CN203325005U - 一种安防指纹采集识别设备标准测试卡 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种安防指纹采集识别设备标准测试卡，所述安防指纹采集识别设备标准测试卡的整体外形是边长为10mm的正方形板，包括正面与反面，所述边长为10mm的正方形板的四个角设置了四个边长为4mm的小正方形，所述四个边长为4mm的小正方形中均填充了直线条；本实用新型的优点是在不同波长的光学式指纹采集识别设备上能够良好成像，使不同成像原理的安防指纹采集识别设备的检测方法科学规范地统一起来，使在相同检测方法下得出的技术指标更具有合理性和可比性。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种安防指纹采集识别设备标准测试卡,属于指纹采集识别技术领域。
背景技术
目前，传统的安防指纹采集识别设备有多种，如，依据传感器工作原理的不同，可分为光学式和半导体式两类，光学式又有可见光和红外光不同波长之分；依据采集方式的不同，可分为按压式、刮擦式和滚动式三类;依据构成方式的不同，可分为独立式和嵌入式两类。上述传统的安防指纹采集识别设备长期以来在行业内没有标准规范的统一检测方法。
分辨率、畸变率和有效采集窗口尺寸等数据是安防指纹采集识别设备几个最重要的图像技术指标，需要认真检测。各种安防指纹采集识别设备的成像原理不同，目前，在现有技术中还没有一个在不同原理指纹采集识别设备上都能良好成像的测试卡可用于测试，在现有技术中也没有形成一套完整的可方便操作的即可适用于光学式又可适用于半导体式不同原理指纹采集识别设备的统一检测方法。各设备厂家或检测部门普遍是自行定义测试方法，或仅对光学式指纹采集识别设备的上述指标进行检测，而对半导体式指纹采集识别设备通常只是直接引用传感器厂家给出的传感器技术指标,并不对指纹采集识别设备整机专门进行完整测试。因此，迄今业内没有可普遍适用于光学式和半导体式不同原理指纹采集识别设备的统一检测方法，更没有业内公认的通用行业标准或国家标准，因此，光学式指纹采集识别设备和半导体式指纹采集识别设备的测试数据因方法不同也就没有直接可比性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种能够克服上述技术问题的安防指纹采集识别设备标准测试卡，本实用新型的标准测试卡及其关键图像技术指标检测方法，是为了针对现有技术领域中常见的安防指纹设备进行标准规范化的检测，本实用新型既可适用于光学式指纹采集识别设备，又可适用于半导体式指纹采集识别设备，使光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备的检测方法统一起来，使在相同检测方法下得出的技术指标数据更具有科学性和可比性。
本实用新型的安防指纹采集识别设备标准测试卡的整体外形是边长为10mm的正方形板，包括正面与反面。所述边长为10mm的正方形板的四个角设置了四个边长为4mm的小正方形，所述四个边长为4mm的小正方形中均填充了直线条，其中位于边长为10mm的正方形板的上部的2个边长为4mm的小正方形中分别填充了线宽为0.05mm的水平直线条和线宽为0.05mm的垂直直线条；位于边长为10mm的正方形板的下部的2个边长为4mm的小正方形中分别填充了线宽为0.15mm的垂直直线条和线宽为0.15mm的水平直线条；所述边长为10mm的正方形板的中心为一个边长为2mm的小正方形，所述边长为2mm的小正方形再平均分成四个边长为1mm的小正方形，所述四个边长为1mm的小正方形的编号依次为I、II、III、IV。所述边长为10mm的正方形板的正面与反面的图形相同，为双面制作，使之在光学式和半导体式指纹采集识别设备上均可以成像。
本实用新型的安防指纹采集识别设备标准测试卡的材料采用单晶半导体材料，所述单晶半导体材料为单晶锗或单晶硅。
本实用新型的安防指纹采集识别设备标准测试卡不仅能在半导体式指纹采集识别设备上成像，也能在不同波长的光学式指纹采集识别设备上成像，是目前现有平面指纹采集识别设备检测必不可少的标准量具。
本实用新型的标准测试卡是针对除刮擦式之外的安防其它光学式和半导体式平面指纹采集识别设备而设计的，本实用新型的标准测试卡解决了成像原理不相同的各种指纹采集识别设备长期没有科学统一的检测方法的难题，本实用新型的标准测试卡将来会在国家计量部门进行标定作为标准量具，使不同原理的光学式和半导体式安防指纹采集识别设备的测试统一规范起来。
本实用新型的一种安防指纹采集识别设备的检测方法是一套完整的与标准测试卡结合使用的检测方法和测试程序，在本实用新型的检测方法中，对不同原理指纹采集识别设备的测试方法进行了规范，采用统一的标准化的检测方法对目前的光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备进行测试,使不同成像原理指纹采集识别设备在相同检测方法下得出的技术指标更具有科学性和可比性。
本实用新型的优点是根据光学反射原理和半导体电场原理，标准测试卡在不同波长的光学式指纹采集识别设备上能够良好成像，在半导体式指纹采集识别设备上也能够良好成像，可用于光学式指纹采集识别设备图像指标测试，也可用于半导体式指纹采集识别设备图像指标测试，本实用新型既可在光学式指纹采集识别设备上成像测试，又可在半导体式指纹采集识别设备上成像测试，使不同成像原理的安防指纹采集识别设备的检测方法科学规范地统一起来，使在相同检测方法下得出的技术指标更具有合理性和可比性，本实用新型的图像分辨率、图像畸变率和有效采集窗口尺寸的标准测试卡及其检测方法有效地提升了行业内对安防指纹采集识别设备的评估水平和检测现状，对该技术领域具有重要意义。
附图说明
图1是本实用新型所述一种安防指纹采集识别设备标准测试卡的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细描述。如图1所示，本实用新型的安防指纹采集识别设备标准测试卡的整体外形是边长为10mm的正方形板，包括正面与反面。所述边长为10mm的正方形板的四个角设置了四个边长为4mm的小正方形，所述四个边长为4mm的小正方形中均填充了直线条，其中位于边长为10mm的正方形板的上部的2个边长为4mm的小正方形中分别填充了线宽为0.05mm的水平直线条和线宽为0.05mm的垂直直线条；位于边长为10mm的正方形板的下部的2个边长为4mm的小正方形中分别填充了线宽为0.15mm的垂直直线条和线宽为0.15mm的水平直线条；所述边长为10mm的正方形板的中心为一个边长为2mm的小正方形，所述边长为2mm的小正方形再平均分成四个边长为1mm的小正方形，所述四个边长为1mm的小正方形的编号依次为I、II、III、IV。所述边长为10mm的正方形板的正面与反面的图形相同，为双面制作，可在光学式和半导体式指纹采集识别设备上成像。
本实用新型的安防指纹采集识别设备标准测试卡的材料采用单晶半导体材料，所述单晶半导体材料为单晶锗或单晶硅。
本实用新型为了能使标准测试卡在光学式和半导体式指纹采集识别设备上都能良好成像，对二类指纹采集识别设备的图像分辨率、图像畸变率和有效采集窗口尺寸等重要指标进行了完整统一的测试，对目前的多种不同成像原理的安防指纹采集识别设备进行了测试模拟，均能达到满意的测试结果。
本实用新型的标准测试卡在可见光和红外光不同波长的光学式指纹采集识别设备上以及半导体式指纹采集识别设备上都能清晰成像，能用于进行指纹图像技术指标检测。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型公开的范围内，能够轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型权利要求的保护范围内。
Claims (3)
1.一种安防指纹采集识别设备标准测试卡，其特征在于，所述安防指纹采集识别设备标准测试卡的整体外形是边长为10mm的正方形板，包括正面与反面,所述边长为10mm的正方形板的四个角设置了四个边长为4mm的小正方形，所述四个边长为4mm的小正方形中均填充了直线条，其中位于边长为10mm的正方形板的上部的2个边长为4mm的小正方形中分别填充了线宽为0.05mm的水平直线条和线宽为0.05mm的垂直直线条；位于边长为10mm的正方形板的下部的2个边长为4mm的小正方形中分别填充了线宽为0.15mm的垂直直线条和线宽为0.15mm的水平直线条；所述边长为10mm的正方形板的中心为一个边长为2mm的小正方形，所述边长为2mm的小正方形再平均分成四个边长为1mm的小正方形，所述四个边长为1mm的小正方形的编号依次为I、II、III、IV,所述边长为10mm的正方形板的正面与反面的图形相同，为双面制作，使之在光学式和半导体式指纹采集识别设备上均可以成像。
2.根据权利要求1所述的安防指纹采集识别设备标准测试卡，其特征在于，所述安防指纹采集识别设备标准测试卡的材料采用单晶半导体材料。
3.根据权利要求1所述的安防指纹采集识别设备标准测试卡，其特征在于，所述单晶半导体材料为单晶锗或单晶硅之一。
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Family
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| CN (1) | CN203325005U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103345615A (zh) * | 2013-06-17 | 2013-10-09 | 公安部第一研究所 | 一种安防指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法 |
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2013
- 2013-06-17 CN CN201320344507XU patent/CN203325005U/zh not_active Expired - Lifetime
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