
공지된 종래 기술의 테크닉에 따라, 전하 저장 디바이스들(12)은 자신이 데이터 버스(25)에 연결하는 판독기(24)에 동작가능하게 연결된다. 그렇게 구성되어, 전하 저장 디바이스들(12)의 충전 또는 방전된 상태는 판독기(24)에 의해 확인될 수 있고, 그 결과들은 다른 구성요소들 및 요소들로 버스(25)를 통해 제시된 애플리케이션에 따라 적절한 만큼 제공된다. 본 발명에 있어서, 판독기 기능 및 데이터 버스는 스마트카드 회로 내에 포함된다.
상기 기술된 지문 캡쳐 디바이스(10)는 지문 접촉 표면(13)과 접촉하는 대상(26)의 표면상의 거칠음들에 관한 촉감 정보를 동시에 감지 및 저장하도록 작동한다. 특히, 대상(26)이 지문 접촉 표면(13)과 접촉할 때, 대상(26)의 표면의 돌출부들은 도전성 구체들(21)의 일부와 접촉할 것이다(제시된 예에서 2개 인접한 도전성 구체들(21)이 또한 접촉된다). 이것이 발생할 때, 전류(27)는 도전성 표면(22)과 전도가능하게 접촉하는 도전성 구체(2)를 통해, 대상(26) 자체를 통해, 그리고 공통 레일(28)에 도달하기 위해 또 다른 도전성 구체(21) 도전성 표면(22) 쌍을 통해 이전에 충전된 전하 저장 디바이스(12) 및 도전성 표면(22)으로부터 그에 대응하여 흐를 수 있다. 이것은 물론 그 특정한 전하 저장 디바이스(12)를 방전시키는 결과를 나타낼 것이다.
대상(26)과 접촉하지 않는 도전성 구체들(21)에 연결하는 전하 저장 디바이스들(12)은 방전되지 않을 것이고, 이전에 존재하는 전하를 유지할 것이다. 결과적으로, 지문 캡쳐 디바이스(10)는 전하 저장 디바이스들(12)의 방전되고 충전된 상태들에 따라 감지된 정보를 저장하고 대상에 대한 상승된 피쳐들에 따른 위치에 대 응하는 전하 저장 디바이스들(12)을 방전시켜 대상에 대해 동시에 거칠음들을 감지하도록 작동한다. 감지 및 저장 활동이 또한 빠르게 발생할 수 있다는 것을 의미하는 방전 현상이 빠르게 발생할 것이다(제 2의 1/100번째 순서에 대한 윈도우를 감지하는 것이 쉽게 달성되어야 한다). 결과적으로, 정확한 감지는 심지어 훈련되지 않거나 다른 의도하지 않은 사용자들을 통해서도 달성가능하다.
상기 디바이스(10)는 다양한 방식들로 제공될 수 있다. 도 5를 참조로 하면, 각각이 적어도 하나의 전하 저장 디바이스를 포함하는 복수의 셀들을 포함하는 메모리가 제공된다(51). 그 후에, 복수의 노출된 도전성 패드들이 그의 표면상에 제공된다(52). 이러한 도전성 패드들은 그 전하 저장 디바이스들에 도전성 접속들, 예를 들어 배선 결합들 또는 테이프 자동 결합(tab)을 제공받는다. 그 후에, 도전성 구체들을 포함하는 이방성 에폭시는 메모리 및 도전성 패드들 위에 배치되고(53), 공지된 종래 기술 테크닉에 따라 압축된다(54). 그 다음으로, 이러한 에폭시 재료가 (예를 들어, 섭씨 150도에서 5분 동안 가열하여) 경화될 수 있다. 희망되는 경우, 상기 표면은 그 후에 에폭시 재료의 일부를 제거하고 그에 의해 도전성 구체들의 도전성 표면들을 노출시키도록 작용할 다른 처리, 플라즈마 클렌징, 또는 마모에 의해 처리될 수 있다(56). 이러한 프로세스는 희망되는 경우 다이 레벨(die level) 또는 적절할 때 제조 완료의 더 높은 레벨에서 활용될 수 있다.
초기에 언급된 바와 같이, 어떠한 종래 기술 지문 캡쳐 방법론들은 그러한 방전들로부터 상대적으로 고가의 보호를 요구하고 정전기 방전의 적용을 받는다. 본 실시예 특징들은 정전기 방전으로부터 보호를 집적한다. 도 6을 참조로 하면, 니켈로 구성되고 전형적으로 니켈 산화물로 구성된 외부 표면을 갖는 도전성 구체들(21)은 상당한 전기적 저항(61)을 나타낸다. 이러한 저항(61)은 상기 기술된 방법론에 따른 전하 저장 디바이스(12)의 방전을 방해할 정도로 크지는 않다. 그러나, 저항(61)은 정전기 방전을 현저히 감쇠하기에 충분히 크다. 결과적으로, 큰 정전기 방전(62)은 다른 방식으로 정전기 방전(62)에 의해 손상될 수 있는 도전성 표면(22) 및 전하 저장 디바이스(12)에 도달하기 이전에 현저히 더 적은 서지(surge)(63)를 감소시킬 것이다(또는 완전히 소진된다).
상기 실시예들은 상대적으로 작고 저렴하며, 효과적이고, 얇고, 상대적으로 낮은 전력이며, 본 발명의 스마트 카드 회로 내에 포함되는 것과 같이 기존 프로세서 테크놀로지들과 인터페이싱되는 지문 캡쳐 디바이스(10)를 제공한다. 결과적으로, 이러한 지문 캡쳐 디바이스(10)는 예를 들어 사용자 식별 인증을 통한 그러한 메카니즘들 침투시키기 위해 다양한 기존 메카니즘들과 함께 쉽고 경제적으로 사용될 수 있다.
도 7을 참조로 하면, 예를 들어 인에이블 피쳐들(73)을 제어하기 위한 프로세서(72) 및 적절한 스위칭 디바이스와 같은 인에이플 피쳐(73)에 의해 제어됨에 따른 인에이블 및 디스에이블 상태를 갖는 메카니즘(71)은 지문 캡쳐 디바이스(10)와 통합적으로 쉽게 결합될 수 있다. 그렇게 구성되어, 디바이스(71)의 인에이블먼트(enablement)가 하나 또는 그 이상의 인증된 사용자들에 따라 개인화될 수 있다. 특별히 인증된 사용자에 의한 사용은 지문 캡쳐 디바이스(10) 상의 사용자의 손가락의 배치에 의해 확인될 수 있다. 이러한 지문 캡쳐 디바이스(10)의 다양한 물리 적, 성능상, 및 경제적 이득들 때문에, 프로세서(72) 및 인에이블 디바이스(73)가 지문 인증 시스템을 또한 포함하는 단일 IC 칩들 상의 스마트카드 회로 내에 포함될 수 있는 스마트카드 디바이스(71)가 수용될 수 있다. 스마트카드 디바이스는 신용 카드, 대출 카드, 또는 여권들을 포함하는 다른 신원 또는 정보 카드, 운전 면허증, 및 의료 기록 카드들일 수 있고, 이에 제한되지 않는다.
다른 실시예들이 이러한 지침들의 범위 내에 있다. 예를 들어, 도 8을 참조로 하면, 모든 메모리 셀이 반드시 도전성 표면(22 또는 23)에 연결될 필요는 없다. 일부 메모리 셀들(11A)이 상기 기술된 바에 따른 지문 정보를 감지 및 저장하도록 대응하는 도전성 표면(22)에 연결되는 동안, 다른 메모리 셀들(11B)은 보통의 종래 기술 테크닉에 따라 쓰여지는 보통의 메모리 셀들로 작동할 수 있다. 이러한 방식에 있어서, 메모리 셀들(11A)의 일부는 다른 메모리 셀들(11B)이 다른 정보를 저장하기에 사용가능한 동안, 지문 접촉 표면(13)과 접촉하는 대상들에 직접적으로 응답한다. 예를 들어, (사회 보장 번호 등과 같은) 사용자의 개인 정보 및 최근에 감지되어 저장된 정보가 비교될 수 있는 촉감 정보를 표현하는 데이터의 기준 세트는 메모리 셀들(11B)의 후자의 범주에 따라 저장가능하다.
도 9를 참조로 하면, 또 다른 실시예에서 각각의 도전성 표면(22)은 복수의 전하 저장 디바이스들(12A 내지 12D) 중 어느 것에도 잠재적으로 접속할 수 있다(4개의 그러한 저장 디바이스들이 도 9에 도시되어 있다. 더 적거나 더 많은 그러한 전하 저장 디바이스들이 유사하게 수용될 수 있다). 각각의 그러한 전하 저장 디바이스(12A 내지 12D)는 대응하는 스위치(91 내지 94)를 가지며, 그 스위치는 적절한 메모리 제어기, 프로세서 등에 의해 제어될 수 있다. 도시된 바와 같이, 단지 하나의 전하 저장 디바이스(12A)가 도전성 표면(22)에 전기적으로 연결되는 것과 같이 단지 하나의 스위치(91)만이 폐쇄된다. 그렇게 구성되어, 단지 이러한 제 1 전하 저장 디바이스(12A)는 지문 정보를 캡쳐하도록 이러한 디바이스를 동작시킬 때 방전하도록 사용가능할 것이다. 예를 들어, 이러한 제 1 스위치(91)를 개방하고, 그 후에 제 2 스위치(92)를 폐쇄함으로써, 지문 정보의 제 2 감지 및 캡쳐는 제 1 전하 저장 디바이스(12A) 내에 저장되는 정보를 잃지 않으며 수행될 수 있다. 이러한 방식에 있어서, 제시된 지문의 다중 샘플링들은 정보를 잃지 않고 복잡하거나 시간 소모적인 신호 프로세싱 및 저장 프로토콜들을 반드시 필요로 하지 않으며 효과적일 수 있다.
도 10을 참조로 하면, 또 다른 실시예에서 다중 메모리 다이들(101, 102)은 단일 지문 캡쳐 디바이스(10)를 형성하도록 단일 지문 접촉 표면(13)과 관련하여 사용될 수 있다(단지 2개의 그러한 다이들만이 이러한 실시예에서 제시된다. 보다 일반적으로, 다수의 개별적 다이들은 기능적으로 유용한 지문 접촉 표면 영역을 지원하도록 사용될 가능성이 높다). 이러한 다중 다이들(101, 102)은 특정한 애플리케이션에서 적절하게 공통 프레임 또는 기판(100)상에 지원될 수 있다. 이러한 다중 다이들(101, 102)은 공통 판독기 또는 버스를 공유할 수 있거나, 그 애플리케이션에 적절하게 독립적 메모리 요소들로 작동할 수 있다.
본 발명에 따른 단일 IC를 갖는 지문 기반 스마트카드를 제조하는 한가지 방법은 다음에 따른다. 기존 스마트카드 IC를 취한다. 희망되는 애플리케이션에 의존 하여, 예를 들어 .75 인치 단위의 슬랩 센서(slap sensor)의 사이즈에 따라 IC를 확대할 수 있거나, 직사각형 조각으로 레이아웃을 변경하여 그것을 스와이프 센서의 사이즈로 확대할 수 있다. 스마트카드 IC의 표면상에 2 mil x 2 mil 알루미늄 패드들의 배열을 추가한다. 상기 디바이스의 내부 게이트들에 예를 들어 그것들의 90 %를 패드들의 세트에 접속시킨다. 상기 디바이스의 내부에 그라운드 접속들로 예를 들어 패드들의 10 %를 접속시킨다. 이것은 상기 기술된 방전 저항 지문 센서를 포함한다. 상기 기술된 바와 같은 기계적 및 ESD 보호를 제공하는 패드 영역의 상위에 이방성 도전성 코딩(ACC) 경화된 B 스테이지의 직사각형을 적층한다. 최초 I/O를 IC에 개방하도록 한다. 종래의 어셈블리 프로세서를 사용하여 카드의 나머지에 스마트 카드 IC를 접속시킨다. ACC 코팅된 방전 저항 영역에 개방부를 갖는 스마트 카드 하우징을 준비한다. 하우징 내에 IC 및 회로를 패키징한다.
지문 기능은 ACC 코팅 방전 저항 영역에서 개방부에 손가락을 놓거나 카드의 소유자의 처음 지문 이미지를 캡쳐하도록 센서 영역 위에 손가락을 스와이핑하여 초기화된다. 카드의 소유자는 ACC 코팅 방전 저항 영역에서 개방부 내에 손가락을 놓거나 센서 위에 다시 손가락을 스와이핑하여 나중에 인증된다. 종래의 AFIS(Automatic Fingerprint Identification System) 소프트웨어는 온 보드(즉, Match/On-Card)에 대해 사용되고, 여기서 AFIS 소프트웨어는 지문 모듈 및 스마트카드 회로에 공통인 메모리 셀들 내에 저장될 수 있거나, AFIS 소프트웨어는 원격 매칭을 위해 사용될 수 있다. ACC 코팅 패드들은 또한 전력 소모를 감소시키기 위한 스위치와 같이 ACC를 사용하여 센서를 턴 온 및 턴 오프하도록 사용될 수 있다. 패드들의 서브 세트는 연속적으로 모니터링될 수 있다. 그러한 패드들의 상태가 변화할 때, 다른 패드들이 초기화되어 판독될 수 있고, 그에 의해 상기 디바이스를 턴 온한다. 본 발명에 따른 지문 기반 스마트카드를 제조하는 다른 방법들은 당업자들에 의해 구상될 수 있다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따른 지문 기반 스마트카드 IC(1100)의 측면을 상세히 도시한 개략도이다. ACC 코팅 방전 저항 영역(1124) 및 복수의 접촉부들(1122)을 포함하는 지문 센서(1120)를 터치하는 손가락(110)의 일부가 도시되어 있다. 상기 IC는 또한 복수의 메모리 셀들(1132)을 갖는 메모리(1130)를 포함한다. 마지막으로, IC(1100)는 본 기술 분야에 공지된 종래의 스마트카드 회로를 포함한다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따른 지문 기반 스마트카드(1200)를 도시하고 있다. 스마트카드 기능을 위해 적어도 하나의 금 접촉 패드들(1214)에 접속되는 단일 IC(1222)의 일부와 함께 스마트 카드의 전면(1210)이 도시되어 있다. 센서 기능을 위해 노출된 단일 IC(1222)의 일부와 스마트 카드의 후면(1220)이 추가로 도시되어 있다.
도 13은 도 12의 스마트카드의 후면(1220)을 도시한 분해도이며, 여기서 손가락(1310)의 일부는 금 접촉 패드들(1330)이 접속되는 스마트카드 IC 상에 지문 센서(1320)을 터치한다.
향상된 거칠음 검출 기능은 본 발명의 또 다른 실시예에서 단일 IC 칩에 추가될 수 있다. 일반적으로 말해서, 이러한 다양한 실시예들에 관하여, 거칠음 검출 이 시간에 걸쳐 발생한다. 이것은 그것의 위치적 특징들(또한, 희망되는 경우, 거칠음을 지원하는 표면의 위치적 특징들)과 관련하여 제시된 거칠음을 특징짓도록 한다. 그러한 정보는 그것의 명백한 3차원 형태 인자와 관련하여 거칠음을 특징짓도록 사용될 수 있다. 그러한 정보는 또한 (거칠음이 거칠음 검출 표면과의 접촉으로 얻어지는 것과 같이) 거칠음의 탄력 및/또는 (거칠음이 거칠음 검출 표면과의 접촉으로부터 제거되는 것과 같이) 거칠음의 복원력을 특징짓도록 사용될 수 있다.
일 실시예와 관련하여, 하나 또는 그 이상의 거칠음들 사이의 접촉의 포인트들 및 거칠음 검출 표면은 처음에 언급되어 있다. 이후에(바람직하게는, 이후의 적은 부분), 접촉의 포인트들은 희망되고/되거나 제시된 애플리케이션에 대해 적절하게 취해지고 캡쳐되는 추가적인 판독들을 통해 다시 언급된다. 결과적인 정보는 그 후에 데이터를 특징짓는 시간적 기반 거칠음을 제공하도록 상기 제안된 바에 따라 사용될 수 있다.
이러한 접근 방식이 반드시 증가된 거칠음 검출 이미징 해상도를 요구하지는 않으므로, 정확성을 향상시키도록 간주되는 다른 테크닉들의 채택을 방해한다는 걱정들의 대부분을 제거한다. 이러한 이득에도 불구하고, 이러한 실시예들은 거칠음 기반 식별 및 인증의 정확성 및 신뢰성을 현저히 향상시킬 수 있는 추가적인 의미있는 특징의 콘텐츠에 기여한다. 그에 따라, 효과에 있어서, 추가적인 피쳐 정보에 기초한 향상된 정확성은 해상도 복잡도에 따라 비례적인 증가 없이 달성된다.
이제 도면들을 참조로 하면, 도 14는 희망되는 위치적 및/또는 시간적 기반 거칠음 검출을 지원하기 위한 플랫폼을 도시한 블록도이다. 다양한 식별 거칠음 검 출기들(110)은 가능한 한 이러한 목적들을 위해 작용할 수 있지만, 양호한 실시예에 대해 식별 거칠음 검출기(110)는 상기 기술된 바와 같은 저항성 방전 다이렉트 거칠음 판독기를 포함한다.
그러한 거칠음 검출기는 일반적으로 각각이 적어도 하나의 전하 저장 디바이스를 포함하는 복수의 메모리 셀들로 구성된다. 본 발명에 있어서, 상기 메모리는 상기 기술된 지문 캡쳐 디바이스 및 스마트카드 회로와 공유된다. 대상이 지문 접촉 표면과 접촉할 때, 그 대상의 표면의 돌출부들은 도전성 구체들의 일부에 접촉할 것이고, 전류는 도전성 표면을 통해 전도 가능하게 접촉하는 도전성 구체를 통해, 대상 그 자체를 통해, 그리고 공통 레일에 도달하기 위한 또 다른 도전성 구체 도전성 표면 쌍을 통해 그에 대응하는 것과 같이 이전 충전된 전하 저장 디바이스 및 도전성 표면으로부터 흐를 것이다. 이것은 물론 그 특정한 전하 저장 디바이스를 방전시키는 결과를 나타낼 것이다. 그 후에, 전하 저장 디바이스의 방전된 상태는 지문 접촉 표면의 특정한 위치에서 거칠음의 존재의 특징 표시자로 작용한다.
도 14를 다시 참조로 하면, 상기 기술된 식별 거칠음 검출기(110)는 거칠음 접촉 표면과 접촉하는 대상의 표면상의 거칠음들에 관한 촉감 정보를 동시에 감지하여 저장하도록 작용한다. 검출기 제어기(111)는 예를 들어 검출기(110)가 동작하고 검출기(110)가 어떻게 동작하는지 (예를 들어, 검출기(110)의 전하 저장 디바이스들의 충전을 제어하여) 식별 거칠음 검출기(110)에 연결되어 제어하기 위해 작용한다. 이러한 실시예들에 있어서, 식별 거칠음 검출기(110)는 거칠음 검출 이미지들의 빠른 시리즈들을 캡쳐한다. 이것을 용이하게 하기 위해, 검출기 제어기(111) 는 내부 타이머를 포함하거나, 외부 타이머(112)가 선택적으로 대신 사용될 수 있다. 그러한 타이머(내부 또는 외부)는 이하 기술되는 검출기 제어기(111)에 의한 사용을 위해 정확하고 신뢰성 있게 결정되도록 지속 기간 내 0.01 또는 0.001초 만큼 적은 간격들과 같은 미리 결정된 시간 간격들의 결정을 허가한다.
이러한 실시예들은 일련의 일시적 이격된 거칠음 검출 이벤트들의 결과들을 유지하도록 메모리를 제공하는 것이 바람직하다. 이러한 메모리는 외부 메모리(113)를 전체적으로 또는 부분적으로 포함할 수 있지만, 전형적으로 식별 거칠음 검출기(110)와 전체적으로 통합되며, 단일 IC 칩 상에 공유된 메모리로 구현된다. 양호한 실시예에 있어서, 식별 거칠음 검출기(110)가 저항성 방전 판독기를 포함할 때, 상기 메모리는 그 판독기 자체의 전하 저장 디바이스들을 적어도 넓게 포함할 수 있다.
희망되는 경우, 프로세서(115)는 거칠음 정보의 계속되는 프로세싱을 허가하도록 포함될 수 있다. 예를 들어, 메모리(113) 내 유지되는 위치적 거칠음 표현 정보는 희망된 식별 및/또는 승인 활동들을 나타내도록 프로세서(115)에 의해 액세싱될 수 있다. 본 발명에 있어서, 프로세서(115)는 전형적으로 단일 IC 칩상에 스마트카드 회로 내에 포함되는 공유된 프로세서일 것이다.
그렇게 구성되어, 그러한 플랫폼은 일반적으로 적어도 하나의 식별 거칠음 검출기와, 그의 제어를 허용하도록 식별 거칠음 검출기에 동작가능하게 연결하는 제어 출력을 갖는 검출기 제어기와, 손가락 끝과 같은 제시된 표면의 거칠음들의 위치적 표현들의 저장을 예로 허용하기 위한 식별 거칠음 검출기에 동작가능하게 연결되는 메모리를 제공하도록 작용한다. 이하 보다 자세히 제시될 위치적 표현들은 복합적 위치 표현들을 함께 제공하는 일시적 이격된 거칠음 검출로부터 적어도 부분적으로 유도된다. 또한, 이하 제시되는 바와 같이, 그러한 플랫폼은 추가로 거칠음들의 탄력 및/또는 복원력의 기능과 거칠음들의 기초가되는 표면들로 특징을 허용하도록 그러한 일시적 이격된 거칠음 검출 이벤트들을 추가로 캡쳐할 수 있다.
도 15를 이제부터 참조로 하면, 기술된 플랫폼(또는 희망될 수 있는 그러한 다른 인에이블링 플랫폼)은 시간의 단기간에 걸쳐 외부 표면(손가락 끝과 같은)상에서 거칠음들을 반복적으로 검출한다(단계 31, 32). 그러한 거칠음들은 예를 들어 지문들, 장문들, 가죽 장갑 패턴들 등을 규정하는 마찰 돌출부들일 수 있다. 보다 구체적으로는, 양호한 실시예에서 그러한 거칠음들은 (그러한 식별 거칠음들 및 이전에 기술된 것들과 같은 검출 표면 사이의 접근 관계를 검출하여) 서로 다른 시간들에서 검출되고, 그러한 검출들은 위치적 특징 정보를 결정하도록 사용된다(단계 33).
예를 들어, 도 16을 이제부터 참조로 하면, 외부 표면(손가락 끝과 같은)이 거칠음 검출기(103)에 접근할 때의 시간에 따른 제 1 순간에서, 외부 표면상의 제시된 거칠음(41)의 가장 바깥쪽 부분은 거칠음 접촉 표면(121)의 각각의 부분(122)(특히, 이러한 실시예에서 특정한 도전성 구체(42))과 제 1 접촉을 구성한다. 접촉의 그러한 포인트들은 검출을 위해 작용하고, 대응하는 거칠음 피쳐의 표시를 제공한다. 외부 표면이 거칠음 검출기(103)을 향해 계속해서 이동함에 따라, 거칠음(41)이 (도 17에 제시된 바와 같이) 압축한다. 그러한 압축은 종종 거칠음(41)이 도 16에서 캡쳐된 순간으로부터 시간에 따라 다소 늦어진 포인트에서 다른 인접하거나 이웃하는 도전성 구체들(이러한 예에서 51 및 52)을 접촉하도록 한다. 이러한 이후의 정보를 캡쳐링함으로써, 프로세스는 추가적인 거칠음 정보를 캡쳐한다.
도 18 및 도 19를 참조로 하면, 거칠음을 포함하는 재료가 거칠음 검출기(103)에 대해 압축되는 것과 같이 제시된 거칠음(41)의 서로 다른 부분들이 서로 다른 시간들에서 검출된다는 것을 알 수 있다. 특히, 거칠음의 가장 외부로 확장하는 부분들은 나중에 검출기(103)와 접촉하는 다른 부분들을 통해 검출기(103)와 우선적으로 접촉하기 쉽다. 예를 들어, 예시된 단순한 예에서, 거칠음(41)의 가장 바깥쪽 부분(61)은 우선적으로 검출기(10)와 접촉할 것이고, 거칠음의 덜 바깥쪽인 부분(62)이 나중에 따르며, 거칠음(41)의 훨씬 덜 바깥쪽 부분(63)이 더 나중에 따른다. 검출기 표면의 부분들이 각각의 제시된 시간에서 거칠음에 의해 접촉된다는 것에 주의하여, 결과적인 데이터는 도 19에 도시된 바와 같이 거칠음의 위치적 표현(70)을 결정하도록 사용될 수 있다. 그러한 표현은 (다른 방식으로 대부분의 다른 거칠음 검출 방식들에 의해 전형적으로 제공되는 바와 같이) 거칠음의 일반적인 2차원적 구조와 관련하여 뿐만 아니라 그의 3차원적 구성과 관련한 정보를 제공한다.
그러한 3차원 위치적 표현들은 예를 들어 개인의 식별 거칠음들에 관한 의미있는 특징 정보를 제공한다. 그러므로, 그러한 정보는 거칠음 기반 식별 프로세스의 신뢰성 및 정확성을 증가시키도록 사용될 수 있다.
그러한 정보는 또한 다른 방식들에 따라 거칠음들 (및/또는 그 거칠음들을 지원하는 기초적 외부 표면)을 특징짓도록 사용될 수 있다. 예를 들어, 도 20을 참조로 하면, 그러한 시간적 기반 거칠음 정보와, 그 거칠음에 대한 탄력 및/또는 복원력 특징 정보의 다음에 따르는 설비(81) 또한 결정될 수 있다(82). 거칠음이 검출기를 통해 근접하여 취해지는 동안 거칠음 검출 센서들 및 거칠음 자체 사이에 (실제 물리적 접촉과 같은) 근접의 미리 결정된 레벨을 여러 번 검출함으로써, 거칠음의 탄력 특징들 및/또는 거칠음의 기초 표면이 확인될 수 있다. 유사한 방식으로, 거칠음의 복원 특징들 및/또는 거칠음의 기초 표면은 그 거칠음이 검출기를 통한 근접으로부터 제거되는 것과 같이 여러 번 동일한 종류의 근접 관계들을 주의하여 확인될 수 있다. 특히, 그러한 특징들은 시간에 걸쳐 거칠음의 부분들이 거칠음 자체의 탄력 및/또는 복원력의 기능과 같은 검출기 표면 및/또는 기초 지원 표면을 통해 검출기와 접촉하여(또는 접촉을 끊어) 자신들을 나타낸다.
따라서, 이러한 거칠음 검출/특징 메카니즘을 사용하여, 개인의 지문이 지문 판독기 표면과 관련하여 이동됨에 따라, 검출기(110)는 대응하는 표현이 캡쳐될 때의 순간에 지문 판독기 표면을 통해 완전한 물리적 접촉과 같은 근접의 적어도 미리 결정된 정도를 갖는 마찰 돌출부들의 일련의 표현들을 캡쳐할 수 있다. 그에 따라, 그 결과적인 일련의 표현들은 지문의 위치적 특징을 형성하도록 사용될 수 있다. 그러한 일련의 표현들은 지문 판독기 표면과 떨어져, 또는 양자의 이벤트들 동안 지문 판독기 표면을 향해 이동할 때 캡쳐될 수 있다.
결과적인 시간 기반 정보의 해상도는 그러한 정보를 캡쳐하는 사이의 시간 간격들의 지속기간의 기능을 적어도 일부 포함한다. 저항성 방전 직접 거칠음 판독 기들은 0.001 초만큼 짧은 간격들을 캡쳐하도록 잠재적으로 반응할 수 있다. 그러나, 많은 목적들을 위해, 유용하고 향상된 결과들은 캡쳐 이벤트들 사이의 상당히 더 긴 간격들을 통해 획득될 수 있다.
다양한 실시예들은 2 차원 이미징 해상도와 관련하여 증가를 요구하지 않으며 특징 정보의 증가된 양들을 제공하기 쉬운 거칠음 검출 장치 및 방법들에 대해 본 명세서에서 설명하고 있다. 결과적으로, 정확성 및 신뢰성은 예를 들어 제시된 접근 방식의 이미지 해상도와 관련하여 적절한 증가를 발생시키지 않으며 증가될 수 있다. 거칠음의 3 차원 및/또는 시간 기반 특징은 또한 제시된 거칠음을 보다 완벽하게 특징짓도록 작용하고, 그에 따라 성공할 가능성이 적은 부정적 활동을 렌더링한다.
저항 기반 센서는 스마트 카드 기능과 함께 센서 기능의 통합을 위한 인에이블링 테크놀로지이고, 그 이유는 상기 테크놀로지가 스마트 카드 내에 메모리를 포함하는 기존 RAM 셀들만을 사용하기 때문이다. 배선 결합 I/O가 다이의 표면으로 이미 취해지는 방식에 따라 접촉 I/O에 대한 표면을 통해 가져오는 것과는 다른 추가적인 프로세스들이 요구되지 않는다. 이러한 이유에 대해 구현을 위한 낮은 비용이 존재한다.
스마트 카드 회로와 함께 저항 기반 센서의 통합은 상기 2개 기능적 디바이스들 사이에 외부 접속들을 제거함으로써 희망되는 추가적 보안을 제공한다.
스마트카드 IC 및 저항 기반 센서를 결합하는 또 다른 장점은 전력 감소이다. RAM 트랜지스터가 메모리 및 픽셀 캡쳐 모두에 대해 작동하기 때문에, 단일 대 기 전류가 사용된다. 둘째로, 센서 및 스마트카드 칩 사이에 상호 접속 회로를 운영하도록 전력 요구가 존재하지 않는다. 이것들은 전체 시스템 전력 소모 및 예산을 함께 감소시킨다.
RF 접속이 무접촉 카드보다 스마트 카드 상호 접속을 위해 요구되는 경우, 집적된 센서 및 스마트카드 칩은 더 높은 이득을 위해 더 낮은 주파수 안테나 또는 더 긴 안테나를 제공하기에 충분한 영역을 갖기 위해 필요하다.
본 발명이 그의 특정한 실시예들과 관련하여 기술되는 동안, 추가적인 장점들 및 수정들이 당업자들에 의해 쉽게 이루어질 것이다. 그러므로, 본 발명은 그것의 더 넓은 측면들에 있어서 특정한 세부사항들, 표현적 장치, 및 도시되고 기술된 예시적 예들에 제한되지 않는다. 다양한 대안들, 수정들, 및 변경들은 상기 기술된 견해에 따라 당업자들에게 명백할 것이다. 따라서, 본 발명은 상기 기술된 것에 제한되지 않으며 첨부된 특허청구범위의 취지 및 범위에 따르는 모든 그러한 대안들, 수정들, 및 변경들을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
Claims (10)
- 지문 기반 스마트카드에 있어서,사용자의 처음 지문 및 상기 사용자의 적어도 하나의 계속되는 지문을 캡쳐하여 상기 처음 지문과 상기 적어도 하나의 계속되는 지문을 비교하기 위해 동작가능하게 연결되는 지문 캡쳐 디바이스, 제 1 프로세서 및 제 1 메모리를 포함하는 지문 모듈; 및상기 비교의 결과들을 수신하고 호스트 시스템에 상기 결과들을 전달하기 위해 상기 제 1 모듈에 동작가능하게 연결되고, 상호 동작가능하게 연결되는 제 2 프로세서, 제 2 메모리 및 통신 요소를 포함하는 스마트카드 회로를 포함하며,상기 지문 모듈 및 상기 스마트카드 회로는 공통 집적 회로 칩 상에 함께 위치되는, 지문 기반 스마트카드.
- 제 1 항에 있어서,상기 지문 캡쳐 디바이스는:제 1 복수의 메모리 셀들을 포함하는 상기 제 1 메모리로서, 각각의 메모리 셀들은 대응하는 전기적 디바이스를 갖는, 상기 제 1 메모리; 및상기 제 1 메모리에 실질적으로 동일 평면상에 배치되는 지문 접촉 표면으로서, 상기 지문 접촉 표면을 통해 형성되는 복수의 도전성 경로들을 갖고, 상기 도전성 경로들 중 적어도 일부는 상기 대응하는 전기적 디바이스들 중 적어도 일부에 전도 가능하게 연결되는, 상기 지문 접촉 표면을 포함하는, 지문 기반 스마트카드.
- 제 2 항에 있어서,상기 제 2 메모리는 제 2 복수의 메모리 셀들을 포함하고, 각각의 메모리 셀들은 대응하는 전기적 디바이스를 가지며, 상기 제 1 복수의 메모리 셀들은 상기 제 2 복수의 메모리 셀들 중 적어도 일부를 포함하는, 지문 기반 스마트카드.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 상기 제 2 프로세서들은 동일한 프로세서인, 지문 기반 스마트카드.
- 제 1 항에 있어서,상기 지문 캡쳐 디바이스는 스와이프 센서(swipe sensor) 및 슬랩 센서(slap sensor) 중 하나인, 지문 기반 스마트카드.
- 제 1 항에 있어서,상기 지문 캡쳐 디바이스는 제 1 치수들을 가지며, 상기 공통 집적 회로 칩은 상기 제 1 치수들과 실질적으로 동일한 제 2 치수들을 갖는, 지문 기반 스마트카드.
- 제 1 항에 있어서,상기 지문 모듈 및 상기 스마트카드 회로를 둘러싸기 위해 전면 및 후면을 갖는 하우징을 더 포함하고, 상기 하우징의 후면은 상기 지문 캡쳐 디바이스의 적어도 일부를 노출시키기 위한 개방부를 포함하는, 지문 기반 스마트카드.
- 제 7 항에 있어서,상기 하우징의 전면에 연결되는 적어도 하나의 접촉 패드를 더 포함하고, 상기 스마트카드 회로는 상기 호스트 시스템과 통신하도록 상기 스마트카드 회로를 인에이블하기 위해 상기 적어도 하나의 접촉 패드에 동작가능하게 연결되는, 지문 기반 스마트카드.
- 제 1 항에 있어서,상기 스마트카드의 적어도 2명의 서로 다른 사용자들을 인에이블하기 위해 상기 제 1 프로세서에 연결되는 인에이블 디바이스를 더 포함하는, 지문 기반 스마트카드.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 1 메모리는 상기 사용자의 처음 지문과 상기 적어도 하나의 계속되는 지문을 비교하기 위해 상기 제 1 프로세서로 로딩되는 자동 지문 식별 시스템(AFIS: Automatic Fingerprint Identification System)을 저장하는, 지문 기반 스 마트카드.
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