CN103310198A - 二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法 - Google Patents

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侯鸿川
林晖
任福云
孟凡辉
何兰
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Abstract

本发明公开了二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法,本发明创造性的实现了采用统一的标准化的检测方法对光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备进行测试,本发明标准测试卡的整体外形是边长为19x13.5mm的长方形板，包括正面与反面。所述边长为19x13.5mm的长方形板内又设置了一个边长为17.93x12.75mm的长方形，所述边长为19x13.5mm的长方形板的中心为一个边长为10mm的小正方形，所述边长为10mm的小正方形再平均分成四个边长为5mm的小正方形；本发明的优点是能够将不同成像原理的光学式和半导体式指纹采集识别设备的检测方法科学规范地统一起来，使在相同检测方法下得出的技术指标更具有合理性和可比性。

Description

二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法
技术领域
本发明涉及二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法,属于指纹采集识别技术领域。
背景技术
目前，传统的指纹采集识别设备有多种分类方法，依据传感器工作原理的不同，可分为光学式和半导体式两类，光学式又有可见光和红外光不同波长之分;依据采集方式的不同，可分为按压式、刮擦式和滚动式三类，依据构成方式的不同，可分为独立式和嵌入式两类。目前，上述指纹采集识别设备长期以来在行业内没有标准规范的统一检测方法。
由于分辨率、畸变率和有效采集窗口尺寸等数据是指纹采集识别设备几个最重要的图像技术指标，需要认真检测，而各种指纹采集识别设备的成像原理不同，目前，还没有一个在不同原理的指纹采集识别设备上都能良好成像的测试卡可用于测试，也就没有形成一套完整的可方便操作的即适用于光学式又适用于半导体式不同原理指纹采集识别设备的统一检测方法。目前，由于各设备厂家或检测部门普遍是自行定义测试方法，或仅对光学式指纹采集识别设备的上述指标进行检测，而对半导体式指纹采集识别设备通常只是直接引用传感器厂家给出的传感器技术指标,并不对指纹采集识别设备整机专门进行完整测试。因此，迄今业内没有一套成熟的可普遍适用于光学式和半导体式不同原理指纹采集识别设备的统一检测方法，更没有业内公认的通用行业标准或国家标准，光学式指纹采集识别设备和半导体式指纹采集识别设备的测试数据因方法不同也就没有直接可比性，这也是目前本技术领域所面临的重要的急待解决的技术难题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够克服上述技术问题的二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法，本发明在可见光和红外光不同波长的光学式指纹采集识别设备上以及半导体式指纹采集识别设备上都可以清晰成像，可用于进行指纹图像技术指标检测。在此标准测试卡基础上，本发明建立了一套比较科学完整的身份证指纹采集识别设备技术指标检测方法，在业内第一次实现了采用统一的标准化的检测方法对二代居民身份证使用的光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备进行测试,使光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备在相同检测方法下的技术指标更具有科学性和可比性。
本发明的检测方法是与标准测试卡结合使用的并在检测方法中对不同原理指纹采集识别设备的测试方法进行了规范，创造性的实现了采用统一的标准化的检测方法对光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备进行测试,使不同成像原理指纹采集识别设备在相同检测方法下得出的技术指标更具有科学性和可比性。
本发明的二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡的整体外形是边长为19x13.5mm的长方形板，包括正面与反面。所述边长为19x13.5mm的长方形板内又设置了一个边长为17.93x12.75mm的长方形，所述边长为19x13.5mm的长方形板的中心为一个边长为10mm的小正方形，所述边长为10mm的小正方形再平均分成四个边长为5mm的小正方形。
本发明的标准测试卡为双面制作，本发明的标准测试卡的正面与反面的图形相同，本发明的标准测试卡的线宽为0.05mm，本发明的标准测试卡的材料采用单晶半导体材料，所述单晶半导体材料为单晶锗或单晶硅。
本发明的标准测试卡不仅能在半导体式指纹采集识别设备上成像，也能在不同波长的光学式指纹采集识别设备上成像，是现有平面指纹采集识别设备检测必不可少的标准量具。
本发明的优点是能有效地对半导体式指纹采集识别设备进行分辨率等图像技术指标测试，同时也能够在不同波长的光学式指纹采集识别设备上良好成像并可用于光学式指纹采集识别设备图像指标的测试，本发明将在国家计量部门进行标定作为标准量具，本发明的科学规范的检测方法将被业内采纳并写入了行业标准，本发明的标准测试卡及其配套的检测方法既可在光学式指纹采集识别设备上成像测试，又可在半导体式指纹采集识别设备上成像测试，本发明能够将不同成像原理的光学式和半导体式指纹采集识别设备的检测方法科学规范地统一起来，使在相同检测方法下得出的技术指标更具有合理性和可比性并开创性的提升了对二代居民身份证指纹采集识别设备的评估水平和检测现状。
附图说明
图1是本发明所述二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细描述。如图1所示，本发明的二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡的整体外形是边长为19x13.5mm的长方形板，包括正面与反面。所述边长为19x13.5mm的长方形板内又设置了一个边长为17.93x12.75mm的长方形，所述边长为19x13.5mm的长方形板的中心为一个边长为10mm的小正方形，所述边长为10mm的小正方形再平均分成四个边长为5mm的小正方形。
本发明的标准测试卡是针对二代居民身份使用的除刮擦式之外的其它光学式和半导体式平面指纹采集识别设备而设计的，有效解决了成像原理不相同的各种指纹采集识别设备长期没有科学统一检测方法的难题。本发明形成了一套比较完整的图像分辨率、图像畸变率和有效采集窗口尺寸的测试方法，与所编制起草的相关标准配合，对目前国内外近40款不同成像原理的指纹采集识别设备进行了测试模拟，均能达到良好结果。
本发明涉及到光电技术、传感器技术、CMOS工艺、材料科学、图像处理和模式识别等技术领域,属于光电子学、材料工艺学和生物特征识别技术领域的交叉技术领域。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明公开的范围内，能够轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明权利要求的保护范围内。

Claims (4)

1.基于二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡的检测方法，其特征在于，是与标准测试卡结合使用的并在检测方法中对不同原理指纹采集识别设备的测试方法进行了统一规范，实现了采用统一的标准化的检测方法对光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备进行测试,使不同成像原理指纹采集识别设备在相同检测方法下得出的技术指标更具有科学性和可比性。
2.二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡，其特征在于，所述标准测试卡的整体外形是边长为19x13.5mm的长方形板，包括正面与反面，所述边长为19x13.5mm的长方形板内又设置了一个边长为17.93x12.75mm的长方形，所述边长为19x13.5mm的长方形板的中心为一个边长为10mm的小正方形，所述边长为10mm的小正方形再平均分成四个边长为5mm的小正方形。
3.根据权利要求2所述的二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡，其特征在于，所述二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡的材料采用单晶半导体材料。
4.根据权利要求2所述的二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡，其特征在于，所述单晶半导体材料为单晶锗或单晶硅之一。
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