CN202583475U - 一种α β放射性表面污染测量仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种αβ放射性表面污染测量仪，包括电源和探测器，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别；所述信号甄别器又连接有一处理器，且所述处理器又连接一显示器；其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。本实用新型采取了上述技术方案以后，探测器可以针对不同的射线产生出不同信号，从而一台主机可以识别两种射线信息，实现探测器的公用化。
Description
技术领域
本实用新型公开了一种测量仪，尤其涉及一种用于检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受α和/或β放射性污染的程度的αβ放射性表面污染测量仪。
背景技术
αβ放射性表面污染测量仪，用于检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受α和/或β放射性污染的程度的。
其中，市场现有产品为两种专用探测器形式，探测不同类型射线需更换相应探测器，不能同时探测两种射线。实际工作中使用不便，成本高；我们的仪表用一个复合探测器，可同时测量α，β两种射线。
此外，现有的探测器与显示主机间现有产品存在传输距离短，小于一米，易受干扰，难于满足高空远距测量要求。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是满足同一探测器可同时测量不同类型射线(α和/或β)要求，简化操作，便捷测量。
本实用新型解决上述技术问题所采取的技术方案如下：
一种αβ放射性表面污染测量仪，包括电源和探测器，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；
所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别；
所述信号甄别器又连接有一处理器，且所述处理器又连接一显示器；
其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。
其中，优选的结构是，所述处理器是单片机。
其中，优选的结构是，所述电源还连接有电源开关。
其中，优选的结构是，所述显示器是液晶显示器。
本发明采取了上述技术方案以后，探测器可以针对不同的射线产生出不同信号，从而一台主机可以识别两种射线信息，实现探测器的公用化。
附图说明
下面结合附图对本实用新型进行详细的描述，以使得本实用新型的上述优点更加明确。
图1是本实用新型αβ放射性表面污染测量仪的电路原理示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细的说明。
其中，图1是本实用新型αβ放射性表面污染测量仪的电路原理示意图；如图1所示，所述αβ放射性表面污染测量仪，包括电源和探测器，其中，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；也就是说，所述探测器捕获到α和/或β射线后，将不同的射线处理并产生不同的信号，从而供后续的电路对上述信号进行分析。
其中，所述探测器又连接一信号放大器，其中，所述不同的射线形成的不同的信号，经过高压电容耦合到所述放大器进行信号增强处理。
其中，上述电容在图中并没有显示，但是，本领域人员应该意识到，根据现有的电路原理，上述电容在需要的时候是可以存在的，在此不详细说明。
其中，该信号放大器又连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别，其中，所述信号甄别器又连接到一处理器中，优选的是，在二者之间设有整形器件，其中，所述信号甄别器对上述信号甄别不同信号，区分出信号类型，整形后，传输到上述处理器中。
其中，上述信号甄别器可以采取能够实现上述功能的电子器件，在此不进行详细说明。
其中，所述处理器又连接一显示器；且所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。
其中，还设有电源开关，其中，打开所述电源开关，电源可以为内部的器件进行供电及提供探测器需要的工作高压。
下面对本实用新型的工作原理进行详细说明：
所述探测器捕获到α和/或β射线后，不同的射线会产生不同的信号，经过高压电容耦合到放大器进行信号增强处理，再经过甄别不同信号，区分出信号类型，整形后，传输到主机，然后送CPU计数及液晶显示出来。工作过程为：打开电源，按测量的射线α和/或β类型。仪器开启工作，拿起探测器，测量面面对被测平面。测量时间到后，自动给出测量结果。
本发明采取了上述技术方案以后，探测器可以针对不同的射线产生出不同信号，从而一台主机可以识别两种射线信息，实现探测器的公用化。
需要注意的是，上述具体实施例仅仅是示例性的，在本实用新型的上述教导下，本领域技术人员可以在上述实施例的基础上进行各种改进和变形，而这些改进或者变形落在本实用新型的保护范围内。
本领域技术人员应该明白，上面的具体描述只是为了解释本实用新型的目的，并非用于限制本实用新型。本实用新型的保护范围由权利要求及其等同物限定。
Claims (4)
1.一种αβ放射性表面污染测量仪，其特征在于，包括电源和探测器，所述探测器用于探测α和/或β射线并形成对应的信号；
所述探测器连接一信号放大器，该信号放大器连接一信号甄别器，用于对探测到的α和/或β射线信号进行甄别；
所述信号甄别器又连接有一处理器，且所述处理器又连接一显示器；
其中，所述电源与所述探测器和处理器相连接，并且为所述探测器提供工作高压。
2.根据权利要求1所述的αβ放射性表面污染测量仪，其特征在于，所述处理器是单片机。
3.根据权利要求1或2所述的αβ放射性表面污染测量仪，其特征在于，所述电源还连接有电源开关。
4.根据权利要求1或2所述的αβ放射性表面污染测量仪，其特征在于，所述显示器是液晶显示器。
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| CN 201220203826 CN202583475U (zh) | 2012-05-08 | 2012-05-08 | 一种α β放射性表面污染测量仪 |
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Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| CN104865592A (zh) * | 2014-02-26 | 2015-08-26 | 中国人民解放军63973部队 | 一种α、β射线探测器 |
| CN105319574A (zh) * | 2015-11-16 | 2016-02-10 | 中国原子能科学研究院 | 一种α、β脉冲甄别方法 |
| CN107144869A (zh) * | 2017-06-19 | 2017-09-08 | 中广核久源（成都）科技有限公司 | 一种氚表面污染测量仪 |
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| CN105319574A (zh) * | 2015-11-16 | 2016-02-10 | 中国原子能科学研究院 | 一种α、β脉冲甄别方法 |
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