CN202614415U

CN202614415U - 一种温度传感器的检测装置

Info

Publication number: CN202614415U
Application number: CN 201220169306
Authority: CN
Inventors: 樊玉富; 余永刚; 邓启斌; 马瑞恒; 李敬魁; 杨海奎; 李执力; 傅鹏程; 白光清; 张晨
Original assignee: No63961 Unit Of Pla
Current assignee: No63961 Unit Of Pla
Priority date: 2012-04-19
Filing date: 2012-04-19
Publication date: 2012-12-19
Anticipated expiration: 2022-04-19

Abstract

本实用新型涉及一种温度传感器的检测装置，属于温度传感器检测设备技术领域，包括基准温度传感器、待检温度传感器，其中，还包括检测箱和控制系统，所述基准温度传感器和待检温度传感器均置于所述检测箱内，所述基准温度传感器和待检温度传感器均与所述控制系统相连接。与现有技术相比，本实用新型结构简单，操作便捷，能够实现对温度传感器的高准确度检测，有益使温度传感器的相关应用效果得到保障；同时，还利于采用单向升温法使温度传感器得到快速检测，全程可调性控制，大幅提高了检测效率，有效提升了检测效果，适合在各种相关类型温度传感器的检测中推广应用。

Description

一种温度传感器的检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种温度传感器的检测装置，属于温度传感器检测设备技术领域。

背景技术

目前，温度传感器在各行各业中得到普遍应用，其主要是对物体表面及物体所处环境的温度进行直接测量，对于这些温度传感器的准确度检测主要采用低温用水槽、高温用油槽等装置进行，但是，对于以与待测物体传热性能相似的材料构成的温度传感器，因测温原理不同，结构不同，所以，对此类非接触式温度传感器的检测则需要研究开发出一种专门的检测装置，以便对其测量准确度进行及时检测，从而有效避免长期使用后出现测量误差大，并进一步避免由此而造成的与被测物体相关的应用效果受到严重影响。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术存在的问题，提供一种温度传感器的检测装置，对以与待测物体传热性能相似的材料构成的非接触式的温度传感器进行检测，使此类温度传感器得到及时检测，从而充分保证此类温度传感器的测量精度，进而为与之相关的被测物体的应用效果提供保障。

本实用新型解决技术问题的方案是：一种温度传感器的检测装置，包括基准温度传感器、待检温度传感器，其中，还包括检测箱和控制系统，所述基准温度传感器和待检温度传感器均置于所述检测箱内，所述基准温度传感器和待检温度传感器均与所述控制系统相连接。

进一步地，所述基准温度传感器的数量为1个；所述待检温度传感器的数量为多个。

更进一步地，所述基准温度传感器、待检温度传感器均都包括相互连接的显示屏和传感器装置；所述检测箱内设置有支架、检测箱的箱体上设置有穿线孔；所述基准温度传感器、待检温度传感器均都设置在所述支架上，所述显示屏朝下，所述传感器装置朝上；所述基准温度传感器、待检温度传感器均都通过传感器信号线穿过所述检测箱箱体上的穿线孔与所属控制系统相连结。

进一步地，所述待检温度传感器以所述基准温度传感器为中心对称放置，能够有利于保证各温度传感器处于均匀的环境中。

进一步地，所述检测箱为恒温检测箱，能够对温度进行稳定控制，箱内的温度能够保持均衡，进而利于为检测提供高度稳定的环境。

进一步地，所述控制系统包括相互连结的开关、数据采集装置、数据处理装置和显示器；更进一步地，所述开关为多路开关。

进一步地，所述基准温度传感器和待检温度传感器结构组成相同，所述基准温度传感器的传热系数和待检温度传感器的初始传热系数相同。

更进一步地，所述基准温度传感器的测量精确度是待检温度传感器测量准确度的2至6倍。

应用本实用新型温度传感器的检测装置进行检测时，首先，将基准温度传感器与待检温度传感器放置在检测箱内，于20℃下静置26小时以上，使各温度传感器与检测箱内环境温度达到平衡；然后，将基准温度传感器和待检温度传感器的初温测量值进行比较，若绝对误差均≤2℃，则继续进行检测；若绝对误差均＞2℃，则延长平衡时间，直至达到绝对误差均≤2℃，再继续进行检测；若有待检温度传感器初温表现异常，与基准温度传感器初温测量值的绝对误差不能达到≤2℃，则不必对其继续进行检测程序，直接对其进行不合格评定；接着，通过所述开关进行开启所述控制系统，并使检测箱分阶段升温到30℃再到60℃，在每一阶段保持1-3小时，共进行20-50次测量并通过所述数据采集装置采集数据，即采集基准温度传感器的测量值T_i0和待检温度传感器的测量值T_i；然后，所述控制系统通过所述数据处理装置进行计算和评定，根据中间误差公式计算中间误差E，若E≤2℃，则待检温度传感器合格，若E〉2℃，则待检温度传感器不合格，所述中间误差公式如下：

E = 0.6745 \sqrt{\frac{Σ_{i = 1}^{n} {(T_{i 0} - T_{i})}^{2}}{n - 1}}

在所述公式中：n=采集数据的次数，T_i0为基准温度传感器的温度测量值；T_i为待检温度传感器的测量值T_i；所述控制系统的检测过程及评定结果通过所述显示器进行显示；检测结束后，关闭控制系统和恒温检测箱，根据实际情况进行数据存储及相关温度传感器的处理。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型设计合理，结构简单，操作便捷，实现对温度传感器的高准确度检测，使温度传感器的相关应用效果得到保障；

2、本实用新型的创新设计，利于采用单向升温法使温度传感器得到快速检测，全程可调性控制，大幅提高了检测效率，有效提升了检测效果，适合应用于各种相关类型温度传感器的检测。

附图说明

图1为本实用新型温度传感器的检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型温度传感器的基准温度传感器的结构示意图；

图3为本实用新型温度传感器的待检温度传感器的结构示意图。

图中所示：1-基准温度传感器，101-基准温度传感器的显示屏，102-基准温度传感器的传感器装置；2-待检温度传感器，201-待检温度传感器的显示屏，202-待检温度传感器的传感器装置；3-检测箱；4-控制系统，401-多路开关，402-数据采集装置，403-数据处理装置，404-显示器。

具体实施方式

如图1所示，一种温度传感器的检测装置，包括1个基准温度传感器1、4个待检温度传感器2、检测箱3和控制系统4，基准温度传感器1和待检温度传感器2均置于检测箱3内，基准温度传感器1和待检温度传感器2均与控制系统4相连接；控制系统4包括相互连结的多路开关401、数据采集装置402、数据处理装置403和显示器404。

上述实施例中：

如图2所示，基准温度传感器1包括相互连接的基准温度传感器的显示屏101和基准温度传感器的传感器装置102；如图3所示，待检温度传感器2包括相互连接的待检温度传感器的显示屏201和待检温度传感器的传感器装置202；

检测箱3为恒温检测箱；检测箱3内设置有支架（图中未示）、检测箱3的箱体上设置有穿线孔（图中未示）；

基准温度传感器1、待检温度传感器2均都设置在所述支架上，基准温度传感器的显示屏101及待检温度传感器的显示屏201朝下，基准温度传感器的传感器装置102及待检温度传感器的传感器装置202朝上；基准温度传感器1、待检温度传感器2均都通过传感器信号线穿过所述检测箱3箱体上的穿线孔与所属控制系统4相连结；

各待检温度传感器2以基准温度传感器1为中心对称放置；

基准温度传感器1和待检温度传感器2结构组成相同，基准温度传感器1的传热系数和待检温度传感器2的初始传热系数相同；

基准温度传感器1的测量精确度是待检温度传感器2初始测量精确度的5倍，基准温度传感器1的测量误差为±0.2℃，待检温度传感器2的初始测量误差为±1℃。

应用本实用新型温度传感器的检测装置进行检测时，首先，将基准温度传感器1与4个待检温度传感器2放置在检测箱3内的支架上，于20℃下静置26小时，使各温度传感器与检测箱3内环境温度达到平衡；然后，将基准温度传感器1和待检温度传感器2的初温测量值进行比较，若绝对误差均≤2℃，则继续进行检测；若绝对误差均＞2℃，则延长平衡时间，直至达到绝对误差均≤2℃，再继续进行检测；若有待检温度传感器2初温表现异常，与基准温度传感器1初温测量值的绝对误差不能达到≤2℃，则不必对其继续进行检测程序，直接对其进行不合格评定；接着，通过多路开关401进行开启控制系统4，并使检测箱3分两个阶段升温到30℃再到60℃，在每一阶段保持2小时，共进行40次测量并通过数据采集装置402采集数据，即采集基准温度传感器1的测量值T_i0和待检温度传感器2的测量值T_i；然后，控制系统4通过数据处理装置403进行计算和评定，根据中间误差公式计算中间误差E，得到对应每一个待检温度传感器2与基准温度传感器1之间的中间误差值，分别为E1、E2、E3、E4，然后，对每个E值进行比较，若E≤2℃，则所对应的待检温度传感器2合格，若E〉2℃，则所对应的待检温度传感器2不合格，所述中间误差公式如下：

E = 0.6745 \sqrt{\frac{Σ_{i = 1}^{n} {(T_{i 0} - T_{i})}^{2}}{n - 1}}

在上述公式中：n=40，T_i0为基准温度传感器1的温度测量值；T_i为待检温度传感器2的测量值T_i；控制系统4的检测过程及评定结果通过显示器404进行显示；检测结束后，关闭控制系统4和检测箱3，根据实际情况进行数据存储及相关温度传感器的处理。

本实用新型的保护范围并不限于上述具体实施方式，任何对本实用新型实质性内容进行的变型、改进在本实用新型的保护范围内。

Claims

1.一种温度传感器的检测装置，包括基准温度传感器、待检温度传感器，其特征在于：还包括检测箱和控制系统，所述基准温度传感器和待检温度传感器均置于所述检测箱内，所述基准温度传感器和待检温度传感器均与所述控制系统相连接。

2.如权利要求1所述的温度传感器的检测装置，其特征在于：所述基准温度传感器的数量为1个；所述待检温度传感器的数量为多个。

3.如权利要求1所述的温度传感器的检测装置，其特征在于：所述基准温度传感器、待检温度传感器均包括相互连接的显示屏和传感器装置；

所述检测箱内设置有支架、检测箱的箱体上设置有穿线孔；

所述基准温度传感器、待检温度传感器均都设置在所述支架上，所述显示屏朝下，所述传感器装置朝上；

所述基准温度传感器、待检温度传感器均都通过传感器信号线穿过所述检测箱箱体上的穿线孔与所属控制系统相连结。

4.如权利要求1所述的温度传感器的检测装置，其特征在于：所述待检温度传感器以所述基准温度传感器为中心对称放置。

5.如权利要求1所述的温度传感器的检测装置，其特征在于：所述检测箱为恒温检测箱。

6.如权利要求1、2、3、4或5所述的温度传感器的检测装置，其特征在于；所述控制系统包括相互连结的开关、数据采集装置、数据处理装置和显示器。

7.如权利要求6所述的温度传感器的检测装置，其特征在于；所述开关为多路开关。